JPH08105799A - 色分類装置 - Google Patents

色分類装置

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JPH08105799A
JPH08105799A JP24161494A JP24161494A JPH08105799A JP H08105799 A JPH08105799 A JP H08105799A JP 24161494 A JP24161494 A JP 24161494A JP 24161494 A JP24161494 A JP 24161494A JP H08105799 A JPH08105799 A JP H08105799A
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JP
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classification
spectrum
data
unit
color
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JP24161494A
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Toru Wada
徹 和田
Kensuke Ishii
謙介 石井
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、装置構成が簡単で、低コストで、且
つ機械的振動にも耐えられ、しかも光源を限定せずにそ
のスペクトルが変化する場合などにも良好に色分類可能
な色分類装置を提供する。 【構成】本発明の色分類装置は、対象物の反射分光スペ
クトルを撮像する撮像手段と、上記対象物と撮像手段と
の間に設置したそれぞれ異なる帯域を持つ複数のバンド
パスフィルタと、上記撮像手段によって撮像された対象
物の反射分光スペクトルから統計的手法を用いた分類の
ための分類スペクトルを算出し、この分類スペクトルを
用いて上記対象物の分類を行う分類手段とを備えること
を特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主に色を利用して対象
物を分類する色分類装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、各工業の生産現場における塗
装色、染色度の管理、または生産物の色測定、あるいは
医療、学術分野における被検体の色測定などにおいて
は、対象物の色を識別する色識別装置が利用されてい
る。
【0003】特開平3−267726号のような従来の
技術においては、対象物の反射分光スペクトルに統計的
処理を施すことによって2クラスの分類を行っている。
【0004】具体的には、クラスが既知の対象物の反射
分光スペクトルをFoley Sammon変換(FS変換)を利用
して統計処理している(Q.Tian, M.Barbaro 他、“Imag
eclassification by the Foley-Sammon transform”,O
ptical Engineering,Vol.25, No.7, 1986参照)。
【0005】上記FS変換は、2つのクラスを分類する
手法で具体的には、次の(1)式によって求められるフ
イッシャーレショ(Fisher ratio)R(di)を最大に
する分類のためのスペクトルdiを求めることである。
【0006】 R(di)=(dit S1di)/(dit S2di)…(1) ここで、di ・・・分類スペクトル dit ・・・分類スペクトル(転置) S1 ・・・クラス間共分散行列 S2 ・・・クラス内共分散行列 以後、この分類のためのスペクトルdiを分類スペクト
ルと呼ぶ。
【0007】この分類スペクトルdiは対象物のスペク
トルと同じ次元数を有するため正確にはdi(λ)と表
記すべきであるが簡単のためにdiと記す。
【0008】そして、Fisher ratio を大きくする分類
スペクトルを2種類求める。
【0009】Fisher ratio を最大にする分類スペクト
ルdiをd1、d1と直交するスペクトルの中でFisher
ratio を最大にする分類スペクトルdiをd2とす
る。
【0010】この分類スペクトルd1、d2で構成され
る空間に各データを投影することにより、2つのクラス
が分類される。
【0011】この分類スペクトルd1、d2は次の
(2)式から求められる。
【0012】 d1=α1 S2-1Δ d2=α2 S2-1[I−(Δt S2-2Δ)/(Δt S2-3Δ)S2-1]Δ …(2) ここで、α1 、α2 は正規化係数、ΔはX1 −X2 (ク
ラス1とクラス2の差スペクトル)、Iは単位行列であ
る。
【0013】このようにして得た分類スペクトルd1、
d2で構成される空間に各データを投影するためには、
分類スペクトルと対象物の反射分光スペクトルとの内積
を求める。このうち、対象物の反射分光スペクトルをf
(λ)(λ=波長)とすれば、内積t1,t2は次式で
表せられる。
【0014】 t1=f(λ)・d1 t2=f(λ)・d2 …(3) ここで、・は内積演算を表す。
【0015】上記公報に開示の技術ではこのt1、t2
の値から図40のように分類境界を決め、この分類スペ
クトルの特性を有するフィルタを図41のように回折格
子501と液晶502を用いて実現している。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】ところで、分類スペク
トルd1、d2は、一般に図42に示すように形状が複
雑であり、また、正負の値をとるため、回折格子、液晶
フィルタなどの取り付け精度も厳しく要求される。
【0017】また、上記公報の装置では光源をあらかじ
め限定しているため、異なる光源に対しての分類には不
向きで、光源のスペクトルが変化する場合には良好な分
類が行えないと共に、さらに回折格子はコストが高いと
いう欠点もある。
【0018】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、装置構成が簡単で、低コストで、且つ機械的振動に
も耐えられ、しかも光源を限定せずにそのスペクトルが
変化する場合などにも良好に色分類可能な色分類装置を
提供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の色分類装置は、対象物の反射分光スペク
トルを撮像する撮像手段と、上記対象物と撮像手段との
間に設置したそれぞれ異なる帯域を持つ複数のバンドパ
スフィルタと、上記撮像手段によって撮像された対象物
の反射分光スペクトルから統計的手法を用いた分類のた
めの分類スペクトルを算出し、この分類スペクトルを用
いて上記対象物の分類を行う分類手段とを備えることを
特徴としている。
【0020】
【作用】このような本発明の色分類装置によれば、それ
ぞれ異なる帯域を持つ複数のバンドパスフィルタを用意
しておき、これら複数のバンドパスフィルタのそれぞれ
を上記対象物と撮像手段の間に配置する。
【0021】そして、分類手段によって、上記撮像手段
によって撮像された対象物の反射分光スペクトルから統
計的手法を用いた分類のための分類スペクトルを算出
し、この分類スペクトルを用いて上記対象物の分類を行
う。
【0022】
【実施例】本発明の実施例を説明する前に、本発明の基
本原理を説明する。
【0023】本発明では、分類のためのフィルタを特定
の波長のみを透過させるバンドパスフィルタを複数用い
て簡易で安価な構成の色分類装置を実現するものであ
る。また、異なる光源のもとでも色分類を行うために、
対象物を撮影するときと同じ条件で適当な参照板の反射
分光スペクトルを計測し、対象物の反射分光スペクトル
を参照板の反射分光スペクトルで補正することによって
光源(照明光)の影響を除去するようにしている。
【0024】すなわち、λを波長として、対象物の反射
分光スペクトルをf(λ)、参照板の反射分光スペクト
ルをs(λ)、照明光の反射分光スペクトルをL
(λ)、撮影系の感度スペクトル(撮影レンズの透過ス
ペクトル、撮像素子の感度スペクトル等)をM(λ)と
すれば、対象物の撮影スペクトルgi(λ)、参照板の
撮影スペクトルgs(λ)はそれぞれ gi(λ)=f(λ)×L(λ)×M(λ) gs(λ)=s(λ)×L(λ)×M(λ) で表せられ、対象物のスペクトルはgi’(λ)は gi’(λ)=gi(λ)/gs(λ)=f(λ)/s(λ) …(4) と表わせられる。
【0025】こうして照明光の反射分光スペクトルをL
(λ)の影響を除去でき、gi’(λ)を用いれば、異
なる光源のもとでも分類できことになる。
【0026】また、さらに照明光の輝度が異る場合に
は、除算後の信号gi’(λ)のパワーを正規化すれば
よい。
【0027】以下図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0028】(第1実施例)測定される対象物の反射分
光特性によっては、あるバンドのフィルタにおいては反
射光強度が低く、観測されるデータのSNRが悪くな
り、これにより分類精度が下がってしまうことがある。
【0029】この問題点を解決する第1実施例を図1を
参照して説明する。
【0030】本実施例の色分類装置は、図1に示すよう
に筐体1の前方に設けられたレンズ等を含む光学系1
0、絞り101、絞り制御回路126、図2に示すよう
な複数枚の通過帯域特性の異なるバンドパスフィルタ1
2A、12B、……、12Eで構成される回転色フィル
タ12、フィルタ位置センサ123、モーター24、モ
ーター駆動回路124、対象物および参照板の画像を撮
像するための撮像素子14、増幅器15、撮像素子駆動
回路22、A/D変換器16、フレームメモリ18、分
類演算回路28、各バンドパスフィルタの適性露光を得
る絞り値を記憶する露光値メモリ29、コントロール回
路26とからなる。
【0031】回転色フィルタ12には、図2に示すよう
に、各フィルタ位置検出孔125A、125B、……、
125E、フィルタ初期位置検出孔126があけられて
いる。
【0032】各バンドパスフィルタ12A、12B、…
…、12Eの位置を初期位置検出孔126およびフィル
タ位置検出孔125A、125B、……、125Eをフ
ォトインタラプタなどで構成されるフィルタ位置センサ
123で検出し、コントロール回路26ではフィルタ位
置センサ123からの信号によりフィルタの回転を撮像
素子14の撮像に同期させるようモーター駆動回路12
4を制御する。
【0033】回転色フィルタ12を通過した像は撮像素
子14に結像し増幅器15を介してA/D変換器16で
ディジタル信号に変換された後にフレームメモリ18に
蓄えられ、フレームメモリ18からモニタへは画像信
号、画像中の所定の領域のデータが分類演算回路28に
送られる。
【0034】いま、画像中の所定の領域のデータとし
て、バンドパスフィルタ12Aのデータの値がバンドパ
スフィルタ12Bのデータの値の約1/10であったと
する。このときの測定データの暗電流ノイズによる信号
対雑音比(SNR)を考えると、バンドパスフィルタ1
2Aのデータはバンドパスフィルタ12Bのデータより
もSNRが約10倍悪くなってしまう。
【0035】そこで、各フィルタ12A〜12Eに同期
させて絞りを制御し、どのフィルタにおいてもSNRが
所定のレベルを超えるようにする。
【0036】そのときの各フィルタ12A〜12Eの絞
り値を露光値メモリ29に記憶しておき、分類演算回路
28の前処理にて絞りの補正を行う。
【0037】つまり、バンドパスフィルタ12Aのデー
タを取り込む際には絞りの開口面積をバンドパスフィル
タ12Bのときの10倍にする。
【0038】そして、分類演算の際にはバンドパスフィ
ルタ12Aのデータを1/10にしてから演算する。
【0039】つぎに、以上のように構成される第1実施
例による色分類装置における一連の動作の一例を図3に
示すフローチャートを参照して説明する。
【0040】まず、対象物の測定領域を設定する(ステ
ップS1)。
【0041】つぎに、1番目のバンドパスフィルタをセ
ットし(バンドパスフィルタ12A)予備露光を行い、
得られる測定データが所定の値の範囲に入るように絞り
を設定し、このときの絞り値を対応するバンドパスフィ
ルタの番号とともに記憶する(ステップS2〜S7)。
【0042】これを全てのバンドパスフィルタ(バンド
パスフィルタ12B、……、12E)について順次行う
(ステップS8〜10)。
【0043】このような予備露光が終了した後、測定時
は分類演算回路28では各バンドパスフィルタ毎に記憶
された絞り値のデータをもとに、対応するバンドパスフ
ィルタの測定データを補正後、分類演を行う。
【0044】以上のように、第1実施例では露光値メモ
リ29を設け、各バンドパスフィルタ毎に最適露出によ
る撮像を行う構成としたため、測定データSNRが向上
し、分類精度が高くなる。
【0045】また、本実施例では予備露光を行い各バン
ドパスフィルタに最適な露出で測定できるため、測定対
象物が変化した場合でも精度良く分類できる。
【0046】(第2実施例)つぎに、対象物がある程度
限られた場合について、撮像素子の暗電流ノイズによる
SNR低下を防ぐ第2実施例を図4を参照して説明す
る。
【0047】本実施例の色分類装置は、図4に示すよう
にレンズ等を含む光学系10、前述した図2に示すよう
な複数枚のバンドパスフィルタ12A、12B、……、
12Eで構成され、モーター軸に固定されている回転色
フィルタ12、図5に示すように回転色フィルタの各バ
ンドパスフィルタに対応するように幅の異なる扇型の開
口部103A、103B、……、103Eを持ち、その
開口部が対応するバンドパスフィルタに重なるようにモ
ーター軸に固定された回転絞り板102、フィルタ位置
センサ123、モーター24、モーター駆動回路12
4、対象物および参照板の画像を取り込むための固体撮
像素子14、増幅器15、撮像素子駆動回路22、A/
D変換器16、フレームメモリ18、分類演算回路2
8、回転色フィルタ12の各バンドパスフィルタ12
A、12B、……、12Eに対応する回転絞り板の開口
値を記憶する露出値メモリ29、各部のタイミングをと
り制御するコントロール回路26とからなる。
【0048】回転色フィルタ12には、第1実施例と同
様に図2に示したように、各フィルタ位置検出孔125
A、125B、……、125E、フィルタ初期位置検出
孔126があけられている。
【0049】各バンドパスフィルタ12A、12B、…
