JPH0746386Y2 - Automatic chip feeder - Google Patents

Automatic chip feeder

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Publication number
JPH0746386Y2
JPH0746386Y2 JP1991048305U JP4830591U JPH0746386Y2 JP H0746386 Y2 JPH0746386 Y2 JP H0746386Y2 JP 1991048305 U JP1991048305 U JP 1991048305U JP 4830591 U JP4830591 U JP 4830591U JP H0746386 Y2 JPH0746386 Y2 JP H0746386Y2
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JP
Japan
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chip
supply
work
shaped
discharge gate
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JPH04133626U (en
Inventor
亮二 佐生
幹二 菅沼
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正和産業株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、チップ状電子部品(例
えば、チップ状抵抗器、チップ状コンデンサ)等のチッ
プ状ワークを円盤の収納溝等の被供給部へ供給するため
のチップ状ワークの自動供給装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip-like work for supplying a chip-like work such as a chip-like electronic component (for example, a chip-like resistor or a chip-like capacitor) to a supply target portion such as a disc storage groove. Related to the automatic feeding device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のチップ状ワークの供給装
置としては、例えば、特開昭64−38320号公報、
実開平1−109016号公報に記載されているような
構成が知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a device for supplying a chip-shaped work of this type, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 64-38320,
A configuration as described in Japanese Utility Model Laid-Open No. 1-109016 is known.

【0003】この従来のチップ状ワークの供給装置の概
略について説明すると、チップ状ワークが直線状の供給
路に連続的に供給されると、第1および第2のストッパ
の働きにより先頭のチップ状ワークを円盤の収納溝に対
向させて解放する。この解放したチップ状ワークをエア
の噴出、若しくは真空装置による吸引により収納溝に供
給する。このようにして、チップ状ワークを円盤の収納
溝に順次供給することができる。そして、例えば、前工
程で割れたチップ状ワークが供給路内に供給されると、
この分割片とその次のチップ状ワークの前側部が共に円
盤の収納溝に挿入され、チップ状ワークの後側部は供給
路内に残される。すなわち、分割片の次のチップ状ワー
クは円盤の収納溝と供給路に跨った状態となる。この状
態で円盤を回転させると、収納溝と供給路に跨っている
チップ状ワークが破壊されることは勿論のこと、円盤や
供給路等を損傷するおそれがある。このような供給トラ
ブルはチップ状ワークの割れの場合に限らず、寸法、形
状の不良の場合にも生ずる。そこで、このような供給ト
ラブルを回避するため、センサによりチップ状ワークの
供給状態を検出し、円盤の回転を停止している。
The outline of this conventional tip-shaped workpiece supply device will be described. When the tip-shaped workpieces are continuously supplied to the linear supply path, the first and second stoppers work so that the tip-shaped workpieces at the leading end are processed. The workpiece is released by facing the disk storage groove. The released chip-shaped work is supplied to the storage groove by jetting air or suctioning by a vacuum device. In this way, the chip-shaped work can be sequentially supplied to the storage groove of the disk. Then, for example, when the chip-like work broken in the previous step is supplied into the supply path,
The divided piece and the front side of the next chip-like work are both inserted into the storage groove of the disk, and the rear side of the chip-like work is left in the supply passage. That is, the chip-like work next to the divided piece is in a state of straddling the storage groove of the disk and the supply path. When the disc is rotated in this state, the chip-shaped work extending over the storage groove and the supply passage may be destroyed, and the disc or the supply passage may be damaged. Such a supply trouble occurs not only when the chip-shaped work is cracked but also when the size or shape is defective. Therefore, in order to avoid such a supply trouble, the sensor detects the supply state of the chip-shaped workpiece and stops the rotation of the disk.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】上記従来のチップ状ワ
ーク供給装置では、供給路と円盤の収納溝の接続部で発
生した供給トラブルをセンサにより検出するようにして
いるので、円盤の回転を停止することにより円盤、供給
路等の損傷を未然に防止することはできる。しかしなが
ら、供給トラブルの原因となった不良のチップ状ワーク
は装置を停止させ、供給路等を分解してピンセット等の
手作業で排出しなければならず、その作業は面倒である
ばかりでなく、非能率的である。
In the above-mentioned conventional chip-like work supply device, the sensor detects the supply trouble occurring at the connection portion between the supply path and the storage groove of the disc, so that the rotation of the disc is stopped. By doing so, it is possible to prevent damage to the disk, the supply path, and the like. However, a defective chip-like work that causes a supply trouble must be stopped by the device, the supply path and the like must be disassembled and discharged manually by tweezers, etc., which is not only troublesome, It is inefficient.

