JPH08190136A - Camera system - Google Patents

Camera system

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Publication number
JPH08190136A
JPH08190136A JP7000991A JP99195A JPH08190136A JP H08190136 A JPH08190136 A JP H08190136A JP 7000991 A JP7000991 A JP 7000991A JP 99195 A JP99195 A JP 99195A JP H08190136 A JPH08190136 A JP H08190136A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emission
state
subject image
test light
flash
Prior art date
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Pending
Application number
JP7000991A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeya Tsukamoto
剛也 塚本
Tsutomu Ichikawa
勉 市川
Kotaro Kawabe
浩太郎 川邉
Katsuyuki Nanba
克行 難波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP7000991A priority Critical patent/JPH08190136A/en
Publication of JPH08190136A publication Critical patent/JPH08190136A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Stroboscope Apparatuses (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Focusing (AREA)

Abstract

PURPOSE: To prevent work for confirming a shadow state made in a subject by normal light emission before photographing from being interrupted even when operation for designating the setting of a subject image state is performed in the midst of test light emission by constituting a camera system so that action for setting the subject image state can be controlled. CONSTITUTION: In the case autofocusing operation is performed in the midst of the test light emission, a microcomputer 1B controls the autofocusing action of a focus driving part 3 so that the action being the cause of changing a focusing state is restricted so as not to change the focusing state in the midst of the test light emission by limiting pitch in order to reduce the detection region of a focusing area and inhibiting a low contrast scanning action. Therefore, even when the condition of autofocusing action is changed between at the time of autofocusing operation and at the time of starting the test light emission, a user confirms the same focusing state as that at the time of starting the test light emission through a finder FR.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、カメラシステムに関す
るものであり、更に詳しくは、テスト発光可能なフラッ
シュ装置を備えたカメラシステムに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a camera system, and more particularly to a camera system equipped with a flash device capable of test flash.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のフラッシュ装置のなかには、本発
光のほかにテスト発光(「モデリング発光」ともいう。)
の機能を備えたものが知られている。本発光がフラッシ
ュ撮影時の露光のために行われるのに対し、テスト発光
は、本発光によって被写体に生じる陰影状態(照明状
態,反射の様子,被写体の影の方向・大きさ等)をファ
インダを通して撮影前に確認するために行われる。
2. Description of the Related Art Some conventional flash devices emit test light (also called "modeling light emission") in addition to main light emission.
Those with the function of are known. The main flash is used for exposure during flash photography, while the test flash uses the viewfinder to view the shadows (lighting conditions, reflections, shadow direction, size, etc.) of the subject that are generated by the main flash. It is done to confirm before shooting.

【0003】上記テスト発光は、フラッシュ装置を小光
量で間欠発光させることにより行われる。つまり、本発
光に補助照明として使用されるフラッシュ発光部をその
まま用い、発光量や発光タイミング,発光周期をコント
ロールすることで、テスト発光モードに応じた間欠発光
によりテスト発光が行われる。テスト発光モードとして
は、例えば、ポートレートモード(周波数2Hz,発光
回数3回,発光時間1秒間)やマクロモード(周波数40
Hz,発光回数160回,発光時間4秒間)が挙げられ
る。
The test light emission is performed by intermittently emitting a small amount of light from a flash device. That is, by using the flash light emitting portion used as the auxiliary illumination for the main light emission as it is, and controlling the light emission amount, the light emission timing, and the light emission cycle, the test light emission is performed by the intermittent light emission according to the test light emission mode. Examples of the test flash mode include portrait mode (frequency 2 Hz, flash count 3 times, flash time 1 second) and macro mode (frequency 40
Hz, the number of times of light emission is 160 times, and the light emission time is 4 seconds).

【0004】フラッシュ装置のフラッシュ発光部は本発
光とテスト発光とに共用されるので、テスト発光専用に
ランプ等を別設したものに比べると、例えば以下のよう
なメリットがある。 本発光と照射方向や照射角度が同じなので、本発光に
より発光する陰影状態を正確にシミュレートすることが
できる。 コンパクトにできる。 安くできる。
Since the flash light emitting portion of the flash device is used for both main light emission and test light emission, it has the following merits, for example, as compared with the case where a lamp or the like is separately provided only for test light emission. Since the irradiation direction and irradiation angle are the same as those of the main light emission, it is possible to accurately simulate the shaded state in which light is emitted by the main light emission. Can be made compact. Can be cheap.

【0005】ところで、近年、市販のオートフォーカス
一眼レフカメラのなかには、アイコントロール機能を有
するものが知られている。この機能によれば、視線入力
による測距点選択等が可能である。つまり、使用者がフ
ァインダを覗いてファインダ視野内に設けられている複
数のフォーカスエリアのうちの1つを見ながらシャッタ
ーボタンを半押しすると、使用者の視線を視線検出用C
CD(Charge CoupledDevice)エリアセンサが検知し、そ
の検知された視線位置にあるフォーカスエリアが選択さ
れるのである。そして、その選択されたフォーカスエリ
アでのピント状態が検出され、その検出結果に基づいた
レンズ駆動によって、オートフォーカスが行われる。
By the way, in recent years, among commercially available autofocus single-lens reflex cameras, one having an eye control function is known. With this function, it is possible to select a distance measuring point by inputting a line of sight. In other words, when the user looks into the viewfinder and presses the shutter button halfway while looking at one of the focus areas provided in the viewfinder field, the user's line of sight is detected by the line-of-sight detection C
A CD (Charge Coupled Device) area sensor detects the focus area and the focus area at the detected line-of-sight position is selected. Then, the focus state in the selected focus area is detected, and the lens is driven based on the detection result to perform the autofocus.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前述のテスト発光中に
オートフォーカスの起動を指示する操作(シャッターボ
タンの半押し,接眼検知動作等)が行われると、撮影者
の意図していない被写体(つまり、テスト発光中に合焦
状態にある主被写体以外の被写体)にピントを合わせる
ようにオートフォーカス動作が行われてしまい、その結
果、被写体像のピント状態が変化してしまう場合があ
る。このようなオートフォーカス動作としては、例え
ば、大きくピントのズレた位置にある被写体(主被写体
の背景等)にピントを合わせるために行われるレンズ駆
動動作,低コントラストの被写体にピントを合わせるた
めに行われるローコントラストスキャン動作等が挙げら
れる。このように被写体像のピント状態が変化すると、
ファインダを通した前記陰影状態の確認作業が余儀なく
中断されるという問題が生じる。
When an operation for instructing the activation of autofocus (half-pressing of the shutter button, eyepiece detection operation, etc.) is performed during the above-described test light emission, a subject (that is, a subject not intended by the photographer) , The subject other than the main subject, which is in focus during the test flash, is automatically focused, and as a result, the focus state of the subject image may change. Examples of such an autofocus operation include a lens drive operation performed to focus on a subject (background of the main subject, etc.) at a greatly defocused position, and a focus adjustment on a subject with low contrast. A low contrast scan operation, etc., which is referred to as an example. When the focus state of the subject image changes in this way,
There is a problem that the work of confirming the shaded state through the finder is forced to be interrupted.

【0007】また、テスト発光中、使用者はファインダ
内を覗きながら被写体全体を捉えようとするので、常に
主被写体を的確に捉えているとは限らない。従って、視
線入力による測距点選択が可能な前記カメラにおいて、
テスト発光中にオートフォーカスの起動を指示する前記
視線検知が行われると、上記と同様、撮影者の意図して
いない被写体にピントを合わせるようにオートフォーカ
ス動作が行われてしまい、その結果、被写体像のピント
状態が変化してしまう場合がある。従って、この場合も
ファインダを通した前記陰影状態の確認作業が余儀なく
中断されるという問題が生じる。
Further, during the test light emission, the user tries to capture the entire subject while looking into the viewfinder, so that the main subject is not always captured accurately. Therefore, in the camera capable of selecting a distance measuring point by line-of-sight input,
When the line-of-sight detection that instructs activation of autofocus is performed during test flash, the autofocus operation is performed to focus on a subject not intended by the photographer, as a result, and as a result, the subject The focus state of the image may change. Therefore, also in this case, there is a problem that the work of confirming the shadow state through the finder is forced to be interrupted.

【0008】前記陰影状態の確認作業を中断させる原因
は、オートフォーカス動作によるピント状態の変化に限
らない。例えば、ズーミング,2焦点以上の焦点切換え
によって焦点距離が変化した場合;トリミング撮影,パ
ノラマ撮影時にファインダ視野の切換えを行った場合等
に生じる画角変化のように、ファインダを通して確認さ
れる被写体像状態がテスト発光中に変化すれば、上記確
認作業は中断されてしまうのである。
The cause of interrupting the checking operation of the shadow state is not limited to the change of the focus state due to the autofocus operation. For example, when the focal length changes due to zooming or switching between two or more focal points; the view angle changes that occur when changing the viewfinder field during trimming shooting or panoramic shooting. If changes during the test flash, the above confirmation work is interrupted.

【0009】また、カメラが、オートフォーカスによっ
て得られた撮影距離に基づいて最適な撮影倍率となるよ
うにズーミングを行う機能(いわゆるオートズーム機能)
を備えている場合には、オートフォーカスにズーミング
が連動してしまうため、ピント状態変化に画角変化が伴
って被写体像状態が変化することになる。
A function of the camera to perform zooming so as to obtain an optimum shooting magnification based on the shooting distance obtained by autofocusing (so-called auto zoom function)
If the zoom lens is equipped with, the zooming will be linked to the auto focus, and the subject image state will change with the change of the focus angle and the change of the angle of view.

【0010】本発明はこれらの点に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、テスト発光中に被写体像状態の
設定を指示する操作が行われても、本発光によって被写
体に生じる陰影状態をファインダを通して撮影前に確認
する作業が中断されないカメラシステムを提供すること
にある。
The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a shadow state produced on a subject by main flashing even if an operation for instructing setting of a subject image state is performed during test flashing. An object of the present invention is to provide a camera system in which the work of confirming through the viewfinder before shooting is not interrupted.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第1の発明に係るカメラシステムは、被写体像状態
を確認するためのファインダを備えたカメラ本体と,前
記ファインダを通して確認される被写体像状態の設定を
行う被写体像状態設定手段と,該被写体像状態設定手段
の設定動作を制御する制御手段と,フラッシュ撮影時の
露光のために行われる本発光と該本発光によって被写体
に生じる陰影状態を前記ファインダを通して撮影前に確
認するために行われるテスト発光とが可能な発光手段
と,を具備するカメラシステムにおいて、前記制御手段
は、前記テスト発光中に前記被写体像状態の設定を指示
する操作が行われても、テスト発光中の被写体像状態が
変化しないように前記被写体像状態設定手段の設定動作
を制御することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a camera system according to a first aspect of the present invention comprises a camera body having a finder for confirming a state of a subject image, and a subject image confirmed through the finder. Subject image state setting means for setting a state, control means for controlling the setting operation of the subject image state setting means, main light emission for exposure during flash photography, and a shadow state produced on the subject by the main light emission And a light emitting means capable of performing test light emission for confirming through the viewfinder before photographing, wherein the control means is an operation for instructing setting of the subject image state during the test light emission. The setting operation of the subject image state setting means is controlled so that the subject image state during test light emission does not change even if To.

【0012】第2の発明に係るカメラシステムは、被写
体像状態を確認するためのファインダを備えたカメラ本
体と,前記ファインダを通して確認される被写体像状態
の設定を行う被写体像状態設定手段と,該被写体像状態
設定手段の設定動作を制御する制御手段と,フラッシュ
撮影時の露光のために行われる本発光と該本発光によっ
て被写体に生じる陰影状態を前記ファインダを通して撮
影前に確認するために行われるテスト発光とが可能な発
光手段と,を具備するカメラシステムにおいて、前記制
御手段は、前記テスト発光中に前記被写体像状態の設定
を指示する操作が行われた場合には、前記被写体像状態
を変化させる原因となる動作を制限することによって、
テスト発光中の被写体像状態が変化しないように前記被
写体像状態設定手段の設定動作を制御することを特徴と
する。
A camera system according to a second aspect of the present invention includes a camera body having a finder for confirming a subject image state, subject image state setting means for setting a subject image state confirmed through the finder, and Control means for controlling the setting operation of the subject image state setting means, main light emission for exposure at the time of flash photography, and for confirming the shadow state produced on the subject by the main light emission through the viewfinder before photographing In a camera system including a light emitting unit capable of performing test light emission, the control unit changes the object image state when the operation for instructing the setting of the object image state is performed during the test light emission. By limiting the behavior that causes it to change,
The setting operation of the subject image state setting means is controlled so that the subject image state during test light emission does not change.

【0013】第3の発明に係るカメラシステムは、被写
体像状態を確認するためのファインダを備えたカメラ本
体と,前記ファインダを通して確認される被写体像状態
の設定を行う被写体像状態設定手段と,フラッシュ撮影
時の露光のために行われる本発光と該本発光によって被
写体に生じる陰影状態を前記ファインダを通して撮影前
に確認するために行われるテスト発光とが可能な発光手
段と,前記被写体像状態設定手段の設定動作と前記発光
手段のテスト発光とを制御する制御手段と,を具備する
カメラシステムにおいて、前記制御手段は、前記被写体
像状態の設定動作中に前記テスト発光を指示する操作が
行われた場合には、該設定動作中のテスト発光を禁止
し、前記テスト発光中に前記被写体像状態の設定を指示
する操作が行われた場合には、テスト発光中の被写体像
状態の設定動作を禁止するように、前記被写体像状態設
定手段を制御することを特徴とする。
A camera system according to a third aspect of the present invention includes a camera body having a finder for confirming a subject image state, a subject image state setting means for setting a subject image state confirmed through the finder, and a flash. Light emitting means capable of main light emission for exposure at the time of shooting and test light emission for confirming a shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder before photographing, and the subject image state setting means And a control means for controlling the test light emission of the light emitting means, the control means performs an operation for instructing the test light emission during the setting operation of the subject image state. In this case, the test light emission during the setting operation is prohibited, and the operation for instructing the setting of the subject image state is performed during the test light emission. Expediently, so as to prohibit setting operation of the subject image state during the test firing, and controlling the object image condition setting means.

【0014】第4の発明に係るカメラシステムは、被写
体像状態を確認するためのファインダを備えたカメラ本
体と,前記ファインダを覗く使用者の視線位置を検知す
る視線検知手段と,前記ファインダを通して確認される
被写体像状態の設定を行う被写体像状態設定手段と,前
記視線検知手段により検知された視線位置及び該視線位
置に対応して予め設定されている被写体像状態の情報に
基づいて、前記被写体像状態設定手段の設定動作を制御
する制御手段と,フラッシュ撮影時の露光のために行わ
れる本発光と該本発光によって被写体に生じる陰影状態
を前記ファインダを通して撮影前に確認するために行わ
れるテスト発光とが可能な発光手段と,を具備するカメ
ラシステムにおいて、前記制御手段は、前記テスト発光
中に前記視線位置の検知を指示する操作が行われても、
テスト発光中の被写体像状態が変化しないように前記被
写体像状態設定手段の設定動作を制御することを特徴と
する。
A camera system according to a fourth aspect of the present invention includes a camera body having a finder for confirming an image state of an object, a visual line detecting means for detecting a visual line position of a user looking into the finder, and confirmation through the finder. The subject image state setting means for setting the subject image state, the subject line state detected by the line-of-sight detecting means, and the subject image state information preset corresponding to the line-of-sight position, based on the subject image state information. Control means for controlling the setting operation of the image state setting means, main light emission performed for exposure during flash photography, and a test performed for confirming the shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder before photographing And a light emitting means capable of emitting light, wherein the control means controls the line-of-sight position during the test light emission. Even if the operation is performed to instruct the detection,
The setting operation of the subject image state setting means is controlled so that the subject image state during test light emission does not change.

