JPH0822009A - Liquid crystal display element - Google Patents

Liquid crystal display element

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JPH0822009A
JPH0822009A JP15460794A JP15460794A JPH0822009A JP H0822009 A JPH0822009 A JP H0822009A JP 15460794 A JP15460794 A JP 15460794A JP 15460794 A JP15460794 A JP 15460794A JP H0822009 A JPH0822009 A JP H0822009A
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JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
silane
vapor deposition
crystal display
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP15460794A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Nonaka
敏章 野中
Kei Ri
継 李
Hidemasa Yamaguchi
英将 山口
Haruhiko Ito
晴彦 伊藤
Manero Yafuiia
ヤフィーア・マネロ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanofi Aventis KK
Original Assignee
Hoechst Japan Ltd
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Publication date
Application filed by Hoechst Japan Ltd filed Critical Hoechst Japan Ltd
Priority to JP15460794A priority Critical patent/JPH0822009A/en
Publication of JPH0822009A publication Critical patent/JPH0822009A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To produce a liquid crystal display element having excellent stability under mild conditions compared to conventional conditions by forming an oblique vapor deposition film of inorg. compd. treated with silane as an oriented film. CONSTITUTION:In this element, at least one oriented film is an oblique vapor deposition film of inorg. compd. treated with a silane treating agent. As for the silane treating agent, trimethylchlorosilane, triethylchlorosilane, trichlorophenylsilane, dimethyldichlorosilane, dichloromethylsilane, dichloroethylsilane, dichloromethylphenylsilane, trimethylchlorosilane, trimethyliodosilane, trimethylcyanosilane, dimethylchlorosilane, or the like can be used. An inorg. oxide such as silicon oxide, yttrium oxide, magnesium oxide, and zirconium oxide is treated with the silane treating agent above. The silane treatment is performed by exposing a glass substrate on which the oblique vapor deposition is applied to a heated silylation reagent or the vapor of a silane coupling agent.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、従来より穏やかな条件
下で製造することができる、安定で信頼性の高い液晶表
示素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stable and highly reliable liquid crystal display device which can be manufactured under milder conditions than before.

【0002】[0002]

【従来の技術】特にここ10年間、液晶の電気光学的性
質及び表示素子としての性質が必要とされる様々な技術
分野(例えば時計、電卓、タイプライターの表示部等)
において、液晶が導入されてきた。これらの表示素子
は、液晶化合物のネマチック、コレステリックまたはス
メクチック相における誘電性配向効果を利用するもので
あり、これらの液晶相においては、誘電異方性のために
化合物の分子の長軸は印加電界中で選択的な配向をとっ
ている。表示素子の通常の応答時間は、液晶の応用が可
能なその他の多くの分野にとっては長すぎる。この欠点
は特に、多くのピクセルに電界を印加しなければならな
い場合に顕著である。この問題を解決するためにTFT
(Thin Filmtransistor)を使ったアクティブ・モード
が有効であるが、比較的広い画面面積を有する機器の生
産コストは一般的に高すぎる。
2. Description of the Related Art Especially for the last ten years, various technical fields (eg, display parts of watches, calculators, typewriters, etc.) in which liquid crystal electro-optical properties and properties as display elements are required.
At, liquid crystals have been introduced. These display elements utilize the dielectric alignment effect in the nematic, cholesteric or smectic phase of the liquid crystal compound. In these liquid crystal phases, the long axis of the molecule of the compound is the applied electric field due to the dielectric anisotropy. It has a selective orientation. The normal response time of display devices is too long for many other fields where liquid crystal applications are possible. This drawback is especially noticeable when an electric field has to be applied to many pixels. To solve this problem TFT
The active mode using (Thin Film Transistor) is effective, but the production cost of the device having a relatively large screen area is generally too high.

【0003】ネマチックおよびコレステリック液晶の
他、光学的に活性なスメクチック液晶相もまた、ここ数
年間にその重要性が増大している。
In addition to nematic and cholesteric liquid crystals, optically active smectic liquid crystal phases have also become more important in the last few years.

