JPH0729869A - Substrate treatment apparatus - Google Patents

Substrate treatment apparatus

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JPH0729869A
JPH0729869A JP19533193A JP19533193A JPH0729869A JP H0729869 A JPH0729869 A JP H0729869A JP 19533193 A JP19533193 A JP 19533193A JP 19533193 A JP19533193 A JP 19533193A JP H0729869 A JPH0729869 A JP H0729869A
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Takashi Hara
孝志 原
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Abstract

PURPOSE:To provide a substrate treatment apparatus wherein heat can be remove efficiently by excluding a bad influence by remove heat. CONSTITUTION:A high-temperature gas at the inside of a casing 1 is evacuated forcibly by utilizing an ejector-type evacuation device 10. Thereby, the high- temperature gas at the inside of the casing 1 is discharged to the outside in a state that its temperature is lowered together with a gas supplied to the ejector-type evacuation device 10. As a result, heat does not affect an apparatus at the circumference.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体基板や液晶用又
はフォトマスク用ガラス基板等の薄板状基板(以下、単
に「基板」という。)を加熱状態で処理するための基板
処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a thin substrate (hereinafter simply referred to as "substrate") such as a semiconductor substrate or a glass substrate for liquid crystal or photomask in a heated state.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、液晶基板製造におけるフォトリ
ソグラフィー工程においては、ガラス基板表面に塗布さ
れたレジストを乾燥するため、当該基板をホットプレー
トなどの発熱体を備えた加熱装置により加熱し、高温で
熱処理する工程が含まれる。安全のため基板はケーシン
グ内に収納された状態で加熱され、必要に応じてケーシ
ング内を換気することにより熱排気が行なわれる。
2. Description of the Related Art For example, in a photolithography process for manufacturing a liquid crystal substrate, in order to dry the resist applied on the surface of the glass substrate, the substrate is heated at a high temperature by a heating device having a heating element such as a hot plate. A step of heat treatment is included. For safety, the substrate is heated in a state of being housed in the casing, and heat is exhausted by ventilating the casing as needed.

【0003】図4は、従来の基板処理装置の例として熱
処理装置の概要を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an outline of a heat treatment apparatus as an example of a conventional substrate processing apparatus.

【0004】同図に示すようにケーシング1内に発熱体
であるホットプレート2が収納され、このホットプレー
ト2の側方には、断面が矩形の排気管3が配設されてい
る。当該排気管3の上面にはスリット状の吸引穴3aが
設けられるとともに、双方の排気管3はその下方部分で
相互に連通し、ケーシング1を貫通する排出管4に接続
される。ケーシング1内部の気体は、排出管4の開口部
(排気口)5から外部に排気される。
As shown in the figure, a hot plate 2 which is a heating element is housed in a casing 1, and an exhaust pipe 3 having a rectangular cross section is arranged on the side of the hot plate 2. A slit-shaped suction hole 3a is provided on the upper surface of the exhaust pipe 3, and both exhaust pipes 3 communicate with each other at their lower portions and are connected to a discharge pipe 4 penetrating the casing 1. The gas inside the casing 1 is exhausted to the outside from the opening (exhaust port) 5 of the exhaust pipe 4.

【0005】このような従来の熱処理装置にあっては、
必要に応じて自然排気による熱排気を行なうようにして
おり、排出管4の途中にモータ6によって開閉駆動され
るオートバルブ7を設け、さらに排気量を微調整するた
めの手動バルブ8を付設していた。
In such a conventional heat treatment apparatus,
If necessary, heat is exhausted by natural exhaust, an automatic valve 7 that is opened and closed by a motor 6 is provided in the middle of the exhaust pipe 4, and a manual valve 8 for finely adjusting the exhaust amount is attached. Was there.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
熱処理装置における排気構造であると、排出管4内には
高温の気体が流動することになるので、排出管4自体が
高温になり、特にケーシング1より外側にある高温の排
出管4が、当該熱処理装置内に内蔵された制御装置にお
ける電子部品や、隣接する熱処理処置における温度制御
に対して悪影響を与える結果となり、問題となってい
た。
However, in the exhaust structure of the conventional heat treatment apparatus, the high temperature gas flows in the exhaust pipe 4, so that the exhaust pipe 4 itself becomes high temperature, especially the casing. The high temperature exhaust pipe 4 outside 1 has a bad influence on the electronic parts in the control device built in the heat treatment apparatus and on the temperature control in the adjacent heat treatment treatment, which is a problem.

