JPH07263473A - Semiconductor molding machine - Google Patents

Semiconductor molding machine

Info

Publication number
JPH07263473A
JPH07263473A JP4806694A JP4806694A JPH07263473A JP H07263473 A JPH07263473 A JP H07263473A JP 4806694 A JP4806694 A JP 4806694A JP 4806694 A JP4806694 A JP 4806694A JP H07263473 A JPH07263473 A JP H07263473A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
semiconductor
mold
molding
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4806694A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshitomo Kusanagi
恵与 草▲なぎ▼
Satoshi Watabe
聡 渡部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Akita Electronics Systems Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Akita Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Akita Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4806694A priority Critical patent/JPH07263473A/en
Publication of JPH07263473A publication Critical patent/JPH07263473A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To provide technique which can prevent occurrence of a void, a wire flow at the time of molding a semiconductor. CONSTITUTION:A semiconductor molding machine has molds 15 for molding a semiconductor, conveying means 14, 16 for conveying the semiconductor before and after molding, and resin storing means 12 for storing resin to be molded, and comprises means 11 for regulating a temperature of the resin in the means 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体のモールド装置
に適用して有効な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique effectively applied to a semiconductor molding device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体モールド装置は、一般に、半導体
のモールドを行う金型と、半導体装置を前記金型まで搬
送するローダ部と、モールドする樹脂を保管するレジン
保管部と、モールド後の半導体装置を搬送するアンロー
ダ部と、前記金型のクリーニングを行うクリーニング部
とから構成されており、その金型は高温になるため他の
部に熱を伝えないように周囲に断熱材を設けてある。
2. Description of the Related Art In general, a semiconductor molding apparatus includes a mold for molding a semiconductor, a loader section for conveying the semiconductor device to the mold, a resin storage section for storing resin to be molded, and a semiconductor device after molding. And a cleaning unit for cleaning the mold. The mold has a high temperature, and a heat insulating material is provided around the mold so as not to transfer heat to other parts.

【0003】しかし、従来の半導体モールド装置におい
ては、金型の周囲に断熱材を設けたにも関わらず、実際
はレジン保管部が金型からの伝熱を受けて保管中の樹脂
が24時間位で硬化し、使用不能状態になる。
However, in the conventional semiconductor molding apparatus, although the heat insulating material is provided around the mold, the resin storing section actually receives heat from the mold and the resin being stored is stored for about 24 hours. It hardens and becomes unusable.

【0004】このため、樹脂を長時間保管することがで
きず、樹脂が使用不能となるまでの時間(樹脂投入後か
ら12時間〜24時間)以内に樹脂を使いきる時間管理
を行っていた。
For this reason, the resin cannot be stored for a long time, and the time is controlled such that the resin is used up within the time until the resin becomes unusable (12 to 24 hours after the resin is charged).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明者は、上記従来
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present inventors have found the following problems as a result of examining the above prior art.

【0006】従来の半導体モールド装置においては、金
型からの熱を受けてレジン保管部の温度が30〜35゜
C位になり、保管中の樹脂が24時間位で使用不能とな
るため、樹脂投入後から12時間〜24時間以内にモー
ルドを行うようにしていたが、その12時間〜24時間
のモールド時間中にも金型からの熱により樹脂の流動性
の低下が生じており、モールド時にボイド、ワイヤ流れ
等が発生するという問題点があった。
In the conventional semiconductor molding apparatus, the temperature of the resin storage section becomes about 30 to 35 ° C. due to the heat from the mold, and the resin during storage becomes unusable for about 24 hours. Molding was carried out within 12 to 24 hours after the injection, but during the molding time of 12 to 24 hours, the fluidity of the resin decreased due to the heat from the mold. There is a problem that voids, wire flow, etc. occur.