【0004】クラーク(Clark)およびラガヴァール(L
agerwall)は、非常に薄いセルの中において強誘電性液
晶系を使用すると、通常のTN(ツイステッド・ネマチ
ック)セルの1000倍も速い応答時間を示す電気光学
的スイッチングまたは表示素子が得られることを明らか
にした(例えば、ラガヴァール等、「ディスプレイ用強
誘電性液晶(Ferroelectoric Liquid Crystal Display
s,SID Symposium,October Meeting,1985,San D
iego,Ca,USA」)。このような性質、あるいは、双安
定性スイッチングや、高視野角性、高コントラストなど
の、その他の好ましい性質のため、強誘電性液晶(FL
C)は原理的には上述の応用分野、例えばマトリックス
・アドレスを用いる分野に適している。
Clark and Lagavar (L
agerwall) has found that the use of ferroelectric liquid crystal systems in very thin cells can result in electro-optical switching or display devices that exhibit response times 1000 times faster than conventional TN (twisted nematic) cells. Clarified (eg, Ragavar, "Ferroelectoric Liquid Crystal Display
s, SID Symposium, October Meeting, 1985, San D
iego, Ca, USA ”). Due to such a property or other preferable properties such as bistable switching, high viewing angle property, and high contrast, the ferroelectric liquid crystal (FL) is used.
C) is in principle suitable for the fields of application mentioned above, for example the fields of use of matrix addresses.

【0005】液晶の配向膜を作る手段としては従来ラビ
ング法、あるいは斜め蒸着法などが用られている。ラビ
ング法は、透明電極上に有機高分子膜をスピンコーティ
ング、あるいは印刷等で形成させた後、有機高分子製の
布を巻き付けたローラーを回転させて、有機高分子膜を
擦ることにより液晶分子が擦った方向に配向する。この
方法は、量産性に優れているが、液晶分子の基板からの
傾き角(プレチルト角)が0°から約10°のパネルし
かできない。
Conventionally, a rubbing method or an oblique vapor deposition method has been used as a means for forming an alignment film of liquid crystal. The rubbing method is a method in which an organic polymer film is formed on a transparent electrode by spin coating, printing, or the like, and then a roller around which an organic polymer film is wound is rotated to rub the organic polymer film to form liquid crystal molecules. Are aligned in the rubbing direction. This method is excellent in mass productivity, but only a panel in which the tilt angle (pretilt angle) of liquid crystal molecules from the substrate is 0 ° to about 10 ° can be formed.

【0006】これ以上のプレチルト角が必要な時にはS
iOのような無機化合物の斜め蒸着法が用いられてき
た。特に、強誘電性液晶の配向は2つの’くの字’層構
造(シェブロン構造)を有しており、異なったシェブロ
ン構造の存在はジグザグ欠陥となってディスプレイの品
質上好ましくない。このようなジグザグ欠陥をなくし、
モノドメインな配向を得るために充分大きなプレチルト
が必要であり、斜め蒸着法は強誘電性液晶の配向方法と
して適している。
When a pretilt angle larger than this is required, S
Oblique vapor deposition of inorganic compounds such as iO has been used. In particular, the orientation of the ferroelectric liquid crystal has two "dogleg" layer structures (chevron structure), and the existence of different chevron structures causes zigzag defects, which is not preferable for display quality. Eliminating such zigzag defects,
A sufficiently large pretilt is required to obtain a monodomain alignment, and the oblique vapor deposition method is suitable as an alignment method for ferroelectric liquid crystals.

