JPH0735688A - Ftirを用いた分析方法 - Google Patents
Ftirを用いた分析方法Info
- Publication number
- JPH0735688A JPH0735688A JP19920293A JP19920293A JPH0735688A JP H0735688 A JPH0735688 A JP H0735688A JP 19920293 A JP19920293 A JP 19920293A JP 19920293 A JP19920293 A JP 19920293A JP H0735688 A JPH0735688 A JP H0735688A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- interferogram
- ftir
- sampled
- sampling theorem
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 可動ミラーを唯1回スキャンするだけで複数
個の吸収スペクトルを得られるようにすることにより、
短時間で測定を行うことができるFTIRを用いた分析
方法を提供すること。 【構成】 インターフェログラムをサンプリング定理に
よる周波数のN倍の周波数でサンプリングし、このサン
プリングされたインターフェログラムを、第1番目のデ
ータから始めてN−1個おきに抽出して第1のデータグ
ループを作成し、第2番目のデータから始めてN−1個
おきに抽出して第2のデータグループを作成し、以下、
同様にしてN個のデータグループを作成し、これらのデ
ータグループのそれぞれをFFTしてサンプリング定理
に基づいたN個の吸収スペクトルを求め、これらの吸収
スペクトルを積算するようにした。
個の吸収スペクトルを得られるようにすることにより、
短時間で測定を行うことができるFTIRを用いた分析
方法を提供すること。 【構成】 インターフェログラムをサンプリング定理に
よる周波数のN倍の周波数でサンプリングし、このサン
プリングされたインターフェログラムを、第1番目のデ
ータから始めてN−1個おきに抽出して第1のデータグ
ループを作成し、第2番目のデータから始めてN−1個
おきに抽出して第2のデータグループを作成し、以下、
同様にしてN個のデータグループを作成し、これらのデ
ータグループのそれぞれをFFTしてサンプリング定理
に基づいたN個の吸収スペクトルを求め、これらの吸収
スペクトルを積算するようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、分析部から出力される
インターフェログラムをフーリエ変換し、このフーリエ
変換によって得られる吸収スペクトルに基づいて測定試
料中に含まれる成分を定性分析したりまたは定量分析す
るFTIRを用いた分析方法に関する。
インターフェログラムをフーリエ変換し、このフーリエ
変換によって得られる吸収スペクトルに基づいて測定試
料中に含まれる成分を定性分析したりまたは定量分析す
るFTIRを用いた分析方法に関する。
【0002】
【従来の技術】上記FTIRは、例えば図4に示すよう
に構成されている。すなわち、この図において、1は分
析部、2はこの分析部1の出力であるインターフェログ
ラムを処理するデータ処理部である。分析部1は、平行
な赤外光を発するように構成された赤外光源3と、ビー
ムスプリッタ4、固定ミラー5、図外の駆動機構によっ
て例えばX−Y方向に平行移動してスキャンする可動ミ
ラー6からなる干渉機構7と、測定試料などを収容し、
干渉機構7を介して赤外光源3からの赤外光が照射され
るセル8と、半導体検出器9とから構成されている。
に構成されている。すなわち、この図において、1は分
析部、2はこの分析部1の出力であるインターフェログ
ラムを処理するデータ処理部である。分析部1は、平行
な赤外光を発するように構成された赤外光源3と、ビー
ムスプリッタ4、固定ミラー5、図外の駆動機構によっ
て例えばX−Y方向に平行移動してスキャンする可動ミ
ラー6からなる干渉機構7と、測定試料などを収容し、
干渉機構7を介して赤外光源3からの赤外光が照射され
るセル8と、半導体検出器9とから構成されている。
【0003】そして、データ処理部2は、例えばコンピ
ュータよりなり、インターフェログラムを加算平均し、
その加算平均出力を高速フーリエ変換(Fast Fourier T
ransformation 、以下、FFTという)し、吸収スペク
