JPH0723003A - 光反射試験器 - Google Patents
光反射試験器Info
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- JPH0723003A JPH0723003A JP16480093A JP16480093A JPH0723003A JP H0723003 A JPH0723003 A JP H0723003A JP 16480093 A JP16480093 A JP 16480093A JP 16480093 A JP16480093 A JP 16480093A JP H0723003 A JPH0723003 A JP H0723003A
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- light
- branching device
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- optical
- optical signal
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 インサービスで試験を行うことができる光反
射試験器を提供する。 【構成】 光源１からの周波数変調された光信号を第１
の分岐器３で二波に分岐し、この分岐された一方の光信
号を強度変調器４で変調し、この変調された光信号を第
２の分岐器９を通過させて伝送路８に入射させ、伝送路
８から逆方向に伝播して第２の分岐器９を通過した散乱
光と第１の分岐器３からの他方の光とを合波器５で合波
し、この合波された光信号を受光器１０で電気信号に変
換し、帯域フィルタで弁別し、加算平均している。
射試験器を提供する。 【構成】 光源１からの周波数変調された光信号を第１
の分岐器３で二波に分岐し、この分岐された一方の光信
号を強度変調器４で変調し、この変調された光信号を第
２の分岐器９を通過させて伝送路８に入射させ、伝送路
８から逆方向に伝播して第２の分岐器９を通過した散乱
光と第１の分岐器３からの他方の光とを合波器５で合波
し、この合波された光信号を受光器１０で電気信号に変
換し、帯域フィルタで弁別し、加算平均している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ通信システ
ムにおいて伝送路の状況を監視するための光反射試験器
に関する。
ムにおいて伝送路の状況を監視するための光反射試験器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】光増幅器の開発により伝送路が格段に拡
張された光通信システムの信頼性を高めるためには、局
所的な損失の増加等、光ファイバの状況をインサービス
状態で監視し、障害の発生を事前に予測し、それに対処
することが望まれる。しかし、従来の光反射試験器は障
害が発生した場合に、通信用光信号の送出を中止した状
態で探査用の光パルスを光ファイバ内に送出し、この光
パルスが光ファイバで発生する散乱光を受信することに
より、光ファイバの障害点を探査するアウトオブサービ
スでの使用を前提に開発されている。
張された光通信システムの信頼性を高めるためには、局
所的な損失の増加等、光ファイバの状況をインサービス
状態で監視し、障害の発生を事前に予測し、それに対処
することが望まれる。しかし、従来の光反射試験器は障
害が発生した場合に、通信用光信号の送出を中止した状
態で探査用の光パルスを光ファイバ内に送出し、この光
パルスが光ファイバで発生する散乱光を受信することに
より、光ファイバの障害点を探査するアウトオブサービ
スでの使用を前提に開発されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の光反射試験器は、光ファイバの障害点を探索するのに
アウトオブサービスで使用されるものであり、インサー
ビスで試験を行うことができないという問題がある。
の光反射試験器は、光ファイバの障害点を探索するのに
アウトオブサービスで使用されるものであり、インサー
ビスで試験を行うことができないという問題がある。
【０００４】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、インサービスで試験を行うこ
とができる光反射試験器を提供することにある。
その目的とするところは、インサービスで試験を行うこ
とができる光反射試験器を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の光反射試験器は、光源から周波数変調され
た光信号を発生させる手段と、前記光源からの光信号を
二波に分岐する第１の分岐器と、該第１の分岐器の第１
の出力端から出る光信号を変調する変調器と、該変調器
によって変調された光信号を通過させて伝送路に入射さ
せる第２の分岐器と、前記第１の分岐器の第２の出力端
