JPH0769764B2 - Tablet - Google Patents

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JPH0769764B2
JPH0769764B2 JP32673988A JP32673988A JPH0769764B2 JP H0769764 B2 JPH0769764 B2 JP H0769764B2 JP 32673988 A JP32673988 A JP 32673988A JP 32673988 A JP32673988 A JP 32673988A JP H0769764 B2 JPH0769764 B2 JP H0769764B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、座標入力を行なうタブレットをディスプレ
イと一体としたディスプレイ一体型タブレットに適用し
て好適なタブレットに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a tablet suitable for application to a display-integrated tablet in which a tablet for inputting coordinates is integrated with a display.

[従来の技術] 従来、ディスプレイ一体型タブレットは、第9図に示す
ように、ディスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ別
個独立に形成され、そして、これらを互いに密着させる
ことにより一体に構成される。ここで、例えばディスプ
レイ51としてEL(エレクトロ・ルミネッセンス)表示素
子が用いられ、タブレット52として静電容量結合型のも
のが用いられる。なお、第9図において、53は走査パル
ス検出用のペンである。
[Prior Art] Conventionally, in a display-integrated tablet, as shown in FIG. 9, a display 51 and a tablet 52 are formed separately and independently, and they are integrally formed by bringing them into close contact with each other. Here, for example, an EL (electroluminescence) display element is used as the display 51, and a capacitive coupling type is used as the tablet 52. In FIG. 9, 53 is a pen for detecting a scanning pulse.

[発明が解決しようとする課題] ところで、このように構成されるものによれば、例えば
ペン53の先をタブレット52のガラス面に押し付けること
によりペン53に内蔵した機械的スイッチをオンとして座
標検出動作に入るものであり、操作が煩わしく、また部
品数が多くなる分だけ高価となり、さらに可動部分があ
るため故障の心配もあった。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, according to such a configuration, for example, by pressing the tip of the pen 53 against the glass surface of the tablet 52, a mechanical switch built in the pen 53 is turned on to detect coordinates. However, the operation is troublesome, and the number of parts is large, so the cost is high, and there are also moving parts, and there is a fear of failure.

そこで、この発明では、操作性を良くし、また部品数を
少なくして安価とし、さらに可動部分をなくして故障の
心配をなくしたタブレットを提供することを目的とする
ものである。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a tablet which has good operability, is made inexpensive by reducing the number of parts, and has no moving parts so that there is no fear of failure.

[課題を解決するための手段] この発明は、マトリックスパネルと、行電極ドライバ
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、行電極ドライバよりパネルの
行電極に順次供給される走査パルスが検出用導体で検出
されて行座標検出部に供給されることにより行座標が検
出されると共に、列電極ドライバよりパネルの列電極に
順次供給される走査パルスが検出用導体で検出されて列
座標検出部に供給されることにより列座標が検出される
タブレットであって、上記パネルの行電極および列電極
の少なくとも一方は、対応する電極ドライバより、同一
パルス幅の走査パルスが、パルス幅よりも短い位相だけ
順次遅れて供給されるようにしたものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention includes a matrix panel, a row electrode driver, a column electrode driver, a row coordinate detection unit, a column coordinate detection unit, and a detection conductor, The scanning pulse sequentially supplied to the row electrodes of the panel is detected by the detection conductor and is supplied to the row coordinate detection unit to detect the row coordinates, and the column electrodes are sequentially supplied to the column electrodes of the panel. A tablet in which the column coordinates are detected by the scanning pulse being detected by the detection conductor and being supplied to the column coordinate detection unit, wherein at least one of the row electrode and the column electrode of the panel is provided by a corresponding electrode driver, The scanning pulse having the same pulse width is sequentially delayed by a phase shorter than the pulse width.

[作用] 上述構成においては、パネルの行電極および列電極の少
くとも一方は、同一パルス幅の走査パルスがパルス幅よ
りも短い位相だけ順次遅れて供給される、つまり、隣り
合う複数の電極に対して走査パルスが部分的に重なり合
いながら供給されるので、検出用導体の検出信号のレベ
ルが大きくなる。
[Operation] In the above-described configuration, at least one of the row electrode and the column electrode of the panel is supplied with the scanning pulse having the same pulse width sequentially delayed by a phase shorter than the pulse width, that is, to adjacent electrodes. On the other hand, since the scanning pulses are supplied while partially overlapping with each other, the level of the detection signal of the detection conductor increases.

[実施例] 以下、第1図を参照しながら、この発明の一実施例につ
いて説明する。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

同図において、1は薄膜ELマトリックスパネルであり、
y1,y2,・・・・,ynは行電極、x1,x2,・・・・,xmは列電
極である。
In the figure, 1 is a thin film EL matrix panel,
y1, y2, ..., Yn are row electrodes, and x1, x2, ..., Xm are column electrodes.

また、2は行電極ドライバであり、その複数の出力端子
はそれぞれパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに接続
される。また、3は列電極ドライバであり、その複数の
出力端子はそれぞれパネル1の列電極x1,x2,・・・・,x
mに接続される。
A row electrode driver 2 has a plurality of output terminals connected to the row electrodes y1, y2, ..., Yn of the panel 1, respectively. Further, 3 is a column electrode driver, and the plurality of output terminals thereof are the column electrodes x1, x2, ..., x of the panel 1, respectively.
connected to m.

これら行電極ドライバ2および列電極ドライバ3の動作
はタイミング発生回路4によって制御される。
The operations of the row electrode driver 2 and the column electrode driver 3 are controlled by the timing generation circuit 4.

第2図に示すように、表示モードでは、行電極ドライバ
2より行電極y1,y2,・・・・,ynに1電極単位で順次走
査パルスPyが供給されると共に、列電極ドライバ3より
列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに対応した電
圧VSDが1走査線ごとに同時に供給される。
As shown in FIG. 2, in the display mode, the row electrode driver 2 sequentially supplies the scan electrodes P1, y2, ..., Yn to the row electrodes y1, y2, ... The voltage VSD corresponding to the display data SD is simultaneously supplied to the electrodes x1, x2, ..., Xm for each scanning line.

また、行座標(y座標)の検出モードでは、行電極ドラ
イバ2より行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給される。この場合、走査パルスPy′のパルス
幅は広くされ、行電極y1,y2,・・・・,ynのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPy′が供給された状態で順次走査される。
In the row coordinate (y coordinate) detection mode, the row electrode driver 2 sequentially scans the row electrodes y1, y2, ...
y'is supplied. In this case, the pulse width of the scan pulse Py ′ is widened, and the scan pulse Py ′ is simultaneously supplied to a plurality of adjacent electrodes, for example, 20 electrodes among the row electrodes y1, y2, ..., Yn. Are sequentially scanned in the open state.