…、12Eの位置を初期位置検出孔126およびフィル
タ位置検出孔125A、125B、……、125Eをフ
ォトインタラプタなどで構成されるフィルタ位置センサ
123で検出し、コントロール回路26ではフィルタ位
置センサ123からの信号によりフィルタの回転を撮像
素子の撮像に同期させるようモーター駆動回路を制御す
る。
【0050】回転絞り板102は回転色フィルタ12と
一緒に回転する。
【0051】回転色フィルタ12の各バンドパスフィル
タ12A、12B、……、12Eに対して回転絞り板1
02の開口部103A、103B、……、103Eが対
応し、露光量を制限する。
【0052】各フィルタを通過した像は撮像素子14に
結像し増幅器を介してA/D変換器16でディジタル信
号に変換された後にフレームメモリ18に蓄えられ、フ
レームメモリ18からモニタへは画像信号、画像中の所
定の領域のデータが分類演算回路28に送られる。
【0053】ここで、回転絞り板102について説明す
る。
【0054】予め、対象物の大体の反射分光分布を調べ
ておき、各バンドパスフィルタ(バンドパスフィルタ1
2B、……、12E)について最適な絞り開口径をもと
めておき、この開口径をもとに回転絞り板を作成すると
共に、このときの開口径をバンドパスフィルタに対応さ
せて露出値メモリ29に記憶させる。
【0055】分類演算回路28では露出値メモリ29に
記憶された絞り値のデータをもとに、対応するバンドパ
スフィルタの測定データを補正後、分類演算を行う。
【0056】以上のように第2実施例では回転絞り板1
02と露出値メモリ29を設け、各バンドパスフィルタ
毎に最適露出による撮像を行う構成としたため、測定デ
ータのSNRが向上し、分類精度が高くなる。
【0057】また、第2実施例では、絞り径を変化させ
るといった機械的な動作が無いため、高速にかつ安定し
た測定が行える。
【0058】また、第2実施例では用途に応じて設計し
た異なる複数の回転絞り板を用意し、これを交換するこ
とで多用途に使用することができる。
【0059】(第3実施例)つぎに、対象物がある程度
限られる場合について、撮像素子の暗電流ノイズによる
SNR低下を防ぐ第3実施例を図6,図7,及び図8を
参照して説明する。本実施例の色分類装置は、図6に示
すように筐体1,レンズ等を含む光学系10、前述した
図2に示すような複数枚のバンドパスフィルタ12A、
12B、……、12Eで構成され、モーター軸に固定さ
れている回転色フィルタ12、図7に示すように回転色
フィルタの各バンドパスフィルタに対応するように透過
率の異なるNDフィルタ105A、105B、……、1
05Eを持ち、その開口部が対応するバンドパスフィル
タに重なるように回転色フィルタに直に固定された回転
NDフィルタ104、フィルタ位置センサ123、モー
ター24、モーター駆動回路124、対象物および参照
板の画像を取り込むための固体撮像素子14、増幅器1
5、撮像素子駆動回路22、A/D変換器16、フレー
ムメモリ18、分類演算回路28、回転色フィルタ12
の各バンドパスフィルタ12A、12B、……、12E
に対応する回転NDフィルタ104の透過率を記憶する
露出値メモリ29、各部のタイミングをとり制御するコ
ントロール回路26とからなる。
【0060】回転色フィルタ12には、第1、第2実施
例と同様に、図2に示したように、各フィルタ位置検出
孔125A、125B、……、125E、フィルタ初期
位置検出孔126があけられている。
【0061】各バンドパスフィルタ12A、12B、…
…、12Eの位置を初期位置検出孔126およびフィル
タ位置検出孔125A、125B、……、125Eをフ
ォトインタラプタなどで構成されるフィルタ位置センサ
123で検出し、コントロール回路26ではフィルタ位
置センサ123からの信号によりフィルタの回転を撮像
素子の撮像に同期させるようモーター駆動回路を制御す
る。
【0062】回転NDフィルタ104は回転色フィルタ
12と一緒に回転する。
【0063】回転色フィルタ12の各バンドパスフィル
タ12A、12B、……、12Eに対して回転NDフィ
ルタ104の各NDフィルタ105A、105B、…
…、105Eが対応し、露光量を制限する。
【0064】各バンドパスフィルタを通過した像は撮像
素子14に結像し増幅器を介してA/D変換器16でデ
ィジタル信号に変換された後にフレームメモリ18に蓄
えられ、フレームメモリ18からモニタへは画像信号、
画像中の所定の領域のデータが分類演算回路28に送ら
れる。
【0065】ここで、回転NDフィルタ104について
説明する。
【0066】予め、対象物の本体の反射分光分布を調べ
ておき、各バンドパスフィルタ(バンドパスフィルタ1
2B、……、12E)について最適な透過率をもとめて
おき、この透過率のもつNDフィルタを用いて回転ND
フィルタ104を作成すると共に、このときの透過率を
バンドパスフィルタに対応させて露出値メモリ29に記
憶させる。
【0067】分類演算回路28では露出値メモリ29に
記憶された透過率のデータをもとに、対応するバンドパ
スフィルタの測定データを補正後、分類演算を行う。
【0068】以上のように第3実施例では回転NDフィ
ルタ104と露出値メモリ29を設け、各バンドパスフ
ィルタ毎に最適露出による撮像を行う構成としたため、
測定データのSNRが向上し、分類精度が高くなる。
【0069】また、第3実施例では絞り径を変化させる
といった機械的な動作が無いため、高速にかつ安定した
測定が行える。
【0070】また、第3実施例では用途に応じて設計し
た異なる複数の回転NDフィルタを用意し、これを交換
することで多用途に使用することができる。
【0071】なお、第3実施例では回転NDフィルタ1
04のかわりに図8に示すような回転スリット板104
Aを用意してもよい。
【0072】この、回転スリット板は、各バンドパスフ
ィルタに対応する開口部106A、106B、……、1
06Eの円周方向の長さが、図7の各NDフィルタの透
過率に対応した長さとなっている。
【0073】これにより、各バンドパスフィルタの露光
時間が制限され、結果として露光量を制御することがで
き同様の効果が得られる。
【0074】(第4実施例)さらに汎用性のある第4実
施例を図9、図10を参照して説明する。
【0075】本実施例の色分類装置は、図9に示すよう
に筐体1、レンズ等を含む光学系10、前述した図2に
示すような複数枚のバンドパスフィルタ12A、12
B、……、12Eで構成される回転色フィルタ12、フ
ィルタ位置センサ123、モーター24、モーター駆動
回路124、透過率を変化させられる透過率可変フィル
タ122、透過率可変フィルタ122の透過率を制御す
る透過率制御回路121、対象物および参照板の画像を
取り込むための撮像素子14、増幅器15、撮像素子駆
動回路22、A/D変換器16、フレームメモリ18、
分類演算回路28、各バンドパスフィルタの適正露光を
得る透過率を記憶する露出値メモリ29、コントロール
回路26とからなる。
【0076】回転色フィルタ12には、第1乃至第3の
実施例と同様に図2に示したように、各フィルタ位置検
出孔125A、125B、……、125E、フィルタ初
期位置検出孔126があけられている。
【0077】各バンドパスフィルタ12A、12B、…
…、12Eの位置を初期位置検出孔126およびフィル
タ位置検出孔125A、125B、……、125Eをフ
ォトインタラプタなどで構成されるフィルタ位置センサ
123で検出し、コントロール回路26ではフィルタ位
置センサ123からの信号によりフィルタの回転を撮像
素子の撮像に同期させるようモーター駆動回路を制御す
る。
【0078】各フィルタを通過した像は撮像素子14に
結像し増幅器15を介してA/D変換器16でディジタ
ル信号に変換された後にフレームメモリ18に蓄えら
れ、フレームメモリ18からモニタへは画像信号が、分
類演算回路28には画像中の所定の領域のデータが送ら
れる。
【0079】つぎに、第4実施例の動作を図10に示す
フローチャートを参照して説明する。 まず対象物の測
定領域を設定する(ステップS11)。
【0080】つぎに、1番目のバンドパスフィルタをセ
ットし(バンドパスフィルタ12A)予備露光を行い、
得られる測定データが所定の値の範囲に入るように透過
率可変フィルタ122の透過率を設定し、このときの透
過率を対応するバンドパスフィルタの番号とともに露出
値メモリ29に記憶する(ステップS12〜S17)。
これを全てのバンドパスフィルタ(バンドパスフィル
タ12B、……、12E)についすて順次行う(ステッ
プS18〜S20)。
【0081】このような予備露光が終了した後、測定時
は各バンドパスフィルタに12A、12B、……、12
Eに同期して透過率可変フィルタ122の透過率を変化
させ、分類演算回路28では各バンドパスフィルタ毎に
記憶された透過率のデータをもとに、対応するバンドパ
スフィルタの測定データを補正後、分類演算を行う。
【0082】以上のように第4実施例では透過率可変フ
ィルタ122と、露出値メモリ29を設け、各バンドパ
スフィルタ毎に最適露出による撮像を行う構成としたた
め、測定データのSNRが向上し、分類精度が高くな
る。
【0083】また、本実施例では、予備露光を行い各バ
ンドパスフィルタに最適な露出で測定できるため、測定
対象物が変化した場合でも精度良く分類できるので、汎
用性のある色分類装置を実現することができる。
【0084】なお、第4実施例においては図11に示す
ように図9の透過率可変フィルタ122およびその透過
率制御回路121を取り去った構成として、撮像素子の
露光時間を制御するようにしてもよく、これにより回路
構成がさらに簡略化される。 (第5実施例)次に、主に屋外での使用時に参照板の測
定を簡易にした第5実施例を図12、図13を参照して
説明する。
【0085】本実施例の色分類装置は、図12に示すよ
うに筐体1、レンズ等を含む光学系10、前述した図2
に示すような複数枚のバンドパスフィルタ12A、12
B、……、12Eで構成される回転色フィルタ12、フ
ィルタ位置センサ123、モーター24、モーター駆動
回路124、対象物および参照板の画像を取り込むため
の撮像素子14、増幅器15、撮像素子駆動回路22、
A/D変換器16、フレームメモリ18、フレームメモ
リ18のデータから照明条件を検出する照明条件検出回
路137と、分類演算回路28、コントロール回路2
6、筐体1の前方上部に設けられた透過式の参照板13
1と、参照板を撮像素子に結像させるための光学系13
3、片端を中心に角度が可変な鏡134とからなる。
【0086】参照板131に対する測定時においては、
鏡134は図12の134’で示す破線の位置にセット
される。筐体1の上部に設けられた透過式の参照板13
1は上部からの照明光を拡散させながら筐体1の内部に
透過する。
【0087】光源の分光分布を反映する参照板131は
光学系133を経て、鏡134で反射されて撮像素子に
結像する。
【0088】回転色フィルタ12を回転させ、各バンド
パスフィルタを通過した像は後述するようにディジタル
データに変換された後、照明条件検出回路137で画像
処理され、明るさ、照明の方向などの照明条件データ
と、光源データが得られる。なお、照明の方向のデータ
については後に詳述する。
【0089】照明条件検出回路137にて得られた明る
さのデータはコントロール回路26に送られ、露出調整
に用いられる。
【0090】光源データは分類演算回路28に送られ、
分類演算回路28の中のメモリに記憶されると共に、照
明の方向のデータも分類演算回路28に送られる。
【0091】対象物の測定を行う場合、鏡134は図1
2中の破線で示す位置134’にあり、対象物からの反
射光は、光学系10、回転色フィルタ12を通り、撮像
素子14に結像する。
【0092】コントロール回路26によりモーター駆動
回路124に信号が送られ、回転色フィルタ12がモー
ター24により各バンドパスフィルタの位置が撮像素子
14の撮像と同期するように回転する。
【0093】撮像された対象物の各バンドパスフィルタ
を通過した像は、撮像素子14に結像し、増幅器15を
介してA/D変換器16によりディジタルデータに変換
された後にフレームメモリ18に蓄えられ、分類演算回
路28に送られ、予め測定し、分類演算回路28の中の
メモリに記憶しておいて参照板131のデータで光源の
補正を行い分類演算される。
【0094】ここで、照明の方向のデータの取得方法に
ついて説明する。
【0095】参照板131の中央部に図12に示すよう
に棒132をとりつける。
【0096】この参照板131は撮像素子14により、
図13で示すような画像として観測される。
【0097】すなわち、参照板131の画像135の中
に棒132の影136が映っているので、照明条件検出
回路137ではこの画像から照明条件を検出する。
【0098】まず棒の影136の角度と長さから測定時
の照明の方向が検出できると共に、薄曇りの場合は棒の
影136と周囲の参照板の画像135との輝度差が小さ
くなり、完全な曇天の場合は影が無くなるので、照明条
件を詳細に把握することができる。
【0099】照明条件検出回路137で検出された照明
の情報が送られる分類演算回路28では、予め順光、逆
行、曇天などの照明条件の異なる学習データを用意して
おくことにより、照明条件の違いによる測定誤差を極力
排除して分類演算を行うことができる。
【0100】このように第5実施例では、参照板131
を筐体1の前方上部に設け、鏡134の角度を切替える
だけで参照板131のデータを得ることができる構成と
したため、屋外での測定中に晴れから曇りというように
照明光が変化した場合でも、参照板131のデータを簡
単に取り直すことができるなど、参照板のデータ取得が
容易になる。
【0101】なお、鏡134の角度は手動で変更するよ
うにしてもよいし、駆動装置を用いて、コントロール回
路26から信号を送り、自動的に変更するようにしても
よい。 (第6実施例)つぎに、主に屋外での使用時に
参照板の測定を簡易にした第6実施例を図14、図15
および図16を参照して説明する。
【0102】本実施例の色分類装置は、図14に示すよ
うに筐体1、レンズ等を含む光学系10、前述した図2
に示すような複数枚のバンドパスフィルタ12A、12
B、……、12Eで構成される回転色フィルタ12、フ
ィルタ位置センサ123、モーター24、モーター駆動
回路124、対象物および参照板の画像を取り込むため
の撮像素子14、増幅器15、撮像素子駆動回路22、
A/D変換器16、フレームメモリ18、フレームメモ
リ18のデータから照明条件を検出する照明条件検出回
