JPH0755443A - Defect inspection system - Google Patents

Defect inspection system

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JPH0755443A
JPH0755443A JP20758693A JP20758693A JPH0755443A JP H0755443 A JPH0755443 A JP H0755443A JP 20758693 A JP20758693 A JP 20758693A JP 20758693 A JP20758693 A JP 20758693A JP H0755443 A JPH0755443 A JP H0755443A
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JP
Japan
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digital data
signal
defect
converter
optical
Prior art date
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Application number
JP20758693A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Hanabusa
秀行 花房
Teruyuki Baba
輝行 馬場
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HEWTEC KK
Original Assignee
HEWTEC KK
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Publication date
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Publication of JPH0755443A publication Critical patent/JPH0755443A/en
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Abstract

PURPOSE:To facilitate arrangement of signal transmission cables connecting between a large number of sensor cameras and a signal processing section and to enhance reliability in the detection of defect by suppressing the influence of disturbance on the cable. CONSTITUTION:Image information of a specimen 12 is obtained by means of a large number of sensor cameras 15, each having a light receiving section 14 comprising a one-dimensional CCD image sensor, and the information is subjected to pattern matching at a signal processing section 21 thus detecting a defect of the specimen 12. In such defect inspection system, image information from each camera 15 is converted through an A/D converter 19 into a multilevel digital data which is subjected to high frequency compression by a signal transmission means 20 to produce a serial multiplex signal. The serial multiplex signal is transmitted on an optical fiber and subjected to parallel conversion to produce a digital data. Frequency of the digital data is returned back to the driving frequency of the camera 15 and fed to the signal processing section 21.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば印刷物を多数の
センサカメラで撮像して得る印刷パターン等の被検査パ
ターンの良否をパターンマッチングにより判定する欠点
検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect inspection device for determining the quality of a pattern to be inspected such as a print pattern obtained by imaging a printed matter with a large number of sensor cameras by pattern matching.

【0002】[0002]

【従来の技術】パターンマッチングにより欠点の判定を
行う欠点検査装置は、例えば1次元のCCD(charge c
oupled device =電化結合デバイス)イメージセンサを
受光部としたセンサカメラを多数並設し、これらカメラ
を被検体と対向して配置し、そのイメージセンサを移動
される被検体の幅方向に走査することにより検査用の画
像情報を得ている。
2. Description of the Related Art A defect inspection apparatus for determining defects by pattern matching is, for example, a one-dimensional CCD (charge c
oupled device = Electrification coupling device) A number of sensor cameras with image sensors as light receiving parts are arranged side by side, these cameras are arranged facing the subject, and the image sensors are scanned in the width direction of the moved subject. The image information for inspection is obtained by.

【0003】互いに並設されて一つの視覚ユニットをな
す多数のセンサカメラは、被検体の幅方向の所定領域を
夫々撮像して、必要な分解能を得ている。そして、この
欠点検査装置で輪転印刷機により印刷される例えば新聞
紙面の印刷欠点検査を行う場合、印刷紙面が多いため
に、その紙面数に対応して前記視覚ユニットを数多く設
置する必要がある。
A large number of sensor cameras, which are arranged in parallel with each other to form one visual unit, respectively image a predetermined area in the width direction of the subject to obtain a required resolution. When the defect inspection apparatus performs a print defect inspection on, for example, a newspaper surface printed by a rotary printing machine, since there are many printed paper surfaces, it is necessary to install a large number of the visual units corresponding to the number of paper surfaces.

【0004】そして、従来においては、図4に示される
ようにパターンマッチングを行う信号処理部1と視覚ユ
ニット2の各センサカメラ3との間の信号伝送は、各セ
ンサカメラ3ごとに直接接続された同軸ケーブル4を用
いて行われていた。
In the prior art, as shown in FIG. 4, signal transmission between the signal processing unit 1 for pattern matching and each sensor camera 3 of the visual unit 2 is directly connected to each sensor camera 3. It was performed using the coaxial cable 4.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】前記のように各センサ
カメラ3ごとに個々に直結された同軸ケーブル4を用い
て信号伝送を行うパラレル信号伝送方式においては、セ
ンサカメラ3の総数が少ない場合には格別な問題はない
が、前記新聞紙面の印刷欠点検査に代表されるように視
覚ユニットを多数使用する場合、つまり、使用するセン
サカメラ3の総数が多い場合には、それに応じて同軸ケ
ーブル4の使用数が格段に増える。
As described above, in the parallel signal transmission method in which signal transmission is performed using the coaxial cable 4 directly connected to each sensor camera 3, when the total number of sensor cameras 3 is small. There is no particular problem, but when a large number of visual units are used as typified by the printing defect inspection on the newspaper, that is, when the total number of sensor cameras 3 to be used is large, the coaxial cable 4 is accordingly changed. The number of uses of is greatly increased.