から出る光と伝送路で発生し逆方向に伝播して、前記第
２の分岐器を通過した散乱光とを合波する光合波器と、
該光合波器で合波された光信号を電気信号に変換する受
光器と、該受光器からの電気信号を弁別する帯域フィル
タと、該帯域フィルタを通過した信号を加算平均する信
号処理回路とを有することを要旨とする。
め、本発明の光反射試験器は、光源から周波数変調され
た光信号を発生させる手段と、前記光源からの光信号を
二波に分岐する第１の分岐器と、該第１の分岐器の第１
の出力端から出る光信号を変調する変調器と、該変調器
によって変調された光信号を通過させて伝送路に入射さ
せる第２の分岐器と、前記第１の分岐器の第２の出力端
から出る光と伝送路で発生し逆方向に伝播して、前記第
２の分岐器を通過した散乱光とを合波する光合波器と、
該光合波器で合波された光信号を電気信号に変換する受
光器と、該受光器からの電気信号を弁別する帯域フィル
タと、該帯域フィルタを通過した信号を加算平均する信
号処理回路とを有することを要旨とする。
【０００６】また、本発明の光反射試験器は、光源から
周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記光源
からの光を変調する変調器と、該変調器により変調され
た光信号を通過させて伝送路に入射させる分岐器と、伝
送路で発生し逆方向に伝播して、前記分岐器を通過した
散乱光を弁別する光フィルタと、該光フィルタを透過し
た散乱光を電気信号に変換する受光器と、該受光器から
の電気信号の高周波成分を除去する低域透過フィルタ
と、前記高周波成分が除去された信号を加算平均する信
号処理回路とを有することを要旨とする。
周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記光源
からの光を変調する変調器と、該変調器により変調され
た光信号を通過させて伝送路に入射させる分岐器と、伝
送路で発生し逆方向に伝播して、前記分岐器を通過した
散乱光を弁別する光フィルタと、該光フィルタを透過し
た散乱光を電気信号に変換する受光器と、該受光器から
の電気信号の高周波成分を除去する低域透過フィルタ
と、前記高周波成分が除去された信号を加算平均する信
号処理回路とを有することを要旨とする。
【０００７】更に、本発明の光反射試験器は、光源から
周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記光源
からの光信号を二波に分岐する第１の分岐器と、該第１
の分岐器の第１の出力端から出る光信号を通過させて伝
送路に入射させる第２の分岐器と、前記第１の分岐器の
第２の出力端から出る光と伝送路で発生し逆方向に伝播
して、前記第２の分岐器を通過した散乱光とを合波する
光合波器と、該光合波器で合波された光信号を電気信号
に変換する受光器と、該受光器からの電気信号を弁別す
る帯域フィルタと、該帯域フィルタを通過した信号を加
算平均する信号処理回路とを有することを要旨とする。
周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記光源
からの光信号を二波に分岐する第１の分岐器と、該第１
の分岐器の第１の出力端から出る光信号を通過させて伝
送路に入射させる第２の分岐器と、前記第１の分岐器の
第２の出力端から出る光と伝送路で発生し逆方向に伝播
して、前記第２の分岐器を通過した散乱光とを合波する
光合波器と、該光合波器で合波された光信号を電気信号
に変換する受光器と、該受光器からの電気信号を弁別す
る帯域フィルタと、該帯域フィルタを通過した信号を加
算平均する信号処理回路とを有することを要旨とする。
【０００８】また更に、本発明の光反射試験器は、光源
から周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記
光源からの光信号を通過させて伝送路に入射させる分岐
器と、伝送路で発生し逆方向に伝播して、前記分岐器を
通過した散乱光を弁別する光フィルタと、該光フィルタ
を透過した散乱光を電気信号に変換する受光器と、該受
光器からの電気信号の高周波成分を除去する低域透過フ
ィルタと、高周波成分が除去された信号を加算平均する
信号処理回路とを有することを要旨とする。
から周波数変調された光信号を発生させる手段と、前記
光源からの光信号を通過させて伝送路に入射させる分岐
器と、伝送路で発生し逆方向に伝播して、前記分岐器を
通過した散乱光を弁別する光フィルタと、該光フィルタ
を透過した散乱光を電気信号に変換する受光器と、該受
光器からの電気信号の高周波成分を除去する低域透過フ
ィルタと、高周波成分が除去された信号を加算平均する
信号処理回路とを有することを要旨とする。
【０００９】
【作用】本発明の光反射試験器では、光源からの周波数
変調された光信号を第１の分岐器で二波に分岐し、この
分岐された一方の光信号を変調し、この変調された光信
