JPH0743173A - 測定データ照合装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定の都度、オペレータが設計値や公差値な
どを入力しなくても、測定データの照合を行うことがで
きる測定データ照合装置を提供する。 【構成】 予め、公差ファイル１２，１３，１４に複数
の設計値および各設計値に対応する公差値を記憶させて
おく。測定データが与えられると、公差ファイルの中か
ら測定データに近い設計値およびその設計値に対応する
公差値が読み出され、その読み出された設計値および公
差値から求まる公差範囲内に測定データが含まれるか否
かが照合されたのち、その照合結果が出力される。その
ため、測定の都度、オペレータが設計値や公差値などを
入力しなくても測定データの照合を自動的に行うことが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、測定データ照合装置に
関する。詳しくは、測定データが設計値および公差値か
ら求まる公差範囲内に入っているか否かを照合し、その
照合結果を出力する測定データ照合装置に関する。

【０００２】

【背景技術】従来、測定データが予め設定された公差範
囲内に入っているか否かを自動に照合する装置として
は、測定を行う直前、あるいは、直後にオペレータが図
面から設計値や公差値などを読み取ったのち、その設計
値や公差値などをキーボードからキー入力しておくと、
測定データが与えられるごとに、設計値や公差値から求
まる公差範囲に測定データが含まれるか否かを照合し、
この照合結果を出力する構造である。また、自動測定・
自動照合を行える機能を備えた測定装置では、予め、自
動測定用のパートプログラムに設計値や公差値を記述し
ておくと、そのパートプログラムに従って、自動測定が
行われたのち、その測定で得られた測定データが設計値
や公差値から求まる公差範囲に含まれているか否かが自
動照合され、その結果が出力される構造である。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来の装置では、次の
ような問題があった。 オペレータが図面から設計値や公差値などを読み取っ
たのち、その設計値や公差値などをキーボードからキー
入力する装置では、各測定項目ごとに、設計値や公差値
などをその都度キー入力しなければならないから、手間
がかかり能率が悪い。 しかも、キー入力時に入力ミスが生じやすい。 また、自動測定・自動照合する装置では、自動測定用
のパートプログラムに設計値や公差値（標準的な値で
も）を記憶しておかなければならないから、上記と
同様な問題のほか、プログラム容量も多く必要となるか
らコストアップにつながらる。

【０００４】ここに、本発明の目的は、このような従来
の欠点を解消し、オペレータに負担をかけることなく、
自動的かつ経済的に測定データの照合を行うことができ
る測定データの照合装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そのため、本発明の測定
データ照合装置は、複数種の設計値および各設計値に対
応する公差値を記憶した公差ファイルと、この公差ファ
イルの中から測定データに近い設計値およびその設計値
に対応する公差値を読み出す読出手段と、この読出手段
によって読み出された設計値および公差値から求まる公
差範囲内に測定データが入っているか否かを照合する照
合手段と、この照合手段の照合結果を出力する出力手段
とを具備したことを特徴とする。

【０００６】

【作用】測定データが与えられると、公差ファイルの中
から測定データに近い設計値およびその設計値に対応す
る公差値が読み出される。ついで、その読み出された設
計値および公差値から求まる公差範囲内に測定データが
入っているか否かが照合されたのち、その照合結果が出
力される。従って、予め、公差ファイルに複数の設計値
および各設計値に対応する公差値を記憶させておけば、
測定の都度、オペレータが設計値や公差値などを入力し
なくても、測定データの照合を自動的に行うことができ
るから、オペレータに負担をかけることなく、自動的か
つ経済的に測定データの照合を行うことができる。

【０００７】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本発明の測定データ照合装置を備えた三
次元測定システムを示している。同測定システムは、プ
ローブ１Ａと被測定物Ｗを載置したテーブル１Ｂとを三
次元方向へ移動可能に構成した三次元測定機本体１と、
この三次元測定機本体１のプローブ１Ａとテーブル１Ｂ
とを三次元方向へ移動させる駆動ユニット２と、この駆
動ユニット２を介して手動で前記プローブ１Ａとテーブ
ル１Ｂとを三次元方向へ移動させるジョイスティックな
どからなる手動運転指令部３と、前記駆動ユニット２を
介して予め設定したプログラムに従って前記三次元方向
への移動を制御するとともに前プローブ１Ａと被測定物
Ｗとが接触したときのタッチ信号を基に各軸方向の座標
値を取り込み、この座標値から被測定物Ｗの寸法などを
求める演算制御部４と、キーボード５と、出力手段とし
てのＣＲＴ６と、プリンタ７とから構成されてい。

