JPH08180362A - Magnetic recording medium - Google Patents

Magnetic recording medium

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JPH08180362A
JPH08180362A JP32536794A JP32536794A JPH08180362A JP H08180362 A JPH08180362 A JP H08180362A JP 32536794 A JP32536794 A JP 32536794A JP 32536794 A JP32536794 A JP 32536794A JP H08180362 A JPH08180362 A JP H08180362A
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JP
Japan
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layer
magnetic
metal
recording medium
alloy
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Application number
JP32536794A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Sato
毅志 佐藤
Tsutomu Isobe
勤 磯部
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Kao Corp
Original Assignee
Kao Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To enable further reduced floating of a magnetic head while maintaining superior durability by texturing a substrate so that moderate roughness is imparted to the surface of a magnetic disk. CONSTITUTION: The magnetic recording medium is composed of a substrate 1, an Al-M1 (M1 is a metal capable of forming carbide) layer 3 of an Al-M1 alloy material formed on the substrate 1, a metallic magnetic layer 7 formed on the Al-M1 layer 3 and a nonmetallic amorphous layer 4 interposed between the Al-M1 layer 3 and the magnetic layer 7. Thereby, the magnetic recording medium is excellent in electromagnetic transducing characteristics, adaptable to high density recording, excellent in running performance and excellent also in durability.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、摩擦係数が低く、耐久
性に優れ、更には電磁変換特性に優れた磁気ディスク等
の磁気記録媒体に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic recording medium such as a magnetic disk having a low friction coefficient, excellent durability and excellent electromagnetic conversion characteristics.

【0002】[0002]

【発明の背景】コンピュータ等の外部記憶装置に使用さ
れる磁気ディスクにおいては、磁気ディスクと磁気ヘッ
ドとの間の距離、すなわち磁気ヘッドの浮上高さを低く
することが再生出力などの点から求められている。従っ
て、磁気ディスクの表面は平滑であることが好ましいと
言える。しかし、表面が平滑すぎると、磁気ヘッドが磁
気ディスクに貼り付き、磁気ディスクや磁気ヘッドに損
傷の恐れが有る。よって、表面を適度な粗さにする為、
テクスチャ処理が基板に施されることになる。
BACKGROUND OF THE INVENTION In a magnetic disk used in an external storage device such as a computer, it is necessary to reduce the distance between the magnetic disk and the magnetic head, that is, the flying height of the magnetic head from the viewpoint of reproduction output. Has been. Therefore, it can be said that the surface of the magnetic disk is preferably smooth. However, if the surface is too smooth, the magnetic head may stick to the magnetic disk and damage the magnetic disk or the magnetic head. Therefore, in order to make the surface an appropriate roughness,
The texturing will be applied to the substrate.

【0003】このテクスチャ処理として、従来より幾つ
かの手法が提案されている。例えば、アルミニウム基板
に対しては機械的研磨法が提案されている。ガラス基板
に対しては、化学的エッチング法(特開昭64−377
18号公報)や、微粒子含有塗料の塗布法(特開平1−
194128号公報)が提案されている。又、カーボン
基板に対しては、熱酸化法(特開平4−214225号
公報)が提案されている。しかし、これらの方法では、
磁気ヘッドの浮上高さの一層の低下が要求される今日に
あっては十分にその要求を満たすことが出来なくなって
いる。
As this texture processing, several methods have been conventionally proposed. For example, a mechanical polishing method has been proposed for an aluminum substrate. For glass substrates, a chemical etching method (Japanese Patent Laid-Open No. 64-377) is used.
No. 18) and a method for applying a coating material containing fine particles (JP-A-1-
194128) has been proposed. A thermal oxidation method (Japanese Patent Laid-Open No. 4-214225) has been proposed for carbon substrates. But with these methods,
Nowadays, it is not possible to sufficiently meet the demand in the present day when the flying height of the magnetic head is required to be further reduced.

【0004】すなわち、優れた耐久性を維持しつつ、磁
気ヘッドの一層の低浮上化を可能とするテクスチャ技
術、つまり平滑でありながらも適度な粗さを有する表面
特性が求められている。
That is, there is a demand for a texture technique that enables the magnetic head to be further lowered in flying height while maintaining excellent durability, that is, a surface characteristic that is smooth but has an appropriate roughness.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このような要望に沿っ
た技術として、Sn,In等の低融点金属を真空蒸着さ
せて凹凸を形成する方法(特開昭60−211614号
公報、特開昭61−240429号公報)、Al,Cu
等の低融点金属をスパッタして不連続な島状構造とする
方法(特開平3−73419号公報)、Cr,Mo,W
等の高融点金属を用いて粗面とする方法(特開平2−2
67722号公報)等が提案されている。
As a technique to meet such a demand, a method of vacuum-depositing a low-melting metal such as Sn or In to form irregularities (Japanese Patent Laid-Open Nos. 60-216114 and Sho-216114). 61-240429), Al, Cu
A low melting point metal such as Si to form a discontinuous island structure (JP-A-3-73419), Cr, Mo, W
A method of making a rough surface by using a refractory metal such as
No. 67722) has been proposed.

【0006】これらの方法は、テクスチャ処理と磁性層
の形成を真空系で一貫して行える特長が有る。しかし、
低融点の単一金属を用いた場合には、凹凸度が良くな
く、かつ、基板との密着性が悪くて剥離し易く、実用に
耐えない。又、高融点金属を用いた場合には、凹凸度が
良くなく、耐久性(CSS特性)が悪いと言う問題が有
った。
[0006] These methods have the feature that the texture processing and the formation of the magnetic layer can be performed consistently in a vacuum system. But,
When a single metal having a low melting point is used, the unevenness is not good, and the adhesion to the substrate is poor, so that it is easily peeled off and cannot be put to practical use. Further, when a high melting point metal is used, there is a problem that the unevenness is not good and the durability (CSS characteristics) is poor.

【0007】前記の問題に対する検討が本発明者によっ
ても鋭意押し進められて行った。すなわち、磁性層、あ
るいは磁性層の下地層とガラス状カーボン基板との間に
凹凸が容易に形成される層を設け、この層の密着性の向
上を図ることを考えた。この指針に沿った研究を精力的
に行っている中に、Al−Si系合金材料をスパッタ等
の手段で設けたものは、凹凸形成が容易で、かつ、適度
な凹凸が形成され、更には密着性に富むことが判って来
た。更に、他の材料についても検討を行った結果、Al
−Si系合金の他にもAl−Cr系合金、Al−Ta系
合金、Al−Ti系合金、Al−Zr系合金、Al−Y
系合金、Al−Mo系合金、Al−W系合金、Al−V
系合金の層を設けたものにあっても、凹凸形成が容易
で、かつ、適度な凹凸が形成され、更には密着性に富む
ことが判って来た。
The inventor of the present invention has eagerly studied the above problems. That is, it was considered that a layer in which irregularities are easily formed is provided between the magnetic layer or the underlayer of the magnetic layer and the glassy carbon substrate to improve the adhesion of this layer. While energetically conducting research in accordance with this guideline, in the case where the Al--Si alloy material is provided by means such as sputtering, it is easy to form irregularities, and appropriate irregularities are formed. It turns out that it has good adhesion. Furthermore, as a result of examining other materials, Al
Other than -Si alloys, Al-Cr alloys, Al-Ta alloys, Al-Ti alloys, Al-Zr alloys, Al-Y
Alloys, Al-Mo alloys, Al-W alloys, Al-V
It has been found that even in the case where the system alloy layer is provided, the unevenness can be easily formed, the appropriate unevenness is formed, and the adhesiveness is excellent.

【0008】これらの知見を基にして考察して行く中
に、カーバイドを形成し得る金属Mを含有するAl−M
系金属層(凹凸形成層)がカーボン基板上に設けられて
いると、カーボン基板のC成分とカーバイドを形成する
金属Mの存在によってカーボン基板とAl−M系金属層
(凹凸形成層)との間の結合は強く、従ってこの上に金
属磁性層、あるいは下地層(金属層)を介して金属磁性
層を設けた場合には、適度な凹凸が表面に形成されてお
り、摩擦係数が小さく、耐久性に優れ、更には剥離の問
題も解決されることが判って来た。
While considering based on these findings, Al-M containing a metal M capable of forming a carbide.
When the base metal layer (unevenness forming layer) is provided on the carbon substrate, the presence of the C component of the carbon substrate and the metal M forming the carbide causes the carbon substrate and the Al-M based metal layer (unevenness forming layer) to be separated from each other. The bond between them is strong, and therefore, when a metal magnetic layer or a metal magnetic layer via an underlayer (metal layer) is provided on this, appropriate unevenness is formed on the surface, and the friction coefficient is small, It has been found that the durability is excellent and the problem of peeling is solved.

【0009】しかし、Al−M系金属層を設けたのみで
は、角型比やノイズ特性が充分ではなかった。従って、
摩擦係数が低く、耐久性に優れ、更には角型比やノイズ
特性の向上が要望された。
However, the squareness ratio and the noise characteristic were not sufficient only by providing the Al-M type metal layer. Therefore,
A low coefficient of friction, excellent durability, and improvements in squareness ratio and noise characteristics have been demanded.

【0010】[0010]

【課題を解決する為の手段】前記の要望についての研究
が鋭意押し進められて行くうちに、金属系磁性層の下
に、特に前記Al−M層と金属系磁性層との間に非金属
のアモルファス層を設けておくと、摩擦係数が低く、耐
久性に優れ、角型比が向上することが判った。特に、基
板上にカーバイドを形成し得る金属層を設けた後、この
金属層上にAl−M層と非金属のアモルファス層とを設
け、そして金属系磁性層を設けたものは、記録媒体の表
面を一層好ましい表面形状に出来、これによって摩擦係
数の一層の低減、耐久性の一層の向上を得ることが出来
ると共に、角型比が向上することが判った。
As research on the above-mentioned demands has been earnestly promoted, a non-metal layer is formed under the metal magnetic layer, particularly between the Al-M layer and the metal magnetic layer. It was found that the provision of the amorphous layer has a low friction coefficient, excellent durability, and an improved squareness ratio. In particular, after providing a metal layer capable of forming carbide on a substrate, then providing an Al-M layer and a non-metal amorphous layer on this metal layer, and providing a metal-based magnetic layer, It has been found that the surface can be made into a more preferable surface shape, whereby the friction coefficient can be further reduced, the durability can be further improved, and the squareness ratio can be improved.

【0011】又、磁性層の下にCrあるいはCr合金、
TiあるいはTi合金を設けたものは、ノイズ特性が改
善されることも判った。本発明は上記知見を基にして達
成されたものであり、高密度記録に対応する為、磁気ヘ
ッドの低浮上化を可能とし、かつ、磁気ヘッドの貼り付
きが起きず、耐久性に優れたファインな表面粗さを持
ち、摩擦係数が低く、走行性に優れ、更には角型比やノ
イズ特性が良く、電磁変換特性に優れた磁気記録媒体を
提供することを目的とする。
Under the magnetic layer, Cr or Cr alloy,
It was also found that the one provided with Ti or Ti alloy has improved noise characteristics. The present invention has been achieved on the basis of the above findings, and since it is compatible with high-density recording, it is possible to reduce the flying height of the magnetic head, and the sticking of the magnetic head does not occur, resulting in excellent durability. An object of the present invention is to provide a magnetic recording medium having a fine surface roughness, a low coefficient of friction, an excellent running property, an excellent squareness ratio and a good noise characteristic, and an excellent electromagnetic conversion characteristic.

【0012】この本発明の目的は、基板と、この基板上
に設けられたAl−M1 (M1 はカーバイドを形成し得
る金属)系合金材料よりなるAl−M1 層と、このAl
−M 1 層上に設けられた金属系磁性層と、前記Al−M
1 層と金属系磁性層との間に設けられた非金属のアモル
ファス層とを具備することを特徴とする磁気記録媒体に
よって達成される。
The object of the present invention is to provide a substrate and the
Al-M provided in1(M1Can form carbide
Al-M made of metal alloy material1Layer and this Al
-M 1A metallic magnetic layer provided on the layer, and the Al-M
1Amorphous metal provided between the magnetic layer and the metallic magnetic layer
A magnetic recording medium characterized by comprising a fuss layer
Is achieved.

【0013】特に、カーボン基板(中でも、ガラス状カ
ーボン基板)と、このカーボン基板上に設けられたAl
−M1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属)系合金材
料よりなるAl−M1 層と、このAl−M1 層上に設け
られた金属系磁性層と、前記Al−M1 層と金属系磁性
層との間に設けられた非金属のアモルファス層とを具備
することを特徴とする磁気記録媒体によって達成され
る。
In particular, a carbon substrate (among others, a glassy carbon substrate) and Al provided on the carbon substrate
-M 1 (M 1 is a metal capable of forming a carbide) and Al-M 1 layer made of alloy material, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer on, with the Al-M 1 layer And a non-metal amorphous layer provided between the magnetic recording layer and the metal-based magnetic layer.

