JPH08131445A - Optical measuring instrument - Google Patents

Optical measuring instrument

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Publication number
JPH08131445A
JPH08131445A JP6278797A JP27879794A JPH08131445A JP H08131445 A JPH08131445 A JP H08131445A JP 6278797 A JP6278797 A JP 6278797A JP 27879794 A JP27879794 A JP 27879794A JP H08131445 A JPH08131445 A JP H08131445A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
optical system
sample
measuring device
Prior art date
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Pending
Application number
JP6278797A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukiko Hirabayashi
由紀子 平林
Fumio Kawaguchi
文男 川口
Yuichi Yamashita
優一 山下
Atsushi Maki
敦 牧
Hideaki Koizumi
英明 小泉
Yoshitoshi Ito
嘉敏 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6278797A priority Critical patent/JPH08131445A/en
Publication of JPH08131445A publication Critical patent/JPH08131445A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)

Abstract

PURPOSE: To obtain the instrument which measures scattered light or fluorescent light from a spot in a scattering body by making one of branched light incident on a sample, making the light scattered at the focus in the sample into a parallel light through an optical system, and putting the parallel light together with the other frequency-modulated light and detecting the plane wave component of the reflected light. CONSTITUTION: A light source 1 consists of lasers which have different wavelengths and the parallel light of respective wavelengths emitted by the light source 1 is demultiplexed into two; and one is sent to a modulation part 6 to impose frequency modulation, and the frequency-modulated light is sent to a multiplexing part 7. The other light is guided to the optical system, reflected by a half-mirror 2, and further photodetected by a lens 3 and focus 5 in the scattering body 4 as the sample. The light scattered at the focus 5 is made into the parallel light by a lens 3, transmitted through the halfmirror 2, and then multiplexed by a multiplexing part 7 with the modulated light. The light signal which is intensified by the multiplexing is detected by a detection part 8, whose signal is stored and processed by a computer 9 and displayed at a display part 10.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、散乱体中の特定のスポ
ットに存在する吸収物質または螢光物質を非侵襲で測定
する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for non-invasively measuring an absorbing substance or a fluorescent substance existing at a specific spot in a scatterer.

【0002】[0002]

【従来の技術】光を用いて非侵襲に生体の代謝機能を計
測する装置は、特開昭57−115232号公報に記載されてい
る。さらに生体機能の分布を画像化する光CT装置は、
特開昭60−72542 号公報及び特開昭62−231625号公報に
記載されている。時間ゲート法を用いて散乱光成分を低
減し、生体物質濃度を計測する生体光計測装置は特開平
2−290534 号に記載されている。また生体中の螢光の二
次元分布を計測する装置は、特開昭59−139237号及び特
開平4−83149号公報に記載されている。細胞等の微小な
組織中のある一点からの螢光を計測する共焦点顕微鏡
は、文献(TINS,vol.12,No.12,p486−
493,1989(T.Wilson))に記載されている。ま
た、ヘテロダイン検波受光系は、特開平3−111737 号公
報に記載されている。
2. Description of the Related Art An apparatus for non-invasively measuring the metabolic function of a living body using light is described in JP-A-57-115232. Furthermore, the optical CT device that visualizes the distribution of biological functions is
It is described in JP-A-60-72542 and JP-A-62-231625. A biological light measuring device for measuring a biological substance concentration by reducing a scattered light component by using a time gate method
It is described in No. 2-290534. An apparatus for measuring the two-dimensional distribution of fluorescence in a living body is described in JP-A-59-139237 and JP-A-4-83149. A confocal microscope for measuring fluorescence from a certain point in a minute tissue such as a cell is disclosed in a literature (TINS, vol.12, No.12, p486-
493,1989 (T. Wilson)). A heterodyne detection light receiving system is described in Japanese Patent Laid-Open No. 3-111737.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来の生体光計測装置
及び光CT装置では、光が通過した経路上の全情報を含
んだ光を計測し、その中から時間ゲート法により散乱光
成分を抑制し、X線CTアルゴリズム(バックプロジェ
クション法)を用いて各ピクセル毎の情報を得ることを
試みている。しかし従来例でも、生体中を通過した光は
散乱光成分を含んでいる。そのため従来のX線CTアル
ゴリズムをそのまま適用しても、各ピクセル毎の正確な
情報を得ることは不可能であった。
In the conventional biological optical measuring device and optical CT device, the light including all the information on the path through which the light passes is measured and the scattered light component is suppressed by the time gate method. However, it is attempting to obtain information for each pixel by using the X-ray CT algorithm (back projection method). However, even in the conventional example, the light that has passed through the living body contains a scattered light component. Therefore, even if the conventional X-ray CT algorithm is applied as it is, it is impossible to obtain accurate information for each pixel.

【0004】また従来の生体中の螢光の二次元分布計測
装置は、連続的に螢光を計測するために深さ方向の情報
が欠落している。従来の共焦点顕微鏡は、焦点から発し
た螢光を計測するため螢光の深さ方向の情報及び断層像
を得ることができるが、光の散乱を考慮していないた
め、微小な試料の計測のみに限られている。また従来の
ヘテロダイン検波受光系を用いた生体光計測装置でも、
深さ方向の情報は得られない。
Further, the conventional two-dimensional fluorescence distribution measuring device in the living body lacks information in the depth direction in order to continuously measure the fluorescence. The conventional confocal microscope can obtain information and a tomographic image in the depth direction of the fluorescence because it measures the fluorescence emitted from the focus, but it does not consider the scattering of light, so it can measure a minute sample. Limited to only. Moreover, even in the biological optical measurement device using the conventional heterodyne detection light receiving system,
No depth information is available.

【0005】本発明の目的は、散乱体中のあるスポット
からの散乱光または螢光を計測する方法及び装置を提供
することにある。
An object of the present invention is to provide a method and apparatus for measuring scattered light or fluorescent light from a spot in a scatterer.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は光源から発した光を分岐し、その一方を試
料中に入射し、試料中の特定の焦点で散乱された光を光
学系により平行光とし、周波数変調を受けたもう一方の
光と上記平行光を合波し、光の強度信号を計測して反射
光の平面波成分検出する。また、試料が透明媒体である
と仮定した場合に、光源から発した光が試料中の焦点で
散乱を受け、検出器に到達するまでの最短到達時刻をτ
とすると、散乱体である試料を通過した検出光に時刻τ
からτ+Δτまでの時間ゲートを設定し、時間ゲート内
の時刻に検出器に到達した光をデータ処理に用いる。
To achieve the above object, the present invention splits light emitted from a light source, one of which is incident on a sample, and the light scattered at a specific focal point in the sample is optically reflected. Parallel light is generated by the system, the other light subjected to frequency modulation is combined with the parallel light, and the intensity signal of the light is measured to detect the plane wave component of the reflected light. In addition, assuming that the sample is a transparent medium, the shortest arrival time until the light emitted from the light source is scattered at the focal point in the sample and reaches the detector is τ
Then, if the detection light that has passed through the sample that is a scatterer has time τ
To τ + Δτ are set, and the light reaching the detector at the time within the time gate is used for data processing.

【0007】[0007]

【作用】上記のように散乱体を計測する場合でも、反射
光のうちの平面波成分、または時間ゲート内の検出光を
データ処理に用いることにより、透明媒体を計測する場
合とほぼ同様に、散乱体試料中の特定のスポットで散乱
され、またはスポットから発した光の検出が可能とな
る。
Even when the scatterer is measured as described above, by using the plane wave component of the reflected light or the detection light in the time gate for data processing, the scattering is almost the same as when measuring the transparent medium. It is possible to detect the light scattered from or emitted from a specific spot in the body sample.

【0008】[0008]

【実施例】図1は、本発明の生体光計測装置の第一の実
施例のブロック図である。装置の主な構成を以下に説明
する。装置は光源1と、光検出部8と、被検体(試料
4)内部に焦点5を結ぶ光学系(ミラー2,レンズ3等
からなる)と、変調部6と、画像を表示する表示部10
と、各部を制御およびデータの記憶・演算を行うコンピ
ュータ9から構成される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of a living body optical measurement system of the present invention. The main configuration of the device will be described below. The apparatus includes a light source 1, a light detection unit 8, an optical system (consisting of a mirror 2, a lens 3 and the like) for focusing a focus 5 inside a subject (sample 4), a modulation unit 6, and a display unit 10 for displaying an image.
And a computer 9 that controls each unit and stores and calculates data.

