JPH07229769A - Automatic adjusting and examining device - Google Patents

Automatic adjusting and examining device

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Publication number
JPH07229769A
JPH07229769A JP6043101A JP4310194A JPH07229769A JP H07229769 A JPH07229769 A JP H07229769A JP 6043101 A JP6043101 A JP 6043101A JP 4310194 A JP4310194 A JP 4310194A JP H07229769 A JPH07229769 A JP H07229769A
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JP
Japan
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test
station
pallet
under test
adjusting
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6043101A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Ikeda
忠 池田
Fujio Kitahama
不二男 北浜
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Publication of JPH07229769A publication Critical patent/JPH07229769A/en
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Abstract

PURPOSE:To replace the former stage and the latter stage of the processing freely with each other so as to smooth the whole flow, and to improve the efficiency of the examination and adjustment, by providing plural examining and adjusting stations around a conveyer, and carrying in an apparatus to be tested loaded on a pallet to a station giving a priority to a vecant station. CONSTITUTION:An apparatus to be teste 20 is loaded on a pallet 210, it is connected to a power source, I/O interfaces, and measuring pins through connectors, and a bar code to indicate the apparatus 20 is set to a designated position. The pallet 210 is loaded on an apparatus carrying-in board 202, the bar code 214 is read, and the pallet 210 is pushed into a vacant adjusting station 201 by a conveyer 205. An adjusting panel is provided in the adjusting station 201, and by pushing into the apparatus to be tested 20, the appatatus 20 is contacted to I/O interface elastic elements 222, male measuring pins 223, and the like. The automatic adjustment of the tested appratus 20 is carried out, and after the adjusting value is set, the apparatus 20 is conveyed to a different station 201 on the conveyer 205.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子計測器など各種電
子機器の自動調整、自動試験をおこなう自動調整試験装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic adjustment test apparatus for performing automatic adjustment and automatic test of various electronic devices such as electronic measuring instruments.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5に従来の一般的な調整試験ラインを
示す。調整試験ラインは、振動試験、動作試験、調整値
設定、機器安定度試験などの各種調整試験を行うため、
機器の流れを停止する複数のステーション10と、各ス
テーション間で機器を搬送する搬送機11で構成され
る。このように直列に調整試験を行うと、各ステーショ
ンでの調整試験時間が同一でない場合が普通であるた
め、調整試験時間の長いステーションの直前に被試験機
器が滞留し、全体の流れが一定でなく、一部のステーシ
ョンに空き時間が発生する。また、ステーションは固定
されているため、調整試験順序を変更することは簡単で
なく、異機種の被試験機器が混在すると、人手による調
整試験では間違いを生ずる恐れもある。
2. Description of the Related Art FIG. 5 shows a conventional general adjustment test line. The adjustment test line performs various adjustment tests such as vibration test, operation test, adjustment value setting, equipment stability test,
It is composed of a plurality of stations 10 that stop the flow of equipment and a carrier 11 that conveys equipment between the stations. When performing the adjustment test in series in this way, the adjustment test time at each station is usually not the same, so the UUT stays in front of the station with the long adjustment test time and the overall flow is constant. No, some stations have idle time. Further, since the station is fixed, it is not easy to change the adjustment test sequence, and if different types of devices under test are mixed, the manual adjustment test may be erroneous.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】以上のような直列に調
整試験をする調整試験ラインでは、相対的に時間のかか
るステーションによって全体の流れが制限される他、行
程の後先の変更が簡単にできない欠点がある。本発明
は、時間のかかる調整試験ステーションによる全体の流
れの停滞をなくし、行程の後先を自由に変更可能とする
効率の良い自動調整試験装置を実現することを目的とし
ている。
In the adjustment test line for performing the adjustment test in series as described above, the whole flow is restricted by the station which takes a relatively long time, and the change after the stroke is easy. There is a drawback that cannot be done. It is an object of the present invention to realize an efficient automatic adjustment test apparatus that eliminates the stagnation of the entire flow due to a time-consuming adjustment test station and can freely change the end of the stroke.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

