JPH08114557A - 電子部品の検査方式 - Google Patents
電子部品の検査方式Info
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- JPH08114557A JPH08114557A JP24816894A JP24816894A JPH08114557A JP H08114557 A JPH08114557 A JP H08114557A JP 24816894 A JP24816894 A JP 24816894A JP 24816894 A JP24816894 A JP 24816894A JP H08114557 A JPH08114557 A JP H08114557A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 検査対象の反射画像データから着目画像の範
囲を決定して、その着目画像データから複数の特徴量の
抽出を行い、これをニューラルネットを使用して所要の
判断をする電子部品の検査方式を得るものであって、特
に着目画像の範囲を適正に決定することができる処理方
式を提供する。 【構成】 連続生産される電子部品の生産ラインの所定
位置において個々の電子部品の画像データを取込む工程
と、この画像データに基づいて特定の着目画像の座標位
置を所定のアルゴリズムに従って決定する工程と、決定
された着目画像の座標位置の画像パターンを解析してこ
れをニユーラルネットを使用して不良品の判定を行う工
程とからなる。
囲を決定して、その着目画像データから複数の特徴量の
抽出を行い、これをニューラルネットを使用して所要の
判断をする電子部品の検査方式を得るものであって、特
に着目画像の範囲を適正に決定することができる処理方
式を提供する。 【構成】 連続生産される電子部品の生産ラインの所定
位置において個々の電子部品の画像データを取込む工程
と、この画像データに基づいて特定の着目画像の座標位
置を所定のアルゴリズムに従って決定する工程と、決定
された着目画像の座標位置の画像パターンを解析してこ
れをニユーラルネットを使用して不良品の判定を行う工
程とからなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、連続生産される電子部
品の所定位置での画像をサンプリングし、その画像を解
析して不良品の判別をパターン認識等に応用されるニュ
ーラルネットを使用して行う電子部品の検査方式に関す
るものである。
品の所定位置での画像をサンプリングし、その画像を解
析して不良品の判別をパターン認識等に応用されるニュ
ーラルネットを使用して行う電子部品の検査方式に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子部品の検査方式として、画像
処理による検査技術が知られている。この種の検査技術
は、メモリ等に取り込んだ画像データを２値化処理やパ
ターンマッチング的手法により認識するのが一般的であ
る。
処理による検査技術が知られている。この種の検査技術
は、メモリ等に取り込んだ画像データを２値化処理やパ
ターンマッチング的手法により認識するのが一般的であ
る。
【０００３】例えば、電子部品の１つである電解コンデ
ンサの場合、リード線の付け根位置等における電解液の
漏出が原因で、不良品となることがある。この場合、前
記電解コンデンサのリード線付け根位置における電解液
の漏出状況を検出するに際し、そのパターンは一定では
なく無限個のパターンを有する反射画像（多値化画像）
となり、従って従来のようなパターンマッチング的な画
像処理による検査では不適切である。
ンサの場合、リード線の付け根位置等における電解液の
漏出が原因で、不良品となることがある。この場合、前
記電解コンデンサのリード線付け根位置における電解液
の漏出状況を検出するに際し、そのパターンは一定では
なく無限個のパターンを有する反射画像（多値化画像）
となり、従って従来のようなパターンマッチング的な画
像処理による検査では不適切である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、前述したよ
うな電解コンデンサの不良品の検査を行う場合、（１）
検査対象の電解液の漏出状況につき多種多様な漏出パタ
ーンがあること、（２）検査対象に対する照明の劣化等
の環境変化が起こり易いこと、（３）検査対象が多品種
であること、（４）検査対象の検出データが反射画像の
ため検出画面が不安定なこと等から、従来の検査方法で
