JPH07262564A - Information reproducing device - Google Patents

Information reproducing device

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JPH07262564A
JPH07262564A JP5417394A JP5417394A JPH07262564A JP H07262564 A JPH07262564 A JP H07262564A JP 5417394 A JP5417394 A JP 5417394A JP 5417394 A JP5417394 A JP 5417394A JP H07262564 A JPH07262564 A JP H07262564A
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JP
Japan
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signal
slice level
circuit
edge
information
Prior art date
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Application number
JP5417394A
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Japanese (ja)
Inventor
Sueo Ueno
末男 上野
Masafumi Yokota
雅史 横田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To set the slice level exactly following up the fluctuation in the amplitude of a reproduced signal by adjusting the slice level at which the reproduced signal is binarized by a comparator circuit in accordance with a relative positional relation between the transition range of the reproduced signal and the edge of a binarilization signal. CONSTITUTION:The reproduced signal by an optical head 2 is binarized by the slice level in the comparator circuit 5 through a binarization preprocessing circuit 4 of an information reproduction processing circuit 10. Simultaneously, the output of the circuit 4 is converted by a one-stage differentiating circuit 6 to a differential signal, which is then supplied to a comparator circuit 7. This comparator circuit forms an edge mask signal. The edge of the binarization signal is detected by an edge detecting circuit 8 and the slice level of the circuit 5 is adjusted in accordance with the relative positional relation between the transition range of the reproduced signal from a head 2 and the edge of the binary signal by a slice level control circuit 9. As a result, the slice level exactly following up the fluctuation ion the amplitude of the reproduced signal is set.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、マーク長記録方式で記
録媒体に記録された情報を再生する情報再生装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information reproducing apparatus for reproducing information recorded on a recording medium by a mark length recording system.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば同期コードが記録されたプリアン
ブル部、およびこのプリアンブル部に続いて情報がマー
ク長記録方式により記録された情報部を有するような記
録媒体から情報を再生する場合、従来の情報再生装置は
ある一定の基準値を持つDC電圧レベルを2値化のスラ
イスレベルとする2値化準備を無信号領域で行い、プリ
アンブル部が現れてから同期コードの再生信号の平均値
を求め、これをスライスレベルとして再生信号振幅の中
心で2値化する。情報部では、変調符号に依存した再生
信号の振幅およびマークの長さの様々な変化に対処する
するため、2値化信号の立ち上がりおよび立ち下がりに
同期して得られるデータPLLのチャージ幅信号をフィ
ードバックすることにより再生信号振幅の中心からずれ
たスライスレベルを調整するスライスレベル制御を行な
う。このような技術は例えば特願平3−250668号
に提案される。
2. Description of the Related Art For example, when reproducing information from a recording medium having a preamble portion in which a synchronization code is recorded, and an information portion in which information is recorded by the mark length recording method following the preamble portion, conventional information is reproduced. The reproducing apparatus performs a binarization preparation in which a DC voltage level having a certain reference value is used as a binarization slice level in a no-signal area, and obtains an average value of the reproduced signals of the sync code after the preamble portion appears. This is used as a slice level and binarized at the center of the reproduced signal amplitude. In the information section, in order to cope with various changes in the amplitude of the reproduction signal and the length of the mark depending on the modulation code, the charge width signal of the data PLL obtained in synchronization with the rising and falling edges of the binarized signal is used. By feedback, slice level control is performed to adjust the slice level deviated from the center of the reproduced signal amplitude. Such a technique is proposed in, for example, Japanese Patent Application No. 3-250668.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、データPL
Lのチャージ幅信号は2値化信号のエッジとセルフクロ
ックのエッジとの位相差により発生される。再生信号の
バーストエラー等があると、図5に示すように信号振幅
が段階的に小さくなって無くなり、しばらく無信号状態
が続き再び信号が現れて、信号振幅が段階的に大きくな
り元の信号振幅の大きさに戻る。図5に示す無信号状態
A2では、スライスレベルが一定の基準値を持つDC電
圧レベルとなる。しかし、再び信号が現れた状態A3と
なった後、スライスレベルが再生信号振幅の中心bにな
らず、セルフクロックの周期の整数倍の位置aまたはc
になるところでPLLがロックされてしまい、それ以降
再生信号の2値化に全て失敗する恐れがある。また、デ
ータPLL回路と2値化回路をループ回路とする必要性
から、データ信号が高速化した場合にスライスレベルの
遅延によって2値化信号のジッタが増加することが懸念
される。本発明の目的は記録媒体から得られる再生信号
の振幅変動に性格に追従したスライスレベルを設定でき
る情報再生装置を提供することにある。
By the way, the data PL
The L charge width signal is generated by the phase difference between the edge of the binarized signal and the edge of the self clock. If there is a burst error in the reproduced signal, the signal amplitude gradually decreases and disappears as shown in FIG. 5, and the signal remains for a while and a signal appears again, and the signal amplitude gradually increases and the original signal increases. Return to amplitude magnitude. In the no-signal state A2 shown in FIG. 5, the slice level becomes a DC voltage level having a constant reference value. However, after the state A3 in which the signal appears again, the slice level does not become the center b of the reproduced signal amplitude and the position a or c that is an integral multiple of the cycle of the self-clock.
At that point, the PLL is locked, and thereafter, the binarization of the reproduction signal may fail. Further, since it is necessary to use the data PLL circuit and the binarization circuit as a loop circuit, there is a concern that the jitter of the binarized signal may increase due to the delay of the slice level when the speed of the data signal increases. It is an object of the present invention to provide an information reproducing apparatus capable of setting a slice level that personally follows the amplitude fluctuation of a reproduced signal obtained from a recording medium.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、記録媒
体に記録された情報を検出する情報検出手段と、この情
報検出手段から得られた再生信号をスライスレベルで2
値化する2値化手段と、前記情報検出手段から得られた
再生信号の遷移範囲と前記2値化手段から得られた2値
化信号のエッジとの相対的な位置関係に基づいて前記ス
ライスレベルを調整するスライスレベル制御手段とを具
備したことを特徴とする情報再生装置が提供される。
According to the present invention, an information detecting means for detecting information recorded on a recording medium and a reproduction signal obtained from the information detecting means at a slice level
The slice based on the binarizing means for binarizing, the relative positional relationship between the transition range of the reproduced signal obtained from the information detecting means and the edge of the binarized signal obtained from the binarizing means. There is provided an information reproducing apparatus characterized by comprising slice level control means for adjusting the level.

