JPH07186335A - Biaxially oriented thermoplastic resin film - Google Patents

Biaxially oriented thermoplastic resin film

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JPH07186335A
JPH07186335A JP5352201A JP35220193A JPH07186335A JP H07186335 A JPH07186335 A JP H07186335A JP 5352201 A JP5352201 A JP 5352201A JP 35220193 A JP35220193 A JP 35220193A JP H07186335 A JPH07186335 A JP H07186335A
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JP
Japan
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film
present
layer
particles
measuring method
Prior art date
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Pending
Application number
JP5352201A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Abe
晃一 阿部
Toru Miyake
徹 三宅
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Toray Industries Inc filed Critical Toray Industries Inc
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Publication of JPH07186335A publication Critical patent/JPH07186335A/en
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  • Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Shaping By String And By Release Of Stress In Plastics And The Like (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a biaxially oriented thermoplastic resin film excellent in scratch resistance by specifying the thickness of the A-layer of the film, the relation between the particle content and thickness of the layer, the average particle size of the particles contained in the B-layer thereof and the content of the particles in the B-layer. CONSTITUTION:A biaxially oriented thermoplastic resin film has a laminated structure consisting of an A-layer composed of a thermoplastic resin A and a B-layer composed of a thermoplastic resin B and the A-layer constitutes one outermost layer. The A-layer contains 0.001-50wt.% of inert particles of which the average particle size is 0.1-10 times the thickness of the Alayer and the thickness thereof is 0.005-3mum or 10% or less of the total thickness of the laminated film. The B-layer contains 0.001-1wt.% of inert particles with an average particle size of 0.005-2mum.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、二軸配向熱可塑性樹脂
フイルムに関するものである。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a biaxially oriented thermoplastic resin film.

【0002】[0002]

【従来の技術】二軸配向熱可塑性樹脂フイルムとして
は、熱可塑性樹脂であるポリエステルにコロイド状シリ
カに起因する実質的に球形のシリカ粒子を含有せしめた
フイルムが知られている(たとえば特開昭59−171
623号公報)。
2. Description of the Related Art As a biaxially oriented thermoplastic resin film, there is known a film in which polyester, which is a thermoplastic resin, contains substantially spherical silica particles derived from colloidal silica (see, for example, Japanese Patent Laid-Open Publication No. Sho. 59-171
623).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の二
軸配向熱可塑性樹脂フイルムは、フイルムの種々の加工
工程、たとえば包装用途における印刷工程、磁気媒体用
途における磁性層塗布・カレンダー工程あるいは感熱転
写用途における感熱転写層塗布などの工程速度の増大に
ともない、接触するロールによってフイルム表面に傷が
つくという欠点が問題となってきている。
However, the above-mentioned conventional biaxially oriented thermoplastic resin film is used in various film processing processes such as a printing process in a packaging application, a magnetic layer coating / calendering process in a magnetic medium application, or a thermal transfer. Along with the increase in the process speed such as application of the heat-sensitive transfer layer in the application, there has been a problem that a film is scratched on the film surface by the contacting rolls.

【0004】また、上記従来の二軸配向熱可塑性樹脂フ
イルムは高温・高湿下で、フイルムを取り扱う時に摩擦
係数が高くなり、ハンドリング性が不良になるという問
題点があった。
Further, the conventional biaxially oriented thermoplastic resin film has a problem that the coefficient of friction becomes high when the film is handled under high temperature and high humidity, resulting in poor handling property.

【0005】また、磁気記録媒体、例えばビデオテープ
においては、より良好な電磁変換特性が求められてきて
おり、さらに表面特性の改良が要望されている。
Further, in magnetic recording media such as video tapes, better electromagnetic conversion characteristics have been demanded, and further improvements in surface characteristics have been demanded.

【0006】本発明は、従来技術の種々の問題点を改善
し、かつ種々の要求を満たすために、とくに表面が傷つ
きにくい(以下耐スクラッチ性に優れるという)フイル
ムを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a film which is not easily scratched on its surface (hereinafter referred to as excellent scratch resistance) in order to solve various problems of the prior art and meet various requirements. .

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この目的に沿う本発明の
二軸配向熱可塑性樹脂フイルムは、熱可塑性樹脂Aから
なるA層と熱可塑性樹脂BからなるB層との積層構成を
有し、A層が少なくとも一方の最外層を構成する積層フ
イルムであって、前記少なくとも一方の最外層を構成す
るA層は、平均粒径が該A層の厚さの0.1〜10倍の
不活性粒子を0.001〜50重量%含有し、その層厚
さが0.005〜3μmまたは積層フイルム全厚の10
%以下であり、前記B層は、平均粒径が0.005〜2
μmの不活性粒子を0.001〜1重量%含有している
ことを特徴とするものから成る。
A biaxially oriented thermoplastic resin film of the present invention which meets this object has a laminated structure of an A layer made of a thermoplastic resin A and a B layer made of a thermoplastic resin B, The layer A is a laminated film which constitutes at least one outermost layer, and the layer A which constitutes at least one outermost layer has an average particle diameter of 0.1 to 10 times the thickness of the layer A. The particles contain 0.001 to 50% by weight, and the layer thickness is 0.005 to 3 μm or 10 of the total thickness of the laminated film.
% Or less, and the B layer has an average particle size of 0.005 to 2
It is characterized in that it contains 0.001 to 1% by weight of inactive particles of μm.

【0008】本発明に係る熱可塑性樹脂Aは、ポリエス
テル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリフェニレンス
ルフィドなど特に限定されることはないが、特に、ポリ
エステル、中でも、エチレンテレフタレート、エチレン
α,β−ビス(2−クロルフェノキシ)エタン−4,
4′−ジカルボキシレート、エチレン2,6−ナフタレ
ート単位から選ばれた少なくとも一種の構造単位を主要
構成成分とする場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性、
摩擦係数がより一層良好となるので望ましい。
The thermoplastic resin A according to the present invention is not particularly limited to polyesters, polyolefins, polyamides, polyphenylene sulfides, etc., but especially polyesters, especially ethylene terephthalate, ethylene α, β-bis (2-chloro). Phenoxy) ethane-4,
When at least one structural unit selected from 4'-dicarboxylate and ethylene 2,6-naphthalate units is a main constituent, scratch resistance, electromagnetic conversion characteristics,
It is desirable because the coefficient of friction is further improved.

【0009】また、本発明を構成する熱可塑性樹脂は結
晶性、あるいは溶融時光学異方性である場合に耐スクラ
ッチ性、電磁変換特性、摩擦係数がより一層良好となる
のできわめて望ましい。ここでいう結晶性とはいわゆる
非晶質ではないことを示すものであり、定量的には結晶
化パラメータにおける冷結晶化温度Tccが検出され、
かつ結晶化パラメータΔTcgが150℃以下のもので
ある。さらに、示差走査熱量計で測定された融解熱(融
解エンタルビー変化)が7.5cal/g以上の結晶性
を示す場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩擦係数
がより一層良好となるのできわめて望ましい。また、エ
チレンテレフタレートを主要構成成分とするポリエステ
ルの場合に電磁変換特性と耐スクラッチ性がより一層良
好となるので特に望ましい。なお、本発明を阻害しない
範囲内で、2種以上の熱可塑性樹脂を混合しても良い
し、共重合ポリマを用いても良い。
Further, the thermoplastic resin constituting the present invention is highly desirable because it has further improved scratch resistance, electromagnetic conversion characteristics and friction coefficient when it is crystalline or has optical anisotropy when melted. The term "crystallinity" as used herein means that the material is not so-called amorphous, and the cold crystallization temperature Tcc in the crystallization parameter is quantitatively detected,
The crystallization parameter ΔTcg is 150 ° C. or less. Furthermore, when the heat of fusion (change in enthalpy of fusion) measured by a differential scanning calorimeter shows a crystallinity of 7.5 cal / g or more, scratch resistance, electromagnetic conversion characteristics, and friction coefficient become even better, so desirable. Further, in the case of polyester containing ethylene terephthalate as a main constituent component, electromagnetic conversion characteristics and scratch resistance are further improved, which is particularly desirable. Two or more kinds of thermoplastic resins may be mixed, or a copolymerized polymer may be used, as long as the present invention is not impaired.

【0010】本発明フイルムは、熱可塑性樹脂Aからな
るA層と熱可塑性樹脂BからなるB層との積層構成を有
し、A層が少なくとも一方の最外層を構成する積層フイ
ルムである。すなわち、A/B、A/B/A、A/B/
C、A/B/C/B、A/B/C/B/A等の積層構成
を有するフイルムである。
The film of the present invention is a laminated film having a laminated constitution of an A layer made of a thermoplastic resin A and a B layer made of a thermoplastic resin B, the A layer constituting at least one outermost layer. That is, A / B, A / B / A, A / B /
The film has a laminated structure of C, A / B / C / B, A / B / C / B / A, and the like.

【0011】この少なくとも一方の最外層を構成するA
層には、平均粒径が該A層の厚さの0.1〜10倍の不
活性粒子が0.001〜50重量%含有される。
A constituting at least one of the outermost layers
The layer contains 0.001 to 50% by weight of inert particles having an average particle size of 0.1 to 10 times the thickness of the layer A.

【0012】上記不活性粒子の大きさは、A層中での平
均粒径がA層厚さの0.1〜10倍、好ましくは0.5
〜5倍、さらに好ましくは1.1〜3倍の範囲であるこ
とが必要である。平均粒径/フイルム厚さ比が上記の範
囲より小さいと耐スクラッチ性、摩擦係数が不良とな
り、逆に大きくても耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩
擦係数が不良となるので好ましくない。このような粒径
とフイルム厚さの関係にすることにより、A層表面に効
率よく所望の突起が形成される。
The size of the above-mentioned inert particles is such that the average particle size in the A layer is 0.1 to 10 times the A layer thickness, preferably 0.5.
It is necessary to be in the range of ˜5 times, more preferably 1.1 to 3 times. If the average particle diameter / film thickness ratio is smaller than the above range, the scratch resistance and the friction coefficient are poor, and conversely if it is large, the scratch resistance, the electromagnetic conversion characteristics and the friction coefficient are poor, which is not preferable. By having such a relationship between the particle size and the film thickness, desired projections are efficiently formed on the surface of the A layer.

【0013】また、本発明の熱可塑性樹脂A中の不活性
粒子の含有量は0.001〜50重量%の範囲であるこ
とが必要である。不活性粒子の含有量が上記の範囲より
少なくても、逆に大きくても耐スクラッチ性が不良とな
るので好ましくない。
Further, the content of the inert particles in the thermoplastic resin A of the present invention needs to be in the range of 0.001 to 50% by weight. If the content of the inert particles is less than the above range, or conversely, it is not preferable, the scratch resistance becomes poor.

【0014】熱可塑性樹脂A中の不活性粒子の種類は特
に限定されないが、上記の好ましい粒子特性を満足する
にはアルミナ珪酸塩、1次粒子が凝集した状態のシリ
カ、内部析出粒子などは好ましくなく、コロイダルシリ
カに起因する実質的に球形のシリカ粒子、架橋高分子に
よる粒子(たとえば架橋ポリスチレン)などがあるが、
特に10重量%減量時温度(窒素中で熱重量分析装置島
津TG−30Mを用いて測定。昇温速度20℃/分)が
380℃以上になるまで架橋度を高くした架橋高分子粒
子の場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性がより一層良
好となるので特に望ましい。なお、コリダルシリカに起
因する球形シリカの場合にはアルコキシド法で製造され
た、ナトリウム含有量が少ない、実質的に球形のシリカ
の場合に耐スクラッチ性がより一層良好となるので特に
望ましい。しかしながら、その他の粒子、例えば炭酸カ
ルシウム、二酸化チタン、アルミナ等の粒子でもフイル
ム厚さと平均粒径の適切なコントロールにより十分使い
こなせるものである。
The type of the inert particles in the thermoplastic resin A is not particularly limited, but in order to satisfy the above preferable particle characteristics, alumina silicate, silica in which primary particles are agglomerated, and internally precipitated particles are preferable. However, there are substantially spherical silica particles due to colloidal silica, particles due to crosslinked polymers (for example, crosslinked polystyrene), etc.
In particular, in the case of cross-linked polymer particles having a high degree of cross-linking until the temperature at 10% weight loss (measured in thermogravimetric analyzer Shimadzu TG-30M in nitrogen. Temperature rising rate 20 ° C / min) is 380 ° C or higher. Moreover, the scratch resistance and electromagnetic conversion characteristics are further improved, which is particularly desirable. In the case of spherical silica derived from corridal silica, the scratch resistance is further improved in the case of substantially spherical silica produced by the alkoxide method and having a low sodium content, which is particularly desirable. However, other particles such as calcium carbonate, titanium dioxide, and alumina can be sufficiently used by appropriately controlling the film thickness and the average particle size.

【0015】上記A層の厚さは、0.005〜3μmま
たは積層フイルム全厚の10%以下であることが必要で
ある。この範囲から外れると、A層表面に効率よく所望
の突起を形成することが困難となる。
The thickness of the layer A must be 0.005 to 3 μm or 10% or less of the total thickness of the laminated film. When it deviates from this range, it becomes difficult to efficiently form a desired protrusion on the surface of the A layer.

【0016】なお、本発明フイルムにおけるA層は、上
記熱可塑性樹脂Aと不活性粒子からなる組成物を主要成
分とするが、本発明の目的を阻害しない範囲内で、他種
ポリマをブレンドしてもよいし、また酸化防止剤、熱安
定剤、滑剤、紫外線吸収剤などの有機添加剤が通常添加
される程度添加されていてもよい。
The A layer in the film of the present invention contains a composition comprising the above-mentioned thermoplastic resin A and inert particles as a main component, but is blended with another type of polymer within a range not impairing the object of the present invention. In addition, organic additives such as antioxidants, heat stabilizers, lubricants, and ultraviolet absorbers may be added to the extent that they are usually added.

【0017】B層を構成する熱可塑性樹脂Bとしては、
特に限定されないが、結晶性ポリマが望ましく、特に、
結晶性パラメータΔTcgが20〜100℃の範囲の場
合に、電磁変換特性がより一層良好となるので望まし
い。具体例として、ポリエステル、ポリアミド、ポリフ
ェニレンスルフィド、ポリオレフィンが挙げられるが、
ポリエステルの場合に電磁変換特性がより一層良好とな
るので特に望ましい。また、ポリエステルとしては、エ
チレンテレフタレート、エチレンα,β−ビス(2−ク
ロルフェノキシ)エタン4−4′−ジカルボキシレー
ト、エチレン2,6−ナフタレート単位から選ばれた少
なくとも一種の構造単位を主要構成成分とする場合に耐
ダビング性が特に良好となるので望ましい。ただし、本
発明を阻害しない範囲内、望ましい結晶性を損なわない
範囲で、好ましくは5モル%以内であれば他成分が共重
合されていてもよい。
As the thermoplastic resin B constituting the layer B,
Although not particularly limited, a crystalline polymer is desirable, and in particular,
When the crystallinity parameter ΔTcg is in the range of 20 to 100 ° C., the electromagnetic conversion characteristics are further improved, which is desirable. Specific examples include polyester, polyamide, polyphenylene sulfide, and polyolefin,
In the case of polyester, electromagnetic conversion characteristics are further improved, which is particularly desirable. The polyester mainly comprises at least one structural unit selected from ethylene terephthalate, ethylene α, β-bis (2-chlorophenoxy) ethane 4-4′-dicarboxylate, and ethylene 2,6-naphthalate unit. When used as a component, the dubbing resistance becomes particularly good, which is desirable. However, other components may be copolymerized within a range that does not impair the present invention and a range that does not impair the desired crystallinity, and preferably within 5 mol%.

【0018】本発明の熱可塑性樹脂Bにも、本発明の目
的を阻害しない範囲内で、他種ポリマをブレンドしても
よいし、また酸化防止剤、熱安定剤、滑剤、紫外線吸収
剤などの有機添加剤が通常添加される程度添加されてい
てもよい。
The thermoplastic resin B of the present invention may also be blended with another type of polymer within a range that does not impair the object of the present invention, and an antioxidant, a heat stabilizer, a lubricant, an ultraviolet absorber and the like. The organic additive may be added to the extent that it is usually added.

【0019】熱可塑性樹脂Bを主成分とするフイルム層
中には、平均粒径が0.005〜2μmの不活性粒子が
0.001〜1重量%含有される。
The film layer containing the thermoplastic resin B as a main component contains 0.001 to 1% by weight of inactive particles having an average particle size of 0.005 to 2 μm.

【0020】このような特定粒径の不活性粒子が、特定
の少量だけ含有されることにより、摩擦係数、耐スクラ
ッチ性がより一層良好となるのみならず、フイルムの巻
姿が良好となる。含有する不活性粒子の種類は熱可塑性
樹脂Aに好ましく用いられるものを使用することが望ま
しい。熱可塑性樹脂AとBに含有する粒子の種類、大き
さは同じでも異なっていても良い。
By containing a specific small amount of such inert particles having a specific particle diameter, not only the friction coefficient and scratch resistance are further improved, but also the winding shape of the film is improved. As the type of the inert particles to be contained, it is desirable to use those which are preferably used for the thermoplastic resin A. The types and sizes of particles contained in the thermoplastic resins A and B may be the same or different.

【0021】次に本発明フイルムの製造方法の代表例を
説明する。まず、熱可塑性樹脂に不活性粒子を含有せし
める方法としては、熱可塑性樹脂がポリエステルの場合
には、ジオール成分であるエチレングリコールのスラリ
ーの形で分散せしめ、このエチレングリコールを所定の
ジカルボン酸成分と重合せしめるのが延伸破れなく、本
発明範囲の厚さと平均粒径の関係、含有量、望ましい範
囲の配向状態のフイルムを得るのに有効である。また、
不活性粒子を含有するポリエステルの溶融粘度、共重合
成分などを調節して、その結晶化パラメータΔTcgを
40〜65℃の範囲にしておく方法は延伸破れなく、本
発明範囲の厚さと平均粒径の関係、含有量、望ましい範
囲の配向状態、表層粒子濃度比、平均突起高さ等のフイ
ルムを得るのに有効である。
Next, a typical example of the method for producing the film of the present invention will be described. First, when the thermoplastic resin is polyester, when the thermoplastic resin is a polyester, it is dispersed in the form of a slurry of ethylene glycol which is a diol component, and this ethylene glycol is mixed with a predetermined dicarboxylic acid component. Polymerization is effective for obtaining a film in which the stretching is not broken and the relationship between the thickness and the average particle diameter in the range of the present invention, the content, and the oriented state of the desired range. Also,
The method of adjusting the melt viscosity of the polyester containing the inert particles, the copolymerization component, and the like to keep the crystallization parameter ΔTcg in the range of 40 to 65 ° C. does not break the stretching, and the thickness and the average particle size in the range of the present invention , The content, the orientation state in a desired range, the surface layer particle concentration ratio, the average protrusion height, etc. are effective for obtaining a film.

【0022】また、不活性粒子のエチレングリコールの
スラリーを140〜200℃、特に180〜200℃の
温度で30分〜5時間、特に1〜3時間熱処理する方法
は延伸破れなく、本発明範囲の厚さと平均粒径の関係、
含有量、さらには、望ましい範囲の配向状態、表層粒子
濃度比のフイルムを得るのに有効である。
The method of heat-treating a slurry of inert particles of ethylene glycol at a temperature of 140 to 200 ° C., particularly 180 to 200 ° C. for 30 minutes to 5 hours, especially 1 to 3 hours does not cause stretching breakage and falls within the scope of the present invention. Relationship between thickness and average particle size,
It is effective for obtaining a film having a content, and further, an oriented state within a desirable range and a surface layer particle concentration ratio.

【0023】また熱可塑性樹脂(ポリエステルも含め
て)に不活性粒子を含有せしめる方法として、粒子をエ
チレングリコール中で140〜200℃、特に180〜
200℃の温度で30分〜5時間、特に1〜3時間熱処
理した後、溶媒を水に置換したスラリーの形で熱可塑性
樹脂と混合し、ベント方式の二軸押出機を用いて混練し
て熱可塑性樹脂に練り込む方法も本発明で目標とするフ
イルムを得るのにきわめて有効である。
As a method of incorporating inert particles into a thermoplastic resin (including polyester), the particles are placed in ethylene glycol at 140 to 200 ° C., particularly 180 to 200 ° C.
After heat treatment at a temperature of 200 ° C. for 30 minutes to 5 hours, particularly 1 to 3 hours, the solvent is replaced with water to mix with the thermoplastic resin, and the mixture is kneaded using a vent type twin-screw extruder. The method of kneading into a thermoplastic resin is also very effective for obtaining the film of the present invention.

【0024】粒子の含有量を調節する方法としては、上
記方法で高濃度マスターを作っておき、それを製膜時に
不活性粒子を実質的に含有しない熱可塑性樹脂で希釈し
て粒子の含有量を調節する方法が有効である。
As a method for controlling the content of particles, a high-concentration master is prepared by the above-mentioned method, and it is diluted with a thermoplastic resin which does not substantially contain inactive particles at the time of film formation, and the content of particles is adjusted. The method of adjusting is effective.

【0025】かくして、所定の不活性粒子を所定量含有
するペレットを必要に応じて乾燥したのち、所定の熱可
塑性樹脂A組成物と熱可塑性樹脂B(A、Bは同種、異
種どちらでもよい)を公知の溶融積層用押出機に供給
し、スリット状のダイからシート状に押出し、キャステ
ィングロール上で冷却固化せしめて未延伸フイルムを作
る。すなわち、2または3台の押出機、2または3層の
マニホールドまたは合流ブロックを用いて、熱可塑性樹
脂A、Bを積層し、口金から2または3層のシートを押
し出し、キャスティングロールで冷却して未延伸フイル
ムを作る。この場合、熱可塑性樹脂Aのポリマ流路に、
スタティックミキサー、ギヤポンプを設置する方法は延
伸破れなく、本発明範囲で目標とするフイルムを得るの
に有効である。また、熱可塑性樹脂A側の押出機の溶融
温度を、熱可塑性樹脂B側より、10〜40℃高くする
ことが、延伸破れなく、かつ、本発明範囲で目標とする
フイルムを得るのに有効である。
Thus, the pellets containing a predetermined amount of the predetermined inert particles are dried, if necessary, and then the predetermined thermoplastic resin composition A and the thermoplastic resin B (A and B may be the same or different). Is fed to a known extruder for melt lamination, extruded in a sheet form from a slit die, and cooled and solidified on a casting roll to prepare an unstretched film. That is, using two or three extruders, a two- or three-layer manifold or a merging block, thermoplastic resins A and B are laminated, two or three-layer sheets are extruded from a die, and cooled by a casting roll. Make an unstretched film. In this case, in the polymer flow path of the thermoplastic resin A,
The method of installing the static mixer and the gear pump is effective for obtaining the target film within the scope of the present invention without stretching breakage. Further, increasing the melting temperature of the extruder on the side of the thermoplastic resin A by 10 to 40 ° C. higher than that on the side of the thermoplastic resin B is effective for obtaining a film targeted for stretching within the scope of the present invention without stretching breakage. Is.

【0026】本発明フイルムは上記未延伸フイルムを二
軸配向せしめたフイルムである。一軸あるいは無配向フ
イルムでは耐スクラッチ性が不良となるので好ましくな
い。この配向の程度は特に限定されないが、、高分子の
分子配向の程度の目安であるヤング率が長手方向、幅方
向ともに350kg/mm2 以上である場合に耐スクラ
ッチ性がより一層良好となるので望ましい。分子配向の
程度の目安であるヤング率の上限は特に限定されない
が、通常、5000kg/mm2 程度が製造上の限界で
ある。
The film of the present invention is a film obtained by biaxially orienting the above-mentioned unstretched film. A uniaxial or non-oriented film is not preferable because scratch resistance becomes poor. The degree of this orientation is not particularly limited, but scratch resistance is further improved when the Young's modulus, which is a measure of the degree of molecular orientation of the polymer, is 350 kg / mm 2 or more in both the longitudinal and width directions. desirable. The upper limit of the Young's modulus, which is a measure of the degree of molecular orientation, is not particularly limited, but usually about 5000 kg / mm 2 is a manufacturing limit.

【0027】また、本発明フイルムは、ヤング率が上記
範囲内であっても、フイルムの厚さ方向の一部分、例え
ば、表層付近のポリマ分子の配向が無配向、あるいは、
一軸配向になっていない、すなわち、厚さ方向の全部分
の分子配向が二軸配向である場合に耐スクラッチ性、電
磁変換特性、摩擦係数がより一層良好となるので特に望
ましい。
Further, in the film of the present invention, even if the Young's modulus is within the above range, the orientation of polymer molecules in a part in the thickness direction of the film, for example, near the surface layer is non-orientation, or
It is particularly desirable that the scratch resistance, the electromagnetic conversion characteristics, and the friction coefficient are further improved when the molecular orientation of the entire portion in the thickness direction is the biaxial orientation, which is not the uniaxial orientation.

【0028】特にアッベ屈折率計、レーザーを用いた屈
折率計、全反射レーザーラマン法などによって測定され
る分子配向が、表面、裏面ともに二軸配向である場合に
耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩擦係数がより一層良
好となるので特に望ましい。
In particular, when the molecular orientation measured by Abbe refractometer, refractometer using laser, total reflection laser Raman method, etc. is biaxial orientation on both the front and back surfaces, scratch resistance, electromagnetic conversion characteristics, This is particularly desirable because the coefficient of friction becomes even better.

