JPH07288229A - Molecular-beam epitaxy apparatus - Google Patents
Molecular-beam epitaxy apparatusInfo
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- JPH07288229A JPH07288229A JP10229794A JP10229794A JPH07288229A JP H07288229 A JPH07288229 A JP H07288229A JP 10229794 A JP10229794 A JP 10229794A JP 10229794 A JP10229794 A JP 10229794A JP H07288229 A JPH07288229 A JP H07288229A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、基板の表面に成長原料
及びドーパントガスを供給することにより化合物半導体
エピタキシャル結晶を成長させる分子線エピタキシー装
置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a molecular beam epitaxy apparatus for growing a compound semiconductor epitaxial crystal by supplying a growth material and a dopant gas to the surface of a substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】化合物半導体のエピタキシャル結晶成長
法の一つとして分子線エピタキシー法(以下、本明細書
ではMBE法と略記する)が一般に知られている。2. Description of the Related Art A molecular beam epitaxy method (hereinafter abbreviated as MBE method in this specification) is generally known as one of epitaxial crystal growth methods for compound semiconductors.
【0003】上記MBE法では、結晶成長室内にて基板
を保持し、これに対向する位置に設けられたるつぼ及び
そのヒータから構成されるクヌーセンセル(以下、本明
細書ではKセルと略記する)から、成長原料を分子ビー
ムとして基板表面に照射し、基板の表面に結晶を成長さ
せるようにしている。また、必要に応じてドーパントを
導入することによりp型若しくはn型半導体結晶を成長
させることができる。In the above MBE method, a Knudsen cell (hereinafter, abbreviated as K cell in the present specification) which holds a substrate in a crystal growth chamber and is composed of a crucible and a heater provided at a position opposite to the substrate is held. Therefore, the growth raw material is irradiated onto the surface of the substrate as a molecular beam to grow crystals on the surface of the substrate. In addition, a p-type or n-type semiconductor crystal can be grown by introducing a dopant as needed.
【0004】ここで、基板上に他の部分で固化した成長
原料の破片などが落下し、付着しないように、Kセルを
上向きに開口させると共に基板を下向きにセットし、基
板表面に向けて下側から分子ビームを照射するMBE装
置がある。また、通常、MBE装置では基板表面に向け
て不用意に分子ビームが照射されないようにKセルの開
口部に開閉自在なシャッタを設けている。Here, the K cell is opened upward and the substrate is set downward so that the fragments of the growth material solidified in other parts do not drop and adhere to the substrate, and the substrate is set downward so as to face downward. There is an MBE device that irradiates a molecular beam from the side. Further, in the MBE apparatus, a shutter that can be opened and closed is provided at the opening of the K cell so that the molecular beam is not accidentally irradiated toward the substrate surface.
【0005】しかしながら、Kセルの上記シャッタを閉
じてるつぼを加熱した状態ではこのシャッタに分子ビー
ムが照射され、成長原料が付着して堆積する。この付着
物がシャッタの開閉時にKセルの開口部近傍に当接し、
開閉動作を円滑に行うことが困難になり、場合によって
は成膜が行えなくなると云う問題があった。また、この
付着物がKセルの開口部に落下すると、この開口部を塞
いで良好な分子ビームが得られなくなり、結晶の品質を
著しく低下させることも考えられる。However, when the crucible for closing the shutter of the K cell is heated, the shutter is irradiated with the molecular beam, and the growth raw material is deposited and deposited. When the shutter opens and closes, the attached matter comes into contact with the vicinity of the opening of the K cell,
There is a problem that it becomes difficult to smoothly perform the opening / closing operation, and in some cases, film formation cannot be performed. Further, if this deposit falls on the opening of the K cell, it is possible that the opening is blocked and a good molecular beam cannot be obtained, and the quality of the crystal is significantly deteriorated.
【0006】そこで、シャッタの真下にKセルの開口部
が位置しないように装置全体を斜めに配置したMBE装
置もあるが、シャッタの付着物によって開閉動作に不具
合を生じる問題は解決されない。Therefore, there is an MBE device in which the entire device is obliquely arranged so that the opening of the K cell is not located directly below the shutter, but the problem that the opening and closing operation is defective due to the deposit on the shutter cannot be solved.
