JPH08187686A - Moving mechanism - Google Patents

Moving mechanism

Info

Publication number
JPH08187686A
JPH08187686A JP34014594A JP34014594A JPH08187686A JP H08187686 A JPH08187686 A JP H08187686A JP 34014594 A JP34014594 A JP 34014594A JP 34014594 A JP34014594 A JP 34014594A JP H08187686 A JPH08187686 A JP H08187686A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
upper arm
lower arm
moving object
length
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP34014594A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2726634B2 (en
Inventor
Satoru Okabe
悟 岡部
Ryuji Yoshida
竜司 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Iwaki Electronics Co Ltd
Original Assignee
Iwaki Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Iwaki Electronics Co Ltd filed Critical Iwaki Electronics Co Ltd
Priority to JP34014594A priority Critical patent/JP2726634B2/en
Publication of JPH08187686A publication Critical patent/JPH08187686A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2726634B2 publication Critical patent/JP2726634B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE: To easily accurately move a moving object by considering a means such as rotatably connecting both upper/lower arms, further arranging a length adjusting mechanism in the one arm, also arranging a stopper of stopping both the upper/lower arms in a toggle position. CONSTITUTION: Both upper/lower arms 2, 5 are rotatably connected by a rotary mechanism 4, also to fix the lower arm 5 rotatably to a base 9 fixed by a fixed rotary mechanism 6, further to fix the upper arm 2 rotatably to a moving object by a fixed mechanism 1. the lower arm 5 is rotated by the fixed rotary mechanism 6, also to rotate the upper arm 2 according to this rotating the lower arm, and the arms are stably stopped by a stopper 7 in a position (toggle position) 13 passing an upper limit 12. Here is used a stroke adjusting nut 3 mounted in the upper arm 2, to arbitrarily adjust a length of the upper arm 2, so as to adjust a lower limit, upper limit 12 or the position (toggle position) 13 passing the upper limit 12 respectively in a desired position.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、回転自在に連結した上
アームと下アームとによって移動対象物を任意の位置に
移動させる移動機構に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a moving mechanism for moving a moving object to an arbitrary position by means of an upper arm and a lower arm which are rotatably connected to each other.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ハイブリッドICなどを搭載した
プリント基板の試験を行う場合、プリント基板上の所定
のパターンに多数のピンを接触させて信号を入力あるい
は取り出していた。この多数のピンをプリント基板上の
所定の位置のパターンに接触させるために、接触させた
い位置にバネに伸張するピンを多数設けた基板を専用の
治具でプリント基板上に対向させた位置に押し当ててい
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a printed circuit board on which a hybrid IC or the like is mounted is tested, a large number of pins are brought into contact with a predetermined pattern on the printed circuit board to input or output signals. In order to bring this many pins into contact with the pattern at a predetermined position on the printed circuit board, place the board provided with many pins that extend to the spring at the position you want to contact on the printed circuit board facing with a special jig. I was pushing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来は上述したよう
に、プリント基板上の所定のパターンに多数のピンを接
触させて信号を入力および取り出して試験を行う場合、
多数のピンを伸張するバネを介して基板上の所定位置に
多数設け、これをプリント基板に対向して配置し、これ
ら多数のピンをプリント基板の所定パターンに接触させ
ていた。このため、被試験対象のプリント基板が変わる
毎に専用の移動機構を作成して対処していたため、測定
治具の汎用性がないと共に、丁度接触する位置まで移動
させるように調整することが困難であるなどの問題が発
生していた。
Conventionally, as described above, when a large number of pins are brought into contact with a predetermined pattern on a printed circuit board to input and output signals, a test is performed.
A large number of pins are provided at predetermined positions on a substrate through springs that extend, and the pins are arranged so as to face the printed circuit board, and the large number of pins are brought into contact with a predetermined pattern of the printed circuit board. For this reason, since a dedicated moving mechanism was created and dealt with every time the printed circuit board under test changed, the measuring jig was not versatile and it was difficult to make adjustments to move it to the position where it was just in contact. There was a problem such as being.