号を第２の分岐器を通過させて伝送路に入射させ、伝送
路から逆方向に伝播して第２の分岐器を通過した散乱光
と第１の分岐器からの他方の光とを合波し、この合波さ
れた光信号を電気信号に変換し、帯域フィルタで弁別
し、加算平均している。
変調された光信号を第１の分岐器で二波に分岐し、この
分岐された一方の光信号を変調し、この変調された光信
号を第２の分岐器を通過させて伝送路に入射させ、伝送
路から逆方向に伝播して第２の分岐器を通過した散乱光
と第１の分岐器からの他方の光とを合波し、この合波さ
れた光信号を電気信号に変換し、帯域フィルタで弁別
し、加算平均している。
【００１０】また、本発明の光反射試験器では、光源か
ら周波数変調された光信号を変調し、この変調された光
信号を分岐器を通過させて伝送路に入射させ、伝送路か
ら逆方向に伝播して分岐器を通過した散乱光を弁別し、
電気信号に変換し、高周波成分を除去し、加算平均して
いる。
ら周波数変調された光信号を変調し、この変調された光
信号を分岐器を通過させて伝送路に入射させ、伝送路か
ら逆方向に伝播して分岐器を通過した散乱光を弁別し、
電気信号に変換し、高周波成分を除去し、加算平均して
いる。
【００１１】更に、本発明の光反射試験器では、光源か
ら周波数変調された光信号を第１の分岐器で二波に分岐
し、この分岐された一方の光信号を第２の分岐器を通過
させて伝送路に入射させ、伝送路から逆方向に伝播して
第２の分岐器を通過した散乱光と第１の分岐器からの他
方の光とを合波し、この合波された光信号を電気信号に
変換し、帯域フィルタで弁別し、加算平均している。
ら周波数変調された光信号を第１の分岐器で二波に分岐
し、この分岐された一方の光信号を第２の分岐器を通過
させて伝送路に入射させ、伝送路から逆方向に伝播して
第２の分岐器を通過した散乱光と第１の分岐器からの他
方の光とを合波し、この合波された光信号を電気信号に
変換し、帯域フィルタで弁別し、加算平均している。
【００１２】また更に、本発明の光反射試験器では、光
源から周波数変調された光信号を分岐器を通過させて伝
送路に入射させ、伝送路から逆方向に伝播して分岐器を
通過した散乱光を光フィルタで弁別し、光フィルタを透
過した散乱光を電気信号に変換し、高周波成分を除去
し、加算平均している。
源から周波数変調された光信号を分岐器を通過させて伝
送路に入射させ、伝送路から逆方向に伝播して分岐器を
通過した散乱光を光フィルタで弁別し、光フィルタを透
過した散乱光を電気信号に変換し、高周波成分を除去
し、加算平均している。
【００１３】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【００１４】図１は、本発明の第１の実施例に係わる光
反射試験器の構成を示すブロック図である。図１におい
て、１は光源、２はパルス発生器、３は第１の分岐器、
４は強度変調器、５は合波器、６は通信用信号発生器、
７は通信用信号受信器、８は伝送路、９は第２の分岐
器、１０は受光器、１１は帯域フィルタ、１２は低域透
過フィルタ、１３は信号処理回路である。
反射試験器の構成を示すブロック図である。図１におい
て、１は光源、２はパルス発生器、３は第１の分岐器、
４は強度変調器、５は合波器、６は通信用信号発生器、
７は通信用信号受信器、８は伝送路、９は第２の分岐
器、１０は受光器、１１は帯域フィルタ、１２は低域透
過フィルタ、１３は信号処理回路である。
【００１５】本実施例では、光源１として半導体レーザ
を用いた場合を示しており、パルス発生器２からの信号
で半導体レーザを駆動する電流を変化させて光源１を周
波数変調し、図２に示すように周波数がｆ0 とｆ1 の交
互に時間的に変化する光信号を発生するようになってい
る。
を用いた場合を示しており、パルス発生器２からの信号
で半導体レーザを駆動する電流を変化させて光源１を周
波数変調し、図２に示すように周波数がｆ0 とｆ1 の交
互に時間的に変化する光信号を発生するようになってい
る。
【００１６】この周波数変調を受けた光信号は第１の分
岐器３により二波に分けられ、一波は強度変調器４に、
他波は合波器５に入力される。強度変調器４には通信用
信号発生器６から通信用信号が入力されており、第１の
分岐器３からきた光信号を通信用信号に従って強度変調
するようになっている。この周波数と強度の複合変調さ
れた光信号を通信システムの対向する通信用信号受信器
７で強度変調に対して復調することにより、通信用信号
が再生され通信用信号の伝送が行われるようになってい
る。
岐器３により二波に分けられ、一波は強度変調器４に、
他波は合波器５に入力される。強度変調器４には通信用
信号発生器６から通信用信号が入力されており、第１の
分岐器３からきた光信号を通信用信号に従って強度変調
するようになっている。この周波数と強度の複合変調さ
れた光信号を通信システムの対向する通信用信号受信器
７で強度変調に対して復調することにより、通信用信号