【0007】本発明の目的は、半導体モールド時にボイ
ドやワイヤ流れの発生を防止することが可能な技術を提
供することにある。本発明の前記ならびにその他の目的
と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって
明らかになるであろう。
An object of the present invention is to provide a technique capable of preventing the occurrence of voids and wire flow during semiconductor molding. The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
Among the inventions disclosed in the present application, a brief description will be given to the outline of typical ones.
It is as follows.

【0009】半導体のモールドを行う金型と、モールド
前後の半導体を搬送する搬送手段と、モールドする樹脂
を保管するレジン保管手段と、を備えた半導体モールド
装置において、前記レジン保管手段内の樹脂の温度を調
整する手段を装置本体に備える。
In a semiconductor molding apparatus provided with a mold for molding a semiconductor, a carrying means for carrying the semiconductor before and after the molding, and a resin storing means for storing the resin to be molded, the resin in the resin storing means is stored. The apparatus body is provided with a means for adjusting the temperature.

【0010】[0010]

【作用】上述した手段によれば、半導体のモールドを行
う金型と、モールド前後の半導体を搬送する搬送手段
と、モールドする樹脂を保管するレジン保管手段と、を
備えた半導体モールド装置において、前記レジン保管手
段内の樹脂の温度を調整する手段を装置本体に備えるこ
とにより、金型からの熱による樹脂の劣化(硬化、流動
性の低下)を抑えるように樹脂の温度を調整することが
できるので、半導体モールド時にボイドやワイヤ流れの
発生を防止することが可能となる。
According to the above-mentioned means, in the semiconductor molding apparatus provided with the mold for molding the semiconductor, the carrying means for carrying the semiconductor before and after the molding, and the resin storing means for storing the resin to be molded, By providing the apparatus main body with means for adjusting the temperature of the resin in the resin storage means, the temperature of the resin can be adjusted so as to suppress the deterioration (curing, deterioration of fluidity) of the resin due to heat from the mold. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of voids and wire flow during semiconductor molding.

【0011】以下、本発明の構成について、実施例とと
もに説明する。
The structure of the present invention will be described below together with embodiments.

【0012】なお、実施例を説明するための全図におい
て、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り
返しの説明は省略する。
In all the drawings for explaining the embodiments, those having the same function are designated by the same reference numerals and their repeated description will be omitted.

【0013】[0013]

【実施例】図1は、本発明の一実施例である半導体モー
ルド装置の構成を説明するためのものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is for explaining the structure of a semiconductor mold device which is an embodiment of the present invention.

【0014】図1(a)は、本実施例の半導体モールド
装置の外形を示したものであり、図(b)は、図1
(a)の半導体モールド装置内の各部の構成を示したも
のであり、その配置構成を明確にするため、半導体モー
ルド装置の上部から見て示してある。
FIG. 1A shows the outer shape of the semiconductor mold device of this embodiment, and FIG. 1B shows the outer shape thereof.
The structure of each part in the semiconductor mold device of (a) is shown, and it is shown from the top of the semiconductor mold device in order to clarify the arrangement structure.

【0015】図1において、10は半導体モールド装
置、11は電子冷却器、12はレジン保管部、13はク
リーナー部、14はローダ部、15は金型、16はアン
ローダ部をそれぞれ示したものであり、電子冷却器1
1、レジン保管部12、クリーナー部13は、図1
(a)に示すローダ部14、金型15、アンローダ部1
6の後方の隠れた位置に設けられている。
In FIG. 1, 10 is a semiconductor mold device, 11 is an electronic cooler, 12 is a resin storage unit, 13 is a cleaner unit, 14 is a loader unit, 15 is a mold, and 16 is an unloader unit. Yes, electronic cooler 1
1, the resin storage unit 12 and the cleaner unit 13 are shown in FIG.
(A) loader unit 14, mold 15, unloader unit 1
It is provided in a hidden position behind the 6.