【0004】本発明は、これらの問題を解決するため、
上アームと下アームおよびアームの長さを自在に調整し
て停止位置を任意に設定可能とし、試験用の多数のピン
を載せた基板などをハイブリッドIC基板などの対象物
の所定位置に所定圧力に容易に調整可能にすることを目
的としている。
The present invention solves these problems.
The stop position can be set arbitrarily by freely adjusting the lengths of the upper arm, the lower arm, and the arm, and the substrate on which a large number of pins for testing are placed is pressed to the prescribed position of the target such as the hybrid IC substrate at the prescribed pressure. It is intended to be easily adjustable.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図1において、固定機構
1は、図示外の移動対象物に上アーム2を回転自在に固
定するものである。
[Means for Solving the Problems] Means for solving the problems will be described with reference to FIG. In FIG. 1, the fixing mechanism 1 rotatably fixes the upper arm 2 to a moving object (not shown).

【0006】上アーム2は、下アーム5と回転機構4で
回転自在に接続したものである。ストローク調整ナット
3は、長さ調整機構の具体例であって、上アーム2の位
置を調整するものであり、下限11、上限12、あるい
は上限を過ぎた位置(トグル位置)13を相対的位置に
調整するものである。
The upper arm 2 is rotatably connected to the lower arm 5 by a rotating mechanism 4. The stroke adjusting nut 3 is a specific example of the length adjusting mechanism and adjusts the position of the upper arm 2. The lower limit 11, the upper limit 12, or the position (toggle position) 13 beyond the upper limit is used as a relative position. To adjust to.

【0007】下アーム5は、上アーム2と回転機構4で
回転自在に接続したものである。固定・回転機構6は、
下アーム5を台9に回転自在に固定すると共に、下アー
ム5を回転するものである。
The lower arm 5 is rotatably connected to the upper arm 2 by a rotating mechanism 4. The fixed / rotary mechanism 6 is
The lower arm 5 is rotatably fixed to the base 9, and the lower arm 5 is rotated.

【0008】ストッパ7は、上限を過ぎた位置13で上
アーム2あるいは下アーム5を安定した位置で停止させ
るものである。台9は、固定した台である。
The stopper 7 stops the upper arm 2 or the lower arm 5 at a stable position at a position 13 beyond the upper limit. The base 9 is a fixed base.

【0009】[0009]

【作用】本発明は、図1に示すように、上アーム2と下
アーム5とを回転機構4によって回転自在に接続すると
共に、下アーム5を固定・回転機構6によって固定した
台9に回転自在に固定、および上アーム2を固定機構1
を介して図示外の移動対象物に回転自在に固定する。こ
の状態で、固定・回転機構6によって、下アーム5を回
転させ、これに伴い回転機構4に回転自在に接続された
上アーム2を回転させて上限を過ぎた位置(トグル位
置)13で停止させ、図示外の移動対象物を下限11の
位置から上限12の位置、更に若干下限の方向に戻った
上限を過ぎた位置(トグル位置)13で安定に停止す
る。この際、上アーム2に取り付けたストローク調整ナ
ット3を用いて上アーム2の長さを任意に調整し、下限
11、上限12あるいは上限を過ぎた位置(トグル位
置)13を所望の位置に調整するようにしている。
According to the present invention, as shown in FIG. 1, the upper arm 2 and the lower arm 5 are rotatably connected by the rotating mechanism 4, and the lower arm 5 is rotated by the fixed / rotating mechanism 6 on the base 9. Freely fixed and upper arm 2 fixed mechanism 1
It is rotatably fixed to a moving object (not shown) via. In this state, the lower arm 5 is rotated by the fixing / rotating mechanism 6 and the upper arm 2 rotatably connected to the rotating mechanism 4 is rotated accordingly, and the upper arm 2 is stopped at a position (toggle position) 13 beyond the upper limit. Then, the object to be moved (not shown) is stably stopped at the position of the lower limit 11 to the position of the upper limit 12, and further at a position (toggle position) 13 which has slightly returned to the lower limit and has passed the upper limit. At this time, the stroke adjusting nut 3 attached to the upper arm 2 is used to arbitrarily adjust the length of the upper arm 2, and the lower limit 11, the upper limit 12, or the position (toggle position) 13 beyond the upper limit is adjusted to a desired position. I am trying to do it.

