JPH08139272A - 半導体集積回路および半導体集積回路の構成方法 - Google Patents

半導体集積回路および半導体集積回路の構成方法

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JPH08139272A
JPH08139272A JP27537794A JP27537794A JPH08139272A JP H08139272 A JPH08139272 A JP H08139272A JP 27537794 A JP27537794 A JP 27537794A JP 27537794 A JP27537794 A JP 27537794A JP H08139272 A JPH08139272 A JP H08139272A
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lsi
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terminal
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Akio Abe
明夫 阿部
Satoru Isomura
悟 磯村
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 信号を受ける受信側のECL−LSIチップ
上の入力端子の近傍に2つの抵抗を形成しておいて、送
信側のLSIがECL−LSIの場合には上記抵抗が入
力端子と電源電圧端子間に並列に挿入されるように接続
し、送信側のLSIがCMOS−LSIの場合には上記
抵抗が電源電圧端子(VCC−VTT)間に直列に挿入され
るように接続した。 【効果】 外付け抵抗が不要となり、プリント基板上等
に構成されるシステムの実装密度が向上されるようにな
るとともに、終端抵抗が外付け部品で構成される場合に
比べて送信側のLSIに対する負荷が小さくなり、信号
伝達遅延時間を短縮させることができる。また、送信側
のLSIが異なるタイプであっても受信側のECL−L
SIに接続可能となる。さらに、終端抵抗の冷却のため
に新たな技術を必要としない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI(大規模半導体
集積回路)間の信号伝送技術さらにはECL(エミッタ
・カップルド・ロジック)レベルのような低振幅の信号
の伝達に適したLSIの構成に適用して有効な技術に関
し、例えばECL−LSIとCMOS−LSIの両方の
LSIから信号を受けるECL−LSIに利用して有効
な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ECL−LSI間で信号を伝送す
る方式として、図9に示すように、送信側のLSIでは
出力回路としてECL回路を用いてその出力段のエミッ
タフォロワ・トランジスタQoのエミッタ端子を直接出
力ピンOUTに接続したオープンエミッタ形式とすると
ともに、受信側のLSIでは入力回路にECL回路を用
い入力ピンINと終端電圧VTT間に終端抵抗Rtを外付
けして、振幅約0.9V(ハイレベルが−0.8Vで、
ロウレベルが−1.7V)の信号として送信するように
した方式が提案されている。
【0003】終端抵抗を外付け方式とする理由として
は、LSIの開発、設計とそれが搭載されるシステムの
基板設計を独立に行なえることと、終端抵抗に流れる電
流の切り換えに伴う電源雑音によるLSI内回路への悪
影響を少なくできること等が挙げられる。また、従来の
LSIはまだ集積度が低く入出力ピン数も少なかったた
め、ファンアウト数を多くして少ないピン数のLSIを
使いこなす設計をしていた。ファンアウト数が複数にな
る場合、図10に示すように、1本の伝送ラインlを伝
送先の複数のLSIに対して航路のように次々と接続し
て行き、最終のLSIの近傍でインピーダンス整合終端
する。即ち、各伝送ラインの終端抵抗位置はLSIの基
板上配置位置および伝送ラインパターンが決定された後
に決まることになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記終
