JPH0737055A - 光学読取装置の光電変換装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】テストパターンの固定の精度を考慮せずに、常
に適正な焦点位置にレンズを設定する。 【構成】それぞれの配列ピッチが等間隔の複数のＣＣＤ
素子１６ａ、…からなるラインセンサ１６と、上記各Ｃ
ＣＤ素子１６ａ、…の配列ピッチの整数倍の位置と異な
る位置でかつ等間隔に各バーが配置されているテストパ
ターン１５の像を上記ラインセンサ１６上に導くレンズ
１７とを有し、上記ラインセンサ１６からの出力信号を
抽出し、この抽出した出力信号に対する所定周波数成分
ごとのスペクトルを出力し、この出力内容に応じて上記
レンズ１７を光軸方向に移動することにより、上記レン
ズの上記ラインセンサ１６に対する焦点位置を変更する
ことにより、焦点位置の調節を行うようにしたものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、たとえば郵便物処理
装置等に用いられる光学読取装置の光電変換装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、郵便物処理装置としての光学的読
取区分装置等の郵便物の処理分野においては、郵便物上
の郵便番号を読取り、その読取り結果によっては郵便物
を複数の送達地域ごとに区分する郵便番号自動読取区分
機、あるいは、さらに郵便物上の宛名（住所）を読取
り、その読取結果によって郵便物を複数の送達地域ごと
に区分する配達区分機等がある。

【０００３】上記のような郵便物処理装置では、郵便物
上の郵便番号あるいは宛名情報を読取る読取部（光学読
取装置）が設けられており、この読取部は光電変換部と
判別部により構成されている。この光電変換部は複数の
ＣＣＤ素子により構成されるラインセンサと、このライ
ンセンサ上に、郵便物上の情報を導くレンズとにより構
成されている。

【０００４】このように、光電変換部にレンズを利用し
ているため、画像処理に必要な解像度を得るためには、
微妙な焦点調節が必要である。この焦点調節の判定基準
としての変調度は、従来、光電変換部の検知窓に固定し
たテストパターンを上記レンズによって上記ラインセン
サ上に撮影（撮像）し、そのラインセンサからの出力を
オシロスコープで取出し、オシロスコープで表示される
画像出力波形を観測し、目測で求めている。

【０００５】このように、レンズを微小移動させ、オシ
ロスコープで表示される画像出力波形を観測し、そのレ
ンズの移動にともなって変化する出力波形の変調度が、
規定値以上になっているかを目測で調べ、規定値以上に
なっている位置で、焦点が合っていると判断している。

【０００６】この際、オシロスコープの波形の読取りに
個人差が生じ易く、このような個人差が生じないように
するためには、テストパターンの固定を精度の良いもの
としなければならないという欠点がある。

【０００７】すなわち、従来のテストパターンは、図１
１に示すように、４本／ｍｍと５本／ｍｍの２種類の印
字ピッチでバーデータが印刷されている。そして、この
テストパターンに対してオシロスコープで表示される画
像出力波形は、図１２に示すように得られる。この画像
出力波形から、４本／ｍｍと５本／ｍｍの２種類の印字
ピッチに対する変調度を判断するようになっている。す
なわち、４本／ｍｍの印字ピッチに対して得られる電位
差Ｖ３の絶対値を、白レベルからグランドレベルまでの
電位差Ｖ１の絶対値で割ったものに、１００を掛けたも
の（（Ｖ３／Ｖ１）×１００）が、４本／ｍｍの印字ピ
ッチに対する変調度となり、５本／ｍｍの印字ピッチに
対して得られる電位差Ｖ２を、白レベルからグランドレ
ベルまでの電位差Ｖ１で割ったものに、１００を掛けた
もの（（Ｖ２／Ｖ１）×１００）が、５本／ｍｍの印字
ピッチに対する変調度となる。

【０００８】しかし、上記のようなテストパターンのバ
ーの印字ピッチとラインセンサの各ＣＣＤの配列ピッチ
（間隔）との位置関係によって、テストパターンの位置
に対するラインセンサの位置が少しでもずれると、オシ
ロスコープで表示される画像出力波形が、まったく異な
ったものとなってしまう。したがって、テストパターン
の固定を精度の良いものとしなければならず、しかも適
正な焦点位置にレンズを設定することができないという
欠点があった。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】従来は、上記したよう
に、テストパターンの固定を精度の良いものとしなけれ
ばならず、しかも適正な焦点位置にレンズを設定するこ
とができないという欠点があった。