【0015】[0015]

【作用】第1の発明によると、テスト発光中に被写体像
状態の設定を指示する操作が行われても、テスト発光中
の被写体像状態が変化しないように、制御手段によって
被写体像状態設定手段の設定動作が制御されるため、こ
の設定動作の条件が上記操作時とテスト発光開始時とで
変化していても、使用者はテスト発光開始時と同じ被写
体像状態をファインダを通して確認することができる。
According to the first aspect of the present invention, the object image state setting means is controlled by the control means so that the object image state during the test light emission does not change even if an operation for instructing the setting of the object image state during the test light emission is performed. Since the setting operation of is controlled, even if the conditions of this setting operation change between the above operation and the start of test flash, the user can confirm the same subject image state as when the test flash started through the viewfinder. it can.

【0016】第2の発明によると、テスト発光中に被写
体像状態の設定を指示する操作が行われた場合には、被
写体像状態を変化させる原因となる動作が制限されるこ
とによって、テスト発光中の被写体像状態が変化しない
ように、制御手段によって被写体像状態設定手段の設定
動作が制御されるため、この設定動作の条件が上記操作
時とテスト発光開始時とで変化していても、使用者はテ
スト発光開始時と同じ被写体像状態をファインダを通し
て確認することができる。
According to the second aspect of the invention, when an operation for instructing the setting of the object image state is performed during the test light emission, the operation causing the change of the object image state is limited, so that the test light emission is performed. Since the setting operation of the subject image state setting means is controlled by the control means so that the inside subject image state does not change, even if the condition of this setting operation changes between the above operation and the start of test light emission, The user can confirm the same subject image state as at the start of test light emission through the viewfinder.

【0017】第3の発明によると、被写体像状態の設定
動作中にテスト発光を指示する操作が行われた場合、設
定動作中のテスト発光を禁止するように、制御手段によ
って発光手段が制御されるため、この被写体像状態設定
手段はテスト発光の影響を受けて誤動作することがな
く、設定動作が中断されることもない。また、テスト発
光中に被写体像状態の設定を指示する操作が行われた場
合には、テスト発光中の被写体像状態の設定動作を禁止
するように、制御手段によって被写体像状態設定手段が
制御されるため、上記設定動作の条件が上記操作時とテ
スト発光開始時とで変化していても、使用者はテスト発
光開始時と同じ被写体像状態をファインダを通して確認
することができる。
According to the third invention, when the operation for instructing the test light emission is performed during the setting operation of the subject image state, the control means controls the light emitting means so as to prohibit the test light emission during the setting operation. Therefore, the subject image state setting means does not malfunction due to the influence of the test light emission, and the setting operation is not interrupted. Further, when an operation for instructing the setting of the subject image state during the test light emission is performed, the control means controls the subject image state setting means so as to prohibit the setting operation of the subject image state during the test light emission. Therefore, even if the condition of the setting operation changes between the above operation and the start of the test light emission, the user can confirm the same subject image state as that at the start of the test light emission through the viewfinder.

【0018】第4の発明によると、テスト発光中に視線
位置の検知動作を指示する操作が行われても、テスト発
光中に被写体像状態が変化しないように、制御手段によ
って被写体像状態設定手段の設定動作が制御されるた
め、テスト発光中に使用者が視線を動かしても、使用者
はテスト発光開始時と同じ被写体像状態をファインダを
通して確認することができる。
According to the fourth aspect of the invention, the subject image state setting means is controlled by the control means so that the subject image state does not change during the test light emission even if the operation for instructing the sight line position detection operation is performed during the test light emission. Since the setting operation is controlled, even if the user moves his or her line of sight during the test light emission, the user can check the same subject image state as at the start of the test light emission through the viewfinder.

【0019】[0019]

【実施例】以下、本発明の実施例に係るカメラシステム
を、図面を参照しつつ説明する。図1は、第1実施例の
回路構成を示すブロック図である。第1実施例は、カメ
ラ本体(以下「ボディ」という。)Bとフラッシュ装置
(以下「フラッシュ」という。)Fとを用いて構成され、
ボディBにフラッシュFを接続した状態で使用される。
ボディBに直接フラッシュFを装着することによって、
ボディBとフラッシュFとを接続してもよいが、フラッ
シュFをボディBから離して使用する場合には、ケーブ
ルでフラッシュFとボディBとを接続してもよく、ワイ
ヤレスフラッシュ撮影の機能を持たせることにより、ワ
イヤレスでフラッシュFとボディBとを接続してもよ
い。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A camera system according to embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the circuit configuration of the first embodiment. The first embodiment is a camera body (hereinafter referred to as "body") B and a flash device.
(Hereinafter referred to as "flash".)
It is used with the flash F connected to the body B.
By mounting the flash F directly on the body B,
The body B and the flash F may be connected, but when the flash F is separated from the body B and used, the flash F and the body B may be connected by a cable and has a function of wireless flash photography. By doing so, the flash F and the body B may be wirelessly connected.

【0020】図1に示すように、ボディB側には、マイ
コン(microcomputer)1B;ピント状態検出部2;フォ
ーカス駆動部3;スイッチS0,S1,S2,SLB;
ファインダFR等が設けられている。マイコン1Bは、
ボディB各部の動作を制御する。ピント状態検出部2
は、被写体に対するカメラのピント状態を検出する。フ
ォーカス駆動部3は、ピント状態検出部2によって検出
されたピント状態情報に基づいて、マイコン1Bの計算
によって得られた駆動量分だけモータ駆動を行う。これ
により、ピント状態が設定される。
As shown in FIG. 1, on the side of the body B, a microcomputer (microcomputer) 1B; a focus state detection unit 2; a focus drive unit 3; switches S0, S1, S2, SLB;
A finder FR and the like are provided. The microcomputer 1B is
The operation of each part of the body B is controlled. Focus state detector 2
Detects the focus state of the camera with respect to the subject. The focus drive unit 3 drives the motor by the drive amount obtained by the calculation of the microcomputer 1B based on the focus state information detected by the focus state detection unit 2. As a result, the focus state is set.

【0021】S0は電源スイッチ、S1は後述するシャ
ッターボタン604(図2)の半押しでONする測光・測
距開始スイッチ、S2はシャッターボタン604(図2)
の全押しでONするレリーズスイッチ、SLBは後述す
るスポット測光ボタン605(図2)が押されるとONす
るスポット測光スイッチである。ファインダFRは、ピ
ント状態,画角等の被写体像状態を確認するためもので
ある。
S0 is a power switch, S1 is a photometry / distance measurement start switch which is turned on by half-pressing a shutter button 604 (FIG. 2) described later, and S2 is a shutter button 604 (FIG. 2).
The release switch, which is turned on when the button is fully pressed, is a spot metering switch, which is turned on when a spot metering button 605 (FIG. 2) described later is pressed. The finder FR is for confirming a subject image state such as a focus state and an angle of view.

【0022】上記スポット測光スイッチSLBは、スポ
ット測光モードの設定とテスト発光要求とに兼用される
スイッチであり、後述するようにONしたときにフラッ
シュF側がテスト発光モード状態にあれば、テスト発光
をスタートさせるためのテスト発光要求信号が発生して
フラッシュFに送信される。なお、このテスト発光要求
信号は、フラッシュF側のテスト発光要求スイッチSL
FのONによっても発生するようになっている。
The spot metering switch SLB is a switch that is used both for setting the spot metering mode and for requesting a test light emission. If the flash F side is in the test light emission mode when turned on as described later, the test light emission is performed. A test light emission request signal for starting is generated and transmitted to the flash F. The test light emission request signal corresponds to the test light emission request switch SL on the flash F side.
It is also generated when F is turned on.

【0023】図2は、フラッシュFに組み合わされるボ
ディBの外観図であり、(a)は正面側から見た斜視図、
(b)は背面側から見た斜視図である。ボディBの正面の
略中央には、交換レンズ(不図示)が装着されるレンズ装
着部602が設けられており、このレンズ装着部602
の上部には、内蔵フラッシュ601が設けられている。
内蔵フラッシュ601は、プルアップボタン601Aを
押すと、ボディB内から上昇して発光部(不図示)が露出
するようになっている。
FIG. 2 is an external view of the body B combined with the flash F. FIG. 2A is a perspective view seen from the front side.
(b) is a perspective view seen from the back side. A lens mounting portion 602, to which an interchangeable lens (not shown) is mounted, is provided substantially in the center of the front surface of the body B. This lens mounting portion 602
A built-in flash 601 is provided on the upper part of.
When the pull-up button 601A is pressed, the built-in flash 601 moves up from the inside of the body B to expose a light emitting portion (not shown).

【0024】スポット測光ボタン605は、スポット測
光とテスト発光モードにおけるテスト発光との機能が多
重化された操作ボタンであり、このスポット測光ボタン
605を押すと、前記スポット測光スイッチSLBがO
N状態となる。シャッターボタン604は、前記スイッ
チS1,S2をONさせる操作ボタンである。
The spot metering button 605 is an operation button in which the functions of spot metering and test flash in the test flash mode are multiplexed, and when the spot metering button 605 is pressed, the spot metering switch SLB is turned on.
The N state is set. The shutter button 604 is an operation button for turning on the switches S1 and S2.

【0025】ボディB側にテスト発光をスタートさせる
操作ボタン(即ち、スポット測光ボタン605)が設けら
れているのは、ファインダFRを覗きながら被写体の陰
影状態を確認している状況では、後述するフラッシュF
側の操作ボタン10(図3)は操作しづらかったり操作不
可能であったりするからである。つまり、フラッシュF
がボディBに直接装着されている場合、ファインダFR
を覗きながらフラッシュF側でボタン操作するのは難し
く、また、フラッシュFをボディBから離して撮影を行
う場合(前述したケーブル接続の場合やワイヤレスフラ
ッシュ撮影の場合)には、ボタン操作できないこともあ
りうるからである。
The operation button (that is, the spot metering button 605) for starting the test light emission is provided on the side of the body B. In the situation where the shadow state of the subject is confirmed while looking through the viewfinder FR, a flash described later is provided. F
This is because the operation button 10 (FIG. 3) on the side is difficult or inoperable. That is, flash F
Is attached directly to the body B, the finder FR
It is difficult to operate the buttons on the flash F side while looking into the camera. Also, when shooting with the flash F separated from the body B (in the case of the above-mentioned cable connection or wireless flash shooting), it may not be possible to operate the buttons. Because it is possible.

【0026】しかし、ボディB側のボタン操作でテスト
発光をスタートさせることができると、誤った操作も行
い易くなる。つまり、テスト発光中にシャッターボタン
604を押して測光・測距開始スイッチS1をONさせ
たり、オートフォーカス(AF)動作中にスポット測光ボ
タン605を押してスポット測光スイッチSLBをON
させたりしやすくなる。本発明を実施したカメラシステ
ムによれば、このような誤った操作が行われても、後述
する制御によって問題が生じないような構成となってい
る。
However, if the test light emission can be started by operating the button on the body B side, it becomes easy to make an erroneous operation. That is, the shutter button 604 is pressed during the test flash to turn on the photometry / distance measurement start switch S1, and the spot photometry button 605 is pressed during the autofocus (AF) operation to turn on the spot photometry switch SLB.
It is easy to let them do it. According to the camera system embodying the present invention, even if such an erroneous operation is performed, a problem will not occur due to the control described later.

【0027】上記内蔵フラッシュ601の後方位置に
は、フラッシュFが装着されるアクセサリーシュー60
3が設けられている。アクセサリーシュー603には、
フラッシュFの取り付け部304(図4)に突設された4
本のコンタクトピンP1〜P4がそれぞれ接触する4枚
の端子板(不図示)が設けられている。フラッシュFがボ
ディBに直接装着されると、コンタクトピンP1〜P4
を介して通信線が接続され、この通信線を介してフラッ
シュ発光に関する各種情報がシリアル交信される。ノー
マルモードにおいて、上記シリアル交信により発光制御
信号がフラッシュFに送信される。
At the rear position of the built-in flash 601 is an accessory shoe 60 to which a flash F is attached.
3 is provided. The accessory shoe 603 has
4 protruding from the mounting portion 304 (FIG. 4) of the flash F
Four terminal plates (not shown) with which the contact pins P1 to P4 contact each other are provided. When the flash F is directly attached to the body B, the contact pins P1 to P4
A communication line is connected via this communication line, and various information relating to flash emission is serially communicated via this communication line. In the normal mode, the light emission control signal is transmitted to the flash F by the serial communication.

【0028】次に、フラッシュFを説明する。図1に示
すように、フラッシュF側には、マイコン1F;フラッ
シュ発光部4;スイッチS3,SLF,SM等が設けら
れている。マイコン1Fは、フラッシュF各部の動作を
制御する。フラッシュ発光部4は、充電と発光とを繰り
返しながら予め決められた光量で決められた時間発光し
続けるように構成されている。S3は電源スイッチ、S
LFはテスト発光要求スイッチ,SMはテスト発光モー
ドと本発光モードとの選択切り替えを行うモードスイッ
チである。
Next, the flash F will be described. As shown in FIG. 1, a microcomputer 1F; a flash light emitting unit 4; switches S3, SLF, SM, etc. are provided on the flash F side. The microcomputer 1F controls the operation of each part of the flash F. The flash light emitting unit 4 is configured to continue emitting light with a predetermined light amount for a predetermined time while repeating charging and light emission. S3 is a power switch, S
LF is a test light emission request switch, and SM is a mode switch for selectively switching between a test light emission mode and a main light emission mode.

【0029】本発光モードは、フラッシュ撮影時の露光
中、露光のために行われる本発光の発光モードである。
テスト発光モードは、フラッシュFをテスト発光させる
ための発光モードであり、フラッシュ撮影時の本発光に
よって被写体に生じる陰影状態(照明状態,反射の様
子,被写体の影の方向・大きさ等)をファインダFRを
通して撮影前に確認するために行われるテスト発光の発
光モードである。
The main light emission mode is a light emission mode of main light emission performed for the exposure during exposure during flash photography.
The test light emission mode is a light emission mode for causing the flash F to perform a test light emission, and the viewfinder can be used to determine the shaded state (illumination state, reflection state, shadow direction and size of the subject, etc.) that occurs on the subject due to main flashing during flash shooting. This is a light emission mode of test light emission performed for confirmation through FR before photographing.