【0007】このような弊害を避けるため、排出管4の
周囲に断熱部材を巻付けることが考えられるが、そのた
め配管スペースを大きくとることになり、装置全体が大
型化してしまう。しかも、自然排気による換気効率をよ
くするため、排出管4の径を大きくする必要があり、上
記弊害はなおさらとなる。
In order to avoid such an adverse effect, it is conceivable to wind a heat insulating member around the discharge pipe 4, but this requires a large piping space, and the entire apparatus becomes large. Moreover, in order to improve the ventilation efficiency by natural exhaust, it is necessary to increase the diameter of the discharge pipe 4, and the above-mentioned harmful effect becomes more serious.

【0008】また、このように断熱部材で断熱しても排
気口5からの排気熱の温度を下げることはできず、少な
からず他の機器に影響を与える結果となっていた。
Further, even if the heat insulation member is used for heat insulation as described above, the temperature of the exhaust heat from the exhaust port 5 cannot be lowered, resulting in a considerable influence on other devices.

【0009】本発明は、上述のような問題を解消して、
排気熱による悪影響を排しながら、効率的に熱排気を行
なうことができる基板処理装置を提供することを目的と
する。
The present invention solves the above problems,
An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of efficiently exhausting heat while eliminating the adverse effects of exhaust heat.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に係る基板処理装置は、基板を加熱して処
理を行なう基板処理装置において、基板を加熱する加熱
手段と、前記加熱されるべき基板を収容する空間を形成
するケーシングと、前記空間内に開口する排気口と、前
記排気口に連結されたディフューザ式真空発生手段と、
前記ディフューザ式真空発生手段に気体を供給する気体
供給手段と、を備え、前記ディフューザ式真空発生手段
によりケーシング内部の排気を行なうようにしている。
In order to achieve the above object, a substrate processing apparatus according to a first aspect of the present invention is a substrate processing apparatus for heating a substrate to perform processing, and heating means for heating the substrate and the heating means. A casing forming a space for accommodating a substrate to be formed, an exhaust port opening in the space, and a diffuser-type vacuum generating means connected to the exhaust port,
Gas supply means for supplying gas to the diffuser type vacuum generating means, and the exhaust of the inside of the casing is performed by the diffuser type vacuum generating means.

【0011】また、請求項2に係る基板処理装置では、
請求項1における気体供給手段は流量制御手段を備え、
当該流量制御手段によって前記真空発生手段に供給され
る前記気体の流量を調節することにより、前記ケーシン
グからの排気量の調整を行なうようにしている。
Further, in the substrate processing apparatus according to claim 2,
The gas supply means according to claim 1 comprises a flow rate control means,
The amount of exhaust gas from the casing is adjusted by adjusting the flow rate of the gas supplied to the vacuum generating means by the flow rate control means.

【0012】なお、この明細書において、「ディフュー
ザ式真空発生手段」とは、気体をノズル状流路に供給
し、その部分に生じる気圧の低下を利用して吸引する真
空発生手段を総称するものである。
In this specification, the "diffuser type vacuum generating means" is a general term for a vacuum generating means for supplying gas to a nozzle-like flow path and sucking it by utilizing a decrease in atmospheric pressure generated at that part. Is.

【0013】[0013]

【作用】請求項1の発明によれば、ケーシング内の熱排
気は、ディフューザ式真空発生手段によって行なわれる
ので、内部の高温の気体が上記ディフューザ式真空発生
手段に供給された気体とともに、ケーシング外部に排出
される。ケーシング内部の高温の気体は上記ディフュー
ザ式真空発生手段に供給された気体と交じり合って温度
が低下する。
According to the first aspect of the present invention, the exhaust of heat in the casing is performed by the diffuser type vacuum generating means, so that the high temperature gas inside the casing together with the gas supplied to the diffuser type vacuum generating means is external to the casing. Is discharged to. The high temperature gas inside the casing mixes with the gas supplied to the diffuser type vacuum generating means, and the temperature drops.

【0014】請求項2の発明によれば、ディフューザ式
真空発生手段に供給される気体の流量が、流量制御手段
によって制御されるので、これによりケーシング内の熱
排気量を調整できる。
According to the second aspect of the present invention, the flow rate of the gas supplied to the diffuser type vacuum generating means is controlled by the flow rate control means, so that the amount of heat exhausted in the casing can be adjusted.

【0015】[0015]

【実施例】以下、図面を参照して本発明を適用した熱処
理装置の実施例を詳細に説明するが、これにより本発明
の技術的範囲が熱処理装置に限定されるものではない。
なお、以下に述べる図面において図4と同じ符号を付し
たものは同じ内容を示すので詳しい説明は省略される。
Embodiments of the heat treatment apparatus to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings, but the technical scope of the present invention is not limited to the heat treatment apparatus.
In the drawings to be described below, the components denoted by the same reference numerals as those in FIG.

