JPH07502813A - 完全集積構造を有するサニャック効果光学ジャイロメーター - Google Patents

完全集積構造を有するサニャック効果光学ジャイロメーター

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JPH07502813A
JPH07502813A JP5512204A JP51220493A JPH07502813A JP H07502813 A JPH07502813 A JP H07502813A JP 5512204 A JP5512204 A JP 5512204A JP 51220493 A JP51220493 A JP 51220493A JP H07502813 A JPH07502813 A JP H07502813A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 完全集積構造を有するサニヤック効果光学ジャイロメーター技術分野 本発明は、1913年物理学者サニヤックが発見した相対論的効果に基づく物理 学的原理によるサニヤック効果光学ジャイロメーターに関する。 背景技術 光学ジャイロメーターは公知であり、例えば、■984年4月発行の光波技術ジ ャーナル、Vol、Lt、2、No、2.91ベージ以下に説明されている。 添付第1a図及び第2a図により、この装置の公知の理論と主な発展について詳 細に説明する。 サニヤック効果光学ジャイロメーターの実際のプローブには、光が通過するリン グまたは巻線部1があり、その両端は共通部2を経てそれぞれ光源3と干渉検出 器4に接続している。光源3からの光が共通光路2を経てリングlに入射すると 、上記の幾何学的配置により光を2つの別個の光波に分割することができ、第1 光波aはリングlを時計方向に通過し、第2光波すはリングlを反時計方向に通 過する。これらの光波は同一の光源から発しているので、定義上同位相である。 光波が共通光路を出ると、光波aとbの組合せから生じた干渉縞を検出器4によ って観察することができる。他の動作がない限り、設計上光波aと光波すとの間 に干渉が生じ、光波の位相すれは厳密にゼロ、即ちΔφ−〇となる。 しかし、装置が慣性標準枠に対して角速度Ωで回転すると、リングを回転方向に 通過する光波の位相は通過中にρだけ進み、他方の光波は一Δρだけ遅れる。 従って、出射側での合計の位相ずれは2Δρとなり、検出器4に表示される干渉 の特徴が変ってしまう。装置の理論によれば、位相ずれのΔρの値はAをベクト ルとするベクトル積A△Ωに比例し、その絶対値はリングの表面に比例し、その 方向はリングの面に垂直で、Ωは測定する角回転のベクトルであるから、干渉パ ターンの変化を調べることによって合計の位相ずれΔρを測定すればめる回転Ω を知ることができることは明白である。 この原理に基づいて絶対回転の測定装置が設計されたのは、一方においてレーザ ー光源が出現し、他方において導波性光ファイバーが開発されたことによる。 サニヤック式光学ジャイロメーターの感度は光波路の長さに比例するので、当然 光波路を長くしようということになるが、これは光ファイバーを用いれば極めて 簡単なことなので、光ファイバーを数回巻いたコイルから成る検出ブローを用い てジャイロメーターを製作することができる。最近、集積光学素子を用いて光学 ジャイロメーターを構成し、光マイクロガイドの1巻きの長さを増すような構造 の光学ジャイロメーターも考案され、共振型ジャイロメーターも用いられたが、 その1例を第2a図に概略的に示す。 第2a図には接線方向に2個のライトガイドを備えている光マイクロガイドによ って構成される共振リングlが示されているが、各ライトガイドには入射面7と 出射面8があり、ライトガイド5と6は2個の光学カップラー9.10によって 共振リングlに結合されている。この公知の装置の原理は、2つの光波の光路を 長くして光にリングを数回通過させ、この型の通過を数回行った後の2つの光波 の状態で生じた干渉を調べることによって成立する。従って、この種の装置の性 能特性は、伝播ロスによる過大な減衰を生じないため、光波が通過てきる回数に よって左右される。しかしながら、この装置の不利な点は、かなりの可干渉長を 持つレーザー光源を使用する必要があるために、装置を特殊利用する場合に、広 い温度範囲でこの形の光を発することができる縦軸方向単一モードレーザを使用 することにある。また、構造が既にむつかしいこと。更に、装置の原理からして 、リング内での共振に対応する光の波長λ。を正確に監視することが必要である が、上記の波長λ。が異ったパラメーターの関数として展開するので、単純な電 子的処理によって行うのは容易ではないことである。 従ってファイバ型の光学ジャイロメーターの感度は満足し得るレベルに達しては いるが、コイルの全体寸法は多種の利用法に適していない。集積光学ジャイロメ ーターに関しては、共振モードに従って作動させようとすれば実際には非常な困 難が生ずる。 以上の説明でまだ説明しきれていない内容を充分に理解するためには、1980 年以来公知となっている光学ジャイロメーターで最高感度に対応する動作状態を 得られるようにする付属品について深く考案するとよい。 前述のように、光学ジャイロメーターは光が通過するリングに対して完全に対称 な構造を有している。これは集積回路型のジャイロメーターについても同様なの で、回転要素がない場合には、両方向に回転する2つの光波の間の位相ずれはゼ ロである。従って、この種の装置は2光渡干渉計であって、光学リングの光路の 出射側に集められる光強度■は次式によって与えられる。 1=Io cos2Δφ/2 但し、Δφは2つの光波の間の位相ずれである。 