JPH07192301A - Optical device - Google Patents

Optical device

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Publication number
JPH07192301A
JPH07192301A JP5333569A JP33356993A JPH07192301A JP H07192301 A JPH07192301 A JP H07192301A JP 5333569 A JP5333569 A JP 5333569A JP 33356993 A JP33356993 A JP 33356993A JP H07192301 A JPH07192301 A JP H07192301A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light emitting
section
astigmatism
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP5333569A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masato Doi
正人 土居
Hironobu Narui
啓修 成井
Kenji Sawara
健志 佐原
Osamu Matsuda
修 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP5333569A priority Critical patent/JPH07192301A/en
Publication of JPH07192301A publication Critical patent/JPH07192301A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To simplify the device constitution, to reduce the overall size and facilitate the manufacture, and to improve the reliability and increase the quantity of light reception by making return light to the light reception surface of a light reception part astigmatic. CONSTITUTION:This optical device has a light emission part 1 and a light reception part 4 arranged closely on a common substrate 9 and is provided with an optical element 21 which receives and detects the return light LR itself to the light emission part 1, which is generated when the light L emitted by the light emission part 1 is cast on a to be irradiated part 2 and is reflected by the irradiated part 2, by the light reception part 4, and the return light to the light reception surface of the light reception part 4 is made astigmatic. This element 21 receives the return light by the light reception part 4 in an area other than the projection part of the light emission part 1, so the projection part of the light emission part 1 becomes an ineffective area regarding the light reception. The return light to the light reception part 4, however, is made astigmatic, so the spot of the return light has the center of its intensity deviating from the center of the ineffective area of the light emission part 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被照射部例えば例えば
光ディスク、光磁気ディスク等の光記録媒体に照射し、
これよりの反射による戻り光を受光検出する場合に適用
して好適な光学装置に係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention irradiates an irradiated portion, for example, an optical recording medium such as an optical disk or a magneto-optical disk,
The present invention relates to an optical device suitable for application when receiving and detecting return light due to reflection from this.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光学装置、例えばコンパクトディ
スク(CD)プレーヤー等の光ディスクドライブや光磁
気ディスクドライブの光ピックアップでは、グレーティ
ングやビームスプリッタ等の各光学部品を個別に組み立
てるため装置全体の構成が複雑となり、また光学的な配
置設定が煩雑で量産性に劣るという問題がある。
2. Description of the Related Art In a conventional optical device, for example, an optical pickup for an optical disc drive such as a compact disc (CD) player or a magneto-optical disc drive, optical components such as a grating and a beam splitter are individually assembled, so that the entire device is constructed. There is a problem in that it becomes complicated, and the optical arrangement setting is complicated, resulting in poor mass productivity.

【0003】例えば光記録媒体、例えば光ディスクに対
する光ピックアップ装置は、図9にその一例の略線的拡
大構成図を示すように、半導体レーザダイオード等の光
源51から出射された光は、グレーティング52を介し
てビームスプリッタ53に導入されて透過し、コリメー
タレンズ54を介して対物レンズ55により光記録媒体
56の光ディスクの記録部に集光するようになされる。
図9において一点鎖線cは光源51から光記録媒体56
への光軸を示す。
For example, in an optical pickup device for an optical recording medium, for example, an optical disc, light emitted from a light source 51 such as a semiconductor laser diode is transmitted through a grating 52 as shown in FIG. The light is introduced into the beam splitter 53 via the beam splitter 53 and transmitted therethrough, and then is condensed by the objective lens 55 via the collimator lens 54 onto the recording portion of the optical disc of the optical recording medium 56.
In FIG. 9, an alternate long and short dash line c indicates from the light source 51 to the optical recording medium 56.
Shows the optical axis to.

【0004】そして、光記録媒体56から反射した光
は、対物レンズ55、コリメータレンズ54を介してビ
ームスプリッタ53により反射されて、光軸cから分離
され、側方に設けられた凹レンズ57及びシリンドリカ
ルレンズ58を通じてフォトダイオード(PD)等のデ
ィテクタ59に集光されて検出される。
The light reflected from the optical recording medium 56 is reflected by the beam splitter 53 via the objective lens 55 and the collimator lens 54, separated from the optical axis c, and the concave lens 57 and the cylindrical lens provided on the side. The light is focused on a detector 59 such as a photodiode (PD) through the lens 58 and detected.

【0005】あるいはまた他の光学装置としては、例え
ば図10に反射型の光走査顕微鏡の光ピックアップ部の
一例の構成を示すように、光源51から出射した光をビ
ームスプリッタ53で反射させて、対物レンズ55によ
り試料60の表面に集光照射する。61は焦平面を示
す。そして試料60で反射した光を、対物レンズ55を
介してビームスプリッタ53を透過させ、共焦点位置に
ディテクタを配置するかあるいはピンホール62を配し
てここを通過した光をその後方に配置したディテクタ5
9により検出する。このとき矢印sで示すように、試料
60を配置するステージ(載置台)かまたは照射ビーム
を相対的に走査させて、試料表面の状態を検出すること
ができる。
As another optical device, for example, as shown in FIG. 10 showing an example of the structure of an optical pickup section of a reflection type optical scanning microscope, light emitted from a light source 51 is reflected by a beam splitter 53, The surface of the sample 60 is condensed and illuminated by the objective lens 55. 61 denotes a focal plane. Then, the light reflected by the sample 60 is transmitted through the beam splitter 53 through the objective lens 55 and a detector is arranged at the confocal position, or a pinhole 62 is arranged and the light passing therethrough is arranged behind it. Detector 5
9 to detect. At this time, as shown by the arrow s, the state of the sample surface can be detected by relatively scanning the stage (mounting table) on which the sample 60 is placed or the irradiation beam.