【0009】以下各部及び動作の詳細を説明する。図1
は入射光と同波長の反射光を検出する装置である。図1
の光源1は複数の異なる波長のレーザで構成されてい
る。光源1から発した各波長の平行光は二つに分波さ
れ、一方は変調部6に送られて周波数変調を受け、さら
に合波部7へ送られる。もう一方の光は光学系に導か
れ、ハーフミラー2により反射され、さらにレンズ3に
より受光され試料である散乱体4中に焦点5を結ぶ。
Details of each unit and operation will be described below. FIG.
Is a device for detecting reflected light having the same wavelength as the incident light. FIG.
The light source 1 is composed of a plurality of lasers having different wavelengths. The parallel light of each wavelength emitted from the light source 1 is split into two, one of which is sent to the modulator 6 for frequency modulation and further sent to the multiplexer 7. The other light is guided to the optical system, reflected by the half mirror 2, further received by the lens 3, and focused on the scatterer 4 as the sample.

【0010】焦点5で散乱された光は、レンズ3により
平行光にされる。平行光はハーフミラー2を透過し、合
波部7で変調を受けた光と合波される。合波によって強
められた光信号は検出部8で検出される。検出器8に
は、例えば、光電子増倍管またはフォトダイオードを用
いても良い。信号はコンピュータ9で記憶および演算処
理をされ、表示部10に表示される。ハーフミラー2の
代りに、例えば偏向ミラーを用いても良い。レンズ3の
代りに、例えば、凹面鏡など他の光学系を用いても良
い。また、レンズ3として線状の焦点を結ぶ光学系を用
いても良い。なお線状の焦点を結ぶ光学系を用いる場
合、ピンホール22の代りに有限面積を持つ線状のスリ
ットを用いてもよい。
The light scattered at the focal point 5 is collimated by the lens 3. The parallel light passes through the half mirror 2 and is combined with the light modulated by the combining unit 7. The optical signal strengthened by the multiplexing is detected by the detector 8. For the detector 8, for example, a photomultiplier tube or a photodiode may be used. The signal is stored and arithmetically processed by the computer 9 and displayed on the display unit 10. For example, a deflection mirror may be used instead of the half mirror 2. Instead of the lens 3, for example, another optical system such as a concave mirror may be used. Further, as the lens 3, an optical system having a linear focus may be used. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0011】図2は、試料に固定される光学プローブの
構成図である。光源1から発した平行光は、ハーフミラ
ー11で分波され、一方は変調部6に送られ周波数変調
され、さらに合波部7に送られる。もう一方はハーフミ
ラー2に反射され、レンズ3により試料内に焦点5を結
ぶ。焦点5で散乱された光はレンズ3により平行光にさ
れ、ハーフミラー2を通過し、合波部7に導かれ、分波
した一方の光と合波される。合波により強められた信号
は検出部8で検出されコンピュータ9に送られ、記憶お
よび演算処理される。固定部12は、試料表面に対して
安定かつ光が洩れないように装置を固定する。固定部1
2には、例えば粘着シールを用いても良い。鏡筒部13
は光学系を支え、かつ光が洩れない構造を持つ。鏡筒部
13の内面は、光吸収性の皮膜で被っても良い。スライ
ド部14を操作することによりレンズ3が上下に動き、
焦点を深さ方向に走査できる。スライド部の操作は、例
えばモータを使用して行っても良い。また、手動でスラ
イド部の操作を行っても良い。
FIG. 2 is a block diagram of an optical probe fixed to a sample. The parallel light emitted from the light source 1 is demultiplexed by the half mirror 11, one of which is sent to the modulator 6 to be frequency-modulated and further sent to the multiplexer 7. The other is reflected by the half mirror 2 and the lens 3 focuses the focus 5 in the sample. The light scattered at the focal point 5 is made into parallel light by the lens 3, passes through the half mirror 2, is guided to the combining unit 7, and is combined with one of the split lights. The signal strengthened by the multiplexing is detected by the detector 8 and sent to the computer 9 where it is stored and arithmetically processed. The fixing unit 12 fixes the device so that the sample surface is stable and does not leak light. Fixed part 1
For example, an adhesive seal may be used for 2. Lens barrel 13
Has a structure that supports the optical system and does not leak light. The inner surface of the lens barrel portion 13 may be covered with a light absorbing film. By operating the slide portion 14, the lens 3 moves up and down,
The focus can be scanned in the depth direction. The operation of the slide portion may be performed using a motor, for example. Alternatively, the slide unit may be manually operated.

【0012】図3は、図2と同様のプローブ部分の説明
図である。ガルバノメータ15を動かすことにより、試
料表面に対して水平および垂直な方向に焦点を走査でき
る。ガルバノメータ15の代りに、他の光学系を用いて
焦点の走査を行っても良い。
FIG. 3 is an explanatory view of a probe portion similar to FIG. By moving the galvanometer 15, the focus can be scanned in the horizontal and vertical directions with respect to the sample surface. Instead of the galvanometer 15, another optical system may be used to scan the focus.

【0013】図4は、本発明を頭部及び脳機能計測装置
に応用した場合の実施例である。単数または複数の光学
プローブ16を被検体17の頭部に固定し、脳の特定ス
ポットの活動を測定する。また本実施例を、他の試料の
測定に用いても良い。
FIG. 4 shows an embodiment in which the present invention is applied to a head and brain function measuring device. One or a plurality of optical probes 16 are fixed to the head of the subject 17, and the activity of a specific spot on the brain is measured. In addition, this embodiment may be used for measuring other samples.

【0014】図5は、本発明を診断装置に応用した場合
の実施例である。被検体17は架台20の上に乗り、光
学プローブ18を計測部位にあてる。プローブ18は支
持部19に内蔵されているプローブ移動機構により、被
検体の形状および計測部位に応じて上下及び水平方向に
移動する。また生体以外の試料の計測に本実施例を用い
ても良い。
FIG. 5 shows an embodiment in which the present invention is applied to a diagnostic device. The subject 17 rides on the pedestal 20 and the optical probe 18 is applied to the measurement site. The probe 18 is moved in the vertical and horizontal directions according to the shape of the subject and the measurement site by a probe moving mechanism built in the support portion 19. Further, this embodiment may be used for measuring a sample other than a living body.

【0015】図6は、本発明の他の実施例のブロック図
である。本実施例の装置の主な構成を以下に説明する。
装置はパルス光源1と、光検出部8と、共焦点を結ぶ光
学系と、画像を表示する表示部10と、各部を制御およ
びデータの記憶・演算を行うコンピュータ9から構成さ
れる。
FIG. 6 is a block diagram of another embodiment of the present invention. The main configuration of the apparatus of this embodiment will be described below.
The apparatus is composed of a pulse light source 1, a light detection unit 8, an optical system for confocal focusing, a display unit 10 for displaying an image, and a computer 9 for controlling each unit and storing / calculating data.

【0016】以下に各部の動作を詳細に説明する。図6
は、入射光と同波長の反射光を検出する装置である。図
6の光源1は複数の異なる波長のレーザから構成されて
いる。各波長のパルス光は、ハーフミラー2およびレン
ズ3からなる第一の光学系に導入され、ハーフミラー2
により反射され、さらにレンズ3により集光されて散乱
体4中に焦点5を結ぶ。焦点5で散乱された光は、レン
ズ3により平行光にされる。平行光はハーフミラー2を
透過し、レンズ21によって有限面積を持つピンホール
22上に焦点を結ぶ。ピンホール22上で焦点を結んだ
光が、ピンポール22を通りぬけ検出器8によって検出
される。
The operation of each unit will be described in detail below. Figure 6
Is a device that detects reflected light having the same wavelength as incident light. The light source 1 in FIG. 6 is composed of a plurality of lasers having different wavelengths. The pulsed light of each wavelength is introduced into the first optical system including the half mirror 2 and the lens 3, and the half mirror 2
Is reflected by the lens 3 and is condensed by the lens 3 to form a focal point 5 in the scatterer 4. The light scattered at the focal point 5 is collimated by the lens 3. The parallel light passes through the half mirror 2 and is focused by a lens 21 on a pinhole 22 having a finite area. The light focused on the pinhole 22 passes through the pin pole 22 and is detected by the detector 8.

【0017】ここでは検出器8として時間分解光計測器
を用いている。検出器8には、例えば、ストリークカメ
ラまたは光オシロスコープを用いても良い。検出器8で
計測されたデータは、コンピュータ9で記憶・演算さ
れ、表示部10に表示される。
Here, a time-resolved light measuring instrument is used as the detector 8. For the detector 8, for example, a streak camera or an optical oscilloscope may be used. The data measured by the detector 8 is stored / calculated by the computer 9 and displayed on the display unit 10.