【0014】又、基板と、この基板上に設けられた金属
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属)を構成要素
とするM2 層と、このM2 層上に設けられたAl−M1
(M 1 はカーバイドを形成し得る金属、M1 はM2 と同
じでも異なっていても良い。)系合金材料よりなるAl
−M1 層と、このAl−M1 層上に設けられた金属系磁
性層と、前記M2 層と金属系磁性層との間に設けられた
非金属のアモルファス層とを具備することを特徴とする
磁気記録媒体によって達成される。
The substrate and the metal provided on the substrate
M2(M2Is a metal that can form carbide)
Let M2Layer and this M2Al-M provided on the layer1
(M 1Is a metal capable of forming carbide, M1Is M2Same as
It may be the same or different. ) Al based on alloy materials
-M1Layer and this Al-M1Metal-based magnet provided on the layer
Layer and M2Provided between the layer and the metallic magnetic layer
And a non-metal amorphous layer.
This is achieved by a magnetic recording medium.

【0015】特に、カーボン基板(中でも、ガラス状カ
ーボン基板)と、このカーボン基板上に設けられた金属
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属)を構成要素
とするM2 層と、このM2 層上に設けられたAl−M1
(M1 はカーバイドを形成し得る金属、M1 はM2 と同
じでも異なっていても良い。)系合金材料よりなるAl
−M1 層と、このAl−M1 層上に設けられた金属系磁
性層と、前記M2 層と金属系磁性層との間に設けられた
非金属のアモルファス層とを具備することを特徴とする
磁気記録媒体によって達成される。
In particular, a carbon substrate (among others, a glassy carbon substrate), an M 2 layer having metal M 2 (M 2 is a metal capable of forming carbide) provided on the carbon substrate as a constituent element, and Al-M 1 provided on the M 2 layer
(M 1 is a metal capable of forming carbide, M 1 may be the same as or different from M 2 ) Al made of a system alloy material
-M 1 layer, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer, and a non-metal amorphous layer provided between the M 2 layer and the metal-based magnetic layer. This is achieved by the characteristic magnetic recording medium.

【0016】又、本発明の磁気記録媒体において、金属
系磁性層の下に10〜200nm(より好ましくは、3
0〜120nm)厚さのTiあるいはTi合金からなる
第1下地層が設けられてなる磁気記録媒体によって達成
される。若しくは、金属系磁性層の下に10〜200n
m(より好ましくは、30〜120nm)厚さのTiあ
るいはTi合金からなる第1下地層が、その上に10〜
200nm(より好ましくは、30〜70nm)厚さの
CrあるいはCr合金からなる第2下地層が設けられて
なる磁気記録媒体によって達成される。
Further, in the magnetic recording medium of the present invention, 10 to 200 nm (more preferably 3 nm) is formed under the metallic magnetic layer.
This is achieved by a magnetic recording medium provided with a first underlayer of Ti or a Ti alloy having a thickness of 0 to 120 nm). Or, 10 to 200n below the metal magnetic layer
A first underlayer made of Ti or a Ti alloy having a thickness of m (more preferably 30 to 120 nm) is provided on the first underlayer 10 to 10
This is achieved by a magnetic recording medium provided with a second underlayer made of Cr or a Cr alloy having a thickness of 200 nm (more preferably 30 to 70 nm).

【0017】又、本発明の磁気記録媒体において、金属
系磁性層の上に保護層が設けられてなる磁気記録媒体に
よって達成される。尚、本発明における非金属のアモル
ファス層は、直接、Al−M1 層上に設けられているこ
とが好ましい。この非金属のアモルファス層の厚さは5
〜50nm(より好ましくは、15〜40nm)が好ま
しい。すなわち、このように構成した磁気記録媒体の角
型比などの磁気特性は優れていた。非金属のアモルファ
ス層としては、各種のものが挙げられるが、特に好まし
い例としてアモルファスカーボンが挙げられる。
Further, in the magnetic recording medium of the present invention, it is achieved by a magnetic recording medium in which a protective layer is provided on a metallic magnetic layer. The non-metal amorphous layer in the present invention is preferably provided directly on the Al-M 1 layer. The thickness of this non-metal amorphous layer is 5
.About.50 nm (more preferably 15 to 40 nm) is preferable. That is, the magnetic characteristics such as the squareness ratio of the magnetic recording medium thus constructed were excellent. As the non-metal amorphous layer, various types can be mentioned, and particularly preferable example is amorphous carbon.

【0018】又、本発明におけるAl−M1 層の厚さは
5〜100nmが好ましい。又、M 2 層の厚さは5〜2
00nmが好ましい。尚、M2 層やAl−M1 層は、表
面に凹凸構造を有し、下層部が連続しているタイプが好
ましい。すなわち、斯の如くに構成させることにより、
2 層の表面には微細な第1の凹凸が形成され、Al−
1 層の表面には第1の凹凸の影響による凹凸とAl−
1 層自身によって構成される前記第1の凹凸よりも大
きめの凹凸とが複合した構造の第2の凹凸が形成され、
これによって形成される表面プロフィールが好ましい特
徴を呈する。そして、凹凸層(M2 層やAl−M1 層)
は、図1に示す如く、表面に凹凸構造を有し、下層部が
連続しているタイプであることが好ましい。
Further, Al-M in the present invention1The layer thickness is
5-100 nm is preferable. Also, M 2Layer thickness is 5 to 2
00 nm is preferable. Incidentally, M2Layers and Al-M1Layers, table
A type with a concavo-convex structure on the surface and a continuous lower layer is preferable.
Good. That is, by configuring in this way,
M2Fine first irregularities are formed on the surface of the layer, and Al-
M1The surface of the layer has unevenness due to the influence of the first unevenness and Al-
M1Larger than the first unevenness formed by the layer itself
The second unevenness of the structure that is combined with the textured unevenness is formed,
The surface profile formed by this is a preferred feature.
Show signs. Then, the uneven layer (M2Layers and Al-M1layer)
Has an uneven structure on the surface and the lower layer is
A continuous type is preferable.

【0019】以下、本発明について詳述する。本発明に
おいて、基板は磁性を有するものでも非磁性のものでも
良いが、一般的には非磁性のものが用いられる。例え
ば、カーボン(特公昭63−46004号公報、特開平
3−11005号公報など)、強化ガラス、結晶化ガラ
ス、AlあるいはAl合金、チタンあるいはチタン合
金、セラミックス、樹脂、あるいは前記材料の複合材料
が用いられる。中でも、カーボン、特にガラス状カーボ
ンは、耐熱性、スパッタによって磁性層などを設ける際
の加熱によるガス発生が少ないこと等から、本発明の場
合には最も好ましい。
The present invention will be described in detail below. In the present invention, the substrate may be magnetic or non-magnetic, but a non-magnetic substrate is generally used. For example, carbon (Japanese Patent Publication No. 63-46004, Japanese Patent Laid-Open No. 3-11005, etc.), tempered glass, crystallized glass, Al or Al alloy, titanium or titanium alloy, ceramics, resin, or a composite material of the above materials may be used. Used. Among them, carbon, particularly glassy carbon, is most preferable in the case of the present invention because it has heat resistance and generates less gas due to heating when a magnetic layer or the like is formed by sputtering.

【0020】そして、例えばRa(中心線平均粗さ)が
0.5〜0.9nmのカーボン基板上に、直接、金属M
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属であって、S
i,Cr,Ta,Ti,Zr,Y,Mo,W及びVの群
の中から選ばれる一種以上)からなるM2 層を5〜20
0nm厚さ必要に応じて設ける。すなわち、真空蒸着、
スパッタリングあるいはイオンプレーティング等のPV
D手段でTi層、Mo層、W層、Si層、Cr層、Ta
層、Zr層、Y層、V層を設ける。この時のカーボン基
板の温度は80〜500℃(より好ましくは120〜3
50℃)が好ましい。尚、Ti層の場合には、その厚さ
が10〜150nm(望ましくは50〜120nm)が
好ましい。Mo層の場合には、その厚さが10〜120
nm(望ましくは50〜100nm)が好ましい。W層
の場合には、その厚さが10〜120nm(望ましくは
40〜100nm)が好ましい。Si層の場合には、そ
の厚さが10〜150nm(望ましくは40〜120n
m)が好ましい。Cr層の場合には、その厚さが5〜2
00nm(望ましくは30〜120nm)が好ましい。
Ta層の場合には、その厚さが10〜130nm(望ま
しくは50〜120nm)が好ましい。Zr層の場合に
は、その厚さが10〜150nm(望ましくは50〜1
20nm)が好ましい。Y層の場合には、その厚さが1
0〜140nm(望ましくは50〜130nm)が好ま
しい。V層の場合には、その厚さが10〜140nm
(望ましくは60〜120nm)が好ましい。特に好ま
しいのは、Ti層、Si層、Cr層、Zr層である。こ
れによって、M2 層の表面には微細な凹凸(Raが9〜
11Å、最大中心線高さRpが20〜40Å)が形成さ
れる。
Then, for example, the metal M is directly provided on the carbon substrate having Ra (center line average roughness) of 0.5 to 0.9 nm.
2 (M 2 is a metal capable of forming carbide,
i, Cr, Ta, Ti, Zr, Y, Mo, M 2 layer of one or more) selected from the group of W and V 5-20
0 nm thickness Provided if necessary. That is, vacuum deposition,
PV such as sputtering or ion plating
Ti layer, Mo layer, W layer, Si layer, Cr layer, Ta by D means
A layer, a Zr layer, a Y layer, and a V layer are provided. The temperature of the carbon substrate at this time is 80 to 500 ° C. (more preferably 120 to 3 ° C.).
50 ° C.) is preferred. In the case of the Ti layer, its thickness is preferably 10 to 150 nm (desirably 50 to 120 nm). In the case of Mo layer, the thickness is 10 to 120.
nm (desirably 50 to 100 nm) is preferable. In the case of the W layer, its thickness is preferably 10 to 120 nm (desirably 40 to 100 nm). In the case of a Si layer, its thickness is 10 to 150 nm (preferably 40 to 120 n).
m) is preferred. In the case of the Cr layer, the thickness is 5 to 2
00 nm (desirably 30 to 120 nm) is preferable.
In the case of the Ta layer, its thickness is preferably 10 to 130 nm (desirably 50 to 120 nm). In the case of a Zr layer, its thickness is 10 to 150 nm (preferably 50 to 1 nm).
20 nm) is preferred. In the case of Y layer, the thickness is 1
The thickness is preferably 0 to 140 nm (desirably 50 to 130 nm). In the case of V layer, the thickness is 10 to 140 nm
(Desirably 60 to 120 nm) is preferable. Particularly preferred are Ti layer, Si layer, Cr layer, and Zr layer. As a result, the surface of the M 2 layer has fine irregularities (Ra of 9 to 9).
11Å, the maximum centerline height Rp is 20 to 40Å).

