JPH08179021A - ３軸磁力計の磁気測定値の補正方法 - Google Patents
３軸磁力計の磁気測定値の補正方法Info
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- JPH08179021A JPH08179021A JP33641794A JP33641794A JPH08179021A JP H08179021 A JPH08179021 A JP H08179021A JP 33641794 A JP33641794 A JP 33641794A JP 33641794 A JP33641794 A JP 33641794A JP H08179021 A JPH08179021 A JP H08179021A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁力計で、磁界強さの各成分値を測定する
際、複雑で、高精度な設備あるいは、特殊な治具を用い
ることなく、簡単且つ精度良く磁気測定値の補正をす
る。 【構成】１軸方向の磁界成分を測定できる３個のセンサ
ーを、互いにほぼ直交させて配列して成る３軸磁力計
で、Ｘ，Ｙ，Ｚの直交座標系の磁界成分を測定するに際
し、任意の位置における少なくとも９以上の異なる姿勢
でＸ，Ｙ，Ｚ３方向の出力電圧を測定する。そして、こ
の測定電圧及びその位置の全磁力の大きさを知って、そ
れぞれ各センサーの検出軸の感度、オフセット、干渉及
び直交性についての未知の補正係数を含む所定の式に入
力せしめて、これらの式を解いてその未知の補正係数を
求める。しかる後、この補正係数を含む式に所望の測定
位置におけるＸ，Ｙ，Ｚ３個のセンサーの測定電圧を入
力せしめて、その結果を直交磁界成分として出力する
際、複雑で、高精度な設備あるいは、特殊な治具を用い
ることなく、簡単且つ精度良く磁気測定値の補正をす
る。 【構成】１軸方向の磁界成分を測定できる３個のセンサ
ーを、互いにほぼ直交させて配列して成る３軸磁力計
で、Ｘ，Ｙ，Ｚの直交座標系の磁界成分を測定するに際
し、任意の位置における少なくとも９以上の異なる姿勢
でＸ，Ｙ，Ｚ３方向の出力電圧を測定する。そして、こ
の測定電圧及びその位置の全磁力の大きさを知って、そ
れぞれ各センサーの検出軸の感度、オフセット、干渉及
び直交性についての未知の補正係数を含む所定の式に入
力せしめて、これらの式を解いてその未知の補正係数を
求める。しかる後、この補正係数を含む式に所望の測定
位置におけるＸ，Ｙ，Ｚ３個のセンサーの測定電圧を入
力せしめて、その結果を直交磁界成分として出力する
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は３軸磁力計で、磁界強さ
の各成分値を測定するに際し、各検出軸の感度及びオフ
セットが異なる場合、各検出軸が磁気的に相互に正しく
直交していない場合並びに各検出軸が磁気的に干渉し合
う場合に生じる検出磁界誤差の補正方法に関するもので
ある。
の各成分値を測定するに際し、各検出軸の感度及びオフ
セットが異なる場合、各検出軸が磁気的に相互に正しく
直交していない場合並びに各検出軸が磁気的に干渉し合
う場合に生じる検出磁界誤差の補正方法に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】３軸磁力計は、図１に示すように磁界成
分検出用の３個のセンサーを機械的にお互いに直交する
よう組み合わせたものであるが、磁気上の各検出軸は必
ずしもお互いに直交していない。そこで、従来の３軸磁
力計は磁気上の各検出軸を正確に３軸直交座標系のＸ、
Ｙ、Ｚ軸に合致させる必要があった。この場合、磁気シ
ールドされた空間に正確かつ均等で発生磁界の大きさ及
び方向が既知の磁界発生コイルシステムを設け、さらに
同コイルシステムと関連した面内で回転可能な回転台に
３軸磁力計を取り付け、各検出軸の電圧の値を測定しな
がらコイルシステムの既知発生磁界を基準として各検出
軸の感度及びオフセットの調整していた。また、同シス
テムを使用し、直交性誤差を許容値内に収めるために各
センサーの配置方向を試行錯誤で調整していた。
分検出用の３個のセンサーを機械的にお互いに直交する
よう組み合わせたものであるが、磁気上の各検出軸は必
ずしもお互いに直交していない。そこで、従来の３軸磁
力計は磁気上の各検出軸を正確に３軸直交座標系のＸ、
Ｙ、Ｚ軸に合致させる必要があった。この場合、磁気シ
ールドされた空間に正確かつ均等で発生磁界の大きさ及