が再生され通信用信号の伝送が行われるようになってい
る。
【００１７】周波数と強度の複合変調された光信号は伝
送路８を伝播し、対向する通信用信号受信器７に通信用
信号を伝えると共に、伝送路８で散乱光を発生する。こ
の散乱光は伝送路８を逆方向に伝播し、第２の分岐器９
を通過した後、合波器５で第１の分岐器３からきた光信
号と合波される。
送路８を伝播し、対向する通信用信号受信器７に通信用
信号を伝えると共に、伝送路８で散乱光を発生する。こ
の散乱光は伝送路８を逆方向に伝播し、第２の分岐器９
を通過した後、合波器５で第１の分岐器３からきた光信
号と合波される。
【００１８】図３は、複合変調された光信号のスペクト
ルを示す。周波数ｆ0 とｆ1 の成分それぞれの両側にあ
るサイドバンド成分は強度変調器４による強度変調のた
め生じたものであり、サイドバンドと周波数ｆ0 とｆ1
との周波数差は通信用信号の伝送速度Ｂである。合波器
５で合波された光を受光器１０で自乗検波すると、ほぼ
直流の電気信号と｜ｆ1 −ｆ0 ±Ｂ｜の周波数で変化す
る電気信号に変換される。帯域フィルタ１１の透過中心
周波数を｜ｆ1 −ｆ0 ｜、また、透過帯域幅を２Ｂより
少し大きく設定し、周波数ｆ0 とｆ1 の周波数差を２Ｂ
より充分大きくしておけば、強度変調により生じた光信
号のスペクトルの変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の
光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１の出力
から決定できる。
ルを示す。周波数ｆ0 とｆ1 の成分それぞれの両側にあ
るサイドバンド成分は強度変調器４による強度変調のた
め生じたものであり、サイドバンドと周波数ｆ0 とｆ1
との周波数差は通信用信号の伝送速度Ｂである。合波器
５で合波された光を受光器１０で自乗検波すると、ほぼ
直流の電気信号と｜ｆ1 −ｆ0 ±Ｂ｜の周波数で変化す
る電気信号に変換される。帯域フィルタ１１の透過中心
周波数を｜ｆ1 −ｆ0 ｜、また、透過帯域幅を２Ｂより
少し大きく設定し、周波数ｆ0 とｆ1 の周波数差を２Ｂ
より充分大きくしておけば、強度変調により生じた光信
号のスペクトルの変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の
光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１の出力
から決定できる。
【００１９】一般に伝送路状況を試験するには周波数が
ｆ1 である光パルスの幅として１０-6秒程度のものを使
用すればよいので、帯域フィルタ１１の後に低域透過フ
ィルタ１２を配置して１ＭＨｚオーダー以上の変動成分
を遮断すれば、本構成の光反射試験器の受信回路はこれ
よりも高速な散乱光強度の変化を感知しない。一方、通
信信号の伝送速度はＧbit/s のオーダーであり、これに
よる光強度の変化は反射試験器の受信回路が感知できる
変化速度に比べ非常に高速である。従って、反射試験器
の受信回路は通信用信号による強度変調によって生じた
高速な変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の光が発生し
た散乱光の大きさを測定できる。
ｆ1 である光パルスの幅として１０-6秒程度のものを使
用すればよいので、帯域フィルタ１１の後に低域透過フ
ィルタ１２を配置して１ＭＨｚオーダー以上の変動成分
を遮断すれば、本構成の光反射試験器の受信回路はこれ
よりも高速な散乱光強度の変化を感知しない。一方、通
信信号の伝送速度はＧbit/s のオーダーであり、これに
よる光強度の変化は反射試験器の受信回路が感知できる
変化速度に比べ非常に高速である。従って、反射試験器
の受信回路は通信用信号による強度変調によって生じた
高速な変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の光が発生し
た散乱光の大きさを測定できる。
【００２０】このように通信用信号による強度変調によ
って生じた光信号のスペクトル及び光強度の変化の影響
を受けずに散乱光の測定ができるので、通信用信号の伝
送中でも散乱光の大きさが判り、伝送路状態の把握が可
能である。信号処理回路１３は多数回の測定で得られた
低域透過フィルタ１２の出力を加算平均し、信号／雑音
比を改善して散乱光の大きさを測定し伝送路の状況を正
確に把握するものである。
って生じた光信号のスペクトル及び光強度の変化の影響
を受けずに散乱光の測定ができるので、通信用信号の伝
送中でも散乱光の大きさが判り、伝送路状態の把握が可
能である。信号処理回路１３は多数回の測定で得られた
低域透過フィルタ１２の出力を加算平均し、信号／雑音
比を改善して散乱光の大きさを測定し伝送路の状況を正
確に把握するものである。
【００２１】図４は、本発明の第２実施例の構成例を示