【0006】そして、同軸ケーブル4は外乱の影響を受
け易いから、伝送される映像信号にノイズが重畳して欠
点検出の信頼性を低下させる恐れが高いという問題があ
る。特に、同軸ケーブル4が細い程、またその長さが長
い程、外乱の影響をより受け易い。
Since the coaxial cable 4 is easily affected by disturbance, there is a problem that noise is superimposed on the transmitted video signal and the reliability of defect detection is lowered. Particularly, the thinner the coaxial cable 4 is and the longer the coaxial cable 4 is, the more easily it is affected by disturbance.

【0007】このノイズの重畳を防止する対策として
は、同軸ケーブル4の電磁シールド性能を向上させれば
良い。しかし、そうすると同軸ケーブル4の径が太くな
るので、視覚ユニット2の増設に伴い同軸ケーブル4の
使用数が多いことと相俟って、同軸ケーブル4群の引き
回しスペース、および重量が増える同軸ケーブル4群の
支持に格別な配慮が必要となるというケーブル配設上の
問題を招く。
As a measure for preventing this noise superposition, the electromagnetic shield performance of the coaxial cable 4 may be improved. However, if this is done, the diameter of the coaxial cable 4 becomes thicker, and in combination with the increase in the number of the coaxial cables 4 used as the number of the visual units 2 is increased, the coaxial cable 4 has a large routing space for the group of coaxial cables 4 and the weight of the coaxial cable 4 increases. This causes a problem in cable arrangement that requires special consideration for supporting the group.

【0008】本発明の目的は、多数のセンサカメラと信
号処理部とをむすぶ信号伝送ケーブルの配設を容易にで
きるとともに、このケーブルでの外乱の影響が少なく欠
点検出の信頼性を向上できる欠点検査装置を得ることに
ある。
The object of the present invention is to facilitate the disposition of a signal transmission cable for connecting a large number of sensor cameras and signal processing units, and to reduce the influence of disturbance on this cable to improve the reliability of defect detection. To get an inspection device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の欠点検査装置は、移動される被検体に対し
てその幅方向に走査されるCCDイメージセンサからな
る受光部を有した多数のセンサカメラと、これらセンサ
カメラから出力される映像信号を多値のデジタルデータ
に変換するA/D変換器と、マスタメモリを備え、この
メモリに記憶されたマスタパターンデータと前記受光部
の受光量に応じた前記披検体についての被検査パターン
データとを比較照合して、前記披検体の欠点を判定する
信号処理部と、前記A/D変換器と前記信号処理部とを
つないだ信号伝送手段とを具備する。
In order to achieve the above-mentioned object, the defect inspection apparatus of the present invention has a light receiving portion composed of a CCD image sensor which scans a moving object in its width direction. A large number of sensor cameras, an A / D converter for converting video signals output from these sensor cameras into multivalued digital data, and a master memory are provided, and master pattern data stored in this memory and the light receiving unit are stored. A signal that connects the A / D converter and the signal processing unit with the signal processing unit for comparing and collating the inspected pattern data of the sample according to the amount of received light to determine the defect of the sample. And a transmission means.

【0010】そして、前記信号伝送手段を、前記A/D
変換器によって得られたデジタルデータを高周波に圧縮
して直列に並ぶシリアルデジタルデータに変換するシリ
アル多重変換器と、前記シリアルデジタルデータを光信
号に変換する光送信モジュールと、このモジュールに光
ファイバケーブルを介して接続され前記光信号を光電変
換して前記シリアルデジタルデータに戻す光受信モジュ
ールと、この光受信モジュールで処理された前記シリア
ルデジタルデータの各デジタルデータを夫々並列に並
べ、これらデジタルデータの送信周波数を前記センサカ
メラの駆動周波数に戻して前記信号処理部に供給するパ
ラレル変換器とを有した構成としたものである。
The signal transmitting means is connected to the A / D.
A serial multiplex converter for compressing the digital data obtained by the converter into a high frequency and converting it into serial digital data arranged in series, an optical transmission module for converting the serial digital data into an optical signal, and an optical fiber cable for this module. An optical receiving module that is connected via an optical signal to photoelectrically convert the optical signal to return to the serial digital data, and serially arranges each digital data of the serial digital data processed by the optical receiving module, A parallel converter for returning the transmission frequency to the driving frequency of the sensor camera and supplying the signal to the signal processing unit.

【0011】[0011]

【作用】前記の構成において、センサカメラは、その受
光部をなすCCDイメージセンサを移動される被検体の
幅方向に所定の周波数(センサカメラの駆動周波数)で
走査して、被検体についての画像情報(映像信号)を得
る。A/D変換器は、前記映像信号を多値のデジタルデ
ータに変換する。信号伝送手段は、前記デジタルデータ
を信号処理部に伝送する。信号処理部は、既に記憶され
たマスタパターンデータと受信される被検査パターンデ
ータとをパターンマッチングして、被検体の良否、つま
り欠点の検出を行う。
In the above structure, the sensor camera scans the CCD image sensor, which is the light receiving portion thereof, in the width direction of the moving object at a predetermined frequency (driving frequency of the sensor camera) to obtain an image of the object. Get information (video signal). The A / D converter converts the video signal into multivalued digital data. The signal transmission means transmits the digital data to the signal processing unit. The signal processing unit performs pattern matching between the master pattern data that has already been stored and the received pattern data to be inspected, and detects the quality of the object, that is, the defect.

