JPH0769263B2 - Atomic absorption spectrophotometer - Google Patents

Atomic absorption spectrophotometer

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JPH0769263B2
JPH0769263B2 JP21594287A JP21594287A JPH0769263B2 JP H0769263 B2 JPH0769263 B2 JP H0769263B2 JP 21594287 A JP21594287 A JP 21594287A JP 21594287 A JP21594287 A JP 21594287A JP H0769263 B2 JPH0769263 B2 JP H0769263B2
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JP
Japan
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graphite tube
electric resistance
tube
graphite
emission intensity
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日出久 西垣
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Shimadzu Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 イ.産業上の利用分野 本発明はフレームレスの原子吸光分光光度計におけるグ
ラファイトチューブの寿命管理に関する。
Detailed Description of the Invention a. TECHNICAL FIELD The present invention relates to life control of a graphite tube in a flameless atomic absorption spectrophotometer.

ロ.従来の技術 フレームレス原子吸光分析で試料を原子化するのにグラ
ファイトチューブ試料原子化炉を使用する場合、グラフ
ァイトチューブの寿命が問題になる。グラファイトチュ
ーブ炉は大電流を流して高温を得るものであるが使用を
繰返していると電気抵抗値が増大して行き、500〜600回
程度使用すると劣化して分析結果の再現性が低下し、使
用できなくなる。グラファイトチューブの劣化は電気抵
抗の増大によって評価することができ、従来はグラファ
イトチューブの抵抗を測定して使用限界に達したか否か
を判断していた。
B. Prior Art When using a graphite tube sample atomizer to atomize a sample in flameless atomic absorption spectrometry, the life of the graphite tube becomes a problem. The graphite tube furnace is a furnace that applies a large current to obtain a high temperature, but the electric resistance value increases with repeated use, and after about 500 to 600 times, it deteriorates and the reproducibility of analysis results deteriorates. Cannot be used. The deterioration of the graphite tube can be evaluated by the increase of the electric resistance, and conventionally, the resistance of the graphite tube was measured to judge whether or not the usage limit was reached.

ハ.発明が解決しようとする問題点 グラファイトチューブの抵抗を測るだけの従来の方法で
はチューブ取換えの時期が分かっても、現在のところ後
何回くらい使用できるかと云うことが分からない。実際
に一群の試料分析を行う場合、予め検量線を作成する必
要があるが、検量線作成と試料分析とは同じ分析条件で
行われることが望ましいが、上述したようにグラファイ
トチューブが後何回使えるかが不明なので、一群の試料
分析の途中でグラファイトチューブを交換しなければな
らないと云う事態が発生する。
C. Problems to be Solved by the Invention Even if the time for tube replacement is known by the conventional method of measuring the resistance of the graphite tube, it is not known at present how many times it can be used. When actually performing a group of sample analysis, it is necessary to create a calibration curve in advance, but it is desirable that the calibration curve creation and sample analysis be performed under the same analysis conditions. Since it is unclear whether or not it can be used, a situation occurs where the graphite tube must be replaced during the analysis of a group of samples.

本発明は現在時点におけるグラファイトチューブの残存
寿命を表示することによって上述したような事態による
ことを避けようとするものである。このような目的に対
して問題になるのはグラファイトチューブの残存寿命は
通電する電流の大きさと通電時間つまりグラファイトチ
ューブをどのような温度にどの位の時間保つかと云う分
析条件の設定の仕方で変化し、分析条件は試料によって
選択されるものであるから、グラファイトチューブの現
時点の抵抗とチューブ交換をすべき最終抵抗とが分かっ
ても、後何回位使えるかは判断できないと云うことであ
る。
The present invention seeks to avoid the above situation by displaying the remaining life of the graphite tube at the present time. The problem for this purpose is that the remaining life of the graphite tube changes depending on the setting of the analysis conditions such as the magnitude of the energizing current and the energizing time, that is, what temperature and how long the graphite tube is kept. However, since the analysis conditions are selected depending on the sample, even if the current resistance of the graphite tube and the final resistance at which the tube should be replaced are known, it cannot be determined how many times the graphite tube can be used.

従って本発明が解決すべき問題は、現時点において今回
行おうとする分析条件によるときグラファイトチューブ
が後何回使えるかを示す表示が得られるようにすること
である。
Therefore, the problem to be solved by the present invention is to obtain an indication of how many times the graphite tube can be used at the present time under the analysis conditions to be performed this time.