【0021】この金属M2 層上に、直接、Al−M
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属)系合金材料よ
りなるAl−M1 層を設ける。尚、金属M2 層を設けて
いない場合には、カーボン基板上に、直接、Al−M1
層を設ける。但し、金属M2 層を設けている方が好まし
い。このAl−M1 系合金の具体例としては、M1 がS
i,Cr,Ta,Ti,Zr,Y,Mo,W,V等の元
素の中から選ばれる少なくとも一種以上を含むAl−M
1 系合金が挙げられる。例えば、Al−Si系合金(好
ましくはSiが0.2〜15wt%、より好ましくはS
iが1〜10wt%)、Al−Cr系合金(好ましくは
Crが0.1〜10wt%、より好ましくはCrが1〜
5wt%)、Al−Ta系合金(好ましくはTaが0.
1〜3wt%、より好ましくはTaが1〜2wt%)、
Al−Ti系合金(好ましくはTiが0.5〜15wt
%、より好ましくはTiが1〜10wt%)、Al−Z
r系合金(好ましくはZrが0.1〜9wt%、より好
ましくはZrが1〜5wt%)、Al−Y系合金(好ま
しくはYが0.1〜10wt%、より好ましくはYが1
〜5wt%)、Al−Mo系合金(好ましくはMoが
0.2〜10wt%、より好ましくはMoが1〜5wt
%)、Al−W系合金(好ましくはWが0.2〜10w
t%、より好ましくはWが1〜8wt%)、Al−V系
合金(好ましくはVが0.5〜8wt%、より好ましく
はVが1〜5wt%)等が挙げられる。又、Al−5w
t%Si−5wt%Cr系合金、Al−5wt%Si−
3wt%Mo系合金、Al−5wt%Si−3wt%W
系合金などの三元以上の系のAl合金も挙げられる。中
でも、特に好ましいのはAl−Si系合金やAl−Cr
系合金である。
Directly on the metal M 2 layer, Al-M
1 (M 1 is a metal capable of forming carbide) An Al-M 1 layer made of an alloy material is provided. When the metal M 2 layer is not provided, the Al-M 1 layer is directly formed on the carbon substrate.
Provide a layer. However, it is preferable to provide the metal M 2 layer. As a specific example of this Al-M 1 type alloy, M 1 is S
Al-M containing at least one element selected from elements such as i, Cr, Ta, Ti, Zr, Y, Mo, W and V
An example is a 1- based alloy. For example, Al-Si alloy (preferably 0.2 to 15 wt% Si, more preferably S
i is 1 to 10 wt%), Al-Cr alloy (preferably Cr is 0.1 to 10 wt%, more preferably Cr is 1 to 1 wt%).
5 wt%), Al-Ta based alloy (preferably Ta is 0.
1-3 wt%, more preferably 1-2 wt% Ta),
Al-Ti alloy (preferably Ti of 0.5 to 15 wt)
%, More preferably Ti is 1 to 10 wt%), Al-Z
r-based alloy (preferably Zr 0.1 to 9 wt%, more preferably Zr 1 to 5 wt%), Al-Y-based alloy (preferably Y 0.1 to 10 wt%, more preferably Y 1).
~ 5 wt%), Al-Mo alloy (preferably 0.2 to 10 wt% Mo, more preferably 1 to 5 wt% Mo)
%), Al-W alloy (preferably W of 0.2 to 10 w)
t%, more preferably W is 1 to 8 wt%), Al-V alloy (preferably V is 0.5 to 8 wt%, more preferably V is 1 to 5 wt%). Also, Al-5w
t% Si-5wt% Cr alloy, Al-5wt% Si-
3wt% Mo alloy, Al-5wt% Si-3wt% W
Examples include ternary or higher Al alloys such as alloys. Among them, particularly preferable are Al-Si alloys and Al-Cr.
It is a system alloy.

【0022】Al−M1 系合金材料よりなる層はスパッ
タリング等のPVD手段で設けられる。この時のカーボ
ン基板の温度は80〜500℃(より好ましくは120
〜350℃)が好ましい。その厚さは5〜100nm
(望ましくは5〜60nm)が好ましい。すなわち、P
VD手段でAl−M1 系合金層を構成するに際して、前
記のような厚さに制御することにより、Al−M1 系合
金層の表面には微細な凹凸(Raが10〜50Å、好ま
しくは10〜30Å。Rpが20〜300Å、好ましく
は30〜80Å。)が形成される。尚、このAl−M1
層の表面に形成される凹凸は、M2 層がある場合には、
2 層自身によって形成される凹凸とAl−M1 層自身
によって形成される凹凸とが複合化した凹凸模様となっ
ている。従って、このような凹凸が構成されたAl−M
1 系合金層の上に磁性層などを設けたならば、前記の凹
凸が略そのまま引き継がれ、表面が適度に粗面化された
ものとなる。従って、磁気ヘッドの貼り付き現象を防止
でき、耐久性に富み、又、摩擦係数が小さく、走行性に
優れたものになる。
The layer made of Al-M 1 alloy material is provided by PVD means such as sputtering. The temperature of the carbon substrate at this time is 80 to 500 ° C. (more preferably 120 ° C.).
~ 350 ° C) is preferred. Its thickness is 5-100 nm
(Desirably 5 to 60 nm) is preferable. That is, P
When the Al-M 1 -based alloy layer is formed by the VD means, by controlling the thickness as described above, the surface of the Al-M 1 -based alloy layer has fine unevenness (Ra is 10 to 50Å, preferably Ra). 10 to 30Å.Rp is 20 to 300Å, preferably 30 to 80Å. In addition, this Al-M 1
Irregularities formed on the surface of the layer, when there are M 2 layers,
The unevenness pattern is a composite of the unevenness formed by the M 2 layer itself and the unevenness formed by the Al-M 1 layer itself. Therefore, Al-M having such unevenness is formed.
If a magnetic layer or the like is provided on the 1- based alloy layer, the above-mentioned unevenness is inherited as it is, and the surface is appropriately roughened. Therefore, the sticking phenomenon of the magnetic head can be prevented, the durability is excellent, the friction coefficient is small, and the running property is excellent.

【0023】Al−M1 系合金層の上に非金属のアモル
ファス層、例えばアモルファスカーボン層がPVD手段
で設けられる。PVDのターゲット材としては炭素材を
使用する。該炭素材としては、黒鉛のような結晶性炭素
材を使用することも出来るが、ガラス状の炭素材を使用
することが好ましい。又、該炭素材が、Si,Ti,
W,Zr,Cr,Nb,Mo,Ta又はAl等の炭化
物、窒化物、ホウ化物、若しくは酸化物、又はBN,B
4 C等のセラミックス粒子を含有していても良い。アモ
ルファスカーボン層の厚さは5〜50nm(望ましくは
20〜40nm)が好ましい。このアモルファスカーボ
ン層を設けていると、Al−M1 系合金層と下地層(非
金属アモルファス層と磁性層との間に設けられる金属
層)との結晶的相互作用が遮断され、下地層の結晶化が
良好に進み、磁性層の配向が良好なものになり、角型比
などの磁気特性が向上する。
A non-metal amorphous layer, for example, an amorphous carbon layer is provided on the Al-M 1 type alloy layer by PVD means. A carbon material is used as a PVD target material. A crystalline carbon material such as graphite may be used as the carbon material, but a glassy carbon material is preferably used. Further, the carbon material is Si, Ti,
Carbides, nitrides, borides, or oxides of W, Zr, Cr, Nb, Mo, Ta, or Al, or BN, B
It may contain ceramic particles such as 4 C. The thickness of the amorphous carbon layer is preferably 5 to 50 nm (desirably 20 to 40 nm). When this amorphous carbon layer is provided, the crystalline interaction between the Al-M 1 based alloy layer and the underlayer (the metal layer provided between the non-metal amorphous layer and the magnetic layer) is blocked, and the underlayer of the underlayer is blocked. Crystallization proceeds satisfactorily, the orientation of the magnetic layer becomes favorable, and the magnetic characteristics such as the squareness ratio are improved.

【0024】金属薄膜型の磁性層の下地層としてCrあ
るいはCr合金からなる非磁性のCr系層がPVD手段
で設けられる。尚、この非磁性の下地層(Cr系層)
は、上層に設けられる磁性層の配向性などを向上させる
為に設けられる。そして、その厚さは10〜200nm
(望ましくは10〜100nm)が好ましい。更には、
アモルファス層とCr系下地層との間に、Tiあるいは
Ti合金からなる下地層を設けることが好ましい。当該
層はPVD手段で設けられる。尚、Ti系層を設けるこ
とによってノイズが低減する。その厚さは10〜200
nm(望ましくは10〜150nm)が好ましい。
A non-magnetic Cr-based layer made of Cr or a Cr alloy is provided by PVD means as an underlayer of the metal thin film type magnetic layer. Incidentally, this non-magnetic underlayer (Cr-based layer)
Is provided in order to improve the orientation of the magnetic layer provided on the upper layer. And the thickness is 10 to 200 nm
(Desirably 10 to 100 nm) is preferable. Furthermore,
It is preferable to provide an underlayer made of Ti or a Ti alloy between the amorphous layer and the Cr-based underlayer. The layer is provided by PVD means. By providing the Ti-based layer, noise is reduced. Its thickness is 10-200
nm (desirably 10 to 150 nm) is preferable.

【0025】本発明の磁気記録媒体は金属薄膜型のもの
である。すなわち、アモルファス層上に金属薄膜型磁性
層がPVD手段で設けられる。磁性層を構成する材料と
しては、例えばCoCr,CoCrX,CoNiX,C
oWX等で表されるCoを主成分とするCo系の磁性合
金が挙げられる。尚、ここでXとしては、Ta,Pt,
Au,Ti,V,Cr,Ni,W,La,Ce,Pr,
Nd,Pm,Sm,Eu,Li,Si,B,Ca,A
s,Y,Zr,Nb,Mo,Ru,Rh,Ag,Sb,
Hfよりなる群から選ばれる1種又は2種以上の元素が
挙げられる。中でも、CoCrやCoCrPtを好まし
いものとして挙げることが出来る。このような磁性層の
膜厚は通常300〜1000Å程度である。
The magnetic recording medium of the present invention is of a metal thin film type. That is, a metal thin film type magnetic layer is provided on the amorphous layer by PVD means. Examples of the material forming the magnetic layer include CoCr, CoCrX, CoNiX, and C.
A Co-based magnetic alloy containing Co as a main component represented by oWX or the like can be given. Here, X is Ta, Pt,
Au, Ti, V, Cr, Ni, W, La, Ce, Pr,
Nd, Pm, Sm, Eu, Li, Si, B, Ca, A
s, Y, Zr, Nb, Mo, Ru, Rh, Ag, Sb,
Examples include one or more elements selected from the group consisting of Hf. Among them, CoCr and CoCrPt can be mentioned as preferable ones. The film thickness of such a magnetic layer is usually about 300 to 1000Å.

【0026】金属薄膜型の磁気記録媒体は、一般的に、
磁性層上に保護層がPVD手段やCVD手段で設けられ
る。保護層の材料としては、耐摩耗性の点から硬度の高
いものが望ましい。例えば、Al,Si,Ti,Cr,
Zr,Nb,Mo,Ta,W等の金属の酸化物、窒化
物、炭化物などがある。又、カーボンあるいはボロンナ
イトライド等も挙げられる。中でも、ガラス状カーボン
やダイヤモンドライクカーボン、あるいはこれらのカー
ボンと金属酸化物やセラミックスとの複合材と言ったカ
ーボン系の材料は好ましい。尚、保護層の厚さは100
〜300Åが好ましい。
The metal thin film type magnetic recording medium is generally
A protective layer is provided on the magnetic layer by PVD means or CVD means. As a material for the protective layer, a material having high hardness is desirable from the viewpoint of wear resistance. For example, Al, Si, Ti, Cr,
Examples include oxides, nitrides, and carbides of metals such as Zr, Nb, Mo, Ta, and W. Moreover, carbon, boron nitride, etc. are also mentioned. Among them, carbonaceous materials such as glassy carbon, diamond-like carbon, or a composite material of these carbons and metal oxides or ceramics are preferable. The thickness of the protective layer is 100
~ 300 ° is preferred.

【0027】走行性を向上させる為に、保護層上には、
例えば厚さが5〜40Å程度の潤滑剤層が設けられる。
潤滑剤としては、極性基を持つ潤滑剤と極性基を持たな
い潤滑剤とを単独で用いても良いが、併用することが好
ましい。例えば、極性基を持つ潤滑剤溶液を塗布した
後、末端に極性基を持たない潤滑剤溶液を塗布したり、
極性基を持つ潤滑剤と極性基を持たない潤滑剤との混合
溶液を塗布し、主として保護層側に近い下層側に極性基
を持つ潤滑剤を、上層側に極性基を持たない潤滑剤を存
在させるようにしても良い。用いられる極性基を持つ潤
滑剤は、分子量が2000〜4000のパーフロロポリ
エーテル系のものであり、末端に芳香族環を持つものが
好ましい。すなわち、−(CF2 CF2 O)n −(CF
2 O)m −の骨格を有し、末端に芳香族環を持ち、分子
量が2000〜4000であるものが好ましい。具体例
としては、フォンブリンAM2001(モンテカチーニ
社製)やデムナムSP(ダイキン工業社製)等が挙げら
れる。極性基を持たない潤滑剤は、分子量が2000〜
10000のパーフロロポリエーテル系のものが好まし
い。すなわち、CF3 −(CF2 CF2 O)n −(CF
2 O)m −CF3 で表され、分子量が2000〜100
00のものが好ましい。具体例としては、フォンブリン
Z03(モンテカチーニ社製)等が挙げられる。
In order to improve the running property, the protective layer is
For example, a lubricant layer having a thickness of about 5 to 40Å is provided.
As the lubricant, a lubricant having a polar group and a lubricant having no polar group may be used alone, but they are preferably used in combination. For example, after applying a lubricant solution with a polar group, apply a lubricant solution without a polar group at the end,
Apply a mixed solution of a polar group lubricant and a non-polar group lubricant, and apply a polar group-containing lubricant mainly on the lower layer side near the protective layer side and a non-polar group-containing lubricant agent on the upper layer side. You may make it exist. The polar group-containing lubricant used is a perfluoropolyether type having a molecular weight of 2000 to 4000, and preferably has an aromatic ring at the end. That, - (CF 2 CF 2 O ) n - (CF
Those having a 2 O) m- skeleton, an aromatic ring at the end, and a molecular weight of 2000 to 4000 are preferable. Specific examples include Fomblin AM2001 (manufactured by Montecatini) and Demnum SP (manufactured by Daikin Industries, Ltd.). Lubricants without polar groups have a molecular weight of 2000-
A perfluoropolyether type of 10000 is preferable. That, CF 3 - (CF 2 CF 2 O) n - (CF
It is represented by 2 O) m -CF 3, molecular weight 2000 to 100
00 is preferable. Specific examples include Fomblin Z03 (manufactured by Montecatini).

