JPH0741337A - Optical coloring prevention transparent body - Google Patents

Optical coloring prevention transparent body

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JPH0741337A
JPH0741337A JP5208406A JP20840693A JPH0741337A JP H0741337 A JPH0741337 A JP H0741337A JP 5208406 A JP5208406 A JP 5208406A JP 20840693 A JP20840693 A JP 20840693A JP H0741337 A JPH0741337 A JP H0741337A
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Japan
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film
conductive film
transparent conductive
refractive index
thickness
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5208406A
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Japanese (ja)
Inventor
Makoto Fukawa
真 府川
Takuji Oyama
卓司 尾山
Makoto Noshiro
誠 能代
Robert Terneu
ロベール・テルノ
Michel Hannotiau
ミシェル・アノティオ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Glass Europe SA
AGC Inc
Original Assignee
Glaverbel Belgium SA
Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
Application filed by Glaverbel Belgium SA, Asahi Glass Co Ltd filed Critical Glaverbel Belgium SA
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Publication of JPH0741337A publication Critical patent/JPH0741337A/en
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Abstract

PURPOSE: To obtain a transparent body to prevent schillerization which can prevent color shading (schillerization) caused by an uneven thickness of a highly refractive transparent electrically conductive film and a change of viewing angle, irrespective of thickness of a substrate film.
CONSTITUTION: There is a mixed layer 12 between a transparent electrically conductive film 11 and a substrate film 13, which comprises components of the transparent electrically conductive film 11 and the substrate film 13. The transparent body to prevent schillerization is formed in such a way as the refractive index of the mixed layer 12 changes gradually between the substrate film 13 and the transparent electrically conductive film 11.
COPYRIGHT: (C)1995,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光彩防止透明体に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an antiglare transparent body.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、ガラス基板表面に透明導電膜
を形成したガラス基板は、各種表示用の電極や、低放射
ガラス板として用いられている。例えば、イオンプレー
ティング法によりガラス基板上にインジウム・スズ酸化
物(ITO)を形成したガラス基板は、液晶等の表示素
子の透明電極として多く用いられている。また、スプレ
ー法によりガラス基板上に形成されたフッ素ドープ酸化
スズ(SnO2 :F)膜は住宅の窓ガラス用の低放射ガ
ラス板として広く用いられている。また、最近、上記透
明導電膜の形成されたガラス基板は、新たな用途とし
て、建築用の電磁遮蔽ガラス板や自動車用の電熱風防窓
ガラス、民生用の太陽電池用透明導電基板などが考えら
れるようになってきた。これらはいずれも大面積ガラス
基板が要求される用途である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a glass substrate having a transparent conductive film formed on the surface of the glass substrate has been used as an electrode for various displays and a low-emission glass plate. For example, a glass substrate having indium tin oxide (ITO) formed on the glass substrate by an ion plating method is often used as a transparent electrode of a display element such as a liquid crystal. A fluorine-doped tin oxide (SnO 2 : F) film formed on a glass substrate by a spray method is widely used as a low-emission glass plate for a window glass of a house. Further, recently, the glass substrate on which the transparent conductive film is formed is considered to be a new application such as an electromagnetic shielding glass plate for construction, an electrically heated windshield glass for automobiles, and a transparent conductive substrate for consumer solar cells. It's starting to happen. All of these are applications requiring a large area glass substrate.

【0003】ところが透明導電膜を構成する材料には、
ITO、フッ素ドープ酸化スズ(SnO2 :F)、アン
チモンドープ酸化スズ(SnO2 :Sb)やアルミニウ
ムドープ酸化亜鉛(ZnO:Al)等があるが、これら
の透明酸化物材料はいずれも屈折率が1.8〜2.2と
ガラスに比べて大きいため、干渉条件を満たす波長での
反射率が大きくなってしまう。即ち、これら透明酸化物
をガラス基板上にある程度以上の膜厚にした場合、分光
反射(透過)スペクトルに極大極小の波(リップル)が
現れるのである。このため大面積のガラス基板にこれら
の薄膜を形成した場合、面内の膜厚変動(ムラ)により
反射(透過)極大の波長がずれ、反射(透過)色の光
彩、即ち色ムラ(iridescence)となって目
に感知されることになる。
However, as the material forming the transparent conductive film,
There are ITO, fluorine-doped tin oxide (SnO 2 : F), antimony-doped tin oxide (SnO 2 : Sb), aluminum-doped zinc oxide (ZnO: Al), and the like, but all of these transparent oxide materials have a refractive index. Since it is 1.8 to 2.2, which is larger than that of glass, the reflectance at the wavelength satisfying the interference condition becomes large. That is, when these transparent oxides are formed on the glass substrate to a certain thickness or more, a maximum and minimum wave (ripple) appears in the spectral reflection (transmission) spectrum. Therefore, when these thin films are formed on a large-area glass substrate, the wavelength of the reflection (transmission) maximum shifts due to in-plane film thickness fluctuations (unevenness), which causes reflection (transmission) color irradiance, that is, color unevenness (iridence). Will be perceived by the eyes.

【0004】ガラス基板面上での膜厚分布は、膜の形成
手法にもよるが、例えば1m×1mのガラス板を考えた
場合、蒸着法、スパッター法、CVD法、またはオンラ
イン・スプレー法等による方法では、±5%以内に抑え
ることは極めて高度な技術を要するのが現状である。我
々の研究によれば、この程度の膜厚分布を仮定すると、
前記の透明導電膜が約0.15μm以上ガラス基板上に
形成された場合、面内の色ムラが問題となるレベルに達
する。一方膜厚を厚くしていくと反射(透過)色の彩度
が減少しはじめる。約0.6μm以上の厚みで鮮やかさ
は減少していくが、色ムラとして判別されるレベルを超
えるためには3μm以上、好ましくは5μm以上の膜厚
が必要である。
The film thickness distribution on the surface of the glass substrate depends on the film forming method. For example, when a glass plate of 1 m × 1 m is considered, a vapor deposition method, a sputtering method, a CVD method, an online spray method or the like. In the method according to (2), it is the current situation that an extremely high technology is required to suppress the amount within ± 5%. According to our research, assuming this thickness distribution,
When the transparent conductive film is formed on a glass substrate with a thickness of about 0.15 μm or more, in-plane color unevenness reaches a problematic level. On the other hand, as the film thickness is increased, the saturation of the reflected (transmitted) color begins to decrease. The vividness decreases with a thickness of about 0.6 μm or more, but a film thickness of 3 μm or more, preferably 5 μm or more is required to exceed the level of discrimination as color unevenness.

