JPH08160006A - Defect detecting method for steel plate - Google Patents

Defect detecting method for steel plate

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Publication number
JPH08160006A
JPH08160006A JP6297089A JP29708994A JPH08160006A JP H08160006 A JPH08160006 A JP H08160006A JP 6297089 A JP6297089 A JP 6297089A JP 29708994 A JP29708994 A JP 29708994A JP H08160006 A JPH08160006 A JP H08160006A
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JP
Japan
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defect
detected
circuit
defects
steel plate
Prior art date
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Pending
Application number
JP6297089A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshibumi Kodama
俊文 児玉
Hajime Takada
一 高田
Fumihiko Ichikawa
文彦 市川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp filed Critical Kawasaki Steel Corp
Priority to JP6297089A priority Critical patent/JPH08160006A/en
Publication of JPH08160006A publication Critical patent/JPH08160006A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To discriminate a surface defect and an inclusion defect by counting the number of detected defects at the same position in the lateral direction of a steel plate with a reference length preset in a traveling direction, and judging whether the counted value satisfies a predetermined equation or not. CONSTITUTION: A defect physical property discriminator 151 has a threshold value circuit 22 which inputs a defect signal V from a calculator 141 to generate a pulse when the signal V exceeds a preset threshold value, a counter 23 for counting the pulses from a pulse generator 104, a counter 24 for counting the pulses generated from the circuit 22, a setter 25 for previously setting the mean number N0 =L/r of the defects sequentially generated at an interval (r) within the length L, and a comparator 26 for comparing the counted value N of the counter 24 with the set value N0 of setter 25. The output pulses of the circuit 22 is supplied to the counters 23, 24. When the value N=the number N0 is satisfied, the surface defect is decided and when the number N≠ the number N0 is satisfied, the inclusion defect is judged to be detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、鋼板の表面疵や非金
属介在物等の欠陥を、通板状態のオンラインで自動的に
検出する鋼板の欠陥検出方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a steel sheet defect detection method for automatically detecting defects such as surface flaws and non-metallic inclusions on a steel sheet online in a threaded state.

【0002】[0002]

【従来の技術】鋼板の非破壊検査法の一つとして知られ
ている漏洩磁束探傷試験は、「非破壊検査ハンドブッ
ク」(日本非破壊検査協会編、日刊工業新聞社発行)第
517〜534頁にも記載されているように、金属材料
中のブローホール等の表面欠陥や非金属介在物を探傷す
る有力な手法の一つであり、例えば、特開昭57−10
8656号公報に開示されているように、薄鋼板の製造
時のオンライン探傷にも用いられている。
2. Description of the Related Art The leakage magnetic flux flaw detection test known as one of the nondestructive inspection methods for steel sheets is described in "Nondestructive Inspection Handbook" (edited by the Japan Nondestructive Inspection Society, published by Nikkan Kogyo Shimbun), pages 517 to 534. As described in JP-A-57-10, it is one of the effective methods for detecting surface defects such as blowholes in metal materials and non-metallic inclusions.
As disclosed in Japanese Patent No. 8656, it is also used for online flaw detection at the time of manufacturing a thin steel sheet.

【0003】図8は、従来広く用いられている薄鋼板の
欠陥検出装置の回路構成を示すものである。この従来の
欠陥検出装置では、移動する薄鋼板(図示せず)を磁化
する位置に、薄鋼板と対向してその幅方向に多数(数1
00〜1000程度)の磁気センサ811 ,812 ,・
・・,81n を配置し、その各々(チャンネル)の磁気
センサにより薄鋼板の漏洩磁束を検出して、その各磁気
センサの出力すなわちチャンネル出力を、対応する増幅
器821 ,822 ,・・・,82n で増幅した後、バン
ドパスフィルタ(BPF)831 ,832 ,・・・,8
n に供給して欠陥部信号の周波数帯域以外のノイズ成
分を除去している。
FIG. 8 shows a circuit configuration of a thin steel sheet defect detecting apparatus which has been widely used in the past. In this conventional defect detection device, a large number (number 1
Magnetic sensors 81 1 , 81 2 , ...
.., 81 n are arranged, the magnetic flux of the thin steel plate is detected by the magnetic sensor of each (channel), and the output of each magnetic sensor, that is, the channel output, is output to the corresponding amplifier 82 1 , 82 2 ,. After amplification by 82 n , band pass filters (BPF) 83 1 , 83 2 , ..., 8
The noise component other than the frequency band of the defective portion signal is removed by supplying it to 3 n .

【0004】バンドパスフィルタ831 ,832 ,・・
・,83n は、通常、コンデンサや抵抗器およびインダ
クタ、さらに演算増幅器を組み合わせたアナログ回路で
構成され、これらバンドパスフィルタ831 ,832
・・・,83n の出力は、必要に応じて対応する整流回
路841 ,842 ,・・・,84n で正符号のみの信号
に変換して演算回路85に供給し、ここで各チャンネル
の出力を予め決められたブロック毎に集合(この処理
は、後段でのチャンネル数を間引くためで、必ずしも必
要ではない)して閾値回路86に供給し、該閾値回路8
6において、演算回路85の出力と、予め設定した閾値
とを比較して、演算回路85の出力が閾値を越えたとき
に、欠陥検出信号を出力して警報を発するようにしてい
る。
Bandpass filters 83 1 , 83 2 , ...
, 83 n are usually composed of analog circuits in which capacitors, resistors, inductors, and operational amplifiers are combined, and these bandpass filters 83 1 , 83 2 ,
The output of 83 n is converted into a signal with only a positive sign by the corresponding rectifying circuits 84 1 , 84 2 , ..., 84 n as necessary and is supplied to the arithmetic circuit 85. The outputs of the channels are collected for each predetermined block (this process is not necessary because the number of channels in the subsequent stage is thinned out) and supplied to the threshold circuit 86.
6, the output of the arithmetic circuit 85 is compared with a preset threshold value, and when the output of the arithmetic circuit 85 exceeds the threshold value, a defect detection signal is output and an alarm is issued.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の欠陥検出装置においては、鋼板がロールマーク
等の表面欠陥を有する場合でも、それらを全て介在物欠
陥として検出してしまうため、製品の歩留りを大幅に低
下させてしまうという問題があると共に、介在物発生状
況から製造工程に遡って対策を採る際に、誤った対策が
講じられ、これがため操業の安定性が阻害されるおそれ
がある。
However, in the above-mentioned conventional defect detecting apparatus, even if the steel sheet has surface defects such as roll marks, all of them are detected as inclusion defects, so that the product yield is high. In addition to the problem of significantly lowering the production efficiency, erroneous countermeasures may be taken when the countermeasures are taken retrospectively from the generation state of inclusions to the manufacturing process, and this may impair the stability of operation.