【0006】上述した従来のピックアップ系の光学装置
では、反射光が出射位置すなわち光源に戻ることを回避
して、上述したように、光源と被照射部との間にビーム
スプリッタを配置するとか、特開平1−303638号
公開公報に開示されるようにホログラムを配置するなど
の構成が採られて、被照射部に向かう光路から反射光す
なわち光源への戻り光を分離してこれを受光検出する受
光部に導く構成とされる。しかしながら、この場合、受
光素子が受ける光量が小さくなり、更にその位置合せの
煩雑さ、精度の問題、組み立て製造の煩雑などに問題が
ある。
In the above-mentioned conventional optical system of the pickup system, the reflected light is prevented from returning to the emission position, that is, the light source, and the beam splitter is arranged between the light source and the irradiated portion as described above. As disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 1-303638, a configuration such as arranging holograms is adopted, and reflected light, that is, return light to a light source is separated from an optical path toward an irradiated portion and received and detected. It is configured to lead to the light receiving portion. However, in this case, the amount of light received by the light receiving element becomes small, and further there is a problem in that the alignment is complicated, the accuracy is problematic, and the assembly and manufacturing are complicated.

【0007】また、例えば特開平2−278779号公
開公報に開示されているように、上述の光学ピックアッ
プ装置を同一のSi等の半導体基板上にハイブリッドに
組み立てようとすると、厳しいアライメント精度が必要
となる。
Further, as disclosed in, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2-278779, when the above optical pickup device is hybridly assembled on the same semiconductor substrate such as Si, strict alignment accuracy is required. Become.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、光学装置例
えば光ピックアップ系の光学装置の構成の簡潔化をはか
り、全体の小型化をはかると共に、製造の簡略化、信頼
性の向上をはかり、更に受光素子への戻り光の光量すな
わち受光光量の増大化をはかって、出力の向上、ひいて
は発光光源の低パワー化したがって消費電力の低減化を
はかることができるようするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention seeks to simplify the structure of an optical device such as an optical device of an optical pickup system, downsize the entire device, simplify manufacturing, and improve reliability. Further, the amount of light returned to the light receiving element, that is, the amount of received light, can be increased to improve the output, and thus to reduce the power of the light emitting light source and thus the power consumption.

【0009】また、特に本発明においては、被照射部に
対する距離を検知する信号の取出し、例えば被照射部へ
の光照射のフォーカシング制御のためのサーボ信号の取
出し等を容易に行うことができるようにした光学装置を
得ることができるようにするものである。
Further, particularly in the present invention, it is possible to easily take out a signal for detecting the distance to the irradiated portion, for example, a servo signal for focusing control of light irradiation to the irradiated portion. The optical device according to the present invention can be obtained.

【課題を解決するための手段】第1の本発明は、発光部
と受光部とが近接配置され、上記発光部からの発光光の
被照射部からの発光部に向かう戻り光を上記受光部によ
って受光検出する光学素子を有し、上記受光部の受光面
への上記戻り光が非点収差を有する構成とする。
According to a first aspect of the present invention, a light emitting portion and a light receiving portion are arranged in proximity to each other, and the return light of the emitted light from the light emitting portion toward the light emitting portion from the irradiated portion is received. And an optical element for receiving and detecting light, and the return light to the light receiving surface of the light receiving unit has astigmatism.

【0010】第2の本発明は、図1にその一例の概略構
成図を示すように、発光部1と受光部4とが近接配置さ
れ、発光部1からの発光光Lの被照射部2からの発光部
1に向かう戻り光LR を受光部4によって受光検出する
光学素子21を有し、発光部1からの発光光Lが非点収
差を有し、発光部1と被照射部2との間に、被照射部2
に向かう発光部1からの発光光の非点収差を補正し、被
照射部2からの戻り光に非点収差を付与する非点収差の
補正・付与手段CRが配置された構成とする。
The second aspect of the present invention, as shown in the schematic configuration diagram of FIG. 1, shows that the light emitting section 1 and the light receiving section 4 are arranged close to each other, and the irradiated section 2 of the emitted light L from the light emitting section 1 is irradiated. The light emitting section 1 has an optical element 21 for detecting the return light L R from the light emitting section 1 received by the light receiving section 4, and the emitted light L from the light emitting section 1 has astigmatism. And the irradiated part 2
The astigmatism correction / addition means CR for correcting the astigmatism of the light emitted from the light emitting section 1 toward the head and applying the astigmatism to the return light from the irradiated section 2 is arranged.

【0011】第3の本発明は、上述の構成において、発
光部1が、その出射光に非点収差を有する半導体レーザ
を有する構成とする。
In a third aspect of the present invention, the light emitting section 1 has a semiconductor laser having astigmatism in its emitted light in the above-mentioned configuration.

【0012】第4の本発明は、上述の構成において、発
光部1が、光源からの出射光に非点収差を付与する反射
鏡を具備する構成とする。
In a fourth aspect of the present invention, in the above-mentioned configuration, the light emitting section 1 is provided with a reflecting mirror that imparts astigmatism to the light emitted from the light source.

【0013】[0013]

【作用】上述したように、本発明構成では、被照射部2
からの発光部1に向かう戻り光自体を受光部4によって
受光検出するものであるが、この場合、受光部4におい
て受光する戻り光は、発光部1の出射部以外の領域での
受光となることから、この発光部1の出射部が受光に関
する無効領域となる。しかしながら、本発明によれば、
受光部4への戻り光に非点隔差が生じるようにしたこと
から、その戻り光のスポットは、無収差の場合に比し、
その強度分布の中心が、発光部1による無効領域の中心
からずれることになって、この無効領域の存在による受
光量の減少の低減化をはかることができる。
As described above, in the structure of the present invention, the irradiated portion 2
The return light itself from the light emitting section 1 toward the light emitting section 1 is received and detected by the light receiving section 4. In this case, the return light received by the light receiving section 4 is received in an area other than the emitting section of the light emitting section 1. Therefore, the emitting part of the light emitting part 1 becomes an ineffective region for receiving light. However, according to the invention,
Since the astigmatic difference is generated in the returning light to the light receiving section 4, the spot of the returning light is
The center of the intensity distribution deviates from the center of the ineffective region formed by the light emitting unit 1, and the reduction in the amount of light received due to the existence of the ineffective region can be reduced.