【0028】そして、上記のように構成させた磁気記録
媒体は、磁性層あるいはCr系やTi系の下地層とカー
ボン基板との間にM2 層やAl−M1 系合金層(M1
2はカーバイドを形成し得る金属)を介在させたの
で、このM2 層がカーボン基板に強固に結合し、Al−
1 系合金層がM2 層に強固に結合しており、これらの
層を介して磁性層あるいはCr系やTi系の下地層が強
固に結合しているので、密着性が高く、耐久性に優れた
ものになる。
In the magnetic recording medium having the above-mentioned structure, the M 2 layer or the Al-M 1 type alloy layer (M 1 ,
Since M 2 is a metal capable of forming carbide), this M 2 layer is firmly bonded to the carbon substrate, and Al −
The M 1 -based alloy layer is firmly bonded to the M 2 layer, and the magnetic layer or the Cr-based or Ti-based underlayer is firmly bonded through these layers, so that the adhesion is high and the durability is high. Will be excellent.

【0029】しかも、M2 層およびAl−M1 系合金層
にファインな凹凸を形成したので、その上に設けられる
磁性層などにもファインな凹凸が形成されるようにな
り、摩擦係数が小さく、走行性に優れ、CSS耐久性に
優れたものになる。更に、Al−M1 層と金属系磁性層
との間に非金属のアモルファス層、例えばアモルファス
カーボン層を設けたので、角型比などの磁気特性が向上
し、電磁変換特性が優れたものになる。
Moreover, since the fine irregularities are formed on the M 2 layer and the Al-M 1 alloy layer, the fine irregularities are also formed on the magnetic layer and the like provided thereon, and the friction coefficient is small. It has excellent running property and CSS durability. Furthermore, since a non-metal amorphous layer, for example, an amorphous carbon layer is provided between the Al-M 1 layer and the metal-based magnetic layer, the magnetic characteristics such as the squareness ratio are improved and the electromagnetic conversion characteristics are improved. Become.

【0030】以下、実施例を挙げて本発明を説明する
が、本発明はこれに限定されるものではない。
The present invention will be described below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.

【0031】[0031]

【実施例】【Example】

〔実施例1〕密度1.5g/cm3 、ビッカース硬度6
50の特性のガラス状カーボンを用いてカーボン基板1
を作製した。このカーボン基板1は、Raが0.8nm
(触針式表面粗さ計により評価)である。
Example 1 Density 1.5 g / cm 3 , Vickers hardness 6
Carbon substrate 1 using glassy carbon with 50 characteristics
Was produced. Ra of this carbon substrate 1 is 0.8 nm.
(Evaluated by a stylus type surface roughness meter).

【0032】このカーボン基板1上に、Arガス圧2m
Torr、カーボン基板温度を250℃の条件でDCマ
グネトロンスパッタリングにより20nm厚さのAl−
10wt%Si合金層3を設けた。尚、このAl−10
wt%Si合金層3の表面はRaが1.8nmであっ
た。この後、Al−Si合金層3上に、Arガス圧2m
Torr、カーボン基板温度を250℃の条件でDCマ
グネトロンスパッタリングにより5nm厚さのアモルフ
ァスカーボン層4を設けた。
Ar gas pressure of 2 m is applied on the carbon substrate 1.
Torr, carbon substrate temperature of 250 ℃ by DC magnetron sputtering 20nm thick Al-
A 10 wt% Si alloy layer 3 was provided. In addition, this Al-10
The surface of the wt% Si alloy layer 3 had Ra of 1.8 nm. Then, on the Al-Si alloy layer 3, an Ar gas pressure of 2 m
The amorphous carbon layer 4 having a thickness of 5 nm was formed by DC magnetron sputtering under the conditions of Torr and the carbon substrate temperature of 250 ° C.

【0033】更に、Arガス圧2mTorr、カーボン
基板温度を250℃の条件でDCマグネトロンスパッタ
リングによりアモルファスカーボン層4上に40nm厚
さのCr層6を、続いて40nm厚さのCoCrPt系
合金磁性層7を、そして15nm厚さのダイヤモンドラ
イクカーボン層8を設けた。この後、フォンブリンZ0
3溶液を塗布し、15Å厚さの潤滑剤層9を設け、図1
に示す如くの磁気ディスクを得た。
Further, a 40 nm-thick Cr layer 6 was formed on the amorphous carbon layer 4 by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and carbon substrate temperature of 250 ° C., followed by 40 nm-thick CoCrPt-based alloy magnetic layer 7. And a diamond-like carbon layer 8 having a thickness of 15 nm was provided. After this, Fomblin Z0
3 solution is applied and a lubricant layer 9 having a thickness of 15Å is provided.
A magnetic disk as shown in was obtained.

【0034】〔実施例2〜18〕実施例1における20
nm厚さのAl−10wt%Si合金層3を20nm厚
さの表−1に示すAl−M1 合金層に、かつ、アモルフ
ァスカーボン層4の厚さを表−1に示す厚さにした以外
は実施例1に準じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例19〕実施例3におけるカーボン基板1を強化
ガラス基板にした以外は実施例3に準じて、磁気ディス
クを得た。
[Examples 2 to 18] 20 in Example 1
except that the Al-10 wt% Si alloy layer 3 having a thickness of nm is the Al-M 1 alloy layer having a thickness of 20 nm shown in Table-1 and the thickness of the amorphous carbon layer 4 is the thickness shown in Table-1. A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1. [Example 19] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 3, except that the carbon substrate 1 in Example 3 was replaced with a tempered glass substrate.

【0035】〔実施例20〕実施例3におけるカーボン
基板1をNiPメッキしたアルミニウム基板にした以外
は実施例3に準じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例21〕実施例5におけるカーボン基板1を強化
ガラス基板にした以外は実施例5に準じて、磁気ディス
クを得た。
[Example 20] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 3 except that the carbon substrate 1 in Example 3 was changed to an aluminum substrate plated with NiP. [Example 21] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 5 except that the carbon substrate 1 in Example 5 was replaced with a tempered glass substrate.

【0036】〔実施例22〕実施例5におけるカーボン
基板1をNiPメッキしたアルミニウム基板にした以外
は実施例5に準じて、磁気ディスクを得た。 〔比較例1〜9〕実施例1における20nm厚さのAl
−10wt%Si合金層3を20nm厚さの表−1に示
すAl−M1 合金層に、かつ、アモルファスカーボン層
を設けなかった以外は実施例1に準じて、磁気ディスク
を得た。
[Example 22] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 5 except that the carbon substrate 1 in Example 5 was changed to an aluminum substrate plated with NiP. Comparative Examples 1 to 9 Al having a thickness of 20 nm in Example 1
A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except that the -10 wt% Si alloy layer 3 was a 20 nm thick Al-M 1 alloy layer shown in Table 1 and no amorphous carbon layer was provided.

【0037】〔比較例10〜13〕実施例19〜22に
おいてアモルファスカーボン層を設けなかった以外は実
施例19〜22に準じて、磁気ディスクを得た。 表−1 Al−M1 合金層 カーボン層の厚さ(nm) 実施例2 Al-10wt%Si 15 実施例3 Al-10wt%Si 20 実施例4 Al-10wt%Si 40 実施例5 Al-5wt%Cr 25 実施例6 Al-8wt%W 25 実施例7 Al-10wt%Ti 5 実施例8 Al-10wt%Ti 15 実施例9 Al-10wt%Ti 20 実施例10 Al-10wt%Ti 40 実施例11 Al-2wt%Ta 25 実施例12 Al-5wt%Zr 25 実施例13 Al-5wt%Y 25 実施例14 Al-5wt%V 25 実施例15 Al-5wt%Mo 25 実施例16 Al-5wt%Si-5wt%Cr 25 実施例17 Al-5wt%Si-5wt%Mo 25 実施例18 Al-5wt%Si-3wt%W 25 実施例19 Al-10wt%Si 25 実施例20 Al-10wt%Si 25 実施例21 Al-5wt%Cr 25 実施例22 Al-5wt%Cr 25 比較例1 Al-10wt%Si 0 比較例2 Al-5wt%Cr 0 比較例3 Al-8wt%W 0 比較例4 Al-10wt%Ti 0 比較例5 Al-2wt%Ta 0 比較例6 Al-5wt%Zr 0 比較例7 Al-5wt%Y 0 比較例8 Al-5wt%V 0 比較例9 Al-5wt%Mo 0 比較例10 Al-10wt%Si 0 比較例11 Al-10wt%Si 0 比較例12 Al-5wt%Cr 0 比較例13 Al-5wt%Cr 0 〔実施例23〕密度1.5g/cm3 、ビッカース硬度
650の特性のガラス状カーボンを用いてカーボン基板
1を作製した。このカーボン基板1は、Raが0.8n
m(触針式表面粗さ計により評価)である。
[Comparative Examples 10 to 13] Magnetic disks were obtained according to Examples 19 to 22 except that the amorphous carbon layer was not provided in Examples 19 to 22. Table -1 Al-M 1 thickness of the alloy layer carbon layer (nm) Example 2 Al-10wt% Si 15 Example 3 Al-10wt% Si 20 Example 4 Al-10wt% Si 40 Example 5 Al-5 wt % Cr 25 Example 6 Al-8wt% W 25 Example 7 Al-10wt% Ti 5 Example 8 Al-10wt% Ti 15 Example 9 Al-10wt% Ti 20 Example 10 Al-10wt% Ti 40 Example 11 Al-2wt% Ta 25 Example 12 Al-5wt% Zr 25 Example 13 Al-5wt% Y 25 Example 14 Al-5wt% V 25 Example 15 Al-5wt% Mo 25 Example 16 Al-5wt% Si-5wt% Cr 25 Example 17 Al-5wt% Si-5wt% Mo 25 Example 18 Al-5wt% Si-3wt% W 25 Example 19 Al-10wt% Si 25 Example 20 Al-10wt% Si 25 Example 21 Al-5wt% Cr 25 Example 22 Al-5wt% Cr 25 Comparative Example 1 Al-10wt% Si 0 Comparative Example 2 Al-5wt% Cr 0 Comparative Example 3 Al-8wt% W 0 Comparative Example 4 Al- Comparative Example 5 Al-2wt% Ta 0 Comparative Example 6 Al-5wt% Zr 0 Comparative Example 7 Al-5wt% Y 0 Comparative Example 8 Al-5wt% V 0 Comparative Example 9 Al-5wt% Mo 0 Comparative Example 10 Al-10wt% Si 0 Comparative Example 11 Al-10wt% Si 0 Comparative Example 12 Al-5wt% Cr 0 Comparative Example 13 Al-5wt% Cr 0 [Example 23] Density 1.5 g / cm 3 , A carbon substrate 1 was produced using glassy carbon having a characteristic of Vickers hardness of 650. Ra of this carbon substrate 1 is 0.8 n.
m (evaluated by a stylus type surface roughness meter).

【0038】このカーボン基板1上に、Arガス圧2m
Torr、カーボン基板温度を250℃の条件でDCマ
グネトロンスパッタリングにより100nm厚さのTi
層2を設けた。尚、このTi層2の表面はRaが1.0
nmであった。次いで、Arガス圧2mTorr、カー
ボン基板温度を260℃の条件でDCマグネトロンスパ
ッタリングによりTi層2上に20nm厚さのAl−1
0wt%Si合金層3を設けた。尚、Ti層を設けず、
基板上に直接このAl−10wt%Si合金層3のみを
形成した後の表面はRaが1.8nmであった。従っ
て、Ti層2上にAl−10wt%Si合金層3が設け
られた場合の表面プロフィールは、図2に示す複合凹凸
模様である。
On this carbon substrate 1, Ar gas pressure of 2 m
Torr, carbon substrate temperature of 250 ℃, DC magnetron sputtering 100nm thick Ti
Layer 2 was provided. The surface of the Ti layer 2 has Ra of 1.0.
was nm. Then, 20 nm thick Al-1 was deposited on the Ti layer 2 by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and carbon substrate temperature of 260 ° C.
A 0 wt% Si alloy layer 3 was provided. Incidentally, without providing a Ti layer,
Ra was 1.8 nm on the surface after only the Al-10 wt% Si alloy layer 3 was directly formed on the substrate. Therefore, the surface profile in the case where the Al-10 wt% Si alloy layer 3 is provided on the Ti layer 2 has the complex uneven pattern shown in FIG.