【0005】本考案は、上記のような従来例の問題を解
決するものであり、供給路と被供給部との接続部で発生
する供給トラブルの原因となっている割れや欠けの生じ
たチップ状ワーク、形状等が不良で不完全に供給された
チップ状ワーク等を自動的に排出するようにして作業能
率の向上を図ることができ、また、構成を簡素化してコ
ストアップにならないようにしたチップ状ワークの自動
供給装置を提供することを目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems of the conventional example, and a chip having a crack or a chip which causes a supply trouble occurring at a connecting portion between a supply path and a supplied portion. The work efficiency can be improved by automatically discharging the chip-shaped work, etc., which is imperfectly supplied due to the defective work, the shape, etc., and also the structure can be simplified so that the cost does not increase. It is an object of the present invention to provide an automatic feeder for chip-shaped works.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本考案の技術的解決手段は、チップ状ワークを被供給
部に対して直線状で連続的に供給するための供給路と、
この供給路における上記被供給部側寄り位置の側壁の一
部を構成し、開閉可能に設けられた排出ゲートと、チッ
プ状ワークの上記被供給部に対する供給状態の良、不良
および上記被供給部に供給されたチップ状ワークの欠け
の有無を検出し得る検出手段と、上記供給路内を移送さ
れるチップ状ワークの割れの有無を検出し得る検出手段
と、上記検出手段による検出結果をもとに駆動され、上
記排出ゲートを開放する駆動装置と、上記排出ゲートの
開放に伴い、開放された排出ゲート位置のチップ状ワー
ク、若しくは排出ゲート位置および上記被供給部のチッ
プ状ワークをエアの噴出により排出する排出手段とを備
えたものである。
Means for Solving the Problems The technical solution of the present invention for achieving the above object is a supply path for linearly and continuously supplying a chip-like work to a supply target portion.
A discharge gate that forms a part of the side wall of the supply path near the supply target side and is openable and closable, and the supply state of the chip-like work to the supply target section is good or defective, and the supply target section is The detection means capable of detecting the presence or absence of chipping of the chip-shaped work supplied to the device, the detection means capable of detecting the presence or absence of cracking of the chip-shaped work transferred in the supply passage, and the detection result by the detection means. And a driving device for opening the discharge gate, and with the opening of the discharge gate, the chip-like work at the opened discharge gate position, or the chip-like work at the discharge gate position and the supply target portion It is provided with a discharging means for discharging by jetting.

【0007】[0007]