【0010】また、図示外の移動対象物が所定方向に移
動する図示外の案内機構を設けるようにしている(図
3、図4を用いて後述する)。また、移動対象物をバネ
で突出するピンを多数配置した基板とし、当該基板のピ
ンを被試験対象のプリント基板の所定位置に対し、バネ
の力で所定圧力で押圧するように、上記長さ調整機構に
よって任意に調整するようにしている。
Further, a guide mechanism (not shown) for moving a moving object (not shown) in a predetermined direction is provided (described later with reference to FIGS. 3 and 4). In addition, the moving object is a board on which a large number of pins protruding by a spring are arranged, and the above-mentioned length is set so that the pins of the board are pressed against a predetermined position of the printed board to be tested with a predetermined pressure by a spring force. The adjustment mechanism is used to make arbitrary adjustments.

【0011】従って、上アーム2と下アーム5、および
下アーム5の長さを自在に調整して停止位置を任意に設
定可能とし、試験用の多数のピンを載せた基板などをハ
イブリッドIC基板などの対象物の所定位置に所定圧力
に容易に調整することが可能となった。
Therefore, the lengths of the upper arm 2, the lower arm 5, and the lower arm 5 can be freely adjusted so that the stop position can be arbitrarily set, and a substrate on which a large number of pins for testing are mounted is a hybrid IC substrate. It has become possible to easily adjust a predetermined pressure to a predetermined position of an object such as.

【0012】[0012]

【実施例】次に、図1から図4を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the construction and operation of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

【0013】図1は、本発明の1実施例構成図を示す。
図1の(a)は下限の位置のときの側面図を示し、図1
の(b)は上限を過ぎた位置(トグル位置)のときの側
面図を示す。
FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the present invention.
1A shows a side view at the lower limit position.
(B) shows a side view at a position (toggle position) beyond the upper limit.

【0014】図1の(a)および(b)において、固定
機構1は、図示ように、上アーム2の回転自在な機構
(例えばベアリング)を介して図示外の移動対象物に固
定するものである。
1A and 1B, the fixing mechanism 1 is for fixing to a moving object (not shown) via a rotatable mechanism (for example, a bearing) of the upper arm 2 as shown. is there.

【0015】上アーム2は、回転機構1とストローク調
整ナート3を介して回転機構4と接続し、ここでは、長
さを調整し得るようになっている。ストローク調整ナッ
ト3は、回転させて上アーム2の長さを任意に調整する
ものである。
The upper arm 2 is connected to the rotating mechanism 4 via the rotating mechanism 1 and the stroke adjusting nart 3, and here, the length can be adjusted. The stroke adjusting nut 3 is rotated to arbitrarily adjust the length of the upper arm 2.

【0016】回転機構4は、上アーム2と下アーム5と
を回転自在に固定する機構(例えばベアリング)であ
る。下アーム5は、回転機構4を介して上アーム2と回
転自在に固定すると共に、固定・回転機構6を介して台
9に固定すると共に、図示外のレバーによって回転され
るものである。
The rotating mechanism 4 is a mechanism (for example, a bearing) that rotatably fixes the upper arm 2 and the lower arm 5. The lower arm 5 is rotatably fixed to the upper arm 2 via the rotating mechanism 4, fixed to the base 9 via the fixing / rotating mechanism 6, and rotated by a lever (not shown).

