JPH08136336A - Correcting method of temperature characteristic of electronic type balance - Google Patents

Correcting method of temperature characteristic of electronic type balance

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JPH08136336A
JPH08136336A JP27820194A JP27820194A JPH08136336A JP H08136336 A JPH08136336 A JP H08136336A JP 27820194 A JP27820194 A JP 27820194A JP 27820194 A JP27820194 A JP 27820194A JP H08136336 A JPH08136336 A JP H08136336A
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Abstract

PURPOSE: To provide a correcting method of the temperature characteristic of an electronic type balance which makes possible execution of accurate weighing without being affected by a change in temperature. CONSTITUTION: An analog circuit part A' is provided with a temperature sensor 50 detecting the temperature of this circuit part, and a computer 41 measures temperature coefficients of a zero point and a span beforehand for each of gains of dead division erasing-regulating circuit 43 and a gain regulating circuit 45 and corrects the zero point and the span on the basis of information on an actual temperature detected by the temperature sensor 50.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子式はかりの温度特性
補正方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature characteristic correction method for electronic scales.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の上記電子式はかりの回路構成を図
3,図4に示す。図3において、1は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子2は後述するアナ
ログ回路部Aの電源端子3に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子4はアナログ回路部Aの入力端子5に
接続され、ロードセル1の荷重検出信号aがアナログ回
路部Aに入力され、また励磁端子2はアナログ回路部A
の基準端子6に接続され、ロードセル1の電圧信号bが
アナログ回路部Aに入力されている。
2. Description of the Related Art FIG. 3 and FIG. 4 show the circuit construction of a conventional electronic scale described above. In FIG. 3, reference numeral 1 is a load cell of the detecting means of the scale, the excitation terminal 2 of which is connected to a power supply terminal 3 of an analog circuit section A described later to supply power, and the output terminal 4 of which is an analog circuit section A. Connected to the input terminal 5, the load detection signal a of the load cell 1 is input to the analog circuit section A, and the exciting terminal 2 is connected to the analog circuit section A.
, And the voltage signal b of the load cell 1 is input to the analog circuit section A.

【0003】アナログ回路部Aは、入力端子5に接続さ
れ、ロードセル1の荷重検出信号aを増幅し、増幅され
た荷重検出信号a’を出力するプリアンプ11と、基準端
子6に接続されロードセル1の電圧信号bを増幅し、基
準電圧信号cを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号cを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号dを出力するムダ目消去調整回
路13(後述する)と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号a’よりムダ目消去信号
dを減算し、計量信号eを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号eを調整し、計量信号e’を出
力するゲイン調整回路15(後述する)と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号cに応じ
て計量信号e’をディジタル信号fに変換するアナログ
−ディジタル変換器(以下、A/D変換器と略す)16か
ら構成されている。
The analog circuit section A is connected to the input terminal 5, amplifies the load detection signal a of the load cell 1, and outputs a amplified load detection signal a '. A preamplifier 11 is connected to the reference terminal 6 and the load cell 1 is connected. Of the reference amplifier 12 that amplifies the voltage signal b of
Connected to the preamplifier 11 and the waste elimination control circuit 13 and a waste elimination adjustment circuit 13 (described later) which adjusts the reference voltage signal c and outputs a waste elimination signal d corresponding to the waste of the balance. , A subtracter 14 for subtracting the unnecessary elimination signal d from the load detection signal a ′ and outputting a weighing signal e, and a subtractor
14 is connected to the gain adjusting circuit 15 (described later) that adjusts the weighing signal e and outputs the weighing signal e ′, and is connected to the gain adjusting circuit 15 and the reference amplifier 12 and outputs the weighing signal according to the reference voltage signal c. It is composed of an analog-digital converter (hereinafter abbreviated as A / D converter) 16 which converts e ′ into a digital signal f.

【0004】A/D変換器16から出力された計量のディ
ジタル信号fは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器(図示せず)に表示される。
The metric digital signal f output from the A / D converter 16 is output to the computer 21 via the output terminal 17, and the computer 21 displays the metric value on a digital display (not shown).

【0005】ムダ目消去調整回路13の回路図を図4に示
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Rs
と帰還側抵抗Rf の抵抗値の比により増幅率(ゲイン)
を定めることができる。帰還側抵抗Rf は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。
FIG. 4 shows a circuit diagram of the waste elimination adjusting circuit 13. The waste elimination adjusting circuit 13 is a circuit generally called an inverting amplifier circuit using an operational amplifier, and has an input side resistance R s.
And the resistance value of the resistance R f on the feedback side, the amplification factor (gain)
Can be determined. The feedback-side resistor R f is configured by connecting a plurality of fixed resistors 31 for coarse adjustment in series, and fixing each of these fixed resistors 31.
And a dip-switch 32 are connected in parallel with each other, and a variable resistor 33 for fine adjustment is further connected in series to the fixed resistor 31.

【0006】ゲイン調整回路15の回路も同様の構成であ
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。
The circuit of the gain adjusting circuit 15 has the same structure, and its explanation is omitted. However, the variable resistor 33 for fine adjustment is unnecessary. The operation of the above configuration will be described.

【0007】ロードセル1により検出された荷重検出信
号aは、プリアンプ11により増幅され、減算器14により
荷重検出信号a’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号dが減算されて計量信号eが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、A/D
変換器16によりディジタル信号fに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。
The load detection signal a detected by the load cell 1 is amplified by the preamplifier 11, and the subtracter 14 subtracts the waste elimination signal d adjusted by the waste elimination adjusting circuit 13 from the weight detection signal a '. The weighing signal e is obtained, and this output is adjusted by the gain adjusting circuit 15, and the A / D
The digital signal f is converted by the converter 16 and input to the computer 21, and the measured value is displayed on the digital display.

【0008】次に、ゲイン調整回路15とムダ目消去調整
回路13のゲインの調整方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル1に電源を供給する。
Next, a method of adjusting the gains of the gain adjusting circuit 15 and the waste elimination adjusting circuit 13 will be described. Power is supplied to the load cell 1 without a weight.