【作用】したがって、本考案によれば、供給路を直線状
で連続的に移送されたチップ状ワークは、被供給部に順
次供給される。そして、検出手段によりチップ状ワーク
の被供給部に対する供給状態の不良、若しくは被供給部
に供給されたチップ状ワークの欠け、若しくは供給路内
を移送されるチップ状ワークの割れが検出されると、駆
動装置により排出ゲートを開放して供給トラブルの原因
となるチップ状ワークを排出手段によるエアの噴出によ
り強制的に排出することができる。このように、供給ト
ラブルの原因となる割れや欠けの生じたチップ状ワー
ク、形状等が不良で不完全に供給されたチップ状ワーク
等を自動的に排出することができる。また、供給路の側
壁の一部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出により
供給トラブルの原因となるチップ状ワークを排出するよ
うにしているので、構成を簡素化することができる。
Therefore, according to the present invention, the chip-like workpieces linearly and continuously transferred through the supply path are sequentially supplied to the supply target portion. Then, when the detection means detects a defective supply state of the chip-shaped work to the supply target portion, a chip of the chip-shaped work supplied to the supply target portion, or a crack of the chip-shaped work transferred in the supply path is detected. It is possible to open the discharge gate by the driving device and forcibly discharge the chip-shaped work that causes a supply trouble by ejecting air by the discharge means. In this way, the chip-like work that has been cracked or chipped causing the supply trouble, or the chip-like work that has been imperfectly supplied due to poor shape or the like can be automatically discharged. Further, since a part of the side wall of the supply path is opened by the discharge gate and the chip-like work which causes the supply trouble is discharged by the jet of air, the structure can be simplified.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本考案の一実施例について図面を参照
しながら説明する。まず、本考案実施例で自動供給する
チップ状ワークであるチップ状抵抗器について説明す
る。図6(a)はチップ状抵抗器の平面図である。図6
(a)に示すように、チップ状抵抗器Rはセラミック等
からなる基板の外面に抵抗体となる炭素皮膜が形成さ
れ、この炭素皮膜に所望の溝が形成されて抵抗値が調整
されている。炭素皮膜がガラス等からなるコート層R1
により保護され、両端部に電極R2がめっき等により形
成され、コート層R1の表面側に抵抗値が印刷等により
表示されている。このチップ状抵抗器Rは製造に際し、
形状不良となったり、製造、移送等の工程で図6(b)
に示すように割れたり、図6(c)に示すように一部が
欠けたりすることがあり、このようなチップ状抵抗器R
が良好なチップ状抵抗器Rに混入していると供給トラブ
ルを生じるため、供給に際し、自動的に排出する必要が
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, a chip-shaped resistor which is a chip-shaped workpiece automatically supplied in the embodiment of the present invention will be described. FIG. 6A is a plan view of the chip resistor. Figure 6
As shown in (a), in the chip-shaped resistor R, a carbon film serving as a resistor is formed on the outer surface of a substrate made of ceramic or the like, and a desired groove is formed in the carbon film to adjust the resistance value. . Coat layer R1 whose carbon film is made of glass or the like
The electrode R2 is formed on both ends by plating or the like, and the resistance value is displayed on the surface side of the coat layer R1 by printing or the like. When manufacturing this chip resistor R,
In case of defective shape, manufacturing, transfer, etc., as shown in FIG.
There is a case where the chip resistor R is broken as shown in FIG. 6B or a part is chipped as shown in FIG.
If it is mixed in a good chip resistor R, a supply trouble will occur, so it is necessary to automatically discharge it when supplying.

【0009】次に、本考案の自動供給装置について説明
する。図1ないし図5は本考案の一実施例におけるチッ
プ状ワークの自動供給装置を示し、図1は要部の一部切
欠き平面図、図2は要部の一部切欠き側面図、図3は図
1のA−A矢視図、図4(a)、(b)はそれぞれ欠け
たチップ状ワークの排出動作説明用の一部切欠き平面
図、図5(a)、(b)はそれぞれ割れたチップ状ワー
クの排出動作説明用の一部切欠き平面図である。
Next, the automatic feeder of the present invention will be described. 1 to 5 show an automatic feeder for chip-shaped workpieces according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a partially cutaway plan view of a main part, and FIG. 2 is a partially cutaway side view of a main part. 3 is a view taken along the line AA of FIG. 1, FIGS. 4A and 4B are partially cutaway plan views for explaining the discharging operation of the chipped work, respectively, and FIGS. 5A and 5B. [Fig. 6] is a partially cutaway plan view for explaining a discharging operation of each chipped work piece.

【0010】図1ないし図3に示すように、円盤1が垂
直方向の回転軸(図示省略)を中心として回転可能に支
持されている。円盤1は外周上部に環状の突出部2が形
成され、この突出部2に等間隔で被供給部である多数の
収納溝3が形成され、各収納溝3の底部中央部に垂直方
向の吸引穴4が形成されている。円盤1は駆動装置(図
示省略)により矢印X方向に間歇回転される。
As shown in FIGS. 1 to 3, a disk 1 is rotatably supported around a vertical rotation shaft (not shown). The disk 1 has an annular protrusion 2 formed on the upper outer periphery thereof, and a large number of storage grooves 3 that are the supply target portions are formed at equal intervals in the projection 2, and a vertical suction is provided at the center of the bottom of each storage groove 3. The hole 4 is formed. The disk 1 is intermittently rotated in the arrow X direction by a drive device (not shown).