【0005】また、例え、膜厚分布を極めて均一にコン
トロールすることができたとしても、分光スペクトルに
おける大きなリップルは残るので、3μm以下の膜厚で
は鮮やかな色彩として目に感知されることになる。これ
が大面積のガラス基板に形成されると、ガラス基板面と
視線のなす角(視角)により極大反射(透過)波長がず
れ、色彩が変化するため、やはり色ムラとして感知され
ることになる。従って、分光スペクトルにおけるリップ
ル自体を小さく抑えることが望ましいのである。膜厚が
0.15μmよりも薄い場合には膜厚分布の変化量が±
7.5nm程度となるので膜厚変動による面内の色ムラ
はほとんど感知されないが、視角による色ムラはやはり
問題となる。このように透明導電膜をガラス基板上へあ
る程度厚く形成する場合、面内の膜厚変動や視角の変化
により、ガラス基板に色ムラが観測され、商品性を著し
く損なう場合がある。
Further, even if the film thickness distribution can be controlled extremely uniformly, a large ripple remains in the spectral spectrum, so that a film having a film thickness of 3 μm or less is perceived as a vivid color. . When this is formed on a large-area glass substrate, the maximum reflection (transmission) wavelength shifts due to the angle (visual angle) formed by the surface of the glass substrate and the line of sight, and the color changes, so it is also perceived as color unevenness. Therefore, it is desirable to reduce the ripple itself in the spectrum. When the film thickness is thinner than 0.15 μm, the variation of the film thickness distribution is ±
Since the thickness is about 7.5 nm, the in-plane color unevenness due to the film thickness variation is hardly sensed, but the color unevenness due to the viewing angle is still a problem. When the transparent conductive film is formed to a certain thickness on the glass substrate as described above, color unevenness may be observed on the glass substrate due to in-plane film thickness variation and change in viewing angle, which may significantly impair commercializability.

【0006】これを防止するためにこれまでにいくつか
の提案がなされている。例えば、特公昭63−3953
5号公報には、透明導電膜とガラス基板との間に屈折率
(n)=1.7〜1.8の層を可視光(500nmの波
長において)の1/4波長に相当する厚みに形成する方
法が示されている。また、同公報には透明導電膜とガラ
ス基板との間に屈折率(n)=1.6〜1.7であっ
て、可視光(500nmの波長において)の1/4波長
に相当する厚みの層と、屈折率(n)=1.8〜1.9
であって、同上の可視光の1/4波長に相当する厚みの
層を2層ガラス基板側からこの順に連続して形成する方
法が示されている。
Several proposals have been made to prevent this. For example, Japanese Patent Publication No. 63-3953
JP-A No. 5 (1994) discloses a layer having a refractive index (n) of 1.7 to 1.8 between a transparent conductive film and a glass substrate and having a thickness corresponding to a quarter wavelength of visible light (at a wavelength of 500 nm). A method of forming is shown. Further, in the publication, the refractive index (n) between the transparent conductive film and the glass substrate is 1.6 to 1.7, and the thickness corresponds to ¼ wavelength of visible light (at a wavelength of 500 nm). And the refractive index (n) = 1.8 to 1.9.
That is, a method of continuously forming a layer having a thickness corresponding to ¼ wavelength of visible light in the above order from the two-layer glass substrate side is shown.

【0007】また、特開平1−201046号公報に
は、透明導電膜とガラス基板との間にn=1.7〜1.
8の層を形成する現実的な手段としてSiCxy 膜を
形成する方法が開示されている。これは板ガラスの製造
方法としてフロート法を想定し、スズ等の溶融金属窯中
でシランと不飽和炭化水素化合物と二酸化炭素の混合ガ
スをガラスリボン表面に当てるというもので基本的には
常圧CVD法により板ガラスと透明導電膜との中間屈折
率を有する透明膜を形成する方法である。
Further, in JP-A-1-201046, n = 1.7-1..n is provided between the transparent conductive film and the glass substrate.
A method of forming a SiC x O y film is disclosed as a practical means for forming the layer No. 8. Assuming that the float method is used as a method for producing sheet glass, a mixed gas of silane, an unsaturated hydrocarbon compound and carbon dioxide is applied to the glass ribbon surface in a molten metal kiln such as tin. It is a method of forming a transparent film having an intermediate refractive index between the plate glass and the transparent conductive film by the method.

【0008】いずれの場合も透明導電膜の下地となる層
の膜厚は、可視光(500nmの波長において)の1/
4波長に相当する膜厚が最低でも必要である。このた
め、いずれの場合も形成手段としては常圧CVD法が実
施例として記載されている。常圧CVD法やオンライン
・スプレー法による成膜は、大量のガラス板を製造プロ
セスに連続で処理する場合に、特にコストの点で非常に
有利な手法であるといわれている。しかし、一方で前述
したように、これらの方法はガラス板面内での膜厚の精
密な制御が非常に困難で、従って上述したところの下地
膜を正確に1/4波長に相当する膜厚にすることは困難
である。
In any case, the film thickness of the underlying layer of the transparent conductive film is 1 / visible light (at a wavelength of 500 nm).
At least a film thickness corresponding to four wavelengths is required. Therefore, in any case, the atmospheric pressure CVD method is described as an example as a forming means. It is said that the film formation by the atmospheric pressure CVD method or the online spray method is a very advantageous method especially in terms of cost when a large number of glass plates are continuously processed in the manufacturing process. However, as described above, on the other hand, these methods make it very difficult to precisely control the film thickness within the glass plate surface. Is difficult to do.