【0012】そして、前記デジタルデータの伝送を担う
信号伝送手段は、まず、シリアル多重変換器により、前
記デジタルデータを高周波に圧縮変換して直列に並ぶシ
ルアルデジタルデータに変換してから、このデータを光
変換モジュールにより光信号に変換し、光ファイバケー
ブルを通して光受信モジュールに送信する。光受信モジ
ュールは、受信した前記高周波のシルアルデジタルデー
タの光信号を光電変換して前記高周波のシルアルデジタ
ルデータに戻す。このようにして得られた高周波のシリ
アルデジタルデータの各デジタルデータは、パラレル変
換器での処理により、夫々並列に並べられるとともに、
これら各デジタルデータの送信周波数を元の周波数、つ
まり、前記センサカメラの駆動周波数に戻されて、前記
信号処理部に供給される。
The signal transmission means for transmitting the digital data first compresses the digital data into a high frequency by a serial multiplex converter to convert the digital data into serial digital data arranged in series, and then converts this data. It is converted into an optical signal by the optical conversion module and transmitted to the optical receiving module through the optical fiber cable. The optical receiving module photoelectrically converts the received optical signal of the high-frequency serial digital data into the high-frequency serial digital data. Each digital data of the high-frequency serial digital data obtained in this way is arranged in parallel by the processing by the parallel converter,
The transmission frequency of each of these digital data is returned to the original frequency, that is, the drive frequency of the sensor camera, and is supplied to the signal processing unit.

【0013】このようなシリアル信号伝送方式を行う信
号伝送手段の採用により、この伝送手段を多数のセンサ
カメラに対する共有部品とでき、したがって、センサカ
メラと信号処理部との間に配設される信号伝送ケーブル
の数を少なくできる。その上、このケーブルに光ファイ
バケーブルを用いたので、その長さや太さの如何を問わ
ず、外乱の影響を受けることが少なくなり、伝送される
デジタルデータにノイズが重畳することを少なくでき
る。
By adopting the signal transmission means for performing such a serial signal transmission system, the transmission means can be a shared component for a large number of sensor cameras, and accordingly, the signals arranged between the sensor cameras and the signal processing section can be provided. The number of transmission cables can be reduced. Moreover, since an optical fiber cable is used for this cable, it is less affected by disturbance regardless of its length or thickness, and it is possible to prevent noise from being superimposed on transmitted digital data.

【0014】[0014]

【実施例】以下、図1〜図3を参照して本発明の一実施
例を説明する。図2は本発明の一実施例に係る新聞紙面
の印刷欠点検査装置の構成を示すブロック図である。図
2において、11は版下(原稿)等のマスタであり、1
2は印刷された新聞紙つまり被検体であり、図2中矢印
Aはマスタ11および被検体12の移動方向を示してい
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a printing defect inspection apparatus for newspapers according to an embodiment of the present invention. In FIG. 2, 11 is a master such as a block copy (original), and 1
Reference numeral 2 denotes a printed newspaper, that is, a subject, and an arrow A in FIG. 2 indicates a moving direction of the master 11 and the subject 12.

【0015】各紙面をなす被検体12の夫々の搬送路と
夫々別々に対向して視覚ユニット13が配置されてい
る。各視覚ユニット13は、一次元のCCDイメージセ
ンサを受光部14を有した多数(例えば8個)のセンサ
カメラ15を備えているとともに、搬送路を照明する照
明装置16を備えている。受光部14は通常10MHz
の走査周波数、つまりセンサカメラ15の駆動周波数で
走査される。
A visual unit 13 is arranged so as to separately face the respective conveyance paths of the subject 12 forming each sheet. Each visual unit 13 includes a large number (e.g., 8) of sensor cameras 15 each having a one-dimensional CCD image sensor and a light receiving section 14, and an illuminating device 16 that illuminates a conveyance path. Light receiving unit 14 is usually 10 MHz
Scanning frequency, that is, the driving frequency of the sensor camera 15 is scanned.

【0016】図1に示されるように各視覚ユニット13
の各センサカメラ15は、搬送路の幅方向、換言すれ
ば、移動されるマスタ11および被検体12の幅方向に
所定間隔で並設され、これらマスタ11等に予め定めら
れた所定幅の領域を撮像し、各センサカメラ15によっ
てマスタ11等の全幅を撮像するようになっている。照
明装置16も搬送路の幅方向に延びて設けられている。
図2に示した照明装置16は反射形であるが、搬送路を
挟んでセンサカメラ15とは反対側に配置される透過形
の照明装置が用いられることもあり、また、反射形と透
過形の照明装置16が両方用いられる場合もある。
Each visual unit 13 as shown in FIG.
The sensor cameras 15 are arranged side by side at predetermined intervals in the width direction of the transport path, in other words, in the width direction of the moving master 11 and the subject 12, and the areas of the predetermined width predetermined in the master 11 and the like. Is imaged, and each sensor camera 15 images the entire width of the master 11 and the like. The illumination device 16 is also provided so as to extend in the width direction of the transport path.
The illuminating device 16 shown in FIG. 2 is of a reflective type, but a transmissive type of illuminating device arranged on the opposite side of the sensor camera 15 with the conveyance path interposed may be used. In some cases, both of the lighting devices 16 of FIG.