【0029】未延伸フイルムを二軸延伸し、二軸配向せ
しめる延伸方法としては、逐次二軸延伸法または同時二
軸延伸法を用いることができる。ただし、最初に長手方
向、次に幅方向の延伸を行なう逐次二軸延伸法を用い、
長手方向の延伸を3段階以上に分けて、総縦延伸倍率を
3.5〜6.5倍で行なう方法は延伸破れなく、本発明
範囲のフイルムを得るのに有効である。ただし、熱可塑
性樹脂が溶融光学異方性樹脂である場合は長手方向延伸
倍率は1〜1.1倍が適切である。長手方向延伸温度は
熱可塑性樹脂の種類によって異なり一概には言えない
が、通常、その1段目を50〜130℃とし、2段目以
降はそれより高くすることが本発明範囲の厚さと平均粒
径の関係、含有量、望ましい範囲の配向状態、平均突起
高さ、表層粒子濃度比のフイルムを得るのに有効であ
る。長手方向延伸速度は5000〜50000%/分の
範囲が好適である。
As the stretching method for biaxially stretching the unstretched film and orienting it biaxially, a sequential biaxial stretching method or a simultaneous biaxial stretching method can be used. However, using a sequential biaxial stretching method in which stretching in the longitudinal direction first and then in the width direction is performed first,
A method in which the stretching in the longitudinal direction is divided into three stages or more and the total longitudinal stretching ratio is 3.5 to 6.5 times is effective for obtaining a film within the scope of the present invention without stretching breakage. However, when the thermoplastic resin is a molten optically anisotropic resin, the longitudinal stretching ratio is appropriately 1 to 1.1 times. The stretching temperature in the longitudinal direction varies depending on the type of thermoplastic resin and cannot be generally stated, but usually, the first step should be 50 to 130 ° C., and the second step and thereafter should be higher than that. It is effective for obtaining a film having a relationship of particle size, content, orientation in a desired range, average protrusion height, and surface particle concentration ratio. The longitudinal stretching speed is preferably in the range of 5,000 to 50,000% / min.

【0030】幅方向の延伸方法としてはステンタを用い
る方法が一般的である。延伸倍率は、3.0〜5.0倍
の範囲が適当である。幅方向の延伸速度は、1000〜
20000%/分、温度は80〜160℃の範囲が好適
である。次にこの延伸フイルムを熱処理する。この場合
の熱処理温度は170〜200℃、特に170〜190
℃、時間は0.5〜60秒の範囲が好適である。
As a stretching method in the width direction, a method using a stenter is generally used. The stretching ratio is appropriately in the range of 3.0 to 5.0 times. The stretching speed in the width direction is 1000 to
It is preferable that the temperature is 20000% / min and the temperature is 80 to 160 ° C. Next, this stretched film is heat-treated. The heat treatment temperature in this case is 170 to 200 ° C., particularly 170 to 190
The temperature and the time are preferably in the range of 0.5 to 60 seconds.

【0031】[物性の測定方法および効果の評価方法]
以下に、本発明に係るフイルムの各物性の測定方法およ
び効果の評価方法について説明するとともに、それら物
性の測定および効果の評価で得られる値に関し、本発明
に係るフイルムの好ましい範囲についても述べる。ただ
し、単に評価対象となる物性や特性のみを掲げ、それら
における本発明フイルムの好ましい範囲について述べる
項目もある。
[Method of measuring physical properties and method of evaluating effects]
The method for measuring each physical property of the film according to the present invention and the method for evaluating the effect will be described below, and the preferable range of the film according to the present invention will be described with respect to the values obtained by the measurement of the physical property and the evaluation of the effect. However, there is also an item in which only the physical properties and characteristics to be evaluated are listed and the preferable range of the film of the present invention in them is described.

【0032】(1)粒子含有量(主として基層部B層) 熱可塑性樹脂(たとえばポリエステル)は溶解し粒子は
溶解させない溶媒を選択し、粒子をポリエステルから遠
心分離し、粒子の全体重量に対する比率(重量%)をも
って粒子含有量とする。場合によっては赤外分光法の併
用も有効である。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は0.005〜1重量%である。
(1) Particle content (mainly base layer B layer) A solvent in which the thermoplastic resin (for example, polyester) is dissolved but the particles are not dissolved is selected, the particles are centrifuged from the polyester, and the ratio to the total weight of the particles ( (% By weight) is defined as the particle content. In some cases, the combined use of infrared spectroscopy is also effective. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.005 to 1% by weight.

【0033】(2)粒子含有量(主として積層部A層) フイルムから積層部A層を削り取り、上記(1)項同様
の方法で測定した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0.1〜10重量%である。
(2) Particle content (mainly layer A layer) The layer A layer was scraped off from the film and measured in the same manner as in the above item (1). The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.1 to 10% by weight.

【0034】(3)スピネル型酸化物の含有量 フイルムがスピネル型酸化物を含有する場合、本発明フ
イルムにおいて好ましい含有量は0.001〜20重量
%である。
(3) Content of Spinel Oxide When the film contains a spinel oxide, the content of the film of the present invention is preferably 0.001 to 20% by weight.

【0035】(4)球状シリカの含有量 積層部A層に不活性粒子として球状シリカを含有する場
合には、その含有量は0.02〜10重量%であること
が好ましい。
(4) Content of Spherical Silica When the layer A layer contains spherical silica as inert particles, its content is preferably 0.02 to 10% by weight.

【0036】(5)球状シリカの濃度比 基層部B層が球状シリカ(B)(濃度CB )を含有し、
積層部A層が球状シリカ(A)(濃度CA )を含有する
場合、球状シリカの濃度比CB /CA は0.00000
5〜10であることが好ましい。
(5) Concentration Ratio of Spherical Silica The base layer B layer contains spherical silica (B) (concentration C B ),
When the laminated layer A layer contains spherical silica (A) (concentration C A ), the concentration ratio C B / C A of the spherical silica is 0.00000.
It is preferably 5 to 10.

【0037】(6)表層粒子濃度比 2次イオンマススペクトル(SIMS)を用いて、フイ
ルム中の粒子に起因する元素のうち最も高濃度の元素と
熱可塑性樹脂の炭素元素の濃度比を粒子濃度とし、厚さ
方向の分析を行う。SIMSによって測定される最表層
粒子濃度(深さ3nmの点)における粒子濃度Aとさら
に深さ方向の分析を続けて得られる最高濃度Bの比、A
/Bを表層粒子濃度比と定義した。測定装置、条件は下
記のとおりである。 1次イオン種 :O2 + 1次イオン加速電圧:12kV 1次イオン電流 :200nA ラスター領域 :400μm□ 分析領域 :ゲート30% 測定真空度 :6.0×10-9Torr E−GUN :0.5kV−3.0A A層、B層表面ともに、表層粒子濃度比としては1以下
が好ましい。A層が2種の不活性粒子を含有する場合に
おいても、1以下が好ましい。
(6) Surface layer particle concentration ratio The secondary ion mass spectrum (SIMS) is used to determine the concentration ratio of the highest concentration element of the particles in the film and the carbon element of the thermoplastic resin. And analyze in the thickness direction. The ratio of the particle concentration A at the outermost surface particle concentration (point at a depth of 3 nm) measured by SIMS and the maximum concentration B obtained by continuing the analysis in the depth direction, A
/ B was defined as the surface particle concentration ratio. The measuring device and conditions are as follows. Primary ion species: O 2 + Primary ion acceleration voltage: 12 kV Primary ion current: 200 nA Raster region: 400 μm □ Analysis region: Gate 30% Measuring vacuum degree: 6.0 × 10 −9 Torr E-GUN: 0. 5 kV-3.0A Both surface layers A and B have a surface layer particle concentration ratio of preferably 1 or less. Even when the layer A contains two types of inert particles, the amount is preferably 1 or less.

【0038】(7)粒子密度 表層A層の粒子密度は、フイルム表面を極少量プラズマ
エッチングした後、走査型電子顕微鏡(5000倍)に
よって表面突起の個数を10ヵ所実測した。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は100〜10
000000個/mm2 である。
(7) Particle Density As for the particle density of the surface layer A, the number of surface protrusions was measured at 10 points by a scanning electron microscope (5000 times) after plasma etching the film surface in an extremely small amount. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 100 to 10
It is 000000 pieces / mm 2 .

【0039】(8)フイラー充填密度 本発明フイルムにおいて、粒子含有量に関してフイラー
充填密度(単位体積当りの粒子個数)として表わす場
合、その値は1000〜100000個/mm2である
ことが好ましい。
(8) Filler Packing Density In the film of the present invention, when expressed as a filler packing density (the number of particles per unit volume) with respect to the particle content, the value is preferably 1000 to 100,000 particles / mm 2 .

【0040】(9)破れ突起数の測定 フイルム表面にアルミニウム蒸着を施こし、走査型電子
顕微鏡にて2000倍の倍率で観察し、突起の先端が消
失し陥没状となった個数を1mm2 当たりに換算する。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1
000個/mm2 以下である。
[0040] (9) The aluminum deposited facilities best to measure film surface of the tear protrusions number, scanning electron was observed at 2000-fold magnification with a microscope, the number of 1 mm 2 per tip of the projection has become lost recessed shape Convert to.
The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1
It is 000 pieces / mm 2 or less.

【0041】(10)粒子の凝集度 粒子を含有したフイルムを断面方向に厚さ1000Åの
超薄切片とし、透過型電子顕微鏡(例えば日本電子製J
EM−1200EXなど)を用いて、10万倍程度の倍
率で粒子を観察すると、これ以上粒子を分割できない最
小の粒子径(一次粒径)を観察することができる。この
一次粒子の観察と同様にして観察された一つの凝集粒子
が、いくつの一次粒子からできているかを数え、100
視野についての平均した値を平均凝集度とした。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1〜10
0個である。
(10) Particle Aggregation A film containing particles is cut into an ultrathin section having a thickness of 1000 Å in the cross-sectional direction, and a transmission electron microscope (for example, JEOL J.
When the particles are observed at a magnification of about 100,000 times using EM-1200EX or the like), the minimum particle size (primary particle size) at which the particles cannot be further divided can be observed. The number of primary particles that make up one agglomerated particle observed in the same manner as the observation of primary particles is counted, and 100
The averaged value for the visual field was defined as the average degree of aggregation. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1-10.
It is 0.

【0042】(11)粒子の平均粒径(その1) 粒子をエチレングリコール中に均一に分散してスラリー
とし、これを測定に便利な濃度に希釈し、遠心沈降式粒
子径測定装置(島津製作所製SA−CP2型)で測定す
る。得られた粒子径分布を対数確率紙にプロットし、積
算通過百分率が50%となった点のメジアン径を、その
粒子の平均粒径とした。この測定法における本発明フイ
ルムの不活性粒子A(A層含有粒子)の好ましい範囲は
0.01〜1.2μmである。
(11) Average particle size of particles (Part 1) The particles are uniformly dispersed in ethylene glycol to form a slurry, which is diluted to a concentration convenient for measurement, and a centrifugal sedimentation type particle size measuring apparatus (Shimadzu Corporation) is used. Manufactured by SA-CP2 type). The obtained particle size distribution was plotted on a logarithmic probability paper, and the median diameter at the point where the cumulative passage percentage was 50% was taken as the average particle size of the particles. The preferable range of the inactive particles A (A layer-containing particles) of the film of the present invention in this measuring method is 0.01 to 1.2 μm.

【0043】(12)粒子の平均粒径(その2) フイルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法
(たとえばヤマト科学製PR−503型)で除去し粒子
を露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが
粒子はダメージを受けない条件を選択する。これをSE
M(走査型電子顕微鏡)で観察し、粒子の画像(粒子に
よってできる光の濃淡)をイメージアナライザー(たと
えばケンブリッジインストルメント製QTM900)に
結び付け、観察箇所を変えて粒子数5000個以上で次
の数値処理を行ない、それによって求めた数平均径Dを
平均粒径とする。 D=ΣDi/N ここで、Diは粒子の円相当径、Nは個数である。なお
不活性粒子B(B層含有粒子)については一次粒子の平
均粒径を測定する。この測定法における本発明フイルム
の不活性粒子Bの好ましい範囲は5〜1000nmであ
る。
(12) Average Particle Size of Particles (Part 2) Polyester is removed from the film by a plasma low temperature ashing method (for example, PR-503 type manufactured by Yamato Scientific Co., Ltd.) to expose the particles. The processing conditions are selected such that polyester is incinerated but particles are not damaged. This is SE
Observe with M (scanning electron microscope), connect the image of the particles (light and shade of light produced by the particles) to an image analyzer (for example, QTM900 made by Cambridge Instruments), change the observation point and the number of particles is 5000 or more. The number average diameter D obtained by the treatment is used as the average particle diameter. D = ΣDi / N Here, Di is the equivalent circle diameter of particles, and N is the number. Regarding the inert particles B (B layer-containing particles), the average particle size of the primary particles is measured. The preferable range of the inactive particles B of the film of the present invention in this measuring method is 5 to 1000 nm.

【0044】(13)粒子の平均粒径(その3) 本発明フイルムのA層含有不活性粒子が球状シリカであ
る場合、その好ましい範囲は0.005〜5μmであ
る。また、A層含有粒子の平均粒径DA とB層含有不活
性粒子の平均粒径DB との比DB /DA の好ましい範囲
は0.005〜40である。
(13) Average Particle Size of Particles (Part 3) When the layer A-containing inert particles of the film of the present invention are spherical silica, the preferred range is 0.005 to 5 μm. Further, preferable range of the ratio D B / D A and the average particle size D B of the average particle diameter D A and B layer containing inert particles in layer A containing the particles is 0.005 to 40.

【0045】(14)粒子の平均一次粒径 粒子の平均一次粒径は次のような空気透過法によっても
測定、算出し得る。空気透過法は、球形均一粒子から成
る粉体に対して、粉体充填層を透過する流体(空気)の
透過性と粉体の比表面積との関係として、一般に下記コ
ーゼニイ・カーマン(Kozeny Carman)の
式(1)を用いて平均粒子径を求める方法である。 SW =(14/ρ)√[(ΔPAt)/(ηLQ)][ε2 /(1−ε)2 ] (1) 但し、ε=1−(W/ρAL) ここに於いて; SW ;粉体の比表面積(cm2 /g) ε;粉体充填度の空隙率 ρ;粉体密度(g/cm3 ) η;空気の粘性係数(g/cm・sec) L;粉体充填層の厚さ(cm) Q;粉体充填透過空気量(c.c) ΔP;充填層両面間圧力量(g/cm2 ) A;充填層の断面積(cm2 ) t;Qc.c.の空気の充填層透過時間(sec) W;粉体重量(g) 前記式(1)に於いて、ρ、η、L、A、及びεは独立
に測定可能であるので、Qとtを与えこれに対するΔP
を測定すればSW が求められる。該SW の値を下記関係
式(2)に入れて平均粒子径dW が算出される。 dW =6/(ρSW ) (2) 測定装置としてはSS・100(島津製作所)等があ
る。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は0.02〜1.4μmである。
(14) Average Primary Particle Diameter of Particles The average primary particle diameter of particles can be measured and calculated by the following air permeation method. The air permeation method is generally described as the relationship between the permeability of a fluid (air) that permeates a powder packed bed and the specific surface area of the powder for powder composed of spherical uniform particles, as described below by Kozeny Carman. It is a method of obtaining the average particle diameter by using the equation (1). S W = (14 / ρ) √ [(ΔPAt) / (ηLQ)] [ε 2 / (1-ε) 2] (1) where, ε = 1- (W / ρAL ) In here; S W Specific surface area of powder (cm 2 / g) ε; porosity of powder packing degree ρ; powder density (g / cm 3 ) η; viscosity coefficient of air (g / cm · sec) L; powder packing Layer thickness (cm) Q; Powder filling permeation air amount (cc) ΔP; Filling layer pressure between both sides (g / cm 2 ) A; Filling layer cross-sectional area (cm 2 ) t; Qc. c. In the above equation (1), ρ, η, L, A, and ε can be measured independently, so that Q and t are Given ΔP
S W can be obtained by measuring The average particle diameter d W is calculated taking the value of the S W by the following equation (2). d W = 6 / (ρS W ) (2) As a measuring device, there is SS100 (Shimadzu Corporation) or the like. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.02 to 1.4 μm.

【0046】(15)平均粒径×粒子添加量 粒子の含有状態を平均粒径とその粒子の添加量の積とし
て評価することも可能である。例えば、平均粒径の測定
を次のように行う。エチレングリコールスラリー中で不
活性無機粒子を十分に分散して得られたスラリー中にお
ける粒度分布を光透過型遠心沈降式粒度分布測定機(S
A−CP3型島津製作所製)を用いて測定し、その積算
50%の値を用いた。このようにして測定した平均粒径
(μm)と、粒子添加量(ppm)との積を求める。本
発明で対象となる粒子添加量は、例えば0.5〜200
000ppm・μmである。
(15) Average particle size × amount of added particles It is also possible to evaluate the content of particles as the product of the average particle size and the added amount of the particles. For example, the average particle size is measured as follows. The particle size distribution in the slurry obtained by sufficiently dispersing the inert inorganic particles in the ethylene glycol slurry was measured by a light transmission type centrifugal sedimentation type particle size distribution measuring device (S
A-CP3 type (manufactured by Shimadzu Corporation) was used, and the integrated value of 50% was used. The product of the average particle diameter (μm) thus measured and the particle addition amount (ppm) is obtained. The amount of particles added in the present invention is, for example, 0.5 to 200.
It is 000 ppm · μm.

【0047】(16)ポリマーの粗大粒子数 ポリマーの少量を2枚のカバーグラス間にはさんで28
0℃で溶融プレスし、急冷したのち位相差顕微鏡を用い
て観察し、画像解析処理装置ルーゼックス500(日本
レギュレーター製)で粒子像内の最大長が5μm以上の
粒子数をカウントする。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は200個/10mm3 以下であ
る。
(16) Coarse Particle Number of Polymer 28 A small amount of polymer is sandwiched between two cover glasses to form 28
It is melt-pressed at 0 ° C., rapidly cooled, and then observed using a phase contrast microscope, and the number of particles having a maximum length in a particle image of 5 μm or more is counted by an image analysis processor Luzex 500 (manufactured by Nippon Regulator). The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 200 pieces / 10 mm 3 or less.

【0048】(17)粒径のばらつき度 フイルム中の粒子を走査型電子顕微鏡(日立S−510
型)で観察、写真撮影したものを拡大コピーし、さらに
トレースを行ってランダム200個の粒子を黒く塗りつ
ぶした。この像を画像解析装置(ニレコ株式会社製ルー
ゼックス500型)を用いて、水平方向のフエレ径を測
定し、その平均値を下式で使用する平均粒子径とした。
また、粒径のばらつき度は下式により算出した。 ばらつき度=(粒子径の標準偏差/平均粒子径)×10
0(%) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は8
0%以下である。
(17) Degree of variation in particle size The particles in the film were scanned with a scanning electron microscope (Hitachi S-510).
It was observed and photographed with a mold), enlarged and copied, and further traced to randomly paint 200 particles in black. This image was measured for a horizontal Fere diameter using an image analyzer (Luzex 500 manufactured by Nireco Co., Ltd.), and the average value was used as the average particle diameter used in the following formula.
The degree of particle size variation was calculated by the following formula. Variability = (standard deviation of particle diameter / average particle diameter) × 10
0 (%) The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 8
It is 0% or less.

【0049】(18)粒径比(その1) 走査型電子顕微鏡にてポリエステルに配合する粒子を観
察し、粒子毎に最大径と最小径を求めその比を算出し
た。少なくとも100個の粒子についてこの値を求めそ
の相加平均を粒径比とした。含有粒子が架橋高分子粒子
である場合、この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は1〜5.0である。
(18) Particle Size Ratio (Part 1) Particles to be blended with polyester were observed with a scanning electron microscope, the maximum diameter and the minimum diameter were determined for each particle, and the ratio was calculated. This value was obtained for at least 100 particles, and the arithmetic mean was used as the particle size ratio. When the contained particles are crosslinked polymer particles, the preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1 to 5.0.

【0050】(19)粒径比(その2) 球状シリカ粒子の長径、短径、面積円相当径は粒子表面
に金属を蒸着したのち電子顕微鏡にて例えば1万〜3万
倍に拡大した像から求め、平均粒径、粒径比は次式で求
める。 平均粒径=測定粒子の面積円相当径の総和/測定粒子の
数 粒径比=シリカ粒子の平均長径/該粒子の平均短径 含有粒子が球状シリカである場合、粒径比に関してこの
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1〜
2.0である。
(19) Particle Size Ratio (Part 2) The major axis, minor axis, and area equivalent circle diameter of the spherical silica particles are images obtained by depositing a metal on the surface of the particles and then magnifying them by, for example, 10,000 to 30,000 times with an electron microscope. The average particle size and the particle size ratio are calculated by the following formula. Average particle size = sum of area circle equivalent diameters of measured particles / number of measured particles Particle size ratio = average major axis of silica particles / average minor axis of the particles If the contained particles are spherical silica, this measuring method is used for the particle size ratio. The preferred range of the film of the present invention in
It is 2.0.

【0051】(20)粒子の比表面積比 比表面積比Bは下式で定義する。 B=BET法で求めた比表面積値/等価球換算の比表面
積値 ここでBET法で求めた比表面積値とは、液体窒素の温
度における窒素ガスの吸着量から求めた値である。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1〜
1.5である。
(20) Specific surface area ratio of particles The specific surface area ratio B is defined by the following equation. B = specific surface area value obtained by BET method / specific surface area value converted into equivalent sphere Here, the specific surface area value obtained by BET method is a value obtained from the adsorption amount of nitrogen gas at the temperature of liquid nitrogen. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1 to
It is 1.5.

【0052】(21)粒度分布幅指数 粒度分布幅指数(SI)は、次式で表される。 SI=D75/D25×D5 /D1 式中D75、D25、D5 、D1 は島津製作所製遠心沈降式
粒度分布測定装置によって得た等価球径分布における積
算分布が各々75%、25%、5%、1%の点における
粒径(μm)を示す。粒度分布幅指数は粒径の分布の広
がりを示すもので、1.0に近づくほど単分散に近くな
る。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は0.5〜1である。
(21) Particle size distribution width index The particle size distribution width index (SI) is expressed by the following equation. SI = D 75 / D 25 × D 5 / D 1 In the formula, D 75 , D 25 , D 5 and D 1 are each 75 in the equivalent spherical diameter distribution obtained by a centrifugal sedimentation particle size distribution analyzer manufactured by Shimadzu Corporation. The particle size (μm) at the points of%, 25%, 5% and 1% is shown. The particle size distribution width index shows the spread of the particle size distribution, and becomes closer to monodisperse as it approaches 1.0. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 1.

【0053】(22)粒径の相対標準偏差 次式で表される。 相対標準偏差=√[Σ((D1−DAV2 /n)/
AV] ここで、D1:個々の粒子の面積円相当径(μm) DAV:面積円相当径の平均値 Σ:i=1〜n DAV=(ΣD1)/n(μm) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は5
以下である。
(22) Relative standard deviation of particle size It is expressed by the following equation. Relative standard deviation = √ [Σ ((D1-D AV ) 2 / n) /
D AV ] where D1: area circle equivalent diameter (μm) of each particle D AV : average value of area circle equivalent diameter Σ: i = 1 to n D AV = (ΣD1) / n (μm) This measurement method The preferred range of the film of the present invention is 5
It is the following.

【0054】(23)粒子の体積係状係数(f) 下記式で表される。 f=V/D3 V:粒子1個当たりの平均体積(μm3 ) D:粒子の平均最大粒径(μm) π/6に近づく程、真球に近づく。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は0.3〜0.52であ
る。
(23) Particle volume dependence coefficient (f) is expressed by the following equation. f = V / D 3 V: average volume per particle (μm 3 ) D: average maximum particle size (μm) of particles The closer to π / 6, the closer to a true sphere. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.3 to 0.52.

【0055】(24)粒子の真球度 フイルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法
(例えばヤマト科学製PR−503型)で除去し粒子を
露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが、
有機高分子粒子はダメージを受けない条件を選択する。
これをSEM(走査型電子顕微鏡)で観察し粒子の画像
(粒子によってできる光の濃淡)をイメージアナライザ
ー(例えばケンブリッジインストルメント製QTM90
0)に結び付け、観察箇所を変えて粒子数5000個以
上で次の数値処理を行ない求めた長径短径の比である。 真球度=Σ(D1 /D2 )/N D1 、D2 は、それぞれ個々の粒子の長径(最大径)、
短径(最小径)、Nは総個数である。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は1〜3である。
(24) Sphericity of particles Polyester is removed from the film by a plasma low temperature ashing method (for example, PR-503 type manufactured by Yamato Scientific Co., Ltd.) to expose the particles. The processing condition is that polyester is ashed,
The organic polymer particles are selected under the condition that they will not be damaged.
This is observed with an SEM (scanning electron microscope), and an image of the particles (light and shade of light generated by the particles) is analyzed by an image analyzer (for example, QTM90 manufactured by Cambridge Instruments).
It is the ratio of the major axis to the minor axis obtained by performing the following numerical processing with the number of particles of 5000 or more by tying to (0) and changing observation points. Sphericity = Σ (D 1 / D 2 ) / N D 1 , D 2 is the major axis (maximum diameter) of each individual particle,
The minor axis (minimum diameter) and N are the total number. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1 to 3.

【0056】(25)粒子の細孔容積 細孔を有する粒子の細孔容積をいう。なお、粒子は内部
が中空になったものでもよい。例えば、細孔を有するシ
リカ粒子が挙げられる。細孔容積に関して、本発明フイ
ルムにおける好ましい範囲は0.7〜1.3cc/gで
ある。
(25) Pore volume of particles This is the volume of pores having particles. The particles may be hollow inside. For example, silica particles having pores can be mentioned. With respect to the pore volume, the preferable range in the film of the present invention is 0.7 to 1.3 cc / g.

