JPH0814844B2 - Inspection device for component mounting board - Google Patents

Inspection device for component mounting board

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JPH0814844B2
JPH0814844B2 JP61045408A JP4540886A JPH0814844B2 JP H0814844 B2 JPH0814844 B2 JP H0814844B2 JP 61045408 A JP61045408 A JP 61045408A JP 4540886 A JP4540886 A JP 4540886A JP H0814844 B2 JPH0814844 B2 JP H0814844B2
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image
component
unit
printed circuit
circuit board
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JP61045408A
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Japanese (ja)
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俊二 宇都宮
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Omron Corp
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【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は、部品が実装された被検査基板を撮像して得
られる像を処理して前記被検査基板上の部品の有無,位
置ずれ等を検査する部品実装基板の検査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION << Industrial Application Field >> The present invention processes an image obtained by picking up an image of a substrate to be inspected on which components are mounted to process the presence or absence of a component on the substrate to be inspected, a positional deviation, and the like. The present invention relates to a device for inspecting a component mounting board.

《従来の技術》 プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種チツプ部
品をマウントするときにおいて自動マウント装置を用い
た場合、実装後において実装データ通りに部品が実装さ
れていないことがある。
<< Prior Art >> When various chip parts such as resistors and semiconductor elements are mounted on a printed circuit board, when an automatic mounter is used, the parts may not be mounted according to the mounting data after mounting.

このため、このような自動実装装置等を用いる場合に
は、実装後にプリント基板をチエツクして、このプリン
ト基板上の正規の位置に正当なチツプ部品が正しい姿勢
(位置,方向)で実装されているかどうか、また脱落が
ないかどうかを検査する必要がある。
Therefore, when using such an automatic mounting apparatus, the printed circuit board is checked after mounting, and a proper chip component is mounted in a proper position (position, direction) at a proper position on the printed circuit board. It is necessary to inspect whether or not there is any dropout.

しかしこのような検査を従来と同じように人手による
目視検査で行なつていたのでは、検査ミスの発生を完全
に無くすことができず、また検査速度を高めることがで
きないという問題がある。
However, if such an inspection is performed by visual inspection by hand as in the conventional case, there is a problem that the occurrence of an inspection error cannot be completely eliminated and the inspection speed cannot be increased.

そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことが
できるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々
提案されている。
Therefore, in recent years, various manufacturers have proposed various automatic inspection devices for printed circuit boards that can automatically perform this type of inspection.

第9図は、このような自動検査装置の一例を示すブロ
ツク図である。
FIG. 9 is a block diagram showing an example of such an automatic inspection apparatus.

この図に示す自動検査装置は、部品1が実装された被
検査プリント基板2−2を撮像するTVカメラ3と、キー
ボード8から入力されたデータ、つまり第10図に示すよ
うに基準基板となる基準プリント基板2−1の種類等に
関するデータおよびこの基準プリント基板2−1上に載
つている各部品1の種類,配置位置,取付け姿勢,形状
等に関するデータおよびこれらの各部品1の検査処理手
順等に関する情報(データ)を記憶する記憶部4と、こ
の記憶部4に記憶されている情報と前記TVカメラ3から
の画像によつて示される情報とを比較して前記被検査プ
リント基板2−2上に全ての部品1が有るかどうか、ま
たこれらの部品1が位置ずれ等を起こしているかどうか
を判定する判定回路5と、この判定回路5の判定結果を
表示する表示器6とを備えて構成されている。
The automatic inspection apparatus shown in this figure serves as a reference board as shown in FIG. 10, that is, data input from the TV camera 3 that images the printed circuit board 2-2 on which the component 1 is mounted and the keyboard 8. Data regarding the type of the reference printed circuit board 2-1 and the data regarding the type, arrangement position, mounting posture, shape, etc. of each component 1 mounted on the reference printed circuit board 2-1 and the inspection processing procedure for each of these components 1. The storage unit 4 for storing information (data) regarding the above and the like, and the information stored in the storage unit 4 and the information shown by the image from the TV camera 3 are compared to each other to inspect the printed circuit board 2- 2 includes a determination circuit 5 for determining whether or not all the components 1 are present on the device 2 and whether or not the components 1 are displaced or the like, and a display 6 for displaying the determination result of the determination circuit 5. Ete is configured.

そしてこの自動検査装置を使用する場合、被検査プリ
ント基板2−2の検査に先立ち、まず素基板7上に各部
品1が正しく載つている基準プリント基板2−1に関す
るデータをキーボード8から入力(テイーチング)す
る。
When this automatic inspection device is used, prior to the inspection of the inspected printed circuit board 2-2, first, the data of the reference printed circuit board 2-1 on which the component 1 is correctly mounted on the base board 7 is input from the keyboard 8 ( Teaching).

この場合、第11図のフローチヤートで示す如く、この
テイーチング動作ではステツプST1でキーボード8から
基準プリント基板2−1のカードナンバが入力される。
In this case, as shown in the flow chart of FIG. 11, in this teaching operation, the card number of the reference printed circuit board 2-1 is input from the keyboard 8 at step ST1.

次いで、ステツプST2でキーボード8からこの基準プ
リント基板2−1に載つている部品1の位置,形状等に
関する数値データおよびこの部品1の特徴(この部品1
の色,明度等の情報)、処理手順等に関する数値データ
が入力される。
Next, in step ST2, numerical data relating to the position, shape, etc. of the component 1 mounted on the reference printed circuit board 2-1 from the keyboard 8 and the characteristics of the component 1 (this component 1
Information such as color and lightness) and numerical data related to processing procedures are input.

次いで、ステツプST3で全ての部品1に関する数値デ
ータが入力されたかどうかがチエツクされ、もしまだ数
値データが入力されていない部品があれば、このステツ
プST3から前記ステツプST2へ戻つて残りの部品に関する
数値データ入力が繰り返し実行される。
Next, in step ST3, it is checked whether or not the numerical data for all the parts 1 have been input, and if there is a part for which the numerical data has not been input yet, return from this step ST3 to the step ST2 and set the numerical values for the remaining parts. Data input is executed repeatedly.

そして、全ての部品1についてデータ入力が終了すれ
ば、ステツプST4でこれらの数値データが基準データと
して記憶部4に記憶される。
When the data input for all the components 1 is completed, these numerical data are stored in the storage unit 4 as reference data in step ST4.