端抵抗外付け方式にあっては、基本的には1つの伝送ラ
インごとに1個の終端抵抗を必要とするため、多数の抵
抗素子を部品としてプリント基板上に実装しなければな
らず、基板の実装密度が低下するとともに接続点数も増
加しこれに伴なってシステムの信頼性が低下したりコス
トアップにつながる等の問題点がある。
【0005】また、部品点数が増加すると、これを搭載
する基板のサイズも大きくしなければならないため、伝
送ラインが長くなって出力回路から見た負荷が増加し、
信号の伝送遅延時間が増大するという問題点がある。さ
らに、終端抵抗外付け方式の場合には、各終端抵抗に電
圧を与える電源ラインを基板上に設けなくてはならない
とともに、受信側のLSIの入力ピンでの信号の反射を
減らす設計が難しく反射ノイズが増加するという問題点
もある。
【0006】一方、上記実装密度の低下という問題を解
決するため、終端抵抗を外付け部品とする代わりに、L
SIのパッケージ内にチップとは別個に形成された薄膜
抵抗の形で実装する方式も提案されている。しかしなが
ら、このような実装方式によると、LSIパッケージ全
体としての消費電力が増加するため、パッケージの温度
上昇を抑えてLSIの信頼性を高めるには、パッケージ
の冷却を強力に行なう必要がある。しかるに、上記の場
合、LSIチップの冷却と薄膜抵抗部の冷却を別々考え
なくてはならないので、冷却のために特別に工夫された
構造が必要とされるという新たな問題が発生することが
明らかになった。
【0007】この発明の目的は、システムの実装密度を
向上させ得るような信号伝送方式を実現可能にするLS
Iを提供することにある。
【0008】この発明の他の目的は、伝送遅延時間の小
さな信号伝送を可能にする信号伝送方式を実現可能にす
るLSIを提供することにある。
【0009】この発明のさらに他の目的は、パッケージ
の冷却のために特別に工夫された構造を必要としないL
SIを提供することにある。
【0010】この発明の他の目的は、信号を送信する側
のLSIが異なるタイプである場合にも適用可能なLS
Iを提供することにある。
【0011】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0012】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0013】すなわち、信号を受ける受信側のECL−
LSIチップ上の入力端子の近傍に2つの抵抗を形成し
ておいて、送信側のLSIがECL−LSIの場合には
上記抵抗が入力端子と電源電圧端子間に並列に挿入され
るように接続し、送信側のLSIがCMOS−LSIの
場合には上記抵抗が第1と第2の電源電圧端子(VCC−
VTT)間に直列に挿入されるように接続するものであ
る。
【0014】また、上記2つの抵抗は、それらが並列接
続された場合にはその合成抵抗が伝送ラインの特性イン
ピーダンスと整合し、直列接続されたときには電源電圧
をその抵抗比で分割したときに所定の信号振幅が得られ
るようにそれぞれの抵抗値を決定するのがよい。さら
に、上記抵抗の接続形態の切り換えは、マスタスライス
方式の配線形成により実現するのが望ましい。
【0015】一方、信号を送信する側のLSIは、それ
がECL−LSIである場合にはECL回路で構成され
た出力回路の出力エミッタフォロワ・トランジスタのエ
ミッタ端子を直接出力端子に接続したオープンエミッタ
形式とし、送信側LSIがCMOS−LSIである場合
には出力MOSFETのドレイン端子を直接出力端子に
接続したオープンドレイン形式とするのが望ましい。
【0016】
【作用】上記した手段によれば、終端抵抗が受信側のL
SIチップ内に形成されているため、外付け抵抗が不要
となり、プリント基板上等に複数のLSIによって構成
されるシステムの実装密度が向上されるようになる。
【0017】また、終端抵抗が外付け部品で構成される
場合に比べて送信側のLSIに対する負荷が小さくな
り、信号伝達遅延時間を短縮して信号伝達速度を向上さ
せることができる。
【0018】さらに、終端抵抗が受信側のLSIチップ
内に形成されているため、終端抵抗で発生する熱の冷却
は内部回路で発生する熱の冷却技術の延長線上で考える
ことができパッケージの冷却のために特別に工夫された