【0007】斜め蒸着法に関しては、これまでの多くの
文献や(例えば、W. Urbach,M. Boix,and E. Guyon,
Alignment of nematics and smectics on evaporated f
ilms,Applied Physics Letters,Vol.25,N
o.9,1 P479,1974)、多くの特許出願が
なされている(例えば、特開昭62−161122、特
開昭63−66533、特開昭63−66537、特開
昭63−97917、特開平1−198682、特開平
1−313589等)。これら特許は、主に無機化合物
の材料や蒸着条件に関するものである。
[0007] Regarding the oblique deposition method, there are many documents to date (eg W. Urbach, M. Boix, and E. Guyon,
Alignment of nematics and smectics on evaporated f
ilms, Applied Physics Letters, Vol. 25, N
o. 9, 1 P479, 1974) and many patent applications have been filed (for example, JP-A-62-161122, JP-A-63-66533, JP-A-63-66537, JP-A-63-97917, JP-A-HEI-1). -198682, JP-A-1-135589, etc.). These patents mainly relate to materials of inorganic compounds and vapor deposition conditions.

【0008】しかしながら、無機化合物の斜方蒸着層
は、微細なカラム構造を形成するため表面積が大きくな
っており、さらに有機膜よりも親水性が高いことから水
分が吸着しやすいという問題がある。配向膜上に残存す
る水分は、液晶分子の配向性やスイッチング特性に影響
を与えるため好ましくない。さらに、強誘電性液晶表示
素子においては、有機配向膜を用いた場合であっても、
例えば洗浄水が残っている場合、ツイストが発生したり
メモリー状態が焼き付くなどの悪影響が出てしまう。こ
のような理由から、斜方蒸着膜を用いた液晶表示素子の
場合、セルヘ液晶を注入する前にセルを充分乾燥し、好
ましくは減圧加熱によって充分に水分除去することが必
要である。しかし、微細なカラム構造を有しているた
め、充分に水分を除去するにはかなり厳しい脱水条件が
必要である。さらに、斜方蒸着膜を使用した場合、液晶
材料を注入後加熱処理すると、セル中に気泡が発生す
る。気泡の発生を防ぐ方法としても、特開平5−803
39では、300℃以上の温度で斜方蒸着後の基板をア
ニール処理する方法を提案している。しかし、上述のよ
うな水分の除去、気泡発生の防止等のために必要な30
0℃以上の高温での前処理は繁雑であり、またアニール
温度が高温になるとガラス基板のひずみや変形、ITO
の抵抗値の変化など、好ましくない問題が発生する。し
かも、一旦水分を除去した後、再吸着を防ぐために、保
存・処理工程でも乾燥条件下、好ましくは窒素雰囲気下
などで行わなければならないため、実用的であるとはい
えない。
However, the oblique vapor deposition layer of an inorganic compound has a large surface area because it forms a fine column structure, and since it has a higher hydrophilicity than an organic film, it has a problem that water is easily adsorbed. Moisture remaining on the alignment film is not preferable because it affects the alignment properties and switching characteristics of liquid crystal molecules. Furthermore, in the ferroelectric liquid crystal display element, even when an organic alignment film is used,
For example, if the cleaning water remains, the adverse effects such as the occurrence of twist and the burning of the memory state will occur. For this reason, in the case of a liquid crystal display device using an obliquely vapor-deposited film, it is necessary to sufficiently dry the cell before injecting the liquid crystal into the cell and preferably sufficiently remove water by heating under reduced pressure. However, since it has a fine column structure, quite severe dehydration conditions are required to sufficiently remove water. Further, when the oblique vapor deposition film is used, when the liquid crystal material is injected and then heat-treated, bubbles are generated in the cell. As a method for preventing the generation of air bubbles, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-803
39, proposes a method of annealing the substrate after the oblique deposition at a temperature of 300 ° C. or higher. However, it is necessary to remove water as described above and to prevent bubbles from occurring.
Pretreatment at high temperature of 0 ° C or more is complicated, and when the annealing temperature becomes high, distortion or deformation of the glass substrate, ITO, etc.
An unfavorable problem such as a change in the resistance value occurs. Moreover, once the water is removed, in order to prevent re-adsorption, it must be carried out in a storage / treatment step under dry conditions, preferably under a nitrogen atmosphere, so that it is not practical.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は従来
より穏やかな条件下で製造することができる、安定で優
れた無機斜方蒸着膜を有する液晶表示素子を提供して、
上記問題を解決することを目的とする。
Therefore, the present invention provides a liquid crystal display device having a stable and excellent inorganic oblique vapor deposition film, which can be manufactured under milder conditions than conventional ones.
The purpose is to solve the above problems.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも一
方の配向膜がシラン処理された無機化合物の斜方蒸着膜
であることを特徴とする、一方または両方の内面に透明
電極および配向膜が順次形成された一対の基板間に液晶
層が狭持されている液晶表示素子を提供する。本発明の
液晶表示素子は、無機蒸着膜表面に存在する水酸基や吸
着水分がシラン処理剤で疎水性処理されているため、水
分の吸着を防ぎ、より乾燥しやすくなっている点に特徴
がある。
The present invention is characterized in that at least one of the alignment films is a silane-treated oblique vapor deposition film of an inorganic compound. One or both of the inner surfaces are provided with a transparent electrode and an alignment film. Provided is a liquid crystal display device in which a liquid crystal layer is sandwiched between a pair of substrates that are sequentially formed. The liquid crystal display device of the present invention is characterized in that the hydroxyl groups and the adsorbed water present on the surface of the inorganic vapor deposition film are subjected to the hydrophobic treatment with the silane treating agent, so that the adsorption of the water is prevented and the film is more easily dried. .