【0007】上記したシャッタに成長原料が付着する問
題は、特にII−VI族化合物半導体エピタキシャル結
晶を成長させる分子線エピタキシー装置に於て顕著に現
出することが知られている。It is known that the above-mentioned problem that the growth material is attached to the shutter remarkably appears particularly in a molecular beam epitaxy apparatus for growing a II-VI group compound semiconductor epitaxial crystal.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述したよう
な従来技術の問題点に鑑みなされたものであり、その主
な目的は、基板上に高い品質の化合物半導体エピタキシ
ャル結晶を成長させることができ、結晶成長時にKセル
のシャッタの開閉動作に不具合を生じることのない分子
線エピタキシー装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems of the prior art as described above, and its main purpose is to grow a high-quality compound semiconductor epitaxial crystal on a substrate. It is an object of the present invention to provide a molecular beam epitaxy device which can be formed and does not cause a problem in the opening / closing operation of the shutter of the K cell.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上述した目的は本発明に
よれば、結晶成長室内にて基板の表面に成長原料とドー
パントガスとを供給することにより化合物半導体エピタ
キシャル結晶を成長させる分子線エピタキシー装置であ
って、前記結晶成長室内に開口すると共に内部に成長原
料を受容するるつぼが設けられた少なくとも1つ以上の
クヌーセンセルと、前記クヌーセンセルの開口を塞ぐ位
置と塞がない位置との間で移動可能に支持されたシャッ
タと、前記シャッタを外部から臨む位置に設けられた透
明な窓と、外部から前記窓を介して前記シャッタに赤外
線を照射して該シャッタを加熱するための赤外線ランプ
とを有することを特徴とする分子線エピタキシー装置を
提供することにより達成される。According to the present invention, there is provided a molecular beam epitaxy apparatus for growing a compound semiconductor epitaxial crystal by supplying a growth raw material and a dopant gas to a surface of a substrate in a crystal growth chamber. Between at least one Knudsen cell provided with a crucible for receiving a growth material inside and opening into the crystal growth chamber, and between a position that closes the opening of the Knudsen cell and a position that does not close the same. A shutter movably supported, a transparent window provided at a position facing the shutter from the outside, and an infrared lamp for irradiating the shutter with infrared rays from the outside through the window to heat the shutter. It is achieved by providing a molecular beam epitaxy apparatus characterized by having
【0010】[0010]
【作用】上述の構成によれば、赤外線ランプにより外部
からシャッタを加熱することによりシャッタへの成長原
料の付着を防止、若しくは付着した成長原料を再蒸発さ
せることができる。According to the above-mentioned structure, by heating the shutter from the outside by the infrared lamp, it is possible to prevent the growth raw material from adhering to the shutter or to re-evaporate the attached growth raw material.
【0011】[0011]
【実施例】以下、添付の図面に従って本発明の好適実施
例について説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
【0012】図1は本発明が適用された好適実施例に於
ける分子線エピタキシー装置(MBE装置)の概略構成
を示す模式的断面図である。本実施例は砒化ガリウム
(GaAs)基板上へのセレン化亜鉛(ZnSe)のエ
ピタキシャル結晶を成長させ、ドーパントとして窒素
(N)を導入してp型結晶を得るためのMBE装置であ
る。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a schematic structure of a molecular beam epitaxy apparatus (MBE apparatus) in a preferred embodiment to which the present invention is applied. This example is an MBE apparatus for growing an epitaxial crystal of zinc selenide (ZnSe) on a gallium arsenide (GaAs) substrate and introducing nitrogen (N) as a dopant to obtain a p-type crystal.