【0011】円盤1の各収納溝3にチップ状抵抗器Rを
順次供給するためにチップ状抵抗器Rを直線状に移送す
る供給路5が設けられている。すなわち、一対の案内部
材6、7および上面板8により囲まれた供給路5が形成
されている。この供給路5には直進フィーダ(図示省
略)によりチップ状抵抗器Rが連続的に供給される。供
給路5における円盤1側寄り位置の側壁の一部が排出ゲ
ート9により構成され、この排出ゲート9はソレノイド
(図示省略)の駆動により伝達機構(図示省略)を介し
て図1の実線位置に閉じ、図1の鎖線位置に開くように
なっている。排出ゲート9はチップ状抵抗器Rの長さよ
りやや幅広になるように設定されている。
A supply path 5 for linearly transferring the chip-shaped resistors R is provided in order to sequentially supply the chip-shaped resistors R to the respective storage grooves 3 of the disk 1. That is, the supply path 5 surrounded by the pair of guide members 6 and 7 and the upper surface plate 8 is formed. Chip resistors R are continuously supplied to the supply path 5 by a straight feeder (not shown). A part of the side wall of the supply path 5 near the disk 1 is composed of a discharge gate 9, which is driven by a solenoid (not shown) to a solid line position in FIG. 1 via a transmission mechanism (not shown). It is designed to be closed and opened at the position indicated by the chain line in FIG. The discharge gate 9 is set to be slightly wider than the length of the chip resistor R.

【0012】円盤1側において、ストッパ10が設けら
れ、このストッパ10により供給路5から収納溝3に供
給されたチップ状抵抗器Rを所定の位置に位置決めする
ことができる。収納溝3に収納されたチップ状抵抗器R
は円盤1の回転に伴い、供給路5に対してやや回転方向
下流側に移送されると、吸引穴4を介して吸引装置(図
示省略)により吸引されて収納溝3内に保持される。
A stopper 10 is provided on the disk 1 side, and the stopper 10 can position the chip-shaped resistor R supplied from the supply path 5 to the storage groove 3 at a predetermined position. Chip resistor R stored in the storage groove 3
When the disk 1 is transferred to the downstream side in the rotational direction with respect to the supply path 5 as the disk 1 rotates, it is sucked by a suction device (not shown) through the suction hole 4 and held in the storage groove 3.

【0013】ストッパ10の先端部上方にはこのストッ
パ10と、供給溝3に良好に供給されたチップ状抵抗器
Rとの両方に跨がるように位置するファイバセンサ11
が設けられ、ファイバセンサ11の後端は投、受光器
(図示省略)に対向されている。そして、投光器からフ
ァイバセンサ11を介して投光し、反射光を光ファイバ
センサ11を介して受光器で受光する。このとき、スト
ッパ10とチップ状抵抗器Rの両方から反射すると、収
納溝3に対するチップ状抵抗器Rの供給状態が良好であ
り、ストッパ10のみから反射すると、収納溝3に対す
るチップ抵抗器Rの供給状態が不良であり、若しくは収
納溝3に供給されたチップ状抵抗器Rが欠けていること
を検出することができる。上面板7には供給路5に対応
して穴12が形成され、穴12の上方にはファイバセン
サ13が設けられ、ファイバセンサ13の後端は投、受
光器(図示省略)に対向されている。これら穴12とフ
ァイバセンサ13はチップ状抵抗器Rの移送方向におい
て、排出ゲート9に対して直前に位置するチップ状抵抗
器Rとその手前のチップ状抵抗器Rが正常である場合に
それらに跨がるような位置に設定されている。そして、
投光器からファイバセンサ13を介して投光し、反射光
をファイバセンサ13を介して受光器で受光する。この
とき、前後に続くチップ状抵抗器Rの両方から反射する
と、排出ゲートの直前に位置するチップ状抵抗器Rに割
れがなく、1つのチップ状抵抗器Rのみから反射する
と、排出ゲート9の直前に位置するチップ状抵抗器Rに
割れがあることを検出することができる。
A fiber sensor 11 is located above the tip of the stopper 10 so as to straddle both the stopper 10 and the chip-shaped resistor R well supplied to the supply groove 3.
Is provided, and the rear end of the fiber sensor 11 faces a light emitting / receiving device (not shown). Then, the light is emitted from the light projector through the fiber sensor 11, and the reflected light is received by the light receiver through the optical fiber sensor 11. At this time, if both the stopper 10 and the chip-shaped resistor R are reflected, the supply state of the chip-shaped resistor R to the storage groove 3 is good, and if reflected only from the stopper 10, the chip resistor R to the storage groove 3 is supplied. It is possible to detect that the supply state is bad or that the chip-shaped resistor R supplied to the storage groove 3 is missing. A hole 12 is formed in the upper surface plate 7 so as to correspond to the supply path 5, a fiber sensor 13 is provided above the hole 12, and a rear end of the fiber sensor 13 faces a light projecting / receiving device (not shown). There is. These holes 12 and the fiber sensor 13 are provided to the chip resistor R in the transfer direction of the chip resistor R when the chip resistor R immediately before the discharge gate 9 and the chip resistor R in front of it are normal. The position is set to straddle. And
Light is emitted from the light projector through the fiber sensor 13, and reflected light is received by the light receiver through the fiber sensor 13. At this time, when reflected from both of the chip resistors R following the front and back, there is no crack in the chip resistor R located immediately before the discharge gate, and when reflected from only one chip resistor R, the discharge gate 9 It can be detected that the chip-shaped resistor R located immediately before is cracked.