路145と、分類演算回路28、コントロール回路2
6、筐体1の上部に設けられた参照板138と、参照板
138を光学系10を通して撮像素子14に結像させる
ように配置された鏡141および鏡142と、これらの
鏡141、142を筐体1に固定するためのアーム14
3、144とからなる。
【0103】本実施例は屋外での測定、すなわち照明光
としての日光を用いる測定装置に関するものである。
【0104】対象物の測定を行う場合、対象物からの反
射光は、光学系10、回転色フィルタ12を通り、撮像
素子14に結像する。
【0105】これと、同時に参照板138の画像が鏡1
41、142にて反射され、光学系10を通して撮像素
子14の一部に結像する。
【0106】図15は、この様子を示すもので、画面全
体には、対象物146が写っていると共に、画面中央の
下の部分に、鏡141、142により反射された参照板
138が写っている。
【0107】また、画面中央の四角形で囲まれた領域1
47は測定領域を示しており、これは対象物を分類する
ための色を測定する範囲であり、任意に変更(位置、大
きさ)できるものである。
【0108】コントロール回路26からモーター駆動回
路124に信号が送られ、回転色フィルタ12がモータ
ー24により各バンドパスフィルタの位置が撮像素子1
4の撮像と同期するように回転されると、撮像素子14
には図15に示すように、対象物146の画像と参照板
138の画像が同時に結像する。
【0109】撮像された対象物146および参照板13
8の各バンドパスフィルタを通過した画像は撮像素子1
4に結像し、増幅器15を介して、A/D変換された後
にフレームメモリ18に蓄えられる。
【0110】フレームメモリ18に記憶された画像デー
タ中の参照板138のデータから照明条件検出回路14
5で照明条件データが検出されてコントロール回路26
に送られると共に、参照板138のデータが分類演算回
路28に送られ内部のメモリに記憶される。
【0111】コントロール回路26では照明条件検出回
路145からの明るさのテータから、適正な露光となる
ように撮像素子14のシャッタースピードを制御し、照
明の方向のデータを分類演算回路28に送る。
【0112】フレームメモリ18に記憶された画像デー
タ中の対象物146のデータは分類演算回路28に送ら
れ、分類演算回路28の中のメモリに記憶されている参
照板138のデータで光源の補正を行い分類演算され
る。
【0113】また、参照板138には中央部に図16に
示すように棒139を取り付け、そこから放射状に目盛
り148をつけることにより、参照板138上で日光に
よりできた棒139の影149と、目盛り148との相
対角度と長さから測定時の照明光の方向を検出すること
ができる。
【0114】また、薄曇りの場合は棒の影149と周囲
の参照板138の画像との輝度差が小さくなり、完全な
曇天の場合は影が無くなるので、照明条件が詳細に把握
できる。
【0115】このように第6実施例では、筐体1の上部
に参照板138を設け、参照板138を光学系10を通
して撮像素子14の一部に結像させるように鏡141、
142を設けたことにより、対象物146の測定時に参
照板138の画像が同一画像内に納まるので、参照板1
38の測定と対象物146の測定を同時に行うことが可
能となり、測定の手間が大幅に簡略化されると共に、さ
らに、参照板測定時と対象物測定時とで照明条件が変化
するということが無く、補正の信頼性が向上する。
【0116】また本実施例によれば参照板138に棒1
39を設けたことにより、その影の情報から順光、逆
行、曇天などの照明条件を検出することが可能となり、
これらの照明条件の異なる学習データを用意しておくこ
とにより、照明条件の違いによる測定誤差を極力排除し
た上で分類演算を行うことが可能となり、分類精度が向
上する。
【0117】(第7実施例)つぎに、主に屋外での使用
時に参照板の測定を簡易にした第7実施例を図17を参
照して説明する。
【0118】本実施例の色分類装置は、図17に示すよ
うに筐体1、対象物を結像させるための光学系10、前
述した図2に示すような複数枚のバンドパスフィルタ1
2A、12B、……、12Eで構成される回転色フィル
タ12、フィルタ位置センサ123、モーター24、モ
ーター駆動回路124、対象物の画像を取り込むための
撮像素子14、増幅器15、撮像素子駆動回路22、A
/D変換器16、フレームメモリ18、分類演算回路2
8、コントロール回路26、筐体1の前部に設けられた
参照板151と、撮像素子154、参照板151を撮像
素子154に結像させるための光学系152、撮像素子
154からの画像信号を増幅器15aを介してディジタ
ルデータに変換するA/D変換器156と、参照板15
1の画像データから照明光の条件を検出する照明光検出
回路137とからなる。
【0119】本実施例は屋外での測定、すなわち照明光
として日光を用いる測定装置に関するものである。
【0120】対象物の測定を行う場合、対象物からの反
射光は、光学系10、回転色フィルタ12を通り、撮像
素子14に結像する。
【0121】コントロール回路26によりモーター駆動
回路124に信号が送られ、回転色フィルタ12がモー
ター24により各バンドパスフィルタの位置が撮像素子
の撮像と同期するように回転する。
【0122】そして、撮像素子14からは対象物からの
反射光の各バンドパスフィルタを通過した画像信号が得
られ、以下前述した各実施例と同様に処理される。
【0123】一方、撮像素子154は撮像素子14に対
し、回転色フィルタ12に関して対角の位置に設置され
ていることにより回転色フィルタ12が1回転すると、
撮像素子154からは参照板151からの反射光が各バ
ンドパスフィルタを通過した画像信号が得られる。
【0124】このようにして得られる参照板151の画
像信号は増幅器15aを介してA/D変換器158によ
りディジタルデータに変換された後に照明条件検出回路
137で照明条件データが検出されてコントロール回路
26に送られると共に、この参照板151のデータは分
類演算回路28に送られる。
【0125】なお、参照板151は第6実施例と同様に
図16に示すような構成とすることで、照明条件が詳細
に把握できる。
【0126】コントロール回路26では照明条件検出回
路137からの明るさのデータから、適正な露光となる
ように撮像素子14および撮像素子154のシャッター
スピードを制御し、照明の方向のデータを分類演算回路
28に送る。
【0127】フレームメモリ18に記憶された対象物の
データは分類演算回路28に送られ、分類演算回路28
の中のメモリに記憶しておいた参照板のデータで光源の
補正を行い分類演算される。
【0128】このように第7実施例では、筐体1の前部
に参照板151を設け、参照板151を専用の光学系1
52と撮像素子154を用いて各バンドパスフィルタを
通過したデータを取り込む構成としたために、参照板の
測定と対象物の測定を同時に行うことが可能となり、測
定の手間が大幅に簡略化、高速化されると共に、さら
に、参照板測定時と対象物測定時とで照明条件が変化す
るということが無く、補正の信頼性が向上する。
【0129】また本実施例によれば参照板151に第6
実施例の棒139と同様の棒を設けることにより、その
影の情報から順光、逆行、曇天などの照明条件を検出す
ることが可能となり、これらの照明条件の異なる学習デ
ータを用意しておくことにより、照明条件の違いによる
測定誤差を極力排除することができる。
【0130】なお、照明の方向などのデータが不要な用
途に用いる場合には、参照板151に棒や目盛りを設け
る必要が無く、また、撮像素子154の代わりに単純な
フォトダイオードやCdSなどを用いれば十分であり、
より構成を簡略化できる。
【0131】(第8実施例)つぎに、回転色フィルタを
用いない第8実施例を図18乃至図24を参照して説明
する。
【0132】本実施例の色分類装置は、図18に示すよ
うに筐体1、対象物を結像させるための光学系10、対
象物が結像する結像面に片方の端面をそろえられたファ
イバ束161、複数に分割された反対側の端面に結合さ
れたバンドパスフィルタ162a、162b、162
c、162d、バンドパスフィルタを通った対象物の画
像を取り込むための撮像素子14、増幅器15、撮像素
子駆動回路22、A/D変換器16、フレームメモリ1
8、分類演算回路28、コントロール回路26、筐体上
部に設けられた透過式の参照板164と、参照板164
に端面をそろえられたファイバ束165、ファイバ束1
65の反対側の端と撮像素子14の間に設けられたバン
ドパスフィルタ166a、166b、166c、166
dとからなる。
【0133】本実施例は撮像素子14の撮像面上を分割
し、対象物、光源の両方について、複数のバンドパスフ
ィルタを通過したデータを同時に入力できるようにした
ものであり、ここでは、文るてに必要なバンドパスフィ
ルタは4種類とする。
【0134】ここで、本実施例に用いるファイバ束16
1およびファイバ束165と参照板164、バンドパス
フィルタ162a〜162d、166a〜166dの構
成について図19乃至図22を用いて説明する。
【0135】まず、ファイバ束165は、図19に示す
ように片方の端面をそろえて参照板164に接続されて
いる。
【0136】つぎに、図20に示すように撮像素子14
の撮像面167には、バンドパスフィルタ162a〜1
62d、166a〜166dが図に示すような配置で取
り付けられている。
【0137】このうち、バンドパスフィルタ162aと
166a、162bと166b、162cと166c、
162dと166dはそれぞれバンドパス特性が同じも
のである。
【0138】また、ファイバ束165の反対側の端はバ
ンドパスフィルタ166a〜166dに取り付けられ
る。
【0139】この場合、ファイバ束165の反対側の端
はそろえられて平面として光学系10の結像面に置かれ
るが、この反対側の端は4つに分けられる。
【0140】図21は結像面のファイバ束165の断面
の一部であり、図21において、丸で囲んだ数字1で示
すファイバは、バンドパスフィルタ162aに、丸で囲
んだ数字2で示すファイバは、バンドパスフィルタ16
2bに、丸で囲んだ数字3で示すファイバは、バンドパ
スフィルタ162cに、丸で囲んだ数字4で示すファイ
バは、バンドパスフィルタ162dに、それぞれ行くよ
うにファイバ束161を4つに分割して束ね直す。
【0141】したがっつて、ファイバ束165の反対側
の端は、分割した1つずつの結像面の縮小画面となり、
各バンドパスフィルタを通って撮像素子14に入力され
る。これにより、図19に示したように結像した対象物
160は図22に示すような画像信号として観測され
る。
【0142】この画像信号は増幅器15を介してA/D
変換器16でディジタル化した後にフレームメモリ18
に書き込まれ、参照板164からバンドパスフィルタ1
66a〜166dを通った部分からの補正のための照明
のデータと、各バンドパスフィルタ166a〜166d
毎に対象物の所定の領域のデータが分類演算回路28へ
送られる。
【0143】分類演算回路28では、対象物のデータを
前記照明のデータで補正後、分類演算を行い結果を出力
する。
【0144】このように第8実施例によれば撮像素子1
4の撮像面を分割し、複数のバンドパスフィルタに対応
する対象物のデータを同時に結像させ、さらに照明のデ
ータも同時に同一フレームにて撮像する構成としたこと
により、測定時間が大幅に短縮される。
【0145】なお、図18は屋外での測定用の例である
ため、透過式の参照板164が太陽光を捉えるように筐
体1の上部に固定されているが、図23に示すようにフ
ァイバ束165を長くして参照板164を筐体1の外部
に引きだし、対象物の隣に配置することができるような
構成とすることにより、室内での測定にも用いることが
できる。
【0146】さらに、照明データ取得用の先端に参照板
164の取り付けられたファイバ束165は、図24に
示すように光学コネクタ169を用いて筐体1から取り
外せるような構成とすることで持ち運びが容易になる。
【0147】本実施例では、バンドパスフィルタの枚数
を4枚としたが、これに限らず最適な枚数のバンドパス
フィルタを持つ構成としてもよいことはいうまでもな
い。
【0148】(第9実施例)つぎに、回転色フィルタを
用いない第9実施例を図25乃至図29を参照して説明
する。
【0149】本実施例の色分類装置は、図25に示すよ
うに筐体1、対象物を結像させるための光学系10、光
路分割プリズム170a、光路分割プリズム170aか
ら出る2分割された光がそれぞれに入射する光路分割プ
リズム170b、170cと、光路分割プリズム170
b、170cにより分割され出力される光が結像する撮
像素子14、増幅器15、光路分割プリズム170b、
170cと撮像素子14の間にあり、分割された光のそ
れぞれが異なるバンドパスフィルタを透過した後に撮像
素子14に達するように配置されたバンドパスフィルタ
162a〜162d、撮像素子駆動回路22、A/D変
換器16、フレームメモリ18、分類演算回路28、コ
ントロール回路26、筐体上部に設けられた光源分光セ
ンサ180とからなる。
【0150】本実施例は撮像素子14の撮像面上を分割
し、対象物について、複数のバンドパスフィルタを通過
した像を同時に入力できるようにしたものであり、ここ
では、分類に必要なバンドパスフィルタは4種類とす
る。
【0151】まず、本実施例に用いる光路分割プリズム
170a〜170cおよびこれら光路分割プリズム17
0a〜170cとバンドパスフィルタ162a〜162
d、撮像素子14の構成について説明する。
【0152】図26に光路分割プリズム170a〜17
0cのうちの一つのプリズムの構成を示すが、図26で
は光路を一点鎖線、ハーフミラーを破線、鏡を太線で示
してある。
【0153】図26に左側から入射した光はハーフミラ
ー171を50%ずつ2方向に分割され、ハーフミラー
171を透過した光は鏡162、163、164、16
5でそれぞれ反射され、図26の右側に出力される。
【0154】一方、ハーフミラー171で反射された光
は、鏡176、177、178で反射され、図26の右
側に出てくる。
【0155】つまり、この光路分割プリズムに入射した
光は2分割され、2分割された光は光軸がシフトしてプ
リズムの出口から並んで出力される。
【0156】この光路分割プリズムを170a〜170
cとして3個用意し、これらと撮像素子14を図27に
示すように組み付ける。
【0157】この場合、光路分割プリズム170aの2
つの出力がそれぞれ光路分割プリズム170b、170