び方向が既知の磁界発生コイルシステムを設け、さらに
同コイルシステムと関連した面内で回転可能な回転台に
３軸磁力計を取り付け、各検出軸の電圧の値を測定しな
がらコイルシステムの既知発生磁界を基準として各検出
軸の感度及びオフセットの調整していた。また、同シス
テムを使用し、直交性誤差を許容値内に収めるために各
センサーの配置方向を試行錯誤で調整していた。
【０００３】あるいは、非磁性材料で作成した直角精度
の優れたサイコロ状の６面体及び基準台を使用し、地磁
気の中の空間上に固定した任意の直交座標系において、
その軸まわりに所定の角度で回転させて得られる任意の
５姿勢における３軸磁力計の各検出軸の出力電圧を測定
し、この測定値から求めた各検出軸の感度、オフセット
及び直交性についての補正係数で所望の測定位置におけ
る磁気測定値を補正していた。（特開平４−２５９８７
２）
の優れたサイコロ状の６面体及び基準台を使用し、地磁
気の中の空間上に固定した任意の直交座標系において、
その軸まわりに所定の角度で回転させて得られる任意の
５姿勢における３軸磁力計の各検出軸の出力電圧を測定
し、この測定値から求めた各検出軸の感度、オフセット
及び直交性についての補正係数で所望の測定位置におけ
る磁気測定値を補正していた。（特開平４−２５９８７
２）
【０００４】
【発明が解決しようとしている課題】ところが、上述の
ように、これまでの方法では、複雑で高精度な設備ある
いは特殊な治具が必要な上、多大な調整及び測定時間を
要していた。また、磁界発生コイルシステムあるいはサ
イコロ状の６面体自体にも誤差を含むため精度確保が難
しいという欠点があった。そこで、本発明の目的とする
ところは、複雑で高精度な設備あるいは特殊な治具を用
いることなく、簡単かつ精度良く３軸磁力計を補正する
方法を提供することにある。
ように、これまでの方法では、複雑で高精度な設備ある
いは特殊な治具が必要な上、多大な調整及び測定時間を
要していた。また、磁界発生コイルシステムあるいはサ
イコロ状の６面体自体にも誤差を含むため精度確保が難
しいという欠点があった。そこで、本発明の目的とする
ところは、複雑で高精度な設備あるいは特殊な治具を用
いることなく、簡単かつ精度良く３軸磁力計を補正する
方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】地磁気の中で空間上に固
定した任意の直交座標系に於いて、できる限りいろいろ
な方向（少なくとも９方向以上）に向けて得られる任意
の姿勢に於ける３軸磁力計の各検出軸の出力電圧を測定
する。この測定電圧及びその位置の全磁力の大きさを知
って、それぞれ各センサーの検出軸の感度、オフセッ
ト、干渉及び直交性についての未知の補正係数を含む下
記の数３式に入力せしめて、これらの式を解いてその未
知の補正係数を求め、しかる後、この補正係数を含む下
記の数４式に所望の測定位置におけるＸ，Ｙ，Ｚ３個の
センサーの測定電圧を入力せしめて、その結果を直交磁
界成分として出力することを特徴とする。なお、上述の
全磁力は別の全磁力測定器で測定すればよいが、全磁力
の変動が少なく概略値が既に判っている場合は、その値
を使用しても３軸磁力計の磁気測定値の補正は可能であ
る。但し、例えば全磁力の真の値が50000nTである場合
に47000nTと概略値を使用した場合は各成分値が一様に4
7000/50000倍になる。
定した任意の直交座標系に於いて、できる限りいろいろ
な方向（少なくとも９方向以上）に向けて得られる任意
の姿勢に於ける３軸磁力計の各検出軸の出力電圧を測定
する。この測定電圧及びその位置の全磁力の大きさを知
って、それぞれ各センサーの検出軸の感度、オフセッ
ト、干渉及び直交性についての未知の補正係数を含む下
記の数３式に入力せしめて、これらの式を解いてその未
知の補正係数を求め、しかる後、この補正係数を含む下
記の数４式に所望の測定位置におけるＸ，Ｙ，Ｚ３個の
センサーの測定電圧を入力せしめて、その結果を直交磁
界成分として出力することを特徴とする。なお、上述の
全磁力は別の全磁力測定器で測定すればよいが、全磁力
の変動が少なく概略値が既に判っている場合は、その値
を使用しても３軸磁力計の磁気測定値の補正は可能であ
る。但し、例えば全磁力の真の値が50000nTである場合
に47000nTと概略値を使用した場合は各成分値が一様に4
7000/50000倍になる。
【数３】 但し、x1, x2, ・・・・・, x9：未知の補正係数 vxi,vyi,vzi：測定電圧 htti：全磁力