【0030】図3は、ボディBに組み合わされるフラッ
シュFの外観図であり、(a)はフラッシュFの背面、
(b)はフラッシュFの側面を示している。フラッシュF
の背面には、フラッシュFが備えている各機能と対応す
る複数の操作ボタン10が設けられている。例えば、発
光モードの選択切り替え(テスト発光モード/本発光モ
ード)のための前記モードスイッチSM(図1)の切り替
えは、これらの操作ボタン10のうちの一部を操作する
ことによって行われる。
FIG. 3 is an external view of the flash F combined with the body B. FIG.
(b) shows the side surface of the flash F. Flash F
A plurality of operation buttons 10 corresponding to the respective functions of the flash F are provided on the back surface of the. For example, switching of the mode switch SM (FIG. 1) for selective switching of the light emission mode (test light emission mode / main light emission mode) is performed by operating a part of these operation buttons 10.

【0031】図4は、フラッシュFの回路構成図であ
る。同図において、フラッシュ回路400は、主にフラ
ッシュ発光部4(図1)内に設けられており、フラッシュ
制御回路500は、主にマイコン1F内に設けられてい
る。
FIG. 4 is a circuit diagram of the flash F. In the figure, the flash circuit 400 is mainly provided in the flash light emitting unit 4 (FIG. 1), and the flash control circuit 500 is mainly provided in the microcomputer 1F.

【0032】フラッシュ回路400は、発光源であるキ
セノン放電管401,このキセノン放電管401の発光
を制御する発光制御回路402,上記キセノン放電管4
01に放電エネルギーを供給するメインコンデンサC
M,このメインコンデンサCMの電圧を検出する電圧検
出回路403,上記メインコンデンサCMの充電電圧を
生成するDC−DCコンバータ404及び電源電池Eか
ら構成されている。
The flash circuit 400 includes a xenon discharge tube 401 which is a light emitting source, a light emission control circuit 402 which controls light emission of the xenon discharge tube 401, and the xenon discharge tube 4 described above.
Main capacitor C for supplying discharge energy to 01
M, a voltage detection circuit 403 for detecting the voltage of the main capacitor CM, a DC-DC converter 404 for generating the charging voltage of the main capacitor CM, and a power supply battery E.

【0033】上記メインコンデンサCMは、上記DC−
DCコンバータ404の出力端に整流用のダイオードD
を介して接続され、DC−DCコンバータ404により
所定の高電圧で充電が行われるようになっている。
The main capacitor CM is the DC-
A rectifying diode D is provided at the output end of the DC converter 404.
And is charged by the DC-DC converter 404 at a predetermined high voltage.

【0034】メインコンデンサCMに、抵抗R1及び抵
抗R2の直列接続から成る上記電圧検出回路403が並
列接続され、メインコンデンサCMの電圧VCが分圧電
圧VC’(=R2・VC/(R1+R2))として検出され
る。また、上記メインコンデンサCMに、上記発光制御
回路402と上記キセノン放電管401及びIGBT(I
nsulated Gate Bipolar Transistor)から成るスイッチ
ングトランジスタQの直列回路とがそれぞれ並列接続さ
れ、上記メインコンデンサCMの蓄積電荷をキセノン放
電管401に放電させて、このキセノン放電管401の
発光が行われる。
The above-mentioned voltage detection circuit 403 consisting of a resistor R1 and a resistor R2 connected in series is connected in parallel to the main capacitor CM, and the voltage V C of the main capacitor CM is a divided voltage V C '(= R2V C / ( R1 + R2)) is detected. In addition, the light emission control circuit 402, the xenon discharge tube 401, and the IGBT (I
A series circuit of switching transistors Q each of which is composed of a nsulated gate bipolar transistor is connected in parallel, and the accumulated charge of the main capacitor CM is discharged to the xenon discharge tube 401, and the xenon discharge tube 401 emits light.

【0035】上記キセノン放電管401のトリガー端子
及びスイッチングトランジスタQのベースは、それぞれ
上記発光制御回路402の制御端子T1と制御端子T2
とに接続され、この発光制御回路402によりキセノン
放電管401の発光動作が制御される。発光制御回路4
02は、CPU505から入力される発光量,発光回数
及び発光周波数等の発光条件に基づいてキセノン放電管
401へのトリガー信号の出力及びスイッチングトラン
ジスタQのON/OFF駆動を制御し、所定の発光条件
に従ってキセノン放電管401を発光させる。
The trigger terminal of the xenon discharge tube 401 and the base of the switching transistor Q are respectively a control terminal T1 and a control terminal T2 of the light emission control circuit 402.
The emission control circuit 402 controls the emission operation of the xenon discharge tube 401. Light emission control circuit 4
Reference numeral 02 controls the output of a trigger signal to the xenon discharge tube 401 and the ON / OFF drive of the switching transistor Q on the basis of light emission conditions such as the amount of light emission, the number of times of light emission, and the light emission frequency input from the CPU 505, and a predetermined light emission condition. Then, the xenon discharge tube 401 is caused to emit light.

【0036】例えば、モデリングモード(テスト発光モ
ード)においては、キセノン放電管401に周波数40
Hzのパルス列信号をトリガー信号として4秒間、送り
出し、キセノン放電管401を160回、マルチ発光さ
せる。
For example, in the modeling mode (test emission mode), the xenon discharge tube 401 has a frequency of 40%.
The pulse train signal of Hz is sent as a trigger signal for 4 seconds, and the xenon discharge tube 401 is multi-emitted 160 times.

【0037】フラッシュ制御回路500は、フラッシュ
発光部4のズーム動作を制御するズーム回路502,表
示部を構成するLCD(liquid crystal display)50
3,操作部を構成するキーマトリックス回路504及び
フラッシュFの駆動を集中制御するCPU505から構
成されている。
The flash control circuit 500 includes a zoom circuit 502 for controlling the zoom operation of the flash light emitting section 4 and an LCD (liquid crystal display) 50 constituting a display section.
3. A key matrix circuit 504 that constitutes the operation unit and a CPU 505 that centrally controls the drive of the flash F.

【0038】上記ズーム回路502は、上記キセノン放
電管401の反射傘(不図示)の駆動を制御するもので、
反射傘を駆動する駆動モータ502Aと,この駆動モー
タ502Aの駆動を制御するモータ駆動回路502Bと
から構成されている。モータ駆動回路502Bは、CP
U505のZOOM端子から出力されるズーム位置の情
報に基づき駆動モータ502Aを所定量だけ駆動して上
記反射傘を指示されたズーム位置に設定する。
The zoom circuit 502 controls driving of a reflector (not shown) of the xenon discharge tube 401.
It is composed of a drive motor 502A for driving the reflector and a motor drive circuit 502B for controlling the drive of the drive motor 502A. The motor drive circuit 502B is a CP
Based on the information on the zoom position output from the ZOOM terminal of U505, the drive motor 502A is driven by a predetermined amount to set the reflector to the instructed zoom position.

【0039】上記LCD503は、複数の表示を有し、
CPU505のLCD出力端子から出力される表示情報
に基づき所定の表示が点灯されるようになっている。
The LCD 503 has a plurality of displays,
A predetermined display is turned on based on the display information output from the LCD output terminal of the CPU 505.

【0040】上記キーマトリックス504は、電源スイ
ッチS3及びテスト発光要求スイッチSLF等を有し、
スイッチ操作の信号がCPU505のKEY端子に入力
されるようになっている。
The key matrix 504 has a power switch S3, a test light emission request switch SLF, etc.
A switch operation signal is input to the KEY terminal of the CPU 505.

【0041】CPU505は、上記「ZOOM」,「L
CD出力」及び「KEY」の端子の他、「OSC」,
「READY」,「TRIG」の各制御端子と「SC
K」,「SI/SO],「X」,「GND」のカメラ本
体との接続端子とを備えている。上記SCK端子,SI
/SO端子,X端子及びGND端子は、上記取り付け部
304に設けられたコンタクトピンP1,P2,P3及
びP4にそれぞれ接続されている。
The CPU 505 uses the "ZOOM", "L"
In addition to the "CD output" and "KEY" terminals, "OSC",
"READY" and "TRIG" control terminals and "SC"
K ”,“ SI / SO ”,“ X ”, and“ GND ”connection terminals with the camera body. Above SCK terminal, SI
The / SO terminal, the X terminal, and the GND terminal are connected to the contact pins P1, P2, P3, and P4 provided on the mounting portion 304, respectively.

【0042】OSC端子は、上記DC−DCコンバータ
404の昇圧動作を制御する制御端子である。READ
Y端子は、上記メインコンデンサCMの充電状態を監視
する制御端子で、このREADY端子に上記電圧検出回
路403により検出されたメインコンデンサCMの電圧
が入力される。CPU505は、メインコンデンサCM
の電圧が所定の電圧値以下になると、充電を開始させる
べく上記OSC端子から昇圧制御信号を出力する。
The OSC terminal is a control terminal for controlling the boosting operation of the DC-DC converter 404. READ
The Y terminal is a control terminal that monitors the charging state of the main capacitor CM, and the voltage of the main capacitor CM detected by the voltage detection circuit 403 is input to the READY terminal. CPU505 is the main capacitor CM
When the voltage of 2 becomes equal to or lower than a predetermined voltage value, a boosting control signal is output from the OSC terminal to start charging.

【0043】TRIG端子は、上記キセノン放電管40
1の発光を制御する制御端子で、このTRIG端子から
上記発光制御回路402に、発光量,発光回数,発光周
波数等の発光条件に応じた発光タイミングで制御信号が
出力される。
The TRIG terminal is used for the xenon discharge tube 40.
1 is a control terminal for controlling light emission, and a control signal is output from the TRIG terminal to the light emission control circuit 402 at light emission timing according to light emission conditions such as the amount of light emission, the number of light emission, the light emission frequency.

【0044】また、SCK端子は、CPU505とボデ
ィB内のCPUとのシリアル交信用の制御信号やクロッ
クの入力端子である。SI/SO端子は、CPU505
とボディB内のCPU間で交信されるデータの入出力端
子である。X端子は、ボディBから送出されるX接点の
タイミング信号の入力端子であり、GND端子は、アー
ス端子である。
The SCK terminal is an input terminal for a control signal and a clock for serial communication between the CPU 505 and the CPU in the body B. SI / SO terminal is the CPU 505
And an input / output terminal for data exchanged between the CPUs in the body B. The X terminal is an input terminal for the timing signal of the X contact sent from the body B, and the GND terminal is a ground terminal.

【0045】次に、図5のフローチャートに基づいて第
1実施例におけるボディB側のマイコン1Bの制御動作
(ボディ側シーケンス)を説明する。ボディBの電源がO
N(電源スイッチS0ON)されると、マイコン1Bにリ
セットがかかり、ステップA10のボディ状態の初期設
定に進む。ボディ状態の初期設定(A10)では、ボディ
Bの各スイッチ状態を読み取って各モード設定を行い、
また、マイコン1Bの各データのイニシャライズ等を行
う。
Next, the control operation of the microcomputer 1B on the body B side in the first embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
(Body side sequence) will be described. Body B power is O
When N (power switch S0 is turned on), the microcomputer 1B is reset, and the process proceeds to the initial setting of the body state in step A10. In the initial setting of body state (A10), each switch state of body B is read and each mode is set.
Further, each data of the microcomputer 1B is initialized.

【0046】初期設定後、次のステップA20でスポッ
ト測光スイッチSLBがON状態か否かを判定する。O
N状態と判定した場合、ステップA30でボディBとフ
ラッシュFとの交信(以下「B−F交信」という。)を行
った後、ステップA40に進む。このとき、フラッシュ
F側でテスト発光モードがセットされていれば、後述の
テスト発光が行われる。ステップA20でOFF状態と
判定した場合、ステップA40にスキップする。
After the initial setting, it is determined in step A20 whether the spot photometry switch SLB is in the ON state. O
When it is determined that the state is N, the body B communicates with the flash F in step A30 (hereinafter referred to as "BF communication"), and then the process proceeds to step A40. At this time, if the test light emission mode is set on the flash F side, the test light emission described later is performed. When it is determined to be OFF in step A20, the process skips to step A40.

【0047】ステップA40では、測光・測距開始スイ
ッチS1がON状態か否かを判定する。OFF状態であ
ればステップA20に戻り、ON状態であればステップ
A50に進む。ステップA50では、フラッシュ情報
(即ち、現在テスト発光中であるか否かを示す情報)の入
力を行うべくB−F交信を行う。このB−F交信により
フラッシュFがどういう状態になっているのかを知る。
フラッシュF側のシーケンスについては、図7に基づい
て後述する。
In step A40, it is determined whether or not the photometry / distance measurement start switch S1 is ON. If it is OFF, the process returns to step A20, and if it is ON, the process proceeds to step A50. In step A50, flash information
(That is, BF communication is performed in order to input information indicating whether or not the test flash is currently being emitted.) By this BF communication, the state of the flash F is known.
The sequence on the flash F side will be described later with reference to FIG.

【0048】フラッシュ情報入力後、ステップA60に
進んで、フラッシュFがテスト発光中であるか否かを、
B−F交信(A50)で得た情報に基づいて判定する。テ
スト発光中ならば、ステップA80でテスト発光中フラ
グをセットする(テスト発光中フラグ:1)。一方、テス
ト発光中でないならば、ステップA70でテスト発光中
フラグをクリアする(テスト発光中フラグ:0)。このフ
ラグ状態に基づいて、以下のオートフォーカス動作の制
御条件が変わることになる。
After the flash information is input, the process proceeds to step A60 to check whether the flash F is emitting a test light.
The judgment is made based on the information obtained in the BF communication (A50). If the test flash is being emitted, the test flash flag is set in step A80 (test flash flag: 1). On the other hand, if the test light emission is not being performed, the test light emission flag is cleared in step A70 (test light emission flag: 0). Based on this flag state, the control conditions for the following autofocus operation will change.

【0049】次に、オートフォーカス動作を説明する。
まず、カメラのピント状態を調べるために、ピント状態
検出部2からの出力に基づいて積分・ダンプ動作を行う
(A90)。積分制御内では、後で設定されるAF補助光
ありフラグの状態に基づいてAF補助光発光積分・通常
積分を行うようになっている。そして、積分・ダンプさ
れた情報に基づいてズレ量を求めるべく、アルゴリズム
制御に進む(A100)。
Next, the autofocus operation will be described.
First, in order to check the focus state of the camera, an integration / dump operation is performed based on the output from the focus state detection unit 2.
(A90). In the integration control, AF auxiliary light emission integration / normal integration is performed based on the state of the AF auxiliary light present flag that is set later. Then, in order to obtain the deviation amount based on the integrated / dumped information, the algorithm control is performed (A100).