【0011】本発明で使用する蒸着膜用の無機化合物と
しては、酸化ケイ素、酸化イットリウム、酸化マグネシ
ウム、酸化ジルコニウム等の無機酸化物が挙げられる。
また、斜方蒸着膜の形成は、従来技術の欄で列挙した文
献や公報に記載されているような当業者に公知の手段に
より行うことができる。
Examples of the inorganic compound for the vapor deposition film used in the present invention include inorganic oxides such as silicon oxide, yttrium oxide, magnesium oxide and zirconium oxide.
The oblique vapor deposition film can be formed by means known to those skilled in the art, such as those described in the documents and publications listed in the section of the prior art.

【0012】また、本発明で使用するシラン処理剤とし
ては、トリメチルクロロシラン、トリエチルクロロシラ
ン、トリクロロフェニルシラン、ジメチルジクロロシラ
ン、ジクロロメチルシラン、ジクロロエチルシラン、ジ
クロロメチルフェニルシラン、トリメチルクロロシラ
ン、トリメチルヨードシラン、トリメチルシアノシラ
ン、ジメチルクロロシラン、t−ブチルジメチルクロロ
シラン、トリエチルクロロシラン、トリ−n−プロピル
クロロシラン、トリ−n−ブチルクロロシラン、トリフ
ェニルクロロシラン、トリメチルシリルイミダゾール、
トリメチルシリルアセトアミド、N,N−ジメチルアミ
ノトリメチルシラン、N,N−ジエチルアミノトリメチ
ルシラン、ヘキサメチルジシラザン、テトラメチルジシ
ラザン、N,N’−ビス(トリメチルシリル)尿素、
N,N’−ビス(トリエチルシリル)尿素、N,N−ジ
メチルアミノトリメチルシラン、N−トリメチルシリル
フェニル尿素のようなシリル化剤や、トリメトキシメチ
ルシラン、トリエトキシメチルシラン、トリメトキシフ
ェニルシラン、トリエトキシフェニルシラン、ジメトキ
シジメチルシラン、ジエトキシジメチルシラン、ジメト
キシメチルシラン、ジエトキシメチルシラン、ジメトキ
シジフェニルシラン、ジエトキシジフェニルシランのよ
うなシランカップリング剤などがあげられる。
As the silane treating agent used in the present invention, trimethylchlorosilane, triethylchlorosilane, trichlorophenylsilane, dimethyldichlorosilane, dichloromethylsilane, dichloroethylsilane, dichloromethylphenylsilane, trimethylchlorosilane, trimethyliodosilane, Trimethylcyanosilane, dimethylchlorosilane, t-butyldimethylchlorosilane, triethylchlorosilane, tri-n-propylchlorosilane, tri-n-butylchlorosilane, triphenylchlorosilane, trimethylsilylimidazole,
Trimethylsilylacetamide, N, N-dimethylaminotrimethylsilane, N, N-diethylaminotrimethylsilane, hexamethyldisilazane, tetramethyldisilazane, N, N'-bis (trimethylsilyl) urea,
Silylating agents such as N, N'-bis (triethylsilyl) urea, N, N-dimethylaminotrimethylsilane and N-trimethylsilylphenylurea, trimethoxymethylsilane, triethoxymethylsilane, trimethoxyphenylsilane, tri Examples thereof include silane coupling agents such as ethoxyphenylsilane, dimethoxydimethylsilane, diethoxydimethylsilane, dimethoxymethylsilane, diethoxymethylsilane, dimethoxydiphenylsilane, and diethoxydiphenylsilane.