【0014】また、上述の光学素子21によれば、例え
ば受光部4において、その受光面を複数に分割すなわち
複数の受光素子によって構成することにより、いわゆる
非点収差法によって例えばフォーカシング状態の検知、
すなわち光照射部との位置検知を行うことができ、この
検知信号例えばフォーカシング信号によって発光部1か
らの発光光の被照射部2に対するフォーカシングサーボ
を行うことができる。
According to the above-mentioned optical element 21, for example, in the light receiving section 4, by dividing the light receiving surface into a plurality of light receiving elements, that is, by forming a plurality of light receiving elements, for example, detection of a focusing state by a so-called astigmatism method,
That is, it is possible to detect the position with respect to the light irradiation portion, and it is possible to perform focusing servo of the emitted light from the light emitting portion 1 with respect to the irradiated portion 2 by this detection signal, for example, a focusing signal.

【0015】そして、この受光光量の増大化によって、
検出信号を増加できるので、これによって、発光部1の
光量の低減化ひいては消費電力の節約をはかることがで
きる。
By increasing the amount of received light,
Since the number of detection signals can be increased, it is possible to reduce the light amount of the light emitting unit 1 and thus save power consumption.

【0016】[0016]

【実施例】本発明は、図1に示すように、発光部1と受
光部4とを例えば共通の基板9上に近接配置した構成を
とり、発光部1からの発光光Lが被照射部2に照射され
ることによる被照射部2での反射による発光部1への戻
り光LR 自体を受光部4によって受光検出する光学素子
21を設け、受光部4の受光面への戻り光が非点収差を
有する構成とする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention, as shown in FIG. 1, has a structure in which a light emitting section 1 and a light receiving section 4 are arranged in proximity to each other, for example, on a common substrate 9, and the emitted light L from the light emitting section 1 is irradiated. 2 is provided with an optical element 21 for receiving and detecting the return light L R itself to the light emitting unit 1 due to the reflection at the irradiated portion 2 by the light receiving unit 4, and the return light to the light receiving surface of the light receiving unit 4 is The configuration has astigmatism.

【0017】この場合、発光部1から被照射部2に向か
う光に関しては、その使用態様、目的に応じて、非点収
差のないあるいは非点収差がある光を用いることができ
るが、例えば被照射部2が光記録媒体であって、光記録
媒体上の記録を読み出す再生ピックアップに適用する場
合等、一般的には被照射部2に向かう光に関しては非点
収差のない光とされる。
In this case, with respect to the light traveling from the light emitting portion 1 to the irradiated portion 2, light having no astigmatism or having astigmatism can be used depending on the use mode and purpose. When the irradiation unit 2 is an optical recording medium and is applied to a reproducing pickup for reading a record on the optical recording medium, the light traveling toward the irradiated unit 2 is generally light without astigmatism.

【0018】上述の光学素子21によれば、受光部4に
おいて受光する戻り光は、発光部1の出射部以外の領域
での受光となることから、この発光部1の出射部が受光
に関する無効領域となる。しかしながら、本発明によれ
ば、受光部4への戻り光に非点隔差が生じるようにした
ことから、その戻り光のスポットは、無収差の場合に比
し、その強度分布の中心が、発光部1による無効領域の
中心からずれることになって、この無効領域の存在によ
る受光量の減少の低減化をはかることができる。
According to the above-mentioned optical element 21, the return light received by the light receiving section 4 is received in the area other than the emitting section of the light emitting section 1, so that the emitting section of the light emitting section 1 is ineffective for receiving light. It becomes an area. However, according to the present invention, since the astigmatic difference is generated in the return light to the light receiving unit 4, the spot of the return light has the center of its intensity distribution as compared with the case of no aberration. The deviation from the center of the invalid area by the portion 1 can reduce the reduction in the amount of received light due to the existence of the invalid area.

【0019】図1に示す例は、被照射部2が例えば光デ
ィスク等の光記録媒体であって、この被照射部2に対し
てその例えば凹凸ピットとして記録された記録情報をこ
のピットにおける光の回折による反射光の強弱によって
記録情報を読み出す再生ピックアップに適用した場合で
ある。
In the example shown in FIG. 1, the irradiated portion 2 is an optical recording medium such as an optical disk, and the recording information recorded on the irradiated portion 2 as, for example, concave and convex pits is recorded by the light at this pit. This is a case where the present invention is applied to a reproducing pickup that reads recorded information depending on the intensity of reflected light due to diffraction.

【0020】このように、受光部4で戻り光LR の検出
に関して非点隔差が生じるようにするときは、受光部
4、特にその被照射部2の位置センサー、具体的にはフ
ォーカシング状態の検知を行うことができ、この検知信
号をもって例えばフォーカシングサーボ信号とするもの
である。
As described above, when an astigmatic difference is generated in the detection of the return light L R in the light receiving unit 4, the position sensor of the light receiving unit 4, particularly the irradiated portion 2 thereof, specifically, the focusing state Detection can be performed, and this detection signal is used as a focusing servo signal, for example.