ニ.問題点解決のための手段 グラファイトチューブに一定電流を一定時間流した回数
Nとその電流値の場合にグラファイトチューブから発せ
られる光の強度のグラファイトチューブ交換時の値、つ
まり最終発光強度或は最終抵抗値と一回使用当りのグラ
ファイトチューブ発光強度或は抵抗の変化幅のデータを
予めメモリに記憶させておき、グラファイトチューブの
抵抗或はグラファイトチューブから発せられる光を検出
する手段を設け、同手段によって得られるデータと予め
記憶させた最終値のデータと、一回使用当りの変化幅の
データとから残存使用可能回数を算出して表示する演算
表示手段を用意した。
D. Means for Solving Problems The value of the intensity of light emitted from the graphite tube at the time of exchanging the graphite tube, that is, the final emission intensity or the final resistance, when the constant current is passed through the graphite tube for a certain time N and the current value. The value and the variation width of the graphite tube emission intensity or resistance per one-time use are stored in the memory in advance, and means for detecting the resistance of the graphite tube or the light emitted from the graphite tube is provided. A calculation display means for calculating and displaying the remaining usable number of times was prepared from the obtained data, the data of the final value stored in advance, and the data of the change width per single use.

ホ.作用 グラファイトチューブに一定電流を一定時間流したとき
グラファイトチューブから発せられる光の強さは電圧印
加回数の関数でこれをP(N)とすると第2図に示すよ
うに回数が多くなる程強くなる。図でPoは寿命限界を示
す発光強度である。印加電圧が低くなれば寿命は永くな
る。基準分析条件で一回の通電で発光強度がΔPだけ低
下するとすると、現在の発光強度Pと最終光強度Poとか
ら、残存使用回数Nrは で求められる。ΔPは電通電圧で異なり、一回の分析に
おいても、通電スケジュールは試料乾燥,灰化,原子化
の段階があってステップ状に電圧を上げて行くので、一
回の使用におけるΔPはi段目の印加電圧をVi、各段の
時間をTi(i=1,2,3)とし、電圧劣化係数をK(Vi)
とすると、 ΔP=ΣK(Vi)Vi・Ti によって基準分析条件以外の場合の一回当りのΔPが求
められる。従って分析条件即ちグラファイトチューブの
通電スケジュールをVi,Tiと決めると、現在のPから、
残存使用回数Nrは で算出される。P(N)およびK(V)は実験的に求め
られるから、これをメモリに格納しておくことにより、
今回の分析条件における残存使用回数を求めて表示させ
ることができる。電圧Viの代わりにグラファイトチュー
ブの温度或は温度の関数である発光強度に対して劣化係
数を決定することもできる。同様のことはグラファイト
チューブの抵抗値についても成立つ。
E. Action The intensity of the light emitted from the graphite tube when a constant current is applied to the graphite tube for a certain period of time is a function of the number of times the voltage is applied, and if this is P (N), the intensity increases as the number increases, as shown in FIG. . In the figure, Po is the emission intensity indicating the life limit. The lower the applied voltage, the longer the life. If the emission intensity decreases by ΔP with one energization under the standard analysis conditions, the remaining number of uses Nr is calculated from the current emission intensity P and the final emission intensity Po. Required by. ΔP varies depending on the conduction voltage, and even in one analysis, the energization schedule has steps of sample drying, ashing, and atomization, and the voltage increases in steps, so ΔP in one use is the i-th step. The applied voltage of V i, the time of each step is Ti (i = 1,2,3), and the voltage deterioration coefficient is K (Vi)
Then, ΔP = ΣK (Vi) Vi · Ti can be used to obtain the ΔP per run under conditions other than the standard analysis conditions. Therefore, if the analysis conditions, that is, the energization schedule of the graphite tube is determined as Vi and Ti, from the current P,
The remaining number of uses Nr is It is calculated by. Since P (N) and K (V) are experimentally obtained, by storing them in the memory,
It is possible to obtain and display the number of remaining uses under the analysis conditions this time. Instead of the voltage Vi, the degradation coefficient can also be determined for the temperature of the graphite tube or the emission intensity as a function of temperature. The same applies to the resistance value of the graphite tube.

ヘ.実施例 第1図に本発明の実施例を示す。Lは分析しようとする
元素の輝線光を出す光源、Gが試料原子化炉のグラファ
イトチューブ、Mは分光器で、光源Lから出射され、グ
ラファイトチューブGを通過した光を分光し、分光され
た光は光検出器Dによって検出される。グラファイトチ
ューブGの側面にはグラファイトチューブの温度制御を
行うための温度情報を得るための小孔hが穿ってあり、
この小孔から放射される光がフォトセルdによって検出
されるようになっている。Eはグラファイトチューブに
通電するための電源で、制御装置Cによって制御され
る。制御装置Cはこの原子吸光光度計の全体を制御し、
光検出器Dの出力を取込みデータ処理を行って分析結果
として表示手段CRTに表示すると共に、本発明の目的で
あるグラファイトチューブGの残存使用回数を算出して
CRTに表示するもにである。Kは操作部でオペレータが
分析条件の設定,分光光度計の動作モードの指定等を行
う。制御装置Cにはグラファイトチューブの最終発光強
度Poおよび電圧劣化係数K(V)が記憶させてある。
F. EXAMPLE FIG. 1 shows an example of the present invention. L is a light source that emits emission line light of an element to be analyzed, G is a graphite tube of a sample atomization furnace, M is a spectroscope, and the light emitted from the light source L and passing through the graphite tube G is dispersed and dispersed. The light is detected by the photo detector D. A small hole h for obtaining temperature information for controlling the temperature of the graphite tube is formed on the side surface of the graphite tube G,
The light emitted from this small hole is detected by the photocell d. E is a power source for energizing the graphite tube, which is controlled by the controller C. The control device C controls the whole of the atomic absorption photometer,
The output of the photodetector D is acquired, data processing is performed, the result of analysis is displayed on the display means CRT, and the number of remaining uses of the graphite tube G, which is the object of the present invention, is calculated.
It is displayed on the CRT. K is an operation unit where an operator sets analysis conditions and specifies an operation mode of the spectrophotometer. The controller C stores the final light emission intensity Po and the voltage deterioration coefficient K (V) of the graphite tube.