【0013】シラン処理は、加熱したシリル化剤あるい
はシランカップリング剤の蒸気に斜方蒸着を施したガラ
ス基板を曝すことにより容易に行うことができる。ま
た、少量の水と加水分解用触媒(例えば塩酸、酢酸等)
を含む溶媒にシランを溶解させ、この溶液に基板を浸漬
させて反応させる方法や、クロロシラン系シラン処理剤
を3級アミンと混合し、その中に基板を浸漬させる方法
などもある。これらの方法で使用する溶媒としては、ア
ルコール類、ベンゼン、ハロゲン化炭化水素等を挙げる
ことができる。反応後は、トルエン、ヘキサン等で余分
のシラン化合物や副生成物を洗い流した後、溶媒を除去
するために例えば約100℃で乾燥するのが好ましい。
また、水とシラン処理剤との副反応を抑え、シラン処理
剤の使用量を少なくするために、シラン処理の前になる
べく基板を乾燥させておくことが好ましい。
The silane treatment can be easily carried out by exposing the obliquely vapor-deposited glass substrate to the vapor of the heated silylating agent or silane coupling agent. Also, a small amount of water and a catalyst for hydrolysis (eg hydrochloric acid, acetic acid, etc.)
There is also a method in which silane is dissolved in a solvent containing and the substrate is immersed in this solution for reaction, or a method in which a chlorosilane-based silane treating agent is mixed with a tertiary amine and the substrate is immersed therein. Examples of the solvent used in these methods include alcohols, benzene and halogenated hydrocarbons. After the reaction, it is preferable to wash away excess silane compounds and by-products with toluene, hexane, etc., and then dry at, for example, about 100 ° C. to remove the solvent.
Further, in order to suppress a side reaction between water and the silane treating agent and reduce the amount of the silane treating agent used, it is preferable to dry the substrate as much as possible before the silane treatment.

【0014】本発明の液晶表示素子は、シラン処理され
た無機化合物の斜方蒸着基板を用いて、当業者に周知の
方法により製造することができる。シラン処理された無
機化合物の斜方蒸着膜は、本発明の液晶表示素子の基板
の一方の内面のみに形成されていてもよいし、両方の内
面に形成されていてもよい。一方の内面のみに形成され
ている場合は、他方の内面には配向膜が形成されていな
くてもよいし、当業者に公知のいずれの配向膜が形成さ
れていてもよい。他の配向膜としては、有機配向膜が挙
げられ、例えば一般にネマチックまたは強誘電性液晶の
配向膜として使用されるポリアミド、ポリイミド、ポリ
ビニルアルコール系の高分子配向膜やシランカップリン
グ剤などをラビングして使用することができる。本発明
の液晶表示素子には、様々な種類の液晶を使用すること
ができるが、その中でも強誘電性液晶を用いるのが好ま
しい。
The liquid crystal display device of the present invention can be manufactured by a method well known to those skilled in the art using an oblique vapor deposition substrate of a silane-treated inorganic compound. The silane-treated oblique vapor deposition film of an inorganic compound may be formed on only one inner surface of the substrate of the liquid crystal display element of the present invention, or may be formed on both inner surfaces. When it is formed on only one inner surface, the alignment film may not be formed on the other inner surface, or any alignment film known to those skilled in the art may be formed. Examples of other alignment films include organic alignment films, for example, rubbing polyamide, polyimide, polyvinyl alcohol-based polymer alignment films, silane coupling agents, etc., which are generally used as alignment films for nematic or ferroelectric liquid crystals. Can be used. Although various kinds of liquid crystals can be used in the liquid crystal display element of the present invention, it is preferable to use the ferroelectric liquid crystal among them.