【0017】各センサカメラ15から出力される映像信
号(アナログ信号)はAGC(automatic gain control
ler )17に入力され、このAGC17においてゲイン
・シェーディング補正処理が行われる。AGC17から
出力された電気信号は増幅器18を経て例えば8ビット
のA/D(analogue/digital)変換器19に入力され
て、その信号の電圧レベルに応じて前記A/D変換器1
9において多値のデジタルデータに変換される。
The video signal (analog signal) output from each sensor camera 15 is AGC (automatic gain control).
ler) 17 and gain / shading correction processing is performed in this AGC 17. The electric signal output from the AGC 17 is input to, for example, an 8-bit A / D (analogue / digital) converter 19 via an amplifier 18, and the A / D converter 1 is supplied in accordance with the voltage level of the signal.
In 9, it is converted into multivalued digital data.

【0018】この多値のデジタルデータは、後述する信
号伝送手段20を介して信号処理部21に供給される。
この処理部21は、マスタメモリを備え、このメモリに
記憶されたマスタパターンデータと前記受光部14の受
光量に応じた披検体12についての被検査パターンデー
タとを比較照合して、披検体12の印刷欠点を検出する
ものである。
The multivalued digital data is supplied to the signal processing section 21 via the signal transmission means 20 described later.
The processing unit 21 includes a master memory, and compares the master pattern data stored in the memory with the pattern data to be inspected for the sample 12 according to the amount of light received by the light receiving unit 14 to check the sample 12. To detect the printing defect of.

【0019】詳しくは、図2に示されるように信号処理
部21は、被検体パターン抽出回路22と、第1欠点認
識部23と、第1欠点判定回路24と、第2欠点認識部
25と、第2欠点判定回路26と、制御回路27とを備
えている。被検体パターン抽出回路22はマスタ11お
よび被検体12の画像情報に関してデジタル処理により
輪郭パターンデータを抽出する回路である。制御回路2
7は信号処理部21の各回路やメモリ等についての制御
全般を担当する。
More specifically, as shown in FIG. 2, the signal processing section 21 includes an object pattern extraction circuit 22, a first defect recognition section 23, a first defect determination circuit 24, and a second defect recognition section 25. , A second defect determination circuit 26 and a control circuit 27. The subject pattern extraction circuit 22 is a circuit for extracting contour pattern data from the image information of the master 11 and the subject 12 by digital processing. Control circuit 2
Reference numeral 7 is in charge of overall control of each circuit and memory of the signal processing unit 21.

【0020】第1欠点認識部23は、被検体12の画像
情報に関して抽出された輪郭パターンデータが入力さ
れ、この入力されたパターンデータに被検体12の移動
速度誤差等のばらつきを吸収するための許容値を付す拡
大処理(マスク付与処理)を施して第1被検査パターン
データを得る第1パターン拡大処理回路28と、マスタ
11の画像情報に関して抽出された輪郭パターンデータ
が入力され、それを第1マスタパターンデータとして記
憶する第1マスタメモリ29と、これら第1パターン拡
大処理回路28と第1マスタメモリ29とから夫々同期
して入力される前記第1被検査パターンデータと第1マ
スタパターンデータとを比較照合する第1パターン比較
回路30とで形成されている。比較回路30の出力(欠
点情報)は第1欠点判定回路24に入力されて、この回
路24において第1欠点認識部23で認識した欠点情報
が、所定の大きさ以上の欠点であるかどうかを判定す
る。
The first defect recognizing unit 23 receives the contour pattern data extracted with respect to the image information of the subject 12, and absorbs the variation such as the moving speed error of the subject 12 in the inputted pattern data. A first pattern enlargement processing circuit 28 that obtains the first pattern data to be inspected by performing an enlargement process (masking process) with an allowable value, and the contour pattern data extracted with respect to the image information of the master 11 are input. A first master memory 29 for storing as one master pattern data, and the first inspected pattern data and the first master pattern data which are synchronously input from the first pattern enlargement processing circuit 28 and the first master memory 29, respectively. And a first pattern comparison circuit 30 for comparing and collating. The output of the comparison circuit 30 (defect information) is input to the first defect determination circuit 24, and it is determined whether the defect information recognized by the first defect recognition unit 23 in this circuit 24 is a defect having a predetermined size or more. judge.