新たな構造を必要としない。
【0019】また、受信側のLSIは送信側のLSIの
タイプに応じて終端抵抗として入力端子の近傍に用意さ
れた2つの抵抗の接続を変えるだけで対応することがで
きるため、汎用性および柔軟性が向上する。
【0020】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を図面に基づい
て説明する。
【0021】図1には、本発明を適用する場合の信号受
信側のLSI(例えばマスタスライス方式のバイポーラ
論理LSI)の入力回路の一実施例が示されている。な
お、特に制限されないが、この実施例の受信側LSIの
内部回路は、周知のECL回路もしくはそれを変形した
回路を主体として構成される。
【0022】図1に示されているように、この実施例の
入力回路は基本的には、ECL回路であり、ベース端子
が入力端子(入力ピン)INに接続されるべき入力トラ
ンジスタQ1と、入力信号に対して論理しきい値となる
参照電圧VBB(例えば−1.2V)がベース端子に印加
されエミッタ端子が上記トランジスタQ1のエミッタ端
子に共通接続されたトランジスタQ2と、これらのトラ
ンジスタQ1,Q2の共通エミッタ端子と電源電圧端子
VEE(例えば−4V)との間に接続された定電流用トラ
ンジスタQ3およびそのエミッタ抵抗R3と、上記トラ
ンジスタQ1,Q2のコレクタ端子と電源電圧端子VCC
(例えば−0V)との間に接続されたコレクタ抵抗Rc
1,Rc2と、参照側トランジスタQ2のコレクタ電圧
を受けて動作するエミッタフォロワ型トランジスタQ4
およびそのエミッタ抵抗R4とから構成されている。
【0023】また、上記入力端子INの近傍には、マス
タスライス方式の配線形成で入力端子INと電源電圧端
子VCCまたはVTT(例えば−2V)との間に接続される
終端用の抵抗R1,R2が設けられている。図1のよう
な入力回路がLSIチップ上に複数個設けられている。
【0024】上記終端用抵抗R1,R2は、信号を送信
する側のLSIがECL−LSIである場合には、図2
に示すように、入力端子INと電源電圧端子VTTとの間
に並列形態で接続される。一方、信号を送信する側のL
SIがCMOS−LSIである場合には、抵抗R1,R
2は、図3に示すように電源電圧端子VCCと電源電圧端
子VTTとの間に直列形態で接続され、それらの中間接続
ノードn0が入力端子INおよび入力トランジスタQ1
のベース端子に接続される。システムが複数の異種のL
SIによって構成される場合には、それぞれの入力回路
を送信側のLSIの種類に応じて図2または図3に示す
ような接続を行なうようにしてもよい。
【0025】ところで、本発明のように、終端抵抗とな
る上記抵抗R1,R2をLSIチップ上に形成した場
合、例え電源ラインを内部回路用と別個にしたとして
も、電源ノイズによる影響を完全になくすことはできな
い。そこで、本実施例では、電源ラインをLSIチップ
上に網状ないしはメッシュ状に形成することで電源配線
のインピーダンスを下げて電源ノイズの量を抑えるよう
に構成した。また、電源ラインを入力回路用と内部回路
用とで分離して設けるようにしてもよいし、電源ライン
を分離する代わりに、これらを一体化して2倍の線幅を
持つ電源ラインとすることによっても電源配線のインピ
ーダンスを下げるようにしてもよい。
【0026】一方、信号を送信する側のLSIは、それ
がECL−LSIである場合には、ECL回路で構成さ
れた出力回路のエミッタフォロワ型出力トランジスタQ
oのエミッタ端子を直接出力端子(出力ピン)OUTに
接続したオープンエミッタ形式とされる。また、送信側
LSIがCMOS−LSIである場合には出力MOSF
ET Qo’のドレイン端子を直接出力端子OUTに接
続したオープンドレイン形式とされる。
【0027】上記の場合、ECL−LSIの出力トラン
ジスタQoのコレクタ端子が接続される電源電圧端子
は、内部ECL回路の電源電圧と同じVCC(例えば接地
電位)でよく、CMOS−LSIの出力MOSFET
Qo’のソース端子が接続される電源電圧端子は、内部
CMOS回路の電源電圧と同じVTT(例えば−2V)で
よい。ただし、出力トランジスタの電源電圧は、内部回