また、列座標(x座標)の検出モードでは、列電極ドラ
イバ3より列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給される。この場合、走査パルスPx′のパルス
幅も広くされ、列電極x1,x2,・・・・,xmのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPx′が供給された状態で順次走査される。
In the column coordinate (x coordinate) detection mode, the column electrode driver 3 sequentially scans the column electrodes x1, x2, ...
x'is supplied. In this case, the pulse width of the scan pulse Px ′ is also widened, and the scan pulse Px ′ is simultaneously supplied to a plurality of adjacent electrodes of the column electrodes x1, x2, ..., Xm, for example, 20 electrodes. Are sequentially scanned in the open state.

そして、表示モードの期間、行座標の検出モードの期間
および列座標の検出モードの期間は各フレームに時分割
的に設けられる。なお、その順序は図示の例に限られる
ものでなく、任意である。
The display mode period, the row coordinate detection mode period, and the column coordinate detection mode period are time-divided in each frame. It should be noted that the order is not limited to the example shown in the figure, and may be arbitrary.

ここで、表示モードのときの走査パルスPyの極性は、1
フレームごとに反転するようにされる。また、座標検出
モードのときの走査パルスPy′,Px′の極性も、それぞ
れ1フレームごとに反転するようにすることが望ましい
が、回路の簡単化のため片極性のパルスとしてもよい。
この場合は、電圧は低い方がよいが、あまり低くすると
S/Nよく走査パルスPy′,Px′を検出することができなく
なる。
Here, the polarity of the scan pulse Py in the display mode is 1
It is made to invert every frame. Further, it is desirable that the polarities of the scanning pulses Py ′ and Px ′ in the coordinate detection mode are also inverted for each frame, but they may be unipolar pulses for simplification of the circuit.
In this case, lower voltage is better, but if it is too low,
S / N cannot detect the scan pulses Py ′ and Px ′ well.

例えば、表示モードにおいては、発光閾値電圧が±200V
に対し、行電極y1,y2,・・・・,ynに走査パルスPyとし
て+215Vあるいは−165V、列電極x1,x2,・・・・,xmに
電圧VSDとして+50Vあるいは0Vが選択的に供給され、発
光画素部には±215V、非発光画素部には±165Vが1フレ
ームごとに交互に極性が反転されて供給される。また、
行座標の検出モードにおいては、行電極y1,y2,・・・
・,ynに走査パルスPy′として+25Vが供給され、列座標
の検出モードにおいては、列電極x1,x2,・・・・,xmに
走査パルスPx′として+25Vが供給される。
For example, in the display mode, the light emission threshold voltage is ± 200V.
On the other hand, + 215V or -165V is selectively supplied to the row electrodes y1, y2, ..., yn as the scan pulse Py, and + 50V or 0V is selectively supplied to the column electrodes x1, x2, ..., xm as the voltage VSD. , ± 215 V is supplied to the light emitting pixel portion, and ± 165 V is supplied to the non-light emitting pixel portion with the polarities alternately inverted for each frame. Also,
In the row coordinate detection mode, the row electrodes y1, y2, ...
, Yn is supplied with + 25V as the scanning pulse Py ′, and in the column coordinate detection mode, + 25V is supplied as the scanning pulse Px ′ to the column electrodes x1, x2, ..., Xm.

以上の構成において、表示モードでは、行電極y1,y2,・
・・・,ynに1電極単位で順次走査パルスPyが供給され
ると共に、列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに
対応した電圧VSDが1走査線ごとに同時に供給されるた
め、線順次走査による表示駆動となり、表示データSDに
対応した画像が表示される。
With the above configuration, in the display mode, the row electrodes y1, y2, ...
..., yn is sequentially supplied with a scanning pulse Py in units of one electrode, and the column electrodes x1, x2, ..., xm are simultaneously supplied with a voltage VSD corresponding to the display data SD for each scanning line. Therefore, display driving is performed by line-sequential scanning, and an image corresponding to the display data SD is displayed.

また、5はペンシル状導体(以下「ペン」という)であ
り、このペン5をパネル1の任意位置に接触させること
で静電容量結合により走査パルスが検出される。
Reference numeral 5 denotes a pencil-shaped conductor (hereinafter referred to as "pen"), and by bringing the pen 5 into contact with an arbitrary position on the panel 1, a scanning pulse is detected by capacitive coupling.

この場合、上述したように座標検出モードにおいては、
隣り合った複数の電極に同時に走査パルスPy′,Px′が
供給された状態で順次走査されるので、ひとつの電極の
みに走査パルスPy′,Px′が供給されるものに比べて、
ペン5の検出信号のレベルは増大する。第3図を参照し
て、このことについて詳細に説明する。
In this case, in the coordinate detection mode as described above,
Since the scanning pulses Py ′, Px ′ are simultaneously supplied to a plurality of adjacent electrodes at the same time, the scanning pulses Py ′, Px ′ are supplied to only one electrode.
The level of the detection signal of the pen 5 increases. This will be described in detail with reference to FIG.

同図において、41はペンシル状導体(以下「ペン」とい
う)、42は薄膜ELマトリックスパネルのガラス板であ
る。43はマトリックス電極であり、本来行電極と列電極
の2層からなるが、説明の簡単化のため、1層のみを示
している。44は走査用の切換スイッチ、45は走査パルス
用の電源、46は走査パルス検出用のアンプ(第1図にお
いてはアンプ6)の入力インピーダンスである。
In the figure, 41 is a pencil-shaped conductor (hereinafter referred to as "pen"), and 42 is a glass plate of a thin film EL matrix panel. Reference numeral 43 denotes a matrix electrode, which is originally composed of two layers of a row electrode and a column electrode, but only one layer is shown for simplification of description. 44 is a changeover switch for scanning, 45 is a power source for scanning pulse, and 46 is an input impedance of an amplifier for scanning pulse detection (amplifier 6 in FIG. 1).

ペン41と電極43との間には、図示のようにコンデンサが
存在し、電極番号iに対応してその容量をCiとする。ま
た、電極43は、j≦i−1またはj≧i+4では接地さ
れ、i≦j≦i+3では電源45に接続されているものと
する。なお、電極43の数はnで、1≦j≦nとする。
A capacitor exists between the pen 41 and the electrode 43 as shown in the figure, and its capacitance is designated as Ci corresponding to the electrode number i. The electrode 43 is grounded when j ≦ i−1 or j ≧ i + 4 and connected to the power supply 45 when i ≦ j ≦ i + 3. The number of electrodes 43 is n, and 1 ≦ j ≦ n.