【0017】固定・回転機構6は、下アーム5を固定し
た台9に回転自在に固定すると共に、図示外のレバーを
回転させたときに連動して下アーム5を回転させるもの
である。
The fixing / rotating mechanism 6 rotatably fixes the lower arm 5 to a fixed base 9 and rotates the lower arm 5 in conjunction with the rotation of a lever (not shown).

【0018】ストッパ7は、上アーム2と下アーム5と
が上限を若干通り過ぎた位置(トグル位置)で停止させ
るものである。下ストッパ8は、上アーム2と下アーム
5とが下限の位置で停止させるものである。
The stopper 7 stops the upper arm 2 and the lower arm 5 at a position (toggle position) slightly above the upper limit. The lower stopper 8 stops the upper arm 2 and the lower arm 5 at the lower limit position.

【0019】台9は、固定した台である。下限11は、
上アーム2に取り付けた固定機構1の回転中心の下限の
位置である。
The base 9 is a fixed base. The lower limit 11 is
This is the lower limit position of the rotation center of the fixing mechanism 1 attached to the upper arm 2.

【0020】上限12は、上アーム2に取り付けた固定
機構1の回転中心の上限(上アーム2と下アーム5とが
丁度直線となったときの上端の位置)である。上限を過
ぎた位置(トグル位置)13は、上アーム2および下ア
ーム5が回転して上限を若干通り過ぎた安定位置であっ
て、ストッパ7によって停止された位置である。
The upper limit 12 is the upper limit of the center of rotation of the fixing mechanism 1 attached to the upper arm 2 (the position of the upper end when the upper arm 2 and the lower arm 5 are just linear). The position (toggle position) 13 beyond the upper limit is a stable position where the upper arm 2 and the lower arm 5 have rotated and slightly passed the upper limit, and is a position stopped by the stopper 7.

【0021】次に、図2のフローチャートに示す順序に
従い、図1の構成の動作を詳細に説明する。図2におい
て、S1は、試験モジュールを装着する。これは、図1
の固定機構1に固定した図示外の移動対象物に対向し、
当該移動対象物からバネで突出するように構成されたピ
ンを接触させて各種試験を行う試験モジュール(試験対
象のプリント基板)を搭載する(図4参照)。
Next, the operation of the configuration of FIG. 1 will be described in detail according to the order shown in the flowchart of FIG. In FIG. 2, the test module is mounted in S1. This is
Facing a moving object (not shown) fixed to the fixing mechanism 1 of
A test module (printed circuit board to be tested) that carries out various tests by contacting a pin configured to project from the moving object with a spring is mounted (see FIG. 4).

【0022】S2は、下限から上限を過ぎたストッパ位
置(トグル位置)になるまで下アーム5を回転させる。
これは、図1の(a)の下限の状態から、図1の(b)
の上限を過ぎた位置(トグル位置)13まで固定・回転
機構6のレバーを回転させる。
In step S2, the lower arm 5 is rotated until the stopper position (toggle position) which has passed the lower limit and exceeds the upper limit is reached.
This is because the lower limit state of FIG.
The lever of the fixing / rotating mechanism 6 is rotated to a position (toggle position) 13 that has passed the upper limit of the above.

【0023】S3は、上アーム2のストローク調整ナッ
ト3を回転することにより試験モジュールへのピン接触
圧を調整する。これは、図1の(b)の下アーム5をス
トッパ7の位置まで回転させた状態で、上アーム2の長
を調整するストローク調整ナット3を回転させ、回転機
構1に接続した移動対象物の基板に取り付けたバネでピ
ンを突出させて、試験モジュールのプリント基板の所定
位置に所定のピン接触圧で接触するように、調整する。
これにより、ピンが確実に所定圧で試験モジュールの所
定位置に接触するように調整できたこととなる。
In S3, the stroke contact nut 3 of the upper arm 2 is rotated to adjust the pin contact pressure on the test module. This is a moving object connected to the rotating mechanism 1 by rotating the stroke adjusting nut 3 for adjusting the length of the upper arm 2 in a state where the lower arm 5 of FIG. The spring is attached to the board so that the pin protrudes, and the printed board of the test module is adjusted to come into contact with a predetermined position with a predetermined pin contact pressure.
As a result, the pin could be adjusted so as to surely contact the predetermined position of the test module with a predetermined pressure.