【0005】また、本発明によれば、前記スライスレベ
ル制御手段は前記情報検出手段から得られた再生信号を
微分する微分手段と、この微分手段から得られた微分信
号において前記再生信号の遷移基準点を検出する遷移検
出手段と、この遷移検出手段から得られた再生信号の遷
移基準点と前記2値化信号のエッジとの誤差を検出する
エッジ誤差検出手段と、このエッジ誤差検出手段から得
られる誤差信号の変化に応じて前記スライスレベルの調
整量を決定する決定手段を含むことを特徴とする情報再
生装置が提供される。
Further, according to the present invention, the slice level control means differentiates the reproduction signal obtained from the information detecting means, and the transition reference of the reproduction signal in the differentiation signal obtained from the differentiation means. A transition detecting means for detecting a point, an edge error detecting means for detecting an error between a transition reference point of the reproduction signal obtained from the transition detecting means and an edge of the binarized signal, and an edge error detecting means. An information reproducing apparatus is provided, which includes a determining unit that determines an adjustment amount of the slice level according to a change in an error signal that is generated.

【0006】さらに、本発明によれば、前記エッジ誤差
検出手段は前記微分信号が第1所定レベルよりも低下す
る期間に対応するパルス幅の第1検出信号を正論理で生
成する立ち上がり検出手段と、前記微分信号が第2所定
レベルを越えて上昇する期間に対応するパルス幅の第2
検出信号を前記正論理で生成する立ち下がり検出手段を
含み、前記2値化手段は前記2値化信号を正論理および
負論理で生成する信号発生手段を含み、前記決定手段は
前記正論理の第1検出信号および正論理の前記2値化信
号との論理積を前記再生信号の立ち上がり誤差信号とし
て求めるアンドゲート手段と、前記正論理の第2の検出
信号および負論理の前記2値化信号との論理積の反転信
号を前記再生信号の立ち下がり誤差信号として求めるナ
ンドゲート手段と、前記立ち上がり誤差信号および立ち
下がり誤差信号のパルス幅の差に応じて基準レベルから
変化する信号を前記2値化手段にフィードバックするフ
ィードバック手段を含むことを特徴とする情報再生装置
が提供される。
Further, according to the present invention, the edge error detecting means is a rising edge detecting means for generating, in positive logic, a first detection signal having a pulse width corresponding to a period in which the differential signal falls below a first predetermined level. , A second pulse width corresponding to a period during which the differential signal rises above a second predetermined level.
Falling detecting means for generating a detection signal in the positive logic is included, the binarizing means includes signal generating means for generating the binarizing signal in positive logic and negative logic, and the determining means is of the positive logic. AND gate means for obtaining a logical product of the first detection signal and the positive logic binary signal as a rising error signal of the reproduction signal, the positive logic second detection signal, and the negative logic binary signal. NAND gate means for obtaining an inverted signal of the logical product of the above as a falling error signal of the reproduction signal, and a signal which changes from a reference level in accordance with the difference in pulse width between the rising error signal and the falling error signal is binarized. There is provided an information reproducing apparatus characterized by including feedback means for feeding back to the means.

【0007】[0007]

