JPH07302972A - Solder feed method - Google Patents

Solder feed method

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JPH07302972A
JPH07302972A JP9532294A JP9532294A JPH07302972A JP H07302972 A JPH07302972 A JP H07302972A JP 9532294 A JP9532294 A JP 9532294A JP 9532294 A JP9532294 A JP 9532294A JP H07302972 A JPH07302972 A JP H07302972A
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solder
solder paste
substrate
opening
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純司 藤野
Kohei Murakami
光平 村上
Teru Adachi
照 安達
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a solder feed method in which solder is printed on a board by using a mask and in which the solder can be transferred stably and to provide a solder printing method which prevents a dislocation and a void from being generated and which forms a ball bump whose shape irregularity is small. CONSTITUTION:A mask 7 is placed on a board 4 in such a way that a pad 5 formed on the board 4 is aligned with an opening part 10 in the mask 7 (b). Then, a solder paste 9 is filled into the opening part 10 by using a squeegee 8 (c). While the mask 7 is being brought into contact with the board as it is, the board is heated by a hot plate 16 at a temperature which is lower than the melting point of solder (d). The mask is taken off from the board, and the solder paste is transferred to the pad 5 (e). In addition, the solder paste is melted, and a ball bump 6 is formed (f).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、電子部品をプリント
基板にはんだ付けする際のはんだ供給法であり、特にB
GA(Ball Grid Array)等の電子部品の有するボール
バンプを形成するためのはんだ供給法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder supply method for soldering an electronic component to a printed circuit board, and particularly to B
The present invention relates to a solder supply method for forming a ball bump included in an electronic component such as a GA (Ball Grid Array).

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品を高密度に実装する場合、電極
として基板平面にボールバンプを形成する電子部品が用
いられてきた。例えば図13はBGAのパッケージ部品
の斜視図を示す。4はBGA基板、4aはLSI等の電
子部品の封止された封止樹脂、5はBGA基板のパッ
ド、6はBGAの電極となるボールバンプである。基板
4に2次元平面上にボールバンプ6を配置し、このボー
ルバンプ6の配置された側を、例えば別の基板に実装さ
れる。
2. Description of the Related Art In the case of mounting electronic parts at a high density, electronic parts having ball bumps formed on a substrate plane have been used as electrodes. For example, FIG. 13 shows a perspective view of a BGA package component. Reference numeral 4 is a BGA substrate, 4a is a sealing resin in which electronic components such as LSI are sealed, 5 is a pad of the BGA substrate, and 6 is a ball bump which becomes an electrode of the BGA. The ball bumps 6 are arranged on a two-dimensional plane on the substrate 4, and the side on which the ball bumps 6 are arranged is mounted on, for example, another substrate.

【0003】このようにパッド上にボールバンプを形成
する方法として、ボールセット法やはんだ印刷法が知ら
れている。図14はボールセット法によるボールバンプ
の形成工程図を示す。1ははんだ粒子、2ははんだ粒子
1を真空吸着して運搬する真空チャック、3はフラック
スで、例えばタムラ化研RMー26(RMタイプ)のも
の、その他の符号は図13と同一である。図14(a)
に示すように、はんだ粒子1を一個ずつ真空チャック2
を用いて真空吸着して、(b)のように、フラックス3
が塗布されたBGA基板4上のパッドの上に搭載する。
その後、はんだを加熱して溶融させることによりボール
バンプ6を形成する(c)。
As a method of forming a ball bump on the pad as described above, a ball setting method and a solder printing method are known. FIG. 14 shows a process diagram of forming a ball bump by the ball setting method. Reference numeral 1 is solder particles, 2 is a vacuum chuck for carrying the solder particles 1 by vacuum adsorption, and 3 is a flux, for example, that of Tamura Kaken RM-26 (RM type), and other reference numerals are the same as those in FIG. FIG. 14 (a)
As shown in, the solder particles 1 are vacuum chucked one by one.
Vacuum-adsorbs using flux 3 as shown in (b).
Is mounted on the pads on the BGA substrate 4 coated with.
After that, the solder bumps are heated and melted to form the ball bumps 6 (c).

【0004】また図15は、はんだ印刷法によるボール
バンプの形成工程図を示す。7は印刷マスク、8はスキ
ージ、9ははんだを含有したソルダーペースト、10は
印刷マスクの開口部で、ボールバンプの形成されるパッ
ドに対応した箇所を開口してある。その他の符号は上記
と同一である。図15(a)で、パッド5と開口部10
とを一致させるように印刷マスク7をBGA基板4上に
載せて、密着させる(b)。(c)のように、スキージ
8を用いてソルダーペースト9を開口部に充填する。そ
の後(d)のように印刷マスク7をBGA基板4からは
ずし、ソルダーペースト内のはんだを加熱し、溶融させ
ることで、ボールバンプ6が形成される(e)。
Further, FIG. 15 shows a process diagram of forming a ball bump by a solder printing method. Reference numeral 7 is a printing mask, 8 is a squeegee, 9 is a solder paste containing solder, and 10 is an opening of the printing mask, which is opened at a position corresponding to a pad on which a ball bump is formed. The other symbols are the same as above. In FIG. 15A, the pad 5 and the opening 10
The print mask 7 is placed on the BGA substrate 4 so as to match with (b). As in (c), the opening is filled with the solder paste 9 using the squeegee 8. Thereafter, as shown in (d), the print mask 7 is removed from the BGA substrate 4, and the solder in the solder paste is heated and melted to form the ball bumps 6 (e).

【0005】また、図16に特開平2ー201996号
公報に掲載のはんだ供給法を示す。図(a)〜(c)は
図15のものと同様である。ソルダーペーストをマスク
(公報ではメタルスクリーン)の開口部に充填した後、
そのままにしてソルダーペーストをリフローする
(d)。例えば共晶はんだを使用する場合、150℃で
3分、210℃で1分加熱する。そして、(e)のよう
に冷却後にマスクをはずしてボールバンプ6を形成す
る。
Further, FIG. 16 shows a solder supply method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-201996. 15A to 15C are similar to those in FIG. After filling the opening of the mask (metal screen in the publication) with solder paste,
Reflow the solder paste as it is (d). For example, when eutectic solder is used, it is heated at 150 ° C. for 3 minutes and 210 ° C. for 1 minute. Then, as shown in (e), the ball bump 6 is formed by removing the mask after cooling.

【0006】ソルダーペーストは、はんだ粒子と樹脂
(ロジン等)とを溶剤(イソプロピルアルコール等)中
に混合したもので、このソルダーペーストを加熱するこ
とでそれ自身収縮する。そしてマスクの開口部に充填さ
れたソルダーペーストはこの収縮により開口部の壁面か
ら離れ、開口部に残ることなくはんだの転写量は図15
の方法に比べ増加する。
The solder paste is a mixture of solder particles and a resin (such as rosin) in a solvent (such as isopropyl alcohol). The solder paste shrinks by heating the solder paste. Then, the solder paste filled in the opening of the mask is separated from the wall surface of the opening due to this contraction, and the transfer amount of the solder is not shown in FIG.
It increases compared to the method.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、ボール
セット法(図14の方法)によるはんだ供給法では、ボ
ールバンプの数が増加するとその数に比例してボールセ
ットに費やす時間が増加する。そのため、ASIC等の
I/O数の多いBGAの場合、生産性が著しく低下す
る。また、真空チャックにとりはんだ粒子を装着するた
め、ボールバンプ間にある程度の間隔が必要で、高密度
なボールバンプの形成は困難である。
As described above, in the solder supply method based on the ball setting method (the method shown in FIG. 14), when the number of ball bumps increases, the time spent for ball setting increases in proportion to the number of ball bumps. . Therefore, in the case of BGA having a large number of I / O such as ASIC, the productivity is remarkably reduced. Further, since solder particles are mounted on the vacuum chuck, a certain amount of space is required between the ball bumps, making it difficult to form high-density ball bumps.

【0008】また、はんだ印刷法(図15の方法)によ
るはんだ供給法では、ボールセット法に比べ生産性は優
るが、(d)のように転写されるはんだ量にばらつきが
生じ、その結果、(e)のように、ボールバンプ6に高
さが不十分でばらつきが大きくなる。よってボールバン
プ形成に必要な量のはんだを転写しようとすると、でき
るだけ開口部の厚さを大きくしてより多くのはんだを開
口部に充填できるようにする。しかし開口部の開口部分
の長さ(例えば、開口部分が矩型なら最短の辺の長さ、
円型ならその直径)に対し、開口部の厚さが大きくなる
につれて、はんだ転写率が悪くなる。また、逆にはんだ
の転写量を増やすために開口面積を大きくすると、はん
だ溶融時に隣接するパッド上のバンプ同志がつながって
しまう恐れがある。
Further, the solder supply method by the solder printing method (method of FIG. 15) is superior in productivity as compared with the ball setting method, but the amount of transferred solder varies as shown in (d), and as a result, As shown in (e), the height of the ball bump 6 is insufficient and the variation becomes large. Therefore, when the amount of solder required for ball bump formation is transferred, the thickness of the opening is increased as much as possible so that more solder can be filled in the opening. However, the length of the opening of the opening (for example, if the opening is rectangular, the shortest side length,
If the thickness is circular, the solder transfer rate becomes worse as the thickness of the opening increases. On the contrary, if the opening area is increased in order to increase the transfer amount of solder, bumps on adjacent pads may be connected to each other when the solder is melted.