【0013】超高真空排気装置2により10-7〜10-9
torr程度の高真空を維持可能な結晶成長室1内には
ホルダ3により処理表面が下向きになるように基板Bが
保持されている。このホルダ3の上側には基板加熱用の
ヒータ5が設けられている。また、円板状のメインシャ
ッタ6が、基板Bの成膜を開始する位置、即ち基板Bの
処理表面を覆わない位置と、成膜を停止する位置、即ち
基板Bの処理表面を覆う位置との間で回動自在に支持さ
れ、その駆動軸6aを外部から回転させることにより成
膜を選択的に開始/停止し得るようになっている。With the ultra-high vacuum exhaust device 2, 10 -7 to 10 -9
The substrate B is held by the holder 3 in the crystal growth chamber 1 capable of maintaining a high vacuum of about torr so that the processed surface faces downward. A heater 5 for heating the substrate is provided above the holder 3. Further, the disk-shaped main shutter 6 has a position where the film formation of the substrate B is started, that is, a position where the processed surface of the substrate B is not covered, and a position where film formation is stopped, that is, a position where the processed surface of the substrate B is covered. It is rotatably supported between the two, and the film formation can be selectively started / stopped by rotating the drive shaft 6a from the outside.
【0014】結晶成長室1の下部に於ける基板Bと概ね
対向する位置には、基板Bに向けて開口する2つのKセ
ル7、8が設けられている。これらKセル7、8は、基
板Bに向けて開口するるつぼ7a、8aとこれらるつぼ
7a、8aを加熱するためのヒータ7b、8bとを有し
ている。また、各Kセル7、8の開口部には上記メイン
シャッタ6と同様な円板状のシャッタ9、10が、各K
セル7、8の開口を覆う位置と、開口を覆わない位置と
の間で回動自在に支持され、その駆動軸9a、10aを
外部から回転させることにより選択的に各るつぼ7a、
8a内に受容された成長原料を分子ビームとして基板B
に向けて照射するようになっている。また、結晶成長室
1の側壁部1aの各シャッタ9、10を外部から臨む位
置には透明な窓24、25が設けられている。更に窓2
4、25の外部には窓24、25を介して各シャッタ
9、10に赤外線を照射して該シャッタ9、10を加熱
するべく図示されない外部電源及び制御装置に接続され
た赤外線ランプ26、27が設けられている。Two K cells 7 and 8 opening toward the substrate B are provided at a position in the lower part of the crystal growth chamber 1 which is substantially opposed to the substrate B. These K cells 7 and 8 have crucibles 7a and 8a opening toward the substrate B and heaters 7b and 8b for heating these crucibles 7a and 8a. Further, disk-shaped shutters 9 and 10 similar to the main shutter 6 are provided in the openings of the K cells 7 and 8 for the K cells.
The cells 7 and 8 are rotatably supported between a position that covers the openings and a position that does not cover the openings, and the drive shafts 9a and 10a are selectively rotated from the outside to selectively select the crucibles 7a,
Substrate B using the growth raw material received in 8a as a molecular beam
It is designed to irradiate to. Further, transparent windows 24 and 25 are provided in the side wall portion 1a of the crystal growth chamber 1 at positions facing the shutters 9 and 10 from the outside. Further window 2
Infrared lamps 26 and 27 connected to an external power source and a control unit (not shown) for heating the shutters 9 and 10 by irradiating the shutters 9 and 10 with infrared rays through windows 24 and 25 to the outside of the shutters 4 and 25. Is provided.
【0015】各Kセル7、8とは別に結晶成長室1の下
部に於ける基板Bと概ね対向する位置に窒素プラズマの
励起セル装置11が設けられている。In addition to the K cells 7 and 8, a nitrogen plasma excitation cell device 11 is provided in the lower portion of the crystal growth chamber 1 at a position substantially facing the substrate B.
【0016】一方、結晶成長室1内には、各分子ビーム
の強度を真空度から測定するべく公知のB−A型電離真
空計からなる分子ビーム強度センサとしてのフラックス
モニタ21が設けられている。On the other hand, in the crystal growth chamber 1, there is provided a flux monitor 21 as a molecular beam intensity sensor consisting of a known BA type ionization vacuum gauge for measuring the intensity of each molecular beam from the degree of vacuum. .