【0009】また、透明導電膜は多くの場合半導体的性
質を示す。一方、ガラス基板には多くの場合アルカリ成
分を含有するソーダ・ライム・シリケート系ガラスを用
いるが、ガラス中のナトリウムが透明導電膜内へ進入す
ると、その導電性や低放射性能等の機能が著しく低下す
る。透明導電膜とガラスとの間に設けられた下地膜は、
ガラス中のナトリウムイオンやその他のアルカリイオン
の進入を抑制(いわゆるアルカリ阻止)する効果もある
が、その効果を充分なるものとするには、その膜厚はよ
り厚いことが望ましい。
In many cases, the transparent conductive film has a semiconductive property. On the other hand, soda-lime-silicate glass containing an alkali component is often used for the glass substrate, but when sodium in the glass enters the transparent conductive film, its conductivity and low radiation performance are remarkably increased. descend. The base film provided between the transparent conductive film and the glass is
It also has the effect of suppressing the entry of sodium ions and other alkali ions into the glass (so-called alkali inhibition), but in order to make the effect sufficient, it is desirable that the film thickness is thicker.

【0010】一方、特開昭63−39535号及び特開
平1−201046号公報の記載によれば、それぞれオ
キシ窒化珪素被膜やオキシ炭化珪素被膜がナトリウムイ
オンの良好なバリヤーとなり、アルカリ阻止には1/4
波長に相当する膜厚で充分であると記載されているが、
これらの被膜を形成する際、被膜形成上の理由から危険
性の高いシラン系化合物を原料に用いることが多く、製
造での安全上問題となる場合がある。そこで他の材料を
使用する場合にアルカリバリヤ効果を得るために下地層
を厚くしようとすると、光彩防止効果がなくなるといっ
た欠点があった。
On the other hand, according to the disclosures of JP-A-63-39535 and JP-A-1-201046, the silicon oxynitride coating and the silicon oxycarbide coating serve as good barriers for sodium ions, and the alkali blocking is 1 / 4
It is stated that a film thickness corresponding to the wavelength is sufficient,
When forming these films, a silane-based compound, which is highly dangerous, is often used as a raw material for the reason of forming the film, which may cause a safety problem in manufacturing. Therefore, when another material is used, if the underlayer is made thicker to obtain the alkali barrier effect, there is a drawback that the effect of preventing iris is lost.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明は前述の課題を
解決し、透明導電膜の下層に設けられる下地膜の膜厚に
よらず、光彩の防止を容易に達成することができる透明
体を新規に提供することを目的とするものである。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems and provides a transparent body which can easily achieve the prevention of iris regardless of the thickness of the underlying film provided under the transparent conductive film. It is intended to be newly provided.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、前述の問題点
を解決すべくなされたものであり、透明基体上に透明導
電膜を有し、かつ該透明基体と該透明導電膜の間に下地
膜を有する透明体において、該透明導電膜と該下地膜と
の間に、該透明導電膜と該下地膜との構成成分からなる
混合層が介在されており、該混合層は該下地膜と該透明
導電膜の間で該下地膜に近い方から該透明導電膜に近い
方へといくにつれて徐々に屈折率が増加するように形成
されていることを特徴とする光彩防止透明体を提供する
ものである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has a transparent conductive film on a transparent substrate, and between the transparent substrate and the transparent conductive film. In a transparent body having a base film, a mixed layer composed of constituent components of the transparent conductive film and the base film is interposed between the transparent conductive film and the base film, and the mixed layer is the base film. And a transparent conductive film, wherein the refractive index is gradually increased from the side closer to the base conductive film to the side closer to the transparent conductive film. To do.

【0013】本発明は、透明導電膜と光彩防止の下地膜
との間の屈折率が徐々に変化することにより光彩防止の
ための条件を大幅に緩和できるものである。
According to the present invention, the condition for iris prevention can be greatly relaxed by gradually changing the refractive index between the transparent conductive film and the underlayer film for iris prevention.

【0014】本発明における透明基体としては、通常の
板ガラス、フロートガラス板、その他各種ガラス基板、
プラスチックフィルムやプラスチック基板等を用いるこ
とができるが、本発明の範囲はこれらに限定されるもの
ではない。本発明の透明導電膜としては、Snのドープ
された酸化インジウム膜(ITO)、Fのドープされた
酸化スズ膜(SnO2 :F)、Sbのドープされた酸化
スズ膜(SnO2 :Sb)、Alのドープされた酸化亜
鉛膜(ZnO:Al)、Gaのドープされた酸化亜鉛膜
(ZnO:Ga)等が代表的なものとして用いられる
が、本発明の範囲はこれに限定されるものではない。こ
れら透明導電膜の形成された透明体は、建築用ヒートミ
ラーガラス板、低放射ガラス板、電磁遮蔽ガラス板、自
動車用電熱風防ガラス板、紫外線カットガラス板等とし
て利用することができる。かかる透明導電膜の膜厚とし
ては、所望の抵抗値、低輻射性能、熱線反射性能、電磁
遮蔽性能、通電加熱性能等がえられるように設定される
が、通常0.03μm〜1.0μm程度とされることが
多いが、特に、混合層において、透明導電膜の屈折率と
下地膜の屈折率との平均値以上の屈折率を有する層部分
と、透明導電膜の屈折率と同じ屈折率を有する層部分と
を足し合わせた層部分の厚みを、透明導電膜の実質的な
膜厚と見なしたとき、透明導電膜の実質的な膜厚が0.
15μm以上の場合混合層が光彩防止に及ぼす効果は著
しい。
As the transparent substrate in the present invention, ordinary plate glass, float glass plate, other various glass substrates,
Although a plastic film, a plastic substrate or the like can be used, the scope of the present invention is not limited to these. Examples of the transparent conductive film of the present invention include Sn-doped indium oxide film (ITO), F-doped tin oxide film (SnO 2 : F), and Sb-doped tin oxide film (SnO 2 : Sb). , Al-doped zinc oxide film (ZnO: Al), Ga-doped zinc oxide film (ZnO: Ga), etc. are used as typical ones, but the scope of the present invention is not limited thereto. is not. The transparent body on which the transparent conductive film is formed can be used as a heat mirror glass plate for construction, a low radiation glass plate, an electromagnetic shielding glass plate, an electrically heated windshield glass plate for automobiles, an ultraviolet cut glass plate and the like. The thickness of the transparent conductive film is set so as to obtain a desired resistance value, low radiation performance, heat ray reflection performance, electromagnetic shielding performance, electric heating performance, etc., but is usually about 0.03 μm to 1.0 μm. In particular, in the mixed layer, in particular, a layer portion having a refractive index equal to or higher than the average value of the refractive index of the transparent conductive film and the refractive index of the underlying film, and the same refractive index as the transparent conductive film. When the thickness of the layer portion, which is the sum of the layer portion having the film thickness and the layer portion having, is regarded as the substantial film thickness of the transparent conductive film, the substantial film thickness of the transparent conductive film is 0.
When the thickness is 15 μm or more, the effect of the mixed layer on preventing iris is remarkable.