【0015】[0015]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明の特徴および効
果を具体的に示すが、本発明はこれらの実施例に限定さ
れるものではない。
EXAMPLES The features and effects of the present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0016】(実施例1)ピンホールの開いた、蓋付き
タンタル製ボートにSiO粉末を入れ、それを抵抗加熱
することによりITOが設けられたガラス基板上に、膜
厚400ÅのSiO斜方蒸着膜を形成した。蒸着時の真
空度、蒸着速度および蒸着角度はそれぞれ、10-5トー
ル、7Å/秒、85°であった。
(Example 1) SiO powder was put in a tantalum boat with a lid and a pinhole opened, and resistance heating was performed on the glass substrate provided with ITO to obliquely vapor-deposit SiO film having a thickness of 400 Å. A film was formed. The vacuum degree, vapor deposition rate and vapor deposition angle during vapor deposition were respectively 10 −5 Torr, 7 Å / sec and 85 °.

【0017】トリメチルクロロシラン10重量部、トリ
エチルアミン10重量部、トルエン80重量部の溶液に
上記SiO斜方蒸着基板を浸漬した。基板表面についた
副生成物の塩を水で洗い流し、さらにヘキサン中で超音
波洗浄を行って、120℃でヘキサンを減圧乾燥した。
The SiO oblique deposition substrate was immersed in a solution of 10 parts by weight of trimethylchlorosilane, 10 parts by weight of triethylamine and 80 parts by weight of toluene. The by-product salt on the surface of the substrate was washed away with water, ultrasonically washed in hexane, and hexane was dried under reduced pressure at 120 ° C.

【0018】このようにシラン処理されたSiO斜方蒸
着基板を用いて、1.5μmのセルギャップで蒸着方向
が平行になるようにセルを作製した。その間に下記に示
す特性を有する強誘電性液晶(ヘキスト社製)を、真空
オーブン中にてネマチック相で注入した。
A cell was produced using the silane-treated SiO diagonal vapor deposition substrate as described above so that the vapor deposition directions were parallel to each other with a cell gap of 1.5 μm. Meanwhile, a ferroelectric liquid crystal (manufactured by Hoechst) having the following characteristics was injected in a nematic phase in a vacuum oven.

【0019】[0019]

【表1】 このようにして製造した、液晶セルは欠陥のないモノド
メインを形成していた。このセルに室温で70μ秒、±
20Vの電圧パルスを印加したときスイッチングした。
このセル中での有効コーン角は43°で、メモリ時のコ
ントラストは200以上であった。また、このセルを1
10℃で24時間で貯蔵したが配向、スイッチング特性
等に変化はなかった。
[Table 1] The liquid crystal cell manufactured in this manner formed a defect-free monodomain. 70 μs at room temperature for ±
Switching was performed when a voltage pulse of 20 V was applied.
The effective cone angle in this cell was 43 °, and the contrast in memory was 200 or more. Also, this cell
After being stored at 10 ° C. for 24 hours, there was no change in orientation, switching characteristics and the like.