【0009】図15(f)はこのはんだ印刷法によるボ
ールバンプ形成時のバンプ高さの分布を示す図である。
パッド間隔が1mmピッチのBGAの場合、JEDEC
規格では高さ0.5mm、直径0.6mm(いずれも許
容誤差範囲は±0.1mm)のバンプが必要となってお
り、このJEDEC規格を満たすボールバンプを形成す
ることは極めて困難であることがわかる。
FIG. 15 (f) is a diagram showing the distribution of bump heights when ball bumps are formed by this solder printing method.
For BGA with 1mm pitch between pads, JEDEC
According to the standard, a bump with a height of 0.5 mm and a diameter of 0.6 mm (both with an allowable error range of ± 0.1 mm) is required, and it is extremely difficult to form a ball bump that meets this JEDEC standard. I understand.

【0010】また、図17はLSI部品、例えばQFP
(Quad-Flat-Package)をはんだが供給されたパッドの
接続させる工程図であるが、(a)のように、図15と
同じ方法ではんだを供給し、はんだ転写量の不足により
バンプの高さにばらつきが生じた場合、(b)のよう
に、パッド5上のQFP12を搭載した後に、加熱する
ことにより、QFP12を接続する(c)。このバンプ
高さのばらつきにより接続部分に未はんだ不良20が生
じたり、接続されても接合強度不足が生じる。はんだの
転写量不足を補うため開口部を大きくしすぎると、加熱
時に隣合うはんだがつながってブリッジ不良が発生す
る。
FIG. 17 shows an LSI component such as QFP.
FIG. 16 is a process diagram of connecting (Quad-Flat-Package) to pads supplied with solder, but as shown in (a), solder is supplied in the same manner as in FIG. If there is a variation in the thickness, as shown in (b), after mounting the QFP 12 on the pad 5, the QFP 12 is connected by heating (c). Due to this variation in bump height, unsoldered defects 20 may occur in the connection portion, or even if they are connected, the joint strength may be insufficient. If the opening is made too large in order to compensate for the insufficient transfer amount of solder, adjacent solder will be connected during heating and a bridge defect will occur.

【0011】さらに図16の方法では、はんだの転写率
を増加させることができるが以下の問題点が生じた。 (1)印刷マスクのパッドに対する位置ずれが生じた場
合、供給されるはんだの位置ずれがそのまま発生してい
た。例えば図18はバンプの位置ずれの様子を示した断
面図で、この印刷マスクの位置ずれによりバンプ6も位
置ずれして形成される。 (2)はんだが印刷マスクの開口部の内面形状に影響さ
れるため、冷却後の形成されるボールバンプの形状・高
さが不安定であった。 (3)マスクを装着したままでソルダーペーストを溶融
・冷却することで、はんだ中にボイド(空隙)が発生し
ていた。 (4)印刷マスクを装着したままソルダーペーストをリ
フローすることでソルダーペースト中の溶剤が気化し、
はんだとパッドの間にもその気化した溶剤が発生し、図
15(d)のように、はんだがパッドに接合されない箇
所が生じる可能性があった。 (5)印刷マスクは、はんだがリフローするまで基板に
密着させておく必要があり、工程に要する時間が大き
く、生産性が悪く自動化が困難であった。
Further, with the method of FIG. 16, the transfer rate of solder can be increased, but the following problems occur. (1) When the positional displacement of the print mask with respect to the pad occurs, the positional displacement of the supplied solder occurs as it is. For example, FIG. 18 is a cross-sectional view showing how the bumps are displaced, and the bumps 6 are also displaced due to the displacement of the print mask. (2) Since the solder is influenced by the inner surface shape of the opening of the print mask, the shape and height of the ball bump formed after cooling are unstable. (3) Voids (voids) were generated in the solder by melting and cooling the solder paste with the mask attached. (4) By reflowing the solder paste with the print mask attached, the solvent in the solder paste evaporates,
The vaporized solvent is also generated between the solder and the pad, and there is a possibility that the solder is not joined to the pad as shown in FIG. (5) The print mask needs to be kept in close contact with the substrate until the solder reflows, the time required for the process is long, the productivity is poor, and automation is difficult.

【0012】この発明は上記の問題点を解決するために
なされたもので、印刷マスクを用いてはんだを供給する
際、パッド上に安定したはんだ転写を行なうことのでき
るはんだ供給法を提供することを目的としたものであ
る。また、大きさ、形状のばらつきのないボールバンプ
を形成できる生産性の高いはんだ供給法を提供すること
を目的としたものである。
The present invention has been made to solve the above problems, and provides a solder supply method capable of performing stable solder transfer onto a pad when supplying solder using a printing mask. It is intended for. It is another object of the present invention to provide a highly productive solder supply method capable of forming ball bumps having no variation in size and shape.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】この発明に係るはんだ供
給法は、マスクが有する開口部と基板上に形成されたパ
ッドとがほぼ一致するように、マスクを基板に配置する
工程、開口部にはんだペーストを充填させる工程、マス
クを基板に密着させたまま、ペースト中のはんだの融点
より低い温度でこのはんだペーストを加熱し、パッドに
はんだペーストを付着させる工程を含んだものである。
According to the solder supply method of the present invention, the step of arranging the mask on the substrate and the step of arranging the mask on the substrate so that the openings of the mask and the pads formed on the substrate are substantially aligned. The method includes a step of filling the solder paste and a step of heating the solder paste at a temperature lower than the melting point of the solder in the paste while keeping the mask in close contact with the substrate to attach the solder paste to the pads.

【0014】また、マスクが有する開口部と基板上に形
成されたパッドとがほぼ一致するように、マスクを基板
に配置する工程、開口部にはんだペーストを充填させる
工程、マスクを基板に密着させたまま、このはんだペー
ストを加熱し、パッドにはんだペーストを付着させる工
程、はんだが固着した状態でマスクを基板から除去した
後にはんだを溶融させる工程を含んだものである。
Further, the step of placing the mask on the substrate, the step of filling the opening with solder paste, and the step of bringing the mask into close contact with the substrate so that the openings of the mask and the pads formed on the substrate are substantially aligned with each other. As it is, the steps include heating the solder paste to attach the solder paste to the pad, and removing the mask from the substrate with the solder fixed and then melting the solder.

【0015】また、マスクが有する開口部と基板上に形
成されたパッドとがほぼ一致するように、マスクを基板
に配置する工程、開口部にはんだペーストを充填させる
工程、マスクを基板に密着させたまま、開口部のうちア
スペクト比(マスクの開口部の最短長さに対する開口部
の深さの比)が0.3以上に形成された開口部に充填さ
れたはんだペーストを加熱し、パッドにはんだペースト
を付着させる工程を含んだものである。
Further, the step of placing the mask on the substrate, the step of filling the opening with solder paste, and the step of bringing the mask into close contact with the substrate so that the openings of the mask and the pads formed on the substrate are substantially aligned with each other. As it is, the solder paste filled in the opening with an aspect ratio (ratio of the depth of the opening to the shortest length of the opening of the mask) of 0.3 or more is heated to form a pad. It includes a step of attaching a solder paste.

【0016】また、マスクが有する開口部と基板上に形
成されたパッドとがほぼ一致するように、マスクを基板
に配置する工程、開口部にはんだペーストを充填させる
工程、マスクを基板に密着させたまま、このはんだペー
ストを加熱し、パッドにはんだペーストを付着させる工
程、このはんだが溶融した状態でマスクを基板から除去
する工程を含んだものである。
Further, the step of placing the mask on the substrate, the step of filling the opening with solder paste, and the step of bringing the mask into close contact with the substrate so that the openings of the mask and the pads formed on the substrate are substantially aligned with each other. As it is, it includes a step of heating the solder paste to attach the solder paste to the pad, and a step of removing the mask from the substrate in a state where the solder is melted.

【0017】また、第一のマスクが有する開口部を基板
上に形成されたパッドとがほぼ一致するように、第一の
マスクを基板に配置する工程、さらに第二のマスクが有
する開口部と第一のマスクの開口部とがほぼ一致するよ
うに、第二のマスクを第一のマスクに配置する工程、第
一と第二のマスクの開口部にはんだペーストを充填する
工程、第二のマスクを第一のマスクから取り除き、第一
のマスクを基板に密着させたまま、はんだペーストを加
熱し、パッドにはんだペーストを付着させる工程を含ん
だものである。
The step of disposing the first mask on the substrate so that the opening of the first mask substantially matches the pad formed on the substrate, and the opening of the second mask The step of disposing the second mask on the first mask so that the openings of the first mask substantially match, the step of filling the solder paste in the openings of the first and second masks, the second The method includes a step of removing the mask from the first mask, heating the solder paste while keeping the first mask in close contact with the substrate, and attaching the solder paste to the pad.