は十分な対処ができず、適正な検査が困難である。この
ため、このような電子部品の検査には、人間の目視によ
る検査に頼らなければならなかった。
うな電解コンデンサの不良品の検査を行う場合、（１）
検査対象の電解液の漏出状況につき多種多様な漏出パタ
ーンがあること、（２）検査対象に対する照明の劣化等
の環境変化が起こり易いこと、（３）検査対象が多品種
であること、（４）検査対象の検出データが反射画像の
ため検出画面が不安定なこと等から、従来の検査方法で
は十分な対処ができず、適正な検査が困難である。この
ため、このような電子部品の検査には、人間の目視によ
る検査に頼らなければならなかった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、検査対象の反射
画像データから着目画像の範囲を決定して、その着目画
像データから複数の特徴量の抽出を行い、これをニュー
ラルネットを使用して所要の判断をする電子部品の検査
方式を得るものであって、特に着目画像の範囲を適正に
決定することができる処理方式を提供することにある。
画像データから着目画像の範囲を決定して、その着目画
像データから複数の特徴量の抽出を行い、これをニュー
ラルネットを使用して所要の判断をする電子部品の検査
方式を得るものであって、特に着目画像の範囲を適正に
決定することができる処理方式を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明に係る電子部品の検査方式は、連続生産され
る電子部品の生産ラインの所定位置において個々の電子
部品の画像データを取込む工程と、この画像データに基
づいて特定の着目画像の座標位置を所定のアルゴリズム
に従って決定する工程と、決定された着目画像の座標位
置の画像パターンを解析してこれをニユーラルネットを
使用して不良品の判定を行う工程とからなることを特徴
とする。
に、本発明に係る電子部品の検査方式は、連続生産され
る電子部品の生産ラインの所定位置において個々の電子
部品の画像データを取込む工程と、この画像データに基
づいて特定の着目画像の座標位置を所定のアルゴリズム
に従って決定する工程と、決定された着目画像の座標位
置の画像パターンを解析してこれをニユーラルネットを
使用して不良品の判定を行う工程とからなることを特徴
とする。
【０００７】この場合、連続生産される電子部品は、電
解コンデンサからなり、この電解コンデンサから導出さ
れる一対のリード線の付け根位置を着目画像とすると共
に、この着目画像の画像パターンによりリード線の付け
根位置における電解液の漏出状態を解析するよう構成す
る。
解コンデンサからなり、この電解コンデンサから導出さ
れる一対のリード線の付け根位置を着目画像とすると共
に、この着目画像の画像パターンによりリード線の付け
根位置における電解液の漏出状態を解析するよう構成す
る。
【０００８】また、着目画像の座標位置の決定は、一対
のリード線の位置を抽出して、これらリード線間の中央
位置を決定し、次いで前記リード線間の中央位置から本
体の探索領域を決定した後、前記本体の上下部の境界点
を探索し、これら境界点から電解液の漏出位置の座標を
算出することができる。
のリード線の位置を抽出して、これらリード線間の中央
位置を決定し、次いで前記リード線間の中央位置から本
体の探索領域を決定した後、前記本体の上下部の境界点
を探索し、これら境界点から電解液の漏出位置の座標を
算出することができる。
【０００９】
【作用】本発明の電子部品の検査方式によれば、電子部
品を検査するためのシステム構成として、画像処理装
置、ＣＣＤカメラ、ＣＲＴモニタ、コマンド送信端末
（メッセージ受信端末）をそれぞれ接続した構成とする
ことができる。
品を検査するためのシステム構成として、画像処理装
置、ＣＣＤカメラ、ＣＲＴモニタ、コマンド送信端末
（メッセージ受信端末）をそれぞれ接続した構成とする
ことができる。
【００１０】本発明の検査方式における主要な処理は、
検査対象（電解コンデンサ）の電解液の漏出位置の決定
処理であり、画像処理装置に取込んだ検査対象の画像か
ら前記漏出位置（リード線の付け根の位置）を探索し、
その画像範囲を取込み画像と比較して、極めて小さい範
囲に限定することである。この場合、前記漏出位置の決
定は、所定のアルゴリズムに従って行うが、基本的には
検査対象のリード線から本体を探索し、次いで本体から
前記漏出位置を決定する。
検査対象（電解コンデンサ）の電解液の漏出位置の決定
処理であり、画像処理装置に取込んだ検査対象の画像か