【0006】この発明の目的は、上述した従来の問題点
を解消し、ロールマーク等の表面欠陥と、介在物欠陥と
を弁別して検出できる鋼板の欠陥検出方法を提供しよう
とするものである。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a steel sheet defect detection method capable of discriminating between surface defects such as roll marks and inclusion defects and detecting them.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁
気センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥
を検出するにあたり、走行方向に予め設定した基準長さ
L内で、前記鋼板の幅方向の同一位置での欠陥の検出個
数を計数し、その計数値Nが、予め設定した順次の表面
欠陥の間隔をrとするとき、N=L/rのときは、前記
検出した欠陥を周期性の表面欠陥と判別し、N≠L/r
のときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出すること
を特徴とするものである。
In order to achieve the above object, in the present invention, a magnetic flux generated from a running steel plate is detected by a magnetic sensor, and a defect of the steel plate is detected based on an output signal from the magnetic sensor. When the number of detected defects at the same position in the width direction of the steel plate is counted within the reference length L preset in the direction, and the count value N is the preset interval of the surface defects as r , N = L / r, the detected defect is discriminated as a periodic surface defect, and N ≠ L / r
In this case, the defect is distinguished from the inclusion defect and detected.

【0008】即ち、本発明は、走行中の鋼板から生じる
漏洩磁束を磁気センサで検出し、その出力信号に基づい
て鋼板の欠陥を検出するにあたり、走行方向に予め設定
した基準長さL内で、前記鋼板の幅方向の同一位置での
欠陥の検出個数を計数し、その計数値Nが、予め設定し
た順次の表面欠陥の間隔をr、許容値をΔN(但し、Δ
Nは0以上の整数)とするとき、 |N−L/r|≦ΔN を満足するときは、前記検出した欠陥を周期性の表面欠
陥と判別し、 |N−L/r|>ΔN を満足するときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出
することを特徴とするものである。
That is, according to the present invention, when the magnetic flux generated from the running steel plate is detected by the magnetic sensor and the defect of the steel plate is detected based on the output signal thereof, within the reference length L preset in the running direction. , The number of defects detected at the same position in the width direction of the steel sheet is counted, and the count value N is a preset interval of surface defects r and an allowable value ΔN (however, ΔN
N is an integer of 0 or more), and when | N−L / r | ≦ ΔN is satisfied, the detected defect is discriminated as a periodic surface defect, and | N−L / r |> ΔN When satisfied, the defect is distinguished from the inclusion defect and detected.

【0009】さらに、本発明は、走行中の鋼板から生じ
る漏洩磁束を磁気センサで検出し、その出力信号に基づ
いて鋼板の欠陥を検出するにあたり、走行方向に予め設
定した基準長さ毎に、前記鋼板の幅方向の同一位置での
欠陥の検出個数を計数し、その順次の基準長さにおける
計数値が、零と異なる同一値の場合は、前記検出した欠
陥を周期性の表面欠陥と判別し、異なる場合は、該欠陥
を介在物欠陥と判別して検出することを特徴とするもの
である。
Further, according to the present invention, the magnetic flux generated from the running steel plate is detected by the magnetic sensor, and the defect of the steel plate is detected based on the output signal thereof. The detected number of defects at the same position in the width direction of the steel sheet is counted, and when the count value in the sequential reference length is the same value different from zero, the detected defect is determined as a periodic surface defect. However, if they are different, the defect is distinguished from the inclusion defect and detected.

【0010】[0010]

【作用】鋼板にロールマークが発生する場合には、鋼板
の同一幅位置に、ロール周長に相当する距離を隔てて多
数の表面欠陥が等間隔に並ぶことになるが、介在物欠陥
の場合には、ロールマークのように周期的に発生するこ
とは殆どない。したがって、鋼板の同じ幅位置で検出さ
れる欠陥検出信号の周期性を調べれば、検出した欠陥が
ロールマークか否かを判別することが可能となる。
When a roll mark is generated on the steel sheet, a large number of surface defects are arranged at equal intervals at the same width position of the steel sheet with a distance corresponding to the roll circumference. Is unlikely to occur periodically like a roll mark. Therefore, by examining the periodicity of the defect detection signal detected at the same width position of the steel plate, it becomes possible to determine whether or not the detected defect is a roll mark.

【0011】ここで、ロールマークを発生させるロール
は、その製造工程を追跡すれば概ね特定でき、そのロー
ルから発生する順次の表面欠陥の間隔rを予め設定する
ことができる。したがって、第1の発明におけるよう
に、走行方向に予め設定した基準長さL内で、鋼板の幅
方向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、その計数
値Nと、基準長さL内で想定される予め設定した表面欠
陥の平均発生個数L/rとを比較すれば、検出した欠陥
がロールマークか否かを判別して検出することが可能と
なる。
Here, the roll for generating the roll mark can be generally specified by following the manufacturing process thereof, and the interval r between the successive surface defects generated from the roll can be set in advance. Therefore, as in the first invention, the number of detected defects at the same position in the width direction of the steel plate is counted within the reference length L preset in the traveling direction, and the count value N and the reference length L are counted. It is possible to determine whether or not the detected defect is a roll mark by comparing it with a preset average number L / r of surface defects generated in the above.

【0012】また、第2の発明におけるように、走行方
向に予め設定した基準長さL内で、鋼板の幅方向の同一
位置での欠陥の検出個数を計数し、その計数値Nと、基
準長さL内で想定される予め設定した表面欠陥の平均発
生個数L/rとの差の絶対値を求め、その差の絶対値と
予め設定した許容値ΔN(但し、ΔNは自然数)とを比
較すれば、検出した欠陥がロールマークか否かを判別し
て検出することが可能となる。
Further, as in the second invention, the number of detected defects at the same position in the width direction of the steel plate is counted within the reference length L preset in the traveling direction, and the count value N and the reference value are counted. The absolute value of the difference between the preset average number L / r of surface defects generated within the length L is calculated, and the absolute value of the difference and the preset allowable value ΔN (where ΔN is a natural number) are calculated. By comparison, it becomes possible to determine and detect whether or not the detected defect is a roll mark.