cに入射するように構成することにより、光路分割プリ
ズム170aに入射した光は光路分割プリズム170
b、170cを経て最終的には4分割され、2行2列に
並んで出力される。
【0158】また、撮像素子14には測定に必要な、特
性の異なる4枚のバンドパスフィルタ162a〜162
dが図28に示すように取り付けられており、それぞれ
が光路分割プリズム170a〜170cで4つに分割さ
れた画像に対応する。
【0159】以上のような構成とすることで、対象物か
らの反射光は4分割され、それぞれ異なるバンドパスフ
ィルタを通して撮像素子14に同時に結像する。撮像素
子14から出力されるこの画像信号を増幅器15を介し
てA/D変換器16でディジタル化してフレームメモリ
18に蓄積した後に各バンドパスフィルタ毎に対象物の
所定の領域のデータをフレームメモリ18から読みだ
し、分類演算回路28へ送る。
【0160】一方、光源分光センサ180からのデータ
も同時に分類演算回路28へ送られる。
【0161】ここで、光源分光センサ180の構成は図
29に示すように、一番外側に配置された透過率可変フ
ィルタ181と、その内側に配置された複数のバンドパ
スフィルタ182a〜182d、この複数のバンドパス
フィルタ182a〜182dに対応させた複数の光セン
サ183a〜183dと、この複数の光センサ183a
〜183dからの信号を入力とする透過率制御回路18
4と、透過率制御回路184からの信号および複数の光
センサ183a〜183dからの信号とを入力とする照
明条件検出回路185とからなる。
【0162】複数のバンドパスフィルタ182a〜18
2dは対象物を分類するためのバンドパスフィルタ16
2a〜162dと同じものを用いる。
【0163】光センサ183a〜183dは、フォトダ
イオードやフォトトランジスタ、CdSなどを、透過率
可変フィルタ181には液晶フィルタなどを用いること
ができる。
【0164】透過率制御回路184は各光センサが飽和
しないように、透過率可変フィルタ181の透過率を制
御する。
【0165】照明条件検出回路185は各光センサから
の光源の分光データを、透過率制御回路の出力から光源
の明るさを検出し出力する。
【0166】先にも述べたように、光源分光センサ18
0で得られたデータが入力される分類演算回路28で
は、フレームメモリ18から読み出された対象物のデー
タを、光源分光センサ180で得られた照明のデータで
補正し、分類演算を行う。
【0167】このような第9実施例によれば撮像素子1
4の撮像面を分割し、複数のバンドパスフィルタに対応
する対象物のデータを同時に結像させる構成としたこと
により、測定時間が大幅に短縮されると共に、さらに、
機械的な可動部が無いために動作が安定で耐久性が向上
する。
【0168】なお、図25は屋外での測定用の例である
ため、光源分光センサが太陽光を捉えるように筐体上部
に固定されているが、センサ自体を筐体に固定せず、ケ
ーブルで接続し、対象物の隣に配置することができるよ
うな構成とすることにより、室内での測定にも用いるこ
とができる。
【0169】もちろん光源分光センサのケーブルがコネ
クタを用いて筐体から取り外せるような構成とすること
で持ち運びも容易になる。
【0170】また、本実施例ではバンドパスフィルタの
枚数を4枚としたが、さらに多数のフィルタを用いる構
成としてもよいし、さらに枚数を減らした構成としても
よいことはいうまでもない。
【0171】(第10実施例)つぎに、回転色フィルタ
を用いない第10実施例を図30を参照して説明する。
本実施例の色分類装置は、図30に示すように筐体
1、対象物を結像させるための光学系10、帯域可変バ
ンドパスフィルタ190と、撮像素子(CCD)14、
増幅器15、CCD駆動回路22、A/D変換器16、
フレームメモリ18、分類演算回路28、コントロール
回路26とから構成される。
【0172】本実施例に用いる帯域可変バンドパスフィ
ルタ190は、通過帯域の周波数を外部からの信号で制
御できるものである。
【0173】光学系10を通った対象物の画像は、帯域
可変バンドパスフィルタ190を透過してCCD14に
結像する。
【0174】このCCD14から出力される画像信号を
増幅器15を介してA/D変換器16でディジタル化し
てフレームメモリ18に蓄積した後に、各バンドパスフ
ィルタ毎に対象物の所定の領域のデータをフィルムメモ
リ18から読みだし、分類演算回路28へ送る。
【0175】コントロール回路26は、帯域可変バンド
パスフィルタ190の通過帯域を所定の値に設定し、C
CD14で撮像されたデータをフレームメモリ18に書
き込むようにCCD駆動回路22、フレームメモリ18
に制御信号を送る。
【0176】この動作を所定のバント数にわたって行
い、分類演算回路28では対象物のデータを、予めもし
くは同時に測定した参照板のデータで補正し、分類演算
を行う。 このような第10実施例によれば、複数のバ
ンドパスフィルタの代りに帯域可変バンドパスフィルタ
190を用い、通過帯域を制御して対象物のデータを取
り込む構成としたことにより、複雑な形の分類スペクト
ルに対しても高精度な近似が可能となると共に、機械的
な可働部が無いために動作が安定で耐久性が向上する。
【0177】さらに、本実施例ではバンドパスフィルタ
の数や帯域の設定に自由度が大きくて汎用性が高いの
で、特定の用途に限定する場合でもコントロール回路2
6の制御ソフトウェアを変更するだけで最適化すること
が可能となる。
【0178】なお、本実施例では所定のバンドごとに画
像データを読み出していたが、学習モードで分類スペク
トルを求めた後の分類モードでは、CCD14の露光時
間中に帯域可変バンドパスフィルタ190の帯域特性を
制御し、分類スペクトルの特性を近似するようにしても
よい。
【0179】つまり、露光時間中に帯域可変バンドパス
フィルタ190の帯域を設定し、ある時間保持し、次の
帯域に設定し、また時間保持するということをくりかえ
し行う。
【0180】このとき、帯域可変バンドパスフィルタ1
90の帯域設定後の保持時間は、近似すべき分類スペク
トルの各バンドの値に比例するように制御する(分類ス
ペクトルの値が負になる帯域は、負になる帯域だけまと
めて露光を行い、フレームメモリ上で減算すればよ
い)。
【0181】このように動作させれば、分類スペクトル
と内積演算を行ったのと同じことになり、露光時間中に
蓄積される電荷の量で分類判定が行える。
【0182】(第11実施例)つぎに、以上のような各
実施例において多クラスの分類演算を行うための分類演
算回路を用いる第11実施例について図31を参照して
説明する。
【0183】多クラスの分類演を行う際に、たとえばク
ラス1〜4の4クラスの分類の場合、クラス1とクラス
4のデータで算出された分類スペクトルのなす空間にク
ラス2、3を投影すると、クラス1とクラス2とか、ク
ラス3とクラス4といったクラス間の境界がはっきりし
ないことがあり、分類精度が落ちることがある。
【0184】本実施例はこのような場合にも分類精度を
落さず、有効に分類を行うことができるものである。
【0185】本実施例の分類演算回路28は図31
(A)に示すように、輝度成分抽出部30、分類演算部
32、分類判定部34とから構成される。
【0186】本実施例に用いる分類演算部32の構成を
図31(B)を参照して説明する。本実施例の分類演算
部32は、図31(B)に示すように分類スペクトルを
記憶するd1メモリ200とd2メモリ201、d1メ
モリ200とd2メモリ201の出力を切り替える切替
器202と、分類スペクトルと未知の対象物からのスペ
クトルデータの積を取る乗算器203と、加算器204
とメモリ205とからなる累積加算器206と、分類ス
ペクトルを記憶するd1メモリ210とd2メモリ21
1、d1メモリ213とd2メモリ214、d1メモリ
216とd2メモリ217、d1メモリ210とd2メ
モリ211の出力を切り替える切替器212と、d1メ
モリ213とd2メモリ214の出力を切り替える切替
器215と、d1メモリ216とd2メモリ217の出
力を切り替える切替器218と、累積加算器206から
の信号により3種類の分類スペクトルのひとつを選択す
る分類スペクトル選択回路207と、選択された分類ス
ペクトルと未知の対象物からのスペクトルデータの積を
取る乗算器223と、加算器224とメモリ225とか
らなる累積加算器226とから構成される。
【0187】つぎに、本実施例の分類演算部32の動作
について説明するが、ここでは分類するクラス数はクラ
ス1〜4の4クラスとする。
【0188】この4クラスは多次元空間で、概ね番号順
に分布しているものとし、d1メモリ200とd2メモ
リ201にはクラス1とクラス4の学習データから算出
された分類スペクトルd11-4 とd21-4 をそれぞれ記
憶させておく。
【0189】また、d1メモリ210とd2メモリ21
1にはクラス1とクラス2の学習データから算出された
分類スペクトルd11-2 とd21-2 を、d1メモリ21
3とd2メモリ214にはクラス2とクラス3の学習デ
ータから算出された分類スペクトルd12-3 とd22-3
を、d1メモリ216とd2メモリ217にはクラス3
とクラス4の学習データから算出された分類スペクトル
d13-4 とd23-4 を、それぞれ記憶させておく。
【0190】輝度成分抽出部30からの対象物の未知デ
ータは、分類演算部32において、乗算器203でd1
メモリ200からの分類スペクトルd11-4 と各成分
(次元)についての積が求められる。
【0191】各成分の積は累積加算器206で足し合わ
され、分類スペクトル選択回路207に入力される。
【0192】累積加算器206の出力は結果として未知
データと分類スペクトルとの内積値となる。
【0193】切替器202を切り替えて、d2について
も同様に内積値を算出し分類スペクトル選択回路207
に送る。
【0194】分類スペクトル選択回路207は図31
(C)に示すように、分類判定回路230とセレクタ2
31とで構成され、累積加算器206からの内積値が入
力されると分類判定回路230にて概略の分類判定が行
われる。
【0195】ここでは、未知データはクラス1とクラス
4のデータより算出された分類スペクトルd11-4 とd
1-4 のなす空間に射影され、決められた分類境界によ
りクラスが決定される。
【0196】ここでは、「クラス2からクラス1寄り」
「クラス2からクラス3の間」「クラス3からクラス4
寄り」という3つの新しいクラスに分類するように境界
が定められている。
【0197】分類判定回路230の出力である分類スペ
クトル選択信号が「クラス2からクラス1寄り」であっ
た場合、セレクタ231は切替器212からの入力を分
類スペクトルとして出力する。
【0198】これにより、分類スペクトルd11-2 とd
1-2 が選択され、乗算器223と累積加算器226と
で未知データとの内積演算が行われ、内積値は分類スペ
クトル選択回路207からの分類スペクトル選択信号と
ともに分類判定部34に送られ、最終的なクラスが決定
される。
【0199】分類判定回路230の出力である分類スペ
クトル選択信号が「クラス2からクラス3の間」であっ
た場合、セレクタ231は切替器218からの入力を分
類スペクトルとして出力し、「クラス3からクラス4寄
り」であった場合は切替器218からの入力を分類スペ
クトルとして出力する。
【0200】これにより、最適な分類スペクトルが選択
され、内積演算が行われる。
【0201】なお、本実施例では1段目の分類スペクト
ルを、クラス1とクラス4のデータから求めたものを使
用しているが、これは分布の両端の2クラスのデータを
用いるという意味ではないので、クラス2とクラス3の
データから求めた分類スペクトルを用いてもよい。
【0202】さらに、クラス1とクラス2をひとまとめ
にした新しいクラス1’、クラス3とクラス4をひとま
とめにした新しいクラス4’を定義し、これらのクラス
のデータを用いて算出した分類スペクトルを用いてもよ
い。
【0203】また、本実施例では分類判定を2段階でお
こなっているが、分類すべきクラスの数に応じて3段階
や、それ以上の多段階で行っても同様の効果が得られる
ことはいうまでもない。
【0204】このような第11実施例によれば、分類判
定を多段階で行う構成としたため、多クラスの分類にお
いても分類精度を落とさずに有効な分類を行うことが可
能になる。
【0205】(第12実施例)つぎに、以上のような各
実施例において多クラスの分類演算を行うための分類演
算回路を用いる第12実施例について図32を参照して
説明する。
【0206】多クラスの分類を行う際に、たとえばクラ
ス1〜3の3クラスの分類の場合、クラス1とクラス2
のデータで算出された分類スペクトルのなす空間にクラ
ス3を投影すると、図32(A)に示すようにクラス2
とクラス3とで分布が重なり、クラス間の境界がはっき
りしないことがあり、分類精度が落ちることがある。
【0207】本実施例はこのような場合にも分類精度を
落とさず、有効に分類を行うことができるものである。
【0208】本実施例の分類演算回路を図32(C)、
(D)に示すが、まず輝度成分抽出部30の構成を図3
2(C)を参照して説明する。
【0209】本実施例の分類演算回路28に用いられる
輝度成分抽出部30は、図32(C)に示すようにフレ
ームメモリの画像データから測定領域のデータを切り出
す測定領域抽出部36と、測定領域にわたって得られた
データの平均値を求める輝度成分平均化部38と、参照
板のデータを記憶する照明データメモリ40Wと、対象
物のデータを記録する測定データメモリ40Aと、対象
物のデータを参照板のデータで補正する補正回路42
と、補正された対象物のデータを記憶する補正データメ
モリ241、242、243とから構成される。
【0210】つぎに、分類演算部32の構成を図32
(D)を参照して説明する。
【0211】本実施例に用いられる分類演算部32は、
図32(D)示すようにコントロール回路26で制御さ
れる切替器251と、切替器251の一方の出力に接続
されたクラス選択回路252、切替器251のおなじ出
力に接続された分類スペクトル演算部253と、分類ス
ペクトル算出部253で算出された分類スペクトルを記
憶する二つのd1メモリ254、255と、二つのd1
メモリ254と255をコントロール回路26からの信
号で切り替える切替器256と、その出力データと前記
切替器251の他方の出力との内積をとる内積演算回路
257とから構成される。
【0212】続いて、本実施例の輝度成分抽出部30お
