JPH0722369A - Chemical mixing device for substrate treating apparatus - Google Patents

Chemical mixing device for substrate treating apparatus

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Publication number
JPH0722369A
JPH0722369A JP16139793A JP16139793A JPH0722369A JP H0722369 A JPH0722369 A JP H0722369A JP 16139793 A JP16139793 A JP 16139793A JP 16139793 A JP16139793 A JP 16139793A JP H0722369 A JPH0722369 A JP H0722369A
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JP
Japan
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chemical
pure water
chemical liquid
pressure
substrate
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Pending
Application number
JP16139793A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Sugimoto
賢司 杉本
Seiya Fujisaki
征也 藤崎
Junichi Yonemura
潤一 米村
Hiroyuki Araki
浩之 荒木
Fumihiro Ikeda
文浩 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP16139793A priority Critical patent/JPH0722369A/en
Publication of JPH0722369A publication Critical patent/JPH0722369A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide a chemical mixing equipment which is simple in structure but capable of stably feeding chemicals independent of the influence of adventitious factors. CONSTITUTION:A chemical mixing equipment is a device which supplies chemicals and pure water to a substrate cleaning tank 12 of a substrate treating apparatus mixing them together. The equipment is equipped with a pure water feed pipe 18, a chemical storing vessel 22A, a chemical feed pipe 40, and a nitrogen gas piping 39 provided with a corrosion-resistant regulator 34. The pure water feed pipe 18 in which pure water flows is connected to a substrate cleaning tank 12. The chemical storing vessel 22A is a hermetically closed vessel. Chemical introducing valves 20A to 20D, are provided to the tip of the chemical feed pipe 40 to introduce chemicals to the pure water feed pipe 18 from the chemical storing vessel 22A. The nitrogen gas piping 39 is used for forcibly feeding chemicals to the chemical feed pipe 40 from the chemical storing vessel 22A, so that the chemical storing vessel 22A, is pressurized by nitrogen gas of certain pressure controlled by the corrosion-resistant regulator 34.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、薬液混合装置、特に、
基板処理装置の基板処理槽に薬液と純水を混合して供給
する基板処理装置の薬液混合装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
The present invention relates to a chemical liquid mixing apparatus for a substrate processing apparatus, which mixes and supplies a chemical solution and pure water to a substrate processing tank of the substrate processing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体基板や液晶用ガラス基板等の薄板
状の被処理基板(以下、単に基板と記す)を表面処理す
る場合には、基板を処理槽内に浸漬して処理する浸漬型
の基板処理装置が一般に用いられる。この種の従来装置
としては、たとえば実開平4−99269号に示された
装置がある。
2. Description of the Related Art When surface-treating a thin substrate to be treated (hereinafter, simply referred to as a substrate) such as a semiconductor substrate or a glass substrate for liquid crystal, the substrate is immersed in a treatment tank for treatment. A substrate processing apparatus is generally used. An example of this type of conventional device is the device disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 4-99269.

【0003】この装置は、基板の表面処理を行うための
基板処理槽と、処理液を基板処理槽内へ供給する処理液
供給部とから構成されている。処理液供給部には、処理
液供給管と薬液貯溜容器とが設けられ、この処理液供給
管と薬液貯溜容器との間には薬液導入弁が設けられてい
る。さらに薬液導入弁より上流側に一定量の薬液が導入
されるようにポンプが設けられている。このポンプによ
って薬液を圧送し、薬液導入弁上流側で循環させておく
ことにより、薬液導入弁が開かれた際に、所望量の薬液
を即座に処理液供給管に導入できる。このため、所望濃
度の薬液を即座に基板処理槽内に供給できる。
This apparatus is composed of a substrate processing bath for performing a surface treatment of a substrate and a processing liquid supply section for supplying a processing liquid into the substrate processing bath. The treatment liquid supply unit is provided with a treatment liquid supply pipe and a chemical liquid storage container, and a chemical liquid introduction valve is provided between the treatment liquid supply pipe and the chemical liquid storage container. Further, a pump is provided so as to introduce a certain amount of the chemical liquid upstream of the chemical liquid introduction valve. By pumping the chemical liquid by this pump and circulating the chemical liquid upstream of the chemical liquid introduction valve, a desired amount of the chemical liquid can be immediately introduced into the treatment liquid supply pipe when the chemical liquid introduction valve is opened. Therefore, the chemical solution having the desired concentration can be immediately supplied into the substrate processing bath.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】前記従来の構成では、
薬液を圧送するために各薬液貯溜容器に対応して複数の
圧送用ポンプが必要になる。一般に、基板処理装置はク
リーンルーム内に設置されるが、複数の圧送用ポンプを
基板処理装置内に設けると大きなスペースが必要にな
り、基板処理装置を大きくしなければならない。また、
ポンプは可動部を有しているので、発塵によって基板処
理用薬液が汚染されるおそれがある。
SUMMARY OF THE INVENTION In the above conventional configuration,
In order to pump the chemical liquid, a plurality of pumps for pressure feeding are required corresponding to each chemical liquid storage container. Generally, the substrate processing apparatus is installed in a clean room, but if a plurality of pumps for pressure feeding are provided in the substrate processing apparatus, a large space is required and the substrate processing apparatus must be made large. Also,
Since the pump has a movable part, there is a possibility that the substrate processing chemical may be contaminated by dust generation.

【0005】これらの2つの要因を抑えるために、本出
願人はすでに、アスピレータを用いた薬液混合装置を提
案している。この薬液混合装置は、純水供給路と、純水
供給路中に配置され、純水の流通によって減圧空間を形
成するアスピレータ部と、一端がアスピレータ部に開口
し、薬液が通過する薬液供給路と、薬液供給路のアスピ
レータ開口部に配置された薬液導入弁とを備えている。
この薬液混合装置では、純水供給路を介して基板処理装
置に純水が供給される。この純水の供給により、アスピ
レータ部において減圧空間が形成される。この減圧空間
が薬液供給路に連結されているので、薬液導入弁を開く
と、減圧空間に純水の流通量に応じた薬液が吸いだされ
る。
In order to suppress these two factors, the present applicant has already proposed a chemical liquid mixing device using an aspirator. This chemical liquid mixing device includes a pure water supply passage, an aspirator portion arranged in the pure water supply passage to form a decompression space by the flow of pure water, and a chemical liquid supply passage through which one end is opened to the aspirator portion and the chemical liquid passes through. And a liquid medicine introducing valve arranged at the opening of the aspirator of the liquid medicine supply passage.
In this chemical liquid mixing apparatus, pure water is supplied to the substrate processing apparatus via the pure water supply passage. By supplying this pure water, a depressurized space is formed in the aspirator portion. Since this depressurized space is connected to the chemical liquid supply passage, when the chemical liquid introduction valve is opened, the chemical liquid corresponding to the flow rate of pure water is sucked into the depressurized space.

【0006】しかし、アスピレータを用いると、薬液や
純水の配管条件、薬液や純水の圧力変動等の外来要因に
より、その薬液導入量が影響を受けやすい。また、アス
ピレータ構造を形成するために、その部分の構造が複雑
になる。本発明の目的は、発塵による薬液汚染を抑えな
がら、外来要因の影響を受けることなく簡素な構造で薬
液を安定供給することにある。
However, when the aspirator is used, the amount of the introduced chemical solution is easily affected by external factors such as piping conditions for the chemical solution or pure water and pressure fluctuations of the chemical solution or pure water. Further, since the aspirator structure is formed, the structure of that portion becomes complicated. An object of the present invention is to stably supply a chemical solution with a simple structure without being affected by external factors while suppressing chemical solution contamination due to dust generation.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る薬液混合装
置は、基板処理装置の基板処理槽に薬液と純水とを混合
して供給する装置であって、液供給路と耐圧密閉槽と薬
液搬送部と加圧手段とを備えている。液供給路は、基板
処理槽に接続され、純水が通過するものである。耐圧密
閉槽は、薬液を貯溜するものである。薬液搬送部は、耐
圧密閉槽から液供給路へと薬液を導く薬液搬送路と薬液
搬送路に設けられた薬液導入弁とを有している。加圧手
段は、耐圧密閉槽から薬液搬送路へ薬液を圧送するた
め、耐圧密閉槽内を加圧するものである。
A chemical mixing apparatus according to the present invention is an apparatus for mixing and supplying a chemical solution and pure water to a substrate processing tank of a substrate processing apparatus, which comprises a liquid supply path and a pressure-proof sealed tank. It is provided with a chemical liquid carrier and a pressurizing means. The liquid supply path is connected to the substrate processing tank and allows pure water to pass therethrough. The pressure-resistant closed tank stores the chemical solution. The chemical liquid transfer section has a chemical liquid transfer path for guiding the chemical liquid from the pressure tight sealed tank to the liquid supply path, and a chemical liquid introduction valve provided in the chemical liquid transfer path. The pressurizing means pressurizes the inside of the pressure-resistant sealed tank in order to pump the chemical solution from the pressure-resistant sealed tank to the chemical liquid transport path.

【0008】[0008]

【作用】本発明に係る薬液混合装置では、純水が液供給
路を通過して基板処理槽に投入される。また耐圧密閉槽
に貯溜された薬液は、薬液搬送路と薬液導入弁とを介し
て液供給路に供給される。この薬液の圧送は、耐圧密閉
槽内を加圧手段が加圧することにより行われる。
In the chemical liquid mixing apparatus according to the present invention, pure water is introduced into the substrate processing bath through the liquid supply passage. Further, the chemical solution stored in the pressure-resistant closed tank is supplied to the solution supply path via the chemical solution transport path and the chemical solution introduction valve. The pressure feeding of the chemical liquid is performed by the pressurizing means pressurizing the inside of the pressure-resistant closed tank.

【0009】ここでは、耐圧密閉槽の加圧により薬液を
液供給路に供給しているので、薬液の導入量を純水の供
給量に依存することなく決定できる。このため外来要因
の変動による影響を受けることなく簡素な構造で安定し
て薬液を供給できる。また、ポンプが不要となるので発
塵による薬液汚染を抑えることができる。
Here, since the chemical solution is supplied to the liquid supply path by pressurization of the pressure-resistant closed tank, the introduction amount of the chemical solution can be determined without depending on the supply amount of pure water. Therefore, the chemical liquid can be stably supplied with a simple structure without being affected by fluctuations in external factors. Further, since a pump is not required, it is possible to suppress chemical solution contamination due to dust generation.

【0010】[0010]

【実施例】図1及び図2において、本発明の一実施例を
採用した浸漬型基板洗浄装置1は、多数の基板を収容し
たキャリアCの搬入・搬出部2と、キャリアCからの基
板Wの取り出しまたはキャリアCへの基板Wの装填を行
う基板移載部3と、キャリアCを洗浄するためのキャリ
ア洗浄器3aと、搬入・搬出部2と基板移載部3とキャ
リア洗浄器3aとの間でキャリアCを移載するキャリア
移載ロボット4と、複数の基板を一括して洗浄する浸漬
型基板洗浄処理部5と、基板の液切り及び乾燥を行うた
めの基板乾燥部6と、基板移載部3でキャリアCから取
り出した複数の基板を一括保持して基板洗浄処理部5及
び基板乾燥部6に搬送する基板搬送ロボット7とから構
成されている。
1 and 2, an immersion type substrate cleaning apparatus 1 adopting an embodiment of the present invention is a loading / unloading section 2 for a carrier C containing a large number of substrates and a substrate W from the carrier C. A substrate transfer section 3 for taking out the wafer or loading the substrate W on the carrier C, a carrier cleaning unit 3a for cleaning the carrier C, a loading / unloading section 2, a substrate transfer section 3, and a carrier cleaning unit 3a. A carrier transfer robot 4 for transferring the carrier C between them, an immersion type substrate cleaning processing unit 5 for cleaning a plurality of substrates at a time, a substrate drying unit 6 for draining and drying the substrates, The substrate transfer unit 3 is configured to include a substrate transfer robot 7 that collectively holds a plurality of substrates taken out from the carrier C and transfers the substrates to the substrate cleaning processing unit 5 and the substrate drying unit 6.

【0011】基板移載部3はキャリアCを載置する回転
可能な2つのテーブル8を有している。テーブル8は、
キャリアCを必要に応じて90°回転させる。テーブル
8の中心には、矩形の開口が形成されており、この開口
の下方には、キャリアCから基板Wを一括して取り出す
とともに、キャリアCに基板Wを一括して装填するため
の昇降可能な基板受け部8aが配置されている。
The substrate transfer section 3 has two rotatable tables 8 on which the carrier C is placed. Table 8 is
The carrier C is rotated 90 ° if necessary. A rectangular opening is formed in the center of the table 8. Below this opening, the substrates W can be collectively taken out from the carrier C and can be moved up and down so that the carriers C can be collectively loaded. The substrate receiving portion 8a is arranged.

【0012】キャリア移載ロボット4は、昇降及び回転
自在でありかつ図1の矢印A方向に移動可能に構成され
ている。キャリア移載ロボット4は、搬入・搬出部2に
搬入されてきたキャリアCをテーブル8上に移載し、基
板洗浄中においてキャリア洗浄器3aとテーブル8との
間でキャリアCを出し入れし、また洗浄済の基板Wを収
容したキャリアCをテーブル8から搬入・搬出部2へ移
載する。
The carrier transfer robot 4 is vertically movable and rotatable, and is movable in the direction of arrow A in FIG. The carrier transfer robot 4 transfers the carrier C carried into the carry-in / carry-out section 2 onto the table 8 and takes the carrier C in and out between the carrier cleaning device 3a and the table 8 during substrate cleaning, and The carrier C containing the cleaned substrate W is transferred from the table 8 to the loading / unloading section 2.

【0013】基板搬送ロボット7は、移動部10内を矢
印B方向に移動可能であり、基板移載部3の基板受け部
8aから受け取った複数の基板Wを挟持する基板挟持ア
ーム9を有している。このロボット7は、基板挟持アー
ム9で挟持した複数の基板Wを移動部10に沿って基板
洗浄処理部5及び基板乾燥部6へ順次搬送する。基板洗
浄処理部5は、オーバーフロー型のものであり、3つの
基板洗浄槽12と、基板洗浄槽12に昇降自在に設けら
れた基板保持具11とを備えている。各洗浄槽12に
は、基板搬送ロボット7から受け取った複数の基板Wが
基板保持具11で保持され浸漬される。
The substrate transfer robot 7 is movable in the direction of arrow B in the moving unit 10 and has a substrate holding arm 9 for holding a plurality of substrates W received from the substrate receiving unit 8a of the substrate transfer unit 3. ing. The robot 7 sequentially conveys the plurality of substrates W held by the substrate holding arm 9 along the moving unit 10 to the substrate cleaning processing unit 5 and the substrate drying unit 6. The substrate cleaning processing unit 5 is of an overflow type and is provided with three substrate cleaning tanks 12 and a substrate holder 11 provided in the substrate cleaning tank 12 so as to be vertically movable. A plurality of substrates W received from the substrate transport robot 7 are held and dipped in each cleaning tank 12 by the substrate holder 11.

【0014】基板洗浄槽12は、石英ガラス製であり、
側面視略V字状,平面視略矩形状に形成されている。基
板洗浄槽12内は、洗浄液の均一な上昇流を形成して基
板Wを表面処理するとともに、洗浄液を複数種の洗浄処
理工程ごとに迅速に置換し得るオーバーフロー槽として
構成されている。なお、基板洗浄槽12は石英ガラス製
に限られず、たとえば、洗浄液として石英ガラスを払拭
させてしまうフッ酸等を用いる場合には、4フッ化エチ
レン樹脂等の樹脂製材料で形成したものでもよい。
The substrate cleaning tank 12 is made of quartz glass,
It is formed in a substantially V shape in a side view and a substantially rectangular shape in a plan view. The inside of the substrate cleaning tank 12 is configured as an overflow tank capable of forming a uniform upward flow of the cleaning liquid to surface-treat the substrate W and quickly replace the cleaning liquid in each of a plurality of types of cleaning processing steps. It should be noted that the substrate cleaning tank 12 is not limited to being made of quartz glass. For example, when hydrofluoric acid or the like that wipes the quartz glass is used as the cleaning liquid, it may be made of a resin material such as tetrafluoroethylene resin. .

【0015】洗浄処理部5は、図3に示すように、各基
板洗浄槽12へ下方より複数種の洗浄液を供給する洗浄
液供給部13と、各基板洗浄槽12よりオーバーフロー
した洗浄液を排出する洗浄液排出部14とを有してい
る。基板洗浄槽12の周囲には、洗浄液排出部14を構
成するオーバーフロー液回収部15が設けられている。
このオーバーフロー液回収部15には排液管16が接続
され、排液管16には排液ドレイン17が接続されてい
る。ここでは、オーバーフロー液回収部15でオーバー
フローした洗浄液は、排液管16を介して排液ドレイン
17へ排出される。
As shown in FIG. 3, the cleaning processing unit 5 includes a cleaning liquid supply unit 13 for supplying a plurality of kinds of cleaning liquid to each substrate cleaning tank 12 from below, and a cleaning liquid for discharging the cleaning liquid overflowing from each substrate cleaning tank 12. And a discharge unit 14. Around the substrate cleaning tank 12, an overflow liquid recovery unit 15 that constitutes the cleaning liquid discharge unit 14 is provided.
A drain pipe 16 is connected to the overflow liquid recovery unit 15, and a drain drain 17 is connected to the drain pipe 16. Here, the cleaning liquid overflowed in the overflow liquid recovery unit 15 is discharged to the drain drain 17 via the drain pipe 16.

【0016】洗浄液供給部13は、各基板洗浄槽12の
下部にそれぞれ連結された純水供給管18を備えてい
る。純水供給管18には、基板洗浄槽12より上流側へ
順に導入弁連結管19、流量計26及び制御弁27が配
置されている。純水供給管18には、常温のまたは所定
温度に加熱された純水DW が供給される。導入弁連結管
19には、上流側(洗浄槽12と逆側)の端部から順
に、純水供給弁23と、排液弁25と、複数の薬液導入
弁20A 〜20D とが設けられている。各薬液導入弁2
A 〜20D には、薬液QA 〜QD を供給するための薬
液圧送部21が連結されている(薬液導入弁20A 用の
みを図示)。この薬液導入弁20A 〜20D は選択的に
開閉制御され、薬液圧送部21からの所定の薬液を純水
供給管18に導入する。
The cleaning liquid supply unit 13 includes pure water supply pipes 18 connected to the lower portions of the respective substrate cleaning tanks 12. Into the pure water supply pipe 18, an introduction valve connecting pipe 19, a flow meter 26 and a control valve 27 are arranged in this order from the substrate cleaning tank 12 to the upstream side. Pure water D W heated to room temperature or a predetermined temperature is supplied to the pure water supply pipe 18. The introduction valve connecting pipe 19 is provided with a pure water supply valve 23, a drainage valve 25, and a plurality of chemical liquid introduction valves 20 A to 20 D in this order from the upstream side (opposite side to the cleaning tank 12). Has been. Each chemical liquid introduction valve 2
0 A The to 20 D, (shown only for chemical introducing valve 20 A) the chemical solution Q A to Q D chemical pumping unit 21 for supplying is connected to. The chemical liquid introduction valves 20 A to 20 D are selectively opened / closed to introduce a predetermined chemical liquid from the chemical liquid pressure-feeding section 21 into the pure water supply pipe 18.

【0017】導入弁連結管19の内部には、図4に示す
ように、上流側端から下流側(洗浄槽12側)端に直線
状の流体通路24が形成されている。そして、下流端に
は洗浄槽12からの配管が接続される接続口24aが形
成されており、中間部の内壁には4つの薬液導入弁20
A 〜20D の2次側流路が流体の供給方向に沿って開口
している。また、導入弁連結管19の側面には、薬液導
入口20a〜20d(20dのみ図示)が形成されてお
り、この薬液導入口20a〜20dに薬液圧送部21か
らの配管が接続されている。さらに、導入弁連結管19
の上流端には、流体通路24に連通する純水供給ポート
23aが形成されている。純水供給ポート23aには純
水供給管18が連結されている。純水供給ポート23a
の下流側に隣接して、流体通路24に連通する排液ポー
ト25aが形成されている。この排液ポート25aには
排液管16が接続されている。純水供給ポート23a及
び排液ポート25aは、それぞれ純水供給弁23及び排
液弁25により開閉されるようになっている。
Inside the introduction valve connecting pipe 19, as shown in FIG. 4, a linear fluid passage 24 is formed from the upstream end to the downstream (cleaning tank 12 side) end. A connection port 24a to which a pipe from the cleaning tank 12 is connected is formed at the downstream end, and the four chemical liquid introduction valves 20 are provided on the inner wall of the intermediate portion.
Secondary flow path A to 20 D are opened along the feed direction of the fluid. Further, chemical liquid inlets 20a to 20d (only 20d is shown) are formed on the side surface of the introduction valve connecting pipe 19, and pipes from the chemical liquid pressure feeding section 21 are connected to the chemical liquid inlets 20a to 20d. Further, the introduction valve connecting pipe 19
A pure water supply port 23a communicating with the fluid passage 24 is formed at the upstream end of the. A pure water supply pipe 18 is connected to the pure water supply port 23a. Pure water supply port 23a
A drainage port 25a communicating with the fluid passage 24 is formed adjacent to the downstream side of the. The drainage pipe 16 is connected to the drainage port 25a. The pure water supply port 23a and the drainage port 25a are opened and closed by the pure water supply valve 23 and the drainage valve 25, respectively.

【0018】さらに、導入弁連結管19には、図5に示
すように、排液弁25の2次側流路と純水供給弁23の
1次側流路とを結ぶ流路30が形成されており、この流
路30には、配管中の死水(通路に液が滞留すること)
を防止するためのドレイン弁29が配置されている。各
薬液圧送部21は、1種類の薬液を貯溜するための薬液
貯溜容器22A (22B 〜22D )を有している。薬液
貯溜容器22A (22B 〜22D )は密閉型の容器であ
り、この容器22A には、窒素ガス配管39と薬液供給
配管40とが接続されている。窒素ガス配管39は、容
器22A の上部に開口し、薬液供給配管40は、容器2
A の底部近傍まで達している。薬液貯溜容器22A
は、窒素ガス配管39を介して窒素ガス源31から窒素
ガスが供給される。薬液貯溜容器22A と窒素ガス源3
1との間の窒素ガス配管39には、上流側から順に窒素
供給バルブ32、フィルタ33及び圧力調整用の耐食レ
ギュレータ34が配置されている。ここで耐食レギュレ
ータ34を用いたのは、薬液貯溜容器22A から腐食性
の薬液のガスが逆流することがあるからである。
Further, in the introduction valve connecting pipe 19, as shown in FIG. 5, a flow passage 30 connecting the secondary flow passage of the drainage valve 25 and the primary flow passage of the pure water supply valve 23 is formed. In this flow path 30, dead water in the pipe (liquid stays in the passage)
A drain valve 29 for preventing the above is arranged. Each chemical liquid pumping unit 21 has a chemical liquid storage container 22 A (22 B to 22 D ) for storing one type of chemical liquid. Chemical reservoir container 22 A (22 B ~22 D) is the container sealed, this container 22 A, and the nitrogen gas pipe 39 and the chemical liquid supply pipe 40 is connected. The nitrogen gas pipe 39 is opened at the upper part of the container 22 A , and the chemical liquid supply pipe 40 is connected to the container 2
It has reached near the bottom of 2 A. Nitrogen gas is supplied to the chemical liquid storage container 22 A from a nitrogen gas source 31 through a nitrogen gas pipe 39. Chemical liquid storage container 22 A and nitrogen gas source 3
A nitrogen gas supply valve 32, a filter 33, and a corrosion-resistant regulator 34 for pressure adjustment are arranged in this order from the upstream side in the nitrogen gas pipe 39 between the first and the second parts. The reason why the corrosion resistant regulator 34 is used is that the corrosive chemical solution gas may flow back from the chemical solution storage container 22 A.

【0019】耐食レギュレータ34のパイロットポート
には、電空レギュレータ35から圧力調整された空気が
供給される。電空レギュレータ35は、電気信号により
空気圧を制御する弁であり、そこには、空気圧源36か
ら加圧された空気が供給される。電空レギュレータ35
には、プログラマブルコントローラ37が接続されてい
る。プログラマブルコントローラ37には、薬液供給配
管40の圧力を検出する圧力センサ38からの圧力信号
が与えられる。プログラマブルコントローラ37は、検
出された圧力値に応じたフィードバック信号を電空レギ
ュレータ35に与える。
Air whose pressure is adjusted is supplied from an electropneumatic regulator 35 to the pilot port of the corrosion resistant regulator 34. The electropneumatic regulator 35 is a valve that controls the air pressure by an electric signal, to which pressurized air is supplied from an air pressure source 36. Electropneumatic regulator 35
A programmable controller 37 is connected to the. The programmable controller 37 is supplied with a pressure signal from a pressure sensor 38 that detects the pressure in the chemical liquid supply pipe 40. The programmable controller 37 gives a feedback signal according to the detected pressure value to the electropneumatic regulator 35.

【0020】薬液供給配管40は、各洗浄槽12の薬液
導入弁20A に分岐している。薬液供給配管40の分岐
部より上流側には、流量計41とフィルタ42とが配置
されている。フィルタ42には、加圧ドレイン用のスト
ップ弁44が接続されている。ストップ弁44はドレイ
ン17に接続されている。また薬液貯溜容器22A
は、リリーフ用の調整弁43も接続されている。
The chemical liquid supply pipe 40 is branched to the chemical liquid introduction valve 20 A of each cleaning tank 12. A flow meter 41 and a filter 42 are arranged on the upstream side of the branch portion of the chemical liquid supply pipe 40. A stop valve 44 for pressurized drain is connected to the filter 42. The stop valve 44 is connected to the drain 17. Also the drug solution reservoir container 22 A, control valve 43 of the relief is also connected.

【0021】次に洗浄液供給部13の制御弁27につい
て説明する。制御弁27は、純水DW を定流量・定圧に
制御するためのものであり、図6に示すように、PVD
F等の樹脂製の弁本体48と、弁本体48の上部に配置
された弁カバー49と、弁本体48と弁カバー49との
間に配置されたダイヤフラム50と、ダイヤフラム50
に連動して弁本体48中を上下に移動可能な弁体51と
を有している。
Next, the control valve 27 of the cleaning liquid supply section 13 will be described. The control valve 27 is for controlling the pure water D W at a constant flow rate and a constant pressure, and as shown in FIG.
A valve body 48 made of resin such as F, a valve cover 49 arranged on the valve body 48, a diaphragm 50 arranged between the valve body 48 and the valve cover 49, and a diaphragm 50.
And a valve element 51 that can move up and down in the valve body 48.

【0022】弁本体48の上部には、吐出側(2次側)
の純水が導入される液圧導入室52が形成されている。
また弁本体48の内部には、純水が流通する純水流路5
3が形成されている。純水流路53は、基端に導入口5
4が形成された導入流路55と、導入流路55の先端か
ら上方に延びる弁体流路56と、弁体流路56の先端か
ら図6の右方に延びる吐出流路57とから構成されてい
る。弁体流路56には弁座72が形成されている。吐出
流路57の先端には吐出口58が形成されている。吐出
流路57と液圧導入室52との間には、これらを連通す
る連通孔59が形成されている。
At the upper portion of the valve body 48, the discharge side (secondary side)
A hydraulic pressure introducing chamber 52 into which pure water of is introduced is formed.
Further, inside the valve body 48, the pure water flow path 5 through which pure water flows
3 is formed. The pure water channel 53 has an inlet 5 at the base end.
4 is formed, a valve passage 56 extending upward from the tip of the introduction passage 55, and a discharge passage 57 extending from the tip of the valve passage 56 to the right in FIG. Has been done. A valve seat 72 is formed in the valve body flow path 56. A discharge port 58 is formed at the tip of the discharge flow path 57. A communication hole 59 is formed between the discharge flow path 57 and the hydraulic pressure introduction chamber 52 to connect them.

【0023】弁体流路56の下方には空気室60が形成
されている。空気室60には、弁体51に当接可能なピ
ストン61が上下移動可能に配置されている。この空気
室60は、カバー62により気密に封止されている。こ
のカバー62には、空気導入口63が形成されている。
また空気室60の上部には、弁本体48の側部に形成さ
れた空気導入口64に連通する空気孔65が開口してい
る。
An air chamber 60 is formed below the valve body flow path 56. In the air chamber 60, a piston 61 that can contact the valve body 51 is arranged so as to be vertically movable. The air chamber 60 is hermetically sealed by a cover 62. An air inlet 63 is formed in this cover 62.
Further, an air hole 65 communicating with an air introduction port 64 formed in a side portion of the valve body 48 is opened in an upper portion of the air chamber 60.

【0024】弁カバー49は、下部に空気導入室66が
形成されている。この空気導入室66は、ダイヤフラム
50により液圧導入室52に対して気密に分離されてい
る。空気導入室66には、空気導入口67が連通してい
る。また空気導入室66には、上下に移動可能なピスト
ン68が配置されている。ピストン68の下端には、大
径のフランジ部69が形成されている。
An air introducing chamber 66 is formed in the lower portion of the valve cover 49. The air introducing chamber 66 is airtightly separated from the hydraulic pressure introducing chamber 52 by the diaphragm 50. An air introduction port 67 communicates with the air introduction chamber 66. Further, a piston 68 that is vertically movable is arranged in the air introduction chamber 66. A large-diameter flange portion 69 is formed at the lower end of the piston 68.

【0025】弁体51は上部に、フランジ部69ととも
にダイヤフラム50を挟むフランジ部70を有してい
る。これにより弁体51は、ダイヤフラム50に連動し
て上下動する。弁体51の下部は、上部に比べて径が大
きくなっている。弁体51の上部と下部との間にはテー
パ部71が形成されている。このテーパ部71は、弁本
体48の弁体流路56に形成された弁座72に嵌合し
て、導入流路35と吐出流路37とを遮断可能である。
なお、弁体51及び弁座72は、互いに嵌合する形状で
あれば任意の形状が採用できる。
The valve body 51 has a flange portion 70 with the flange portion 69 sandwiching the diaphragm 50 in the upper portion. As a result, the valve body 51 moves up and down in conjunction with the diaphragm 50. The diameter of the lower portion of the valve body 51 is larger than that of the upper portion. A tapered portion 71 is formed between the upper portion and the lower portion of the valve body 51. The taper portion 71 can be fitted into the valve seat 72 formed in the valve body flow passage 56 of the valve body 48 to shut off the introduction flow passage 35 and the discharge flow passage 37.
Note that the valve body 51 and the valve seat 72 may have any shape as long as they fit into each other.

【0026】また、弁体51の上下位置は、空気導入室
66に導入された空気の圧力と、液圧導入室52に導入
された2次側の純水の圧力との差圧により定まる。した
がって、圧力調整時には、空気導入室66に所望の圧力
を導入することにより、純水流路53における吐出流路
57側の圧力が一定の圧力となるとともに、その流量が
一定の流量となる。また、空気導入室66に低い圧力の
空気を導入することにより、少量の純水を流すことがで
きる。これにより、節水機能を実現できる。さらに、空
気導入口63から高圧の空気を導入することにより、弁
体51が上方に押し上げられ、純水流路53が遮断され
る。
The vertical position of the valve element 51 is determined by the pressure difference between the pressure of the air introduced into the air introduction chamber 66 and the pressure of the pure water on the secondary side introduced into the hydraulic pressure introduction chamber 52. Therefore, at the time of pressure adjustment, by introducing a desired pressure into the air introduction chamber 66, the pressure of the pure water flow passage 53 on the discharge flow passage 57 side becomes a constant pressure and the flow rate becomes a constant flow rate. Further, a small amount of pure water can be made to flow by introducing low pressure air into the air introducing chamber 66. Thereby, the water saving function can be realized. Further, by introducing high-pressure air from the air introduction port 63, the valve body 51 is pushed up and the pure water flow path 53 is shut off.

【0027】次に耐食レギュレータ34について説明す
る。耐食レギュレータ34は、図7に示すように、PV
DF等の樹脂製の弁本体81と、弁本体81の上部に配
置された上カバー82と、弁本体81の下部に配置され
た下カバー83とを主に有している。弁本体81の上部
には、ガス圧導入室86が形成されている。また弁本体
81の内部には、窒素ガスが流通するガス流路84が形
成されている。ガス流路84は、弁本体81の図7左側
面に開口する入側ポート85に連なる入側流路87と、
入側流路87の先端からガス圧導入室86に向かって上
方に延びる弁体流路88と、ガス圧導入室86から下方
に延び、90°折れ曲がって弁本体81の図7右側面に
開口する出側流路89とから構成されている。出側流路
89の先端には出側ポート90が形成されている。ま
た、弁体流路88の途中にはテーパ状の弁座91が形成
されている上カバー82の下面には、ガス圧導入室86
に対向する空気圧導入室94が形成されている。空気圧
導入室94は、上カバー82の右側面に開口するパイロ
ットポート101に連通している。ガス圧導入室86と
空気圧導入室94とは、弁本体81と上カバー82との
間に配置されたダイヤフラム92により気密に分離され
ている。ダイヤフラム92にはピストン93が一体的に
取り付けられており、ピストン93は、空気圧導入室9
4内を上下に移動可能である。ピストン93の上方に
は、上カバー82に排気ポート95が形成されている。
Next, the corrosion resistant regulator 34 will be described. As shown in FIG. 7, the corrosion resistance regulator 34 is
It mainly has a valve main body 81 made of resin such as DF, an upper cover 82 arranged above the valve main body 81, and a lower cover 83 arranged below the valve main body 81. A gas pressure introducing chamber 86 is formed in the upper portion of the valve body 81. Further, inside the valve body 81, a gas flow path 84 through which nitrogen gas flows is formed. The gas flow passage 84 includes an inlet-side flow passage 87 that is continuous with an inlet-side port 85 that opens to the left side surface of FIG.
A valve body flow passage 88 extending upward from the tip of the inlet side flow passage 87 toward the gas pressure introduction chamber 86, and a valve body flow passage 88 extending downward from the gas pressure introduction chamber 86, bent at 90 ° and opened to the right side surface of the valve body 81 in FIG. 7. And an outlet-side flow channel 89 that An outlet port 90 is formed at the tip of the outlet passage 89. Further, a gas pressure introducing chamber 86 is provided on the lower surface of the upper cover 82 in which a tapered valve seat 91 is formed in the middle of the valve body flow passage 88.
An air pressure introducing chamber 94 is formed opposite to. The air pressure introducing chamber 94 communicates with the pilot port 101 opening on the right side surface of the upper cover 82. The gas pressure introducing chamber 86 and the air pressure introducing chamber 94 are airtightly separated by a diaphragm 92 arranged between the valve body 81 and the upper cover 82. A piston 93 is integrally attached to the diaphragm 92, and the piston 93 is attached to the air pressure introducing chamber 9
It is possible to move up and down in 4. An exhaust port 95 is formed in the upper cover 82 above the piston 93.

【0028】ピストン93の下部には、弁体流路88を
上下に移動可能な弁体96が当接配置されている。弁体
96は、下方にいくにつれて径が徐々に大きくなる拡径
部102を中間に有しており、この拡径部102が弁座
91に係合する。弁体96の下部には、上部が伸縮自在
でありかつ下部が弁本体81と下カバー83とを封止す
るシール97が嵌め込まれている。シール97には、上
下に移動するバネ受け99が嵌め込まれている。
At the lower part of the piston 93, a valve body 96 which can move up and down in the valve body flow passage 88 is arranged in contact. The valve body 96 has an enlarged diameter portion 102 in the middle, the diameter of which gradually increases as it goes downward, and the enlarged diameter portion 102 engages with the valve seat 91. A seal 97, whose upper part is extendable and whose lower part seals the valve body 81 and the lower cover 83, is fitted to the lower part of the valve body 96. A spring receiver 99 that moves up and down is fitted into the seal 97.

【0029】下カバー83の上面にはバネ室98が形成
されており、バネ室98内には、バネ受け99に当接す
るバネ100が圧縮状態で配置されている。この結果、
弁体96は、バネ受け99、シール97を介して常にバ
ネ100により上方に付勢されている。従って、耐食レ
ギュレータ34は、バネ100の付勢力と、空気室94
に導入される空気圧とのバランスにより上下に移動し、
空気圧により調整された圧力の窒素ガスを薬液貯溜容器
22A に供給可能である。
A spring chamber 98 is formed on the upper surface of the lower cover 83, and a spring 100 that abuts a spring receiver 99 is arranged in a compressed state inside the spring chamber 98. As a result,
The valve body 96 is constantly urged upward by a spring 100 via a spring receiver 99 and a seal 97. Therefore, the anticorrosion regulator 34 uses the biasing force of the spring 100 and the air chamber 94.
It moves up and down depending on the balance with the air pressure introduced into
Nitrogen gas at a pressure which is adjusted by the air pressure can be supplied to the chemical liquid reservoir container 22 A.

【0030】次に上述の実施例の動作について説明す
る。基板Wが収容されたキャリアCが搬入・搬出部2に
載置されると、キャリア移載ロボット4がそれを受け取
り、基板移載部3に載置する。キャリアCが基板移載部
3に移載されると、基板受け部8aがキャリアCから基
板Wを取り出し、基板搬送ロボット7に基板Wを渡す。
基板搬送ロボット7は、洗浄処理部5のいずれか1つの
基板洗浄槽12に基板Wを搬送する。洗浄処理が終了す
ると、浸漬されていた基板Wは基板搬送ロボット7によ
り次の工程に運ばれる。
Next, the operation of the above embodiment will be described. When the carrier C accommodating the substrate W is placed on the loading / unloading unit 2, the carrier transfer robot 4 receives it and places it on the substrate transfer unit 3. When the carrier C is transferred to the substrate transfer unit 3, the substrate receiving unit 8 a takes out the substrate W from the carrier C and transfers the substrate W to the substrate transfer robot 7.
The substrate transfer robot 7 transfers the substrate W to any one substrate cleaning tank 12 of the cleaning processing unit 5. When the cleaning process is completed, the immersed substrate W is carried to the next step by the substrate transfer robot 7.

【0031】前記洗浄工程においては、基板洗浄槽12
に基板洗浄液が充填されている。基板洗浄槽12に洗浄
液を供給する際には以下の動作が行われる。なお、供給
動作を開始する前に、制御弁27により供給される純水
の流量及び圧力を調整する。また、電空レギュレータ3
5により空気圧源36からの空気圧を所定の圧力に調整
し、その空気圧により耐食レギュレータ34を調整す
る。これにより、窒素ガス源31から供給されるガスが
所定のガス圧に調整される。
In the cleaning step, the substrate cleaning tank 12
Is filled with the substrate cleaning liquid. The following operations are performed when the cleaning liquid is supplied to the substrate cleaning tank 12. Before starting the supply operation, the flow rate and pressure of pure water supplied by the control valve 27 are adjusted. Also, electro-pneumatic regulator 3
5, the air pressure from the air pressure source 36 is adjusted to a predetermined pressure, and the corrosion resistance regulator 34 is adjusted by the air pressure. Thereby, the gas supplied from the nitrogen gas source 31 is adjusted to a predetermined gas pressure.

【0032】このような状態で窒素供給弁32を開き、
圧力調整された窒素ガスを薬液貯溜容器22A 内に導入
する。窒素ガスが薬液貯溜容器22A に導入されると、
その圧力により、容器22A 内の薬液が流量計41、フ
ィルタ42を介して薬液導入弁20A に導入される。こ
の薬液供給配管40内の圧力は、圧力センサ38により
検出される。ここで、他系統の隣接のバルブの開閉によ
り薬液供給配管40内の圧力が変動すると、圧力センサ
38で検出した圧力と目標圧力との間に偏差が生じる。
この偏差をプログラマブルコントローラ37が算出し、
その偏差に応じた指令電圧を電空レギュレータ35に出
力する。そして電空レギュレータ35で制御された圧力
の空気がパイロット圧として耐食レギュレータ34に与
えられ、耐食レギュレータ34の弁体96が上下に移動
し、パイロット圧に応じた圧力の窒素ガスが容器22A
に与えられる。この結果、窒素ガスの圧力が外来要因の
変動に係わらず一定になり、容器22A から所定量の薬
液が吐出される。
In this state, the nitrogen supply valve 32 is opened,
The nitrogen gas pressure regulator is introduced into the drug solution reservoir container 22 in A. When nitrogen gas is introduced into the chemical liquid storage container 22 A ,
The pressure causes the chemical liquid in the container 22 A to be introduced into the chemical liquid introduction valve 20 A via the flow meter 41 and the filter 42. The pressure in the chemical liquid supply pipe 40 is detected by the pressure sensor 38. Here, when the pressure in the chemical liquid supply pipe 40 fluctuates due to the opening and closing of the adjacent valve of the other system, a deviation occurs between the pressure detected by the pressure sensor 38 and the target pressure.
The programmable controller 37 calculates this deviation,
A command voltage according to the deviation is output to the electropneumatic regulator 35. Then, the air having the pressure controlled by the electropneumatic regulator 35 is given to the corrosion resistant regulator 34 as the pilot pressure, the valve body 96 of the corrosion resistant regulator 34 moves up and down, and the nitrogen gas having the pressure corresponding to the pilot pressure is supplied to the container 22 A.
Given to. As a result, the pressure of the nitrogen gas becomes constant regardless of fluctuations in external factors, a predetermined amount of liquid medicine from the container 22 A is discharged.

【0033】ここでは、純水が制御弁27により定量か
つ定圧に制御され、薬液が耐食レギュレータ34及び電
空レギュレータ35により定流量に制御されるので、薬
液の導入圧力や純水の供給圧力が変化しても薬液及び純
水を定流量に混合できる。このため外来要因による変動
の影響を受けることなく所定の混合比の薬液を得ること
ができる。
Here, since the pure water is controlled by the control valve 27 to a constant amount and a constant pressure and the chemical liquid is controlled to a constant flow rate by the corrosion resistant regulator 34 and the electropneumatic regulator 35, the introduction pressure of the chemical liquid and the supply pressure of pure water are controlled. Even if it changes, the chemical solution and pure water can be mixed at a constant flow rate. Therefore, it is possible to obtain a chemical solution having a predetermined mixing ratio without being affected by fluctuations due to external factors.

【0034】また、導入弁連結部19に薬液導入弁と排
液弁25と純水供給弁23とが一体化して配置されてい
るので、配管スペースが小さくなる。また配管材料も少
なくて済むので、配管費用が低減する。さらにメンテナ
ンス部分が減少するので、メンテナンス費用も低減す
る。 〔他の実施例〕図8に示すように、導入弁連結管19に
おいて、流体通路24の上流端に排液ポート25a を形
成してもよい。ここでは、薬液導入弁20A と排液ポー
ト25 a との間に純水供給ポート23aが形成されてい
る。この構成では、排液時に流体通路24に滞留する液
がさらに少なくなる。
In addition, the introduction valve connecting portion 19 is provided with a chemical liquid introduction valve and a discharge valve.
The liquid valve 25 and the pure water supply valve 23 are integrally arranged.
Therefore, the piping space becomes smaller. In addition, there are few piping materials
Piping cost is reduced because it is not necessary. Further maintainer
The maintenance cost is also reduced because the maintenance area is reduced.
It [Other Embodiments] As shown in FIG.
At the upstream end of the fluid passage 24, the drain port 25aShape
May be done. Here, the chemical liquid introducing valve 20AAnd drainage port
To 25 aA pure water supply port 23a is formed between
It With this configuration, the liquid that remains in the fluid passage 24 during drainage
Will be even less.

【0035】[0035]

【発明の効果】本発明に係る薬液混合装置では、耐圧密
閉槽を加圧することにより薬液搬送路を薬液を圧送して
いるので、発塵による薬液汚染を抑えながら、外来要因
の変動による影響を受けることなく薬液を簡素な構造で
安定して供給できる。
In the chemical liquid mixing device according to the present invention, the chemical liquid is pressure-fed through the chemical liquid conveying path by pressurizing the pressure-resistant sealed tank. Therefore, while suppressing chemical liquid contamination due to dust generation, the influence of fluctuations in external factors can be reduced. The chemical solution can be stably supplied without receiving it with a simple structure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例が採用された基板処理装置の
斜視概略図。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a substrate processing apparatus in which an embodiment of the present invention is adopted.

【図2】その縦断面概略図。FIG. 2 is a schematic vertical sectional view thereof.

【図3】その処理液供給部の配管回路図。FIG. 3 is a piping circuit diagram of the processing liquid supply unit.

【図4】導入弁連結管の縦断面図。FIG. 4 is a vertical sectional view of an introduction valve connecting pipe.

【図5】その配管回路図。FIG. 5 is a piping circuit diagram thereof.

【図6】制御弁の縦断面図。FIG. 6 is a vertical sectional view of a control valve.

【図7】耐食レギュレータの縦断面図。FIG. 7 is a vertical sectional view of a corrosion resistant regulator.

【図8】他の実施例の図4に相当する図。FIG. 8 is a view corresponding to FIG. 4 of another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板洗浄装置 12 基板洗浄槽 19 導入弁連結管 20A 〜20D 薬液導入弁 22A 〜22D 薬液貯溜容器 31 窒素ガス源 34 耐食レギュレータ 35 電空レギュレータ 37 プログラマブルコントローラ 38 圧力センサ 39 窒素ガス配管 40 薬液供給配管DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate cleaning device 12 Substrate cleaning tank 19 Introducing valve connecting pipe 20 A to 20 D Chemical solution introducing valve 22 A to 22 D Chemical solution storage container 31 Nitrogen gas source 34 Corrosion resistant regulator 35 Electro-pneumatic regulator 37 Programmable controller 38 Pressure sensor 39 Nitrogen gas piping 40 Chemical supply pipe

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 米村 潤一 滋賀県野洲郡野洲町大字三上字口ノ川原 2426番1 大日本スクリーン製造株式会社 野洲事業所内 (72)発明者 荒木 浩之 滋賀県野洲郡野洲町大字三上字口ノ川原 2426番1 大日本スクリーン製造株式会社 野洲事業所内 (72)発明者 池田 文浩 滋賀県野洲郡野洲町大字三上字口ノ川原 2426番1 大日本スクリーン製造株式会社 野洲事業所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Junichi Yonemura 2426-1 Kuchinogawara, Mikami, Yasu-machi, Yasu-gun, Shiga Prefecture Dai-Nippon Screen Mfg. Co., Ltd., Yasu Works (72) Inventor Hiroyuki Araki Yasu-gun, Shiga Prefecture 2426-1 Kuchinogawara, Sansu, Yasu-machi Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Inside the Yasu Plant (72) Inventor Fumihiro Ikeda 2426-1 Kuchinogawara, Sansu, Yasu-machi, Yasu-gun, Shiga Prefecture Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Yasu Plant

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板処理装置の基板処理槽に薬液と純水と
を混合して供給する基板処理装置の薬液混合装置であっ
て、 前記基板処理槽に接続され、前記純水が通過する液供給
路と、 前記薬液を貯溜する耐圧密閉槽と、 前記耐圧密閉槽から前記液供給路へと薬液を導く薬液搬
送路と前記薬液搬送路に設けられた薬液導入弁とを有す
る薬液搬送部と、 前記耐圧密閉槽から前記薬液搬送路へ前記薬液を圧送す
るため、前記耐圧密閉槽内を加圧する加圧手段と、を備
えた基板処理装置用薬液混合装置。
1. A chemical solution mixing device for a substrate processing apparatus, which mixes and supplies a chemical solution and pure water to a substrate processing tank of the substrate processing apparatus, the solution being connected to the substrate processing tank and passing the pure water. A supply passage, a pressure-resistant sealed tank for storing the chemical liquid, a chemical liquid transport section for guiding the chemical liquid from the pressure-resistant sealed tank to the liquid supply passage, and a chemical liquid transfer section having a chemical liquid introduction valve provided in the chemical liquid transport path. A chemical mixing device for a substrate processing apparatus, comprising: a pressurizing unit that pressurizes the inside of the pressure-resistant closed tank in order to pump the chemical liquid from the pressure-resistant closed tank to the chemical liquid transport path.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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