【作用】本発明によれば、記録媒体から得られる再生信
号を2値化する際に基準となるスライスレベルが情報検
出手段から得られた再生信号の遷移範囲と2値化手段か
ら得られた2値化信号のエッジとの相対的な位置関係に
基づいて調整される。このため、スライスレベルをこの
再生信号の振幅変動に正確に追従させることが可能とな
る。
According to the present invention, the slice level serving as a reference when the reproduced signal obtained from the recording medium is binarized is obtained from the transition range of the reproduced signal obtained from the information detecting means and the binarizing means. It is adjusted based on the relative positional relationship with the edge of the binarized signal. Therefore, the slice level can accurately follow the amplitude fluctuation of the reproduction signal.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。図1はこの情報記録再生装置としての光ディス
ク装置の構成を概略的に示す。この光ディスク装置は、
ドーナツ形の金属被膜層が例えばガラスあるいはプラス
チックス材からなる円形基板の表面にコーティングされ
た光ディスク1を記録媒体として用いる。情報はこの光
ディスク1上に同心円状またはスパイラル状に形成され
たトラックに沿って記録される。このトラックは、基準
マークを「0」として「0〜255」の256セクタに
位置付けられている。この光ディスク1上には、情報が
記録される一定長のブロックが複数用意され、各ブロッ
クは光ディスク1上の位置によって対応するセクタ数が
異なっている。可変長の情報は複数のブロックにまたが
って記録される。各ブロックの開始位置には、同期コー
ドなどの固定コード、ブロック番号、トラック番号など
からなるブロックヘッダ(ヘッダ情報:プリアンブル
部)が記録されている。同期コードは、ビット周期より
長くセクタ周期より短い一定周期のもので、数ビットの
同期パターンで構成されている。上述のブロックヘッダ
は製造時にあらかじめ記録されている。このブロックヘ
ッダに続くエリア(情報部)に実質的な情報が記録され
る。また、各ブロックがセクタの切り換え位置に対応し
て終了しない場合、ブロックギャップを設け、各ブロッ
クがかならずセクタの切り換え位置に対応した位置から
始まる。固定コードとしては、ピットの幅と、ピットと
ピットの間の長さとが、1対1の比率(デューティ比5
0%)のものが用いられている。また、その比率が1対
n(n=2,3,…)のものを用いるようにしても良
い。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 schematically shows the configuration of an optical disc device as the information recording / reproducing device. This optical disc device
The optical disk 1 in which a donut-shaped metal coating layer is coated on the surface of a circular substrate made of, for example, glass or plastics material is used as a recording medium. Information is recorded on the optical disc 1 along tracks formed concentrically or spirally. This track is located in 256 sectors of "0 to 255" with the reference mark of "0". A plurality of blocks of fixed length on which information is recorded are prepared on the optical disc 1, and the number of sectors corresponding to each block differs depending on the position on the optical disc 1. Variable length information is recorded across multiple blocks. At the start position of each block, a block header (header information: preamble portion) including a fixed code such as a synchronization code, a block number, and a track number is recorded. The synchronization code has a fixed period longer than the bit period and shorter than the sector period, and is composed of a synchronization pattern of several bits. The block header described above is recorded in advance at the time of manufacture. Substantial information is recorded in the area (information section) following the block header. If each block does not end corresponding to the sector switching position, a block gap is provided and each block always starts from the position corresponding to the sector switching position. As a fixed code, the width of the pit and the length between the pits have a 1: 1 ratio (duty ratio 5
0%) is used. Alternatively, a ratio of 1 to n (n = 2, 3, ...) May be used.

【0009】図1に示すように、このような光ディスク
1は情報の記録および再生を行なう際にスピンドルモー
タ12に装着され、このスピンドルモータ12により所
定の回転数で回転される。光ディスク1の下面側には、
光学ヘッド2が情報の記録および再生において光ディス
ク1をアクセスするために配設されている。この光学ヘ
ッド2は、例えば半導体レーザ発振器、コリメータレン
ズ、ビームスプリッタ、対物レンズ、非点収差光学系、
光検出器、およびレンズアクチュエータ等により構成さ
れた周知のものである。この光学ヘッド2は、例えばリ
ニアモータ等によって構成される移動機構(図示しな
い)により光ディスク1の半径方向に移動可能に配設さ
れている。光学ヘッド2は制御回路(図示しない)から
の指示に従って記録あるいは再生の対象となる目標トラ
ックヘ移動される。
As shown in FIG. 1, such an optical disc 1 is mounted on a spindle motor 12 when recording and reproducing information, and is rotated at a predetermined rotation speed by the spindle motor 12. On the lower surface side of the optical disc 1,
An optical head 2 is arranged to access the optical disc 1 in recording and reproducing information. The optical head 2 includes, for example, a semiconductor laser oscillator, a collimator lens, a beam splitter, an objective lens, an astigmatism optical system,
It is a well-known one composed of a photodetector, a lens actuator and the like. The optical head 2 is arranged so as to be movable in the radial direction of the optical disc 1 by a moving mechanism (not shown) composed of, for example, a linear motor. The optical head 2 is moved to a target track for recording or reproduction according to an instruction from a control circuit (not shown).

【0010】上述の半導体レーザ発振器は、光ディスク
1にマーク長記録方式で情報を記録する際、光強度が記
録すべき情報に応じて変調されたレーザ光を発生し、光
ディスク1から情報を再生する際、光強度が一定に設定
されたレーザ光を発生する。光検出器は光ディスク1で
反射されたレーザ光を検出し、その強さに応じたアナロ
グ電流を出力する。光学ヘッド2はこの光検出器から出
力される電流を再生信号として情報再生処理回路10に
供給する。情報再生処理回路10は、光学ヘッド2から
供給される再生信号に応じた再生2値化信号を生成する
回路である。情報再生処理回路10は、I−V変換回路
3、2値化前処理回路4、第1比較回路5、1階微分回
路6、第2比較回路7、エッジ検出回路8、スライスレ
ベル制御回路9によって構成されている。
When the information is recorded on the optical disc 1 by the mark length recording method, the above-mentioned semiconductor laser oscillator generates laser light whose light intensity is modulated according to the information to be recorded, and reproduces the information from the optical disc 1. At this time, a laser beam having a constant light intensity is generated. The photodetector detects the laser beam reflected by the optical disc 1 and outputs an analog current according to its intensity. The optical head 2 supplies the current output from the photodetector to the information reproduction processing circuit 10 as a reproduction signal. The information reproduction processing circuit 10 is a circuit that generates a reproduction binarized signal according to a reproduction signal supplied from the optical head 2. The information reproduction processing circuit 10 includes an IV conversion circuit 3, a binarization preprocessing circuit 4, a first comparison circuit 5, a first-order differentiation circuit 6, a second comparison circuit 7, an edge detection circuit 8, and a slice level control circuit 9. It is composed by.