【００１０】そこで、この発明は、テストパターンの固
定の精度を考慮せずに、常に適正な焦点位置にレンズを
設定することができる光学読取装置の光電変換装置を提
供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】この発明の光学読取装置
の光電変換装置は、それぞれの配列ピッチが等間隔の複
数のＣＣＤ素子からなるラインセンサ、上記各ＣＣＤ素
子の配列ピッチの整数倍とは異なった等間隔で複数のバ
ーが配置されているテストパターンの像を上記ラインセ
ンサ上に導くレンズ、このレンズを光軸方向に移動する
ことにより、上記レンズの上記ラインセンサに対する焦
点位置を変更する変更手段、上記ラインセンサからの出
力信号を抽出する抽出手段、この抽出手段により抽出し
た出力信号に対する所定周波数成分ごとのスペクトルを
出力する出力手段、およびこの出力手段の出力内容に応
じて上記変更手段を変更することにより、焦点位置の調
節を行う調節手段から構成されている。

【００１２】この発明は、それぞれの配列ピッチが等間
隔の複数のＣＣＤ素子からなるものにおいて、上記各Ｃ
ＣＤ素子の配列ピッチの整数倍の位置と異なる位置でか
つ等間隔に各バーが配置されているラインセンサの焦点
調節用のテストパターンである。

【００１３】この発明の光学読取装置の光電変換装置
は、それぞれの配列ピッチが等間隔の複数のＣＣＤ素子
からなるラインセンサ、上記各ＣＣＤ素子の配列ピッチ
の整数倍の位置と異なる位置でかつ等間隔に各バーが配
置されているテストパターンの像を上記ラインセンサ上
に導くレンズ、このレンズを光軸方向に移動することに
より、上記レンズの上記ラインセンサに対する焦点位置
を変更する変更手段、上記ラインセンサからの出力信号
を抽出する抽出手段、この抽出手段により抽出した出力
信号に対する出力電圧波形を出力する第１の出力手段、
上記抽出手段により抽出した出力信号に対する所定周波
数成分ごとのスペクトルを出力する第２の出力手段、お
よび上記第１の出力手段の出力内容に応じて上記変更手
段を変更することにより、焦点位置の粗調節を行い、上
記第２の出力手段の出力内容に応じて上記変更手段を変
更することにより、焦点位置の微調節を行う調節手段か
ら構成されている。

【００１４】この発明の光電変換装置の焦点調節方法
は、それぞれの配列ピッチが等間隔の複数のＣＣＤ素子
からなるラインセンサと、上記各ＣＣＤ素子の配列ピッ
チの整数倍の位置と異なる位置でかつ等間隔に各バーが
配置されているテストパターンの像を上記ラインセンサ
上に導くレンズとを有するものにおいて、上記ラインセ
ンサからの出力信号を抽出する手段、この抽出した出力
信号に対する所定周波数成分ごとのスペクトルを出力す
る手段、およびこの出力内容に応じて上記レンズを光軸
方向に移動して上記レンズの焦点位置を変更することに
より、焦点位置の調節を行う手段からなる。

【００１５】

【作用】この発明は、上記のような構成において、それ
ぞれの配列ピッチが等間隔の複数のＣＣＤ素子からなる
ラインセンサと、上記各ＣＣＤ素子の配列ピッチの整数
倍の位置と異なる位置でかつ等間隔に各バーが配置され
ているテストパターンの像を上記ラインセンサ上に導く
レンズと、このレンズを光軸方向に移動することによ
り、上記レンズの上記ラインセンサに対する焦点位置を
変更する変更手段とを有し、上記ラインセンサからの出
力信号を抽出し、この抽出した出力信号に対する所定周
波数成分ごとのスペクトルを出力し、この出力内容に応
じて上記変更手段を変更することにより、焦点位置の調
節を行うようにしたものである。

【００１６】

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して説明する。図２はこの発明に係わる郵便物自動区
分機を示し、次のような構成となっている。

【００１７】すなわち、供給部１には一括かつ立位状態
で葉書、封書などの郵便物Ｐ…がセットされる。この供
給部１の郵便物Ｐ…は、取出部２により最前端の郵便物
Ｐから順次１枚づつ取出し搬送され取込搬送路（搬送ベ
ルトや搬送ガイドによって構成）３の途中に配置された
読取部４によって郵便物Ｐに付与された郵便番号あるい
は宛名情報（住所情報）が読取られる。上記読取部４は
郵便物Ｐ上の郵便番号あるいは宛名情報を光電変換する
光電変換部４ａ、この光電変換部４ａの出力に応じて文
字パタ―ンの認識を行うことにより郵便番号あるいは宛
名情報を判別する判別部４ｂとからなるものである。