また、被検査プリント基板2−2の検査時において
は、前記TVカメラによつて撮像された被検査プリント基
板2−2の画像から得られる数値データと前記記憶部4
が出力する数値データとが判定回路5によつて比較さ
れ、この比較結果が表示器6上に表示される。
When inspecting the inspected printed circuit board 2-2, numerical data obtained from an image of the inspected printed circuit board 2-2 captured by the TV camera and the storage section 4
Numerical data output by is compared by the determination circuit 5, and the comparison result is displayed on the display 6.

そして、前記TVカメラ3によつて撮像された被検査プ
リント基板2−2のある部品が欠落していれば、前記TV
カメラ3が出力する画像に基づいて得られる数値データ
と、前記記憶部4が出力する数値データとが一致しなく
なり、判定回路5がこれを検知して、欠落している部品
を表示器6上に表示する。
If a part of the inspected printed circuit board 2-2 imaged by the TV camera 3 is missing, the TV
The numerical data obtained based on the image output by the camera 3 and the numerical data output by the storage unit 4 do not match, and the determination circuit 5 detects this and displays the missing parts on the display 6. To display.

《発明が解決しようとする問題点》 しかしながらこのような従来の自動検査装置において
は、判定基準となる数値データの数を多くして検査精度
を高くしようとすれば、テイーチング時において、キー
ボード8から入力しなければならないデータ数が増大
し、これを入力するのに、多大な時間と労力とが必要に
なるという問題がある。
<< Problems to be Solved by the Invention >> However, in such a conventional automatic inspection device, if it is attempted to increase the inspection accuracy by increasing the number of numerical data serving as a determination reference, the keyboard 8 is used during teaching. There is a problem in that the number of data that must be input increases, and it takes a lot of time and labor to input the data.

また、被検査プリント基板2−2上のどの部品1に対
しても同じ検査を行うため、検査精度を高くしようとす
れば、判定数が増大して、判定に多大な時間が必要にな
るという問題があつた。
In addition, since the same inspection is performed on any of the components 1 on the inspected printed circuit board 2-2, if the inspection accuracy is to be increased, the number of determinations will increase and a great amount of time will be required for the determinations. There was a problem.

本発明は上記の事情に鑑み、テイーチング時における
入力データ数を増大させることなく、各部品の特徴に応
じた最適な検査精度を得ることができるとともに、これ
によつて検査時における判定時間を短くすることができ
るとともに、各部品の特徴に応じて正確に、これを検査
することができる部品実装基板の検査装置を提供するこ
とを目的としている。
In view of the above circumstances, the present invention can obtain the optimum inspection accuracy according to the characteristics of each component without increasing the number of input data at the time of teaching, thereby shortening the determination time at the time of inspection. It is an object of the present invention to provide an inspection device for a component mounting board, which can perform the inspection accurately according to the characteristics of each component.

《問題点を解決するための手段》 上記問題点を解決するために本発明による部品実装基
板の検査装置においては、部品が実装された基板の基板
情報を処理して前記基板上の部品の実装状態を検査する
部品実装基板の検査装置において、前記基板情報を処理
する処理手段が検査精度の段階に応じて階層化され、前
記基板情報中の部品情報の状態に応じて、この部品情報
の処理手段の前記段階を変えて、前記基板上の部品に関
する情報を処理する処理部を備えたことを特徴とする。
<< Means for Solving Problems >> In order to solve the above problems, in the component mounting board inspection apparatus according to the present invention, the board information of the board on which the parts are mounted is processed to mount the parts on the board. In a component mounting board inspection device for inspecting a state, processing means for processing the board information is hierarchized according to a stage of inspection accuracy, and processing of the part information is performed according to a state of the part information in the board information. By changing the step of the means, a processing unit for processing information on the component on the substrate is provided.

《実施例》 第1図は、この発明による部品実装基板の検査装置の
一実施例を示すブロツク図である。
<< Embodiment >> FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an inspection apparatus for a component mounting board according to the present invention.

この図に示す部品実装基板の検査装置は、基準プリン
ト基板16−1を撮像して処理することにより、被検査プ
リント基板16−2の良否を判定するときに必要な各部品
19−1〜19−n毎の基準パラメータと、これらの各基準
パラメータを得るのに必要な各部品19−1〜19−n毎の
処理手順とが得られるようにしたものであり、X−Yテ
ーブル部10と、撮像部11と、処理部12と、判定結果出力
部26と、情報入力部27と、テーブルコントローラ29と、
撮像コントローラ30とを備えている。
The component mounting board inspection apparatus shown in this figure captures and processes the reference printed circuit board 16-1 to determine each component necessary for determining the quality of the inspected printed circuit board 16-2.
A reference parameter for each of 19-1 to 19-n and a processing procedure for each of the components 19-1 to 19-n necessary to obtain each of these reference parameters are obtained. Y table unit 10, image pickup unit 11, processing unit 12, determination result output unit 26, information input unit 27, table controller 29,
And an image pickup controller 30.

X−Yテーブル部10は、テーブルコントローラ29によ
つて制御される2つのパルスモータ13,14と、これらの
各パルスモータ13,14によつてX軸方向およびY軸方向
に駆動されるテーブル15と、このテーブル15上に載せら
れた基準プリント基板16−1や被検査プリント基板16−
2を固定するチヤツク機構17とを備えて構成されるもの
であり、前記テーブル15上に載せられた基準プリント基
板16−1(または被検査プリント基板16−2)は前記チ
ヤツク機構17によつて固定された後、前記各パルスモー
タ13,14によつてX軸方向およびY軸方向の位置が決め
られ、撮像部11によつて撮像される。
The XY table unit 10 includes two pulse motors 13 and 14 controlled by a table controller 29, and a table 15 driven by the pulse motors 13 and 14 in the X-axis direction and the Y-axis direction. And the reference printed circuit board 16-1 and the inspected printed circuit board 16-mounted on the table 15.
2 and the check mechanism 17 for fixing the reference print circuit board 16-1 (or the printed circuit board 16-2 to be inspected) placed on the table 15 by the check mechanism 17. After being fixed, the positions in the X-axis direction and the Y-axis direction are determined by the pulse motors 13 and 14, and the image is picked up by the image pickup unit 11.