【0011】I−V変換回路3は、光学ヘッド2から供
給される再生信号の電流を電圧に変換する。2値化前処
理回路4は、I−V変換回路3から供給されたアナログ
電圧の再生信号を、2値化に必要な信号振幅に増幅す
る。第1比較回路5は2値化前処理回路4から供給され
た再生信号を、スライスレベル制御回路9から供給され
たスライスレベルコントロール信号と電圧比較すること
により2値化を行ない、その結果を再生2値化信号(す
なわち情報信号)として出力する。1階微分回路6は、
2値化前処理回路4から送られてきた再生信号を微分信
号に変換する。この微分信号は再生信号が立ち上がる遷
移点で中間レベルから低いレベルに一時的に変化し、再
生信号が立ち下がる遷移点で中間レベルより高いレベル
に一時的に変化する。第2比較回路7は、1階微分回路
6で生成された微分信号からエッジマスク信号を生成す
る。エッジ検出回路8は、第1比較回路5で得られた再
生2値化信号(情報信号)と第2比較回路7で得られた
エッジマスク信号との位相差を検出しこの差に応じたエ
ッジ誤差信号を生成する。スライスレベル制御回路9は
エッジ検出回路8で得られたエッジ誤差信号からスライ
スレベルコントロール信号を生成し、このスライスレベ
ルコントロール信号を第1比較回路5ヘ供給する。
The IV conversion circuit 3 converts the current of the reproduction signal supplied from the optical head 2 into a voltage. The binarization preprocessing circuit 4 amplifies the reproduction signal of the analog voltage supplied from the IV conversion circuit 3 to a signal amplitude required for binarization. The first comparison circuit 5 performs binarization by comparing the reproduction signal supplied from the binarization preprocessing circuit 4 with the slice level control signal supplied from the slice level control circuit 9, and reproduces the result. It is output as a binary signal (that is, an information signal). The first-order differentiation circuit 6
The reproduction signal sent from the binarization preprocessing circuit 4 is converted into a differential signal. This differential signal temporarily changes from the intermediate level to a low level at the transition point where the reproduction signal rises, and temporarily changes to a level higher than the intermediate level at the transition point where the reproduction signal falls. The second comparison circuit 7 generates an edge mask signal from the differential signal generated by the first-order differentiation circuit 6. The edge detection circuit 8 detects a phase difference between the reproduced binarized signal (information signal) obtained by the first comparison circuit 5 and the edge mask signal obtained by the second comparison circuit 7 and detects an edge corresponding to this difference. Generate an error signal. The slice level control circuit 9 generates a slice level control signal from the edge error signal obtained by the edge detection circuit 8 and supplies this slice level control signal to the first comparison circuit 5.

【0012】図2は、図1に示す情報再生処理回路の構
成をさらに詳細に示す。I−V変換回路1は、オペアン
プOP1と抵抗R1によって構成されており、光学ヘッ
ド2からの再生信号の電流値と抵抗R1の抵抗値によっ
て決まる電圧値の再生信号をを出力する。2値化前処理
回路2は、オペアンプOP2と抵抗R2およびR3によ
って構成されており、抵抗R2,R3によって決まる増
幅度で再生信号を増幅し、2値化および微分に適した電
圧振幅にする。第1比較回路5は2値化前処理回路4で
増幅された再生信号(アナログ信号)と、スライスレベ
ル制御回路9から出力されたスライスレベルコントロー
ル信号とを電圧比較することにより2値化を行い、その
結果を再生2値化信号として反転および非反転形式で出
力するコンパレータCMP1で構成される。
FIG. 2 shows the configuration of the information reproduction processing circuit shown in FIG. 1 in more detail. The IV conversion circuit 1 is composed of an operational amplifier OP1 and a resistor R1, and outputs a reproduction signal having a voltage value determined by the current value of the reproduction signal from the optical head 2 and the resistance value of the resistor R1. The binarization preprocessing circuit 2 is composed of an operational amplifier OP2 and resistors R2 and R3, and amplifies the reproduction signal with an amplification degree determined by the resistors R2 and R3 to make a voltage amplitude suitable for binarization and differentiation. The first comparison circuit 5 binarizes the reproduced signal (analog signal) amplified by the binarization preprocessing circuit 4 and the slice level control signal output from the slice level control circuit 9 by voltage comparison. , And a comparator CMP1 that outputs the result as a reproduced binary signal in inverted and non-inverted form.