【0017】以下に本実施例の作動要領について説明す
る。まず、るつぼ7aにセレン(Se)、るつぼ8aに
亜鉛(Zn)を受容し、基板Bをホルダ3に下向きに保
持して結晶成長室1内を超高真空排気装置2により真空
引きして10-7〜10-9torr程度の高真空を維持す
る。そして、基板Bを回転させると共に加熱すると共に
セレン、亜鉛を加熱する。このとき、各シャッタ6、
9、10、11aはまだ閉じられている。また、赤外線
ランプ26、27により各シャッタ9、10は加熱され
ており、各シャッタ9、10に各々セレン、亜鉛が付着
することを防止している。The operating procedure of this embodiment will be described below. First, selenium (Se) is received in the crucible 7a and zinc (Zn) is received in the crucible 8a, the substrate B is held downward by the holder 3, and the inside of the crystal growth chamber 1 is evacuated by the ultrahigh vacuum exhaust device 2 to obtain 10 Maintain a high vacuum of about -7 to 10 -9 torr. Then, the substrate B is rotated and heated, and selenium and zinc are heated. At this time, each shutter 6,
9, 10, 11a are still closed. The shutters 9 and 10 are heated by the infrared lamps 26 and 27 to prevent selenium and zinc from adhering to the shutters 9 and 10, respectively.
【0018】次に、所定時間経過後にまずシャッタ9を
開閉してフラックスモニタ21によりセレンの分子ビー
ムが安定するように制御する。次にシャッタ10を開閉
してフラックスモニタ21により亜鉛の分子ビームが安
定するように制御する。このとき、セレン及び亜鉛の分
子ビームが強度1:1で安定するように制御すると良
い。各分子ビームが強度1:1で安定したら、フラック
スモニタ21を分子ビームが直接照射されない図1に於
ける左側壁面近傍位置に引っ込め、シャッタ9、10を
共に閉じ、シャッタ11aを開いて励起セル装置11に
て高周波を発生させ(5W〜300W)、窒素ガスを
0.01cc/min〜0.5cc/minの範囲の流
量でケーシング12内に郭成されたプラズマ発生室に供
給する。ここでは磁石17による磁場と高周波コイル1
9との相互作用により高密度の窒素プラズマが発生す
る。Next, after a lapse of a predetermined time, the shutter 9 is first opened and closed, and the flux monitor 21 controls so that the selenium molecular beam is stabilized. Next, the shutter 10 is opened and closed, and the flux monitor 21 controls so that the zinc molecular beam is stabilized. At this time, it is advisable to control the molecular beams of selenium and zinc to be stable at an intensity of 1: 1. When each molecular beam stabilizes at an intensity of 1: 1, the flux monitor 21 is retracted to a position near the left wall surface in FIG. 1 where the molecular beam is not directly irradiated, both shutters 9 and 10 are closed, and shutter 11a is opened to open the excitation cell device. A high frequency is generated at 11 (5 W to 300 W), and nitrogen gas is supplied to the plasma generation chamber defined in the casing 12 at a flow rate in the range of 0.01 cc / min to 0.5 cc / min. Here, the magnetic field generated by the magnet 17 and the high frequency coil 1
A high-density nitrogen plasma is generated by the interaction with 9.
【0019】その後、窒素プラズマが安定したら、シャ
ッタ9、10を開き、最後にシャッタ6を開いて基板B
の表面にセレン化亜鉛のエピタキシャル結晶を成長させ
つつその中に窒素をドーパントとして導入してp型結晶
を得ることができる。このようにして形成されたp型結
晶では1×1018cm-3のキャリヤ濃度が得られた。Thereafter, when the nitrogen plasma is stabilized, the shutters 9 and 10 are opened, and finally the shutter 6 is opened to open the substrate B.
It is possible to obtain a p-type crystal by introducing nitrogen as a dopant therein while growing an epitaxial crystal of zinc selenide on the surface of. With the p-type crystal thus formed, a carrier concentration of 1 × 10 18 cm −3 was obtained.