(請求項1について)電子機器の調整及び試験装置にお
いて、搬送機の周りに上下方向、左右方向に複数のステ
ーションを設けた自動調整試験保管庫を構成する。ステ
ーションには、被試験機器を調整する目的のもの、被試
験機器を試験する目的のもの、振動試験装置のような試
験装置を装備したもの、試験待ちのため保管する目的の
ものがある。パレットに搭載した被試験機器を、必要に
応じて、ステーションから別のステーションに移動させ
るため搬送機が制御される。また、調整試験するステー
ションでは、被試験機器を制御するための信号が与えら
れる。また、振動試験装置のような試験装置を装備した
ステーションには、試験装置を制御するための信号が与
えられる。これら装置全体の制御は、コンピュータシス
テムによって行われ、調整試験結果が、ターミナル又は
プリンタに出力される。
(Claim 1) In an adjustment and testing device for electronic equipment, an automatic adjustment test storage is provided in which a plurality of stations are provided in the vertical and horizontal directions around a carrier. Stations include those for the purpose of adjusting the equipment under test, those for testing the equipment under test, those equipped with test equipment such as vibration test equipment, and those for the purpose of storing for waiting for the test. The carrier is controlled to move the equipment under test mounted on the pallet from one station to another as needed. In addition, a signal for controlling the device under test is given to the station for the adjustment test. Further, a station equipped with a test device such as a vibration test device is provided with a signal for controlling the test device. The control of the entire apparatus is performed by the computer system, and the adjustment test result is output to the terminal or the printer.

【0005】(請求項2について)自動調整試験保管庫
において、上下左右に動き、左右方向に回転できる搬送
機が、全てのステーションと機器搬入台、機器搬出台に
搬送できるように構成される。ステーションは、搬送機
の両側の上下方向、左右方向に複数個設けられる。ま
た、搬送機の両端には、被試験機器を搬入する機器搬入
台、良品の被試験機器を搬出する良品機器搬出台、不良
品の被試験機器を搬出する不良品機器搬出台が設けられ
る。
(Claim 2) In the automatic adjustment test storage, a carrier that can move vertically and horizontally and can rotate in the left and right directions is configured so that it can be carried to all stations and the equipment loading / unloading base. A plurality of stations are provided on both sides of the carrier in the vertical and horizontal directions. Further, at both ends of the carrier, an equipment carry-in stand for carrying in the equipment under test, a non-defective equipment carry-out stand for carrying out the non-defective equipment under test, and a defective equipment carry-out stand for carrying out the defective equipment under test are provided.

【0006】(請求項3について)自動調整試験保管庫
において、被試験機器は、標準化されたパレットの上に
搭載する。パレットは、電源入力端子の位置及び形状、
I/Oインターフェイスパッドの位置及び形状、雌測定
ピンの位置及び形状、バーコードの位置及び形状が標準
化されている。また、調整試験するステーションも、パ
レットに対応した位置及び形状が標準化されており、電
源接触板、I/Oインターフェイス弾性接触子、雄測定
ピンが設けられる。また、機器搬入台には、パレットの
バーコードに対応した位置にバーコード読み取り器が設
けられている。
(Claim 3) In the automatic adjustment test storage, the device under test is mounted on a standardized pallet. The pallet is the position and shape of the power input terminal,
The position and shape of the I / O interface pad, the position and shape of the female measuring pin, and the position and shape of the barcode are standardized. Also, the station for the adjustment test is standardized in position and shape corresponding to the pallet, and is provided with a power contact plate, an I / O interface elastic contactor, and a male measuring pin. Further, a bar code reader is provided at a position corresponding to the bar code on the pallet on the device carry-in table.

【0007】[0007]

【実施例】図1に本発明の自動調整試験装置の全体構成
を示す。自動調整試験装置は、装置全体を制御する、中
央制御装置(CPU)、ターミナル、ディスク、フロッ
ピーディスク、プリンタで構成されたコンピュータシス
テム100と、複数のステーション201で構成された
自動調整試験保管庫200と、搬送機205のステーシ
ョン間の移動を制御する搬送機制御手段301、被試験
機器を制御して自動調整試験する被試験機器制御手段3
02、振動試験機などの試験装置の作動を制御する試験
装置制御手段303で構成された制御手段300とで構
成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows the overall construction of the automatic adjustment test apparatus of the present invention. The automatic adjustment test apparatus is a computer system 100 including a central control unit (CPU), a terminal, a disk, a floppy disk, and a printer, which controls the entire apparatus, and an automatic adjustment test storage 200 including a plurality of stations 201. And a carrier control means 301 for controlling the movement of the carrier 205 between the stations, and a device under test control means 3 for controlling the device under test to perform an automatic adjustment test.
02, a control unit 300 including a test device control unit 303 for controlling the operation of a test device such as a vibration tester.