装置が回転していてこの回転を正確に測定したい場合には、Δρがδρだけ変化 するので、次のように表わせる。 dl=21a cos’Δφ/ 2 s i nΔρ/2 δφ=Io sin  (Δφ)δφ この式は2つの光波の間の位相ずれΔρがゼロである場合、この式がdl及び感 度d I/dφに対しても適用できることを示している。 しかし、d I/dφは位相ずれの変動レベルに関係する出力強度の変動レベル であるので、Δρ=π/2である場合にはdl/dφが最大となり、d I/d φが装置の感度を正確に表わすことになる。 以上のことから、装置の感度を最適にするには、一方の光波を他方の光波に対し てπ/2だけ遅らせることが非常に望ましい。 が光学リングを通過するには時間τを要するということを利用していた。従って 、リングの非対称位置に位相変調器を設置することにより、リングを逆方向に通 過する2つの光波に異る作用を与え、一方を他方に対してΔφだけ遅らせること ができる。このためには、一方の光波の入射側、つまり他方の光波の出射側に対 応する位置に変調器を設置することだけが必要である。変調器周波数が正確に計 算されている場合、即ち周波数f−2/τである場合、光ダクト中に非相関的な 効果を完全に生しさせることができ、これによって次の利点が得られることを示 すことができる。 l)装置の最高感度点に設定して最少変調振幅の値を読み取れる。 2)装置のレスポンスはsinδφに比例する変調周波数での項を持つ(σφは 回転によって生ずる位相変化)。 従って、良好なS/N比の状態で装置の読みを得るには、周波数fで信号の同期 検出を行うことだけが必要となる。 光波リングに設置する変調器の利点は以下の詳細説明の理解には有益であるが、 公知であり、前述の1984年発行の光波技術ジャーナル、Vo 1.LT、N o、2や、1981年lO月発行の光学通信、Vol、6、No、lOの502 ページ以下に記載されている[長期間安定な全単一モードファイバー光学ジャイ ロスコープ」によって確認される。 電子光学材料により集積光学素子中に任意に作られるこの種の変調器は、光波技 術ジャーナル1984年4月号、Vol、t、”r2、No、2の99〜107 ベーン「ファイバー光学ジャイロスコープの概観」という記事に説明されている 。 一方の回転光波と他方の反回転光波により前述のように位相ずれを生しさせる作 用は上記のリング(らせん)の入射側にトリカップラーを設置することにより、 前記の変調器を用いるよりもずっと簡単に得られる。しかし、この種の構造は著 しい小型化が不可能なファイバージャイロメーターに限定される。 信頼性が高く堅牢な小型ジャイロメーターの価格を大量生産によって低減する方 法は、現在、光学集積だけである。 これは1987年IO月28日発行の日本の文献特許公開箱62−247209 号が選択した方法であり、この文献には、基材上のらせん形光路の形の集積リン グを光波ガイドとする光学ジャイロメーターのプローブが説明されている。この リングの入射側には光源兼偏光子として働くレーザーダイオードがあり、出射側 には検出器が設けられている。リングの一端部の近辺には変調器が設置されてい る。しかし、この構造ではリングを構成する実際の導波管だけが基材に集積され ているので、装置の小型化や大量生産の可能性に限界がある。 集積型光学ジャイロメーターやらせん型プローブの先行技術については、特に以 下の文献を参照することができる。 本出願のフランスにおける優先権臼の後に公開された欧州特許第475013号 は集積構造のトリカップラーとらせん型プローブとの組合わせを開示しているが 、このプローブは明らかに非集積型の光ファイバーによって構成されている。 日本特許公開箱10−064283号は集積型らせん形プローブを有するジャイ ロメーターを開示しているが、このらせん形プローブの導波管は直接交叉してい る。 日本特許公開箱61−247209号は集積型のらせん形ジャイロメーターを提 案しているが、このらせん形のガイドの交叉構造は集積されていない。 発明の開示 本発明はトリカップラーを有する完全集積型の光学ジャイロメーターに関するも のであり、前述の先行技術による装置の欠陥を簡単な方法で是正するものである 。 基材上に集積された光学回路によって構成された平面状のらせんの形をした光学 ループから成るプローブを有し、光源からの2つの光波を逆方向にらせんを伝播 させるこのサニヤック効果光学シャイロメーターでは、らせんの光ガイドの両端 がらせん中に光波を導入する手段と光波がらせんから出射する時に各光波を検出 する手段に連接されており、光源と検出手段への光ガイド端部の接続はらせんと 同じ基材上に集積されている3本の平方な長方形ガイドを有するトリカップラー によって行われるが、中央のガイドが光源へ、外側の2本のガイドが検出器に接 続される。トリカップラーの特性は、光学ループを通過する2つの光波の間に不 作動位置ではできるだけπ/2に近い等しい位相ずれを生じさせるように選択さ れ、トリカップラー(8)の中央ガイド(14)の光源と反対側の端部には、中 央ガイドから出射側に導かれた残余の光の検査及び/または除去する吸光性構造 (26)が備えられている。従って、トリカップラーの外側ガイドから出る2種 の光信号は11=A+Bcosρ+Cs1nφと++=Δ/Bcosρ−Csi nによって与えられ、サインφに比例する差(111+=2Csinφ)は装置 の回転によって生ずる位相ずれに等しい。 以上の説明によって理解されるように、本発明の主な特徴は、ジャイロメーター が集積された光学構造から成り、逆方向に回転する2つの光波の位相ずれを生じ させるのは変調器ではなくてらせんの光ガイドの入射側端部にあるトリカップラ ーであり、このトリカップラーが位相ずれを生じさせるためにも装置へ光を導入 するためにも用いられるという点にある。