【0016】本実施例の半導体モールド装置は、図1に
示すように、半導体をモールドする金型15と、その金
型15に半導体を搬送するローダ部14と、モールド後
の半導体を搬送するアンローダ部16と、金型15のク
リーニングを行うクリーナー部13と、半導体をモール
ドする樹脂(レジン)を保管するレジン保管部12と、
そのレジン保管部内のレジンを所定の温度内に調整する
電子冷却器11とで構成される。
As shown in FIG. 1, the semiconductor molding apparatus of this embodiment includes a mold 15 for molding a semiconductor, a loader section 14 for carrying the semiconductor to the mold 15, and an unloader for carrying the semiconductor after molding. A portion 16, a cleaner portion 13 for cleaning the mold 15, a resin storage portion 12 for storing a resin (resin) for molding a semiconductor,
It is composed of an electronic cooler 11 for adjusting the resin in the resin storage section to a predetermined temperature.

【0017】なお、金型15は170〜180゜Cに保
たれており、周囲には断熱材が設けられ、極力他の部に
熱が伝わらないようにしてある。
The mold 15 is kept at 170 to 180 ° C., and a heat insulating material is provided around it to prevent heat from being transmitted to other parts as much as possible.

【0018】次に、本実施例で用いる電子冷却器11に
ついて説明する。
Next, the electronic cooler 11 used in this embodiment will be described.

【0019】図2は、本実施例の電子冷却器11の構成
を説明するためのものである。
FIG. 2 illustrates the structure of the electronic cooler 11 of this embodiment.

【0020】図2において、21は冷却フィン、22は
吸気フィン、23は冷却側ケース、24は電子冷却素
子、25は放熱側ケース、26はフィルタ、27は放熱
ファン、28は除湿水、29は放熱フィンをそれぞれ示
す。
In FIG. 2, 21 is a cooling fin, 22 is an intake fin, 23 is a cooling side case, 24 is an electronic cooling element, 25 is a heat radiating side case, 26 is a filter, 27 is a heat radiating fan, 28 is dehumidified water, and 29. Indicates a radiation fin, respectively.

【0021】図2に示す電子冷却器11は、二種類の異
なった金属または半導体を接続したものに電流を流す
と、電子(または正孔)と格子振動との衝突によるジュ
ール熱の他に、熱が発生したり、吸収したりするペルテ
ィエ効果を利用したスポットエアコンであり、P型とN
型の半導体を交互に接続したものからなる電子冷却素子
24により、レジン保管部12内のレジンを冷却して所
定の温度に保つものである。
In the electronic cooler 11 shown in FIG. 2, when an electric current is applied to one in which two different kinds of metals or semiconductors are connected, in addition to Joule heat due to collision between electrons (or holes) and lattice vibration, It is a spot air conditioner that utilizes the Peltier effect of generating and absorbing heat.
The resin in the resin storage unit 12 is cooled and maintained at a predetermined temperature by the electronic cooling element 24 which is formed by alternately connecting mold semiconductors.

【0022】前述の電子冷却素子24の冷却側は本実施
例の半導体モールド装置内の高温多湿空気を吸気する吸
気ファン22と、その吸気された高温多湿空気中の空気
が通過し冷却される冷却フィン21と、冷却側ケースと
で構成され、放熱は側は、電子冷却素子の発熱側の放熱
フィン29と、その放熱フィン29の放熱を行う放熱フ
ァン27と、空気中(外気)の塵やほこりを採るフィル
タ26と、放熱側ケース25とで構成される。
On the cooling side of the electronic cooling element 24, the intake fan 22 for sucking the hot and humid air in the semiconductor mold device of this embodiment, and the cooling in which the air in the sucked hot and humid air passes are cooled. The fins 21 and the cooling side case are provided, and the heat radiation side is the heat radiation fins 29 on the heat generation side of the electronic cooling element, the heat radiation fan 27 for radiating the heat radiation fins 29, and dust in the air (outside air). It is composed of a filter 26 for collecting dust and a heat radiation side case 25.