ら前記漏出位置（リード線の付け根の位置）を探索し、
その画像範囲を取込み画像と比較して、極めて小さい範
囲に限定することである。この場合、前記漏出位置の決
定は、所定のアルゴリズムに従って行うが、基本的には
検査対象のリード線から本体を探索し、次いで本体から
前記漏出位置を決定する。
【００１１】本発明の検査方式においては、環境変化
（検査対象に対する照明の劣化、検査対象の画像ぼけ
等）に対しても適正な位置決定が可能である。この場
合、検査対象の色、種類、寸法等の厳密な設定値が不要
である。そして、ノイズが混入した画像であっても、お
およその位置決定が可能である。
（検査対象に対する照明の劣化、検査対象の画像ぼけ
等）に対しても適正な位置決定が可能である。この場
合、検査対象の色、種類、寸法等の厳密な設定値が不要
である。そして、ノイズが混入した画像であっても、お
およその位置決定が可能である。
【００１２】
【実施例】次に、本発明に係る電子部品の検査方式の実
施例として、電解コンデンサの製造ラインにおいて、そ
の最終工程における製品の検査を行う場合につき、添付
図面を参照しながら以下詳細に説明する。
施例として、電解コンデンサの製造ラインにおいて、そ
の最終工程における製品の検査を行う場合につき、添付
図面を参照しながら以下詳細に説明する。
【００１３】図１は、電解コンデンサの製造ラインの最
終工程における本発明の検査方式を実施するシステムの
概略構成図である。なお、この場合、電解コンデンサの
良・不良の判定は、コンデンサの一端部から導出される
一対のリード線の引出し部における電解液の漏出の有無
により行う。
終工程における本発明の検査方式を実施するシステムの
概略構成図である。なお、この場合、電解コンデンサの
良・不良の判定は、コンデンサの一端部から導出される
一対のリード線の引出し部における電解液の漏出の有無
により行う。
【００１４】すなわち、図１において、参照符号１０は
検査対象としての電解コンデンサを示し、これら多数の
電解コンデンサ１０は、それぞれ一端部から導出される
一対のリード線１０ａ、１０ａを介して移送テープ１２
に所定間隔離間して保持され、良品は自動箱詰め装置１
４に搬送されて箱詰めが行われる。しかるに、前記移送
テープ１２の搬送ラインの所要位置において、検査対象
の電解コンデンサ１０に対し、３方向からＣＣＤカメラ
１６、１７、１８により、所望の画像を画像処理装置２
０に取込む。この場合、正面のＣＣＤカメラ１６が、検
査対象である電解コンデンサ１０のリード線１０ａ、１
０ａの付け根の位置の画像を取込み、下側のＣＣＤカメ
ラ１７および上側のＣＣＤカメラ１８は、それぞれ移送
される電解コンデンサ１０の有無および位置関係を検出
するために利用される。
検査対象としての電解コンデンサを示し、これら多数の
電解コンデンサ１０は、それぞれ一端部から導出される
一対のリード線１０ａ、１０ａを介して移送テープ１２
に所定間隔離間して保持され、良品は自動箱詰め装置１
４に搬送されて箱詰めが行われる。しかるに、前記移送
テープ１２の搬送ラインの所要位置において、検査対象
の電解コンデンサ１０に対し、３方向からＣＣＤカメラ
１６、１７、１８により、所望の画像を画像処理装置２
０に取込む。この場合、正面のＣＣＤカメラ１６が、検
査対象である電解コンデンサ１０のリード線１０ａ、１
０ａの付け根の位置の画像を取込み、下側のＣＣＤカメ
ラ１７および上側のＣＣＤカメラ１８は、それぞれ移送
される電解コンデンサ１０の有無および位置関係を検出
するために利用される。
【００１５】前記画像処理装置２０に取込まれた検査対
象の電解コンデンサ１０の画像は、電解液の漏出位置に
ついて画像データの解析を行い良・不良の判定の結果、
不良品の場合には、前記移送テープ１２の搬送ラインの
下流側に配置した自動テープカット・接続装置２２によ
り選択的に切離して、適宜不良品ケース２４に回収す
る。
象の電解コンデンサ１０の画像は、電解液の漏出位置に
ついて画像データの解析を行い良・不良の判定の結果、
不良品の場合には、前記移送テープ１２の搬送ラインの
下流側に配置した自動テープカット・接続装置２２によ
り選択的に切離して、適宜不良品ケース２４に回収す
る。
【００１６】図２は、前記図１に示す画像処理装置２０
において、検査対象の電解コンデンサ１０の電解液の漏
出位置について、画像データの解析を行うための周辺装
置の詳細を示す概略構成図である。
において、検査対象の電解コンデンサ１０の電解液の漏
出位置について、画像データの解析を行うための周辺装