よび分類演算部32の動作について学習モード、分類モ
ードに分けて説明する。
【0213】学習モードにおいては、既知の対象物のデ
ータを測定するものであるが、対象物の測定に先立って
(もしくは同時に)参照板の測定が行われ、測定された
参照板のデータは画像データとして前述したようなフリ
ームメモリ18に記憶される。 このフリームメモリ1
8から測定領域のデータを測定領域抽出部36にて読み
だし、輝度成分平均化部38で測定領域全体にわたって
平均値が計算され照明データメモリ40Wに記憶され
る。
【0214】既知の対象物のデータも同様に測定領域の
データを測定領域抽出部36にて読みだし、輝度成分平
均化部38で測定領域全体にわたって平均値が計算さ
れ、測定データメモリ40Aに記憶される。
【0215】補正回路42では、測定データメモリ40
Aのデータを照明データメモリ40Wのデータを用いて
補正し、該当する各クラスの補正データメモリに書き込
まれる。
【0216】既知のデータは各クラスごとに所定のサン
プル数(Nとする)回測定され、各補正データメモリ2
41〜243に補正済み学習データとして記憶される。
【0217】学習モードにおいて分類演算部は、コント
ロール回路26により切替器251がbの側に設定され
る。
【0218】コントロール回路26からの信号で輝度成
分抽出部30の補正データメモリ241、242、24
3から順にデータが読み出され、クラス選択回路252
において各クラスの平均スペクトルおよび各クラス間の
差スペクトルとそのノルムが算出される。
【0219】クラス選択回路252では差スペクトのノ
ルムの最大のクラスに組み合せ(ここではクラス1とク
ラス3とする)をコントロール回路26に知らせる。
【0220】コントロール回路26からは補正データメ
モリ241、243に信号が送られ、順次データが読み
出され、切替器251を経て分類スペクトル算出部25
3へ送られる。
【0221】分類スペクトル算出部253ではFS変換
を用いて分類スペクトルを算出しd1メモリ254に書
き込む。
【0222】すなわち、もっとも平均スペクトルのかけ
離れたクラス間でのフイッシャレショ(Fisher ratio)
が最大になる分類スペクトルを求めd1メモリ254に
書き込む。
【0223】つぎに、クラス選択回路252では差スペ
クトルのノルムの最小のクラスの組み合せ(ここではク
ラス2とクラス3とする)をコントロール回路26に知
らせる。
【0224】コントロール回路26からは補正データメ
モリ242、243に信号が送られ、順次データが読み
出され、切替器251を経て分類スペクトル算出部25
3へ送られる。
【0225】分類スペクトル算出部253ではFS変換
を用いて分類スペクトルを算出しd1メモリ255に書
き込む。
【0226】すなわち、もっとも平均スペクトルの近い
クラス間でのFisher ratio が最大になる分類スペクト
ルを求めd1メモリ255に書き込む。
【0227】つぎに、切替器251をa側に設定し、内
積演算回路257にて各クラスのデータと分類スペクト
ルd11-3 およびd12-3 との内積値をとり分類判定部
34に送る。
【0228】分類判定部34では各クラスのデータの分
布を求め、各クラスの境界を設定する。
【0229】すなわち、分類スペクトルd11-3 とd1
2-3 のなす空間に各クラスのデータを投影し図32
(B)のように境界を設定する。
【0230】ここまでが学習モードである。
【0231】つぎに分類モードでの各部の動作を説明す
る。
【0232】分類モードにおいても参照板の測定が行わ
れ、輝度成分抽出部30においては学習モードと同様に
照明データメモリ40Wに記憶される。
【0233】一方、未知の対物のデータも学習モードと
同様測定領域内を平均化されて測定データメモリに記憶
され、補正回路42にて照明データメモリ40Wに記憶
されている参照板のデータで補正され、補正データメモ
リ241に記憶される。
【0234】分類演算部32では、切替器251はa側
に設定され、輝度成分抽出部30の補正データメモリ2
41から未知データが内積演算回路257に送られる。
【0235】これと同時に切替器256はd1メモリ2
54側に設定される。
【0236】したがって、内積演算回路257では分類
スペクトルd11-3 と未知データの内積値が算出され
る。
【0237】つぎに、切替器256はd1メモリ255
側に設定され、内積演算回路257では分類スペクトル
d12-3 と未知データの内積値が算出され、d11-3
の内積値とともに分類判定部34に送られ、学習モード
で設定した分類境界に従って未知データを分類する。
【0238】このような第12実施例によれば、分類判
定に用いる分類境界を、一組のクラスの組み合わせから
求める(例えば、クラス1とクラス3から求めたd1
1-3 とd21-3 )のではなく、複数の組のクラスの組み
合わせから求めた分類スペクトル(本実施例のように、
クラス1とクラス3から求めたd11-3 と、クラス2と
クラス3から求めたd12-3 )を用いて決定することに
より、図32(A)のようにクラス間の分布が境界を越
えて重なり合ってしまうということがなく、図32
(B)に示すように各クラスの分布が良く分離できる境
界を設定することができるため、多クラスの分類におい
て、より精度良く分類を行うことが可能となる。 な
お、本実施例ではクラス間の差スペクトルが最大のもの
から求めた分類スペクトルと、差スペクトル最小のもの
から求めた分類スペクトルを用いたが、差スペクトル最
大のものと次に大きいものから求めた分類スペクトルま
たは、差スペクトル最小のものと次に小さいものから求
めた分類スペクトルを用いるようにしてもよい。
【0239】さらには、最初に求めた分類スペクトルd
1上に投影した場合のFisher ratioの最小のクラスの組
み合わせから二つ目の分類スペクトルを求めるようにし
てもよい。
【0240】また、本実施例では分類スペクトルを二つ
用いたが、分類すべきクラス数が多い場合などは分類ス
ペクトルの数を増やすことにより、さらに分類精度を向
上することができる。
【0241】(第13実施例)つぎに、以上のような各
実施例において多クラスの分類演算を行うための分類演
算回路を用いる第13実施例について図33を参照して
説明する。
【0242】多クラスの分類を行う際に、たとえばクラ
ス1〜3の3クラスの分類の場合、クラス1とクラス2
のデータで算出された分類スペクトルのなす空間にクラ
ス3を投影すると、図33(A)に示すようにクラス2
の分布が他の2クラスに比べて広がってしまう場合があ
る。
【0243】この場合、クラス間の境界をクラスの分布
の中心を結ぶ直線の垂直2等分線とすると図33(A)
に示すように、クラス2のサンプルを測定した場合でも
クラス1やクラス2と判定されてしまうことがあり、分
類精度が落ちることがある。
【0244】本実施例はこのような場合にも分類精度を
落とさず、有効に分類を行うことができるものである。
【0245】本実施例の分類演算回路を図33(C)に
示す。
【0246】本実施例の分類演算回路28に用いられる
分類判定部34は、分類演算部32からのデータをモー
ド(学習モード、分類モード)によって切り替えるため
の切替器280、各クラスの平均値および分散値を求め
る統計量算出部281、求められた統計量から境界を算
出する境界算出部282、求められた境界を記憶する境
界メモリ64、境界メモリ64のデータと測定された未
知データを比較して未知データの分類を行う分類決定部
66とから構成される。
【0247】続いて、本実施例の分類判定部34の動作
について学習モード、分類モードに分けて説明する。
【0248】学習モードにおいては、既知の対象物のデ
ータを測定するものであるが、対象物のデータは輝度成
分抽出回路30において、照明に関して補正されたの
ち、分類演算部32にて分類スペクトルとの内積値が求
められ分類判定部34に送られてくる。
【0249】既知のデータの内積値はd1とd2の二次
元で、各クラスごとに所定のサンプル数(Nとする)だ
け送られてくる。
【0250】分類判定部34では、切替器280がb側
に設定され、送られてきた既知のデータの内積値は統計
量算出部281にて各クラスごとにN個のサンプルの平
均と分散を求められる。
【0251】分類モードにおいては、分類判定部34に
は未知のデータのd1、d2との内積値が送られてく
る。
【0252】分類判定部34では切替器280がa側に
設定され境界算出部282では図33(B)に示すよう
に各クラスごとに等分散線を引き、等分散線の交点を結
んだ線を境界として境界メモリ64に書き込む。
【0253】このような第13実施例によれば、統計量
算出部281を用いる構成としたために、分類判定に用
いる分類境界を、各クラスの分散値を用いて決定するこ
とにより、図33(A)のようにクラスの分布が境界を
越えてしまうということがなく、図33(B)に示すよ
うに各クラスの分布が良く分離できる境界を設定するこ
とができるため、多クラスの分類において、より精度良
く分離を行うことが可能となる。
【0254】(第14実施例)つぎに、以上のような各
実施例において、光沢のある対象物を測定する際の測定
領域を最適に設定する輝度成分抽出部を用いる第14実
施例について図34を参照して説明する。
【0255】光沢のある対象物を測定する際に、その光
沢の部分(正反射成分)が測定領域に含まれると、対象
物の色が正しく測定できず、分類精度が落ちることがあ
る。本実施例の輝度成分抽出部を図34(A)を参照し
て説明する。
【0256】本実施例の輝度抽出部は、測定領域抽出部
36と、輝度成分平均化部38と、画素計数部293
と、対象物の測定データを一時的に記憶する測定データ
メモリ40A、参照板の測定データを記憶する照明デー
タメモリ40Wと、対象物のデータを参照板のデータで
補正する補正回路42と、補正された対象物のデータを
複数クラス分記憶する補正データメモリ44とからな
る。
【0257】測定領域抽出部36は、特異領域検出部2
90と、非測定領域設定部291とから構成されてい
る。
【0258】図34(B)に光沢のある対象物の例を示
す。
【0259】コントロール回路26によりフレームメモ
リから所定の測定領域300のデータが測定領域抽出部
36に読み込まれる。
【0260】読み込まれたデータは特異領域検出部29
0に入り周囲に比して異常に明るい領域(正反射部分3
01)が検出される。
【0261】非測定領域設定部291では正反射検出部
290で検出された正反射の画素の周囲に所定の画素数
の余裕を持たせて測定に用いない範囲(非測定領域30
2)を設定し、コントロール回路26に送り、測定領域
を変更する。
【0262】なお、測定領域内に正反射がなくなるま
で、コントロール回路26からの信号により、後段の輝
度成分平均化部38の出力が有効にならないよう制御さ
れる。コントロール回路26では非測定領域設定部29
1で指示された画素をとばしてもう一度フレームメモリ
の所定の領域のデータを読み出す。
【0263】このとき正反射検出回路290では正反射
の画素は見つけられずに、非測定領域設定部291から
はコントロール回路26に非測定領域のないことを知ら
せる。 このときの新しい測定領域を図34(C)に示
す。
【0264】非測定領域を読みとばされた対象物のデー
タは所定の測定領域よりも画素数が少なくなっているの
で、画素計数部293によりその全画素数が求められ、
輝度成分平均化部38では対象物のデータと画素数から
その平均値を求められ、測定データメモリ40Aに一時
的に記憶される。
【0265】補正回路42で測定データメモリ40Aか
らの対象物のデータを、照明データメモリ40Wからの
参照板のデータで補正し補正データメモリに記憶させ
る。
【0266】このような第14実施例によれば、測定領
域抽出部に特異領域検出部290と非測定領域設定部2
91を設けた構成としたため、対象物に光沢があり正反
射している部分が存在する場合にはその正反射の部分を
測定領域からはずすことができるので、分類精度を下げ
ることなく良好な測定が可能となる。
【0267】なお、本実施例では測定の前に測定領域が
設定され、その測定領域の中に正反射部分がある場合に
それを取り除くように動作させているが、測定領域の設
定から自動的に行う変形例を以下に説明する。
【0268】対象物もしくは対象物の測定したい部分が
球形またはそれに近い形状である場合でかつ表面に光沢
があることがわかっている場合には、画面全体から特異
領域検出部290にて正反射領域を検出し、非測定領域
設定部291にて特異領域検出部290で検出された正
反射の画素の周囲に所定の画素数の余裕を持たせて測定
に用いない範囲(非測定領域302)およびその周囲に
所定の幅を持たせた測定領域304を設定し、コントロ
ール回路26に送る。
【0269】なお、測定領域が決定するまで、後段の輝
度成分平均化部38は出力が有効にならないように制御
される。
【0270】コントロール回路26では非測定領域設定
部291で決定された測定領域のデータを読み出す。
【0271】このときの新しい測定領域を図34(D)
に示す。
【0272】正反射の大きさや形状によって画素数が異
なってくるので、画素計数部293によりその全画素数
が求められ、輝度成分平均化部38では対象物のデータ
と画素数からその平均値を求められ、測定データメモリ
40Aに一時的に記憶される。 補正回路42で測定デ
ータメモリ40Aからの対象物のデータを、照明データ
メモリ40Wからの参照板のデータで補正し補正データ
メモリに記憶させる。
【0273】本変形例によれば、測定領域抽出部に特異
領域検出部290と非測定領域設定部291を設け、対
象物の正反射している部分の周辺部分を自動的に抽出し
測定するため、対象物の測定領域が球またはそれに近い
形状の場合にも反射光の強度が安定し、良好な測定が可
能となると共に、測定領域を自動設定できるので測定が
容易になるとともに測定に要する時間を短縮することが
できる。
【0274】(第15実施例)つぎに、以上のような各
実施例において、分類演算を高速化する第15実施例に
ついて図35、図36および図37を参照して説明す
る。
【0275】複数のバンドパスフィルタを用いた色分類
装置において、測定対象物によってはバンドパスフィル
タのうちに分類に影響の少ないものがでてくる可能性が
ある。 このようなバンドパスフィルタのデータを省く
ことで、演算速度を高めることができる。
【0276】図35(A)は本実施例の分類演算回路の
構成を示す図である。
【0277】本実施例の分類演算回路28は輝度成分抽