【0015】本発明の下地膜としては、アルミニウム、
セリウム、ランタン、マグネシウム、珪素、ジルコニウ
ムのうち少なくとも一種の酸化物、窒化物、炭化物、弗
化物あるいはこれらの複合体、またはSiO2 を主成分
とした複合酸化物、例えばSiCxy 、SiNxy
等が代表的なものとして用いられるが、本発明の範囲は
これに限定されるものではない。特に、価格、耐久性等
を考慮した場合、Al23 あるいはその複合酸化物、
またはSiO2 を主成分とした複合酸化物、例えばSi
xy 、SiNxy 等が有利である。上記した建築
用ヒートミラーガラス板、低放射ガラス板、電磁遮蔽ガ
ラス板等を製造する場合、フロートガラス製造プロセス
において、常圧CVD法やオンラインスプレー法で成膜
することが多い。上記したSiCxy やSiNxy
の下地膜を形成する場合、その成膜上の理由から、気体
状態あるいは気液平衡状態のシラン系化合物を原料に用
いることが多いが、このシラン系化合物は、危険性が高
い。従って、安全性を考慮すると、下地膜としては、A
23 あるいはその複合酸化物を使用することが望ま
しい。かかる下地膜の膜厚としては、透明性を維持し、
かつ充分アルカリバリヤー効果が得られるに充分な厚さ
とするのが好ましい。
The base film of the present invention is aluminum,
Cerium, lanthanum, magnesium, silicon, zirconium at least one oxide, nitride, carbide, fluoride or a composite thereof, or a composite oxide containing SiO 2 as a main component, for example, SiC x O y , SiN x. O y
Etc. are used as typical examples, but the scope of the present invention is not limited thereto. Especially considering the price and durability, Al 2 O 3 or its composite oxide,
Alternatively, a composite oxide containing SiO 2 as a main component, such as Si
C x O y, SiN x O y and the like are preferred. When manufacturing the above-mentioned architectural heat mirror glass plate, low-emission glass plate, electromagnetic shielding glass plate, and the like, the atmospheric pressure CVD method or online spray method is often used in the float glass manufacturing process. The above-mentioned SiC x O y and SiN x O y
In the case of forming the undercoat film, the silane compound in a gas state or a gas-liquid equilibrium state is often used as a raw material for the reason of film formation, but the silane compound is highly dangerous. Therefore, in consideration of safety, A
It is desirable to use 1 2 O 3 or its composite oxide. As the film thickness of such a base film, maintaining transparency,
In addition, it is preferable that the thickness is sufficient to obtain a sufficient alkali barrier effect.

【0016】特に、混合層において、透明導電膜の屈折
率と下地膜の屈折率との平均値以下の屈折率を有する層
部分と、下地膜の屈折率と同じ屈折率を有する層部分と
を足し合わせた厚みを、下地膜の実質的な膜厚と見なす
とき、下地膜の実質的な膜厚を0.04μm〜0.20
μmの範囲とすることが好ましい。
In particular, in the mixed layer, a layer portion having a refractive index less than or equal to the average value of the refractive index of the transparent conductive film and a refractive index of the underlying film, and a layer portion having the same refractive index as the underlying film. When the sum of the thicknesses is regarded as the substantial thickness of the base film, the substantial thickness of the base film is 0.04 μm to 0.20.
It is preferably in the range of μm.

【0017】また、本発明における混合層は、上記透明
導電膜と下地層の構成成分からなるものであり、例え
ば、透明導電膜がFのドープされた酸化スズ膜(SnO
2 :F)からなり、下地層がAl23 からなる場合に
は、混合層は(SnO2 :F)とAl23 の両者を含
んだ層となっており、透明導電膜側においては、(Sn
2 :F)に富んだ層、下地層側においてはAl23
に富んだ層となっている。そして、混合層の屈折率は、
透明導電膜側においては、高く、下地層側においては低
くなっている。例えば、混合層の屈折率は、透明導電膜
側では、約2.0、下地層側では、約1.7で、その間
で屈折率は、透明導電膜側から下地層側に向かって漸次
低下している。混合層の膜厚は、厚い程、光彩防止効果
は高くなるが、好ましい下地膜の実質的な膜厚に、前述
したような制約があることから、最高でも0.40μm
以下とするのが好ましい。
The mixed layer in the present invention is composed of the components of the transparent conductive film and the underlying layer. For example, the transparent conductive film is a F-doped tin oxide film (SnO).
2 : F) and the underlayer is made of Al 2 O 3 , the mixed layer is a layer containing both (SnO 2 : F) and Al 2 O 3 and is formed on the transparent conductive film side. Is (Sn
O 2 : F) rich layer, Al 2 O 3 on the underlayer side
It is a rich layer. And the refractive index of the mixed layer is
It is high on the transparent conductive film side and low on the underlayer side. For example, the refractive index of the mixed layer is about 2.0 on the transparent conductive film side and about 1.7 on the underlayer side, and the refractive index gradually decreases from the transparent conductive film side toward the underlayer side in the meantime. is doing. The thicker the mixed layer, the higher the effect of preventing iris, but the preferable substantial thickness of the underlying film is 0.40 μm at the maximum because of the above-mentioned restrictions.
The following is preferable.