【０００８】前記演算制御部４は、読出手段および照合
手段を兼ねるＣＰＵ８と、三次元方向への移動を制御す
る駆動プログラムや各種処理プログラムなどを記憶した
ＲＯＭ９と、測定データなどを格納するＲＡＭ１０とを
有する。前記ＣＰＵ８は、ＲＯＭ９に記憶されたプログ
ラムに従って測定機本体１における三次元方向への移動
を制御するとともにタッチ信号を基に各軸方向の座標値
を取り込み、この座標値から被測定物Ｗの寸法などを求
める。また、これによって求められた測定データが、予
めＲＡＭ１０内に記憶された設計値や公差値を基に求ま
る公差範囲内に入っているか否かを自動的に照合し、そ
の照合結果を前記ＣＲＴ６に出力する。前記ＲＡＭ１０
には、測定データを格納するデータ格納ファイル１１の
ほかに、寸法公差ファイル１２、角度公差ファイル１３
および位置度公差ファイル１４などがそれぞれ設けられ
ている。

【０００９】前記寸法公差ファイル１２には、図２に示
す如く、長さに関する複数種の設計値を記憶するエリア
１２Ａと、各設計値に対応してその長さの公差範囲を決
める上限公差値および下限公差値をそれぞれ記憶するエ
リア１２Ｂ，１２Ｃとが設けられている。前記角度公差
ファイル１３には、図３に示す如く、角度に関する複数
種の設計値を記憶するエリア１３Ａと、各設計値に対応
してその角度の公差範囲を決める上限公差値および下限
公差値をそれぞれ記憶するエリア１３Ｂ，１３Ｃとが設
けられている。位置度公差ファイル１４には、図４に示
す如く、長さに関する複数種の設計値（原点からの各軸
方向の距離）を記憶するエリア１４Ａと、各設計値に対
応してその位置度公差範囲を決める公差値を記憶するエ
リア１４Ｂとが設けられている。

【００１０】次に、本実施例の作用を図５のフローチャ
ートを参照しながら説明する。測定に当たっては、ま
ず、測定コマンドを入力したのち（ＳＴ１）、測定を行
う（ＳＴ２）。例えば、孔の内径を測定するには、内径
測定用コマンドを入力したのち、手動または自動によっ
てプローブ１Ａとテーブル１Ｂとを三次元方向へ移動さ
せながらプローブ１Ａを被測定物Ｗの孔の内周面３点以
上に当接させる。すると、そのときの各軸の座標値が取
り込まれ、これらの座標値から孔の内径が算出される。

【００１１】次に、算出された測定データの出力記号を
解析する（ＳＴ３）。つまり、その測定データが長さに
関するものか、角度に関するものか、位置度に関するも
のかを解析する。続いて、その解析結果に対応する公差
ファイルをＲＡＭ１０内から選択したのち（ＳＴ４）、
選択した公差ファイルの中から測定データに最も近い
（この場合、測定データを基準として一定範囲内で最も
近い）設計値およびその設計値に対応する公差値を読出
す（ＳＴ５）。例えば、測定データの出力記号が直径Ｄ
（長さに関するもの）で、かつ、値が「３０．００５m
m」であったとすると、ＳＴ４において、寸法公差ファ
イル１２が選択されたのち、ＳＴ５において、その寸法
公差ファイル１２の中から測定データに最も近い設計値
「３０」およびその設計値に対応する上限公差値および
下限公差値「＋０．１」「−０．１」が読出される。

【００１２】次に、ＳＴ５の処理ののち、公差ファイル
の中に測定データに最も近い設計値があるか否かをチェ
ックする（ＳＴ６）。該当する設計値があれば、直ち
に、照合処理（ＳＴ９）へ進む。該当する設計値がなけ
れば、「照合データなし」あるいは警告の表示をＣＲＴ
６に行ったのち（ＳＴ７）、照合データのキーインを待
つ（ＳＴ８）。照合データ（つまり、設計値および公差
値）がキーインされたたことを条件として照合処理（Ｓ
Ｔ９）へ進む。

【００１３】照合処理（ＳＴ９）では、読出した設計値
および公差値またはキーインされた設計値および公差値
を基に求まる公差範囲内に測定データが入っているか否
かをチェックする。測定データが公差範囲内に入ってい
れば合格である旨の表示をＣＲＴ６に行う（ＳＴ１
０）。測定データが公差範囲内に入っていなければ、不
合格である旨の表示をＣＲＴ６に行う（ＳＴ１１）。