この場合、基準プリント基板16−1は、第2図に示す
如く素基板18を備えており、この素基板18上には部品19
−1〜19−nが正しい位置で、かつ正しい姿勢で載せら
れている。
In this case, the reference printed circuit board 16-1 is provided with a base board 18 as shown in FIG.
-1 to 19-n are placed in the correct position and in the correct posture.

また、前記被検査プリント基板16−2は、前記基準プ
リント基板16−1と同じ素基板18を備えた量産基板であ
り、この素基板18上には基準プリント基板16−1上の部
品19−1〜19−nと同じくなるように、部品19−1〜19
−nが配置されている。
The printed circuit board 16-2 to be inspected is a mass-produced board having the same base substrate 18 as the reference printed circuit board 16-1, and the component 19-on the reference printed circuit board 16-1 is mounted on the base substrate 18. Parts 19-1 to 19 to be the same as 1 to 19-n
-N is placed.

また撮像部11は、前記X−Yテーブル部10の上方に配
置され、前記撮像コントローラ30が出力する制御信号に
よつてそのピント,倍率,感度等が制御されるTVカメラ
20と、このTVカメラ20に対して同軸的に配置され、前記
撮像コントローラ30が出力する制御信号によつてその明
るさ等が制御されるリング照明装置21とを備えて構成す
るものであり、前記TVカメラ20によつて得られた画像信
号(アナログ信号)は処理部12へ供給される。
Further, the image pickup unit 11 is arranged above the XY table unit 10, and its focus, magnification, sensitivity and the like are controlled by a control signal output from the image pickup controller 30.
20 and a ring illumination device 21 that is disposed coaxially with respect to the TV camera 20 and whose brightness and the like are controlled by a control signal output from the imaging controller 30, and is configured. The image signal (analog signal) obtained by the TV camera 20 is supplied to the processing unit 12.

処理部12は、テイーチングモードのときに、前記撮像
部11から供給される画像信号(前記基準プリント基板16
−1の画像信号)を階層化された処理手段(処理階層)
で処理することにより、前記基準プリント基板16−1上
にある部品19−1〜19−nの待機に応じて、これら各部
品19−1〜19−n毎に好適な処理手段を見つけ出し、こ
れらを処理手順フアイルとして記憶するとともに、前記
各最適な処理手段によつて前記画像信号を処理して得ら
れた各部品19−1〜19−nのパラメータ(基準パラメー
タ)を基準パラメータフアイルとして記憶する。
In the teaching mode, the processing unit 12 receives the image signal (the reference printed circuit board 16) supplied from the image pickup unit 11.
-1 image signal) hierarchical processing means (processing hierarchy)
Processing is performed to find suitable processing means for each of the components 19-1 to 19-n on the basis of waiting for the components 19-1 to 19-n on the reference printed circuit board 16-1. Is stored as a processing procedure file, and the parameters (reference parameters) of the respective parts 19-1 to 19-n obtained by processing the image signals by the respective optimum processing means are stored as a reference parameter file. .

またこの処理部12は、検査モードのときに、前記処理
手順フアイルによつて示される各部品19−1〜19−n毎
の最適な処理手段に基づいて前記撮像部11から供給され
る画像信号(被検査プリント基板16−2の画像信号)か
ら各部品19−1〜19−nのパラメータ(被検査パラメー
タ)を抽出するとともに、これを前記基準パラメータフ
アイルの各基準パラメータと各々比較して前記被検査プ
リント基板16−2上の各部品19−1〜19−nが脱落や位
置ずれ等を起しているか否かを判定するものであり、画
像入力部22と、画像処理部23と、メモリ24と、判定部25
と、制御部28とを備えて構成されている。
In the inspection mode, the processing unit 12 supplies the image signal supplied from the image pickup unit 11 based on the optimum processing means for each of the components 19-1 to 19-n indicated by the processing procedure file. The parameters (inspected parameters) of each of the components 19-1 to 19-n are extracted from (the image signal of the inspected printed circuit board 16-2) and compared with the reference parameters of the reference parameter file. The image input unit 22, the image processing unit 23, and the image input unit 22 determine whether or not each of the components 19-1 to 19-n on the inspected printed circuit board 16-2 has fallen off or displaced. Memory 24 and determination unit 25
And a control unit 28.

画像入力部22は、前記撮像部11から供給された画像信
号をA/D変換したり、各種の補正処理(例えば、シエー
デイング補正など)をしたりして、前記基準プリント基
板16−1、被検査プリント基板16−2の画像データ(画
像信号を補正して量子化したデータ)を作成するもので
あり、ここで得られた前記基準プリント基板16−1,被検
査プリント基板16−2に関する画像データは前記制御部
28などへ供給される。
The image input unit 22 performs A / D conversion of the image signal supplied from the image pickup unit 11 and performs various correction processes (for example, shading correction) to perform the correction processing on the reference printed circuit board 16-1. Image data of the inspection printed circuit board 16-2 (data obtained by correcting and quantizing the image signal) is created, and the images of the reference printed circuit board 16-1 and the inspected printed circuit board 16-2 obtained here are obtained. Data is the control unit
Supplied to 28 etc.

また、画像処理部23は、第1〜第mの処理手段を階層
化した処理手順を備えており、テイーチングモードのと
きにおいては、前記制御部28から供給されるウインド情
報と、前記処理手順とを用いて、前記制御部28を介して
供給される前記基準プリント基板16−1の画像データを
処理することにより、この基準プリント基板16−1上の
載つている部品19−1〜19−n毎に最適な処理手段を求
めて、これらを処理手順フアイルとして前記制御部28へ
供給するとともに、これら最適な処理手段によつて処理
して得られる前記各部品19−1〜19−nの各パラメータ
(基準パラメータ)をまとめて、これを基準パラメータ
フアイルとして前記制御部28へ供給する。
Further, the image processing unit 23 has a processing procedure in which the first to m-th processing means are hierarchized. In the teaching mode, the window information supplied from the control unit 28 and the processing procedure are Is used to process the image data of the reference printed circuit board 16-1 supplied via the control unit 28, so that the components 19-1 to 19-n mounted on the reference printed circuit board 16-1 are processed. The optimum processing means is obtained for each of them, and these are supplied to the control unit 28 as a processing procedure file, and each of the parts 19-1 to 19-n obtained by processing by these optimum processing means is obtained. The parameters (reference parameters) are collected and supplied to the control unit 28 as a reference parameter file.