【0013】1階微分回路6は、オペアンプOP3、抵
抗R4、およびコンデンサC1によって構成されてお
り、微分の特性はC1とR4の時定数により決定され、
この時定数は再生信号の周波数特性によって決まる。第
2比較回路7は、1階微分回路6の微分出力信号をスラ
イスレベルSL2として供給される直流基準電圧Vre
f1と比較し、再生信号の立ち下がり部のエッジマスク
信号を出力するコンパレータCMP2と、1階微分回路
6の微分出力信号をスライスレベルSL3として供給さ
れる直流基準電圧Vref3と比較し、再生信号の立ち
上がりエッジマスク信号を出力するコンパレータCMP
3とで構成される。
The first-order differentiating circuit 6 is composed of an operational amplifier OP3, a resistor R4, and a capacitor C1, and the differential characteristic is determined by the time constants of C1 and R4.
This time constant is determined by the frequency characteristic of the reproduced signal. The second comparison circuit 7 is supplied with the differential output signal of the first-order differentiating circuit 6 as the slice level SL2 and is supplied with the DC reference voltage Vre.
Comparing with f1, the comparator CMP2 which outputs the edge mask signal of the falling portion of the reproduction signal and the differential output signal of the first-order differentiation circuit 6 are compared with the DC reference voltage Vref3 supplied as the slice level SL3, Comparator CMP that outputs rising edge mask signal
3 and 3.

【0014】エッジ検出回路8は、コンパレータCMP
1の供給される非反転再生2値化信号およびコンパレー
タCMP3の供給される再生信号の立ち上がりエッジマ
スク信号から立ち上がりのエッジ誤差信号を生成するア
ンドゲート回路AND、コンパレータCMP1から供給
される反転再生2値化信号およびコンパレータCMP2
から供給される再生信号の立ち下がりエッジマスク信号
から立ち下がりのエッジ誤差信号を生成するナンドゲー
ト回路NANDで構成される。
The edge detection circuit 8 includes a comparator CMP.
An AND gate circuit AND for generating a rising edge error signal from a rising edge mask signal of the non-inverted reproduction binary signal supplied by 1 and the reproduction signal supplied by the comparator CMP3, and an inverted reproduction binary value supplied by the comparator CMP1. Signal and comparator CMP2
The NAND gate circuit NAND generates a falling edge error signal from the falling edge mask signal of the reproduction signal supplied from the.

【0015】スライスレベル制御回路9はオペアンプO
P4、コンデンサC2、抵抗R5、基準電圧Vref3
(=2.5V)、ならびにダイオードD1およびD2で
構成される。エッジ検出回路8のエッジ誤差信号はダイ
オードD1、D2を通してスライスレベル制御回路9の
オペアンプOP4に入力される。このエッジ誤差信号は
再生信号の立上がりおよび立ち下がり部で互いに相殺し
合う関係にある。このため、抵抗R5とコンデンサC2
によって平滑化されたあとのオペアンプ(OP4)の出
力は、基準電圧(Vref3)と同じく2.5Vとな
る。この回路は再生信号の立上がりおよび立ち下がり部
のエッジ誤差信号の平滑、平均化して基準電圧(Vre
f3)を基準としたスライスレベルを出力するものであ
り、このスライスレベルは第1比較回路5に出力する。
The slice level control circuit 9 is an operational amplifier O
P4, capacitor C2, resistor R5, reference voltage Vref3
(= 2.5V), and diodes D1 and D2. The edge error signal of the edge detection circuit 8 is input to the operational amplifier OP4 of the slice level control circuit 9 through the diodes D1 and D2. The edge error signals cancel each other at the rising and falling portions of the reproduced signal. Therefore, the resistor R5 and the capacitor C2
The output of the operational amplifier (OP4) after being smoothed by is the same as the reference voltage (Vref3) at 2.5V. This circuit smoothes and averages the edge error signal at the rising and falling portions of the reproduction signal and averages the reference voltage (Vre
The slice level based on f3) is output, and this slice level is output to the first comparison circuit 5.

【0016】次に、この光ディスク装置で行われるスラ
イスレベルの制御について説明する。図3はスライスレ
ベルが再生信号振幅の中央に設定された場合に得られる
波形を示す。
Next, the slice level control performed by this optical disk device will be described. FIG. 3 shows a waveform obtained when the slice level is set at the center of the reproduced signal amplitude.

【0017】光学ヘッド2からの再生信号はI−V変換
回路3で電流−電圧変換され、図3の(a)に示す波形
となる。比較回路5はこの再生信号の電圧レベルをスラ
イスレベル制御回路9により設定されるスライスレベル
SL1と比較し、図3の(b)および(c)に示す適正
な2値化信号1および2値化信号2を生成する。2値化
信号1は比較回路5の非反転出力端から得られる信号で
あり、2値化信号2は比較回路5の反転出力端から得ら
れる信号である。
The reproduced signal from the optical head 2 is current-voltage converted by the IV conversion circuit 3 and has a waveform shown in FIG. The comparison circuit 5 compares the voltage level of the reproduction signal with the slice level SL1 set by the slice level control circuit 9, and outputs the proper binary signals 1 and 2 shown in (b) and (c) of FIG. Generate signal 2. The binarized signal 1 is a signal obtained from the non-inverted output end of the comparison circuit 5, and the binarized signal 2 is a signal obtained from the inverted output end of the comparison circuit 5.

