JPH07225699A - 検査ラインシステム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 製造した情報処理装置の検査を装置品質の水
準に応じて効率的に行うことができる検査ラインシステ
ムを提供すること。 【構成】 検査プログラムを記憶した複数の情報処理装
置８の検査を行う検査ラインシステムであって、情報処
理装置８搬送するベルトコンベア４と、この装置８の複
数動作環境が設定された複数のエリア３ａ〜３ｃと、ベ
ルトコンベア４の搬送速度及びエリア３ａ〜３ｃの温度
等の動作環境を制御すると共に検査プログラムを変更す
る検査ライン制御装置８とを設け、エリア３ａ〜３ｃを
搬送される情報処理装置８が検査プログラムを実行し
て、実行結果である検査結果データを一時的に記憶する
と共に、検査ライン制御装置７が複数の情報処理装置８
の検査結果データを収集して解析し、該解析結果に応じ
て検査プログラムを装置品質の水準値に応じて変更する
もの。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の検査ラ
インシステムに係り、特に製造した情報処理装置の検査
を装置品質の水準に応じて効率的に行うことができる検
査ラインシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に情報処理装置、例えばワークステ
ィションやパーソナルコンピュータ等の生産ラインにお
いては、組立工程において組立られた情報処理装置のＣ
ＰＵ，メモリ，Ｉ／Ｏデバイス等の動作確認を検査する
検査ラインシステムが設けられている。この検査ライン
システムは、検査対象である情報処理装置に通電した状
態で低温槽／常温槽／高温槽の各エリアを任意速度で通
過させ、各エリアにおいて情報処理装置に内蔵されたハ
ードディスクの検査プログラムを動作させることによっ
て検査データをハードディスク又はフロッピーディスク
等に収集し、この検査データを分析することによって製
品の検査を行うものである。この検査工程においては前
記各エリアにおいて供給する電源電圧を変動させて電圧
のマージンについても検査を実施している。

【０００３】前記検査ラインシステムで収集された検査
データは、最終工程で被検査対象である情報処理装置の
バードディスク等から他の検査用情報処理装置に複写さ
れ、この検査データを元に情報処理装置毎の検査合否判
定が行われている。この検査データの統計、例えば同一
機種のどのユニット（部位）の障害発生率が多いことや
マージン範囲が狭いこと等のデータ統計は、これらテス
ト結果データが膨大であるにも関わらず検査対象の製品
によって内容が相違するため人手を介して行われてい
た。尚、この様な従来技術が記載された文献としては、
特開平４−１６２６００号公報が挙げられる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】前記従来技術による検
査ラインシステムは、最終工程で収集した検査データを
検査対象製品毎の独自のテストプログラムによって検査
対象製品の合否判定を行うことができるものの、検査デ
ータの統計は前記テストプログラムの交換性がないため
前述の人手によらなければならず、検査データを検査内
容にフィードバックして装置品質の水準に応じて効率的
に行うことが困難であると言う不具合があった。具体的
には、例えば検査項目中に厳格に検査しなければならな
い項目と比較的厳格に検査しなくても良い項目があった
としても、前述の統計データの作成が困難で検査内容に
フィードバックできず、全ての検査項目を均等に行って
いたため装置品質の水準に応じて効率的に行うことが困
難であった。このため従来の検査ラインシステムにおい
ては過剰な出荷検査を行わなければならなかった。

【０００５】本発明の目的は、前記従来技術による不具
合を除去することであり、製造した情報処理装置の検査
を装置品質の水準に応じて効率的に行うことができる検
査ラインシステムを提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明は、検査プログラムを格納するメモリ及び該検査
プログラムを実行するＣＰＵとを含む複数の情報処理装
置の検査を行う検査ラインシステムにおいて、該情報処
理装置を搬送させる搬送手段と、該搬送中の情報処理装
置の動作環境が複数設定された複数のエリアと、該搬送
手段の搬送速度及び複数エリアの動作環境を制御すると
共に前記検査プログラムを変更する検査ライン制御装置
とを備え、前記搬送手段によって複数のライン内動作環
境中を搬送する情報処理装置がメモリに格納した検査プ
ログラムをＣＰＵにより実行し、この実行結果である検
査結果データを一時的に記憶すると共に、検査ライン制
御装置が複数の情報処理装置の前記検査結果データを収
集して解析し、該解析結果に応じて検査プログラムを装
置品質の水準値に応じて変更することを特徴としてい
る。