トルを得るように構成されている。
ュータよりなり、インターフェログラムを加算平均し、
その加算平均出力を高速フーリエ変換(Fast Fourier T
ransformation 、以下、FFTという)し、吸収スペク
トルを得るように構成されている。
【0004】このように構成されたFTIRにおいて
は、次のようにして分析することができる。すなわち、
セル8に比較試料または測定試料をそれぞれ収容して赤
外光源3からの赤外光をセル8に照射し、比較試料およ
び測定試料のインターフェログラムを測定する。これら
のインターフェログラムをデータ処理部2において、そ
れぞれFFTしてパワースペクトルを得た後、比較試料
のパワースペクトルに対する測定試料のパワースペクト
ルの比を求め、透過率スペクトルあるいは吸光度スペク
トルを得て、定性分析または定量分析を行う。
は、次のようにして分析することができる。すなわち、
セル8に比較試料または測定試料をそれぞれ収容して赤
外光源3からの赤外光をセル8に照射し、比較試料およ
び測定試料のインターフェログラムを測定する。これら
のインターフェログラムをデータ処理部2において、そ
れぞれFFTしてパワースペクトルを得た後、比較試料
のパワースペクトルに対する測定試料のパワースペクト
ルの比を求め、透過率スペクトルあるいは吸光度スペク
トルを得て、定性分析または定量分析を行う。
【0005】ところで、FTIRにおける上記FFT時
のノイズ発生原因の一つに、サンプリング時の量子化誤
差がある。この量子化誤差とは、アナログ的な時系列デ
ータであるインターフェログラムをサンプリングする場
合におけるAD変換器の分解能に起因する誤差のことを
いうが、この誤差を無くする方法として、一般的には、
可動ミラー6のスキャン回数を多くしてデータを積算
し、ノイズを低減するようにしていた。
のノイズ発生原因の一つに、サンプリング時の量子化誤
差がある。この量子化誤差とは、アナログ的な時系列デ
ータであるインターフェログラムをサンプリングする場
合におけるAD変換器の分解能に起因する誤差のことを
いうが、この誤差を無くする方法として、一般的には、
可動ミラー6のスキャン回数を多くしてデータを積算
し、ノイズを低減するようにしていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような手法では、S/Nの良好な吸収スペクトルを得よ
うとすると、可動ミラー6のスキャン回数が多いところ
から、時間がかかるといった欠点があり、例えば反応過
程のスペクトルの測定などを短いサイクルで測定する場
合には不向きであった。
ような手法では、S/Nの良好な吸収スペクトルを得よ
うとすると、可動ミラー6のスキャン回数が多いところ
から、時間がかかるといった欠点があり、例えば反応過
程のスペクトルの測定などを短いサイクルで測定する場
合には不向きであった。
【0007】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的は、可動ミラーを唯1回スキャンする
だけで複数個の吸収スペクトルを得られるようにするこ
とにより、短時間で測定を行うことができるFTIRを
用いた分析方法を提供することにある。
もので、その目的は、可動ミラーを唯1回スキャンする
だけで複数個の吸収スペクトルを得られるようにするこ
とにより、短時間で測定を行うことができるFTIRを
用いた分析方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るFTIRを用いた分析方法は、インタ
ーフェログラムをサンプリング定理による周波数のN倍
の周波数でサンプリングし、このサンプリングされたイ
ンターフェログラムを、第1番目のデータから始めてN
−1個おきに抽出して第1のデータグループを作成し、
第2番目のデータから始めてN−1個おきに抽出して第
2のデータグループを作成し、以下、同様にしてN個の
データグループを作成し、これらのデータグループのそ
れぞれをFFTしてサンプリング定理に基づいたN個の
吸収スペクトルを求め、これらの吸収スペクトルを積算
するようにした点に特徴がある。
め、本発明に係るFTIRを用いた分析方法は、インタ
ーフェログラムをサンプリング定理による周波数のN倍
の周波数でサンプリングし、このサンプリングされたイ
ンターフェログラムを、第1番目のデータから始めてN
−1個おきに抽出して第1のデータグループを作成し、