【0009】そしてまず、ムダ目消去調整回路13を調
整する。すなわち、ゲイン調整回路15の出力信号(計量
信号)e’のレベルを確認しながら、この出力信号e’
のレベルが”0”に一致するように、ムダ目消去調整回
路13のディップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続い
て可変抵抗33を可変する。
First, the waste elimination adjusting circuit 13 is adjusted. That is, while confirming the level of the output signal (measurement signal) e ′ of the gain adjusting circuit 15, this output signal e ′
The dip-switch 32 of the waste elimination adjustment circuit 13 is turned on to make a rough adjustment so that the level of the same becomes "0", and then the variable resistor 33 is changed.

【0010】ディジタル信号f=0をコンピュータ21は
計量値が零であると認識する。 はかりに、秤量の錘を載せる。 そして次に、ゲイン調整回路15を調整する。すなわ
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号e’がA/D変換器16の入力信号の上限値以下になる
ように、ゲイン調整回路15の出力信号e’のレベルを確
認しながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32
を投入して調整する。
The computer 21 recognizes the digital signal f = 0 as having a metric value of zero. Place a weighing weight on the balance. Then, the gain adjusting circuit 15 is adjusted. That is, the level of the output signal e ′ of the gain adjusting circuit 15 is adjusted so that the output signal e ′ of the gain adjusting circuit 15 when the weight of the weighing is placed becomes equal to or lower than the upper limit value of the input signal of the A / D converter 16. While checking, the dip-switch 32 of the gain adjustment circuit 15
To adjust.

【0011】調整された後のディジタル信号をf=βと
すると、コンピュータ21はβを秤量であると認識する。
Assuming that the adjusted digital signal is f = β, the computer 21 recognizes β as a weighing.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このように従
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
を調整しても、アナログ回路部Aでは構成する各部品の
温度特性により零点(上記錘を載せないときのA/D変
換値)、およびスパンβ(ゲイン調整回路15から出力さ
れる秤量の錘に対する計量値)に誤差が生じ、正確な計
量をできないという問題があった。さらに、ゲインを変
更する毎に、零点、およびスパンの温度特性が変化する
という問題があった。また、温度により影響を受けない
ように、アナログ回路部Aの回路を形成するには、たと
えば上記抵抗Rs ,Rf では、その抵抗値が温度により
バラツキの生じない高品質で高価な抵抗を選択する必要
があり、コストがアップするという問題があった。
However, even if the gains of the conventional gain adjustment circuit 15 and the waste elimination adjustment circuit 13 are adjusted in this way, the zero point ( There is a problem that an error occurs in the A / D conversion value when the weight is not placed) and the span β (measurement value output from the gain adjusting circuit 15 for the weight), and accurate weighing cannot be performed. Further, there is a problem that the temperature characteristics of the zero point and the span change every time the gain is changed. Further, in order to form a circuit of the analog circuit section A so as not to be influenced by temperature, for example, in the above resistors R s and R f , a high quality and expensive resistor whose resistance value does not vary depending on temperature is used. There is a problem that it is necessary to select it and the cost increases.

【0013】本発明はこのような問題点を解決するもの
であり、温度により諸量にバラツキが生じる部品を使用
でき、温度変化の影響を受けずに正確な計量を可能とす
る電子式はかりの温度特性補正方法を提供することを目
的とするものである。
The present invention is intended to solve such a problem, and it is possible to use a component in which various amounts vary depending on temperature, and to use an electronic scale that enables accurate weighing without being affected by temperature changes. It is an object of the present invention to provide a temperature characteristic correction method.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の電子式はかりの温度特性補正方法は、はかりの
検出手段としてロードセルを有し、減算器においてこの
ロードセルの荷重検出信号からムダ目消去調整回路にお
いて調整されたムダ目消去信号を減算し、この減算信号
をゲイン調整回路において調整し、ディジタル信号に変
換してコンピュータへ出力するアナログ回路部を有す電
子式はかりにおける、前記アナログ回路部の温度特性補
正方法であって、前記アナログ回路部に、この回路部の
温度を検出する温度センサを設け、少なくとも2つの所
定温度において、零点に相当する上記荷重検出信号を入
力して前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路の
ゲイン毎に、前記ゲイン調整回路の出力信号を零点情報
として記憶し、零点および秤量に相当する上記荷重検出
信号を入力して前記ゲイン調整回路のゲイン毎に、ゲイ
ン調整回路の零点および秤量に相当する出力信号と上記
零点情報との差をスパン情報として記憶し、前記温度セ
ンサにより検出された温度信号を温度情報として記憶
し、前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路のゲ
イン毎に、少なくとも2つの前記零点情報と温度情報か
ら零点の温度係数を求め、前記ゲイン調整回路のゲイン
毎に、少なくとも2つの前記スパン情報と温度情報から
スパンの温度係数を求め、実際の計量時に、前記温度セ
ンサにより検出された実温度情報と前記ムダ目消去調整
回路のゲインおよびゲイン調整回路のゲインに応じた零
点の温度係数から零点を補正し、前記実温度情報と前記
ゲイン調整回路のゲインに応じたスパンの温度係数から
スパンを補正することを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, a method for correcting temperature characteristics of an electronic scale according to the present invention has a load cell as means for detecting a scale, and a subtracter is wasteful from a load detection signal of the load cell. The analog circuit in an electronic scale having an analog circuit section for subtracting the useless erase signal adjusted in the erase adjusting circuit, adjusting the subtracted signal in the gain adjusting circuit, converting the subtracted signal into a digital signal and outputting the digital signal to the computer. A method for correcting temperature characteristics of a part, wherein the analog circuit part is provided with a temperature sensor for detecting a temperature of the circuit part, and the load detection signal corresponding to a zero point is input at least at two predetermined temperatures to input the waste signal. The output signal of the gain adjustment circuit is stored as zero point information for each gain of the eye elimination adjustment circuit and the gain adjustment circuit, and And the load detection signal corresponding to the weighing is input and for each gain of the gain adjusting circuit, the difference between the zero point of the gain adjusting circuit and the output signal corresponding to the weighing and the zero point information is stored as span information, and the temperature is stored. The temperature signal detected by the sensor is stored as temperature information, the temperature coefficient of the zero point is obtained from at least two zero point information and temperature information for each gain of the waste elimination adjustment circuit and the gain adjustment circuit, and the gain adjustment circuit is obtained. For each gain, the temperature coefficient of the span is obtained from at least two pieces of the span information and the temperature information, and the actual temperature information detected by the temperature sensor and the gain of the waste elimination adjusting circuit and the gain adjusting circuit at the time of actual weighing. The zero point is corrected from the temperature coefficient of the zero point according to the gain of the It is characterized in that for correcting the span from the temperature coefficient of the.