【0039】この後、Al−Si合金層3上に、Arガ
ス圧2mTorr、カーボン基板温度を260℃の条件
でDCマグネトロンスパッタリングにより25nm厚さ
のアモルファスカーボン層4を設けた。そして、DCマ
グネトロンスパッタリングによりアモルファスカーボン
層4上に40nm厚さのCr層6を、続いて40nm厚
さのCoCrPt系合金磁性層7を、そして15nm厚
さのダイヤモンドライクカーボン層8を設けた。
After that, an amorphous carbon layer 4 having a thickness of 25 nm was formed on the Al-Si alloy layer 3 by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and carbon substrate temperature of 260 ° C. Then, a Cr layer 6 having a thickness of 40 nm was formed on the amorphous carbon layer 4 by DC magnetron sputtering, a CoCrPt-based alloy magnetic layer 7 having a thickness of 40 nm was subsequently provided, and a diamond-like carbon layer 8 having a thickness of 15 nm was provided.

【0040】この後、フォンブリンZ03溶液を塗布
し、15Å厚さの潤滑剤層9を設け、図2に示す如くの
磁気ディスクを得た。 〔実施例24〜57〕実施例23における100nm厚
さのTi層2を100nm厚さの表−2に示すM2
に、20nm厚さのAl−10wt%Si合金層3を2
0nm厚さの表−2に示すAl−M1 合金層にした以外
は実施例23に準じて、磁気ディスクを得た。
After that, a Fomblin Z03 solution was applied to form a lubricant layer 9 having a thickness of 15Å to obtain a magnetic disk as shown in FIG. [Examples 24 to 57] The Ti layer 2 having a thickness of 100 nm in Example 23 was formed on the M 2 layer shown in Table 2 having a thickness of 100 nm, and the Al-10 wt% Si alloy layer 3 having a thickness of 20 nm was formed on the M 2 layer.
A magnetic disk was obtained according to Example 23 except that the Al-M 1 alloy layer shown in Table 2 having a thickness of 0 nm was used.

【0041】〔実施例58〕実施例23におけるカーボ
ン基板1を強化ガラス基板にした以外は実施例23に準
じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例59〕実施例23におけるカーボン基板1をN
iPメッキしたアルミニウム基板にした以外は実施例2
3に準じて、磁気ディスクを得た。
[Example 58] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 23 except that the carbon substrate 1 in Example 23 was replaced with a tempered glass substrate. [Example 59] The carbon substrate 1 of Example 23 was replaced with N.
Example 2 except that an iP-plated aluminum substrate was used.
According to 3, a magnetic disk was obtained.

【0042】〔実施例60〕実施例24におけるカーボ
ン基板1を強化ガラス基板にした以外は実施例24に準
じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例61〕実施例24におけるカーボン基板1をN
iPメッキしたアルミニウム基板にした以外は実施例2
4に準じて、磁気ディスクを得た。
[Example 60] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 24 except that the tempered glass substrate was used as the carbon substrate 1 in Example 24. [Example 61] The carbon substrate 1 of Example 24 was replaced with N.
Example 2 except that an iP-plated aluminum substrate was used.
According to 4, a magnetic disk was obtained.

【0043】〔比較例14〜22〕実施例23における
100nm厚さのTi層2を設けず、20nm厚さのA
l−10wt%Si合金層3を20nm厚さの表−2に
示すAl−M1 合金層にした以外は実施例23に準じ
て、磁気ディスクを得た。 〔比較例23〜26〕実施例58〜61における100
nm厚さのTi層2を設けず、20nm厚さのAl−1
0wt%Si合金層3を20nm厚さの表−2に示すA
l−M1 合金層にした以外は実施例58〜61に準じ
て、磁気ディスクを得た。
Comparative Examples 14 to 22 The Ti layer 2 having a thickness of 100 nm in Example 23 was not provided, and A having a thickness of 20 nm was used.
A magnetic disk was obtained according to Example 23 except that the 1-10 wt% Si alloy layer 3 was replaced with the Al-M 1 alloy layer having a thickness of 20 nm shown in Table-2. [Comparative Examples 23 to 26] 100 in Examples 58 to 61
20 nm thick Al-1 without the Ti layer 2 of 20 nm thick
The 0 wt% Si alloy layer 3 having a thickness of 20 nm shown in Table-2
except that the l-M 1 alloy layer according to Example 58-61, to obtain a magnetic disk.

【0044】 表−2 M2 層 Al−M1 合金層 M2 層表面のRa(nm) 実施例24 Ti Al−5wt%Cr 1.0 実施例25 Ti Al−8wt%W 1.0 実施例26 Ti Al−10wt%Ti 1.0 実施例27 Ti Al−2wt%Ta 1.0 実施例28 Ti Al−5wt%Zr 1.0 実施例29 Ti Al−5wt%Y 1.0 実施例30 Ti Al−5wt%V 1.0 実施例31 Ti Al−5wt%Mo 1.0 実施例32 Cr Al−10wt%Si 1.1 実施例33 Cr Al−5wt%Cr 1.1 実施例34 Cr Al−8wt%W 1.1 実施例35 Cr Al−10wt%Ti 1.1 実施例36 Cr Al−2wt%Ta 1.1 実施例37 Cr Al−5wt%Zr 1.1 実施例38 Cr Al−5wt%Y 1.1 実施例39 Cr Al−5wt%V 1.1 実施例40 Cr Al−5wt%Mo 1.1 実施例41 W Al−10wt%Si 1.0 実施例42 W Al−5wt%Cr 1.0 実施例43 Si Al−10wt%Si 0.9 実施例44 Si Al−5wt%Cr 0.9 実施例45 Ta Al−10wt%Si 1.0 実施例46 Ta Al−5wt%Cr 1.0 実施例47 Zr Al−10wt%Si 1.0 実施例48 Zr Al−5wt%Cr 1.0 実施例49 Y Al−10wt%Si 0.9 実施例50 Y Al−5wt%Cr 0.9 実施例51 V Al−10wt%Si 1.0 実施例52 V Al−5wt%Cr 1.0 実施例53 Mo Al−10wt%Si 1.1 実施例54 Mo Al−5wt%Cr 1.1 実施例55 Ti Al-5wt%Si-5wt%Cr 1.0 実施例56 Ti Al-5wt%Si-3wt%Mo 1.0 実施例57 Ti Al-5wt%Si-3wt%W 1.0 実施例58 Ti Al−10wt%Si 2.0 実施例59 Ti Al−10wt%Si 1.8 実施例60 Ti Al−5wt%Cr 2.1 実施例61 Ti Al−5wt%Cr 1.8 比較例14 − Al−10wt%Si − 比較例15 − Al−5wt%Cr − 比較例16 − Al−8wt%W − 比較例17 − Al−10wt%Ti − 比較例18 − Al−2wt%Ta − 比較例19 − Al−5wt%Zr − 比較例20 − Al−5wt%Y − 比較例21 − Al−5wt%V − 比較例22 − Al−5wt%Mo − 比較例23 − Al−10wt%Si − 比較例24 − Al−10wt%Si − 比較例25 − Al−5wt%Cr − 比較例26 − Al−5wt%Cr − 〔実施例62〕密度1.5g/cm3 、ビッカース硬度
650の特性のガラス状カーボンを用いてカーボン基板
1を作製した。このカーボン基板1は、Raが0.8n
m(触針式表面粗さ計により評価)である。
Table-2 M 2 layer Al-M 1 alloy layer Ra (nm) of M 2 layer surface Example 24 Ti Al-5 wt% Cr 1.0 Example 25 Ti Al-8 wt% W 1.0 Example 26 Ti Al-10 wt% Ti 1.0 Example 27 Ti Al-2 wt% Ta 1.0 Example 28 Ti Al-5 wt% Zr 1.0 Example 29 Ti Al-5 wt% Y 1.0 Example 30 Ti Al-5 wt% V 1.0 Example 31 Ti Al-5 wt% Mo 1.0 Example 32 Cr Al-10 wt% Si 1.1 Example 33 Cr Al-5 wt% Cr 1.1 Example 34 Cr Al- 8 wt% W 1.1 Example 35 Cr Al-10 wt% Ti 1.1 Example 36 Cr Al-2 wt% Ta 1.1 Example 37 Cr Al-5 wt% Zr 1.1 Example 38 Cr Al-5 wt% Y 1.1 Example 39 Cr Al-5 wt% V 1.1 Example 40 Cr Al-5 wt% Mo 1.1 Example 41 W Al-10 wt% Si 1.0 Example 42 WA l-5 wt% Cr 1.0 Example 43 Si Al-10 wt% Si 0.9 Example 44 Si Al-5 wt% Cr 0.9 Example 45 Ta Al-10 wt% Si 1.0 Example 46 Ta Al- 5 wt% Cr 1.0 Example 47 Zr Al-10 wt% Si 1.0 Example 48 Zr Al-5 wt% Cr 1.0 Example 49 Y Al-10 wt% Si 0.9 Example 50 Y Al-5 wt% Cr 0.9 Example 51 V Al-10 wt% Si 1.0 Example 52 V Al-5 wt% Cr 1.0 Example 53 Mo Al-10 wt% Si 1.1 Example 54 Mo Al-5 wt% Cr 1 1 Example 55 Ti Al-5wt% Si-5wt% Cr 1.0 Example 56 Ti Al-5wt% Si-3wt% Mo 1.0 Example 57 Ti Al-5wt% Si-3wt% W 1.0 Example 58 Ti Al-10 wt% Si 2.0 Example 59 Ti Al-10 wt% Si 1.8 Example 60 Ti Al-5 wt% Cr 2.1 Example 61 Ti Al-5 wt% Cr 1.8 Comparative example 14-Al-10wt% Si-Comparative Example 15-Al 5 wt% Cr-Comparative Example 16-Al-8 wt% W-Comparative Example 17-Al-10 wt% Ti-Comparative Example 18-Al-2 wt% Ta-Comparative Example 19-Al-5 wt% Zr-Comparative Example 20-Al- 5 wt% Y-Comparative Example 21-Al-5 wt% V-Comparative Example 22-Al-5 wt% Mo-Comparative Example 23-Al-10 wt% Si-Comparative Example 24-Al-10 wt% Si-Comparative Example 25-Al- 5 wt% Cr-Comparative Example 26-Al-5 wt% Cr- [Example 62] A carbon substrate 1 was produced using glassy carbon having characteristics of a density of 1.5 g / cm 3 and a Vickers hardness of 650. Ra of this carbon substrate 1 is 0.8 n.
m (evaluated by a stylus type surface roughness meter).

【0045】このカーボン基板1上に、Arガス圧2m
Torr、カーボン基板温度を250℃の条件でDCマ
グネトロンスパッタリングにより100nm厚さのTi
層2を設けた。尚、このTi層2の表面はRaが1.2
nmであった。次いで、Arガス圧2mTorr、カー
ボン基板温度を260℃の条件でDCマグネトロンスパ
ッタリングによりTi層2上に20nm厚さのAl−1
0wt%Si合金層3を設けた。尚、このAl−10w
t%Si合金層3のみの場合、その表面はRaが1.8
nmであった。従って、Ti層2上にAl−10wt%
Si合金層3が設けられた場合の表面プロフィールは、
図3に示す複合凹凸模様である。
On this carbon substrate 1, Ar gas pressure of 2 m
Torr, carbon substrate temperature of 250 ℃, DC magnetron sputtering 100nm thick Ti
Layer 2 was provided. The surface of the Ti layer 2 has Ra of 1.2.
was nm. Then, 20 nm thick Al-1 was deposited on the Ti layer 2 by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and carbon substrate temperature of 260 ° C.
A 0 wt% Si alloy layer 3 was provided. In addition, this Al-10w
In the case of only the t% Si alloy layer 3, the surface has Ra of 1.8.
was nm. Therefore, Al-10 wt% on the Ti layer 2
The surface profile when the Si alloy layer 3 is provided is
It is a composite concavo-convex pattern shown in FIG.