【0018】また、少なくともマスクの開口部の表面が
フッ素樹脂で被覆されているものである。
Further, at least the surface of the opening of the mask is covered with a fluororesin.

【0019】また、開口部に充填されたはんだペースト
に加熱用ビーム照射することにより、はんだペーストを
加熱するようにしたものである。
Further, the solder paste filled in the opening is irradiated with a heating beam to heat the solder paste.

【0020】[0020]

【作用】このように構成されたはんだ供給法によると、
はんだペースト中にはんだの融点以下でマスクの開口部
に充填されたはんだペーストを加熱するので、はんだは
溶融せず、はんだペースト中の樹脂が溶融して凝集する
とともに、パッドとはんだとを密着させ、かつ溶剤の気
化する量を抑制しながら、開口部に充填されたはんだペ
ーストはパッド上に転写される。
[Operation] According to the solder supply method configured as described above,
Since the solder paste filled in the opening of the mask is heated below the melting point of the solder in the solder paste, the solder does not melt, the resin in the solder paste melts and agglomerates, and the pad and solder are brought into close contact with each other. In addition, the solder paste filled in the opening is transferred onto the pad while suppressing the amount of solvent vaporized.

【0021】また、マスクの開口部に充填されたはんだ
ペーストを加熱し、パッドにはんだペーストを付着さ
せ、そのはんだが固着した状態でマスクを基板から除去
し、その後はんだを溶融させるので、パッドに付着した
はんだペーストの位置ずれは修正され、かつはんだ中の
ボイドが解消される。
Further, the solder paste filled in the opening of the mask is heated to adhere the solder paste to the pad, the mask is removed from the substrate in a state where the solder is fixed, and then the solder is melted. The misalignment of the attached solder paste is corrected, and the void in the solder is eliminated.

【0022】また、アスペクト比が0.3以上の開口部
に充填されたはんだペーストを加熱するので、開口部か
ら転写されにくいはんだペーストを加熱してパッドに付
着させることができる。
Further, since the solder paste filled in the opening having an aspect ratio of 0.3 or more is heated, the solder paste which is difficult to be transferred from the opening can be heated and attached to the pad.

【0023】また、はんだが溶融した状態でマスクを基
板から除去するので、パッドに付着したはんだペースト
の位置ずれは修正され、かつはんだ中のボイドは解消さ
れる。
Further, since the mask is removed from the substrate while the solder is melted, the positional deviation of the solder paste attached to the pad is corrected and the void in the solder is eliminated.

【0024】また、開口部がほぼ一致するように、第一
のマスクに第二のマスクを配置し、開口部にはんだペー
ストを充填させ、第二のマスクを第一のマスクから取り
外して第一のマスクを基板に密着させたままはんだペー
ストを加熱するので、はんだペーストを印刷するための
マスクと、基板に密着させたまま加熱するマスクとは別
体となり、はんだを開口部に充填して印刷する工程とマ
スクを基板に密着させたまま加熱する工程が同時に行な
われる。
Further, the second mask is arranged on the first mask so that the openings are substantially aligned with each other, the openings are filled with the solder paste, and the second mask is removed from the first mask to remove the first mask. Since the solder paste is heated while keeping the mask in close contact with the substrate, the mask for printing the solder paste and the mask for heating in close contact with the substrate are separate bodies, and the solder is filled in the openings to print. The step of heating and the step of heating while keeping the mask in close contact with the substrate are performed simultaneously.

【0025】また、少なくともマスクの開口部の表面は
フッ素樹脂で被覆されるので、開口部表面とはんだとの
はじきが良好になる。
Further, since at least the surface of the opening of the mask is covered with the fluororesin, the repelling between the surface of the opening and the solder becomes good.

【0026】また、開口部に充填されたはんだペースト
に加熱用ビーム照射することにより加熱するようにした
ので、マスク部分は加熱されず、マスクの温度上昇を抑
えられる。
Further, since the solder paste filled in the openings is heated by irradiating the heating beam, the mask portion is not heated and the temperature rise of the mask can be suppressed.

【0027】[0027]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、本発明の一実施例を示す。図1は本実
施例によるはんだ供給方法およびボールバンプ形成方法
の工程図を示す。図において、4はBGA基板、5はB
GA基板上のCuパッド、6はボールバンプ、7は印刷
マスク、8はスキージ、9はソルダーペーストで、通常
はんだと樹脂(例えばロジン)とを溶剤(イソプロピル
アルコール等の有機アルコール)中に混合させたもので
ある。10は印刷マスク7においてパッド5の位置に対
応した箇所を開口した開口部で、少なくともパッド5の
面積より大きく開口してある。16はホットプレートで
ある。
Example 1. An example of the present invention will be described below. FIG. 1 is a process diagram of a solder supply method and a ball bump forming method according to this embodiment. In the figure, 4 is a BGA substrate, 5 is B
Cu pad on GA substrate, 6 is a ball bump, 7 is a print mask, 8 is a squeegee, and 9 is a solder paste. Usually, solder and resin (for example, rosin) are mixed in a solvent (organic alcohol such as isopropyl alcohol). It is a thing. Reference numeral 10 denotes an opening that opens at a position corresponding to the position of the pad 5 on the print mask 7, and is opened at least larger than the area of the pad 5. 16 is a hot plate.

【0028】次いで、はんだの供給法およびボールバン
プ形成法について説明する。図1(a)に示すように、
印刷マスク7をBGA基板4に形成されたCuパッド5
(直径0.5mm)に開口部10がほぼ一致するように
位置合わせして、(b)のように、印刷マスク7と基板
4を密着させる。(c)のように、スキージ8を用いて
ソルダーペースト9を開口部10に充填する。印刷マス
ク7は、厚さ0.6mmのSUS製で、直径0.65m
mの円形の開口部10が形成されている。次いで、
(d)で、印刷マスク7をBGA基板4に密着させたま
まホットプレート16に靜置し、加熱する。加熱ではソ
ルダーペースト9内のはんだの融点より低い温度で行な
う。例えば共晶はんだ(融点183℃)を用いる場合に
は170℃で3分加熱する。冷却後に(e)に示すよう
に、印刷マスク7をはずすことによりソルダーペースト
9はパッド5に転写され、付着する。さらにこの転写さ
れたソルダーペースト9を溶融(210℃で1分間加熱
する)してボールバンプ6を形成する(f)。
Next, a solder supplying method and a ball bump forming method will be described. As shown in FIG.
The print mask 7 is the Cu pad 5 formed on the BGA substrate 4.
Positioning is performed so that the opening 10 substantially coincides with (diameter 0.5 mm), and the print mask 7 and the substrate 4 are brought into close contact with each other as shown in (b). As shown in (c), the opening 10 is filled with the solder paste 9 using the squeegee 8. The print mask 7 is made of SUS having a thickness of 0.6 mm and has a diameter of 0.65 m.
A circular opening 10 of m is formed. Then
In (d), the print mask 7 is placed on the hot plate 16 while being in close contact with the BGA substrate 4 and heated. The heating is performed at a temperature lower than the melting point of the solder in the solder paste 9. For example, when eutectic solder (melting point 183 ° C.) is used, it is heated at 170 ° C. for 3 minutes. After cooling, as shown in (e), by removing the print mask 7, the solder paste 9 is transferred to and adheres to the pad 5. Further, the transferred solder paste 9 is melted (heated at 210 ° C. for 1 minute) to form the ball bump 6 (f).

【0029】図2は、図1(e)においてパッドに転写
されたソルダーペーストの外観図である。図1(d)
で、開口部に充填されたソルダーペーストを含有するは
んだの融点以下で加熱することで、はんだは溶融せずに
ソルダーペースト内の樹脂(ロジン)が溶融して開口部
に充填されたソルダーペーストを収縮させるとともに、
溶融した樹脂がパッドとソルダーペーストとを接合させ
る。よってソルダーペーストはマスクの開口部の内部に
残らすに、開口部の形状のそのままが転写される。図で
は円筒状の開口部に対し、円筒状のソルダーペーストが
転写される。また、はんだ融点以下の余熱加熱するので
ソルダーペーストの溶剤の気化量はかなり減少するの
で、パッドとソルダーペーストとの間に溶剤の気泡は生
じなくなり、パッドとソルダーペーストとの接合不良は
生じなくなる。このように、はんだをリフローしなくて
もはんだ融点以下でもソルダーペーストとパッドは接合
するので、加熱時間を短縮することができ、生産性が向
上する。
FIG. 2 is an external view of the solder paste transferred to the pad in FIG. 1 (e). Figure 1 (d)
Then, by heating below the melting point of the solder containing the solder paste filled in the opening, the resin (rosin) in the solder paste melts without melting the solder and the solder paste filled in the opening Shrink and
The molten resin bonds the pad and the solder paste. Therefore, the shape of the opening is transferred as it is, leaving the solder paste inside the opening of the mask. In the figure, the cylindrical solder paste is transferred to the cylindrical opening. In addition, since the residual heat of the solder or less is heated, the amount of vaporized solvent in the solder paste is considerably reduced, so that bubbles of the solvent do not occur between the pad and the solder paste, and the bonding failure between the pad and the solder paste does not occur. As described above, the solder paste and the pad are bonded even if the solder is not reflowed and the solder melting point is lower than the melting point. Therefore, the heating time can be shortened and the productivity is improved.

