JPH08109469A - Production of metallic oxide thin film - Google Patents

Production of metallic oxide thin film

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JPH08109469A
JPH08109469A JP6245879A JP24587994A JPH08109469A JP H08109469 A JPH08109469 A JP H08109469A JP 6245879 A JP6245879 A JP 6245879A JP 24587994 A JP24587994 A JP 24587994A JP H08109469 A JPH08109469 A JP H08109469A
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JP
Japan
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substrate
film
oxide
thin film
deposited
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6245879A
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Japanese (ja)
Inventor
Kozo Fujino
剛三 藤野
Shigeru Okuda
繁 奥田
Noriyuki Yoshida
典之 葭田
Norikata Hayashi
憲器 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E40/00Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

Abstract

PURPOSE: To provide a method in which an oxide superconducting film having the orientating properties of crystal axes close to single crystals can be deposited on a metallic substrate even if a metallic substrate of polycrystals is used. CONSTITUTION: Chemical species for constituting metallic oxides such as yttria stabilized zirconia, cerium oxide, magnesium oxide or the like are fed to the surface of a metallic substrate 4 by laser abrasion. At this time, while d.c. current is conducted to the metallic substrate 4 via an electrode 7a and 7b, a film of the metallic oxides in which the chemical species are deposited and the crystal axes are oriented is deposited. On the film of the metallic oxides obtd. as the same manner, a thin film constituted of an oxide superconductor is deposited.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、酸化物超電導体を含む
金属酸化物からなる薄膜の製造方法に関し、特に、金属
基板上に中間層を形成し、その上に酸化物超電導層を形
成するための方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a thin film of a metal oxide containing an oxide superconductor, and in particular, an intermediate layer is formed on a metal substrate and an oxide superconducting layer is formed thereon. For how to.

【0002】[0002]

【従来の技術】酸化物超電導体からなる薄膜は、RFス
パッタ法、DCスパッタ法、イオンビームスパッタ法、
クラスタイオンビーム法、MOCVD法、MBE法、レ
ーザアブレーション法等に代表される成膜法によって形
成することができる。一般に、これらの手法により作製
される酸化物超電導膜は、固相法、融体法などの他の手
法により作製される酸化物超電導体と比較して結晶性が
よく、優れた超電導特性を有する。たとえば、MgO、
2 3 (0〜8モル%)−ZrO2 (YSZ)、Sr
TiO3 等の単結晶基板上に形成したY1 Ba2 Cu3
X 超電導膜では、特性として106 A/cm2 (7
7.3K、磁場0)以上の臨界電流密度(Jc)が比較
的簡単に得られている。このJcは、他の手法によって
得られるものの100〜1000倍の値である。
2. Description of the Related Art A thin film made of an oxide superconductor is manufactured by RF sputtering, DC sputtering, ion beam sputtering,
It can be formed by a film forming method typified by a cluster ion beam method, a MOCVD method, an MBE method, a laser ablation method, or the like. Generally, oxide superconducting films produced by these methods have better crystallinity and excellent superconducting properties than oxide superconductors produced by other methods such as solid phase method and melt method. . For example, MgO,
Y 2 O 3 (0 to 8 mol%)-ZrO 2 (YSZ), Sr
Y 1 Ba 2 Cu 3 formed on a single crystal substrate of TiO 3, etc.
The O x superconducting film has a characteristic of 10 6 A / cm 2 (7
A critical current density (Jc) of 7.3 K and a magnetic field of 0) or higher is obtained relatively easily. This Jc is 100 to 1000 times higher than that obtained by other methods.

【0003】特定の材料からなる基板上に、別種の材料
からなる単結晶性の薄膜を形成したい場合、形成すべき
薄膜材料に近い格子定数を有する単結晶基板が一般に用
いられる。そして単結晶基板上に、真空蒸着、CVD、
レーザ蒸着等によって単結晶の薄膜を成長させる。これ
はヘテロエピタキシャル成長法としてよく知られた技術
である。このような技術に従って単結晶基板上に形成し
た酸化物超電導膜は、基板の結晶性を反映してエピタキ
シャル成長することができる。そして、単結晶基板上の
酸化物超電導膜は、3軸ある結晶軸をすべて揃えて成長
し、ほぼ単結晶となることができる。
When it is desired to form a single crystal thin film made of a different material on a substrate made of a specific material, a single crystal substrate having a lattice constant close to that of the thin film material to be formed is generally used. Then, on the single crystal substrate, vacuum deposition, CVD,
A single crystal thin film is grown by laser deposition or the like. This is a well-known technique as a heteroepitaxial growth method. The oxide superconducting film formed on the single crystal substrate according to such a technique can be epitaxially grown by reflecting the crystallinity of the substrate. Then, the oxide superconducting film on the single crystal substrate can grow into a substantially single crystal by growing with all the three crystal axes.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】一方、基板上に酸化物
超電導体の薄膜を形成して超電導線を作製しようとする
場合、基板としてテープ状の長尺体が必要となる。上述
したような技術に従ってテープ状の基材に酸化物超電導
体をエピタキシャル成長させたいならば、単結晶のテー
プを準備することが必要である。しかしながら、長いテ
ープ状の単結晶基材を準備することはほとんど不可能で
ある。
On the other hand, when a thin film of an oxide superconductor is formed on a substrate to manufacture a superconducting wire, a tape-shaped elongated body is required as the substrate. If it is desired to epitaxially grow an oxide superconductor on a tape-shaped substrate according to the technique described above, it is necessary to prepare a single crystal tape. However, it is almost impossible to prepare a long tape-shaped single crystal substrate.

【0005】そこで、多結晶である金属等の長尺テープ
基材を用い、まず基材元素の超電導体への拡散を防止す
るための中間層を形成し、その上に酸化物超電導層を形
成する試みがなされている。しかし、多結晶金属上に形
成される中間層は、ほとんど多結晶であり、また、その
上に堆積される酸化物超電導体も、多結晶となる。この
ようにして形成された酸化物超電導体膜のJcは、単結
晶基板を用いた場合の約1/100程度まで低下してし
まう。
Therefore, using a long tape base material such as a polycrystalline metal, an intermediate layer for preventing diffusion of base material elements into a superconductor is first formed, and then an oxide superconducting layer is formed thereon. Attempts have been made to do so. However, the intermediate layer formed on the polycrystalline metal is almost polycrystalline, and the oxide superconductor deposited on it is also polycrystalline. The Jc of the oxide superconductor film formed in this way is reduced to about 1/100 of that when a single crystal substrate is used.