【0018】かかる混合層は、例えば、二元蒸着法で穴
が2個あいている回転シャッターを用い、蒸着中にその
シャッターを徐々に回転し、それぞれの蒸着源から、基
板に到達する原子あるいは分子の数を制御するなどの方
法により形成することができる。本発明に関わる各被膜
を透明基体に形成するに当たっては真空蒸着法に限定さ
れずスプレー法、CVD法の化学的成膜法、スパッタリ
ング法、イオンプレーティング法等の物理的成膜法や、
その他各種の成膜方法も使用可能である。
For such a mixed layer, for example, a rotary shutter having two holes formed by a binary vapor deposition method is used, and the shutter is gradually rotated during vapor deposition so that atoms or atoms reaching the substrate from each vapor deposition source can be used. It can be formed by a method such as controlling the number of molecules. In forming each coating film relating to the present invention on the transparent substrate, not limited to the vacuum deposition method, a spraying method, a chemical film forming method such as a CVD method, a sputtering method, a physical film forming method such as an ion plating method,
Other various film forming methods can also be used.

【0019】[0019]

【作用】そもそも光彩、即ち色ムラの発現する原因は、
透明基板上に該基板より充分大きな屈折率を有する透明
薄膜が形成された場合の該高屈折率薄膜の上下界面にお
ける光の干渉作用である。このため分光スペクトル中に
反射(透過)率の極大極小(リップル)を生じる。ここ
で該高屈折率薄膜の膜厚が変化すると、この極大極小の
位置(波長)が変化し色調の変化となって観測されるの
である。あるいは視角が変化した場合も同様に、分光ス
ペクトル中の極大極小の位置(波長)が変化し色調の変
化となって観測される。
[Function] In the first place, the cause of the appearance of iris, that is, color unevenness is
This is the interference effect of light at the upper and lower interfaces of the high refractive index thin film when a transparent thin film having a sufficiently higher refractive index than the substrate is formed on the transparent substrate. Therefore, a maximum (minimum) (ripple) of reflectance (transmittance) occurs in the spectrum. Here, when the film thickness of the high refractive index thin film is changed, the positions (wavelengths) of the maximum and minimum are changed, and it is observed that the color tone is changed. Alternatively, when the viewing angle is changed, the positions (wavelengths) of maximum and minimum in the spectrum are similarly changed, and the change in color tone is observed.

【0020】特公昭63−39535号公報に記載され
ている光彩防止方法のうちの一つは、1/4波長の光学
膜厚を有する反射防止層を設けることにより、リップル
の大きさを小さくすることによって光彩防止を行うとい
うものである。本発明における混合層は、下地膜の光彩
防止条件の幅を広げる効果があり、これにより下地膜厚
が特公昭63−39535号に記載されているような値
からずれた場合にも有効な光彩防止効果を保持すること
ができる。
One of the anti-glare methods described in JP-B-63-39535 is to reduce the magnitude of ripples by providing an anti-reflection layer having an optical film thickness of 1/4 wavelength. By doing so, it is intended to prevent glow. The mixed layer in the present invention has the effect of widening the range of the iris prevention condition of the undercoat film, and thus, the iris effective even when the undercoat film thickness deviates from the value described in JP-B-63-39535. The prevention effect can be retained.

【0021】図2〜図4は1.7の屈折率を有する下地
膜の膜厚がそれぞれ50,100,200nmで、2.
0の屈折率を有する透明導電膜の膜厚を250nm〜5
00nmまで変化させた際の、反射色の変化を計算によ
り求め、CIE色度座標上に示したものである。混合層
の厚みは、混合層がない場合、40nm、及び80nm
の場合について計算した。このときの基板の屈折率は
1.515として計算した。またこの計算では、混合層
がない場合と存在する場合とで全体の膜厚を同じにする
ことにより比較を行った。例えば混合層がなく、透明導
電膜が400nm、下地膜厚が100nmの構成と混合
層が40nmの構成と比較を行う場合は、そのときの透
明導電膜は380nm、下地膜厚は80nmとそれぞれ
20nmずつ減らすことにより、混合層がない場合と全
体の膜厚が同じになるように計算を行った。図2〜図4
から透明導電膜の厚さの変化にともない反射色は光源色
のまわりを中心に円弧を描くように、かつ次第に光源色
に近づいていく。また下地膜の厚さが50nm、100
nm及び200nmと反射防止条件(81nm)から大
きくはずれていても混合層を有することにより、反射色
はよりニュートラルになることがわかる。また、混合層
の厚さが40nmの場合に比べ80nmの場合の方が反
射色によりニュートラルになることがわかる。
2 to 4 show that the film thicknesses of the underlying films having a refractive index of 1.7 are 50, 100 and 200 nm, respectively.
The thickness of the transparent conductive film having a refractive index of 0 is 250 nm to 5 nm.
The change in the reflected color when the thickness is changed to 00 nm is calculated and shown on the CIE chromaticity coordinates. The thickness of the mixed layer is 40 nm and 80 nm without the mixed layer.
The case was calculated. The refractive index of the substrate at this time was calculated as 1.515. In addition, in this calculation, comparison was made by making the total film thickness the same in the case where there is no mixed layer and the case where there is a mixed layer. For example, when comparing a structure having no mixed layer and a transparent conductive film of 400 nm and an underlying film thickness of 100 nm with a mixed layer of 40 nm, the transparent conductive film at that time is 380 nm and the underlying film thickness is 80 nm, each of 20 nm. The calculation was performed so that the total film thickness would be the same as when there was no mixed layer, by decreasing the value by each. 2 to 4
Therefore, as the thickness of the transparent conductive film changes, the reflection color draws an arc around the light source color and gradually approaches the light source color. The thickness of the base film is 50 nm, 100
It can be seen that the reflected color becomes more neutral by having the mixed layer even when the values are largely deviated from the antireflection condition (81 nm) of nm and 200 nm. Further, it can be seen that the reflected color is more neutral when the thickness of the mixed layer is 80 nm than when the mixed layer is 40 nm.