【0013】さらに、第3の発明におけるように、走行
方向に予め設定した基準長さ毎に、幅方向の同一位置で
の欠陥の検出個数を計数し、その順次の基準長さにおけ
る計数値を比較すれば、検出した欠陥がロールマークか
否かを判別して検出することが可能となる。
Further, as in the third aspect, the number of detected defects at the same position in the width direction is counted for each reference length preset in the traveling direction, and the count value in the sequential reference length is calculated. By comparison, it becomes possible to determine and detect whether or not the detected defect is a roll mark.

【0014】[0014]

【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。図1は、この発明を実施する鋼板の欠
陥検出装置の一例の構成を示すものである。この実施例
は、ライン上を走行する鋼板101の表面欠陥や非金属
介在物等の欠陥を、通板状態のオンラインで自動的に検
出するものである。鋼板101の走行ラインの所定の位
置には、鋼板101と対向して磁化装置100を配置す
ると共に、この磁化装置100と鋼板101を介して対
向して多数の磁気センサ111 ,112 ,・・・,11
n を配置する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of an example of a steel sheet defect detecting apparatus embodying the present invention. In this embodiment, a surface defect of a steel plate 101 running on a line and a defect such as a non-metallic inclusion are automatically detected online in a threaded state. At a predetermined position of the traveling line of the steel plate 101, the magnetizing device 100 is arranged so as to face the steel plate 101, and a large number of magnetic sensors 11 1 , 11 2 , ... Are opposed to the magnetizing device 100 via the steel plate 101.・ ・ 、 11
Place n .

【0015】磁化装置100は、鋼板101を磁化する
ようにその幅方向に配置する。この磁化装置100は、
少なくとも磁気センサ111 ,112 ,・・・,11n
を配置する検出部分において鋼板101を磁化し得るよ
うに、例えば電磁石や、他の公知の磁化手段をもって構
成する。また、磁気センサ111 ,112 ,・・・,1
n は、鋼板101の漏洩磁束を検出し得るように、鋼
板101の幅方向に配置する。これら磁気センサ1
1 ,112 ,・・・,11n は、磁気ダイオード、磁
気抵抗素子、ホール素子、磁気飽和型センサ、微小コイ
ル等の任意のものをもって構成する。なお、各磁気セン
サは、鋼板101の幅方向寸法にもよるが、微小な欠陥
が鋼板101の幅方向のどの部位にあっても、漏れなく
探傷し得るように、好適には、数mm程度の大きさのも
のを用いて、鋼板101の幅方向に多数並べて配置す
る。
The magnetizing device 100 is arranged in the width direction so as to magnetize the steel plate 101. This magnetizing device 100
At least the magnetic sensors 11 1 , 11 2 , ..., 11 n
In order to magnetize the steel plate 101 in the detection portion where is arranged, for example, an electromagnet or other known magnetizing means is used. Further, the magnetic sensors 11 1 , 11 2 , ..., 1
1 n are arranged in the width direction of the steel plate 101 so that the leakage magnetic flux of the steel plate 101 can be detected. These magnetic sensors 1
Each of the reference numerals 1 1 , 11 2 , ..., 11 n is composed of a magnetic diode, a magnetoresistive element, a Hall element, a magnetic saturation sensor, a micro coil, or the like. It should be noted that, although it depends on the widthwise dimension of the steel sheet 101, each magnetic sensor is preferably about several mm so that flaws can be flawlessly detected at any position in the widthwise direction of the steel sheet 101, regardless of the widthwise dimension. A large number of sheets are arranged in the width direction of the steel plate 101.

【0016】磁気センサ111 ,112 ,・・・,11
n の各出力信号(チャンネル出力)は、対応する増幅器
121 ,122 ,・・・,12n で適切な電圧範囲に増
幅して信号処理回路131 ,132 ,・・・,13n
供給し、ここで欠陥部信号の周波数帯域以外のノイズ成
分を除去した後、演算回路141 ,142 ,・・・,1
n に供給して欠陥信号を検出する。これら演算回路1
1 ,142 ,・・・,14n の各出力は、対応する欠
陥性状判別回路151 ,152 ,・・・,15 n に供給
し、ここでパルス発生装置104からの鋼板101の走
行速度に比例したパルスに同期して、検出した欠陥信号
の性状を判別し、その結果を表示装置103に表示す
る。
Magnetic sensor 111, 112・ ・ ・ ・ ・ ・ 11
nEach output signal (channel output) of the corresponding amplifier
121, 122・ ・ ・ ・ ・ ・ 12nThe appropriate voltage range.
Width and signal processing circuit 131, 132, ・ ・ ・, 13nTo
The noise signal outside the frequency band of the defective signal is supplied.
After removing the minute, the arithmetic circuit 141, 142・ ・ ・ ・ ・ ・ 1
4nTo detect the defective signal. These arithmetic circuits 1
41, 142・ ・ ・ ・ ・ ・ 14nEach output of
Falling property determination circuit 151, 152・ ・ ・ ・ ・ ・ 15 nSupply to
Then, the running of the steel plate 101 from the pulse generator 104 is performed here.
Detected defect signal in synchronization with pulse proportional to line speed
Discriminates the property of the, and displays the result on the display device 103.
It

【0017】増幅器121 ,122 ,・・・,12
n は、使用する磁気センサの磁気−電気変換特性に合わ
せた、例えばブリッジ回路や演算増幅器等で構成する。
また、信号処理回路131 ,132 ,・・・,13
n は、一般には、帯域通過フィルタと整流回路とを組み
合わせて構成するが、抵抗およびコンデンサを用いる簡
単なものや、反転増幅回路を用いるものでも良く、ある
いは省略することもできる。さらに、パルス発生装置1
04は、例えば、鋼板101に接触して回転するロータ
リーエンコーダを用いて構成することができるが、鋼板
101の走行速度が一定であれば、市販のパルス発生器
を単独で用いることもできる。
Amplifiers 12 1 , 12 2 , ..., 12
n is composed of, for example, a bridge circuit or an operational amplifier according to the magnetic-electric conversion characteristics of the magnetic sensor used.
Further, the signal processing circuits 13 1 , 13 2 , ..., 13
Generally, n is configured by combining a bandpass filter and a rectifier circuit, but it may be a simple one using a resistor and a capacitor, one using an inverting amplifier circuit, or it may be omitted. Furthermore, the pulse generator 1
Although 04 can be configured using, for example, a rotary encoder that rotates in contact with the steel plate 101, if the traveling speed of the steel plate 101 is constant, a commercially available pulse generator can be used alone.