この場合、前記第1の処理手段としては、例えば通常
の2値化処理等の処理が用いられる。
In this case, as the first processing means, for example, a normal binarizing process or the like is used.

また第2の処理手段としては、前記第1の処理手段よ
りも複雑で、時間がかかる処理、例えば微小画素の除去
処理や穴うめ処理等が用いられる。同様に、第3〜第m
の処理手順としては、前記第2の処理手段よりも、順
次、複雑で時間がかかる処理が用いられる。
Further, as the second processing means, a processing which is more complicated and takes a longer time than the first processing means, for example, a minute pixel removing processing or a hole filling processing is used. Similarly, the third to mth
As the processing procedure of, the processing that is more complicated and time-consuming than the second processing means is sequentially used.

また、この画像処理部23は、検査モードのときに、前
記ウインド情報,前記理手順フアイルなどに基づいて、
前記制御部28を介して供給される被検査プリント基板16
−2の画像データを各部品19−1〜19−n毎に最適な処
理手段で処理して、この被検査プリント基板16−2上に
ある部品19−1〜19−nのパラメータ(被検査パラメー
タ)を抽出するとともに、これをまとめて被検査パラメ
ータフアイルを作成し、前記制御部28などへ供給する。
Further, the image processing unit 23, in the inspection mode, based on the window information, the procedure file, and the like,
Printed circuit board 16 to be inspected supplied via the control unit 28.
-2 image data is processed by an optimum processing means for each of the components 19-1 to 19-n, and the parameters (components to be inspected) of the components 19-1 to 19-n on the inspected printed circuit board 16-2 are processed. Parameter) is extracted, and a parameter file to be inspected is collectively created and supplied to the control unit 28 and the like.

またメモリ24は前記制御部28から前記基準プリント基
板16−1の画像データ,被検査プリント基板16−2の画
像データ、前記基準プリント基板16−1上にある各部品
19−1〜19−nのパラメータ(基準パラメータ),位置
データ,形状データやウインド情報,処理手順フアイル
などを供給されたときに、これらを記憶するものであ
り、前記制御部28から転送要求があつたときに、この基
準パラメータなどを前記画像処理部23や判定部25などへ
供給する。
Further, the memory 24 includes the image data of the reference printed circuit board 16-1, the image data of the printed circuit board 16-2 to be inspected, and the parts on the reference printed circuit board 16-1 from the control unit 28.
When the parameters 19-1 to 19-n (reference parameters), position data, shape data, window information, processing procedure file, etc. are supplied, they are stored, and a transfer request is sent from the control unit 28. At the time of collection, the reference parameters and the like are supplied to the image processing unit 23, the determination unit 25 and the like.

判定部25は、検査モードのときに前記メモリ24が出力
する前記基準パラメータと、前記制御部28を介して供給
される画像処理部23で得られた被検査パラメータとを比
較して、前記被検査プリント基板16−2の部品19−1〜
19−nが脱落しているかどうか、およびこれらの部品19
−1〜19−nが姿勢ずれを起こしているかどうかなどを
判定するものであり、この判定結果は前記制御部28など
へ供給される。
The determination unit 25 compares the reference parameter output by the memory 24 in the inspection mode with the inspection parameter obtained by the image processing unit 23 supplied via the control unit 28, and determines the inspection target. Inspection printed circuit board 16-2 parts 19-1 to 19-1
19-n is missing and these parts 19
It is to determine whether or not -1 to 19-n have a posture deviation, and the determination result is supplied to the control unit 28 and the like.

また、制御部28は、情報入力部27から入力された各部
品19−1〜19−nの位置データ,形状データから第3図
に示すようなウインド31−1〜31−nを作成して、これ
をウインド情報としてメモリ24に記憶させたり、処理部
12内にある前記画像入力部22と、画像処理部23と、メモ
リ24と、判定部25とを制御してこれらをテイーチングモ
ードで動作させたり、検査モードで動作させたりするも
のであり、これら各モードのときに得られたデータは判
定結果出力部26などへ供給される。
The control unit 28 also creates windows 31-1 to 31-n as shown in FIG. 3 from the position data and shape data of each of the components 19-1 to 19-n input from the information input unit 27. , This is stored in the memory 24 as window information,
It controls the image input unit 22, the image processing unit 23, the memory 24, and the determination unit 25 in 12 to operate them in the teaching mode or the inspection mode. The data obtained in each mode is supplied to the determination result output unit 26 and the like.

判定結果出力部26はCRT(ブラウン管表示器)やプリ
ンタ等を備えて構成されるものであり、前記制御部28か
ら基準パラメータや被検査パラメータを供給されたり、
基準プリント基板16−1や被検査プリント基板16−2の
画像データを供給されたり、判定結果を供給されたりし
たときにこれを表示したり、プリントアウトしたりす
る。
The determination result output unit 26 is configured to include a CRT (cathode ray tube display), a printer, etc., and is supplied with a reference parameter or an inspected parameter from the control unit 28,
When the image data of the reference printed circuit board 16-1 or the inspected printed circuit board 16-2 is supplied or the determination result is supplied, this is displayed or printed out.

また、情報入力部27は、基準プリント基板16−1の種
類(例えば、基板ナンバ等)およびこの基準プリント基
板16−1に載つている部品19−1〜19−nの種類,部品
数,位置,形状等に関するデータや処理手順等を決める
ときの操作情報などを入力するためのキーボードやマウ
スを備え、さらに入力したデータや操作情報などを確認
するためのモニタ,プリンタ等を備えて構成されるもの
であり、ここから入力されたデータや操作情報などは前
記制御部28へ供給される。
In addition, the information input unit 27 includes the type (for example, the board number) of the reference printed circuit board 16-1 and the types, the number of parts, and the positions of the components 19-1 to 19-n mounted on the reference printed circuit board 16-1. It is equipped with a keyboard and a mouse for inputting data related to shapes, etc. and operation information for determining processing procedures, etc., and is also equipped with a monitor, a printer, etc. for confirming the input data, operation information, etc. The data and operation information input from here are supplied to the control unit 28.

また、テーブルコントローラ29は前記制御部28と前記
X−Yテーブル部10とを接続するインターフエース等を
備えて構成されるものであり、前記X−Yテーブル部10
で得られたデータを前記制御部28へ供給したり、前記制
御部28から供給される制御信号に基づいて前記X−Yテ
ーブル部10を制御したりする。
The table controller 29 is configured to include an interface or the like that connects the control unit 28 and the XY table unit 10 to each other.
The data obtained in step 3 is supplied to the control unit 28, and the XY table unit 10 is controlled based on the control signal supplied from the control unit 28.