【００１８】つぎに、読取部４を通過した郵便物Ｐは搬
送路３を介して区分部１１に搬送されるようになってい
る。この区分部１１は、図示しないゲ―ト機構部によっ
て鉛直方向に複数段設けられた区分搬送路５ａ、〜５ｇ
に上記郵便番号あるいは宛名情報の読取結果等に基づい
て選択的に振分けられるようになっている。

【００１９】上記区分搬送路５ａ、〜５ｆの下方にはそ
の下面側に沿ってそれぞれ複数のポケット（集積箱）６
…が複数段（Ａ段、〜Ｇ段）に配設されており、区分搬
送路５ａ、〜５ｇに送り込まれた郵便物Ｐは上記読取部
４の読取結果に基づいて所定のポケット６内に区分集積
されるようになっている。

【００２０】なお、上記搬送路３、５ａ、…上には、そ
の搬送路３、５ａ、…上の郵便物Ｐの搬送を検知する搬
送検知器群（図示しない）が設けられている。また、上
記供給部１の上部には操作パネルとしてのオペレ―タパ
ネル７が設けられている。

【００２１】上記読取部４の上部には、図３、図４に示
すように、搬送路３を搬送される郵便物Ｐの画像を取込
む読取用ガラス窓１２が設けられているカートリッジ１
３がねじ１４によって取り付けられるようになってい
る。このカートリッジ１３は、読取用ガラス窓１２の清
掃時に取外せるようになっている。焦点調節時には、カ
ートリッジ１３の裏面側に図５の（ａ）に示すテストパ
ターン１５が記載される黒バーを読取り部４側にむけて
セットされるようになっている。

【００２２】上記光電変換部４ａは、郵便物Ｐ上を光学
的に走査して光電変換することによりパタ―ン信号（読
取信号）を得るものであり、たとえば図６に示すよう
に、それぞれの配列ピッチが等間隔の複数の自己走査形
のＣＣＤ素子からなり、郵便物Ｐあるいはテストパター
ン１５からの反射光を受けて電気信号に変換するライン
センサ１６と、上記カートリッジ１３の読取用ガラス窓
１２から導かれた郵便物Ｐの画像、あるいはテストパタ
ーン１５に対する画像をラインセンサ１６上に導くレン
ズ１７とが設けられ、これらの他に、上記郵便物Ｐ上に
光を照射する光源（図示しない）と、上記レンズ１７を
光軸方向に移動する移動機構（図示しない）と、ライン
センサ１６が配設される基板（図示しない）が設けられ
ている。移動機構は、カメラのフォーカス調整のような
ものである。上記ラインセンサ１６の出力は光電変換部
４ａの出力として判別部４ｂに供給されるようになって
いる。また、上記ラインセンサ１６の出力は、上記基板
に設けられているテストピンにより、外部のオシロスコ
ープ１８やスペクトルアナライザ１９に取出せるように
なっている。

【００２３】上記テストパターン１５は、図５の（ａ）
（ｂ）に示すように、パターンの両端に設けられている
基準電位測定用の幅広の黒バーＡとパターンの内側に等
間隔に設けられている変調度（解像度）評価用の幅細の
黒バーＢとにより構成されている。黒バーＢの間隔は、
ラインセンサ１６の各ＣＣＤ素子１６ａ、…の間隔の整
数倍とずれたものとなっている。なお、黒バーＢの間隔
は（（ｍｎ−１）／ｍ）ｂｉｔｓ／ｍｍであり、各ＣＣ
Ｄ素子１６ａ、…の間隔は２ｎｂｉｔｓ／ｍｍである。
ここで、ｍは自然数であり、ｎはＣＣＤ素子１６ａ、…
に依存する定数である。

【００２４】このように、黒バーＢの間隔と各ＣＣＤ素
子１６ａ、…の間隔の整数倍の位置とずれたものとなっ
ているため、その黒バーＢに対する画像の出力波形は、
様々な周波数成分をもつことになる。この波形を後述す
るように処理することで焦点の評価ができる。