【0021】第2欠点認識部25は、被検体パターン抽
出回路22でマスタ11の画像情報に関して抽出された
輪郭パターンデータが入力され、この入力されたパター
ンデータにそのばらつきを吸収するための許容値を付す
拡大処理(マスク付与処理)を施す第2パターン拡大処
理回路31と、この回路31で拡大処理されたマスタ1
1の画像情報に関しての輪郭パターンデータが入力さ
れ、それを第2マスタパターンデータとして記憶する第
2マスタメモリ32と、このメモリ32からのデータの
読み出しと同期して、被検体パターン抽出回路22で被
検体12の画像情報に関して抽出された抽出パターンデ
ータを第2被検査パターンデータとして取込んで、これ
ら両パターンデータを比較照合する第2パターン比較回
路33とで形成されている。比較回路33の出力(欠点
情報)は第2欠点判定回路26に入力されて、この回路
26において第2欠点認識部25で認識した欠点情報
が、所定の大きさ以上の欠点であるかどうかを判定す
る。
The second defect recognizing unit 25 receives the contour pattern data extracted by the object pattern extracting circuit 22 with respect to the image information of the master 11, and the allowable value for absorbing the variation in the inputted pattern data. A second pattern enlargement processing circuit 31 that performs enlargement processing (masking processing) with a mark, and the master 1 that is enlarged by this circuit 31.
The contour pattern data regarding the image information of No. 1 is input, the second master memory 32 that stores the contour pattern data as second master pattern data, and the object pattern extraction circuit 22 synchronizes with the reading of the data from the memory 32. It is formed by the second pattern comparison circuit 33 which takes in the extracted pattern data extracted with respect to the image information of the subject 12 as the second inspected pattern data and compares and collates these two pattern data. The output (defect information) of the comparison circuit 33 is input to the second defect judgment circuit 26, and it is determined whether the defect information recognized by the second defect recognition section 25 in this circuit 26 is a defect having a predetermined size or more. judge.

【0022】この信号処理部21において、マスタ11
についての各センサカメラ15からの映像情報がデジタ
ル信号に変換されて入力されると、被検体パターン抽出
回路22がマスタ11の画像情報についての輪郭パター
ンを抽出し、このパターンデータは第1、第2の欠点認
識部23、25に入力される。第1欠点認識部23で
は、前記輪郭パターンデータを第1マスタパターンデー
タとして第1マスタメモリ29に記憶する。同時に、第
2欠点認識部25では、その第2マスタメモリ32に、
前記輪郭パターンデータに第2パターン拡大処理回路3
1による拡大処理を施した第2マスタパターンデータを
記憶する。
In this signal processing unit 21, the master 11
When the image information from each sensor camera 15 is converted into a digital signal and input, the object pattern extraction circuit 22 extracts the contour pattern of the image information of the master 11, and the pattern data is the first and the first pattern data. 2 is input to the defect recognition units 23 and 25. The first defect recognizing unit 23 stores the contour pattern data in the first master memory 29 as first master pattern data. At the same time, in the second defect recognition section 25, in the second master memory 32,
A second pattern enlargement processing circuit 3 is added to the contour pattern data.
The second master pattern data that has been subjected to the enlargement processing by 1 is stored.

【0023】こうしてマスタパターンデータを記憶した
後に、被検体12についての走査が各センサカメラ15
で実施され、その映像情報がデジタル信号に変換されて
信号処理部21の被検体パターン抽出回路22を通って
各欠点認識部23、25に入力される。
After storing the master pattern data in this way, the scanning of the subject 12 is performed by each sensor camera 15
The image information is converted into a digital signal and is input to the defect recognizing units 23 and 25 through the object pattern extracting circuit 22 of the signal processing unit 21.

【0024】それにより、第1欠点認識部23では、そ
の第1マスタメモリ29に格納された第1マスタパター
ンデータと、第1パターン拡大処理回路28により拡大
処理を施された第1被検査パターンデータとが、第1パ
ターン比較回路30で比較照合される。このパターンマ
ッチング処理により、被検体12に、その印刷の一部が
欠落していたり、掠れていたりするいわゆる欠け性の欠
点がある場合には、第1マスタパターンデータの一部が
拡大処理された第1被検査パターンデータから食出すの
で、この食出し部分のデータが欠け性の欠点情報として
認識される。その欠点情報は第1欠点判定回路24によ
り、欠点であるのかどうかを判定されて制御回路27に
入力され、この制御回路27によりモニタテレビのよう
な表示器などの図示しない報知装置等に出力される。
As a result, in the first defect recognizing section 23, the first master pattern data stored in the first master memory 29 and the first pattern to be inspected which has been subjected to the enlargement processing by the first pattern enlargement processing circuit 28. The data is compared and collated by the first pattern comparison circuit 30. By this pattern matching processing, when the subject 12 has a defect of so-called chipping property such as a part of the print being missing or being blurred, a part of the first master pattern data is enlarged. Since the data is squeezed out from the first pattern data to be inspected, the data of the squeezed-out portion is recognized as defect information of chipping property. The defect information is judged by the first defect judgment circuit 24 whether it is a defect or not, and is inputted to the control circuit 27. This control circuit 27 outputs it to a notifying device (not shown) such as a display device such as a monitor television. It