【0018】図2は、図1に示す欠陥性状判別回路15
1 の一例の構成を示すものである。なお、他の欠陥性状
判別回路152 〜15n も、図2と同様に構成する。こ
の欠陥性状判別回路151 は、演算回路141 からの欠
陥信号Vを入力し、その欠陥信号Vが予め設定した閾値
を越えたときにパルスを発生する閾値回路22と、パル
ス発生回路104からのパルスを計数するカウンタ23
と、閾値回路22から発生するパルスを計数するカウン
タ24と、基準長さL内で間隔rをもって順次発生する
表面欠陥の平均発生個数N0 =L/rを予め設定する設
定回路25と、カウンタ24の計数値Nおよび設定回路
25の設定値N0 を比較する比較回路26とを具える。
FIG. 2 shows a defect property discriminating circuit 15 shown in FIG.
1 shows an example of the configuration of 1. The other defect property determination circuits 15 2 to 15 n are also configured in the same manner as in FIG. The defect property determination circuit 15 1 receives a defect signal V from the arithmetic circuit 14 1 and outputs a pulse when the defect signal V exceeds a preset threshold value, and a pulse generation circuit 104. Counter 23 for counting the pulses of
A counter 24 for counting the pulses generated from the threshold circuit 22; a setting circuit 25 for presetting the average number N 0 = L / r of surface defects successively generated at intervals r within the reference length L; And a comparison circuit 26 for comparing the count value N of 24 and the set value N 0 of the setting circuit 25.

【0019】閾値回路22の出力パルスは、カウンタ2
3および24にそれぞれ供給する。カウンタ23は、こ
の閾値回路22からのパルスをトリガ信号としてパルス
発生装置104からのパルスを計数すると共に、これら
閾値回路22からのパルスおよびパルス発生装置104
からのパルスの計数値Mに基づいてカウンタ24および
比較回路26のゲートをそれぞれ制御する。すなわち、
閾値回路22からパルスが入力した時点で、カウンタ2
4および比較回路26のゲートを開とし、カウンタ24
において閾値回路22からのパルスを計数させる。ま
た、カウンタ23でのパルスの計数値Mが、予め設定し
た鋼板101の基準長さLに相当するパルス数ML を越
えた時点で、カウンタ24および比較回路26のゲート
を閉として、カウンタ24での計数値Nと、設定回路2
5からの設定値N0 とを比較回路26において比較し、
その比較結果を表示装置103に供給して表示させると
共に、カウンタ23をリセットして同様の動作を繰り返
すようにする。なお、これら閾値回路22、カウンタ2
3,24、比較回路26および設定回路25は、市販の
演算素子を使用することができる。
The output pulse of the threshold circuit 22 is the counter 2
3 and 24 respectively. The counter 23 counts the pulses from the pulse generator 104 by using the pulse from the threshold circuit 22 as a trigger signal, and the pulses from the threshold circuit 22 and the pulse generator 104.
Each of the gates of the counter 24 and the comparison circuit 26 is controlled based on the count value M of the pulse from. That is,
When the pulse is input from the threshold circuit 22, the counter 2
4 and the gate of the comparison circuit 26 are opened, and the counter 24
At, the pulse from the threshold circuit 22 is counted. Further, the count value M of the pulses of the counter 23 is, at the time exceeds the number of pulses M L corresponding to the reference length L of the steel plate 101 which is set in advance, the gate of the counter 24 and comparator circuit 26 is closed, the counter 24 Count value N at setting circuit 2
The set value N 0 from 5 is compared in the comparison circuit 26,
The comparison result is supplied to the display device 103 to be displayed, and the counter 23 is reset to repeat the same operation. The threshold circuit 22 and the counter 2
Commercially available arithmetic elements can be used for 3, 24, the comparison circuit 26, and the setting circuit 25.

【0020】以下、この実施例の動作を、図3に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。この実施例にお
いて、走行ラインに沿って移動する鋼板101は、上述
したように、所定の位置で磁化装置100により磁化さ
れ、これにより鋼板101の欠陥部から発生する漏洩磁
束が、磁気センサ111 ,112 ,・・・,11n で検
出される。これら磁気センサ111 ,112 ,・・・,
11n の各チャンネル出力は、増幅器121 ,122
・・・,12n で増幅された後、信号処理回路131
132 ,・・・,13n でノイズ成分が除去されて、演
算回路141 ,142 ,・・・,14n を経て欠陥性状
判別回路151 ,152 ,・・・,15nに供給され
る。
The operation of this embodiment will be described below with reference to the flow chart shown in FIG. In this embodiment, the steel plate 101 moving along the traveling line is magnetized by the magnetizing device 100 at a predetermined position as described above, and the leakage magnetic flux generated from the defective portion of the steel plate 101 is thereby detected by the magnetic sensor 11 1. , 11 2 , ..., 11 n are detected. These magnetic sensors 11 1 , 11 2 , ...
The output of each channel of 11 n is the amplifier 12 1 , 12 2 ,
..., after being amplified by 12 n , the signal processing circuit 13 1 ,
13 2, ..., noise components 13 n is removed, the arithmetic circuit 14 1, 14 2, ..., defect through 14 n property determination circuit 15 1, 15 2, ..., to 15 n Supplied.