【0020】(実施例2)実施例1において、トリメチ
ルクロロシランの代わりにヘキサメチルジシラザンを用
いた。冷却管を備えた反応器内にヘキサメチルジシラザ
ンとSiO斜方蒸着基板を仕込み、120℃に加熱、沸
騰させてその蒸気で基板表面を処理した。30分間反応
させた後、実施例1と同様の後処理を行いセルを作製
し、液晶の評価を行った。配向、その他の特性は実施例
1と同様の結果であった。
Example 2 In Example 1, hexamethyldisilazane was used instead of trimethylchlorosilane. Hexamethyldisilazane and an SiO vapor deposition substrate were placed in a reactor equipped with a cooling tube, heated to 120 ° C., boiled, and the substrate surface was treated with the vapor. After reacting for 30 minutes, the same post-treatment as in Example 1 was performed to prepare a cell, and the liquid crystal was evaluated. The orientation and other characteristics were the same as those in Example 1.

【0021】(実施例3)実施例2において、ヘキサメ
チルジシラザンの代わりにN,N’−ビス(トリメチル
シリル)アセトアミドを用いた。冷却管を備えた反応器
内にN,N’−ビス(トリメチルシリル)アセトアミド
とSiO斜方蒸着基板を仕込み、100℃に加熱、沸騰
させてその蒸気で基板表面を処理した。30分間反応さ
せた後、実施例1と同様の後処理を行ってセルを作製
し、液晶の評価を行った。配向、その他の特性は実施例
1と同様の結果であった。
(Example 3) In Example 2, N, N'-bis (trimethylsilyl) acetamide was used in place of hexamethyldisilazane. N, N′-bis (trimethylsilyl) acetamide and a SiO oblique deposition substrate were charged in a reactor equipped with a cooling tube, heated to 100 ° C. and boiled to treat the substrate surface with the vapor. After reacting for 30 minutes, the same post-treatment as in Example 1 was performed to prepare a cell, and the liquid crystal was evaluated. The orientation and other characteristics were the same as those in Example 1.

【0022】(実施例4)実施例2において、ヘキサメ
チルジシラザンの代わりにジメチルジメトキシシランを
用いた。冷却管を備えた反応器内にジメチルジメトキシ
シランとSiO斜方蒸着基板を仕込み、100℃に加
熱、沸騰させてその蒸気で基板表面を処理した。30分
間反応させた後、実施例1と同様の後処理を行いセルを
作製し、液晶の評価を行った。配向、その他特性は実施
例1と同様の結果であった。
Example 4 In Example 2, dimethyldimethoxysilane was used instead of hexamethyldisilazane. In a reactor equipped with a cooling tube, dimethyldimethoxysilane and a SiO vapor deposition substrate were charged, heated to 100 ° C. and boiled, and the substrate surface was treated with the vapor. After reacting for 30 minutes, the same post-treatment as in Example 1 was performed to prepare a cell, and the liquid crystal was evaluated. The orientation and other characteristics were the same as those in Example 1.

【0023】(比較例1)実施例1のシラン処理前のS
iO斜方蒸着基板を120℃で2時間減圧下で脱水乾燥
後、セルを作製して実施例1と同様の評価をおこなっ
た。注入直後の性能は、実施例1と同様であったが、1
10℃で24時間貯蔵後、配向が乱れていた。また、セ
ル中に気泡の発生がみられた。さらに、スメクチックC
相からスメクチックA相への転移温度が2℃低下し、し
きい値電圧も10%高くなった。
Comparative Example 1 S before the silane treatment of Example 1
The iO orthorhombic vapor deposition substrate was dehydrated and dried at 120 ° C. for 2 hours under reduced pressure, and then a cell was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1. Performance immediately after injection was similar to Example 1, but 1
The orientation was disturbed after storage at 10 ° C. for 24 hours. In addition, bubbles were observed in the cell. In addition, smectic C
The transition temperature from the phase to the smectic A phase was lowered by 2 ° C. and the threshold voltage was also increased by 10%.