【0006】本発明の目的は、上記問題点を解決し、多
結晶の金属基板を用いた場合でも、単結晶に近い結晶軸
の配向性を酸化物超電導膜に付与する方法を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a method of imparting crystal axis orientation close to that of a single crystal to an oxide superconducting film even when a polycrystalline metal substrate is used. is there.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に従って金属酸化
物薄膜の製造方法が提供され、この方法は導電性基板の
多結晶表面もしくはアモルファス表面または上記導電性
基板上に形成された多結晶膜もしくはアモルファス膜上
に金属酸化物からなる薄膜を堆積させる方法であって、
金属酸化物を構成するための化学種を、気相において基
板表面または基板上に形成された膜の方向に供給し、か
つ導電性基板に直流電流を通電しながら化学種を基板表
面または基板上に形成された膜上に堆積させることを特
徴とする。
According to the present invention, there is provided a method for producing a metal oxide thin film, which method comprises a polycrystalline surface or an amorphous surface of a conductive substrate or a polycrystalline film formed on the conductive substrate. A method of depositing a thin film of metal oxide on an amorphous film, comprising:
The chemical species for forming the metal oxide are supplied in the gas phase in the direction of the substrate surface or a film formed on the substrate, and the chemical species are supplied to the conductive substrate while applying a direct current to the substrate surface or the substrate. It is characterized in that it is deposited on the film formed in 1.

【0008】本発明において、金属酸化物を構成するた
めの化学種は、基板表面または基板上に形成された膜に
ほぼ垂直な方向に供給することができる。この場合、直
流電流を、基板表面または基板上に形成された膜表面に
ほぼ平行な一定の方向に流すことができる。基板に堆積
される化学種は、電気双極子を形成し得るものが好まし
い。
In the present invention, the chemical species for forming the metal oxide can be supplied in a direction substantially perpendicular to the surface of the substrate or the film formed on the substrate. In this case, the direct current can flow in a fixed direction substantially parallel to the surface of the substrate or the surface of the film formed on the substrate. The species deposited on the substrate are preferably those capable of forming an electric dipole.

【0009】本発明において、金属酸化物の薄膜は、R
Fスパッタ法、DCスパッタ法、イオンビームスパッタ
法、クラスタイオンビーム法、MOCVD法、MBE
法、レーザアブレーション法等の気相成膜法によって形
成することができる。レーザアブレーション法は、短時
間で質のよい膜を形成すること等により好ましく、特に
酸化物超電導膜を形成する上でより好ましい。レーザア
ブレーションのため、エキシマレーザが好ましく用いら
れる。エキシマレーザとして、KrFエキシマレーザ
(波長248nm)およびArFエキシマレーザ(波長
193nm)が好ましく用いられる。
In the present invention, the metal oxide thin film is R
F sputtering method, DC sputtering method, ion beam sputtering method, cluster ion beam method, MOCVD method, MBE
Method, laser ablation method, or other vapor phase film forming method. The laser ablation method is preferable because it can form a high-quality film in a short time, and is more preferable especially when forming an oxide superconducting film. Excimer lasers are preferably used for laser ablation. As the excimer laser, a KrF excimer laser (wavelength 248 nm) and an ArF excimer laser (wavelength 193 nm) are preferably used.

【0010】本発明は、酸化物超電導体からなる薄膜を
形成するため特に適用される。この場合、導電性材料、
特に金属からなる基板上に中間層を介して酸化物超電導
膜が形成される。中間層は、基板元素が酸化物超電導膜
に拡散するのを防止する目的で形成される。このプロセ
スにおいて、まず、中間層を形成するため本発明を適用
することができる。中間層として、金属酸化物からなる
薄膜を、本発明に従って導電性の基板上に形成すること
ができる。次いで、金属酸化物からなる中間層上に、酸
化物超電導膜を形成する。中間層を本発明に従って形成
した場合、酸化物超電導膜の形成は本発明の方法によら
なくともよい。これは、以下に示すとおり、本発明に従
って結晶軸が特定の方向に強く配向した中間層を形成す
ることができ、この中間層の結晶構造に従って超電導体
の膜を成長、好ましくはエピタキシャル成長させること
ができるからである。中間層の好ましい金属酸化物とし
て、イットリア安定化ジルコニア(たとえばY2
3 (0〜8モル%)−ZrO2)、酸化セリウム(Ce
2 )、および酸化マグネシウム(MgO)からなる群
から選択される少なくとも1つを挙げることができる。
立方晶系を呈することができる酸化物は、中間層の金属
酸化物として好ましい。
The present invention finds particular application for forming thin films of oxide superconductors. In this case, a conductive material,
In particular, an oxide superconducting film is formed on a substrate made of metal via an intermediate layer. The intermediate layer is formed for the purpose of preventing the substrate element from diffusing into the oxide superconducting film. In this process, the invention can be applied first to form the intermediate layer. As an intermediate layer, a thin film of metal oxide can be formed on a conductive substrate according to the present invention. Next, an oxide superconducting film is formed on the intermediate layer made of metal oxide. When the intermediate layer is formed according to the present invention, the oxide superconducting film need not be formed by the method of the present invention. As shown below, it is possible to form an intermediate layer in which crystal axes are strongly oriented in a specific direction according to the present invention, and a film of a superconductor can be grown, preferably epitaxially grown according to the crystal structure of the intermediate layer. Because you can. The preferred metal oxide for the intermediate layer is yttria-stabilized zirconia (eg, Y 2 O).
3 (0 to 8 mol%)-ZrO 2 ), cerium oxide (Ce
O 2 ) and at least one selected from the group consisting of magnesium oxide (MgO).
Oxides capable of exhibiting a cubic system are preferable as the metal oxide of the intermediate layer.