【0024】S4は、試験を行う。これは、S3で移動
対象物の基板に取り付けたピンがバネの力で試験モジュ
ールのプリント基板の所定位置に接触しているので、こ
の接触した位置から信号を取り出したり、信号を入力し
たり、試験モジュールの動作試験を行う。
At S4, a test is performed. This is because the pin attached to the substrate of the moving object in S3 is in contact with a predetermined position of the printed circuit board of the test module by the force of the spring, so that a signal can be extracted or a signal can be input from this contacted position. Perform the operation test of the test module.

【0025】S5は、下アーム5を逆回転させ下限位置
に戻る。これは、図1の(b)の状態から図1の(a)
の状態に下アーム5を逆回転させて下限11に戻す。S
6は、試験モジュールを取り外す。
In S5, the lower arm 5 is rotated in the reverse direction to return to the lower limit position. This changes from the state of FIG. 1B to that of FIG.
In this state, the lower arm 5 is rotated in the reverse direction to return to the lower limit 11. S
6, remove the test module.

【0026】以上によって、図1の回転機構1に取り付
けた図示外の移動対象物にバネで突出するピンを取付
け、このピンで試験モジュールのプリント基板の所定位
置に所定接触圧で接触するように、上アーム2に設けた
ストローク調整ナット3を回転して調整した後、試験モ
ジュールから信号を取り出したり、入力したりし、試験
を行うことができ、簡単な構成で確実に所定位置に移動
対象物を移動、および任意の位置に容易に調整できる移
動機構を実現できた。
As described above, a pin protruding by a spring is attached to a moving object (not shown) attached to the rotating mechanism 1 of FIG. 1, and the pin is brought into contact with a predetermined position of the printed board of the test module with a predetermined contact pressure. After rotating and adjusting the stroke adjusting nut 3 provided on the upper arm 2, it is possible to carry out a test by taking out or inputting a signal from the test module, and it is possible to reliably move to a predetermined position with a simple configuration. We were able to realize a moving mechanism that can move objects and easily adjust them to arbitrary positions.

【0027】図3は、本発明の具体例説明図を示す。図
3の(a)は、上アーム2、下アーム5の寸法による上
限と下限の移動距離の例を示す。ここでは、図3の(a
−1)に示す下限の位置において、 ・上アーム2の長さ:50mm(AからBまでの長さ) ・下アーム5の長さ:50mm(BからCまでの長さ) ・下アーム5の回転角度:30° とすると、これを上限を僅か通り過ぎたストッパ7の位
置まで回転させると、図3の(b)に示すように、下限
の位置から上限の位置まで13.4mm上方向に移動し
たこととなる。この場合、実験によれば、移動位置の精
度は±0.01mm程度が容易に得られた。この移動距
離、下限の位置、上限の位置は、図1の上アーム2に設
けたストローク調整ナット3を回転させて任意に調整で
きる。
FIG. 3 is a diagram illustrating a specific example of the present invention. FIG. 3A shows an example of upper and lower movement distances depending on the dimensions of the upper arm 2 and the lower arm 5. Here, in FIG.
At the lower limit position shown in -1):-Length of upper arm 2: 50 mm (length from A to B) -Length of lower arm 5: 50 mm (length from B to C) -Lower arm 5 Rotation angle: 30 °, when this is rotated to the position of the stopper 7 which has just passed the upper limit, as shown in FIG. It has been moved. In this case, according to the experiment, the accuracy of the moving position was easily obtained to be about ± 0.01 mm. The movement distance, the lower limit position, and the upper limit position can be arbitrarily adjusted by rotating the stroke adjusting nut 3 provided on the upper arm 2 in FIG.