更に、本発明によれば、ライトガイド のらせんとトリカップラーが共に同一基材上に集積されているので、装置の小型 化と大量生産が可能になる。従って、本発明による装置は多数囲巻きのプローブ に固有の利点と最高感度で作動できる変調器に固有の利点を同時に持つが、これ らの利点は光学素子を集積した構造によって得られるのである。 らせん形の光ダクトによってジャイロメーターの光プローブを構成する方法によ れば着目すべき利点が得られるが、らせんの端部ダクトの一方(入射側または出 射側)が共通部にある他方の光ダクトに達するようにループの巻線部のグループ の先まで伸びていること、即ちこのグループから脱出していることが必要である ために基本的な困難が生ずる。この脱出効果によって生ずる問題は集積構造にお いては重大な問題であり、本発明では次のように解決する。 本発明のジャイロメーターの1種の実施例では、2個の交叉する案内構造を重ね 合わせることにより、ブリッジのような上側光路または下側光路の形でらせん形 の入射ダクトまたは出射ダクトがループの巻線部から脱出し、実際のらせんによ って構成される下側構造はらせんの導波管の何れかの側の入射端または出射端に それぞれ設けられている2個のカップラーによって上側脱出構造に光学的に連結 される。 この実施例では、1本のライトガイドが上側光路または下側光路によってらせん の巻線部から脱出し、ブリッジは2個の光学カップラーによって光エネルギーの 受信及び発信を行う。2個の案内構造が同型である場合には、2個のカップラー は2本の光ガイドを近接設置することによって作動する単なるカップラーとなる 。案内構造が異型である場合には、2個の構造内での光伝播速度が異るので、光 波速度を整合するためにカップラーと格子を組み合わせることが有利であり、恐 ら(は必須である。 本発明においてトリカップラーの中央ガイドに吸光器を設置するのは、特に次の ように考えるからである。 光学ジャイロメーターの構造上の重要な問題は寄生振動系によって生ずることが あるノイズに大幅に関係している。理論上、非相関的な物理的効果、即ちサニヤ ック効果を利用するジャイロメーターには、相関的な性質を持つ温度、応力、圧 力変化のような外部パラメーターの影響はない。公知の良好な構成を採用して光 学的寄生現象を最小にし得るならばそう言えるが、ある種の寄生現象は極めて有 害であることが知られている。この種の現象とは、ライトガイド(ファイバーま たは集積型光マイクロガイド)中への光の逆散乱と連結界面(光源との接続、フ ァイバとの接続など)での寄生反射である。 一般に、測定光ビームと寄生光との干渉によって生ずるノイズは相関法則に従わ ず出力信号を変動させるので、測定する光量の変化と区別することができない。  従って、これらの変動は外部パラメーターによって変り、ドリフトを生じさせ るが、ドリフトの値が検出信号の値よりも迅速に大きくなるだけに不利も著しく なる。これはサニヤック効果ての測定信号が弱いことと、寄生ノイズが寄生光の 振幅とガイドされた光の信号の振幅の積によって変るということによる。 寄生光の強度が極めて弱い(例えば−60dB、即ち10−’)場合でも、寄生 光の振幅(この場合10−’)とガイドされた光の振幅の積は迅速に信号の値を 越えてしまう。従って、光ファイバーを集積した型のジャイロメーターでは、寄 生光を完全に除去することが重要である。しかし、次に述べる理由により、光学 素子を集積した型のジャイロメーターで寄生光を完全に除去することは特に困難 である。 信号波と同一平面内で寄生光をかなりの割合で捕捉できるような平面構造を作る ことは難しい。 トリカップラーの中央マイクロガイドから出る光は特に捕捉し難く、相殺するこ ともてきない。この光は実際は装置の不完全さによる寄生光ではないが、ノイズ レベルに対する影響が等しいために、中央ガイドからの光の強度が構造上の不完 全性によって生ずる寄生光の強度よりも大幅に高くなった時には更に不利になる 。 従って、この光をできるだけ減衰させることが基本となる。重要度は劣るが、ら せんのマイクロガイドから外側へ発生する光についても同様のことが言え、平面 構造でこの光を捕捉すると隣接するマイクロガイドと再結合して同様に時間的に 変動する干渉信号を生ずる。 何れの場合にも、集積型光学ジャイロメーターを小型化しようとすると前述の影 響が大きくなる。 従って、トリカップラーの中央ガイドの出力端とらせんのループとの間の距離を 約1mmまたは数mmとする。らせんの各ループ間の距離は僅か数十ミクロンと する。これらの距離は、言うまでもなく、従来のフィバ−型ジャイロメーターの 場合よりも遥かに短い。 前述の2種の効果(平面上の光のガイドと短い相互作用距離)を組み合わせる場 合は、適当な吸光器を設置して寄生光を完全に除去することが更に重要になる。 以下本発明の充分な理解を計るため、光学素子集積型ジャイロメーターの実施例 について説明するが、これらの実施例は本発明の範囲を制限するものではない。 各実施例は導光体の1本と入力用トリカップラーをらせんの巻線部から解放させ る構造を有している。以下の説明は添付した第1図乃至第18図を参照して行う 。 図面の簡単な説明 第1図は本発明による光学ジャイロメーターの概略平面図である。 第2図は第1図に示すジャイロメーターの変形例である。 第3図はジャイロメーターのトリカップラーの実施例を示す断面図である。 第4図はジャイロメーターのトリカップラーの他の実施例を示す断面図である。 第5図及び第6図は入力ダクトのマイクロガイドとらせんのマイクロガイドとの 間の共平面上の交叉を示す図である。 第7図はらせんを構成しているガイドの巻線部から入力導光体を解放させる実施 例を示す図である。 