【0018】1階微分回路6は図3の(a)に示す再生
信号から図3の(d)に示す微分信号を生成し、この微
分信号を比較回路7に供給する。比較回路7では、コン
パレータCMP2がこの微分信号をスライスレベルSL
2の電圧Vref1と比較することにより図3の(f)
に示すエッジマスク信号2を生成し、コンパレータCM
P3がこの微分信号をスライスレベルSL3の電圧Vr
ef2と比較することにより図3の(e)に示すエッジ
マスク信号1を生成する。エッジマスク信号1は2値化
信号1の立上がりエッジ部をマスクするために用いら
れ、エッジマスク信号2は2値化信号1の立下がりエッ
ジ部をマスクするために用いられる。このため、2値化
信号1およびエッジマスク信号1がエッジ検出回路8の
アンドゲート回路ANDに供給され、2値化信号2とエ
ッジマスク信号2がエッジ検出回路8のナンドゲート回
路NANDに供給される。アンドゲート回路ANDは図
3の(g)に示すエッジ誤差信号1を出力し、ナンドゲ
ート回路NANDは図3の(h)に示すエッジ誤差信号
2を出力する。
The first-order differentiation circuit 6 generates a differentiation signal shown in FIG. 3D from the reproduction signal shown in FIG. 3A, and supplies this differentiation signal to the comparison circuit 7. In the comparison circuit 7, the comparator CMP2 outputs this differential signal to the slice level SL.
2 (f) by comparing with the voltage Vref1 of FIG.
The edge mask signal 2 shown in FIG.
P3 uses this differential signal as the voltage Vr of the slice level SL3.
The edge mask signal 1 shown in (e) of FIG. 3 is generated by comparing with ef2. The edge mask signal 1 is used to mask the rising edge portion of the binarized signal 1, and the edge mask signal 2 is used to mask the falling edge portion of the binarized signal 1. Therefore, the binarized signal 1 and the edge mask signal 1 are supplied to the AND gate circuit AND of the edge detection circuit 8, and the binarized signal 2 and the edge mask signal 2 are supplied to the NAND gate circuit NAND of the edge detection circuit 8. . The AND gate circuit AND outputs the edge error signal 1 shown in (g) of FIG. 3, and the NAND gate circuit NAND outputs the edge error signal 2 shown in (h) of FIG.

【0019】スライスレベル制御回路9において、図2
に示すP点の電圧はイマジナリショートによってオペア
ンプOP4の基準電圧Vref3に等しい2.5Vとな
る。ここでエッジ誤差信号1および2はそれぞれダイオ
ードD1およびD2を介して合成されると、図3の
(i)に示すように2.5Vを中心に上下するパルスが
オペアンプOP4の入力抵抗R5の手前のi点にスライ
スレベルコントロール信号として得られる。このスライ
スレベルコントロール信号は抵抗R5およびコンデンサ
C2によって平滑化され、比較回路5に供給される。ス
ライスレベルSL1が図3の(a)に示す再生信号を適
切に2値化し得る信号振幅の中央に設定されている場
合、エッジ誤差信号1のパルス幅とエッジ誤差信号2の
パルス幅とはほぼ同じとなって、スライスレベルSL1
は変化しない。
In the slice level control circuit 9, FIG.
The voltage at the point P shown in (2) becomes 2.5V which is equal to the reference voltage Vref3 of the operational amplifier OP4 due to the imaginary short circuit. Here, when the edge error signals 1 and 2 are combined via the diodes D1 and D2, respectively, a pulse that rises and falls around 2.5 V as shown in FIG. 3 (i) is in front of the input resistor R5 of the operational amplifier OP4. It is obtained as a slice level control signal at point i. The slice level control signal is smoothed by the resistor R5 and the capacitor C2 and supplied to the comparison circuit 5. When the slice level SL1 is set at the center of the signal amplitude capable of appropriately binarizing the reproduction signal shown in FIG. 3A, the pulse width of the edge error signal 1 and the pulse width of the edge error signal 2 are almost equal to each other. Same, slice level SL1
Does not change.

【0020】他方、図4はスライスレベルが再生信号振
幅の中央からずれて設定された場合に得られる波形を示
す。光学ヘッド2からの再生信号はI−V変換回路3で
電流−電圧変換され、図4の(a)に示すように図3の
(a)と同様の波形となる。比較回路5はこの再生信号
の電圧レベルをスライスレベル制御回路9により設定さ
れるスライスレベルSL1と比較し、図3を参照して説
明した2値化信号1および2値化信号2を生成する。こ
の2値化信号1は図4の(b)に示される。この図にお
いて、SIG1はスライスレベルSL1が再生信号振幅
の中央に設定された場合に得られる2値化信号1を表
し、SIG2はスライスレベルSL1が再生信号振幅の
中央より高く設定された場合に得られる2値化信号1を
表し、SIG3はスライスレベルSL1が再生信号振幅
の中央より低く設定された場合に得られる2値化信号1
を表す。2値化信号2(図示しない)はこれらSIG1
−SIG3の反転信号として生成される。
On the other hand, FIG. 4 shows a waveform obtained when the slice level is set so as to deviate from the center of the reproduction signal amplitude. The reproduced signal from the optical head 2 is current-voltage converted by the IV conversion circuit 3, and has a waveform similar to that of FIG. 3A as shown in FIG. The comparison circuit 5 compares the voltage level of the reproduction signal with the slice level SL1 set by the slice level control circuit 9 to generate the binarized signal 1 and the binarized signal 2 described with reference to FIG. This binarized signal 1 is shown in FIG. In this figure, SIG1 represents the binarized signal 1 obtained when the slice level SL1 is set at the center of the reproduction signal amplitude, and SIG2 is obtained when the slice level SL1 is set higher than the center of the reproduction signal amplitude. SIG3 is a binary signal 1 obtained when the slice level SL1 is set lower than the center of the reproduction signal amplitude.
Represents The binarized signal 2 (not shown) is the SIG1
It is generated as an inverted signal of -SIG3.