【0021】この場合、発光部1と、受光部4とを有す
る光学素子21と、上述した光ディスクよりなる被照射
部2との間に、収束手段3が設けられる。そして、この
収束手段3によって発光部1からの出射光を被照射部2
に収束照射し、更にこの被照射部2から反射された戻り
光を収束させ、この収束手段3の被照射部2から戻り光
に関する共焦点近傍に受光部4を配置する。この構成
で、発光部1からの出射光が、被照射部2において反射
される前および後において、その光軸を鎖線aで示すよ
うに、互いに同軸の経路を通過して受光部4において受
光される構成とする。
In this case, the converging means 3 is provided between the optical element 21 having the light emitting section 1 and the light receiving section 4 and the irradiated section 2 made of the above-mentioned optical disk. Then, the light emitted from the light emitting section 1 is irradiated by the converging means 3 with the irradiated section 2.
Then, the return light reflected from the irradiated portion 2 is converged, and the light receiving portion 4 is arranged in the vicinity of the confocal point of the returned light from the irradiated portion 2 of the converging means 3. With this configuration, before and after the light emitted from the light emitting section 1 is reflected by the irradiated section 2, the light receiving section 4 receives the light passing through coaxial paths as shown by the optical axis of the chain line a. It will be configured.

【0022】受光部4において受光される光は、光学系
の光回折限界近傍まで収束させるものであり、受光部4
はその少なくとも一部の受光面が、この光回折限界内、
すな発光部1からの出射光の波長をλ、収束手段3の開
口数をNAとするとき、受光面の配置基準面Sを横切る
発光部1からの出射光の光軸aからの距離が1.22λ
/NA以内の位置に設けられるようにする。
The light received by the light receiving section 4 is to be converged to near the light diffraction limit of the optical system.
At least part of its light receiving surface is within this optical diffraction limit,
When the wavelength of the light emitted from the light emitting portion 1 is λ and the numerical aperture of the converging means 3 is NA, the distance from the optical axis a of the light emitted from the light emitting portion 1 across the arrangement reference plane S of the light receiving surface is 1.22λ
It should be provided within a position within / NA.

【0023】また、この場合図1に示すように、受光部
4の受光面の配置基準面Sでの発光部1の出射光の直径
φsを、上記光回折限界の直径φdより小とし、受光部
1の有効受光面は、発光の直径φs外に位置するように
する。ここで発光部1の光源として半導体レーザを用い
ると、その出射光の直径φsは、約1〜2μm程度とす
ることができる。一方、収束手段3の開口数NAが例え
ば0.09〜0.1、出射光の波長λが780nm程度
とすると、回折限界すなわちφdは1.22λ/NA≒
10μm程度となる。
Further, in this case, as shown in FIG. 1, the diameter φs of the light emitted from the light emitting portion 1 on the arrangement reference plane S of the light receiving surface of the light receiving portion 4 is set to be smaller than the diameter φd of the light diffraction limit, and the light receiving is performed. The effective light receiving surface of the portion 1 is located outside the diameter φs of light emission. When a semiconductor laser is used as the light source of the light emitting unit 1, the diameter φs of the emitted light can be set to about 1 to 2 μm. On the other hand, when the numerical aperture NA of the converging means 3 is 0.09 to 0.1 and the wavelength λ of the emitted light is about 780 nm, the diffraction limit, that is, φd is 1.22λ / NA≈.
It becomes about 10 μm.

【0024】そして、収束手段3の一の共焦点位置に発
光部1を配置する。具体的にはこの焦点位置に半導体レ
ーザからの出射光のほぼウエストが位置するようにす
る。そして収束手段3の他方の焦点に被照射部2が位置
するようにする。
Then, the light emitting portion 1 is arranged at one confocal position of the converging means 3. Specifically, the waist of the light emitted from the semiconductor laser is located at this focus position. Then, the irradiated portion 2 is positioned at the other focus of the converging means 3.

【0025】この場合、上述したように、発光部1と受
光部4とが共通の基板9上に近接配置された光学素子2
1が構成される。この光学素子21は、例えば基板9と
して化合物半導体基板が用いられてこれにモノリシック
に発光部1の光源として半導体レーザが形成され、受光
部4としての例えばフォトダイオードが形成される。
In this case, as described above, the optical element 2 in which the light emitting portion 1 and the light receiving portion 4 are arranged close to each other on the common substrate 9.
1 is configured. In this optical element 21, for example, a compound semiconductor substrate is used as the substrate 9, a semiconductor laser is formed monolithically as the light source of the light emitting section 1, and a photodiode, for example, is formed as the light receiving section 4.

【0026】図示の例では、発光部1が光源としての例
えば水平共振器型半導体レーザ8とこれよりの出射光を
所定の方向に向けしめる反射鏡7とによる構成とした場
合である。
In the illustrated example, the light emitting section 1 is constituted by a horizontal cavity type semiconductor laser 8 as a light source and a reflecting mirror 7 for directing light emitted from the horizontal cavity type semiconductor laser 8 in a predetermined direction.

【0027】そして、被照射部2すなわちこの例では光
記録媒体からの受光部4への戻り光に関して光軸aと直
交し互いに直交する方向に関して非点隔差が生じるよう
にするには、発光部1からの発光光が非点収差を有する
半導体レーザ例えばゲインガイド型構成とするとか、半
導体レーザの共振器端面(出射光端面)を所定方向の互
いに直交する方向に関して非対称の曲面とするとか、反
射鏡7を所定方向に互いに直交する方向に関して非対称
の曲面とするなどの構成をとることができる。
In order to generate an astigmatic difference in the direction orthogonal to the optical axis a and the directions orthogonal to each other with respect to the return light from the irradiated portion 2, that is, the optical recording medium to the light receiving portion 4 in this example, the light emitting portion is used. 1 is a semiconductor laser having astigmatism, for example, a gain guide structure, or the resonator end face (emission light end face) of the semiconductor laser is a curved surface asymmetric with respect to a predetermined direction orthogonal to each other, For example, the mirror 7 may have a curved surface that is asymmetric with respect to a direction orthogonal to the predetermined direction.