【0025】第2欠点認識部25では、これに入力され
た被検体12についての輪郭パターンデータを、拡大処
理することなく、そのまま第2被検査パターンデータと
して用いて、これを第2パターン比較回路33で第2マ
スタメモリ32に格納された第2マスタパターンデータ
と比較照合する。このパターンマッチング処理により、
被検体12に、飛び散ったインクや汚れなどの欠点があ
る場合には、第2マスタパターンデータに対して第2被
検査パターンデータの一部が食出すので、この食出し部
分を飛び性の欠点情報として認識する。その欠点情報は
第2欠点判定回路26により、欠点であるのかどうかを
判定されて制御回路27に入力され、この制御回路27
によりモニタテレビのような表示器などの図示しない報
知装置等に出力される。
In the second defect recognizing section 25, the contour pattern data about the subject 12 inputted thereto is directly used as the second inspected pattern data without being enlarged, and this is used as the second pattern comparison circuit. At 33, the second master pattern data stored in the second master memory 32 is compared and collated. By this pattern matching process,
When the subject 12 has a defect such as scattered ink or stains, a part of the second inspection pattern data is eroded with respect to the second master pattern data. Recognize as information. The defect information is judged by the second defect judgment circuit 26 whether it is a defect or not, and is input to the control circuit 27.
Is output to a notification device (not shown) such as a display device such as a monitor television.

【0026】この信号処理部21とA/D変換器19と
をつないだ前記信号伝送手段20は、図1に示されるよ
うにシリアル多重変換器34と、光送信モジュール35
と、信号伝送ケーブルとしての光ファイバケーブル36
と、光受信モジュール37と、パラレル変換器38とを
備えている。
The signal transmission means 20 connecting the signal processing unit 21 and the A / D converter 19 has a serial multiplexing converter 34 and an optical transmission module 35 as shown in FIG.
And an optical fiber cable 36 as a signal transmission cable
And a light receiving module 37 and a parallel converter 38.

【0027】A/D変換器19の出力端に接続されたシ
リアル多重変換器34は、A/D変換器19によって変
換されたデジタルデータを高周波に圧縮して直列に並ぶ
シリアルデジタルデータに変換する。この例では図3に
示されるように周波数125MHzのシリアルデジタル
データに高周波圧縮する。この変換器34の出力端に接
続された光送信モジュール35は、高周波圧縮されたシ
リアルデジタルデータを光信号に変換するものであり、
このモジュール35の出力端には光信号を案内する光フ
ァイバケーブル36の一端が接続されている。
The serial multiple converter 34 connected to the output terminal of the A / D converter 19 compresses the digital data converted by the A / D converter 19 into a high frequency and converts it into serial digital data arranged in series. . In this example, high frequency compression is performed on serial digital data having a frequency of 125 MHz as shown in FIG. The optical transmission module 35 connected to the output terminal of the converter 34 converts the high frequency compressed serial digital data into an optical signal.
One end of an optical fiber cable 36 for guiding an optical signal is connected to the output end of this module 35.

【0028】光ファイバケーブル36の他端には信号制
御盤内に導かれて光受信モジュール37の入力端に接続
されている。光受信モジュール37は光ファイバケーブ
ル36により導かれた光信号を光電変換して前記高周波
のシリアルデジタルデータに戻す。このモジュール37
の出力端に接続されたパラレル変換器38は、光受信モ
ジュール37で処理された前記高周波のシリアルデジタ
ルデータの各デジタルデータを夫々並列に並べて、これ
らデジタルデータの周波数を前記センサカメラの駆動周
波数(例えば10MHz)に戻すものであり、その出力
端は前記信号処理部21の被検査パターン抽出回路22
に接続されている。
The other end of the optical fiber cable 36 is guided into the signal control board and connected to the input end of the optical receiving module 37. The optical receiving module 37 photoelectrically converts the optical signal guided by the optical fiber cable 36 into the high frequency serial digital data. This module 37
The parallel converter 38 connected to the output end of the parallel aligns each digital data of the high frequency serial digital data processed by the optical receiving module 37 in parallel, and sets the frequency of these digital data to the drive frequency of the sensor camera ( (For example, 10 MHz), the output end of which is the inspected pattern extraction circuit 22 of the signal processing unit 21.
It is connected to the.

【0029】このような構成の信号伝達手段21は、各
センサカメラ15の受光部14をなすCCDイメージセ
ンサ14を例えば10HMzの駆動周波数で走査して得
られる、被検体12等についての画像情報(図3中E1
〜En で示す)が、A/D変換器19で変換された多値
のデジタルデータを、光通信により信号処理部21に送
信する。
The signal transmission means 21 having such a configuration scans the CCD image sensor 14 forming the light receiving portion 14 of each sensor camera 15 at a driving frequency of, for example, 10 HMz, and obtains image information about the subject 12 and the like ( E1 in Fig. 3
To En) transmit the multivalued digital data converted by the A / D converter 19 to the signal processing unit 21 by optical communication.