【００２５】オシロスコープ１８は、図７に示すよう
な、テストパターン１５に対する画像出力波形を表示す
るものである。このオシロスコープ１８の画像出力波形
におけるテストパターン１５の基準電位測定用のバーＡ
に対する出力波形（振幅）が白レベルからグランドレベ
ルに達する電位差Ｖ１（図８の実線）を有するものであ
る場合に、焦点がある程度合っていることを判定できる
ようになっている。図８の破線に示すように、上記電位
差Ｖ１よりも振幅が小さいＶ１´で分布が広がっている
場合、焦点が大幅にずれている（焦点が大きく外れてい
る）ことが判定され、上記電位差がＶ１となるようにレ
ンズ１７を移動するようになっている。

【００２６】すなわち、オシロスコープ１８の基準電位
測定用のバーＡに対する出力波形を用いて粗調節が行え
るようになっている。また、上記電位差（振幅）Ｖ１を
基準値としておき、それよりも何％か小さい場合には、
焦点がずれていると判断を下し、焦点調整が必要である
という表示を出すようにしても良い。この場合、比較器
と表示器が用いられる。

【００２７】スペクトルアナライザ１９は、テストパタ
ーン１５の全体を撮像した画像出力波形をＡ／Ｄ変換し
た後、ディジタルデータとして取り込み、このデータの
うち黒バーＡに当たる両端をはずした黒バーＢの部分の
データを数値処理することにより、図９に示すような、
テストパターン１５の変調度評価用の黒バーＢに対する
周波数分布のスペクトルを表示するものである。

【００２８】この場合、図９で破線で示す周波数スペク
トルは焦点がずれている場合の波形であり、図９で実線
で示す周波数スペクトルは焦点があっている場合の波形
である。すなわち、レンズ１７を移動することにより、
得られる周波数スペクトルの高周波部分にスペクトルの
ピークがある位置に設定することにより、レンズ１５を
焦点があっている位置に微調節するようになっている。

【００２９】上記周波数成分の計算は、テストパターン
１５の黒バーＢ、…の部分が等間隔であるので、黒バー
Ｂ、…の一部分だけのデータを用いれば良い。例として
挙げたＣＣＤ素子１６ａ、…の間隔が２ｎｂｉｔｓ／ｍ
ｍ、テストパターン１５の黒バーＢ、…の間隔が（（ｍ
ｎ−１）／ｍ）ｂｉｔｓ／ｍｍの場合、Ｍ［ｍｍ］ごと
に同じ波形を繰り返すので、周波数成分を計算するため
には、ＫＭ［ｍｍ］［Ｋ＝１、２］の区間のデータを取
れば良いことになる。上記周波数成分のスペクトルを求
めるためには、フーリエ変換などの数値計算を行う。

【００３０】変調度の評価値の計算は、テストパターン
１５の黒バーＢ、…のうちＭ［ｍｍ］の周波数成分が計
算できたら、あとは焦点の良し悪しを示す評価値を求め
れば良い。

【００３１】ここで、焦点の良し悪しと周波数の分布の
様子には、図８に示すような関連がある。すなわち、焦
点が合っている状態では、周波数の高い方が振幅も大き
くなるのでｆ_L とｆ_H のスペクトルが大きくなる。焦点
が外れると高い周波数のスペクトルが減り、さらに低い
周波数成分（ｆ_L ' ）まで現れる。

【００３２】このような関連があるので、焦点の良し悪
しを評価するには、高い周波数のスペクトルを重視した
評価関数を用いれば良いことになる。また、スペクトル
の意味合いもＶ２／Ｖ１とすれば、評価関数と変調度を
直接結びつけられる。

【００３３】図１は電気回路を示すものである。すなわ
ち、制御部３１はメモリ３２に記憶されている区分指定
テ―ブルを用いて、上記判別部４ｂから供給される郵便
番号あるいは宛名情報に対応する区分指定デ―タを読出
し、この読出した区分指定デ―タ（ポケット６、…のア
ドレス）に対応するポケット６、…に上記郵便物Ｐを搬
送せしめるものである。たとえば、搬送路３の途中の搬
送検知器（図示しない）からの搬送検知信号に応じて区
分ゲ―ト制御信号を出力することにより、ドライバ３３
を用いて区分ゲ―ト９、…を制御せしめるようになって
いる。上記メモリ３２には、区分指定テ―ブルとして各
郵便番号あるいは宛名情報に対応するポケット６、…の
アドレス（区分指定デ―タ）が記憶されている。