路に電源電圧を供給する電源ラインとは別個に形成され
たラインから供給するようにしてもよいし、これらを一
体化して2倍の線幅を持つ電源ラインとすることによっ
ても電源配線のインピーダンスを下げるようにしてもよ
い。
【0028】なお、図3には示されていないが、ECL
−LSIから出力される上記のようなECLレベルの信
号をCMOS−LSIで受けるようにしたい場合には、
CMOS−LSI内に上記と同じような終端用抵抗R
1,R2とCMOS回路で構成された疑似ECL回路を
設けておくようにすればよい。
【0029】次に、図1の実施例における終端用抵抗R
1,R2の具体例について説明する。この実施例では、
上記終端用抵抗R1,R2は、特に制限されないが、ポ
リシリコンまたは拡散層により形成され、その抵抗値は
次のようにしてそれぞれ決定される。
【0030】上記抵抗R1,R2が図2に示すように並
列に接続された場合、その合成抵抗R’(=R1・R2/
(R1+R2))が送信側のLSIの出力回路から見た終端
抵抗となる。従って、送信側のLSIの出力ピンOUT
と受信側のLSIの入力ピンINとの間が、特性インピ
ーダンスZ0の伝送ラインで結合されているとすると、
上記合成抵抗R’がZ0と等しくなるようにR1,R2
の抵抗値を決定すればよい。
【0031】また、上記抵抗R1,R2が図3に示すよ
うに直列に接続された場合には、送信側のLSIの出力
MOSFET Qo’がオフされると、入力信号の直流
電圧レベルはハイレベルとなり、その時の電圧値ViH
は、次式で表わされる。
【0032】
【数1】
【0033】一方、出力MOSFET Qo’がオンさ
れると、入力信号の直流電圧レベルはロウレベルとな
り、Qo’のオン抵抗をRONと記すと、その時の電圧値
ViLは、次式で表わされる。
【0034】
【数2】
【0035】従って、上式を用いてViHが−0.8V、
ViLが−1.7Vとなるように抵抗R1,R2の抵抗値
を決定すれば良い。具体的には、伝送ラインの特性イン
ピーダンスZ0を50Ω〜56Ωと仮定した場合、R1
の抵抗値R1は83Ω〜112Ω、R2の抵抗値R2は1
12Ω〜125Ωとすればよい。
【0036】なお、図3のように電源電圧端子間に直列
接続された抵抗R1,R2は、交流的には並列接続とみ
なされる(合成抵抗R’=R1・R2/(R1+R2))の
で、終端抵抗R’=Z0となり、終端抵抗と伝送ライン
の特性インピーダンスとの整合がとれていることが分か
る。
【0037】さらに、本実施例においては、受信側EC
L−LSIの入力回路の参照用トランジスタQ2のベー
ス端子に印加される参照電圧VBBを形成する回路が、図
1に示すように、上記終端用抵抗R1,R2と同一の素
子により形成された抵抗R11,R12が電源電圧端子
VCCと電源電圧端子VTTとの間に直列形態に接続されて
なる抵抗分圧回路で構成されている。
【0038】これによって、信号の送信側のLSIがC
MOS−LSIであるときの入力信号レベルの電源電圧
依存性を相殺することができる。すなわち、この場合の
入力信号レベルViH,ViLは電源電圧依存性を有し、電
源電圧VTTの変動に応じて図8に示すように変化する
が、このとき参照電圧VBBを形成する抵抗分圧回路を構
成する抵抗R11,R12が終端用抵抗R1,R2と同
一の素子により構成されているため、抵抗R11,R1
2の抵抗分割により形成される参照電圧VBBも、ViH,
ViLと同じような電源電圧依存性を示し、これによって
入力信号レベルに対する論理しきい値は相対的にほぼ一
定とみなせるようになる。
【0039】なお、上記抵抗R11,R12の具体的な
抵抗値としては、例えばそれぞれ4.2kΩと2.1k
Ωのような値が選ばれる。このような大きな抵抗値を持
つようにされることにより、常時電流が流れる抵抗分圧
回路の消費電力を低く抑えることができる。また、この
ように入力回路部に用意された抵抗R11,R12を使
用して参照電圧発生回路を構成するのは、図3のように
CMOS−LSIからの信号を受信する入力回路のみで
ある。
【0040】これは、図2のようにECL−LSIから
の信号を受ける入力回路部では終端抵抗R1,R2が並
列接続とされているのでR11,R12による抵抗分圧
回路では入力信号レベルの電源電圧依存性を相殺できな