【0015】[0015]

【作用】上記方法によると、予め各ゲイン毎に零点の温
度係数とスパンの温度係数が求められ、実際の計量時、
選択されたゲインに応じた零点の温度係数とスパンの温
度係数に基づいて、温度センサにより検出された実温度
情報により零点が補正され、またスパンが補正され、よ
って正確な計量値が得られる。よって、アナログ回路部
に、たとえば温度により抵抗値がばらつく抵抗を使用す
ることが可能となり、安価な抵抗が使用でき、アナログ
回路部のコストを低減できる。
According to the above method, the temperature coefficient of the zero point and the temperature coefficient of the span are obtained in advance for each gain, and at the time of actual measurement,
Based on the temperature coefficient of the zero point and the temperature coefficient of the span corresponding to the selected gain, the zero point is corrected by the actual temperature information detected by the temperature sensor, and the span is corrected, so that an accurate measured value is obtained. Therefore, for example, a resistor whose resistance value varies depending on temperature can be used in the analog circuit portion, an inexpensive resistor can be used, and the cost of the analog circuit portion can be reduced.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例の図3の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that the same components as those of the conventional example shown in FIG.

【0017】図1は本発明の温度特性補正方法を使用し
た電子式はかりの回路構成図である。図示のように、ア
ナログ回路部A’には、従来のムダ目消去調整回路13に
代えて、後述するコンピュータ41から第1選択入力端子
42を介して、ムダ目消去選択信号gを入力し、アナログ
スイッチ(図示せず)によりゲインを調整し、はかりの
ムダ目に相当するムダ目消去信号dを出力するムダ目消
去調整回路43が設けられ、さらに従来のゲイン調整回路
15に代えて、コンピュータ41から第2選択入力端子44を
介して、ゲイン選択信号hを入力し、アナログスイッチ
(図示せず)によりゲインを調整し、計量信号eを調整
し、計量信号e’を出力するゲイン調整回路45が設けら
れている。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an electronic balance using the temperature characteristic correction method of the present invention. As shown in the figure, in the analog circuit portion A ′, instead of the conventional waste elimination adjustment circuit 13, a first selection input terminal from a computer 41 described later is provided.
A waste elimination adjusting circuit 43 which inputs a waste elimination selection signal g via 42, adjusts the gain by an analog switch (not shown), and outputs a waste elimination signal d corresponding to the waste of the balance is Provided and further conventional gain adjustment circuit
Instead of 15, the gain selection signal h is input from the computer 41 via the second selection input terminal 44, the gain is adjusted by an analog switch (not shown), the weighing signal e is adjusted, and the weighing signal e ′ is adjusted. A gain adjustment circuit 45 for outputting is provided.

【0018】また、アナログ回路部A’の温度を直接検
出する温度センサ50が設けられ、温度センサ50の温度検
出信号kをディジタル信号mに変換してコンピュータ41
へ出力端子51を介して出力するA/D変換器52が設けら
れている。
Further, a temperature sensor 50 for directly detecting the temperature of the analog circuit portion A'is provided, and the temperature detection signal k of the temperature sensor 50 is converted into a digital signal m to convert it to the computer 41.
An A / D converter 52 for outputting to the output terminal 51 is provided.

【0019】コンピュータ41による、電子式はかりの温
度特性補正方法、ムダ目消去調整回路43およびゲイン調
整回路45のゲイン調整方法、実計量方法を図2のフロー
チャートにしたがって説明する。 〔ステップ−1〕まず、恒温槽にアナログ基板部A’を
入れて、ロードセル1の代わりにダミーセルを接続して
給電し、アナログ基板部A’に仮の荷重検出信号aと電
圧信号bを入力させる。ダミーセルの出力が”0”とな
るように設定する。これにより、ゲイン調整回路45の出
力信号が、すなわち零点の信号e’がA/D変換器16に
おいてディジタル信号fに変換され、コンピュータ41に
入力される。このディジタル信号fには、プリアンプ1
1,基準アンプ12,ムダ目消去調整回路43、減算器14、
およびゲイン調整回路45の構成部品の温度特性が複合し
て現れる。なお、A/D変換器16の零点の温度特性は小
さいので無視できる。 〔ステップ−2〕ゲイン調整回路45にゲイン調整信号h
を出力し、アナログスイッチ(図示せず)によりゲイン
をGG 1に調整する。そして恒温槽の温度を−5℃にセ
ットし、またムダ目消去調整回路43にムダ目消去選択信
号gを出力し、アナログスイッチ(図示せず)によりゲ
インをGM 1に調整する。次に、このときのA/D変換
値(ディジタル信号f)をZ11(−5)としてコンピュ
ータ41に入力して記憶する。続いて、ゲインをGM 2,
M 3,GM 4と順に選択して、そのときのA/D変換
値をZ12(−5),Z13(−5),Z14(−5)として
コンピュータ41に入力して記憶する。また、温度センサ
50の温度検出信号kのA/D変換値T(−5)を入力し
て記憶する。
A method for correcting the temperature characteristic of the electronic scale, a method for adjusting the gain of the waste elimination adjusting circuit 43 and the gain adjusting circuit 45, and an actual measuring method by the computer 41 will be described with reference to the flowchart of FIG. [Step-1] First, put the analog substrate A'in the constant temperature bath, connect a dummy cell instead of the load cell 1 to supply power, and input a temporary load detection signal a and voltage signal b to the analog substrate A '. Let It is set so that the output of the dummy cell becomes "0". As a result, the output signal of the gain adjusting circuit 45, that is, the zero-point signal e ′ is converted into the digital signal f in the A / D converter 16 and input to the computer 41. For this digital signal f, the preamplifier 1
1, reference amplifier 12, waste elimination adjustment circuit 43, subtractor 14,
And the temperature characteristics of the components of the gain adjustment circuit 45 appear in combination. The temperature characteristic of the zero point of the A / D converter 16 is small and can be ignored. [Step-2] Gain adjustment signal h to gain adjustment circuit 45
Is output, and the gain is adjusted to G G 1 by an analog switch (not shown). Then, the temperature of the constant temperature bath is set to −5 ° C., a waste elimination selecting signal g is output to the waste elimination adjusting circuit 43, and the gain is adjusted to G M 1 by an analog switch (not shown). Next, the A / D converted value (digital signal f) at this time is input to the computer 41 and stored as Z11 (-5). Then, set the gain to G M 2,
G M 3 and G M 4 are selected in order, and the A / D converted values at that time are input to the computer 41 and stored as Z12 (-5), Z13 (-5), and Z14 (-5). Also, the temperature sensor
The A / D conversion value T (-5) of 50 temperature detection signals k is input and stored.