【0022】[0022]

【実施例】【Example】

実施例1 6mmフロートガラスのリボン上にオンラインスプレー
法により成膜を行った。原料にはAl(NO33 及び
Sn(NO34 を用い、それぞれ10:0、9:1、
8:2…0:10の割合で加熱しながらエタノールに溶
解した溶液を11種類用意し、室温で2昼夜静置した。
噴霧するノズルの配置は流れ方向と平行な方向に13
個、流れ方向と垂直な方向に10個配置した。フロート
浴からでたフロートガラスリボンが650℃の時点で、
Al(NO33 とSn(NO34 の割合が10:0
の原料をノズルからリボン上に噴霧し酸化アルミニウム
を下地膜として80nm成膜した。次にAl(NO3
3 とSn(NO34 の割合が10:0の原料を下手の
隣のノズルから、さらに下手のノズルからAl(NO
33 とSn(NO34 の割合が9:1の原料を、以
下、上手側からAl(NO33 とSn(NO34
割合がそれぞれ8:2、7:3…0:10の9種類の原
料を設置しそれらを同時に噴霧し、となりあうそれぞれ
のノズルから噴霧された原料が基板上で互いに重なりあ
うようにノズルの向きや位置を調整し、混合層を40n
m成膜した。次にAl(NO33 とSn(NO34
の割合が0:10の原料をノズルからリボン上に噴霧し
フッ素ドープのSnO2 膜を400nm成膜した。本法
により作製した試料の屈折率はそれぞれ酸化アルミニウ
ム膜が1.7、SnO2 膜が2.0であった。この試料
の分光反射スペクトルは図5に示される如くである。
Example 1 A film was formed on a ribbon of 6 mm float glass by an online spray method. Al (NO 3 ) 3 and Sn (NO 3 ) 4 were used as raw materials, respectively, and were 10: 0, 9: 1,
11 kinds of solutions dissolved in ethanol were prepared while heating at a ratio of 8: 2 ... 0:10, and left standing at room temperature for 2 days and nights.
Arrangement of the spray nozzle is parallel to the flow direction.
10 pieces were arranged in a direction perpendicular to the flow direction. When the float glass ribbon from the float bath is at 650 ° C,
The ratio of Al (NO 3 ) 3 and Sn (NO 3 ) 4 is 10: 0.
The above raw material was sprayed onto the ribbon from a nozzle to form a film of aluminum oxide having a thickness of 80 nm. Next, Al (NO 3 )
The raw material in which the ratio of 3 and Sn (NO 3 ) 4 is 10: 0 is supplied from the nozzle next to the lower nozzle, and further from the lower nozzle to Al (NO 3
3) 3 and Sn (NO 3) 4 ratio 9: 1 of the raw material, hereinafter, Al (NO 3 from the upstream side) 3 and Sn (NO 3) 4 ratio respectively 8: 2, 7: 3 ... Nine kinds of raw materials of 0:10 are set and sprayed at the same time, and the directions and positions of the nozzles are adjusted so that the raw materials sprayed from the neighboring nozzles overlap each other on the substrate, and the mixed layer is 40n.
m was formed into a film. Next, Al (NO 3 ) 3 and Sn (NO 3 ) 4
Was sprayed from the nozzle onto the ribbon to form a fluorine-doped SnO 2 film having a thickness of 400 nm. The refractive index of the sample manufactured by this method was 1.7 for the aluminum oxide film and 2.0 for the SnO 2 film. The spectral reflection spectrum of this sample is as shown in FIG.

【0023】実施例2 次に実施例1の方法と同様にして酸化アルミニウム膜の
膜厚を60nm、フッ素ドープのSnO2 膜の膜厚を3
80nmとし、混合層の厚みが80nmの試料を作製
し、同様に屈折率を測定したところ、酸化アルミニウム
膜が1.7、SnO2 膜が2.0であった。この試料の
分光反射スペクトルは図6に示される如くである。
Example 2 Next, similarly to the method of Example 1, the film thickness of the aluminum oxide film was 60 nm and the film thickness of the fluorine-doped SnO 2 film was 3 nm.
A sample having a thickness of 80 nm and a mixed layer thickness of 80 nm was prepared, and the refractive index was measured in the same manner. As a result, the aluminum oxide film was 1.7 and the SnO 2 film was 2.0. The spectral reflection spectrum of this sample is as shown in FIG.

【0024】実施例3 充分に洗浄され乾燥されたガラス基板、及びハース上に
Al23 、さらに同一槽内に用意してあるもうひとつ
のハース上にSnO2 とSb25 の原料を真空槽内に
セットし、5×10-6Torrまで排気した後、ガラス
基板付近にO2ガスを導入しながらEB蒸着法により、
酸化アルミニウムを40nm蒸着した。次に、Al2
3 のEB電源の電力を徐々に減少させると同時にSnO
2 とSb25 のEB電源の電力を増大させながら混合
層を成膜し、その膜厚を40nmとした。次にSnO2
とSb25 のEB電源のみでアンチモンドープのSn
2 膜を400nm成膜した。本法により作製した試料
の屈折率はそれぞれ酸化アルミニウム膜が1.7、Sn
2 膜が2.0であった。この試料の分光反射スペクト
ルは図5に示されるスペクトルとほぼ同様であった。次
に上記の方法と同様にして酸化アルミニウム膜の膜厚を
60nm、アンチモンドープのSnO2 膜の膜厚を38
0nmとし、混合層の厚みが80nmの試料を作製し、
同様に屈折率を測定したところ、酸化アルミニウム膜が
1.7、SnO2 膜が2.0であった。この試料の分光
反射スペクトルは図6に示されるスペクトルとほぼ同様
であった。
Example 3 A glass substrate that had been thoroughly washed and dried, Al 2 O 3 on a hearth, and SnO 2 and Sb 2 O 5 raw materials on another hearth prepared in the same bath. After being set in a vacuum chamber and evacuated to 5 × 10 −6 Torr, by an EB vapor deposition method while introducing O 2 gas near the glass substrate,
40 nm of aluminum oxide was vapor-deposited. Next, Al 2 O
The power of the EB power supply of 3 is gradually reduced and at the same time SnO
The mixed layer was formed while increasing the power of the EB power source of 2 and Sb 2 O 5 , and the film thickness was set to 40 nm. Then SnO 2
And Sb 2 O 5 EB power supply only, antimony-doped Sn
An O 2 film was formed to a thickness of 400 nm. The samples prepared by this method have a refractive index of 1.7 for the aluminum oxide film and Sn, respectively.
The O 2 film was 2.0. The spectral reflection spectrum of this sample was almost the same as the spectrum shown in FIG. Then, in the same manner as above, the thickness of the aluminum oxide film is 60 nm and the thickness of the antimony-doped SnO 2 film is 38 nm.
A sample having a thickness of 0 nm and a mixed layer thickness of 80 nm was prepared.
Similarly, when the refractive index was measured, the aluminum oxide film was 1.7 and the SnO 2 film was 2.0. The spectral reflection spectrum of this sample was almost the same as the spectrum shown in FIG.