置の詳細を示す概略構成図である。
【００１７】すなわち、図２において、画像処理装置２
０に対して、取込んだ画像をモニタするためのＣＲＴ装
置３０と、コマンド送信端末ないしはメッセージ受信端
末としてのパソコン３２と、プログラム修正用の割込み
スイッチボックス３４とが、それぞれ接続配置される。
０に対して、取込んだ画像をモニタするためのＣＲＴ装
置３０と、コマンド送信端末ないしはメッセージ受信端
末としてのパソコン３２と、プログラム修正用の割込み
スイッチボックス３４とが、それぞれ接続配置される。
【００１８】図３は、本発明の電子部品の検査方式の概
略処理系統図である。すなわち、この処理系統において
は、ＣＣＤカメラ１６により、検査対象１０の画像を入
力し、この入力画像に基づいて、検査対象の電解液の漏
出位置の座標を決定し、次いでこの決定された位置にお
いて検査対象の前記漏出状態をニューラルネットを使用
して判定を行い、良品および不良品の決定を行う。
略処理系統図である。すなわち、この処理系統において
は、ＣＣＤカメラ１６により、検査対象１０の画像を入
力し、この入力画像に基づいて、検査対象の電解液の漏
出位置の座標を決定し、次いでこの決定された位置にお
いて検査対象の前記漏出状態をニューラルネットを使用
して判定を行い、良品および不良品の決定を行う。
【００１９】以下、前記検査対象の前記漏出位置の座標
の決定について詳細に説明する。
の決定について詳細に説明する。
【００２０】図４の（ａ）および（ｂ）は、検査対象１
０のＣＣＤカメラ１６による入力画像および出力画像
（座標）を示すものである。すなわち、検査対象１０の
入力画像は、検査対象１０の本体の一部と、一対のリー
ド線１０ａ、１０ａの前記本体からの引出し部からな
る。この場合、画像の取込み条件として、例えば、検査
対象の中心軸とＣＣＤカメラの軸の角度は、θ＝４５
度、φ＝９０度とし、ＣＣＤカメラは５１０×４８０画
素で構成し、レンズにはＦ５０ｍｍの望遠を使用し、バ
ックグラウンドはグレーで模様のない、明るさがほぼ一
定であることが好適である。
０のＣＣＤカメラ１６による入力画像および出力画像
（座標）を示すものである。すなわち、検査対象１０の
入力画像は、検査対象１０の本体の一部と、一対のリー
ド線１０ａ、１０ａの前記本体からの引出し部からな
る。この場合、画像の取込み条件として、例えば、検査
対象の中心軸とＣＣＤカメラの軸の角度は、θ＝４５
度、φ＝９０度とし、ＣＣＤカメラは５１０×４８０画
素で構成し、レンズにはＦ５０ｍｍの望遠を使用し、バ
ックグラウンドはグレーで模様のない、明るさがほぼ一
定であることが好適である。
【００２１】これにより、検査対象１０の出力画像は、
前記一対のリード線１０ａ、１０ａのそれぞれ本体から
の引出し部、すなわち電解液の漏出位置の座標（Ｘobj
，Ｙobj ）と（Ｘ′obj ，Ｙ′obj ）とを示すことが
できる。
前記一対のリード線１０ａ、１０ａのそれぞれ本体から
の引出し部、すなわち電解液の漏出位置の座標（Ｘobj
，Ｙobj ）と（Ｘ′obj ，Ｙ′obj ）とを示すことが
できる。
【００２２】この座標位置は、次のアルゴリズムによっ
て決定する。このアルゴリズムは、前記漏出位置から最
も近い本体から決定するものであり、このため信頼性が
高く、ぼけ画像や多少傾いた画像、明る過ぎる画像や暗
過ぎる画像であっても、位置を適正に抽出することがで
きる。また、リード線の形状や本体の寸法に殆んど関係
なく位置を抽出することができる。
て決定する。このアルゴリズムは、前記漏出位置から最
も近い本体から決定するものであり、このため信頼性が
高く、ぼけ画像や多少傾いた画像、明る過ぎる画像や暗
過ぎる画像であっても、位置を適正に抽出することがで
きる。また、リード線の形状や本体の寸法に殆んど関係
なく位置を抽出することができる。
【００２３】図５は、前記漏出位置の座標を決定するた
めのアルゴリズムの処理ステップの概要を示す検査対象
１０の画像説明図である。すなわち、本発明において実
施するアルゴリズムは、大別して次の４つの処理ステッ
プにより構成される。
めのアルゴリズムの処理ステップの概要を示す検査対象
１０の画像説明図である。すなわち、本発明において実
施するアルゴリズムは、大別して次の４つの処理ステッ
プにより構成される。
【００２４】ステップ１（Step. 1 ）： リード線間の
中央位置の決定 ステップ２（Step. 2 ）： 本体の探索領域の決定 ステップ３（Step. 3 ）： 本体の上下部境界点の精密