【数４】 但し、hrx,hry,hrz：補正された直交磁界成分 vx,vy,vz：所望の位置における測定電圧
【０００６】
【実施例】本発明を図面に基づいて具体的に説明する
と、図２において、１は３軸磁力計で、この磁力計は、
図１に示すような１軸方向の磁界成分値を測定できる３
個のセンサー１ａが、それぞれ直角座標系のＸ、Ｙ、Ｚ
軸に合致するようにお互いにほぼ直交するように構成さ
れていて、タ−ンテ−ブル６（後述する）に着脱自在に
取付られるものである。２は前記３軸磁力計１で磁気を
測定する時、その姿勢変更用の治具で、該治具は非磁性
材料からなり、垂直方向の姿勢を変更する門型の垂直フ
レーム４及び傾斜角保持板７と、垂直フレーム４と直角
な平面内での姿勢を変更するタ−ンテ−ブル６及び回転
角目盛板５とから構成されている。即ち、水平方向に長
方形状の基盤となる水平フレーム３が配置され、この水
平フレーム３には、門型の垂直フレーム４が垂直方向前
後に回動可能にピン４ａによって軸支されている。一
方、この門型の垂直フレーム４の上部には、円周方向に
目盛が刻設された回転角目盛板５が固定されている。更
に、この回転角目盛板５の上にターンテーブル６が垂直
フレーム４に垂直な平面内で回転自在に支持されてい
る。又、垂直フレーム４の側面に穿設された孔と傾斜角
保持板７に穿設された孔とを貫通してピン４ｂが取り付
けられ垂直フレーム４を所定の角度に固定するように構
成されている。そして、垂直フレーム４の回動による傾
斜角度と、ターンテーブル６の回転角度の組み合わせ
で、３軸磁力計１が、任意の姿勢で、その位置における
磁気を安定して測定できるように構成されている。
と、図２において、１は３軸磁力計で、この磁力計は、
図１に示すような１軸方向の磁界成分値を測定できる３
個のセンサー１ａが、それぞれ直角座標系のＸ、Ｙ、Ｚ
軸に合致するようにお互いにほぼ直交するように構成さ
れていて、タ−ンテ−ブル６（後述する）に着脱自在に
取付られるものである。２は前記３軸磁力計１で磁気を
測定する時、その姿勢変更用の治具で、該治具は非磁性
材料からなり、垂直方向の姿勢を変更する門型の垂直フ
レーム４及び傾斜角保持板７と、垂直フレーム４と直角
な平面内での姿勢を変更するタ−ンテ−ブル６及び回転
角目盛板５とから構成されている。即ち、水平方向に長
方形状の基盤となる水平フレーム３が配置され、この水
平フレーム３には、門型の垂直フレーム４が垂直方向前
後に回動可能にピン４ａによって軸支されている。一
方、この門型の垂直フレーム４の上部には、円周方向に
目盛が刻設された回転角目盛板５が固定されている。更
に、この回転角目盛板５の上にターンテーブル６が垂直
フレーム４に垂直な平面内で回転自在に支持されてい
る。又、垂直フレーム４の側面に穿設された孔と傾斜角
保持板７に穿設された孔とを貫通してピン４ｂが取り付
けられ垂直フレーム４を所定の角度に固定するように構
成されている。そして、垂直フレーム４の回動による傾
斜角度と、ターンテーブル６の回転角度の組み合わせ
で、３軸磁力計１が、任意の姿勢で、その位置における
磁気を安定して測定できるように構成されている。
【０００７】今、３軸磁力計１で、任意の位置における
磁気を測定するに際し、先ず、治具２の水平フレーム３
をその長手方向が図２に示すように、概ね北に向くよう
に配置する。次いで、ターンテーブル６に３軸磁力計１
を取り付ける。この時、３軸磁力計１のＸ軸を北向きに
して設置する。次に、垂直フレーム４を北向き水平面か
ら３０度傾ける。この状態で、図 ３に示すように、タ
ーンテーブル６を３０度づつ回転した位置毎（０〜３３
０゜）での３軸磁力計１にかかる磁界を測定する。 次
いで、垂直フレーム４を、１５０度になるまで３０度回
転した位置毎で、ターンテーブル６を上述のように３０
度づつ回転させて、合計９以上の異なる姿勢で、（この
場合は、６０姿勢となる）その都度、その位置における
磁気を測定する作業を繰り返す。
磁気を測定するに際し、先ず、治具２の水平フレーム３
をその長手方向が図２に示すように、概ね北に向くよう
に配置する。次いで、ターンテーブル６に３軸磁力計１
を取り付ける。この時、３軸磁力計１のＸ軸を北向きに
して設置する。次に、垂直フレーム４を北向き水平面か
ら３０度傾ける。この状態で、図 ３に示すように、タ
ーンテーブル６を３０度づつ回転した位置毎（０〜３３
０゜）での３軸磁力計１にかかる磁界を測定する。 次
いで、垂直フレーム４を、１５０度になるまで３０度回