出部30と、分類演算部32と、分類判定部34とから
なり、分類演算部32は、切替器310と、分類スペク
トル算出部311と、Fisher ratio 算出部312と、
分類スペクトル検査部313と、分類スペクトルを書き
込むd1メモリ314およびd2メモリ315と、切替
器316と、内積演算回路317とから構成される。
【0278】図35(B)には不要なバンドパスフィル
タを取り除ていできるだけ次元数の少ない分類スペクト
ルを算出するための処理の流れを示す。
【0279】ここでは5枚のバンドパスフィルタを持つ
色分類装置として図35(A)に示した本実施例の分類
演算回路の動作を図35(B)を参照して説明する。
【0280】5枚のバンドパスフィルタを用いてデータ
を入力した場合、そのデータは5次元のデータとして扱
われる。
【0281】各クラス5次元NサンプルのデータからF
S変換で分類スペクトルを作成すると、それはやはり5
次元データであり、各次元の成分は5枚のバンドパスフ
ィルタに対応している。
【0282】図35(B)は学習モードにおける分類ス
ペクトルの算出方法について示したものである。
【0283】学習モードにおいて初めは、切替器310
はb側に設定される。
【0284】コントロール回路26では参照板のデータ
で補正された測定データをクラス1・クラス2とも5次
元全部のデータを読み込む設定とし(ステップ32
0)、クラス1クラス2のデータを輝度抽出部30より
読み込む(ステップ321)。
【0285】分類スペクトル算出部311では、読み込
んだデータで分類スペクトルを算出し(ステップ32
2)、Fisher ratio 算出部では、その分類スペクトル
と輝度成分抽出部30からの測定データとから Fisher
ratio を算出する(ステップ323)。
【0286】分類スペクトル検査部313では、Fisher
ratio が所定の値よりも大きいか調べ(ステップ32
4)、Fisher ratio が所定の値よりも大きければd1
メモリ314およびd2メモリ315に書き込むと同時
にコントロール回路に5枚のうち使用したバンドパスフ
ィルタの番号を知らせ(ステップ325)、引き続き分
類スペクトルの各バンドパスフィルタに対応した成分の
絶対値を調べ、絶対値が最小であるフィルタ番号を求め
(ステップ326)コントロール回路26に送る。
【0287】なお、Fisher ratio が所定の値よりも小
さい場合は分類スペクトル検査部313では、そのとき
の分類スペクトルをd1メモリ314およびd2メモリ
315には書き込まずに、コントロール回路26に分類
スペクトル算出終了の信号を送る(ステップ328)。
【0288】コントロール回路26では分類スペクトル
検査部313から送られてきた番号の以外のフィルタの
データを読み込むように設定し(ステップ327)、設
定されたフィルタについて再度、データを読みだし、分
類スペクトルを作成し、Fisher ratio を求め、所定の
値と比較する(ステップ321〜324)。
【0289】すなわち、Fisher ratio が所定の値以上
であるうちはさらに分類スペクトルの絶対値最小のフィ
ルタを省略し、Fisher ratio が所定の値以下になった
時点ではその分類スペクトルを保存せずに終了する。
【0290】一方、分類モードにおいては、必要なバン
ドパスフィルタからのデータだけを入力するようコント
ロール回路から制御することで、入力、分類演算ともに
扱うデータ量が削減されるので高速な分類判定ができ
る。
【0291】バンドパスフィルタのデータを削徐する際
に、分類スペクトルの成分の小さいものから削除してい
くということは、二つのクラスの違いが少ない成分を削
除することである。したがってこれを削除しても分類結
果には大きな影響がない。
【0292】このような第15実施例では分類スペクト
ル検査部および Fisher ratio 算出部を設け、求められ
た分類スペクトルにおける Fisher ratio が所定の値を
下回らない範囲で必要な最小限のバンドパスフィルタを
求める構成としたために、分類精度を落とさずに分類演
算に用いる分類スペクトルの次元数を最小限に減らすこ
とができるので、分類モードにおいてより高速な分類判
定が可能となる。
【0293】なお、本実施例では分類スペクトルの各成
分の絶対値が小さいものに対応するバンドパスフィルタ
から削除したが、これを差スペクトルの成分の絶対値の
小さいものを削除するようにしてもよい。
【0294】図36は本実施例の変形例の一つであり、
図36(A)に示す分類演算回路28は、図35(A)
の分類演算部32に差スペクトル算出部331を加え、
分類スペクトル検査部313の代りに差スペクトル検査
部332を設けたものであり、図36(B)に示すフロ
ーチャートは図35(B)のステップ326の代りに2
クラスの差スペクトルを求めるステップ341と、差ス
ペクトルの成分を調べ絶対値が最小のバンドパスフィル
タの番号を求めるステップ342を適用したものであ
る。
【0295】このように二つのクラスの差スペクトルに
おいても値が0に近いものはクラス間の違いの少ない成
分であるので省略することができる。
【0296】同様に、補正前のスペクトルの成分が0に
近いものを削除するようにしてもよい。
【0297】図37も本実施例の変形例であり図37
(A)に示す分類演算回路28は、図35(A)の分類
演算部32の分類スペクトル検査部313の代りにスペ
クトル検査部351を設け、その入力に輝度成分抽出部
30の図示しない測定データメモリ(参照板のデータで
補正する前のデータが記憶されているメモリ)の出力を
接続したものであり、図37(B)に示すフローチャー
トは図35(B)のステップ326の代りに補正前のス
ペクトルの成分が最小となるバンドパスフィルタの番号
を求めるステップ341を適用したものである。
【0298】補正前のスペクトルの成分が0に近いもの
はそのほとんどが撮像素子の雑音であるのでこれを削除
しても分類結果に影響が少ないので Fisher ratio が所
定値以上に保たれる範囲で省略して分類スペクトルの次
元(すなわちバンドパスフィルタの数)を減らすことが
できる。
【0299】本実施例では、分類スペクトルの成分の絶
対値の小さいものに対応するバンドパスフィルタのデー
タを削除する、またその変形例として差スペクトルの成
分の絶対値の小さいもの、または補正前のスペクトルの
成分の小さいものに対応するバンドパスフィルタのデー
タを削除する方法について説明してきたが、このそれぞ
れを別々に行うだけでなく、全てを考慮して分類スペク
トルの次元(すなわちバンドパスフィルタの数)を減ら
すようにしても分類精度を落とさずに分類演算を高速化
することが可能となる。
【0300】(第16実施例)つぎに、様々な対象物に
対してより正確に分類することが可能な第16実施例に
ついて図38を参照して説明する。
【0301】本実施例の色分類装置を図38(A)を参
照して説明する。
【0302】本実施例の色分類装置は筐体1と、光学系
10と、光学系により対象物からの反射光が結像する撮
像素子14と、光学系10と撮像素子14との間にあり
5枚のバンドパスフィルタを円周上に配した回転色フィ
ルタ12(図2参照)と、回転色フィルタ12を駆動す
るモーター24と、モーター駆動回路124と、回転色
フィルタ12の回転位置を検出するフィルタ位置センサ
123と、撮像素子駆動回路22と、撮像素子14から
の映像信号を増幅器15を介してディジタルに変換する
A/D変換器16と、ディジタル化された映像信号を記
憶するフレームメモリ18と、フレームメモリ18に記
憶されている画像データを各種処理を施して画像の特徴
量を出力する画像処理回路371と、フレームメモリ1
8からのデータと画像処理回路371からのデータとか
ら対象物を分類する分類演算回路28と、これらを制御
するコントロール回路26とから構成されている。
【0303】本実施例の分類演算回路28は図38
(B)に示すような輝度成分抽出部30と、スペクトル
拡張部372と、分類演算部32と、分類判定部34と
から構成される。
【0304】コントロール回路26ではフィルタ位置セ
ンサ123の出力を監視しながら回転色フィルタ12が
撮像素子14の露光に同期するようにモーター駆動回路
124に信号を送る。
【0305】撮像素子14に結像した対象物の像は光電
変換され映像信号として出力された後、増幅器15を介
してA/D変換器16にてディジタルに変換されてフレ
ームメモリ18に一時的に記憶される。
【0306】フレームメモリ18に記憶された画像信号
は画像処理回路371にて測定領域内の画像を各種処理
し、画像の特徴量を抽出し、分類演算回路28に送る。
【0307】画像の特徴量としては、微分値、空間周波
数成分、直交変換の係数、同時生起行列を用いて得られ
る各特徴量、濃度ヒストグラム、線や輪郭、特定のパタ
ーンとの相関値などを用いることができる。
【0308】分類演算回路28ではフレームメモリ18
からの画像信号が入力され、輝度成分抽出部30にて測
定領域内での平均値を各バンドパスフィルタ(5枚)ご
とに求め、5次元のスペクトルデータとする。
【0309】この際、必要に応じて照明光の補正および
正規化を行う。
【0310】次段のスペクトル拡張部372では5枚の
バンドパスフィルタから得られた5次元のスペクトルデ
ータと画像処理回路371より得られた画像の特徴量で
あるP次元のデータを合成し、5+P次元の拡張された
スペクトルとして分類演算部32へ転送する。
【0311】学習モードでは分類演算部32では、上記
のように転送されてくる2クラスの各クラスごとにサン
プル数Nのデータから5+P次元の分類スペクトルを作
成し、データと共に分類判定部34に送る。
【0312】この際に必要に応じてバンドパスフィルタ
から得られたスペクトル画像処理回路から得られた画像
の特徴量との間でデータの重みが所定の値になるようデ
ータの正規化を行う。
【0313】分類判定部34では、分類境界を決定し記
憶する。
【0314】分類モードにおいては分類演算部32で
は、上記のように転送されてくる対象物の5+P次元の
データと学習モードで求められた分類スペクトルとの内
積演算が行われ、結果を分類判定回路34に送る。
【0315】分類判定回路34では学習モードで記憶し
た分類境界に基づき、対象物の分類判定結果を出力す
る。
【0316】このような第16実施例によれば、フレー
ムメモリ18の後段に画像処理回路371を、分類演算
回路28の中にスペクトル拡張部372を設けた構成と
したため、対象物の色だけでなく表面の形状やテクスチ
ャを分類スペクトル反映させているので、より精度の高
い良好な測定が可能となる。
【0317】(第17実施例)つぎに、モニタ表示にて
分類結果が視覚的に確認可能な第17実施例について図
39を参照して説明する。
【0318】本実施例の色分類装置を図39(A)を参
照して説明する。
【0319】本実施例の色分類装置は筐体1と、光学系
10と、光学系により対象物からの反射光が結像する撮
像素子14と、光学系10と撮像素子14との間にあり
5枚のバンドパスフィルタを円周上に配した回転色フィ
ルタ12(図2参照)と、回転色フィルタ12を駆動す
るモーター24と、モーター駆動回路124と、回転色
フィルタ12の回転位置を検出するフィルタ位置センサ
123と、撮像素子駆動回路22と、撮像素子14から
の映像信号を増幅器15を介してディジタルに変換する
A/D変換器16と、ディジタル化された映像信号を一
時的に記憶するフレームメモリ18と、フレームメモリ
18に記憶されている画像データからモニタへ出力する
ための画像データを合成する色合成回路381と、モニ
タ出力用のフレームメモリ382と、フレームメモリ1
8からのデータから対象物を分類する分類演算回路28
と、これらを制御するコントロール回路26とから構成
されている。
【0320】本実施例のフレームメモリ18、色合成回
路381と、フレームメモリ382の構成を図39
(B)に示す。
【0321】フレームメモリ18は各バンドパスフィル
タに対応したBPF1プレーン401、BPF2プレー
ン402、BPF3プレーン403、BPF4プレーン
404、BPF5プレーン405とから構成される。
【0322】色合成回路381はフレームメモリ18の
各BPF1プレーン401〜405の出力に乗じるため
の係数(BPS係数421〜425)が記憶されている
係数メモリ420と、各BPFプレーン401〜405
の出力と係数メモリ420に記憶されているBPS係数
421〜425のそれぞれ対応する一組を入力とする乗
算器411〜415と、乗算器411〜415の出力を
足し合わせる加算器410とから構成される。
【0323】フレームメモリ382はTVモニタに出力
するためのフレームメモリでRGBの各プレーン431
〜433と、メモリからのデータを読み出してTVモニ
タが入力可能な映像信号に変換する映像信号生成回路4
34とからなる。
【0324】つぎに、本実施例の色分類装置の動作につ
いて説明する。
【0325】コントロール回路26ではフィルタ位置セ
ンサ123の出力を監視しながら回転色フィルタ12が
撮像素子14の露光に同期するようにモーター駆動回路
124に信号を送る。
【0326】撮像素子14に結像した対象物の像は光電
変換され映像信号として出力された後、増幅器15を介
してA/D変換器16にてディジタルに変換されてフレ
ームメモリ18に一時的に記憶される。
【0327】フレームメモリ18からの画像テータは、
色合成回路381でTVモニタへ出力するためのデータ
変換が行われ、TVモニタ表示用のフレームメモリ38
2に書き込まれ、映像信号生成回路434にてTVモニ
タが入力可能な映像信号に変換されTVモニタに出力さ
れる。
【0328】一方、分類演算回路28ではフレームメモ
リ18からの画像信号が入力され、輝度成分抽出部30
にて測定領域内での平均値を各バンドパスフィルタ(5
枚)ごとに求め、5次元のスペクトルデータとする。
【0329】この際必要に応じて照明光の補正および正
規化を行う。
【0330】学習モードにおいて分類演算部32では、
上記のように転送されてくる2クラスの各クラスごとに
はサンプル数Nのデータから5次元の分類スペクトルを
作成し、データと共に分類判定部34に送る。
【0331】分類判定部34では、分類境界を定め記憶
する。
【0332】分類モードにおいては分類演算部32で
は、上記のように転送されてくる対象物の5次元のデー
タと学習モードで求められた分類スペクトルとの内積演
算が行われ、結果を分類判定回路34に送る。
【0333】分類判定回路34では学習モードで記憶し