【0018】ハーフミラー2の代りに、例えば、偏向ミ
ラーを用いても良い。レンズ3及び21の代りに、例え
ば、凹面鏡など他の光学系を用いても良い。また、レン
ズ3及び21として線状の焦点を結ぶ光学系を用いても
よい。なお線状の焦点を結ぶ光学系を用いる場合、ピン
ホール22の代りに有限面積を持つ線状のスリットを用
いてもよい。
Instead of the half mirror 2, for example, a deflection mirror may be used. Instead of the lenses 3 and 21, another optical system such as a concave mirror may be used. Further, as the lenses 3 and 21, an optical system having a linear focus may be used. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0019】さらに図7に示したように、光ファイバ2
3を用いて光源1から発した光を第一の光学系に導いて
も良い。同様に光ファイバ24を用いてピンホール22
を通りぬけた光を検出器8に導いても良い。
Further, as shown in FIG. 7, the optical fiber 2
3 may be used to guide the light emitted from the light source 1 to the first optical system. Similarly, using the optical fiber 24, the pinhole 22
Light that has passed through may be guided to the detector 8.

【0020】上記図7はさらに他の実施例で、入射光と
は異なる波長の光を計測する装置のブロック図である。
光源1から発した光は、入射用光ファイバ23によりダ
イクロイックミラー26およびレンズ3,25からなる
第一の光学系に導かれる。光は、レンズ25で平行光に
され、ダイクロイックミラー26で反射され、さらにレ
ンズ3により集光されて散乱体4中の焦点5に達する。
光により焦点内の螢光物質が励起されて螢光を発する。
螢光はレンズ3により平行光となり、ダイクロイックミ
ラー26とカットフィルタ27を通過し、レンズ21に
よりピンホール7上に焦点を結ぶ。焦点を結んだ光はピ
ンホール22を通過し、検出用光ファイバ24により検
出器8に導かれる。
FIG. 7 is still another embodiment and is a block diagram of an apparatus for measuring light having a wavelength different from the incident light.
The light emitted from the light source 1 is guided by the incident optical fiber 23 to the first optical system including the dichroic mirror 26 and the lenses 3 and 25. The light is collimated by the lens 25, reflected by the dichroic mirror 26, condensed by the lens 3, and reaches the focal point 5 in the scatterer 4.
The light excites the fluorescent substance in the focus to emit fluorescence.
The fluorescence becomes parallel light by the lens 3, passes through the dichroic mirror 26 and the cut filter 27, and is focused on the pinhole 7 by the lens 21. The focused light passes through the pinhole 22 and is guided to the detector 8 by the detection optical fiber 24.

【0021】図6の実施例と同様に、ここでも検出器8
として時間分解光計測器を用いており、検出器8には、
例えば、ストリークカメラまたは光オシロスコープを用
いても良い。計測されたデータは、図1の場合と同様に
コンピュータ9で記憶・演算され、表示部10に表示さ
れる。レンズ3,21及び25の代りに、例えば、凹面
鏡など他の光学系を用いても良い。図6のように、入射
用・検出用光ファイバを用いずに光を導いても良い。ま
たカットフィルタ27を、ピンホール22と検出器8の
間に置いても良い。レンズ3及び21として線状の焦点
を結ぶ光学系を用いてもよい。なお線状の焦点を結ぶ光
学系を用いる場合、ピンホール22の代りに有限面積を
持つ線状のスリットを用いてもよい。
Similar to the embodiment of FIG. 6, here also the detector 8
A time-resolved optical measuring instrument is used as
For example, a streak camera or an optical oscilloscope may be used. The measured data is stored and calculated by the computer 9 as in the case of FIG. 1, and is displayed on the display unit 10. Instead of the lenses 3, 21 and 25, another optical system such as a concave mirror may be used. As shown in FIG. 6, light may be guided without using the incident / detection optical fibers. Further, the cut filter 27 may be placed between the pinhole 22 and the detector 8. An optical system having a linear focus may be used as the lenses 3 and 21. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0022】図8は検出器8で時間分解計測された光強
度を、時系列に表示したものである。図6及び図7のよ
うに光学系各部の長さをL1 ,L2 ,L3 ,入射用・検
出用光ファイバの長さをLin,Lout ,試料表面からの
焦点の深さをdとし、空気中の光速をc,散乱体中での
光速をcs ,光ファイバ中での光速をcf とすると、試
料が透明媒体であると仮定した場合に、光源1から発し
た光が焦点5で反射しピンホール22を通過して検出器
8に到達するまでの最短到達時刻τは光ファイバを使用
しないとき(図6)数1,光ファイバを使用するとき
(図7)数2となる。
FIG. 8 shows the time-resolved display of the light intensity measured by the detector 8 in a time-resolved manner. As shown in FIGS. 6 and 7, the length of each part of the optical system is L 1 , L 2 , L 3 , the lengths of the incident and detection optical fibers are L in , L out , and the depth of the focal point from the sample surface is Letting d be the speed of light in air, c s be the speed of light in the scatterer, and c f be the speed of light in the optical fiber, the light emitted from the light source 1 is assumed if the sample is a transparent medium. The shortest arrival time τ from when the light reflects at the focal point 5 and passes through the pinhole 22 and reaches the detector 8 is the number when the optical fiber is not used (Fig. 6) and the number when the optical fiber is used (Fig. 7) It becomes 2.

【0023】[0023]

【数1】 τ=(L1+2L2+L3)/c+2d/cs …(数1)[Formula 1] τ = (L 1 + 2L 2 + L 3 ) / c + 2d / c s (Formula 1)

【0024】[0024]

【数2】 τ=(L1+2L2+L3)/c+2d/cs+(Lin+Lout)/cf …(数2) 時刻τから、微小時間Δτ後の時刻τ+Δτまでの時間
ゲートを設定する。散乱体試料を通過した光の中でゲー
ト内の光は、散乱回数が少なく、試料が透明媒体である
場合と同様に、試料中をほぼ直進してきた光である。ゲ
ート内の時刻に計測された光を演算し画像化に用いる。
Τ = (L 1 + 2L 2 + L 3 ) / c + 2d / c s + (L in + L out ) / c f (Equation 2) A time gate from time τ to time τ + Δτ after a short time Δτ is set. Of the light that has passed through the scatterer sample, the light in the gate has a small number of scatterings, and is light that has traveled almost straight through the sample, as in the case where the sample is a transparent medium. The light measured at the time in the gate is calculated and used for imaging.

【0025】図9は、本発明によるさらに他の実施例
で、非線形素子を用いた光シャッタを利用した実施例の
ブロック図である。光シャッタ29はリファレンス光が
入射している間、カー効果により測定光を通過させる性
質を持つ。光源1から発したパルス光は光学系に導か
れ、試料に入射する測定光と、遅延部28を通り光シャ
ッタ29に入射するリファレンス光に分岐される。リフ
ァレンス光は遅延部28で時間的に遅延されて光シャッ
タ29に入射する。その結果、特定の時間ゲート内に検
出器8に到達した光が光シャッタ29を通過する。時間
ゲートの時間幅は遅延部28で調整する。光源1から遅
延部28を経由し光シャッタ29までの距離をLreとす
ると、このときの遅延時間は、光ファイバを用いない場
合数3,光ファイバを用いた場合数4となる。
FIG. 9 is a block diagram of yet another embodiment of the present invention, which uses an optical shutter using a non-linear element. The optical shutter 29 has a property of passing the measurement light by the Kerr effect while the reference light is incident. The pulsed light emitted from the light source 1 is guided to the optical system, and is branched into the measurement light incident on the sample and the reference light incident on the optical shutter 29 through the delay unit 28. The reference light is delayed by the delay unit 28 in time and enters the optical shutter 29. As a result, the light reaching the detector 8 within the gate for a specific time passes through the optical shutter 29. The delay unit 28 adjusts the time width of the time gate. Assuming that the distance from the light source 1 to the optical shutter 29 via the delay unit 28 is L re , the delay time at this time is Equation 3 when an optical fiber is not used and Equation 4 when an optical fiber is used.