【0020】次に、ゲイン調整回路45のゲインをG
G 2,GG 3,GG 4に調整して、その各々のゲインに
対して、ムダ目消去調整回路43のゲインがGM 1,GM
2,GM3,GM 4のときのディジタル信号fをコンピ
ュータ41に入力して記憶する。 〔ステップ−3〕恒温槽の温度を20℃にセットし、ス
テップ−2と同一の動作を繰り返す。 〔ステップ−4〕恒温槽の温度を45℃にセットし、ス
テップ−2と同一の動作を繰り返す。
Next, the gain of the gain adjusting circuit 45 is set to G
G 2, G G 3, adjusted to G G 4, the gain of each, G M 1 gain of waste th erasure adjustment circuit 43, G M
The digital signal f of 2, G M 3 and G M 4 is input to the computer 41 and stored therein. [Step-3] The temperature of the constant temperature bath is set to 20 ° C., and the same operation as Step-2 is repeated. [Step-4] The temperature of the constant temperature bath is set to 45 ° C., and the same operation as Step-2 is repeated.

【0021】上記記憶した結果を表1〜表4に示す。The stored results are shown in Tables 1 to 4.

【0022】[0022]

【表1】 [Table 1]

【0023】[0023]

【表2】 [Table 2]

【0024】[0024]

【表3】 [Table 3]

【0025】[0025]

【表4】 [Table 4]

【0026】〔ステップ−5〕ムダ目消去調整回路43に
ムダ目消去選択信号gを出力し、アナログスイッチ(図
示せず)によりゲインをGM 1に調整する。そして、恒
温槽の温度を−5℃にセットし、またゲイン調整回路45
にゲイン選択信号hを出力し、アナログスイッチ(図示
せず)によりゲインをGG 1に調整する。
[Step-5] A waste elimination selecting signal g is output to the waste elimination adjusting circuit 43, and the gain is adjusted to G M 1 by an analog switch (not shown). Then, the temperature of the constant temperature bath is set to -5 ° C, and the gain adjustment circuit 45
The gain selection signal h is output to and the gain is adjusted to G G 1 by an analog switch (not shown).

【0027】そして、まずダミーセルの出力が”0”と
なるように調整して、このときのディジタル信号fをコ
ンピュータ41にα(=Z11(−5)となる)として入力
し、次にダミーセルの出力を秤量の錘を載せたときと略
等しくなるように調整して、このときのディジタル信号
fをコンピュータ41にβとして入力し、(β−α)を演
算してスパン値G1(−5)としてコンピュータ41に記
憶する。続いて、同様に、ゲインをGG 2,GG 3,G
G 4と順に選択して、それぞれの場合のスパン値を計測
してG2(−5),G3(−5),G4(−5)として
記憶する。また、温度センサ50の温度検出信号kのカウ
ント値T(−5)を入力して記憶する。スパン値G1
(−5),G2(−5),G3(−5),G4(−5)
には、アナログ回路部A’の各部の感度(ゲイン)の温
度特性が複合して現れる。 〔ステップ−6〕恒温槽の温度を20℃にセットし、ス
テップ−5と同一の動作を繰り返す。 〔ステップ−7〕恒温槽の温度を45℃にセットし、ス
テップ−5と同一の動作を繰り返す。
First, the output of the dummy cell is adjusted to "0", the digital signal f at this time is input to the computer 41 as α (= Z11 (-5)), and then the dummy cell The output is adjusted so as to be substantially the same as when the weight for weighing is placed, and the digital signal f at this time is input to the computer 41 as β, (β-α) is calculated, and the span value G1 (-5) Is stored in the computer 41 as Then, similarly, the gains are changed to G G 2, G G 3, G
Select the G 4 and sequentially, G2 to measure the span value in each case (-5), G3 (-5) , stored as G4 (-5). Further, the count value T (-5) of the temperature detection signal k of the temperature sensor 50 is input and stored. Span value G1
(-5), G2 (-5), G3 (-5), G4 (-5)
, The temperature characteristics of the sensitivity (gain) of each part of the analog circuit part A ′ appear in combination. [Step-6] The temperature of the constant temperature bath is set to 20 [deg.] C., and the same operation as Step-5 is repeated. [Step-7] The temperature of the constant temperature bath is set to 45 [deg.] C., and the same operation as Step-5 is repeated.

【0028】上記記憶した結果を表5に示す。Table 5 shows the stored results.

【0029】[0029]

【表5】 [Table 5]

【0030】〔ステップ−8〕次に、上記表1に求めた
計測値から、ゲイン調整回路45のゲインがGG 1の場合
について、各ゲインGM 1,GM 2,GM 3,GM 4毎
に、20℃未満、以上の零点の温度係数Z11(L),Z
11(H),Z12(L),Z12(H),Z13(L),Z13
(H),Z14(L),Z14(H)を下記の式により演算
して記憶する。
[Step-8] Next, from the measured values obtained in Table 1 above, when the gain of the gain adjusting circuit 45 is G G 1, the respective gains G M 1, G M 2, G M 3, G each M 4, less than 20 ° C., the temperature coefficient of more than zero Z11 (L), Z
11 (H), Z12 (L), Z12 (H), Z13 (L), Z13
(H), Z14 (L), Z14 (H) are calculated by the following formula and stored.