【００３４】さらに、上記制御部３１はドライバ３５に
より上記搬送路３等の搬送機構部３６を駆動することに
より、搬送系全体の制御を行うようになっている。次
に、このような構成において、光電変換部４ａの焦点位
置調節動作について、図１０に示すフローチャートを参
照しつつ説明する。

【００３５】まず、オペレ―タは光電変換部４ａの基板
に設けられているテストピンに、外部のオシロスコープ
１８やスペクトルアナライザ１９を接続する。また、オ
ペレ―タはカートリッジ１３の裏面側に図５の（ａ）に
示すテストパターン１５をセットして、読取部４の上部
にねじ止めする。

【００３６】これにより、図示しない光源からの光がテ
ストパターン１５に照射され、その反射光がレンズ１７
を介してラインセンサ１６上に導かれる。ラインセンサ
１６の出力は、オシロスコープ１８に供給される。する
と、オシロスコープ１８は、図７に示すような、テスト
パターン１５に対する画像出力波形を表示する。そし
て、オペレ―タはオシロスコープ１８に表示されている
テストパターン１５の基準電位測定用のバーＡに対する
出力波形が、電位差（振幅）が「Ｖ１」となるように、
図示しない移動機構によりレンズ１７を移動して、粗調
節を行う（ＳＴ１、２）。

【００３７】また、ラインセンサ１６の出力の中のテス
トパターン１５の変調度評価用の黒バーＢに対する出力
が、スペクトルアナライザ１９に供給されている。する
と、スペクトルアナライザ１９は、フーリエ変換などの
手法を用いて周波数成分ごとのスペクトルを求め（ＳＴ
４）、その周波数成分ごとのスペクトルから評価関数を
計算し、その計算の結果が規定値だった場合（ＳＴ
５）、焦点があっていると判断し、処理の終了を表示す
る。

【００３８】上記計算の結果が規定値だった場合（ＳＴ
５）、スペクトルアナライザ１９は、図９に示すよう
な、テストパターン１５の変調度評価用の黒バーＢに対
する周波数分布のスペクトルを表示する。

【００３９】そして、オペレ―タはスペクトルアナライ
ザ１９に表示されているテストパターン１５の変調度評
価用の黒バーＢに対する周波数分布のスペクトルが、高
周波部分にスペクトルのピークがある位置になるよう
に、図示しない移動機構によりレンズ１７を移動して、
微調節を行う（ＳＴ６）。

【００４０】また、上記評価関数の計算結果が規定値か
否かの判断を行わずに、直接スペクトルアナライザ１９
に表示されているテストパターン１５の変調度評価用の
黒バーＢに対する周波数分布のスペクトルを用いて微調
節を行うようにしても良い。

【００４１】上記したように、それぞれの配列ピッチが
等間隔の複数のＣＣＤ素子からなるラインセンサと、上
記各ＣＣＤ素子の配列ピッチの整数倍の位置と異なる位
置でかつ等間隔に各バーが配置されているテストパター
ンの像を上記ラインセンサ上に導くレンズとを有し、上
記ラインセンサからの出力信号を抽出し、この抽出した
出力信号に対する所定周波数成分ごとのスペクトルを出
力し、この出力内容に応じて上記レンズを光軸方向に移
動することにより、上記レンズの上記ラインセンサに対
する焦点位置を変更することにより、焦点位置の調節を
行うようにしたものである。

【００４２】これにより、テストパターンの固定の精度
を考慮せずに、常に適正な焦点位置にレンズを設定する
ことができる。また、変調度評価用テストパターンの配
列パターンが、ＣＣＤ素子の配列パターンと意識的にず
らし、焦点の評価のために、従来の振幅化のみで判定す
る方法から、周波数成分のスペクトルをもとに、自動的
に判定する方法へ変え、テストパターンのある一定の長
さ以上を観測し、データ処理をすることで、テストパタ
ーンとＣＣＤ素子の位置関係（水平方向）が変わって
も、焦点評価をすることができる。

【００４３】なお、前記実施例では、テストパターンを
検知窓へセットする場合について説明したが、これに限
らず、テストパターン付きの書状（郵便物）を流すだけ
で焦点の評価が可能になる。

【００４４】また、レンズの移動機構が手動の場合につ
いて説明したが、これに限らず、レンズの移動機構が、
上記粗調節の信号や微調節の信号を用いて自動的に移動
するものであっても良い。