【0046】この後、Al−Si合金層3上に、Arガ
ス圧2mTorr、カーボン基板温度を260℃の条件
でDCマグネトロンスパッタリングにより25nm厚さ
のアモルファスカーボン層4を設けた。そして、DCマ
グネトロンスパッタリングによりアモルファスカーボン
層4上に100nm厚さのTi層5、この上に40nm
厚さのCr層6を、続いて40nm厚さのCoCrPt
系合金磁性層7を、そして15nm厚さのダイヤモンド
ライクカーボン層8を設けた。
Thereafter, an amorphous carbon layer 4 having a thickness of 25 nm was formed on the Al-Si alloy layer 3 by DC magnetron sputtering under the conditions of Ar gas pressure of 2 mTorr and carbon substrate temperature of 260 ° C. Then, by a DC magnetron sputtering, a Ti layer 5 having a thickness of 100 nm is formed on the amorphous carbon layer 4, and 40 nm is formed on the Ti layer 5.
Thick Cr layer 6 followed by 40 nm thick CoCrPt
A system alloy magnetic layer 7 and a diamond-like carbon layer 8 having a thickness of 15 nm were provided.

【0047】この後、フォンブリンZ03溶液を塗布
し、15Å厚さの潤滑剤層9を設け、図3に示す如くの
磁気ディスクを得た。 〔実施例63〜96〕実施例62における100nm厚
さのTi層2を100nm厚さの表−3に示すM2
に、20nm厚さのAl−10wt%Si合金層3を2
0nm厚さの表−3に示すAl−M1 合金層にした以外
は実施例62に準じて、磁気ディスクを得た。
After this, a Fomblin Z03 solution was applied to form a lubricant layer 9 having a thickness of 15Å, and a magnetic disk as shown in FIG. 3 was obtained. [Examples 63 to 96] The Ti layer 2 having a thickness of 100 nm in Example 62 was formed on the M 2 layer shown in Table 3 having a thickness of 100 nm, and the Al-10 wt% Si alloy layer 3 having a thickness of 20 nm was formed on the M 2 layer.
A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 62 except that the Al-M 1 alloy layer shown in Table 3 having a thickness of 0 nm was used.

【0048】〔実施例97〕実施例62におけるカーボ
ン基板1を強化ガラス基板にした以外は実施例62に準
じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例98〕実施例62におけるカーボン基板1をN
iPメッキしたアルミニウム基板にした以外は実施例6
2に準じて、磁気ディスクを得た。
Example 97 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 62 except that the carbon substrate 1 in Example 62 was a tempered glass substrate. [Example 98] The carbon substrate 1 in Example 62 was replaced with N.
Example 6 except that an iP plated aluminum substrate was used.
According to 2, a magnetic disk was obtained.

【0049】〔実施例99〕実施例63におけるカーボ
ン基板1を強化ガラス基板にした以外は実施例63に準
じて、磁気ディスクを得た。 〔実施例100〕実施例63におけるカーボン基板1を
NiPメッキしたアルミニウム基板にした以外は実施例
63に準じて、磁気ディスクを得た。 〔比較例27〜44〕実施例62における100nm厚
さのTi層2を100nm厚さの表−3に示すM2
に、20nm厚さのAl−1wt%Si合金層3を20
nm厚さの表−3に示すAl−M1 合金層に、そしてT
i層5を設けなかった以外は実施例62に準じて、磁気
ディスクを得た。
Example 99 A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 63 except that the carbon substrate 1 in Example 63 was a tempered glass substrate. [Example 100] A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 63 except that the carbon substrate 1 in Example 63 was an aluminum substrate plated with NiP. [Comparative Examples 27 to 44] The Ti layer 2 having a thickness of 100 nm and the M 2 layer shown in Table 3 having a thickness of 100 nm and the Al-1 wt% Si alloy layer 3 having a thickness of 20 nm in Example 62 were used.
nm thickness of Al-M 1 alloy layer shown in Table-3, and T
A magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 62 except that the i layer 5 was not provided.

【0050】〔比較例45〜48〕実施例97〜100
における100nm厚さのTi層2を100nm厚さの
表−3に示すM2 層に、20nm厚さのAl−1wt%
Si合金層3を20nm厚さの表−3に示すAl−M1
合金層に、そしてアモルファスカーボン層を設けなかっ
た以外は実施例97〜100に準じて、磁気ディスクを
得た。
[Comparative Examples 45 to 48] Examples 97 to 100
100nm thickness of the Ti layer 2 to M 2 layer shown in Table 3 of 100nm thickness at, 20 nm thickness of the Al-1 wt%
Al-M 1 shown in Table 3 having a thickness of 20 nm for the Si alloy layer 3.
Magnetic disks were obtained according to Examples 97 to 100 except that the alloy layer was not provided with the amorphous carbon layer.

【0051】 表−3 M2 層 Al−M1 合金層 M2 層表面のRa(nm) 実施例63 Ti Al−5wt%Cr 1.0 実施例64 Ti Al−8wt%W 1.0 実施例65 Ti Al−10wt%Ti 1.0 実施例66 Ti Al−2wt%Ta 1.0 実施例67 Ti Al−5wt%Zr 1.0 実施例68 Ti Al−5wt%Y 1.0 実施例69 Ti Al−5wt%V 1.0 実施例70 Ti Al−5wt%Mo 1.0 実施例71 Cr Al−10wt%Si 1.1 実施例72 Cr Al−5wt%Cr 1.1 実施例73 Cr Al−8wt%W 1.1 実施例74 Cr Al−10wt%Ti 1.1 実施例75 Cr Al−2wt%Ta 1.1 実施例76 Cr Al−5wt%Zr 1.1 実施例77 Cr Al−5wt%Y 1.1 実施例78 Cr Al−5wt%V 1.1 実施例79 Cr Al−5wt%Mo 1.1 実施例80 W Al−10wt%Si 1.0 実施例81 W Al−5wt%Cr 1.0 実施例82 Si Al−10wt%Si 0.9 実施例83 Si Al−5wt%Cr 0.9 実施例84 Ta Al−10wt%Si 1.0 実施例85 Ta Al−5wt%Cr 1.0 実施例86 Zr Al−10wt%Si 1.0 実施例87 Zr Al−5wt%Cr 1.0 実施例88 Y Al−10wt%Si 0.9 実施例89 Y Al−5wt%Cr 0.9 実施例90 V Al−10wt%Si 1.0 実施例91 V Al−5wt%Cr 1.0 実施例92 Mo Al−10wt%Si 1.1 実施例93 Mo Al−5wt%Cr 1.1 実施例94 Ti Al-5wt%Si-5wt%Cr 1.0 実施例95 Ti Al-5wt%Si-3wt%Mo 1.0 実施例96 Ti Al-5wt%Si-3wt%W 1.0 実施例97 Ti Al−10wt%Si 2.0 実施例98 Ti Al−10wt%Si 1.8 実施例99 Ti Al−5wt%Cr 2.1 実施例100 Ti Al−5wt%Cr 1.8 比較例27 Ti Al−10wt%Si 1.0 比較例28 Ti Al−5wt%Cr 1.0 比較例29 Ti Al−8wt%W 1.0 比較例30 Ti Al−10wt%Ti 1.0 比較例31 Ti Al−2wt%Ta 1.0 比較例32 Ti Al−5wt%Zr 1.0 比較例33 Ti Al−5wt%Y 1.0 比較例34 Ti Al−5wt%V 1.0 比較例35 Ti Al−5wt%Mo 1.0 比較例36 Cr Al−10wt%Si 1.1 比較例37 Cr Al−5wt%Cr 1.1 比較例38 Cr Al−8wt%W 1.1 比較例39 Cr Al−10wt%Ti 1.1 比較例40 Cr Al−2wt%Ta 1.1 比較例41 Cr Al−5wt%Zr 1.1 比較例42 Cr Al−5wt%Y 1.1 比較例43 Cr Al−5wt%V 1.1 比較例44 Cr Al−5wt%Mo 1.1 比較例45 Ti Al−10wt%Si 2.0 比較例46 Ti Al−10wt%Si 1.8 比較例47 Ti Al−5wt%Cr 2.1 比較例48 Ti Al−5wt%Cr 1.8 〔特性〕上記実施例1〜実施例22及び比較例1〜比較
例13で得た磁気ディスクについて、その表面粗さR
a、静磁気特性(角型比)、グライドハイトテストGH
T、CSS耐久性を調べたので、その結果を表−4に示
す。
Table 3 M 2 layer Al—M 1 alloy layer Ra (nm) of M 2 layer surface Example 63 Ti Al-5 wt% Cr 1.0 Example 64 Ti Al-8 wt% W 1.0 Example 65 Ti Al-10 wt% Ti 1.0 Example 66 Ti Al-2 wt% Ta 1.0 Example 67 Ti Al-5 wt% Zr 1.0 Example 68 Ti Al-5 wt% Y 1.0 Example 69 Ti Al-5 wt% V 1.0 Example 70 Ti Al-5 wt% Mo 1.0 Example 71 Cr Al-10 wt% Si 1.1 Example 72 Cr Al-5 wt% Cr 1.1 Example 73 Cr Al- 8 wt% W 1.1 Example 74 Cr Al-10 wt% Ti 1.1 Example 75 Cr Al-2 wt% Ta 1.1 Example 76 Cr Al-5 wt% Zr 1.1 Example 77 Cr Al-5 wt% Y 1.1 Example 78 Cr Al-5 wt% V 1.1 Example 79 Cr Al-5 wt% Mo 1.1 Example 80 W Al-10 wt% Si 1.0 Example 81 WA l-5 wt% Cr 1.0 Example 82 Si Al-10 wt% Si 0.9 Example 83 Si Al-5 wt% Cr 0.9 Example 84 Ta Al-10 wt% Si 1.0 Example 85 Ta Al- 5 wt% Cr 1.0 Example 86 Zr Al-10 wt% Si 1.0 Example 87 Zr Al-5 wt% Cr 1.0 Example 88 Y Al-10 wt% Si 0.9 Example 89 Y Al-5 wt% Cr 0.9 Example 90 V Al-10 wt% Si 1.0 Example 91 V Al-5 wt% Cr 1.0 Example 92 Mo Al-10 wt% Si 1.1 Example 93 Mo Al-5 wt% Cr 1 1 Example 94 Ti Al-5wt% Si-5wt% Cr 1.0 Example 95 Ti Al-5wt% Si-3wt% Mo 1.0 Example 96 Ti Al-5wt% Si-3wt% W 1.0 Example 97 Ti Al-10 wt% Si 2.0 Example 98 Ti Al-10 wt% Si 1.8 Example 99 Ti Al-5 wt% Cr 2.1 Example 100 Ti Al-5 wt% Cr 1.8 Comparative Example 27 Ti Al-10wt% Si 1.0 Comparative Example 8 Ti Al-5 wt% Cr 1.0 Comparative Example 29 Ti Al-8 wt% W 1.0 Comparative Example 30 Ti Al-10 wt% Ti 1.0 Comparative Example 31 Ti Al-2 wt% Ta 1.0 Comparative Example 32 Ti Al-5 wt% Zr 1.0 Comparative Example 33 Ti Al-5 wt% Y 1.0 Comparative Example 34 Ti Al-5 wt% V 1.0 Comparative Example 35 Ti Al-5 wt% Mo 1.0 Comparative Example 36 Cr Al- 10 wt% Si 1.1 Comparative Example 37 Cr Al-5 wt% Cr 1.1 Comparative Example 38 Cr Al-8 wt% W 1.1 Comparative Example 39 Cr Al-10 wt% Ti 1.1 Comparative Example 40 Cr Al-2 wt% Ta 1.1 Comparative Example 41 Cr Al-5 wt% Zr 1.1 Comparative Example 42 Cr Al-5 wt% Y 1.1 Comparative Example 43 Cr Al-5 wt% V 1.1 Comparative Example 44 Cr Al-5 wt% Mo 1 .1 Comparative Example 45 Ti Al-10wt% Si 2.0 Comparative Example 46 Ti Al-10wt% Si 1.8 Comparative Example 47 Ti Al-5wt% Cr 2.1 Comparative Example 48 Ti Al- Magnetic disk obtained in wt% Cr 1.8 [Characteristics] above Examples 1 to 22 and Comparative Examples 1 to 13, a surface roughness R
a, static magnetic characteristics (squareness ratio), glide height test GH
The T and CSS durability were examined, and the results are shown in Table-4.