探索 ステップ４（Step. 4 ）： 電解液の漏出位置の座標の
計算
中央位置の決定 ステップ２（Step. 2 ）： 本体の探索領域の決定 ステップ３（Step. 3 ）： 本体の上下部境界点の精密
探索 ステップ４（Step. 4 ）： 電解液の漏出位置の座標の
計算
【００２５】以下、前記各ステップの詳細について説明
する。
する。
【００２６】１．ステップ１（検査対象の軸方向の決定
とリード線間の中央位置の決定） このステップでの処理は、入力画像〔図４の（ａ）〕か
ら２つのリード線の位置を抽出し、リード線間の中央位
置の座標値を決定する。この場合、画像データの平均明
るさレベルが変化しても、画像がぼけていても、突発的
なノイズが画像データに含まれていても、次のサブアル
ゴリズム（サブステップ１〜５）により、安定したリー
ド線の位置を得ることができる。
とリード線間の中央位置の決定） このステップでの処理は、入力画像〔図４の（ａ）〕か
ら２つのリード線の位置を抽出し、リード線間の中央位
置の座標値を決定する。この場合、画像データの平均明
るさレベルが変化しても、画像がぼけていても、突発的
なノイズが画像データに含まれていても、次のサブアル
ゴリズム（サブステップ１〜５）により、安定したリー
ド線の位置を得ることができる。
【００２７】サブステップ１： Ｘ（初期値は５００）
の値におけるｙ軸濃淡（２５６階調）ベクトルｙ〔ｊ〕
を取得する。
の値におけるｙ軸濃淡（２５６階調）ベクトルｙ〔ｊ〕
を取得する。
【００２８】サブステップ２： 突発的なノイズの除去
のため、ｙ軸濃淡ベクトルｙ〔ｊ〕を入力して、隣接し
た５画素の平均をＹｆ〔ｊ〕に出力する。すなわち、次
式に示すような移動平均フィルタ（フィルタ長５）をｙ
方向にかける〔図６参照〕。
のため、ｙ軸濃淡ベクトルｙ〔ｊ〕を入力して、隣接し
た５画素の平均をＹｆ〔ｊ〕に出力する。すなわち、次
式に示すような移動平均フィルタ（フィルタ長５）をｙ
方向にかける〔図６参照〕。
【００２９】
【数１】
【００３０】サブステップ３： フィルタ出力Ｙｆ
〔ｊ〕の上側差分絶対値和Ｙａと、下側差分絶対値和Ｙ
ｂとを、次式で計算する。前記ＹａとＹｂとが、共にあ
る規定のしきい値を越えていない場合、Ｘの値を５画素
デクリメントして、前記サブステップ１へ戻る。但し、
このループを４０回繰り返した場合には、リード線未発
見のエラー信号を出力する。
〔ｊ〕の上側差分絶対値和Ｙａと、下側差分絶対値和Ｙ
ｂとを、次式で計算する。前記ＹａとＹｂとが、共にあ
る規定のしきい値を越えていない場合、Ｘの値を５画素
デクリメントして、前記サブステップ１へ戻る。但し、
このループを４０回繰り返した場合には、リード線未発
見のエラー信号を出力する。
【００３１】
【数２】
【００３２】サブステップ４： 前記ＹａとＹｂとが、
共にある規定のしきい値を越えている場合、図７の
（ａ）および（ｂ）に示すように、それぞれ差分絶対値
積算グラフを作成し、積算合計がＹａ／２の値を越えた
場所を上側リード線の中央値Ｙ１とし、Ｙｂ／２の値を
越えた場所を下側リード線の中央値Ｙ２とする。
共にある規定のしきい値を越えている場合、図７の
（ａ）および（ｂ）に示すように、それぞれ差分絶対値
積算グラフを作成し、積算合計がＹａ／２の値を越えた
場所を上側リード線の中央値Ｙ１とし、Ｙｂ／２の値を
越えた場所を下側リード線の中央値Ｙ２とする。
【００３３】サブステップ５： ２つのリード線の中央
位置の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を示す信号を出力する。但
し、Ｘｃ＝Ｘ，Ｙｃ＝（Ｙ１＋Ｙ２）／２である。
位置の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を示す信号を出力する。但
し、Ｘｃ＝Ｘ，Ｙｃ＝（Ｙ１＋Ｙ２）／２である。
【００３４】２．ステップ２（検査対象の本体位置の決
定） このステップでの処理は、リード線間の中央位置の座標
からＸ軸方向に本体の位置探索を行い、図８に示すよう
な上下部本体の境界探索領域の決定を、次のサブアルゴ
リズム（サブステップ１〜４）により行う。
定） このステップでの処理は、リード線間の中央位置の座標
からＸ軸方向に本体の位置探索を行い、図８に示すよう
な上下部本体の境界探索領域の決定を、次のサブアルゴ
リズム（サブステップ１〜４）により行う。
【００３５】サブステップ１： 前記ステップ１で求め
た２つのリード線の中央値の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）の画素