【0031】Z11(L)={Z11(20)−Z11(−
5)}/{T(20)−T(−5)} Z11(H)={Z11(45)−Z11(20)}/{T
(45)−T(20)} Z12(L)={Z12(20)−Z12(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z12(H)={Z12(45)−Z12(20)}/{T
(45)−T(20)} Z13(L)={Z13(20)−Z13(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z13(H)={Z13(45)−Z13(20)}/{T
(45)−T(20)} Z14(L)={Z14(20)−Z14(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z14(H)={Z14(45)−Z14(20)}/{T
(45)−T(20)} 同様に、ゲイン調整回路45のゲインがGG 2,GG 3,
G 4の場合についても上記表2〜表4に求めた計測値
から、各ゲインGM 1,GM 2,GM 3,GM4毎に、
20℃未満、以上の零点の温度係数Z21(L)〜Z24
(H),Z31(L)〜Z34(H),Z41(L)〜Z44
(H)を下記の式により演算して記憶する。
Z11 (L) = {Z11 (20) -Z11 (-
5)} / {T (20) -T (-5)} Z11 (H) = {Z11 (45) -Z11 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z12 (L) = {Z12 (20) -Z12 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z12 (H) = {Z12 (45) -Z12 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z13 (L) = {Z13 (20) -Z13 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z13 (H) = {Z13 (45) -Z13 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z14 (L) = {Z14 (20) -Z14 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z14 (H) = {Z14 (45) -Z14 (20)} / {T
(45) −T (20)} Similarly, the gain of the gain adjustment circuit 45 is G G 2, G G 3,
From the measured values was also determined in the above Tables 2 4 for the case of G G 4, each gain G M 1, G M 2, G M 3, each G M 4,
Temperature coefficient Z21 (L) to Z24 of zero point of less than 20 ℃
(H), Z31 (L) to Z34 (H), Z41 (L) to Z44
(H) is calculated by the following formula and stored.

【0032】Z21(L)={Z21(20)−Z21(−
5)}/{T(20)−T(−5)} Z21(H)={Z21(45)−Z21(20)}/{T
(45)−T(20)} Z22(L)={Z22(20)−Z22(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z22(H)={Z22(45)−Z22(20)}/{T
(45)−T(20)} Z23(L)={Z23(20)−Z23(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z23(H)={Z23(45)−Z23(20)}/{T
(45)−T(20)} Z24(L)={Z24(20)−Z24(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z24(H)={Z24(45)−Z24(20)}/{T
(45)−T(20)} Z31(L)={Z31(20)−Z31(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z31(H)={Z31(45)−Z31(20)}/{T
(45)−T(20)} Z32(L)={Z32(20)−Z32(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z32(H)={Z32(45)−Z32(20)}/{T
(45)−T(20)} Z33(L)={Z33(20)−Z33(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z33(H)={Z33(45)−Z33(20)}/{T
(45)−T(20)} Z34(L)={Z34(20)−Z34(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z34(H)={Z34(45)−Z34(20)}/{T
(45)−T(20)} Z41(L)={Z41(20)−Z41(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z41(H)={Z41(45)−Z41(20)}/{T
(45)−T(20)} Z42(L)={Z42(20)−Z42(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z42(H)={Z42(45)−Z42(20)}/{T
(45)−T(20)} Z43(L)={Z43(20)−Z43(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z43(H)={Z43(45)−Z43(20)}/{T
(45)−T(20)} Z44(L)={Z44(20)−Z44(−5)}/{T
(20)−T(−5)} Z44(H)={Z44(45)−Z44(20)}/{T
(45)−T(20)} 〔ステップ−9〕次に、上記表2に求めた計測値から、
各ゲインGG 1,GG 2,GG 3,GG4毎に、20℃
未満、以上のスパンの温度係数G1(L),G1
(H),G2(L),G2(H),G3(L),G3
(H),G4(L),G4(H)を下記の式により演算
して記憶する。
Z21 (L) = {Z21 (20) -Z21 (-
5)} / {T (20) -T (-5)} Z21 (H) = {Z21 (45) -Z21 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z22 (L) = {Z22 (20) -Z22 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z22 (H) = {Z22 (45) -Z22 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z23 (L) = {Z23 (20) -Z23 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z23 (H) = {Z23 (45) -Z23 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z24 (L) = {Z24 (20) -Z24 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z24 (H) = {Z24 (45) -Z24 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z31 (L) = {Z31 (20) -Z31 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z31 (H) = {Z31 (45) -Z31 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z32 (L) = {Z32 (20) -Z32 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z32 (H) = {Z32 (45) -Z32 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z33 (L) = {Z33 (20) -Z33 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z33 (H) = {Z33 (45) -Z33 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z34 (L) = {Z34 (20) -Z34 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z34 (H) = {Z34 (45) -Z34 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z41 (L) = {Z41 (20) -Z41 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z41 (H) = {Z41 (45) -Z41 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z42 (L) = {Z42 (20) -Z42 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z42 (H) = {Z42 (45) -Z42 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z43 (L) = {Z43 (20) -Z43 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z43 (H) = {Z43 (45) -Z43 (20)} / {T
(45) -T (20)} Z44 (L) = {Z44 (20) -Z44 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} Z44 (H) = {Z44 (45) -Z44 (20)} / {T
(45) -T (20)} [Step-9] Next, from the measured values obtained in Table 2 above,
20 ° C for each gain G G 1, G G 2, G G 3, G G 4
Temperature coefficient G1 (L), G1 of less than or more than
(H), G2 (L), G2 (H), G3 (L), G3
(H), G4 (L), G4 (H) are calculated by the following formulas and stored.

【0033】G1(L)={G1(20)−G1(−
5)}/{T(20)−T(−5)} G1(H)={G1(45)−G1(20)}/{T
(45)−T(20)} G2(L)={G2(20)−G2(−5)}/{T
(20)−T(−5)} G2(H)={G2(45)−G2(20)}/{T
(45)−T(20)} G3(L)={G3(20)−G3(−5)}/{T
(20)−T(−5)} G3(H)={G3(45)−G3(20)}/{T
(45)−T(20)} G4(L)={G4(20)−G4(−5)}/{T
(20)−T(−5)} G4(H)={G4(45)−G4(20)}/{T
(45)−T(20)} 〔ステップ−10〕次に、アナログ基板部A’を実際の電
子式はかりに組み込み、ロードセル1を接続して給電
し、実際の荷重検出信号aと電圧信号bを入力させる。 〔ステップ−11〕次に、下記の項目を入力する。
G1 (L) = {G1 (20) -G1 (-
5)} / {T (20) -T (-5)} G1 (H) = {G1 (45) -G1 (20)} / {T
(45) -T (20)} G2 (L) = {G2 (20) -G2 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} G2 (H) = {G2 (45) -G2 (20)} / {T
(45) -T (20)} G3 (L) = {G3 (20) -G3 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} G3 (H) = {G3 (45) -G3 (20)} / {T
(45) -T (20)} G4 (L) = {G4 (20) -G4 (-5)} / {T
(20) -T (-5)} G4 (H) = {G4 (45) -G4 (20)} / {T
(45) -T (20)} [Step-10] Next, the analog board portion A'is incorporated into an actual electronic scale, the load cell 1 is connected and power is supplied, and the actual load detection signal a and voltage signal b. To enter. [Step-11] Next, enter the following items.