【0030】この送信においては、まず、シリアル多重
変換器34により、前記デジタルデータ(画像情報E1
〜En )を125HMzの高周波に圧縮変換して直列に
並ぶシルアルデジタルデータ(図3中Fで示す)に変換
してから、このデータを光変換モジュール35により光
信号に変換し、光ファイバケーブル36を通して光受信
モジュール37に送信する。
In this transmission, first, the serial data is converted by the serial multiple converter 34 (image information E1).
~ En) is compressed and converted to a high frequency of 125 HMz to be converted into serial digital data (shown by F in FIG. 3) arranged in series, and this data is converted into an optical signal by the optical conversion module 35, and the optical fiber cable 36 Through the optical receiving module 37.

【0031】そうすると、光受信モジュール37は、受
信した前記シルアルデジタルデータFを光電変換して前
記高周波のシルアルデジタルデータ(図3中Gで示す)
に戻し、次に、このようにして得られた高周波シリアル
デジタルデータGの各デジタルデータg1〜gnが、パラレ
ル変換器38での処理により、夫々並列に並べられると
ともに、これら各デジタルデータg1〜gnの送信周波数
が、元の周波数、つまり、前記センサカメラ15の駆動
周波数(10HMz)に戻される。それにより、再び前
記画像情報E1 〜En を得、これらのデータは信号処理
部21に供給される。
Then, the optical receiving module 37 photoelectrically converts the received serial digital data F into the high frequency serial digital data (indicated by G in FIG. 3).
Then, the digital data g1 to gn of the high-frequency serial digital data G thus obtained are arranged in parallel by the processing in the parallel converter 38, and the digital data g1 to gn are obtained. Is returned to the original frequency, that is, the drive frequency (10 HMz) of the sensor camera 15. As a result, the image information E1 to En are obtained again, and these data are supplied to the signal processing section 21.

【0032】したがって、このような信号伝送手段20
の採用により、この伝送手段20を多数のセンサカメラ
15に対する共有部品とできる。ちなみに、本実施例の
送信周波数(125HMz)では、約10台のセンサカ
メラ15が出力する画像情報を1本の信号伝送手段20
で送信できる。したがって、多数のセンサカメラ15と
信号処理部21の間に配設される信号伝送ケーブル、つ
まり光ファイバケーブル36の使用数を少なくできる。
これに伴って信号伝送手段20の重量や設置スペースが
少なくなるので、多数のセンサカメラ14と信号処理部
21とをむすぶ信号伝送ケーブルの配設が容易になる。
Therefore, such signal transmission means 20
By adopting, the transmission means 20 can be a common component for many sensor cameras 15. By the way, at the transmission frequency (125 HMz) of this embodiment, the image information output from about 10 sensor cameras 15 is transmitted by one signal transmission means 20.
You can send it at. Therefore, it is possible to reduce the number of signal transmission cables, that is, the optical fiber cables 36, arranged between the large number of sensor cameras 15 and the signal processing unit 21.
Along with this, the weight and installation space of the signal transmission means 20 are reduced, so that it is easy to arrange a signal transmission cable that connects the many sensor cameras 14 and the signal processing unit 21.

【0033】その上、信号の伝送態様を光通信としたの
で、光ファイバケーブル36の長さや太さの如何を問わ
ず、伝送データが外乱の影響を受けることが少ない。し
たがって、伝送されるデジタルデータにノイズが重畳す
ることを少なくできるから、信号処理部21での前記欠
点検出の信頼性を向上できる。
In addition, since the signal transmission mode is optical communication, the transmission data is less likely to be affected by disturbance regardless of the length or thickness of the optical fiber cable 36. Therefore, noise can be less likely to be superimposed on the transmitted digital data, and the reliability of the defect detection in the signal processing unit 21 can be improved.