第7a図乃至第7g図は解放構造の製作段階を示す図で、第7a、第70、第7 e及び第7g図は断面図、第7b、第7d及び第7f図は平面図である。 第8図は入力導光体を巻線部から解放させる構造を示す図で、第8a乃至第8r 図は第8図に示す構造の製作段階を示し、第8a及び第8e図は断面図、第8b 、第8d及び第8f図は平面図である。 第9図、第1O図及び第11図は2個の別体の集積構造を用いる2種類の吸光器 の実施例を示す図である。 第13図、第14図、第15図及び第16図は同時に製作される2個の別体の集 積構造を用いる2種の吸光器を示す図である。 第17図はらせんの中央帯域の改良実施例の詳細を示す図である。 第18図はらせんのダクトの端部帯域の改良実施例の詳細を示す図である。 発明を実施するための好適な態様 第1図は本発明による光学素子集積型ジャイロメーターの一般的な構成を概略的 に示す図である。このジャイロメーターは、重要部として、基材上に集積され外 部接合用の2端部4と6とを持っているライトガイドから成るらせん2を含んで いる。本発明の本質的な特徴によれば、必要とする相互作用長Liの区間で平行 である3本の直線状ガイドによって構成されるトリカップラー8によって外部へ の接合が行われる。外側ガイドlO及び12と中央ガイド14の3本のガイドの 間で正しくエネルギー交換を行わせるため、10ミクロン以下の間隔(通常はl 乃至5ミクロンの間隔)がガイド間に設けられている。最適の相互作用距離Li は3本の平行な直線状ガイドIO212及び14の間の結合係数Cを最適にし、 従って検出信号の振幅を最適化するように計算されている。 装置の平面図である第1図から判るように、カップラー8の外側ガイド10と1 2はそれぞれらせん2の入射端4と6に接続されている。ガイドIOと12はま た、光検出器16と18にも接続されている。中央ガイドI4には光源20から の干渉性の弱い光が供給される。この光源は前述の条件を満足する限りどのよう な性質のものでもよいが、超輻射ダイオードで構成すれば特に有利である。 本発明のジャイロメーターを作動させるには上記の素子が必要でありまた最適で ある。しかし、これらの素子の入射側または入力側に、さらに空間フィルター2 2と、光源からの光を偏光させる偏光子24と、そして3本のガイド1O112 ,14の間のカップリングのあとに残留する光束を検出する吸光器26とを設け るといっそう有利となる。このようにするとトリカップラー8のライトガイド1 4の端部に残留することがある光エネルギーを検知してかつ吸収することが可能 となるからである。 第2図は本発明によるジャイロメーターの特殊な実施例を示す。 この実施例では、トリカップラー8とこれに接続している付属品がらせん2の内 側にあるので、装置が更に小型となる。第2図に示しで、詳細な説明は省略する 。 ジャイロメーターの入射側に設けた空間フィルターによって、ガイド内に入射す る光が弱いために生ずる寄生モードが移動するのを防止しながら、ガイドされた モードを通過することが可能となる。 このフィルターは公知の型であり、特に1990年6月13日付のフランス国特 許公開第73049号に従って製作することができる。 本発明によれば、ジャイロメーターのらせん2を構成するライトガイドは、この らせんの別のガイド間での光エネルギーの伝播や交換を防止する吸光構造によっ て保護することができる。 これらの吸光構造は金属層によって構成することができる。この層をさら1.s  i/S io2/S is N+ /S iot型の構造の誘電体で被覆する とよい(もちろんしなくてもよいカリ。この金属の厚さは重要ではないが、はぼ 50乃至500ナノメーターとする。このような構造の場合、この金属はコアと なる高屈折率層の土とマイクロガイドの一方の側面とに直接設けられる。 Si/SjO/高屈折率のドーピングされりS i Ox / S i OI型 の構造の場合、金属層は通常マイクロガイドのコアの片側に直接設けられる。金 属を蝕刻し、はがし法を行うことによって所望の形の金属層を得ることができる 。金属の厚さは薄くてもかまわないので、使用する金属によって5乃至20ナノ メーターとするのが有利である。このように製作した吸光器はさらにSiO2の 層または誘電体で被覆することが有利である。 第1図及び第2図の垂直面A−Aにおける正面図を示す第3図及び第4図を参照 して、2個の異る集積光学構造から成る本発明のトリカンブラー8の実施例を説 明する。 第3図は公知のS + / S + 02 / S I 8 N t / S  i O2構造のトリカップラー8の構成を示す。図面では基材3はノリカの層3 2と、ガイド構造のコアを構成している厚さhの窒化珪素の層34によって順次 被覆されている。本発明によれば、この基材3には2本の8102外側ガイド1 0.12と1本のSiO2中央ガイド14を持っている所謂トリカップラー8が 乗っている。この実施例の場合には、窒化珪素のコア34に触れないように上側 のSiO2塗装を蝕刻することによってガイド1O112及び14が形成されて いる。 この集合体は屈折率nの誘電体層36によって任意に被覆することができるが、 但しnはnS io□よりも小さいものとする。ガイドのコア層34は、厚さ3 7の平面部分を高さh′のSiO□で被覆するとを利である。しかし、高さh′ がゼロ、即ち5i02の層はなくてもよい。本発明によるトリカップラー8は対 称形でなければならないので、2本の外側ガイドlOと12は同一幅W′であり 中央ガイド14は任意の異る幅Wとすることができる。実際にはW−W′とし、 3本のガイド8.12及び14を同一幅とすれば製作が容易になる。 