【００４５】

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
テストパターンの固定の精度を考慮せずに、常に適正な
焦点位置にレンズを設定することができる光学読取装置
の光電変換装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係わる区分機の概略構成
を示すブロック図。

【図２】区分機の構成を示す断面図。

【図３】読取部の一部の構成を示す断面図。

【図４】カートリッジの構成を示す斜視図。

【図５】テストパターンの構成とラインセンサの各ＣＣ
Ｄ素子の間隔とテストパターンの黒バーＢ、…の間隔と
を説明するための図。

【図６】光電変換部の要部を説明するための図。

【図７】テストパターンに対する画像出力波形を示す
図。

【図８】テストパターンの黒バーＡに対する画像出力波
形を示す図。

【図９】テストパターンの黒バーＢに対する周波数分布
のスペクトルの表示例を示す図。

【図１０】光電変換部の焦点位置調節動作を説明するた
めのフローチャート。

【図１１】従来のテストパターンを示す図。

【図１２】従来のテストパターンに対する画像出力波形
を示す図。

【符号の説明】

Ｐ…郵便物 ４ａ…光電変換部 １５…テストパターン Ａ、Ｂ…黒バー １６…ラインセンサ １６ａ、〜…ＣＣＤ素子 １７…レンズ １８…オシロスコープ １９…スペクトルアナライザー

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０２Ｂ 7/04 Ｈ０４Ｎ 1/19 7251−5Ｃ Ｈ０４Ｎ 1/04 １０２

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 それぞれの配列ピッチが等間隔の複数の
   ＣＣＤ素子からなるラインセンサと、 上記各ＣＣＤ素子の配列ピッチの整数倍とは異なった等
   間隔で複数のバーが配置されているテストパターンの像
   を上記ラインセンサ上に導くレンズと、 このレンズを光軸方向に移動することにより、上記レン
   ズの上記ラインセンサに対する焦点位置を変更する変更
   手段と、 上記ラインセンサからの出力信号を抽出する抽出手段
   と、 この抽出手段により抽出した出力信号に対する所定周波
   数成分ごとのスペクトルを出力する出力手段と、 この出力手段の出力内容に応じて上記変更手段を変更す
   ることにより、焦点位置の調節を行う調節手段と、 を具備したことを特徴とする光学読取装置の光電変換装
   置。
2. 【請求項２】 上記テストパターンは、 上記各ＣＣＤ素子の配列ピッチとは異なった等間隔で複
   数の同一幅のバーが配置され、さらにこれらのバーと平
   行に２本の幅の太いバーが配置されていることを特徴と
   する請求項１に記載の光学読取装置の光電変換装置。
3. 【請求項３】 それぞれの配列ピッチが等間隔の複数の
   ＣＣＤ素子からなるラインセンサと、 上記各ＣＣＤ素子の配列ピッチの整数倍の位置と異なる
   位置でかつ等間隔に各バーが配置されているテストパタ
   ーンの像を上記ラインセンサ上に導くレンズと、 このレンズを光軸方向に移動することにより、上記レン
   ズの上記ラインセンサに対する焦点位置を変更する変更
   手段と、 上記ラインセンサからの出力信号を抽出する抽出手段
   と、 この抽出手段により抽出した出力信号に対する出力電圧
   波形を出力する第１の出力手段と、 上記抽出手段により抽出した出力信号に対する所定周波
   数成分ごとのスペクトルを出力する第２の出力手段と、 上記第１の出力手段の出力内容に応じて上記変更手段を
   変更することにより、焦点位置の粗調節を行い、上記第
   ２の出力手段の出力内容に応じて上記変更手段を変更す
   ることにより、焦点位置の微調節を行う調節手段と、 を具備したことを特徴とする光学読取装置の光電変換装
   置。
4. 【請求項４】 それぞれの配列ピッチが等間隔の複数の
   ＣＣＤ素子からなるラインセンサと、上記各ＣＣＤ素子
   の配列ピッチの整数倍の位置と異なる位置でかつ等間隔
   に各バーが配置されているテストパターンの像を上記ラ
   インセンサ上に導くレンズとを有するものにおいて、 上記ラインセンサからの出力信号を抽出する手段と、 この抽出した出力信号に対する所定周波数成分ごとのス
   ペクトルを出力する手段と、 この出力内容に応じて上記レンズを光軸方向に移動して
   上記レンズの焦点位置を変更することにより、焦点位置
   の調節を行う手段と、 からなることを特徴とする光電変換装置の焦点調節方
   法。