第4図は、この場合の等価回路を示したものである。こ
こで、 CVS=Ci+Ci+1+Ci+2+Ci+3 CGND=C1+C2+…+Ci−1+Ci+4+…+Cn であり、ペン41による検出信号vsは、 |Zin|≫1/ωCGND に選べば次式のようになる。|Zin|は入力インピーダン
ス46の大きさである。
FIG. 4 shows an equivalent circuit in this case. Here, CVS = Ci + Ci + 1 + Ci + 2 + Ci + 3 CGND = C1 + C2 + ... + Ci-1 + Ci + 4 + ... + Cn, and the detection signal vs by the pen 41 becomes | Zin | >> 1 / ωCGND as follows. | Zin | is the magnitude of the input impedance 46.

ここで、VSは電源45の電圧値、Coはペン41と電極43間で
形成される全容量であり、CVS+CGNDである。
Here, VS is the voltage value of the power supply 45, Co is the total capacitance formed between the pen 41 and the electrode 43, and is CVS + CGND.

この(1)式から明らかなように、電極43に1電極ずつ
電源45を供給する方式では、nが数百の場合には、CVS
≪Coとなるため、検出信号vsが小さく、走査パルスの検
出が困難となる。しかし、本例のように同時に電源45が
供給される電極43の数を多くすると、それに応じてCVS
が大きくなって検出信号vsが大きくなり、走査パルスの
検出が容易となる。
As is clear from the equation (1), in the system in which the power supply 45 is supplied to the electrodes 43 one electrode at a time, when n is several hundreds, CVS
Since << Co, the detection signal vs is small, and it becomes difficult to detect the scanning pulse. However, if the number of electrodes 43 to which the power supply 45 is simultaneously supplied is increased as in this example, the CVS is correspondingly increased.
Becomes larger, the detection signal vs becomes larger, and the detection of the scanning pulse becomes easier.

この場合、電極43によって形成されるコンデンサの容量
Ciは、第5図に示すようにペン41から遠くなる程小さく
なり、例えば電極ピッチ0.3mm、ガラス厚2.4mmの場合
で、左右10電極付近より遠方ではその影響は無視でき
る。したがって、同時に電源45が供給される電極43の数
は20もあればよく、それ以上増やしても検出信号のレベ
ル増大効果は期待できない。
In this case, the capacitance of the capacitor formed by the electrode 43
As shown in FIG. 5, Ci becomes smaller as it gets farther from the pen 41. For example, in the case where the electrode pitch is 0.3 mm and the glass thickness is 2.4 mm, the influence can be neglected at a distance far from the left and right 10 electrodes. Therefore, the number of electrodes 43 to which the power source 45 is supplied at the same time may be 20, and even if the number of electrodes 43 is increased more, the effect of increasing the level of the detection signal cannot be expected.

第1図において、このペン5の検出信号はアンプ6に供
給されて増幅され、このアンプ6からの検出信号vsはコ
ンパレータ7に供給されて基準電圧Vrと比較される。ペ
ン5の検出信号のアンプ6の出力電圧vsは、第6図に示
すようにペン5とガラス板との距離dに略反比例して減
少する。基準電圧Vrは、距離dをdoとしたときの検出信
号vsのレベルと等しく設定される。後述するように距離
doは座標検出動作に入る位置であり、予め操作性を考慮
して決定され、例えば1mmとされる。ペン5がガラス上
(ガラス厚=2.4mm)、即ちd=2.4mmのとき検出信号vs
が3V、d=4mmのとき検出信号vsは1Vとなる。したがっ
て、この場合には、Vr=2Vとすれば、do=3.4mmとな
り、ガラス板表面から1mmの距離になる。
In FIG. 1, the detection signal of the pen 5 is supplied to and amplified by the amplifier 6, and the detection signal vs from the amplifier 6 is supplied to the comparator 7 and compared with the reference voltage Vr. The output voltage vs of the amplifier 6 of the detection signal of the pen 5 decreases substantially in inverse proportion to the distance d between the pen 5 and the glass plate, as shown in FIG. The reference voltage Vr is set equal to the level of the detection signal vs when the distance d is do. Distance as described below
do is a position for entering the coordinate detection operation, is determined in advance in consideration of operability, and is set to 1 mm, for example. Detection signal vs when pen 5 is on glass (glass thickness = 2.4 mm), that is, d = 2.4 mm
Is 3V and d = 4 mm, the detection signal vs becomes 1V. Therefore, in this case, if Vr = 2V, do = 3.4 mm, which is a distance of 1 mm from the glass plate surface.

このコンパレータ7からは、検出信号vsが基準電圧Vrよ
り大きいときには高レベル“1"の信号が出力され、一方
検出信号vsが基準電圧Vrより小さいときには低レベル
“0"の信号が出力される。そして、このコンパレータ7
の出力信号はアンド回路8に供給される。
The comparator 7 outputs a high level "1" signal when the detection signal vs is larger than the reference voltage Vr, and outputs a low level "0" signal when the detection signal vs is smaller than the reference voltage Vr. And this comparator 7
Is output to the AND circuit 8.

また、アンプ6からの検出信号vsは、ピーク時点検出回
路9に供給され、このピーク時点検出回路9からは、検
出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力され
ると共に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力
される。そして、このピーク時点検出回路9の出力信号
はアンド回路8に供給される。
Further, the detection signal vs from the amplifier 6 is supplied to the peak time detection circuit 9, and the peak time detection circuit 9 outputs a high level “1” signal at the peak time of the detection signal vs. At the time of, a low level “0” signal is output. Then, the output signal of the peak time point detection circuit 9 is supplied to the AND circuit 8.

アンド回路8からは、検出信号vsが基準電圧Vrより大き
く、かつ検出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号
が出力されると共に、その他のときには低レベル“0"の
信号が出力される。このアンド回路8の出力信号は、行
座標検出部10および列座標検出部11に供給される。この
場合、行座標検出部10は、例えばカウンタで構成され、
タイミング発生回路4より、行座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウント動作がストップされ
る。したがって、行座標検出部10からは、ペン5が接触
されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が行座
標出力として得られる。
From the AND circuit 8, the detection signal vs is higher than the reference voltage Vr, and a high level "1" signal is output at the peak time of the detection signal vs, and a low level "0" signal is output at other times. It The output signal of the AND circuit 8 is supplied to the row coordinate detecting section 10 and the column coordinate detecting section 11. In this case, the row coordinate detection unit 10 is composed of, for example, a counter,
A reset signal is supplied from the timing generation circuit 4 before the row coordinate detection mode is entered, and the reset signal is reset.
Sequential scan pulse P to the row electrodes y1, y2, ..., yn of panel 1
The clock is supplied and counted at the timing when y'is supplied, and the counting operation is stopped at the timing when the output signal of the AND circuit 8 becomes the high level "1". Therefore, the row coordinate detection unit 10 obtains a count value corresponding to an arbitrary position of the panel 1 with which the pen 5 is in contact as a row coordinate output.