0.4〜0.2ミクロンの範囲(X方向の単一モード状態)で変動する窒化物層 5i2N、の厚さに応じて、ガイドの高さpは次の横断方向(yに一致)の単一 モード作動である限り、h′の値は幅W及びW′よりも自由に選択できる。特に h′=0で、hs isN、=0.16ミクロンの場合には、横断方向の単一モ ード作動を1テわせるためには小さい値を選択してW、W’ < 1ミクロンメ ーターとする。実際にはh′を次の範囲とする。 0≦h’<3μm<h 屈折率1<n5io2の誘電体被覆は残余の厚さh′と等価の役割を果す。nは n5i02よりも小さいので、この被覆はどのような場合でも閉し込めを保証す る。実際には再現性を良くするために、無限大の厚さWD、即ち、消失し易い光 波の浸透する厚さよりも大きい値(約1乃至6ミクロン)を選択する。 次に第4図を参照してSi/5iOr/ドーピングされた5iO−/ S i  O2型の集積構造のトリカップラー8の実施例について説明する。第4図には第 3図の素子に対応する素子、即ち、シリコンベース基材30、シリカ5iOz塗 層32と3本のトリカップラーガイドl0112及び14が示しである。第3図 の場合と異り、イオン交換で接着した高屈折率の7リ力塗層38を蝕刻すること によって3本のガイド1O112及び14が直接形成される。 この構造ではガイドの高さhは1.5<h<10ミクロンで、ガイド自体の外に ある高屈折率層38の高さh′はO<h’ <4ミクロンである。この構造の場 合、ガイドのコアの屈折率の方が高ければ、集合体を5in(このSiOはドー ピングされているとよいが、いなくともよい)の層で被覆する。 このトリカップラーが最適に機能するためには、ガイドの一方から他方への光交 換が正しく行われるように、ガイド間の相互作用長Liを最適に決めることが必 要である。この相互作用長さはパラメーターS(隣接する2本のガイド間の距離 )、WとW’ (ガイド10.12及び14の幅)と、構造の構成要素の駆折率 の全部によって決まる。最適の相互作用長を決める一般関係は複雑なので、らせ んを通過する光の両方向光路の後の外側がイド10と12で光エネルギーが最高 レベルになるようにするのが解法として選択されている。−例として、次の量を 与えることができる。 第4図に示す構造で次のパラメーターを用いた場合;h=2μm、h’ =0. 87zm。 Δn (nr−wyr 5102 ns+o+) = I O’W=W’ =6  μm、S=2am、長さLlの値はLi=2700μm 上記の値を用いてW =W’=6ミクロン、S=3ミクロンとした場合、最適の光学長さく相互作用長 さ)は僅か5200ミクロンとなる。 しかし、この結合長さLiはそれ程重要ではなく、理論値の近辺での約lθ%の 変動があってもジャイロメーターを満足に作動させる上での障害にならないこと に注目するとよい。 本発明によれば、例えばS io+ /S +s Nt /S io+ 、S  i/5i02/ドーピング5IOI/5I02、イオン交換によってドーピング したガラス、LiNbO3などのようなあらゆる型の導波管を用いた集積光学素 子によってらせんのガイドが作られる。換言すれば、第1図及び第2図に示した ジャイロメーターを製作するために特定の型の導波管を選択することは本発明の 範囲には含まれないので、当業者は材料についての知識を駆使して個々の場合に 最適の型の導波管を選択する。 第1図及び第2図には、装置のライトガイドの一方(入射側または出射側)のら せん2の巻線部脱出帯域を25として示しである。 帯域25の作り方について説明する。 第5図及び第6図は入射即ち入力ガイドまたは出射即ち出力ガイドがループ2の 平面内で直接共面交叉してループ2の巻線部から脱出する構造を示している。入 力即ち入射ガイドとらせん2の巻線部との交叉角Oは10°よりも大きい方がよ い。交叉角が小さすぎると、寄生光が生して所望の方向以外の方向に入り込み、 検出器16.18によって結果を検出するのを妨げる干渉を生じさせるからであ る。2本のガイドの各交叉点にライトガイドブロック13を設けである第6図の 共面交叉構成は上記の妨害干渉を弱めることができる。 更に、第1図及び第2図の装置は例えば約50ミクロンの限定された可干渉長を 持っているので。寄生光は信号と干渉することができない。従ってノイズレベル が一定になる。可干渉長が入射光波と寄生光波の光路長の差よりも短い時にも、 一般にノイズレベルが一定になる。 以上に説明したように、第1図及び第2図のジャイロメータープローブのらせん 構造2の利点は、共振モード動作(このモード動作はしばしば実施することが困 難なほどの作動条件を要求することがあった。)を用いなくても、巻線の数を増 やすだけで集積構造の感度を著しく高めることができる点にある。 第7図及び第8図は第1図及び第2図の構成では困難であった交叉帯域25を可 能にする構成を示す。第7図及び第8図では、交叉帯域が橋のような上側脱出路 になっているが、これに限定されるのではなく、下側通路を用いても同様の良好 な性能特性が得られる。 第7図の場合には、所望の脱出ブリッジを作るために交叉帯域25で2個の同種 の案内構造が重なり合っている。この実施例で用いられている案内構造はSi/ Sin/ドーピングされた5iOz/5102型の構造であるが、他種の構造と することもできる。 第7図の場合には、ベース構造に珪素層30があり、その上にシリカ層32と種 々のドーピングされたSiO2ガイドが乗っている。 これらのガイドのうちには、らせん2a体のガイド19と、シリカ層の乗ってい るベース構造のカップラー29及び31の2個の下側ブロック21と22がある 。層32はシリカ層33と、ドーピングしたソリ力光ガイド35と側構造に共通 の層37を持ち、ソリ力で作られている。