【0008】図2に自動調整試験保管庫200の構造を
示す。自動調整試験保管庫200は、パレット210に
搭載された被試験機器20を機器搬入台202から搬入
し、上下左右に動き回転して目的とするステーション2
01にパレット210を移動し、調整試験を終了した被
試験機器を良品と不良品に分別して、良品用の機器搬出
台203、不良品の機器搬出台204に移動する搬送機
205が上下左右回転できるよう中央にある。搬送機の
両側には、複数のステーション201が並び、上下方向
にも複数段並んでいる。各ステーション201には、被
試験機器20の調整をする機器調整試験ステーションの
パネル221を持ったもの、被試験機器20の試験をす
るため機器調整試験ステーションのパネル221を持っ
たもの、振動試験機などの試験装置を装備したもの、試
験の前の安定時間をとるため一定温度になっているも
の、試験の待ち時間のために保管するものなどがある。
FIG. 2 shows the structure of the automatic adjustment test storage cabinet 200. In the automatic adjustment test storage 200, the device under test 20 mounted on the pallet 210 is loaded from the device loading table 202, and is moved vertically and horizontally to rotate to the target station 2.
The pallet 210 is moved to 01, and the equipment under test for which the adjustment test has been completed is sorted into a good product and a defective product, and the carrier 205 that moves to the good product carry-out table 203 and the bad product carry-out table 204 rotates vertically and horizontally. It's in the center so you can. A plurality of stations 201 are arranged on both sides of the carrier, and a plurality of stations 201 are arranged in the vertical direction. Each station 201 has a device adjustment test station panel 221 for adjusting the device under test 20, a device adjustment test station panel 221 for testing the device under test 20, and a vibration tester. There are those equipped with test equipment such as, those that have a constant temperature for a stable time before the test, and those that are stored for the waiting time of the test.

【0009】図3のように、被試験機器20は、標準化
されたパレット210の上に載せられパレット210の
裏側から供給される電源、パネル211上にあるRS2
32CやGPIBのようなI/Oインターフェイスとし
て使用できる被試験機器I/Oインターフェイスパッド
212、標準電圧などを供給したり、出力電圧などを出
力する雌測定ピン213に接続される。また、パレット
の前面には、バーコード214が添付されており、複数
の機種を区別して調整試験することができる。
As shown in FIG. 3, the device under test 20 is placed on a standardized pallet 210, a power source supplied from the back side of the pallet 210, and an RS2 on the panel 211.
It is connected to an equipment under test I / O interface pad 212 that can be used as an I / O interface such as 32C or GPIB, and a female measuring pin 213 that supplies a standard voltage or outputs an output voltage. Further, a bar code 214 is attached to the front surface of the pallet, so that a plurality of models can be distinguished and an adjustment test can be performed.

【0010】調整試験するステーション201には、図
4のようなパネルがあり、搬送機によりパレット210
がステーションにセットした時、パレット210上のパ
ネル211のI/Oインターフェイスパッド212が機
器調整試験ステーションのパネル221のI/Oインタ
ーフェイス弾性接触子222と、又、パレット210の
パネル211上の雌測定ピン213が機器調整試験ステ
ーションのパネル221上の雄測定ピン223と電気的
に接続される。
The station 201 for the adjustment test has a panel as shown in FIG.
Set on the pallet 210, the I / O interface pad 212 of the panel 211 on the pallet 210 is connected to the I / O interface elastic contact 222 of the panel 221 of the device adjustment test station and the female measurement on the panel 211 of the pallet 210. The pin 213 is electrically connected to the male measuring pin 223 on the panel 221 of the instrument conditioning test station.