【0030】さらに、開口部のパッドと対面する側の開
口面積をその反対側の開口面積より大きくなるように印
刷マスクを設計する(図3(a)にそのマスクの断面図
を示す)ことによりパッドとソルダーペーストとを接合
しやすくことができる。また、ソルダーペースト中のは
んだ粒子より小さい切りかき(溝)を、印刷マスクの基
板に密着する側に形成する。図3(b)のようにマスク
表面に切りかき13を形成する。この切りかきにソルダ
ーペースト中の溶剤を逃がすことができ、気化した溶剤
がパッドとソルダーペーストの間に蓄積しないようにし
て、パッドとソルダーペーストとの接合を助長すること
ができる。
Further, by designing the printing mask so that the opening area of the opening facing the pad is larger than the opening area of the opposite side (a cross-sectional view of the mask is shown in FIG. 3A). It is possible to easily bond the pad and the solder paste. Further, a cut (groove) smaller than the solder particles in the solder paste is formed on the side of the print mask that is in close contact with the substrate. A scribe 13 is formed on the mask surface as shown in FIG. The solvent in the solder paste can be released to this cut, and the vaporized solvent can be prevented from accumulating between the pad and the solder paste, thus facilitating the bonding between the pad and the solder paste.

【0031】図4は、図1(f)で再加熱することによ
り形成されたボールバンプの高さの分布を示した図であ
る(本図はパッド間隔が1mmピッチの場合である)。
また、同じ印刷マスクを使って、ソルダーペーストを開
口部に充填した後リフローさせる従来のボールバンプ形
成法によるボールバンプの高さ分布も併せて示す。従来
のマスク密着リフローによる方法よりも高く、かつその
高さのばらつきも少ないボールバンプが形成することが
できる。JEDEC規格(パッド間隔1mmピッチの場
合、高さ0.5mm、直径0.6mm、誤差±0.1m
m)も十分満たしたものである。
FIG. 4 is a diagram showing the distribution of the heights of the ball bumps formed by reheating in FIG. 1 (f) (this figure shows the case where the pad pitch is 1 mm pitch).
Also, the height distribution of the ball bumps by the conventional ball bump forming method in which the solder paste is filled in the openings and then reflowed using the same printing mask is also shown. It is possible to form a ball bump that is higher than the conventional mask contact reflow method and has less variation in height. JEDEC standard (when the pad spacing is 1mm pitch, height 0.5mm, diameter 0.6mm, error ± 0.1m
m) is also sufficiently satisfied.

【0032】また、図5(a)は前述図15の従来方法
で形成されたボールバンプの断面図で、(b)は本実施
例により形成されたボールバンプの断面図である。マス
クの開口部とパッドの位置がずれていた時、ソルダーペ
ーストもパッドからずれて転写される。そのような場
合、従来方法では(a)に示すようにそのまま位置ずれ
してボールバンプが形成される。しかし本実施例のよう
に、マスクを基板に密着したままはんだ融点以下で加熱
し、その後マスクをはずしてはんだを溶融することによ
り、仮にマスクの開口部とパッドの位置がずれていて
も、再加熱により位置ずれが修正され、うまくパッド上
にボールバンプが形成される(b)。また、ボールバン
プ中のボイド6aも本実施例の方法により解消される。
Further, FIG. 5A is a sectional view of the ball bump formed by the conventional method of FIG. 15, and FIG. 5B is a sectional view of the ball bump formed by this embodiment. When the positions of the openings of the mask and the pads are deviated, the solder paste is also deviated from the pads and transferred. In such a case, according to the conventional method, the ball bumps are formed by being misaligned as shown in (a). However, as in the present embodiment, even if the mask opening and the pad are misaligned by heating the mask at a temperature not higher than the melting point of the solder while closely adhering to the substrate, then removing the mask and melting the solder, The heating corrects the misalignment and successfully forms a ball bump on the pad (b). The void 6a in the ball bump is also eliminated by the method of this embodiment.

【0033】なお、本実施例では、SUS製の印刷マス
クを用いたが、マスク素材としてアルミニウム、ニッケ
ル、セラミック、フッ素樹脂等のはんだぬれしにくい素
材を用いるのも有効である。またマスクにインバー等の
熱膨張率の小さい素材を用いることで、加熱することに
よりマスクの熱膨張を抑え、位置ずれを防ぐ。
In this embodiment, the SUS printing mask is used, but it is also effective to use a material which does not easily get wet with solder, such as aluminum, nickel, ceramics, or fluororesin, as the mask material. Further, by using a material having a small coefficient of thermal expansion such as Invar for the mask, the thermal expansion of the mask is suppressed by heating and the positional deviation is prevented.

【0034】また加熱方法としてホットプレートを用い
たが、ハロゲンランプ、キセノンランプ、炭酸ガスレー
ザ等を用いると、加熱に要する時間を短縮することで
き、マスクの反りを抑えることができる。また、レーザ
を用いてビーム照射して加熱する場合、レーザを絞って
開口部より小さい部分に照射することで、マスクが加熱
されることを極力抑え、マスクの熱膨張、反りによる位
置ずれを防ぐ。
Although the hot plate is used as the heating method, if a halogen lamp, a xenon lamp, a carbon dioxide gas laser or the like is used, the time required for heating can be shortened and the warp of the mask can be suppressed. Further, when heating is performed by irradiating a beam with a laser, by squeezing the laser to irradiate a portion smaller than the opening, heating of the mask is suppressed as much as possible, and thermal displacement of the mask and displacement due to warpage are prevented. .

【0035】はんだ供給にはソルダーペーストを用いた
が、CuペーストやAgペーストをはじめとして、導電
性があり、マスクの開口部へ充填後、加熱することによ
り印刷可能である素材を用いてもよい。
Although the solder paste was used for supplying the solder, it is also possible to use a material such as a Cu paste or an Ag paste, which has conductivity and can be printed by heating after filling the opening of the mask. .

【0036】実施例2.図6は本実施例におけるはんだ
供給法およびボールバンプ形成法の工程図を示す。図に
おいて、符号は実施例1と同一で、マスク7は、例えば
厚さ0.6mmを有し、その開口部10は、対応するパ
ッド(直径0.5mmの円形)に対し直径0.65mm
の円形をなしている。ボールバンプ形成法について説明
する。図6(a)〜(c)は実施例1と同じ工程であ
る。次いで、(d)に示すように印刷マスク7をBGA
基板4に密着させたままホットプレート16上に靜置
し、ソルダーペースト中のはんだ融点以上で加熱してリ
フローする。共晶はんだ(融点183℃)を用いた場
合、150℃で3分、210℃で1分加熱する。冷却
後、(e)に示すように印刷マスク7をはずしてボール
バンプ6を形成する。
Example 2. FIG. 6 is a process diagram of the solder supply method and the ball bump forming method in this embodiment. In the figure, the reference numerals are the same as in Example 1, the mask 7 has, for example, a thickness of 0.6 mm, and its opening 10 has a diameter of 0.65 mm with respect to the corresponding pad (circle having a diameter of 0.5 mm).
It has a circular shape. The ball bump forming method will be described. 6A to 6C show the same steps as in the first embodiment. Then, as shown in (d), the print mask 7 is applied to the BGA.
It is placed on the hot plate 16 while being in close contact with the substrate 4 and heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the solder in the solder paste for reflow. When eutectic solder (melting point 183 ° C.) is used, it is heated at 150 ° C. for 3 minutes and 210 ° C. for 1 minute. After cooling, the print mask 7 is removed to form the ball bumps 6 as shown in (e).