【0011】一方、本発明に従って酸化物超電導体から
なる薄膜を形成することができる。この場合、中間層は
本発明に従って形成しなくともよい。多結晶、好ましく
はアモルファスの中間層上に、酸化物超電導体を構成す
るための化学種を気相において供給し、導電性基板に直
流電流を通電しながら化学種を中間層上に堆積させるこ
とにより、結晶軸が特定の方向に強く配向した酸化物超
電導膜を堆積させることができる。中間層は、たとえば
上述したイットリア安定化ジルコニア、酸化セリウム、
または酸化マグネシウムから形成することができる。
On the other hand, a thin film made of an oxide superconductor can be formed according to the present invention. In this case, the intermediate layer may not be formed according to the present invention. Supplying a chemical species for forming an oxide superconductor in a vapor phase onto a polycrystalline, preferably amorphous intermediate layer, and depositing the chemical species on the intermediate layer while applying a direct current to a conductive substrate. This makes it possible to deposit an oxide superconducting film having crystal axes strongly oriented in a specific direction. The intermediate layer is, for example, the above-mentioned yttria-stabilized zirconia, cerium oxide,
Alternatively, it can be formed from magnesium oxide.

【0012】酸化物超電導体にはイットリウム系、ビス
マス系、タリウム系酸化物超電導体等があるが、本発明
は、特にY1 Ba2 Cu3 7-X (0≦X<1)等のイ
ットリウム系酸化物超電導体の薄膜を形成するため適用
される。
The oxide superconductors include yttrium-based, bismuth-based, thallium-based oxide superconductors, and the like. In the present invention, particularly, Y 1 Ba 2 Cu 3 O 7-X (0≤X <1) is used. It is applied to form a thin film of yttrium-based oxide superconductor.

【0013】本発明において、薄膜は、種々の材質、サ
イズおよび形状を有する基板上に形成することができ
る。基板は、単一の材料からなるものであってもよい
し、複合材料からなるものであってもよい。特定の材料
の表面にコーティングを施した基板を用いてもよい。基
板として、金属テープを好ましく用いることができる。
好ましい金属として、ハステロイ、ステンレス、ニッケ
ル等を挙げることができる。長尺の金属テープ上に薄膜
を形成したい場合、基板をその長手方向に移動させなが
ら化学種の堆積を行なうことができる。これにより、テ
ープの長手方向に沿って薄膜が形成される。この方法に
従って酸化物超電導体の薄膜を形成すれば、超電導線を
提供することできる。
In the present invention, the thin film can be formed on a substrate having various materials, sizes and shapes. The substrate may be made of a single material or may be made of a composite material. A substrate having a surface coated with a specific material may be used. A metal tape can be preferably used as the substrate.
Preferred metals include Hastelloy, stainless steel, nickel and the like. When it is desired to form a thin film on a long metal tape, the chemical species can be deposited while moving the substrate in the longitudinal direction. Thereby, a thin film is formed along the longitudinal direction of the tape. A superconducting wire can be provided by forming a thin film of an oxide superconductor according to this method.

【0014】[0014]

【作用】本発明において導電性基板に直流電流を通電さ
せると、アンペアの右ネジの法則により、通電電流を取
囲む形で静磁場が発生する。この静磁場中において電荷
を持った粒子が運動すると、その粒子は磁場方向および
粒子の移動方向に垂直にローレンツ力を受けることにな
る。
In the present invention, when a direct current is applied to the conductive substrate, a static magnetic field is generated in a form surrounding the applied current according to Ampere's right-handed screw law. When a charged particle moves in this static magnetic field, the particle receives a Lorentz force perpendicular to the magnetic field direction and the moving direction of the particle.

【0015】酸化マグネシウム、イットリア安定化ジル
コニア、酸化セリウム等のセラミックス材料はイオン結
合性が強く、たとえば酸化マグネシウムはMg2+とO2-
のイオン間のクーロン力により分子を形成する。このM
gO分子は全体では中性であるが、構成原子に注目する
と+の電荷を持った粒子と−の電荷を持って粒子とが結
びついた状態であり、電気双極子を形成しているといえ
る。
Ceramic materials such as magnesium oxide, yttria-stabilized zirconia, and cerium oxide have a strong ionic bond property. For example, magnesium oxide contains Mg 2+ and O 2−.
A molecule is formed by the Coulomb force between the ions of. This M
Although the gO molecule is neutral as a whole, when attention is paid to the constituent atoms, it can be said that particles having a positive charge and particles having a negative charge are connected to each other, forming an electric dipole.

【0016】そこで、たとえばレーザアブレーション法
を用いて金属基板上にMgOを堆積させようとした場合
を考える。MgO焼結体ターゲットにレーザを照射する
と、ターゲットは、原子、分子レベルに分解され飛散
し、ターゲットに対向して配置された基板上に堆積され
ていく。このとき、金属基板に流れる電流により発生し
た静磁場中にMgOの分子が進入してくると、先に述べ
たとおりローレンツ力を受けることになるが、Mgは+
電荷、Oは−電荷を持っているため、それぞれ全く逆方
向の力を受けることになる。その結果、Mg−O双極
子、すなわちMgO分子は磁場および飛行方向に直交す
る方向に並ぶことが最も安定な状態となると考えられ
る。そのような状態でMgOが基板上に堆積していくこ
とで、得られた膜の結晶軸について特定の配向性を与え
ることが可能となる。
Therefore, consider a case where MgO is to be deposited on a metal substrate by using, for example, a laser ablation method. When the MgO sintered body target is irradiated with a laser, the target is decomposed into atomic and molecular levels and scattered, and is deposited on the substrate arranged facing the target. At this time, when the MgO molecules enter into the static magnetic field generated by the current flowing through the metal substrate, they receive the Lorentz force as described above, but the Mg +
Since the electric charge and O have a negative electric charge, they receive forces in opposite directions. As a result, it is considered that the most stable state is when the Mg-O dipoles, that is, the MgO molecules, are aligned in the direction orthogonal to the magnetic field and the flight direction. By depositing MgO on the substrate in such a state, it becomes possible to give a specific orientation to the crystal axis of the obtained film.