【0011】被試験機器20の調整試験は次のように行
われる。 被試験機器20をパレット210の上にのせ、電
源、I/Oインターフェイス、測定ピンへの接続をコネ
クタを介して行う。又、パレット210の指定の位置
に、その被試験機器20を示すバーコード214をセッ
トする。 被試験機器20をのせたパレット210を機器搬入
台202に載せる。ここまでは、人の操作を必要とする
が、これ以後は自動的に行われる。 機器搬入台202にあるパレット210を搬送機2
05が自動調整試験保管庫200内に移動させる。この
時、搬入口でパレット210上のバーコード214を読
み取り、そのパレット上の被試験機器20の調整検査
は、その機種に合わせて行う。 使用していない調整前の余熱ステーションに、搬送
機205がパレット210を移動しステーションに押し
入れる。目的とする調整試験ステーションが全て使用さ
れている場合は、別の試験、例えば振動試験機を装備し
ているステーションにパレットを押し入れ振動試験を先
に行う。 必要とする余熱が終了すると搬送機205がパレッ
ト210を調整ステーションに移動させ、調整ステーシ
ョンに押し入れる。調整ステーションには機器調整試験
ステーションのパネル221があり、I/Oインターフ
ェイス弾性接触子222と、例えば基準電圧の入力や出
力電圧などを入出力する雄測定ピン223に接触する。 被試験機器20の自動調整を行い、被試験機器20
内のメモリに調整値をセットする。 調整が終了すると、まだ実行していない試験のステ
ーションに搬送機205によって移動して、試験を行
う。残った試験のためのステーションが全て使用状態の
場合は、パレット210が保管用のステーションに搬送
機205によって押し入れられ保管される。 全ての調整試験が終了すると、機器搬出台に良品、
不良品を区別して、搬送機205により搬送される。不
良内容は、コンピュータシステム100のターミナル又
はプリンタに出力され、修理のためのデータとして使用
される。
The adjustment test of the device under test 20 is performed as follows. The device under test 20 is placed on the pallet 210, and the power supply, the I / O interface, and the measurement pins are connected via the connector. A bar code 214 indicating the device under test 20 is set at a designated position on the pallet 210. The pallet 210 on which the device under test 20 is placed is placed on the device loading table 202. Up to this point, human operation is required, but after that, it is automatically performed. Transfer the pallet 210 on the equipment loading table 202 to the carrier 2
05 is moved into the automatic adjustment test storage 200. At this time, the bar code 214 on the pallet 210 is read at the carry-in port, and the adjustment inspection of the device under test 20 on the pallet is performed according to the model. The carrier 205 moves the pallet 210 to an unused preheating station before adjustment and pushes it into the station. When all the target adjustment test stations are used, another test is performed, for example, the pallet is pushed into a station equipped with a vibration tester and the vibration test is performed first. When the required residual heat is completed, the carrier 205 moves the pallet 210 to the adjusting station and pushes it into the adjusting station. The adjustment station has a panel 221 of the device adjustment test station, which makes contact with the I / O interface elastic contactor 222 and the male measuring pin 223 for inputting / outputting a reference voltage and an output voltage, for example. The device under test 20 is automatically adjusted, and the device under test 20 is adjusted.
Set the adjustment value in the internal memory. When the adjustment is completed, the carrier 205 moves to a test station that has not been executed yet, and the test is performed. When all the remaining test stations are in use, the pallet 210 is pushed into the storage station by the carrier 205 and stored. When all adjustment tests have been completed, the equipment delivery table is
Defective products are distinguished and conveyed by the conveyor 205. The content of the defect is output to a terminal or printer of the computer system 100 and used as data for repair.

【0012】[0012]

【発明の効果】本発明は以上のように構成されており、
必要とする機能のステーションの数を適当に増減するこ
とで、保管時間を少なくし、調整試験の時間を短縮でき
る。また、調整試験の順序は、その都度自由に変更で
き、使用していない調整試験ステーションを優先して使
用する。パレットに被試験機器をセットし、機器搬入台
に設置した後は全て無人化されており、調整試験する機
器の種類を混在することも可能であり、全体として自由
度の高い効率の良い自動調整試験装置を実現している。
The present invention is configured as described above,
By appropriately increasing or decreasing the number of stations having the required functions, the storage time can be shortened and the adjustment test time can be shortened. The order of the adjustment test can be freely changed each time, and the unused adjustment test station is preferentially used. After setting the device under test on the pallet and installing it on the device loading table, it is completely unmanned, and it is possible to mix the types of devices to be adjusted and tested, and overall there is a high degree of freedom and efficient automatic adjustment. The test equipment is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of the present invention.

【図2】本発明の自動調整試験保管庫の上面図と側面図
である。
FIG. 2 is a top view and a side view of the automatic adjustment test storage of the present invention.

【図3】本発明の被試験機器を搭載するパレットの斜視
図である。
FIG. 3 is a perspective view of a pallet on which the device under test of the present invention is mounted.

【図4】本発明の機器調整試験ステーションのパネルの
正面図である。
FIG. 4 is a front view of a panel of the device adjustment test station of the present invention.