【0025】比較例 実施例1と同様の方法で酸化アルミニウム膜の膜厚を1
00nm、フッ素ドープのSnO2 の膜厚を420nm
とし、混合層の存在しない構成の膜を得た。このように
して作製した膜の屈折率は酸化アルニミウム膜のそれが
1.7、フッ素ドープのSnO2 膜のそれが2.0であ
った。この膜の分光反射スペクトルは図7に示す如くで
ある。図5及び図6に示した曲線に比べ、リップルがや
や大きく、混合層を有する膜はそれを有さない膜に比
べ、顕著に光彩色が減少した。
Comparative Example The thickness of the aluminum oxide film was set to 1 by the same method as in Example 1.
00 nm, the film thickness of fluorine-doped SnO 2 is 420 nm
As a result, a film having a structure without a mixed layer was obtained. The refractive index of the film thus produced was 1.7 for the aluminum oxide film and 2.0 for the fluorine-doped SnO 2 film. The spectral reflection spectrum of this film is as shown in FIG. Compared with the curves shown in FIG. 5 and FIG. 6, the ripple was slightly larger, and the film with the mixed layer had a significantly reduced chromatic color compared with the film without it.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上、実施例等から明らかなように、本
発明は光彩防止に必要な反射防止条件の範囲を広げる効
果がある。例えば下地膜の膜厚が厳密に制御できない場
合、ガラス基板からアルカリイオンの進入の抑制のため
下地膜をより厚くすることが望ましい場合、さらに生産
性を上げるために下地層を薄くしたい場合等に混合層を
設けることにより顕著な効果を有するものである。特に
ガラス基板からのアルカリバリヤー層として現在安全上
問題の多いシラン系ガスから成膜されるシリカ系の下地
層が用いられるが、下地層厚を厚くすることにより、ア
ルカリバリヤー効果が生じるようなものであれば、他の
材料を用いることが可能となり安全上問題のない材料の
選択が可能となる等の効果がある。
As is clear from the above examples, the present invention has the effect of widening the range of antireflection conditions necessary for preventing iris. For example, when the thickness of the base film cannot be strictly controlled, when it is desirable to make the base film thicker to suppress the entry of alkali ions from the glass substrate, and when it is desired to make the base layer thinner to further improve the productivity. Providing a mixed layer has a remarkable effect. In particular, a silica-based underlayer formed from a silane-based gas, which presently poses a safety problem, is used as an alkali barrier layer from a glass substrate, but an alkali barrier effect is produced by increasing the thickness of the underlayer. In that case, there is an effect that it is possible to use other materials, and it is possible to select a material that does not pose a safety problem.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の膜構成を有した透明体の断面図FIG. 1 is a sectional view of a transparent body having a film structure of the present invention.

【図2】透明導電膜厚を変化させたときの色度変化に及
ぼす混合層の影響を示した図
FIG. 2 is a diagram showing the influence of the mixed layer on the chromaticity change when the transparent conductive film thickness is changed.

【図3】透明導電膜厚を変化させたときの色度変化に及
ぼす混合層の影響を示した図
FIG. 3 is a diagram showing the influence of the mixed layer on the chromaticity change when the transparent conductive film thickness is changed.

【図4】透明導電膜厚を変化させたときの色度変化に及
ぼす混合層の影響を示した図
FIG. 4 is a diagram showing the influence of the mixed layer on the chromaticity change when the transparent conductive film thickness is changed.

【図5】本発明の実施例1の光彩防止透明体の分光特性
FIG. 5 is a spectral characteristic diagram of the antiglare transparent body of Example 1 of the present invention.

【図6】本発明の実施例2の光彩防止透明体の分光特性
FIG. 6 is a spectral characteristic diagram of an antiglare transparent body of Example 2 of the present invention.

【図7】本発明の比較例の光彩防止透明体の分光特性図FIG. 7 is a spectral characteristic diagram of an antiglare transparent body of a comparative example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:透明基体 11:透明導電膜 12:混合層 13:下地膜 10: transparent substrate 11: transparent conductive film 12: mixed layer 13: base film

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾山 卓司 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社 中央研究所内 (72)発明者 能代 誠 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社 中央研究所内 (72)発明者 ロベール・テルノ ベルギー国 6218 チメオン、ル、ド、マ ナント 6 (72)発明者 ミシェル・アノティオ ベルギー国 5911 ジョドワニュ、ル、 ド、シャントレーヌ 2エー ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takuji Oyama 1150 Hazawa-machi, Kanagawa-ku, Yokohama, Kanagawa Asahi Glass Co., Ltd. Central Research Laboratory (72) Inventor Makoto Noshiro 1150, Hazawa-machi, Kanagawa-ku, Yokohama Asahi Glass Co., Ltd. In the Central Laboratory (72) Inventor Robert Terno Belgium 6218 Chimeon, Le, de, Manant 6 (72) Inventor Michel Annotio Belgium 5911 Jodhwany, Le, de, Chantreine 2 a