また、列座標検出部11も、例えばカウンタで構成され、
タイミング発生回路4より、列座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウントで動作がストップさ
れる。したがって、列座標検出部11からは、ペン5が接
触されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が列
座標出力として得られる。
The column coordinate detection unit 11 is also composed of, for example, a counter,
A reset signal is supplied from the timing generation circuit 4 before the column coordinate detection mode is set and reset, and
Sequential scan pulse P to the column electrodes x1, x2, ..., xm of panel 1
The clock is supplied and counted at the timing when x'is supplied, and the operation is stopped at the timing when the output signal of the AND circuit 8 becomes the high level "1". Therefore, from the column coordinate detection unit 11, a count value corresponding to an arbitrary position of the panel 1 with which the pen 5 is in contact is obtained as a column coordinate output.

第7図は、実施例の具体構成を示す図である。第7図に
おいて、第1図と対応する部分には同一符号を付して示
している。
FIG. 7 is a diagram showing a specific configuration of the embodiment. In FIG. 7, parts corresponding to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

同図において、21はパネル1の行電極y1,y2,・・・・,y
nの電極数に対応した段数を有するシフトレジスタ、22
はその電極数に対応したアンド回路2A1〜2An、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2En、NチャネルFET2N1〜2Nnお
よびPチャネルFET2P1〜2Pn等を有するドライバ、23は
電源VW+(+215V)、接地(0V)および電源1/2VD(+25
V)を切換えるための切換スイッチ、24は電源VW-(−16
5V)および接地(0V)を切換えるための切換スイッチで
あり、これらシフトレジスタ21、ドライバ22、切換スイ
ッチ23,24によって行電極ドライバ2が構成される。
In the figure, 21 is the row electrodes y1, y2, ..., Y of panel 1.
a shift register having a number of stages corresponding to the number of electrodes of n, 22
Is a driver having AND circuits 2A1 to 2An, exclusive NOR circuits 2E1 to 2En, N channel FETs 2N1 to 2Nn and P channel FETs 2P1 to 2Pn corresponding to the number of electrodes, and 23 is a power source V W + (+ 215V), ground (0V) and Power supply 1 / 2VD (+25
Changeover switch for switching V), 24 is the power supply V W- (−16
It is a changeover switch for switching between 5V) and ground (0V). The shift register 21, the driver 22, and the changeover switches 23 and 24 constitute the row electrode driver 2.

すなわち、シフトレジスタ21のn段の出力端子は、それ
ぞれドライバ22のアンド回路2A1〜2Anの入力側に接続さ
れ、このアンド回路2A1〜2Anの出力側はそれぞれエクス
クルーシブノア回路2E1〜2Enの入力側に接続され、この
エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enの出力側はそれぞれ
NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートに接続されると共に、
PチャネルFET2P1〜2Pnのゲートに接続される。
That is, the output terminals of the n stages of the shift register 21 are respectively connected to the input sides of the AND circuits 2A1 to 2An of the driver 22, and the output sides of the AND circuits 2A1 to 2An are connected to the input sides of the exclusive NOR circuits 2E1 to 2En, respectively. The output side of the exclusive NOR circuits 2E1 to 2En are connected to the gates of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn, respectively, and
It is connected to the gates of P-channel FETs 2P1 to 2Pn.

また、PチャネルFET2P1〜2Pnのソースはそれぞれ切換
スイッチ23の可動端子に接続され、この切換スイッチ23
のa側の固定端子は電源VW+に接続され、そのb側の固
定端子は接地され、そのc側の固定端子は電源1/2VDに
接続される。この切換スイッチ23の切換えはタイミング
発生回路4によって制御される。
The sources of the P-channel FETs 2P1 to 2Pn are connected to the movable terminals of the changeover switch 23, respectively.
The fixed terminal on the side a is connected to the power supply V W + , the fixed terminal on the side b is grounded, and the fixed terminal on the side c is connected to the power supply 1 / 2VD. The switching of the changeover switch 23 is controlled by the timing generation circuit 4.

また、NチャネルFET2N1〜2Nnのソースはそれぞれ切換
スイッチ24の可動端子に接続される。この切換スイッチ
24のa側の固定端子は電源VW-に接続され、そのb側の
固定端子は接地される。この切換スイッチ24の切換えは
タイミング発生回路4によって制御される。
The sources of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn are connected to the movable terminals of the changeover switch 24, respectively. This changeover switch
The fixed terminal on the a side of 24 is connected to the power supply V W-, and the fixed terminal on the b side is grounded. The switching of the changeover switch 24 is controlled by the timing generation circuit 4.

そして、NチャネルFET2N1〜2Nnのドレインは、それぞ
れPチャネルFET2P1〜2Pnのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに
接続される。なお、NチャネルFET2N1〜2Nn,PチャネルF
ET2P1〜2Pnのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。
The drains of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn are connected to the drains of the P-channel FETs 2P1 to 2Pn, respectively, and the respective connection points are connected to the row electrodes y1, y2, ..., Yn of the panel 1. N channel FETs 2N1 to 2Nn, P channel F
Diodes are connected between the drains and sources of the ET2P1 to 2Pn.

この場合、表示モードでは、タイミング発生回路4より
アンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図C,Qにy
イネーブルとして図示)が供給される。そして、あるフ
レームでは、切換スイッチ23はa側に接続されてPチャ
ネルFET2P1〜2Pnのソースに電源VW+が供給され(第8図
Eに図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャ
ネルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される
反転/非反転制御信号(第8図Dにy反転/非反転とし
て図示)は低レベル“0"とされる。一方、次のフレーム
では、切換スイッチ23はb側に接続されてPチャネルFE
T2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図Eに図示)、切
換スイッチ24はa側に接続されてNチャネルFET2N1〜2N
nのソースには、電源VW-が接続され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は高レベル“1"とされる。
In this case, in the display mode, the timing generation circuit 4 enables the AND signals 2A1 to 2An to the enable signals (see C and Q in FIG.
Is shown as enable). Then, in a certain frame, the changeover switch 23 is connected to the a side, the power source V W + is supplied to the sources of the P-channel FETs 2P1 to 2Pn (shown in FIG. 8E), and the changeover switch 24 is connected to the b side to N. The sources of the channel FETs 2N1 to 2Nn are grounded (shown in FIG. 8F), and the inverting / non-inverting control signals (shown as y inverting / non-inverting in FIG. 8D) supplied to the exclusive NOR circuits 2E1 to 2En are low. Level 0. On the other hand, in the next frame, the changeover switch 23 is connected to the b side and the P channel FE
The sources of T2P1 to 2Pn are grounded (shown in FIG. 8E), the changeover switch 24 is connected to the a side, and N-channel FETs 2N1 to 2N are connected.
The power source V W- is connected to the source of n (shown in FIG. 8F), and the inverting / non-inverting control signal is set to the high level “1”.