また、撮像コントローラ30は前記制御部28と前記撮像
部11とを接続するインターフエース等を備えて構成され
るものであり、前記制御部28から供給される制御信号に
基づいて前記撮像部11を制御したりする。
In addition, the image pickup controller 30 is configured to include an interface or the like that connects the control unit 28 and the image pickup unit 11, and controls the image pickup unit 11 based on a control signal supplied from the control unit 28. To control.

次に、この実施例の動作をテイーチングモードと検査
モードとに分けて説明する。なお、以下の説明において
は、説明を簡単にするために、第1,第2の処理手段につ
いて説明し、第3〜第mの処理手段については説明を省
略している。
Next, the operation of this embodiment will be described separately for the teaching mode and the inspection mode. In addition, in the following description, for simplification of description, the first and second processing means will be described, and the description of the third to mth processing means will be omitted.

まず、テイーチングモードにおいては第4図(A)で
示されるフローチヤートのステツプST5が実行されて装
置各部がテイーチングモードにされるとともに、ステツ
プST6で情報入力部27から基準プリント基板16−1の基
板ナンバ、およびこの基準プリント基板16−1上に載せ
られている各部品19−1〜19−nの位置データ、形状デ
ータが入力される。
First, in the teaching mode, the flow chart step ST5 shown in FIG. 4 (A) is executed to set each part of the apparatus to the teaching mode, and at the step ST6, the information input section 27 to the reference printed circuit board 16-1 A number and position data and shape data of each of the components 19-1 to 19-n mounted on the reference printed circuit board 16-1 are input.

そしてこれらの各データが入力されれば、制御部28は
ステツプST7で前記基板ナンバ等をメモリ24に記憶させ
るとともに、前記位置データおよび形状データに基づい
て各部品19−1〜19−n毎に第3図に示すウインド(デ
ータの切出し窓)31−1〜31−nを作成してこれをウイ
ンド情報としてメモリ24に記憶させる。この場合、各ウ
インド31−1〜31−nは、各々対応する部品19−1〜19
−nに外接したり、1.5mm程度外側を囲んだりするよう
に作られる。
Then, when each of these data is input, the control unit 28 stores the board number and the like in the memory 24 in step ST7, and for each component 19-1 to 19-n based on the position data and the shape data. Windows (data cutout windows) 31-1 to 31-n shown in FIG. 3 are created and stored in the memory 24 as window information. In this case, each of the windows 31-1 to 31-n has a corresponding component 19-1 to 19-n.
It is made to circumscribe -n or surround the outside by about 1.5 mm.

この後、X−Yテーブル部10のテーブル15上に基準プ
リント基板16−1が載せられれば、制御部28はステツプ
ST8でチヤツク機構17を動作させて、この基準プリント
基板16−1を固定させるとともに、各パルスモータ13,1
4を動作させて、この基準プリント基板16−1のX軸方
向位置およびY軸方向位置を決めるとともに、リング照
明装置21の明るさおよびTVカメラ20の撮像条件を調整す
る。
After this, if the reference printed circuit board 16-1 is placed on the table 15 of the XY table section 10, the control section 28 will step.
In ST8, the check mechanism 17 is operated to fix the reference printed circuit board 16-1 and the pulse motors 13, 1
4 is operated to determine the position of the reference printed circuit board 16-1 in the X-axis direction and the position of the Y-axis direction, and adjust the brightness of the ring illumination device 21 and the imaging condition of the TV camera 20.

次いで、制御部28はステツプST9で前記TVカメラ20に
基準プリント基板16−1を撮像させるとともに、画像入
力部22〜判定部25を制御して前記TVカメラ20によつて得
られた前記基準プリント基板16−1の画像信号を画像入
力部22によつて画像データに変換させ、この変換結果
(基準基板画像データ)をメモリ24に記憶させる。
Next, in step ST9, the control unit 28 controls the image input unit 22 to the determination unit 25 while causing the TV camera 20 to take an image of the reference printed circuit board 16-1 and the reference print obtained by the TV camera 20. The image signal of the substrate 16-1 is converted into image data by the image input unit 22, and the conversion result (reference substrate image data) is stored in the memory 24.

次いで、制御部28はステツプST10で前記メモリ24にあ
る基準基板画像データと、ウインド情報とを画像処理部
23へ転送させて、この画像処理部23にパラメータ抽出ル
ーチン42を実行させる。
Next, in step ST10, the control unit 28 sends the reference board image data in the memory 24 and the window information to the image processing unit.
Then, the image processing section 23 is caused to execute the parameter extraction routine 42.

このパラメータ抽出ルーチン42では画像処理部23は、
まず第4図(B)に示すフローチヤートのステツプST11
において、前記ウインド情報で示される各ウインド31−
1〜31−nを用いて前記基準基板画像データから各部品
19−1〜19−nの部品画像を切り出すとともに、ステツ
プST12でそのメモリ(画像処理部23内にあるメモリ)内
にある部品ナンバデータNをN=0にする。この後、画
像処理部23はステツプST13で前記各部品画像を判定結果
出力部26に表示させる。
In this parameter extraction routine 42, the image processing unit 23
First, the flow chart step ST11 shown in FIG. 4 (B).
In each of the windows 31-
Each part from the reference board image data using 1 to 31-n
The part images of 19-1 to 19-n are cut out, and at step ST12, the part number data N in the memory (memory in the image processing unit 23) is set to N = 0. After that, the image processing unit 23 causes the determination result output unit 26 to display each of the component images in step ST13.

この場合、画像信号中に含まれる部品画像S1が第5図
の波形図に示すようにシヤープであれば、判定結果出力
部24には第6図(A)に示す如く、部品のエツジが明確
な部品像S−1が表示され、また画像信号中に含まれる
部品画像S1が第7図の波形図に示すようにSN比の劣化し
たものであれば、判定結果出力部24には第8図(A)に
示す如く、ノイズが多い部品像S1−3が表示される。
In this case, if the component image S1 included in the image signal is sharp as shown in the waveform diagram of FIG. 5, the determination result output unit 24 clearly shows the edge of the component as shown in FIG. 6 (A). If the component image S-1 is displayed and the component image S1 included in the image signal has a deteriorated SN ratio as shown in the waveform diagram of FIG. As shown in FIG. 3A, a noisy component image S1-3 is displayed.