【0057】(26)粒子の外接円に対する面積率 不活性粒子を走査型電子顕微鏡(日立S−510型)で
観察、写真撮影したものを拡大コピーし、更にトレース
を行ってランダムに200個の粒子を黒く塗りつぶし
た。トレース像より任意に20の粒子を選び、それぞれ
の粒子について投影断面積を画像解析装置(ニレコ
(株)製、ルーゼックス500型)で測定した。また、
それらの粒子に外接する円の面積を算出することによ
り、下式を用いて面積率を求めた。 面積率=(粒子の投影断面積/粒子に外接する円の面
積)×100 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.5〜1%である。
(26) Area ratio of particle to circumscribed circle Inactive particles were observed with a scanning electron microscope (Hitachi S-510 type), photographed and enlarged, and further traced to obtain 200 random particles. The particles were painted black. Twenty particles were arbitrarily selected from the trace image, and the projected cross-sectional area of each particle was measured with an image analyzer (manufactured by Nireco Corporation, Luzex 500 type). Also,
The area ratio was calculated using the following formula by calculating the area of the circle circumscribing these particles. Area ratio = (projected cross-sectional area of grain / area of circle circumscribing grain) × 100 The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 1%.

【0058】(27)粒子の硬さ モース硬度で表わす。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は3〜9である。
(27) Hardness of particles It is expressed by Mohs hardness. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 3-9.

【0059】(28)表面突起の平均高さ(その1) 2検出器方式の走査型電子顕微鏡(ESM−3200、
エリオニクス(株)製)と断面測定装置(PMS−1、
エリオニクス(株)製)においてフイルム表面の平坦面
の高さを0として走査した時の突起の高さ測定値を画像
処理装置(IBAS2000、カールツアイス(株)
製)に送り、画像処理装置上にフイルム表面突起画像を
再構築する。次に、この表面突起画像で突起部分を2値
化して得られた個々の突起部分の中で最も高い値をその
突起の高さとし、これを個々の突起について求める。こ
の測定を場所をかえて500回繰り返し、突起個数を求
め、測定された全突起についてその高さの平均値を平均
高さとした。また個々の突起の高さデータをもとに、高
さ分布の標準偏差を求めた。また走査型電子顕微鏡の倍
率は、1000〜80000倍の間の値を選択する。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.
005〜1μmである。
(28) Average Height of Surface Protrusions (Part 1) 2 Detector Scanning Electron Microscope (ESM-3200,
Elionix Co., Ltd.) and cross-section measurement device (PMS-1,
The image processing apparatus (IBAS2000, Carl Zeiss Co., Ltd.) was used to measure the height of protrusions when scanning was performed with the height of the flat surface of the film being 0 in Elionix Co., Ltd.
Manufactured) to reconstruct the film surface projection image on the image processing device. Next, the highest value among the individual projections obtained by binarizing the projections in this surface projection image is taken as the height of the projection, and this is calculated for each projection. This measurement was repeated 500 times at different places to determine the number of protrusions, and the average value of the heights of all the measured protrusions was taken as the average height. In addition, the standard deviation of the height distribution was calculated based on the height data of each protrusion. The magnification of the scanning electron microscope is selected to be a value between 1000 and 80,000 times. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.
005 to 1 μm.

【0060】(29)表面突起の平均高さ(その2) タリーステップ表面粗さ計(テイラーホブソン社製)に
より表面粗さ曲線を求め、この曲線をピークとして認識
されるもの(ピークカウント値を超える突起)につい
て、平均線からの高さを測定し、0.010μm以上の
ものの突起の個数を、以下の条件で測定した。 測定長:1mm カットオフ:0.33Hz (ハイパスフイルター) ピークカウント値:0.005μm この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.01〜2.5μmである。また、最大突起高さ/平
均突起高さの比を求めた。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は50以下である。
(29) Average Height of Surface Protrusions (Part 2) A surface roughness curve is obtained with a tally step surface roughness meter (manufactured by Taylor Hobson Co.), and a curve recognized as a peak (peak count value is The height from the average line was measured, and the number of projections of 0.010 μm or more was measured under the following conditions. Measurement length: 1 mm Cutoff: 0.33 Hz (high-pass filter) Peak count value: 0.005 μm The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.01 to 2.5 μm. Further, the ratio of maximum projection height / average projection height was determined. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 50 or less.

【0061】(30)0.1μm以上の高さの突起数
(H0.1 )、及び0.01〜0.05μmの高さの突起
数(H0.01-0.05 ) フイルム表面を(株)小坂研究所製光学式非接触3次元
表面粗さ計(ET−30HX)を用い、フイルム長手方
向に対して45°方向にカットオフ値0.08mmで、
長さ0.25mmにわたって測定し、0.5μmピッチ
で500点に分割し、各点の高さを3次元粗さ解析装置
(SPA−11)に取り込んだ。これと同様の操作を
0.5μm間隔で150回、つまり0.075mmにわ
たって行ない、解析装置にデータを取り込んだ。次に、
解析装置を用いて10点平均粗さを求め、μm単位で表
した。次に解析装置を用いて突起密度の高さ分布を求め
た。このとき、±0.00625μmのヒステリシス幅
を越えて突起と認識されたもののみをカウントした。突
起数が最も多くカウントされた面を基準面とし、基準面
から0.1μm高いレベルにおいて認識される突起数
を、1mm2 当りの個数に換算して、0.1μm以上の
高さの突起数(H0.1 )とした。また0.01μm以上
の高さの突起数から0.05μm以上の高さの突起数を
差し引いて、0.01〜0.05μmの高さの突起数
(H0.01-0.05 )とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は、H0.1 は5000個/mm2
以下、H0.01-0.05 は2000個/mm2 以上である。
(30) The number of protrusions having a height of 0.1 μm or more (H 0.1 ) and the number of protrusions having a height of 0.01 to 0.05 μm (H 0.01-0.05 ). Using an optical non-contact three-dimensional surface roughness meter (ET-30HX), with a cut-off value of 0.08 mm in the 45 ° direction with respect to the longitudinal direction of the film,
The length was measured over 0.25 mm, the sample was divided into 500 points at a pitch of 0.5 μm, and the height of each point was taken into a three-dimensional roughness analyzer (SPA-11). The same operation as this was performed 150 times at intervals of 0.5 μm, that is, over 0.075 mm, and the data was captured in the analyzer. next,
The 10-point average roughness was obtained using an analyzer and expressed in μm. Next, the height distribution of the protrusion density was obtained using an analyzer. At this time, only those recognized as protrusions exceeding the hysteresis width of ± 0.00625 μm were counted. The surface with the largest number of projections is used as the reference surface, and the number of projections recognized at a level 0.1 μm higher than the reference surface is converted into the number per 1 mm 2 to find the number of projections with a height of 0.1 μm or more. (H 0.1 ). Further, the number of protrusions having a height of 0.01 to 0.05 μm was subtracted from the number of protrusions having a height of 0.01 μm or more to obtain the number of protrusions having a height of 0.01 to 0.05 μm (H 0.01-0.05 ). The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is H 0.1 is 5000 pieces / mm 2.
Hereinafter, H 0.01-0.05 is 2000 or more / mm 2 .

【0062】(31)干渉縞による突起高さ評価 多重干渉法(フイルム表面にアルミニウム蒸着を施した
後、多重干渉法により測定波長0.54μmで干渉縞を
出し、干渉縞を写真撮影してn次の干渉縞の個数を数え
1mm2 に換算する。なお、測定器は日本光学(株)製
サーフェイスフィッシュマイクロスコープを用い、ミラ
ー反射率は65%、顕微鏡倍率は200倍とした。)で
測定したn次の干渉縞の個数Nn(個/mm2 )の比N
1 /N2として評価する。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は0.5〜15である。
(31) Evaluation of protrusion height by interference fringes Multiple interference method (after aluminum deposition on the film surface, interference fringes were taken out at a measurement wavelength of 0.54 μm by the multiple interference method, and the interference fringes were photographed and n The number of the following interference fringes is counted and converted to 1 mm 2. The measuring device is a surface optical microscope manufactured by Nihon Kogaku Co., Ltd., and the mirror reflectance is 65% and the microscope magnification is 200 times. Ratio N of the number Nn (number / mm 2 ) of n-th order interference fringes
It is evaluated as 1 / N 2 . The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 15.

【0063】(32)突起の最大高さの測定 (株)小坂研究所製の表面粗さ測定機(SE−3F)に
よって得られた断面曲線から、基準長さ(2.5mm)
だけ抜き取った部分(以下、抜き取り部分という)を平
均線に平行な2直線で挟み、この2直線の間隔を測定し
てその値をマイクロメートル(μm)単位で表したもの
を抜き取り部分の最大高さとした。突起の最大高さは、
試料フイルム表面から10本の断面曲線を求め、これら
の断面曲線から求めた抜き取り部分の最大高さの平均値
で表した。なお、測定に使用した触針の半径は2.0μ
m、荷重は30mg、カットオフ値は0.08mmとし
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は2μm以下である。
(32) Measurement of maximum height of protrusion Based on a sectional curve obtained by a surface roughness measuring machine (SE-3F) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., a reference length (2.5 mm)
The maximum height of the extracted portion is defined by sandwiching the extracted portion (hereinafter referred to as the extracted portion) with two straight lines parallel to the average line, measuring the distance between these two straight lines, and expressing the value in units of micrometers (μm). Satoshi The maximum height of the protrusion is
Ten cross-section curves were obtained from the surface of the sample film, and the average value of the maximum heights of the extracted portions obtained from these cross-section curves was expressed. The radius of the stylus used for measurement is 2.0μ.
m, the load was 30 mg, and the cutoff value was 0.08 mm. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 2 μm or less.

【0064】(33)突起高さの分布曲線 (株)小坂研究所製三次元表面粗さ計(SE−JAK)
を用い、触針の先端半径5μm、針圧30mg、測定長
0.5mm、サンプリングピッチ1.0μm、カットオ
フ0.25mm、縦倍率5万倍、横倍率200倍、走査
本数500本の条件で突起高さと突起数を測定した。本
発明でいう突起高さ(X(μm))は突起個数が最大に
なる点の高さを0レベルとし、このレベルからの高さを
もって突起高さとし、各突起高さにおける突起数(Y
(個/mm2 ))の関係を図式化し、分布曲線として表
した。この測定法における本発明フイルムの好ましいX
とYの範囲は次式を満たす領域である。 2−20X<log10Y<4−4X
(33) Distribution curve of protrusion height Three-dimensional surface roughness meter (SE-JAK) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.
Under the condition that the tip radius of the stylus is 5 μm, the needle pressure is 30 mg, the measurement length is 0.5 mm, the sampling pitch is 1.0 μm, the cutoff is 0.25 mm, the vertical magnification is 50,000 times, the horizontal magnification is 200 times, and the number of scanning lines is 500. The protrusion height and the number of protrusions were measured. The height of the protrusion (X (μm)) in the present invention is defined as the height of the point at which the number of protrusions is maximum is 0 level, and the height from this level is defined as the protrusion height, and the number of protrusions at each protrusion height (Y
The relationship ((pieces / mm 2 )) was graphically represented and expressed as a distribution curve. Preferred X of the film of the present invention in this measuring method
The ranges of and Y are the regions that satisfy the following equation. 2-20X <log 10 Y <4-4X

【0065】(34)突起分布測定法 (株)小坂研究所製三次元粗さ計(SE−3CK)を用
いて、針径2μmR、針圧30mg、測定長1mm、サ
ンプリングピッチ2μm、カットオフ0.25mm、縦
方向拡大倍率2万倍、横方向拡大倍率200倍、走査本
数150本の条件にてフイルム表面の突起のプロファイ
ルを三次元的(立体的)にイメージさせる。そのプロフ
ァイルをフイルムの厚さと直角方向の平面でカットした
場合に、各突起のプロファイルの断面積の合計が、フイ
ルムの測定領域の面積の70%となる平面を基準レベル
(0レベル)とし、その基準レベルの平面と平行に突起
の高さ方向に距離xだけ離れた平面でカットしたときに
カットされる突起の数をyとする。xを順次増加又は減
少させ、そのときのyの数を読み取り、グラフにプロッ
トすることにより、突起分布曲線を描くことができる。
上記距離xを「突起高さ(x)」と、そして上記yを
「突起数(y)」と定義する。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は突起高さが0.001〜
0.8μmである。
(34) Protrusion distribution measuring method Using a three-dimensional roughness meter (SE-3CK) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., needle diameter 2 μmR, needle pressure 30 mg, measurement length 1 mm, sampling pitch 2 μm, cutoff 0 The profile of the projections on the film surface is three-dimensionally (three-dimensionally) imaged under the conditions of 0.25 mm, magnification in vertical direction of 20,000 times, magnification in lateral direction of 200 times, and number of scanning lines of 150. When the profile is cut in a plane perpendicular to the thickness of the film, the plane where the total cross-sectional area of the profile of each protrusion is 70% of the area of the film measurement region is defined as a reference level (0 level), and Let y be the number of projections cut when cut on a plane parallel to the plane of the reference level and separated by a distance x in the height direction of the projections. A projection distribution curve can be drawn by sequentially increasing or decreasing x, reading the number of y at that time, and plotting it on a graph.
The distance x is defined as “protrusion height (x)”, and the above y is defined as “protrusion number (y)”. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is such that the protrusion height is 0.001 to 0.001.
It is 0.8 μm.

【0066】(35)表面突起の高さ分布の標準偏差 2検出器方式の走査型電子顕微鏡〔ESM−3200、
エリオニクス(株)製〕と断面測定装置〔PMS−1、
エリオニクス(株)製〕においてフイルム表面の平坦面
の高さを0として走査したときの突起の高さ測定値を画
像処理装置〔IBAS2000、カールツァイス(株)
製〕に送り、画像処理装置上にフイルム表面突起画像を
再構築する。次に、この表面突起画像で突起部分を2値
化して得られた個々の突起の面積から円相当径を求めこ
れをその突起の平均径とする。また、この2値化された
個々の突起部分の中で最も高い値をその突起の高さと
し、これを個々の突起について求める。この測定を場所
をかえて500回繰り返し、測定された突起についてそ
の高さ分布を正規分布(高さ0の点を中心とする正規分
布)とみなして最小2乗法で近似して高さ分布の標準偏
差を求めた。また、走査型電子顕微鏡の倍率は、100
0〜8000倍の間を選択する。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は1以下である。
(35) Standard deviation of height distribution of surface protrusions Two-detector type scanning electron microscope [ESM-3200,
Elionix Co., Ltd.] and cross-section measuring device [PMS-1,
Elionix Co., Ltd.], the height of the projection when the flat surface of the film surface is set to 0, and the measured height of the protrusion is measured by an image processing apparatus [IBAS2000, Carl Zeiss Co., Ltd.].
Manufacturing process, and reconstruct the film surface projection image on the image processing apparatus. Next, the equivalent circle diameter is calculated from the area of each protrusion obtained by binarizing the protrusion portion in this surface protrusion image, and this is made the average diameter of the protrusion. In addition, the highest value among the binarized individual projection portions is set as the height of the projection, and this is obtained for each projection. This measurement is repeated 500 times at different places, and the height distribution of the measured protrusion is regarded as a normal distribution (normal distribution centered on a point with height 0) and approximated by the least square method to calculate the height distribution. The standard deviation was calculated. The scanning electron microscope has a magnification of 100.
Select between 0 and 8000 times. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1 or less.

【0067】(36)微細突起の高さ分布 シャドウィング法により突起高さを測定し、突起全数に
対し、高い方から0.01%に相当する突起高さをH
0.01、0.1%に相当する突起高さをH0.1 、1%に相
当する突起高さをH1 とする。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲はH0.01は500〜1000
nm、H0.1 は400〜700nm、H1 は350〜5
00nmである。
(36) Height distribution of fine protrusions The protrusion height was measured by the shadowing method, and the protrusion height corresponding to 0.01% from the highest was H
The protrusion height corresponding to 0.01 and 0.1% is H 0.1 , and the protrusion height corresponding to 1% is H 1 . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is H 0.01 of 500 to 1000.
nm, H 0.1 is 400 to 700 nm, H 1 is 350 to 5
00 nm.

【0068】(37)突起の個数 タリーステップ表面粗さ計(テイラーホブソン社製)に
より表面粗さ曲線を求め、この曲線をピークとして認識
されるもの(ピークカウント値を超える突起)につい
て、平均線からの高さを測定し、0.010μm以上の
ものの突起の個数を、以下の条件で測定した。 測定長:1mm カットオフ:0.33Hz (ハイパスフィルター) ピークカウント値:0.005μm 0.30μm以上の高さの突起は頻度が小さいので、上
記測定を400回繰り返して個数を求めた。 測定長:400mm この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は高
さ0.30μm以上の突起について1000個以下であ
る。
(37) Number of projections A surface roughness curve is obtained by using a tally step surface roughness meter (Taylor Hobson Co.), and an average line is obtained for those recognized as peaks (protrusions exceeding the peak count value). Was measured, and the number of protrusions of 0.010 μm or more was measured under the following conditions. Measurement length: 1 mm Cutoff: 0.33 Hz (high-pass filter) Peak count value: 0.005 μm Since the frequency of protrusions with a height of 0.30 μm or more is low, the above measurement was repeated 400 times to determine the number. Measuring length: 400 mm The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1000 or less for protrusions having a height of 0.30 μm or more.

【0069】(38)突起数(その1) 光学式表面粗さ計により測定し、高さ100nm以上の
突起数を求めた。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は50万個/mm2 以下である。
(38) Number of Protrusions (Part 1) The number of protrusions having a height of 100 nm or more was determined by measuring with an optical surface roughness meter. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 500,000 pieces / mm 2 or less.

【0070】(39)突起数(その2) 光干渉式表面粗さ計により測定し、高さ0.5〜0.8
μmの突起数を求めた。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は50000個/mm2 以下であ
る。
(39) Number of protrusions (Part 2) Measured by an optical interference type surface roughness meter, and the height was 0.5 to 0.8.
The number of protrusions of μm was determined. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 50,000 pieces / mm 2 or less.

【0071】(40)突起数(その3) フイルム表面にアルミニウム蒸着を施した後、日本光学
(株)製サーフェイスフィニッシュマイクロスコープを
用い多重干渉法により測定波長0.54μmで干渉縞を
出し、干渉縞の1次以上の数を10cm2 の面積分カウ
ントし、100cm2 に換算した。なお、測定の際のミ
ラー反射率は65%とした。高さ0.27μm以上の突
起数をカウントした。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は0〜10000個/mm2 である。
(40) Number of protrusions (3) After aluminum was vapor-deposited on the surface of the film, interference fringes were generated at a measurement wavelength of 0.54 μm by a multiple interference method using a surface finish microscope manufactured by Nihon Kogaku Co., Ltd. the number of more than 1 order fringes surface integral count of 10 cm 2, was converted into 100 cm 2. The mirror reflectance at the time of measurement was set to 65%. The number of protrusions having a height of 0.27 μm or more was counted. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 10000 pieces / mm 2 .

【0072】(41)微細突起数 シャドウィング法により測定した。シャドウィング法と
は、Au−Pd合金等2次電子発生効率の高い重金属を
蒸発源とし、被測定粗面となる試料に斜めから薄く蒸着
し、真上から低加速FE−SEM等高分解能電子顕微鏡
で影の長さを観察する方法である。蒸着入射角θを85
°とし、Au−Pd膜厚を10Åとすれば、個々の突起
高さを略8%の精度で測定できる。この様にして高さ分
布をとるときには、できるだけ大面積で測定する方が好
ましい。なお、FE−SEMとしては日立製S−800
を用いた。この測定法における本発明フイルムの好まし
い範囲は1×102 〜1×106個/mm2 である。
(41) Number of fine protrusions Measured by the shadowing method. The shadowing method uses a heavy metal having a high secondary electron generation efficiency such as an Au-Pd alloy as an evaporation source, thinly vapor-deposits obliquely on a sample to be a rough surface to be measured, and high-resolution electron such as low acceleration FE-SEM from directly above. This is a method of observing the length of the shadow with a microscope. Vapor deposition incident angle θ is 85
And the Au-Pd film thickness is 10Å, the height of each protrusion can be measured with an accuracy of about 8%. When taking the height distribution in this manner, it is preferable to measure the area as large as possible. As the FE-SEM, Hitachi S-800
Was used. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 1 × 10 2 to 1 × 10 6 pieces / mm 2 .

【0073】(42)微細突起密度 本発明でいう微細突起密度は、触針式表面粗さ計によっ
て測定できる。この時、触針の半径を2μm、針圧を3
0mg、カットオフ値を0.08mm、縦方向拡大倍率
を10万倍、横方向拡大倍率を500倍としフイルム表
面を1mm測定する。得られた粗さ曲線のチャート上の
山頂のレベルとその左側の谷底のレベルとの差が1.0
μm以上のものを微細突起と定義する。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は1μm以上のピー
クをカウントした場合、0〜500個/mmである。
(42) Fine protrusion density The fine protrusion density in the present invention can be measured by a stylus type surface roughness meter. At this time, the radius of the stylus is 2 μm and the stylus pressure is 3
The film surface is measured by 1 mm with 0 mg, a cutoff value of 0.08 mm, a vertical magnification of 100,000 and a horizontal magnification of 500. The difference between the peak level on the chart of the obtained roughness curve and the valley level on the left side is 1.0.
Those having a size of μm or more are defined as fine protrusions. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 500 pieces / mm when peaks of 1 μm or more are counted.

【0074】(43)粗大突起数(その1) フイルム表面にアルミニウムを薄く蒸着した後、二光束
干渉顕微鏡を用いて四重環以上の粗大突起数(測定面積
1mm2 当りの個数)をカウントした。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は10個/mm2
下である。
(43) Number of Coarse Protrusions (Part 1) After thinly depositing aluminum on the film surface, the number of coarse protrusions of four or more rings (number per 1 mm 2 of measuring area) was counted using a two- beam interference microscope. . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 10 pieces / mm 2 or less.

【0075】(44)粗大突起数(その2) フイルム表面にアルミニウムを蒸着し、二光束干渉顕微
鏡を用いて観察し、測定波長0.54μmでn次の干渉
縞を示す個数を測定した。測定フイルム面積は25cm
2 とし、3次以上の突起数をH3 、4次以上の突起数を
4 として示した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲はH3 が100個/mm2以下である。
(44) Number of Coarse Protrusions (Part 2) Aluminum was vapor-deposited on the film surface and observed using a two-beam interference microscope, and the number showing the nth-order interference fringes was measured at a measurement wavelength of 0.54 μm. Measuring film area is 25 cm
The number of protrusions of the third or higher order is H 3 , and the number of protrusions of the fourth or higher order is H 4 . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is H 3 of 100 / mm 2 or less.

【0076】(45)粗大突起数(0.54μm以上の
高さの突起数)(その3) フイルム表面にアルミニウムを500Åの厚みで蒸着し
た後、ナッハ社製二光束干渉顕微鏡を用いて拡大倍率8
00倍で20mm2 の面積をくまなく走査する。2.0
次以上の干渉縞を有する突起の数を求め、1cm2 当り
の個数に換算して、これを粗大突起数とする。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は0〜100
000個/cm2 である。
(45) Number of coarse protrusions (number of protrusions having a height of 0.54 μm or more) (3) Aluminum was vapor-deposited on the film surface to a thickness of 500 Å, and then magnified with a two-beam interference microscope manufactured by Nach. 8
The whole area of 20 mm 2 is scanned at 00 times. 2.0
The number of protrusions having interference fringes equal to or more than the following is calculated and converted into the number per 1 cm 2 , and this is taken as the coarse protrusion number. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 100.
It is 000 pieces / cm 2 .

【0077】(46)粗大突起数(その4) 試料10mgを正確に秤量し、18×18mmのカバー
グラスにはさみ、280〜290℃で熱プレスし、直径
約10mmのフイルムを作成し、このフイルムを位相差
顕微鏡(100倍)で観察し、最大長さ10μm以上の
粒子を測定し粗大突起数とした。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は0〜10個である。
(46) Number of Coarse Protrusions (Part 4) 10 mg of a sample was accurately weighed, sandwiched between a cover glass of 18 × 18 mm and heat-pressed at 280 to 290 ° C. to prepare a film having a diameter of about 10 mm. Was observed with a phase-contrast microscope (100 times), and particles having a maximum length of 10 μm or more were measured and defined as the number of coarse protrusions. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 10.

【0078】(47)フイルム中の粗大粒子数 フイルムの少量を2枚のカバーグラス間にはさんで28
0℃で溶融プレスし、急冷したのち位相差顕微鏡を用い
て観察し、画像解析処理装置ルーゼックス500(日本
レギュレーター製)を用いて処理し、粒子像内の最大長
が5μm以上の粒子数(測定面積4.8mm2 当りの個
数)をカウントした。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は20個/mm2 以下である。
(47) Number of Coarse Particles in Film 28 A small amount of film is sandwiched between two cover glasses to form 28 particles.
After melt-pressing at 0 ° C, quenching, observing using a phase contrast microscope, and processing using image analysis processor Luzex 500 (manufactured by Nippon Regulator), the maximum number of particles in a particle image was 5 μm or more (measurement The area per 4.8 mm 2 was counted. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 20 pieces / mm 2 or less.

【0079】(48)へこみの測定 フイルムにアルミニウムを蒸着し、これを微分干渉顕微
鏡で観察し、写真倍率500倍の写真を複数枚得る。次
いでこの写真上に目視観察される長径5μm以上のへこ
みを数え、1cm2 当りの個数に換算する。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は0〜100個
/cm2 である。
(48) Measurement of dents Aluminum is vapor-deposited on the film and observed with a differential interference microscope to obtain a plurality of photographs with a magnification of 500 times. Then, the number of dents having a major axis of 5 μm or more visually observed on this photograph is counted and converted into the number per 1 cm 2 . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 100 pieces / cm 2 .