【0021】欠陥性状判別回路151 ,152 ,・・
・,15n では、対応する演算回路141 ,142 ,・
・・,14n からの欠陥信号Vが、閾値回路22での閾
値を越えると、カウンタ23においてパルス発生装置1
04からのパルスの計数が開始されると共に、カウンタ
24において閾値回路22からのパルスの計数が開始さ
れる。なお、図3には、カウンタ23での計数動作は省
略してある。ここで、カウンタ23での計数値Mが、予
め設定した鋼板101の基準長さLに相当するパルス数
L を越えると、その時点でカウンタ24での計数値N
と、設定回路25からの設定値N0 とが比較回路26に
おいて比較され、N=N0 のときは、表面欠陥に相当す
る信号が、また、それ以外のときは、介在物欠陥に相当
する信号が表示装置103に供給されて表示される。
Defect property determining circuits 15 1 , 15 2 , ...
.., 15 n , the corresponding arithmetic circuits 14 1 , 14 2 , ...
.. When the defect signal V from 14 n exceeds the threshold value in the threshold circuit 22, the pulse generator 1 in the counter 23
The counting of the pulses from 04 is started, and at the same time, the counting of the pulses from the threshold circuit 22 is started in the counter 24. The counting operation of the counter 23 is omitted in FIG. Here, when the count value M of the counter 23 exceeds the number of pulses M L corresponding to the preset reference length L of the steel plate 101, the count value N of the counter 24 at that time.
And the set value N 0 from the setting circuit 25 are compared in a comparison circuit 26. When N = N 0 , a signal corresponding to a surface defect is obtained, and in other cases, a signal corresponding to an inclusion defect is obtained. The signal is supplied to the display device 103 and displayed.

【0022】したがって、この実施例によれば、ロール
マーク等の表面欠陥と、介在物欠陥とを弁別して検出で
きるので、精度の良い探傷を行うことができ、製品の歩
留りを大幅に向上することができる。また、表面欠陥と
介在物欠陥とを弁別して検出できることから、それらの
発生頻度を別個に管理することができるので、操業改善
に効果がある。
Therefore, according to this embodiment, surface defects such as roll marks and inclusion defects can be discriminated and detected, so that flaw detection can be performed with high accuracy and the yield of products can be greatly improved. You can Further, since the surface defect and the inclusion defect can be discriminated and detected, the occurrence frequency thereof can be managed separately, which is effective in improving the operation.

【0023】なお、上記の実施例では、N=N0 のとき
は、表面欠陥として、N≠N0 のときは、介在物欠陥と
して判別して検出するようにしたが、この発明の第2実
施例では、上記の第1実施例において、比較回路26に
|N−N0 |の許容値ΔN(但し、ΔNは0以上の整
数)を設定し、図3に示すように、|N−N0 |<ΔN
のときは、表面欠陥とし、それ以外のときは、介在物欠
陥として判別して検出する。
In the above embodiment, when N = N 0 , it is detected as a surface defect, and when N ≠ N 0 , it is detected as an inclusion defect. In the embodiment, in the first embodiment, the allowable value ΔN of | N−N 0 | is set in the comparison circuit 26 (where ΔN is an integer of 0 or more), and | N− is set as shown in FIG. N 0 | <ΔN
When it is, it is determined as a surface defect, and in other cases, it is determined and detected as an inclusion defect.

【0024】このように、|N−N0 |の許容値ΔNを
設定すれば、若干の誤検出信号があっても、表面欠陥と
介在物欠陥とを弁別して検出できるので、より精度の高
い探傷を行うことができる。
As described above, by setting the allowable value ΔN of | N−N 0 |, even if there is a slight erroneous detection signal, the surface defect and the inclusion defect can be discriminated and detected, so that the accuracy is higher. Can perform flaw detection.

【0025】図4は、この発明の第3実施例の要部を示
すものである。この実施例は、演算回路141 ,1
2 ,・・・,14n の出力を、加算器161 162
・・・,16n/L においてLチャンネル毎に加算し、そ
れらの加算出力を対応する欠陥性状判別回路151 ,1
2 ,・・・,15n/L に供給して、表面欠陥と介在物
欠陥とを弁別して検出するようにしたもので、その他の
構成は第1実施例と同様である。このように構成すれ
ば、部品点数を少なくできるので、安価にできる利点が
ある。なお、Lチャンネル毎に限らず、全チャンネルの
演算回路の出力を加算し、その出力を一つの欠陥性状判
別回路に供給して、表面欠陥と介在物欠陥とを弁別して
検出するようにすることもできる。
FIG. 4 shows the essential parts of a third embodiment of the present invention. In this embodiment, the arithmetic circuits 14 1 , 1
The outputs of 4 2 , ..., 14 n are added to the adders 16 1 16 2 ,
..., 16 n / L , for each L channel, addition is performed, and the addition output thereof is corresponding to the defect property determination circuit 15 1 , 1
5 2, ..., is supplied to the 15 n / L, but were designed to detect and discriminate between surface defects and inclusions defects, other configurations are the same as the first embodiment. According to this structure, the number of parts can be reduced, which is advantageous in that the cost can be reduced. Not only for each L channel, the outputs of the arithmetic circuits of all the channels are added, and the output is supplied to one defect property determination circuit so that the surface defect and the inclusion defect can be discriminated and detected. You can also

【0026】図5は、この発明の第4実施例の要部の構
成を示すものである。この実施例は、順次の基準長さL
における欠陥の検出個数の比較に基づいて、表面欠陥、
介在物欠陥および欠陥無しを弁別して検出するようにし
たもので、図1に示す第1実施例とは、欠陥性状判別回
路151 ,152 ,・・・,15n の構成が異なるもの
で、その他の構成は図1と同様である。したがって、図
5には、欠陥性状判別回路151 の構成を示すが、他の
欠陥性状判別回路152 〜15n も、図5と同様に構成
する。
FIG. 5 shows the construction of the essential parts of the fourth embodiment of the present invention. This embodiment has a sequential reference length L.
Based on the comparison of the detected number of defects in
The defect defect determination circuits 15 1 , 15 2 , ..., 15 n are different from the first embodiment shown in FIG. 1 in that the inclusion defect and no defect are discriminated and detected. Other configurations are the same as those in FIG. Thus, FIG. 5 shows a configuration of a defect nature discriminating circuit 15 1, also other defects property determination circuit 15 2 to 15 n, are configured similarly to FIG.