転した位置毎で、ターンテーブル６を上述のように３０
度づつ回転させて、合計９以上の異なる姿勢で、（この
場合は、６０姿勢となる）その都度、その位置における
磁気を測定する作業を繰り返す。
【０００８】＜演算式の説明＞ところで、ここで図４に
示す如く、３軸磁力計１に固定する直交座標系XoYoZoを
次のように定める。即ち、Xo軸を検出軸Xsに一致させ、
検出軸Xsと検出軸Ysを含む面内にYoを定め、Zo軸を右手
系直交座標系となるように定める。この直交座標系XoYo
Zoに於ける３軸磁力計の各検出軸（Xs,Ys,Zs）の方向余
弦をそれぞれXs(1 0 0)、Ys(a21 a22 0)、Zs(a31 a32 a
33)とする。全磁力httの直交座標系XoYoZoに於ける各軸
成分を(hox hoy hoz)、その時に３軸磁力計の各検出軸
に加わる磁界成分を(hsx_true hsy_true hsz_true)とす
れば、次式が成り立つ。
示す如く、３軸磁力計１に固定する直交座標系XoYoZoを
次のように定める。即ち、Xo軸を検出軸Xsに一致させ、
検出軸Xsと検出軸Ysを含む面内にYoを定め、Zo軸を右手
系直交座標系となるように定める。この直交座標系XoYo
Zoに於ける３軸磁力計の各検出軸（Xs,Ys,Zs）の方向余
弦をそれぞれXs(1 0 0)、Ys(a21 a22 0)、Zs(a31 a32 a
33)とする。全磁力httの直交座標系XoYoZoに於ける各軸
成分を(hox hoy hoz)、その時に３軸磁力計の各検出軸
に加わる磁界成分を(hsx_true hsy_true hsz_true)とす
れば、次式が成り立つ。
【数５】
【０００９】さて、実際に３軸磁力計１の各検出軸で測
定される磁界成分(hsx hsy hsz)は、(hsx_true hsy_tru
e hsz_true)のみでなく、各検出軸間との干渉があり、
干渉係数をpij（j軸の磁界成分hsjがi軸に対して+pijx
ｈｓｊだけ加わる干渉が生じる。）とすれば、次式が成
り立つ。
定される磁界成分(hsx hsy hsz)は、(hsx_true hsy_tru
e hsz_true)のみでなく、各検出軸間との干渉があり、
干渉係数をpij（j軸の磁界成分hsjがi軸に対して+pijx
ｈｓｊだけ加わる干渉が生じる。）とすれば、次式が成
り立つ。
【数６】 また、各検出軸の出力電圧(vx vy vz)は、実際に各軸に
加わっている磁界成分(hsx hsy hsz)と線形関係にあ
り、各磁界成分が零の時のオフセット出力電圧を(voffxvoffy
voffz)と表せば、次式が得られる。 但し、gvx,gvy,g
vzは出力電圧に対する磁界感度(ｎＴ/volt)である。
加わっている磁界成分(hsx hsy hsz)と線形関係にあ
り、各磁界成分が零の時のオフセット出力電圧を(voffxvoffy
voffz)と表せば、次式が得られる。 但し、gvx,gvy,g
vzは出力電圧に対する磁界感度(ｎＴ/volt)である。
【数７】 数式５〜数式７より
【数８】
【数９】 が得られる。ここで、数式８の意味を考えてみる。 数
式９の右辺[v-voff]に単位ヘ゛クトルを代入すると、次の3個
の式が得られる。
式９の右辺[v-voff]に単位ヘ゛クトルを代入すると、次の3個
の式が得られる。
【数１０】
【数１１】
【数１２】
【００１０】これより、明らかに(bo11 bo21 bo31)、(b
o12 bo22 bo32)、及び(bo13 bo23 bo33)は、それぞれ図
４で述べられている直交座標系XoYoZoに於ける成分で表
された3個のヘ゛クトルを表している。このヘ゛クトルをBx(bo11 b
o21 bo31)、By(bo12 bo22 bo32)、Bz(bo13 bo23 bo33)
と表し、図４にこれを示す。
o12 bo22 bo32)、及び(bo13 bo23 bo33)は、それぞれ図
４で述べられている直交座標系XoYoZoに於ける成分で表
された3個のヘ゛クトルを表している。このヘ゛クトルをBx(bo11 b
o21 bo31)、By(bo12 bo22 bo32)、Bz(bo13 bo23 bo33)
と表し、図４にこれを示す。
【００１１】ここで、再びこれまでとは異なる直交座標
軸XrYrZrを次のように定める。図５に示す如く、Xr軸を
Bxの方向と一致させ、かつYr軸をBx及びByを含む面内に
定め、Zr軸を右手系直交座標系となるように定める。こ
の直交座標系XrYrZrに於ける全磁力httの成分を(hrx,hr