いからである。従って、図2に示すようなECL−LS
Iからの信号を受ける入力回路部には、別途に設計され
た電源電圧依存性を有する公知の参照電圧発生回路(図
示省略)からの電圧が供給されるように構成される。
【0041】以上説明したように、上記実施例は、信号
を受ける受信側のECL−LSIチップ上の入力端子の
近傍に2つの抵抗を形成しておいて、送信側のLSIが
ECL−LSIの場合には上記抵抗が入力端子と電源電
圧端子間に並列に挿入されるように接続し、送信側のL
SIがCMOS−LSIの場合には上記抵抗が第1と第
2の電源電圧端子間に直列に挿入されるように接続した
ので、終端抵抗が受信側のLSIチップ内に形成され
て、外付け抵抗が不要となり、プリント基板上等に構成
されるシステムの実装密度が向上されるようになるとと
もに、終端抵抗が外付け部品で構成される場合に比べて
送信側のLSIに対する負荷が小さくなり、信号伝達遅
延時間を短縮して信号伝達速度を向上させることができ
るという効果がある。
【0042】しかも、終端抵抗が受信側のLSIチップ
内に形成されているため、終端抵抗で発生する熱の冷却
は内部回路で発生する熱の冷却技術の延長線上で考える
ことができパッケージの冷却のために特別に工夫された
新たな構造を必要としないという効果がある。
【0043】また、受信側のLSIは送信側のLSIの
タイプに応じて、終端抵抗として入力端子の近傍に用意
された2つの抵抗の接続を変えるだけで対応することが
できるため、汎用性および柔軟性が向上するという効果
がある。
【0044】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば上記
実施例では、信号受信側のLSIの入力回路が基本的な
ECL回路で構成されているものについて説明したが、
上記入力回路がECLシリーズゲートような基本ECL
回路を変形した回路である場合にも適用できるものであ
る。また、電源電圧も上記実施例では、VCCを接地電位
(0V)としVTTを−2Vとしているが、これに限定さ
れるものでなく、VCCの代わりに+2Vあるいは+1.
2Vの電源電圧を使用しVTTの代わりに接地電位を用い
ることも可能である。
【0045】また、上記実施例では、信号送信側のLS
IがECL−LSIである場合には受信側の終端容抵抗
R1,R2を並列形態とし、送信側LSIがCMOS−
LSIである場合には受信側の終端容抵抗R1,R2を
直列形態とすると説明したが、図4や図5のように、受
信側の終端容抵抗R1,R2のうち一方のみを接続した
り、あるいは送信側CMOS−LSIの出力回路がオー
プンソース形式である場合には、受信側の終端容抵抗R
1,R2を図6や図7に示すように接続して信号を受け
られるように構成することも可能である。
【0046】なお、本明細書で使用しているLSIなる
用語は、一般にLSIよりも集積度小さい集積回路に対
して使用されているICやLSIよりも規模の大きな集
積回路に対して使用されているVLSIをも含むことは
言うまでもない。
【0047】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるECL
−LSI間もしくはCMOS−LSIとECL−LSI
間における信号伝送について説明したが、本発明はそれ
に限定されるものでなく、LSI間の信号伝送一般に利
用することができる。
【0048】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0049】すなわち、外付け抵抗が不要となり、プリ
ント基板上等に構成されるシステムの実装密度が向上さ
れるとともに、終端抵抗が外付け部品で構成される場合
に比べて送信側のLSIに対する負荷が小さくなり、信
号伝達遅延時間を短縮して信号伝達速度を向上させるこ
とができる。
【0050】また、受信側のLSIは送信側のLSIの
タイプに応じて終端抵抗として入力端子の近傍に用意さ
れた2つの抵抗の接続を変えるだけで対応することがで
きるため、汎用性および柔軟性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したLSIの入力回路の一実施例
を示す回路図、