【0017】以上に説明したメカニズムは、イットリア
安定化ジルコニア、酸化セリウム等についても同様に働
き、結晶軸の配向性を与えることができると考えられ
る。また酸化物超電導体もイオン結合性の強い物質であ
り、同様のメカニズムによって結晶軸の配向をもたらす
ことができると考えられる。
It is considered that the mechanism described above works similarly for yttria-stabilized zirconia, cerium oxide, etc., and can give the orientation of crystal axes. Further, the oxide superconductor is also a substance having a strong ionic bond, and it is considered that the crystal axis can be oriented by the same mechanism.

【0018】[0018]

【実施例】【Example】

実施例1 中間層のための物質としてMgO、酸化物超電導体とし
てY1 Ba2 Cu3 X を用いた場合を説明する。
 Example 1 As a material for the intermediate layer, MgO, as an oxide superconductor
Y1Ba2Cu3O XThe case of using will be described.

【0019】金属基材として、サイズ10×10×0.
5mmのハステロイc−276を用い、この上にレーザ
アブレーションによって成膜を行なった。図1に、成膜
のための装置を模式的に示す。装置において、金属酸化
物を構成するための材料からなるターゲット1には、レ
ーザ光線2が照射され、ターゲット1にほぼ垂直な方向
に成膜のための化学種を含むプラズマ(プルーム)3が
発生する。プルームが発生する方向には、基板4が設け
られ、基板4はホルダ5において所定の温度に保持する
ことができる。基板4の両端にはそれぞれ電極7a、7
bが取付けられ、直流電源6から基板に通電できるよう
になっている。このような装置において、成膜条件は表
1に示すとおりである。
As a metal substrate, a size of 10 × 10 × 0.
A 5 mm Hastelloy c-276 was used and a film was formed thereon by laser ablation. FIG. 1 schematically shows an apparatus for film formation. In the apparatus, a target 1 made of a material for forming a metal oxide is irradiated with a laser beam 2, and a plasma (plume) 3 containing a chemical species for film formation is generated in a direction substantially perpendicular to the target 1. To do. The substrate 4 is provided in the direction in which the plume is generated, and the substrate 4 can be held at a predetermined temperature by the holder 5. Electrodes 7a and 7 are provided on both ends of the substrate 4, respectively.
b is attached so that the substrate can be energized from the DC power supply 6. In such an apparatus, the film forming conditions are as shown in Table 1.

【0020】[0020]

【表1】 [Table 1]

【0021】まず、MgOの中間層を形成する際に直流
電流を通電させ実験を行なった。直流電流は1〜10A
とし、MgOをターゲットとして基板にそれぞれの値の
電流を流しながらレーザアブレーションによってMgO
膜を形成した。また比較のため通電せずに成膜を行なっ
た。膜における結晶軸(結晶面)の配向性をX線回折法
により調査した。表2に、通電電流の値と、形成された
MgO膜における結晶面の配向性との関係についてまと
める。
First, an experiment was carried out by applying a direct current when forming the MgO intermediate layer. DC current is 1-10A
And MgO as a target by laser ablation while applying a current of each value to the substrate.
A film was formed. For comparison, film formation was performed without energization. The orientation of crystal axes (crystal planes) in the film was investigated by an X-ray diffraction method. Table 2 summarizes the relationship between the value of the energizing current and the crystal plane orientation in the formed MgO film.

【0022】[0022]

【表2】 [Table 2]

【0023】この結果から、直流電流を流すことによ
り、MgO膜について結晶軸の配向性が改善されてお
り、基板面に対して垂直に1つの結晶軸が揃っているこ
とが分かる。前述したように、電気双極子は、磁場の方
向および双極子の運動方向に対して垂直な方向に並ぶこ
とが最も安定であると考えられる。通電電流により基板
面にほぼ平行な磁場が発生しており、かつMg−Oの結
合による電気双極子の運動方向は基板面にほぼ垂直であ
るため、Mg−Oの結合方向が基板面に平行(磁場に対
しては垂直)となるよう結晶が形成されると考えられ
る。そのように結晶化が進んだとするなら、MgOの結
晶構造から考えて、基板面に対して垂直に〈100〉結
晶軸が成長するはずであり、表2に示した結果はまさに
この仮定が正しいことを示している。また、X線極点図
測定を行なった結果、3A〜10Aのサンプルは他の2
軸も基板面に平行な面内で揃っていることが分かった。
1Aのサンプルは、若干結晶軸の配向性が認められたが
明瞭ではなかった。
From this result, it is understood that the crystal axis orientation of the MgO film is improved by passing a direct current, and one crystal axis is aligned perpendicular to the substrate surface. As described above, it is considered that the electric dipoles are most stable when they are aligned in the direction perpendicular to the magnetic field direction and the dipole motion direction. A magnetic field that is almost parallel to the substrate surface is generated by the applied current, and the motion direction of the electric dipole due to the Mg—O coupling is substantially perpendicular to the substrate surface. It is considered that crystals are formed so as to be (perpendicular to the magnetic field). If such crystallization progresses, the <100> crystal axis should grow perpendicular to the substrate surface in view of the MgO crystal structure, and the results shown in Table 2 are based on this assumption. It shows that it is correct. Moreover, as a result of the X-ray pole figure measurement, the samples of 3A to 10A are
It was found that the axes are also aligned in the plane parallel to the substrate surface.
In the sample of 1A, some crystallographic orientation was observed, but it was not clear.

【0024】次に、通電電流0と7AでそれぞれMgO
膜を形成したサンプルについて、さらにその上にY1
2 Cu3 X の膜を形成した。超電導体膜を形成する
際には通電は行なわず、表1に示す条件下、レーザアブ
レーションにより膜を堆積した。それぞれ得られた超電
導膜の臨界電流密度を表3に示す。
Next, MgO was applied at a current of 0 and 7 A, respectively.
For the sample with the film formed, Y 1 B
A film of a 2 Cu 3 O x was formed. No current was applied when forming the superconductor film, and the film was deposited by laser ablation under the conditions shown in Table 1. Table 3 shows the critical current densities of the obtained superconducting films.