【0080】(49)フイルム表面の中心線平均粗さ
(Ra)、10点平均表面粗さ(RZD) JIS−80601で定義される値であり、本発明では
(株)小坂研究所の触針式表面粗さ計(SURFCOR
DER SE−30C)を用いて測定する。測定条件等
は次のとおりである。 (a)触針先端半径:2μm (b)測定圧力 :30mg (c)カットオフ :0.25mm (d)測定長 :1.0mm (e)データーのまとめ方:同一試料について5回繰り
返し測定し、最も大きい値を1つ除き、残り4つのデー
ターの平均値で表示する。 フイルム表面の10点平均表面粗さ(RZD)としては、
上記測定において測定長1mmの粗さプロファイルの1
/5に等分したそれぞれの区間の最高の山頂と最低の谷
との差RZ1、RZ2……RZ5の平均値でRZDを表示する。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はR
ZDが5〜500nmである。
(49) Center line average roughness (Ra) of film surface, 10-point average surface roughness (R ZD ) It is a value defined by JIS-80601. In the present invention, it is touched by Kosaka Laboratory Ltd. Needle type surface roughness meter (SURFCOR
DER SE-30C). The measurement conditions are as follows. (A) Stylus tip radius: 2 μm (b) Measurement pressure: 30 mg (c) Cutoff: 0.25 mm (d) Measurement length: 1.0 mm (e) Data compilation method: Repeated 5 times on the same sample , The one with the largest value is removed, and the average value of the remaining four data is displayed. The 10-point average surface roughness (R ZD ) of the film surface is
In the above measurement, 1 of roughness profile with a measurement length of 1 mm
R ZD is displayed as the average value of the differences R Z1 , R Z2, ... R Z5 between the highest peak and the lowest valley in each section equally divided into / 5.
The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is R
ZD is 5 to 500 nm.

【0081】(50)表面粗さ (株)小坂研究所製表面形状測定装置サーフコーダーF
E−3F型を用い、カットオフ0.08mm、測定倍率
5万倍の条件にて測定。上記測定値から磁性面/非磁性
面の比を算出した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0.2〜1である。
(50) Surface Roughness Surface shape measuring device Surfcoder F, made by Kosaka Laboratory Ltd.
Measured using E-3F model with cutoff of 0.08 mm and measurement magnification of 50,000 times. The ratio of magnetic surface / nonmagnetic surface was calculated from the above measured values. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 to 1.

【0082】(51)中心線平均粗さ(Ra)、10点
平均粗さ(Rz) JIS−B0601に準じ、(株)小坂研究所製の高精
度表面粗さ計SE−3FATを使用して、針の半径2μ
m、荷重30mgで拡大倍率20万倍、カットオフ0.
08mmの条件下にチャートをかかせ、フイルム表面粗
さ曲線からその中心線の方向に測定長さLの部分を抜き
取り、この抜き取り部分の中心線をX軸、縦倍率の方向
をY軸として、粗さ曲線Y=f(x)で表したとき、次
の式で与えられた値をμm単位で表わす。 Ra=(1/L0 )∫L |f(x)|dx この測定は基準長を1.25mmとして4個測定し、平
均値で表わす。Rzについては、JIS−B0601に
準じ、Raと同様の方法でチャートをかかせ、断面曲線
から基準長さだけ抜き取った部分において、平均線に平
行かつ、断面曲線を横切らない直線から縦倍率の方向に
測定した最高から5番目までの山頂の標高の平均値と最
深から5番目までの谷底の標高の平均値との差の値をマ
イクロメートル(μm)で表す。この測定は基準長を
1.25m/mとして4個測定し、平均値で表わす。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はRa
が0.03μm以下、Rzが5〜900nmである。
(51) Center line average roughness (Ra), 10-point average roughness (Rz) According to JIS-B0601, a high precision surface roughness meter SE-3FAT manufactured by Kosaka Laboratory Ltd. was used. , Needle radius 2μ
m, load 30 mg, magnification 200,000 times, cutoff 0.
A chart is placed under the condition of 08 mm, a portion of the measurement length L is extracted from the film surface roughness curve in the direction of its center line, the center line of the extracted portion is taken as the X axis, and the longitudinal magnification direction is taken as the Y axis. When represented by the roughness curve Y = f (x), the value given by the following equation is expressed in μm. Ra = (1 / L 0 ) ∫ L | f (x) | dx In this measurement, four pieces are measured with a reference length of 1.25 mm and are represented by an average value. Regarding Rz, according to JIS-B0601, a chart is drawn in the same manner as Ra, and in the portion where the reference length is extracted from the cross-section curve, the direction from the straight line that is parallel to the average line and does not cross the cross-section curve to the longitudinal magnification direction The value of the difference between the average value of the heights of the 5th to the highest peaks and the average value of the heights of the 5th to the bottom of the valley bottoms is measured in micrometers (μm). In this measurement, four pieces were measured with a reference length of 1.25 m / m, and are represented by an average value. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is Ra
Is 0.03 μm or less and Rz is 5 to 900 nm.

【0083】(52)フイルム表面粗さ(Ra) 中心線平均粗さ(Ra)としてJIS−B0601で定
義される値であり、本発明では(株)小坂研究所の触針
式表面粗さ計(SURFCORDER SE−30C)
を用いて測定する。測定条件等は次のとおりである。 (a)触針先端半径:2μm (b)測定圧力 :30mg (c)カットオフ :0.08mm (d)測定長 :1.0mm (e)データーのまとめ方:同一試料について5回繰り
返し測定し、最も大きい値を1つ除き、残り4つのデー
ターの平均値の小数点以下5桁目を四捨五入し、小数点
以下4桁目までを表示する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は2
〜25nmである。
(52) Film surface roughness (Ra) This is a value defined by JIS-B0601 as the center line average roughness (Ra). In the present invention, the stylus type surface roughness meter of Kosaka Laboratory Ltd. is used in the present invention. (SURFCORDER SE-30C)
Is measured. The measurement conditions are as follows. (A) Stylus tip radius: 2 μm (b) Measurement pressure: 30 mg (c) Cutoff: 0.08 mm (d) Measurement length: 1.0 mm (e) Data compilation method: Repeatedly measured 5 times for the same sample , Except for the one with the largest value, round off the fifth digit after the decimal point of the average value of the remaining four data and display up to the fourth digit after the decimal point. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 2
Is about 25 nm.

【0084】(53)表面粗さ(CLA) DIN基準4768に記載された方法にしたがい、ペル
テン(Perthen)S6P型装置にて次の条件下で
測定した。 遮断波長値 :0.08μm 検知長さ :1.75μm センサーの曲率 :5μm センサーに対する圧力:50mgf 測定する結果は、20μm離間したプロフィルにつき行
った30回の測定の平均である。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は2〜30nmである。
(53) Surface Roughness (CLA) According to the method described in DIN Standard 4768, it was measured under the following conditions with a Perten S6P type apparatus. Cut-off wavelength value: 0.08 μm Detection length: 1.75 μm Sensor curvature: 5 μm Pressure on the sensor: 50 mgf The measurement results are the average of 30 measurements made on profiles 20 μm apart. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 2 to 30 nm.

【0085】(54)表裏の表面粗さ(Ra)の差 中心線平均粗さ(Ra)としてJIS−B0601で定
義される値であり、本発明では(株)小坂研究所の触針
式表面粗さ計(SURFCORDER SE−30C)
を用いて測定する。測定条件は次のとおりである。 (a)触針先端半径:2μm (b)測定圧力 :30mg (c)カットオフ :0.25mm (d)測定長 :2.5mm (e)データのまとめ方:同一試料について5回繰り返
し測定し、最も大きい値を1つ除き、残り4つのデータ
の平均値の小数点以下4桁目を四捨五入し、小数点以下
3桁目までを表示する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は表
裏のRaの差が0〜0.030μmである。
(54) Difference in surface roughness (Ra) between front and back It is a value defined by JIS-B0601 as the center line average roughness (Ra), and in the present invention, the stylus type surface of Kosaka Laboratory Ltd. Roughness meter (SURFCORDER SE-30C)
Is measured. The measurement conditions are as follows. (A) Stylus tip radius: 2 μm (b) Measurement pressure: 30 mg (c) Cutoff: 0.25 mm (d) Measurement length: 2.5 mm (e) Data compilation method: Repeated 5 measurements on the same sample , The one with the largest value is removed, and the fourth digit after the decimal point of the average value of the remaining four data is rounded off and the third digit after the decimal point is displayed. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the difference in Ra between the front and back is 0 to 0.030 μm.

【0086】(55)表面粗さ(最大高さRmax) 測定には、(株)小坂研究所製のET−30HK+SP
A−11を使用し、接触式により二次元粗さを求めた。
測定条件は下記のとおりである。 (a)針圧 :6mg(針径2μmR) (b)倍率 :高さ方向×50000 (c)カットオフ :0.08mm (d)測定スピード:20μm/秒 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.01〜0.8μmである。
(55) Surface roughness (maximum height Rmax) For measurement, ET-30HK + SP manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.
Using A-11, the two-dimensional roughness was determined by the contact method.
The measurement conditions are as follows. (A) Needle pressure: 6 mg (needle diameter 2 μmR) (b) Magnification: Height direction × 50000 (c) Cutoff: 0.08 mm (d) Measurement speed: 20 μm / sec. Preferred range of the film of the present invention in this measurement method Is 0.01 to 0.8 μm.

【0087】(56)表面粗さパラメータRt/Ra
(B層) Rt(最大高さ)とRa(中心線平均粗さ)を、表面粗
さ計を用いて測定した。条件は下記のとおりであり、2
0回の測定の平均値をもって値とした。 (a)触針先端半径:0.5μm (b)触針荷重 :5mg (c)測定長 :1mm (d)カットオフ :0.08mm この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1
〜50である。
(56) Surface roughness parameter Rt / Ra
(B layer) Rt (maximum height) and Ra (center line average roughness) were measured using a surface roughness meter. The conditions are as follows: 2
The value was defined as the average value of 0 measurements. (A) Stylus tip radius: 0.5 μm (b) Stylus load: 5 mg (c) Measurement length: 1 mm (d) Cutoff: 0.08 mm The preferred range of the film of the present invention in this measurement method is 1
~ 50.

【0088】(57)表面粗さパラメータP10 光干渉式三次元表面解析装置(WYKO社製TOPO−
3D、対物レンズ:40〜200倍、高解像度カメラ使
用が有効)を用いて、画像処理装置上にフイルム表面突
起画像を構築する。この表面突起画像で突起部分の最も
高い値から10点について平均をP10と定義した。2
0回の測定の平均値をもって値とした(単位nm)。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は20
〜1000nmである。
(57) Surface roughness parameter P10 Optical interference type three-dimensional surface analyzer (TOPO- manufactured by WYKO)
3D, objective lens: 40 to 200 times, effective use of high resolution camera) is used to construct a film surface protrusion image on the image processing apparatus. In this surface protrusion image, the average of 10 points from the highest value of the protrusion portion was defined as P10. Two
The value was defined as the average value of 0 measurements (unit: nm). The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 20.
~ 1000 nm.

【0089】(58)三次元中心面平均粗さ(SRa) 粗さ曲面からその中心面上に面積Swの部分を抜き取
り、この抜き取り部分の中心面上に直交座標系X軸、Y
軸を置き中心面に直交する軸をZ軸で表すと、次の式で
与えられた値をμm単位で表す。 SRa=(1/Sw)∬|f(X,Y)|dxdy 但し、∫は0からLX まで、及び0からLY まで、 LX Y =Sw この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.005〜0.050μmである。
(58) Three-dimensional center plane average roughness (SRa) A portion of area Sw is extracted from the roughness curved surface on the center surface, and the orthogonal coordinate system X axis, Y is drawn on the center surface of the extracted portion.
When the axis is placed and the axis orthogonal to the center plane is represented by the Z axis, the value given by the following formula is represented by a unit of μm. SRa = (1 / Sw) ∬ | f (X, Y) | dxdy where ∫ is from 0 to L X and from 0 to L Y , and L X L Y = Sw The preferable range of the film of the present invention in this measurement method Is 0.005 to 0.050 μm.

【0090】(59)10点平均粗さ(SRz) フイルム表面を(株)小坂研究所製光学式非接触三次元
表面粗さ計(ET−30HX)を用い、フイルム長手方
向に対して45°方向にカットオフ値0.08mmで、
長さ0.25mmにわたって測定し、0.5μmピッチ
で500点に分割し、各点の高さを三次元粗さ解析装置
(SPA−11)に取り込んだ。これと同様の操作を
0.5μm間隔で150回、つまり0.075mmにわ
たって行い、解析装置にデータを取り込んだ。次に、解
析装置を用いて10点平均粗さを求め、μm単位で表し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は0.020〜0.7μmである。
(59) 10-point average roughness (SRz) The film surface was measured with an optical non-contact three-dimensional surface roughness meter (ET-30HX) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd. at 45 ° with respect to the longitudinal direction of the film. With a cutoff value of 0.08 mm in the direction,
The length was measured over 0.25 mm, the pitch was divided into 500 points at a pitch of 0.5 μm, and the height of each point was taken into a three-dimensional roughness analyzer (SPA-11). The same operation as this was performed 150 times at 0.5 μm intervals, that is, over 0.075 mm, and the data was captured in the analyzer. Next, 10-point average roughness was obtained using an analyzer and expressed in μm. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.020 to 0.7 μm.

【0091】(60)三次元平均傾斜勾配(SΔa) 表面形状(平均面基準による)の各切断平面により切断
して求まるバーティクルの面積と個数の平均円半径rの
変化をΔrとして、ΔZ/Δrを各レベルの切断平面で
求め、各値を平均して三次元平均傾斜勾配とする。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.0
05〜0.04である。
(60) Three-dimensional average inclination gradient (SΔa) ΔZ / Δr, where Δr is the change in average circle radius r of the area and number of verticles obtained by cutting with each cutting plane of the surface shape (based on the average surface) Is calculated on a cutting plane of each level, and each value is averaged to obtain a three-dimensional average slope. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.0.
It is 05 to 0.04.

【0092】(61)三次元表面粗さの空間平均波長
(Sλa) 測定長l、空間角周波数w0 、振幅Aなる正弦関数y=
AsinWoxなる表面形状を想定して下記の計算を行
うと、 (2πRa/Δa)=[(2π/l)∫|y|dx/ [(1/l)∫|dy/dx|dx]] =(2π/W0 )[∫|sinWox|dx]/[∫|WsWox|dx] =2π/W0 =λ0 (但し、∫は0からlまで、(次式も同じ))となり、
空間平均波長λ0 が求まる。ここで測定した表面粗さの
中心線をX軸としての関数y=f(x)で表すと、f
(x)について 2πRa/Δa=(2π/l)∫|f(x)|dx/ [(1/l)∫|df(x)/dx|dx] =[2π∫|AsinWax|dx]/ ∫|(d(AsinWax))/dx| =λa なる関係を満足する正弦関数の空間波長λaを関数f
(x)の空間平均波長と定義する。したがって、三次元
表面粗さの空間平均長(Sλa)は以下のように定義す
る。 Sλa=(2π・SRa/(SΔa)) 但し、SRa:三次元中心面平均粗さ SΔa:三次元平均傾斜勾配 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.01〜15μmである。
(61) Spatial average wavelength (Sλa) of three-dimensional surface roughness Measurement length 1, spatial angular frequency w 0 , sine function of amplitude A y =
When the following calculation is performed assuming a surface shape of AsinWox, (2πRa / Δa) = [(2π / l) ∫ | y | dx / [(1 / l) ∫ | dy / dx | dx]] = ( 2π / W 0 ) [∫ | sinWox | dx] / [∫ | WsWox | dx] = 2π / W 0 = λ 0 (where ∫ is from 0 to 1 (the same applies to the following formula)),
The spatial average wavelength λ 0 is obtained. When the center line of the surface roughness measured here is represented by the function y = f (x) with the X axis, f
About (x) 2πRa / Δa = (2π / l) ∫ | f (x) | dx / [(1 / l) ∫ | df (x) / dx | dx] = [2π∫ | AsinWax | dx] / ∫ | (D (AsinWax)) / dx | = λa The spatial wavelength λa of the sine function satisfying the relation of
It is defined as the spatial average wavelength of (x). Therefore, the spatial average length (Sλa) of the three-dimensional surface roughness is defined as follows. Sλa = (2π · SRa / (SΔa)) However, SRa: three-dimensional center plane average roughness SΔa: three-dimensional average inclination gradient The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.01 to 15 μm.

【0093】(62)フイルムの表面平滑性(TAR) フイルム表面を(株)小坂研究所製触針式三次元表面粗
さ計(SE−3AK)を用いて、針の半径2μm、荷重
30mgの条件下、フイルム長手方向にカットオフ値
0.25mmで測定長1mmにわたって測定し、2μm
おきに高さ方向のデータを量子化幅0.00312μm
で外部記憶装置に取り込ませる。このような測定をフイ
ルムの横手方向について2μm間隔で連続的に150
回、つまりフイルムの横手方向0.3mmの幅にわたっ
て測定する。このときの高さ方向のデータを h(i,j)[i=1〜500、j=1〜150] としたとき、次式の計算を行って得られたものをμm単
位で表したものがTAR〔スリー・ディメンジョナル・
アベレージ・ラフネス〕である。 TAR=(1/75000)Σ1 Σ2 Δh(i,j) Δh(i,j)=|h(i,j) −(1/75000)Σ1 Σ2 h(i,j)| (但し、Σ1 はiが1〜500、Σ2 はjが1〜15
0) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.005〜0.036μmである。
(62) Surface smoothness of film (TAR) The surface of the film was measured with a stylus type three-dimensional surface roughness meter (SE-3AK) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., with a needle radius of 2 μm and a load of 30 mg. Under the condition, the cut-off value is 0.25 mm in the longitudinal direction of the film, and the measurement length is 1 mm.
Quantization width is 0.00312 μm for every height direction data
To load it into an external storage device. Such measurement is continuously performed at 2 μm intervals in the lateral direction of the film for 150 times.
Turns, that is, over a width of 0.3 mm in the lateral direction of the film. When the data in the height direction at this time is h (i, j) [i = 1 to 500, j = 1 to 150], the data obtained by performing the calculation of the following equation is expressed in μm. Is TAR [three dimensional
Average roughness]. TAR = (1/75000) Σ 1 Σ 2 Δh (i, j) Δh (i, j) = | h (i, j) - (1/75000) Σ 1 Σ 2 h (i, j) | ( but , Σ 1 has i of 1 to 500, and Σ 2 has j of 1 to 15
0) The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.005 to 0.036 μm.

【0094】(63)粗面の表面粗さ 中心線平均粗さRa(μm)をもって表面粗さとした。
(株)小坂研究所製表面粗さ測定機(SE−3F)を用
い、フイルム断面曲線からその中心線の方向に基準長さ
L(2.5mm)の部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をX軸、縦倍率の方向をY軸として粗さ曲線y
=f(x)で表したとき、下記式で与えられた値を(μ
m)で表し、中心線平均粗さは、試料フイルム表面から
10本の断面曲線を求め、これらの断面曲線から求めた
抜き取り部分の中心線平均粗さの平均値で表した。な
お、触針の先端半径は2μm、荷重30mgとし、カッ
トオフ値は0.08mmとした。 Ra=(1/L)∫|f(x)|dx (但し、∫は0からLまで) なお、このパラメータは、表裏の粗さを意識的に変える
場合に設定されるものである。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は6〜25nmである。
(63) Surface Roughness of Rough Surface The center line average roughness Ra (μm) was defined as the surface roughness.
Using a surface roughness measuring instrument (SE-3F) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., a portion having a reference length L (2.5 mm) is extracted from the film cross-section curve in the direction of the center line, and the center line of this extracted portion is extracted. Is the X-axis and the vertical magnification direction is the Y-axis.
= F (x), the value given by
The center line average roughness is represented by the average value of the center line average roughness of the extracted portion obtained from these 10 section curves obtained from the surface of the sample film. The tip radius of the stylus was 2 μm, the load was 30 mg, and the cutoff value was 0.08 mm. Ra = (1 / L) ∫ | f (x) | dx (where ∫ is from 0 to L) Note that this parameter is set when the roughness of the front and back is intentionally changed. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 6 to 25 nm.

【0095】(64)表面うねり(Wca) 表面粗さ・形状測定機(東京精密社製)「サーコム15
00A機」において、カットオフ値0.500〜0.0
50mmに設定し、テープの幅方向に測定し、値を求め
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は0.03以下である。
(64) Surface waviness (Wca) Surface roughness / shape measuring machine (manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.) "Cercom 15
00A machine ", cutoff value 0.500-0.0
It was set to 50 mm and measured in the width direction of the tape to obtain the value. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.03 or less.

【0096】(65)平滑性 (株)小坂研究所製の薄膜段差計ET−10型で触針先
端半径0.5μm、触針荷重1gで測定し、突起の基底
部から頂上部までの高さで判定した。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は上記頂上部までの高
さが1.5μm以下である。
(65) Smoothness: The height from the base to the top of the protrusion was measured with a thin-film step meter ET-10 manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., with a stylus tip radius of 0.5 μm and a stylus load of 1 g. It was judged by The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is such that the height to the apex is 1.5 μm or less.

【0097】(66)平滑面と粗面の中心線平均粗さ 中心線平均粗さRa(μm)をもって表面粗さとした。
(株)小坂研究所製表面粗さ測定機(SE−3F)を用
い、フイルム断面曲線からその中心線の方向に基準長さ
L(2.5mm)の部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をX軸、縦倍率の方向をY軸として粗さ曲線y
=f(x)で表したとき、下記式で与えられた値を(μ
m)で表し、中心線平均粗さは、試料フイルム表面から
10本の断面曲線を求め、これらの断面曲線から求めた
抜き取り部分の中心線平均粗さの平均値で表した。な
お、触針の先端半径は2μm、荷重30mgとし、カッ
トオフ値は0.08mmとした。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は平滑面が0.6〜15n
m、粗面が6〜25nmである。
(66) Center Line Average Roughness of Smooth Surface and Rough Surface The center line average roughness Ra (μm) was defined as the surface roughness.
Using a surface roughness measuring instrument (SE-3F) manufactured by Kosaka Laboratory Ltd., a portion having a reference length L (2.5 mm) is extracted from the film cross-section curve in the direction of the center line, and the center line of this extracted portion is extracted. Is the X-axis and the vertical magnification direction is the Y-axis.
= F (x), the value given by
The center line average roughness is represented by the average value of the center line average roughness of the extracted portion obtained from these 10 section curves obtained from the surface of the sample film. The tip radius of the stylus was 2 μm, the load was 30 mg, and the cutoff value was 0.08 mm. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is such that the smooth surface is 0.6 to 15 n.
m, the rough surface is 6 to 25 nm.

【0098】(67)SRz、SΔa、Sλa SRz、SΔa、Sλaはそれぞれ三次元表面粗さ測定
における10点平均粗さ(μm)、平均傾斜勾配、平均
波長(μm)及びP・Cは面積0.12mm2における
突起数を表す。SRz、SΔa、Sλaは(株)小坂研
究所製三次元表面粗さ計で測定した。PCはニコン社製
微分干渉顕微鏡を用いてアルミニウム蒸着したポリエス
テルフイルムを最終倍率160倍で写真をとり、透明な
フイルムに突起をトレースして、ニレコ(株)社製イメ
ージアナライザーでポリエステルフイルム0.12mm
2 に相当する面積を画像処理し、円相当としての突起数
を算出した数値である。SRz及びSΔa・PC/Sλ
aを評価対象とする。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲はSRzが0.01〜0.5、SΔa
・PC/Sλaが0.03〜30000である。
(67) SRz, SΔa, Sλa SRz, SΔa, and Sλa are 10-point average roughness (μm), average inclination gradient, average wavelength (μm), and P · C are areas 0 in three-dimensional surface roughness measurement, respectively. Represents the number of protrusions at 12 mm 2 . SRz, SΔa, and Sλa were measured with a three-dimensional surface roughness meter manufactured by Kosaka Laboratory Ltd. For the PC, take a picture of the polyester film vapor-deposited with aluminum using a Nikon differential interference microscope at a final magnification of 160 times, trace the projections on the transparent film, and use a Nireco image analyzer to make a polyester film 0.12 mm.
This is a numerical value obtained by performing image processing on the area corresponding to 2 and calculating the number of protrusions corresponding to a circle. SRz and SΔa ・ PC / Sλ
Let a be the evaluation target. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is SRz of 0.01 to 0.5 and SΔa.
-PC / Sλa is 0.03 to 30,000.

【0099】(68)Ra−Ra0 Ra0 はベースフイルムの表面平均粗さ(μm)、Ra
は被膜層の表面平均粗さ(μm)である。ここで、表面
平均粗さはJIS−S0601に準じて測定する。すな
わち、東京精密社(株)製の触針式粗さ計(SURFC
OM 3B)を用いて、針の半径2μm、荷重0.07
gの条件下にチャートにフイルム表面粗さ曲線を書か
せ、得られるフイルム表面粗さ曲線から、その中心線の
方向に測定長さLの部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をX軸とし、縦方向をY軸として、粗さ曲線y
=f(x)で表したとき、次の式で与えられる値が(R
a:μm)をフイルム表面平均粗さとして定義する。 Ra=(1/L)∫|f(x)|dx (但し、∫は0からLまで) 本発明では、基準長を0.25mmとして8個測定し、
値の大きい方から3個除いた5個の平均値としてRaを
表す。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲はベース面のRa−Ra0が0.1μm以下である。
(68) Ra-Ra 0 Ra 0 is the average surface roughness (μm) of the base film, Ra
Is the surface average roughness (μm) of the coating layer. Here, the average surface roughness is measured according to JIS-S0601. That is, a probe type roughness meter (SURFC manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.)
OM 3B), needle radius 2 μm, load 0.07
Under the condition of g, write a film surface roughness curve on the chart, and from the obtained film surface roughness curve, extract a portion of the measurement length L in the direction of the center line, and use the center line of this extracted portion as the X axis. , The vertical direction is the Y axis, and the roughness curve y
= F (x), the value given by the following equation is (R
a: μm) is defined as the average surface roughness of the film. Ra = (1 / L) ∫ | f (x) | dx (where, ∫ is from 0 to L) In the present invention, the reference length is 0.25 mm, and 8 pieces are measured.
Ra is expressed as an average value of 5 values obtained by removing 3 values from the highest value. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is that Ra-Ra 0 on the base surface is 0.1 μm or less.