【0014】円盤1上には収納溝3に対して供給される
チップ状抵抗器Rに向かってエアを噴出するためのエア
噴出管14が設けられ、案内部材6上には排出ゲート9
に位置するチップ状抵抗器Rに対し、側方より排出ゲー
ト9側へ向かってエアを噴出するためのエア噴出管15
が設けられている。各エア噴出管14、15の他端はコ
ンプレッサ(図示省略)に連通されている。上記排出ゲ
ート9を開閉するソレノイドとコンプレッサはファイバ
センサ11、13等を用いた検出手段の検出結果をもと
に駆動されるようになっている。
An air ejection pipe 14 for ejecting air toward the chip-shaped resistor R supplied to the storage groove 3 is provided on the disk 1, and a discharge gate 9 is provided on the guide member 6.
To the chip-shaped resistor R located at the side, the air ejection pipe 15 for ejecting air from the side toward the discharge gate 9 side.
Is provided. The other ends of the air ejection pipes 14 and 15 are connected to a compressor (not shown). The solenoid that opens and closes the discharge gate 9 and the compressor are driven based on the detection result of the detection means using the fiber sensors 11 and 13.

【0015】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。図1、図2に示すように、直進フィーダ
によりチップ状抵抗器Rを供給路5内に連続的に供給
し、供給路5内で直線状に移送する。一方、円盤1を間
歇回転させてその任意の収納溝3を供給路5に対向させ
て停止させる。これにより、先頭のチップ状抵抗器Rが
後方のチップ状抵抗器Rにより押されて収納溝3に収納
され、ストッパ10に当接して位置規制される。位置規
制後、円盤1を間歇回転させ、次の収納溝3を供給路5
に対向させると、この収納溝3に上記と同様にチップ状
抵抗器Rが収納され、先の収納溝3内のチップ状抵抗器
Rは吸引穴4を介して吸引装置により収納溝3内に保持
される。この間、ファイバセンサ11等を用いた検出手
段によりチップ状抵抗器Rの収納溝3に対する供給状態
が良好であり、チップ状抵抗器Rに欠けがないことを検
出し、また、ファイバセンサ13等を用いた検出手段に
よりチップ状抵抗器Rに割れがないことを検出すると、
上記動作を繰返してチップ状抵抗器Rを順次、円盤1の
収納溝3に供給し、加工、検査等のために移送すること
ができる。
The operation of the above configuration will be described below. As shown in FIGS. 1 and 2, the chip resistor R is continuously supplied into the supply path 5 by a straight feeder and is linearly transferred in the supply path 5. On the other hand, the disc 1 is intermittently rotated so that the arbitrary storage groove 3 faces the supply path 5 and is stopped. As a result, the leading chip-shaped resistor R is pushed by the rear chip-shaped resistor R to be housed in the housing groove 3 and brought into contact with the stopper 10 to be regulated in position. After the position is regulated, the disc 1 is intermittently rotated so that the next storage groove 3 is fed to the supply path 5
The chip-shaped resistor R is housed in the housing groove 3 similarly to the above, and the chip-shaped resistor R in the housing groove 3 is inserted into the housing groove 3 by the suction device through the suction hole 4. Retained. During this period, it is detected by the detection means using the fiber sensor 11 or the like that the chip-shaped resistor R is being supplied to the housing groove 3 in good condition, and that the chip-shaped resistor R is not chipped. When it is detected that the chip-shaped resistor R has no cracks by the detecting means used,
By repeating the above operation, the chip resistors R can be sequentially supplied to the storage groove 3 of the disk 1 and transferred for processing, inspection and the like.