【0050】ここで、図6に基づいてアルゴリズム制御
を説明する。まず、ピント状態検出部2(図1)から入力
されたデータに基づいて差分変換を行う(B10)。次
に、テスト発光中フラグの状態により、テスト発光中で
あるか否かを判定する(B20)。そして、テスト発光中
であれば(テスト発光中フラグ:1)、ピッチ制限をかけ
るためにステップB40でピッチ制限フラグをセットす
る(ピッチ制限フラグ:1)。一方、テスト発光中でない
ならば(テスト発光中フラグ:0)、ピッチ制限をかけな
いためにステップB30でピッチ制限フラグをクリアす
る(ピッチ制限フラグ:0)。上記ピッチ制限をかけると
いうのは、相関演算でシフトする範囲を小さくすること
を意味する。従って、ピッチ制限をかければ、フォーカ
スエリアの検出範囲を小さくすることができる。
Here, the algorithm control will be described with reference to FIG. First, difference conversion is performed based on the data input from the focus state detection unit 2 (FIG. 1) (B10). Next, it is determined whether or not the test light emission is being performed depending on the state of the test light emission flag (B20). Then, if the test light emission is in progress (test light emission flag: 1), the pitch limit flag is set in step B40 in order to limit the pitch (pitch limit flag: 1). On the other hand, if the test light emission is not in progress (test light emission flag: 0), the pitch limit flag is cleared in step B30 (pitch limit flag: 0) in order to apply no pitch limit. Enforcing the pitch limitation means reducing the shift range in the correlation calculation. Therefore, if the pitch is limited, the focus area detection range can be reduced.

【0051】次に、ステップB50で、差分変換された
データに基づいてピントのズレ量を求める相関関数計算
を行う。この計算ではステップB30,B40で設定さ
れたピッチ制限あり/なし情報(即ち、ピッチ制限フラ
グの状態)を参照し、ピントのズレ量を求める範囲を決
める。ここでは、フォーカスエリアの中央に主被写体が
あると想定したピッチ制限により、フォーカスエリアの
中央部分だけの相関をとる。これにより背景状態のピン
ト状態は検出されなくなるので、主被写体の背景に対し
てピントを合わせること(即ち、ピントの後ろ抜け)が防
止され、大きくピントのズレた位置に対して合焦動作が
働かないようになる。
Next, in step B50, a correlation function calculation for obtaining the focus shift amount is performed based on the difference-converted data. In this calculation, the range for obtaining the focus shift amount is determined by referring to the pitch limit presence / absence information (that is, the state of the pitch limit flag) set in steps B30 and B40. Here, only the central portion of the focus area is correlated by the pitch limitation assuming that the main subject is in the center of the focus area. As a result, the focus state of the background state is no longer detected, so it is possible to prevent focusing on the background of the main subject (that is, missing behind the focus), and the focusing operation does not work for a greatly defocused position. Will not be.

【0052】ステップB60で、前記相関関数計算(B
50)により得られたズレ量が、信頼性のあるデータで
あるか否かを、コントラスト及び一致度に基づいて判定
する。信頼性があると判定した場合、ズレ量をデフォー
カス量に変換すべく、ピッチ−ディフォーカス変換(以
下「P−D変換」という。)の処理に進む(B70)。そ
して、ステップB80でローコントラスト時のスキャン
を禁止するスキャン禁止フラグをセットし(スキャン禁
止フラグ:1)、ステップB90でAF補助光ありフラ
グをクリアし(AF補助光フラグ:0)、リターンする。
In step B60, the correlation function calculation (B
It is determined whether the deviation amount obtained in step 50) is reliable data based on the contrast and the degree of coincidence. If it is determined to be reliable, the process proceeds to pitch-defocus conversion (hereinafter referred to as "P-D conversion") processing in order to convert the shift amount into the defocus amount (B70). Then, in step B80, a scan prohibition flag that prohibits scanning in low contrast is set (scan prohibition flag: 1), in step B90 the AF auxiliary light present flag is cleared (AF auxiliary light flag: 0), and the process returns.

【0053】上記スキャン禁止フラグ(B80)は、レン
ズ駆動処理(図5のA110)内で、スキャン動作が完了
した時点で設定される設定されるフラグである。また、
ローコントラスト時のスキャンとは、被写体のコントラ
ストが低いときに、コントラストが高い状態を探すため
にフォーカシングレンズを駆動する動作をいう。このロ
ーコントラストスキャンを禁止することによって、ロー
コントラストスキャン時にピント状態が変化することが
なくなるため、テスト発光中の確認作業の中断を防ぐこ
とができる。
The scan prohibition flag (B80) is a flag that is set when the scanning operation is completed in the lens drive process (A110 in FIG. 5). Also,
Scanning at low contrast refers to the operation of driving the focusing lens to search for a high contrast state when the contrast of the subject is low. By prohibiting the low contrast scan, the focus state does not change during the low contrast scan, so that it is possible to prevent the confirmation work from being interrupted during the test light emission.

【0054】一方、ステップB60で信頼性がないと判
定した場合、テスト発光中フラグの状態により、テスト
発光中か否かを判定する(B100)。テスト発光中であ
れば(テスト発光中フラグ:1)、上記信頼性ありの場合
と同様、スキャン禁止フラグをセットし(B80)、AF
補助光ありフラグをクリアし(B90)、リターンする。
On the other hand, when it is determined in step B60 that the light emission is not reliable, it is determined whether or not the test light emission is being performed depending on the state of the test light emission flag (B100). If the test light emission is in progress (test light emission flag: 1), the scan prohibition flag is set (B80) as in the case of the above reliability, and AF is performed.
The flag with auxiliary light is cleared (B90) and the process returns.

【0055】ステップB100においてテスト発光中で
ないと判定した場合(テスト発光中フラグ:0)、ステッ
プB110に進んで、ローコントラスト時のスキャンを
許可するために、スキャン禁止フラグをリセットする
(スキャン禁止フラグ:0)。そして、ローコントラスト
スキャン中にAF補助光を発光させるか否かを判定する
(B120)。
If it is determined in step B100 that the test light emission is not in progress (test light emission flag: 0), the process proceeds to step B110, and the scan prohibition flag is reset in order to permit the scan in the low contrast.
(Scan prohibition flag: 0). Then, it is determined whether or not the AF auxiliary light is emitted during the low contrast scan.
(B120).

【0056】ステップB120で、AF補助光ありと判
定した場合にはAF補助光ありフラグをセットし(B1
30)、一方、AF補助光なしと判定した場合にはAF
補助光ありフラグをクリアし(B140)、リターンす
る。積分・ダンプ処理内(図5のA90)では、このAF
補助光ありフラグを参照することにより、AF補助光発
光中積分を制御する。
If it is determined in step B120 that AF auxiliary light is present, the AF auxiliary light present flag is set (B1
30) On the other hand, if it is determined that there is no AF auxiliary light, AF
The flag with auxiliary light is cleared (B140) and the process returns. In the integration / dump processing (A90 in FIG. 5), this AF
By referring to the auxiliary light presence flag, the integration during the AF auxiliary light emission is controlled.

【0057】図5のボディ側シーケンスのフローに戻
る。上記のようにアルゴリズム制御(図6)でテスト発光
中の動作に制限がかけられ、その結果が出力される。そ
して、アルゴリズム(図6)内において設定されたフラグ
に基づいて、フォーカス駆動部3によりローコンスキャ
ン動作,合焦動作のためのレンズ駆動を行う(A11
0)。
Returning to the flow of the sequence on the body side in FIG. As described above, the algorithm control (FIG. 6) limits the operation during the test light emission, and the result is output. Then, based on the flag set in the algorithm (FIG. 6), the focus driving unit 3 drives the lens for the low-con scan operation and the focusing operation (A11).
0).

【0058】レンズ駆動処理(A110)後、測光・測距
開始スイッチS1がON状態のままであるか否かをチェ
ックする(A120)。S1ON状態が継続していれば、
ステップA50にスキップし、再度、オートフォーカス
動作等が繰り返される。一方、S1ON状態になけれ
ば、ステップA130でボディ動作停止処理(例えばレ
ンズ繰り込み)を行った後、ボディ状態の初期設定に戻
る(A10)。
After the lens driving process (A110), it is checked whether the photometry / distance measurement start switch S1 is still in the ON state (A120). If the S1 ON state continues,
Skipping to step A50, the autofocus operation and the like are repeated again. On the other hand, if it is not in the S1 ON state, after the body operation stop processing (for example, lens retraction) is performed in step A130, the initial state of the body state is returned (A10).

【0059】次に、図7のフローチャートに基づいて第
1実施例におけるフラッシュF(図1)側のマイコン1F
の制御動作(フラッシュ側シーケンス)を説明する。フラ
ッシュFの電源がON(電源スイッチS3ON)される
と、マイコン1Fにリセットがかかり、マイコン1Fは
フラッシュ起動待ち状態(スリープ状態)に入る(C1
0)。フラッシュFに設けられているいずれかのスイッ
チがONするか又はボディBからのB−F交信要求があ
れば、フラッシュ起動待ち状態から抜けて、スイッチ状
態チェック処理を行う(C20)。このスイッチ状態チェ
ック処理で、各スイッチ(例えばモードスイッチSM)の
状態に応じたモード設定を行い、ステップC25でB−
F交信を行う。
Next, based on the flowchart of FIG. 7, the microcomputer 1F on the flash F (FIG. 1) side in the first embodiment.
The control operation (flash side sequence) will be described. When the power of the flash F is turned on (power switch S3 is ON), the microcomputer 1F is reset, and the microcomputer 1F enters a flash activation waiting state (sleep state) (C1
0). If any switch provided in the flash F is turned on or if there is a BF communication request from the body B, the flash state is exited and switch state check processing is performed (C20). In this switch state check processing, mode setting is performed according to the state of each switch (for example, the mode switch SM), and B-
F communication is performed.

【0060】次に、ステップC30でモードスイッチS
Mのスイッチ状態がテスト発光モード状態か否かを判定
する。テスト発光モード状態でないならば、ステップC
40に進んで本発光モードシーケンス処理を行う。な
お、この本発光モードシーケンス処理は、通常行われて
いるフラッシュ撮影のための発光モード処理であるた
め、これに関する説明は省略する。一方、テスト発光モ
ード状態であれば、ステップC50に進んで、スポット
測光スイッチSLBとテスト発光要求スイッチSLFの
ON/OFF状態を判定する。
Next, in step C30, the mode switch S
It is determined whether the switch state of M is the test light emission mode state. If not in the test flash mode, step C
In step 40, the main light emission mode sequence process is performed. The main light emission mode sequence process is a light emission mode process for flash photography that is normally performed, and a description thereof will be omitted. On the other hand, if it is in the test light emission mode state, the process proceeds to step C50 to determine the ON / OFF state of the spot photometry switch SLB and the test light emission request switch SLF.

【0061】ステップC50で、スポット測光スイッチ
SLB及びテスト発光要求スイッチSLFがOFF状態
と判定した場合、ステップC60でテスト発光中である
ことを示すテスト発光中フラグをクリアし(テスト発光
中フラグ:0)、テスト発光動作をOFFする(C7
0)。そして、フラッシュFがテスト発光OFF状態に
あることを、ボディB側に知らせるべくB−F交信を行
う(C80)。交信データを送った後、マイコン1Fはフ
ラッシュ起動待ち状態に戻る(C10)。
If it is determined in step C50 that the spot photometry switch SLB and the test light emission request switch SLF are in the OFF state, the test light emission flag indicating that test light emission is in progress is cleared in step C60 (test light emission flag: 0. ), The test flash operation is turned off (C7
0). Then, BF communication is performed to notify the body B side that the flash F is in the test light emission OFF state (C80). After sending the communication data, the microcomputer 1F returns to the flash activation waiting state (C10).

【0062】一方、ステップC50で、スポット測光ス
イッチSLB又はテスト発光要求スイッチSLFがON
状態と判定した場合、ステップC90でテスト発光中フ
ラグをセットし(テスト発光中フラグ:1)、テスト発光
動作をONする(C100)。
On the other hand, in step C50, the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is turned on.
If it is determined to be in the state, the test light emission flag is set in step C90 (test light emission flag: 1), and the test light emission operation is turned on (C100).

【0063】ステップC100のテスト発光動作ON中
は、発光中タイマーが働いてタイムアウトするまでテス
ト発光を行い、タイムアウト後、発光完了信号を出力す
るようになっている。従って、テスト発光動作後、発光
完了信号が設定されていたならば、ステップC60に進
んで発光停止動作(C60〜C80)を行い、一方、テス
ト発光中状態であるならば、ボディBにテスト発光中で
あることを示すためB−F交信を行う(C120)。そし
て、テスト発光完了まで上記ループ(C50,C90〜
C120)を回る。
While the test light emission operation of step C100 is ON, the test light emission is performed until the time-out timer operates and the light-emission completion signal is output after the time-out. Therefore, if the light emission completion signal is set after the test light emission operation, the process proceeds to step C60 to perform the light emission stop operation (C60 to C80), while if the test light emission is in progress, the test light emission to the body B is performed. BF communication is performed to indicate that the communication is in progress (C120). The above loop (C50, C90-
Turn around C120).

【0064】以上のように、マイコン1Bは、テスト発
光中にオートフォーカス操作が行われた場合には、フォ
ーカスエリアの検出領域を小さくするためにピッチ制限
をかけたり(図6のB30,B40)、ローコントラスト
スキャン動作を禁止したり(図6のB80)することによ
って、ピント状態を変化させる原因となる動作を制限し
て、テスト発光中のピント状態が変化しないようにフォ
ーカス駆動部3のオートフォーカス動作を制御する。そ
のため、このオートフォーカス動作の条件がオートフォ
ーカス操作時とテスト発光開始時とで変化していても、
使用者はテスト発光開始時と同じピント状態をファイン
ダFRを通して確認することができる。
As described above, the microcomputer 1B limits the pitch in order to reduce the detection area of the focus area when the autofocus operation is performed during the test light emission (B30 and B40 in FIG. 6). , The low-contrast scan operation is prohibited (B80 in FIG. 6) to limit the operation that causes the focus state to change, and the focus drive unit 3 does not automatically change the focus state during the test flash. Controls focus movement. Therefore, even if the conditions of this autofocus operation change between the autofocus operation and the start of test flash,
The user can confirm the same focus state as at the start of test light emission through the finder FR.

【0065】次に、第2実施例を説明する。第2実施例
は、制御方法以外前記第1実施例と同様に構成されてい
る。従って、システムの回路構成,ボディB外観,フラ
ッシュF外観及びフラッシュFの回路構成は、それぞれ
図1〜図4に示す通りである。
Next, a second embodiment will be described. The second embodiment is configured similarly to the first embodiment except for the control method. Therefore, the circuit configuration of the system, the external appearance of the body B, the external appearance of the flash F, and the circuit configuration of the flash F are as shown in FIGS. 1 to 4, respectively.