【0020】尚、上記実施例では各Kセル7、8の各シ
ャッタ9、10を閉じているときに赤外線ランプ26、
27を作動させて各シャッタ9、10を加熱し、成長原
料の付着を防止したが、各シャッタ9、10を開いてい
るときにも赤外線ランプ26、27から赤外線が照射さ
れるようにし、各シャッタ9、10を開いているときに
赤外線ランプ26、27を作動させて各シャッタ9、1
0に付着した成長原料を再蒸発させるようにしても同様
な作用・効果が得られることは云うまでもない。また、
このような構造にすれば、赤外線ランプ26、27を作
動/停止することにより結晶成長室1内に温度変動が生
じる場合に常に赤外線ランプ26、27を作動させたま
まにすれば、結晶成長時に温度による影響が生じること
もない。In the above embodiment, when the shutters 9 and 10 of the K cells 7 and 8 are closed, the infrared lamp 26,
27 is operated to heat the shutters 9 and 10 to prevent the growth material from adhering, but infrared rays are emitted from the infrared lamps 26 and 27 even when the shutters 9 and 10 are open. While the shutters 9 and 10 are open, the infrared lamps 26 and 27 are activated to operate the shutters 9 and 1, respectively.
It goes without saying that the same action and effect can be obtained by re-evaporating the growth material attached to 0. Also,
With such a structure, when the infrared lamps 26 and 27 are activated / deactivated to cause temperature fluctuations in the crystal growth chamber 1, the infrared lamps 26 and 27 are always kept activated during crystal growth. It is not affected by temperature.
【0021】一方、本実施例では各Kセル9、10の各
シャッタ9、10にのみ赤外線ランプ26、27を設け
たが、メインシャッタにも同様なヒータを設ければメイ
ンシャッタの開閉不良及びメインシャッタからKセルや
励起セル装置開口への付着物落下をも防止できる。On the other hand, in the present embodiment, the infrared lamps 26 and 27 are provided only on the shutters 9 and 10 of the K cells 9 and 10, respectively. It is also possible to prevent deposits from falling from the main shutter to the openings of the K cell and the excitation cell device.
【0022】また、上記実施例ではII族元素として亜
鉛を用い、VI族元素としてセレンを用いたが、II族
元素としてカドミウム(Cd)、亜鉛(Zn)、マグネ
シウム(Mg)のいずれか、VI族元素として硫黄
(S)、セレン(Se)、テルル(Te)、マンガン
(Mn)のいずれかまたは、これらのいずれかを含むI
I−VI族混晶を用いても同様な効果が得られる。更
に、上記実施例では結晶成長基板として砒化ガリウム
(GaAs)基板を用いたが、ZnSeやGaP或いは
砒化ガリウム(GaAs)基板上に適宜な薄膜結晶(例
えばエピタキシャル結晶成長させた砒化ガリウム膜な
ど)を形成させたものであっても良い。Further, although zinc is used as the group II element and selenium is used as the group VI element in the above embodiment, any one of cadmium (Cd), zinc (Zn) and magnesium (Mg) as the group II element, VI I containing any one of sulfur (S), selenium (Se), tellurium (Te), and manganese (Mn) as a group element or any one of them.
The same effect can be obtained by using a group I-VI mixed crystal. Further, although a gallium arsenide (GaAs) substrate is used as a crystal growth substrate in the above-mentioned embodiment, an appropriate thin film crystal (for example, a gallium arsenide film epitaxially grown) is formed on a ZnSe, GaP or gallium arsenide (GaAs) substrate. It may be formed.
【0023】[0023]
【発明の効果】上記した説明により明らかなように、本
発明に基づく分子線エピタキシー装置によれば、クヌー
センセルの開口を塞ぐ位置と塞がない位置との間で移動
可能に支持されたシャッタを外部赤外線ランプにより選
択的に加熱することができるようにすることで、シャッ
タへの成長原料の付着を防止、若しくは付着した成長原
料を再蒸発させることができ、付着物の落下によるクヌ
ーセンセルの開口閉塞やシャッタの開閉動作不良を防止
することができることから、分子ビームが安定し、常に
良質の結晶が得られるようになる。また、複雑な配線な
どを結晶成長室内に設ける必要がなく、分子線エピタキ
シー装置本体には窓を設けるのみであることから、構造
が複雑になる心配がない。As is apparent from the above description, according to the molecular beam epitaxy apparatus according to the present invention, a shutter movably supported between a position where the opening of the Knudsen cell is closed and a position where it is not closed is provided. By enabling selective heating by an external infrared lamp, it is possible to prevent the growth material from adhering to the shutter, or to re-evaporate the adhering growth material, and to open the Knudsen cell due to the fall of the adhered material. Since it is possible to prevent blockage and defective opening / closing operation of the shutter, the molecular beam becomes stable, and high-quality crystals can always be obtained. Further, since it is not necessary to provide a complicated wiring or the like in the crystal growth chamber, and only the window is provided in the main body of the molecular beam epitaxy apparatus, there is no fear that the structure becomes complicated.