【0027】この欠陥性状判別回路151 は、演算回路
141 からの欠陥信号Vを入力し、その欠陥信号Vが予
め設定した閾値を越えたときにパルスを発生する閾値回
路22と、鋼板101の基準長さLに相当するパルス発
生回路104からのパルス数ML を繰り返し計数するカ
ウンタ23と、閾値回路22から発生するパルスを計数
するpビット(例えば、p=4)のカウンタ24と、こ
のカウンタ24の各ビット出力を入力するそれぞれq段
(q≧2)のシフトレジスタ271 ,272 ,・・・,
27p と、各シフトレジスタのq段の出力を比較する比
較回路281 ,282 ,・・・,28p と、これら比較
回路の出力を入力とするアンドゲート29と、シフトレ
ジスタ271 ,272 ,・・・,27p の任意の同一段
の出力を入力とするオアゲート30と、アンドゲート2
9およびオアゲート30の出力を入力とする判定回路3
1とを具える。
The defect property determining circuit 15 1 receives the defect signal V from the arithmetic circuit 14 1 and generates a pulse when the defect signal V exceeds a preset threshold value, and the steel plate 101. A counter 23 that repeatedly counts the number of pulses M L from the pulse generation circuit 104 corresponding to the reference length L of, and a p-bit (for example, p = 4) counter 24 that counts the pulses generated from the threshold circuit 22. The q-stage (q ≧ 2) shift registers 27 1 , 27 2 , ...
27 p , comparison circuits 28 1 , 28 2 , ..., 28 p for comparing outputs of q stages of each shift register, an AND gate 29 having inputs of outputs of these comparison circuits, a shift register 27 1 , 27 2 , ..., 27 p , an OR gate 30 that receives the output of any one of the same stages, and an AND gate 2
9 and decision circuit 3 which receives the output of OR gate 30
1 and.

【0028】カウンタ23は、パルス発生回路104か
らのパルスの計数を開始するのに同期してカウンタ24
のゲートを開とし、これによりカウンタ24において閾
値回路22から発生するパルスを計数させる。また、カ
ウンタ23での計数値Mが、基準長さLに相当する予め
設定したパルス数ML を越えた時点で、カウンタ24の
ゲートを閉にし、その計数値Nを表す各ビット出力を、
例えば、最下位ビットをシフトレジスタ271 に、最上
位ビットをシフトレジスタ27p に対応させて、シフト
レジスタ271 ,272 ,・・・,27p の初段に記憶
して、過去の計数結果の各ビット出力をそれぞれ次段に
シフトさせる。このようにして、カウンタ23がパルス
数ML を計数する毎に、すなわち鋼板101が予め設定
された基準長さLを走行する毎に、その基準長さL内で
発生した欠陥信号をカウンタ24で計数して、その順次
の基準長さLにおける計数値の各ビット出力を、対応す
るシフトレジスタに、すなわち順次の計数値の最下位ビ
ットをシフトレジスタ27 1 に、最上位ビットをシフト
レジスタ27p に順次シフトして記憶する。
Is the counter 23 a pulse generation circuit 104?
Counter 24 in synchronization with the start of counting the pulses from
Open the gate of the
The pulses generated from the value circuit 22 are counted. Also,
The count value M in the unter 23 corresponds to the reference length L in advance.
Set pulse number MLWhen it exceeds the
The gate is closed, and each bit output representing the count value N is
For example, the least significant bit is the shift register 271The best
Shift bits to shift register 27pShift in accordance with
Register 271, 272・ ・ ・ ・ ・ ・ 27pMemorized in the first stage of
And output each bit output of the past counting result to the next stage.
To shift. In this way, the counter 23
Number MLIs set every time, that is, the steel plate 101 is preset.
Each time the vehicle travels the specified reference length L, within the reference length L
The generated defect signal is counted by the counter 24 and sequentially
Each bit output of the count value at the reference length L of
Shift register, that is, the least significant bit of the sequential count value.
Shift register 27 1Shift the most significant bit to
Register 27pSequentially shift to and store.

【0029】シフトレジスタ271 ,272 ,・・・,
27p の各々において、そのq段のビット出力N0 ,N
1 ,・・・,Nq は、対応する比較回路281 ,2
2 ,・・・,28p で比較して、そのq段のビット出
力が全て等しいときは論理「1」を、それ以外は論理
「0」をアンドゲート29に供給する。また、各シフト
レジスタ271 ,272 ,・・・,27p の任意の同一
段の出力、図5では初段の出力は、オアゲート30に供
給する。これらアンドゲート29およびオアゲート30
の出力は、判定回路31に供給し、ここでアンドゲート
29およびオアゲート30の出力に基づいて、介在物欠
陥、表面欠陥および欠陥無しを判別する。
The shift registers 27 1 , 27 2 , ...
In each of the 27 p , the bit outputs N 0 and N of the q stage
1 , ..., N q are corresponding comparator circuits 28 1 , 2
8 2,..., Compared with 28 p, it provides a logic "1" when the bit output of the q stages are all equal, the AND gate 29 a logical "0" otherwise. Further, the output of an arbitrary same stage of each shift register 27 1 , 27 2 , ..., 27 p , the output of the first stage in FIG. 5, is supplied to the OR gate 30. These AND gate 29 and OR gate 30
Is supplied to the determination circuit 31, where it is determined whether there is an inclusion defect, a surface defect, or no defect based on the outputs of the AND gate 29 and the OR gate 30.

【0030】図6は、判定回路31の一例の構成を示す
ものである。この判定回路31は、インバータ321
322 と、アンドゲート331 ,332 とを有する。ア
ンドゲート29の出力は、インバータ321 に供給する
と共に、アンドゲート331,332 の一方の入力端子
にそれぞれ供給する。また、オアゲート30の出力は、
アンドゲート331 の他方の入力端子に供給すると共
に、インバータ322 を介してアンドゲート332 の他
方の入力端子に供給し、これにより、インバータ321
の出力が論理「1」のとき、介在物欠陥と判別し、アン
ドゲート331 の出力が論理「1」のとき、表面欠陥と
判別し、アンドゲート332 の出力が論理「1」のと
き、欠陥無しと判別して検出するようにする。なお、図
5および図6に示す各回路素子は、市販の演算素子また
はそれらの公知の組み合わせで構成することができる。
FIG. 6 shows an example of the configuration of the determination circuit 31. This determination circuit 31 includes an inverter 32 1 ,
32 2 and AND gates 33 1 and 33 2 . The output of the AND gate 29 is supplied to the inverter 32 1 and also to one input terminals of the AND gates 33 1 and 33 2 . The output of the OR gate 30 is
It is supplied to the other input terminal of the AND gate 33 1 and is also supplied to the other input terminal of the AND gate 33 2 via the inverter 32 2 , whereby the inverter 32 1 is supplied.
When the output of is a logic "1", it is determined to be an inclusion defect, and when the output of the AND gate 33 1 is a logic "1", it is determined to be a surface defect, and the output of the AND gate 33 2 is a logic "1". , It is determined that there is no defect and detected. Each circuit element shown in FIGS. 5 and 6 can be configured by a commercially available arithmetic element or a known combination thereof.