【０００７】

【作用】前記特徴による検査ラインシステムは、複数の
エリア中の複数環境中で検査プログラムを実行した検査
結果データを収集及び解析し、該解析結果に応じて検査
プログラムを装置品質の水準値に応じて変更することに
より、装置品質の水準に応じて効率的に行うことができ
る。

【０００８】

【実施例】次に本発明による検査ラインシステムの一実
施例を図面を参照して詳細に説明する。図１は本実施例
による検査ラインシステムを含む生産ラインシステムの
概略図、図２は本生産ラインシステムに適用される電源
供給用のパレット５を説明するための図、図３は本実施
例による検査対象である情報処理装置の主な構成を示す
図、図４は、本実施例による検査ラインシステムの検査
用テストプログラムを説明するためのフローチャート、
図５は前記テストプログラムによって検査データを収集
するプログラムのフローチャートである。

【０００９】図１に示す生産ラインシステムは、パレッ
ト５上において情報処理装置８の組立を行う組立ライン
システム２と、組立られた処理装置８の検査を行う検査
ラインシステム３と、これらシステム間を装置８を搭載
したパレット５を移動させる搬送手段、例えばベルトコ
ンベア４と、これらを制御する検査ライン制御装置７と
に大別され、前記ベルトコンベア４が各ラインシステム
２及び３のラインタスク（搬送速度）を個別に制御可能
な様に構成している。

【００１０】前記検査ラインシステム３は、複数の動作
環境を持つ３つのエリアから成り、本実施例においては
常温より比較的低温な環境を保つ低温エリア３ｃと、常
温環境を保つ常温エリア３ｂと、常温より比較的高温な
環境を保つ高温エリア３ａとに区別され、各エリア３ａ
〜３ｃにおいてはパレット５に搭載した情報処理装置８
に電力を個々に供給する接触子６₁〜６_nを複数配置して
いる。また前記パレット５は、図２に示す如く下面に電
極５ａ及び５ｂを配置し、該電極５ａ及び５ｂに接触子
６₁〜６_nにより供給される電力を搭載した情報処理装置
８の電源端子（図示せず）に印加するためのコネクタ９
を備える。

【００１１】また検査対象である情報処理装置８の概略
構成は、図３に示す如く装置全体の制御を行うＣＰＵ１
０，動作プログラム等を記憶するメモリ１１，書込み可
能な不揮発性メモリ１３，フロッピーディスク（以下、
ＦＤと呼ぶ）１７のデータ記録再生を行うフロッピーデ
ィスク駆動機構（以下、ＦＤＤと呼ぶ）１４，テストプ
ログラム及び検査結果データ他を記憶するハードディス
ク駆動機構（以下、ＨＤＤと呼ぶ）１５，外部と光モジ
ュールインターフェース又は無線ＬＡＮ等を介して非接
触でデータの送受信を行うためのＲＳ２３２Ｃ等の通信
アダプタ１６，前記ＦＤＤ１４／ＨＤＤ１５／通信アダ
プタ１６とメモリ１１等間においてデータ授受を行うた
めのＩ／Ｏインターフェース１２とを備える。

【００１２】この様に構成された生産ラインシステム
は、まず組立ラインシステム２においてパレット５上に
図示しないロボット又は人手により情報処理装置８を組
立ながらベルトコンベア４のラインタスクに応じて搬送
を行うと共に必要に応じて電力を接触子６_aにより供給
しながら組立を行い、組立を終了した情報処理装置８を
次の検査ラインシステム３に引渡す。