【0016】図1は、熱処理装置の第1の実施例の構成
を示す概要図である。同図に示すようにケーシング1内
にホットプレート2が収納され、ホットプレート2の側
方には、断面が矩形の排気管3が配設される。ホットプ
レート2には図外の電源供給源から電力が供給され所定
の温度で基板Wが加熱される。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the structure of a first embodiment of a heat treatment apparatus. As shown in the figure, a hot plate 2 is housed in a casing 1, and an exhaust pipe 3 having a rectangular cross section is arranged on the side of the hot plate 2. Electric power is supplied to the hot plate 2 from a power supply source (not shown) to heat the substrate W at a predetermined temperature.

【0017】排気管3の上面にはスリット状の吸引穴3
aが設けられるとともに、双方の排気管3は,下方で相
互に連通して接続管9に連結される。接続管9は、ディ
フューザ式真空発生手段の1種であるエジェクター式真
空発生装置10に接続されており、このエジェクター式
真空発生装置10には気体供給装置11から気体、例え
ば空気が気体供給管12を介して圧送され、ケーシング
1内の高温の気体を吸引して、排出管13を介してその
開口部13aから大気中に放出する。
A slit-shaped suction hole 3 is provided on the upper surface of the exhaust pipe 3.
a is provided, and both exhaust pipes 3 are connected to the connecting pipe 9 so as to communicate with each other below. The connecting pipe 9 is connected to an ejector type vacuum generating device 10, which is one type of diffuser type vacuum generating means, and gas, for example, air is supplied from the gas supplying device 11 to the ejector type vacuum generating device 10. The high temperature gas in the casing 1 is sucked into the casing 1 through the exhaust pipe 13 and is discharged into the atmosphere through the discharge pipe 13 through the opening 13a.

【0018】基板Wの加熱によりケーシング1内にレジ
スト中の有機溶媒などが蒸発し有害ガスが発生するよう
な場合には、直接大気中に放出するのではなく、気体処
理装置(図示せず)によって処理してから大気中に放出
される。
When the organic solvent in the resist is evaporated in the casing 1 due to the heating of the substrate W to generate a harmful gas, the harmful gas is not directly discharged into the atmosphere but a gas treatment device (not shown). It is released into the atmosphere after being processed by.

【0019】上述のエジェクター式真空発生装置10の
構成を図2に示す。エジェクター式真空発生装置10
は、本体101内に図示のような流路を形成してなり、
気体供給装置11から圧送されて気体供給管12を通過
してきた気体は、ノズル102において流速を増し、そ
の後側で気圧が低下する。この低圧部分に連結された接
続管9からケーシング1内の高温の気体が吸収され、上
記気体供給装置11の圧送気体と一緒になってディフュ
ーザ部103を通過して排出管13から外部に排出され
るようになっている。
The structure of the above-mentioned ejector type vacuum generator 10 is shown in FIG. Ejector type vacuum generator 10
Forms a flow path as shown in the main body 101,
The gas pressure-fed from the gas supply device 11 and passing through the gas supply pipe 12 has an increased flow velocity in the nozzle 102, and the atmospheric pressure decreases on the rear side thereof. The high-temperature gas in the casing 1 is absorbed from the connection pipe 9 connected to this low-pressure portion, and together with the pressure-fed gas of the gas supply device 11, passes through the diffuser portion 103 and is discharged to the outside from the discharge pipe 13. It has become so.

【0020】このような構成によれば、排出管13を通
過するケーシング1内部の気体は、気体供給装置11か
ら供給された気体と混ざってその温度が低下しており、
従来のように排出管13が熱せられて他の機器に悪影響
を与えるおそれがなくなる。本願発明者の実験によれ
ば、ケーシング1内部が100℃であって、気体供給装
置11から常温の空気を供給した場合には、排気温度は
約50℃ほどまで低下しており、他の機器への影響はほ
とんどなくなっていた。
According to such a configuration, the gas inside the casing 1 passing through the discharge pipe 13 is mixed with the gas supplied from the gas supply device 11 and its temperature is lowered,
There is no possibility that the discharge pipe 13 is heated and has a bad influence on other devices as in the conventional case. According to an experiment conducted by the inventor of the present application, when the temperature inside the casing 1 is 100 ° C. and air at room temperature is supplied from the gas supply device 11, the exhaust temperature is lowered to about 50 ° C. Had almost no effect on.