【0023】なお、レジン保管部12のレジンの温度調
整は、本実施例の電子冷却器11に限られるものではな
く、設置場所も半導体モールド装置の筺体内に限らず、
筺体外でもかまわない。
The temperature adjustment of the resin in the resin storage unit 12 is not limited to the electronic cooler 11 of this embodiment, and the installation location is not limited to the housing of the semiconductor mold device.
It does not matter if it is outside the housing.

【0024】そして、その動作は、電子冷却素子24に
直流電流を流すことにより、前述したように、電子冷却
素子の冷却フィン21側において吸熱作用が、放熱フィ
ン29に発熱作用が現れる。
In the operation, when a direct current is passed through the electronic cooling element 24, as described above, a heat absorbing effect appears on the cooling fin 21 side of the electronic cooling element and a heat generating effect appears on the heat radiating fin 29.

【0025】電子冷却素子の吸熱側においては、吸気フ
ァン22で吸気された半導体モールド装置10内の高温
・多湿の空気が冷却フィン21で冷却されて送り返さ
れ、合わせて冷却された空気中の露点状態の水分が除か
れ、その水分(除湿水28)は発熱側に送られる。
On the heat absorbing side of the electronic cooling element, the hot and humid air in the semiconductor mold device 10 sucked by the intake fan 22 is cooled by the cooling fins 21 and sent back, and the dew point in the cooled air is also taken. The water in the state is removed, and the water (dehumidified water 28) is sent to the heat generating side.

【0026】一方、電子冷却素子の発熱側においては、
電子冷却素子によって放熱フィン29で発生した熱を利
用して前述の除湿水28を蒸発させ、放熱ファン27で
半導体モールド装置10外へ送り出される。
On the other hand, on the heat generating side of the electronic cooling element,
The dehumidified water 28 is evaporated by utilizing the heat generated by the heat dissipation fins 29 by the electronic cooling element, and is sent out of the semiconductor mold device 10 by the heat dissipation fan 27.

【0027】以上、説明した電子冷却器11でレジン保
管部12内のレジン温度が20゜C付近に結露しないよ
うに冷却する。このときの温度調整は電子冷却素子24
に流す電流により行う。
As described above, the electronic cooler 11 described above cools the resin storage unit 12 so that the resin temperature does not condense around 20 ° C. The temperature adjustment at this time is performed by the electronic cooling element 24.
It is performed by the electric current that flows in.

【0028】また、上述のレジンの温度は、レジン保管
部の温度の違いによるレジン劣化スピードの調査を行っ
た結果(図示せず)、得られたものであり、本実施例の
電子冷却器11を取り付けない場合(レジン保管部の温
度30゜C)に比べて、レジン物性劣化スピードが1/
5〜1/6以下になることが判明している。
The above-mentioned resin temperature is obtained as a result (not shown) of the resin deterioration speed due to the difference in the temperature of the resin storage section, and is obtained, and the electronic cooler 11 of this embodiment is used. Compared with the case where the resin is not installed (the temperature of the resin storage is 30 ° C), the deterioration speed of the physical properties of the resin is
It has been found that it becomes 5 to 1/6 or less.

【0029】なお、レジン温度は、20゜C位に限定さ
れるものではなく、半導体モールド装置10が使われて
いる環境(大気圧、温度、湿度等)及びレジンの種類
(含有する触媒、その量等)により、調整される。
The resin temperature is not limited to about 20.degree. C., but the environment in which the semiconductor molding apparatus 10 is used (atmospheric pressure, temperature, humidity, etc.) and the type of resin (containing catalyst, its It is adjusted according to the quantity).

【0030】最後に、本実施例で用いた半導体モールド
装置10でのレジン放置時間と流動性(最低溶融粘度数
η)関係を図3に示す。
Finally, FIG. 3 shows the relationship between the resin leaving time and the fluidity (minimum melt viscosity number η) in the semiconductor mold device 10 used in this example.