【0100】(69)熱収縮率(その1) 無張力状態で100℃雰囲気中30分間、熱処理しその
前後のサンプルの長さを測定することにより次式にて計
算した。 熱収縮率(%)=[(熱処理前のサンプル長−熱処理後
のサンプル長)/熱処理前のサンプル長]×100
(%) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は5
%以下である。
(69) Thermal Shrinkage (No. 1) Heat shrinkage was performed in an atmosphere of 100 ° C. for 30 minutes in a non-tensile state, and the lengths of the samples before and after the heat treatment were measured and calculated by the following formula. Thermal shrinkage (%) = [(sample length before heat treatment-sample length after heat treatment) / sample length before heat treatment] × 100
(%) The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 5
% Or less.

【0101】(70)熱収縮率(その2) フイルムを長手方向に長さ50cm(l0 )、巾15m
mに切断し、オーブン中に180℃の温度で30分熱処
理した後、フイルムの長さ(l)を測定し下記式からそ
の収縮率を求めた。 熱収縮率=[(l0 −l)/l0 ]×100(%) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1
0%以下である。120℃、5時間の熱収縮率の好まし
い範囲は10%以下である。150℃、30分の熱収縮
率の好ましい範囲は7%以下である。
(70) Thermal shrinkage (part 2) The film is 50 cm (l 0 ) in lengthwise direction and 15 m in width.
The film was cut into m pieces and heat-treated in an oven at a temperature of 180 ° C. for 30 minutes, the length (1) of the film was measured, and the shrinkage rate was calculated from the following formula. Heat shrinkage = [(l 0 −l) / l 0 ] × 100 (%) The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1
It is 0% or less. The preferable range of the heat shrinkage ratio at 120 ° C. for 5 hours is 10% or less. The preferable range of the heat shrinkage rate at 150 ° C. for 30 minutes is 7% or less.

【0102】(71)熱収縮率(その3) 100℃における30分保存後の熱収縮率を測定した。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は5
%以下である。
(71) Heat Shrinkage (Part 3) The heat shrinkage after storage for 30 minutes at 100 ° C. was measured.
The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 5
% Or less.

【0103】(72)熱収縮率(その4) フイルム縦方向及び横方向に、それぞれ幅10mm長さ
100mmの短冊状試片を切り出し、150℃及び10
5℃に保持されたギアオーブン中に無緊張状態で放置し
て、30分後に取り出して処理前後の試片長さから算出
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は、105℃における横方向熱収縮率が5%以下、1
50℃における縦方向及び横方向熱収縮率がそれぞれ1
0%以下である。
(72) Thermal Shrinkage (Part 4) Strip-shaped test pieces each having a width of 10 mm and a length of 100 mm were cut out in the longitudinal direction and the transverse direction of the film, and were cut at 150 ° C. and 10 ° C., respectively.
It was left in a tension-free state in a gear oven maintained at 5 ° C., taken out after 30 minutes, and calculated from the sample length before and after the treatment. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the transverse heat shrinkage at 105 ° C. is 5% or less, 1
The heat shrinkage in the longitudinal and transverse directions at 50 ° C is 1 each
It is 0% or less.

【0104】(73)熱収縮率(その5) 基材フイルムを幅10mm、長さ600mmの短冊状に
切り出し、500mm間隔の標点を付けた。このサンプ
ルを無張力下で100℃のギアーオーブンにて1時間処
理したのち、室温まで冷却した。熱処理前後の寸法変化
から熱収縮率を算出した。寸法の測定はMITUTOY
O製の微小寸法測定装置(PROFILE PROJE
CTOR MODELPJ321F)を用いた。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は100
℃、1時間のフイルム長手方向熱収縮率が7%以下、フ
イルムがポリエチレンナフタレート(PEN)からなる
場合の該熱収縮率が0.3%以下である。
(73) Heat Shrinkage (No. 5) The base film was cut into strips having a width of 10 mm and a length of 600 mm, and marked points at intervals of 500 mm were attached. This sample was treated in a gear oven at 100 ° C. for 1 hour under no tension and then cooled to room temperature. The heat shrinkage ratio was calculated from the dimensional change before and after the heat treatment. Dimension measurement is MITUTOY
O Dimensional Measuring System (PROFILE PROJE
CTOR MODELPJ321F) was used. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 100.
The heat shrinkage in the longitudinal direction of the film at 7 ° C. for 1 hour is 7% or less, and when the film is made of polyethylene naphthalate (PEN), the heat shrinkage is 0.3% or less.

【0105】(74)熱収縮率(その6) まず試料の長さを測定し、次にその試料を70℃に保持
された空気恒温槽中に張力フリーの状態で1時間放置し
て熱処理を行い、冷却後の長さを室温において測定す
る。そして、その熱処理前後の各長さから熱収縮率を求
める。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲はフイルム長手方向熱収縮率が3%以下である。
(74) Thermal Shrinkage (Part 6) First, the length of the sample was measured, and then the sample was left in a constant temperature air chamber kept at 70 ° C. for 1 hour in a tension-free state for heat treatment. Perform and measure the length after cooling at room temperature. Then, the heat shrinkage rate is obtained from each length before and after the heat treatment. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the heat shrinkage in the longitudinal direction of the film is 3% or less.

【0106】(75)最高熱応力 大きさが50mm(長さ)×4mm(幅)で、かつその
長手方向とフイルムの長手方向とが合致するようにして
採取した被測定サンプルを真空理工(株)製TMA−3
000型熱機械試験器により、その応力検出モードに
て、室温より4℃/分の昇温速度下に熱応力曲線を測定
し、150〜220℃で到達する最高熱応力(kg/m
2 )を算出する。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0.2〜2kg/mm2である。
(75) Maximum thermal stress A sample to be measured which had a size of 50 mm (length) × 4 mm (width) and whose longitudinal direction coincided with the longitudinal direction of the film was taken by Vacuum Riko Co., Ltd. ) Made TMA-3
With the 000 type thermomechanical tester, in its stress detection mode, the thermal stress curve was measured at a temperature rising rate of 4 ° C./min from room temperature, and the maximum thermal stress reached at 150 to 220 ° C. (kg / m
m 2 ) is calculated. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 to 2 kg / mm 2 .

【0107】(76)残留収縮率 真空理工(株)製の熱機械試験器「タイプTM−300
0」を用いて所定の試験片の両端をチャックで把持して
所定荷重下で、毎分2℃の昇温速度で25℃から40℃
まで昇温し、そのまま1時間保持した後放冷して25℃
にもどす。温度処理前後の寸法変化をチャートから読み
とり、下式にて残留収縮率を求める。なお5試料につき
測定し、平均値で絶対値として表示する。 残留収縮率(%)=[[(原長)−(処理後長さ)]/
(原長)]×100 但し、試験片長さ(チャック間):15.0mm 試験片幅 :3.8mm 荷 重 :400g/mm2 、900
g/mm2 とする。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は0〜0.01%である。
(76) Residual Shrinkage Rate Thermomechanical tester “Type TM-300” manufactured by Vacuum Riko Co., Ltd.
0 "is used to hold both ends of a predetermined test piece with a chuck, and under a predetermined load, at a temperature rising rate of 2 ° C / min from 25 ° C to 40 ° C.
Up to 25 ℃
Return to. The dimensional change before and after the temperature treatment is read from the chart, and the residual shrinkage rate is calculated by the following formula. In addition, it measures about 5 samples and displays as an average value as an absolute value. Residual shrinkage rate (%) = [[(original length)-(length after treatment)] /
(Original length)] × 100 However, test piece length (between chucks): 15.0 mm Test piece width: 3.8 mm Load: 400 g / mm 2 , 900
g / mm 2 . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 0.01%.

【0108】(77)熱収パラメータC フイルムの比重をA、975cm-1の赤外線吸収強度/
795cm-1の赤外線吸収強度をBとするとき、 式 C=43.4A−B で示される。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は50以上、より好ましくは56.5以上であ
る。但し、F5 値は、東洋ボールドウィン社テンシロン
UTM−II−500型を使用し、23℃、65%RH
の条件下で測定した。ここでいうF5 値とは、引張試験
を行った際の試料5%伸張時の単位断面積当りの応力を
意味する。F5 値は、測定するフイルムを長手方向15
0mm、巾方向(長手方向と鉛直をなす方向)10mm
の長方形に切り、チャック間100mmとして引張速度
1.00%/分で引張実験を行い求めた値である。比重
は、n−ヘブタン、四塩化炭素の混合溶液による密度勾
配管を用いて、25℃、65%RHの条件下で密度測定
し、これを比重とした。975cm-1及び795cm-1
の赤外線吸収ピークの強度比の測定はschmidtの
方法(Journal of Polymer Sci
ence, Part A, 1.1271(196
3))に従った。PERKIN ELMER社製983
型赤外線分光装置を用いて、975cm-1の吸収高度
(I975 )、795cm-1の吸収強度(I795 )を各々
求め、I975 /I795 を強度比とした。
(77) Heat absorption parameter C The specific gravity of the film is A, and the infrared absorption intensity at 975 cm -1 /
When the infrared absorption intensity at 795 cm −1 is B, it is represented by the formula C = 43.4A−B. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 50 or more, more preferably 56.5 or more. However, F 5 value, using Toyo Baldwin Co. Tensilon UTM-II-500 type, 23 ° C., 65% RH
It was measured under the conditions of. The F 5 value here means the stress per unit cross-sectional area when the sample is stretched by 5% when a tensile test is performed. F 5 value in the longitudinal direction 15 of the film to be measured
0 mm, width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction) 10 mm
Is a value obtained by conducting a tensile test at a tensile rate of 1.00% / min, with the chuck being cut to a rectangular shape of 100 mm. The specific gravity was measured under the conditions of 25 ° C. and 65% RH using a density gradient tube using a mixed solution of n-heptane and carbon tetrachloride, and this was used as the specific gravity. 975 cm -1 and 795 cm -1
Infrared absorption peak intensity ratio is measured by the method of Schmidt (Journal of Polymer Sci).
ence, Part A, 1.11271 (196
3)) was followed. 983 made by PERKIN ELMER
With a mold infrared spectrometer, the absorption height (I 975) of 975cm -1, determined each absorption intensity of 795cm -1 (I 795), and the intensity ratio I 975 / I 795.

【0109】(78)70℃における熱収縮速度 フイルムの縦方向に、幅4mm長さ50mmの試片を切
り出し、真空理工(株)製TM−3000型熱試験機に
より、定加重(9.4g)下で70℃の熱変形曲線を測
定し、試料雰囲気が70℃に達してから(約30分を要
する)、その後1時間にわたって生じた収縮量をもって
熱収縮速度とした。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0.5%以下である。
(78) Heat Shrinkage Rate at 70 ° C. A specimen having a width of 4 mm and a length of 50 mm was cut out in the longitudinal direction of the film, and a constant load (9.4 g) was applied by a TM-3000 thermal tester manufactured by Vacuum Riko Co., Ltd. ) Under the conditions of 70 ° C., the thermal deformation curve was measured, and after the sample atmosphere reached 70 ° C. (requiring about 30 minutes), the amount of shrinkage that occurred over 1 hour was used as the thermal shrinkage rate. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5% or less.

【0110】(79)熱処理表面温度 本発明フイルムにおいて、好ましい熱処理表面温度は1
80〜220℃である。
(79) Heat Treatment Surface Temperature In the film of the present invention, the preferable heat treatment surface temperature is 1
It is 80-220 degreeC.

【0111】(80)面配向度(ΔP) アタゴ光学社製アッベ式屈折計を用い、フイルム面内の
屈折率の最大値nγ、それに直角の方向の屈折率nβ、
及びフイルムの厚さ方向の屈折率nαを測定し、次式よ
り面配向度を算出した。なお、屈折率の測定は、ナトリ
ウムD線を用い、23℃で行った。 面配向度(ΔP)=[(nγ+nβ)/2]−nα この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はベ
ース面(B面)の面配向度が0.1〜0.2である。フ
イルムがポリエチレン+フタレート(PEN)からなる
場合には、好ましい面配向度は0.255〜0.28で
ある。
(80) Degree of plane orientation (ΔP) Using an Abbe refractometer manufactured by Atago Optical Co., Ltd., the maximum value nγ of the refractive index in the film plane and the refractive index nβ in the direction perpendicular thereto,
Also, the refractive index nα of the film in the thickness direction was measured, and the plane orientation degree was calculated from the following equation. The measurement of the refractive index was performed at 23 ° C. using sodium D line. Degree of plane orientation (ΔP) = [(nγ + nβ) / 2] −nα The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the degree of plane orientation of the base surface (B surface) is 0.1 to 0.2. When the film is composed of polyethylene + phthalate (PEN), the preferred plane orientation degree is 0.255 to 0.28.

【0112】(81)フイルム表面の水に対する接触角 本発明フイルムにおいて、好ましい水の接触角は60〜
90度である。
(81) Contact Angle of Water on Film Surface In the film of the present invention, the preferred contact angle of water is 60 to 60.
It is 90 degrees.

【0113】(82)すべり係数 20℃・65%RHの室内で24時間調湿した2枚の試
料の相反する面どおしを重ねて、その上に200gの荷
重を乗せて、一枚の試料を150mm/分の速度で移動
させてその抵抗値を読み、抵抗値(g)/200gの計
算値で示した。この測定法における本発明フイルムの好
ましい範囲は0.85以下である。
(82) Slip coefficient Two contradictory surfaces of two samples whose humidity was adjusted in a room at 20 ° C. and 65% RH for 24 hours were overlapped, and a load of 200 g was placed on the two surfaces. The resistance value was read by moving the sample at a speed of 150 mm / min, and the calculated resistance value (g) / 200 g was shown. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.85 or less.

【0114】(83)滑り性 ASTMD1894−63の方法に準じて摩擦係数を測
定し、滑り性の尺度とした。この測定法における本発明
フイルムの好ましい範囲は3以下である。
(83) Sliding property The friction coefficient was measured according to the method of ASTM D1894-63 and used as a measure of the slidability. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 3 or less.

【0115】(84)フイルムの滑り性 固定した硬質クロムメッキ金属ロール(直径6mm)に
フイルムを巻き付け、角135°(θ)で接触させ、5
3g(T2 )の荷重を一端にかけて、1m/分の速度で
これを走行させ、他端の抵抗力(T1 (g))を測定
し、次式により走行中の摩擦係数(μd)を求めた。 μd=[180/(πθ)]ln(T1 /T2 ) =0.424ln(T1 /53) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.35以下である。
(84) Sliding property of film The film is wound around a fixed hard chrome-plated metal roll (diameter 6 mm) and brought into contact at an angle of 135 ° (θ).
A load of 3 g (T 2 ) is applied to one end, and it is run at a speed of 1 m / min. The resistance force (T 1 (g)) at the other end is measured. The friction coefficient (μd) during running is calculated by the following formula. I asked. μd = [180 / (πθ) ] ln (T 1 / T 2) = 0.424ln (T 1/53) the preferred range of the present invention the film in this assay is 0.35 or less.

【0116】(85)静摩擦係数(μs) 重ね合わせた2枚のフイルムの下側に固定したガラスを
置き、重ね合わせたフイルムの下側(ガラス板と接して
いるフイルム)のフイルムを定速ロールにて引き取り
(約10cm/分)、上側のフイルムの一端(下側フイ
ルムの引き取り方向と逆端)に検出器を固定してフイル
ム/フイルム間の引張力(F)を検出する。なお、その
時に用いるスレッドは下側面積が50cm2 (80mm
×62.5mm)であり、フイルムに接する面は80°
のネオプレンゴムであり、その重さ(P)は400gあ
るいは800gとする。静摩擦係数は下記式で算出され
る。 μS=F(g)/P(g) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
荷重800gにおける値/荷重400gにおける値との
比が0.2〜3である。
(85) Coefficient of static friction (μs) A fixed glass is placed under the two laminated films, and the film under the laminated films (the film in contact with the glass plate) is rolled at a constant speed. At (10 cm / min), the detector is fixed to one end of the upper film (the end opposite to the lower film take-up direction), and the tensile force (F) between the films is detected. The thread used at that time has a lower area of 50 cm 2 (80 mm
X 62.5 mm) and the surface in contact with the film is 80 °
And the weight (P) is 400 g or 800 g. The static friction coefficient is calculated by the following formula. μS = F (g) / P (g) The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is
The ratio of the value at a load of 800 g / the value at a load of 400 g is 0.2 to 3.

【0117】(86)走行性(その1) 固定した硬質クロムメッキ金属ピン(直径6mm)にフ
イルムを巻き付け角135°で接触させ、一端に53g
の荷重をかけて1m/分の速度で走行させ他端の抵抗力
を測定し、オイラーの式によりフイルムの摩擦係数を求
め、走行性の尺度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は0.05〜0.5である。
(86) Travelability (No. 1) A film was wound around a fixed hard chrome-plated metal pin (diameter 6 mm) at a winding angle of 135 °, and 53 g was attached to one end.
The load was applied to run at a speed of 1 m / min, the resistance at the other end was measured, and the coefficient of friction of the film was determined by Euler's equation, and used as a measure of runnability. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.05 to 0.5.

【0118】(87)走行性(その2) 平滑なガラス板上に、幅15mm、長さ150mmに切
り出したフイルム同士を2枚重ね、その上にゴム板を載
せ、2枚のフイルム接圧を2g/cm2 として、20m
m/minでフイルム同士を滑らせて摩擦力を測定し、
5mm滑らせた点での摩擦係数を動摩擦係数として求め
た。なお、測定は、温度23℃±1℃、湿度50%±5
%の雰囲気下で行った。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は0.2〜3である。
(87) Travelability (No. 2) Two films cut into a width of 15 mm and a length of 150 mm were stacked on a smooth glass plate, and a rubber plate was placed on the films, and the two films were brought into contact with each other. 20m as 2g / cm 2
Measure the frictional force by sliding the films at m / min.
The coefficient of friction at the point of sliding by 5 mm was determined as the coefficient of dynamic friction. The measurement was performed at a temperature of 23 ° C ± 1 ° C and a humidity of 50% ± 5
% Under an atmosphere. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 to 3.

【0119】(88)フイルムの走行摩擦係数(その
1) 温度20℃、湿度60%の環境で、巾1/2インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼SUS304製の固定棒
に角度θ=(152/181)πラジアン(152°)
で接触させて、毎分200cmの速さで移動(摩擦)さ
せる。入口テンションT1 が40gとなるようにテンシ
ョンコントローラーを調整した時の出口テンション(T
2 :g)をフイルムが90m走行したのちに出口テンシ
ョン検出機で検出し、次式で走行摩擦係数(μK )を算
出する。 μK =(2.303/θ)log(T2 /T1 ) =0.868log(T2 /40) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.2〜0.5である。
(88) Coefficient of running friction of film (No. 1) In an environment of temperature 20 ° C. and humidity 60%, a film cut into a width of 1/2 inch was attached to a fixed rod made of stainless steel SUS304 at an angle θ = (152 / 181) π radian (152 °)
And make it move (rubbing) at a speed of 200 cm per minute. When the tension controller is adjusted so that the inlet tension T 1 is 40g, the outlet tension (T
2 : g) is detected by the exit tension detector after the film has run 90 m, and the running friction coefficient (μ K ) is calculated by the following formula. μ K = (2.303 / θ) log (T 2 / T 1) = 0.868log (T 2/40) The preferred range of the present invention the film in this assay is 0.2 to 0.5.

【0120】(89)フイルムの走行摩擦係数(その
2) 温度20℃、湿度60%の環境で、幅1/2インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼SUS304製の固定棒
(外径5mmφ、表面粗さRa=0.02μm)に角度
θ=(152/181)πラジアン(152°)で接触
させて、毎分200cmの速さで移動(摩擦)させる。
入口テンションT1 が35gとなるようにテンションコ
ントローラーを調整した時の出口テンション(T2
g)をフイルムが90m走行したのちに出口テンション
検出機で検出し、次式で走行摩擦係数μK を算出する。 μK =(2.303/θ)log(T2 /T1 ) =0.868log(T2 /35) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.35以下である。
(89) Coefficient of running friction of film (2) The film was cut into 1/2 inch width in an environment of temperature 20 ° C. and humidity 60%, and the film was fixed rod made of stainless steel SUS304 (outer diameter 5 mmφ, surface roughness). (Ra = 0.02 μm) at an angle θ = (152/181) π radian (152 °) and moved (rubbed) at a speed of 200 cm per minute.
When the tension controller is adjusted so that the inlet tension T 1 is 35 g, the outlet tension (T 2 :
g) is detected by the exit tension detector after the film has run 90 m, and the running friction coefficient μ K is calculated by the following formula. μ K = (2.303 / θ) log (T 2 / T 1) = 0.868log (T 2/35) The preferred range of the present invention the film in this assay is 0.35 or less.

【0121】(90)フイルムの走行摩擦係数の変化
(Δμk) 上記(89)の走行摩擦係数を測定する装置を用いて、
フイルムの移動速度を2m/分として10m長のフイル
ムを50回繰り返し走行させる。その時の1回目の摩擦
係数をμk1 ,50回目の摩擦係数をμk50として下記
式によりΔμkを算出する。 Δμk=μk50−μk1 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.2以下である。
(90) Change in running friction coefficient of film (Δμk) Using the apparatus for measuring running friction coefficient in (89) above,
The moving speed of the film is set to 2 m / min, and the film of 10 m length is repeatedly run 50 times. Δμk is calculated by the following equation, where the first friction coefficient is μk 1 and the 50th friction coefficient is μk 50 . Δμk = μk 50 −μk 1 The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 or less.

【0122】(91)フイルムの動摩擦係数(その1) 動摩擦係数をASTM−D−1894−63Tに準じ、
23℃、65%RH、引張速度200m/分の条件で測
定した。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は0.32〜0.45である。
(91) Dynamic Friction Coefficient of Film (1) According to ASTM-D-1894-63T,
It was measured under the conditions of 23 ° C., 65% RH, and a pulling speed of 200 m / min. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.32 to 0.45.

【0123】(92)フイルムの動摩擦係数(その2) ASTM−D−1894に準じて、新東科学(株)製表
面性測定機TYPE:HEIDON−14Dで測定し
た。スレッドの面寸法は30×30mmであり、摩擦面
は900mm2 である。全荷重は1000gである。一
般に、この値の低いフイルムほど滑り性が良好でハンド
リングが容易である。ただし、この場合の静摩擦係数を
μs、動摩擦係数をμkとして表した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は動摩擦係数が0.
3以下である。
(92) Dynamic Friction Coefficient of Film (Part 2) According to ASTM-D-1894, it was measured by a surface property measuring instrument TYPE: HEIDON-14D manufactured by Shinto Scientific Co., Ltd. The surface dimension of the thread is 30 × 30 mm and the friction surface is 900 mm 2 . The total load is 1000 g. Generally, a film having a lower value has better slipperiness and is easier to handle. However, the static friction coefficient and the dynamic friction coefficient in this case were expressed as μs and μk, respectively. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is a coefficient of dynamic friction of 0.
It is 3 or less.

【0124】(93)金属ピンとの動摩擦係数(μd) 固定した硬質クロムメッキ金属ロール(直径6mm)に
フイルムを巻き付け角135°(θ)で接触させ、53
g(T2 )の荷重を一端にかけて、1m/minの速度
でこれを走行させ他端の抵抗力(T1 (g))を測定
し、次式により走行中の摩擦係数(μd)を求めた。 μd=(1/θ)ln(T1 /T2 ) =0.424ln(T1 /53) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.05〜0.5である。
(93) Coefficient of dynamic friction with metal pin (μd) The film was brought into contact with a fixed hard chrome-plated metal roll (diameter 6 mm) at a winding angle of 135 ° (θ), and 53
A load of g (T 2 ) is applied to one end, the load is run at a speed of 1 m / min, the resistance (T 1 (g)) at the other end is measured, and the friction coefficient (μd) during running is calculated by the following formula. It was μd = (1 / θ) ln (T 1 / T 2) = 0.424ln (T 1/53) the preferred range of the present invention the film in this assay is 0.05 to 0.5.

【0125】(94)走行摩擦係数(μk) 温度20℃、湿度60%の環境で、幅1/2インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼SUS304製の固定棒
(外径5mmφ、表面粗さ0.3μm)に角度θ=(1
52/181)πラジアン(152°)で接触させて、
毎分200cmの速さで移動(摩擦)させる。入口テン
ションT1 が35gとなるようにテンションコントロー
ラーを調整した時の出口テンション(T2 :g)をフイ
ルムが90m走行したのちに出口テンション検出機で検
出し、次式で走行摩擦係数μkを算出する。 μk=(2.303/θ)log(T2 /T1 ) =0.868log(T2 /35) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.2〜0.45である。
(94) Running friction coefficient (μk) A film made by cutting the film into 1/2 inch width in an environment of temperature 20 ° C. and humidity 60% has a fixed rod made of stainless steel SUS304 (outer diameter 5 mmφ, surface roughness 0. 3 μm) angle θ = (1
52/181) contact with π radians (152 °),
It is moved (rubbed) at a speed of 200 cm per minute. Outlet tension when the inlet tension T 1 is to adjust the tension controller to a 35 g: a (T 2 g) was detected with the outlet tension detector on after the film has traveled 90m, calculate the traveling friction coefficient μk by: To do. μk = (2.303 / θ) log (T 2 / T 1) = 0.868log (T 2/35) The preferred range of the present invention the film in this assay is 0.2 to 0.45.