【0021】また、気体供給装置11は、コンンプレッ
サ111と、圧力制御弁112と電磁弁113と圧力計
114とからなっており、気体供給のオン・オフは電磁
弁113を操作して行なうとともに、圧力計を見ながら
圧力制御弁112を調整して、気体の供給圧を調節する
ようになっている。ケーシング1内の排気量は、当該供
給気体の圧力の大きさに応じて決定されるので、この方
法により容易に排気量を調整することができる。この場
合、圧力制御弁112は流量制御弁によって、電磁弁1
13はエアー弁によって、それぞれ代替可能である。
The gas supply device 11 comprises a compressor 111, a pressure control valve 112, a solenoid valve 113, and a pressure gauge 114. The gas supply is turned on and off by operating the solenoid valve 113. The gas supply pressure is adjusted by adjusting the pressure control valve 112 while observing the pressure gauge. The exhaust amount in the casing 1 is determined according to the magnitude of the pressure of the supply gas, so that the exhaust amount can be easily adjusted by this method. In this case, the pressure control valve 112 is a flow control valve, and
13 can be replaced by air valves.

【0022】なお、このようにしてエジェクター式真空
発生装置10によりケーシング1内部を強制的に排気す
ると、内部圧力が次第に低下していくが、排気時間が短
い場合には特に問題はない。しかし、長時間熱排気を行
なう場合には、内部の真空度が増して排気効率が悪くな
るので、ケーシング1の適当な箇所に小さな空気穴や隙
間を設けておくか、窒素ガス等の適当な気体を供給する
方が望ましい。
When the ejector type vacuum generator 10 is forced to evacuate the inside of the casing 1 in this way, the internal pressure gradually decreases, but there is no particular problem when the exhaust time is short. However, when the heat exhaust is performed for a long time, the degree of vacuum inside increases and the exhaust efficiency deteriorates. Therefore, a small air hole or a gap is provided at an appropriate place of the casing 1, or an appropriate nitrogen gas or the like is provided. It is desirable to supply gas.

【0023】図3は、熱処理装置の第2の実施例の概要
を示すものである。図1の実施例においてはエジェクタ
ー式真空発生装置10をケーシング1内部に設置してい
るが、図3の実施例ではケーシング1外部の側壁に設置
しているため、気体供給装置11との接続が容易になっ
ている。この場合、エジェクター式真空発生装置10を
ケーシング1からあまり離すと、高温状態の接続管9が
ケーシング1から外部に突出することになり望ましくな
い。
FIG. 3 shows an outline of the second embodiment of the heat treatment apparatus. In the embodiment of FIG. 1, the ejector type vacuum generator 10 is installed inside the casing 1, but in the embodiment of FIG. 3, since it is installed on the side wall outside the casing 1, the connection with the gas supply device 11 is made. It's getting easier. In this case, if the ejector-type vacuum generator 10 is too far away from the casing 1, the connection pipe 9 in a high temperature state will protrude from the casing 1 to the outside, which is not desirable.

【0024】このようにしてディフューザ式真空発生手
段により強制的に排気すると、従来の自然排気の場合に
おけるように排出管の径を大きくする必要もなく、ま
た、断熱部材を排出管の周囲に巻く必要もないので、排
出部において大幅な省スペースが図れる。また、従来の
オートダンパ7や手動バルブ8による排気制御に比べ、
圧力制御弁112により排気量を微妙かつ容易に調節で
きるので、ケーシング1内の温度制御の精度が向上す
る。
When the diffuser type vacuum generating means is forcedly evacuated in this way, it is not necessary to increase the diameter of the exhaust pipe as in the case of conventional natural exhaust, and a heat insulating member is wound around the exhaust pipe. Since it is not necessary, a large space saving can be achieved in the discharge part. In addition, compared with the conventional exhaust control by the auto damper 7 and the manual valve 8,
Since the exhaust amount can be delicately and easily adjusted by the pressure control valve 112, the accuracy of temperature control in the casing 1 is improved.

【0025】なお、上述の実施例においては、ディフュ
ーザ式真空発生手段としてエジェクター式真空発生装置
10を使用したが、これに限定されるものではなく、同
様の吸引原理に基づくコアンダ式の真空発生装置や、ト
ランスベクター式の真空発生装置を用いてもよい。一般
に、小排気量の場合はエジェクター式、大排気量の場合
は、コアンダ式、トランスベクター式の真空発生装置が
適しており、それぞれの用途に従って使用される。
Although the ejector type vacuum generating device 10 is used as the diffuser type vacuum generating means in the above embodiment, the present invention is not limited to this and the Coanda type vacuum generating device based on the similar suction principle. Alternatively, a transvector type vacuum generator may be used. In general, an ejector type vacuum generator is suitable for a small displacement, and a Coanda type or a transvector type vacuum generator is suitable for a large displacement, and they are used according to their respective applications.