【0037】図7は、はんだを印刷マスクに印刷し、加
熱せずにそのまま印刷マスクを基板からはずしてはんだ
をパッドに転写させた場合において、種々のアスペクト
比(開口部の最小の長さに対する開口部の厚さ)の開口
部に対する転写率を示したデータ図である。ここで転写
率とは、開口部の体積に対する転写されたはんだの容積
を表わす。また、印刷マスクにはSUS製マスクを使用
した。図のように、アスペクト比が0.3以上になる
と、著しく転写率が減少する。しかし、図6の工程
(d)のようにアスペクト比が0.3以上の開口部に充
填されたソルダーペーストを加熱することで、ほぼ10
0%の転写率ではんだがパッドに転写された(図7には
図示せず)。図6ではアスペクト比0.92(=0.6
mm/0.65mm)の開口部が使用され、加熱により
ソルダーペーストがうまく転写される。一方、アスペク
ト比0.3未満では加熱なしでも転写される。
FIG. 7 shows various aspect ratios (with respect to the minimum length of the opening) when solder is printed on a printing mask, the printing mask is removed from the substrate as it is without heating, and the solder is transferred to the pad. FIG. 8 is a data diagram showing a transfer rate of (a thickness of an opening) to the opening. Here, the transfer rate represents the volume of the transferred solder with respect to the volume of the opening. A SUS mask was used as the print mask. As shown in the figure, when the aspect ratio is 0.3 or more, the transfer rate remarkably decreases. However, by heating the solder paste filled in the openings having an aspect ratio of 0.3 or more as in step (d) of FIG.
Solder was transferred to the pads at a transfer rate of 0% (not shown in Figure 7). In FIG. 6, the aspect ratio is 0.92 (= 0.6
mm / 0.65 mm) opening is used, and the solder paste is successfully transferred by heating. On the other hand, when the aspect ratio is less than 0.3, transfer is performed without heating.

【0038】図8は、図6のように開口部に充填された
ソルダーペーストを加熱し、冷却後に印刷マスクをはず
すことによりボールバンプを形成した際、種々のアスペ
クト比を有する開口部に対するボールバンプ形成の割合
を示したデータ図である。ここでボールバンプ形成の割
合とは、あるアスペクト比を有する開口部により形成さ
れたボールバンプの個数に対する、JEDEC規格を満
足するボールバンプの個数の比を表わす。また、印刷マ
スクにはSUS製マスクを使用した。はんだを開口部に
充填させた後に印刷マスクをはずし、その後に加熱して
ボールバンプを形成する従来の方法によると、アスペク
ト比0.3以上の開口部を用いるとほぼその割合はほぼ
ゼロであった(図8には図示せず)。しかし、本実施例
の方法(図6の方法)によると、ボールバンプ形成の割
合はかなり改善された。しかし、アスペクト比が1.0
以上になると、形成されるバンプの割合が著しく小さく
なる。マスクの素材をフッ素樹脂にすることで改善され
るが、アスペクト比が2.0以上になると再びボールバ
ンプ形成の割合が小さくなる。以上のように、ボールバ
ンプを形成するための印刷マスクの開口部としてはアス
ペクト比は最大2.0のものがよく、特に本実施例の方
法によると、0.3以上2.0以下のアスペクト比の開
口部を持つマスクが好ましい。
FIG. 8 shows that when the solder bump filled in the openings as shown in FIG. 6 is heated, and the ball bumps are formed by removing the printing mask after cooling, the ball bumps for the openings having various aspect ratios are formed. It is the data figure which showed the ratio of formation. Here, the rate of ball bump formation represents the ratio of the number of ball bumps satisfying the JEDEC standard to the number of ball bumps formed by openings having a certain aspect ratio. A SUS mask was used as the print mask. According to the conventional method in which the printing mask is removed after the openings are filled with solder and then the ball bumps are formed by heating, the ratio is almost zero when the openings having the aspect ratio of 0.3 or more are used. (Not shown in FIG. 8). However, according to the method of this embodiment (the method of FIG. 6), the rate of ball bump formation was considerably improved. However, the aspect ratio is 1.0
If it becomes above, the ratio of the formed bump will become remarkably small. This can be improved by using a fluororesin as the mask material, but when the aspect ratio becomes 2.0 or more, the rate of ball bump formation becomes small again. As described above, the maximum aspect ratio of the opening of the print mask for forming the ball bump is preferably 2.0. Particularly, according to the method of this embodiment, the aspect ratio of 0.3 or more and 2.0 or less is obtained. Masks with specific openings are preferred.

【0039】図9はボールバンプを形成し、ボールバン
プの形成された基板にLSI部品を実装する工程図を示
す。7は厚さ0.15mmのSUS製印刷マスク、12
a、12bはLSI部品でQFPである。QFP12
a、12bはそれぞれ0.3mmピッチ、0.65mm
ピッチの電極を有している。15はソルダーペストを加
熱するハロゲン光ビームである。また、10cはQFP
12aに対応した印刷マスク7に形成された開口部で、
開口部分は0.15mm×1.2mmの矩形をなす。一
方、10dはQFP12bに対応した印刷マスク7に形
成された開口部で、開口部分は0.55mm×1.5m
mの矩形をなす。図9(a)でパッド5と開口部10
c、10dを位置合わせしながら印刷マスク7を基板4
に密着させる。(b)でスキージ8を用いて開口部10
a、10bにソルダーペースト9を充填させる。(c)
のように、開口部10cにハロゲン光ビーム15を照射
してソルダーペーストを加熱する(200℃で1分
間)。またはレーザを用いて、開口部に充填されたソル
ダーペーストのみにビーム照射する。(d)で印刷マス
ク7をはずす。さらに(e)のように、QFP12a、
12bを所定のパッドに搭載し、そのままリフロー炉に
てはんだ付けする。
FIG. 9 shows a process diagram of forming ball bumps and mounting an LSI component on the substrate on which the ball bumps are formed. 7 is a 0.15 mm thick SUS printing mask, 12
a and 12b are LSI parts and are QFPs. QFP12
a and 12b are 0.3 mm pitch and 0.65 mm, respectively
It has pitched electrodes. Reference numeral 15 is a halogen light beam for heating the solder plague. 10c is QFP
In the opening formed in the print mask 7 corresponding to 12a,
The opening has a rectangular shape of 0.15 mm × 1.2 mm. On the other hand, 10d is an opening formed in the print mask 7 corresponding to the QFP 12b, and the opening is 0.55 mm × 1.5 m.
Make a rectangle of m. In FIG. 9A, the pad 5 and the opening 10
The print mask 7 is placed on the substrate 4 while aligning c and 10d.
In close contact with. The opening 10 is formed by using the squeegee 8 in (b).
The solder paste 9 is filled in a and 10b. (C)
As described above, the opening 10c is irradiated with the halogen light beam 15 to heat the solder paste (200 ° C. for 1 minute). Alternatively, a laser is used to irradiate the beam only to the solder paste filled in the openings. The print mask 7 is removed in (d). Further, as in (e), the QFP 12a,
12b is mounted on a predetermined pad and soldered as it is in a reflow furnace.

【0040】開口部10cのアスペクト比は1.0で、
一方開口部10dのアスペクト比は0.27である。開
口部10dに充填されたソルダーペーストは加熱しなく
てもそのままパッド上に転写されるが、開口部10cの
ソルダーペーストは加熱しない場合には、ソルダーペー
ストの一部は開口部10cに残る。しかしこのように開
口部10cを加熱することによりすべてのソルダーペー
ストが転写される。このように転写されにくい開口部の
ソルダーペーストを選択的に加熱することで、確実でか
つ効率的なはんだの転写が可能となる。また、開口部全
部を加熱するよりも、選択的に加熱する方が加熱量を少
なくでき、加熱時間も短縮でき、よって生産性も向上す
る。図7に示すように、およそアスペクト比が0.3以
上の開口部のソルダーペーストを加熱することが好まし
い。また、所定量のはんだがパッドに印刷されない場
合、LSI部品等の電子部品を実装する際、形成される
バンプの高さにばらつきが生じ、接合不良をまねくおそ
れがあったが、上記の方法によると均一なはんだ転写が
可能なので、接合不良を防ぐことができる。
The aspect ratio of the opening 10c is 1.0,
On the other hand, the aspect ratio of the opening 10d is 0.27. The solder paste filled in the opening 10d is directly transferred onto the pad without heating, but when the solder paste in the opening 10c is not heated, a part of the solder paste remains in the opening 10c. However, by heating the opening 10c in this manner, all the solder paste is transferred. By selectively heating the solder paste in the openings that are difficult to be transferred in this way, reliable and efficient transfer of solder becomes possible. Further, the heating amount can be reduced and the heating time can be shortened by selectively heating rather than by heating the entire opening, thus improving the productivity. As shown in FIG. 7, it is preferable to heat the solder paste of the opening having an aspect ratio of 0.3 or more. Further, when a predetermined amount of solder is not printed on the pad, when mounting an electronic component such as an LSI component, the height of the formed bump may vary, which may lead to a joint failure. Since uniform solder transfer is possible, defective joints can be prevented.

【0041】なお、本実施例では、はんだの融点以上に
加熱したが、実施例1のように融点以下の加熱でもかま
わない。
In this embodiment, the heating is performed above the melting point of the solder, but the heating may be performed below the melting point as in the first embodiment.