【図2】信号を送信する側のLSIがECL−LSIで
ある場合の送信側のLSIの出力回路例および終端用抵
抗の接続の仕方を示す回路図、
【図3】信号を送信する側のLSIがCMOS−LSI
である場合の送信側のLSIの出力回路例および終端用
抵抗の接続の仕方を示す回路図、
【図4】図1の実施例の入力回路を使用した場合の他の
信号送信方式の例を示す説明図、
【図5】図1の実施例の入力回路を使用した場合の他の
信号送信方式の例を示す説明図、
【図6】図1の実施例の入力回路を使用した場合の他の
信号送信方式の例を示す説明図、
【図7】図1の実施例の入力回路を使用した場合の他の
信号送信方式の例を示す説明図、
【図8】信号を送信する側のLSIがCMOS−LSI
である場合の入力信号レベルの電源電圧依存性を示すグ
ラフ、
【図9】従来のLSI間の信号送信方式の例を示す説明
図、
【図10】従来のLSIを使用したシステム(基板)の
構成例を示す説明図である。
【符号の説明】
IN 入力端子 R1,R2 終端用抵抗 Q1 入力トランジスタ OUT 出力端子 Qo 出力トランジスタ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力端子の近傍に複数個の終端用抵抗を
    設けておき、信号を送信する側の半導体集積回路の出力
    回路形式に応じて上記終端用抵抗を任意の端子間に選択
    的に接続可能に構成したことを特徴とする半導体集積回
    路。
  2. 【請求項2】 請求項1の半導体集積回路を構成するに
    あたり、信号送信側の半導体集積回路がECL型半導体
    集積回路の場合には上記終端用抵抗が入力端子と電源電
    圧端子間に並列に挿入されるように接続し、送信側の半
    導体集積回路がCMOS型半導体集積回路の場合には上
    記終端用抵抗が第1と第2の電源電圧端子間に直列に挿
    入されるように接続することを特徴とする半導体集積回
    路の構成方法。
  3. 【請求項3】 信号を送信する側の半導体集積回路がE
    CL回路を主体として構成されたECL型半導体集積回
    路であり、その出力回路は出力トランジスタのエミッタ
    端子が直接出力端子に接続されたオープンエミッタ形式
    とされていることを特徴とする請求項2に記載の半導体
    集積回路の構成方法。
  4. 【請求項4】 信号を送信する側の半導体集積回路がC
    MOS回路を主体として構成されたCMOS型半導体集
    積回路であり、その出力回路の出力トランジスタのドレ
    イン端子が直接出力端子に接続されたオープンドレイン
    形式とされていることを特徴とする請求項2に記載の半
    導体集積回路の構成方法。
  5. 【請求項5】 上記複数個の終端用抵抗は、それらが並
    列接続された場合にはその合成抵抗が伝送ラインの特性
    インピーダンスと整合し、直列接続された場合には電源
    電圧をその抵抗比で分割したときに所定の信号振幅が得
    られるようにそれぞれの抵抗値が決定されていることを
    特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路の構成方
    法。
  6. 【請求項6】 上記終端用抵抗の抵抗値は、83Ω〜1
    12Ωまたは112Ω〜125Ωの範囲にあることを特
    徴とする請求項5に記載の半導体集積回路の構成方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004342897A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Renesas Technology Corp 半導体装置

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JP2004342897A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Renesas Technology Corp 半導体装置

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