第2番目のデータから始めてN−1個おきに抽出して第
2のデータグループを作成し、以下、同様にしてN個の
データグループを作成し、これらのデータグループのそ
れぞれをFFTしてサンプリング定理に基づいたN個の
吸収スペクトルを求め、これらの吸収スペクトルを積算
するようにした点に特徴がある。
【0009】
【作用】インターフェログラムを、例えば図2(A)に
示すように、サンプリング定理に基づく2倍の数のサン
プリングパルスでサンプリングする。この場合における
サンプリング数はサンプリング定理による場合のそれに
比べ2倍になっている。このようなインターフェログラ
ムをメモリに格納する。この図2(A)において、×印
とを○印とは互いに一つおきになるように付されてお
り、これら×印を付したデータのグループと○印を付し
たデータのグループとにそれぞれ分離し、この分離され
たデータグループをそれぞれFFTすることにより、同
図(B),(C)に示されるような周波数領域の吸収ス
ペクトルを得ることができる。
示すように、サンプリング定理に基づく2倍の数のサン
プリングパルスでサンプリングする。この場合における
サンプリング数はサンプリング定理による場合のそれに
比べ2倍になっている。このようなインターフェログラ
ムをメモリに格納する。この図2(A)において、×印
とを○印とは互いに一つおきになるように付されてお
り、これら×印を付したデータのグループと○印を付し
たデータのグループとにそれぞれ分離し、この分離され
たデータグループをそれぞれFFTすることにより、同
図(B),(C)に示されるような周波数領域の吸収ス
ペクトルを得ることができる。
【0010】前記図2(B),(C)に示される吸収ス
ペクトルは、いずれもサンプリング定理に基づくスペク
トルである。そして、これらの吸収スペクトルを積算
(平均)することにより、図3に示すような吸収スペク
トルを得ることができ、この吸収スペクトルは、2回ス
キャンした場合に得られる吸収スペクトルと同じであ
る。つまり、1回のスキャンで2回スキャンしたときと
同等の吸収スペクトルを得ることができる。
ペクトルは、いずれもサンプリング定理に基づくスペク
トルである。そして、これらの吸収スペクトルを積算
(平均)することにより、図3に示すような吸収スペク
トルを得ることができ、この吸収スペクトルは、2回ス
キャンした場合に得られる吸収スペクトルと同じであ
る。つまり、1回のスキャンで2回スキャンしたときと
同等の吸収スペクトルを得ることができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【0012】本発明に係るFTIRを用いた分析方法
は、前記図4に示したFTIRに適用することができ、
従来の方法と大きく異なる点は、インターフェログラム
をサンプリング定理による周波数のN倍の周波数でサン
プリングし、このサンプリングされたインターフェログ
ラムを、第1番目のデータから始めてN−1個おきに抽
出して第1のデータグループを作成し、第2番目のデー
タから始めてN−1個おきに抽出して第2のデータグル
ープを作成し、以下、同様にしてN個のデータグループ
を作成し、これらのデータグループのそれぞれをFFT
してサンプリング定理に基づいたN個の吸収スペクトル
を求め、これらの吸収スペクトルを積算するようにした
点である。
は、前記図4に示したFTIRに適用することができ、
従来の方法と大きく異なる点は、インターフェログラム
をサンプリング定理による周波数のN倍の周波数でサン
プリングし、このサンプリングされたインターフェログ
ラムを、第1番目のデータから始めてN−1個おきに抽
出して第1のデータグループを作成し、第2番目のデー
タから始めてN−1個おきに抽出して第2のデータグル
ープを作成し、以下、同様にしてN個のデータグループ
を作成し、これらのデータグループのそれぞれをFFT
してサンプリング定理に基づいたN個の吸収スペクトル
を求め、これらの吸収スペクトルを積算するようにした
点である。
【0013】図1は、前記Nが2の場合、つまり、イン
ターフェログラムをサンプリング定理による周波数の2
倍の周波数でサンプリングする場合におけるフローチャ
ートの一例を示したもので、以下、これに従って説明す
る。
ターフェログラムをサンプリング定理による周波数の2
倍の周波数でサンプリングする場合におけるフローチャ
ートの一例を示したもので、以下、これに従って説明す
る。
【0014】まず、図4における分析部1において得ら