【0126】(95)金属に対するフイルムの摩擦係数
(μk) μkの測定は、ヨーロッパ特許出願第066,997号
の第11頁パラグラフ3に記載された方法にしたがい、
次の条件下で行った。 固定ローラの直径 :10mm テープ幅 :2.5cm 移動速度 :5m/min テープ張力 :200g 時間 :20min 温度 :25℃ 相対湿度 :35% 接触面積 :5cm2 ローラーに対する巻き付け角度:205° この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.3以下である。
(95) The coefficient of friction (μk) μk of the film with respect to the metal is measured according to the method described in paragraph 3 of page 11 of European Patent Application No. 066,997.
It was conducted under the following conditions. Diameter of fixed roller: 10 mm Tape width: 2.5 cm Moving speed: 5 m / min Tape tension: 200 g Time: 20 min Temperature: 25 ° C. Relative humidity: 35% Contact area: 5 cm 2 Wrapping angle to the roller: 205 ° In this measurement method The preferred range of the film of the present invention is 0.3 or less.

【0127】(96)摩擦係数(対金属ピン) 背面処理層を有する幅1.0mmのフイルムを直径4m
mの金属固定ピンに巻き付け角90度で接触させ、一端
に21.9gの分銅による荷重をかけ、速度330mm
/分で走行させた。フイルムの巻き取りを20秒間行
い、その後巻き出しを20秒間行い、一行程が40秒間
の走行の50行程後の動摩擦係数を摩擦係数とした。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.
1〜0.4である。
(96) Coefficient of Friction (against metal pin) A film having a width of 1.0 mm and having a back surface treatment layer was prepared to have a diameter of 4 m
It is brought into contact with a metal fixing pin of m at a winding angle of 90 degrees, a load of 21.9 g of weight is applied to one end, and a speed of 330 mm.
I ran at a speed of / minute. The film was wound for 20 seconds and then unwound for 20 seconds, and the dynamic friction coefficient after 50 strokes of one travel for 40 seconds was taken as the friction coefficient. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.
It is 1 to 0.4.

【0128】(97)磁性層側の層の厚さと磁性層の厚
さとの比 本発明フイルムにおいて、磁気記録媒体とするときに
は、磁性層側の層の厚さtB と磁性層の厚さtM との比
B /tM は、0.0002〜30の範囲内にあること
が好ましい。
(97) Ratio of Thickness of Layer on Magnetic Layer Side to Thickness of Magnetic Layer When the film of the present invention is used as a magnetic recording medium, the thickness t B of the layer on the magnetic layer side and the thickness t of the magnetic layer are set. the ratio t B / t M with M is preferably in the range of 0.0002 to 30.

【0129】(98)最表層部の厚さ 二次イオン質量分析装置(SIMS)を用いて、フイル
ム中の粒子の内最も高濃度の粒子に起因する元素とポリ
エステルの炭素元素の濃度比(M+ /C+ )を粒子濃度
とし、ポリエステルA層の表面から深さ(厚さ)方向の
分析を行う。表層では表面という界面のために粒子濃度
は低く、表面から遠ざかるにつれて粒子濃度は高くな
る。本発明フイルムの場合は深さ[I]で一旦極大値と
なった粒子濃度がまた減少し始める。この濃度分布曲線
をもとに極大値の粒子濃度の1/2になる深さ[II]
(ここでII>I)を積層厚さとした。なお、フイルム
中にもっとも多く含有する粒子が有機高分子粒子の場合
は、SIMSでは測定が難しいので、表面からエッチン
グしながらXPS(X線光電子分光法)、IR(赤外線
分光法)あるいはコンフォーカル顕微鏡などで、その粒
子濃度のデプスプロファイルを測定し、上記同様の手法
から積層厚さを求めても良い。さらに上述のデプスプロ
ファイルからではなく、フイルムの断面観察あるいは薄
膜段差測定機等によって求めることができる。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は、最表層部
厚さが0.001μm以上、該厚さと該層の含有粒子の
平均粒径との比が0.01〜100である。
(98) Thickness of Outermost Layer Using a secondary ion mass spectrometer (SIMS), the concentration ratio of the element originating from the highest concentration of particles in the film and the carbon element of polyester (M + / C + ) is used as the particle concentration, and analysis is performed in the depth (thickness) direction from the surface of the polyester A layer. In the surface layer, the particle concentration is low due to the interface of the surface, and the particle concentration increases as the distance from the surface increases. In the case of the film of the present invention, the particle concentration once reaching the maximum value at the depth [I] starts to decrease again. Based on this concentration distribution curve, the depth that becomes 1/2 of the maximum particle concentration [II]
(Here, II> I) was defined as the laminated thickness. If the particles contained in the film most are organic polymer particles, it is difficult to measure by SIMS, so XPS (X-ray photoelectron spectroscopy), IR (infrared spectroscopy) or confocal microscope is used while etching from the surface. It is also possible to measure the depth profile of the particle concentration with a method such as the above, and to obtain the laminated thickness from the same method as above. Further, it can be obtained by observing the cross section of the film or by a thin film step measuring instrument, etc., not from the depth profile described above. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the thickness of the outermost layer is 0.001 μm or more, and the ratio of the thickness to the average particle diameter of the particles contained in the layer is 0.01 to 100.

【0130】(99)最表層積層部厚さと含有粒子との
粒径 最表層積層部厚さtとその層に含有される粒子の粒径d
p との比t/dp は、さらに、0.1〜15が好まし
い。
(99) Thickness of outermost layer laminated portion and particle diameter of contained particles Outermost layer laminated portion thickness t and particle diameter d of particles contained in the layer
the ratio t / d p of the p further preferably from 0.1 to 15.

【0131】(100)他層の厚さと含有粒子の粒径 他の層B層、あるいはさらに他の層C層の厚さtと、そ
の層に含有される粒子の粒径dp の比t/dp は、それ
ぞれ、0.01〜30の範囲内であることが好ましい。
(100) Thickness of Other Layer and Particle Size of Contained Particles Ratio t between thickness t of another layer B layer or further another layer C layer and particle size d p of particles contained in that layer. / D p is preferably in the range of 0.01 to 30, respectively.

【0132】(101)最表層積層厚さ比 最表層積層部の片面の積層厚さt1 と、もう一方の最表
層積層部の積層厚さt2 との比t1 /t2 は0.01〜
10の範囲が好ましい。
(101) Outermost Layer Laminated Thickness Ratio The ratio t 1 / t 2 between the laminated thickness t 1 on one surface of the outermost layer laminated portion and the laminated thickness t 2 of the other outermost layer laminated portion is 0. 01-
A range of 10 is preferred.

【0133】(102)積層割合 フイルム全厚に対する積層部A層の割合は、1〜20%
の範囲にあることが好ましい。
(102) Lamination ratio The ratio of the laminated layer A layer to the total film thickness is 1 to 20%.
It is preferably in the range of.

【0134】(103)フイルム厚さ及び層厚さ フイルム断面を切断し、その断面写真から粗面を構成す
る層(たとえばA層)の厚さを測定した。この測定法に
おける本発明フイルムの好ましい範囲は、フイルム全厚
に対する上記層の厚さの割合が30%以下である。
(103) Film Thickness and Layer Thickness The film cross section was cut, and the thickness of the layer (for example, A layer) constituting the rough surface was measured from the photograph of the cross section. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is that the ratio of the thickness of the above layer to the total thickness of the film is 30% or less.

【0135】(104)ヤング率(その1) 本発明フイルムにおいて好ましいヤング率は、延伸方向
及びその垂直方向ともに450kg/mm2 以上であ
る。
(104) Young's Modulus (1) The Young's modulus of the film of the present invention is preferably 450 kg / mm 2 or more in both the stretching direction and the direction perpendicular thereto.

【0136】(105)ヤング率(その2) フイルムを試料幅10mm、長さ15cmに切り、チャ
ック間100mmにして引張速度10mm/分、チャー
ト速度500mm/分にインストロンタイプの万有引張
試験装置にて引っ張った。得られた荷重−伸び曲線の立
ち上がり部の接線よりヤング率を計算した。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は、ポリエチレ
ンナフタレート(PEN)フイルムについて、長手方向
ヤング率が650kg/mm2 以上、幅方向ヤング率が
550kg/mm2 以上である。
(105) Young's modulus (No. 2) The film was cut into a sample width of 10 mm and a length of 15 cm, the chuck gap was set to 100 mm, the pulling speed was 10 mm / min, and the chart speed was 500 mm / min. I pulled it at. Young's modulus was calculated from the tangent line of the rising portion of the obtained load-elongation curve. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the Young's modulus in the longitudinal direction of the polyethylene naphthalate (PEN) film is 650 kg / mm 2 or more, and the Young's modulus in the width direction is 550 kg / mm 2 or more.

【0137】(106)ヤング率の和と差 上記(105)と同じ測定法にて、フイルム長手方向の
ヤング率(YM )とフイルム幅方向のヤング率(YT
の和(YM +YT )と差(YM −YT )を求めた。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、上記
和が2000kg/mm2 以下、上記差が−600〜6
00kg/mm2 である。
(106) Sum and difference of Young's moduli Young's modulus in the longitudinal direction of the film (Y M ) and Young's modulus in the width direction of the film (Y T ) are measured by the same measuring method as in the above (105).
The sum of (Y M + Y T) and to determine the difference (Y M -Y T). The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is such that the above sum is 2000 kg / mm 2 or less and the above difference is -600 to 6
It is 00 kg / mm 2 .

【0138】(107)ヤング率の差 (株)インテスコ製引張試験機インテスコモデル200
1型を用いて、温度23℃、湿度50%RHに調節され
た室内において、長さ300mm、幅20mmの試料フ
イルムを、10%/minのひずみ速度で引っ張り、引
張応力−ひずみ曲線の初めの直線部分を用いて、次の式
によってヤング率を計算する。 E=Δσ/Δε ここで、E=引張弾性率(kg/mm2 ) Δσ=直線上の2点の元の平均断面積による応力差 Δε=同じ2点間のひずみ差 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
フイルム長手方向ヤング率(YM )とフイルム幅方向の
ヤング率(YT )との差(YM −YT )が−600〜6
00kg/mm2 である。
(107) Young's modulus difference Intesco Model 200 tensile tester manufactured by Intesco Corporation
Using a type 1 sample, a sample film having a length of 300 mm and a width of 20 mm was pulled at a strain rate of 10% / min in a room adjusted to a temperature of 23 ° C. and a humidity of 50% RH, and the initial stress-strain curve was measured. Using the linear part, Young's modulus is calculated by the following formula. E = Δσ / Δε where E = tensile modulus (kg / mm 2 ) Δσ = stress difference due to the original average cross-sectional area of two points on a straight line Δε = strain difference between the same two points The preferred range of the film is
The difference of the film longitudinal Young's modulus (Y M) and the film width direction of the Young's modulus and (Y T) (Y M -Y T) is -600~6
It is 00 kg / mm 2 .

【0139】(108)ヤング率比 本発明フイルムにおいて、フイルム長手方向のヤング率
(YM )とフイルム幅方向のヤング率(YT )との比Y
M /YT が0.3〜3の範囲にあることが好ましい。
(108) Young's Modulus Ratio In the film of the present invention, the ratio Y of the Young's modulus in the film longitudinal direction (Y M ) and the Young's modulus in the film width direction (Y T ).
It is preferred that M / Y T is in the range of 0.3 to 3.

【0140】(109)残留歪み率 真空理工(株)製の熱機械試験機「タイプTH−300
0」を用いて、所定の試験片の両端をチャックで把持し
て所定荷重下で、毎分2℃の昇温速度で25℃から40
℃まで昇温し、そのまま1時間保持した後放冷して25
℃にもどす。温度処理前後の寸法変化をチャートから読
みとり、下式にて残留歪み率を求める。なお5試料につ
き測定し、平均値で絶対値として表示する。 残留歪み率(%)=[((原長)−(処理後長さ))/
原長]×100 但し、試験片長さ(チャック間):15.0mm 試験片幅 :3.8mm 荷 重 :400g/mm2 、900
g/mm2 とする。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は0.01〜0.04%である。
(109) Residual strain rate Thermo-mechanical testing machine "Type TH-300" manufactured by Vacuum Riko Co., Ltd.
0 ”is used to hold both ends of a predetermined test piece with a chuck, and under a predetermined load, at a temperature rising rate of 2 ° C. per minute from 25 ° C. to 40 ° C.
The temperature was raised to ℃, kept for 1 hour and then allowed to cool to 25
Return to ℃. The dimensional change before and after the temperature treatment is read from the chart, and the residual strain rate is calculated by the following formula. In addition, it measures about 5 samples and displays as an average value as an absolute value. Residual strain rate (%) = [((original length)-(length after treatment)) /
Original length] × 100 However, test piece length (between chucks): 15.0 mm Test piece width: 3.8 mm Load: 400 g / mm 2 , 900
g / mm 2 . The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.01 to 0.04%.

【0141】(110)収縮応力と収縮開始温度 (株)インテスコ製引張試験機インテスコモデル200
1型恒温恒湿槽付で下記条件にて測定し、実荷重を断面
積で割り収縮応力とした。 測定温度範囲:室温〜250℃ 昇温速度 :4℃/min サンプル寸法:長さ200mm×幅10mm 上記の手法にて縦方向と横方向について測定し、それぞ
れ縦方向と横方向の収縮応力の温度依存性を求め、収縮
応力が立ち上がる温度を収縮開始温度とした。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は、収縮応力
が100g/mm2 以下、収縮開始温度が80℃以上で
ある。
(110) Shrinkage stress and shrinkage starting temperature Intesco Model 200 tensile tester manufactured by Intesco Co., Ltd.
Measurement was performed under the following conditions with a type 1 constant temperature and humidity chamber, and the actual load was divided by the cross-sectional area to give the shrinkage stress. Measurement temperature range: room temperature to 250 ° C. Temperature rising rate: 4 ° C./min Sample size: length 200 mm × width 10 mm Measured in the vertical direction and the horizontal direction by the above method, and the temperature of the contraction stress in the vertical direction and the horizontal direction, respectively. Dependency was calculated and the temperature at which the contraction stress rises was defined as the contraction start temperature. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that the shrinkage stress is 100 g / mm 2 or less and the shrinkage initiation temperature is 80 ° C. or more.

【0142】(111)破断強度(その1) 東洋ボールドウィン社製テンシロンUTM−II−50
0型を使用し、23℃、65%RHの条件下で測定し
た。ここでいう破断強度とは、引張試験を行った際の試
料破断時の応力の値を試験前の試料の断面積で除した、
単位断面積当りの応力の値を意味する。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は20〜50であ
る。
(111) Breaking Strength (1) Tensilon UTM-II-50 manufactured by Toyo Baldwin Co., Ltd.
It was measured under the conditions of 23 ° C. and 65% RH using a 0 type. The breaking strength referred to here is the value of the stress at the time of breaking the sample when the tensile test is performed divided by the cross-sectional area of the sample before the test,
It means the value of stress per unit area. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 20 to 50.

【0143】(112)破断強度(その2) (株)インテスコ製引張試験機インテスコモデル200
1型を用いて、温度23℃、湿度50%RHに調節され
た室内において、長さ50mm、幅15mmの試料フイ
ルムを200mm/minの速度で引張り、下記式に従
い次の各値を求めた。 引張破断強度 σ=F/A σ=引張破断強度(kg/mm2 ) F=破断時に於ける荷重(kg) A=試験片の元の断面積(mm2 ) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
長手方向及び幅方向の破断強度の和が50〜80kg/
mm2 である。
(112) Breaking Strength (Part 2) Intesco Model 200 Tensile Testing Machine manufactured by Intesco Co., Ltd.
A sample film having a length of 50 mm and a width of 15 mm was pulled at a speed of 200 mm / min in a room adjusted to a temperature of 23 ° C. and a humidity of 50% RH using the type 1 mold, and the following values were obtained according to the following formulas. Tensile breaking strength σ = F / A σ = Tensile breaking strength (kg / mm 2 ) F = Load at break (kg) A = Original cross-sectional area of test piece (mm 2 ) of the film of the present invention in this measuring method The preferred range is
The sum of the breaking strength in the longitudinal and width directions is 50-80 kg /
mm 2 .

【0144】(113)150℃雰囲気下における10
0%伸長時のフイルム強度F100 (kg/mm2 ) (株)インテスコ製恒温槽付引張試験機インテスコ20
01型の恒温槽を150℃に設定し、幅15mmのフイ
ルムをチャック間50mmとなるようにセットして2分
間放置後、引張速度200mm/minで100%伸長
時の強度を測定した。測定は、フイルムの縦及び横方向
について行い、その平均値をF100 とした。なお、10
0%伸長前に破断するフイルムについては、次式に従っ
て換算した。 100%伸長時強度(kg/mm2 )=破断時強度(k
g/mm2 )×(100/破断時伸び(%)) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1
〜5kg/mm2 である。
(113) 10 in 150 ° C. atmosphere
Film strength at 0% elongation F 100 (kg / mm 2 ) Intesco 20 tensile tester with constant temperature chamber Intesco 20
A 01-type constant temperature bath was set at 150 ° C., a film having a width of 15 mm was set so that the gap between chucks was 50 mm, and the film was allowed to stand for 2 minutes. Then, the strength at 100% elongation was measured at a tensile speed of 200 mm / min. The measurement was carried out in the longitudinal and lateral directions of the film, and the average value was defined as F 100 . 10
The film that ruptured before 0% elongation was converted according to the following formula. Strength at 100% elongation (kg / mm 2 ) = strength at break (k
g / mm 2 ) × (100 / elongation at break (%)) The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1
~ 5 kg / mm 2 .

【0145】(114)F5 値(その1) 東洋ボールドウィン社製テンシロンUTM−II−50
0型を使用し、23℃、65%RHの条件下で測定し
た。ここでいうF5 値とは、引張試験を行った際の試料
5%伸長時の単位断面積当りの応力を意味する。F5
は、測定するフイルムを長手方向150mm、幅方向
(長手方向と鉛直をなす方向)10mmの長方形に切
り、チャック間100mmとして引張速度1.00%/
分で引張実験を行い求めた値である。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は10kg/mm2
上である。
(114) F 5 value (1) Tensilon UTM-II-50 manufactured by Toyo Baldwin Co., Ltd.
It was measured under the conditions of 23 ° C. and 65% RH using a 0 type. The F 5 value here means the stress per unit cross-sectional area when the sample is stretched by 5% when a tensile test is performed. F 5 value, cut the film to measure longitudinal 150 mm, the rectangular width direction (longitudinal direction and direction forms a vertical) 10 mm, tension rate 1.00% as between chucks 100 mm /
It is a value obtained by conducting a tensile experiment in minutes. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 10 kg / mm 2 or more.

【0146】(115)F5 値(その2) 5%伸長時の応力で表し、測定はインストロン引張試験
機を用いて行った。二軸延伸フイルムからフイルムの縦
方向の長さ150mm、幅方向の長さ6.25mmのサ
ンプル片を5枚切り出し、引張速度50mm/min、
つかみ間隔及び標点間隔50mmにて引張試験を行っ
た。得られたS−S曲線から5%伸長時の荷重を読み取
り、次式に従ってF5 値を算出し5点の平均値を求め
た。 F5 =5%伸長時の荷重(kg)/試験片断面積(mm
2 ) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は1
0kg/mm2 以上である。
(115) F 5 value (2) Expressed as stress at 5% elongation, the measurement was carried out using an Instron tensile tester. From the biaxially stretched film, five sample pieces having a length of 150 mm in the longitudinal direction of the film and a length of 6.25 mm in the width direction were cut out, and a pulling speed was 50 mm / min.
A tensile test was conducted at a gripping interval and a gauge interval of 50 mm. The load at 5% elongation was read from the obtained S-S curve, the F 5 value was calculated according to the following equation, and the average value of 5 points was obtained. F 5 = load (kg) at 5% elongation / cross-sectional area of test piece (mm
2 ) The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 1
It is 0 kg / mm 2 or more.

【0147】(116)縦延伸後の平均屈折率n アタゴ光学社製アッベ式屈折計を用い、フイルム面内の
屈折率の最大値nγ、それに直角の方向の屈折率nβ、
及びフイルムの厚さ方向の屈折率nαを測定し、次式よ
り平均屈折率を算出した。なお、屈折率の測定は、ナト
リウムD線を用い、23℃で行った。 n=(1/3)(nα+nβ+nγ) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
1.6〜1.7である。
(116) Average Refractive Index n After Longitudinal Stretching Using an Abbe refractometer manufactured by Atago Optical Co., the maximum refractive index nγ in the film plane and the refractive index nβ in the direction perpendicular thereto,
Also, the refractive index nα of the film in the thickness direction was measured, and the average refractive index was calculated from the following equation. The measurement of the refractive index was performed at 23 ° C. using sodium D line. n = (1/3) (nα + nβ + nγ) The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 1.6 to 1.7.

【0148】(117)フイルムの厚み方向の屈折率及
び平均屈折率 アッベの屈折計を用いて、23℃にて測定したナトリウ
ムD線に対する値である。平均屈折率nは厚み方向の屈
折率nα、主配向方向の屈折率をnγ、主配向方向と直
角な方向の屈折率をnβとすると、 n=(1/3)(nα+nβ+nγ) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
厚み方向の屈折率が0.1475〜0.15、平均屈折
率が1.6015〜1.605である。
(117) Refractive index and average refractive index in the thickness direction of the film: These are values for sodium D line measured at 23 ° C. using an Abbe refractometer. The average refractive index n is n = (1/3) (nα + nβ + nγ) in this measurement method, where nα is the refractive index in the thickness direction, nγ is the refractive index in the main alignment direction, and nβ is the refractive index in the direction perpendicular to the main alignment direction. The preferred range of the film of the present invention is
The refractive index in the thickness direction is 0.1475 to 0.15, and the average refractive index is 1.6015 to 1.605.

【0149】(118)複屈折率 フイルムの屈折率の測定は、アタゴ(株)製アッベの屈
折計を使用し、光源には、ナトリウムランプを用いて行
った。フイルム長手方向の屈折率nMD、幅方向の屈折率
TD、厚み方向の屈折率nZを求め、次式に基づき複屈
折率Δnを求めた。 Δn=nMD−nTD この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は−
50〜50である。
(118) Birefringence Index The refraction index of the film was measured using an Abbe refractometer manufactured by Atago Co., Ltd., and a sodium lamp was used as a light source. The refractive index n MD in the longitudinal direction of the film, the refractive index n TD in the width direction, and the refractive index n Z in the thickness direction were obtained, and the birefringence Δn was obtained based on the following equation. Δn = n MD −n TD The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is −
50 to 50.

【0150】(119)平均結晶粒径X100 (Å) [100]面についてX線回折装置を用い、半価巾を求
めて次式から算出した。 X100 (Å)=(0.9×λ)/(Bcosθ) 式中θ=25.7°、λ=2.2896(Å)、B=半
価巾(ラジアン)で2θ=33°と2θ=19°の散乱
強度を示す点の間を結ぶ直線をベースラインとした。な
お、平均結晶粒径X100 (Å)は、フイルム厚さ方向の
結晶サイズを示す。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は45〜58Åである。
(119) Average crystal grain size X 100 (Å) Half-width was calculated from the following formula using an X-ray diffractometer for the [100] plane. X 100 (Å) = (0.9 × λ) / (B cos θ) where θ = 25.7 °, λ = 2.2896 (Å), B = half width (radian) 2θ = 33 ° and 2θ A straight line connecting points showing a scattering intensity of = 19 ° was used as a baseline. The average crystal grain size X 100 (Å) indicates the crystal size in the film thickness direction. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 45 to 58Å.

【0151】(120)接着性(スルホン酸金属塩基含
有ジカルボン酸濃度) 接着性を評価するために、全ジカルボン酸成分に対する
スルホン酸金属塩基含有ジカルボン酸の濃度を測定し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は0.5〜15モル%である。
(120) Adhesion (Concentration of metal sulfonate-containing dicarboxylic acid) In order to evaluate the adhesiveness, the concentration of the metal sulfonate-containing dicarboxylic acid relative to all dicarboxylic acid components was measured. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 15 mol%.

【0152】(121)プライマー層のガラス転移温度
(Tg) 本発明フイルムを磁気テープ用のベースフイルムとして
用い、磁性層の接着性を向上するためにプライマー層を
設ける場合、そのプライマー層(例えば、エステル・ア
クリルコポリマー)のTgを測定した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は10℃以上であ
る。
(121) Glass transition temperature (Tg) of primer layer When the film of the present invention is used as a base film for a magnetic tape and a primer layer is provided to improve the adhesiveness of the magnetic layer, the primer layer (for example, Tg of ester / acrylic copolymer) was measured. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 10 ° C. or higher.

【0153】(122)帯電防止性(帯電圧半減期) 宍戸商会製のスタチックオネストメーターを用い、20
℃、65%RH、40%RH及び30%RHにおける帯
電圧の半減期の値で示した。なお、付与電圧は10KV
であり、試料の上15mmの距離より行った。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は3〜7秒で
ある。
(122) Antistatic property (charge voltage half-life) A static Honest meter manufactured by Shishido Shokai was used.
The half-life of the charged voltage at 65 ° C, 65% RH, 40% RH and 30% RH is shown. The applied voltage is 10 KV
It was carried out from a distance of 15 mm above the sample. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 3 to 7 seconds.