【0031】図3は、横軸にレジン放置時間、縦軸に最
低溶融粘度数を取り、△は電子冷却器10未設置時、□
は電子冷却器10設置時の値を示している。
In FIG. 3, the horizontal axis represents the resin standing time, the vertical axis represents the minimum melt viscosity number, and Δ represents the time when the electronic cooler 10 is not installed and □.
Indicates a value when the electronic cooler 10 is installed.

【0032】図3に示すように、電子冷却器10未設置
時のレジンは、24時間を過ぎると実際に使用できる許
容範囲(破線で表示)を越えてしまうが、本実施例の電
子冷却器10設置時のレジンは100時間位まで許容範
囲にあることがわかる。
As shown in FIG. 3, the resin when the electronic cooler 10 is not installed exceeds the allowable range (indicated by the broken line) that can be actually used after 24 hours, but the electronic cooler of this embodiment is used. It can be seen that the resin at the time of 10 installation is within the allowable range up to about 100 hours.

【0033】したがって、半導体のモールドを行う金型
と、モールド前後の半導体を搬送する搬送手段と、モー
ルドする樹脂を保管するレジン保管手段と、を備えた半
導体モールド装置において、前記レジン保管手段内の樹
脂の温度を調整する手段を装置本体に備えることによ
り、金型からの熱による樹脂の劣化を抑えるように樹脂
の温度を調整することができるので、半導体モールド時
にボイドやワイヤ流れの発生を防止することが可能とな
る。
Therefore, in a semiconductor molding apparatus provided with a die for molding a semiconductor, a transport means for transporting the semiconductor before and after the molding, and a resin storage means for storing the resin to be molded, the inside of the resin storage means is provided. By providing the device body with a means to adjust the temperature of the resin, the resin temperature can be adjusted so as to suppress the deterioration of the resin due to the heat from the mold, preventing the occurrence of voids and wire flow during semiconductor molding. It becomes possible to do.

【0034】また、レジン温度を調整できることによ
り、多量のレジンを筺体内に保管することができ、スル
ープットの向上となる他、従来、金型の熱伝導を極力抑
えるために設けられる半導体モールド装置内のスペース
(仕切りを含む)を削減でき、装置の小型化が可能とな
る。
Further, since the resin temperature can be adjusted, a large amount of resin can be stored in the housing, which improves the throughput, and in the conventional semiconductor mold device provided to suppress the heat conduction of the mold as much as possible. The space (including partitions) can be reduced, and the device can be downsized.

【0035】本実施例では半導体のモールドを取り挙げ
たが、鋳型等を使って型を作る装置に対しても本発明は
有効である。
In this embodiment, the semiconductor mold is taken as an example, but the present invention is also effective for an apparatus for making a mold using a mold or the like.

【0036】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前
記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能であることは勿論であ
る。
As described above, the inventions made by the present inventor are
Although the specific description has been given based on the above-described embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

【0037】[0037]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0038】金型からの熱による樹脂の劣化を抑えるよ
うに樹脂の温度を調整することができるので、半導体モ
ールド時にボイドやワイヤ流れの発生を防止することが
可能となる。
Since the temperature of the resin can be adjusted so as to suppress the deterioration of the resin due to the heat from the mold, it is possible to prevent the occurrence of voids and wire flow during semiconductor molding.

【0039】また、レジン温度を調整できることによ
り、多量のレジンを筺体内に保管することができ、スル
ープットの向上となる他、従来、金型の熱伝導を極力抑
えるために設けられる半導体モールド装置内のスペース
(仕切りを含む)を削減でき、装置の小型化が可能とな
る。
Further, since the resin temperature can be adjusted, a large amount of resin can be stored in the housing, which improves the throughput, and in the conventional semiconductor mold device provided to suppress the heat conduction of the mold as much as possible. The space (including partitions) can be reduced, and the device can be downsized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例である半導体モールド装置の
構成を説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a semiconductor mold device that is an embodiment of the present invention.

【図2】本実施例の電子冷却器の構成を説明するための
図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of the electronic cooler of the present embodiment.