れるインターフェログラムがデータ処理部としてのコン
ピュータ2に入力される。そして、前記インターフェロ
グラムは、図2(A)に示すように、サンプリング定理
による周波数の2倍の周波数でサンプリング(ステップ
S1)されており、コンピュータ2のメモリ内に一旦格
納される(ステップS2)。
れるインターフェログラムがデータ処理部としてのコン
ピュータ2に入力される。そして、前記インターフェロ
グラムは、図2(A)に示すように、サンプリング定理
による周波数の2倍の周波数でサンプリング(ステップ
S1)されており、コンピュータ2のメモリ内に一旦格
納される(ステップS2)。
【0015】次いで、前記インターフェログラムのデー
タ列を第1番目のデータから1個おきに抽出して第1デ
ータグループ〔図2(A)において×印を付したデータ
からなるグループ〕を作る(ステップS31)。同様に
して、前記インターフェログラムのデータ列を第2番目
のデータから1個おきに抽出して第2データグループ
〔図2(A)において○印を付したデータからなるグル
ープ〕を作る(ステップS32)。
タ列を第1番目のデータから1個おきに抽出して第1デ
ータグループ〔図2(A)において×印を付したデータ
からなるグループ〕を作る(ステップS31)。同様に
して、前記インターフェログラムのデータ列を第2番目
のデータから1個おきに抽出して第2データグループ
〔図2(A)において○印を付したデータからなるグル
ープ〕を作る(ステップS32)。
【0016】そして、前記第1および第2のデータグル
ープをそれぞれ演算部においてFFTを行って(ステッ
プS41、ステップS42)、サンプリング定理に基づ
いた2個の吸収スペクトルを求める。図2(B),
(C)は、それぞれ第1データグループ、第2データグ
ループのインターフェログラムをFFTした結果得られ
る吸収スペクトルを示している。
ープをそれぞれ演算部においてFFTを行って(ステッ
プS41、ステップS42)、サンプリング定理に基づ
いた2個の吸収スペクトルを求める。図2(B),
(C)は、それぞれ第1データグループ、第2データグ
ループのインターフェログラムをFFTした結果得られ
る吸収スペクトルを示している。
【0017】さらに、前記2つの吸収スペクトルを積算
する(ステップS5)ことにより、図3に示すような吸
収スペクトルを得ることができる(ステップS6)。
する(ステップS5)ことにより、図3に示すような吸
収スペクトルを得ることができる(ステップS6)。
【0018】上述の実施例においては、インターフェロ
グラムをサンプリング定理による周波数の2倍の周波数
でサンプリングしていたが、本発明は、これに限られる
ものではなく、インターフェログラムをサンプリング定
理による周波数のN(整数)倍の周波数でサンプリング
してもよい。この場合、インターフェログラムのデータ
列を、第1番目のデータからN−1個おきに抽出して第
1のデータグループD1 を作成し、同様に、第2番目の
データから始めた第2のデータグループD2 をを作成
し、以下、同様にしてN個のデータグループD1 〜DN
を作成し、これらのデータグループD1 〜DN のそれぞ
れをFFTしてサンプリング定理に基づいたN個の吸収
スペクトルを求め、これらの吸収スペクトルを積算すれ
ばよい。
グラムをサンプリング定理による周波数の2倍の周波数
でサンプリングしていたが、本発明は、これに限られる
ものではなく、インターフェログラムをサンプリング定
理による周波数のN(整数)倍の周波数でサンプリング
してもよい。この場合、インターフェログラムのデータ
列を、第1番目のデータからN−1個おきに抽出して第
1のデータグループD1 を作成し、同様に、第2番目の
データから始めた第2のデータグループD2 をを作成
し、以下、同様にしてN個のデータグループD1 〜DN
を作成し、これらのデータグループD1 〜DN のそれぞ
れをFFTしてサンプリング定理に基づいたN個の吸収
スペクトルを求め、これらの吸収スペクトルを積算すれ
ばよい。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
可動ミラーを1回スキャンするだけで同時に測定された
N個の吸収スペクトルを得ることができ、これらを積算
するだけでよく、従って、精度のよい測定を短時間で行
うことができる。
可動ミラーを1回スキャンするだけで同時に測定された
N個の吸収スペクトルを得ることができ、これらを積算
するだけでよく、従って、精度のよい測定を短時間で行