また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ21に走
査パルスPy用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図B,Nにyク
ロックとして図示)が供給される。この走査パルスPy用
のデータとしては、行電極y1,y2,・・・,ynを1本ずつ
順次走査するため、1クロック分だけ高レベル“1"が続
くようにされる。
Further, the timing generating circuit 4 supplies the scan register Py data (illustrated as y data in FIG. 8A) to the shift register 21 and the clock (illustrated as y clock in FIG. 8B, N). To be done. As the data for the scan pulse Py, since the row electrodes y1, y2, ..., Yn are sequentially scanned one by one, the high level “1” continues for one clock.

したがって、あるフレームでは、PチャネルFET2P1〜2P
nのゲートに順次低レベル“0"の信号が供給されてオン
となり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査
パルスPyとして1電極単位で順次電源VW+が供給され
る。次のフレームでは、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲー
トに順次高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査パルスPy
として1電極単位で順次電源VW-が供給される。
Therefore, in a certain frame, P-channel FETs 2P1 to 2P
A low level "0" signal is sequentially supplied to the gates of n to be turned on, and the row electrodes y1, y2, ..., Yn of the panel 1 are sequentially supplied with the power supply V W + as a scanning pulse Py on an electrode-by-electrode basis. To be done. In the next frame, a high level “1” signal is sequentially supplied to the gates of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn to turn them on,
Scan pulse Py is applied to the row electrodes y1, y2, ..., Yn of panel 1.
As a result, the power supply V W- is sequentially supplied for each electrode.

また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図Cに
yイネーブルとして図示)が供給される。そして、切換
スイッチ23はc側に接続されてPチャネルFET2P1〜2Pn
のソースに電源1/2VDが供給され(第8図Eに図示)、
切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネルFET2N1〜
2Nnのソースは接地され(第8図Fに図示)、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される反転/非反転制
御信号(第8図Dに反転/非反転として図示)は低レベ
ル“0"とされる。
In the row coordinate detection mode, the timing generation circuit 4
The AND circuits 2A1 to 2An are supplied with enable signals (shown as y-enable in FIG. 8C). The change-over switch 23 is connected to the c side to connect the P-channel FETs 2P1 to 2Pn.
1 / 2VD power is supplied to the source of (as shown in Fig. 8E),
The changeover switch 24 is connected to the b side and connected to the N-channel FET 2N1.
The source of 2Nn is grounded (shown in FIG. 8F), and the inverted / non-inverted control signal (shown as inverted / non-inverted in FIG. 8D) supplied to the exclusive NOR circuits 2E1 to 2En is low level “0”. It is said that

また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ21に走
査パルスPy′用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図Bにyクロ
ックとして図示)が供給される。この走査パルスPy′用
のデータは、行電極y1,y2,・・・,ynのうち隣り合った
複数本、例えば20本の電極を同時に走査するため、20ク
ロック分だけ高レベル“1"が続くようにされる。
Further, the timing generating circuit 4 supplies the shift register 21 with data for the scanning pulse Py '(shown as y data in FIG. 8A) and a clock (shown as y clock in FIG. 8B). It The data for this scan pulse Py ′ is a high level “1” for 20 clocks because a plurality of adjacent electrodes, for example, 20 electrodes of the row electrodes y1, y2, ..., Yn are simultaneously scanned. To be continued.

したがって、PチャネルFET2P1〜2Pnのうち隣り合った2
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynのう
ち隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPy′として
電源1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
Therefore, two adjacent P-channel FETs 2P1 to 2Pn
A low level "0" signal is simultaneously supplied to 0 gates to be turned on, and the scan pulse Py 'is simultaneously applied to 20 adjacent electrodes of the row electrodes y1, y2, ..., Yn of the panel 1. The power source 1 / 2VD is supplied as, and scanning is performed sequentially in this state.

また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anに供給されるイネーブル信号
(第8図Cにyイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。そして、切換スイッチ23はb側に接続されて
PチャネルFET2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図E
に図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネ
ルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は低レベル“0"とされる。
したがって、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートには高レ
ベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パネル1の行
電極y1,y2,・・・・,ynは全て接地される。
In the column coordinate detection mode, the timing generation circuit 4
The enable signal (illustrated as y-enable in FIG. 8C) supplied to the AND circuits 2A1 to 2An is at the low level "0".
It is said that The changeover switch 23 is connected to the b side, and the sources of the P-channel FETs 2P1 to 2Pn are grounded (see FIG. 8E).
, And the sources of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn are grounded (shown in FIG. 8F), and the inversion / non-inversion control signal is at low level "0".
Therefore, a high level "1" signal is supplied to the gates of the N-channel FETs 2N1 to 2Nn to turn them on, and the row electrodes y1, y2, ..., Yn of the panel 1 are all grounded.

また、31はパネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmの電極
数に対応した段数を有するシフトレジスタ、32はその電
極数に対応した段数を有するラッチ回路、33はその電極
数に対応したナンド回路3A1〜3Am、NチャネルFET3N1〜
3NmおよびPチャネルFET3P1〜3Pm等を有するドライバ、
34は可変電源回路であり、これらシフトレジスタ31、ラ
ッチ回路32、ドライバ33、可変電源回路34によって列電
極ドライバ3が構成される。
Further, 31 is a shift register having a number of stages corresponding to the number of electrodes of the column electrodes x1, x2, ..., Xm of the panel 1, 32 is a latch circuit having a number of stages corresponding to the number of electrodes, and 33 is the number of electrodes thereof. Corresponding to the NAND circuit 3A1 to 3Am, N channel FET3N1 to
A driver having 3Nm and P-channel FETs 3P1 to 3Pm,
Reference numeral 34 is a variable power supply circuit, and the shift register 31, the latch circuit 32, the driver 33, and the variable power supply circuit 34 constitute the column electrode driver 3.