【0021】1階微分回路6は図4の(a)に示す再生
信号から図4の(d)に示すように図3の(d)と同様
の微分信号を生成し、これを比較回路7に供給する。比
較回路7では、コンパレータCMP2がこの微分信号を
スライスレベルSL2の電圧Vref1と比較すること
により図4の(f)に示すエッジマスク信号2を生成
し、コンパレータCMP3がこの微分信号をスライスレ
ベルSL3の電圧Vref2と比較することにより図4
の(e)に示すエッジマスク信号1を生成する。
The first-order differential circuit 6 generates a differential signal similar to that shown in FIG. 3D from the reproduced signal shown in FIG. 4A, as shown in FIG. Supply to. In the comparison circuit 7, the comparator CMP2 compares the differential signal with the voltage Vref1 of the slice level SL2 to generate the edge mask signal 2 shown in (f) of FIG. 4, and the comparator CMP3 converts the differential signal of the slice level SL3. By comparing with the voltage Vref2, FIG.
The edge mask signal 1 shown in (e) is generated.

【0022】スライスレベルSL1が再生信号振幅の中
央より低く設定されている場合、アンドゲート回路AN
Dは図3の(g)に示すものよりも広いパルス幅のエッ
ジ誤差信号1を図4の(g)に示すように出力し、ナン
ドゲート回路NANDは図3の(h)に示すものよりも
狭いパルス幅のエッジ誤差信号2を図4の(h)に示す
ように出力する。このとき、スライスレベル制御回路9
では、図4の(i)の上段に示すスライスレベルコント
ロール信号が入力抵抗R5の手前のi点において得られ
る。このスライスレベルコントロール信号は抵抗R5お
よびコンデンサC2によって平滑化されることにより
2.5Vより高いSCAv1に設定される。この結果、
スライスレベルSL1は上昇し、再生信号信号振幅の中
央で安定する。
When the slice level SL1 is set lower than the center of the reproduction signal amplitude, the AND gate circuit AN
D outputs an edge error signal 1 having a pulse width wider than that shown in FIG. 3G, as shown in FIG. 4G, and the NAND gate circuit NAND has a pulse width larger than that shown in FIG. The edge error signal 2 having a narrow pulse width is output as shown in FIG. At this time, the slice level control circuit 9
Then, the slice level control signal shown in the upper part of (i) of FIG. 4 is obtained at point i before the input resistor R5. This slice level control signal is set to SCAv1 higher than 2.5V by being smoothed by the resistor R5 and the capacitor C2. As a result,
The slice level SL1 rises and stabilizes at the center of the reproduced signal signal amplitude.

【0023】また、スライスレベルSL1が再生信号振
幅の中央より高く設定されている場合、アンドゲート回
路ANDは図3の(g)に示すものよりも狭いパルス幅
のエッジ誤差信号1を出力し、ナンドゲート回路NAN
Dは図3の(h)に示すものよりも広いパルス幅のエッ
ジ誤差信号2を出力する。このとき、スライスレベル制
御回路9では、図4の(i)の下段に示すスライスレベ
ルコントロール信号が入力抵抗R5の手前のi点におい
て得られる。このスライスレベルコントロール信号は抵
抗R5およびコンデンサC2によって平滑化されること
により2.5Vよりも低いSCAv2に設定される。こ
の結果、スライスレベルSL1は下降し、再生信号信号
振幅の中央で安定する。
When the slice level SL1 is set higher than the center of the reproduction signal amplitude, the AND gate circuit AND outputs the edge error signal 1 having a pulse width narrower than that shown in (g) of FIG. NAND gate circuit NAN
D outputs an edge error signal 2 having a pulse width wider than that shown in FIG. At this time, in the slice level control circuit 9, the slice level control signal shown in the lower part of (i) of FIG. 4 is obtained at point i before the input resistor R5. The slice level control signal is smoothed by the resistor R5 and the capacitor C2, and thus set to SCAv2 lower than 2.5V. As a result, the slice level SL1 drops and stabilizes at the center of the reproduced signal signal amplitude.

【0024】上述した実施例では、同期コードが記録さ
れているプリアンブル部とマーク長記録方式により情報
が記録されている情報部とを有する記録媒体において、
情報部の記録情報としてのピットの幅と、ピットとピッ
トとの間の長さの正確な検出ができ、バーストエラーな
どをきっかけとする誤再生による大規模な伝搬エラーの
発生を、抑えることができる。
In the above-described embodiment, in the recording medium having the preamble part in which the synchronization code is recorded and the information part in which the information is recorded by the mark length recording method,
It is possible to accurately detect the width of the pit as the record information of the information section and the length between the pits, and to suppress the occurrence of large-scale propagation error due to erroneous reproduction triggered by burst error etc. it can.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、記録媒体から得られる
再生信号を2値化する際にこの再生信号の振幅変動に正
確に追従したスライスレベルを設定することが可能な情
報再生装置が提供される。
According to the present invention, there is provided an information reproducing apparatus capable of setting a slice level which accurately follows the amplitude fluctuation of the reproduced signal when the reproduced signal obtained from the recording medium is binarized. To be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る光ディスク装置の構成
を概略的に示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a configuration of an optical disc device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す情報再生処理回路をさらに詳細に示
す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing the information reproduction processing circuit shown in FIG. 1 in more detail.