【0026】[0026]

【数3】 τ′=τ−Lre/c …(数3)## EQU3 ## τ '= τ-L re / c (Equation 3)

【0027】[0027]

【数4】 τ′=τ−Lre/cf …(数4) τ′の遅延と、微小時間Δτ間の光の照射により、時間
ゲートτ+Δτ内の光を通過させることが可能となる。
また、図7に示したように、光ファイバを用いて光源1
から第一の光学系に光を導いても良い。同様に、光ファ
イバを用いてピンホール22を通りぬけた光を検出器8
に導いても良い。またリファレンス光も、光ファイバを
用いて遅延部28を経由させ光シャッタ29に導いても
良い。このときLreはリファレンス光用光ファイバの長
さとなり、空気中の光速cの代りに光ファイバ中の光速
fを用いる。
Τ ′ = τ−L re / c f (Equation 4) By delaying τ ′ and irradiating light for a minute time Δτ, the light in the time gate τ + Δτ can be passed.
In addition, as shown in FIG. 7, the light source 1 uses an optical fiber.
Light may be guided from the first optical system to the first optical system. Similarly, the light that has passed through the pinhole 22 is detected by the detector 8 using an optical fiber.
You may lead to. Further, the reference light may also be guided to the optical shutter 29 via the delay unit 28 using an optical fiber. At this time, L re is the length of the optical fiber for reference light, and the speed of light c f in the optical fiber is used instead of the speed of light c in the air.

【0028】この場合、検出器8は、例えば、光電子増
倍管など、時間分解計測が行えない検出器を用いても良
い。また、レンズ3,21の代りに、例えば凹面鏡など
他の光学的手段を用いても良い。ハーフミラー2の代り
に、例えば偏向ミラーなど他の光学的手段を用いても良
い。ハーフミラー2の代りに、例えば、図7のようにダ
イクロイックミラーを用い、ピンホール22の前方にカ
ットフィルタを置き、焦点5から発した螢光の計測に用
いても良い。さらにレンズ3,21として線状の焦点を
結ぶ光学系を用いても良い。なお線状の焦点を結ぶ光学
系を用いる場合、ピンホール22の代りに有限面積を持
つ線状のスリットを用いてもよい。
In this case, the detector 8 may be a detector such as a photomultiplier tube which cannot perform time-resolved measurement. Further, instead of the lenses 3 and 21, other optical means such as a concave mirror may be used. Instead of the half mirror 2, other optical means such as a deflection mirror may be used. Instead of the half mirror 2, for example, a dichroic mirror may be used as shown in FIG. 7, and a cut filter may be placed in front of the pinhole 22 to measure the fluorescence emitted from the focus 5. Further, an optical system having a linear focus may be used as the lenses 3 and 21. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0029】図6,図7及び図9のレンズ3を上下にス
ライドさせ、焦点5を深さ方向に走査しても良い。
The lens 3 shown in FIGS. 6, 7 and 9 may be slid up and down to scan the focal point 5 in the depth direction.

【0030】図10は、図6,図7,図9の装置に付属
し、試料に固定にされる光学プローブ部分の説明図であ
る。入射用光ファイバ23により導かれた光はレンズ2
5により平行光にされ、ハーフミラー2で反射し、レン
ズ3により試料内に焦点5を結ぶ。焦点5で散乱された
光は、レンズ3,ハーフミラー2及びレンズ21を通過
し、ピンホール22上に焦点を結ぶ。ピンホール22を
通過した光は、検出用光ファイバ24により検出器8に
導かれる。固定部12は、試料表面に対して安定にかつ
光が洩れないように装置を固定する。固定部12には、
例えば、粘着シールを用いても良い。鏡筒部13は光学
系を支え、かつ光が洩れない構造を持つ。鏡筒部13の
内面は光吸収性の皮膜で被っても良い。スライド部14
を操作することによりレンズ3が上下に動き、焦点を深
さ方向に走査する。スライド部の操作は、例えばモータ
を使用して行っても良い。または手動でスライド部の操
作を行っても良い。
FIG. 10 is an explanatory view of an optical probe portion attached to the apparatus of FIGS. 6, 7, and 9 and fixed to the sample. The light guided by the incident optical fiber 23 is reflected by the lens 2
The light is collimated by 5 and reflected by the half mirror 2, and the lens 3 focuses a focal point 5 in the sample. The light scattered at the focal point 5 passes through the lens 3, the half mirror 2 and the lens 21 and is focused on the pinhole 22. The light passing through the pinhole 22 is guided to the detector 8 by the detection optical fiber 24. The fixing part 12 fixes the device stably to the sample surface so that light does not leak. In the fixed part 12,
For example, an adhesive seal may be used. The lens barrel portion 13 supports the optical system and has a structure in which light does not leak. The inner surface of the lens barrel portion 13 may be covered with a light absorbing film. Slide part 14
By operating, the lens 3 moves up and down, and the focal point is scanned in the depth direction. The operation of the slide portion may be performed using a motor, for example. Alternatively, the slide unit may be manually operated.

【0031】図11は、図10と同様のプローブ部分の
説明図である。ガルバノメータ15を動かすことによ
り、試料表面に対して水平および垂直な方向に焦点を走
査できる。ガルバノメータ15の代りに、他の光学系を
用いて焦点の走査を行っても良い。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a probe portion similar to that of FIG. By moving the galvanometer 15, the focus can be scanned in the horizontal and vertical directions with respect to the sample surface. Instead of the galvanometer 15, another optical system may be used to scan the focus.

【0032】図12は、図6,図7,図9の実施例を頭
部及び脳機能計測装置に応用した例である。単数または
複数の光学プローブ30を被検体の頭部17に固定し、
脳の特定スポットの活動を測定する。入射用光ファイバ
23および検出用光ファイバ24により光が導かれるた
め、光学プローブ30は被検体頭部のどの部位にも取り
付けが可能である。複数のプローブを束ねて使用しても
良い。また本実施例を他の試料の測定に用いても良い。
FIG. 12 shows an example in which the embodiments of FIGS. 6, 7 and 9 are applied to a head and brain function measuring device. Fixing one or more optical probes 30 to the head 17 of the subject,
Measure activity at specific spots in the brain. Since the light is guided by the incident optical fiber 23 and the detection optical fiber 24, the optical probe 30 can be attached to any part of the subject's head. A plurality of probes may be bundled and used. Further, this embodiment may be used for measuring other samples.

【0033】図13は、図6,図7,図9の実施例を診
断装置に応用した例である。架台20の上に乗った被検
体17の計測部位に、光学プローブ31を配置する。プ
ローブ31は、支持部19に内蔵されているプローブ移
動機構により上下及び水平方向に移動する。また本実施
例を生体以外の試料の計測に用いても良い。
FIG. 13 is an example in which the embodiments of FIGS. 6, 7, and 9 are applied to a diagnostic device. An optical probe 31 is arranged at a measurement site of the subject 17 on the pedestal 20. The probe 31 moves vertically and horizontally by a probe moving mechanism built in the support portion 19. Further, the present embodiment may be used for measuring a sample other than a living body.

【0034】図14は、本発明のさらに他の生体光計測
装置の実施例のブロック図である。装置の主な構成を以
下に説明する。装置は光源1と、光検出部8と、共焦点
を結ぶ光学系と、画像を表示する表示部10と、各部を
制御およびデータの記憶・演算を行うコンピュータ9か
ら構成される。
FIG. 14 is a block diagram of still another embodiment of the biological optical measurement device of the present invention. The main configuration of the device will be described below. The apparatus is composed of a light source 1, a light detection unit 8, an optical system for confocal focusing, a display unit 10 for displaying an image, and a computer 9 for controlling each unit and storing / calculating data.

【0035】以下に各部の動作を詳細に説明する。図1
4は、入射光と同波長の反射光を検出する装置である。
図14の光源1は複数の異なる波長のレーザから構成さ
れている。各波長のパルス光は、散乱体4のある部位か
ら内部に入射される。入射された光の一部は、散乱体中
を通過し焦点5の位置で散乱され、レンズ3により集光
されて平行光になる。平行光はハーフミラー2を透過
し、レンズ21により有限面積を持つピンホール22上
に焦点を結ぶ。
The operation of each unit will be described in detail below. FIG.
Reference numeral 4 is a device that detects reflected light having the same wavelength as the incident light.
The light source 1 in FIG. 14 is composed of a plurality of lasers having different wavelengths. The pulsed light of each wavelength is made incident inside from a site where the scatterer 4 is present. Part of the incident light passes through the scatterer, is scattered at the position of the focal point 5, and is condensed by the lens 3 to become parallel light. The parallel light passes through the half mirror 2 and is focused by a lens 21 on a pinhole 22 having a finite area.