値Ｇｃを取込み、そのｘ座標をＸ＝Ｘｃと置く。また、
標準偏差の初期値を１０とする。
た２つのリード線の中央値の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）の画素
値Ｇｃを取込み、そのｘ座標をＸ＝Ｘｃと置く。また、
標準偏差の初期値を１０とする。
【００３６】サブステップ２： 前記座標（Ｘ，Ｘｃ）
の画素値Ｇｃを取込み、その累積ＧＴと画素値Ｇｃの２
乗の累積ＧＳとを更新し、取込み数Ｎを用いて、平均値
Ｇｕと標準偏差σを次のように計算する。
の画素値Ｇｃを取込み、その累積ＧＴと画素値Ｇｃの２
乗の累積ＧＳとを更新し、取込み数Ｎを用いて、平均値
Ｇｕと標準偏差σを次のように計算する。
【００３７】
【数３】
【００３８】サブステップ３： 取込んだ画素値Ｇｃ
が、Ｇｕ±３σから外れるまで、Ｘを５画素デクリメン
トして、サブステップ２へ戻る。Ｘの値が負になった場
合、本体なしとしてのエラー信号を出力するサブステップ４ ： Ｘｃ＝ＸとＹｃとから、上部本体の
探索領域（Ｘu0，Ｙu0），（Ｘu1，Ｙu1）と下部本体の
探索領域（Ｘu0，Ｙu2），（Ｘu1，Ｙu3）を次の通り決
定する〔図８参照〕。但し、φ＝９０度、Δｃ（検査対
象の半径の規格値）＝０．２２７３、μ（画素値変換定
数）＝７１４０とする。
が、Ｇｕ±３σから外れるまで、Ｘを５画素デクリメン
トして、サブステップ２へ戻る。Ｘの値が負になった場
合、本体なしとしてのエラー信号を出力するサブステップ４ ： Ｘｃ＝ＸとＹｃとから、上部本体の
探索領域（Ｘu0，Ｙu0），（Ｘu1，Ｙu1）と下部本体の
探索領域（Ｘu0，Ｙu2），（Ｘu1，Ｙu3）を次の通り決
定する〔図８参照〕。但し、φ＝９０度、Δｃ（検査対
象の半径の規格値）＝０．２２７３、μ（画素値変換定
数）＝７１４０とする。
【００３９】
【数４】
【００４０】３．ステップ３（検査対象の上下部本体境
界点の探索） このステップでの処理は、本体探索領域の中から、上部
本体の境界点の座標（Ｘpp，Ｙpp）と、下部本体の境界
点の座標（Ｘ′pp，Ｙ′pp）との決定を、次のサブアル
ゴリズム（サブステップ１〜４）により行う。
界点の探索） このステップでの処理は、本体探索領域の中から、上部
本体の境界点の座標（Ｘpp，Ｙpp）と、下部本体の境界
点の座標（Ｘ′pp，Ｙ′pp）との決定を、次のサブアル
ゴリズム（サブステップ１〜４）により行う。
【００４１】サブステップ１： Ｘ＝Ｘu1と置く（上部
本体の探索領域）。
本体の探索領域）。
【００４２】サブステップ２： Ｙ＝Ｙu0〜Ｙu1までｙ
方向にスキャンしながら、画素値を取込む。この時、新
画素値と旧画素値とを比較していき、最初に４以上の差
がある場所を境界点Ｙp0とする。さらに、前記境界点Ｙ
p0の最小値Ｙp0 minを記録しておく。
方向にスキャンしながら、画素値を取込む。この時、新
画素値と旧画素値とを比較していき、最初に４以上の差
がある場所を境界点Ｙp0とする。さらに、前記境界点Ｙ
p0の最小値Ｙp0 minを記録しておく。
【００４３】サブステップ３： Ｘ＝Ｘu0となるまでＸ
をデクリメントして、サブステップ２へ戻る。
をデクリメントして、サブステップ２へ戻る。
【００４４】サブステップ４： 最終的な境界点のＹ座
標ＹppをＹp0の最小値Ｙp0 minとし、このＸ座標をＸpp
とする。この時の境界点の座標を（Ｘpp，Ｙpp）とす
る。同様にして、下部本体の探索領域も行い、境界点の
座標を（Ｘ′pp，Ｙ′pp）とする〔図９参照〕。
標ＹppをＹp0の最小値Ｙp0 minとし、このＸ座標をＸpp
とする。この時の境界点の座標を（Ｘpp，Ｙpp）とす
る。同様にして、下部本体の探索領域も行い、境界点の
座標を（Ｘ′pp，Ｙ′pp）とする〔図９参照〕。
【００４５】４．ステップ４（電解液の漏出位置の座標
の計算） このステップでの処理は、上下部本体の境界点から電解
液の漏出位置の座標の計算を、次のサブアルゴリズム
（サブステップ１）により行う。
の計算） このステップでの処理は、上下部本体の境界点から電解
液の漏出位置の座標の計算を、次のサブアルゴリズム
（サブステップ１）により行う。
【００４６】サブステップ１： 座標（Ｘpp，Ｙpp）と
（Ｘ′pp，Ｙ′pp）とから電解液の漏出位置の座標（Ｘ
obj ，Ｙobj ）と（Ｘ′obj ，Ｙ′obj ）とを、次のよ
うに計算する。但し、φ0 、φ1 は、それぞれ本体の直
径とリード線の付け根の距離である。