すブロック図である。図４において、１は光源、２はパ
ルス発生器、４は強度変調器、６は通信用信号発生器、
７は通信用信号受信器、８は伝送路、９は分岐器、１０
は受光器、１２は低域透過フィルタ、１３は信号処理回
路、１４は光フィルタである。
すブロック図である。図４において、１は光源、２はパ
ルス発生器、４は強度変調器、６は通信用信号発生器、
７は通信用信号受信器、８は伝送路、９は分岐器、１０
は受光器、１２は低域透過フィルタ、１３は信号処理回
路、１４は光フィルタである。
【００２２】図４の実施例では、図１の実施例と同様に
光源１として半導体レーザを使用し、パルス発生器２に
より駆動電流を変化させ、図２に示すような周波数変調
を行っている。この周波数変調された光信号は通信用信
号発生器６からの通信用信号に従って強度変調器４で強
度変調を受ける。この周波数と強度の複合変調された光
信号を通信システムの対向する通信用信号受信器７で強
度変調に対して復調することにより、通信用信号が再生
され通信用信号の伝送が行われるようになっている。
光源１として半導体レーザを使用し、パルス発生器２に
より駆動電流を変化させ、図２に示すような周波数変調
を行っている。この周波数変調された光信号は通信用信
号発生器６からの通信用信号に従って強度変調器４で強
度変調を受ける。この周波数と強度の複合変調された光
信号を通信システムの対向する通信用信号受信器７で強
度変調に対して復調することにより、通信用信号が再生
され通信用信号の伝送が行われるようになっている。
【００２３】周波数と強度の複合変調された光信号は伝
送路８を伝播し、対向する通信用信号受信器７に通信用
信号を伝えると共に、伝送路８で散乱光を発生する。こ
の散乱光は伝送路８を逆方向に伝播し、分岐器９を通過
した後、光フィルタ１４に入力され、受光器１０で電気
信号に変換される。複合変調された光信号は、図３に示
すようなスペクトルを持っているので、光フィルタ１４
の透過中心周波数をｆ1 とし、透過帯域幅を２Ｂより少
し大きく設定し、周波数ｆ0 とｆ1 の周波数差を２Ｂよ
り充分大きくしておけば、強度変調により生じた光信号
のスペクトルの変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の光
が発生した散乱光の大きさを受光器１０の出力電気信号
から決定できる。さらに、受光器１０の後に低域透過フ
ィルタ１２を配置して反射試験器の受信回路が通信用信
号による強度変調によって生じた高速な光強度の変化を
感知しないことも図１に示した実施例と同様である。
送路８を伝播し、対向する通信用信号受信器７に通信用
信号を伝えると共に、伝送路８で散乱光を発生する。こ
の散乱光は伝送路８を逆方向に伝播し、分岐器９を通過
した後、光フィルタ１４に入力され、受光器１０で電気
信号に変換される。複合変調された光信号は、図３に示
すようなスペクトルを持っているので、光フィルタ１４
の透過中心周波数をｆ1 とし、透過帯域幅を２Ｂより少
し大きく設定し、周波数ｆ0 とｆ1 の周波数差を２Ｂよ
り充分大きくしておけば、強度変調により生じた光信号
のスペクトルの変化の影響を受けずにｆ1 の周波数の光
が発生した散乱光の大きさを受光器１０の出力電気信号
から決定できる。さらに、受光器１０の後に低域透過フ
ィルタ１２を配置して反射試験器の受信回路が通信用信
号による強度変調によって生じた高速な光強度の変化を
感知しないことも図１に示した実施例と同様である。
【００２４】図５は、本発明の第３の実施例の構成例を
示すブロック図である。図５において、１は光源、２は
パルス発生器、３は第１の分岐器、５は合波器、７は通
信用信号受信器、８は伝送路、９は第２の分岐器、１０
は受光器、１１は帯域フィルタ、１２は低域透過フィル
タ、１３は信号処理回路である。
示すブロック図である。図５において、１は光源、２は
パルス発生器、３は第１の分岐器、５は合波器、７は通
信用信号受信器、８は伝送路、９は第２の分岐器、１０
は受光器、１１は帯域フィルタ、１２は低域透過フィル
タ、１３は信号処理回路である。
【００２５】本実施例では、光源１として半導体レーザ
を用いた場合を示しており、パルス発生器２からの信号
で半導体レーザを駆動する電流を変化させて光源１を周
波数変調している。この周波数変調は試験用信号と通信
用信号が複合されており、その周波数変化の様子は図２
に示した場合と概ね同じであるが、本実施例では周波数
ｆ0 はｆ0s若しくはｆ0mのどちらかであり、周波数ｆ1
はｆ1s若しくはｆ1mのどちらかである点が異なってい
る。
を用いた場合を示しており、パルス発生器２からの信号
で半導体レーザを駆動する電流を変化させて光源１を周
波数変調している。この周波数変調は試験用信号と通信
用信号が複合されており、その周波数変化の様子は図２
に示した場合と概ね同じであるが、本実施例では周波数
ｆ0 はｆ0s若しくはｆ0mのどちらかであり、周波数ｆ1