【0028】一方、発光部1と被照射部2との間に、非
点収差を有する発光部1からの光の非点収差を補正する
非点収差補正手段を設ける。この非点収差補正手段とし
ては、周知のものを用いることができる。例えば図2お
よび図3に互いに直交する断面での形状を模式的に示す
ように、その一方のみが例えば凹レンズあるいは凸レン
ズ効果を有するシリンドリカルレンズあるいは互いに直
交する方向に関してそのレンズ効果を異にするレンズに
よって構成するとか、図示しないが、透明平行平板を一
軸方向に傾けた構成とする。このような非点収差の補正
手段を用いるときは、発光部1から被照射部2に向かう
往路の光に関しては非点収差の補正がなされるが、被照
射部2からの戻り光が、この補正手段を再び逆方向から
通過することによってその再び非点収差を有する光とな
る。つまり、上述した非点収差補正手段は、とりもなお
さず非点収差補正・付与手段CRとなる。
On the other hand, astigmatism correction means for correcting astigmatism of light from the light emitting section 1 having astigmatism is provided between the light emitting section 1 and the irradiated section 2. As this astigmatism correction means, known means can be used. For example, as schematically shown in FIG. 2 and FIG. 3 in the shape of cross sections orthogonal to each other, only one of them is, for example, a concave lens or a cylindrical lens having a convex lens effect, or a lens having different lens effects in mutually orthogonal directions. Although not shown, a transparent parallel plate is tilted in one axis direction. When such astigmatism correction means is used, astigmatism is corrected for the light on the outward path from the light emitting unit 1 to the irradiated portion 2, but the return light from the irradiated portion 2 is By passing through the correcting means in the opposite direction again, the light having the astigmatism is obtained again. That is, the above-mentioned astigmatism correction means becomes the astigmatism correction / addition means CR.

【0029】受光部4は、例えば図4に示すように、4
分割構成とした受光素子4A、4B、4Cおよび4Dに
よって構成する。これら受光素子4A、4B、4Cおよ
び4Dは、戻り光の光軸すなわち発光部1からの出射中
心を中心に対称的に配置する。そして、例えば被照射部
2に対して発光部1からの発光光Lがいわゆるジャスト
フォーカス状態にあるとき、図4Bに示すように戻り光
スポットSPが各受光素子4A、4B、4Cおよび4D
に均等の受光量を与えるようにすると、アンダーフォー
カスあるいはオーバフォーカスによって図4Aあるいは
図4Bに示すように、戻り光スポットSPが長円ないし
は楕円となって各受光素子4A、4B、4Cおよび4D
に対する受光量に変化が生じる。したがって図5に示す
ようにこれら受光素子4A〜4Dよりの各検出出力A〜
Bを、互いに対角位置にある素子に関して和算し、これ
らを減算する演算、つまり(A+B)−(C+D)なる
演算をすることによって図6に示すようなフォーカス位
置と出力の関係を有する信号すなわちフォーカスサーボ
信号を取り出すことができる。
The light receiving section 4 is, for example, as shown in FIG.
It is configured by the light receiving elements 4A, 4B, 4C and 4D having a divided configuration. These light receiving elements 4A, 4B, 4C and 4D are symmetrically arranged around the optical axis of the return light, that is, the emission center from the light emitting unit 1. Then, for example, when the emitted light L from the light emitting section 1 is in the so-called just focus state with respect to the irradiated section 2, the returning light spot SP is changed to the respective light receiving elements 4A, 4B, 4C and 4D as shown in FIG. 4B.
If a uniform light receiving amount is given to each of the light receiving elements 4A, 4B, 4C and 4D due to underfocus or overfocus, the returning light spot SP becomes an ellipse or an ellipse as shown in FIG. 4A or 4B.
A change occurs in the amount of received light for. Therefore, as shown in FIG. 5, the respective detection outputs A ...
A signal having a relationship between the focus position and the output as shown in FIG. 6 is obtained by performing an operation of summing B with respect to elements that are diagonal to each other and subtracting them, that is, an operation of (A + B)-(C + D). That is, the focus servo signal can be taken out.

【0030】したがって例えば上述のピックアップ装置
において、軸aに沿って被照射部2に対して微小移動で
きるアクチュエータを設け、このサーボ信号をもって収
束手段3の位置調整すなわちフォーカシング調整を行う
ようにすることができる。
Therefore, for example, in the above-mentioned pickup device, an actuator capable of making a minute movement with respect to the irradiated portion 2 along the axis a is provided, and the position adjustment of the converging means 3, that is, the focusing adjustment is performed by using this servo signal. it can.

【0031】このようにしてフォーカシング制御がなさ
れた状態で、例えば受光部全体ですなわち例えば受光素
子4A、4B、4Cおよび4Dの全体の出力の和によっ
て被照射部2の光ディスクからの信号の読み出しを行
う。
With the focusing control performed in this manner, the signal is read from the optical disk of the irradiated portion 2 by the sum of the outputs of the entire light receiving portion, that is, for example, the entire light receiving elements 4A, 4B, 4C and 4D. To do.

【0032】上述した例では、被照射部2が例えば光デ
ィスクである場合について説明したが、本発明を適用す
る光学装置は、上述の例に限られるものではなく、例え
ば光磁気ディスクであってこれに磁気的に記録された信
号をカー効果によって読み出す光ピックアップ装置とす
ることもできる。この場合には、図示しないが、例えば
発光部1と被照射部2との間、すなわち発光部1から被
照射部2に向かう光路および被照射部2から反射されて
戻る光路上に偏光子を配置し、一方受光部4上の発光部
1からの出射光の光路を避けた位置に検光子を対向配置
するなどの構成が採られる。
In the above-mentioned example, the case where the irradiated portion 2 is, for example, an optical disk has been described, but the optical device to which the present invention is applied is not limited to the above-mentioned example, and is, for example, a magneto-optical disk. It is also possible to use an optical pickup device that reads out a signal magnetically recorded on the disk by the Kerr effect. In this case, although not shown, for example, the polarizer is provided between the light emitting section 1 and the irradiated section 2, that is, on the optical path from the light emitting section 1 to the irradiated section 2 and the optical path reflected back from the irradiated section 2. On the other hand, a configuration is adopted in which the analyzer is disposed on the one side and the analyzer is disposed so as to face the light receiving section 4 at a position avoiding the optical path of the light emitted from the light emitting section 1.