【0154】(123)電荷減衰性 宍戸商会製のスタチックオネストメーター(商品名)を
用い、23℃、50%RHの雰囲気下で試料上2cmの
高さにある放電電極に10KVの電圧をかけ、フイルム
に帯電させ、帯電量が飽和した後に放電を中止する。そ
の後、試料上2cmの位置にある電位計で試料の電荷減
衰性を測定し、その半減期で判定した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は0〜20秒であ
る。
(123) Charge Attenuation Property Using a static Honest meter (trade name) manufactured by Shishido Shokai, a voltage of 10 KV was applied to a discharge electrode 2 cm above the sample in an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH. , Charge the film and stop the discharge after the charge amount is saturated. After that, the charge decay property of the sample was measured with an electrometer located 2 cm above the sample, and the half-life was used for the determination. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0 to 20 seconds.

【0155】(124)表面固有抵抗 横河・ヒューレット・パッカード社の内側電極50mm
径、外側電極70mm径の同心円型電極である1600
8A(商品名)を23℃、50%RHの雰囲気下で試料
に設置し、100Vの電圧を印加し、同社の高抵抗計で
ある4329A(商品名)で試料の表面固有抵抗を測定
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は1.00×10〜1.00×1012である。
(124) Surface resistivity Inner electrode of Yokogawa / Hewlett-Packard Company 50 mm
Diameter, outer electrode 70mm diameter 1600 which is a concentric circular electrode
8A (trade name) was placed on the sample in an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH, a voltage of 100 V was applied, and the surface resistivity of the sample was measured by 4329A (trade name), a high resistance meter of the same company. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1.00 × 10 to 1.00 × 10 12 .

【0156】(125)表面固有抵抗(表面比抵抗) サンプルを23℃×50%RHの雰囲気下に24Hrs
放置した後、振動容量型電位差測定器TR−84H型
(タケダ理研社製)で測定した。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は1×1010〜1×1016
Ω/□である。
(125) Surface Specific Resistance (Surface Specific Resistance) The sample was placed under an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH for 24 hours.
After standing, it was measured with a vibration capacitance type potentiometer TR-84H type (manufactured by Takeda Riken). The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 1 × 10 10 to 1 × 10 16.
Ω / □.

【0157】(126)延伸後塗工重量 被覆ポリエステル(20×20cm)よりなるシート状
試料片5枚の重量を測定し、その後各試料片表面の被覆
樹脂を溶剤できれいに拭き取る。その後、溶剤を揮発除
去してからもう一度重量を測定し、拭き取り前後の重量
差を塗工重量とする。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は0.005〜0.2g/m2 であ
る。
(126) Coating weight after stretching The weight of five sheet-shaped sample pieces made of coated polyester (20 × 20 cm) was measured, and then the coating resin on the surface of each sample piece was wiped off cleanly with a solvent. Then, the solvent is volatilized and removed, the weight is measured again, and the difference in weight before and after the wiping is taken as the coating weight. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.005 to 0.2 g / m 2 .

【0158】(127)極限粘度 ポリマーチップ又はフイルム1gをフェノール/テトラ
クロルエタン(50/50重量比)混合溶媒100ml
に溶解し、30.0℃で測定した。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は0.4〜1ポイズであ
る。
(127) Intrinsic Viscosity 1 g of polymer chip or film was mixed with 100 ml of phenol / tetrachloroethane (50/50 weight ratio) mixed solvent.
And was measured at 30.0 ° C. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.4 to 1 poise.

【0159】(128)固有粘度[η] o−クロロフェノールを溶媒として用い、35℃で測定
した値、単位は100cc/gである。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は0.5〜1であ
る。
(128) Intrinsic viscosity [η] A value measured at 35 ° C. using o-chlorophenol as a solvent, the unit is 100 cc / g. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 1.

【0160】(129)密度ρ 本発明フイルムにおける密度ρの好ましい範囲は0.5
〜2g/cm3 である。
(129) Density ρ The preferable range of the density ρ in the film of the present invention is 0.5.
Is a ~2g / cm 3.

【0161】(130)赤外線吸光度 フイルムの975cm-1及び795cm-1の赤外線吸収
ピークの強度比Aと比重Bから下式を使って求めた値C
をもって評価する。 C=(35.3・B−47.1)/A この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.51以上である。但し、975cm-1及び795c
-1の赤外線吸収ピークの強度比の測定はSchald
tの方法(Journal of Polymer S
cience, Part A.1.1271(19
3))に従った。PERKIN ELMER社製983
型赤外線分光装置を用いて、975cm-1の吸収強度A
975 ,795cm-1の吸収強度A795 を各々求め、A
975 /A795 を強度比とした。
(130) Infrared Absorbance A value C obtained from the intensity ratio A and the specific gravity B of the infrared absorption peaks of the film at 975 cm -1 and 795 cm -1 by the following formula.
To evaluate. C = (35.3 · B-47.1) / A The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.51 or more. However, 975 cm -1 and 795c
The intensity ratio of the infrared absorption peak of m -1 was measured by Schald.
Method of t (Journal of Polymer S
science, Part A. 1.11271 (19
3)) was followed. 983 made by PERKIN ELMER
Absorption intensity A at 975 cm -1 by using infrared infrared spectrometer
The absorption intensities A 795 at 975 and 795 cm -1 were obtained, and A
The strength ratio was 975 / A 795 .

【0162】(131)ロジン−ラムラー線図における
n値 本発明フイルムにおいては、ロジン−ラムラー(Ros
in−Rammler)線図のn値が、1以上であるこ
とが好ましい。
(131) n Value in Rosin-Rammler Diagram In the film of the present invention, Rosin-Rammler (Ros)
The n value in the (in-Rammler) diagram is preferably 1 or more.

【0163】(132)紫外線に対する蛍光強度 360nmの紫外線に対する蛍光強度を、日立蛍光分光
強度計(MPF−2A型)を用いて、次の方法で測定し
たものである。 (a) 得られたポリエステルをプレート状に成形して
360nmの紫外線を照射し蛍光スペクトルを測定す
る。次いで測定チャート紙の380〜600nmの蛍光
強度曲線とベースラインに挟まれた部分の面積(A1
を求める。 (b) 標準としてアルミプレートを用い(a)同様に
して、測定チャート紙の380〜600nmの蛍光強度
曲線とベースラインに挟まれた部分の面積(A2 )を求
める。 (c) (a)(b)で求めたA1 、A2 を用いて次式
で蛍光強度を計算する。 蛍光強度=A1 /A2 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
0.1〜1.0である。
(132) Fluorescence Intensity to Ultraviolet Rays Fluorescence intensity to ultraviolet rays of 360 nm was measured by the following method using a Hitachi fluorescence spectrophotometer (MPF-2A type). (A) The obtained polyester is molded into a plate and irradiated with ultraviolet rays of 360 nm to measure the fluorescence spectrum. Then, the area (A 1 ) of the portion between the fluorescence intensity curve of 380 to 600 nm and the baseline on the measurement chart paper
Ask for. (B) Using an aluminum plate as a standard, in the same manner as in (a), the area (A 2 ) of the portion sandwiched between the fluorescence intensity curve of 380 to 600 nm and the baseline of the measurement chart paper is obtained. (C) Using A 1 and A 2 obtained in (a) and (b), the fluorescence intensity is calculated by the following formula. Fluorescence intensity = A 1 / A 2 The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.1 to 1.0.

【0164】(133)オリゴマー量 フイルムを約5mm×3cmの細片とし、ソックスレー
抽出器を用いクロロホルムで24時間抽出し、得られた
オリゴマーの元のフイルムに対する重量を算出した。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.
1〜3重量%である。
(133) Amount of Oligomer The film was made into strips of about 5 mm × 3 cm, extracted with chloroform using a Soxhlet extractor for 24 hours, and the weight of the obtained oligomer with respect to the original film was calculated. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.
It is 1 to 3% by weight.

【0165】(134)ヘーズ JIS−K674に準じ、積分球式HTRメーターによ
りフイルムヘーズを求める。この測定法における本発明
フイルムの好ましい範囲は0.5〜20である。
(134) Haze According to JIS-K674, the film haze is determined by an integrating sphere type HTR meter. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.5 to 20.

【0166】(135)フイルム中のボイド観察 フイルム表面を偏光顕微鏡で観察した不活性粒子の周り
のボイド面積の全視野に対する比を画像処理装置で定量
し、%で示した。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は0.25%以下である。
(135) Observation of Voids in Film The ratio of the void area around the inactive particles observed on the film surface with a polarizing microscope to the total visual field was quantified by an image processing apparatus and shown in%. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.25% or less.

【0167】(136)ボイド比 試料フイルム小片を走査型電子顕微鏡用試料台に固定
し、日本電子(株)製スパッタリング装置(JFC−1
100型イオンパッターリング装置)を用いて、フイル
ム表面を下記条件にてイオンエッチング処理を施す。ベ
ンジャー内に上記試料台を設置し、約10-3Torrの
真空状態まで真空度を上げ電圧0.25kV、電流1
2.5mAにて約10分間イオンエッチングを実施す
る。更に同装置にてフイルム表面に金スパッターを施
し、約200Å程度の金薄膜層を形成し、走査型電子顕
微鏡を用いて、例えば1万〜3万倍の倍率にて測定を行
う。なお、ボイドは粒径0.2μm以上の滑剤にてのみ
測定を行う。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は1.1〜2である。
(136) Void ratio A sample film piece was fixed on a sample stage for a scanning electron microscope, and a sputtering device (JFC-1) manufactured by JEOL Ltd. was used.
The surface of the film is subjected to ion etching treatment under the following conditions using a 100 type ion puttering device). The sample stage is installed in the venger, the vacuum degree is raised to a vacuum state of about 10 -3 Torr, the voltage is 0.25 kV, and the current is 1
Ion etching is performed at 2.5 mA for about 10 minutes. Further, gold sputtering is applied to the film surface by the same apparatus to form a gold thin film layer of about 200 Å, and the measurement is performed with a scanning electron microscope at a magnification of 10,000 to 30,000 times, for example. The voids are measured only with a lubricant having a particle size of 0.2 μm or more. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 1.1 to 2.

【0168】(137)テープ引き抜き係数F シェアー式スリッター〔西村製作所(株)製RT型〕を
用いて3/20インチのマイクロスリットを施したテー
プを、巻取装置を用いて巻き取り速度10m/分、巻き
張力30gの条件にてパンケーキ(巻き幅5cm)に巻
き取る。このパンケーキを垂直にしてハブ(巻芯)を固
定し、パンケーキ最外層からテープを鉛直にたらし、こ
のテープ端をロードセルに固定し、ロードセルを鉛直方
向に2mm/秒の速度で移動させて、テープを引き抜
く。ロードセルの張力が急激に大きくなったらロードセ
ルを停止し、チャート上から引き抜き張力として、平均
張力(g/テープ巾)を読み取り、またテープ引き抜き
長はテープを実測する。N=5の測定値の平均値をテー
プ引き抜き係数(F)とる。 F=[テープを引き抜いた平均張力(g/テープ巾(m
m)/引き抜いたテープ長(mm)]×100 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は3
〜15である。
(137) Tape pull-out coefficient F A tape having a 3/20 inch micro slit formed by using a shear type slitter (RT type manufactured by Nishimura Seisakusho Co., Ltd.) was wound at a winding speed of 10 m / It is wound on a pancake (rolling width 5 cm) under the condition that the winding tension is 30 g. The pancake is set vertically, the hub (core) is fixed, the tape is laid vertically from the outermost layer of the pancake, the tape end is fixed to the load cell, and the load cell is moved vertically at a speed of 2 mm / sec. And pull out the tape. When the tension of the load cell suddenly increases, stop the load cell, read the average tension (g / tape width) from the chart as the pull-out tension, and measure the tape pull-out length of the tape. The tape pull-out coefficient (F) is taken as the average value of the measured values of N = 5. F = [Average tension when the tape is pulled out (g / tape width (m
m) / pulled out tape length (mm)] × 100 The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 3
~ 15.

【0169】(138)塗膜強度 フイルム上に塗布層を設けた場合のパラメータであり、
新東科学社製の表面性測定機であるHEIDON−14
(商品名)を用い、0.25mm径のサファイヤ針に荷
重をかけ、引掻速度100mm/minで測定した。塗
布層が基体のポリエステルフイルムから剥離する荷重を
引掻試験後のフイルムの顕微鏡による表面写真から判定
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は40〜100gである。
(138) Coating strength This is a parameter when a coating layer is provided on the film,
HEIDON-14, a surface quality measuring instrument manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd.
(Trade name) was used, a load was applied to a sapphire needle having a diameter of 0.25 mm, and the scratch rate was measured at 100 mm / min. The load at which the coating layer was peeled off from the polyester film of the substrate was judged from the microscopic surface photograph of the film after the scratch test. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 40 to 100 g.

【0170】(139)小角光散乱のピーク数 通常の小角光散乱測定装置を用いた(例えば、T.Ha
shimoto、 S.Ebisu、 N.Inab
a、 H.Kawai、 Polym.J.,13,7
01(1981)参照)。光源には、He−Neガスレ
ーザー(波長;6328Å、出力;24mW)を用い
た。偏光子と検光子との間にフイルムを置き、フイルム
の光軸方向と偏光方向とを一致させた。そして、検光子
の偏光方向と垂直に偏光子の偏光方向をセットしたとき
に得られるパターン(Hvパターン)にて、散乱光が2
°の位置の散乱強度の全周方向の分布を測定した。得ら
れた散乱強度分布のうち、最大ピークの高さの10%以
上の高さを有するピークをピークとして認め、その個数
を散乱強度分布のピーク数とした。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は4以下である。
(139) Peak number of small-angle light scattering An ordinary small-angle light scattering measuring device was used (for example, T. Ha.
shimoto, S.M. Ebisu, N .; Inab
a. Kawai, Polym. J. , 13, 7
01 (1981)). A He-Ne gas laser (wavelength: 6328Å, output: 24 mW) was used as a light source. A film was placed between the polarizer and the analyzer, and the optical axis direction of the film and the polarization direction were matched. In the pattern (Hv pattern) obtained when the polarization direction of the polarizer is set to be perpendicular to the polarization direction of the analyzer, scattered light is 2
The distribution of the scattering intensity in the circumferential direction was measured at the position of °. In the obtained scattering intensity distribution, peaks having a height of 10% or more of the maximum peak height were recognized as peaks, and the number thereof was defined as the number of peaks in the scattering intensity distribution. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 4 or less.

【0171】(140)厚さ斑 安立電気社製連続フイルム厚さ測定器(電子マイクロメ
ーター使用)により、二軸延伸フイルムの縦方向に沿っ
て測定し、(5m長さについて)次式より算出した。 厚さ斑=[(フイルム最大厚さ−フイルム最小厚さ)/
フイルム平均厚さ]×100 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0
〜5%(膜厚14〜20μm)である。
(140) Thickness unevenness The film thickness was measured along the machine direction of the biaxially stretched film with a continuous film thickness measuring device (using an electronic micrometer) manufactured by Anritsu Electric Co., and calculated from the following formula (for a length of 5 m). did. Thickness variation = [(maximum film thickness-minimum film thickness) /
Film average thickness] × 100 The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.
˜5% (film thickness 14 to 20 μm).

【0172】(141)フイルムの平面性 フイルムの縦方向1000m毎の10ヶ所の各々につい
て、横方向10cm毎に10点、合計100点のフイル
ム厚みを測定する。フイルム厚みの測定は安立電子製電
子マイクロメーターを用いて行い、該当する箇所の周辺
のフイルムを10枚重ねて測定し、1枚当りに換算す
る。すべての測定値のうち、最大値をXmax 、最小値を
Xmin 、相加平均値をXave とするとき、(Xmax −X
min )/Xave をフイルムの厚み斑とするが、この値は
小さいほど好ましい。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は0.15以下である。
(141) Planarity of Film The film thickness is measured at 10 points every 1000 cm in the vertical direction, 10 points at every 10 cm in the horizontal direction, for a total of 100 points. The film thickness is measured by using an electronic micrometer manufactured by Anritsu Electronics Co., Ltd., and 10 films around the pertinent place are overlaid and measured, and converted into 1 film. Of all the measured values, when the maximum value is Xmax, the minimum value is Xmin, and the arithmetic mean value is Xave, (Xmax-X
min) / Xave is the film thickness unevenness, and the smaller this value is, the more preferable. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.15 or less.

【0173】(142)難燃性 アンダーライターラボラトリーズ社発行のプラスチック
材料の燃焼性試験規格UL94の垂直燃焼試験法に準
じ、UL94VTMランクを判定した。また、JISK
−7201規格酸素指数法により極限酸素濃度(LO
I)を測定した。この難燃性を付与するためのアンチモ
ン化合物の含有量及びイミド化合物の含有量を測定し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は、アンチモン化合物含有量が1〜20重量%、イミド
化合物含有量1〜20重量%である。
(142) Flame Retardancy UL94 VTM rank was judged according to the vertical flammability test method of UL94 vertical flammability test standard for plastic materials issued by Underwriter Laboratories. Also, JISK
The limit oxygen concentration (LO
I) was measured. The content of the antimony compound and the content of the imide compound for imparting this flame retardancy were measured. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is an antimony compound content of 1 to 20% by weight and an imide compound content of 1 to 20% by weight.

【0174】(143)有機物フィラー添加量 本発明フイルムにおいて、有機物フィラーの好ましい添
加量は、0.005〜5重量%である。
(143) Addition Amount of Organic Filler In the film of the present invention, the addition amount of the organic filler is preferably 0.005 to 5% by weight.

【0175】(144)有機性窒素 有機性窒素とは、ESCA法によって同定される結合窒
素であって、アミド基、アミノ基及びイミノ基で代表さ
れる。この窒素は、ESCA法で測定される1S 軌道
(N1S)スペクトルの結合エネルギーが398.1〜4
01.1eVの範囲にピークを有するものである。但
し、ポリエステルのC1Sのメインピイーク(ベンゼン環
の炭素に対応)を285.0eVとする。また、有機性
窒素の濃度は、ポリエステルポリマの炭素原子100個
当たりの個数、あるいはその窒素と炭素の個数比(N/
C比)で表される。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0以上である。
(144) Organic Nitrogen Organic nitrogen is a bonded nitrogen identified by the ESCA method and is represented by an amide group, an amino group and an imino group. This nitrogen has a binding energy of 1 S orbital (N 1S ) spectrum measured by the ESCA method of 398.1 to 4
It has a peak in the range of 01.1 eV. However, the main peak of C 1 S of polyester (corresponding to the carbon of the benzene ring) is 285.0 eV. The concentration of organic nitrogen is the number per 100 carbon atoms of the polyester polymer, or the ratio of the number of nitrogen to carbon (N /
C ratio). The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0 or more.

【0176】(145)溶融時の比抵抗 ブリティッシジアーナルオブアプライドフィジックス
(Brit.J.Appl.Phya)第17巻、第1
149〜1154頁(1966年)に記載してある方
法。但し、この場合ポリマーの溶融温度は295℃と
し、直流1,000Vを印加した直後の値を溶融時の比
抵抗とする。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は、1.0×107 〜1.0×1010である。
(145) Specific Resistance upon Melting British British Journal of Applied Physics (Brit. J. Appl. Phya) Vol. 17, No. 1
The method described in pages 149 to 1154 (1966). However, in this case, the melting temperature of the polymer is 295 ° C., and the value immediately after applying a direct current of 1,000 V is the specific resistance at the time of melting. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 1.0 × 10 7 to 1.0 × 10 10 .

【0177】(146)冷却過程結晶化温度 パーキンエルマー社製DSC I−Bで測定した。5〜
7mgの試料を16℃/minで300℃まで昇温し、
300℃で5分間放置後16℃/minで降温してゆ
き、その際の結晶化ピーク温度を値とした。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は180〜21
0℃である。
(146) Cooling process Crystallization temperature It was measured by DSC IB manufactured by Perkin Elmer. 5-
7 mg of sample was heated up to 300 ° C at 16 ° C / min,
After standing at 300 ° C. for 5 minutes, the temperature was lowered at 16 ° C./min, and the crystallization peak temperature at that time was taken as the value. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 180 to 21.
It is 0 ° C.

【0178】(147)全反射ラマン結晶化指数 全反射ラマンスペクトルを測定し、カルボニル基の伸縮
振動である1730cm-1の半価幅をもって表面の全反
射ラマン結晶化指数とした。測定条件は次の通りであ
る。但し、測定深さは表面から500〜1000Å程度
とした。 光源 アルゴンイオンレーザー(5.145Å) 試料のセッティング レーザー偏光方向(S偏光)とフイルム長手方向が平行
となるように、フイルム表面を全反射プリズムに圧着さ
せ、レーザーのプリズムへの入射角(フイルム厚さ方向
との角度)は60°とした。 検出器 PM:RCA31034/Photon Counti
ng System(Hamamatsu C123
0) (supply 1,600V) 測定条件 SLIT 1,000μm LASER 100mW GATE TIME 1.0sec SCAN SPEED 12cm-1/m
in SAMPLING INTERVAL 0.2cm-1 REPEAT TIME 6 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
B層(結晶性ポリエステル)、C層(結晶性ポリエステ
ル)ともに200cm-1以下である。
(147) Total Reflection Raman Crystallization Index The total reflection Raman spectrum was measured and the half-value width of 1730 cm −1 , which is the stretching vibration of the carbonyl group, was used as the surface total reflection Raman crystallization index. The measurement conditions are as follows. However, the measurement depth was about 500 to 1000Å from the surface. Light source Argon ion laser (5.145Å) Sample setting Press the film surface to the total reflection prism so that the laser polarization direction (S polarization) and the film length direction are parallel, and the incident angle of the laser to the prism (film thickness The angle with the depth direction) was set to 60 °. Detector PM: RCA31034 / Photon Counti
ng System (Hamamatsu C123
0) (supply 1,600 V) measurement condition SLIT 1,000 μm LASER 100 mW GATE TIME 1.0 sec SCAN SPEED 12 cm −1 / m
in SAMPLING INTERVAL 0.2 cm -1 REPEAT TIME 6 The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is:
Both the B layer (crystalline polyester) and the C layer (crystalline polyester) are 200 cm -1 or less.

【0179】(148)結晶化促進係数、結晶化パラメ
ータ パーキンエルマー社製のDSC(示差走査熱量計)II
型を用いて測定したポリマの冷結晶化温度Tccとガラ
ス転移点Tgの差(Tcc−Tg)を結晶化パラメータ
ΔTcgと定義し、1重量%の粒子を含有するポリエス
テルのΔTcg(I)、及びこれと同粘度の粒子を含有
しないポリエステルのΔTcg(II)を測定し、ΔT
cg(II)とΔTcg(I)の差[ΔTcg(II)
−ΔTcg(I)]をもって、その粒子の結晶化促進係
数とした。なお、DSCの測定条件は次の通りである。
すなわち、試料10mgをDSC装置にセットし、30
0℃の温度で5分間溶融した後、液体窒素中に急冷す
る。この急冷試料を10℃/分で昇温し、ガラス転移点
Tgを検知する。更に昇温を続け、ガラス状態からの結
晶化発熱ピーク温度をもって冷結晶化温度Tccとし
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は、結晶化パラメータΔTcgが40〜95℃である。
(148) Crystallization acceleration coefficient, crystallization parameter DSC (Differential Scanning Calorimeter) II manufactured by Perkin Elmer Co., Ltd.
The difference between the cold crystallization temperature Tcc of the polymer and the glass transition point Tg (Tcc-Tg) measured using a mold is defined as a crystallization parameter ΔTcg, and ΔTcg (I) of a polyester containing 1% by weight of particles, and The ΔTcg (II) of a polyester not containing particles having the same viscosity as this was measured to obtain ΔT
Difference between cg (II) and ΔTcg (I) [ΔTcg (II)
−ΔTcg (I)] was used as the crystallization acceleration coefficient of the particles. The measurement conditions of DSC are as follows.
That is, 30 mg of the sample was set in the DSC device and
Melt for 5 minutes at a temperature of 0 ° C., then quench in liquid nitrogen. The temperature of this quenched sample is raised at 10 ° C./min, and the glass transition point Tg is detected. The temperature was further raised and the crystallization exothermic peak temperature from the glass state was set as the cold crystallization temperature Tcc. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is a crystallization parameter ΔTcg of 40 to 95 ° C.

【0180】(149)結晶融解熱 島津製作所製のDSC(示差走査熱量計)装置を用い、
ポリマーペレットを窒素気流中、20℃/minの速度
で加熱昇温した場合に得られる結晶融解にともなう吸熱
エネルギーを試料重量で割ることにより求めた。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は10〜2
0cal/gである。
(149) Heat of Crystal Melting Using a DSC (differential scanning calorimeter) device manufactured by Shimadzu Corporation,
It was determined by dividing the endothermic energy due to crystal melting obtained when the polymer pellet was heated and heated at a rate of 20 ° C./min in a nitrogen stream by the sample weight. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 10 to 2
It is 0 cal / g.

【0181】(150)融点 Perkin−Elmer社製示差走査熱量計Mode
l DSC−2型を用い、5mgの試料を20℃/分の
昇温速度で280℃まで昇温し、5分保持した後、同速
度で冷却し、再度昇温した時の、いわゆるセカンドラン
の融解曲線を取る。この曲線の最も高いピーク点を融点
とする。積層部、基層部について上記融点を求める。
(150) Melting point Differential scanning calorimeter Mode manufactured by Perkin-Elmer
1 DSC-2 type was used to heat a 5 mg sample at a heating rate of 20 ° C./min to 280 ° C., hold for 5 minutes, cool at the same rate, and then raise the temperature again, so-called second run. Take the melting curve of. The highest peak point of this curve is the melting point. The melting points of the laminated portion and the base layer portion are obtained.