y,hrz)と表すとすれば、次式が得られる。
軸XrYrZrを次のように定める。図５に示す如く、Xr軸を
Bxの方向と一致させ、かつYr軸をBx及びByを含む面内に
定め、Zr軸を右手系直交座標系となるように定める。こ
の直交座標系XrYrZrに於ける全磁力httの成分を(hrx,hr
y,hrz)と表すとすれば、次式が得られる。
【数１３】 ここで、次の9個の変数x1,x2,x3,...,x9を導入し、
【数１４】 とし、数式１２に代入すれば、
【数１５】 hrx, hry, hrzは定義より明らかに、全磁界httの直交座
標成分であるから、
標成分であるから、
【数１６】 従って、求める最小化評価計算式は、
【数１７】 即ち、
【数１８】 均等磁界httの中で3軸磁力計をできる限りいろいろな方
向（少なくとも変数が9個あるので、9以上の方向）に向
けて、その時の各検出軸の出力電圧を記録し、その値を
数式１に代入し、その方程式群を非線形最小自乗法など
を用いて解けばよい。
向（少なくとも変数が9個あるので、9以上の方向）に向
けて、その時の各検出軸の出力電圧を記録し、その値を
数式１に代入し、その方程式群を非線形最小自乗法など
を用いて解けばよい。
【００１２】例えば、全磁力の真の値が４７４００nＴ
の一様な磁界の中での、図６のような従来の方法による
各軸磁界成分Ｈｘ’、Ｈｙ’、Ｈｚ’の検出値と全磁力
値Ｈｔ’及び、その変動値△Ｈｔ’を第１表に、さらに
図７のような本発明を用いた各軸磁界成分Ｈｘ、Ｈｙ、
Ｈｚの検出値と全磁力値Ｈｔ、及びその変動値△Ｈｔを
第２表に示す。ここで、３軸磁力計の各軸が完全に直交
していれば同磁力計により検出された全磁力値はどのよ
うな姿勢で測定しても、一定の値を示す。（変動値が零
となる）つまり、全磁力の変動が小さいほど直交精度が
高いといえ、本発明を用いることにより、全磁力の変動
が補正前は６９３nＴであったものが、補正後は、１６n
Ｔとなり約４３倍の精度の向上と成っている。
の一様な磁界の中での、図６のような従来の方法による
各軸磁界成分Ｈｘ’、Ｈｙ’、Ｈｚ’の検出値と全磁力
値Ｈｔ’及び、その変動値△Ｈｔ’を第１表に、さらに
図７のような本発明を用いた各軸磁界成分Ｈｘ、Ｈｙ、
Ｈｚの検出値と全磁力値Ｈｔ、及びその変動値△Ｈｔを
第２表に示す。ここで、３軸磁力計の各軸が完全に直交
していれば同磁力計により検出された全磁力値はどのよ
うな姿勢で測定しても、一定の値を示す。（変動値が零
となる）つまり、全磁力の変動が小さいほど直交精度が
高いといえ、本発明を用いることにより、全磁力の変動
が補正前は６９３nＴであったものが、補正後は、１６n
Ｔとなり約４３倍の精度の向上と成っている。
【表１】
【表２】
【００１３】
【効果】本発明は上述のように、複雑で高精度な設備あ
るいは特殊な治具を必要とせずまた組み立てられた３軸
磁力計の調整をすることなしに、地磁気の中で、できる
限りいろいろな方向（少なくとも９方向以上）に向けて
得られる任意の姿勢に於ける３軸磁力計の各検出軸の出
力電圧を測定するのみで、極めて簡単で精度の良い直交
軸磁界成分値を得ることができ、また、３軸磁力計の動
揺に対しても全磁力値の変動は微小に抑制できる効果を
奏する。
るいは特殊な治具を必要とせずまた組み立てられた３軸
磁力計の調整をすることなしに、地磁気の中で、できる
限りいろいろな方向（少なくとも９方向以上）に向けて
得られる任意の姿勢に於ける３軸磁力計の各検出軸の出
力電圧を測定するのみで、極めて簡単で精度の良い直交
軸磁界成分値を得ることができ、また、３軸磁力計の動
揺に対しても全磁力値の変動は微小に抑制できる効果を
奏する。
【図１】３軸磁力計の検出軸を表す図である。
【図２】測定に用いる道具の説明図である。
【図３】磁気測定要領の説明図である。
【図４】空間固定座標系ＸoＹoＺoの説明図である。
【図５】空間固定座標系ＸrＹrＺrの説明図である。
【図６】従来の方法により各軸磁界成分値及び全磁力値
を検出するブロック図である。
を検出するブロック図である。
【図７】本発明を用い各軸磁界成分値及び全磁力値を検
出するブロック図である。
出するブロック図である。
１ ３軸磁力計 １ａ センサー ２ 測定用治具 ４ 垂直フレーム ５ 回転角目盛板 ６ タ−ンテ−ブル ７ 傾斜角保持板
Claims (1)
- 【請求項１】 １軸方向の磁界成分を測定できる３個の
センサーを、互いにほぼ直交させて配列して成る３軸磁
力計で、Ｘ，Ｙ，Ｚの直交座標系の磁界成分を測定する