第7図には、ブロック21とマイクロ ガイド35のすぐ上の部分27とから構成されているカップラー29と、らせん の他端部にあってブロック22とマイクロガイド35の部分23から構成される カップラー31とが示されている。連続した線の矢印はカップラー31内でブロ ック22からガイド35へ、またカップラー29内でガイド35からブロック2 1へ通過する光の経路を表わしている。この実施例によれば、らせん2のガイド 中での光の伝播に関して何らの間層も生しさせることなくガイド35を脱出させ ることができる。 第7a図乃至第7g図は第7図に示した脱出ブリッジの主な製作段階を示す。カ ップラーとなるべきブロック21.22と、らせん2のらせん形ガイド29を第 7a図に示すようにノリ力で被覆したノリコン基村上に堆積させる。この段階で は装置は第7b図に平面図として示した状態にある。 次の段階では中間のシリカ層をプラズマを用いて化学蒸着させ、化学蝕刻する。 この層には、ブロック21と22の上方位置に、後で光ダクト35を入れるため の切欠きが作られている。第7C図の状態のジャイロメーターの平面図は第7d 図に示しである。 次の段階(第7e図)ては、上で作られた構造上にガイド構造35のコアを蒸着 し、マスクを通してこのコアを蝕刻する。コアの材質はドーピングしたソリ力で ある。この状態の装置の平面図は第7f図に示しである。 次の段階では第7g図に示すように最終被膜または上層39を堆積する。この被 膜は5102で、やはりプラズマを使用する蒸着によって作ることができる。  当業者には公知である通り、これらの層の厚さは各層に与えられるべき有効屈折 率とカップラー29及び31に消失し易い光波の光路を正しく作る必要性によっ て決まる。 第8図を参照し、脱出帯域14が2個の同型でない構造を重ね合わせて作られる 場合の製作法について説明する。この場合には各構造内をガイドされる光波の速 度が異るので、上側構造と下側構造の間の連結は非常に小さい。しかし、これら 2個の構造の間に確実に光路を作るためには下記の間隔pを有する格子によって カップラーを構成することが必要である。 但し、βIとβ2は上側ガイドと下側ガイドの構造のモードの伝播定数、pの格 子間隔、mは干渉次数、nlと02は上側ガイドと下側ガイドのコア19と14 の有効屈折率である。前述の条件を考慮すれば、上側構造と下側構造とは確実に 連結されているので、帯域25からの脱出が可能である。第8図に示す例では、 下側構造はSi/SiO+/ドーピングされた5iOt/5iOr型で、上側構 造はS i / S 10 r / S ls N t (またはSiO,Nア )/SiO2型であり、第8図から分るように下側基材43は珪素で作られてい て、その上に第1のシリカ層45が乗っている。層45の表面には、ドーピング されたソリ力らせん2のライトガイドと、格子47.49を支持するドーピング されたソリカブロック21.22が配置されている。 カップラー29.3Iのガイド19とブロック21.22に乗っているシリカ層 51は下側構造と上側構造に共通である。上側構造は窒化珪素S!aN+または S iOt Nア型化合物で作られたライトガイド41を含み、シリカ層53を 乗せている。格子47.49は案内層41により前記の2個の構造を確実に光学 的に連結する。 異種のガイドの厚さと屈折率が格子47.49の間隔pと合うように適切に選択 される限り、第8図の構造はβ1とβ2に関する上記の条件を満足させ、技術的 に成立する。 第8図に示した構造の製作法は当業者にとって公知であるが、第8a図乃至第8 f図に主な製作段階を概略的に示す。 第8a図は公知の方法によってガイド19及び格子47.49を蝕刻したシリカ 層45が乗っている珪素基材43を示す。この段階の構造の平面図は第8b図に 示しである。 次の段階ではマスを通して乾式蝕刻を行い、続いて陰極スパッターまたは蒸気相 蒸着によって格子47.49を作成する。第8d図はらせん2のダクトの片側に 格子47.49が形成されている上記構造の状態を示す。 第8e図は2個の構造に共通の中間シリカ層51を化学蒸気相蒸着によって形成 した状態を示す。この状態の装置の平面図は第8f図に示しである。その後はガ イド19のコア41を蒸着し、5ib上層の蝕刻と蒸着を行うだけである。第7 図に示した例の場合と同様、各蒸着層の厚さは被膜に所望される有効屈折率に従 って決められる。 第1図及び第2図に示した中央ガイド14には偏光子24があり、これは既に述 べたように装置を満足に作動させるために必ずしも必要ではないのであるが、大 幅な改良が行われた。次のようにすれば偏光子を取り付けることが容易になる。  使用する光源、例えば超放射性ダイオードは常に充分に偏光した光を発すると は限らないので、偏光子24は光を1回偏光させるように選択するのが有利であ る。第3図及び第4図のライトガイド14を誘電体被膜で覆うことによってこの ように偏光させることができる。このようにして得られる偏光効果は横軸方向の 電気的な消失し易い数波(TE)または直交方向の偏光による消失し易い光波( TM)どうしの浸透差lに基つくものである。従って、同一の導波管については !□、<nTMである。更に、導波管」二に蒸着したある一種の金属については 、吸収α工、は常に吸収α0.よりも強い。従ってl TF< l < l T Mとするために必要なのは、ライトガイドを厚さlの誘電体層で覆うことだけで ある。 例えば第1図に示したトリカップラー構造の場合には、WS、iNl  二〇、165ミクロンとすると、吸収差(αTIJ−αTE)が最大となる(使 用金属A1、Au、CrまたはTiによって異る)一番有利tJ時でもl 51 t1+は約0.25乃至0.40ミクロンである。 