【0052】 表−4 Ra(nm) 角型比 GHT CSS耐久性 実施例1 1.8 0.81 ○ 50000回以上 実施例2 1.8 0.83 ○ 50000回以上 実施例3 1.8 0.86 ○ 50000回以上 実施例4 1.8 0.86 ○ 50000回以上 実施例5 1.8 0.86 ○ 50000回以上 実施例6 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例7 1.6 0.81 ○ 50000回以上 実施例8 1.6 0.83 ○ 50000回以上 実施例9 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例10 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例11 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例12 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例13 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例14 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例15 1.6 0.86 ○ 50000回以上 実施例16 1.5 0.86 ○ 50000回以上 実施例17 1.5 0.86 ○ 50000回以上 実施例18 1.5 0.86 ○ 50000回以上 実施例19 1.7 0.86 ○ 40000回 実施例20 1.5 0.86 △ 25000回 実施例21 1.7 0.86 ○ 35000回 実施例22 1.5 0.86 △ 20000回 比較例1 1.8 0.77 ○ 50000回以上 比較例2 1.8 0.77 ○ 50000回以上 比較例3 1.6 0.76 ○ 50000回以上 比較例4 1.6 0.76 ○ 50000回以上 比較例5 1.6 0.77 ○ 50000回以上 比較例6 1.6 0.77 ○ 50000回以上 比較例7 1.6 0.77 ○ 50000回以上 比較例8 1.6 0.77 ○ 50000回以上 比較例9 1.6 0.77 ○ 50000回以上 比較例10 1.7 0.76 ○ 40000回 比較例11 1.5 0.77 △ 25000回 比較例12 1.7 0.76 ○ 35000回 比較例13 1.5 0.77 △ 2000回 これによれば、基板と、この基板上に設けられたAl−
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属)系合金材料
よりなるAl−M1 層と、このAl−M1 層上に設けら
れた金属系磁性層と、Al−M1 層と金属系磁性層との
間に設けられた非金属のアモルファス層とを具備する磁
気記録媒体は、グライドハイトテストGHT、CSS耐
久性いずれにも優れ、特に、Al−M1 層と金属系磁性
層との間に非金属のアモルファス層を具備させることに
よって、静磁気特性(角型比)が向上する。
Table-4 Ra (nm) Squareness Ratio GHT CSS Durability Example 1 1.8 0.81 ○ 50000 times or more Example 2 1.8 0.83 ○ 50000 times or more Example 3 1.8 0 .86 ○ 50000 times or more Example 4 1.8 0.86 ○ 50000 times or more Example 5 1.8 0.86 ○ 50000 times or more Example 6 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 7 1. 6 0.81 ○ 50000 times or more Example 8 1.6 0.83 ○ 50000 times or more Example 9 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 10 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 11 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 12 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 13 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 14 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Above Example 15 1.6 0.86 ○ 50000 times or more Example 16 1.5 0.86 ○ 50000 times or more Example 17 1.5 0.86 ○ 50000 times or more Example 18 1.5 0.86 ○ 50,000 times or more Example 19 1.7 0.86 ○ 40,000 times Example 20 1.5 0.86 △ 25,000 times Example 21 1.7 0.86 ○ 35,000 times Example 22 1.5 0.86 △ 20,000 Times Comparative Example 1 1.8 0.77 ○ 50000 times or more Comparative Example 2 1.8 0.77 ○ 50000 times or more Comparative Example 3 1.6 0.76 ○ 50000 times or more Comparative Example 4 1.6 0.76 ○ 50,000 times or more Comparative example 5 1.6 0.77 ○ 50000 times or more Comparative example 6 1.6 0.77 ○ 50000 times or more Comparative example 7 1.6 0.77 ○ 50000 times or more Comparative example 8 1. 0.77 ○ 50000 times or more Comparative example 9 1.6 0.77 ○ 50000 times or more Comparative example 10 1.7 0.76 ○ 40000 times Comparative example 11 1.5 0.77 Δ 25000 times Comparative example 12 1.7 0.76 ○ 35000 times Comparative Example 13 1.5 0.77 Δ 2000 times According to this, the substrate and the Al − provided on this substrate
M 1 (M 1 is a metal capable of forming a carbide) and Al-M 1 layer made of alloy material, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer on, Al-M 1 layer and the metal-based the magnetic recording medium comprising an amorphous layer of metallic provided between the magnetic layer, glide height test GHT, excellent in both CSS durability, in particular, the Al-M 1 layer and the metal magnetic layer The magnetostatic property (squareness ratio) is improved by providing a non-metal amorphous layer therebetween.

【0053】又、実施例23〜実施例61及び比較例1
4〜比較例26で得た磁気ディスクについて、その表面
粗さRa、静磁気特性(角型比)、グライドハイトテス
トGHT、初期摩擦係数、及びCSS耐久性を調べたの
で、その結果を表−5に示す。 表−5 Ra(nm) 角型比 GHT 初期摩擦係数 CSS耐久性 実施例23 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例24 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例25 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例26 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例27 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例28 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例29 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例30 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例31 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例32 1.9 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例33 1.9 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例34 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例35 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例36 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例37 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例38 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例39 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例40 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例41 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例42 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例43 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例44 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例45 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例46 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例47 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例48 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例49 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例50 1.7 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例51 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例52 1.8 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例53 1.9 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例54 1.9 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例55 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例56 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例57 1.6 0.86 ○ 0.1 100K回以上 実施例58 1.7 0.86 ○ 0.1 75K回 実施例59 1.8 0.86 △ 0.1 50K回 実施例60 1.7 0.86 ○ 0.1 70K回 実施例61 1.8 0.86 △ 0.1 50K回 比較例14 1.8 0.75 ○ 0.1 70K回 比較例15 1.8 0.76 ○ 0.1 60K回 比較例16 1.6 0.77 ○ 0.1 52K回 比較例17 1.6 0.75 ○ 0.1 55K回 比較例18 1.6 0.77 ○ 0.1 53K回 比較例19 1.6 0.75 ○ 0.1 55K回 比較例20 1.6 0.76 ○ 0.1 52K回 比較例21 1.6 0.75 ○ 0.1 52K回 比較例22 1.6 0.77 ○ 0.1 55K回 比較例23 1.7 0.76 ○ 0.1 40000回 比較例24 1.8 0.77 △ 0.1 25000回 比較例25 1.7 0.76 ○ 0.1 35000回 比較例26 1.8 0.77 △ 0.1 20000回 これによれば、基板と、この基板上に設けられた金属M
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属)を構成要素と
するM2 層と、このM2 層上に設けられたAl−M
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属、M1 はM2
同じでも異なっていても良い。)系合金材料よりなるA
l−M1 層と、このAl−M1 層上に設けられた金属系
磁性層と、前記M2 層と金属系磁性層との間に設けられ
た非金属のアモルファス層とを具備する磁気記録媒体
は、静磁気特性(角型比)、グライドハイトテストGH
T、初期摩擦係数に優れ、特に、M2 層を具備させるこ
とによって、初期摩擦係数が下がり、耐久性の向上が効
果的に図れている。
Further, Examples 23 to 61 and Comparative Example 1
The surface roughness Ra, the magnetostatic characteristics (squareness ratio), the glide height test GHT, the initial friction coefficient, and the CSS durability of the magnetic disks obtained in Comparative Example 26 to Comparative Example 26 were examined. 5 shows. Table-5 Ra (nm) Squareness Ratio GHT Initial Friction Coefficient CSS Durability Example 23 1.8 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 24 1.8 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 25 1.6 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 26 1.6 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 27 1.6 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 28 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 29 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 30 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 31 1. 6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 32 1.9 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 33 1.9 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 34 1.7 0 .86 ○ 0.1 100K or more times Example 35 1 7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 36 1.7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 37 1.7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 38 1.7 0 .86 ○ 0.1 100 K times or more Example 39 1.7 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 40 1.7 0.86 ○ 0.1 100 K times or more Example 41 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 42 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 43 1.7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 44 1.7 0.86 ○ 0 .1 100K times or more Example 45 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 46 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 47 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 48 1.8 0.86 ○ 0 .1 100K times or more Example 49 1.7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 50 1.7 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 51 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 52 1.8 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 53 1.9 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 54 1.9 0.86 ○ 0.1 100K times As described above Example 55 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 56 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 57 1.6 0.86 ○ 0.1 100K times or more Example 58 1.7 0.86 ○ 0.1 75 K times Example 59 1.8 0.86 Δ 0.1 50 K times Example 60 1.7 0.86 ○ 0.1 70 K times Example 61 1.8 0.86 Δ 0.1 50 K times Comparative Example 14 1.8 0.8. 75 ○ 0.1 70K times Comparative Example 15 1.8 0.76 ○ 0.1 60K times Comparative Example 16 1.6 0.77 ○ 0.1 52K times Comparative Example 17 1.6 0.75 ○ 0.1 55K times Comparative example 18 1.6 0.77 ○ 0.1 53K times Comparative example 19 1.6 0.75 ○ 0.1 55K times Comparative example 20 1.6 0.76 ○ 0.1 52K times Comparative example 21 1.6 0.75 ○ 0.1 52K times Comparative Example 22 1.6 0.77 ○ 0.1 55K times Comparative Example 23 1.7 0.76 ○ 0.1 40000 times Comparative Example 24 1.8 0.8. 77 Δ 0.1 25,000 times Comparative Example 25 1.7 0.76 ○ 0.1 35,000 times Comparative Example 26 1.8 0.77 Δ 0.1 20,000 times According to this, the substrate and the substrate are provided on this substrate. Metal M
2 (M 2 is a metal capable of forming a carbide) and M 2 layer as a constituent element, Al-M provided in the M 2 layer on
1 (M 1 is a metal capable of forming carbide, M 1 may be the same as or different from M 2 ) A based alloy material
1-M 1 layer, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer, and a non-metal amorphous layer provided between the M 2 layer and the metal-based magnetic layer. The recording medium has magnetostatic characteristics (squareness ratio), glide height test GH
T is excellent in initial friction coefficient, and in particular, by including the M 2 layer, the initial friction coefficient is lowered and the durability is effectively improved.

【0054】又、実施例62〜実施例100及び比較例
27〜比較例48で得た磁気ディスクについて、その表
面粗さRa、静磁気特性(角型比)、ノイズ特性、グラ
イドハイトテストGHT、初期摩擦係数、及びCSS耐
久性を調べたので、その結果を表−6に示す。 表−6 Ra(nm)角型比 ノイズ特性 GHT 初期摩擦係数 CSS耐久性 実施例62 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例63 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例64 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例65 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例66 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例67 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例68 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例69 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例70 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例71 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例72 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例73 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例74 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例75 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例76 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例77 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例78 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例79 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例80 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例81 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例82 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例83 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例84 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例85 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例86 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例87 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例88 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例89 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例90 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例91 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例92 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例93 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例94 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例95 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例96 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K回以上 実施例97 1.7 0.86 75 ○ 0.1 75K回 実施例98 1.8 0.86 75 △ 0.1 50K回 実施例99 1.7 0.86 75 ○ 0.1 70K回 実施例100 1.8 0.86 75 △ 0.1 50K回 比較例27 1.8 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例28 1.8 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例29 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例30 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例31 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例32 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例33 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例34 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例35 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例36 1.9 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例37 1.9 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例38 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例39 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例40 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例41 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例42 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例43 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例44 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K回以上 比較例45 1.7 0.76 100 ○ 0.1 75K回 比較例46 1.8 0.77 100 △ 0.1 50K回 比較例47 1.7 0.76 100 ○ 0.1 70K回 比較例48 1.8 0.77 100 △ 0.1 50K回 *表−4、表−5及び表−6において Ra:触針式表面粗さ計(TENCOR P2 )により、次の条
件で測定 触針径;0.6μm(針曲率半径)、触針押付け圧力;
7mg、測定長;250μm×8箇所、トレース速度;
2.5μm/秒、カットオフ;1.25μm(ローパス
フィルタ) 密着性の評価:ニチバンセロテープNo.405(幅1
8mm、ニチバン製)を用い、ASTM D3359−
87に準じて剥離試験を行った。
Further, regarding the magnetic disks obtained in Examples 62 to 100 and Comparative Examples 27 to 48, their surface roughness Ra, magnetostatic characteristics (squareness ratio), noise characteristics, glide height test GHT, The initial friction coefficient and CSS durability were examined, and the results are shown in Table-6. Table-6 Ra (nm) Squareness Ratio Noise Characteristics GHT Initial Friction Coefficient CSS Durability Example 62 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 63 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 64 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 65 1.6 0.86 75 ○ 0.1 0.1 K times or more Example 66 1.6 0.86 75 75 ○ 0. 1 100K times or more Example 67 1.6 0.86 75 ○ 0.1 0.1K times or more Example 68 1.6 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 69 1.6 0.86 75 ○ 0 0.1 100K times or more Example 70 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 71 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 72 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 73 1.7 0.86 75 ○ .1 100K times or more Example 74 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 75 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 76 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 77 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 78 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 79 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 80 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 81 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 82 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 83 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 84 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 85 1.8 0. 86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 86 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 87 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 88 1.7 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 89 1.7 0. 86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 90 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 91 1.8 0.86 75 ○ 0.1 100K times or more Example 92 1.9 0 .86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 93 1.9 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 94 1.6 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 95 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 96 1.6 0.86 75 ○ 0.1 100 K times or more Example 97 1.7 0.86 75 ○ 0.1 75 K times Example 98 1.8 0.86 75 △ 0.1 50K times Example 99 1.7 0.86 7 5 ○ 0.1 70 K times Example 100 1.8 0.86 75 △ 0.1 50 K times Comparative example 27 1.8 0.86 100 ○ 0.1 0.1 K times or more Comparative example 28 1.8 0.86 100 ○ 0.1 100 K times or more Comparative Example 29 1.6 0.86 100 ○ ○ 0.1 100 K times or more Comparative Example 30 1.6 0.86 100 ○ 0.1 0.1 K times or more Comparative Example 31 1.6 0.8 0.86 100 ○ 0.1 100K times or more Comparative example 32 1.6 0.86 100 ○ 0.1 0.1K times or more Comparative example 33 1.6 0.86 100 ○ 0.1 0.1K times or more Comparative example 34 1.60. 86 100 ○ 0.1 100K times or more Comparative Example 35 1.6 0.86 100 ○ 0.1 100K times or more Comparative Example 36 1.9 0.86 100 ○ 0.1 100K times or more Comparative Example 37 1.9 0 .86 100 ○ 0.1 100K times or more comparison 38 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K or more Comparative Example 39 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K or more Comparative Example 40 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K or more Comparative Example 41 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100 K times or more Comparative example 42 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100 K times or more Comparative example 43 1.7 0.86 100 ○ 0.1 0.1 K times or more Comparative Example 44 1.7 0.86 100 ○ 0.1 100K times or more Comparative Example 45 1.7 0.76 100 ○ 0.1 75K times Comparative Example 46 1.8 0.77 100 △ 0.1 50K times Comparison Example 47 1.7 0.76 100 ○ 0.1 70K times Comparative Example 48 1.8 0.77 100 △ 0.1 50K times * In Table-4, Table-5 and Table-6, Ra: Stylus surface Measured under the following conditions with a roughness meter (TENCOR P2). Stylus diameter; 6 μm (needle curvature radius), stylus pressing pressure;
7 mg, measurement length; 250 μm × 8 points, trace speed;
2.5 μm / sec, cutoff; 1.25 μm (low-pass filter) Evaluation of adhesion: Nichiban Cello Tape No. 405 (width 1
8 mm, made by Nichiban), ASTM D3359-
A peeling test was performed according to 87.