【0026】また、本発明は、基板の熱処理装置のみな
らず、例えばレジスト塗布前のHMDSの基板表面への
塗布装置など、およそケーシング内に基板を収納して高
温状態で処理し、熱排気する必要のある基板処理装置の
全てに適用できるものである。
Further, according to the present invention, not only the heat treatment apparatus for the substrate but also, for example, a coating apparatus for coating the surface of the substrate with HMDS before resist coating, the substrate is housed in a casing, processed in a high temperature state, and thermally discharged. It is applicable to all necessary substrate processing apparatuses.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上述べたように、請求項1の発明によ
れば、ディフューザ式真空発生手段によってケーシング
内の熱排気が行なわれるので、内部の高温の気体が上記
ディフューザ式真空発生手段に供給された気体ととも
に、ケーシング外部に排出される。ケーシング内部の気
体は上記ディフューザ式真空発生手段に供給された気体
と交じり合った状態で排出されるので、温度が低下して
おり、制御機器や他の装置に熱による悪影響を与えるお
それがない。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the diffuser type vacuum generating means exhausts heat from the inside of the casing, so that the high temperature gas is supplied to the diffuser type vacuum generating means. The gas is discharged to the outside of the casing together with the generated gas. The gas inside the casing is discharged in a state of being mixed with the gas supplied to the diffuser type vacuum generating means, so that the temperature is lowered and there is no possibility that the control device and other devices are adversely affected by heat.

【0028】請求項2の発明によれば、ディフューザ式
真空発生手段に供給される気体の流量が、流量制御手段
によって制御されるので、これによりケーシング内の熱
排気量を容易に調整でき、ケーシング内の温度制御を精
度よく行なうことができる。
According to the invention of claim 2, since the flow rate of the gas supplied to the diffuser type vacuum generating means is controlled by the flow rate controlling means, the heat exhaust amount in the casing can be easily adjusted, and the casing can be easily adjusted. It is possible to accurately control the temperature inside.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例にかかる熱処理装置の構
成を示す概要図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of a heat treatment apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】エジェクター式真空発生装置の構成を示す縱断
面図である。
FIG. 2 is a vertical sectional view showing a configuration of an ejector type vacuum generator.

【図3】本発明の第2の実施例にかかる熱処理装置の構
成を示す概要図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a configuration of a heat treatment apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】従来の熱処理装置の構成を示す概要図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing the configuration of a conventional heat treatment apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ケーシング 2 ホットプレート 3 排気管 9 接続管 10 エジェクター式真空発生装置 11 気体供給装置 12 気体供給管 13 排出管 13a 排気口 W 基板 1 casing 2 hot plate 3 exhaust pipe 9 connection pipe 10 ejector type vacuum generator 11 gas supply device 12 gas supply pipe 13 discharge pipe 13a exhaust port W substrate

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を加熱して処理を行なう基板処理装
置において、 基板を加熱する加熱手段と、 前記加熱されるべき基板を収容する空間を形成するケー
シングと、 前記空間内に開口する排気口と、 前記排気口に連結されたディフューザ式真空発生手段
と、 前記ディフューザ式真空発生手段に気体を供給する気体
供給手段と、を備え、 前記ディフューザ式真空発生手段によりケーシング内部
の排気を行なうようにしたことを特徴とする基板処理装
置。
1. A substrate processing apparatus for heating a substrate for processing, heating means for heating the substrate, a casing forming a space for housing the substrate to be heated, and an exhaust port opening in the space. And a diffuser type vacuum generating means connected to the exhaust port, and a gas supplying means for supplying gas to the diffuser type vacuum generating means, so that the diffuser type vacuum generating means exhausts the inside of the casing. A substrate processing apparatus characterized by the above.
【請求項2】 前記気体供給手段は流量制御手段を備
え、当該流量制御手段によって前記真空発生手段に供給
される前記気体の流量を調節することにより、前記ケー
シングからの排気量の調整を行なうようにしたことを特
徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The gas supply means includes a flow rate control means, and the flow rate of the gas supplied to the vacuum generation means is adjusted by the flow rate control means to adjust the amount of exhaust gas from the casing. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014175532A (en) * 2013-03-11 2014-09-22 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2016115919A (en) * 2014-12-10 2016-06-23 東京エレクトロン株式会社 Thermal treatment apparatus, thermal treatment method and storage medium

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