【００１３】この組立られた情報処理装置８をベルトコ
ンベア４に搭載した検査ラインシステム３は、各エリア
３ａ〜３ｃにおいて接触子６₁〜６_nから供給される電力
をパレット５の電極５ａ及び５ｂ並びにコネクタ９を介
して情報処理装置８に供給することによって、各エリア
に搬送された情報処理装置８が内蔵されたハードディス
クの検査プログラムを起動させて検査データをハードデ
ィスク又はフロッピーディスク等に収集する様に動作す
るものであり、以下詳細に説明する。尚、前記パレット
５を介して情報処理装置８に供給される電力は、各エリ
ア３ａ〜３ｃ間でリセットされることにより、各エリア
で検査プログラムが立上げ及び実行され、以下の検査動
作は各エリアにおいて起動及び実行されるものである。

【００１４】さて、前記検査ラインシステムは情報処理
装置８が、図４の処理フローに示す様に、検査ライン制
御装置７からテストプログラムを通信アダプタ１６を介
して非接触でＨＤＤ１５にロードし（ステップ４０
１）、複数の検査工程，例えば低温エリア３ｃから高温
エリア３ａの検査工程に応じた複数のテスト（検査）内
容を生成（ステップ４０２）してＨＤＤ１５等に格納
し、検査が最終工程を終了したか否かの判定（ステップ
４０３）を行った後に、装置８が位置する工程（エリ
ア）に応じた検査内容を実行する（ステップ４０４）。
この検査内容は、図３に示した各ハードウェア構成毎に
複数の動作を設定し、該検査動作中の動作状況、特にエ
ラー発生／マージン等の特性／処理時間等のデータをＨ
ＤＤ１５に記憶する動作を含むものである。

【００１５】この情報処理装置８は、前記ステップ４０
４によって装置が位置する検査工程（エリア）中におけ
るハードウエア構成の一連の検査が終了すると、その実
行テスト結果のデータを通信アダプタ１６を介して図１
に示す検査ライン制御装置７に送信（ステップ４０５）
した後に、ベルトコンベア４により次の検査工程（エリ
ア）に進んでからステップ４０３に戻って次のテスト工
程の検査の実行（ステップ４０４）／実行テスト結果の
伝送（ステップ４０５）を繰返す動作を行う。

【００１６】前記実行テスト結果のデータを受信した検
査ライン制御装置７は、その実行テスト結果データの評
価を行い（ステップ４０６）、エラー有無を判定（ステ
ップ４０７）し、エラー「有」の場合はそのエラーロギ
ング（エラー発生エリア／ハード及び検査内容／結果等
の経過情報）を格納し、エラー「無」の場合はそのエリ
アにおけるエラーがないことを「ＯＫ」として格納（ス
テップ４０９）する。

【００１７】本実施例においては前記３つのエリア３ａ
〜３ｃにおける実行テスト結果の伝送（ステップ４０
５）が終了すると、ステップ４０３により検査ライン制
御装置７が前述したステップ４０８及び４０９により格
納したテスト結果データの編集を行う（ステップ４１
０）。このテスト結果データの編集とは、エラーロギン
グ等の情報を元に、例えばどの機種のどのハードがどの
エリアでどの様な検査条件でエラーが発生したかとの編
集を含むものである。

【００１８】本実施例による検査ライン制御装置７は、
例えば初期ロットの複数台の情報処理装置８の検査が終
了した時点で前記編集したテスト結果データの判別及び
解析を行って当該検査対象である情報処理装置８の製品
仕様に基づいたハードウェア構成毎の製品水準を統計
し、この統計データを元にテスト項目及びラインタスク
（搬送速度）を調整して品質に応じた検査を行う。