上述装置の使用方および動作を説明する。分析を行う場
合オペレータは操作部Kを介して分析条件を入力する。
分析条件は分光器の設定波長,グラファイトチューブの
通電スケジュール等である。次に制御装置Cに残存使用
回数表示の指示を行うと、制御装置Cはグラファイトチ
ューブGに一定時間一定電流Ioを流し、このときグラフ
ァイトチューブGの小孔hから出て来る光の光検出器d
による検出信号P(Io)を取込み、前記(1)式によっ
て残存使用回数Nrを算出して表示手段CRTに表示する。
The usage and operation of the above device will be described. When performing analysis, the operator inputs analysis conditions via the operation unit K.
Analytical conditions include the wavelength of the spectroscope and the energization schedule of the graphite tube. Next, when the controller C is instructed to display the remaining number of times of use, the controller C applies a constant current Io to the graphite tube G for a certain period of time, and at this time, a photodetector of light emitted from the small hole h of the graphite tube G. d
The detection signal P (Io) is taken in, the number of remaining uses Nr is calculated by the equation (1) and displayed on the display means CRT.

上述実施例ではグラファイトチューブの発光強度で残存
寿命の検出を行っているが、制御装置Cはグラファイト
チューブの電圧,電流を制御しているので、グラファイ
トチューブの抵抗を算出することが可能であり、一定電
流を流したときの抵抗値と最終抵抗とからでも残存使用
回数を算出可能である。
In the above-described embodiment, the remaining life is detected by the emission intensity of the graphite tube, but since the control device C controls the voltage and current of the graphite tube, it is possible to calculate the resistance of the graphite tube. The number of remaining uses can be calculated from the resistance value when a constant current is applied and the final resistance.

ト.効果 本発明によればグラファイトチューブ炉の余命が判明す
るので、分析途中でグラファイトチューブを交換しなけ
ればならなくなるようなことが起こらぬよう、余命に合
せて分析計画を立て、或は予めチューブ交換をしておく
等、装置の合理的な運用が可能となる。
G. Effect According to the present invention, the life expectancy of the graphite tube furnace is found. Therefore, in order to avoid the need to replace the graphite tube during the analysis, make an analysis plan according to the life expectancy or replace the tube in advance. It is possible to operate the device in a rational manner.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例装置の構成図、第2図はグラ
ファイトチューブの使用回数と発光強度の関数のグラフ
である。 L…光源、G…グラファイトチューブ、M…分光器、D
…光検出器、h…小孔、d…光検出器、E…電源、C…
制御装置、K…操作部、CRT…表示装置。
FIG. 1 is a block diagram of an apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a graph of a function of the number of times the graphite tube is used and the emission intensity. L ... Light source, G ... Graphite tube, M ... Spectroscope, D
... Photodetector, h ... Small hole, d ... Photodetector, E ... Power supply, C ...
Control device, K ... Operation unit, CRT ... Display device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源から発せられる輝線光をグラファイト
チューブ試料原子化炉を通して観測する装置において、
グラファイトチューブから発せられる光を検出する手段
或はグラファイトチューブの電気抵抗を検出する手段
と、グラファイトチューブの最終発光強度或は電気抵抗
と指定分析条件において一回使用当りの発光強度或は電
気抵抗の変化幅を記憶させておく手段と、現時のグラフ
ァイトチューブの発光強度或は電気抵抗と上記記憶され
た発光強度或は電気抵抗との差と上記変化幅のデータと
からグラファイトチューブの残存使用可能回数を算出表
示する制御手段を設けたことを特徴とする原子吸光分光
光度計。
1. An apparatus for observing emission line light emitted from a light source through a graphite tube sample atomization furnace,
A means for detecting the light emitted from the graphite tube or a means for detecting the electric resistance of the graphite tube, and a final luminescence intensity or electric resistance of the graphite tube and the luminescence intensity or electric resistance per single use under specified analysis conditions. The number of remaining usable times of the graphite tube from the means for storing the change width, the difference between the emission intensity or electric resistance of the current graphite tube and the stored emission intensity or electric resistance, and the change width data. An atomic absorption spectrophotometer, which is provided with control means for calculating and displaying.
JP21594287A 1987-08-28 1987-08-28 Atomic absorption spectrophotometer Expired - Lifetime JPH0769263B2 (en)

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