【００１４】従って、本実施例によれば、予め、公差フ
ァイル１２，１３，１４に複数の設計値および各設計値
に対応する公差値を記憶させておけば、測定データが与
えられるごとに、公差ファイル１２，１３，１４の中か
ら測定データに最も近い設計値およびその設計値に対応
する公差値が読み出され、その読み出された設計値およ
び公差値から求まる公差範囲内に測定データが入ってい
るか否かが照合されたのち、その照合結果が出力される
から、従来のように、測定の都度、オペレータが設計値
や公差値などをキーボードからキー入力しなくても、測
定データの照合を自動的に行うことができる。そのた
め、測定能率を向上させることができるとともに、キー
入力時に入力ミスを防げる。

【００１５】また、公差ファイルとして、寸法公差ファ
イル１２、角度公差ファイル１３および位置度公差ファ
イル１４の３種を備え、まず、測定データの出力記号を
解析し、その出力記号に対応する公差ファイル１２，１
３，１４を選択するようにしたので、長さ、角度および
位置度についての照合を自動的に行うことができる。

【００１６】また、自動測定および自動照合を行うもの
では、自動測定用のパートプログラムに設計値や公差値
を記憶させておかなくてもよいから、パートプログラム
の容量を少なくでき、その分、コストダウンが図れる。

【００１７】以上、本発明について好適な実施例を挙げ
て説明したが、本発明は、この実施例に限られるもので
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改
良並びに設計の変更が可能である。例えば、上記実施例
では、３種の公差ファイル、つまり、寸法公差ファイル
１２、角度公差ファイル１３および位置度公差ファイル
１４の３種の公差ファイルを用意したが、公差ファイル
の種類についてはこれに限られるものでなく、他のもの
でもよい。更に、数についても、少なくとも１種以上の
公差ファイルを備えていればよい。

【００１８】また、寸法公差ファイル１２については、
孔や軸の直径寸法とこれに対応する公差値とを記憶した
直径公差ファイル、任意の二点間を結ぶ直線の長さ寸法
とこれに対応する公差値とを記憶した長さ公差ファイ
ル、原点から任意の位置までの各軸方向の寸法とこれに
対応する公差値とを各軸（Ｘ，Ｙ，Ｚ軸）毎に記憶した
位置公差ファルなど、測定項目ごとのファイルに分類
し、測定データの項目に応じて対応するファイルを選択
するようにすれば、より実際の公差値に適した公差値と
の照合を行うことができる。

【００１９】また、各設計値に対応して、標準的な公差
値を記憶した標準公差値ファルイのほかに、特別な公差
値（例えば、標準的な公差値よりも狭い範囲の公差値）
を記憶した個別公差値ファイルを用意しておき、測定の
先だって、標準公差値ファルイおよび個別公差値ファイ
ルのいずれかを選択したとき、その選択された標準公差
値ファルイまたは個別公差値ファイルに記憶された設計
値および公差値を基に測定データが自動的に照合される
ように構成することもできる。このようにすれば、被測
定物に要求される加工精度に応じた公差照合を行うこと
ができる。

【００２０】

【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、予め、公
差ファイルに複数の設計値および各設計値に対応する公
差値を記憶させておけば、測定の都度、オペレータが設
計値や公差値などを入力しなくても測定データの照合を
自動的に行うことができるから、オペレータに負担をか
けることなく、自動的かつ経済的に測定データの照合を
行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。

【図２】同上実施例における寸法公差ファイルの内容を
示す図である。

【図３】同上実施例における角度公差ファイルの内容を
示す図である。

【図４】同上実施例における位置度公差ファイルの内容
を示す図である。

【図５】同上実施例における処理の流れを示すフローチ
ャートである。

【符号の説明】

６ ＣＲＴ（出力手段） ８ ＣＰＵ（読出手段、照合手段） １２ 寸法公差ファイル １３ 角度公差ファイル １４ 位置度公差ファイル １２Ａ，１３Ａ，１４Ａ 設計値を記憶するエリア １２Ｂ，１２Ｃ，１３Ｂ，１３Ｃ，１４Ｂ 公差値を記
憶するエリア

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数種の設計値および各設計値に対応する
   公差値を記憶した公差ファイルと、この公差ファイルの
   中から測定データに近い設計値およびその設計値に対応
   する公差値を読み出す読出手段と、この読出手段によっ
   て読み出された設計値および公差値から求まる公差範囲
   内に測定データが入っているか否かを照合する照合手段
   と、この照合手段の照合結果を出力する出力手段とを具
   備したことを特徴とする測定データ照合装置。