【0066】図8のフローチャートに基づいて第2実施
例におけるボディB側のマイコン1Bの制御動作(ボデ
ィ側シーケンス)を説明する。ボディBの電源がON(電
源スイッチS0ON)されると、マイコン1Bにリセッ
トがかかり、ステップD10のボディ状態の初期設定に
進む。ボディ状態の初期設定(D10)では、ボディBの
各スイッチ状態を読み取って各モード設定を行い、ま
た、マイコン1Bの各データのイニシャライズ等を行
う。
The control operation (body side sequence) of the microcomputer 1B on the body B side in the second embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. When the power of the body B is turned on (power switch S0ON), the microcomputer 1B is reset, and the process proceeds to the initial setting of the body state in step D10. In the initial setting of the body state (D10), each switch state of the body B is read to set each mode, and each data of the microcomputer 1B is initialized.

【0067】初期設定後、次のステップD20でスポッ
ト測光スイッチSLBがON状態か否かを判定する。O
N状態と判定した場合、ステップD30でB−F交信を
行った後、ステップD40に進む。このとき、フラッシ
ュF側でテスト発光モードがセットされていれば、後述
のテスト発光が行われる。ステップD20でOFF状態
と判定した場合、ステップD40にスキップする。
After the initial setting, it is determined in next step D20 whether or not the spot photometry switch SLB is ON. O
If it is determined to be in the N state, BF communication is performed in step D30, and then the process proceeds to step D40. At this time, if the test light emission mode is set on the flash F side, the test light emission described later is performed. When it is determined to be in the OFF state in step D20, the process skips to step D40.

【0068】ステップD40では、測光・測距開始スイ
ッチS1がON状態か否かを判定する。OFF状態であ
ればステップD20に戻り、ON状態であればステップ
D50に進む。ステップD50では、フラッシュチェッ
クを行う。
In step D40, it is determined whether or not the photometry / distance measurement start switch S1 is in the ON state. If it is in the OFF state, the process returns to step D20, and if it is in the ON state, the process proceeds to step D50. At step D50, a flash check is performed.

【0069】ここで、フラッシュチェック動作(図8の
D50)を図10に基づいて説明する。まず、フラッシ
ュFの動作を判別するためにステップF10でテスト発
光中フラグをクリアし(テスト発光中フラグ:0)、ステ
ップF20でオートフォーカス信号フラグをセットする
(オートフォーカス信号フラグ:1)。
The flash check operation (D50 in FIG. 8) will be described with reference to FIG. First, in order to determine the operation of the flash F, the test light emission flag is cleared in step F10 (test light emission flag: 0), and the autofocus signal flag is set in step F20.
(Autofocus signal flag: 1).

【0070】そして、ボディB側のデータをフラッシュ
F側に送るべく、B−F交信を行う(F30)。次に、B
−F交信間隔をあけるためのタイマーを働かせた後(F
40)、フラッシュF側のデータをボディB側に取り込
むべくB−F交信を行い(F50)、リターンする。この
ようにフラッシュF側のデータをボディB側に取り込む
ことによって、ボディB側ではオートフォーカスを行う
か否かを判定することができる。
Then, in order to send the data on the body B side to the flash F side, BF communication is performed (F30). Then B
-F After activating the timer to open the communication interval (F
40), BF communication is performed to fetch the data on the flash F side to the body B side (F50), and the process returns. In this way, by fetching the data on the flash F side into the body B side, it is possible to determine whether or not autofocus is performed on the body B side.

【0071】図8のボディ側シーケンスのフローに戻
る。ステップD60でフラッシュF側がテスト発光中で
あるか否かを、テスト発光中フラグの状態により判定す
る。テスト発光中ならば(テスト発光中フラグ:1)、再
度フラッシュチェック(D50)に戻る。このループ(D
50,D60)のシーケンスによって、テスト発光中に
はオートフォーカス動作に入らないようにしている。一
方、テスト発光モードでないならば、ピントを合わすべ
くD70に進んで、ピント状態検出部2からの出力に基
づいて積分・ダンプ動作を行う。
Returning to the flow of the body side sequence in FIG. In step D60, it is determined whether or not the flash F side is in the test light emission based on the state of the test light emission flag. If the test light emission is in progress (test light emission flag: 1), the process returns to the flash check (D50) again. This loop (D
The sequence (50, D60) prevents the autofocus operation during the test flash. On the other hand, if it is not in the test light emission mode, the process proceeds to D70 to focus and the integration / dump operation is performed based on the output from the focus state detection unit 2.

【0072】積分・ダンプ動作(D70)後、ステップD
80のアルゴリズム制御に進んで、積分・ダンプで得ら
れたデータに基づいてピントのズレ量を求める。そし
て、求められたズレ量に基づいてレンズを動かすべくフ
ォーカス駆動部3でレンズ駆動を行う(D90)。レンズ
駆動(D90)完了後、ステップD100でオートフォー
カス信号フラグをクリアし(オートフォーカス信号フラ
グ:0)、ステップD110でB−F交信を行う。この
B−F交信でオートフォーカス信号情報(オートフォー
カス信号フラグ:0)がフラッシュF側マイコン1Fに
送られる。
After the integration / dump operation (D70), step D
Proceeding to the algorithm control of 80, the focus shift amount is obtained based on the data obtained by the integration / dump. Then, the focus drive unit 3 drives the lens so as to move the lens based on the calculated shift amount (D90). After the lens driving (D90) is completed, the autofocus signal flag is cleared (autofocus signal flag: 0) in step D100, and BF communication is performed in step D110. By this BF communication, the auto focus signal information (auto focus signal flag: 0) is sent to the flash F side microcomputer 1F.

【0073】次に、測光・測距開始スイッチS1がON
状態であるか否かをチェックする(D120)。測光・測
距開始スイッチS1がON状態にあれば、ステップD5
0に戻って、再度、フラッシュチェック,オートフォー
カス動作を繰り返す。一方、測光・測距開始スイッチS
1がOFF状態にあれば、ボディ動作停止処理(D13
0,例えばレンズ繰り込み)を行った後、ボディ状態の
初期設定に戻る(D10)。
Next, the photometry / distance measurement start switch S1 is turned on.
It is checked whether it is in the state (D120). If the photometry / distance measurement start switch S1 is in the ON state, step D5
After returning to 0, the flash check and autofocus operation are repeated again. On the other hand, metering / distance measurement start switch S
If 1 is OFF, body motion stop processing (D13
0, for example, lens retraction) is performed, and then the body state is returned to the initial setting (D10).

【0074】次に、図9のフローチャートに基づいて第
2実施例におけるフラッシュF(図1)側のマイコン1F
の制御動作(フラッシュ側シーケンス)を説明する。フラ
ッシュFの電源がON(電源スイッチS3ON)される
と、マイコン1Fにリセットがかかり、マイコン1Fは
フラッシュ起動待ち状態(スリープ状態)に入る(E1
0)。フラッシュFに設けられているいずれかのスイッ
チがONするか又はボディBからのB−F交信要求があ
れば、フラッシュ起動待ち状態から抜けて、初期モード
チェック(E20)に入る。
Next, based on the flow chart of FIG. 9, the microcomputer 1F on the flash F (FIG. 1) side in the second embodiment.
The control operation (flash side sequence) will be described. When the power of the flash F is turned on (power switch S3 is ON), the microcomputer 1F is reset and the microcomputer 1F enters a flash activation waiting state (sleep state) (E1
0). If any switch provided in the flash F is turned on or if there is a BF communication request from the body B, the flash mode is exited and the initial mode check (E20) starts.

【0075】ここで、初期モードチェック動作(図9の
E20)を図11に基づいて説明する。初期モードチェ
ックのフロー内に入ると、まずスイッチ状態チェックを
行う(G10)。このスイッチ状態チェック処理で、モー
ドスイッチSMの状態に応じたモード設定を行う。そし
て、モードスイッチSMのスイッチ状態がテスト発光モ
ード状態か否かを判定する(G20)。テスト発光モード
状態でなければ、ステップG30に進んで本発光モード
シーケンス処理を行う。なお、この本発光モードシーケ
ンス処理は、通常行われているフラッシュ撮影のための
発光モード処理であるため、これに関する説明は省略す
る。
Here, the initial mode check operation (E20 in FIG. 9) will be described with reference to FIG. When entering the flow of the initial mode check, first, the switch state is checked (G10). In this switch state check processing, mode setting is performed according to the state of the mode switch SM. Then, it is determined whether or not the switch state of the mode switch SM is the test light emission mode state (G20). If it is not in the test light emission mode state, the process proceeds to step G30 and the main light emission mode sequence process is performed. The main light emission mode sequence process is a light emission mode process for flash photography that is normally performed, and a description thereof will be omitted.

【0076】一方、テスト発光モード状態であれば、ス
テップG40に進んでB−F交信を行う。このB−F交
信で、ボディB側の情報(スポット測光スイッチSLB
のON/OFF状態,AF中か否か)をフラッシュF側
に取り込む。次に、テスト発光要求信号がセットされて
いるか否か(即ち、スポット測光スイッチSLB又はテ
スト発光要求スイッチSLFがON状態か否か)を判定
する(G50)。
On the other hand, if it is in the test light emission mode, the process proceeds to step G40 to perform BF communication. With this BF communication, information on the side of the body B (spot metering switch SLB
(ON / OFF state of, whether or not AF is in progress) is taken into the flash F side. Next, it is determined whether the test light emission request signal is set (that is, whether the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is in the ON state) (G50).

【0077】ステップG50で、テスト発光要求信号が
設定されていないと判定した場合(スポット測光スイッ
チSLB及びテスト発光要求スイッチSLFがOFF状
態の場合)、ステップG60でテスト発光中フラグをク
リアし(テスト発光中フラグ:0)、これをボディB側マ
イコン1Bに知らせるべくB−F交信を行う(G70)。
次に、発光OFF状態を指示すべく、ステップG80で
テスト発光OKフラグをクリアする(テスト発光OKフ
ラグ:0)。そして、リターンする。
When it is determined in step G50 that the test light emission request signal is not set (when the spot metering switch SLB and the test light emission request switch SLF are in the OFF state), the test light emission flag is cleared in step G60 (test Light emitting flag: 0), and BF communication is performed to inform the microcomputer B of the body B side (G70).
Next, in order to indicate the light emission OFF state, the test light emission OK flag is cleared in step G80 (test light emission OK flag: 0). And it returns.

【0078】一方、ステップG50で、テスト発光スタ
ート信号が設定されていると判定した場合(スポット測
光スイッチSLB又はテスト発光要求スイッチSLFが
ON状態の場合)、オートフォーカス中か否かをオート
フォーカス信号フラグにより判定する(G90)。ボディ
B側がオートフォーカス状態を示していれば(オートフ
ォーカス信号フラグ:1)、ステップG80でテスト発
光OKフラグをクリアし(テスト発光OKフラグ:0)、
リターンする。この処理によってオートフォーカス時の
テスト発光が禁止される。ボディB側がオートフォーカ
ス状態を示していなければ(オートフォーカス信号フラ
グ:0)、ステップG100でテスト発光OKフラグを
セットし(テスト発光OKフラグ:1)、ステップG11
0でテスト発光中フラグをセットし(テスト発光中フラ
グ:1)、リターンする。
On the other hand, when it is determined in step G50 that the test light emission start signal is set (when the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is in the ON state), it is determined whether or not the auto focus is being performed. It is judged by the flag (G90). If the body B side shows the auto focus state (auto focus signal flag: 1), the test light emission OK flag is cleared in step G80 (test light emission OK flag: 0),
To return. This process prohibits test flash during autofocus. If the body B side does not indicate the autofocus state (autofocus signal flag: 0), the test light emission OK flag is set in step G100 (test light emission OK flag: 1), and step G11
At 0, the test light emission flag is set (test light emission flag: 1) and the process returns.

【0079】上記のようにボディB側からフラッシュF
側のマイコン1Fに取り込まれたデータやフラッシュF
のスイッチ情報に基づく判定により、テスト発光させる
かさせないかを決定した後、図9のフラッシュ側シーケ
ンスに戻る。
As described above, the flash F from the body B side
Data and flash F captured in the microcomputer 1F
After deciding whether or not the test light emission is to be performed based on the determination based on the switch information, the process returns to the flash side sequence of FIG.

【0080】そして、ステップE30でテスト発光OK
フラグがセットされているか否か判定する。テスト発光
OKフラグがセットされていなければ(テスト発光OK
フラグ:0)、初期モードチェック(E20)に戻る。一
方、テスト発光OKフラグがセットされていれば(テス
ト発光OKフラグ:1)、テスト発光シーケンス(E4
0)に進んでテスト発光を行い、そして、ステップE5
0でテスト発光完了か否かの判定を行い、テスト発光が
完了するまで、テスト発光シーケンスのループを回る
(E40,E50)。テスト発光完了後、ステップE10
のフラッシュ起動状態チェック処理に戻る。
Then, in step E30, the test light emission is OK.
It is determined whether the flag is set. If the test flash OK flag is not set (test flash OK
Flag: 0), return to the initial mode check (E20). On the other hand, if the test light emission OK flag is set (test light emission OK flag: 1), the test light emission sequence (E4
Proceed to 0) to perform test flash, and then step E5.
It is judged whether or not the test flash is completed at 0, and the loop of the test flash sequence is repeated until the test flash is completed.
(E40, E50). After the test flash is completed, step E10
The process returns to the flash activation status check process.

【0081】上記のようにスポット測光スイッチSLB
又は発光要求スイッチSLFがONされてもテスト発光
を行わないように制御するのは、オートフォーカス動作
中にテスト発光が行われると、被写体輝度が低くてもテ
スト発光によって明るくなったものにピントが合ってし
まい誤測距となるからである。
As described above, the spot metering switch SLB
Alternatively, the control is performed so that the test light emission is not performed even if the light emission request switch SLF is turned on. When the test light emission is performed during the autofocus operation, the subject lighted by the test light emission is focused even if the subject brightness is low. This is because the distance will be incorrect and the distance will be incorrect.

【0082】以上のように、オートフォーカス動作中に
テスト発光を指示する操作が行われた場合、オートフォ
ーカス動作中のテスト発光を禁止するように、マイコン
1Fによってフラッシュ発光部4が制御されるため、こ
のピント状態検出部2はテスト発光の影響を受けて誤動
作することがなく、オートフォーカス動作が中断される
こともない。
As described above, when the operation for instructing the test light emission is performed during the autofocus operation, the microcomputer 1F controls the flash light emitting unit 4 so as to prohibit the test light emission during the autofocus operation. The focus state detection unit 2 does not malfunction due to the influence of the test light emission, and the autofocus operation is not interrupted.