【図1】本発明に基づく好適実施例に於ける分子線エピ
タキシー装置の概略構成を示す模式的断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a schematic configuration of a molecular beam epitaxy apparatus in a preferred embodiment according to the present invention.
1 結晶成長室 2 超高真空排気装置 3 ホルダ 5 ヒータ 6 メインシャッタ 6a 駆動軸 7、8 クヌーセンセル 7a、8a るつぼ 7b、8b ヒータ 9、10 シャッタ 9a、10a 駆動軸 9b、10b 熱線ヒータ 11 励起セル装置 11a シャッタ 12 ケーシング 12a オリフィス 13 窒素ガス供給口 14 管路 15 流量制御装置 16 減圧弁 17 磁石 18 窒素ボンベ 19 高周波コイル 20 高周波発生装置 21 フラックスモニタ 24、25 窓 26、27 赤外線ランプ 1 crystal growth chamber 2 ultra-high vacuum exhaust device 3 holder 5 heater 6 main shutter 6a drive shaft 7, 8 Knudsen cell 7a, 8a crucible 7b, 8b heater 9, 10 shutter 9a, 10a drive shaft 9b, 10b heat wire heater 11 excitation cell Device 11a Shutter 12 Casing 12a Orifice 13 Nitrogen gas supply port 14 Pipeline 15 Flow rate control device 16 Pressure reducing valve 17 Magnet 18 Nitrogen cylinder 19 High frequency coil 20 High frequency generator 21 Flux monitor 24, 25 Windows 26, 27 Infrared lamp
Claims (2)
料とドーパントガスとを供給することにより化合物半導
体エピタキシャル結晶を成長させる分子線エピタキシー
装置であって、 前記結晶成長室内に開口すると共に内部に成長原料を受
容するるつぼが設けられた少なくとも1つ以上のクヌー
センセルと、 前記クヌーセンセルの開口を塞ぐ位置と塞がない位置と
の間で移動可能に支持されたシャッタと、 前記シャッタを外部から臨む位置に設けられた透明な窓
と、 外部から前記窓を介して前記シャッタに赤外線を照射し
て該シャッタを加熱するための赤外線ランプとを有する
ことを特徴とする分子線エピタキシー装置。1. A molecular beam epitaxy apparatus for growing a compound semiconductor epitaxial crystal by supplying a growth raw material and a dopant gas to a surface of a substrate in a crystal growth chamber, wherein the molecular beam epitaxy device has an opening inside the crystal growth chamber and an inside. At least one or more Knudsen cells provided with a crucible for receiving a growth material, a shutter movably supported between a position that closes the opening of the Knudsen cell and a position that does not close the opening, and the shutter from the outside. A molecular beam epitaxy apparatus comprising: a transparent window provided at a facing position; and an infrared lamp for heating the shutter by irradiating the shutter with infrared rays from the outside through the window.
元素からなり、前記化合物半導体エピタキシャル結晶が
II−VI族化合物半導体エピタキシャル結晶からなる
ことを特徴とする請求項1に記載の分子線エピタキシー
装置。2. The molecular beam epitaxy apparatus according to claim 1, wherein the growth raw material is composed of a group II element and a group VI element, and the compound semiconductor epitaxial crystal is composed of a II-VI group compound semiconductor epitaxial crystal. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10229794A JPH07288229A (en) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | Molecular-beam epitaxy apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10229794A JPH07288229A (en) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | Molecular-beam epitaxy apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07288229A true JPH07288229A (en) | 1995-10-31 |
Family
ID=14323689
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10229794A Withdrawn JPH07288229A (en) | 1994-04-15 | 1994-04-15 | Molecular-beam epitaxy apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07288229A (en) |
-
1994
- 1994-04-15 JP JP10229794A patent/JPH07288229A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010703 |