【0025】[0025]

【表3】 [Table 3]

【0026】MgO成膜時に通電しなかったサンプルで
は、Y1 Ba2 Cu3 X は基板面にほぼ垂直にc軸が
配向していたが、残りのa、b軸には配向性は認められ
なかった。7Aの電流を流して形成したMgO膜上に酸
化物超電導体を堆積させたサンプルでは、基板面に垂直
に超電導体のc軸が配向し、さらに超電導体のa、b軸
も特定の方向に強く配向していることが明らかになっ
た。表3に示すとおり、通電しながら形成したMgO膜
上に堆積された酸化物超電導体膜は高い臨界電流密度を
示した。
In the sample which was not energized during the MgO film formation, Y 1 Ba 2 Cu 3 O x had the c-axis oriented almost perpendicular to the substrate surface, but the remaining a and b axes had orientation. I couldn't do it. In the sample in which the oxide superconductor was deposited on the MgO film formed by applying a current of 7 A, the c-axis of the superconductor was oriented perpendicular to the substrate surface, and the a and b axes of the superconductor were also oriented in a specific direction. It was revealed that they were strongly oriented. As shown in Table 3, the oxide superconductor film deposited on the MgO film formed while energizing showed a high critical current density.

【0027】実施例2 中間層物質としてMgO、酸化物超電導体としてY1
2 Cu3 X を用い、金属基板として幅10mm、厚
み0.5mm、長さ100mmのテープ状ハステロイC
−276を使用した場合について説明する。
Example 2 MgO as an intermediate layer material and Y 1 B as an oxide superconductor
a 2 Cu 3 O x tape-shaped Hastelloy C having a width of 10 mm, a thickness of 0.5 mm and a length of 100 mm as a metal substrate
The case of using -276 will be described.

【0028】成膜条件は実施例1に示すとおりであっ
た。テープ基板を、膜を形成する際に一定速度で動かし
た。これにより、テープの長手方向に沿って薄膜が形成
された。テープの移動速度は、MgO膜を形成する際7
mm/分、Y1 Ba2 Cu3 X 膜を形成する際3mm
/分とした。
The film forming conditions are as shown in Example 1.
Was. Move the tape substrate at a constant speed when forming the film.
Was. This forms a thin film along the length of the tape.
Was done. The moving speed of the tape is 7 when the MgO film is formed.
mm / min, Y1Ba2Cu3O X3 mm when forming the film
/ Min.

【0029】図2に、テープ状基板を移動させながら通
電する装置を模式的に示す。図を参照して、テープ状基
板14は、矢印の方向に移動される。基板14は、所定
の間隔をあけて設けられる1対の電極17aおよび17
bに接触しており、この電極間に存在する基板の部分に
リード線16aおよび16bを介して電流が流される。
基板14は、ホルダ15によって所定の温度に保持する
ことができる。移動するテープ状基板14には、ターゲ
ット11にレーザ光線12を照射することによって発生
するプラズマ13中の化学種がテープの長手方向に沿っ
て順次堆積され、テープの長手方向に沿って膜が形成さ
れていく。
FIG. 2 schematically shows an apparatus for energizing while moving the tape-shaped substrate. Referring to the figure, tape-shaped substrate 14 is moved in the direction of the arrow. The substrate 14 has a pair of electrodes 17a and 17a provided at a predetermined interval.
An electric current is passed through the lead wires 16a and 16b to the portion of the substrate which is in contact with the electrode b and which exists between the electrodes.
The substrate 14 can be held at a predetermined temperature by the holder 15. On the moving tape-like substrate 14, the chemical species in the plasma 13 generated by irradiating the target 11 with the laser beam 12 are sequentially deposited along the longitudinal direction of the tape, and a film is formed along the longitudinal direction of the tape. Will be done.

【0030】MgO膜を形成する際に電流を流した結
果、MgOの結晶性に関して実施例1と全く同様の結果
を得た。基板が移動することによる結晶性の変化は認め
られなかった。
As a result of applying an electric current when forming the MgO film, the same results as in Example 1 were obtained regarding the crystallinity of MgO. No change in crystallinity due to the movement of the substrate was observed.

【0031】次に、実施例1と同様に、通電電流0と7
AでMgO膜をそれぞれ形成したテープ状サンプルに、
実施例1と同様の条件下、レーザアブレーションにより
基板を移動しながら連続的にY1 Ba2 Cu3 X 膜を
形成した。このとき、通電は行なっていない。それぞれ
のテープ全長にわたって測定間隔70mmで臨界電流密
度を測定した。結果を表4にまとめる。実施例1と同様
に、直流通電を行なうことで、良好な結晶軸の配向性が
得られ、超電導膜について高い臨界電流密度が示され
た。
Next, as in the first embodiment, the energizing currents 0 and 7
For the tape-shaped sample on which the MgO film was formed in A,
Under the same conditions as in Example 1, a Y 1 Ba 2 Cu 3 O x film was continuously formed while moving the substrate by laser ablation. At this time, power is not supplied. The critical current density was measured over the entire length of each tape at a measurement interval of 70 mm. The results are summarized in Table 4. As in the case of Example 1, by conducting a direct current, good crystal axis orientation was obtained, and a high critical current density was shown for the superconducting film.

【0032】[0032]

【表4】 [Table 4]

【0033】実施例3 イットリア安定化ジルコニア(YSZ)を金属基板上に
形成した場合について説明する。金属基板としては、1
0×10×0.5mmのハステロイc−276を使用し
た。成膜条件を表5に示す。
Example 3 A case where yttria-stabilized zirconia (YSZ) is formed on a metal substrate will be described. 1 for a metal substrate
Hastelloy c-276 of 0 × 10 × 0.5 mm was used. Table 5 shows the film forming conditions.