【0036】ピンホール22上で焦点を結んだ光は、ピ
ンポール22を通過し検出器8によって検出される。こ
の場合、検出器8として時間分解光計測器を用いる。検
出器8には、例えば、ストリークカメラまたは光オシロ
スコープを用いても良い。検出器8で計測されたデータ
は、コンピュータ9で記憶・演算され、表示部10に表
示される。レンズ3及び6の代りに、例えば、凹面鏡な
ど他の光学系を用いても良い。また、光ファイバを用い
て光源1から散乱体4に光を導いても良い。同様に、ピ
ンホール22を通りぬけた光を光ファイバを用いて検出
器8に導いても良い。また、レンズ3,21として線状
の焦点を結ぶ光学系を用いても良い。なお線状の焦点を
結ぶ光学系を用いる場合、ピンホール22の代りに有限
面積を持つ線状のスリットを用いてもよい。
The light focused on the pinhole 22 passes through the pin pole 22 and is detected by the detector 8. In this case, a time-resolved light measuring device is used as the detector 8. For the detector 8, for example, a streak camera or an optical oscilloscope may be used. The data measured by the detector 8 is stored / calculated by the computer 9 and displayed on the display unit 10. Instead of the lenses 3 and 6, another optical system such as a concave mirror may be used. Further, light may be guided from the light source 1 to the scatterer 4 using an optical fiber. Similarly, the light passing through the pinhole 22 may be guided to the detector 8 by using an optical fiber. Further, an optical system having a linear focus may be used as the lenses 3 and 21. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0037】図15は本発明によるさらに他の生体光計
測装置の実施例で、入射光と異なる波長の光を計測する
装置のブロック図である。光源1から発した光は、入射
用光ファイバ23により散乱体4のある部位から内部に
入射され、入射光の一部は焦点5に達し、焦点内の螢光
物質を励起する。それにより発した螢光はレンズ3によ
り平行光となり、レンズ21により集光され、カットフ
ィルタ27を通過しピンホール22上に焦点を結ぶ。焦
点を結んだ光はピンホール22を通過し、検出用光ファ
イバ24により検出器8に導かれる。図14と同様に、
この場合も検出器8に時間分解光計測器を用い、例えば
ストリークカメラまたは光オシロスコープを用いても良
い。計測されたデータは、図14の場合と同様に記憶・
演算され表示される。レンズ3,21の代りに、例えば
凹面鏡など他の光学系を用いても良い。図14のよう
に、検出用光ファイバを用いずに光を導いても良い。カ
ットフィルタ27を、ピンホール22と検出器8間に置
いても良い。また、レンズ3,21として線状の焦点を
結ぶ光学系を用いても良い。なお線状の焦点を結ぶ光学
系を用いる場合、ピンホール22の代りに有限面積を持
つ線状のスリットを用いてもよい。
FIG. 15 is a block diagram of an apparatus for measuring light having a wavelength different from the incident light, which is another embodiment of the biological light measuring apparatus according to the present invention. The light emitted from the light source 1 is made incident inside from the site where the scatterer 4 exists by the incident optical fiber 23, and a part of the incident light reaches the focal point 5 to excite the fluorescent substance in the focal point. The fluorescence emitted thereby becomes parallel light by the lens 3, is condensed by the lens 21, passes through the cut filter 27, and is focused on the pinhole 22. The focused light passes through the pinhole 22 and is guided to the detector 8 by the detection optical fiber 24. Similar to FIG.
Also in this case, a time-resolved light measuring device may be used as the detector 8, and for example, a streak camera or an optical oscilloscope may be used. The measured data is stored and stored as in the case of FIG.
Calculated and displayed. Instead of the lenses 3 and 21, another optical system such as a concave mirror may be used. As shown in FIG. 14, light may be guided without using the detection optical fiber. The cut filter 27 may be placed between the pinhole 22 and the detector 8. Further, an optical system having a linear focus may be used as the lenses 3 and 21. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0038】図14および図15において、光学系各部
の長さをL4 ,L5 ,L6 ,入射用・検出用光ファイバ
の長さをLin,Lout ,試料表面からみた焦点の深さを
d,空気中の光速をc,散乱体中での光速をcs ,光フ
ァイバ中での光速をcf とすると、透明媒体を計測した
場合に、光源1から発した光が焦点5で散乱し検出器8
に到達するまでの時間τは光ファイバを使用しないとき
(図14)数5,光ファイバを使用するとき(図15)
数6となる。
In FIGS. 14 and 15, the lengths of the respective parts of the optical system are L 4 , L 5 , L 6 , the lengths of the incident and detecting optical fibers are L in , L out , and the depth of the focal point viewed from the sample surface. Let d be the light velocity in the air, c be the light velocity in the scatterer, c s be the light velocity in the optical fiber, and c f be the light velocity in the optical fiber. Scattered by detector 8
The time τ to reach is when the optical fiber is not used (Fig. 14), when the optical fiber is used (Fig. 15)
It becomes the number 6.

【0039】[0039]

【数5】 τ=(L4+L6)/c+(L5+2d)/cs …(数5)(5) τ = (L 4 + L 6 ) / c + (L 5 + 2d) / c s (Equation 5)

【0040】[0040]

【数6】 τ=L6/c+(L5+2d)/cs+(Lin+Lout)/cf …(数6) 図14および15において時間分解計測された信号中
の、時刻τからτ+Δτまでの時間ゲート内の信号を用
いることにより、試料中での散乱回数が少なく、ほぼ直
進してきた光を集めることが可能となる。ゲート内の時
刻に計測された光を演算に用いる。
## EQU6 ## τ = L 6 / c + (L 5 + 2d) / c s + (L in + L out ) / c f (Equation 6) From the time τ in the signals time-resolved and measured in FIGS. 14 and 15. By using the signal in the time gate up to τ + Δτ, the number of scatterings in the sample is small, and it is possible to collect the light that has traveled almost straight. The light measured at the time in the gate is used for calculation.

【0041】図16は非線形素子を用いた光シャッタを
利用した本発明の実施例のブロック図である。光シャッ
タ29はリファレンス光が入射している間、カー効果に
より測定光を通過させる性質を持つ。光源1から発した
パルス光は、光学系に導かれ試料に入射する測定光と、
遅延部28を経由し光シャッタ29に入射するリファレ
ンス光に分岐される。リファレンス光は遅延部28で遅
延されて光シャッタ29に入射する。その結果、特定の
時間ゲート内に検出器8に到達する光が光シャッタ29
を通過する。時間ゲートの時間幅も遅延部28で調整す
る。この遅延時間τ′は、光源1から遅延部28を経由
し光シャッタ29までの距離をLreとすると、光ファイ
バを用いない場合数7,光ファイバを用いた場合8とな
る。
FIG. 16 is a block diagram of an embodiment of the present invention using an optical shutter using a non-linear element. The optical shutter 29 has a property of passing the measurement light by the Kerr effect while the reference light is incident. The pulsed light emitted from the light source 1 is guided to the optical system and is incident on the sample.
It is split into reference light that enters the optical shutter 29 via the delay unit 28. The reference light is delayed by the delay unit 28 and enters the optical shutter 29. As a result, the light that reaches the detector 8 within the gate at a specific time is transmitted by the optical shutter 29.
Pass through. The time width of the time gate is also adjusted by the delay unit 28. When the distance from the light source 1 to the optical shutter 29 via the delay unit 28 is L re , this delay time τ ′ is 7 when the optical fiber is not used and 8 when the optical fiber is used.

【0042】[0042]

【数7】 τ′=τ−Lre/c …(数7)Τ ′ = τ−L re / c (Equation 7)

【0043】[0043]

【数8】 τ′=τ−Lre/cf …(数8) τ′を遅延させ、微小時間Δτ間光を照射し続けること
により、時間ゲートτ′+Δτの光を通過させることが
可能となる。また図15に示したように、光ファイバを
用いて光源1から発した光を光学系に導いても良い。同
様に、光ファイバを用いてピンホール22を通りぬけた
光を検出器8に導いても良い。同様に、光ファイバを用
いてリファレンス光を遅延部28を経由させ光シャッタ
29に導いても良い。このときLreはリファレンス光用
光ファイバの長さとなる。空気中の光速cの代りに光フ
ァイバ中の光速cf を用いる。この場合の検出器8に
は、例えば光電子増倍管など、時間分解計測が行えない
検出器を用いても良い。
Τ ′ = τ−L re / c f (Equation 8) By delaying τ ′ and continuing to irradiate light for a minute time Δτ, it is possible to pass the light of the time gate τ ′ + Δτ. Becomes Further, as shown in FIG. 15, an optical fiber may be used to guide the light emitted from the light source 1 to the optical system. Similarly, light that has passed through the pinhole 22 may be guided to the detector 8 using an optical fiber. Similarly, the reference light may be guided to the optical shutter 29 via the delay unit 28 using an optical fiber. At this time, L re is the length of the reference light optical fiber. The light speed c f in the optical fiber is used instead of the light speed c in the air. In this case, the detector 8 may be a detector that cannot perform time-resolved measurement, such as a photomultiplier tube.