【0016】今、図4(a)に示すように、収納溝3に
供給されたチップ状抵抗器Rが欠けているとすると、こ
れをファイバセンサ11等を用いた検出手段により検出
し、直進フィーダの駆動を停止させ(エアによるチップ
状抵抗器Rの供給補助手段を用いている場合には、この
供給補助手段の駆動をも停止させる。)、ソレノイドの
駆動により図4(b)に示すように、排出ゲート9を開
く。これと共に、コンプレッサを駆動させ、エア噴出管
14、15からそれぞれエアを噴出させる。これに伴
い、まず、排出ゲート9に位置するチップ状抵抗器Rを
供給路5における側壁の開放部から外部へ排出し、続い
て欠けているチップ状抵抗器Rを収納溝3から供給路5
へ後退させ、供給路5における側壁の開放部から外部へ
強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因に
なるのを未然に防止することができる。
As shown in FIG. 4 (a), if the chip-shaped resistor R supplied to the storage groove 3 is missing, this is detected by the detection means using the fiber sensor 11 and the like, and goes straight. The drive of the feeder is stopped (when the supply assisting means of the chip resistor R by air is used, the drive of this supply assisting means is also stopped), and the solenoid is driven, as shown in FIG. 4 (b). Then, the discharge gate 9 is opened. At the same time, the compressor is driven to eject air from the air ejection pipes 14 and 15, respectively. Along with this, first, the chip-shaped resistor R located at the discharge gate 9 is discharged to the outside from the opening of the side wall of the supply path 5, and then the chip-shaped resistor R that is lacking is received from the storage groove 3 to the supply path 5.
And is forcibly discharged to the outside from the opening of the side wall of the supply path 5. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of supply trouble.

【0017】また、図5(a)に示すように、供給路5
に供給されたチップ状抵抗器Rが割れているとすると、
これをファイバセンサ13等を用いた検出手段により検
出し、割れたチップ状抵抗器Rが排出ゲート9の位置に
移送されると、直進フィーダの駆動を停止させ(エアに
よるチップ状抵抗器Rの供給補助手段を用いている場合
には、この供給補助手段の駆動をも停止させる。)、ソ
レノイドの駆動により図5(b)に示すように、排出ゲ
ート9を開く。これと共に、コンプレッサを駆動させ、
エア噴出管15からエアを噴出させる。これに伴い、排
出ゲート9に位置する割れているチップ状抵抗器Rを供
給路5における側壁の開放部から外部へ強制的に排出す
る。したがって、供給トラブルの原因になるのを未然に
防止することができる。なお、エア噴出管14と15を
一つのバルブで開閉制御している場合には、エア噴出管
14、15からのエアの噴出により収納溝3内のチップ
状抵抗器Rを斜め方向に後退させて側壁の開放部から外
部へ排出することができる。
Further, as shown in FIG. 5 (a), the supply path 5
If the chip-shaped resistor R supplied to is broken,
When this is detected by the detection means using the fiber sensor 13 or the like, and the broken chip-shaped resistor R is transferred to the position of the discharge gate 9, the driving of the straight advance feeder is stopped (the chip-shaped resistor R by air is stopped). When the supply assisting means is used, the drive of the supply assisting means is also stopped.), And the solenoid is driven to open the discharge gate 9 as shown in FIG. 5B. Along with this, drive the compressor,
Air is ejected from the air ejection pipe 15. Along with this, the cracked chip-shaped resistor R located at the discharge gate 9 is forcibly discharged to the outside from the opening portion of the side wall of the supply path 5. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of supply trouble. When the air ejection pipes 14 and 15 are controlled to be opened and closed by a single valve, air is ejected from the air ejection pipes 14 and 15 to cause the chip-shaped resistor R in the storage groove 3 to recede in an oblique direction. It can be discharged to the outside from the opening of the side wall.