すなわち、シフトレジスタ31のm段の出力端子は、それ
ぞれラッチ回路32を介してドライバ33のナンド回路3A1
〜3Amの入力側に接続され、このナンド回路3A1〜3Amの
出力側はそれぞれNチャネルFET3N1〜3Nmのゲートに接
続されると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのゲートに接
続される。
That is, the output terminals of the m stages of the shift register 31 are respectively connected to the NAND circuit 3A1 of the driver 33 via the latch circuit 32.
.About.3Am input side, and the output sides of the NAND circuits 3A1 to 3Am are connected to the gates of the N-channel FETs 3N1 to 3Nm and the gates of the P-channel FETs 3P1 to 3Pm, respectively.

また、PチャネルFET3P1〜3Pmのソースは可変電源回路3
4の出力側に接続され、この可変電源回路34の入力側に
は電源1/2VDが接続される。この可変電源回路34はタイ
ミング発生回路4によって制御され、表示モードにはVD
が出力され、座標検出モードには1/2VDが出力される
(第8図Kに図示)。また、NチャネルFET3N1〜3Nmの
ソースはそれぞれ接地される。
The sources of the P-channel FETs 3P1 to 3Pm are the variable power supply circuit 3
4 is connected to the output side, and the variable power circuit 34 has an input side connected to the power supply 1 / 2VD. The variable power supply circuit 34 is controlled by the timing generation circuit 4, and VD is set in the display mode.
Is output, and 1 / 2VD is output in the coordinate detection mode (illustrated in FIG. 8K). The sources of the N-channel FETs 3N1 to 3Nm are grounded.

そして、PチャネルFET3P1〜3Pmのドレインは、それぞ
れNチャネルFET3N1〜3Nmのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに
接続される。なお、NチャネルFET3N1〜3Nm,PチャネルF
ET3P1〜3Pmのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。この場合、表示モードでは、タ
イミング発生回路4よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブ
ル信号(第8図J,Qにxイネーブルとして図示)が供給
される。
The drains of the P-channel FETs 3P1 to 3Pm are connected to the drains of the N-channel FETs 3N1 to 3Nm, respectively, and their connection points are connected to the column electrodes x1, x2, ..., Xm of the panel 1. N channel FETs 3N1 to 3Nm, P channel F
A diode is connected between each drain and source of ET3P1 to 3Pm. In this case, in the display mode, the timing generation circuit 4 supplies the enable signals (illustrated as x enable in FIGS. 8A and 8B) to the NAND circuits 3A1 to 3Am.

また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ31にデ
ータ(第8図H,Oにxデータとして図示)が供給される
と共に、シフトレジスタ31にクロック(第8図I,Pにx
クロックとして図示)が供給される。この場合、行電極
y1,y2,・・・,ynに走査パルスPyとして電源VW+が供給さ
れるあるフレームでは、表示データSDの反転されたデー
タが供給され、一方走査パルスPyとして電源VW-が供給
される次のフレームでは、表示データSDがそのまま供給
される。
Further, the timing generator circuit 4 supplies data to the shift register 31 (shown as x data in FIG. 8H and O), and also supplies a clock to the shift register 31 (x to x in FIG. 8I and P).
(Illustrated as a clock) is supplied. In this case, the row electrode
In one frame in which the power V W + is supplied as the scan pulse Py to y1, y2, ..., Yn, the inverted data of the display data SD is supplied, while the power V W- is supplied as the scan pulse Py. In the next frame, the display data SD is supplied as it is.

そして、シフトレジスタ31にデータが順次供給されて1
走査線分のm個のデータがセットされるごとに、タイミ
ング発生回路4よりラッチ回路32にロード信号(第8図
L,Nにxロードとして図示)が供給されて1走査線分の
m個のデータはラッチ回路32でラッチされ、そして、シ
フトレジスタ31にm個のデータが順次供給される次の1
走査線期間の間保持される。これによりELの発光に充分
な期間、例えば40μsec程度が確保される。
Then, the data is sequentially supplied to the shift register 31
Each time m pieces of data for a scanning line are set, a load signal (see FIG. 8) is sent from the timing generation circuit 4 to the latch circuit 32.
L data are supplied as x loads to L and N, m data for one scanning line are latched by the latch circuit 32, and m data are sequentially supplied to the shift register 31.
It is held for the scan line period. As a result, a sufficient period for EL emission, for example, about 40 μsec is secured.

したがって、行電極y1,y2,・・・,ynに走査パルスPyと
して電源VW+が供給されるあるフレームでは、1走査線
ごとにNチャネルFET3N1〜3Nmのうち表示画素部に対応
したもののゲートに高レベル“1"の信号が供給されてオ
ンとされると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのうち非表
示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の信号
が供給されてオンとされ、パネル1の列電極x1,x2,・・
・,xmのうち表示画素部に対応した電極は接地されると
共に、非表示画素部に対応した電極には電圧VDが供給さ
れる。
Therefore, in a certain frame in which the power supply V W + is supplied to the row electrodes y1, y2, ..., Yn as the scanning pulse Py, the gate of one of the N-channel FETs 3N1 to 3Nm corresponding to the display pixel portion is provided for each scanning line. A high level “1” signal is supplied to turn on, and a low level “0” signal is supplied to the gate of one of the P-channel FETs 3P1 to 3Pm corresponding to the non-display pixel section to turn on. 1 column electrode x1, x2, ...
The electrode corresponding to the display pixel portion of xm is grounded, and the voltage VD is supplied to the electrode corresponding to the non-display pixel portion.

一方、走査パルスPyとして電源VW-供給される次のフレ
ームでは、1走査線ごとにPチャネルFET3P1〜3Pmのう
ち表示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の
信号が供給されてオンとされると共に、NチャネルFET3
N1〜3Nmのうち非表示画素部に対応したもののゲートに
高レベル“1"の信号が供給されてオンとされ、パネル1
の列電極x1,x2,・・・,xmのうち表示画素部に対応した
電極には電圧VDが供給されると共に、非表示画素部に対
応した電極は接地される。
On the other hand, the power supply V W- next frame is supplied as a scanning pulse Py, 1 to the gate of a corresponding one to the display pixel portion of the P-channel FET3P1~3Pm every scanning line is supplied with a signal of low level "0" When turned on, N-channel FET3
A high level “1” signal is supplied to the gate of one of N1 to 3Nm corresponding to the non-display pixel portion to turn it on, and the panel 1
, Xm of the column electrodes x1, x2, ..., Xm are supplied with the voltage VD, and the electrodes corresponding to the non-display pixel portion are grounded.

また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3Amに供給されるイネーブル信号
(第8図Jにxイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。したがって、NチャネルFET3N1〜3Nmのゲー
トには高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パ
ネル1の列電極は全て接地される。
In the row coordinate detection mode, the timing generation circuit 4
The enable signal (shown as x-enable in FIG. 8J) supplied to the NAND circuits 3A1 to 3Am is low level "0".
It is said that Therefore, a high level "1" signal is supplied to the gates of the N-channel FETs 3N1 to 3Nm to turn them on, and all the column electrodes of the panel 1 are grounded.