【図5】従来の調整試験ラインの説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional adjustment test line.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、201 ステーション 11、205 搬送機 20 被試験機器 100 コンピュータシステム 200 自動調整試験保管庫 202 機器搬入台 203 良品機器搬出台 204 不良品機器搬出台 210 パレット 211 パネル 212 I/Oインターフェイスパッド 213 雌測定ピン 214 バーコード 221 機器調整試験ステーションのパネル 222 I/Oインターフェイス弾性接触子 223 雄測定ピン 224 弾性接触子 300 制御手段 301 搬送機制御手段 302 被試験機器制御手段 303 試験装置制御手段 10, 201 Station 11, 205 Conveyor 20 Equipment under test 100 Computer system 200 Automatic adjustment test storage 202 Equipment carry-in table 203 Good product carry-out stand 204 Bad product carry-out stand 210 Pallet 211 Panel 212 I / O interface pad 213 Female measurement Pin 214 Bar code 221 Instrument adjustment test station panel 222 I / O interface elastic contactor 223 Male measuring pin 224 Elastic contactor 300 Control means 301 Conveyor control means 302 Tested equipment control means 303 Test equipment control means

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子機器の調整及び試験において、 被試験機器を調整するステーション、被試験機器を試験
するステーション、試験装置を装備したステーション、
保管のためのステーションを複数で構成した自動調整試
験保管庫(200)と、 パレット(210)に搭載した被試験機器(20)をス
テーション(201)間で移動させる搬送機(205)
を制御する搬送機制御手段(301)、被試験機器(2
0)を調整し試験する被試験機器制御手段(302)、
被試験機器(20)に外部より加える試験条件を作り出
す試験装置を制御する試験装置制御手段(303)を含
む制御手段(300)と、 装置全体を制御し、調整試験結果を出力するコンピュー
タシステム(100)と、 以上を具備することを特徴とする自動調整試験装置。
1. A station for adjusting a device under test, a station for testing a device under test, a station equipped with a test apparatus, in adjusting and testing an electronic device,
An automatic adjustment test storage (200) having a plurality of storage stations, and a carrier (205) for moving a device under test (20) mounted on a pallet (210) between the stations (201).
Carrier control means (301) for controlling the
0) adjusting and testing device under test control means (302),
A control unit (300) including a test device control unit (303) for controlling a test device that creates a test condition applied to the device under test (20) from the outside, and a computer system that controls the entire device and outputs an adjustment test result ( 100), and an automatic adjustment test device comprising the above.
【請求項2】 自動調整試験保管庫(200)におい
て、 上下左右に動き、左右方向に回転する搬送機(205)
を設け、 搬送機(205)の両側に、被試験機器を調整するステ
ーション、被試験機器を試験するステーション、試験装
置を装備したステーション、保管のためのステーション
を上下方向、左右方向に複数個設け、 被試験機器を搬入する機器搬入台(202)を設け、 調整試験を終了した良品の被試験機器を搬出する良品機
器搬出台(203)、不良品の被試験機器を搬出する不
良品機器搬出台(204)を設け、 以上を具備することを特徴とする自動調整試験装置。
2. A carrier (205) that moves up and down, left and right, and rotates left and right in an automatic adjustment test storage (200).
A plurality of stations for adjusting the equipment under test, a station for testing the equipment under test, a station equipped with a test device, and a storage station are provided on both sides of the carrier (205) vertically and horizontally. The equipment carry-in table (202) for carrying in the equipment under test is provided, and the non-defective equipment carry-out table (203) for carrying out the non-defective equipment under test after the adjustment test and the defective equipment carry-out for carrying out the defective equipment under test An automatic adjustment test apparatus provided with a table (204) and having the above.
【請求項3】 自動調整試験保管庫(200)におい
て、 被試験機器(20)を搭載する、電源入力端子の位置、
I/Oインターフェイスパッド(212)の位置、雌測
定ピン(213)の位置、バーコード(214)の位置
が標準化されたパレット(210)を設け、 調整試験するステーション(201)の、パレット(2
10)に対応した位置に電源接触板、I/Oインターフ
ェイス弾性接触子(222)、雄測定ピン(223)を
設け、 機器搬入台(202)の、パレット(210)のバーコ
ード(214)に対応した位置にバーコード読み取り器
を設け、 以上を具備することを特徴とする自動調整試験装置。
3. A position of a power input terminal for mounting a device under test (20) in an automatic adjustment test storage (200),
A pallet (210) having standardized positions of the I / O interface pad (212), the position of the female measuring pin (213), and the position of the bar code (214) is provided, and the pallet (2) of the station (201) to be adjusted and tested.
10) A power contact plate, an I / O interface elastic contactor (222), and a male measuring pin (223) are provided at a position corresponding to 10), and the bar code (214) of the pallet (210) of the equipment carry-in table (202) is provided. A bar code reader is provided at a corresponding position, and the above is provided, which is an automatic adjustment test device.
JP6043101A 1994-02-17 1994-02-17 Automatic adjusting and examining device Withdrawn JPH07229769A (en)

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