【0024】(比較例2)比較例1のシラン処理前のS
iO斜方蒸着基板の脱水乾燥条件を200℃で2時間減
圧下とし、セルを作製して比較例1と同様の評価をおこ
なった。注入直後の性能は、やはり実施例1と同様であ
ったが、110℃で24時間貯蔵後、若干配向が乱れて
いた。セル中の気泡は比較例1と比較すると少なかった
が発生しており、容認できるものではなかった。また、
スメクチックC相からスメクチックA相への転移温度が
1℃低下し、しきい値電圧は10%高くなった。このよ
うに、セル作製前にSiO斜方蒸着基板を加熱乾燥する
ことによってセルの安定性は若干改良されたが、200
℃でも不十分であった。
Comparative Example 2 S before the silane treatment of Comparative Example 1
The dehydration and drying conditions of the iO oblique vapor deposition substrate were set to 200 ° C. under reduced pressure for 2 hours, a cell was prepared, and the same evaluation as in Comparative Example 1 was performed. The performance immediately after injection was similar to that of Example 1, but the orientation was slightly disturbed after storage at 110 ° C. for 24 hours. The number of air bubbles in the cell was smaller than that of Comparative Example 1, but was generated, which was not acceptable. Also,
The transition temperature from the smectic C phase to the smectic A phase was lowered by 1 ° C., and the threshold voltage was increased by 10%. As described above, the stability of the cell was slightly improved by heating and drying the SiO oblique deposition substrate before the cell was manufactured.
Even at ℃ was insufficient.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明の液晶表示素子は、無機化合物斜
方蒸着膜の少なくとも一方がシラン処理されていること
を特徴とする。シラン処理によって斜方蒸着膜の活性基
である水酸基が疎水化されているため、蒸着膜は水分を
吸着しにくくなっており、基板の管理がより容易になっ
ている。また、本発明の液晶表示素子は、無機化合物の
斜方蒸着膜を有する従来の液晶表示素子の製造条件より
穏やかな条件下で製造することができる。
The liquid crystal display device of the present invention is characterized in that at least one of the inorganic compound oblique vapor deposition films is treated with silane. Since the hydroxyl groups, which are the active groups of the oblique vapor deposition film, are hydrophobized by the silane treatment, the vapor deposition film is less likely to adsorb moisture, and the substrate is easier to manage. Further, the liquid crystal display device of the present invention can be manufactured under milder conditions than those of the conventional liquid crystal display device having an oblique vapor deposition film of an inorganic compound.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 晴彦 埼玉県川越市南台1−3−2 ヘキストジ ャパン株式会社先端材料技術研究所内 (72)発明者 ヤフィーア・マネロ ドイツ連邦共和国65931 フランクフルト, ジントリンガー・バーンシュトラーセ 163 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Haruhiko Ito 1-3-2 Minamidai, Kawagoe City, Saitama Hoechst Japan Co., Ltd., Institute for Advanced Materials Technology (72) Inventor Jaffia Manello 65931 Federal Republic of Germany Frankfurt, Gintlinger Bernstrasse 163

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一方または両方の内面に透明電極および配
向膜が順次形成された一対の基板間に液晶層が狭持され
ている液晶表示素子において、少なくとも一方の配向膜
がシラン処理された無機化合物の斜方蒸着膜であること
を特徴とする液晶表示素子。
1. A liquid crystal display device having a liquid crystal layer sandwiched between a pair of substrates having a transparent electrode and an alignment film sequentially formed on one or both inner surfaces, and at least one of the alignment films is a silane-treated inorganic material. A liquid crystal display device, which is an oblique vapor deposition film of a compound.
【請求項2】無機化合物が酸化ケイ素であることを特徴
とする、請求項1記載の液晶表示素子。
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the inorganic compound is silicon oxide.
【請求項3】液晶層が強誘電性液晶からなることを特徴
とする、請求項1記載の液晶表示素子。
3. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the liquid crystal layer is made of a ferroelectric liquid crystal.
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