た分類境界に基づき、対象物の分類判定結果を出力す
る。
【0334】つぎに、本実施は例の特徴である色合成回
路381の動作についてさらに詳しく説明する。
【0335】5枚のバンドパスフィルタのデータはフレ
ームメモリ18のBPFプレーン401〜405に順番
に記憶されている。
【0336】係数メモリ420には、各BPFプレーン
のデータに乗じるための係数(BPF係数421〜42
5)が格納されている。
【0337】BPF係数421〜425は乗算器411
〜415にて対応するBPFプレーンのデータに乗じら
れる。
【0338】乗算器411〜415で係数を乗じられた
各プレーンのデータは加算器410にて足し合わされ、
フレームメモリ382のRプレーン431、Gプレーン
432、Bプレーン433のうちコントロール回路26
の指示するプレーンに書き込まれる。
【0339】各プレーンのデータは映像信号生成回路4
34にてTVモニタの入力可能な信号に変換されてTV
モニタの出力される。
【0340】学習モードにおいては、各バンドパスフィ
ルタの分光透過特性からモニタのR成分の分光特性を近
似した係数を係数メモリ420に書き込み、乗算器41
1〜415で各プレーンのデータに乗じた後に加算器4
10で足し合わされたデータをフレームメモリ382の
Rプレーンに書き込む。
【0341】つぎに、モニタのG成分の分光特性を近似
した係数を係数メモリ420に書き込み、加算器410
の出力をGプレーン432に書き込む。
【0342】つぎに、モニタのB成分の分光特性を近似
した係数を係数メモリ420に書き込み、加算器410
の出力をBプレーン433に書き込む。
【0343】各プレーンのデータは映像信号生成回路4
34にてTVモニタの入力可能な信号に変換されてTV
モニタの出力される。
【0344】この結果モニタには色再現性良く測定中の
対象物が映し出される。
【0345】分類モードにおいては、分類演算回路28
からコントロール回路26に分類スペクトルのデータを
送り、コントロール回路26では分類スペクトルの各バ
ンドパスフィルタに対応する成分を0〜1に正規化して
係数メモリ420に書き込み、加算器410の出力をR
プレーン431に書き込む。
【0346】つぎに、今係数メモリに書き込んだ係数を
1から減じた係数を係数メモリ420に書き込む。
【0347】加算器410の出力はGプレーン432に
書き込む。
【0348】各プレーンのデータは映像信号生成回路4
34にてTVモニタの入力可能な信号に変換されてTV
モニタの出力される。
【0349】これによりモニタには、たとえばクラス1
に分類される対象物の映像は赤っぽく、クラス2に分類
される対象物は緑っぽく表示され、その中間の対象物に
ついては黄色っぽく表示される。
【0350】このような第17実施例によればTVモニ
タ表示用のフレームメモリ382を、フレームメモリ1
8の内部に各バンドパスフィルタに対応するプレーンを
設け、色合成回路381にて各プレーンのデータに係数
を乗じて足し合わせた物をフレームメモリの各プレーン
に書き込む構成としたために、モニタ上にて分類結果を
色を変えて表示することができ、結果が視覚的に確認し
やすくなった。
【0351】さらに、本実施例では学習モードにおいて
は通常のTV画像のようなカラー表示も可能となり対象
物の確認なども自然に行える。
【0352】なお、本実施例では分類モードの際にフレ
ームメモリ382のRプレーン431とGプレーン43
2を用いたがこれに限らずいずれのプレーンを使用とて
も同様の効果が得られることはいうまでもない。
【0353】
【発明の効果】したがって、以上詳述したように本発明
によれば、それぞれ異なる帯域を持つ複数のバンドパス
フィルタを用意しておき、これら複数のバンドパスフィ
ルタのそれぞれを上記対象物と撮像手段の間に配置する
と共に、分類手段によって、上記撮像手段によって撮像
された対象物の反射分光スペクトルから統計的手法を用
いた分類のための分類スペクトルを算出し、この分類ス
ペクトルを用いて上記対象物の分類を行うことにより、
装置構成が簡単で、低コストで、且つ機械的振動にも耐
えられ、しかも光源を限定せずにそのスペクトルが変化
する場合などにも良好に色分類可能な色分類装置を提供
することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の第1実施例の色分類装置を示
すブロック図。
【図2】図2は、第1実施例に用いる回転色フィルタの
模式図。
【図3】図3は、第1実施例の動作を説明するフローチ
ャート。
【図4】図4は、本発明の第2実施例の色分類装置を示
すブロック図。
【図5】図5は、第2実施例に用いる回転色絞り板の模
式図。
【図6】図6は、本発明の第3実施例の色分類装置を示
すブロック図。
【図7】図7は、第3実施例に用いる回転NDフィルタ
の模式図。
【図8】図8は、第3実施例に用いる回転スリット板の
模式図。
【図9】図9は、本発明の第4実施例の色分類装置を示
すブロック図。
【図10】図10、は第4実施例の動作を説明するフロ
ーチャート。
【図11】図11は、第4実施例の変形例である色分類
装置を示すブロック図。
【図12】図12は、本発明の第5実施例の色分類装置
を示すブロック図。
【図13】図13は、第5実施例の参照板の模式図。
【図14】図14は、本発明の第6実施例の色分類装置
を示すブロック図。
【図15】図15は、第6実施例のCCDに結像する画
像の例を示す図。
【図16】図16は、第6実施例の参照板の模式図。
【図17】図17は、本発明の第7実施例の色分類装置
を示すブロック図。
【図18】図18は、本発明の第8実施例の色分類装置
を示すブロック図。
【図19】図19は、第8実施例のCCDと光ファイバ
の接続を示す図。
【図20】図20は、第8実施例のCCD上のバンドパ
スフィルタの配置図。
【図21】図21は、第8実施例の光ファイバの束ね方
を説明する図。
【図22】図22は、第8実施例のCCDに結像する画
像の例を示す図。
【図23】図23は、第8実施例の変形例を説明する
図。
【図24】図24は、第8実施例の別の変形例を説明す
る図。
【図25】図25は、本発明の第9実施例の色分類装置
を示すブロック図。
【図26】図26は、第9実施例に用いられる光路分割
プリズムの構成を説明する図。
【図27】図27は、第9実施例の光路分割プリズムと
CCDの結合状態を説明する図。
【図28】図28は、第9実施例のCCD上のバンドパ
スフィルタの配置図。
【図29】図29は、第9実施例に用いられる照明セン
サの構成を説明する図。
【図30】図30は、本発明の第10実施例の色分類装
置を示すブロック図。
【図31】図31(A)は、本発明の第11実施例の分
類演算回路を示すブロック図、(B)は、第11実施例
の分類演算部を示すブロック図、(C)は、第11実施
例の分類スペクトル選択回路を示すブロック図。
【図32】図32(A)は、従来の方法による学習デー
タの分布を示す図、(B)は、本発明の第12実施例に
よる学習データの分布を示す図、(C)は、第12実施
例の輝度抽出部を示すブロック図、(D)は、第12実
施例の分類演算部を示すブロック図。
【図33】図33(A)は、従来の方法による学習デー
タの分布を示す図、(B)は、本発明の第13実施例に
よる学習データの分布を示す図、(C)は、第13実施
例の分類判定部を示すブロック図。
【図34】図34(A)は、本発明の第14実施例の分
類演算回路を示すブロック図、(B)は、第14実施例
の動作を説明するための測定対象物を示す図、(C)
は、第14実施例の測定領域の形を示すブロック図、
(D)は、第14実施例の変形例における測定領域の形
を示すブロック図。
【図35】図35(A)は、本発明の第15実施例の分
類演算回路を示すブロック図、(B)は、第15実施例
の動作を説明するためのフローチャート。
【図36】図36(A)は、第15実施例の第1の変形
例である分類演算回路を示すブロック図、(B)は、第
15実施例の第1の変形例の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
【図37】図37(A)は、第15実施例の第2の変形
例である分類演算回路を示すブロック図、(B)は、第
15実施例の第2の変形例の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
【図38】図38(A)は、本発明の第16実施例の色
分類装置を示すブロック図、(B)は、第16実施例の
分類演算回路を示すブロック図。
【図39】図39(A)は、本発明の第17実施例の色
分類装置を示すブロック図、(B)は、第17実施例の
色合成回路を示すブロック図。
【図40】図40は、分類境界を説明する図。
【図41】図41は、従来の色識別装置の構成を示す
図。
【図42】図42は、分類スペクトルの一例を示す図で
ある。
【符号の説明】
1…筐体,10…光学系,101…絞り,126…絞り
制御回路,12A〜12E…バンドパスフィルタ,12
…回転色フィルタ,123…フィルタ位置センサ,24
…モーター,124…モーター駆動回路,14…撮像素
子,15…増幅器,16…A/D変換器,18…テレー
ムメモリ,28…分類演算回路,29…露光値メモリ,
26…コントロール回路,22…撮像素子駆動回路。

Claims (52)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対象物の反射光を撮像する撮像手段と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置したそれぞれ異なる帯
    域を持つ複数のバンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を複数クラスにおいて行う分類手段とを具備する
    ことを特徴とする色分類装置。
  2. 【請求項2】 対象物の反射光を撮像する撮像手段と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置した、帯域特性を変化
    させることが可能な帯域可変バンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を複数クラスにおいて行う分類手段とを具備する
    ことを特徴とする色分類装置。
  3. 【請求項3】 前記光学手段は、前記対象物からの反射
    光を複数に分割する光路分割手段を含むことを特徴とす
    る請求項1に記載の色分類装置。
  4. 【請求項4】 前記光路分割手段は光ファイバで構成さ
    れることを特徴とする請求項3に記載の色分類装置。
  5. 【請求項5】 前記光路分割手段はプリズムおよび鏡で
    構成されることを特徴とする請求項3に記載の色分類装
    置。
  6. 【請求項6】 前記分類手段は前記複数クラスの分類に
    おいて、 前記複数クラス内の任意の2クラスを用いて分類スペク
    トルを求める手段と、 各クラスのデータと分類スペクトルとの内積値を求める
    内積演算手段と、 前記各クラスごとに前記内積値の平均値と分散値を求め
    る統計量算出手段と、 各クラスの境界を決定する境界決定手段とを含み、 前記統計量算出手段の出力から前記境界決定手段により
    境界を決定することを特徴とする請求項1または2に記
    載の色分類装置。
  7. 【請求項7】 前記分類手段は、複数の分類判定部から
    なることを特徴とする請求項1または2に記載の色分類
    装置。
  8. 【請求項8】 前記複数の分類判定部のうち、第1の分
    類判定部は、撮像された対象物のスペクトルデータを入
    力とし、 予め求められた分類スペクトルを記憶する第1の分類ス
    ペクトル記憶手段と、 対象物のスペクトルと前記第1の分類スペクトル記憶手
    段に記憶されているスペクトルとから分類のための演算
    を行う第1の演算手段とから構成され、 前記複数の分類判定部のうち、第2からそれ以降の分類
    判定部は、直列に接続され、順次に前段の演算結果と対
    象物のスペクトルデータを入力とし、 予め求めた複数の分類スペクトルを記憶する複数の分類
    スペクトル記憶手段と、 前段の演算結果から、用いる
    べき分類スペクトルが記憶されている前記複数の分類ス
    ペクトル記憶手段を選択し分類スペクトルを出力する選
    択手段と、 未知の対象物のスペクトルと前記選択手段から出力され
    る分類スペクトルとからの演算結果を出力する演算手段
    とから構成されることを特徴とする請求項7に記載の色
    分類装置。
  9. 【請求項9】 前記分類手段は、クラス既知の複数クラ
    スのデータを記憶する複数のスペクトル記憶手段と、 前記複数のスペクトル記憶手段から2つのスペクトル記
    憶手段を一組として選択するクラス選択手段と、 前記2つのスペクトル記憶手段に記憶されているスペク
    トルデータから分類スペクトルを演算する分類スペクト
    ル演算手段と、 前記クラス選択手段から順次選択される複数組のスペク
    トルデータから分類スペクトル算出手段により算出され
    出力される複数の分類スペクトルを記憶する複数の分類
    スペクトル記憶手段と、 前記複数の分類スペクトル記憶手段に記憶されている複
    数の分類スペクトルと未知の対象物のスペクトルデータ
    から分類判定を行う分類判定手段を含むことを特徴とす
    る請求項1または2に記載の色分類装置。
  10. 【請求項10】 前記分類手段は、測定領域設定部を含
    み、 前記測定領域設定部は、対象物の特定の部分を検出する
    特異領域検出部と、 前記特異領域検出部で検出された領域を含む非測定領域
    を設定する非測定領域設定部とを含むことを特徴とする
    請求項1または2に記載の色分類装置。
  11. 【請求項11】 前記分類手段は、作成された分類スペ
    クトルのフイッシャーレショ(Fisher ratio)を算出す
    るフイッシャーレショ算出部と、 演算に用いるスペクトルデータの次元を削減する次元削
    減手段と、 前記作成された分類スペクトルのフイッシャーレショが
    所定の値以上で最小の次元の分類スペクトルを作成する
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の色分類装
    置。
  12. 【請求項12】 前記次元削減手段は、前記分類スペク
    トルにおいて絶対値の小さい次元を削除することを特徴