【0034】1.ロードセル1の印加電圧V(v), 2.ロードセル1の定格出力L(mv/v), 3.ロードセル1の定格容量F(kgf), 4.ロードセル1の並列接続個数N, 5.電子式はかりの秤量W(kg), 6.電子式はかりのムダ目Z(kg), 7.A/D変換器16の基準電圧X(v), 8.A/D変換器16のフルスケールS, 9.プリアンプ11のゲインGP (倍), 10.はかりの零点の許容値J 11.はかりのスパンの基準スケールK 12.ムダ目消去調整回路43が選択可能なゲインG
M (倍), 13.ゲイン調整回路45が選択可能なゲインGG (倍) 〔ステップ−12〕次に、下記(1)式を満たすゲイン調
整回路45のゲインGG を演算する。
1. Applied voltage V (v) of the load cell 1, 2. Rated output L (mv / v) of load cell 1, 2. Rated capacity F (kgf) of load cell 1, 4. 4. Number of load cells 1 connected in parallel N, 5. 5. Weight of electronic scale W (kg), 6. 6. Waste of electronic scale Z (kg), 7. 7. Reference voltage X (v) of A / D converter 16, 8. Full scale S of A / D converter 16, 9. Gain of preamplifier 11 G P (times), 10. Allowable value of zero of balance J 11. Scale reference scale K 12. Gain G selectable by the waste elimination adjustment circuit 43
M (times), 13. The gain adjustment circuit 45 selectable gain G G (fold) [Step -12 Next, calculates the gain G G of the gain adjustment circuit 45 satisfies the following formula (1).

【0035】 V・L・W/(F・N)・GP ・S/X・GG ≦K …(1) 上記(1)式は、秤量Wに対応する最大のA/D変換値
(基準スケールK内)を得るものである。
V · L · W / (F · N) · GP · S / X · G G ≦ K (1) The above equation (1) is the maximum A / D conversion value ( Within the reference scale K).

【0036】たとえば、V=12v,L=2mv/v,F
=120 kgf,N=1,W=50kg,X=2v,S=10
0000,GP =100 倍,K=60000 とすると、 ゲインGG ≦1.20 が求まる。 〔ステップ−13〕上記(1)式を満たす最大のゲイン調
整回路45のゲインGG を選択する。
For example, V = 12v, L = 2mv / v, F
= 120 kgf, N = 1, W = 50 kg, X = 2v, S = 10
When 0000, G P = 100 times and K = 60,000, the gain G G ≦ 1.20 is obtained. [Step -13] selecting a gain G G greatest gain adjustment circuit 45 which satisfies the above equation (1).

【0037】たとえば、GG 1=1.00,GG 2=1.40,
G 3=1.96,GG 4=2.74 が選択可能であるとする
と、 ゲインGG 1=1.00 が選択される。 〔ステップ−14〕選択したゲインGG 1のゲイン選択信
号hをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選択信
号hによりゲイン調整回路45においてゲインが調整され
る。 〔ステップ−15〕さらに、選択したゲインGG による秤
量Wに対するA/D変換器16の変換値を演算して、記憶
する。いま、(1)式の左辺の計算値は”50000 ”とな
り、秤量Wに対するA/D変換値は”50000 ”となる。
したがって、以後コンピュータ41はディジタル信号f
の、増分”50000 ”を秤量(W=50kg)と認識する。
For example, G G 1 = 1.00, G G 2 = 1.40,
If G G 3 = 1.96 and G G 4 = 2.74 are selectable, the gain G G 1 = 1.00 is selected. [Step-14] The gain selection signal h of the selected gain G G 1 is output to the gain adjustment circuit 45. The gain is adjusted in the gain adjusting circuit 45 by the gain selection signal h. [Step -15] Further, by calculating the conversion value of the A / D converter 16 for the weighing W by the gain G G selected and stored. Now, the calculated value on the left side of the equation (1) is "50000", and the A / D converted value for the weight W is "50000".
Therefore, thereafter, the computer 41 causes the digital signal f
Recognize the increment "50000" as the weight (W = 50 kg).

【0038】上記ステップ−12〜15により、ゲイン調整
回路45のゲインGG の選択によりコンピュータ41へ出力
する基準スケールK(=60000 )内で最大のA/D変換
値(=50000 )が得られる。 〔ステップ−16〕上記選択されたゲインGG において、
下記(2)式を満たすムダ目調整回路43のゲインGM
演算する。
[0038] By the above step -12~15, reference scale K (= 60000) maximum A / D conversion value in which the selection of the gain G G of the gain adjustment circuit 45 outputs to the computer 41 (= 50000) are obtained . [Step-16] In the selected gain G G ,
The gain G M of the waste adjustment circuit 43 that satisfies the following equation (2) is calculated.

【0039】 絶対値{V・L・Z/(F・N)・GP ・S/X・GG −X・GM ・S/X・GG J …(2) 上記(2)式は、錘を載せない状態でのA/D変換値
(ディジタル信号f)の絶対値が許容値J以内となるよ
うに、ムダ目調整回路43のゲインGM を調整するもので
ある。
The absolute value {V · L · Z / ( F · N) · G P · S / X · G G -X · G M · S / X · G G} ≦ J ... (2) (2) The formula adjusts the gain G M of the waste adjustment circuit 43 so that the absolute value of the A / D converted value (digital signal f) without the weight is within the allowable value J.

【0040】GG =1.00において、たとえば、Z=42k
g,J=10000 とすると、 0.32≦ゲインGM ≦0.52 が求まる。 〔ステップ−17〕上記(2)式を満たし、かつ(2)式
の左辺が最小となるムダ目調整回路43のゲインGM を選
択する。
When G G = 1.00, for example, Z = 42k
When g and J = 10000, 0.32 ≦ gain G M ≦ 0.52 is obtained. [Step-17] Select the gain G M of the waste adjustment circuit 43 that satisfies the above expression (2) and minimizes the left side of the expression (2).