また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブル信号(第8図Jに
xイネーブルとして図示)が供給される。そして、タイ
ミング発生回路4よりシフトレジスタ31に走査パルスP
x′用のデータ(第8図Hにxデータとして図示)が供
給されると共に、クロック(第8図Iにxクロックとし
て図示)が供給される。この走査パルスPx′用のデータ
は、列電極x1,x2,・・・,xmのうち隣り合った複数本、
例えば20本の電極を同時に走査するため、20クロック分
だけ高レベル“1"が続くようにされる。なお、タイミン
グ発生回路4よりラッチ回路32にはロード信号(第8図
Lにxロードとして図示)が供給され続け、このラッチ
回路32はスルーモードとされる。
In the column coordinate detection mode, the timing generation circuit 4
The enable signals (shown as x-enable in FIG. 8J) are supplied from the NAND circuits 3A1 to 3Am. Then, the timing generator circuit 4 causes the shift register 31 to scan pulse P
Data for x '(shown as x data in FIG. 8H) is supplied, and a clock (shown as x clock in FIG. 8I) is supplied. The data for this scan pulse Px ′ is a plurality of adjacent column electrodes x1, x2, ..., Xm,
For example, since 20 electrodes are simultaneously scanned, the high level “1” is set to continue for 20 clocks. The load signal (shown as x load in FIG. 8L) is continuously supplied from the timing generation circuit 4 to the latch circuit 32, and the latch circuit 32 is set to the through mode.

したがって、PチャネルFET3P1〜3Pmのうち隣り合った2
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の列電極x1,x2,・・・,xmのうち
隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPx′として電
圧1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
Therefore, two adjacent P-channel FETs 3P1 to 3Pm
A low level “0” signal is supplied to 0 gates at the same time to turn on, and a scan pulse Px ′ is simultaneously applied to 20 adjacent electrodes of the column electrodes x1, x2, ..., Xm of the panel 1. A voltage of 1/2 VD is supplied and scanning is performed sequentially in this state.

このように、表示モードでは、行電極y1,y2,・・・,yn
に1電極単位で順次走査パルスPyが供給されると共に、
列電極x1,x2,・・・,xmに表示データSDに対応した電圧
が1走査線ごとに同時に供給され、線順次走査で表示駆
動され、表示データSDに対応した画像が表示される。
Thus, in the display mode, the row electrodes y1, y2, ..., yn
Is sequentially supplied with a scanning pulse Py in units of one electrode,
A voltage corresponding to the display data SD is simultaneously supplied to the column electrodes x1, x2, ..., Xm for each scanning line, and display driving is performed by line-sequential scanning, and an image corresponding to the display data SD is displayed.

また、ペン5の検出信号はアンプ6に供給され、このア
ンプ6からの検出信号vsはコンパレータ7およびピーク
時点検出回路9に供給され、それぞれの出力信号はアン
ド回路8に供給される。そして、このアンド回路8から
は、検出信号vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号
vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力されると共
に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力され
る。
Further, the detection signal of the pen 5 is supplied to the amplifier 6, the detection signal vs from the amplifier 6 is supplied to the comparator 7 and the peak time point detection circuit 9, and the respective output signals are supplied to the AND circuit 8. Then, from the AND circuit 8, the detection signal vs is larger than the reference voltage Vr, and
A high level “1” signal is output at the peak of vs, and a low level “0” signal is output at other times.

このアンド回路8の出力信号は、カウンタで構成される
行座標検出部10および列座標検出部11にカウントストッ
プ信号として供給される。
The output signal of the AND circuit 8 is supplied as a count stop signal to the row coordinate detecting unit 10 and the column coordinate detecting unit 11 which are composed of counters.

そして、行座標検出部10には、シフトレジスタ21に供給
されるクロックと同じクロック(第8図Bにyクロック
として図示)がタイミング発生回路4より供給されると
共に、リセット信号(第8図Gにyカウンタリセットと
して図示)が供給されて行座標の検出モードとなる前に
リセットされる。したがって、行座標の検出モードとな
るとクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号
vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時
点でカウント動作が終わり、行座標検出部10からは、ペ
ン5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウン
ト値が行座標出力として得られる。
Then, the same clock as the clock supplied to the shift register 21 (illustrated as y clock in FIG. 8B) is supplied from the timing generation circuit 4 to the row coordinate detecting unit 10 and the reset signal (G in FIG. 8G). Is supplied as y-counter reset) to be reset before the row coordinate detection mode is entered. Therefore, when the row coordinate detection mode is entered, the clock counting operation starts and the detection signal
The counting operation ends when vs is greater than the reference voltage Vr and the detection signal vs peaks, and the row coordinate detection unit 10 outputs a count value corresponding to an arbitrary position on the panel 1 with which the pen 5 is in contact as a row coordinate output. can get.

また、列座標検出部11には、シフトレジスタ31に供給さ
れるクロックと同じクロック(第8図Iにxクロックと
して図示)がタイミング発生回路4より供給されると共
に、リセット信号(第8図Mにxカウンタリセットとし
て図示)が供給されて列座標の検出モードとなる前にリ
セットされる。したがって、列座標の検出モードとなる
とクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号vs
が基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時点
でカウント動作が終わり、列座標検出部8からは、ペン
5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウント
値が列座標出力として得られる。
Further, the same clock as the clock supplied to the shift register 31 (illustrated as x clock in FIG. 8I) is supplied from the timing generation circuit 4 to the column coordinate detection unit 11, and a reset signal (M in FIG. 8) is also supplied. Is supplied as x counter reset) to be reset before entering the column coordinate detection mode. Therefore, when the column coordinate detection mode is entered, the clock counting operation starts and the detection signal vs.
Is larger than the reference voltage Vr and the counting operation ends at the peak time of the detection signal vs, and the column coordinate detecting section 8 obtains a count value corresponding to an arbitrary position of the panel 1 with which the pen 5 is in contact as a column coordinate output. To be

なお、第7図において、4aは表示データSDが書き込まれ
ているRAMである。
In FIG. 7, 4a is a RAM in which the display data SD is written.