【００１９】これを図６を参照して具体的に説明すると
装置の初期ロット分の検査が終了した検査ライン制御装
置７は、まず前述した複数装置のテスト結果データの収
集（ステップ６０１）を行ってから、これらデータの判
別及び解析を行うことにより、例えばどの機種のどのハ
ード部位がどのエリアでどの様な検査条件でエラーが発
生する確率が高い／低い／マージン等を演算して解析を
行い（ステップ６０２）、この初期ロット製品が製品仕
様による品質水準を満足している否かの判定を行う（ス
テップ６０３）。この判定により所定の品質水準を満足
していない場合、テスト項目の追加、例えばＦＤＤ１４
におけるリードライトエラーの発生率が高い場合は、更
に駆動電源の変動等のテスト項目を追加（ステップ６０
４）し、品質水準値の変更を行うか否かの判定を予め定
めた基準に従って判定する（ステップ６０５）。これは
例えば、品質の悪いハードウェア部品に対しての厳密な
検査を行う様に品質水準値の変更を行う。

【００２０】前記ステップ６０３において所定の品質水
準を満足している場合は、その満足しているハードウェ
ア部位の満足度に応じて品質水準の変更を行うか否かの
判定を前記同様にステップ６０５にて行って、水準を変
更する場合、例えばあるハード部位のあるエリアにおけ
る電源電圧変動のマージンが充分に大きいとき、その電
源電圧変動のテスト（検査）項目を削除（ステップ６０
６）する。

【００２１】検査ライン制御装置７は、前記ステップ６
０５又は６０６において品質水準の変更又はテスト項目
を削除した後、検査プログラムに対する先に変更したテ
スト項目パラメータの設定を行い（ステップ６０７）、
これを記憶装置に格納して一連の統計解析及び検査設定
条件の変更を終了する（ステップ６０８）。これによっ
て次ロットの検査工程において検査ライン制御装置７
は、前記検査条件を変更したテスト項目パラメータに変
更された次ロット製品の検査を開始する。

【００２２】従って本検査ラインシステムは、次ロット
の情報処理装置８の検査から、例えばテスト項目を削減
した場合はテスト工程のラインタクト（搬送速度）を短
縮し、検査時間を効率化して短縮することができる。逆
にテスト項目を追加した場合はラインタクトが長くなる
ものの製品の品質に応じた検査コストの適正化を行うこ
とができ、更に、この装置品質の悪いハード部位のデー
タは管理者にフィードバックされてハード部位自体の構
成部品の再検討や組立方法の再検討等の対策を行うこと
ができる。この様に本実施例による検査ラインシステム
は、一連の検査が終了した後に検査プログラムの変更を
行うことによって装置品質水準に応じた効率的な検査を
行うことができる。

【００２３】また前記テスト項目を削減した検査ライン
制御装置７は、定期的に品質水準値を戻す設定を行い、
このハードウェア構成部位ごとの解析統計結果を学習す
ることにより、品質向上を自動的に行うことができる。

【００２４】前記実施例においては検査途中の情報処理
装置８から非接触で検査結果データを検査ライン制御装
置７にフィードバックする例を説明したが、本発明はこ
れに限られるものではなく、例えば検査データをＦＤ１
７に順次格納しておき、所定数量の検査が終了した時点
で、検査ライン制御装置７が複数のＦＤ１７から検査デ
ータをオフラインで収集する様に構成しても良く、これ
を以下図５を参照して説明する。図５に示すフローチャ
ートは、前述の図４を参照して説明した検査プログラム
のロードから検査結果データの収集までを説明するため
のフロー図である。本フローは情報処理装置８が検査ラ
イン制御装置７からＦＤ１７に格納されたテストプログ
ラムをＦＤＤ１４を介してＨＤＤ１５にロードし（ステ
ップ５０１）、複数の検査工程，例えば低温エリア３ｃ
から高温エリア３ａの検査工程に応じた複数のテスト
（検査）内容を生成（ステップ５０２）してＨＤＤ１５
等に格納し、検査が最終工程を終了したか否かの判定
（ステップ５０３）を行った後に、装置８が位置する工
程（エリア）に応じた検査内容を実行する（ステップ５
０４）ことを示している。この検査内容は、前記図４の
フロー同様に各ハードウェア構成毎に複数の動作を設定
し、該検査動作中の動作状況、特にエラー発生／マージ
ン等の特性／処理時間等のデータをＨＤＤ１５に記憶す
る動作を含むものである。