この後、画像処理部23はステツプST14で、判定結果出
力部26にメツセージ文を表示してオペレータに、処理し
なければならない部品があるかどうかを聞く。
After that, in step ST14, the image processing unit 23 displays a message sentence on the determination result output unit 26 and asks the operator whether there is a component to be processed.

そして、このオペレータが情報入力部27を介して未処
理の部品があることを示す情報を入力すれば、画像処理
部23はステツプST15でこれを検知して、このステツプST
15からステツプST16へ分岐し、ここで前記部品ナンバデ
ータNをインクリメントするとともに、ステツプST17
で、判定結果出力部26にメツセージ文を表示してオペレ
ータに2値化の方法を聞く。
Then, if this operator inputs information indicating that there is an unprocessed part through the information input unit 27, the image processing unit 23 detects this in step ST15, and this step ST15
The process branches from step 15 to step ST16, where the part number data N is incremented and step ST17
Then, a message sentence is displayed on the determination result output unit 26 to ask the operator how to binarize.

そして、このオペレータが情報入力部27を介して固定
閾値による2値化を指示すれば、画像処理部23はステツ
プST18でこれを検知して、このステツプST18からステツ
プST19へ分岐し、ここで予め決められている固定閾値で
前記パラメータを2値化して、この2値化結果を判定結
果出力部26に表示させた後、ステツプST22へ進む。
Then, when the operator instructs the binarization by the fixed threshold value via the information input section 27, the image processing section 23 detects this at step ST18, and branches from this step ST18 to step ST19. The parameter is binarized with a fixed threshold that has been determined, the binarization result is displayed on the determination result output unit 26, and then the process proceeds to step ST22.

また、オペレータが情報入力部27を介してモード法に
よる2値化を指示すれば、画像処理部23は前記ステツプ
ST18からステツプST20へ分岐して、ここで前記部品画像
の各画素をヒストグラム化したときの谷点の値などから
得られる閾値で前記部品画像を2値化し、この2値化結
果を判定結果出力部26に表示させた後、ステツプST22へ
進む。
Further, if the operator instructs the binarization by the mode method via the information input unit 27, the image processing unit 23 causes the step to be performed.
From ST18 to step ST20, the component image is binarized by a threshold value obtained from the value of the valley point when each pixel of the component image is histogrammed, and the binarization result is output as a determination result. After displaying it on the section 26, proceed to Step ST22.

また、オペレータが情報入力部27を介してPタイル法
による2値化を指示すれば、画像処理部23は前記ステツ
プST18からステツプST21へ分岐して、ここで予め与えら
れている面積(または、画素数など)の値などから得ら
れる閾値で前記部品画像を2値化し、この2値化結果を
判定結果出力部26に表示させた後、ステツプST22へ進
む。
Further, when the operator instructs the binarization by the P tile method through the information input unit 27, the image processing unit 23 branches from the step ST18 to the step ST21, and the area (or The component image is binarized by a threshold value obtained from the value of the number of pixels, etc., and the binarization result is displayed on the determination result output unit 26, and then the process proceeds to step ST22.

この場合、画像信号中に含まれる部品画像S1が第5図
の波形図に示すようにシヤープであれば、判定結果出力
部26には第6図(B)に示す部品像S1−2が表示され、
また画像信号中に含まれる部品画像S1が第7図の波形図
に示すようにSN比の劣化したものであれば、判定結果出
力部26に第8図(B)に示す部品像S1−4が表示され
る。
In this case, if the component image S1 included in the image signal is sharp as shown in the waveform diagram of FIG. 5, the determination result output unit 26 displays the component image S1-2 shown in FIG. 6 (B). Is
If the component image S1 included in the image signal has a deteriorated SN ratio as shown in the waveform chart of FIG. 7, the determination result output unit 26 displays the component image S1-4 shown in FIG. Is displayed.

そしてここで、この判定結果出力部26に表示された部
品像を見たオペレータが情報入力部27を介してノイズ除
去の必要無しと指示すれば、画像処理部23は前記ステツ
プST22において、これを検知し、このステツプST22から
ステツプST26へ分岐する。つまり、この場合には、第1
階層の処理50だけが実行されて第2階層の処理51がスキ
ツプされる。
Then, if the operator who has seen the component image displayed on the determination result output unit 26 indicates through the information input unit 27 that there is no need for noise removal, the image processing unit 23 does this in step ST22. It is detected and the process branches from this step ST22 to step ST26. That is, in this case, the first
Only the process 50 of the hierarchy is executed and the process 51 of the second hierarchy is skipped.

また、前記ステツプST22において、オペレータがノイ
ズ除去の必要有りと判断して、情報入力部27を介して、
判定結果出力部26に表示された部品像の中の最大面積の
ものの穴埋め処理を指示すれば、画像処理部23はこのス
テツプST22からステツプST23へ分岐して、第8図(C)
に示す如く前記部品画像S1によつて示される部品像内の
最大面積のもの(最大部品画像)S1−5を抽出した後、
この最大部品像S1−5の内に穴(ビツト抜け,ブロツク
抜け)があれば、ステツプST24でこの最大部品画像S1−
5の穴埋め処理を行ない、第8図(D)に示す如く、こ
の処理結果(部品像)S1−6を判定結果出力部26に表示
させ、前記ステツプST26へ進む。
Further, in the step ST22, the operator determines that noise removal is necessary, and through the information input unit 27,
The image processing unit 23 branches from this step ST22 to step ST23 by instructing the filling processing of the largest area among the component images displayed on the determination result output unit 26, and FIG.
After extracting the maximum area image (maximum component image) S1-5 in the component image shown by the component image S1 as shown in FIG.
If there is a hole (bit missing, block missing) in this maximum component image S1-5, this maximum component image S1− in step ST24.
The padding processing of No. 5 is performed, and as shown in FIG. 8D, the processing result (part image) S1-6 is displayed on the determination result output unit 26, and the process proceeds to step ST26.