【0031】以下、この実施例の要部の動作を、図7に
示すフローチャートを参照しながら説明する。なお、図
7には、カウンタ23によるパルス発生装置104から
のパルスの計数動作は省略してある。各欠陥性状判別回
路151 ,152 ,・・・,15n において、カウンタ
23がパルス発生装置104からのパルスの計数を開始
すると、対応するカウンタ24のゲートが開となる。こ
れにより、閾値回路22において、対応する演算回路1
1 ,142 ,・・・,14n からの欠陥信号Vが閾値
を越えたときに発生されるパルスが、カウンタ24で計
数される。カウンタ23での計数値Mが、予め設定した
鋼板101の基準長さLに相当するパルス数ML を越え
ると、その時点でカウンタ24のゲートが閉となり、そ
の計数値Nを表す各ビット出力が対応するシフトレジス
タ271 ,272 ,・・・,27 p の初段に記憶される
と共に、過去の計数結果の各ビット出力がそれぞれ次段
にシフトされる。
The operation of the main part of this embodiment will be described below with reference to FIG.
This will be described with reference to the flowchart shown. The figure
7, the pulse generator 104 by the counter 23
The pulse counting operation is omitted. Defect property determination times
Road 151, 152・ ・ ・ ・ ・ ・ 15nAt the counter
23 starts counting pulses from the pulse generator 104
Then, the gate of the corresponding counter 24 is opened. This
Thereby, in the threshold circuit 22, the corresponding arithmetic circuit 1
41, 142・ ・ ・ ・ ・ ・ 14nThe defect signal V from the threshold
The pulse generated when it exceeds the
To be counted. The count value M of the counter 23 is set in advance.
Number of pulses M corresponding to the reference length L of the steel plate 101LBeyond
Then, at that point, the gate of the counter 24 is closed and
Shift register corresponding to each bit output representing the count value N of
271, 272・ ・ ・ ・ ・ ・ 27 pMemorized in the first stage of
In addition, each bit output of the past counting result is
Is shifted to.

【0032】各シフトレジスタ271 ,272 ,・・
・,27p のq段のビット出力N0 ,N1 ,・・・,N
q は、対応する比較回路281 ,282 ,・・・,28
p で比較され、それらの比較結果がアンドゲート29に
供給されると共に、各シフトレジスタ271 ,272
・・・,27p の任意の同一段の出力がオアゲート30
に供給される。ここで、アンドゲート29は、各シフト
レジスタ271 ,272,・・・,27p において、そ
のq段のビット出力が全て等しいとき、すなわち過去q
回(最大)の欠陥個数の計数結果が等しいとき、論理
「1」を出力し、それ以外のときは、論理「0」を出力
することになる。また、オアゲート30は、ある基準長
さL内でカウンタ24が欠陥信号Vを計数したとき、す
なわち欠陥がある場合に、論理「1」を出力し、欠陥信
号Vが計数されない場合に、論理「0」を出力すること
になる。
Each shift register 27 1 , 27 2 , ...
.., 27 p p- bit output N 0 , N 1 , ..., N
q is the corresponding comparison circuit 28 1 , 28 2 , ..., 28
p is compared, the comparison results are supplied to the AND gate 29, and each shift register 27 1 , 27 2 ,
The output of the same stage of 27 p is the OR gate 30
Is supplied to. Here, the AND gate 29 is configured such that, in each of the shift registers 27 1 , 27 2 , ..., 27 p , when the bit outputs of the q stages are all equal, that is, the past q
When the count results of the number of times of defects (maximum) are equal, a logic "1" is output, and in other cases, a logic "0" is output. Further, the OR gate 30 outputs a logic "1" when the counter 24 counts the defect signal V within a certain reference length L, that is, when there is a defect, and outputs a logic "1" when the defect signal V is not counted. "0" will be output.

【0033】したがって、判定回路31においては、表
1に真理値表を示すように、アンドゲート29の出力が
論理「0」のとき、インバータ321 の出力のみが論理
「1」となって、介在物欠陥と判別され、アンドゲート
29の出力が論理「1」で、かつオアゲート30の出力
が論理「1」のときに、アンドゲート331 の出力のみ
が論理「1」となって、表面欠陥と判別され、また、ア
ンドゲート29の出力が論理「1」で、かつオアゲート
30の出力が論理「0」のときに、アンドゲート332
の出力のみが論理「1」となって、欠陥無しと判別され
て、表示装置103にそれぞれ表示される。
Therefore, in the decision circuit 31, as shown in the truth table in Table 1, when the output of the AND gate 29 is logic "0", only the output of the inverter 32 1 becomes logic "1". When the output of the AND gate 29 is logic "1" and the output of the OR gate 30 is logic "1", it is determined that it is an inclusion defect, and only the output of the AND gate 33 1 becomes logic "1", and If the output of the AND gate 29 is logic "1" and the output of the OR gate 30 is logic "0", the AND gate 33 2 is judged to be defective.
Is output as logic "1", it is determined that there is no defect, and each is displayed on the display device 103.

【表1】 [Table 1]

【0034】以上のように、この実施例によれば、ロー
ルマーク等の表面欠陥、介在物欠陥および欠陥無しを弁
別して検出できるので、上述した実施例におけると同様
に、製品の歩留りを大幅に向上することができると共
に、操業改善を容易にできる効果がある。
As described above, according to this embodiment, surface defects such as roll marks, inclusion defects and no defects can be discriminated and detected, so that the yield of products can be significantly increased as in the above-mentioned embodiments. In addition to being able to improve, there is an effect that operation improvement can be facilitated.