はｆ1s若しくはｆ1mのどちらかである点が異なってい
る。
【００２６】光源１からでる光信号のスペクトルは概ね
図６のようになっており、ｆ0sとｆ1sは通信用信号がス
ペースの場合の周波数であり、ｆ0mとｆ1mは通信用信号
がマークの場合の周波数である。ｆ0sとｆ0m間およびｆ
1sとｆ1m間の周波数差はほぼ通信用信号の伝送速度Ｂと
するのが通常である。対向する通信用信号受信器７で例
えば発信周波数がｆL の局部発信器を用いてヘテロダイ
ン検波を行い、透過中心周波数が｜ｆ0s−ｆL ｜，｜ｆ
1s−ｆL ｜，｜ｆ0m−ｆL ｜，｜ｆ1m−ｆL ｜である４
種の帯域フィルタを用いて弁別すると、マークとスペー
スの識別が可能なので周波数変調された通信用信号の復
調ができる。試験信号の受信においては、帯域フィルタ
１１の透過周波数を｜ｆ1s−ｆ0m｜から｜ｆ1m−ｆ0s｜
までの範囲と設定し、ｆ0mとｆ1sの周波数差を伝送速度
Ｂよりも充分大きくしておけば、ｆ1s若しくはｆ1mの周
波数の光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１
出力から決定できる。
図６のようになっており、ｆ0sとｆ1sは通信用信号がス
ペースの場合の周波数であり、ｆ0mとｆ1mは通信用信号
がマークの場合の周波数である。ｆ0sとｆ0m間およびｆ
1sとｆ1m間の周波数差はほぼ通信用信号の伝送速度Ｂと
するのが通常である。対向する通信用信号受信器７で例
えば発信周波数がｆL の局部発信器を用いてヘテロダイ
ン検波を行い、透過中心周波数が｜ｆ0s−ｆL ｜，｜ｆ
1s−ｆL ｜，｜ｆ0m−ｆL ｜，｜ｆ1m−ｆL ｜である４
種の帯域フィルタを用いて弁別すると、マークとスペー
スの識別が可能なので周波数変調された通信用信号の復
調ができる。試験信号の受信においては、帯域フィルタ
１１の透過周波数を｜ｆ1s−ｆ0m｜から｜ｆ1m−ｆ0s｜
までの範囲と設定し、ｆ0mとｆ1sの周波数差を伝送速度
Ｂよりも充分大きくしておけば、ｆ1s若しくはｆ1mの周
波数の光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１
出力から決定できる。
【００２７】図７は、本発明の第４の実施例の構成例を
示すブロック図である。図７において、１は光源、２は
パルス発生器、７は通信用信号受信器、８は伝送路、９
は分岐器、１０は受光器、１２は低域透過フィルタ、１
３は信号処理回路、１４は光フィルタである。
示すブロック図である。図７において、１は光源、２は
パルス発生器、７は通信用信号受信器、８は伝送路、９
は分岐器、１０は受光器、１２は低域透過フィルタ、１
３は信号処理回路、１４は光フィルタである。
【００２８】図７の構成では、光源１の周波数変調の内
容および対向する通信用信号受信器７での通信用信号の
復調方法は図５に示した実施例の構成例と同一である。
しかし、図７の構成は図５の構成とは試験信号の復調に
光フィルタ１４を用いた直接検波である点が異なってい
る。光源１からでる光信号が図６に示すようなスペクト
ルを持っているので、光フィルタの透過帯域をｆ1sから
ｆ1mの間と設定すると、ｆ1s若しくはｆ1mの周波数の光
が発生した散乱光の大きさを受光器１０の出力から決定
できる。
容および対向する通信用信号受信器７での通信用信号の
復調方法は図５に示した実施例の構成例と同一である。
しかし、図７の構成は図５の構成とは試験信号の復調に
光フィルタ１４を用いた直接検波である点が異なってい
る。光源１からでる光信号が図６に示すようなスペクト
ルを持っているので、光フィルタの透過帯域をｆ1sから
ｆ1mの間と設定すると、ｆ1s若しくはｆ1mの周波数の光
が発生した散乱光の大きさを受光器１０の出力から決定
できる。
【００２９】図８は、本発明の第５の実施例の構成例を
示すブロック図である。図８において、１は光源、２は
パルス発生器、３は第１の分岐器、５は合波器、６は通
信用信号発生器、７は通信用信号受信器、８は伝送路、
９は第２の分岐器、１０は受光器、１１は帯域フィル
タ、１２は低域透過フィルタ、１３は信号処理回路、１
５は位相変調器である。
示すブロック図である。図８において、１は光源、２は
パルス発生器、３は第１の分岐器、５は合波器、６は通
信用信号発生器、７は通信用信号受信器、８は伝送路、
９は第２の分岐器、１０は受光器、１１は帯域フィル
タ、１２は低域透過フィルタ、１３は信号処理回路、１
５は位相変調器である。
【００３０】図８の構成では図１の構成例と同様に光源
１として半導体レーザを使用し、パルス発生器２により
駆動電流を変化させ、図２に示すような周波数変調を行
っている。但し、本構成では周波数がｆ0 からｆ1 また
ｆ1 からｆ0 に変化しても位相は連続しているように変
調している。位相変調器１５は通信用信号発生器６から
の信号に従って光源１からの光に位相変調を施し、この
周波数と位相の複合変調された光信号を対向する通信用