【0033】この構成によれば、被照射部2の光磁気デ
ィスクに照射された光が記録情報に応じたカー効果によ
ってその偏光面が回転した戻り光となるので、そのカー
回転角に応じて検光手段6を通過する光量が変化する。
したがって、受光部4によってこれを検出すれば、光磁
気ディスク上の記録を再生できることになる。
According to this structure, the light applied to the magneto-optical disk of the irradiated portion 2 becomes the return light whose polarization plane is rotated by the Kerr effect according to the recorded information, so that it depends on the Kerr rotation angle. The amount of light passing through the light detecting means 6 changes.
Therefore, if this is detected by the light receiving unit 4, the recording on the magneto-optical disk can be reproduced.

【0034】また、収束手段3は、例えばコリメータレ
ンズ構成とするなど種々の構成を採ることができる。
Further, the converging means 3 can have various structures such as a collimator lens structure.

【0035】次に、共通の基板9に、発光部1と受光部
4とをモノリシックに一体に構成する光学素子21の一
例を図7および図8をを参照してその製造方法の一例と
ともに説明する。
Next, an example of the optical element 21 in which the light emitting portion 1 and the light receiving portion 4 are monolithically integrated on the common substrate 9 will be described with reference to FIGS. 7 and 8 together with an example of a manufacturing method thereof. To do.

【0036】この場合、図7Aに示すように、第1導電
型例えばn型のGaAs、あるいはInP化合物半導体
基板等による基板9を用意し、これの上に例えばMOC
VD(有機金属化学的気相成長)法によって例えばAl
GaAsによる第1導電型のn型の第1のクラッド層2
2、例えばGaAsによるあるいはクラッド層22に比
し低Al濃度のAlGaAs等による活性層23、第2
導電型のたp型のAlGaAsによるキャップ層25を
順次エピタキシャル成長する。
In this case, as shown in FIG. 7A, a substrate 9 made of GaAs of the first conductivity type, for example, n-type, or an InP compound semiconductor substrate is prepared, and, for example, MOC is formed thereon.
By the VD (metalorganic chemical vapor deposition) method, for example, Al
First conductivity type n-type first cladding layer 2 made of GaAs
2, an active layer 23 made of, for example, GaAs or AlGaAs having a lower Al concentration than the cladding layer 22,
A cap layer 25 of p-type AlGaAs of conductivity type is sequentially epitaxially grown.

【0037】図7Bに示すように、キャップ層25上か
ら最終的に半導体レーザの共振器を構成する領域を挟む
ように電流阻止領域26を、第1導電型例えばn型の不
純物を選択された領域にイオン注入して形成する。
As shown in FIG. 7B, the current blocking region 26 and the impurity of the first conductivity type, for example, n type, are selected so as to sandwich the region which finally constitutes the resonator of the semiconductor laser from above the cap layer 25. The region is formed by ion implantation.

【0038】図7Cに示すように、キャップ層25上か
ら例えばほぼ45°の角度をもって活性層23を横切る
深さに斜め溝27aをRIE(反応性エッチング)等の
異方性エッチングによって形成し、更にその一側面側に
同様の異方性エッチングによって例えば円筒面溝27b
を形成する。
As shown in FIG. 7C, oblique grooves 27a are formed on the cap layer 25 at a depth of, for example, about 45 ° so as to cross the active layer 23 by anisotropic etching such as RIE (reactive etching). Further, for example, the cylindrical surface groove 27b is formed on one side surface side by similar anisotropic etching.
To form.

【0039】図7Dに示すように、溝27bの円筒面溝
27bを有する側とは反対側の側面を垂直に切り落とす
ように、RIE等の異方性エッチングによって垂直の溝
27cを形成する。
As shown in FIG. 7D, a vertical groove 27c is formed by anisotropic etching such as RIE so that the side surface of the groove 27b opposite to the side having the cylindrical surface groove 27b is vertically cut off.

【0040】図8Aに示すように、必要に応じて斜め蒸
着、CVD(化学的気相成長)法等によって円筒面溝2
7bを有する傾斜溝27aの傾斜側面に円筒面溝27b
内を含んで反射膜の被着をおこなって反射鏡7を形成す
る。
As shown in FIG. 8A, if necessary, the cylindrical surface groove 2 is formed by oblique vapor deposition, CVD (chemical vapor deposition) or the like.
Cylindrical surface groove 27b is formed on the inclined side surface of inclined groove 27a having 7b.
A reflection film is deposited including the inside to form the reflection mirror 7.

【0041】このようにして、溝27cを挟んで円筒面
溝27bが形成された側とは反対側に半導体レーザLD
を形成し、溝27cを挟んで反対側にクラッド層22、
活性層23、クラッド層24の各一部からなるフォトダ
イオードPDが形成される。
In this way, the semiconductor laser LD is provided on the side opposite to the side where the cylindrical surface groove 27b is formed with the groove 27c interposed therebetween.
And the cladding layer 22, on the opposite side across the groove 27c.
The photodiode PD is formed of each part of the active layer 23 and the cladding layer 24.

【0042】図8Bに示すように、フォトダイオードP
D上のキャップ層25を一部除去して受光窓28を形成
する。
As shown in FIG. 8B, the photodiode P
A part of the cap layer 25 on D is removed to form a light receiving window 28.

【0043】図8Cに示すように、フォトダイオードP
Dの電極30および半導体レーザLDの電極31とをキ
ャップ層25上にオーミックにコンタクトし、基板9の
裏面に共通の電極30をオーミックにコンタクトする。
As shown in FIG. 8C, the photodiode P
The electrode 30 of D and the electrode 31 of the semiconductor laser LD are ohmic-contacted on the cap layer 25, and the common electrode 30 is ohmic-contacted on the back surface of the substrate 9.