【0028】図3の(b)は、上アーム2に設けたスト
ローク調整ナット3の構成例を示す。この場合には、ス
トローク調整ネット3は、図示のように、上半分にM3
の右ナットおよび下半分にM3の左ナットとし、これに
合わせて、上方向からM3の右ネジを回転して挿入し、
および下方向からM3の左ネジを回転して挿入した状態
にする。そして、ストローク調整ナット3を回転させ
て、上アーム2を伸ばしたり、縮ませたりし、任意の長
さに調整する。
FIG. 3B shows a structural example of the stroke adjusting nut 3 provided on the upper arm 2. In this case, the stroke adjusting net 3 has M3 in the upper half as shown in the figure.
The left nut of M3 and the left half of M3 are left nuts, and in accordance with this, the right screw of M3 is rotated and inserted from above.
Then, the left screw of M3 is rotated from below to be inserted. Then, the stroke adjusting nut 3 is rotated to extend or contract the upper arm 2 to adjust the length to an arbitrary length.

【0029】図3の(c)は、レバー位置を示す。図中
のレバー10は、図1の固定・回転機構6の軸に固定し
たものであって、下アーム5を回転させるためのもので
あり、ここでは、レバーの位置を左側あるいは右側のい
ずれにも設けることができる様子を示す。
FIG. 3C shows the lever position. The lever 10 in the figure is fixed to the shaft of the fixing / rotating mechanism 6 of FIG. 1 and is used to rotate the lower arm 5. Here, the lever is positioned on either the left side or the right side. It also shows that it can be provided.

【0030】図3の(d)は、案内機構の例を示す。案
内機構は、図3の(a)のA点に回転自在に固定した移
動対象物が、ここでは、直線方向にのみ移動するように
したものであって、図示のように、移動対象物にボール
スライダ14を取り付け、台9と試験台16との間に固
定したリニアシャフト15に沿って移動するようになっ
ている。このボールスライダ14の摩擦係数は通常0.
002〜0.003μ程度であり、移動精度が良く、ス
トローク抵抗もまったくないといえる位い、スムーズに
移動させることができる。
FIG. 3D shows an example of the guide mechanism. The guide mechanism is such that the moving object fixed rotatably to the point A in FIG. 3A is adapted to move only in the linear direction, and as shown in FIG. The ball slider 14 is attached and is moved along a linear shaft 15 fixed between the table 9 and the test table 16. The coefficient of friction of the ball slider 14 is normally 0.
It is about 002 to 0.003 μ, and it can be said that the movement accuracy is good and there is no stroke resistance at all, and the movement can be performed smoothly.