うことができる。
【図1】本発明の一実施例に係るFTIRを用いた分析
方法の一例を示すフローチャートである。
方法の一例を示すフローチャートである。
【図2】前記分析方法を説明するための図で、(A)は
サンプリング定理による周波数の2倍の周波数でサンプ
リングしたときのインターフェログラムの一例を示す
図、(B),(C)は2つのデータグループをそれぞれ
FFTしたときの吸収スペクトルの一例を示す図であ
る。
サンプリング定理による周波数の2倍の周波数でサンプ
リングしたときのインターフェログラムの一例を示す
図、(B),(C)は2つのデータグループをそれぞれ
FFTしたときの吸収スペクトルの一例を示す図であ
る。
【図3】前記図2(B),(C)で示される吸収スペク
トルを積算して得られる吸収スペクトルを示す図であ
る。
トルを積算して得られる吸収スペクトルを示す図であ
る。
【図4】一般的なFTIRを概略的に示す図である。
1…分析部。
Claims (1)
- 【請求項1】 分析部から出力されるインターフェログ
ラムをフーリエ変換し、このフーリエ変換によって得ら
れる吸収スペクトルに基づいて測定試料中に含まれる成
分を分析するFTIRを用いた分析方法において、前記
インターフェログラムをサンプリング定理による周波数
のN倍の周波数でサンプリングし、このサンプリングさ
れたインターフェログラムを、第1番目のデータから始
めてN−1個おきに抽出して第1のデータグループを作
成し、第2番目のデータから始めてN−1個おきに抽出
して第2のデータグループを作成し、以下、同様にして
N個のデータグループを作成し、これらのデータグルー
プのそれぞれをフーリエ変換してサンプリング定理に基
づいたN個の吸収スペクトルを求め、これらの吸収スペ
クトルを積算するようにしたことを特徴とするFTIR
を用いた分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19920293A JPH0735688A (ja) | 1993-07-17 | 1993-07-17 | Ftirを用いた分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19920293A JPH0735688A (ja) | 1993-07-17 | 1993-07-17 | Ftirを用いた分析方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0735688A true JPH0735688A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=16403844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19920293A Pending JPH0735688A (ja) | 1993-07-17 | 1993-07-17 | Ftirを用いた分析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0735688A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014169926A (ja) * | 2013-03-04 | 2014-09-18 | Jasco Corp | 赤外吸収スペクトルに含まれる妨害ピークの除去方法 |
JP2015117978A (ja) * | 2013-12-17 | 2015-06-25 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計 |
-
1993
- 1993-07-17 JP JP19920293A patent/JPH0735688A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014169926A (ja) * | 2013-03-04 | 2014-09-18 | Jasco Corp | 赤外吸収スペクトルに含まれる妨害ピークの除去方法 |
JP2015117978A (ja) * | 2013-12-17 | 2015-06-25 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計 |
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