【0034】[0034]

【表5】 [Table 5]

【0035】成膜時には金属基板に0〜10Aの直流電
流を流した。YSZ層のX線回折測定を行なったとこ
ろ、電流値に従って連続的な結晶軸の配向性の変化が観
察された。表6に、(200)面に対する(220)面
の回折ピークの強度比を示す。通電をしない場合、(2
00)面の配向が主であり、電流値が増大するに従って
(220)面の配向が強くなっていることが分かる。前
述したように、電気双極子は磁場の方向および双極子の
運動方向に対して垂直な方向に並ぶことが最も安定であ
ると考えられる。本実施例の場合、通電電流により基板
面にほぼ平行な磁場が発生しており、かつZr−Oの結
合による電気双極子の運動方向は基板面にほぼ垂直であ
る。このため、Zr−Oの結合方向が基板面に平行(磁
場に対しては垂直)となるようYSZ結晶の形成が進む
と考えられる。そのように結晶化が進むとするならば、
YSZの結晶構造から考えて、基板面に対して垂直に
〈110〉結晶軸が成長するはずであり、表6に示す結
果はまさにこの仮定が正しいことを示している。
During film formation, a direct current of 0 to 10 A was passed through the metal substrate. When the X-ray diffraction measurement of the YSZ layer was performed, a continuous change in the orientation of crystal axes was observed according to the current value. Table 6 shows the intensity ratio of the diffraction peak of the (220) plane to the (200) plane. When not energized, (2
It can be seen that the orientation of the (00) plane is predominant, and the orientation of the (220) plane becomes stronger as the current value increases. As mentioned above, it is considered most stable that the electric dipoles are aligned in the direction perpendicular to the magnetic field direction and the dipole motion direction. In the case of the present embodiment, a magnetic field that is substantially parallel to the substrate surface is generated by the applied current, and the movement direction of the electric dipole due to the Zr-O coupling is substantially perpendicular to the substrate surface. Therefore, it is considered that the YSZ crystal is formed so that the Zr-O bonding direction is parallel to the substrate surface (perpendicular to the magnetic field). If crystallization proceeds in that way,
Considering the crystal structure of YSZ, the <110> crystal axis should grow perpendicular to the substrate surface, and the results shown in Table 6 show that this assumption is correct.

【0036】[0036]

【表6】 [Table 6]

【0037】実施例4 金属基板として10×10×0.5mmのハステロイc
−276を使用し、この基板上にCeO2 を堆積させ
た。成膜条件を表7に示す。
Example 4 Hastelloy c of 10 × 10 × 0.5 mm as a metal substrate
-276 was used to deposit CeO 2 on this substrate. Table 7 shows the film forming conditions.

【0038】[0038]

【表7】 [Table 7]

【0039】成膜時には金属基板に0〜10Aの直流電
流を流した。形成されたCeO2 膜についてX線回折法
によりその結晶性について測定を行なったところ、電流
値により連続的な結晶軸の配向性の変化が観測された。
表8に、(200)面に対する(220)面の回折ピー
クの強度比を示す。通電を行なわない場合、(200)
面の配向が主であり、電流値が増大するにしたがって
(220)面の配向が強くなっていることが分かる。前
述したように、電気双極子は磁場の方向および双極子の
運動方向に対して垂直な方向に並ぶことが最も安定であ
ると考えられる。この実施例の場合、通電電流により基
板面にほぼ平行な磁場が発生しており、かつCe−Oの
結合による電気双極子の運動方向は基板面にほぼ垂直で
あるため、Ce−Oの結合方向が基板面に平行(磁場に
対しては垂直)となるよう酸化セリウムの結晶が成長す
ると考えられる。そのような結晶化が進むするならば、
酸化セリウムの結晶構造から考えて基板面に対し垂直に
〈110〉結晶軸が成長するはずであり、表8に示す結
果はまさにこの仮定が正しいことを示している。
During film formation, a direct current of 0 to 10 A was passed through the metal substrate. When the crystallinity of the formed CeO 2 film was measured by an X-ray diffraction method, a continuous change in the orientation of crystal axes was observed depending on the current value.
Table 8 shows the intensity ratio of the diffraction peak of the (220) plane to the (200) plane. When not energized, (200)
It can be seen that the orientation of the plane is mainly, and the orientation of the (220) plane becomes stronger as the current value increases. As mentioned above, it is considered most stable that the electric dipoles are aligned in the direction perpendicular to the magnetic field direction and the dipole motion direction. In the case of this embodiment, a magnetic field almost parallel to the substrate surface is generated by the applied current, and the movement direction of the electric dipole due to the Ce-O coupling is substantially perpendicular to the substrate surface. It is considered that the cerium oxide crystal grows so that the direction is parallel to the substrate surface (perpendicular to the magnetic field). If such crystallization proceeds,
Considering the crystal structure of cerium oxide, the <110> crystal axis should grow perpendicular to the substrate surface, and the results shown in Table 8 show that this assumption is correct.

【0040】[0040]

【表8】 [Table 8]

【0041】実施例5 金属基板に直流電流を流しながら、Y1 Ba2 Cu3
X 酸化物超電導体の膜を形成した例を示す。金属基板と
して、10×10×0.5mmのハステロイc−276
を使用した。酸化物超電導体の基本的な成膜条件は実施
例1に示すとおりである。また中間層物質としてYSZ
を採用した。本実施例では、金属基板上に結晶化してい
ない状態(アモルファス)のYSZ膜をまず堆積させ、
その上にレーザアブレーションによって酸化物超電導膜
を堆積した。酸化物超電導膜を形成する際の通電電流は
0〜10Aであった。
Example 5 Y 1 Ba 2 Cu 3 O was applied while applying a direct current to a metal substrate.
An example in which a film of an X oxide superconductor is formed is shown. Hastelloy c-276 of 10 × 10 × 0.5 mm as a metal substrate
It was used. The basic film forming conditions for the oxide superconductor are as shown in Example 1. In addition, YSZ as an intermediate layer material
It was adopted. In this embodiment, an uncrystallized (amorphous) YSZ film is first deposited on a metal substrate,
An oxide superconducting film was deposited on it by laser ablation. The applied current when forming the oxide superconducting film was 0 to 10A.