【0044】このようにすれば、共通の基板9に、光源
としての半導体レーザLDが形成され、これより発生し
たレーザ光が反射鏡7によって反射されて所定方向に向
けられる発光部1と、フォトダイオードPDとが形成さ
れた光学素子21が形成される。そして、この場合反射
鏡7は、円筒面溝27bによる円筒面状の反射鏡とされ
ているから、発光部1から出射する光は、非点収差を有
する光となる。
In this way, the semiconductor laser LD as a light source is formed on the common substrate 9, and the laser light generated from the semiconductor laser LD is reflected by the reflecting mirror 7 and directed in a predetermined direction, and the photo diode. The optical element 21 including the diode PD is formed. In this case, since the reflecting mirror 7 is a reflecting mirror having a cylindrical surface formed by the cylindrical groove 27b, the light emitted from the light emitting unit 1 becomes light having astigmatism.

【0045】上述した例では、反射鏡7によって非点収
差が発生するようにした場合であるが、このような非点
収差を発生する反射鏡7を用いて、あるいは非点収差を
発生させない平面状の反射鏡を用いて、半導体レーザL
Dに関してこれを非点収差の大きい半導体レーザ構造と
することもできる。
In the above-mentioned example, the astigmatism is generated by the reflecting mirror 7. However, the reflecting mirror 7 that generates such astigmatism is used, or a plane that does not generate astigmatism. Laser diode L using a circular reflector
Regarding D, this may be a semiconductor laser structure having a large astigmatism.

【0046】また、光学素子21として、例えば前述し
た4分割構成のフォトダイオード4A、4B、4Cおよ
び4Dを形成する場合には、溝27cを挟んで半導体レ
ーザの形成側においても、半導体レーザ上にフォトダイ
オードを形成するようにすることができる。
When the photodiodes 4A, 4B, 4C and 4D having the above-mentioned four-division structure are formed as the optical element 21, the semiconductor laser is formed on the semiconductor laser on the side where the groove 27c is sandwiched. A photodiode may be formed.

【0047】本発明装置における光学素子21におい
て、共通の基板9に発光部1と受光部4とをモノリシッ
クに構成することにより、両者の間隔は充分小に、例え
ば数μm程度に構成することができるので、発光部1に
向かう戻り光を効率良く受光することができるととも
に、光軸と受光部の軸合わせなど各部の位置関係の設定
も正確、確実に、量産的に構成できる。
In the optical element 21 of the device of the present invention, the light emitting portion 1 and the light receiving portion 4 are monolithically formed on the common substrate 9 so that the distance between them can be made sufficiently small, for example, about several μm. Therefore, the return light traveling toward the light emitting unit 1 can be efficiently received, and the positional relationship between the respective units such as the alignment of the optical axis and the light receiving unit can be set accurately, reliably and in mass production.

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明装置では、発光部1からの発光光
の発光部1への戻り光自体を受光部4において受光する
するので、戻り光を分岐して受光する場合に比し、少な
くともこの受光部4においてはその受光量を高めること
ができるが、この場合この受光は、発光部1の出射部以
外の領域での受光となることから、この発光部1の出射
部が受光に関する無効領域となる。しかしながら、本発
明によれば、受光部4への戻り光に非点隔差が生じるよ
うにしたことから、その戻り光のスポットは、無収差の
場合に比し、その強度分布の中心が、発光部1による無
効領域の中心からずれることになって、この無効領域の
存在による受光量の減少の低減化をはかることができる
とともに、上述したように、その戻り光が受光面に傾い
て入射するようにしたことによって、発光部1による実
効的不感領域の縮減化をはかることができるので、より
受光量の向上をはかることができる。
In the device of the present invention, since the return light of the light emitted from the light emitting section 1 to the light emitting section 1 is received by the light receiving section 4, at least as compared with the case where the return light is branched and received. In the light receiving unit 4, the amount of received light can be increased. In this case, however, this light reception is received in a region other than the emitting unit of the light emitting unit 1. Therefore, the emitting unit of the light emitting unit 1 is ineffective for receiving light. It becomes an area. However, according to the present invention, since the astigmatic difference is generated in the return light to the light receiving unit 4, the spot of the return light has the center of its intensity distribution as compared with the case of no aberration. By deviating from the center of the ineffective region by the portion 1, it is possible to reduce the decrease in the amount of received light due to the existence of the ineffective region, and as described above, the return light is incident on the light receiving surface with an inclination. By doing so, it is possible to reduce the effective dead region by the light emitting unit 1, and thus it is possible to further improve the amount of received light.

【0049】そして、上述の本発明構成によれば、発光
部1への戻り光自体を受光部4で受光する構成としたの
で、被照射部2の前および後において、その光軸aを一
致させることができること、発光部1と受光部4とを近
接して配置することから、受光部4を発光部とほぼ共焦
点位置に配置できることによって、効率の良い受光を行
うことができるとともに、戻り光を分離して受光部4に
向かわせる場合の例えば光路の分離手段と受光部の軸合
せ等の位置合せを回避できることにより、精度の向上、
組み立て製造の簡易化、信頼性の向上をはかることがで
きる。
Further, according to the above-described configuration of the present invention, since the return light itself to the light emitting section 1 is received by the light receiving section 4, the optical axes a of the irradiated section 2 are aligned before and after the irradiated section 2. Since the light emitting unit 1 and the light receiving unit 4 are arranged close to each other, the light receiving unit 4 can be arranged substantially at the confocal position with the light emitting unit, whereby efficient light reception can be performed and the return When the light is separated and directed to the light receiving unit 4, it is possible to avoid alignment such as axial alignment of the light path separating unit and the light receiving unit, thereby improving accuracy,
Assembling and manufacturing can be simplified and reliability can be improved.