次に第9図乃至第16図を参照して、本発明によるジャイロメーター内で2ケ所 に使用される吸光器の種々の実施例について説明する。吸光器のそれぞれの位置 が各実施例に対応する。後に「タイプ1の吸光器Jと称されるらせん2のライト ガイドを保護する吸光器と、後にrタイプ2の吸光器」と称されるトリカップラ ー8のダクト14の端部にある吸光器2Gは、本発明によれば任意の公知の集積 構造、即ち一方はS i/’S ioz /S i+ Nt /S iozで、 他方fis i / S i 01 /ドーピングされたS i Or 、/  S i 02という最も清適に使用される構造によって形成することができる。 これら2個の構造を、以下、構造1及び構造2と称する。 一般に、タイプ1とタイプ2の吸光器は構造1と構造2によって作ることかでき る。個々の場合に適当なタイプを選択する。これらの吸光器は本発明においては 非常に有用であるが、タイプ1の吸光器もタイプ2の吸光器も補助的なものであ って、これらの吸光器を使用せずにジャイロメーターを製作できることを指摘し ておく。 異なる巻線間でのエネルギー交換を防止し、ガイドの欠陥(中断、製作マスクの 傷、縁部の粗さなど)または実際の構成要素特にらせん2がガイドの一端部と交 叉する帯域25によって生ずる寄生光を捕捉するために、タイプlの吸光器はら せん2の光ダクトの周囲に設置される。 タイプlの集積構造では、吸光器は金属層によって構成され、誘電体で被覆して もしなくてもよい。この被膜を形成する金属の厚さはあまり重要ではないので、 一般に約50乃至500ナノメーターとする。この金属はコアを構成する高屈折 率のシリカ層の何れかの側に直接蒸着する。 タイプ2の構造では、通常、高屈折率5i02層とマイクロガイドのコアの片側 に直接金属層を蒸着する。金属を蝕刻するかはがし法によって所望の形が得られ る。金属層は薄くなければならないが、使用する金属の種類により5乃至20ナ ノメーターとするのがよい。 特にタイプlの吸光器については、SiO2または誘電性金属の被膜で覆うこと が好ましい。 トリカップラー8の3本のガイド10.12及び14の相互作用長を最適にして も中央ガイド14の端部の光強度はゼロにならないので、タイプ2の吸光器が必 要となる。このような状態では、らせん2に光の形で入るパワーを調べるため、 またはダクト14の端部に残留する光強度を除去するために吸光器26が使用さ れる。タイプ2の吸光器は寄生光ではなくてマイクロガイドから出てくる案内さ れた光を吸収する機能を持っているという点てタイプlの吸光器とは異る。従っ て、タイプ2の吸光器を構成する金属層はガイドのコアの上に直接置くか、更に 望ましくはオーバーラツプ被膜上に置くのが適切であるが、金属層と光の相互作 用はガイドのコアからの区間で行わせる。被覆層は一般にガイドを完全保護する だけの厚さがあるのて、タイプ2の吸光器を形成するには金属を蒸着する前に蝕 刻を行わtjければならない点に留意する必要がある。 第9図乃至第16図に示した吸光型構造の各層はそれ以前の図面に用いた番号で 示しであるので特に説明しない。実用状態で吸光機能を果す金属層は60として 示しである。 第9図は構造1に用いられるタイプ2の吸光器を示すが、これはマイクロカイト 34の軸に沿った断面で図示しである。金属層60の厚さは50乃至500ナノ メーターで、層34は窒化珪素Si+N、一般にS r Or N +であり、 窒化珪素の幅Wは165ナノメーター、Sin、の高さh′は約1.2マイクロ メーター、高さhはIO乃至40ナノメーターである。この例で用いている波長 は0゜8マイクロメーターである。 第1O図は構造2のタイプ2の吸光器を示す。ガイドされた光が被覆に著しく浸 透するので、構造2てはタイプ2の吸光器が更に役立つ。第10図はマイクロガ イドの軸に沿った断面図である。この場合には金属層60の厚さが5乃至20ナ ノメーターになっている。 厚さhはガイドされるモードの消失し易い光波の浸透深さよりも小さい。すへて の場合にタイプ2の吸光器はライトガイド自体を被覆するが、タイプIの吸光器 はガイド内での光波の伝播を妨げてはならないので、ガイドの片側に設置される 。この構成は第11図及び第12図に示しであるが、これらの図面ではタイプ2 の構造はガイドの軸に垂直な断面図で示され、タイプ1の吸光器は第11図、タ イプ2の吸光器は第2図に示しである。 光学素子集積型の7ヤイロメーターの吸光器については、本発明の一実施例では 、タイプ1の吸光器とタイプ2の吸光器を同一の技術過程で製作することが可能 である。2つのタイプの吸光器を別々に製作すれば製作過程か多くなるので、こ の実施例は比較的有利である。第13図乃至第16図から分るように、マイクロ ガイドの側壁を金属層60て覆うことによってこれを行い得る。第13図には構 造2のタイプlの吸光器も示しであるが、第14図では構造2の吸光器はタイプ 2である。第15図及び第16図はタイプlの吸光器(第15図)とタイプ2の 吸光器(第16図)を製作するための構造に関するものである。 第17図は本発明の第2改良点ではあるが、更に重要な改良点を示す。第17図 にはらせん2に所属する数本のライトガイド62.64及び66を示しである。 これらのガイドはらせんの中点Mの近辺の、ジャイロメーターが作動していない 時に正回転と反回転の光波が同時に到達する点に示しである。 超放射性ダイオードから発する光の干渉長し、が約30乃至100ミクロンであ ることを考えると、中点Mの何れかの側で寄生光の発生を防止することが重要で あり、この防止は干渉長さLeとほぼ同し長さの帯域で行うものである。従って 、この帯域内では、ライトガイド62.64.66などはできる限り完全でなけ ればならない。従って、曲線状の光路よりも欠陥の少い68のような直線状のラ イトガイドを本発明に従って製作すれば非常に有用である。 