【0041】たとえば、GM 1=0.10,GM 2=0.30,
M 3=0.50,GM 4=0.70 が選択可能であるとする
と、 ゲインGM 3=0.50 が選択される。 〔ステップ−18〕選択したゲインGM 3のムダ目消去選
択信号gをムダ目消去調整回路43へ出力する。このムダ
目消去選択信号gによりムダ目消去調整回路43において
ゲインが調整される。 〔ステップ−19〕さらに、選択したゲインGM による零
点のバイアス値を演算して、零点の値として記憶する。
いま、(2)式の左辺の計算値は”絶対値(−8000)”
となり、零点に対するA/D変換値は”−8000”とな
る。したがって、コンピュータ41はディジタル信号fと
して、”−8000”を入力すると、計量値を0kgと認識
する。
For example, G M 1 = 0.10, G M 2 = 0.30,
If G M 3 = 0.50 and G M 4 = 0.70 are selectable, then the gain G M 3 = 0.50 is selected. [Step-18] The waste elimination selecting signal g of the selected gain G M 3 is output to the waste elimination adjusting circuit 43. The gain elimination adjustment circuit 43 adjusts the gain in accordance with this elimination elimination signal g. [Step-19] Further, the bias value of the zero point by the selected gain G M is calculated and stored as the value of the zero point.
Now, the calculated value on the left side of equation (2) is "absolute value (-8000)".
Therefore, the A / D converted value for the zero point is "-8000". Therefore, when the computer 41 inputs "-8000" as the digital signal f, it recognizes the measured value as 0 kg.

【0042】以後、コンピュータ41はA/D変換値”−
8000〜42000 (=−8000+50000 )”を”0〜50kg”
と認識することになる。上記ステップ−16〜19により、
選択されたゲインGG において、錘を載せない状態での
A/D変換値の絶対値が最小となるムダ目調整回路のゲ
インGM が選択される。 〔ステップ−20〕上記選択されたゲイン調整回路45のゲ
インGG とムダ目調整回路43のゲインG M に基づいて、
零点の温度係数とスパンの温度係数を選択する。
Thereafter, the computer 41 causes the A / D converted value "-".
8000-42000 (= -8000 + 50000) "to" 0-50kg "
Will be recognized. By the above steps -16 to 19,
Selected gain GGIn the state where the weight is not placed
The target of the waste adjustment circuit that minimizes the absolute value of the A / D conversion value.
In GMIs selected. [Step-20] The gain adjustment circuit 45 selected above
In GGAnd the gain G of the waste adjustment circuit 43 MOn the basis of,
Select the temperature coefficient of zero and the temperature coefficient of span.

【0043】ゲイン調整回路45のゲインGG としてGG
1、ムダ目調整回路43のゲインGMとしてGM 3が選択
されているので、零点の温度係数としてZ13(L),Z
13(H)が選択され、スパンの温度係数としてG1
(L),G1(H)が選択される。 〔ステップ−21〕上記選択された零点の温度係数と入力
した現在のアナログ回路部A’の温度t℃のA/D変換
値T(t)から、錘を載せない状態で測定された零点Z
1(t)を下記の式により補正する。補正後の零点の計
量値をZ(t)とする。
As the gain G G of the gain adjusting circuit 45, G G
1. Since G M 3 is selected as the gain G M of the waste adjustment circuit 43, the temperature coefficient of the zero point is Z13 (L), Z
13 (H) is selected and G1 is used as the temperature coefficient of span.
(L) and G1 (H) are selected. [Step-21] From the temperature coefficient of the selected zero point and the input A / D converted value T (t) of the current temperature t ° C. of the analog circuit section A ′, the zero point Z measured without the weight is set.
1 (t) is corrected by the following formula. Let Z (t) be the metric value of the corrected zero point.

【0044】T(t)<T(20)の場合、 Z(t)=Z1(t)+Z13(L)・{T(20)−T
(t)} T(t)≧T(20)の場合、 Z(t)=Z1(t)−Z13(H)・{T(t)−T
(20)} 〔ステップ−22〕上記選択されたスパンの温度係数と入
力した現在のアナログ回路部A’の温度t℃のA/D変
換値T(t)から、スパン計量値G1(t){=計量値
(A/D変換器16のディジタル信号f)−Z1(t)}
を下記の式により補正する。補正後の計量値をG(t)
とする。
When T (t) <T (20), Z (t) = Z1 (t) + Z13 (L)  {T (20) -T
(T)} When T (t) ≧ T (20), Z (t) = Z1 (t) −Z13 (H) · {T (t) −T
(20)} [Step-22] From the temperature coefficient of the selected span and the A / D conversion value T (t) of the input current temperature t ° C. of the analog circuit section A ′, the span measurement value G1 (t) {= Metric value (digital signal f of A / D converter 16) -Z1 (t)}
Is corrected by the following formula. The corrected measured value is G (t)
And

【0045】T(t)<T(20)の場合、 G(t)=G1(t)+G1(L)・{T(20)−T
(t)} T(t)≧T(20)の場合、 G(t)=G1(t)−G1(H)・{T(t)−T
(20)} 〔ステップ−23〕実際の計量値Q(kg)を下記式によ
り演算する。
When T (t) <T (20), G (t) = G1 (t) + G1 (L)  {T (20) -T
(T)} When T (t) ≧ T (20), G (t) = G1 (t) −G1 (H) · {T (t) −T
(20)} [Step-23] The actual measured value Q (kg) is calculated by the following equation.