【００２５】この所定工程の検査が終了した情報処理装
置８は、この検査結果データをＨＤＤ１５に保管し、ス
テップ５０３に戻って次のテスト工程の検査の実行（ス
テップ５０４）／実行テスト結果の保管（ステップ５０
５）を繰返す動作を行う。

【００２６】本実施例においては前記３つのエリア３ａ
〜３ｃにおける実行テスト結果の保管（ステップ５０
５）が終了した情報処理装置８は、テスト結果データを
ＦＤＤ１４を介してＦＤ１７にダウンロードする。この
ＦＤ１７の検査データはオフラインで検査ライン制御装
置７に入力される。複数装置の検査データを入力した検
査ライン制御装置７は、その実行テスト結果データの評
価を行い（ステップ５０６）、エラー有無を判定（ステ
ップ５０７）し、エラー「有」の場合はそのエラーロギ
ング（エラー発生エリア／ハード及び検査内容／結果等
の経過情報）を格納し、エラー「無」の場合はそのエリ
アにおけるエラーがないことを「ＯＫ」として格納（ス
テップ５０９）する。次いで制御装置７は、ステップ５
０８及び５０９により格納したテスト結果データの編集
を行う（ステップ５１０）。このテスト結果データの編
集とは、前記実施例同様にエラーロギング等の情報を元
に、例えばどの機種のどのハードがどのエリアでどの様
な検査条件でエラーが発生したかとの編集を含む。

【００２７】この様に編集されたテスト結果データは、
図６を用いて説明した前述の実施例同様に検査ライン制
御装置７が、所定台数分をオフラインで複数のＦＤ１７
から入力されるテスト結果データの収集（ステップ６０
１），解析（ステップ６０２），品質水準を満足してい
る否かの判定（ステップ６０３），該判定結果に応じた
テスト項目の追加又はテスト項目の削除（ステップ６０
４又は６０６）及び更新したテスト項目パラメータの設
定を行う。

【００２８】これによって本実施例においても、次ロッ
トの検査から例えばテスト項目を削減した場合はテスト
工程のラインタクト（搬送速度）を短縮することがで
き、検査時間を効率化して短縮することができる。逆に
テスト項目を追加した場合はラインタクトが長くなるも
のの製品の品質に応じた検査コストの適正化を行うこと
ができ、更に、この装置品質の悪いハード部位のデータ
は管理者にフィードバックされてハード部位自体の構成
部品の再検討や組立方法の再検討等の対策を行うことが
できる。また前記テスト項目を削減した検査ライン制御
装置７は、定期的に品質水準値を戻す設定を行い、この
ハードウェア構成部位ごとの解析統計結果を学習するこ
とにより、品質向上を自動的に行うことができる。

【００２９】この様に本実施例による検査ライン制御装
置７は、例えば初期ロットの複数台の情報処理装置８の
検査が終了した時点でテスト結果データをオフラインで
制御装置７に入力して判別及び解析を行って当該検査対
象である情報処理装置８の製品仕様に基づいたハードウ
ェア構成毎の製品水準を統計し、この統計データを元に
テスト項目及びラインタスク（搬送速度）を調整して品
質に応じた検査を行う。

【００３０】尚、本実施例による検査ライン制御装置７
は、前記図４乃至図６に示した処理フローを共通のプロ
グラム言語、例えばＵｎｉｘ ＯＳ／ＤＯＳ等でテスト
プログラムを部位毎に作成することによって互換性が確
保でき、テストプログラムの開発工数を大幅に削減する
ことができる。これによってユーザの使用環境に合った
出荷検査が実施でき、ＨＤＤ，ＦＤＤ等のデバイスのリ
ード／ライト時のリトライ数についても、性能仕様に合
致した検査が可能になる。