【0050】そして、上述したように受光部4における
受光量の向上をはかることができることから、光光の強
度の低減化をはかることができて消費電力の削減をはか
ることができるとか、検出出力を高めることができるこ
とからS/Nの向上をはかることができる。
As described above, since the amount of light received by the light receiving section 4 can be improved, the intensity of light and light can be reduced, and the power consumption can be reduced. It is possible to improve the S / N because it is possible to improve the S / N ratio.

【0051】更に、本発明構成によれば、非点収差法に
よる位置検出例えばフォーカシングサーボを行うことが
できるなど効果をもたらすことができる。
Further, according to the configuration of the present invention, it is possible to obtain an effect such as position detection by the astigmatism method, for example, focusing servo can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光学装置の一例の概略構成図であ
る。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an example of an optical device according to the present invention.

【図2】本発明による光学装置の一例の一断面での概略
構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram in one cross section of an example of an optical device according to the present invention.

【図3】本発明による光学装置の一例の他の断面での概
略構成図である。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram in another cross section of an example of the optical device according to the present invention.

【図4】本発明光学装置の一例の非点収差法によるフォ
ーカシングサーボ信号の検出方法の説明図である。Aは
フォーカシングがずれた状態での戻り光スポットと受光
部との関係を示す図である。Bはジャストフォーカシン
グ状態での戻り光スポットと受光部との関係を示す図で
ある。Cはフォーカシングがずれた状態での戻り光スポ
ットと受光部との関係を示す図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a method of detecting a focusing servo signal by an astigmatism method of an example of the optical device of the present invention. FIG. 8A is a diagram showing a relationship between a returning light spot and a light receiving section in a state where focusing is deviated. FIG. 6B is a diagram showing the relationship between the returning light spot and the light receiving section in the just focusing state. FIG. 6C is a diagram showing the relationship between the returning light spot and the light receiving section in a state where focusing is deviated.

【図5】本発明装置のフォーカシングサーボ信号の検出
方法の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a method of detecting a focusing servo signal of the device of the present invention.

【図6】本発明装置のフォーカス信号出力曲線図であ
る。
FIG. 6 is a focus signal output curve diagram of the device of the present invention.

【図7】本発明装置の一例の一製造方法の工程図(その
1)である。Aはその一工程図である。Bはその一工程
図である。Cはその一工程図である。Dはその一工程図
である。
FIG. 7 is a process diagram (1) of an example of the manufacturing method of the device of the present invention. A is the one process drawing. B is the one process drawing. C is the one process drawing. D is the one process drawing.

【図8】本発明装置の一例の一製造方法の工程図(その
2)である。Aはその一工程図である。Bはその一工程
図である。Cはその一工程図である。
FIG. 8 is a process diagram (2) of the method of manufacturing an example of the device of the present invention. A is the one process drawing. B is the one process drawing. C is the one process drawing.

【図9】光学装置の一例の略線的構成図である。FIG. 9 is a schematic configuration diagram of an example of an optical device.

【図10】光学装置の他の例の略線的構成図である。FIG. 10 is a schematic configuration diagram of another example of the optical device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 発光部 2 被照射部 3 収束手段 7 反射鏡 CR 非点収差補正・付与手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light emitting part 2 Irradiated part 3 Converging means 7 Reflecting mirror CR Astigmatism correction / addition means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松田 修 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Osamu Matsuda 6-7-35 Kitashinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Corporation

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 発光部と受光部とが近接配置され、上記
発光部からの発光光の被照射部からの上記発光部に向か
う戻り光を上記受光部によって受光検出する光学素子を
有し、 上記受光部の受光面への上記戻り光が非点収差を有する
ことを特徴とする光学装置。
1. A light emitting unit and a light receiving unit are arranged in proximity to each other, and an optical element is provided for detecting, by the light receiving unit, return light of the emitted light from the light emitting unit, which is directed to the light emitting unit from the irradiated portion, An optical device, wherein the return light to the light receiving surface of the light receiving section has astigmatism.
【請求項2】 発光部と受光部とが近接配置され、上記
発光部からの発光光の被照射部からの上記発光部に向か
う戻り光を上記受光部によって受光検出する光学素子を
有し、 上記発光部からの発光光が非点収差を有し、 上記発光部と上記被照射部との間に、上記被照射部に向
かう上記発光部からの発光光の非点収差を補正し、上記
被照射部からの戻り光に非点収差を付与する非点収差の
補正・付与手段が配置されたことを特徴とする光学装
置。
2. A light emitting part and a light receiving part are arranged in close proximity to each other, and an optical element is provided for detecting, by the light receiving part, return light of the emitted light from the light emitting part, which is returned from the irradiated part toward the light emitting part, The light emitted from the light emitting section has astigmatism, and the astigmatism of the light emitted from the light emitting section toward the irradiated section is corrected between the light emitting section and the irradiated section. An optical device characterized in that an astigmatism correction / applying means for providing astigmatism to the return light from the irradiated portion is arranged.
【請求項3】 上記発光部が、出射光に非点収差を有す
る半導体レーザを有してなることを特徴とする請求項1
または2に記載の光学装置。
3. The light emitting section comprises a semiconductor laser having astigmatism in emitted light.
Or the optical device according to 2.
【請求項4】 上記発光部が、光源からの出射光に非点
収差を付与する反射鏡を具備することを特徴とする請求
項1、2または3に記載の光学装置。
4. The optical device according to claim 1, wherein the light emitting unit includes a reflecting mirror that imparts astigmatism to the light emitted from the light source.
JP5333569A 1993-12-27 1993-12-27 Optical device Pending JPH07192301A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001256665A (en) * 2000-01-07 2001-09-21 Rohm Co Ltd Light-receiving and light-emitting composite element, and optical pickup device using the same

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