また、前記ステツプST22において、オペレータがノイ
ズ除去の必要有りと判断して、情報入力部27を介して判
定結果出力部26に表示された部品画像S1−3の中の微小
物除去処理を指示すれば、画像処理部23はこのステツプ
ST22からステツプST25へ分岐して、前記部品画像S1−3
によつて示される部品像内の微小物を除去して、この除
去結果(部品像)を判定結果出力部26に表示させる。
Further, in step ST22, the operator determines that noise removal is necessary, and indicates the minute object removal processing in the component image S1-3 displayed in the determination result output unit 26 via the information input unit 27. For example, the image processing unit 23
Branch from ST22 to step ST25 to display the parts image S1-3
The minute object in the component image indicated by is removed, and the removal result (component image) is displayed on the determination result output unit 26.

次いで、画像処理部23は、ステツプST26で判定結果結
果出力部26にメツセージ文を表示してオペレータに、部
品処理をやりなおすべきかどうかを聞く。
Then, in step ST26, the image processing unit 23 displays a message sentence on the determination result output unit 26 and asks the operator whether or not the component processing should be redone.

そして、このオペレータが情報入力部27を介してこの
部品に対して処理をやりなおす必要があると指示すれ
ば、画像処理部23はステツプST27でこれを検知して、こ
のステツプST27から前記ステツプST18へ戻り、この部品
に対して上述した処理を再度実行する。
Then, if the operator indicates via the information input unit 27 that the process needs to be redone, the image processing unit 23 detects this in step ST27, and from this step ST27 to step ST18. Returning to this, the above-mentioned processing is executed again for this part.

また、ここでオペレータが情報入力部27を介してこの
部品に対して上述した処理を再度行なう必要が無いと指
示すれば、画像処理部23は最後に得られた画像を基準パ
ラメータとして記憶するとともに、この部品に対して行
なつた処理を最適処理手段として記憶し、この後前記ス
テツプST27から前記ステツプST14へ分岐して残りの部品
に対して上述した処理を行ない、各部品毎の検査精度に
応じた最適処理手段と、2値化された画像(基準パラメ
ータ)を求める。
Further, here, if the operator indicates through the information input unit 27 that it is not necessary to perform the above-mentioned processing again for this component, the image processing unit 23 stores the last-obtained image as a reference parameter and , The processing performed on this part is stored as the optimum processing means, and then the processing is branched from the step ST27 to the step ST14 and the above-mentioned processing is performed on the remaining parts, and the inspection accuracy of each part is improved. A corresponding optimum processing means and a binarized image (reference parameter) are obtained.

そして、各部品19−1〜19−nに対して、最適な処理
手段と、基準パラメータが得られれば、画像処理部23は
ステツプST28で各部品19−1〜19−nに対する最適処理
手段を記した処理手順フアイルを作成してメモリ24に記
憶させる。また検査モードにおいては、制御部28は第4
図(C)で示されるフローチヤートのステツプST30を実
行して装置各部を検査モードにした後、ステツプST31で
前記メモリ24に記憶されているとウインド情報と、処理
手順フアイルとを画像処理部23へ転送させるとともに、
前記メモリ24に記憶されている基準パラメータフアイル
を判定部25へ転送させる。
Then, if the optimum processing means and the reference parameter are obtained for each of the components 19-1 to 19-n, the image processing unit 23 determines the optimum processing means for each of the components 19-1 to 19-n in step ST28. The processing procedure file described above is created and stored in the memory 24. Further, in the inspection mode, the control unit 28 sets the fourth
After the step ST30 of the flow chart shown in FIG. 7C is executed to set each part of the apparatus to the inspection mode, the window information and the processing procedure file stored in the memory 24 are stored in the image processing section 23 in step ST31. Transfer to
The reference parameter file stored in the memory 24 is transferred to the determination unit 25.

次いで、X−Yテーブル部10のテーブル15上に被検査
プリント基板16−2が載せられれば、制御部28は、ステ
ツプST32でチヤツク機構17を作動させて、この被検査プ
リント基板16−2を固定させ、次いで各パルスモータ1
3,14を制御して、被検査プリント基板16−2のX軸方向
位置およびY軸方向位置を決めるとともに、リング照明
装置21の明るさおよびTVカメラ20の撮像条件等を調整す
る。
Next, when the inspected printed circuit board 16-2 is placed on the table 15 of the XY table section 10, the control section 28 operates the check mechanism 17 in step ST32 to move the inspected printed circuit board 16-2. Fixed, then each pulse motor 1
3, 14 are controlled to determine the position of the printed circuit board 16-2 in the X-axis direction and the position of the Y-axis direction, and the brightness of the ring illuminator 21 and the imaging conditions of the TV camera 20 are adjusted.

次いで、制御部28は、ステツプST33で前記TVカメラ20
に被検査プリント基板16−2を撮像させるとともに、前
記画像入力部22を動作させて、前記TVカメラ20で得られ
た前記被検査プリント基板16−2の画像信号から画像デ
ータ(被検査基板画像データ)を作成させてメモリ24に
記憶させる。
Next, the control unit 28 controls the TV camera 20 in step ST33.
The printed circuit board 16-2 to be inspected is imaged, and the image input section 22 is operated to obtain image data (image of the inspected board image) from the image signal of the inspected printed circuit board 16-2 obtained by the TV camera 20. Data) is created and stored in the memory 24.

次いで、制御部28はステツプST34で前記被検査基板画
像データを画像処理部23へ転送させて、この画像処理部
23に、前記ウインド情報に基づいて前記被検査基板画像
データから各部品19−1〜19−nの部品画像を切り出さ
せるとともに、ステツプST35で前記処理手順フアイルで
示される処理、つまり各部品に対して各々最適な処理手
段で各部画像を処理させて各部品の2値化部品画像(被
検査パラメータ)を抽出させる。
Next, the control unit 28 transfers the inspected board image data to the image processing unit 23 in step ST34, and the image processing unit 23
In 23, the component image of each component 19-1 to 19-n is cut out from the inspected substrate image data based on the window information, and the process indicated by the processing procedure file in step ST35, that is, for each component, is performed. Then, each part image is processed by each optimum processing means, and the binarized part image (inspected parameter) of each part is extracted.