【0034】なお、本発明は前記一実施例に制約される
ものではなく、センサカメラの駆動周波数および光信号
の送信周波数は任意に設定できるとともに、本発明は新
聞印刷の欠点検出だけではなく、他の印刷物、その他の
欠点検出に適用できる。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment. The drive frequency of the sensor camera and the transmission frequency of the optical signal can be set arbitrarily, and the present invention is not limited to the defect detection of newspaper printing. It can be applied to other printed matter and other defect detection.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上詳記したように本発明の欠点検査装
置においては、多数のセンサカメラの映像信号を、A/
D変換し、シリアル多重信号として光通信により伝送す
る信号伝送手段を介して信号処理部に供給する構成であ
るから、この信号伝送手段を多数のセンサカメラに対す
る共有部品とできる。したがって、使用するセンサカメ
ラの数に拘らず、これらセンサカメラと信号処理部の間
に配設される信号伝送ケーブルの数が少なく、信号伝送
ケーブルの重量や設置スペースを少なくできるので、多
数のセンサカメラと信号処理部とをむすぶ信号伝送ケー
ブルの配設を容易にできる。しかも、信号伝送手段は光
通信を採用した構成であるから、伝送されるデジタルデ
ータにノイズが重畳することが少なく、したがって、欠
点検出の信頼性を向上できる。
As described in detail above, in the defect inspection apparatus of the present invention, the image signals of a large number of sensor cameras are converted into A /
Since it is configured to be D-converted and supplied to the signal processing unit via the signal transmission means for transmitting as a serial multiplex signal by optical communication, this signal transmission means can be a shared component for many sensor cameras. Therefore, irrespective of the number of sensor cameras used, the number of signal transmission cables arranged between these sensor cameras and the signal processing unit is small, and the weight and installation space of the signal transmission cables can be reduced. It is possible to easily arrange the signal transmission cable that connects the camera and the signal processing unit. Moreover, since the signal transmission means adopts the configuration adopting optical communication, noise is less likely to be superimposed on the transmitted digital data, and therefore the reliability of defect detection can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る欠点検査装置が備える
信号伝送手段の回路構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of a signal transmission means included in a defect inspection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例に係る欠点検査装置全体の回路構成を
示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of the entire defect inspection apparatus according to the embodiment.

【図3】同実施例に係る信号伝送手段の信号波形を示す
図。
FIG. 3 is a diagram showing a signal waveform of the signal transmission means according to the embodiment.

【図4】従来例に係る欠点検査装置の構成を示すブロッ
ク図。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a defect inspection device according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

13…視覚ユニット、 14…受光部。1
5…センサカメラ、 19…A/D変換
器、20…信号伝達手段、 21…信号処
理部、22…被検体パターン抽出回路、 28…第1
パターン拡大処理回路、29…第1マスタメモリ、
30…第1パターン比較回路、31…第2パター
ン拡大処理回路、 32…第2マスタメモリ、33…第
2パタ−ン比較回路、 34…シリアル多重変換
器、35…光送信モジュール、36…光ファイバケーブ
ル(信号伝送ケーブル)、37…光受信モジュール、
38…パラレル変換器。
13 ... Visual unit, 14 ... Light receiving part. 1
5 ... Sensor camera, 19 ... A / D converter, 20 ... Signal transmission means, 21 ... Signal processing part, 22 ... Subject pattern extraction circuit, 28 ... First
Pattern enlargement processing circuit, 29 ... First master memory,
30 ... 1st pattern comparison circuit, 31 ... 2nd pattern expansion processing circuit, 32 ... 2nd master memory, 33 ... 2nd pattern comparison circuit, 34 ... Serial multiplex converter, 35 ... Optical transmission module, 36 ... Optical Fiber cable (signal transmission cable), 37 ... Optical receiving module,
38 ... Parallel converter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】移動される被検体に対してその幅方向に走
査されるCCDイメージセンサからなる受光部を有した
多数のセンサカメラと、 これらセンサカメラから出力される映像信号を多値のデ
ジタルデータに変換するA/D変換器と、 マスタメモリを備え、このメモリに記憶されたマスタパ
ターンデータと前記受光部の受光量に応じた前記披検体
についての被検査パターンデータとを比較照合して、前
記披検体の欠点を判定する信号処理部と、 前記A/D変換器と前記信号処理部とをつないだ信号伝
送手段とを具備し、 前記信号伝送手段が、 前記A/D変換器によって得られたデジタルデータを高
周波に圧縮して直列に並ぶシリアルデジタルデータに変
換するシリアル多重変換器と、 前記シリアルデジタルデータを光信号に変換する光送信
モジュールと、 このモジュールに光ファイバケーブルを介して接続され
前記光信号を光電変換して前記シリアルデジタルデータ
に戻す光受信モジュールと、 この光受信モジュールで処理された前記シリアルデジタ
ルデータの各デジタルデータを夫々並列に並べ、これら
デジタルデータの送信周波数を前記センサカメラの駆動
周波数に戻して前記信号処理部に供給するパラレル変換
器とを有してなることを特徴とする欠点検査装置。
1. A large number of sensor cameras each having a light receiving portion composed of a CCD image sensor which scans a moving object in its width direction, and a multivalue digital image signal output from these sensor cameras. An A / D converter for converting into data and a master memory are provided, and the master pattern data stored in this memory is compared and collated with the inspected pattern data of the sample according to the amount of light received by the light receiving unit. A signal processing unit that determines a defect of the sample, and a signal transmission unit that connects the A / D converter and the signal processing unit, wherein the signal transmission unit is configured by the A / D converter. A serial multiplex converter that converts the obtained digital data into high-frequency signals that are serially arranged serially, and an optical transmitter that converts the serial digital data into an optical signal. A module, an optical receiving module connected to the module via an optical fiber cable, for photoelectrically converting the optical signal into the serial digital data, and each digital data of the serial digital data processed by the optical receiving module. A parallel inspection device, which is arranged in parallel with each other, and has a parallel converter for returning the transmission frequency of these digital data to the driving frequency of the sensor camera and supplying the same to the signal processing unit.
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