（Ｘ′pp，Ｙ′pp）とから電解液の漏出位置の座標（Ｘ
obj ，Ｙobj ）と（Ｘ′obj ，Ｙ′obj ）とを、次のよ
うに計算する。但し、φ0 、φ1 は、それぞれ本体の直
径とリード線の付け根の距離である。
【００４７】
【数５】
【００４８】前述した各ステップに基づいて決定された
検査対象の着目画像に位置において、それぞれ異常状態
をニューラルネットを利用して判定することにより、電
子部品の生産ラインにおける不良品の適正かつ迅速な検
出を行い、不良品の排除による製品の品質安定化に寄与
することができる。
検査対象の着目画像に位置において、それぞれ異常状態
をニューラルネットを利用して判定することにより、電
子部品の生産ラインにおける不良品の適正かつ迅速な検
出を行い、不良品の排除による製品の品質安定化に寄与
することができる。
【００４９】以上、本発明の好適な実施例についてそれ
ぞれ説明したが、本発明は前記各実施例に限定されるこ
となく、本発明の精神を逸脱しない範囲内において種々
の設計変更をすることができる。
ぞれ説明したが、本発明は前記各実施例に限定されるこ
となく、本発明の精神を逸脱しない範囲内において種々
の設計変更をすることができる。
【００５０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電子
部品の検査方式は、連続生産される電子部品の生産ライ
ンの所定位置において個々の電子部品の画像データを取
込む工程と、この画像データに基づいて特定の着目画像
の座標位置を所定のアルゴリズムに従って決定する工程
と、決定された着目画像の座標位置の画像パターンを解
析してこれをニユーラルネットを使用して不良品の判定
を行う工程とから構成することによって、比較的簡単な
装置構成により、検査対象である電子部品の不良位置の
決定処理を適正に行うことができる。
部品の検査方式は、連続生産される電子部品の生産ライ
ンの所定位置において個々の電子部品の画像データを取
込む工程と、この画像データに基づいて特定の着目画像
の座標位置を所定のアルゴリズムに従って決定する工程
と、決定された着目画像の座標位置の画像パターンを解
析してこれをニユーラルネットを使用して不良品の判定
を行う工程とから構成することによって、比較的簡単な
装置構成により、検査対象である電子部品の不良位置の
決定処理を適正に行うことができる。
【００５１】特に、本発明の検査方式によれば、検査対
象に対する照明の劣化、検査対象の画面ぼけ等の環境変
化に対しても、適正な位置決定が可能であり、しかもこ
の場合、検査対象の色、種類、寸法等の厳密な設定値が
不要であり、さらにノイズが混入した画像であっても、
おおよその位置決定が可能である等の多くの優れた利点
を有する。
象に対する照明の劣化、検査対象の画面ぼけ等の環境変
化に対しても、適正な位置決定が可能であり、しかもこ
の場合、検査対象の色、種類、寸法等の厳密な設定値が
不要であり、さらにノイズが混入した画像であっても、
おおよその位置決定が可能である等の多くの優れた利点
を有する。
【図１】本発明に係る電子部品の検査方式を実施する電
子部品と検査装置との構成例を示す概略図である。
子部品と検査装置との構成例を示す概略図である。
【図２】本発明に係る電子部品の検査方式を実施するシ
ステムの概略構成を示す系統説明図である。
ステムの概略構成を示す系統説明図である。
【図３】本発明に係る電子部品の検査方式のシステム全
体の構成を示す概略ブロック図である。
体の構成を示す概略ブロック図である。
【図４】検査対象（電子部品）の画像データの一実施例
を示すもので、（ａ）は入力画像を示す説明図、（ｂ）
は入力画像に対する出力座標を示す説明図である。
を示すもので、（ａ）は入力画像を示す説明図、（ｂ）
は入力画像に対する出力座標を示す説明図である。
【図５】検査対象の着目画像に対する出力座標の処理操
作を示す説明図である。
作を示す説明図である。
【図６】着目画像データに対する移動平均フィルタの作
用を示す説明図である。
用を示す説明図である。
【図７】（ａ）および（ｂ）は、それぞれ着目画像デー
タの抽出に際してのアルゴリズムにおける差分絶対値の
積算特性を示すグラフである。
タの抽出に際してのアルゴリズムにおける差分絶対値の
積算特性を示すグラフである。
【図８】検査対象の着目画像に対する出力座標の上下部
本体の探索領域を示す説明図である。
本体の探索領域を示す説明図である。
【図９】検査対象の着目画像に対する出力座標の上下部
境界点の位置決定を示す説明図である。
境界点の位置決定を示す説明図である。