【0044】また、レンズ3,21の代りに、例えば凹
面鏡など他の光学的手段を用いても良い。ハーフミラー
2の代りに、例えば、偏向ミラーなど他の光学的手段を
用いても良い。ハーフミラー2の代りに、例えば図15
のようにダイクロイックミラーを用い、さらにピンホー
ル22の前方にカットフィルタを置き、焦点5から発し
た螢光を計測しても良い。また、レンズ3,21として
線状の焦点を結ぶ光学系を用いても良い。なお線状の焦
点を結ぶ光学系を用いる場合、ピンホール22の代りに
有限面積を持つ線状のスリットを用いてもよい。
Further, instead of the lenses 3 and 21, other optical means such as a concave mirror may be used. Instead of the half mirror 2, other optical means such as a deflection mirror may be used. Instead of the half mirror 2, for example, FIG.
As described above, a dichroic mirror may be used, and a cut filter may be placed in front of the pinhole 22 to measure the fluorescence emitted from the focal point 5. Further, an optical system having a linear focus may be used as the lenses 3 and 21. When using an optical system having a linear focus, a linear slit having a finite area may be used instead of the pinhole 22.

【0045】図17は、図14,図15,図16の装置
に付属し、試料に固定にされる光学プローブ部分の説明
図である。試料の焦点5で散乱された光は、レンズ3、
及び21を通過してピンホール22上に焦点を結ぶ。ピ
ンホール22を通過した光は、検出用光ファイバ24に
より検出器8に導かれる。固定部12は、試料表面に対
して安定かつ光が洩れないように装置を固定する。固定
部12には、例えば粘着シールを用いても良い。鏡筒部
13は光学系を支え、かつ光が洩れない構造を持つ。鏡
筒部13の内面は光吸収性の皮膜で被っても良い。スラ
イド部14を操作することにより、レンズ3が上下に動
き、焦点を深さ方向に走査する。スライド部の操作は、
例えばモータを使用して行っても良い。または手動でス
ライド部の操作を行っても良い。
FIG. 17 is an explanatory view of an optical probe portion attached to the apparatus of FIGS. 14, 15, and 16 and fixed to the sample. The light scattered at the focal point 5 of the sample is reflected by the lens 3,
And 21 to focus on pinhole 22. The light passing through the pinhole 22 is guided to the detector 8 by the detection optical fiber 24. The fixing unit 12 fixes the device so that the sample surface is stable and does not leak light. An adhesive seal may be used for the fixing portion 12, for example. The lens barrel portion 13 supports the optical system and has a structure in which light does not leak. The inner surface of the lens barrel portion 13 may be covered with a light absorbing film. By operating the slide unit 14, the lens 3 moves up and down, and the focus is scanned in the depth direction. The operation of the slide part
For example, a motor may be used. Alternatively, the slide unit may be manually operated.

【0046】図18は、図17と同様のプローブ部分の
構成図である。ガルバノメータ15を動かすことによ
り、試料表面に対して水平または垂直な方向に焦点を走
査できる。ガルバノメータ15の代りに、他の光学系を
用いて焦点の走査を行っても良い。
FIG. 18 is a configuration diagram of a probe portion similar to FIG. By moving the galvanometer 15, the focus can be scanned in the direction horizontal or vertical to the sample surface. Instead of the galvanometer 15, another optical system may be used to scan the focus.

【0047】図19は、図14,図15,図16の実施
例を頭部及び脳機能計測装置に応用した例である。被検
体表面に配置された光ファイバ32により、被検体の任
意の部位から光を入射し、単数または複数の光学プロー
ブ33を被検体の頭部17に固定して脳の特定スポット
の活動を測定する。検出用光ファイバ24及び光ファイ
バ32により光が導かれるため、光学プローブ33は被
検体頭部のどの部位にも取り付けることが可能である。
複数のプローブを束ねて使用しても良い。光ファイバ3
2を被検体内部に挿入して用いてもよい。また本実施例
を他の試料の測定に用いても良い。
FIG. 19 is an example in which the embodiment of FIGS. 14, 15 and 16 is applied to a head and brain function measuring device. An optical fiber 32 arranged on the surface of the subject makes light incident from an arbitrary part of the subject, and fixes one or a plurality of optical probes 33 to the head 17 of the subject to measure the activity of a specific brain spot. To do. Since the light is guided by the detection optical fiber 24 and the optical fiber 32, the optical probe 33 can be attached to any part of the subject's head.
A plurality of probes may be bundled and used. Optical fiber 3
2 may be inserted into the subject and used. Further, this embodiment may be used for measuring other samples.

【0048】図20は、図14,図15,図16の実施
例を診断装置に応用した例である。架台20の上に乗っ
た被検体17の計測部位に光学プローブ34をあてる。
プローブ34は、支持部19に内蔵されているプローブ
移動機構により上下及び水平方向に移動する。被検体表
面に配置された光ファイバ32により被検体の任意の部
位から入射した光は、光学プローブ34で計測され検出
器8に送られる。検出器8により検出されたデータは、
コンピュータ9で演算され、表示部10に表示される。
まら光ファイバ32を非検体内部に挿入して用いても良
い。さらに本実施例を生体以外の試料の計測に用いても
良い。
FIG. 20 shows an example in which the embodiments of FIGS. 14, 15 and 16 are applied to a diagnostic device. The optical probe 34 is applied to the measurement site of the subject 17 on the pedestal 20.
The probe 34 moves vertically and horizontally by a probe moving mechanism built in the support portion 19. Light incident from an arbitrary portion of the subject through the optical fiber 32 arranged on the subject surface is measured by the optical probe 34 and sent to the detector 8. The data detected by the detector 8 is
It is calculated by the computer 9 and displayed on the display unit 10.
The optical fiber 32 may be inserted into the non-specimen for use. Furthermore, the present embodiment may be used for measuring a sample other than a living body.

【0049】以上、図1から図7及び図9から図20に
おいて、光源1には一波長または多波長光源を用いる。
As described above, in FIG. 1 to FIG. 7 and FIG. 9 to FIG. 20, the light source 1 is a one-wavelength or multi-wavelength light source.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明の光計測装置を使用して、散乱体
試料中の特定のスポットでの散乱光または螢光の計測が
可能となり、例えば、脳機能計測等において、機能位置
解析を散乱の影響を受けずに行うことが可能となる。さ
らにスポットを走査することにより、散乱の影響を受け
ない高分解能の二次元及び三次元画像が得られる。また
試料に散乱体を用いることにより、高出力レーザを用い
た場合においても、焦点位置に高エネルギが集中するこ
とがなく、試料を破壊せず安全に測定を行うことが可能
となる。
By using the optical measuring device of the present invention, it is possible to measure scattered light or fluorescence at a specific spot in a scatterer sample. Can be performed without being affected by. Further scanning of the spot provides high resolution 2D and 3D images that are not affected by scattering. Further, by using the scatterer for the sample, even when a high-power laser is used, high energy is not concentrated at the focal position, and the sample can be safely measured without being destroyed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による実施例の散乱光計測用光計測装置
のブロック図。
FIG. 1 is a block diagram of an optical measuring device for scattered light measurement according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明による実施例の試料に固定する光学プロ
ーブの説明図。
FIG. 2 is an explanatory view of an optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図3】本発明による実施例の試料に固定する水平走査
型光学プローブの説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a horizontal scanning optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図4】本発明による実施例の頭部及び脳機能計測用光
計測装置のブロック図。
FIG. 4 is a block diagram of an optical measuring device for measuring head and brain functions according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明による実施例の診断用光計測装置のブロ
ック図。
FIG. 5 is a block diagram of a diagnostic optical measurement device according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明による実施例の散乱光計測用レーザ共焦
点光計測装置のブロック図。
FIG. 6 is a block diagram of a laser confocal light measuring device for measuring scattered light according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明による実施例の螢光計測用レーザ共焦点
光計測装置のブロック図。
FIG. 7 is a block diagram of a laser confocal optical measurement device for fluorescence measurement according to an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の装置により検出される光強度の時間ス
ペクトルの特性図。
FIG. 8 is a characteristic diagram of a time spectrum of light intensity detected by the device of the present invention.