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】透明基体上に透明導電膜を有し、かつ該透
明基体と該透明導電膜の間に下地膜を有する透明体にお
いて、該透明導電膜と該下地膜との間に、該透明導電膜
と該下地膜との構成成分からなる混合層が介在されてお
り、該混合層は該下地膜と該透明導電膜の間で該下地膜
に近い方から該透明導電膜に近い方へといくにつれて徐
々に屈折率が増加するように形成されていることを特徴
とする光彩防止透明体。
1. A transparent body having a transparent conductive film on a transparent substrate and having an undercoat film between the transparent substrate and the transparent conductive film, wherein the transparent film is provided between the transparent conductive film and the undercoat film. A mixed layer composed of the constituent components of the transparent conductive film and the base film is interposed, and the mixed layer is located between the base film and the transparent conductive film from the side closer to the base film to the side closer to the transparent conductive film. An anti-glare transparent body, characterized in that it is formed so that the refractive index gradually increases as it goes down.
【請求項2】該混合層において、該透明導電膜の屈折率
と該下地膜の屈折率との平均値以上の屈折率を有する層
部分と、該透明導電膜の屈折率と同じ屈折率を有する層
部分とを足し合わせた層部分の厚みを、該透明導電膜の
実質的な膜厚と見なしたとき、該透明導電膜の実質的な
膜厚が0.03μm以上であることを特徴とする請求項
1の光彩防止透明体。
2. A layer portion having a refractive index which is equal to or higher than an average value of the refractive index of the transparent conductive film and the refractive index of the underlying film in the mixed layer, and the same refractive index as the refractive index of the transparent conductive film. The substantial film thickness of the transparent conductive film is 0.03 μm or more, when the thickness of the layer part including the layer part which is included is regarded as the substantial film thickness of the transparent conductive film. The antiglare transparent body according to claim 1.
【請求項3】該透明導電膜の屈折率が1.8〜2.5で
あることを特徴とする請求項1又は2の光彩防止透明
体。
3. The antiglare transparent body according to claim 1, wherein the transparent conductive film has a refractive index of 1.8 to 2.5.
【請求項4】該混合層において、該透明導電膜の屈折率
と該下地膜の屈折率との平均値以下の屈折率を有する層
部分と、該下地膜の屈折率と同じ屈折率を有する層部分
とを足し合わせた厚みを、該下地膜の実質的な膜厚と見
なすとき、該下地膜の実質的な膜厚が0.04〜0.2
0μm以上であることを特徴とする請求項1〜3いずれ
か1項の光彩防止透明体。
4. The mixed layer has a layer portion having a refractive index less than or equal to an average value of the refractive index of the transparent conductive film and the refractive index of the base film, and the same refractive index as that of the base film. When the thickness obtained by adding the layer portion is regarded as the substantial film thickness of the underlying film, the substantial film thickness of the underlying film is 0.04 to 0.2.
The anti-glare transparent body according to any one of claims 1 to 3, which has a thickness of 0 µm or more.
【請求項5】該下地膜の屈折率が1.6〜2.0である
ことを特徴とする請求項1〜4いずれか1項の光彩防止
透明体。
5. The antiglare transparent body according to claim 1, wherein the underlying film has a refractive index of 1.6 to 2.0.
【請求項6】透明基体がガラス基板であることを特徴と
する請求項1〜5いずれか1項の光彩防止透明体。
6. The antiglare transparent body according to claim 1, wherein the transparent base is a glass substrate.
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000014021A1 (en) * 1998-09-04 2000-03-16 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Light-colored glass of high transmittance and method for production thereof, glass plate with electrically conductive film and method for production thereof, and glass article
US6362414B1 (en) 1999-05-31 2002-03-26 Kaneka Corporation Transparent layered product and glass article using the same
US6380480B1 (en) * 1999-05-18 2002-04-30 Nippon Sheet Glass Co., Ltd Photoelectric conversion device and substrate for photoelectric conversion device
US6444898B1 (en) 1999-06-18 2002-09-03 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Transparent layered product and glass article using the same
US6498380B1 (en) 1999-06-18 2002-12-24 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Substrate for photoelectric conversion device, and photoelectric conversion device using the same
US6844280B2 (en) 2000-03-06 2005-01-18 Nippon Sheet Glass Company, Limited Flat glass having high transmittance
JPWO2005097484A1 (en) * 2004-03-31 2008-02-28 コニカミノルタホールディングス株式会社 Transparent conductive film, method for producing transparent conductive film, and organic electroluminescence element
JP2009007210A (en) * 2007-06-29 2009-01-15 Mitsubishi Materials Corp Light shielding body
JP2014038182A (en) * 2012-08-15 2014-02-27 Kaneka Corp Method for producing substrate with transparent conductive layer and method for producing photoelectric transducer
CN104812570A (en) * 2013-07-01 2015-07-29 积水化学工业株式会社 Inorganic film and laminate
JP2015208889A (en) * 2014-04-24 2015-11-24 積水化学工業株式会社 Barrier film

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000014021A1 (en) * 1998-09-04 2000-03-16 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Light-colored glass of high transmittance and method for production thereof, glass plate with electrically conductive film and method for production thereof, and glass article
US6461736B1 (en) 1998-09-04 2002-10-08 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Light-colored glass of high transmittance and method for production thereof, glass plate with electrically conductive film and method for production thereof, and glass article
US6380480B1 (en) * 1999-05-18 2002-04-30 Nippon Sheet Glass Co., Ltd Photoelectric conversion device and substrate for photoelectric conversion device
US6362414B1 (en) 1999-05-31 2002-03-26 Kaneka Corporation Transparent layered product and glass article using the same
US6444898B1 (en) 1999-06-18 2002-09-03 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Transparent layered product and glass article using the same
US6498380B1 (en) 1999-06-18 2002-12-24 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Substrate for photoelectric conversion device, and photoelectric conversion device using the same
US6844280B2 (en) 2000-03-06 2005-01-18 Nippon Sheet Glass Company, Limited Flat glass having high transmittance
JPWO2005097484A1 (en) * 2004-03-31 2008-02-28 コニカミノルタホールディングス株式会社 Transparent conductive film, method for producing transparent conductive film, and organic electroluminescence element
JP4858167B2 (en) * 2004-03-31 2012-01-18 コニカミノルタホールディングス株式会社 Transparent conductive film, method for producing transparent conductive film, and organic electroluminescence element
JP2009007210A (en) * 2007-06-29 2009-01-15 Mitsubishi Materials Corp Light shielding body
JP2014038182A (en) * 2012-08-15 2014-02-27 Kaneka Corp Method for producing substrate with transparent conductive layer and method for producing photoelectric transducer
CN104812570A (en) * 2013-07-01 2015-07-29 积水化学工业株式会社 Inorganic film and laminate
US9844926B2 (en) 2013-07-01 2017-12-19 Sekisui Chemical Co., Ltd. Inorganic film and laminate
JP2015208889A (en) * 2014-04-24 2015-11-24 積水化学工業株式会社 Barrier film

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