信号受信器７で位相変調に対して復調することにより通
信用信号の伝送が行われる。上述のように光源１に対す
る周波数変調の位相が連続するように施されているの
で、例えばヘテロダイン検波により通信用信号受信器７
で位相変調を復調することが可能である。周波数変調さ
れた試験信号の受信については、帯域フィルタ１１の透
過中心周波数をｆ1 と設定し、ｆ1とｆ0 の周波数差を
伝送速度Ｂよりも充分大きくしておけば、ｆ1 の周波数
の光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１出力
から決定できる。
１として半導体レーザを使用し、パルス発生器２により
駆動電流を変化させ、図２に示すような周波数変調を行
っている。但し、本構成では周波数がｆ0 からｆ1 また
ｆ1 からｆ0 に変化しても位相は連続しているように変
調している。位相変調器１５は通信用信号発生器６から
の信号に従って光源１からの光に位相変調を施し、この
周波数と位相の複合変調された光信号を対向する通信用
信号受信器７で位相変調に対して復調することにより通
信用信号の伝送が行われる。上述のように光源１に対す
る周波数変調の位相が連続するように施されているの
で、例えばヘテロダイン検波により通信用信号受信器７
で位相変調を復調することが可能である。周波数変調さ
れた試験信号の受信については、帯域フィルタ１１の透
過中心周波数をｆ1 と設定し、ｆ1とｆ0 の周波数差を
伝送速度Ｂよりも充分大きくしておけば、ｆ1 の周波数
の光が発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１１出力
から決定できる。
【００３１】図９は、本発明の第６の実施例の構成例を
示すブロック図である。図９において、１は光源、２は
パルス発生器、６は通信用信号発生器、７は通信用信号
受信器、８は伝送路、９は分岐器、１０は受光器、１２
は低域透過フィルタ、１３は信号処理回路、１４は光フ
ィルタ、１５は位相変調器である。
示すブロック図である。図９において、１は光源、２は
パルス発生器、６は通信用信号発生器、７は通信用信号
受信器、８は伝送路、９は分岐器、１０は受光器、１２
は低域透過フィルタ、１３は信号処理回路、１４は光フ
ィルタ、１５は位相変調器である。
【００３２】図９の構成では、光源１の周波数変調の内
容および対向する通信用信号受信器７での通信用信号の
復調方法は図８に示した実施例の構成例と同一である。
しかし、図９の構成は図８の構成とは試験信号の復調に
光フィルタ１４を用いた直接検波である点が異なってい
る。光フィルタ１４の透過中心周波数をｆ1 と設定し、
ｆ1 とｆ0 の周波数差を伝送速度Ｂよりも充分大きくし
ておけば、ｆ1 の周波数の光が発生した散乱光の大きさ
を受光器１０出力から決定できる。
容および対向する通信用信号受信器７での通信用信号の
復調方法は図８に示した実施例の構成例と同一である。
しかし、図９の構成は図８の構成とは試験信号の復調に
光フィルタ１４を用いた直接検波である点が異なってい
る。光フィルタ１４の透過中心周波数をｆ1 と設定し、
ｆ1 とｆ0 の周波数差を伝送速度Ｂよりも充分大きくし
ておけば、ｆ1 の周波数の光が発生した散乱光の大きさ
を受光器１０出力から決定できる。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
同一の光源に対して通信用信号と試験用信号を複合して
変調し、それぞれ独立に復調するように構成されている
ので、インサービスで光ファイバ通信システムにおける
伝送路を試験することができる。
同一の光源に対して通信用信号と試験用信号を複合して
変調し、それぞれ独立に復調するように構成されている
ので、インサービスで光ファイバ通信システムにおける
伝送路を試験することができる。
【図１】本発明の第１の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】光源から送出される光の周波数変化を示す図で
ある。
ある。
【図３】複合変調された光信号のスペクトルを示す図で
ある。
ある。
【図４】本発明の第２の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の第３の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図６】光源から送出される光信号のスペクトルを示す
図である。
図である。
【図７】本発明の第４の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の第５の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図９】本発明の第６の実施例に係わる光反射試験器の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