次いで、制御部28はステツプST36でこれらの被検査パ
ラメータから被検査パラメータフアイルを作成させると
ともに、これを判定部25へ転送させてこれを前記各部品
19−1〜19−nに関する基準パラメータと比較させて、
被検査プリント基板16−2の部品19−1〜19−nが脱落
しているかどうか、およびこれらの部品19−1〜19−n
が姿勢ずれを起こしているかどうかなどを判定させ、ス
テツプST37でこの判定結果を判定結果出力部26へ供給さ
せて表示させる。
Next, the control unit 28 causes the inspected parameter file to be created from these inspected parameters in step ST36, and also transfers this to the determination unit 25 so as to transfer the inspected parameter file.
Compared with the reference parameters for 19-1 to 19-n,
Whether or not the components 19-1 to 19-n of the inspected printed circuit board 16-2 are missing, and these components 19-1 to 19-n
It is determined whether or not the posture has been misaligned, and in step ST37, this determination result is supplied to the determination result output unit 26 and displayed.

また上述した実施例においては、画像処理部23や判定
部25で画像の処理やパラメータの判定処理を行なうよう
にしているが、これら画像処理部23や判定部25で行う処
理は、制御部28のプログラムで行うようにしても良い。
In the embodiment described above, the image processing unit 23 and the determination unit 25 perform image processing and parameter determination processing. However, the processing performed by the image processing unit 23 and determination unit 25 is performed by the control unit 28. You may make it do with the program of.

また上述した実施例においては、1つの部品に対して
1つのウインドを設けているが、1つの部品であつて
も、その各部品の特徴が異なるものについては、1つの
部品に対して複数のウインドを設け、そのウインド毎に
パラメータを抽出するようにしても良い。
Further, in the above-described embodiment, one window is provided for one component, but even if one component has different features, a plurality of components are provided for one component. A window may be provided and parameters may be extracted for each window.

また上述したように実施例においては、2値化パラメ
ータの抽出処理を階層化しているが、形状認識処理,位
置認識処理,部品有無の判定処理,色処理等を階層化し
ても良い。
Further, as described above, in the embodiment, the binarization parameter extraction process is hierarchized, but the shape recognition process, the position recognition process, the component presence / absence determination process, the color process, etc. may be hierarchized.

また上述したように実施例においては、最初の処理階
層から次の処理階層に進むか否かを操作員の判断により
行なつているが、判定基準式などを用いて、これを自動
化するようにしても良い。
Further, as described above, in the embodiment, whether or not to proceed from the first processing layer to the next processing layer is determined by the operator's judgment, but it is possible to automate this by using a judgment criterion expression or the like. May be.

《発明の効果》 以上説明したように本発明によれば、テイーチング時
における入力データ数を増大させることなく、各部品の
特徴に応じた最適な検査精度を得ることができ、また検
査時における判定時間を短くすることができるととも
に、各部品の特徴に応じて正確に、これを検査すること
ができる。
<< Effects of the Invention >> As described above, according to the present invention, it is possible to obtain optimum inspection accuracy according to the characteristics of each component without increasing the number of input data during teaching, and to make a determination during inspection. The time can be shortened and it can be inspected accurately according to the characteristics of each component.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明による部品実装基板の検査装置の一実
施例を示す回路ブロツク図、第2図はこの実施例で用い
られる基準プリント基板の一例を示す平面図、第3図は
この実施例おいて用いられるウインドの一例を示す模式
図、第4図(A)はこの実施例のテイーチング動作例を
示すフローチヤート、第4図(B)はこの実施例のテイ
ーチング動作で使用されるパラメータ抽出ルーチンの一
例を示すフローチヤート、第4図(C)はこの実施例の
検査動作例を示すフローチヤート、第5図はこの実施例
における部品画像信号の波形図を示す模式図、第6図
(A),(B)は、各々第5図に示す部品画像信号の処
理例を説明するための模式図、第7図はこの実施例にお
ける他の波形例を示す模式図、第8図(A)〜(D)
は、各々第7図に示す部品画像信号の処理例を説明する
ための模式図、第9図はこの従来の自動検査装置の一例
を示すブロツク図、第10図はこの自動検査装置の検査基
準となる基準プリント基板の一例を示す側面図、第11図
はこの自動検査装置のテイーチング動作例を示すフロー
チヤートである。 11……撮像部、12……処理部、16−1……基準基板(基
準プリント基板)、16−2……被検査基板(被検査プリ
ント基板)、18……素基板、19−1〜19−n……部品。
FIG. 1 is a circuit block diagram showing an embodiment of the component mounting board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view showing an example of a reference printed circuit board used in this embodiment, and FIG. 3 is this embodiment. FIG. 4 (A) is a flow chart showing an example of the teaching operation of this embodiment, and FIG. 4 (B) is an extraction of parameters used in the teaching operation of this embodiment. A flow chart showing an example of the routine, FIG. 4 (C) is a flow chart showing an example of the inspection operation of this embodiment, and FIG. 5 is a schematic diagram showing the waveform diagram of the component image signal in this embodiment, and FIG. 8A and 8B are schematic diagrams for explaining an example of processing the component image signal shown in FIG. 5, FIG. 7 is a schematic diagram showing another waveform example in this embodiment, and FIG. ) ~ (D)
Are schematic diagrams for explaining processing examples of the component image signals shown in FIG. 7, FIG. 9 is a block diagram showing an example of this conventional automatic inspection device, and FIG. 10 is an inspection standard of this automatic inspection device. FIG. 11 is a side view showing an example of a reference printed circuit board that serves as the reference printed circuit board, and FIG. 11 is a flow chart showing an example of the teaching operation of this automatic inspection apparatus. 11 ... Imaging unit, 12 ... Processing unit, 16-1 ... Reference board (reference printed board), 16-2 ... Inspected board (Inspected printed board), 18 ... Element board, 19-1 to 19-1 19-n …… Parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】部品が実装された基板の基板情報を処理し
て前記基板上の部品の実装状態を検査する部品実装基板
の検査装置において、前記基板情報を処理する処理手段
が検査精度の段階に応じて階層化され、前記基板情報中
の部品情報の状態に応じて、この部品情報の処理手段の
前記段階を変えて、前記基板上の部品に関する情報を処
理する処理部を備えたことを特徴とする部品実装基板の
検査装置。
1. In a component mounting board inspection apparatus for processing board information of a board on which a component is mounted to inspect a mounting state of a component on the board, the processing means for processing the board information is a step of inspection accuracy. According to the state of the component information in the board information, the processing unit for processing the component information is changed according to the state of the component information, and the processing unit for processing the information on the component on the board is provided. Characteristic component mounting board inspection device.
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