【図9】本発明による実施例の光シャッタを用いて時間
分解計測を行うレーザ共焦点光計測装置のブロック図。
FIG. 9 is a block diagram of a laser confocal optical measurement device that performs time-resolved measurement using the optical shutter of the embodiment according to the present invention.

【図10】本発明による実施例の試料に固定する光学プ
ローブの説明図。
FIG. 10 is an explanatory diagram of an optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図11】本発明による実施例の試料に固定する水平走
査型光学プローブの説明図。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a horizontal scanning optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図12】本発明による実施例の頭部及び脳機能計測用
レーザ共焦点光計測装置のブロック図。
FIG. 12 is a block diagram of a laser confocal optical measurement device for measuring head and brain function according to an embodiment of the present invention.

【図13】本発明による実施例の診断用レーザ共焦点光
計測装置のブロック図。
FIG. 13 is a block diagram of a diagnostic laser confocal optical measurement device according to an embodiment of the present invention.

【図14】本発明による実施例の散乱光計測用光計測装
置のブロック図。
FIG. 14 is a block diagram of an optical measuring device for scattered light measurement according to an embodiment of the present invention.

【図15】本発明による実施例の螢光計測用光計測装置
のブロック図。
FIG. 15 is a block diagram of an optical measurement device for fluorescence measurement according to an example of the present invention.

【図16】本発明による実施例の光シャッタを用いて時
間分解計測を行う光計測装置のブロック図。
FIG. 16 is a block diagram of an optical measurement device that performs time-resolved measurement using the optical shutter of the embodiment according to the present invention.

【図17】本発明による実施例の試料に固定する光学プ
ローブの説明図。
FIG. 17 is an explanatory diagram of an optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図18】本発明による実施例の試料に固定する水平走
査型光学プローブの説明図。
FIG. 18 is an explanatory diagram of a horizontal scanning optical probe fixed to a sample of an example according to the present invention.

【図19】本発明による実施例の頭部及び脳機能計測用
光計測装置のブロック図。
FIG. 19 is a block diagram of an optical measurement device for measuring head and brain functions according to an embodiment of the present invention.

【図20】本発明による実施例の診断用光計測装置のブ
ロック図。
FIG. 20 is a block diagram of a diagnostic optical measurement device according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光源部、2…ハーフミラー、3…レンズ、4…試
料、5…焦点、8…光検出器、9…コンピュータ、10
…表示部、21…レンズ、22…ピンホール。
1 ... Light source part, 2 ... Half mirror, 3 ... Lens, 4 ... Sample, 5 ... Focus, 8 ... Photodetector, 9 ... Computer, 10
... display part, 21 ... lens, 22 ... pinhole.

フロントページの続き (72)発明者 牧 敦 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 小泉 英明 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 伊藤 嘉敏 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内Front page continuation (72) Inventor Atsushi Maki 1-280, Higashi Koigokubo, Kokubunji, Tokyo, Hitachi Central Research Laboratory (72) Inventor Hideaki Koizumi 1-280, Higashi Koikeku, Kokubunji, Tokyo Hitachi Central Research Laboratory (72) Inventor Yoshitoshi Ito 1-280, Higashi Koigokubo, Kokubunji, Tokyo Inside the Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd.