【0042】実施例3.実施例2の図6でソルダーペー
スト9を加熱し、冷却後に印刷マスク7をBGA基板4
からはずしたが、図6(d)で、印刷マスク7をBGA
基板4に密着させたままホットプレート16上で靜置
し、150℃で3分、210℃で1分加熱し、(e)で
はんだが溶融中に印刷マスク7をはずしてもよい。そし
てそのまま冷却してボールバンプ6を形成することがで
きる。この場合、はんだ溶融中に印刷マスク7をはずす
ので、パッド上に位置ずれしながらはんだが転写されて
も、溶融状態のはんだが、その表面張力により位置ずれ
を修正しながら、かつ球状になって、ボールバンプが形
成される。またボイドの発生も防ぐとともに、はんだが
凝固するまえに、マスクをはずすので、マスクの密着時
間が削減できるので、歩留まりや生産性の低下を抑えら
れる。
Example 3. In FIG. 6 of the second embodiment, the solder paste 9 is heated, and after cooling, the print mask 7 is attached to the BGA substrate 4
Although it was removed from the print mask 7 in FIG.
The print mask 7 may be placed on the hot plate 16 while being in close contact with the substrate 4 and heated at 150 ° C. for 3 minutes and 210 ° C. for 1 minute, and the print mask 7 may be removed while the solder is melting in (e). Then, the ball bumps 6 can be formed by cooling as it is. In this case, since the printing mask 7 is removed during the melting of the solder, even if the solder is transferred onto the pad while being displaced, the molten solder becomes spherical while correcting the displacement due to its surface tension. , Ball bumps are formed. In addition, the generation of voids is prevented, and the mask is removed before the solder is solidified, so that the contact time of the mask can be reduced, so that the yield and the productivity can be prevented from lowering.

【0043】実施例4.図10は、本実施例の示すボー
ルバンプの形成法の工程図である。実施例2の図6
(e)でボールバンプ6の形成されたBGA基板4を再
加熱してボールバンプ6を溶融させる。図10(a)
で、BGA基板4上にフラックス3(タムラ化研RMー
26;RMタイプ)を塗布し(これはボールバンプの表
面に形成された酸化膜を溶かしやすくするためのもので
ある)、(b)のように、ホットプレート16上で21
0℃で1分加熱する。
Example 4. FIG. 10 is a process drawing of the method for forming the ball bumps shown in this embodiment. FIG. 6 of Example 2
In (e), the BGA substrate 4 on which the ball bumps 6 are formed is reheated to melt the ball bumps 6. Figure 10 (a)
Then, the flux 3 (Tamura Kaken RM-26; RM type) is applied on the BGA substrate 4 (this is for facilitating melting of the oxide film formed on the surface of the ball bump), (b) 21 on the hot plate 16 like
Heat at 0 ° C. for 1 minute.

【0044】実施例2の図6で形成されたボールバンプ
が位置ずれしてパッド上の形成されたとしても、上記の
ように再加熱することでこの位置ずれが修正される。ま
た、再加熱前の形状は、図10(a)のように、実際に
は図6(e)で形成されるボールバンプは球状とはなら
ず、印刷マスクの開口部の形状と類似した形状に形成さ
れる(例えば開口部が円柱状なら、形成されるバンプも
円柱となる)。この再加熱によりバンプ形状は真球に近
づけることができる。また図11は、複数のBGA基板
上に複数のボールバンプを形成する際、上記の再加熱前
と後との形成されるボールバンプの高さの分布を示すデ
ータ図である。ボールバンプの高さ(μm)に対し、形
成されるボールバンプの個体数で表わす。再加熱前では
ボールバンプ高さにばらつきが生じているが、再加熱に
より、高さのばらつきが小さくなっている(バンプ高さ
490〜499μm付近で形成されている)。また、同
時に図5(a)のような、はんだバンプ内にボイド6a
が発生しても、マスクをはずして再加熱するので、ボイ
ドが外に逃げてうまく解消される。
Even if the ball bump formed in FIG. 6 of the second embodiment is misaligned and formed on the pad, this misalignment is corrected by reheating as described above. In addition, as shown in FIG. 10A, the shape of the ball bump formed in FIG. 6E is not spherical but is similar to the shape of the opening of the print mask before reheating. (For example, if the opening is cylindrical, the formed bump is also cylindrical). By this reheating, the bump shape can be made closer to a true sphere. FIG. 11 is a data diagram showing the distribution of the heights of the ball bumps formed before and after the reheating when forming a plurality of ball bumps on a plurality of BGA substrates. It is represented by the number of individual ball bumps to be formed with respect to the height (μm) of the ball bumps. Before the reheating, the ball bump height varies, but the reheating reduces the variation in height (the bump height is formed in the vicinity of 490 to 499 μm). At the same time, voids 6a are formed in the solder bumps as shown in FIG.
Even if occurs, the mask is removed and reheating is performed, so the void escapes to the outside and is successfully resolved.

【0045】実施例5.図12は本実施例に示すはんだ
供給法およびボールバンプ形成法の工程図である。図に
おいて、7aは第一のマスクとなるテンプレート、7b
は第二のマスクとなる印刷マスク、10a、10bはそ
れぞれテンプレート7a、印刷マスク7bの開口部、1
4はテンプレート7aを基板に固定する固定用部材で、
例えば木ネジを用いる。その他の符号は実施例1と同一
である。
Example 5. FIG. 12 is a process drawing of the solder supply method and the ball bump forming method shown in this embodiment. In the figure, 7a is a template serving as a first mask, 7b
Is a print mask which serves as a second mask, 10a and 10b are a template 7a, an opening of the print mask 7b, and 1 respectively.
4 is a fixing member for fixing the template 7a to the substrate,
For example, wood screws are used. Other symbols are the same as those in the first embodiment.

【0046】次いで、はんだの供給法とボールバンプ形
成法について説明する。図12(a)のように、パッド
5と開口部10aとが一致するように、予めテンプレー
ト7aを基板4に密着するように固定する。図では木ネ
ジ14を使って固定する。(b)のように、開口部10
aと開口部10bとが一致するように、テンプレート7
aに印刷マスク7bを密着させる。ここで、テンプレー
ト7aは厚さ0.5mmのSUS製で、直径0.65m
mの開口部を有する。一方印刷マスク7bは厚さ0.1
mmのSUS製で、直径0.65の開口部を有する。
(c)のようにスキージ8を用いてソルダーペースト9
を開口部10a、10bに充填する。その後(d)のよ
うに印刷マスク7bをはずし、(e)にように、ホット
プレート16上に靜置し、加熱する。融点183℃の共
晶はんだを使用した場合、150℃で3分、210℃で
1分加熱する。冷却後にテンプレート7aを取り除くこ
とによりボールバンプを形成する。
Next, a solder supply method and a ball bump forming method will be described. As shown in FIG. 12A, the template 7a is previously fixed so as to be in close contact with the substrate 4 so that the pad 5 and the opening 10a are aligned with each other. In the figure, it is fixed using wood screws 14. As shown in (b), the opening 10
the template 7 so that a and the opening 10b match.
The print mask 7b is brought into close contact with a. Here, the template 7a is made of SUS having a thickness of 0.5 mm and has a diameter of 0.65 m.
m openings. On the other hand, the print mask 7b has a thickness of 0.1.
It is made of SUS of mm and has an opening with a diameter of 0.65.
Solder paste 9 using squeegee 8 as in (c)
Is filled in the openings 10a and 10b. Thereafter, as shown in (d), the print mask 7b is removed, and as shown in (e), it is placed on the hot plate 16 and heated. When eutectic solder having a melting point of 183 ° C. is used, it is heated at 150 ° C. for 3 minutes and 210 ° C. for 1 minute. After cooling, the template 7a is removed to form ball bumps.

【0047】はんだ印刷を自動化する場合、ソルダーペ
ーストを供給するノズル(図示せず)スキージ8と印刷
マスク7bが一体となった印刷機を用いてはんだ印刷さ
れる。テンプレート7aがない場合、印刷機に備えた印
刷マスク7bを基板に密着させ、はんだを印刷した後に
加熱する。しかし加熱の間は印刷マスクを基板に密着し
続けなければならず、加熱の間他の基板へのはんだ印刷
にこの印刷機は使えない。従って生産性も良くない。し
かし本実施例のように基板に予めテンプレート7aを密
着させ、その後印刷マスク7bを有する印刷機でソルダ
ーペストを印刷すると、印刷機はソルダーペーストの印
刷時のみ基板に密着していればよく、加熱中は基板より
取り外され、テンプレート7aが基板に密着したままで
ある。印刷機は加熱時に他の基板に次々とはんだ印刷で
きる。よって印刷機を用いた自動化のためのプロセスが
用意となり、生産性が飛躍的に向上することができる。
またテンプレート7a上には余分なソルダーペーストが
残ることもなくなり、この余分なソルダーペーストが加
熱により基板のパッドに必要以上に供給されることもな
くなる。
When solder printing is automated, solder printing is performed using a printing machine in which a nozzle (not shown) for supplying solder paste and a printing mask 7b are integrated. When there is no template 7a, the printing mask 7b provided in the printing machine is brought into close contact with the substrate, solder is printed, and then heated. However, the print mask must remain in intimate contact with the substrate during heating and the printer cannot be used for solder printing on other substrates during heating. Therefore, productivity is not good. However, if the template 7a is brought into close contact with the substrate in advance as in the present embodiment and then the solder paste is printed by a printing machine having the printing mask 7b, the printing machine only needs to be brought into close contact with the substrate only when printing the solder paste. The inside is removed from the substrate, and the template 7a remains in close contact with the substrate. The printer can perform solder printing on other substrates one after another when heated. Therefore, a process for automation using a printing machine is prepared, and productivity can be dramatically improved.
In addition, no excess solder paste remains on the template 7a, and the excess solder paste is not supplied more than necessary to the pad of the substrate by heating.