【0018】また、形状等の不良なチップ状抵抗器Rが
混入して円盤1の収納溝3に入り切らず、一部が供給路
5側に残った場合にも、図4(a)、(b)の場合と同
様にこのチップ状抵抗器Rをファイバセンサ11等を用
いた検出手段により検出すると、直進フィーダ等の駆動
を停止し、排出ゲート11等を開き、エア噴出管14、
15からエアを噴出させ、排出ゲート9の位置のチップ
状抵抗器Rおよび供給トラブルの原因となっているチッ
プ状抵抗器Rを供給路5における側壁の開放部から外部
へ強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因
になるのを未然に防止することができる。
Also, when a chip-shaped resistor R having a bad shape or the like is mixed and does not completely enter the storage groove 3 of the disk 1 and a part thereof remains on the supply path 5 side, as shown in FIG. As in the case of (b), when the chip-shaped resistor R is detected by the detection means using the fiber sensor 11 or the like, the driving of the linear feeder or the like is stopped, the discharge gate 11 or the like is opened, and the air ejection pipe 14,
Air is ejected from 15, and the chip-shaped resistor R at the position of the discharge gate 9 and the chip-shaped resistor R causing the supply trouble are forcibly discharged to the outside from the opening of the side wall of the supply path 5. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of supply trouble.

【0019】なお、上記実施例では、被供給部として円
盤1の外周に等間隔に形成した収納溝3が奥壁を有しな
い場合について説明したが、奥壁を有する場合にも実施
することができ、この場合にはストッパ10は不要とな
る。また、円盤1に収納溝3を形成した場合に限らず、
直線状に移送する場合にも適用することができる。本考
案は、この他、その基本的技術思想を逸脱しない範囲で
種々設計変更することができる。
In the above embodiment, the case where the storage grooves 3 formed at equal intervals on the outer periphery of the disk 1 as the supply target portion do not have the back wall has been described, but the present invention can be carried out even when the back wall is provided. However, in this case, the stopper 10 becomes unnecessary. Further, not only when the storage groove 3 is formed in the disk 1,
It can also be applied to the case of linear transfer. In addition to the above, the present invention can be variously modified in design without departing from the basic technical idea.

【0020】[0020]

【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、供
給路を直線状で連続的に移送されたチップ状ワークは、
被供給部に順次供給される。そして、検出手段によりチ
ップ状ワークの被供給部に対する供給状態の不良、若し
くは被供給部に供給されたチップ状ワークの欠け、若し
くは供給路内を移送されるチップ状ワークの割れが検出
されると、駆動装置により排出ゲートを開放して供給ト
ラブルの原因となるチップ状ワークを排出手段によるエ
アの噴出により強制的に排出することができる。このよ
うに、供給トラブルの原因となる割れや欠けの生じたチ
ップ状ワーク、形状等が不良で不完全に供給されたチッ
プ状ワーク等を自動的に排出することができ、したがっ
て、作業能率の向上を図ることができる。また、供給路
の側壁の一部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出に
より供給トラブルの原因となるチップ状ワークを排出す
るようにしているので、構成を簡素化することができ、
したがって、コストアップにならないようにすることが
できる。
As described above, according to the present invention, the chip-shaped workpieces that are linearly and continuously transferred through the supply path are
It is sequentially supplied to the supplied portion. Then, when the detection means detects a defective supply state of the chip-shaped work to the supply target portion, a chip of the chip-shaped work supplied to the supply target portion, or a crack of the chip-shaped work transferred in the supply path is detected. It is possible to open the discharge gate by the driving device and forcibly discharge the chip-shaped work that causes a supply trouble by ejecting air by the discharge means. In this way, chip-like workpieces that are cracked or chipped that cause supply problems, chip-like workpieces that are imperfectly supplied due to a bad shape, etc. can be automatically ejected. It is possible to improve. Further, since a part of the side wall of the supply path is opened by the discharge gate and the chip-like work which causes the supply trouble is discharged by jetting air, the structure can be simplified.
Therefore, it is possible to prevent the cost from increasing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例におけるチップ状ワークの自
動供給装置を示す要部の一部切欠き平面図
FIG. 1 is a partially cutaway plan view of an essential part showing an automatic feeder for chip-shaped workpieces according to an embodiment of the present invention.

【図2】同自動供給装置を示す要部の一部切欠き側面図FIG. 2 is a partially cutaway side view of an essential part showing the automatic feeder.