１０ 検査対象（電解コンデンサ） １０ａ リード線 １２ 移送テープ １４ 自動箱詰め装置 １６ ＣＣＤカメラ １７、１８ ＣＣＤカメラ ２０ 画像処理装置 ２２ 自動テープカット・接続装置 ２４ 不良品ケース ３０ ＣＲＴ装置 ３２ パソコン（コマンド送信端末） ３４ 割込みスイッチボックス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/00 // Ｇ０６Ｆ 17/60 Ｇ０６Ｆ 15/21 Ｒ
Claims (3)
- 【請求項１】 連続生産される電子部品の生産ラインの
所定位置において個々の電子部品の画像データを取込む
工程と、この画像データに基づいて特定の着目画像の座
標位置を所定のアルゴリズムに従って決定する工程と、
決定された着目画像の座標位置の画像パターンを解析し
てこれをニユーラルネットを使用して不良品の判定を行
う工程とからなることを特徴とする電子部品の検査方
式。 - 【請求項２】 連続生産される電子部品は、電解コンデ
ンサからなり、この電解コンデンサから導出される一対
のリード線の付け根位置を着目画像とすると共に、この
着目画像の画像パターンによりリード線の付け根位置に
おける電解液の漏出状態を解析してなる請求項１記載の
電子部品の検査方式。 - 【請求項３】 着目画像の座標位置の決定は、一対のリ
ード線の位置を抽出して、これらリード線間の中央位置
を決定し、次いで前記リード線間の中央位置から本体の
探索領域を決定した後、前記本体の上下部の境界点を探
索し、これら境界点から電解液の漏出位置の座標を算出
することからなる請求項１または２記載の電子部品の検
査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24816894A JPH08114557A (ja) | 1994-10-13 | 1994-10-13 | 電子部品の検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24816894A JPH08114557A (ja) | 1994-10-13 | 1994-10-13 | 電子部品の検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08114557A true JPH08114557A (ja) | 1996-05-07 |
Family
ID=17174231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24816894A Pending JPH08114557A (ja) | 1994-10-13 | 1994-10-13 | 電子部品の検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08114557A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100902639B1 (ko) * | 2007-10-05 | 2009-06-15 | (주)서우케이엔제이 | 진단키트 검사 및 절단 포장장치 |
| WO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-01-21 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
-
1994
- 1994-10-13 JP JP24816894A patent/JPH08114557A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100902639B1 (ko) * | 2007-10-05 | 2009-06-15 | (주)서우케이엔제이 | 진단키트 검사 및 절단 포장장치 |
| WO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-01-21 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
| JPWO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-11-25 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
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