に際し、任意の位置における少なくとも９以上の異なる
姿勢でＸ，Ｙ，Ｚ３方向の出力電圧を測定し、この測定
電圧及びその位置の全磁力の大きさを知って、それぞれ
各センサーの検出軸の感度、オフセット、干渉及び直交
性についての未知の補正係数を含む下記の数１式に入力
せしめて、これらの式を解いてその未知の補正係数を求
め、しかる後、この補正係数を含む下記の数２式に所望
の測定位置におけるＸ，Ｙ，Ｚ３個のセンサーの測定電
圧を入力せしめて、その結果を直交磁界成分として出力
することを特徴とする３軸磁力計の磁気測定値の補正方
法。 【数１】 但し、x1, x2, ・・・・・, x9：未知の補正係数 vxi,vyi,vzi：測定電圧 htti：全磁力 【数２】 但し、hrx,hry,hrz：補正された直交磁界成分 vx,vy,vz：所望の位置における測定電圧
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33641794A JPH08179021A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | ３軸磁力計の磁気測定値の補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33641794A JPH08179021A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | ３軸磁力計の磁気測定値の補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08179021A true JPH08179021A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18298916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33641794A Pending JPH08179021A (ja) | 1994-12-22 | 1994-12-22 | ３軸磁力計の磁気測定値の補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08179021A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106560721A (zh) * | 2015-09-30 | 2017-04-12 | 苹果公司 | 磁力计传感器组件的高效测试 |
| CN111044942A (zh) * | 2018-10-11 | 2020-04-21 | Tdk株式会社 | 磁传感器装置 |
| CN113325353A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-08-31 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种磁强计空间姿态标定方法及系统 |
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1994
- 1994-12-22 JP JP33641794A patent/JPH08179021A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106560721A (zh) * | 2015-09-30 | 2017-04-12 | 苹果公司 | 磁力计传感器组件的高效测试 |
| CN111044942A (zh) * | 2018-10-11 | 2020-04-21 | Tdk株式会社 | 磁传感器装置 |
| CN111044942B (zh) * | 2018-10-11 | 2022-08-05 | Tdk株式会社 | 磁传感器装置 |
| CN113325353A (zh) * | 2021-07-09 | 2021-08-31 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种磁强计空间姿态标定方法及系统 |
| CN113325353B (zh) * | 2021-07-09 | 2022-06-21 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种磁强计空间姿态标定方法及系统 |
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