【0031】図4は、本発明の具体例構成図を示す。こ
こで、2、5、7、8、9、14、15、16は、図1
あるいは図3の番号と同じものであるので説明を省略す
る。この図4の構成は、リニアシャフト15と、ボール
スライダ14によって移動対象物が上下方向に精密に移
動できるようになっている。移動対象物は、上アーム2
の固定機構1に固定され、当該上アーム2と回転機構4
によって固定された下アーム5をレバー10によって、
ここでは、反時計方向に回転させてストッパ7の上限を
通り過ぎた安定したトグル位置で停止させると、上方に
所定距離(図3の(a)、(b)で説明した移動距離)
だけ移動し、試験台16の方に近づくこととなる。これ
により、移動対象物の上にバネでピンを突出させる試験
用ボードを固定し、対向した試験台16の部分に被試験
用のボードを取り付けることにより、試験用ボードのピ
ンが丁度、ボードのパターンなどに所定圧で接触し、信
号を取り出したり、信号を入力したりし、試験を行うこ
とができる。これにより、試験用ボード上に多数(数百
本)のバネ付のピンを所定位置に配置し、被試験用のボ
ード上の数百点の位置に一度に精度良く接触させ、試験
を行うことが可能となった。
FIG. 4 is a block diagram showing a specific example of the present invention. Here, 2, 5, 7, 8, 9, 14, 15, 16 are shown in FIG.
Alternatively, the description is omitted because it is the same as the number in FIG. In the structure shown in FIG. 4, the linear shaft 15 and the ball slider 14 enable the moving object to move precisely in the vertical direction. The moving object is the upper arm 2.
Fixed to the fixing mechanism 1 of the upper arm 2 and the rotating mechanism 4
The lower arm 5 fixed by
Here, when the stopper 7 is rotated counterclockwise and stopped at a stable toggle position that has passed the upper limit of the stopper 7, a predetermined upward distance (movement distance described in (a) and (b) of FIG. 3).
Only moves to approach the test stand 16. As a result, by fixing the test board with the pins protruding by the spring onto the moving object, and by mounting the board under test on the opposing test stand 16 portions, the pins of the test board are exactly aligned with the board. A test can be performed by contacting a pattern or the like with a predetermined pressure to extract a signal or input a signal. As a result, a large number (hundreds) of pins with springs should be placed on the test board at prescribed positions, and the test should be performed by accurately and simultaneously contacting hundreds of points on the board under test. Became possible.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
上アーム2と下アーム5、および下アーム5の長さを自
在に調整して停止位置を任意に設定可能とする構成を採
用しているため、移動対象物を精度よく所定位置に容易
に移動させることができる。特に、試験用の多数(例え
ば数百本)のピンを載せた基板などをハイブリッドIC
基板などの対象物の所定位置に所定圧力に容易に調整
し、これら多数のピンから信号を取り出したり、信号を
入力したりし、試験を迅速かつ確実に行うことが可能と
なった。
As described above, according to the present invention,
Since the upper arm 2, the lower arm 5, and the lower arm 5 are freely adjusted in length so that the stop position can be arbitrarily set, the moving object can be easily moved to a predetermined position with high accuracy. Can be made. In particular, a hybrid IC such as a substrate on which a large number (for example, several hundreds) of pins for testing is mounted.
It has become possible to quickly and reliably perform a test by easily adjusting a predetermined pressure of a target object such as a substrate to a predetermined pressure and taking out signals from these many pins or inputting signals.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の1実施例構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の動作説明フローチャートである。FIG. 2 is a flowchart explaining the operation of the present invention.

【図3】本発明の具体例説明図(その1)である。FIG. 3 is a diagram (Part 1) for explaining a specific example of the present invention.

【図4】本発明の具体例説明図(その2)である。FIG. 4 is a specific example explanatory view (No. 2) of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:固定機構 2:上アーム 3:ストローク調整ナット 4:回転機構 5:下アーム 6:固定・回転機構 7:ストッパ 8:下ストッパ 9:台 10:レバー 11:下限 12:上限 13:上限を過ぎた位置(トグル位置) 14:ボールスライダ 15:リニアシャフト 16:試験台 1: Fixed mechanism 2: Upper arm 3: Stroke adjustment nut 4: Rotation mechanism 5: Lower arm 6: Fixed / rotation mechanism 7: Stopper 8: Lower stopper 9: Stand 10: Lever 11: Lower limit 12: Upper limit 13: Upper limit Past position (toggle position) 14: Ball slider 15: Linear shaft 16: Test bench