【図3】本実施例で用いた半導体モールド装置でのレジ
ン放置時間と流動性(最低溶融粘度数η)関係を示した
図である。
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between resin leaving time and fluidity (minimum melt viscosity number η) in the semiconductor mold device used in this example.

【符号の説明】 10…半導体モールド装置、11…電子冷却器、12…
レジン保管部、13…クリーナー部、14…ローダ部、
15…金型、16…アンローダ部、21…冷却フィン、
22…吸気フィン、23…冷却側ケース、24…電子冷
却素子、25…放熱側ケース、26…フィルタ、27…
放熱ファン、28…除湿水、29…放熱フィン。
[Explanation of Codes] 10 ... Semiconductor mold device, 11 ... Electronic cooler, 12 ...
Resin storage section, 13 ... Cleaner section, 14 ... Loader section,
15 ... Mold, 16 ... Unloader section, 21 ... Cooling fin,
22 ... Intake fins, 23 ... Cooling side case, 24 ... Electronic cooling element, 25 ... Radiating side case, 26 ... Filter, 27 ...
Radiating fan, 28 ... Dehumidifying water, 29 ... Radiating fin.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // B29L 31:34 Continuation of front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display area // B29L 31:34

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体のモールドを行う金型と、モール
ド前後の半導体を搬送する搬送手段と、モールドする樹
脂を保管するレジン保管手段と、を備えた半導体モール
ド装置において、 前記レジン保管手段内の樹脂の温度を調整する手段を装
置本体に備えることを特徴とする半導体モールド装置。
1. A semiconductor molding apparatus comprising: a mold for molding a semiconductor; a carrying means for carrying a semiconductor before and after molding; and a resin storing means for storing a resin to be molded. A semiconductor mold device, characterized in that a device body is provided with means for adjusting a temperature of a resin.
JP4806694A 1994-03-18 1994-03-18 Semiconductor molding machine Pending JPH07263473A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4806694A JPH07263473A (en) 1994-03-18 1994-03-18 Semiconductor molding machine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4806694A JPH07263473A (en) 1994-03-18 1994-03-18 Semiconductor molding machine

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07263473A true JPH07263473A (en) 1995-10-13

Family

ID=12792984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4806694A Pending JPH07263473A (en) 1994-03-18 1994-03-18 Semiconductor molding machine

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07263473A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010247429A (en) * 2009-04-15 2010-11-04 Apic Yamada Corp Resin sealing apparatus and resin sealing method using the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010247429A (en) * 2009-04-15 2010-11-04 Apic Yamada Corp Resin sealing apparatus and resin sealing method using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU651765B2 (en) Cooling apparatus for electronic elements
JP5614542B2 (en) Motor control device
US6408935B1 (en) Heat sink assembly with over-molded cooling fins
JP4627357B2 (en) Cooling device for electronic devices
KR20090004836A (en) Heat transfer member, protruding structural member, electronic device, and electric product
JPS63153343A (en) Control-module cooling device
US11258225B2 (en) Laser oscillator with enhanced dehumidification function
JPH07263473A (en) Semiconductor molding machine
JP6818558B2 (en) Outdoor unit of air conditioner
US6481493B1 (en) Arrangement for heat discharge, particularly for ultrasonic transducers with high performance
JP2000164773A (en) Radiator
JP3077575B2 (en) Heat sink cooling device
US6524067B1 (en) Airflow-guiding fan guard
JPH0692226A (en) Control device for vehicle
JPS6034839B2 (en) Cooling structure for electrical equipment
JP2018148188A (en) Cooling device
JP2667499B2 (en) Plastic package for semiconductor
JPS6134091Y2 (en)
KR19990042528A (en) Semiconductor Package Test Device
US11956926B2 (en) Outdoor unit
JP2003525525A (en) Cooling system
JP2020066648A (en) Thermal conductive composite material and heat release sheet
JPH0465864A (en) Heat sink
JPH09186274A (en) Device for cooling switching power integrated circuit for inverter
JPH0752794B2 (en) Cooling system