【図3】図2に示す情報再生処理回路において再生信号
を2値化するスライスレベルが適切である場合に生成さ
れる様々な信号の波形を示すタイムチャートである。
3 is a time chart showing waveforms of various signals generated in the information reproduction processing circuit shown in FIG. 2 when a slice level for binarizing a reproduction signal is appropriate.

【図4】図2に示す情報再生処理回路において再生信号
を2値化するスライスレベルが適切でない場合に生成さ
れる様々な信号の波形を示すタイムチャートである。
4 is a time chart showing waveforms of various signals generated when the slice level for binarizing a reproduction signal is not appropriate in the information reproduction processing circuit shown in FIG.

【図5】従来の情報再生装置においてバーストエラーが
発生したときに誤って設定されるスライスレベルを説明
するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a slice level that is erroneously set when a burst error occurs in a conventional information reproducing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ディスク、2…光学ヘッド、3…I−V変換回
路、4…2値化前処理回路、5…第1比較回路、6…1
階微分回路、7…第2比較回路、8…エッジ検出回路、
9…スライスレベル制御回路、10…情報再生処理回
路。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical disk, 2 ... Optical head, 3 ... IV conversion circuit, 4 ... Binarization preprocessing circuit, 5 ... 1st comparison circuit, 6 ... 1
Second-order differentiation circuit, 7 ... Second comparison circuit, 8 ... Edge detection circuit,
9 ... Slice level control circuit, 10 ... Information reproduction processing circuit.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】記録媒体に記録された情報を検出する情報
検出手段と、 この情報検出手段から得られた再生信号をスライスレベ
ルで2値化する2値化手段と、 前記検出手段から得られた再生信号の遷移範囲と前記2
値化手段から得られた2値化信号のエッジとの相対的な
位置関係に基づいて前記スライスレベルを調整するスラ
イスレベル制御手段とを具備することを特徴とする情報
再生装置。
1. An information detecting means for detecting information recorded on a recording medium, a binarizing means for binarizing a reproduction signal obtained by the information detecting means at a slice level, and an information detecting means obtained by the detecting means. The transition range of the reproduced signal and the above 2
An information reproducing apparatus, comprising: a slice level control means for adjusting the slice level based on a relative positional relationship with an edge of a binarized signal obtained from the binarizing means.
【請求項2】前記スライスレベル制御手段は前記情報検
出手段から得られた再生信号を微分する微分手段と、 この微分手段から得られた微分信号において前記再生信
号の遷移基準点を検出する遷移検出手段と、 この遷移検出手段から得られた再生信号の遷移基準点と
前記2値化信号のエッジとの誤差を検出するエッジ誤差
検出手段と、 このエッジ誤差検出手段から得られる誤差信号の変化に
応じて前記スライスレベルの調整量を決定する決定手段
とを含むことを特徴とする請求項1に記載の情報再生装
置。
2. The slice level control means, differentiating means for differentiating the reproduction signal obtained from the information detecting means, and transition detection for detecting a transition reference point of the reproduction signal in the differential signal obtained from the differentiating means. Means, edge error detecting means for detecting an error between the transition reference point of the reproduction signal obtained from the transition detecting means and the edge of the binarized signal, and a change in the error signal obtained from the edge error detecting means. The information reproducing apparatus according to claim 1, further comprising: a determining unit that determines the adjustment amount of the slice level according to the determination.
【請求項3】前記エッジ誤差検出手段は前記微分信号が
第1所定レベルよりも低下する期間に対応するパルス幅
の第1検出信号を正論理で生成する立ち上がり検出手段
と、前記微分信号が第2所定レベルを越えて上昇する期
間に対応するパルス幅の第2検出信号を前記正論理で生
成する立ち下がり検出手段を含み、 前記2値化手段は前記2値化信号を正論理および負論理
で生成する信号発生手段を含み、 前記決定手段は前記正論理の第1検出信号および正論理
の前記2値化信号との論理積を前記再生信号の立ち上が
り誤差信号として求めるアンドゲート手段と、前記正論
理の第2の検出信号および負論理の前記2値化信号との
論理積の反転信号を前記再生信号の立ち下がり誤差信号
として求めるナンドゲート手段と、前記立ち上がり誤差
信号および立ち下がり誤差信号のパルス幅の差に応じて
基準レベルから変化する信号を前記2値化手段にフィー
ドバックするフィードバック手段を含むことを特徴とす
る請求項2に記載の情報再生装置。
3. The rising edge detecting means for positively generating a first detection signal having a pulse width corresponding to a period in which the differential signal falls below a first predetermined level, the edge error detecting means, and the differential signal 2: Falling detection means for generating, with the positive logic, a second detection signal having a pulse width corresponding to a period of rising above a predetermined level, and the binarization means converts the binarized signal into positive logic and negative logic. And AND gate means for obtaining a logical product of the positive logic first detection signal and the positive logic binarized signal as a rising error signal of the reproduction signal. NAND gate means for obtaining an inverted signal of the logical product of the positive logic second detection signal and the negative logic binarization signal as the falling error signal of the reproduction signal, and the rising error signal. And an information reproducing apparatus according to claim 2, characterized in that it comprises a feedback means for feeding back a signal that varies from a reference level to the binarizing means in accordance with the difference between the pulse width falling error signal.
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