Claims (26)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源と光学系と光変調器と光の分岐手段と
検出器を持つ計測装置であり、上記光源から発した光を
上記分岐手段により二つに分岐し、分岐光のうち一方を
上記光学系により試料中に導き焦点を結ばせ、上記焦点
で散乱を受け再び上記光学系に導かれた光を、上記光変
調器により変調されたもう一方の分岐光と合波させ、こ
れにより生成した光を検出することにより、試料からの
反射光中の平行成分を検出することを特徴とする光計測
装置。
1. A measuring device having a light source, an optical system, an optical modulator, a light branching means, and a detector, wherein the light emitted from the light source is split into two by the branching means, and one of the branched lights is provided. Is guided into the sample by the optical system and focused, and the light that is scattered at the focus and is guided again to the optical system is combined with the other branched light modulated by the optical modulator, An optical measuring device characterized by detecting a parallel component in reflected light from a sample by detecting the light generated by.
【請求項2】請求項1において、上記光学系を動かすこ
とにより試料内の焦点の深さ又は位置の調節を行う光計
測装置。
2. The optical measuring device according to claim 1, wherein the depth or position of the focal point in the sample is adjusted by moving the optical system.
【請求項3】請求項1または2において、上記焦点を走
査することにより二次元または三次元の画像を得る光計
測装置。
3. The optical measuring device according to claim 1, wherein a two-dimensional or three-dimensional image is obtained by scanning the focal point.
【請求項4】請求項1,2または3において、線状の焦
点を結ぶ光学系を使用する光計測装置。
4. An optical measuring device according to claim 1, 2 or 3, wherein an optical system for forming a linear focus is used.
【請求項5】請求項1,2,3または4において、波長
の異なる複数の光源を用いる光計測装置。
5. The optical measuring device according to claim 1, 2, 3 or 4, wherein a plurality of light sources having different wavelengths are used.
【請求項6】請求項1,2,3,4または5において、
検出したデータをコンピュータに取り込み、上記複数の
光源による複数のデータの演算または画像処理を行う光
計測装置。
6. The method according to claim 1, 2, 3, 4 or 5.
An optical measuring device that fetches the detected data into a computer and calculates a plurality of data by the plurality of light sources or performs image processing.
【請求項7】パルス光を発する光源と、試料中の任意の
位置に焦点を結ぶ第一の光学系と、有限面積を持つピン
ホール上に焦点を結ぶ第二の光学系を持つ装置であり、
上記光源から発したパルス光を第一の光学系に導き、さ
らに上記第一の光学系により試料中に焦点を結ばせ、上
記焦点で散乱した光及び上記焦点から発した螢光を再び
上記第一の光学系に導いて平行光とし、さらに上記平行
光を第二の光学系により有限面積を持つピンホール上に
焦点を結ばせ、上記ピンホールを通過した光を検出器に
導き時間分解計測することを特徴とする光計測装置。
7. An apparatus having a light source that emits pulsed light, a first optical system that focuses on an arbitrary position in a sample, and a second optical system that focuses on a pinhole having a finite area. ,
The pulsed light emitted from the light source is guided to the first optical system, and the sample is focused by the first optical system, and the light scattered from the focus and the fluorescence emitted from the focus are again detected by the first optical system. The parallel light is guided to one optical system, and the parallel light is focused on the pinhole having a finite area by the second optical system, and the light passing through the pinhole is guided to the detector for time-resolved measurement. An optical measuring device characterized by:
【請求項8】パルス光を発する光源と、試料中の任意の
位置に焦点を結ぶ第一の光学系と、有限面積を持つピン
ホール上に焦点を結ぶ第二の光学系を持つ装置であり、
上記光源から発した光を試料に入射し、試料中の上記焦
点で散乱した光及び上記焦点から発した螢光を上記第一
の光学系により平行光とし、上記第二の光学系により有
限面積を持つピンホール上に焦点を結ばせ、上記ピンホ
ールを通過した光を検出器に導き時間分解計測すること
を特徴とする光計測装置。
8. An apparatus having a light source that emits pulsed light, a first optical system that focuses on an arbitrary position in a sample, and a second optical system that focuses on a pinhole having a finite area. ,
The light emitted from the light source is incident on the sample, the light scattered from the focus in the sample and the fluorescence emitted from the focus are converted into parallel light by the first optical system, and the finite area by the second optical system. An optical measuring device characterized in that a light is passed through the pinhole and guided to a detector for time-resolved measurement.
【請求項9】請求項7または8において、特定の時間幅
を持つ時間ゲート内に検出されたデータ信号を演算に用
いる光計測装置。
9. The optical measuring device according to claim 7, wherein a data signal detected in a time gate having a specific time width is used for calculation.
【請求項10】請求項7,8または9において、試料が
透明媒体であると仮定した場合に、光源から発した光が
試料に入射し、さらに試料内の焦点と光学系を経由して
検出器に到達するまでの最短時間をτとしたとき、光源
の発光時刻を時間原点として時間分解計測された光のう
ち時刻τから時刻τ+Δτまでの時間ゲート内に検出さ
れたデータを演算処理に用いる光計測装置。
10. The light emitted from a light source is incident on the sample, and is detected via a focal point in the sample and an optical system when the sample is assumed to be a transparent medium. When the shortest time to reach the vessel is τ, the data detected in the time gate from time τ to time τ + Δτ among the light measured by time resolution with the light emission time of the light source as the time origin is used for the arithmetic processing. Optical measuring device.
【請求項11】請求項9または10において、試料中の
焦点の深さ、または光の入射点から焦点までの距離に連
動して、上記時間ゲートの開始時刻τを変化させる光計
測装置。
11. The optical measuring device according to claim 9, wherein the start time τ of the time gate is changed in association with the depth of the focus in the sample or the distance from the light incident point to the focus.
【請求項12】請求項7,8,9,10または11にお
いて、上記第一の光学系を動かすことにより試料内の焦
点の深さ又は位置を調節する光計測装置。
12. The optical measuring device according to claim 7, 8, 9, 10 or 11, wherein the depth or position of the focal point in the sample is adjusted by moving the first optical system.
【請求項13】請求項7,8,9,10,11または1
2において、上記焦点を走査することにより二次元また
は三次元の画像を得る光計測装置。
13. A method according to claim 7, 8, 9, 10, 11 or 1.
2. An optical measuring device according to 2, wherein a two-dimensional or three-dimensional image is obtained by scanning the focal point.
【請求項14】請求項7,8,9,10,11,12ま
たは13において、線状の焦点を結ぶ光学系を使用する
光計測装置。
14. An optical measuring device according to claim 7, 8, 9, 10, 11, 12 or 13, wherein an optical system for forming a linear focus is used.
【請求項15】請求項7,8,9,10,11,12,
13または14において、波長の異なる複数の光源を用
いる光計測装置。
15. Claims 7, 8, 9, 10, 11, 12,
13 or 14 is an optical measuring device using a plurality of light sources having different wavelengths.
【請求項16】請求項7,8,9,10,11,12,
13,14または15において、検出したデータをコン
ピュータに取り込み、上記複数の光源による複数のデー
タの演算または画像処理を行う光計測装置。
16. A method according to claim 7, 8, 9, 10, 11, 12,
13. An optical measuring device according to 13, 14 or 15, which incorporates the detected data into a computer and calculates a plurality of data by the plurality of light sources or performs image processing.
【請求項17】パルス光を発する光源と、検出器と、試
料中の任意の位置に焦点を結ぶ第一の光学系と、有限面
積を持つピンホール上に焦点を結ぶ第二の光学系と、非
線形素子からなる光シャッタを持つ装置であり、上記光
源から発したパルス光を第一の光学系に導き、上記第一
の光学系により試料中に焦点を結ばせ、上記焦点で散乱
した光及び上記焦点から発した螢光を再び上記第一の光
学系に導き平行光とし、上記平行光を第二の光学系によ
り有限面積を持つピンホール上に焦点を結ばせ、上記ピ
ンホールを通過した光を光シャッタに導き、上記光シャ
ッタを通過した光を検出器により検出することを特徴と
する光計測装置。
17. A light source that emits pulsed light, a detector, a first optical system that focuses on an arbitrary position in a sample, and a second optical system that focuses on a pinhole having a finite area. , A device having an optical shutter consisting of a non-linear element, which guides the pulsed light emitted from the light source to the first optical system, focuses the sample in the sample by the first optical system, and scatters the light at the focal point. And the fluorescence emitted from the focal point is again guided to the first optical system to be parallel light, and the parallel light is focused on a pinhole having a finite area by the second optical system and passes through the pinhole. An optical measuring device, wherein the detected light is guided to an optical shutter, and the light passing through the optical shutter is detected by a detector.
【請求項18】パルス光を発する光源と、検出器と、試
料中の任意の位置に焦点を結ぶ第一の光学系と、有限面
積を持つピンホール上に焦点を結ぶ第二の光学系と、非
線形素子からなる光シャッタを持つ光計測装置であり、
上記光源から発した光を試料に入射し、試料中の上記焦
点で散乱を受けた光及び上記焦点から発した螢光を、上
記第一の光学系を用いて平行光とし、上記第二の光学系
を用いて有限面積を持つピンホール上に焦点を結ばせ、
上記第二の光学系に導いて上記ピンホール上に焦点を結
ばせ、上記ピンホールを通過した光を上記光シャッタに
導き、特定の時間内に上記光シャッタに到達した光を通
過させ、検出器により検出することを特徴とする光計測
装置。
18. A light source that emits pulsed light, a detector, a first optical system that focuses on an arbitrary position in a sample, and a second optical system that focuses on a pinhole having a finite area. , An optical measuring device having an optical shutter composed of a non-linear element,
The light emitted from the light source is incident on the sample, the light scattered from the focus in the sample and the fluorescence emitted from the focus are converted into parallel light by using the first optical system, and the second light is emitted. Use an optical system to focus on a pinhole with a finite area,
Guide to the second optical system to focus on the pinhole, guide light passing through the pinhole to the optical shutter, pass light reaching the optical shutter within a specific time, and detect An optical measuring device characterized by being detected by a measuring instrument.
【請求項19】請求項17または18において、特定の
時間ゲート内に光シャッタを開放し、上記光シャッタを
通過した光を検出して上記検出信号を演算処理に用いる
光計測装置。
19. The optical measuring device according to claim 17, wherein an optical shutter is opened within a specific time gate, light passing through the optical shutter is detected, and the detection signal is used for arithmetic processing.
【請求項20】請求項17,18または19の装置にお
いて、試料が透明媒体であると仮定した場合に、光源か
ら発した光が試料に入射し、さらに試料内の焦点と光学
系を経由して検出器に到達するまでの最短時間をτとし
たとき、光源の発光時刻を時間原点とした時刻τから時
刻τ+Δτの間光シャッタを開放し、その間に上記光シ
ャッタを通過した光を検出し、演算処理に用いる光計測
装置。
20. The apparatus according to claim 17, 18 or 19, wherein, when the sample is assumed to be a transparent medium, light emitted from a light source is incident on the sample and further passes through a focal point in the sample and an optical system. When the shortest time to reach the detector is τ, the optical shutter is opened from time τ to time τ + Δτ, where the light emission time of the light source is the time origin, and the light passing through the optical shutter is detected during that time. , Optical measurement device used for arithmetic processing.
【請求項21】請求項17,18,19または20にお
いて、試料中の焦点の深さ、または光の入射点から焦点
までの距離に連動して上記光シャッタの開放時刻τを変
化させる光計測装置。
21. The optical measurement according to claim 17, 18, 19 or 20, wherein the opening time τ of the optical shutter is changed in association with the depth of the focal point in the sample or the distance from the incident point of light to the focal point. apparatus.
【請求項22】請求項17,18,19,20または2
1において、第一の光学系を動かすことにより試料内の
焦点の深さ又は位置を調節する光計測装置。
22. A method according to claim 17, 18, 19, 20 or 2.
1 is an optical measurement device for adjusting the depth or position of a focal point in a sample by moving the first optical system.
【請求項23】請求項17,18,19,20,21ま
たは22において、試料中に結ばれる焦点を走査するこ
とにより試料の二次元または三次元画像を得る光計測装
置。
23. The optical measuring device according to claim 17, 18, 19, 20, 21 or 22, which obtains a two-dimensional or three-dimensional image of a sample by scanning a focal point formed in the sample.
【請求項24】請求項17,18,19,20,21,
22または23において、線状の焦点を結ぶ光学系を使
用する光計測装置。
24. A method according to claim 17, 18, 19, 20, 21,
22 or 23, an optical measuring device using an optical system for forming a linear focus.
【請求項25】請求項17,18,19,20,21,
22,23または24において、波長の異なる複数の光
源を用いる光計測装置。
25. A method according to claim 17, 18, 19, 20, 21,
22, 23, or 24, an optical measuring device using a plurality of light sources having different wavelengths.
【請求項26】請求項17,18,19,20,21,
22,23,24または25において、検出したデータ
をコンピュータに取り込み、上記複数の光源による複数
のデータの演算または画像処理を行う光計測装置。
26. A method according to claim 17, 18, 19, 20, 21,
An optical measuring device which captures the detected data in 22, 23, 24, or 25 in a computer and calculates a plurality of data by the plurality of light sources or performs image processing.
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