【0048】本実施例ではテンプレートの固定に木ネジ
を用いたが、歯止めネジや荷重による密着も可能であ
る。また、加熱の際、実施例1のようにソルダーペスト
内にはんだの融点より低い温度でで加熱してパッドに付
着させてもよい。
In this embodiment, the wood screw is used to fix the template, but it is also possible to use a ratchet screw or a load for close contact. When heating, the solder paste may be heated at a temperature lower than the melting point of the solder and adhered to the pad as in the first embodiment.

【0049】実施例6.なお、実施例1ないし実施例5
で、印刷マスクとしてSUS製マスクを用いたが、SU
S製のマスクにフッ素樹脂を被覆させたものでもよい。
フッ素樹脂をコーティングすることにより、はんだのは
じきが良好になり、この印刷マスクからパッド上に転写
しやすくなる。また、図8で示したように、フッ素樹脂
コートを施した印刷マスクを用いてボールバンプを形成
した場合、SUS製のコーティングなしの場合よりボー
ルバンプ形成の割合が向上し、アスペクト比が1.0以
上の開口部を用いてもバンプ形成の不良の発生を抑える
ことができる。
Example 6. In addition, Embodiments 1 to 5
So, I used a SUS mask as a print mask.
A mask made of S may be covered with a fluororesin.
By coating with a fluororesin, the repelling of the solder is improved and transfer from the print mask onto the pad is facilitated. Further, as shown in FIG. 8, when the ball bumps are formed using the fluororesin-coated printing mask, the rate of ball bump formation is improved and the aspect ratio is 1. Even if 0 or more openings are used, the occurrence of defective bump formation can be suppressed.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係るは
んだ供給法によると、マスクの開口部にはんだペースト
を充填する工程と、マスクを基板に密着させたまま、は
んだペースト中のはんだ融点より低い温度ではんだペー
ストを加熱して、パッドにはんだペーストを付着させる
工程を含むので、加熱時のはんだペースト中の溶剤の気
化量を抑えることができ、基板のパッドとはんだペース
トとの間にその気泡が溜ることなく、パッド上への安定
したはんだ転写ができるという効果を奏する。
As described above, according to the solder supply method of the first aspect, the step of filling the opening portion of the mask with the solder paste, and the solder melting point in the solder paste while the mask is kept in close contact with the substrate. Since it includes the step of heating the solder paste at a lower temperature and attaching the solder paste to the pad, it is possible to suppress the evaporation amount of the solvent in the solder paste at the time of heating, and it is possible to suppress the evaporation between the pad and the solder paste on the board. There is an effect that stable solder transfer can be performed on the pad without the accumulation of the bubbles.

【0051】また、請求項2に係るはんだ供給法による
と、マスクの開口部に充填されたはんだペーストを加熱
し、パッドにはんだペーストを付着させ、そのはんだが
固着した状態でマスクを基板から除去し、その後はんだ
を溶融させるので、位置ずれやボイドのないはんだバン
プが形成され、歩留りを向上することができるという効
果を奏する。
According to the solder supply method of the second aspect, the solder paste filled in the opening of the mask is heated to adhere the solder paste to the pad, and the mask is removed from the substrate with the solder fixed. Then, since the solder is melted after that, there is an effect that a solder bump having no displacement or void is formed, and the yield can be improved.

【0052】また、請求項3に係るはんだ供給法による
と、マスクを基板に密着させたまま開口部のうちアスペ
クト比(マスクの開口部の最短長さに対する開口部の深
さの比)が0.3以上に形成された開口部に充填された
はんだペーストを加熱するので、転写されにく開口部に
充填されたはんだペーストを加熱することになり、パッ
ド上への安定したはんだ転写ができるという効果を奏す
る。
According to the solder supply method of the third aspect, the aspect ratio (ratio of the depth of the opening to the shortest length of the opening of the mask) of the opening is 0 while the mask is kept in close contact with the substrate. Since the solder paste filled in the openings formed in 3 or more is heated, the solder paste filled in the openings is hard to be transferred and the solder paste can be stably transferred onto the pad. Produce an effect.

【0053】また、請求項4に係るはんだ供給法による
と、マスクを基板に密着させたままはんだペーストを加
熱し、はんだが溶融した状態でマスクを基板から除去す
るので、位置ずれやボイドのないはんだバンプが形成さ
れ、歩留りを向上することができるという効果を奏す
る。
According to the solder supply method of the fourth aspect, since the solder paste is heated while the mask is in close contact with the substrate and the mask is removed from the substrate in a state where the solder is melted, there is no displacement or void. Solder bumps are formed, and the yield can be improved.

【0054】また、請求項5に係るはんだ供給法による
と、第一のマスクを基板に配置し、さらに第二のマスク
が有する開口部と第一のマスクの開口部とがほぼ一致す
るように、第二のマスクを第一のマスクに配置する工
程、第一と第二の開口部にはんだペーストを充填する工
程、第二のマスクを第一のマスクから取り除き、かつ第
一のマスクを基板に密着させたまま、はんだペーストを
加熱し、パッドにはんだペーストを付着させる工程を含
むので、第二のマスクを基板に密着させたまま加熱して
いる間に第一のマスクを用いて基板にはんだペーストを
転写することができ、生産性を向上することができ、自
動化のためプロセス設計が可能になり、例えば上記の第
一のマスクを有する印刷機を用いることができる。
According to the solder supply method of the fifth aspect, the first mask is arranged on the substrate, and the opening of the second mask and the opening of the first mask are substantially aligned with each other. A step of arranging the second mask on the first mask, a step of filling the solder paste in the first and second openings, a step of removing the second mask from the first mask, and a step of placing the first mask on the substrate. Since it includes the step of heating the solder paste while adhering to the substrate and adhering the solder paste to the pad, while the second mask is being adhered to the substrate and the substrate is heated while being adhered to the substrate, The solder paste can be transferred, productivity can be improved, process design can be performed for automation, and for example, a printing machine having the above-mentioned first mask can be used.

【0055】また、請求項6によると、少なくともマス
クの開口部の表面はフッ素樹脂で被覆させるので、フッ
素樹脂により開口部表面から開口部に供給されるはんだ
ペーストをはじくことができ、はんだを開口部内に残す
ことなく基板へ転写することができるという効果を奏す
る。
Further, according to claim 6, since at least the surface of the opening of the mask is covered with the fluororesin, the solder paste supplied from the surface of the opening to the opening can be repelled by the fluororesin, and the solder is opened. The effect is that it can be transferred to the substrate without being left inside.

【0056】また、請求項7によると、開口部に充填さ
れたはんだペーストに加熱用ビームを照射することによ
りはんだペーストを加熱するようにしたので、マスクは
温度上昇することなく熱膨張を防ぎ、基板のパッド位置
と開口部との位置ずれを抑制するという効果を奏する。
According to the seventh aspect, the solder paste is heated by irradiating the solder paste filled in the opening with a heating beam, so that the mask does not increase in temperature and prevents thermal expansion. The effect of suppressing the positional deviation between the pad position of the substrate and the opening is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の実施例1に示すはんだ供給法の工
程図である。
FIG. 1 is a process diagram of a solder supply method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 実施例1において、基板のパッド上に転写さ
れたはんだペーストの斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of the solder paste transferred onto the pads of the substrate in the first embodiment.

【図3】 実施例1に記載したマスクの開口部の断面図
とマスク表面に形成した切りかきの斜視図である。
3A and 3B are a cross-sectional view of an opening of a mask described in Example 1 and a perspective view of a cut formed on a mask surface.

【図4】 実施例1におけるはんだ供給法により形成さ
れたボールバンプの高さの分布図である。
FIG. 4 is a height distribution diagram of ball bumps formed by the solder supply method in Example 1.

【図5】 実施例1におけるはんだ供給法により形成さ
れたボールバンプの断面図である。
5 is a sectional view of a ball bump formed by a solder supply method in Example 1. FIG.

【図6】 この発明の実施例2に示すはんだ供給法の工
程図である。
FIG. 6 is a process diagram of a solder supply method shown in a second embodiment of the present invention.

【図7】 実施例2において、マスク開口部のアスペク
ト比に対するペースト転写率を示すデータ図である。
FIG. 7 is a data diagram showing a paste transfer rate with respect to an aspect ratio of a mask opening in Example 2.