【0055】○は剥離なし、×は基板界面で一部または
全面剥離 GHT:PROQUIP社製MG150Tを用い、50
%スライダヘッドを用いて行った。1.2μインチの浮
上高さで合格のものを○、1.6μインチの浮上高さで
合格のものを△で表示した。 CSSテスト:ヤマハ社製の薄膜ヘッド(Al2 3
TiC製スライダ)を用い、ヘッド荷重3.5g、ヘッ
ド浮上量2.8μインチ、4500rpmで5秒間稼
働、5秒間停止のサイクルを繰り返して行い、静摩擦係
数(μs)が0.6になるまでの回数を調べた。本欄に
おけるKは1000の意味である。
◯: No peeling, ×: Partial or full peeling at the substrate interface GHT: 50 using MG150T manufactured by PROQUIIP
% Slider head was used. A pass mark with a flying height of 1.2 μ inch is indicated by ◯, and a pass mark with a flying height of 1.6 μ inch is indicated by Δ. CSS test: Yamaha thin film head (Al 2 O 3
(TiC slider), head load 3.5 g, head flying height 2.8 μ inch, operation at 5500 rpm for 5 seconds, repeated for 5 seconds, repeated until static friction coefficient (μs) reaches 0.6. I checked the number of times. K in this column means 1000.

【0056】ノイズ特性:スペクトルアナライザー(ア
ドバンテスト社のTR−4171)を用いて信号出力が
同レベルとなるようにしてパワースペクトルを測定し、
N/Sを求めた。比較例27のノイズを100とした時
の相対値で表示。 これによれば、基板と、この基板上に設けられた金属M
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属)を構成要素と
するM2 層と、このM2 層上に設けられたAl−M
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属、M1 はM2
同じでも異なっていても良い。)系合金材料よりなるA
l−M1 層と、このAl−M1 層上に設けられた金属系
磁性層と、前記M2 層と金属系磁性層との間に設けられ
た非金属のアモルファス層と、金属系磁性層の下にTi
あるいはTi合金からなる第1下地層が、その上にCr
あるいはCr合金からなる第2下地層が設けられてなる
磁気記録媒体は、静磁気特性(角型比)、グライドハイ
トテストGHT、初期摩擦係数、及びCSS耐久性いず
れにも優れ、特に、Ti層5を設けることでノイズの低
減が効果的に図れている。
Noise characteristics: A power spectrum was measured using a spectrum analyzer (TR-4171 manufactured by Advantest Corporation) so that the signal outputs would be at the same level.
N / S was determined. Displayed as a relative value when the noise of Comparative Example 27 is 100. According to this, the substrate and the metal M provided on the substrate
2 (M 2 is a metal capable of forming a carbide) and M 2 layer as a constituent element, Al-M provided in the M 2 layer on
1 (M 1 is a metal capable of forming carbide, M 1 may be the same as or different from M 2 ) A based alloy material
an I-M 1 layer, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer, a non-metal amorphous layer provided between the M 2 layer and the metal-based magnetic layer, and a metal-based magnetic layer. Under the layer Ti
Alternatively, the first underlayer made of a Ti alloy has Cr on it.
Alternatively, the magnetic recording medium provided with the second underlayer made of a Cr alloy is excellent in all of the magnetostatic characteristics (squareness ratio), glide height test GHT, initial friction coefficient, and CSS durability. By providing No. 5, noise can be effectively reduced.

【0057】[0057]

【効果】本発明によれば、電磁変換特性に優れ、高密度
記録に対応でき、かつ、走行性に優れ、耐久性にも優れ
た磁気記録媒体が得られる。
According to the present invention, it is possible to obtain a magnetic recording medium which is excellent in electromagnetic conversion characteristics, can be used for high density recording, and is excellent in running property and durability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例1の磁気記録媒体の概略図FIG. 1 is a schematic diagram of a magnetic recording medium of Example 1.

【図2】実施例23の磁気記録媒体の概略図FIG. 2 is a schematic diagram of a magnetic recording medium of Example 23.

【図3】実施例62の磁気記録媒体の概略図FIG. 3 is a schematic diagram of a magnetic recording medium of Example 62.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カーボン基板 2 Ti層 3 Al−10wt%Si合金層 4 アモルファスカーボン層 5 Ti層 6 Cr層 7 CoCrPt系合金磁性層 8 保護層 1 Carbon substrate 2 Ti layer 3 Al-10 wt% Si alloy layer 4 Amorphous carbon layer 5 Ti layer 6 Cr layer 7 CoCrPt-based alloy magnetic layer 8 Protective layer

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板と、この基板上に設けられたAl−
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属)系合金材料
よりなるAl−M1 層と、このAl−M1 層上に設けら
れた金属系磁性層と、前記Al−M1 層と金属系磁性層
との間に設けられた非金属のアモルファス層とを具備す
ることを特徴とする磁気記録媒体。
1. A substrate and Al-provided on the substrate.
M 1 (M 1 is a metal capable of forming a carbide) and Al-M 1 layer made of alloy material, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer on the Al-M 1 layer and the metal A magnetic recording medium comprising a non-metal amorphous layer provided between the magnetic recording medium and a system magnetic layer.
【請求項2】 基板と、この基板上に設けられた金属M
2 (M2 はカーバイドを形成し得る金属)を構成要素と
するM2 層と、このM2 層上に設けられたAl−M
1 (M1 はカーバイドを形成し得る金属、M1 はM2
同じでも異なっていても良い。)系合金材料よりなるA
l−M1 層と、このAl−M1 層上に設けられた金属系
磁性層と、前記M2 層と金属系磁性層との間に設けられ
た非金属のアモルファス層とを具備することを特徴とす
る磁気記録媒体。
2. A substrate and a metal M provided on the substrate
2 (M 2 is a metal capable of forming a carbide) and M 2 layer as a constituent element, Al-M provided in the M 2 layer on
1 (M 1 is a metal capable of forming carbide, M 1 may be the same as or different from M 2 ) A based alloy material
an I-M 1 layer, a metal-based magnetic layer provided on the Al-M 1 layer, and a non-metal amorphous layer provided between the M 2 layer and the metal-based magnetic layer. A magnetic recording medium characterized by:
【請求項3】 基板がカーボン基板であることを特徴と
する請求項1または請求項2の磁気記録媒体。
3. The magnetic recording medium according to claim 1, wherein the substrate is a carbon substrate.
【請求項4】 金属系磁性層の下にCrあるいはCr合
金からなる下地層が設けられてなることを特徴とする請
求項1または請求項2の磁気記録媒体。
4. The magnetic recording medium according to claim 1, wherein an underlayer made of Cr or a Cr alloy is provided below the metallic magnetic layer.
【請求項5】 金属系磁性層の下にTiあるいはTi合
金からなる第1下地層が、その上にCrあるいはCr合
金からなる第2下地層が設けられてなることを特徴とす
る請求項1または請求項2の磁気記録媒体。
5. A first underlayer made of Ti or a Ti alloy is provided under the metallic magnetic layer, and a second underlayer made of Cr or a Cr alloy is provided thereon. Alternatively, the magnetic recording medium according to claim 2.
【請求項6】 金属系磁性層の上に保護層が設けられて
なることを特徴とする請求項1〜請求項5いずれかの磁
気記録媒体。
6. The magnetic recording medium according to claim 1, wherein a protective layer is provided on the metallic magnetic layer.
【請求項7】 非金属のアモルファス層が、直接、Al
−M1 層上に設けられてなることを特徴とする請求項1
〜請求項6いずれかの磁気記録媒体。
7. The non-metallic amorphous layer is formed directly on the Al layer.
Claim, characterized in that thus provided for the -M 1 layer on 1
~ The magnetic recording medium according to claim 6.
【請求項8】 非金属のアモルファス層の厚さが5〜5
0nmであることを特徴とする請求項1〜請求項7いず
れかの磁気記録媒体。
8. The thickness of the non-metal amorphous layer is 5 to 5.
It is 0 nm, The magnetic recording medium in any one of Claims 1-7 characterized by the above-mentioned.
【請求項9】 非金属のアモルファス層がアモルファス
カーボン層であることを特徴とする請求項1〜請求項8
いずれかの磁気記録媒体。
9. The non-metal amorphous layer is an amorphous carbon layer.
Any magnetic recording medium.
【請求項10】 Al−M1 層の厚さが5〜100nm
であることを特徴とする請求項1〜請求項9いずれかの
磁気記録媒体。
10. The thickness of the Al-M 1 layer is 5 to 100 nm.
The magnetic recording medium according to any one of claims 1 to 9, wherein
【請求項11】 Al−M1 層は、表面に凹凸構造を有
し、下層部が連続していることを特徴とする請求項1〜
請求項10いずれかの磁気記録媒体。
11. The Al-M 1 layer has a concavo-convex structure on the surface, and the lower layer portion is continuous.
The magnetic recording medium according to claim 10.
【請求項12】 M2 層の厚さが5〜200nmである
ことを特徴とする請求項2〜請求項11いずれかの磁気
記録媒体。
12. The magnetic recording medium according to claim 2, wherein the M 2 layer has a thickness of 5 to 200 nm.
【請求項13】 M2 層は、表面に凹凸構造を有し、下
層部が連続していることを特徴とする請求項2〜請求項
12いずれかの磁気記録媒体。
13. The magnetic recording medium according to claim 2, wherein the M 2 layer has a concavo-convex structure on the surface and the lower layer portion is continuous.
【請求項14】 CrあるいはCr合金からなる下地層
の厚さが10〜200nmであることを特徴とする請求
項4〜請求項13いずれかの磁気記録媒体。
14. The magnetic recording medium according to claim 4, wherein the underlayer made of Cr or a Cr alloy has a thickness of 10 to 200 nm.
【請求項15】 TiあるいはTi合金からなる下地層
の厚さが10〜200nmであることを特徴とする請求
項5〜請求項14いずれかの磁気記録媒体。
15. The magnetic recording medium according to claim 5, wherein the underlayer made of Ti or a Ti alloy has a thickness of 10 to 200 nm.
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