このように本例によれば、ペン(ペンシル状導体)5を
パネル1のガラス面に近づけるとき、コンパレータ7の
出力信号が高レベル“1"となってアンド回路8より行座
標検出部10、列座標検出部11にカウントストップ信号が
供給されて自動的に座標検出動作に入るので、従来のよ
うにペン先をディスプレイに押し付けることでペンに内
蔵した機械的スイッチをオンとして座標検出動作に入る
ものに比べて、操作が容易となる。また、ペン5に機械
的スイッチが不要となるので、部品数が少なく安価に構
成できる。さらに、ペン5に機械的スイッチのような可
動部分がなくなるのでペン5の故障の心配もない。
As described above, according to this example, when the pen (pencil-shaped conductor) 5 is brought close to the glass surface of the panel 1, the output signal of the comparator 7 becomes a high level “1”, and the AND circuit 8 causes the row coordinate detector 10, Since the count stop signal is supplied to the column coordinate detection unit 11 and the coordinate detection operation is automatically started, by pressing the pen tip against the display as in the conventional case, the mechanical switch built in the pen is turned on to start the coordinate detection operation. It is easier to operate than the ones. Further, since the pen 5 does not require a mechanical switch, the number of parts is small and the pen 5 can be constructed at low cost. Further, since the pen 5 has no moving parts such as a mechanical switch, there is no fear of the pen 5 breaking down.

また、パネル1が表示および座標検出の双方に使用され
るので、ディスプレイの表示面とタブレットの入力面と
が1表示画素の精度で全面に亘って確実に一致するた
め、容易に製造することができる。
Further, since the panel 1 is used for both display and coordinate detection, the display surface of the display and the input surface of the tablet are surely aligned with the accuracy of one display pixel over the entire surface, so that the panel can be easily manufactured. it can.

また、パネル1が表示モードおよび座標検出モードの双
方に使用され、行電極ドライバ2、列電極ドライバ3が
共通に使用されるので、無駄な回路を省くことができ、
安価に構成できると共に、スペース的にも有利とでき
る。
Further, since the panel 1 is used in both the display mode and the coordinate detection mode, and the row electrode driver 2 and the column electrode driver 3 are commonly used, it is possible to omit a wasteful circuit,
It can be constructed at low cost and can be advantageous in terms of space.

また、表示モードの期間と座標検出モードの期間とが時
分割的に交互に設けられるので、座標検出モードの期間
には、表示駆動に必要な種々の信号による妨害信号の影
響なく走査パルスPy′,Px′を検出できるようになり、
座標検出を良好に行なうことができる。
Further, since the display mode period and the coordinate detection mode period are alternately provided in a time division manner, during the coordinate detection mode period, the scan pulse Py ′ is not affected by the interference signals due to various signals necessary for display driving. , Px ′ can be detected,
Coordinates can be detected well.

また、座標検出モードでは、隣り合った複数本、例えば
20本の電極に同時に走査パルスPy′,Px′が供給された
状態で順次走査されるので、ペン5の検出信号のレベル
が大きくなり、走査パルスPy′,Px′の検出が容易とな
り、座標検出を良好に行なうことができる。
Further, in the coordinate detection mode, a plurality of adjacent lines, for example,
Since the scanning is sequentially performed while the scanning pulses Py ′ and Px ′ are supplied to 20 electrodes at the same time, the level of the detection signal of the pen 5 increases and the detection of the scanning pulses Py ′ and Px ′ becomes easy and the coordinates are The detection can be performed well.

なお、上述実施例とは異なり、第9図に示すように、デ
ィスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ個別独立に形
成され、これらを互いに密着させることにより一体に構
成されるもののタブレット52にも、この発明を同様に適
用できることは勿論である。
Unlike the above-described embodiment, as shown in FIG. 9, the display 51 and the tablet 52 are formed independently of each other, and the tablet 52, which is integrally formed by bringing them into close contact with each other, has the same structure. Of course, the invention is likewise applicable.

[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、パネルの行電
極および列電極の少くとも一方は、同一パルス幅の走査
パルスがパルス幅よりも短い位相だけ順次遅れて供給さ
れる、つまり、隣り合う複数の電極に対して走査パルス
が部分的に重なり合いながら供給されるので、検出用導
体の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスの検出
が容易となり、座標検出を良好に行うことができる。
As described above, according to the present invention, at least one of the row electrode and the column electrode of the panel is supplied with the scanning pulse having the same pulse width sequentially delayed by a phase shorter than the pulse width. That is, since the scanning pulses are supplied to a plurality of adjacent electrodes while partially overlapping with each other, the level of the detection signal of the detection conductor is increased, the detection of the scanning pulse is facilitated, and the coordinate detection is performed well. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図〜第
6図はその動作説明のための図、第7図は第1図例の具
体構成図、第8図はその動作説明のための図、第9図は
従来例の構成図である。 1……薄膜ELマトリックスパネル 2……行電極ドライバ 3……列電極ドライバ 4……タイミング発生回路 5……ペンシル状導体 7……コンパレータ 8……アンド回路 9……ピーク時点検出回路 10……行座標検出部 11……列座標検出部
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIGS. 2 to 6 are diagrams for explaining the operation thereof, FIG. 7 is a concrete block diagram of the example of FIG. 1, and FIG. 8 is its operation. FIG. 9 is a block diagram of a conventional example for explanation. 1 ... Thin film EL matrix panel 2 ... Row electrode driver 3 ... Column electrode driver 4 ... Timing generation circuit 5 ... Pencil-shaped conductor 7 ... Comparator 8 ... AND circuit 9 ... Peak point detection circuit 10 ... Row coordinate detector 11 ... Column coordinate detector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】マトリックスパネルと、行電極ドライバ
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、 上記行電極ドライバより上記パネルの行電極に順次供給
される走査パルスが上記検出用導体で検出されて上記行
電極座標検出部に供給されることにより行座標が検出さ
れると共に、上記列電極ドライバより上記パネルの列電
極に順次供給される走査パルスが上記検出用導体で検出
されて上記列座標検出部に供給されることにより列座標
が検出されるタブレットにおいて、 上記パネルの行電極および列電極の少なくとも一方は、
対応する電極ドライバより、同一パルス幅の走査パルス
が、パルス幅よりも短い位相だけ順次遅れて供給される
ことを特徴とするタブレット。
1. A matrix panel, a row electrode driver, a column electrode driver, a row coordinate detecting section, a column coordinate detecting section, and a detecting conductor, wherein the row electrode driver sequentially supplies the row electrodes of the panel. The scanning pulse supplied is detected by the detection conductor and is supplied to the row electrode coordinate detection unit to detect the row coordinates, and the scanning is sequentially supplied from the column electrode driver to the column electrodes of the panel. In the tablet in which the column coordinates are detected by the pulse being detected by the detection conductor and being supplied to the column coordinate detection unit, at least one of the row electrode and the column electrode of the panel is
A tablet characterized in that scanning pulses having the same pulse width are sequentially delayed by a phase shorter than the pulse width from corresponding electrode drivers.
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