【0083】また、テスト発光中にオートフォーカス操
作が行われた場合には、テスト発光中のオートフォーカ
ス動作を禁止しテスト発光完了後にオートフォーカス動
作を行うように、マイコン1Bによってフォーカス駆動
部3が制御されるため、オートフォーカス動作の条件が
オートフォーカス操作時とテスト発光開始時とで変化し
ていても(例えば、フラッシュFがテスト発光している
ときに、被写体に反射率の高いものがあると、そこに焦
点が合ってしまうことが起こり得る。)、使用者はテス
ト発光開始時と同じピント状態をファインダFRを通し
て確認することができ、オートフォーカス操作が再び行
われるのを待たずにオートフォーカスを行うことができ
る。
Further, when the autofocus operation is performed during the test light emission, the focus drive section 3 is controlled by the microcomputer 1B so that the autofocus operation during the test light emission is prohibited and the autofocus operation is performed after the test light emission is completed. Since the control is performed, even if the condition of the autofocus operation changes between the autofocus operation and the start of the test light emission (for example, when the flash F emits the test light emission, the subject has a high reflectance). Then, the user can check the same focus condition as at the start of the test flash through the viewfinder FR, and the autofocus operation can be performed without waiting for the autofocus operation to be performed again. You can focus.

【0084】次に、第3実施例を説明する。図12は、
第3実施例の回路構成を示すブロック図である。図12
中、5はファインダFRを覗く使用者の視線位置を検知
するための回路から成る視線検知部であり、マイコン1
Bは、視線検知部5により検知された視線位置及びその
視線位置に対応して予め設定されているピント状態の情
報に基づいて、フォーカス駆動部3の設定動作を制御す
る。また、SEは、視線検知モードにモード設定するた
めの視線検知モード設定スイッチである。第3実施例で
は、上記視線検知部5及び視線検知モード設定スイッチ
SEが設けられているほかは、前述した第1,2実施例
(図1)と同様の回路構成となっている。また、ボディB
及びフラッシュFの外観並びにフラッシュ回路構成も、
第1,2実施例と同様である。
Next, a third embodiment will be described. Figure 12
It is a block diagram which shows the circuit structure of 3rd Example. 12
The reference numeral 5 designates a line-of-sight detection unit composed of a circuit for detecting the line-of-sight position of the user looking into the finder FR.
B controls the setting operation of the focus drive unit 3 based on the line-of-sight position detected by the line-of-sight detection unit 5 and the focus state information set in advance corresponding to the line-of-sight position. SE is a visual axis detection mode setting switch for setting the visual axis detection mode. In the third embodiment, the eye-gaze detecting unit 5 and the eye-gaze detecting mode setting switch SE are provided, and the first and second embodiments described above are provided.
It has the same circuit configuration as that of FIG. Also, body B
And the appearance of the flash F and the flash circuit configuration,
This is similar to the first and second embodiments.

【0085】ここで、上記視線検知部5の構成と作用を
簡単に説明する。視線検知部5は、赤外発光ダイオー
ド,集光レンズ,CCDエリアセンサ等から構成されて
いる。使用者がファインダFRを覗くと、赤外発光ダイ
オードが使用者の目を照射する。角膜で反射した光と眼
球の全体像が、集光レンズによってCCDエリアセンサ
上に結像する。マイコン1Bは、CCDエリアセンサ上
に結像した眼球の像から、瞳孔の中心位置と反射光の位
置を求めて、眼球の回転角度を算出し、使用者がファイ
ンダFR内のどの位置を見ているかを検知する。
Here, the structure and operation of the sight line detecting section 5 will be briefly described. The line-of-sight detection unit 5 is composed of an infrared light emitting diode, a condenser lens, a CCD area sensor, and the like. When the user looks into the finder FR, the infrared light emitting diodes illuminate the eyes of the user. The light reflected by the cornea and the entire image of the eyeball are formed on the CCD area sensor by the condenser lens. The microcomputer 1B calculates the rotation angle of the eyeball by obtaining the center position of the pupil and the position of the reflected light from the image of the eyeball formed on the CCD area sensor, and the user sees which position in the finder FR. Detect if there is.

【0086】ついで、図13のフローチャートに基づい
て第3実施例におけるボディB側のマイコン1Bの制御
動作(ボディ側シーケンス)を説明する。ボディBの電源
がON(電源スイッチS0ON)されると、マイコン1B
にリセットがかかり、ステップH10に進む。ボディ状
態の初期設定(H10)では、ボディBの各スイッチ状態
を読み取って各モード設定を行い、また、マイコン1B
の各データのイニシャライズ等を行う。
Next, the control operation (body side sequence) of the microcomputer 1B on the body B side in the third embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. When the power of the body B is turned on (power switch S0ON), the microcomputer 1B
Is reset and the process proceeds to step H10. In the initial setting of the body state (H10), each switch state of the body B is read to set each mode, and the microcomputer 1B
Initialize each data of.

【0087】初期設定後、次のステップH20でスポッ
ト測光スイッチSLBがON状態か否かを判定する。O
N状態と判定した場合、ステップH30でB−F交信を
行った後、ステップH40に進む。このとき、フラッシ
ュF側でテスト発光モードがセットされていれば、後述
のテスト発光が行われる。ステップH20でOFF状態
と判定した場合、ステップH40にスキップする。
After the initial setting, it is determined in next step H20 whether or not the spot photometry switch SLB is in the ON state. O
If it is determined to be in the N state, after performing BF communication in step H30, the process proceeds to step H40. At this time, if the test light emission mode is set on the flash F side, the test light emission described later is performed. When it is determined in step H20 that it is in the OFF state, the process skips to step H40.

【0088】ステップH40では、測光・測距開始スイ
ッチS1がON状態か否かを判定する。OFF状態であ
ればステップH20に戻り、ON状態であればステップ
H50に進む。ステップH50では、フラッシュ情報
(即ち、現在テスト発光中であるか否かを示す情報)の入
力を行うべくB−F交信を行う。このB−F交信により
フラッシュFがどういう状態になっているのかを知る。
フラッシュF側のシーケンスについては、図14に基づ
いて後述する。
In step H40, it is determined whether or not the photometry / distance measurement start switch S1 is in the ON state. If it is OFF, the process returns to step H20, and if it is ON, the process proceeds to step H50. In step H50, flash information
(That is, BF communication is performed in order to input information indicating whether or not the test flash is currently being emitted.) By this BF communication, the state of the flash F is known.
The sequence on the flash F side will be described later with reference to FIG.

【0089】フラッシュ情報入力後、ステップH60に
進んで、フラッシュFがテスト発光中であるか否かを、
B−F交信(H50)で得た情報に基づいて判定する。送
られてきた情報がテスト発光中ならば、ステップH50
に戻り、送られてきた情報がテスト発光中でないなら
ば、ステップH70に進む。
After the flash information is input, the process proceeds to step H60 to check whether the flash F is emitting a test light.
Judgment is made based on the information obtained in BF communication (H50). If the information sent is during test flash, step H50
Returning to step H70, if the information sent is not in the test flash, the process proceeds to step H70.

【0090】ステップH50に進んだ場合、B−F交信
(H50)で得た情報テストがテスト発光中でなくなるま
でループ(H50,H60)を回って待ち状態となる。一
方、ステップH70に進んだ場合、ボディBが視線検知
モードの状態にあるかあるか否かを、視線検知モード設
定スイッチSEのON/OFF状態から判定する。視線
検知モードでないならば(SEOFF)、視線検知OFF
動作を行い(H100)、オートフォーカスを行うべくス
テップH110に進む。視線検知モードであるならば
(SEON)、視線検知による選択位置が確定したか否か
を判定する(H80)。すでに、選択位置が確定していれ
ば、視線検知動作から抜けるべく視線検知OFF動作を
行い(H100)、オートフォーカスを行うべくステップ
H110に進む。また、選択位置が確定していなけれ
ば、視線検知ON動作を行って(H90)、選択位置が確
定するまで視線検知動作を継続する(H80,H90)。
If the process proceeds to step H50, BF communication
Until the information test obtained at (H50) is no longer emitting test light, the loop (H50, H60) is cycled to enter the waiting state. On the other hand, if the process proceeds to step H70, whether or not the body B is in the visual axis detection mode is determined from the ON / OFF state of the visual axis detection mode setting switch SE. If not in line-of-sight detection mode (SEOFF), line-of-sight detection OFF
The operation is performed (H100), and the process proceeds to step H110 to perform auto focus. If the line of sight detection mode
(SEON), it is determined whether or not the selected position by the sight line detection is confirmed (H80). If the selected position has already been determined, the visual axis detection OFF operation is performed to exit the visual axis detection operation (H100), and the process proceeds to step H110 to perform autofocus. If the selected position is not fixed, the visual axis detection ON operation is performed (H90), and the visual axis detection operation is continued until the selected position is fixed (H80, H90).

【0091】ステップH110では、カメラのピント状
態を調べるためにピント状態検出部2からの出力に基づ
いて積分・ダンプ動作を行う。そして、積分・ダンプさ
れた情報に基づいてズレ量を求めるべく、アルゴリズム
制御に進む(H120)。ステップH120のアルゴリズ
ムで合焦状態にないと判定した場合、合焦状態とするべ
くフォーカス駆動部3でレンズ駆動を行う(H130)。
In step H110, the integration / dump operation is performed based on the output from the focus state detection unit 2 in order to check the focus state of the camera. Then, in order to obtain the deviation amount based on the integrated / dumped information, the algorithm control is performed (H120). When it is determined by the algorithm of step H120 that the lens is not in focus, the focus drive unit 3 drives the lens to bring it into focus (H130).

【0092】レンズ駆動(H130)完了後、測光・測距
開始スイッチS1がON状態のままであるか否かをチェ
ックする(H140)。S1ON状態が継続していれば、
ステップH50にスキップし、再度、オートフォーカス
動作等が繰り返されて、オートフォーカス動作を繰り返
すごとにボディ状態を合焦させ続ける。一方、S1ON
状態になければ、ボディ状態の初期設定に戻る(H1
0)。
After the lens driving (H130) is completed, it is checked whether or not the photometry / distance measurement start switch S1 is still in the ON state (H140). If the S1 ON state continues,
Skipping to step H50, the autofocus operation and the like are repeated again, and the body state is continuously focused each time the autofocus operation is repeated. On the other hand, S1ON
If not in the state, return to the initial setting of the body state (H1
0).

【0093】次に、図14のフローチャートに基づいて
第3実施例におけるフラッシュF(図10)側のマイコン
1Fの制御動作(フラッシュ側シーケンス)を説明する。
フラッシュFの電源がON(電源スイッチS3ON)され
ると、マイコン1Fにリセットがかかり、マイコン1F
はフラッシュ起動待ち状態(スリープ状態)に入る(I1
0)。フラッシュFに設けられているいずれかのスイッチ
がONするか又はボディBからのB−F交信要求があれ
ば、フラッシュ起動待ち状態から抜けて、スイッチ状態
チェック処理を行う(I20)。このスイッチ状態チェッ
ク処理で、各スイッチ(例えばモードスイッチSM)の状
態に応じたモード設定を行う。
Next, the control operation (flash side sequence) of the microcomputer 1F on the flash F (FIG. 10) side in the third embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
When the power of the flash F is turned on (power switch S3 is ON), the microcomputer 1F is reset and the microcomputer 1F is reset.
Enters the flash activation wait state (sleep state) (I1
0). If any switch provided in the flash F is turned on or if there is a BF communication request from the body B, the flash state is exited and switch state check processing is performed (I20). In this switch state check processing, mode setting is performed according to the state of each switch (for example, the mode switch SM).

【0094】次に、ステップI30でモードスイッチS
Mのスイッチ状態がテスト発光モード状態か否かを判定
する。テスト発光モード状態でないならば、ステップI
40に進んで本発光モードシーケンス処理を行う。な
お、この本発光モードシーケンス処理は、通常行われて
いるフラッシュ撮影のための発光モード処理であるた
め、これに関する説明は省略する。一方、テスト発光モ
ード状態であれば、ステップI50に進んで、スポット
測光スイッチSLBとテスト発光要求スイッチSLFの
ON/OFF状態を判定する。
Next, in step I30, the mode switch S
It is determined whether the switch state of M is the test light emission mode state. If it is not in the test flash mode, step I
In step 40, the main light emission mode sequence process is performed. The main light emission mode sequence process is a light emission mode process for flash photography that is normally performed, and a description thereof will be omitted. On the other hand, if it is in the test light emission mode state, the process proceeds to step I50 to determine the ON / OFF state of the spot photometry switch SLB and the test light emission request switch SLF.

【0095】ステップI50で、スポット測光スイッチ
SLB及びテスト発光要求スイッチSLFがOFF状態
と判定した場合、ステップI110でテスト発光中であ
ることを示すテスト発光中フラグをクリアし(テスト発
光中フラグ:0)、フラッシュFがテスト発光OFF状
態にあることを、ボディB側に知らせるべくB−F交信
を行う(I120)。先に述べたように、ボディB側はこ
の交信データを受け取って、これを視線検知動作のON
/OFF用データとして用いる。交信データを送った
後、マイコン1Fはフラッシュ起動待ち状態に戻る(I
10)。
If it is determined in step I50 that the spot photometry switch SLB and the test light emission request switch SLF are in the OFF state, the test light emission flag indicating that the test light emission is in progress is cleared in step I110 (test light emission flag: 0. ), BF communication is performed to inform the body B side that the flash F is in the test light emission OFF state (I120). As described above, the body B side receives this communication data and turns this on to the eye gaze detection operation.
Used as data for turning off / on. After sending the communication data, the microcomputer 1F returns to the flash activation waiting state (I
10).

【0096】ステップI50で、スポット測光スイッチ
SLB又はテスト発光要求スイッチSLFがON状態と
判定した場合、ステップI60でテスト発光中フラグを
セットし(テスト発光中フラグ:1)、B−F交信を行う
(I70)。B−F交信完了後、フラッシュFをテスト発
光させる(I80)。
If it is determined in step I50 that the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is in the ON state, the test light emission flag is set (test light emission flag: 1) in step I60, and BF communication is performed.
(I70). After the BF communication is completed, the flash F is made to emit a test light (I80).

【0097】テスト発光動作ON中は、発光中タイマー
が働いてタイムアウトするまで発光を行い、タイムアウ
ト後、テスト発光完了信号を出力するようになっている
ので、ステップI90の判定でテスト発光完了信号が設
定されていれば、テスト発光OFF動作を行い(I10
0)、ステップI110でテスト発光中フラグをクリア
し(テスト発光中フラグ:0)、ステップI120のB−
F交信でボディB側に情報を送り、フラッシュ起動要因
待ち状態に入る(I10)。一方、ステップI90の判定
でテスト発光完了信号が設定されていなければ(テスト
発光中状態)、ステップI50に戻ってテスト発光完了
まで上記ループ(I50〜I90)を回る。
While the test light emission operation is ON, the light emission timer operates and light is emitted until the time-out occurs. After the time-out, the test light emission completion signal is output. If it is set, the test light emission OFF operation is performed (I10
0), the test light emission flag is cleared in step I110 (test light emission flag: 0), and B-
Information is sent to the body B side by F communication, and the flash activation factor wait state is entered (I10). On the other hand, if the test light emission completion signal is not set in the determination of step I90 (state of test light emission), the process returns to step I50 and the above loop (I50 to I90) is repeated until the test light emission is completed.