１ 光源 ２ パルス発生器 ３ 第１の分岐器 ４ 強度変調器 ５ 分波器 ６ 通信用信号発生器 ７ 通信用信号受信器 ８ 伝送路 ９ 第２の分岐器 １０ 受光器 １１ 帯域フィルタ １２ 低域透過フィルタ １３ 信号処理回路
Claims (4)
- 【請求項１】 光源から周波数変調された光信号を発生
させる手段と、前記光源からの光信号を二波に分岐する
第１の分岐器と、該第１の分岐器の第１の出力端から出
る光信号を変調する変調器と、該変調器によって変調さ
れた光信号を通過させて伝送路に入射させる第２の分岐
器と、前記第１の分岐器の第２の出力端から出る光と伝
送路で発生し逆方向に伝播して、前記第２の分岐器を通
過した散乱光とを合波する光合波器と、該光合波器で合
波された光信号を電気信号に変換する受光器と、該受光
器からの電気信号を弁別する帯域フィルタと、該帯域フ
ィルタを通過した信号を加算平均する信号処理回路とを
有することを特徴とする光反射試験器。 - 【請求項２】 光源から周波数変調された光信号を発生
させる手段と、前記光源からの光を変調する変調器と、
該変調器により変調された光信号を通過させて伝送路に
入射させる分岐器と、伝送路で発生し逆方向に伝播し
て、前記分岐器を通過した散乱光を弁別する光フィルタ
と、該光フィルタを透過した散乱光を電気信号に変換す
る受光器と、該受光器からの電気信号の高周波成分を除
去する低域透過フィルタと、前記高周波成分が除去され
た信号を加算平均する信号処理回路とを有することを特
徴とする光反射試験器。 - 【請求項３】 光源から周波数変調された光信号を発生
させる手段と、前記光源からの光信号を二波に分岐する
第１の分岐器と、該第１の分岐器の第１の出力端から出
る光信号を通過させて伝送路に入射させる第２の分岐器
と、前記第１の分岐器の第２の出力端から出る光と伝送
路で発生し逆方向に伝播して、前記第２の分岐器を通過
した散乱光とを合波する光合波器と、該光合波器で合波
された光信号を電気信号に変換する受光器と、該受光器
からの電気信号を弁別する帯域フィルタと、該帯域フィ
ルタを通過した信号を加算平均する信号処理回路とを有
することを特徴とする光反射試験器。 - 【請求項４】 光源から周波数変調された光信号を発生
させる手段と、前記光源からの光信号を通過させて伝送
路に入射させる分岐器と、伝送路で発生し逆方向に伝播
して、前記分岐器を通過した散乱光を弁別する光フィル
タと、該光フィルタを透過した散乱光を電気信号に変換
する受光器と、該受光器からの電気信号の高周波成分を
除去する低域透過フィルタと、高周波成分が除去された
信号を加算平均する信号処理回路とを有することを特徴
とする光反射試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16480093A JPH0723003A (ja) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | 光反射試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16480093A JPH0723003A (ja) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | 光反射試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0723003A true JPH0723003A (ja) | 1995-01-24 |
Family
ID=15800173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16480093A Pending JPH0723003A (ja) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | 光反射試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0723003A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016131274A (ja) * | 2015-01-13 | 2016-07-21 | 富士通株式会社 | 光伝送装置、光伝送システム、及び、送信波長制御方法 |
-
1993
- 1993-07-02 JP JP16480093A patent/JPH0723003A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016131274A (ja) * | 2015-01-13 | 2016-07-21 | 富士通株式会社 | 光伝送装置、光伝送システム、及び、送信波長制御方法 |
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