【図3】同自動供給装置を示し、図1のA−A矢視図FIG. 3 is a view showing the same automatic supply device, taken along the line AA of FIG.

【図4】(a)同自動供給装置の動作説明用で、欠けた
チップ状ワークが供給された状態の一部切欠き平面図 (b)同自動供給装置の動作説明用で、欠けたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図
FIG. 4 (a) is a partially cutaway plan view of the automatic feeder for explaining the operation of the automatic feeder, and FIG. 4 (b) is a chipped tip for explaining the operation of the automatic feeder. Plan view with some cutouts in the state of discharging a circular workpiece

【図5】(a)同自動供給装置の動作説明用で、割れた
チップ状ワークが移送された状態の一部切欠き平面図 (b)同自動供給装置の動作説明用で、割れたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図
FIG. 5 (a) is a partially cutaway plan view of a state in which a cracked chip-like work is transferred, for explaining the operation of the automatic feeder, and (b) is a broken chip for explaining the operation of the automatic feeder. Plan view with some cutouts in the state of discharging a circular workpiece

【図6】(a)チップ状ワークであるチップ状抵抗器を
示す平面図(b)割れたチップ状抵抗器を示す平面図 (c)欠けたチップ状抵抗器を示す平面図
6A is a plan view showing a chip-shaped resistor which is a chip-shaped work. FIG. 6B is a plan view showing a cracked chip-shaped resistor. FIG. 6C is a plan view showing a chip-shaped resistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 円盤 3 収納溝 4 吸引穴 5 供給路 9 排出ゲート 10 ストッパ 11 ファイバセンサ 13 ファイバセンサ 14 エア噴出管 15 エア噴出管 R チップ状抵抗器(チップ状ワーク) 1 Disc 3 Storage Groove 4 Suction Hole 5 Supply Channel 9 Discharge Gate 10 Stopper 11 Fiber Sensor 13 Fiber Sensor 14 Air Jet Pipe 15 Air Jet Pipe R Chip Resistor (Chip Workpiece)

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 チップ状ワークを被供給部に対して直線
状で連続的に供給するための供給路と、この供給路にお
ける上記被供給部側寄り位置の側壁の一部を構成し、開
閉可能に設けられた排出ゲートと、チップ状ワークの上
記被供給部に対する供給状態の良、不良および上記被供
給部に供給されたチップ状ワークの欠けの有無を検出し
得る検出手段と、上記供給路内を移送されるチップ状ワ
ークの割れの有無を検出し得る検出手段と、上記検出手
段による検出結果をもとに駆動され、上記排出ゲートを
開放する駆動装置と、上記排出ゲートの開放に伴い、開
放された排出ゲート位置のチップ状ワーク、若しくは排
出ゲート位置および上記被供給部のチップ状ワークをエ
アの噴出により排出する排出手段とを備えたチップ状ワ
ークの自動供給装置。
1. A supply passage for linearly and continuously supplying a chip-like work to a supply target portion, and a part of a side wall of the supply passage at a position closer to the supply target portion, which constitutes an opening and closing. A discharge gate provided so as to be able to detect the presence or absence of good or bad supply of the chip-like work to the supplied part and the presence or absence of chipping of the chip-like work supplied to the supplied part; For detecting the presence or absence of cracks in the chip-shaped workpiece transferred in the road, a drive device that is driven based on the detection result of the detection means, and opens the discharge gate, and to open the discharge gate. Along with this, an automatic chip-shaped work supply device is provided, which includes a chip-shaped work at the opened discharge gate position, or a discharge means for discharging the chip-shaped work at the discharge gate position and the supply target portion by jetting air. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021170661A (en) * 2020-03-30 2021-10-28 株式会社Fuji Inspection apparatus

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002302244A (en) * 2001-04-05 2002-10-18 Nitto Kogyo Co Ltd One chip separating/carrying device
JP4636539B2 (en) * 2005-04-25 2011-02-23 株式会社山武 Sensor amplifier

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5951454B2 (en) * 1979-02-28 1984-12-14 株式会社ニフコ A mounting device that attaches a molding along the edge of a glass window.
JP2726940B2 (en) * 1989-04-12 1998-03-11 日東工業株式会社 Automatic chip feeder

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021170661A (en) * 2020-03-30 2021-10-28 株式会社Fuji Inspection apparatus

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