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転自在に連結した上アームと下アーム、
および少なくともいずれか一方のアームの長さを調整す
る長さ調整機構と、 上記上アームあるいは下アームの一方を台に回転自在に
固定して回転させる固定・回転機構と、 上記上アームあるいは下アームの他方を移動対象物に回
転自在に固定する固定機構と、 上記固定・回転機構によってアームを回転させて上アー
ムおよび下アームを完全に伸びた状態から若干過ぎたト
グル位置で停止させるストッパとを備え、 上記長さ調整機構によってアームの長さを調整し、上記
トグル位置あるいは/および上記上アームと下アームと
が一番伸びた上限位置を任意に調整することを特徴とす
る移動機構。
1. An upper arm and a lower arm rotatably connected to each other,
And a length adjusting mechanism for adjusting the length of at least one of the arms, a fixing / rotating mechanism for rotatably fixing and rotating one of the upper arm or the lower arm on a base, and the upper arm or the lower arm. A fixing mechanism for rotatably fixing the other of the two to the moving object, and a stopper for rotating the arm by the fixing / rotating mechanism to stop the upper arm and the lower arm at a toggle position slightly past the fully extended state. A moving mechanism comprising: adjusting the length of the arm by the length adjusting mechanism, and optionally adjusting the toggle position and / or the upper limit position where the upper arm and the lower arm extend most.
【請求項2】上記移動対象物が所定方向に移動する案内
機構を設けたことを特徴とする請求項1に記載の移動機
構。
2. The moving mechanism according to claim 1, further comprising a guide mechanism for moving the moving object in a predetermined direction.
【請求項3】上記移動対象物をバネで突出するピンを多
数配置した基板とし、当該基板のピンを被試験対象のプ
リント基板の所定位置に対し、バネの力で所定圧力で押
圧するように、上記長さ調整機構によって任意に調整す
ることを特徴とする請求項1あるいは請求項2記載の移
動機構。
3. The moving object is a board on which a large number of pins protruding by a spring are arranged, and the pins of the board are pressed against a predetermined position of a printed board to be tested by a spring force with a predetermined pressure. The moving mechanism according to claim 1 or 2, wherein the moving mechanism is arbitrarily adjusted by the length adjusting mechanism.
JP34014594A 1994-12-29 1994-12-29 Moving mechanism Expired - Fee Related JP2726634B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34014594A JP2726634B2 (en) 1994-12-29 1994-12-29 Moving mechanism

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34014594A JP2726634B2 (en) 1994-12-29 1994-12-29 Moving mechanism

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08187686A true JPH08187686A (en) 1996-07-23
JP2726634B2 JP2726634B2 (en) 1998-03-11

Family

ID=18334162

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34014594A Expired - Fee Related JP2726634B2 (en) 1994-12-29 1994-12-29 Moving mechanism

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2726634B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2726634B2 (en) 1998-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2656744B2 (en) Open-frame portal probe detection system
US5982182A (en) Interface apparatus for automatic test equipment with positioning modules incorporating kinematic surfaces
US11885773B2 (en) Methods and apparatus to perform load measurements on flexible substrates
JP3331439B2 (en) Switch durability test equipment
JP2726634B2 (en) Moving mechanism
US3386174A (en) Coordinate measuring machine
JP2002181882A (en) Device for positioning probe card and tab
JPH06186271A (en) Method and apparatus for inspection of printed circuit board
US3741022A (en) Probing device for microcircuits
CA1308816C (en) Testing process for electronic devices
CN214748023U (en) Calibrating device of two-degree-of-freedom rotary table
JPH0543068B2 (en)
JPS63302377A (en) Apparatus for inspecting circuit board
JP2640690B2 (en) Moving stage
JP3335098B2 (en) Position accuracy inspection device for shape measuring machine
TWI832538B (en) Bidirectional testing device
CN219485755U (en) Mechanical arm repeated positioning precision testing device
JP2602303B2 (en) Moving table equipment
TWM650910U (en) Clamping measuring device with flipping mechanism
JPH0523389B2 (en)
JP2601437B2 (en) Work moving distance measuring device
JPH0566125A (en) Angle measuring device for inclined shaft
JP3457499B2 (en) Table equipment
JP2815211B2 (en) Testing equipment for electronic components
TWM625725U (en) Pushbutton testing device

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees