JPH0721418B2 - Displacement measuring circuit - Google Patents

Displacement measuring circuit

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JPH0721418B2
JPH0721418B2 JP2119607A JP11960790A JPH0721418B2 JP H0721418 B2 JPH0721418 B2 JP H0721418B2 JP 2119607 A JP2119607 A JP 2119607A JP 11960790 A JP11960790 A JP 11960790A JP H0721418 B2 JPH0721418 B2 JP H0721418B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、変位検出器からのセンサ出力信号を入力し変
位測定結果を出力する変位測定回路に関し、特に静電容
量式変位センサを使用した小型変位測定装置に好適の変
位測定回路に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a displacement measuring circuit that inputs a sensor output signal from a displacement detector and outputs a displacement measurement result, and particularly uses a capacitance type displacement sensor. The present invention relates to a displacement measuring circuit suitable for a small displacement measuring device.

[従来の技術] 静電容量式センサを使用した変位測定装置は、小型で且
つ低消費電力という特徴を有しているため、ディジタル
式のマイクロメータ、ノギス及びハイドゲージのような
小型の変位測定装置に利用されることが多い。
[Prior Art] A displacement measuring device using a capacitance type sensor is small and has low power consumption. Therefore, a small displacement measuring device such as a digital micrometer, a caliper or a hide gauge is used. Often used in devices.

一般的な静電容量式センサでは、スケール上を移動する
スライダに所定ピッチで複数の供給電極を配設し、これ
ら供給電極にパルス信号を所定角度ずつ位相をずらして
供給する。そして、これらの供給電極とスケール上に配
置された検出電極との間の容量が両者の相対位置によっ
て変化することを利用して、検出信号の位相情報を検出
電極側から取り出すことで、スケールとスライダとの間
の相対変位を求めるようにしている。また、通常、スラ
イダ上には供給電極とは絶縁された状態で受信電極が設
けられ、検出電極で検出された信号を、これと容量結合
された受信電極から取り出すことがなされている。これ
により、スライダ上に、上記供給電極及び受信電極の
他、これらの電極にパルス信号を供給したりセンサ出力
を検出するための電子回路、測定結果表示用の液晶ディ
スプレイ及びキーマトリクス等の変位測定回路を搭載す
ることができる。また、センサの小型化の観点から、上
記変位測定回路の主要部分にディジタル回路とアナログ
回路が混在した1チップICを使用するとともに、これら
回路を小型基板上に実装するケースが増えている。
In a general capacitance type sensor, a plurality of supply electrodes are arranged at a predetermined pitch on a slider that moves on a scale, and pulse signals are supplied to these supply electrodes with a predetermined angle shift. Then, by utilizing the fact that the capacitance between these supply electrode and the detection electrode arranged on the scale changes depending on the relative position of the two, the phase information of the detection signal is extracted from the detection electrode side, The relative displacement with the slider is calculated. Further, usually, a receiving electrode is provided on the slider in a state of being insulated from the supply electrode, and a signal detected by the detecting electrode is taken out from the receiving electrode capacitively coupled thereto. As a result, in addition to the supply electrode and the reception electrode on the slider, an electronic circuit for supplying a pulse signal to these electrodes and detecting a sensor output, a liquid crystal display for displaying a measurement result, a displacement measurement of a key matrix, etc. A circuit can be mounted. Further, from the viewpoint of miniaturization of the sensor, there is an increasing number of cases where a 1-chip IC in which a digital circuit and an analog circuit are mixed is used as a main part of the displacement measuring circuit, and these circuits are mounted on a small board.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このようなアナログ・ディジタル混在の
ICを使用した変位測定回路では、変位センサの受信電極
と接続されるICのアナログ入力端子に、ディジタル回路
からのクロストークによってディジタル信号ノイズがの
ることが多い。このようなクロストークは、基板上にシ
ールドパターンを形成する等の基板パターンの設計上の
工夫によってある程度改善することは可能であるが、前
述したように、この種の測定器では、基板の小型化が設
計上の課題であり、これがために有効なシールドがとれ
ず、変位測定器の精度が低下すると共に、計測値が不安
定になって表示ちらつきが発生するという問題点があ
る。
[Problems to be Solved by the Invention] However, such mixed analog and digital
In a displacement measurement circuit using an IC, digital signal noise is often placed on the analog input terminal of the IC connected to the reception electrode of the displacement sensor due to crosstalk from the digital circuit. Such crosstalk can be improved to some extent by designing the board pattern such as forming a shield pattern on the board. However, there is a problem in that the effective shield cannot be removed, the accuracy of the displacement measuring instrument is reduced, and the measured value becomes unstable and display flicker occurs.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
小型基板でも安定した良好な測定精度が得られると共
に、表示ちらつきの低減を図ることができ、これにより
基板設計の自由度を大幅に高めることができ、基板の小
型化及び設計期間の短縮を図ることが可能な変位測定回
路を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such problems,
Stable and good measurement accuracy can be obtained even with a small board, and display flicker can be reduced, which can greatly increase the degree of freedom in board design, aiming to downsize the board and shorten the design period. An object of the present invention is to provide a displacement measuring circuit capable of performing the above.

[課題を解決するための手段] 本発明に係る変位測定回路は、変位検出器からのセンサ
出力信号を入力するアナログ入力回路と、このアナログ
入力回路の出力に対し所定の信号処理を施すと共に周辺
回路を駆動するディジタル信号を出力するディジタル回
路とが同一基板上に配設されて構成された変位測定回路
において、前記アナログ入力回路は、入力同期信号に同
期して前記センサ出力信号をサンプリングし入力するス
イッチトキャパシタ型の入力回路であり、前記ディジタ
ル回路は、前記アナログ入力回路の非サンプリング期間
に前記ディジタル信号の出力状態を変化させるものであ
ることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] A displacement measuring circuit according to the present invention includes an analog input circuit for inputting a sensor output signal from a displacement detector, a predetermined signal processing for the output of the analog input circuit, and a peripheral circuit. In a displacement measuring circuit constituted by disposing a digital circuit for outputting a digital signal for driving the circuit on the same substrate, the analog input circuit samples and inputs the sensor output signal in synchronization with an input synchronizing signal. And a digital circuit for changing the output state of the digital signal during a non-sampling period of the analog input circuit.

[作用] 本発明によれば、変位検出器からのセンサ出力信号を入
力するアナログ入力回路をスイッチトキャパシタ型の入
力回路とし、この入力回路と同一基板上に配置されたデ
ィジタル回路から出力されるディジタル信号の出力状態
を、前記アナログ入力回路の非サンプリング期間に変化
させるようにしている。このため、アナログ入力信号ラ
インにディジタル信号ラインからのノイズが乗った場合
でも、このノイズが発生する期間は、アナログ入力信号
の取り込みを行なっていない期間であって、クロストー
クの問題が発生することはない。
[Operation] According to the present invention, an analog input circuit for inputting the sensor output signal from the displacement detector is used as a switched capacitor type input circuit, and a digital signal output from a digital circuit arranged on the same substrate as this input circuit. The output state of the signal is changed during the non-sampling period of the analog input circuit. Therefore, even if noise from the digital signal line is added to the analog input signal line, the noise is generated during the period when the analog input signal is not captured, and the problem of crosstalk occurs. There is no.

従って、本発明によれば、小型の基板でも安定した良好
な測定精度が得られると共に、表示ちらつきの低減を図
ることができ、これにより基板設計の自由度を大幅に高
めることができ、基板の小型化及び設計期間の短縮を図
ることができる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to obtain stable and good measurement accuracy even with a small substrate, and to reduce display flicker, which can greatly increase the degree of freedom in substrate design. It is possible to reduce the size and shorten the design period.

[実施例] 以下、添付の図面を参照して本発明の実施例について説
明する。
Embodiments Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明の実施例に係る変位測定装置の電気的構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an electrical configuration of a displacement measuring device according to an embodiment of the present invention.

この変位測定装置は、静電容量式センサ1と、同一基板
上に形成された変位測定回路9とにより構成され、例え
ばディジタルマイクロメータ、ディジタルノギス等の小
型計測器に搭載されるようになっている。
This displacement measuring device comprises a capacitance type sensor 1 and a displacement measuring circuit 9 formed on the same substrate, and is mounted on a small measuring instrument such as a digital micrometer or a digital caliper. There is.

変位測定回路9は次のように構成されている。即ち、静
電容量式センサ1からのセンサ出力信号は、アナログ入
力回路であるスイッチトキャパシタ型信号検出回路2に
入力されている。スイッチトキャパシタ型信号検出回路
2は、センサ出力信号を所定のタイミングで入力し、ス
ケールとスライダとの間の変位を示す位相信号を出力す
る。この位相信号はディジタル信号処理回路3に入力さ
れている。ディジタル信号処理回路3は、後述するタイ
ミング調整回路4と共にディジタル回路を構成し、入力
された位相信号に基づいて測定結果を算出すると共に、
算出結果の表示及び静電容量式センサ1への駆動パルス
の供給等を行なうため、種々のディジタル信号を出力す
る。このディジタル信号は、タイミング調整回路4にて
タイミング調整され、液晶表示装置(以下、LCDと呼
ぶ)5、キーマトリクス6及び周辺回路7の駆動信号と
して供給されている。キーマトリクス6は、表示内容の
プリセット、ホールド及び表示切換え等の情報をディジ
タル信号処理回路3に入力する。また、周辺回路7は、
回路の電源電圧低下検出機能、オートスリープ機能及び
データ出力機能等を持つ回路である。
The displacement measuring circuit 9 is configured as follows. That is, the sensor output signal from the capacitance type sensor 1 is input to the switched capacitor type signal detection circuit 2 which is an analog input circuit. The switched capacitor type signal detection circuit 2 inputs the sensor output signal at a predetermined timing and outputs a phase signal indicating the displacement between the scale and the slider. This phase signal is input to the digital signal processing circuit 3. The digital signal processing circuit 3 constitutes a digital circuit together with a timing adjustment circuit 4 which will be described later, and calculates the measurement result based on the input phase signal.
Various digital signals are output in order to display the calculation result and supply the drive pulse to the capacitance type sensor 1. The timing of the digital signal is adjusted by the timing adjustment circuit 4, and the digital signal is supplied as a drive signal for the liquid crystal display device (hereinafter, referred to as LCD) 5, the key matrix 6, and the peripheral circuit 7. The key matrix 6 inputs information such as preset of display contents, hold and display switching to the digital signal processing circuit 3. In addition, the peripheral circuit 7
This is a circuit that has a power supply voltage drop detection function, an auto sleep function, a data output function, and the like.

以上の回路のうち、スイッチトキャパシタ型信号検出回
路2、ディジタル信号処理回路3及びタイミング調整回
路4は、信号処理用IC8として1チップ化されている。
Among the above circuits, the switched capacitor type signal detection circuit 2, the digital signal processing circuit 3 and the timing adjustment circuit 4 are integrated into one chip as a signal processing IC 8.

静電容量式センサ1は、例えば第2図に示すように構成
されている。スケール11は、例えばマイクロメータにお
けるスピンドルに設けられている。また、スケール11に
対して移動するスライダ12は、フレーム側に内蔵されて
いる。スライダ12には、複数の供給電極13が所定ピッチ
で形成されている。これらの供給電極13と対向するスケ
ール11側には、供給電極13の幅及びピッチの例えば3倍
の幅及びピッチで複数の検出電極14が配設されている。
更に、図では異なっているが、実際にはスライダ12側
に、複数の検出電極14と容量結合された受信電極15が、
供給電極13とは絶縁された状態で配設されている。供給
電極13は例えば2つおきに共通接続されて3つの電極群
を形成している。これらの電極群には、ディジタル信号
処理回路3から夫々3相の長い周期の信号を高周波でチ
ョップした駆動信号R,S,Tが供給されている。また、受
信電極15で受信された信号は、センサ出力信号としてス
イッチトキャパシタ型信号検出回路2に出力されてい
る。
The capacitance type sensor 1 is configured, for example, as shown in FIG. The scale 11 is provided, for example, on a spindle of a micrometer. A slider 12 that moves with respect to the scale 11 is built in on the frame side. Plural supply electrodes 13 are formed on the slider 12 at a predetermined pitch. On the scale 11 side facing these supply electrodes 13, a plurality of detection electrodes 14 are arranged with a width and pitch that are, for example, three times the width and pitch of the supply electrodes 13.
Further, although different in the drawing, in reality, on the slider 12 side, a plurality of detection electrodes 14 and a receiving electrode 15 capacitively coupled,
The supply electrode 13 is arranged in an insulated state. For example, every two supply electrodes 13 are commonly connected to form three electrode groups. Drive signals R, S, and T obtained by chopping signals of three phases with a long period at high frequencies are supplied from the digital signal processing circuit 3 to these electrode groups. The signal received by the receiving electrode 15 is output to the switched capacitor type signal detection circuit 2 as a sensor output signal.

スイッチトキャパシタ型信号検出回路2は、例えば第3
図に示すように構成されている。
The switched capacitor type signal detection circuit 2 is, for example, a third
It is configured as shown in the figure.

即ち、静電容量式センサ1からのセンサ出力信号が入力
されるアナログ入力端子21は、アナログスイッチ22を介
して基準電圧回路23の出力端に接続されている。また、
アナログ入力端子21から入力されるセンサ出力信号は、
アナログスイッチ24及び容量25を介してボルテージホロ
ワの演算増幅器26の非反転入力端子に入力されると共
に、アナログスイッチ27及び容量28を介してボルテージ
ホロワの演算増幅器29の非反転入力端子に入力されてい
る。アナログスイッチ24,27は、夫々SYNC1,SYNC2信号に
よって、また、アナログスイッチ22は、入力同期信号で
あるDIS信号によって夫々オン・オフ制御されるように
なっている。これにより、アナログスイッチ22,24,27及
び容量25,28でサンプル回路が形成され入力信号を適当
なタイミングで交互でサンプリングするようになってい
る。
That is, the analog input terminal 21 to which the sensor output signal from the capacitance type sensor 1 is input is connected to the output end of the reference voltage circuit 23 via the analog switch 22. Also,
The sensor output signal input from the analog input terminal 21 is
It is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 26 of the voltage follower via the analog switch 24 and the capacitor 25, and is also input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 29 of the voltage follower via the analog switch 27 and the capacitor 28. Has been done. The analog switches 24 and 27 are on / off controlled by the SYNC1 and SYNC2 signals, respectively, and the analog switch 22 is on / off controlled by the DIS signal which is an input synchronization signal. As a result, a sample circuit is formed by the analog switches 22, 24, 27 and the capacitors 25, 28, and the input signal is alternately sampled at an appropriate timing.

演算増幅器26,29の出力は、MIX回路30で差動合成され、
LPF(ローパスフィルタ)回路31にて滑らかなアナログ
信号にされる。この信号は、コンパレータを構成する演
算増幅器32に入力され、ここで所定の基準電圧Refと比
較されるようになっている。そして、この演算増幅器32
の出力が、位相信号CMPとして出力されるようになって
いる。なお、基準電圧回路23は、所定の基準電圧Refを
出力する。また、タイミングパルス生成回路33は、クロ
ック信号CKに基づいて、アナログスイッチ22,24,27をオ
ン・オフするためのタイミング信号を生成出力する。
The outputs of the operational amplifiers 26 and 29 are differentially combined by the MIX circuit 30,
The LPF (low pass filter) circuit 31 converts the analog signal into a smooth analog signal. This signal is input to the operational amplifier 32 which constitutes a comparator, and is compared there with a predetermined reference voltage Ref. And this operational amplifier 32
The output of is output as the phase signal CMP. The reference voltage circuit 23 outputs a predetermined reference voltage Ref. The timing pulse generation circuit 33 also generates and outputs a timing signal for turning on / off the analog switches 22, 24, 27 based on the clock signal CK.

次にこのように構成された本実施例に係る変位測定装置
の動作について説明する。
Next, the operation of the displacement measuring device according to the present embodiment configured as described above will be described.

静電容量式センサ1の供給電極13に第4図に示すような
3相の駆動信号R,S,Tを供給すると、スライダ12が停止
状態のときには、駆動信号と同一同期で、その長い周期
の成分が駆動信号に対し供給電極13と検出電極14との相
対位置によって決定される位相だけずれたセンサ出力信
号が受信電極15から出力される。また、スライダ12を駆
動させると、供給電極13と検出電極14との相対位置が変
化するので、これに伴ってセンサ出力信号の位相も変化
する。
When the three-phase drive signals R, S, and T as shown in FIG. 4 are supplied to the supply electrode 13 of the electrostatic capacity type sensor 1, when the slider 12 is in the stopped state, it is synchronized with the drive signal and has a long cycle. A sensor output signal whose component is shifted by a phase determined by the relative position of the supply electrode 13 and the detection electrode 14 with respect to the drive signal is output from the reception electrode 15. When the slider 12 is driven, the relative position between the supply electrode 13 and the detection electrode 14 changes, so that the phase of the sensor output signal changes accordingly.

この信号は、スイッチトキャパシタ型信号検出回路2に
入力される。
This signal is input to the switched capacitor type signal detection circuit 2.

第5図は、このスイッチトキャパシタ型信号検出回路2
のタイミングチャートである。
FIG. 5 shows this switched capacitor type signal detection circuit 2
2 is a timing chart of.

DIS信号がハイレベルの期間で、スイッチトキャパシタ
型信号検出回路2の入力端子21がディスチャージされ、
続いてセンサ出力信号が取り込まれたのちに、SYNC1,SY
NC2信号で、センサ出力信号が容量25,28に交互にサンプ
リングされる。従って、演算増幅器26,29は、位相が夫
々180゜異なったサンプル値を出力する。これらの出力
は、MIX回路30によって差動合成されることにより同相
ノイズが除去される。そして、ローパスフィルタ31によ
って滑らかな正弦波状のアナログ値に変換されたのち、
演算増幅器32で所定の基準電圧Refと比較されて位相信
号CMPとなって出力される。
While the DIS signal is at the high level, the input terminal 21 of the switched capacitor type signal detection circuit 2 is discharged,
Then, after the sensor output signal is captured, SYNC1, SY
With the NC2 signal, the sensor output signal is alternately sampled into the capacitors 25 and 28. Therefore, the operational amplifiers 26 and 29 output sampled values whose phases are different from each other by 180 °. These outputs are differentially combined by the MIX circuit 30 to remove common mode noise. Then, after being converted into a smooth sinusoidal analog value by the low-pass filter 31,
The operational amplifier 32 compares it with a predetermined reference voltage Ref and outputs it as a phase signal CMP.

このスイッチトキャパシタ型信号検出回路2から位相信
号CMPが出力されると、ディジタル信号処理回路3は、
位相信号CMPから変位を計算し、その計算結果を表示デ
ータとしてLCD5に出力する。このとき、タイミング調整
回路4は、第5図に示すように、LCD5の駆動パルスの変
化点が非サンプリグ期間に合致するようにタイミング調
整を行う。この非サンプリング期間は、SYNC1又はSYNC2
によるサンプリングが終了して次のディスチャージ期間
が終了するまでの期間に相当する。また、ディジタル信
号処理回路3から出力される周辺回路7及びキーマトリ
クス6の駆動パルスについても、タイミング調整回路4
よってタイミング調整がなされ、非サンプリング期間の
みディジタル信号の出力状態が変化するようになってい
る。
When the phase signal CMP is output from the switched capacitor type signal detection circuit 2, the digital signal processing circuit 3
The displacement is calculated from the phase signal CMP, and the calculation result is output to the LCD 5 as display data. At this time, the timing adjustment circuit 4 adjusts the timing so that the change point of the drive pulse of the LCD 5 coincides with the non-sample period, as shown in FIG. This non-sampling period is SYNC1 or SYNC2.
This corresponds to the period from the end of the sampling by and the end of the next discharge period. The timing adjustment circuit 4 also applies to the drive pulses of the peripheral circuit 7 and the key matrix 6 output from the digital signal processing circuit 3.
Therefore, the timing is adjusted so that the output state of the digital signal changes only during the non-sampling period.

従って、本実施例の装置によれば、センサ出力信号のエ
ッジが検出される期間では、他のディジタル信号の出力
状態が変化することがないので、これらのディジタル信
号が変化する際に発生されるノイズが測定結果に影響を
及ぼすことはない。
Therefore, according to the apparatus of the present embodiment, the output states of other digital signals do not change during the period in which the edge of the sensor output signal is detected, so that they are generated when these digital signals change. Noise does not affect the measurement result.

なお、以上の実施例では、アナログ入力回路として、ス
イッチトキャパシタ型信号検出回路2を例にとったが、
アナログ入力回路の構成は、これに限定されるものでは
なく、他のスイッチトキャパシタ型のフィルタ、復調回
路等、入力段に配置される種々の回路を使用することが
できる。
In the above embodiments, the switched capacitor type signal detection circuit 2 is taken as an example of the analog input circuit.
The configuration of the analog input circuit is not limited to this, and various circuits arranged in the input stage such as other switched capacitor type filters and demodulation circuits can be used.

また、変位検出器を駆動する駆動信号は上述したような
チョッパされた駆動信号だけでなく、SIN波、台形波、
三角波及び疎密波等の他の信号でも良く、また、特に3
相に限定されるものでもない。
Further, the drive signal for driving the displacement detector is not limited to the chopper drive signal as described above, but SIN wave, trapezoidal wave,
Other signals such as triangular waves and compression waves may be used, and especially 3
Nor is it limited to phases.

更に、本発明は、静電容量式のみならず、光電式のセン
サを使用した変位測定装置にも適用可能である。
Further, the present invention can be applied not only to the capacitance type but also to a displacement measuring device using a photoelectric type sensor.

[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、変位検出器からアナ
ログ入力回路にセンサ出力信号が入力されない期間にデ
ィジタル回路からのディジタル信号の出力状態を変化さ
せるようにしたので、ディジタル信号によるクロストー
クがアナログ入力回路に入力されることがない。このた
め、小型基板でも安定した良好な測定精度が得られると
共に、表示ちらつきの低減を図ることができ、これによ
り基板設計の自由度を大幅に高めることができ、基板の
小型化及び設計期間の短縮を図ることができる。
As described above, according to the present invention, the output state of the digital signal from the digital circuit is changed while the sensor output signal is not input from the displacement detector to the analog input circuit. Crosstalk due to signals will not be input to the analog input circuit. Therefore, stable and good measurement accuracy can be obtained even with a small board, and display flicker can be reduced, which can greatly increase the degree of freedom in board design, reduce board size, and reduce design time. It can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の実施例に係る変位測定装置のブロック
図、第2図は同装置における静電容量式センサの構成を
示す模式図、第3図は同装置におけるスイッチトキャパ
シタ型信号検出回路の回路図、第4図は同装置における
静電容量式センサへの駆動信号を示す波形図、第5図は
同装置の動作を示すタイミング図である。 1;静電容量式センサ、2;スイッチトキャパシタ型信号検
出回路、3;ディジタル信号処理回路、4;タイミング調整
回路、5;液晶ディスプレイ、6;キーマトリクス、7;周辺
回路、8;信号処理用IC、9;変位検出回路、11;スケー
ル、12;スライダ、13;供給電極、14;検出電極、15;受信
電極
FIG. 1 is a block diagram of a displacement measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a capacitance type sensor in the device, and FIG. 3 is a switched capacitor type signal detection circuit in the device. 4 is a waveform diagram showing a drive signal to the electrostatic capacity type sensor in the device, and FIG. 5 is a timing diagram showing the operation of the device. 1; Capacitance type sensor, 2; Switched capacitor type signal detection circuit, 3; Digital signal processing circuit, 4; Timing adjustment circuit, 5; Liquid crystal display, 6; Key matrix, 7; Peripheral circuit, 8; Signal processing IC, 9; Displacement detection circuit, 11; Scale, 12; Slider, 13; Supply electrode, 14; Detection electrode, 15; Reception electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01D 3/028 5/24 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical display location G01D 3/028 5/24

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】変位検出器からのセンサ出力信号を入力す
るアナログ入力回路と、このアナログ入力回路の出力に
対し所定の信号処理を施すと共に周辺回路を駆動するデ
ィジタル信号を出力するディジタル回路とが同一基板上
に配設されて構成された変位測定回路において、前記ア
ナログ入力回路は、入力同期信号に同期して前記センサ
出力信号をサンプリングし入力するスイッチトキャパシ
タ型の入力回路であり、前記ディジタル回路は、前記ア
ナログ入力回路の非サンプリング期間に前記ディジタル
信号の出力状態を変化させるものであることを特徴とす
る変位測定回路。
1. An analog input circuit for inputting a sensor output signal from a displacement detector, and a digital circuit for performing a predetermined signal processing on the output of the analog input circuit and outputting a digital signal for driving a peripheral circuit. In the displacement measuring circuit arranged on the same substrate, the analog input circuit is a switched capacitor type input circuit for sampling and inputting the sensor output signal in synchronization with an input synchronizing signal, and the digital circuit. Is a circuit for changing the output state of the digital signal during a non-sampling period of the analog input circuit.
【請求項2】前記変位検出器は、静電容量式変位センサ
であることを特徴とする請求項1に記載の変位測定回
路。
2. The displacement measuring circuit according to claim 1, wherein the displacement detector is a capacitance type displacement sensor.
JP2119607A 1990-05-09 1990-05-09 Displacement measuring circuit Expired - Fee Related JPH0721418B2 (en)

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