【図8】 実施例2において、マスク開口部のアスペク
ト比に対するバンプ形成割合を示すデータ図である。
FIG. 8 is a data diagram showing a bump formation ratio with respect to an aspect ratio of a mask opening in Example 2.

【図9】 実施例2に示すはんだバンプを形成し、電子
部品を実装する際の工程図である。
FIG. 9 is a process diagram for forming a solder bump and mounting an electronic component according to the second embodiment.

【図10】 この発明の実施例4に示すはんだ供給法の
工程図である。
FIG. 10 is a process drawing of the solder supply method according to the fourth embodiment of the present invention.

【図11】 実施例4におけるはんだ供給法により形成
されたボールバンプの高さの分布図である。
FIG. 11 is a height distribution diagram of ball bumps formed by the solder supply method in Example 4.

【図12】 この発明の実施例4に示すはんだ供給法の
工程図である。
FIG. 12 is a process drawing of a solder supply method shown in a fourth embodiment of the present invention.

【図13】 BGA実装部品の斜視図である。FIG. 13 is a perspective view of a BGA mounted component.

【図14】 従来技術によるボールバンプの形成方法の
工程図である。
FIG. 14 is a process diagram of a method of forming a ball bump according to a conventional technique.

【図15】 従来技術による別のボールバンプの形成方
法の工程図である。
FIG. 15 is a process drawing of another ball bump forming method according to the related art.

【図16】 従来技術による別のボールバンプの形成方
法の工程図である。
FIG. 16 is a process drawing of another ball bump forming method according to the prior art.

【図17】 従来技術によるボールバンプの形成し電子
部品を実装する際の工程図である。
FIG. 17 is a process diagram for forming a ball bump and mounting an electronic component according to a conventional technique.

【図18】 従来技術により形成されたボールバンプの
断面図である。
FIG. 18 is a sectional view of a ball bump formed by a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4…基板 5…Cuパッド 6…ボールバンプ 6a…
ボイド 7…印刷マスク 7a…テンプレート 8…ス
キージ 9…ソルダーペースト 10…マスク開口部
11…プリント基板 12…QTP 13…切りかき
14…固定用部材 15…ハロゲン光ビーム 16…ホ
ットプレート 17…フッ素樹脂
4 ... Substrate 5 ... Cu pad 6 ... Ball bump 6a ...
Void 7 ... Printing mask 7a ... Template 8 ... Squeegee 9 ... Solder paste 10 ... Mask opening
11 ... Printed circuit board 12 ... QTP 13 ... Cutting
14 ... Fixing member 15 ... Halogen light beam 16 ... Hot plate 17 ... Fluorine resin

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マスクが有する開口部と基板上に形成さ
れたパッドとがほぼ一致するように前記マスクを前記基
板に配置する工程、前記開口部にはんだペーストを充填
させる工程、前記マスクを前記基板に密着させたまま、
はんだペースト中のはんだの融点より低い温度で前記は
んだペーストを加熱し、前記パッドにはんだペーストを
付着させる工程を含んだことを特徴とするはんだ供給
法。
1. A step of arranging the mask on the substrate so that an opening of the mask and a pad formed on the substrate are substantially aligned, a step of filling the opening with a solder paste, and the mask While keeping it in close contact with the substrate,
A solder supply method comprising the step of heating the solder paste at a temperature lower than the melting point of the solder in the solder paste to attach the solder paste to the pads.
【請求項2】 マスクが有する開口部と基板上に形成さ
れたパッドとがほぼ一致するように前記マスクを前記基
板に配置する工程、前記開口部にはんだペーストを充填
させる工程、前記マスクを前記基板に密着させたまま、
前記はんだペーストを加熱し、前記パッドにはんだペー
ストを付着させる工程、前記はんだが固着した状態で前
記マスクを前記基板から除去し、その後前記はんだを溶
融させる工程を含んだことを特徴とするはんだ供給法。
2. A step of arranging the mask on the substrate so that an opening portion of the mask and a pad formed on the substrate are substantially aligned, a step of filling the opening portion with a solder paste, and the mask While keeping it in close contact with the substrate,
Solder supply characterized by including a step of heating the solder paste to attach the solder paste to the pad, a step of removing the mask from the substrate in a state where the solder is fixed, and then melting the solder. Law.
【請求項3】 マスクが有する開口部と基板上に形成さ
れたパッドとがほぼ一致するように前記マスクを前記基
板に配置する工程、前記開口部にはんだペーストを充填
させる工程、前記マスクを前記基板に密着させたまま、
前記開口部のうちアスペクト比(マスクの開口部の最短
長さに対する開口部の深さの比)が0.3以上に形成さ
れた開口部に充填されたはんだペーストを加熱し、前記
パッドにはんだペーストを付着させる工程を含んだこと
を特徴とするはんだ供給法。
3. A step of arranging the mask on the substrate such that an opening of the mask and a pad formed on the substrate are substantially aligned, a step of filling the opening with a solder paste, and the mask While keeping it in close contact with the substrate,
Of the openings, the solder paste filled in the openings having an aspect ratio (ratio of the depth of the openings to the shortest length of the openings of the mask) of 0.3 or more is heated and soldered to the pads. A solder supply method comprising a step of attaching a paste.
【請求項4】 マスクが有する開口部と基板上に形成さ
れたパッドとがほぼ一致するように前記マスクを前記基
板に配置する工程、前記開口部にはんだペーストを充填
させる工程、前記マスクを前記基板に密着させたまま、
前記はんだペーストを加熱し、前記パッドにはんだペー
ストを付着させる工程、前記はんだが溶融した状態で前
記マスクを前記基板から除去する工程を含んだことを特
徴とするはんだ供給法。
4. A step of arranging the mask on the substrate so that an opening portion of the mask and a pad formed on the substrate are substantially aligned, a step of filling the opening portion with a solder paste, and the mask While keeping it in close contact with the substrate,
A solder supplying method comprising: a step of heating the solder paste to attach the solder paste to the pad; and a step of removing the mask from the substrate in a state where the solder is melted.
【請求項5】 第一のマスクが有する開口部を基板上に
形成されたパッドとがほぼ一致するように、前記第一の
マスクを前記基板に配置する工程、第二のマスクが有す
る開口部と前記第一のマスクの開口部とがほぼ一致する
ように、前記第二のマスクを前記第一のマスクに配置す
る工程、前記第一および第二のマスクの開口部にはんだ
ペーストを充填する工程、前記第二のマスクを前記第一
のマスクから取り除き、かつ前記第一のマスクを前記基
板に密着させたまま、前記はんだペーストを加熱し、前
記パッドにはんだペーストを付着させる工程を含んだこ
とを特徴とするはんだ供給法。
5. The step of arranging the first mask on the substrate so that the opening of the first mask substantially coincides with the pad formed on the substrate, and the opening of the second mask. And placing the second mask on the first mask so that the openings of the first mask and the openings of the first mask substantially match, and filling the openings of the first and second masks with solder paste. Step, including removing the second mask from the first mask, and while keeping the first mask in close contact with the substrate, heating the solder paste, and attaching the solder paste to the pad A solder supply method characterized by the above.
【請求項6】 少なくともマスクの開口部の表面がフッ
素樹脂で被覆されていることを特徴とする請求項1ない
し請求項5のいずれか一項記載のはんだ供給法。
6. The solder supply method according to claim 1, wherein at least the surface of the opening of the mask is covered with a fluororesin.
【請求項7】 開口部に充填されたはんだペーストに加
熱用ビーム照射することにより、前記はんだペーストを
加熱するようにしたことを特徴とする請求項1ないし請
求項5のいずれか一項記載のはんだ供給法。
7. The solder paste filled in the opening is heated by irradiating the solder paste with a heating beam to heat the solder paste. Solder supply method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6524943B1 (en) 2001-05-07 2003-02-25 Fujitsu Limited Method of forming metal bumps
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US6689639B2 (en) 2001-11-15 2004-02-10 Fujitsu Limited Method of making semiconductor device
KR20150053123A (en) * 2013-11-07 2015-05-15 삼성전자주식회사 Device and method of attaching solder ball, and method of fabricating a semiconductor package including the same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6335271B1 (en) 1997-08-19 2002-01-01 Hitachi, Ltd. Method of forming semiconductor device bump electrodes
US6653219B2 (en) 2000-01-13 2003-11-25 Hitachi, Ltd. Method of manufacturing bump electrodes and a method of manufacturing a semiconductor device
US6524943B1 (en) 2001-05-07 2003-02-25 Fujitsu Limited Method of forming metal bumps
US6689639B2 (en) 2001-11-15 2004-02-10 Fujitsu Limited Method of making semiconductor device
KR20150053123A (en) * 2013-11-07 2015-05-15 삼성전자주식회사 Device and method of attaching solder ball, and method of fabricating a semiconductor package including the same

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