【0035】なお、図5および図6では、欠陥個数の計
数から欠陥性状の判定に至るまでの全ての回路を、論理
素子やその組み合わせで構成しているが、同様の処理を
プログラム化してマイクロコンピュータ等で実現するこ
ともできる。また、この実施例においても、図4におい
て説明したと同様に、部品点数を削減して低コスト化を
図るために、各チャンネルの演算回路の出力をLチャン
ネル毎に加算して数個のブロックにしたり、あるいは全
体を一つにまとめたのち、表面欠陥、介在物欠陥および
欠陥無しを弁別して検出するようにすることもできる。
In FIG. 5 and FIG. 6, all the circuits from the counting of the number of defects to the determination of the defect property are composed of logic elements and combinations thereof. It can also be realized by a computer or the like. Also in this embodiment, in the same way as described with reference to FIG. 4, in order to reduce the number of parts and reduce the cost, the output of the arithmetic circuit of each channel is added for each L channel, and several blocks are added. Alternatively, the surface defects, the inclusion defects, and the absence of defects can be discriminated and detected after they are combined into one.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、鋼板
の探傷時に検出される欠陥を、内部介在物に相当する欠
陥と、ロールマーク等の表面欠陥とに弁別して検出でき
るので、表面欠陥を内部欠陥と誤検出する誤りを防止で
き、精度の良い探傷が可能となる。また、介在物欠陥と
表面欠陥とを弁別して検出できることから、それらの発
生頻度を別個に管理することが可能となるので、製品不
具合から製造工程へのフィードバックも的確に行うこと
ができ、操業改善を容易にできる利点がある。
As described above, according to the present invention, the defects detected during flaw detection of the steel sheet can be detected by discriminating between defects corresponding to internal inclusions and surface defects such as roll marks. It is possible to prevent an error in which a defect is erroneously detected as an internal defect, and it is possible to perform flaw detection with high accuracy. In addition, since inclusion defects and surface defects can be detected separately, it is possible to control the frequency of occurrence of them separately, so it is possible to accurately provide feedback from product defects to the manufacturing process and improve operation. There is an advantage that you can easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明を実施する欠陥検出装置の一例の構成
を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an example of a defect detection device embodying the present invention.

【図2】図1に示す欠陥性状判別回路の一例の構成を示
すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an example of the defect property determination circuit shown in FIG.

【図3】この発明の第1実施例および第2実施例の動作
を説明するためのフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the first and second embodiments of the present invention.

【図4】この発明の第3実施例を説明するためのブロッ
ク図である。
FIG. 4 is a block diagram for explaining a third embodiment of the present invention.

【図5】この発明の第4実施例を説明するためのブロッ
ク図である。
FIG. 5 is a block diagram for explaining a fourth embodiment of the present invention.

【図6】図5に示す判定回路の一例の構成を示すブロッ
ク図である。
6 is a block diagram showing a configuration of an example of a determination circuit shown in FIG.

【図7】第4実施例の動作を説明するためのフローチャ
ートである。
FIG. 7 is a flowchart for explaining the operation of the fourth embodiment.

【図8】従来の技術を説明するためのブロック図であ
る。
FIG. 8 is a block diagram for explaining a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

111 〜11n 磁気センサ 121 〜12n 増幅器 131 〜13n 信号処理回路 141 〜14n 演算回路 151 〜15n 欠陥性状判別回路 22 閾値回路 23,24 カウンタ 25 設定回路 26 比較回路 271 〜27p シフトレジスタ 281 〜28p 比較回路 29 アンドゲート 30 オアゲート 31 判定回路 100 磁化装置 101 鋼板 103 表示装置 104 パルス発生装置11 1 to 11 n Magnetic sensor 12 1 to 12 n Amplifier 13 1 to 13 n Signal processing circuit 14 1 to 14 n Arithmetic circuit 15 1 to 15 n Defect property determination circuit 22 Threshold circuit 23, 24 Counter 25 Setting circuit 26 Comparison circuit 26 27 1 to 27 p shift register 28 1 to 28 p comparison circuit 29 AND gate 30 OR gate 31 determination circuit 100 magnetizing device 101 steel plate 103 display device 104 pulse generator

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁気
センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥を
検出するにあたり、 走行方向に予め設定した基準長さL内で、前記鋼板の幅
方向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、 その計数値Nが、予め設定した順次の表面欠陥の間隔を
r、許容値をΔN(但し、ΔNは0以上の整数)とする
とき、 |N−L/r|≦ΔN を満足するときは、前記検出した欠陥を周期性の表面欠
陥と判別し、 |N−L/r|>ΔN を満足するときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出
することを特徴とする鋼板の欠陥検出方法。
1. A magnetic sensor detects a leakage magnetic flux generated from a running steel plate, and detects a defect in the steel plate based on an output signal thereof, in a reference length L preset in a running direction. When the number of defects detected at the same position in the width direction is counted, and the count value N is a preset sequential surface defect interval is r and the allowable value is ΔN (where ΔN is an integer of 0 or more) , | N−L / r | ≦ ΔN, the detected defect is discriminated as a periodic surface defect, and when | N−L / r |> ΔN, the defect is an inclusion. A method for detecting defects in a steel sheet, which is characterized by detecting defects.
【請求項2】 走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁気
センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥を
検出するにあたり、 走行方向に予め設定した基準長さ毎に、前記鋼板の幅方
向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、その順次の
基準長さにおける計数値が、零と異なる同一値である場
合は、前記検出した欠陥を周期性の表面欠陥と判別し、
異なる場合は、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出する
ことを特徴とする鋼板の欠陥検出方法。
2. A magnetic sensor detects leakage magnetic flux generated from a running steel sheet, and detects a defect in the steel sheet based on an output signal thereof, the width of the steel sheet being set for each reference length preset in the traveling direction. Counting the number of defects detected at the same position in the direction, the count value in the sequential reference length is the same value different from zero, the detected defect is determined as a periodic surface defect,
If they are different, the defect detection method for a steel sheet is characterized by detecting the defect by discriminating it as an inclusion defect.
JP6297089A 1994-11-30 1994-11-30 Defect detecting method for steel plate Pending JPH08160006A (en)

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Cited By (6)

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