【００３１】また前記実施例においては検査ラインシス
テム３が低温エリア３ｃ／常温エリア３ｂ／高温エリア
３ａの３つのエリアから構成される例を説明したが、本
発明による検査ラインシステムはこれに限定されるもの
ではなく、湿度／振動／電源電圧の変動他のファクター
を更に混在させた多数のエリアとすることもできる。ま
たパレット５の電極及びコネクタの数は前記実施例のも
のに限られるものではなく、搭載する情報処理装置の構
成及び機能に応じて更に多数、例えば３本，４本以上に
しても良い。また検査対象である情報処理装置８は、図
３に示した構成に限られるものではなく、記憶手段とし
て光磁気ディスク，光ディスク，磁気テープ記憶装置他
であっても良い。

【００３２】また前記実施例では検査ライン制御装置７
からの検査プログラムを一旦ＨＤＤ１５に格納してから
検査プログラムを実行する例を説明したが、本発明はこ
れに限られるものではなく、例えば不揮発性メモリ１３
又はメモリ１１に直接ロードした実行しても良く、また
検査結果データもこれらメモリに一旦格納してから検査
ライン制御装置７にオンライン又はオフラインで転送し
ても良い。更に前記実施例においては、初期ロット品の
所定数量の検査が終了してから検査ライン制御装置７が
検査結果に応じて検査プログラムの変更を行う例を説明
したが、本発明はこれに限られるものではなく、あるロ
ットの検査途中において検査プログラムを変更する様に
構成しても良い。

【００３３】

【発明の効果】以上述べた如く本発明による検査ライン
システムは、複数のエリア中の複数環境中で検査プログ
ラムを実行した検査結果データを収集及び解析し、該解
析結果に応じて検査プログラムを装置品質の水準値に応
じて変更することにより、装置品質の水準に応じて効率
的に行うことができる。特に、情報処理装置の検査工程
において過剰な出荷検査をなくし、装置品質の水準に応
じた検査を実施することにより、検査及び確認に要する
コストを低減した生産ラインシステムを実現できる。ま
た機種毎に相違するテストプログラムを共通化し、プロ
グラムの開発期間の短縮及び、データの統計や解析作業
の効率向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である検査ラインシステムを
含む生産ラインシステムの概略図。

【図２】本生産ラインシステムに適用される搬送及び電
力供給用のパレットを説明するための図。

【図３】本実施例による検査対象である情報処理装置の
主な構成を示す図。

【図４】本実施例による検査ラインシステムの検査プロ
グラムを説明するためのフローチャート。

【図５】他の実施例による検査ラインシステムの検査プ
ログラムを説明するためのフローチャート。

【図６】本実施例による検査データの収集及び変更を説
明するためのフローチャート。

【符号の説明】

１…生産ラインシステム、２…組立ラインシステム、３
…検査ラインシステム、３０〜３ｎ…エリア、４…ベル
トコンベア、５…パレット、５ａ，５ｂ…電極、６₁〜
６_n…接触子、７…検査ライン制御装置、８…情報処理
装置、９…コネクタ、１０…ＣＰＵ、１１…メモリ、１
２…Ｉ／Ｏ、１３…不揮発性メモリ、１４…ＦＤＤ、１
５…ＨＤＤ、１６…通信アダプタ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鯉川 敬一郎 愛知県尾張旭市晴丘町池上１番地 株式会 社日立製作所オフィスシステム事業部内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査プログラムを格納するメモリ及び該
   検査プログラムを実行するＣＰＵとを含む複数の情報処
   理装置の検査を行う検査ラインシステムであって、該情
   報処理装置を搬送させる搬送手段と、該搬送中の情報処
   理装置の動作環境が複数設定された複数のエリアと、該
   搬送手段の搬送速度及び複数エリアの動作環境を制御す
   ると共に前記検査プログラムを変更する検査ライン制御
   装置とを備え、前記搬送手段によって複数のライン内の
   動作環境中を搬送する情報処理装置がメモリに格納した
   検査プログラムをＣＰＵにより実行し、この実行結果で
   ある検査結果データを一時的に記憶すると共に、検査ラ
   イン制御装置が複数の情報処理装置の前記検査結果デー
   タを収集して解析し、該解析結果に応じて検査プログラ
   ムを装置品質の水準値に応じて変更することを特徴とす
   る検査ラインシステム。