【0098】以上のように、テスト発光中に視線検知部
5に対し視線位置の検知動作を指示する操作が行われて
も、フラッシュF側から送られてくるテスト発光情報
(テスト発光中フラグ)に基づいて視線検知動作及びオー
トフォーカス動作を禁止することにより、テスト発光中
にピント状態が変化しないように、マイコン1Bによっ
てピント状態検出部2やフォーカス駆動部3のオートフ
ォーカス動作が制御されるため、テスト発光中に使用者
が視線を動かしても、使用者はテスト発光開始時と同じ
ピント状態をファインダFRを通して確認することがで
きる。従って、テスト発光中の視線検知の誤作動を防い
で、快適な撮影状態をユーザーに提供することができ
る。なお、本実施例ではテスト発光中に視線検知動作と
オートフォーカス動作の両方を禁止しているが、オート
フォーカス動作が行われなければピント状態は変化しな
いので、テスト発光中に視線検知動作のみを行うように
制御してもよい。
As described above, even if an operation for instructing the sight line position detecting operation to the sight line detecting section 5 is performed during the test light emission, the test light emission information sent from the flash F side is sent.
By prohibiting the line-of-sight detection operation and the autofocus operation based on the (test light emission flag), the microcomputer 1B uses the autofocus of the focus state detection unit 2 and the focus drive unit 3 so that the focus state does not change during the test light emission. Since the operation is controlled, even if the user moves his or her line of sight during the test light emission, the user can confirm the same focus state as at the start of the test light emission through the finder FR. Therefore, it is possible to prevent erroneous operation of the line-of-sight detection during test light emission, and provide the user with a comfortable shooting state. In this embodiment, both the line-of-sight detection operation and the autofocus operation are prohibited during the test light emission, but the focus state does not change unless the autofocus operation is performed, so only the line-of-sight detection operation during the test light emission is performed. You may control so that it may be performed.

【0099】被写体像状態の設定動作がピント状態を設
定するためのオートフォーカス動作である第1〜第3実
施例によれば、テスト発光中にピント状態の設定を指示
するオートフォーカス操作が行われても、テスト発光中
のピント状態が変化しないようにマイコン1Bでフォー
カス駆動部3のオートフォーカス動作が制御されるの
で、オートフォーカス動作の条件がオートフォーカス操
作時とテスト発光開始時とで変化していても、使用者は
テスト発光開始時と同じピント状態をファインダを通し
て確認することができ、本発光によって被写体に生じる
陰影状態をファインダFRを通して撮影前に確認する作
業が中断されないという効果がある。これにより、テス
ト発光による上記確認作業を快適に行うことができる。
According to the first to third embodiments in which the setting operation of the subject image state is the autofocus operation for setting the focus state, the autofocus operation for instructing the setting of the focus state is performed during the test light emission. However, since the microcomputer 1B controls the autofocus operation of the focus drive unit 3 so that the focus state during the test flash does not change, the condition of the autofocus operation changes between the autofocus operation and the start of the test flash. However, the user can confirm the same focus state as at the start of the test light emission through the viewfinder, and there is an effect that the work of confirming the shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder FR is not interrupted. As a result, it is possible to comfortably perform the above-mentioned confirmation work using test light emission.

【0100】次に、第4実施例を説明する。図15は、
第4実施例の回路構成を示すブロック図である。図15
中、6はズーミングのためにズームレンズのモータ駆動
を行うズーム駆動部であり、SZはボディBに設けられ
ているズームボタン(不図示)を押すとONするズームス
イッチである。第4実施例では、上記ズーム駆動部6及
びズームスイッチSZが設けられているほかは、前述し
た第1,2実施例(図1)と同様の回路構成となってい
る。また、ボディB及びフラッシュFの外観並びにフラ
ッシュ回路構成も、第1,2実施例と同様である。
Next, a fourth embodiment will be described. Figure 15 shows
It is a block diagram which shows the circuit structure of 4th Example. FIG.
In the figure, 6 is a zoom drive unit that drives the motor of the zoom lens for zooming, and SZ is a zoom switch that is turned on when a zoom button (not shown) provided on the body B is pressed. The fourth embodiment has the same circuit configuration as the above-described first and second embodiments (FIG. 1) except that the zoom drive section 6 and the zoom switch SZ are provided. The appearance of the body B and the flash F and the flash circuit configuration are the same as those in the first and second embodiments.

【0101】図16のフローチャートに基づいて第4実
施例におけるボディB側のマイコン1Bの制御動作(ボ
ディ側シーケンス)を説明する。ボディBの電源がON
(電源スイッチS0ON)されると、マイコン1Bにリセ
ットがかかり、ステップJ10のボディ状態の初期設定
に進む。ボディ状態の初期設定(J10)では、ボディB
の各スイッチ状態を読み取って各モード設定を行い、ま
た、マイコン1Bの各データのイニシャライズ等を行
う。
The control operation (body side sequence) of the microcomputer 1B on the body B side in the fourth embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. Power of body B is ON
When the power switch S0 is turned on, the microcomputer 1B is reset and the process proceeds to the initial setting of the body state in step J10. In the initial setting of body state (J10), body B
Each switch setting is read to set each mode, and each data of the microcomputer 1B is initialized.

【0102】初期設定後、次のステップJ20でスポッ
ト測光スイッチSLBがON状態か否かを判定する。O
N状態と判定した場合、ステップJ30でB−F交信を
行った後、ステップJ40に進む。このとき、フラッシ
ュF側でテスト発光モードがセットされていれば、後述
のテスト発光が行われる。ステップJ20でOFF状態
と判定した場合、ステップJ40にスキップする。
After the initial setting, in the next step J20, it is determined whether or not the spot photometry switch SLB is in the ON state. O
If it is determined to be in the N state, after performing BF communication in step J30, the process proceeds to step J40. At this time, if the test light emission mode is set on the flash F side, the test light emission described later is performed. When it is determined in step J20 that it is in the OFF state, the process skips to step J40.

【0103】ステップJ40では、ズームスイッチSZ
がON状態か否かを判定する。OFF状態であればステ
ップJ20に戻り、ON状態であればステップJ50に
進む。ステップJ50では、フラッシュチェックを行
う。
At step J40, the zoom switch SZ
It is determined whether or not is ON. If it is OFF, the process returns to step J20, and if it is ON, the process proceeds to step J50. At step J50, a flash check is performed.

【0104】ここで、フラッシュチェック動作(図16
のJ50)を図18に基づいて説明する。まず、フラッ
シュFの動作を判別するためにステップL10でテスト
発光中フラグをクリアし(テスト発光中フラグ:0)、ス
テップL20でズーム信号フラグをセットする(ズーム
信号フラグ:1)。
Here, the flash check operation (see FIG.
J50) will be described with reference to FIG. First, in order to determine the operation of the flash F, the test light emission flag is cleared in step L10 (test light emission flag: 0), and the zoom signal flag is set in step L20 (zoom signal flag: 1).

【0105】そして、ボディB側のデータをフラッシュ
F側に送るべく、B−F交信を行う(L30)。次に、B
−F交信間隔をあけるためのタイマーを働かせた後(L
40)、フラッシュF側のデータをボディB側に取り込
むべくB−F交信を行い(L50)、リターンする。この
ようにフラッシュF側のデータをボディB側に取り込む
ことによって、ボディB側ではズーミングを行うか否か
を判定することができる。
Then, BF communication is performed to send the data on the body B side to the flash F side (L30). Then B
-F After activating the timer to open the communication interval (L
40), BF communication is performed to fetch the data on the flash F side to the body B side (L50), and the process returns. In this way, by fetching the data on the flash F side into the body B side, it is possible to determine on the body B side whether or not to perform zooming.

【0106】図16のボディ側シーケンスのフローに戻
る。ステップJ60でフラッシュF側がテスト発光中で
あるか否かを、テスト発光中フラグの状態により判定す
る。テスト発光中ならば(テスト発光中フラグ:1)、再
度フラッシュチェック(J50)に戻る。このループ(J
50,J60)のシーケンスによって、テスト発光中に
はズーム動作に入らないようにしている。一方、テスト
発光モードでないならば、ズーミングを行うべくズーム
駆動部6でズームレンズ駆動を行う(J70)。
Returning to the flow of the sequence on the body side in FIG. In step J60, it is determined whether or not the flash F side is in the test flash state based on the state of the test flash flag. If the test light emission is in progress (test light emission flag: 1), the process returns to the flash check (J50) again. This loop (J
50, J60), the zoom operation is prevented during the test flash. On the other hand, if it is not in the test light emission mode, the zoom lens is driven by the zoom driving unit 6 to perform zooming (J70).

【0107】ズームレンズ駆動(J70)完了後、ステッ
プJ80でズーム信号フラグをクリアし(ズーム信号フ
ラグ:0)、ステップJ90でB−F交信を行う。この
B−F交信でズーム信号情報(ズーム信号フラグ:0)が
フラッシュF側マイコン1Fに送られる。
After the driving of the zoom lens (J70) is completed, the zoom signal flag is cleared at step J80 (zoom signal flag: 0), and BF communication is performed at step J90. With this BF communication, zoom signal information (zoom signal flag: 0) is sent to the flash F side microcomputer 1F.

【0108】次に、ズームスイッチSZがON状態であ
るか否かをチェックする(J100)。ズームスイッチS
ZがON状態にあれば、ステップJ50に戻って、再
度、フラッシュチェック,ズーム動作を繰り返す。一
方、ズームスイッチSZがOFF状態にあれば、ステッ
プJ20に戻る。
Next, it is checked whether the zoom switch SZ is in the ON state (J100). Zoom switch S
If Z is in the ON state, the process returns to step J50 to repeat the flash check and zoom operation again. On the other hand, if the zoom switch SZ is off, the process returns to step J20.

【0109】次に、図17のフローチャートに基づいて
第4実施例におけるフラッシュF(図1)側のマイコン1
Fの制御動作(フラッシュ側シーケンス)を説明する。フ
ラッシュFの電源がON(電源スイッチS3ON)される
と、マイコン1Fにリセットがかかり、マイコン1Fは
フラッシュ起動待ち状態(スリープ状態)に入る(K1
0)。フラッシュFに設けられているいずれかのスイッ
チがONするか又はボディBからのB−F交信要求があ
れば、フラッシュ起動待ち状態から抜けて、初期モード
チェック(K20)に入る。
Next, based on the flow chart of FIG. 17, the microcomputer 1 on the flash F (FIG. 1) side in the fourth embodiment will be described.
The control operation of F (sequence on the flash side) will be described. When the power of the flash F is turned on (power switch S3 is ON), the microcomputer 1F is reset and the microcomputer 1F enters a flash activation waiting state (sleep state) (K1
0). If any switch provided in the flash F is turned on or if there is a BF communication request from the body B, the flash mode is exited and the initial mode check (K20) is started.

【0110】ここで、初期モードチェック動作(図17
のK20)を図19に基づいて説明する。初期モードチ
ェックのフロー内に入ると、まずスイッチ状態チェック
を行う(M10)。このスイッチ状態チェック処理で、モ
ードスイッチSMの状態に応じたモード設定を行う。そ
して、モードスイッチSMのスイッチ状態がテスト発光
モード状態か否かを判定する(M20)。テスト発光モー
ド状態でなければ、ステップM30に進んで本発光モー
ドシーケンス処理を行う。なお、この本発光モードシー
ケンス処理は、通常行われているフラッシュ撮影のため
の発光モード処理であるため、これに関する説明は省略
する。
Here, the initial mode check operation (see FIG.
K20) will be described with reference to FIG. When entering the flow of the initial mode check, first, the switch state is checked (M10). In this switch state check processing, mode setting is performed according to the state of the mode switch SM. Then, it is determined whether or not the switch state of the mode switch SM is the test light emission mode state (M20). If it is not in the test light emission mode, the process proceeds to step M30 to perform the main light emission mode sequence process. The main light emission mode sequence process is a light emission mode process for flash photography that is normally performed, and a description thereof will be omitted.

【0111】一方、テスト発光モード状態であれば、ス
テップM40に進んでB−F交信を行う。このB−F交
信で、ボディB側の情報(スポット測光スイッチSLB
のON/OFF状態,ズーム中か否か)をフラッシュF
側に取り込む。次に、テスト発光要求信号がセットされ
ているか否か(即ち、スポット測光スイッチSLB又は
テスト発光要求スイッチSLFがON状態か否か)を判
定する(M50)。
On the other hand, if it is in the test light emission mode, the process proceeds to step M40 to perform BF communication. With this BF communication, information on the side of the body B (spot metering switch SLB
ON / OFF state, whether or not zoom is in progress)
Take to the side. Next, it is determined whether the test light emission request signal is set (that is, whether the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is in the ON state) (M50).

【0112】ステップM50で、テスト発光要求信号が
設定されていないと判定した場合(スポット測光スイッ
チSLB及びテスト発光要求スイッチSLFがOFF状
態の場合)、ステップM60でテスト発光中フラグをク
リアし(テスト発光中フラグ:0)、これをボディB側マ
イコン1Bに知らせるべくB−F交信を行う(M70)。
次に、発光OFF状態を指示すべく、ステップM80で
テスト発光OKフラグをクリアする(テスト発光OKフ
ラグ:0)。そして、リターンする。
When it is determined in step M50 that the test light emission request signal is not set (when the spot metering switch SLB and the test light emission request switch SLF are in the OFF state), the test light emission flag is cleared in step M60 (test Light emitting flag: 0), and BF communication is performed to inform the microcomputer 1B on the body B side (M70).
Next, in order to indicate the light emission OFF state, the test light emission OK flag is cleared in step M80 (test light emission OK flag: 0). And it returns.

【0113】一方、ステップM50で、テスト発光スタ
ート信号が設定されていると判定した場合(スポット測
光スイッチSLB又はテスト発光要求スイッチSLFが
ON状態の場合)、ズーム中か否かをズーム信号フラグ
により判定する(M90)。ボディB側がズーム状態を示
していれば(ズーム信号フラグ:1)、ステップM80で
テスト発光OKフラグをクリアし(テスト発光OKフラ
グ:0)、リターンする。この処理によってズーム時の
テスト発光が禁止される。ボディB側がズーム状態を示
していなければ(ズーム信号フラグ:0)、ステップM1
00でテスト発光OKフラグをセットし(テスト発光O
Kフラグ:1)、ステップM110でテスト発光中フラ
グをセットし(テスト発光中フラグ:1)、リターンす
る。
On the other hand, when it is determined in step M50 that the test light emission start signal is set (when the spot photometry switch SLB or the test light emission request switch SLF is in the ON state), whether or not zooming is in progress is determined by a zoom signal flag. Judge (M90). If the body B side indicates the zoom state (zoom signal flag: 1), the test light emission OK flag is cleared in step M80 (test light emission OK flag: 0), and the process returns. By this processing, test light emission during zooming is prohibited. If the body B side does not indicate the zoom state (zoom signal flag: 0), step M1
00 to set the test flash OK flag (test flash OK
K flag: 1), the test light emission flag is set in step M110 (test light emission flag: 1), and the process returns.