【0042】電流を流すことなく超電導膜を形成したサ
ンプルについてX線回折により結晶性の測定を行なっ
た。この場合、基板面に対してc軸が垂直に配向してお
り、この方向に関しての超電導膜の結晶性は良好であっ
た。通電電流が増加しても酸化物超電導体のc軸の配向
性にはほぼ変化はなく、すべての電流値においてc軸は
良好な配向性を示した。また、X線極点図測定を行なっ
た結果、3A以上の電流値で超電導膜を形成した場合、
残りの2つの軸(aおよびb軸)も特定の方向に強く配
向していることが分かった。表9に得られたそれぞれの
膜の臨界電流密度を示す。
The crystallinity of the sample on which the superconducting film was formed without passing an electric current was measured by X-ray diffraction. In this case, the c-axis was oriented perpendicular to the substrate surface, and the crystallinity of the superconducting film in this direction was good. The orientation of the c-axis of the oxide superconductor remained almost unchanged even when the applied current increased, and the c-axis showed good orientation at all current values. In addition, as a result of X-ray pole figure measurement, when the superconducting film was formed at a current value of 3 A or more,
It was found that the remaining two axes (a and b axes) were also strongly oriented in a particular direction. Table 9 shows the critical current densities of the obtained films.

【0043】[0043]

【表9】 [Table 9]

【0044】Y1 Ba2 Cu3 X 超電導体は、Y−
O、Cu−O、Ba−O、Cu−O、Ba−O、Cu−
O、Y−O、Cu−O…の順番に構成元素が積み重なっ
ていく積層タイプの物質である。それぞれの層は、酸素
原子との結合により、前述したような電気双極子を形成
していると考えられる。電気双極子は、磁場の方向およ
び双極子の運動方向に対して垂直な方向に並ぶことが最
も安定であると考えられる。各層の双極子が、一定方向
に並ぶことにより、基板面内での結晶軸の配向性が向上
すると考えられる。表9に示す結果は、通電電流が増大
することにより基板と平行な面内における結晶軸の配向
性が向上し、結晶粒間の傾角が小さくなることで、結晶
粒間の弱い結合が少なくなっていることを示唆してい
る。
The Y 1 Ba 2 Cu 3 O x superconductor is Y-
O, Cu-O, Ba-O, Cu-O, Ba-O, Cu-
It is a layered type material in which constituent elements are stacked in the order of O, YO, Cu-O .... It is considered that each layer forms an electric dipole as described above by the bond with oxygen atoms. It is considered that electric dipoles are most stable when they are aligned in a direction perpendicular to the magnetic field direction and the dipole motion direction. It is considered that the orientation of crystal axes in the plane of the substrate is improved by arranging the dipoles of each layer in a certain direction. The results shown in Table 9 show that the increase in the applied current improves the orientation of the crystal axes in the plane parallel to the substrate, and the inclination angle between the crystal grains is reduced, so that weak bonds between the crystal grains are reduced. Suggesting that

【0045】実施例6 金属基板上にY1 Ba2 Cu3 X 酸化物超電導体膜を
形成した例を説明する。金属基板として、幅10mm、
厚み0.5mm、長さ100mmのテープ状ハステロイ
c−276を使用した。成膜条件および通電電流は実施
例5と同様であった。酸化物超電導膜の形成にあたって
は、まず基板上に結晶化していない状態(アモルファ
ス)のYSZ膜を形成し、その上にレーザアブレーショ
ンによって酸化物超電導体膜を堆積した。酸化物超電導
体膜を形成する際、テープ基板は一定速度で動かされ
た。これにより、テープの長手方向に沿って酸化物超電
導膜が形成された。テープの移動速度は3mm/分であ
った。
Example 6 An example of forming a Y 1 Ba 2 Cu 3 O x oxide superconductor film on a metal substrate will be described. As a metal substrate, width 10 mm,
A tape-shaped Hastelloy c-276 having a thickness of 0.5 mm and a length of 100 mm was used. The film forming conditions and the applied current were the same as in Example 5. In forming the oxide superconducting film, first, an uncrystallized (amorphous) YSZ film was formed on the substrate, and an oxide superconducting film was deposited thereon by laser ablation. The tape substrate was moved at a constant speed during the formation of the oxide superconductor film. Thereby, the oxide superconducting film was formed along the longitudinal direction of the tape. The moving speed of the tape was 3 mm / min.

【0046】酸化物超電導膜において、通電電流による
結晶軸の配向性の変化は、X線回折法、X線極点図法等
から、実施例5で得た結果とほぼ同様であり、基板の移
動による変化は認められなかった。テープ全長にわたっ
て70mmの間隔で臨界電流密度を測定した結果を表1
0にまとめる。
In the oxide superconducting film, the change in the orientation of the crystal axes due to the applied current was almost the same as the result obtained in Example 5 from the X-ray diffraction method, the X-ray pole figure method, etc. No change was observed. Table 1 shows the results of measuring the critical current density at intervals of 70 mm over the entire length of the tape.
Sum up to 0.

【0047】[0047]

【表10】 [Table 10]