【0046】 Q=G(t)/50000 ・50(=秤量W) (kg) このように、温度センサ50により直接求めた実際のアナ
ログ回路部A’の温度により零点が補正され、またスパ
ンが補正されることによって、より正確な計量値Qを得
ることができる。したがって、アナログ回路部A’を構
成する部品に、温度により諸量がばらつく部品を使用す
ることが可能となり、安価な部品を使用でき、コストを
低減することができる。さらにゲイン調整回路45のゲイ
ンGG およびムダ目調整回路43のゲインGM が変更にな
っても、ゲインに応じた温度係数が選択されることによ
り、ゲイン変更による誤差を回避でき、正確な計量値Q
を得ることができる。
Q = G (t) / 50000 · 50 (= weighing W) (kg) As described above, the zero point is corrected by the actual temperature of the analog circuit unit A ′ directly obtained by the temperature sensor 50, and the span is By being corrected, a more accurate measurement value Q can be obtained. Therefore, it is possible to use, as the components forming the analog circuit unit A ′, components whose amounts vary depending on the temperature, inexpensive components can be used, and the cost can be reduced. Further, even if the gain G G of the gain adjusting circuit 45 and the gain G M of the waste adjusting circuit 43 are changed, by selecting the temperature coefficient according to the gain, the error due to the gain change can be avoided, and the accurate weighing can be performed. Value Q
Can be obtained.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上述べたように本発明によると、予め
零点の温度係数とスパンの温度係数が求められ、実際の
計量時、これら零点の温度係数とスパンの温度係数に基
づいて、温度センサにより検出された実温度情報により
零点が補正され、またスパンが補正されることによって
正確な計量値を得ることができる。したがって、アナロ
グ回路部を構成する部品に、温度により諸量がばらつく
部品を使用することが可能となり、安価な部品を使用で
き、コストを低減することができる。さらに回路のゲイ
ンが変更になっても、ゲインに応じた温度係数が選択さ
れることにより、ゲイン変更による誤差を回避でき、正
確な計量値を得ることができる。
As described above, according to the present invention, the temperature coefficient of the zero point and the temperature coefficient of the span are obtained in advance, and at the time of actual measurement, the temperature sensor is based on the temperature coefficient of the zero point and the temperature coefficient of the span. An accurate measured value can be obtained by correcting the zero point and the span by the actual temperature information detected by. Therefore, it is possible to use, as the components forming the analog circuit section, components whose amounts vary depending on temperature, inexpensive components can be used, and the cost can be reduced. Further, even if the gain of the circuit is changed, by selecting the temperature coefficient according to the gain, the error due to the gain change can be avoided and an accurate measured value can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の温度特性補正方法を使用した電子式は
かりの回路構成図である。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an electronic balance using a temperature characteristic correction method of the present invention.

【図2】同電子式はかりのフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart of the electronic scale.

【図3】従来の電子式はかりの回路構成図である。FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a conventional electronic scale.

【図4】従来の電子式はかりのムダ目消去調整回路の回
路構成図である。
FIG. 4 is a circuit configuration diagram of a conventional waste elimination control circuit of an electronic scale.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ロードセル 11 プリアンプ 12 基準アンプ 14 減算器 16,52 アナログ−ディジタル変換器 41 コンピュータ 43 ムダ目消去調整回路 45 ゲイン調整回路 50 温度センサ A’ アナログ回路部 a,a’ 荷重検出信号 b 電圧信号 c 基準電圧信号 d ムダ目消去信号 e,e’ 計量信号 f ディジタル信号 g ムダ目消去選択信号 h ゲイン選択信号 k 温度検出信号 m ディジタル信号 1 Load cell 11 Preamplifier 12 Reference amplifier 14 Subtractor 16,52 Analog-digital converter 41 Computer 43 Unnecessary erasure adjustment circuit 45 Gain adjustment circuit 50 Temperature sensor A'Analog circuit section a, a 'Load detection signal b Voltage signal c Reference Voltage signal d Waste elimination signal e, e'Weighing signal f Digital signal g Waste elimination selection signal h Gain selection signal k Temperature detection signal m Digital signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 はかりの検出手段としてロードセルを有
し、減算器においてこのロードセルの荷重検出信号から
ムダ目消去調整回路において調整されたムダ目消去信号
を減算し、この減算信号をゲイン調整回路において調整
し、ディジタル信号に変換してコンピュータへ出力する
アナログ回路部を有す電子式はかりにおける、前記アナ
ログ回路部の温度特性補正方法であって、 前記アナログ回路部に、この回路部の温度を検出する温
度センサを設け、 少なくとも2つの所定温度において、零点に相当する上
記荷重検出信号を入力して前記ムダ目消去調整回路およ
びゲイン調整回路のゲイン毎に、前記ゲイン調整回路の
出力信号を零点情報として記憶し、零点および秤量に相
当する上記荷重検出信号を入力して前記ゲイン調整回路
のゲイン毎に、ゲイン調整回路の零点および秤量に相当
する出力信号と上記零点情報との差をスパン情報として
記憶し、前記温度センサにより検出された温度信号を温
度情報として記憶し、 前記ムダ目消去調整回路のゲイン毎およびゲイン調整回
路のゲイン毎に、少なくとも2つの前記零点情報と温度
情報から零点の温度係数を求め、前記ゲイン調整回路の
ゲイン毎に、少なくとも2つの前記スパン情報と温度情
報からスパンの温度係数を求め、 実際の計量時に、前記温度センサにより検出された実温
度情報と前記ムダ目消去調整回路のゲインおよびゲイン
調整回路のゲインに応じた零点の温度係数から零点を補
正し、前記実温度情報と前記ゲイン調整回路のゲインに
応じたスパンの温度係数からスパンを補正することを特
徴とする電子式はかりの温度特性補正方法。
1. A load cell as means for detecting a balance, wherein a subtractor subtracts a waste elimination signal adjusted in a waste elimination adjusting circuit from a load detection signal of the load cell, and the subtraction signal is applied in a gain adjusting circuit. A method for correcting temperature characteristics of an analog circuit section in an electronic scale having an analog circuit section that is adjusted, converted into a digital signal and output to a computer, wherein the analog circuit section detects the temperature of the circuit section. Temperature sensor is provided, and at least at two predetermined temperatures, the load detection signal corresponding to the zero point is input, and the output signal of the gain adjustment circuit is set as zero point information for each gain of the waste elimination adjustment circuit and the gain adjustment circuit. For each gain of the gain adjustment circuit by inputting the load detection signal corresponding to the zero point and the weighing amount. The difference between the output signal corresponding to the zero point and the weighing of the gain adjustment circuit and the zero point information is stored as span information, the temperature signal detected by the temperature sensor is stored as temperature information, and the gain of the waste elimination adjustment circuit is stored. Temperature coefficient of the zero point is obtained from at least two pieces of the zero point information and the temperature information for each gain of the gain adjustment circuit, and a temperature coefficient of the span is obtained from at least two pieces of the span information and the temperature information for each gain of the gain adjustment circuit. At the time of actual measurement, the zero point is corrected from the actual temperature information detected by the temperature sensor, the gain of the waste elimination adjusting circuit and the temperature coefficient of the zero point according to the gain of the gain adjusting circuit, and the actual temperature information is obtained. And a temperature coefficient of the span according to the gain of the gain adjusting circuit, the span is corrected, and the temperature characteristic of the electronic balance is characterized. Sex correction method.
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