最後に、第18図を参照して本発明によるジャイロメーターのもう1つの改良実 施例について説明する。この実施例では、トリカップラー8の光ダクトIO及び 12の2つの端部のらせんへの入射部に2つの広がった漏斗状の帯域またはテー パー70.72が設けられている。らせんの始点及び終点にあるこれらの拡がり によって相関的な伝播ロスを増加させずに光ガイドを鋭く曲げることが可能にな る。 実際には、トリカップラー6のマイクロガイドは単一モード型である。拡がって いる帯域70.72が存在すれば、らせん2への入射口の後に幅が約6乃至15 マイクロメーターの多重モードガイドを使用することが可能になり、トリカップ ラー6でのガイド1O112及び14用の流れの幅がおよそ3乃至6マイクロメ ーターになる。らせんの湾曲がモードフィルターとして働くので、らせん内のマ イクロガイドが多重モード型であっても不利にはならない。更に、使用される湾 曲部に対して各層がり帯域70.72の入射口と出射口が充分に漸進的ならば( 例えば拡がりの長さを20乃至1200ミクロンにする)、主要モードから高次 モードへの変換は殆ど生じない。 補正書の翻訳文提出書 (特許法第184条の8の規定による補正書)平成6年7月15日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.基材上に集積された光学回路によって構成された平面状らせん(2)の形の 光学ループによって構成されるプローブであって、光源(20)からの2つの光 波をらせん内を逆方向に通過するように伝播させるライトガイドを有するものを 含み、該らせんのガイドの2つの端部(10、12)がらせん内に2つの光波を 導入する手段(14)と光波がらせん(2)から出射する時に各光波を検出する 手段(16、18)とに接続されているサニャック効果光学ジャイロメーターで あって、該ライトガイドの両端部(10、12)を光源(20)と検出手段(1 6、18)とにつなぐ接続が3本の平行な直線状ガイドを有するトリカップラー によって行われ、該トリカップラーの3本の平行な直線状ガイドのうちその中央 ガイド(14)は光源(20)に接続され、2本の外側ガイド(10、12)は 検出器(16、18)に接続されており、該トリカップラー(8)の特性は不作 動位置において光学ループを通過する2つの光波の間にできるだけπ/2に近い 位相ずれを生じさせるように選択されており、該トリカップラーはらせんの基材 と同じ基材上に集積されているものにおいて、そして該トリカップラー(8)の 中央ガイドの光源と反対側の端部には、上記中央ガイドを出る時に残留している ガイドされた光を検査及び/または除去する吸光性構造(26)が設けられてい ることを特徴とするサニャック効果光学ジャイロメーター。 2.該光波ガイドは、チタンで任意にドーピングされたかまたは陽子交換を行わ れたニオブ酸リチウムの案内被膜を有していることを特徴とする請求の範囲第1 項記載のジャイロメーター。 3.光波ガイドがイオン交換によって屈折率を変えたガラスの案内被膜を有して いることを特徴とする請求の範囲第1項記載のジャイロメーター。 4.Si3N4がSiONまたはAl2O3と代置し得るSi/SiO2/Si 3N4/SiO2構造とSi/SiO2/ドーピングされたSiO2/SiO2 構造の一方に案内構造が属していることを特徴とする請求の範囲第1項記載のジ ャイロメーター。 5.らせんのガイドの2個の端部のループ(2)の巻線部からの脱出が、2個の 交叉する案内構造を重ね合わせたブリッジのような上側光路または下側光路の形 で行われ、らせん自体によって構成される下側構造がらせんの光波ガイドの何れ かの側の入射端と出射端のそれぞれに設置された2個のカップラーによって上側 脱出構造に光学的に連結されていることを特徴とする請求の範囲第1項記載のジ ャイロメーター。 6.2個の案内構造が同型であって、2個のカップラー(29、30)が単なる カップラーであることを特徴とする請求の範囲第5項記載のジャイロメーター。 7.2個の案内構造が異型であって、2個のカップラー(29、31)が格子( 47、49)と合体していることを特徴とする請求の範囲第5項記載のジャイロ メーター。 8.らせんのガイドとらせんの片側との間、或いはらせんの集合体の上に配置さ れた吸光構造により、らせん(2)の光ガイドが相互に光学的に独立しているこ とを特徴とする請求の範囲第1項記載のジャイロメーター。 9.光源(20)が限定された干渉長を持つ光源であることを特徴とする第1項 乃至第8項の何れかに記載のジャイロメーター。 10.光源が超放射性ダイオードであることを請求の範囲特徴とする第9項記載 のジャイロメーター。 11.トリカップラー(14)の中央ガイドが、光源(20)の後の偏光子(2 4)と空間フィルター(22)を含むグループ内に、ガイドされたモードを選択 する2個の手段のうちの少くとも1個を有していることを特徴とする請求の範囲 第1項乃至第10項の何れかに記載のジャイロメーター。 12.中点Mを持つらせん(2)のライトガイドの一部と、中点の何れかの側に あるライトガイドの全部または一部が直線状ガイドの部分(68)によって構成 されることを特徴とする第1項乃至第11項の何れかに記載のジャイロメーター 。 13.ライトガイドが、らせんの端部(10、12)のトリカップラーからの出 射口よりも後の位置に、らせんのガイドの幅を増大させるため漏斗状の幅広部分 (72)を有していることを特徴とする請求の範囲第1項乃至第12項の何れか に記載のジャイロメーター。
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