【0048】なお、中間層物質または酸化物超電導体の
熱膨張係数と基板との熱膨張係数の差を小さくするた
め、上記実施例ではすべて金属基板としてハステロイc
−276を使用した。しかし、本発明において基板はこ
の材料に限られるものではない。上記実施例において、
堆積される物質と熱膨張係数の差が少ないその他の金属
または合金を基板として用い、同様の結果を得ることが
できる。
In order to reduce the difference between the coefficient of thermal expansion of the intermediate layer material or the oxide superconductor and the coefficient of thermal expansion of the substrate, Hastelloy c is used as the metal substrate in the above embodiments.
-276 was used. However, in the present invention, the substrate is not limited to this material. In the above example,
Other metals or alloys having a small coefficient of thermal expansion difference from the deposited material can be used as the substrate with similar results.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
多結晶またはアモルファスの基材上に単結晶性の薄膜を
簡便なプロセスで形成することができる。基材として、
長尺の金属テープを用いた場合、この上にテープの長手
方向に沿ってイットリア安定化ジルコニア、酸化マグネ
シウム、または酸化セリウム等からなる単結晶性薄膜を
形成できる。この薄膜上に酸化物超電導体をヘテロエピ
タキシャル成長させれば、高い臨界電流密度を示す超電
導体を形成させることができる。また、本発明を酸化物
超電導膜自体の形成に利用して、単結晶性が高くかつ高
い臨界電流密度を示す超電導膜を形成することができ
る。超電導膜をテープの長手方向に沿って形成すれば、
超電導線材を得ることもできる。この点から本発明は酸
化物超電導線材の製造プロセスに有用である。
As described above, according to the present invention,
A single crystalline thin film can be formed on a polycrystalline or amorphous substrate by a simple process. As a base material
When a long metal tape is used, a single crystal thin film made of yttria-stabilized zirconia, magnesium oxide, cerium oxide, or the like can be formed on the long metal tape. By heteroepitaxially growing an oxide superconductor on this thin film, a superconductor having a high critical current density can be formed. Further, the present invention can be used for forming the oxide superconducting film itself to form a superconducting film having high single crystallinity and high critical current density. If the superconducting film is formed along the longitudinal direction of the tape,
It is also possible to obtain a superconducting wire. From this point, the present invention is useful in the manufacturing process of the oxide superconducting wire.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に従う方法の一例を説明するための模式
図である。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining an example of a method according to the present invention.

【図2】本発明に従う方法のもう1つの例を説明するた
めの模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining another example of the method according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、11 ターゲット 2、12 レーザ光線 3、13 プラズマ 4、14 基板 5、15 ホルダ 7a、7b、17a、17b 電極 1, 11 Target 2, 12 Laser beam 3, 13 Plasma 4, 14 Substrate 5, 15 Holder 7a, 7b, 17a, 17b Electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 憲器 大阪市此花区島屋一丁目1番3号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Kenki Hayashi 1-3-3 Shimaya, Konohana-ku, Osaka City Sumitomo Electric Industries, Ltd. Osaka Works

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性基板の多結晶表面もしくはアモル
ファス表面または前記導電性基板上に形成された多結晶
膜もしくはアモルファス膜上に金属酸化物からなる薄膜
を堆積させる方法であって、 前記金属酸化物を構成するための化学種を、気相におい
て前記基材表面または前記基材上に形成された膜の方向
に供給し、かつ前記導電性基板に直流電流を通電しなが
ら、前記化学種を前記基板表面または前記基板上に形成
された膜上に堆積させることを特徴とする、金属酸化物
薄膜の製造方法。
1. A method of depositing a thin film of a metal oxide on a polycrystalline surface or an amorphous surface of a conductive substrate or on a polycrystalline film or an amorphous film formed on the conductive substrate, the method comprising: Chemical species for forming a substance, in the gas phase in the direction of the substrate surface or a film formed on the substrate, while supplying a direct current to the conductive substrate, the chemical species A method for producing a metal oxide thin film, which comprises depositing on a surface of the substrate or on a film formed on the substrate.
【請求項2】 前記化学種は、前記基板表面または前記
基板上に形成された膜にほぼ垂直な方向に供給され、前
記直流電流は前記基板表面または前記基板に形成された
膜表面にほぼ平行な一定の方向に流されることを特徴と
する、請求項1記載の方法。
2. The chemical species are supplied in a direction substantially perpendicular to the substrate surface or a film formed on the substrate, and the direct current is substantially parallel to the substrate surface or a film surface formed on the substrate. Method according to claim 1, characterized in that the flow is in a constant direction.
【請求項3】 前記化学種は、電気双極子を形成し得る
ものである、請求項1または2記載の方法。
3. The method of claim 1 or 2, wherein the chemical species is capable of forming an electric dipole.
【請求項4】 前記化学種の堆積はレーザアブレーショ
ンによることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1
項記載の方法。
4. The method according to claim 1, wherein the chemical species is deposited by laser ablation.
The method described in the section.
【請求項5】 前記金属酸化物が、イットリア安定化ジ
ルコニア、酸化セリウムおよび酸化マグネシウムからな
る群から選択される少なくとも1つであることを特徴と
する、請求項1〜4のいずれか1項記載の方法。
5. The metal oxide according to claim 1, wherein the metal oxide is at least one selected from the group consisting of yttria-stabilized zirconia, cerium oxide and magnesium oxide. the method of.
【請求項6】 前記導電性基板が金属からなり、前記基
板に前記直流電流を通電しながら前記金属酸化物からな
る薄膜を堆積させた後、その上に酸化物超電導体からな
る薄膜を形成する工程をさらに備えることを特徴とす
る、請求項1〜5のいずれか1項記載の方法。
6. The conductive substrate is made of metal, and a thin film made of the metal oxide is deposited on the substrate while applying the direct current to the substrate, and then a thin film made of an oxide superconductor is formed thereon. The method according to claim 1, further comprising a step.
【請求項7】 前記金属酸化物が、酸化物超電導体であ
ることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項記載
の方法。
7. The method according to claim 1, wherein the metal oxide is an oxide superconductor.
【請求項8】 前記導電性基板はテープ状体であり、か
つ該テープ状体をその長手方向に移動させながら、その
表面に前記薄膜を堆積していくことを特徴とする、請求
項1〜7のいずれか1項記載の方法。
8. The conductive substrate is a tape-shaped body, and the thin film is deposited on the surface of the tape-shaped body while moving the tape-shaped body in the longitudinal direction. 7. The method according to any one of 7.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020053010A (en) * 2000-12-26 2002-07-04 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 Method and apparatus for forming thin film
JP2004501493A (en) * 2000-06-21 2004-01-15 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア Structure for supercritical current superconducting tape

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004501493A (en) * 2000-06-21 2004-01-15 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア Structure for supercritical current superconducting tape
KR20020053010A (en) * 2000-12-26 2002-07-04 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 Method and apparatus for forming thin film

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