    とする請求項11に記載の色分類装置。
  13. 【請求項13】 前記次元削減手段は、前記分類スペク
    トルを求める際に用いた2つのクラスのスペクトルの差
    スペクトルを求める差スペクトル算出手段を含み、 前記差スペクトルにおいて絶対値の小さい次元を削除す
    ることを特徴とする請求項11に記載の色分類装置。
  14. 【請求項14】 前記次元削減手段は、前記分類スペク
    トルを求める際に撮像された対象物のスペクトルにおい
    て値の小さい次元を削除することを特徴とする請求項1
    1に記載の色分類装置。
  15. 【請求項15】 前記分類手段は、画像データの特徴量
    を求める画像処理手段と、 前記複数の次元を持つ対象物の分光スペクトルと前記画
    像処理手段から得られる特徴量とを合成し拡張されたス
    ペクトルを生成するスペクトル拡張手段とを含むことを
    特徴とする請求項1または2に記載の色分類装置。
  16. 【請求項16】 前記撮像手段により撮像された画像デ
    ータを記憶する記憶手段を持つことを特徴とする請求項
    1または2に記載の色分類装置。
  17. 【請求項17】 前記記憶手段は、前記撮像手段より得
    られる画像データの全画面分を一時的に記憶する第1の
    フレームメモリと、 前記第1のフレームメモリに記憶されたデータをTVモ
    ニタへ出力する画像データに変換するデータ変換手段
    と、 TVモニタ出力用の画像を記憶する第2のフレームメモ
    リと、 を含むことを特徴とする請求項16に記載の色分類装
    置。
  18. 【請求項18】 前記第1のフレームメモリは、前記複
    数のバンドパスフィルタのそれぞれに対応した複数のプ
    レーンを持ち、 前記第2のフレームメモリは、カラーモニタのRGB各
    色のそれぞれに対応した複数のプレーンを持つことを特
    徴とする請求項17に記載の色分類装置。
  19. 【請求項19】 前記データ変換手段は、前記第1のフ
    レームメモリの複数のプレーンの出力に乗じる複数の係
    数を記憶する係数メモリと、 前記複数の係数を前記第1のフレームメモリの複数のプ
    レーンの出力にそれぞれ乗じるための複数の乗算器と、 前記複数の乗算器の出力を足し合わせる加算器とから構
    成され、 前記加算器の出力は前記第2のフレームメモリの複数の
    プレーンに別々に書き込むことができるよう構成される
    ことを特徴とする請求項18に記載の色分類装置。
  20. 【請求項20】 前記複数の係数はカラーモニタのRG
    Bの各発光スペクトルを近似するよう順次設定され、R
    GBの各係数が乗じられたデータは前記第2のフレーム
    メモリのRGBの各プレーンにそれぞれ書き込まれるこ
    とを特徴とする請求項19に記載の色分類装置。
  21. 【請求項21】 前記複数の係数は、前記分類手段で求
    められた分類スペクトルを近似するように設定されるこ
    とを特徴とする請求項19に記載の色分類装置。
  22. 【請求項22】 前記第2のフレームメモリは、一つの
    プレーンには加算器の出力がそのまま書き込まれ、別の
    プレーンには加算器の出力の大小が反転されたデータが
    書き込まれることを特徴とする請求項21に記載の色分
    類装置。
  23. 【請求項23】 対象物の反射光を撮像する撮像手段
    と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置したそれぞれ異なる帯
    域を持つ複数のバンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を行う分類手段と、 前記複数のバンドパスフィルタのそれぞれの撮像時の露
    光条件を制御する露光条件制御手段とを具備し、 前記露光条件制御手段は、前記複数のバンドパスフィル
    タに対応して露光量を制限する露光量制限手段を含むこ
    とを特徴とする色分類装置。
  24. 【請求項24】 前記露光量制限手段は、着脱および交
    換可能であるよう構成されていることを特徴とする請求
    項23に記載の色分類装置。
  25. 【請求項25】 前記露光条件制御手段は、前記複数の
    バンドパスフィルタにおける撮像時の露光条件をそれぞ
    れ記憶する露光条件記憶手段を含むことを特徴とする請
    求項23に記載の色分類装置。
  26. 【請求項26】 前記露光条件制御手段は、前記露光条
    件に基づいて撮像されたデータを補正する露光条件補正
    手段とを含むことを特徴とする請求項25に記載の色分
    類装置。
  27. 【請求項27】 前記露光量制限手段は、前記複数のバ
    ンドパスフィルタに対応した複数の開口を有し、前記複
    数のバンドパスフィルタと同期して切替可能な絞り板を
    含むことを特徴とする請求項23乃至26のいずれかに
    記載の色分類装置。
  28. 【請求項28】 前記露光量制限手段は、前記複数のバ
    ンドパスフィルタに対応した透過率の異なる複数のフィ
    ルタを有し、前記複数のバンドパスフィルタと同期して
    切替可能なフィルタ手段を含むことを特徴とする請求項
    23乃至26のいずれかに記載の色分類装置。
  29. 【請求項29】 前記露光量制限手段は、前記複数のバ
    ンドパスフィルタに対応した大きさの異なる複数の非遮
    光部分を持つ遮光板を有し、前記複数のバンドパスフィ
    ルタと同期して切替可能な遮光手段を含むことを特徴と
    する請求項23乃至26のいずれかに記載の色分類装
    置。
  30. 【請求項30】 対象物の反射光を撮像する撮像手段
    と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置したそれぞれ異なる帯
    域を持つ複数のバンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を行う分類手段と、 前記複数のバンドパスフィルタのそれぞれの撮像時の露
    光条件を制御する露光条件制御手段とを具備し、 前記露光条件制御手段は、前記複数のバンドパスフィル
    タのそれぞれの撮像時の露光条件を記憶する露光条件記
    憶手段を含むことを特徴とする色分類装置。
  31. 【請求項31】 前記露光条件制御手段は、前記露光条
    件に基づいて撮像されたデータを補正する露光条件補正
    手段とを含むことを特徴とする請求項30に記載の色分
    類装置。
  32. 【請求項32】 対象物の反射光を撮像する撮像手段
    と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置した、帯域特性を変化
    させることが可能な帯域可変バンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を行う分類手段とを具備し、 前記帯域可変バンドパスフィルタに設定された異なる帯
    域特性のそれぞれの撮像時の露光条件を別々に制御する
    露光条件制御手段を含むことを特徴とする色分類装置。
  33. 【請求項33】 前記露光条件制御手段は、前記帯域可
    変バンドパスフィルタのそれぞれの帯域特性における撮
    像時の露光条件を記憶する露光条件記憶手段含むことを
    特徴とする請求項32に記載の色分類装置。
  34. 【請求項34】 前記露光条件制御手段は、前記露光条
    件に基づいて撮像されたデータを補正する露光条件補正
    手段を含むことを特徴とする請求項33に記載の色分類
    装置。
  35. 【請求項35】 前記露光条件制御手段は、前記露光条
    件記憶手段のデータを基に前記撮像手段の絞り調整手段
    を制御する絞り制御手段を含むことを特徴とする請求項
    30、31、33または34に記載の色分類装置。
  36. 【請求項36】 前記露光条件制御手段は、前記対象物
    と前記撮像手段の間に配置され、透過率を変化させるこ
    とが可能な透過率可変フィルタと、 前記複数のバンドパスフィルタのそれぞれの撮像時に、
    前記露光条件記憶手段のデータを基に前記透過率可変フ
    ィルタの透過率を制御する透過率制御手段とを有するこ
    とを特徴とする請求項30、31、33または34に記
    載の色分類装置。
  37. 【請求項37】 前記撮像手段は、駆動パルスにより露
    光時間が制御可能であり、 前記露光条件制御手段は、前記複数のバンドパスフィル
    タのそれぞれの撮像時に、前記露光条件記憶手段のデー
    タを基に前記撮像手段の露光時間を制御する手段とを有
    することを特徴とする請求項30、31、33または3
    4に記載の色分類装置。
  38. 【請求項38】 対象物の反射光を撮像する撮像手段
    と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置したそれぞれ異なる帯
    域を持つ複数のバンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を行う分類手段と、 前記対象物を照明する光源のスペクトル特性および輝度
    の少なくとも一方を正規化する正規化手段とを具備し、 前記正規化手段は前記光源のデータを得るための光源観
    測手段を含むことを特徴とする色分類装置。
  39. 【請求項39】 対象物の反射光を撮像する撮像手段
    と、 前記対象物の反射光を前記撮像手段に結像させる光学手
    段と、 前記対象物と撮像手段の間に配置した、帯域特性を変化
    させることが可能な帯域可変バンドパスフィルタと、 前記撮像手段によって撮像された対象物の反射分光スペ
    クトルから統計的手法を用いた分類のための分類スペク
    トルを算出し、この分類スペクトルを用いて前記対象物
    の分類を行う分類手段と、 前記対象物を照明する光源のスペクトル特性および輝度
    少なくとも一方を正規化する正規化手段とを具備し、 前記正規化手段は前記光源のデータを得るための光源観
    測手段を含むことを特徴とする色分類装置。
  40. 【請求項40】 前記光源観測手段は、光源の光を反射
    または透過し、かつ散乱させる参照板と、 この参照板の反射光を前記撮像手段に導く第2の光学手
    段とを含むことを特徴とする請求項38または39に記
    載の色分類装置。
  41. 【請求項41】 前記参照板は筺体の上部に備えられ、 前記第2の光学手段は、前記参照板を前記撮像手段に結
    像させるための光学系と、この光学系の光軸を前記撮像
    手段に導くための鏡とを備え、 この鏡の位置が変位可能であることを特徴とする請求項
    39に記載の色分類装置。
  42. 【請求項42】 前記参照板は筺体の上部に備えられ、 前記第2の光学手段は、この参照板の光像を前記撮像手
    段の視野に導くための鏡を有することを特徴とする請求
    項40に記載の色分類装置。
  43. 【請求項43】 前記光源観測手段は、筺体の前部に配
    置され、光源の光を乱反射する参照板と、 この参照板の反射光の強度を検出する光センサと、 前記参照板と前記光センサの間に配置された複数のバン
    ドパスフィルタと、 前記参照板からの反射光を前記光センサに結像させるた
    めの光学手段と、 を具備することを特徴とする請求項38に記載の色分類
    装置。
  44. 【請求項44】 前記参照板と前記光センサの間に配置
    された複数のバンドパスフィルタは、 前記対象物と前記撮像手段の間に配置した複数のバンド
    パスフィルタを兼用することを特徴とする請求項43に
    記載の色分類装置。
  45. 【請求項45】 前記光センサは撮像素子を用いること
    を特徴とする請求項43に記載の色分類装置。
  46. 【請求項46】 前記光源観測手段は、光源の方向を検
    出する光源方向検出手段を含むことを特徴とする請求項
    41、42または45のいずれかに記載の色分類装置。
  47. 【請求項47】 前記光源方向検出手段は、前記参照板
    上に設けられた、光源の方向の変化に応じて、その影の
    形または位置が変化するように棒状または板状の部材
    と、 前記撮像手段で得られる前記参照板の画像データを処理
    し、光源の方向、強度および分光スペクトルを求める照
    明条件検出手段を含むことを特徴とする請求項46に記
    載の色分類装置。
  48. 【請求項48】 前記第2の光学手段は光ファイバで構
    成されることを特徴とする請求項40に記載の色分類装
    置。
  49. 【請求項49】 前記参照板は筺体から分離して使用可
    能であることを特徴とする請求項48に記載の色分類装
    置。
  50. 【請求項50】 前記光源観測手段は、光源からの光の
    分光スペクトルを検出する光源分光センサ手段を含むこ
    とを特徴とする請求項37または38に記載の色分類装
    置。
  51. 【請求項51】 前記光源分光センサ手段は、 透過率を変化させることのできる透過率可変フィルタ
    と、 前記複数のバンドパスフィルタと同じ特性を持つ複数の
    バンドパスフィルタと、 各バンドパスフィルタを透過した光の強度を検出するバ
    ンドパスフィルタと同数の光センサと、 これらの光センサの出力を監視し、透過率可変フィルタ
    の透過率を制御する透過率制御回路と、 前記複数の光センサおよび前記透過率制御回路からの信
    号を入力し、光源の明るさと分光スペクトルを出力する
    照明条件検出回路をとから構成されることを特徴とする
    請求項50に記載の色分類装置。
  52. 【請求項52】 前記光源分光センサ手段は本体の筺体
    から分離して使用可能なことを特徴とする請求項50に
    記載の色分類装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004317188A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Ckd Corp 外観検査装置及びptp包装機
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