【0114】上記のようにボディB側からフラッシュF
側のマイコン1Fに取り込まれたデータやフラッシュF
のスイッチ情報に基づく判定により、テスト発光させる
かさせないかを決定した後、図17のフラッシュ側シー
ケンスに戻る。
As described above, the flash F from the body B side
Data and flash F captured in the microcomputer 1F
After deciding whether or not the test light emission is to be performed based on the determination based on the switch information, the process returns to the sequence on the flash side in FIG.

【0115】そして、ステップK30でテスト発光OK
フラグがセットされているか否か判定する。テスト発光
OKフラグがセットされていなければ(テスト発光OK
フラグ:0)、初期モードチェック(K20)に戻る。一
方、テスト発光OKフラグがセットされていれば(テス
ト発光OKフラグ:1)、テスト発光シーケンス(K4
0)に進んでテスト発光を行い、そして、ステップK5
0でテスト発光完了か否かの判定を行い、テスト発光が
完了するまで、テスト発光シーケンスのループを回る
(K40,K50)。テスト発光完了後、ステップK10
のフラッシュ起動状態チェック処理に戻る。
Then, in step K30, the test light emission is OK.
It is determined whether the flag is set. If the test flash OK flag is not set (test flash OK
Flag: 0), return to initial mode check (K20). On the other hand, if the test light emission OK flag is set (test light emission OK flag: 1), the test light emission sequence (K4
Proceed to 0) to perform test flash, and then step K5
It is judged whether or not the test flash is completed at 0, and the loop of the test flash sequence is repeated until the test flash is completed.
(K40, K50). After completing the test flash, step K10
The process returns to the flash activation status check process.

【0116】以上のように、テスト発光中にズーム操作
が行われた場合(SZON)には、テスト発光中のズーム
動作を禁止しテスト発光完了後にズーム動作を行うよう
に(J40〜J100)、マイコン1Bによってズーム駆
動部6が制御されるため、使用者はテスト発光開始時と
同じ画角状態をファインダFRを通して確認することが
でき、ズーム操作が再び行われるのを待たずにズーミン
グを行うことができる。
As described above, when the zoom operation is performed during the test flash (SZON), the zoom operation during the test flash is prohibited and the zoom operation is performed after the test flash is completed (J40 to J100). Since the zoom drive unit 6 is controlled by the microcomputer 1B, the user can confirm the same angle of view state as at the start of the test light emission through the finder FR, and perform zooming without waiting for the zoom operation to be performed again. You can

【0117】被写体像状態の設定動作が焦点距離状態
(画角状態)を設定するためのズーム動作である第4実施
例によれば、テスト発光中に焦点距離状態の設定を指示
するズーム操作が行われても、テスト発光中の画角状態
が変化しないようにマイコン1Bでズーム駆動部6のズ
ーム動作が制御されるので、ズーム動作の条件がズーム
操作時とテスト発光開始時とで変化していても(例え
ば、オートズーム機能が作動した場合)、使用者はテス
ト発光開始時と同じ画角状態をファインダを通して確認
することができ、本発光によって被写体に生じる陰影状
態をファインダFRを通して撮影前に確認する作業が中
断されないという効果が得られる。これにより、テスト
発光による上記確認作業を快適に行うことができる。な
お、画角状態を設定するための動作は、ズーム動作に限
らず、前述したように2焦点以上の焦点切換えによって
焦点距離を変化させる場合やトリミング撮影,パノラマ
撮影時にファインダ視野の切換えを行う場合等であって
も、本実施例と同様に制御することによって同様の効果
を得ることができる。
The setting operation of the subject image state is the focal length state
According to the fourth embodiment, which is the zoom operation for setting the (angle of view), even if the zoom operation for instructing the setting of the focal length state is performed during the test light emission, the angle of view during the test light emission remains unchanged. The microcomputer 1B controls the zoom operation of the zoom drive unit 6 so that it does not change. Therefore, even if the zoom operation conditions change between the zoom operation and the test flash start (for example, when the auto zoom function is activated). ), The user can confirm the same angle of view state as at the time of starting the test light emission through the viewfinder, and the effect of not interrupting the work of confirming the shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder FR before photographing is obtained. As a result, it is possible to comfortably perform the above-mentioned confirmation work using test light emission. The operation for setting the angle-of-view state is not limited to the zoom operation, but as described above, when the focal length is changed by switching the focus of two or more focal points, or when the viewfinder field is switched during trimming shooting or panoramic shooting. Even in such cases, similar effects can be obtained by controlling in the same manner as in the present embodiment.

【0118】[0118]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るカメ
ラシステムによれば、テスト発光中に被写体像状態の設
定を指示する操作が行われても、本発光によって被写体
に生じる陰影状態をファインダを通して撮影前に確認す
る作業が中断されないという効果が得られる。これによ
り、テスト発光による上記確認作業を快適に行うことが
できる。
As described above, according to the camera system of the present invention, even if an operation for instructing the setting of a subject image state is performed during test light emission, the shadow state produced on the subject by the main light emission can be found in the viewfinder. Through this, it is possible to obtain the effect that the work of checking before shooting is not interrupted. As a result, it is possible to comfortably perform the above-mentioned confirmation work using test light emission.

【0119】さらに、被写体像状態の設定動作中にテス
ト発光を指示する操作が行われた場合に、設定動作中の
テスト発光を禁止するように制御することによって、前
記被写体像状態の設定動作の中断及び誤った設定を防止
することができる。
Further, when the operation for instructing the test light emission is performed during the setting operation of the subject image state, the test light emission during the setting operation is controlled so as to be prohibited so that the setting operation of the subject image state is performed. It is possible to prevent interruption and incorrect setting.

【0120】テスト発光中に視線位置の検知動作を指示
する操作が行われても、被写体像状態がテスト発光中に
変化しないように制御した場合には、使用者が視線を動
かしても、確認作業が中断されず快適な確認作業を行う
ことができる。
Even if an operation for instructing the sight line position detection operation is performed during the test light emission, if the subject image state is controlled so as not to change during the test light emission, even if the user moves the line of sight, confirmation is made. Work can be performed comfortably without interruption.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1実施例の回路構成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of a first embodiment.

【図2】第1実施例を構成するボディの前面及び背面を
示す外観斜視図。
FIG. 2 is an external perspective view showing a front surface and a back surface of a body which constitutes the first embodiment.

【図3】第1実施例を構成するフラッシュの背面及び側
面を示す外観図。
FIG. 3 is an external view showing a back surface and a side surface of a flash which constitutes the first embodiment.

【図4】第1実施例を構成するフラッシュの回路構成を
示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration of a flash which constitutes the first embodiment.

【図5】第1実施例におけるボディ側シーケンスを示す
フローチャート。
FIG. 5 is a flowchart showing a body side sequence in the first embodiment.

【図6】第1実施例におけるアルゴリズムを示すフロー
チャート。
FIG. 6 is a flowchart showing an algorithm in the first embodiment.

【図7】第1実施例におけるフラッシュ側シーケンスを
示すフローチャート。
FIG. 7 is a flowchart showing a flash-side sequence in the first embodiment.

【図8】第2実施例におけるボディ側シーケンスを示す
フローチャート。
FIG. 8 is a flowchart showing a body side sequence in the second embodiment.

【図9】第2実施例におけるフラッシュ側シーケンスを
示すフローチャート。
FIG. 9 is a flowchart showing a flash-side sequence in the second embodiment.

【図10】第2実施例におけるフラッシュチェックを示
すフローチャート。
FIG. 10 is a flowchart showing a flash check in the second embodiment.

【図11】第2実施例における初期モードチェックを示
すフローチャート。
FIG. 11 is a flowchart showing an initial mode check in the second embodiment.

【図12】第3実施例の回路構成を示すブロック図。FIG. 12 is a block diagram showing a circuit configuration of a third embodiment.

【図13】第3実施例におけるボディ側シーケンスを示
すフローチャート。
FIG. 13 is a flowchart showing a body side sequence in the third embodiment.

【図14】第3実施例におけるフラッシュ側シーケンス
を示すフローチャート。
FIG. 14 is a flowchart showing a flash-side sequence in the third embodiment.

【図15】第4実施例の回路構成を示すブロック図。FIG. 15 is a block diagram showing a circuit configuration of a fourth embodiment.

【図16】第4実施例におけるボディ側シーケンスを示
すフローチャート。
FIG. 16 is a flowchart showing a body side sequence in the fourth embodiment.

【図17】第4実施例におけるフラッシュ側シーケンス
を示すフローチャート。
FIG. 17 is a flowchart showing a flash-side sequence in the fourth embodiment.

【図18】第4実施例におけるフラッシュチェックを示
すフローチャート。
FIG. 18 is a flowchart showing flash check in the fourth embodiment.

【図19】第4実施例における初期モードチェックを示
すフローチャート。
FIG. 19 is a flowchart showing an initial mode check in the fourth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1B …ボディ側のマイコン 1F …フラッシュ側のマイコン 2 …ピント状態検出部 3 …フォーカス駆動部 4 …フラッシュ発光部 5 …視線検知部 6 …ズーム駆動部 1B ... Body side microcomputer 1F ... Flash side microcomputer 2 ... Focus state detection unit 3 ... Focus drive unit 4 ... Flash light emission unit 5 ... Line-of-sight detection unit 6 ... Zoom drive unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川邉 浩太郎 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 難波 克行 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Kotaro Kawabe, 2-3-3 Azuchi-cho, Chuo-ku, Osaka City, Minolta Co., Ltd. (72) Inventor, Katsuyuki Namba 2-chome, Azuchi-cho, Chuo-ku, Osaka No. 13 Osaka International Building Minolta Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被写体像状態を確認するためのファインダ
を備えたカメラ本体と,前記ファインダを通して確認さ
れる被写体像状態の設定を行う被写体像状態設定手段
と,該被写体像状態設定手段の設定動作を制御する制御
手段と,フラッシュ撮影時の露光のために行われる本発
光と該本発光によって被写体に生じる陰影状態を前記フ
ァインダを通して撮影前に確認するために行われるテス
ト発光とが可能な発光手段と,を具備するカメラシステ
ムにおいて、 前記制御手段は、前記テスト発光中に前記被写体像状態
の設定を指示する操作が行われても、テスト発光中の被
写体像状態が変化しないように前記被写体像状態設定手
段の設定動作を制御することを特徴とするカメラシステ
ム。
1. A camera body having a finder for confirming a subject image state, a subject image state setting means for setting a subject image state confirmed through the finder, and a setting operation of the subject image state setting means. And a test light emission means for confirming the shaded state of the subject caused by the main light emission through the viewfinder before the photographing, In the camera system including, the control unit controls the subject image so that the subject image state during the test light emission does not change even if an operation for instructing the setting of the subject image state is performed during the test light emission. A camera system characterized by controlling a setting operation of a state setting means.
【請求項2】被写体像状態を確認するためのファインダ
を備えたカメラ本体と,前記ファインダを通して確認さ
れる被写体像状態の設定を行う被写体像状態設定手段
と,該被写体像状態設定手段の設定動作を制御する制御
手段と,フラッシュ撮影時の露光のために行われる本発
光と該本発光によって被写体に生じる陰影状態を前記フ
ァインダを通して撮影前に確認するために行われるテス
ト発光とが可能な発光手段と,を具備するカメラシステ
ムにおいて、 前記制御手段は、前記テスト発光中に前記被写体像状態
の設定を指示する操作が行われた場合には、前記被写体
像状態を変化させる原因となる動作を制限することによ
って、テスト発光中の被写体像状態が変化しないように
前記被写体像状態設定手段の設定動作を制御することを
特徴とするカメラシステム。
2. A camera body having a finder for confirming a subject image state, a subject image state setting means for setting a subject image state confirmed through the finder, and a setting operation of the subject image state setting means. And a test light emission means for confirming the shaded state of the subject caused by the main light emission through the viewfinder before the photographing, In the camera system including: and, when the operation for instructing the setting of the subject image state is performed during the test light emission, the control unit limits an operation that causes the subject image state to be changed. By so doing, the setting operation of the subject image state setting means is controlled so that the subject image state during test light emission does not change. Camera system to be used.
【請求項3】被写体像状態を確認するためのファインダ
を備えたカメラ本体と,前記ファインダを通して確認さ
れる被写体像状態の設定を行う被写体像状態設定手段
と,フラッシュ撮影時の露光のために行われる本発光と
該本発光によって被写体に生じる陰影状態を前記ファイ
ンダを通して撮影前に確認するために行われるテスト発
光とが可能な発光手段と,前記被写体像状態設定手段の
設定動作と前記発光手段のテスト発光とを制御する制御
手段と,を具備するカメラシステムにおいて、 前記制御手段は、前記被写体像状態の設定動作中に前記
テスト発光を指示する操作が行われた場合には、該設定
動作中のテスト発光を禁止し、前記テスト発光中に前記
被写体像状態の設定を指示する操作が行われた場合に
は、テスト発光中の被写体像状態の設定動作を禁止する
ように、前記被写体像状態設定手段を制御することを特
徴とするカメラシステム。
3. A camera main body having a finder for confirming a subject image state, a subject image state setting means for setting a subject image state confirmed through the finder, and a body for exposure during flash photography. Light emission means capable of performing main light emission and test light emission performed for confirming the shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder, setting operation of the subject image state setting means, and the light emitting means And a control unit for controlling the test light emission, wherein the control unit performs the setting operation when the operation for instructing the test light emission is performed during the setting operation of the subject image state. If the operation to instruct the setting of the subject image state is performed during the test firing, the subject image status during the test firing is A camera system for controlling the subject image state setting means so as to prohibit a state setting operation.
【請求項4】被写体像状態を確認するためのファインダ
を備えたカメラ本体と,前記ファインダを覗く使用者の
視線位置を検知する視線検知手段と,前記ファインダを
通して確認される被写体像状態の設定を行う被写体像状
態設定手段と,前記視線検知手段により検知された視線
位置及び該視線位置に対応して予め設定されている被写
体像状態の情報に基づいて、前記被写体像状態設定手段
の設定動作を制御する制御手段と,フラッシュ撮影時の
露光のために行われる本発光と該本発光によって被写体
に生じる陰影状態を前記ファインダを通して撮影前に確
認するために行われるテスト発光とが可能な発光手段
と,を具備するカメラシステムにおいて、 前記制御手段は、前記テスト発光中に前記視線位置の検
知を指示する操作が行われても、テスト発光中の被写体
像状態が変化しないように前記被写体像状態設定手段の
設定動作を制御することを特徴とするカメラシステム。
4. A camera body provided with a finder for confirming a subject image state, a sight line detecting means for detecting a sight line position of a user looking into the finder, and a subject image state confirmed through the finder. The setting operation of the subject image state setting means is performed based on the subject image state setting means to be performed, the sight line position detected by the sight line detecting means, and the subject image state information preset corresponding to the sight line position. Control means for controlling, and a light emitting means capable of main light emission for exposure during flash photography and test light emission for confirming the shadow state caused on the subject by the main light emission through the viewfinder before photographing. In the camera system including: A camera system for controlling the setting operation of the subject image state setting means so that the subject image state during test light emission does not change.
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