【0182】(151)固着性(ブロッキング性) ポリエステルフイルムの塗布層面と非塗布層面、あるい
は塗布層面と塗布層面を恒温恒湿槽で40℃、80%R
Hで1時間調湿後に重ね、プレスで10kg/cm2
荷重をかけ、恒温恒湿槽中で20時間処理した幅20c
mのフイルムをASTM−D−1893のピアノ線で剥
離する方法に準じて測定した。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は50〜500gである。
(151) Fixing property (blocking property) The coated layer surface and the non-coated layer surface of the polyester film or the coated layer surface and the coated layer surface of the polyester film are kept at 40 ° C. and 80% R in a thermo-hygrostat.
After being conditioned for 1 hour with H, the layers were piled up, a load of 10 kg / cm 2 was applied by a press, and a width of 20 c was obtained by treating in a thermo-hygrostat for 20 hours.
The film of m was measured according to the method of peeling with a piano wire of ASTM-D-1893. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 50 to 500 g.

【0183】(152)フイルムの光沢度(Gs) 日本電色工業(株)製VGS−1001DP型光沢度計
を用いて、60度鏡面光沢度Gs(60°)をJIS−
Z8741に準じて測定した。すなわち入射角、反射角
60度における黒色標準板の反射率を基準に、試料の反
射率を求め光沢度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は、平滑面のGsが0〜250、
粗面のGsが0〜200である。
(152) Gloss of Film (Gs) Using a VGS-1001DP type gloss meter manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., a 60-degree specular gloss Gs (60 °) was measured according to JIS-
It measured according to Z8741. That is, the reflectance of the sample was calculated based on the reflectance of the black standard plate at the incident angle and the reflection angle of 60 degrees, and was used as the glossiness. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is that Gs of the smooth surface is 0 to 250,
Gs of the rough surface is 0 to 200.

【0184】(153)光透過率 島津マルチパーパス自記分光光度計(MPS−500
0)を用い、フイルム(厚み15μm)の波長900n
mにおける光線透過率を測定する。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は60〜95%である。
(153) Light Transmittance Shimadzu Multipurpose Autograph Spectrophotometer (MPS-500)
0), the wavelength of the film (thickness 15 μm) is 900 n
The light transmittance at m is measured. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 60 to 95%.

【0185】(154)分散剤の含有 本発明フイルムにおいては、ポリエステルと相容性であ
って融点が200℃未満の分散剤を0.001〜10重
量%含有させることができる。
(154) Inclusion of Dispersant In the film of the present invention, 0.001 to 10% by weight of a dispersant compatible with polyester and having a melting point of less than 200 ° C. can be contained.

【0186】(155)変形度 フイルム小片をエポキシ樹脂にて固定成形した後、ミク
ロトームで切断し、フイルムの長手方向の断面を観察し
た。フイルム表面から5μm以内に存在する粒子につ
き、粒子毎に最大径と最小径を求めその比を算出した。
少なくとも100個の粒子についてこの値を求め、その
相加平均を変形度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は0.12〜50である。
(155) Degree of Deformation A small piece of film was fixed and molded with an epoxy resin and then cut with a microtome, and the cross section in the longitudinal direction of the film was observed. With respect to the particles existing within 5 μm from the film surface, the maximum diameter and the minimum diameter were obtained for each particle and the ratio thereof was calculated.
This value was obtained for at least 100 particles, and the arithmetic mean was taken as the degree of deformation. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.12 to 50.

【0187】(156)巻取ロールのフイルム層間空気
層の割合 一定長巻き取ったロールフイルムのロール径Dを実測
し、一方、フイルム厚みと長さとから計算して(空気層
は介在していない)ロール径D0 を求め、この計算値と
実測値とを用いて次式から求める。 空気層の割合=[(D−D0 )/D0 ]×100(%) この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は2
〜4%である。
(156) Ratio of air layer between film layers of take-up roll The roll diameter D of the roll film wound for a certain length was measured, and calculated from the film thickness and length (no air layer was present). ) The roll diameter D 0 is obtained, and the calculated value and the actually measured value are used to obtain the following equation. Air layer ratio = [(D−D 0 ) / D 0 ] × 100 (%) The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 2
~ 4%.

【0188】(157)巻取ロールの巻硬度 巻硬度の測定はJIS−K−K6301に規定された硬
度測定によるゴム硬度計を使用して測定した。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は75〜95
度である。
(157) Rolling Hardness of Winding Roll The winding hardness was measured by using a rubber hardness meter according to the hardness measurement specified in JIS-K-K6301. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 75 to 95.
It is degree.

【0189】(158)空気抜け速度比 台盤の上面に円形の穴を設け、該穴の外周側に溝孔を形
成して該溝孔と前記穴を連通路を介して連通させる。そ
して溝孔に吸引口を穿設して該吸引口にパイプを介して
真空ポンプを接続する。この様に構成した台盤の穴内に
直径70mmのガラス平板を固定し、その上にガラス平
板を覆う大きさの供試フイルムを重ね合わせ、その外周
側を粘着テープで台盤の上面に固定して密封する。この
状態で真空ポンプを駆動し、ガラス平板の外周側に干渉
縞が出現してからガラス平板の全面に干渉縞が広がり、
その動きが止まるまでの時間(秒)を測定し、この時間
をもって空気抜け速さとする。上記空気抜け速さの測定
において、ガラス平板の外周部に干渉縞が出現してから
20秒後に写真撮影し、その楕円状リングの縦方向の径
(lMD)と横方向の径(lTD)を測定し、lMDとlTD
比の逆数(lMD/lTD-1を空気抜け速度比とする。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.
4〜0.6である。
(158) Air Evacuation Rate Ratio A circular hole is provided on the upper surface of the pedestal, and a groove hole is formed on the outer peripheral side of the hole so that the groove hole and the hole communicate with each other through a communication passage. Then, a suction port is formed in the groove and a vacuum pump is connected to the suction port via a pipe. A glass flat plate with a diameter of 70 mm is fixed in the hole of the base thus constructed, a test film of a size that covers the glass flat is stacked on it, and the outer peripheral side is fixed to the upper surface of the base with adhesive tape. And seal. In this state, the vacuum pump is driven, interference fringes appear on the outer peripheral side of the glass flat plate, and then spread over the entire surface of the glass flat plate.
Measure the time (seconds) until the movement stops, and use this time as the air escape rate. In the measurement of the air bleeding speed, a photograph was taken 20 seconds after the appearance of the interference fringes on the outer peripheral portion of the glass flat plate, and a photograph was taken to show the longitudinal diameter (l MD ) and the lateral diameter (l TD ) Is measured, and the reciprocal of the ratio of l MD and l TD (l MD / l TD ) -1 is defined as the air bleeding speed ratio. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is 0.
It is 4 to 0.6.

【0190】(159)含水率 フイルムの吸湿状態(含水率)は、乾燥前後の重量の測
定によって正確に計測できる。その測定における乾燥条
件は、例えば105〜180℃程度で数時間乾燥空気中
に放置すればよい。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は0.2〜0.7%である。
(159) Water Content The moisture absorption state (water content) of the film can be accurately measured by measuring the weight before and after drying. Drying conditions in the measurement may be, for example, about 105 to 180 ° C. and left in dry air for several hours. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 to 0.7%.

【0191】(160)突起の基部径 本発明フイルムにおいては、フイルム表面の突起の基部
径は0.1〜1.8μmの範囲にあることが好ましい。
(160) Base Diameter of Protrusions In the film of the present invention, the base diameter of the protrusions on the film surface is preferably in the range of 0.1 to 1.8 μm.

【0192】(161)裁断適性指標(Z)、裁断適性
結晶指標(Y) 裁断適性指標(Z)は下記式(1) Z=383.3−2.76A−2000B+840Δn (1) (式中、Aはヘイズ値であり、Bは面配向係数であっ
て、B=((nMD+nTD)/2)−nZD(nMDは長手方
向屈折率、nTDは幅方向屈折率、nZDは厚み方向屈折率
である)で示され、ΔnはΔn=nMD−nTDで示される
屈折率の差である)で求められる値である。裁断適性結
晶指標(Y)は下記式(2) Y=−6.36−28.4x1 +0.254xC −26Δn (2) (式中、x1 はX線回折(110)面ピーク強度I(1
10)とX線回折(100)面ピーク強度I(100)
との比I(110)/I(100)であり、XC は結晶
子サイズであり、Δnは(1)式において示すものと同
じである)で求められる値である。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は、Yが−30〜−5、
Zが−15〜10である。
(161) Cutting suitability index (Z), Cutting suitability crystallographic index (Y) The cutting suitability index (Z) is expressed by the following formula (1) Z = 383.3-2.76A-2000B + 840Δn (1) (wherein A is a haze value, B is a plane orientation coefficient, and B = ((n MD + n TD ) / 2) −n ZD (n MD is a longitudinal direction refractive index, n TD is a width direction refractive index, n ZD Is a refractive index in the thickness direction), and Δn is a difference in refractive index represented by Δn = n MD −n TD ). Cutting suitability crystal indicator (Y) the following formula (2) Y = -6.36-28.4x 1 + 0.254x C -26Δn (2) ( wherein, x 1 is the X-ray diffraction (110) plane peak intensity I (1
10) and X-ray diffraction (100) plane peak intensity I (100)
Is the ratio I (110) / I (100), X C is the crystallite size, and Δn is the same as that shown in the equation (1). The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is that Y is -30 to -5,
Z is -15 to 10.

【0193】(162)対金属ピン耐スクラッチ性 1/2幅のフイルム表面を直径5mmのステンレス製固
定ピン(表面粗さ0.5S)に角度150°で接触さ
せ、毎分2mの速さで約15cm程度往復移動、摩擦さ
せる(この時、入側テンションT1 を60gとする)。
この操作を繰り返し、往復40回測定後摩擦面に生じた
スクラッチの程度を、下記の基準で目視判定する。 ◎:スクラッチがほとんど発生しない。 ○:スクラッチがわずかに発生する。 △:スクラッチが相当発生する。 ×:スクラッチが全面に発生する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。
(162) Scratch resistance to metal pin: A 1/2 width film surface is brought into contact with a stainless steel fixed pin (surface roughness 0.5S) having a diameter of 5 mm at an angle of 150 °, and at a speed of 2 m / min. Approximately 15 cm is reciprocated and rubbed (at this time, the entrance tension T 1 is set to 60 g).
By repeating this operation, the degree of scratches generated on the friction surface after the measurement of 40 reciprocations is visually judged according to the following criteria. ⊚: Scratch hardly occurs. ○: Scratch is slightly generated. Δ: Scratches are considerably generated. X: Scratches occur on the entire surface. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is ○
That is all.

【0194】(163)対ナイロンロール汚れ フイルムの走行面の削れ性を5段のミニスーパーカレン
ダーを使用して評価する。カレンダーはナイロンロール
とスチールロールの5段カレンダーであり、処理温度は
80℃、フイルムにかかる線圧は200kg/cm、フ
イルムスピードは50m/分で走行させる。走行フイル
ムは全長4000m走行させた時点で、カレンダーのト
ップローラーに付着する汚れでフイルムの削れ性を下記
の基準で評価する。 ◎:ナイロンロールの汚れまったく無し ○:ナイロンロールの汚れほとんど無し ×:ナイロンロールが汚れる ××:ナイロンロールが非常に汚れる この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。
(163) Contamination with Nylon Roll The abrasion resistance of the running surface of the film is evaluated using a 5-stage mini super calender. The calender is a five-stage calender consisting of a nylon roll and a steel roll. The processing temperature is 80 ° C., the linear pressure applied to the film is 200 kg / cm, and the film speed is 50 m / min. When the running film has been run for a total length of 4000 m, the abrasion resistance of the film is evaluated according to the following criteria due to the dirt attached to the top roller of the calendar. ◎: Nylon roll was not soiled at all ○: Nylon roll was barely soiled ×: Nylon roll was soiled XX: Nylon roll was soiled very preferably The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is ○
That is all.

【0195】(164)削れ性、スクラッチ性 フイルム走行摩擦係数を測定する装置において、ステン
レス鋼SUS304製固定棒の代わりにSUS焼結板を
円柱形に曲げた6φの固定棒で表面粗さRaが0.15
μmのもの及び第一精工社製カーボンブラック含有ポリ
アセタールの6φテープガイドを使い、角度を30度と
し毎分300mの速さで入口張力が50g/1/2イン
チとなるようにして200m走行させる。走行後にガイ
ド上に付着した削れ粉及び走行後テープのスクラッチを
評価する。 (削れ粉判定) ◎:削れ粉がまったく見られない ○:うっすらと削れ粉が見られる △:削れ粉の存在が一見して判る ×:削れ粉がひどく付着している (スクラッチ判定) ◎:スクラッチがまったく見られない ○:1〜5本のスクラッチが見られる △:6〜15本のスクラッチが見られる ×:16本以上のスクラッチが見られる この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
削れ性が○以上、スクラッチ性が10本以内である。
(164) Scraping and Scratchability In a device for measuring the running friction coefficient of a film, a 6φ fixing rod formed by bending a SUS sintered plate into a cylindrical shape instead of the stainless steel SUS304 fixing rod has a surface roughness Ra of 0.15
Using a 6φ tape guide with a diameter of μm and a carbon black-containing polyacetal 6φ tape guide manufactured by Daiichi Seiko Co., Ltd., the angle is set to 30 degrees, and the inlet tension is set to 50 g / 1/2 inch at a speed of 300 m / min. The shavings adhering to the guide after running and the scratches of the tape after running are evaluated. (Shavings powder judgment) ◎: Shavings powder is not seen at all ○: A slight amount of shavings powder is seen △: Presence of shavings powder can be seen at a glance ×: Shavings powder is badly adhered (Scratch judgment) ◎: No scratches are observed. O: 1 to 5 scratches are seen. Δ: 6 to 15 scratches are seen. X: 16 or more scratches are seen. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is:
The scraping property is ◯ or more and the scratching property is 10 or less.

【0196】(165)耐摩耗性(その1) 幅12.5mmにスリットしたフイルムを市販の剃刀に
接触させ、60m/分の速度で走行させたとき剃刀に付
着する白粉の量で評価し、次の4段階にランク付けし
た。 ◎:白粉の発生がほとんどない ○:白粉がうっすらと発生 △:白粉の発生が多い ×:白粉の発生が非常に多い この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。
(165) Abrasion resistance (No. 1) A film slit to a width of 12.5 mm was brought into contact with a commercially available razor and evaluated by the amount of white powder adhering to the razor when running at a speed of 60 m / min, The following four ranks were ranked. ⊚: Almost no white powder was generated ◯: White powder was slightly generated Δ: White powder was generated frequently ×: White powder was generated very much The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is ○.
That is all.

【0197】(166)耐摩耗性(その2) テープ摩耗評価機を用い、幅10mmのポリエステルフ
イルムを200mの長さにわたって走行させ、固定ピン
(直径6mm、材質SUS420−J2、仕上げ0.2
S)に付着した摩耗粉の量を目視評価し4ランクに分け
た。なお、フイルムの走行速度は11.4m/分とし、
張力をテンションピックアップで検出し、初期張力を3
00g、フイルムとの巻き付け角θを135°とした。 ランクA:付着がまったく認められない。 ランクB:付着が極く僅か認められるが、実用上は問題
ない。 ランクC:付着量がやや多く、長時間使用すると問題と
なりうる。 ランクD:付着量が多く、実用上使用し難い。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はラ
ンクB以上である。
(166) Abrasion resistance (No. 2) Using a tape abrasion evaluation machine, a polyester film having a width of 10 mm was run for a length of 200 m, and a fixing pin (diameter 6 mm, material SUS420-J2, finish 0.2).
The amount of abrasion powder adhering to S) was visually evaluated and divided into 4 ranks. The traveling speed of the film is 11.4 m / min,
The tension is detected by the tension pickup and the initial tension is set to 3
00g, and the winding angle θ with the film was 135 °. Rank A: No adhesion is observed. Rank B: Very little adhesion is observed, but there is no problem in practical use. Rank C: The amount of adhesion is rather large, which may cause a problem when used for a long time. Rank D: A large amount of adhesion makes it practically difficult to use. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is rank B or higher.

【0198】(167)フイルム表面硬度 15mm×15mmの大きさに切り出した試料をスライ
ドグラス上に固定し、先端の曲率半径50μmのダイヤ
モンド針を10gの荷重で押しつけ、0.2mm/秒の
一定速度で試料の表面を引っ掻き、得られたサンプルに
アルミニウム蒸着を施した後、顕微鏡による観察及び写
真撮影を行い、最終的に400倍の拡大写真から上記引
っ掻きによる筋状痕の幅(μm)を測定する。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は0.2〜3
μmである。
(167) Film surface hardness A sample cut into a size of 15 mm × 15 mm is fixed on a slide glass, and a diamond needle with a radius of curvature of 50 μm is pressed with a load of 10 g at a constant speed of 0.2 mm / sec. Scratch the surface of the sample with aluminum, vapor-deposit the obtained sample, observe with a microscope and take a photograph, and finally measure the width (μm) of the streak due to the scratch from a 400 times enlarged photograph. To do. The preferable range of the film of the present invention in this measuring method is 0.2 to 3
μm.

【0199】(168)耐擦り傷性 幅1/2インチにスリットした磁気テープを硬質クロム
メッキ金属ピン(直径mm、仕上げ3S)に張力50
g、巻き付け角135°、走行速度3m/秒で磁気テー
プのベースフイルム面を1回擦過させる。次に擦過面に
アルミニウムを約1000Å真空蒸着し、傷の量を目視
判定し以下の5ランクに分けた。 ランク1:傷の量が極めて多い。 ランク2:傷の量が多い。 ランク3:傷の量が2と4の中間。 ランク4:傷の量が少ない。 ランク5:傷が付かない。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はラ
ンク4以上である。
(168) Scratch resistance A magnetic tape slit to a width of 1/2 inch is applied to a hard chrome plated metal pin (diameter mm, finishing 3S) with a tension of 50.
g, wrapping angle 135 °, running speed 3 m / sec, the base film surface of the magnetic tape is rubbed once. Next, aluminum was vacuum-deposited on the scraped surface in an amount of about 1000 Å, and the amount of scratches was visually evaluated and divided into the following 5 ranks. Rank 1: The amount of scratches is extremely large. Rank 2: The amount of scratches is large. Rank 3: The amount of scratches is between 2 and 4. Rank 4: The amount of scratches is small. Rank 5: There is no scratch. The preferred range of the film of the present invention in this measuring method is rank 4 or higher.

【0200】[0200]

【実施例】【Example】

実施例1、2 平均粒径の異なる架橋ポリスチレン粒子(実施例1、
0.3μm)、コロイダルシリカに起因するシリカ粒子
(実施例2、0.2μm)を含有するエチレングリコー
ルスラリーを調製し、このエチレングリコールスラリー
を190℃で1.5時間熱処理した後、テレフタル酸ジ
メチルとエステル交換反応後、重縮合し、該粒子を5重
量%含有するポリエチレンテレフタレート(以下PET
と略記する)のペレットを作った。この時、重縮合時間
を調節し固有粘度を0.70とした(熱可塑性樹脂
A)。また、常法によって、平均粒径0.05μmの不
活性粒子を0.1重量%含有する固有粘度0.62のP
ETを製造し、熱可塑性樹脂Bとした。
Examples 1 and 2 Crosslinked polystyrene particles having different average particle sizes (Example 1,
0.3 μm) and silica particles derived from colloidal silica (Example 2, 0.2 μm) were prepared, and the ethylene glycol slurry was heat-treated at 190 ° C. for 1.5 hours and then dimethyl terephthalate. With polyethylene terephthalate (hereinafter PET
Abbreviated). At this time, the polycondensation time was adjusted so that the intrinsic viscosity was 0.70 (thermoplastic resin A). In addition, according to a conventional method, P having an intrinsic viscosity of 0.62 containing 0.1% by weight of inert particles having an average particle diameter of 0.05 μm
ET was produced and designated as thermoplastic resin B.

【0201】これらのポリマをそれぞれ180℃で3時
間減圧乾燥(3Torr)した。熱可塑性樹脂Aを押出
機1に供給し310℃で溶融し、さらに、熱可塑性樹脂
Bを押出機2に供給、280℃で溶融し、これらのポリ
マを合流ブロック(フィードブロック)で合流積層し、
静電印加キャスト法を用いて表面温度30℃のキャステ
ィング・ドラムに巻きつけて冷却固化し、2層構造の未
延伸フイルムを作った。この時、口金スリット間隙/未
延伸フイルム厚さの比を10として未延伸フイルムを作
った。また、それぞれの押出機の吐出量を調節し総厚
さ、熱可塑性樹脂A層の厚さを調節した。この未延伸フ
イルムを温度80℃にて長手方向に4.5倍延伸した。
この延伸は2組ずつのロールの周速差で、4段階で行っ
た。この一軸延伸フイルムをステンタを用いて延伸速度
2000%/分で100℃で幅方向に4.0倍延伸し、
定長下で、200℃にて5秒間熱処理し、総厚さ15μ
m、熱可塑性樹脂A層厚さ0.3μmの二軸配向積層フ
イルムを得た。得られたフイルムは、共に耐スクラッチ
性に優れたものであった。
Each of these polymers was dried under reduced pressure (3 Torr) at 180 ° C. for 3 hours. The thermoplastic resin A is supplied to the extruder 1 and melted at 310 ° C., the thermoplastic resin B is further supplied to the extruder 2 and melted at 280 ° C., and these polymers are combined and laminated by a combination block (feed block). ,
The film was wound around a casting drum having a surface temperature of 30 ° C. and cooled and solidified by using the electrostatically applied casting method to prepare an unstretched film having a two-layer structure. At this time, an unstretched film was prepared with a ratio of the die slit gap / the unstretched film thickness being 10. The total thickness and the thickness of the thermoplastic resin A layer were adjusted by adjusting the discharge rate of each extruder. This unstretched film was stretched 4.5 times in the longitudinal direction at a temperature of 80 ° C.
This stretching was carried out in four stages with the difference in peripheral speed between each pair of rolls. This uniaxially stretched film was stretched 4.0 times in the width direction at 100 ° C. at a stretching rate of 2000% / min using a stenter.
Heat treatment at 200 ℃ for 5 seconds under constant length, total thickness 15μ
m, and a thermoplastic resin A layer having a thickness of 0.3 μm was obtained. The obtained films were both excellent in scratch resistance.

【0202】[0202]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の二軸配向
熱可塑性樹脂フイルムによるときは、A層の厚さ、含有
粒子の含有量およびA層厚さとの関係、B層含有粒子の
平均粒径および含有量を特定したので、とくに耐スクラ
ッチ性に優れたフイルムが得られる。
As described above, in the case of the biaxially oriented thermoplastic resin film of the present invention, the relationship between the thickness of the A layer, the content of the contained particles and the A layer thickness, the average of the B layer contained particles is obtained. Since the particle size and content are specified, a film having excellent scratch resistance can be obtained.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 5/704 // B29K 67:00 105:16 B29L 9:00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location G11B 5/704 // B29K 67:00 105: 16 B29L 9:00

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 熱可塑性樹脂AからなるA層と熱可塑性
樹脂BからなるB層との積層構成を有し、A層が少なく
とも一方の最外層を構成する積層フイルムであって、前
記少なくとも一方の最外層を構成するA層は、平均粒径
が該A層の厚さの0.1〜10倍の不活性粒子を0.0
01〜50重量%含有し、その層厚さが0.005〜3
μmまたは積層フイルム全厚の10%以下であり、前記
B層は、平均粒径が0.005〜2μmの不活性粒子を
0.001〜1重量%含有していることを特徴とする、
二軸配向熱可塑性樹脂フイルム。
1. A laminated film having a laminated structure of an A layer made of a thermoplastic resin A and a B layer made of a thermoplastic resin B, wherein the A layer constitutes at least one outermost layer, wherein the at least one The A layer constituting the outermost layer of the above-mentioned A layer has an average particle diameter of 0.1 to 10 times the thickness of the A layer, and the amount of the inert particles is 0.0
01 to 50% by weight and its layer thickness is 0.005 to 3
[mu] m or 10% or less of the total thickness of the laminated film, and the B layer contains 0.001 to 1% by weight of inactive particles having an average particle size of 0.005 to 2 [mu] m.
Biaxially oriented thermoplastic resin film.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000238219A (en) * 1999-02-24 2000-09-05 Toyobo Co Ltd Laminated polyamide resin film
JP2001341268A (en) * 2000-03-27 2001-12-11 Fuji Photo Film Co Ltd Laminated polyester film
JP2006003687A (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Toray Ind Inc Biaxially oriented polyester film for releasing polarizing plate
JP2006169468A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Mitsubishi Polyester Film Copp Polyester film for optical use
JP2009008785A (en) * 2007-06-27 2009-01-15 Toyobo Co Ltd Light diffusing film and manufacturing method therefor
JP2009086423A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Toyobo Co Ltd Light diffusion film
JP2012031422A (en) * 2011-09-30 2012-02-16 Dic Corp Flame-retarding pressure-sensitive adhesive, and flame-retarding pressure-sensitive adhesive tape
KR20200012328A (en) * 2018-07-27 2020-02-05 주식회사 엘지화학 Method for evaluating dispersibility of particle in film
JP2020203489A (en) * 2020-08-26 2020-12-24 東レ株式会社 Biaxially oriented polyester film and magnetic recording medium

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000238219A (en) * 1999-02-24 2000-09-05 Toyobo Co Ltd Laminated polyamide resin film
JP2001341268A (en) * 2000-03-27 2001-12-11 Fuji Photo Film Co Ltd Laminated polyester film
JP4669619B2 (en) * 2000-03-27 2011-04-13 富士フイルム株式会社 Laminated polyester film
JP2006003687A (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Toray Ind Inc Biaxially oriented polyester film for releasing polarizing plate
JP2006169468A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Mitsubishi Polyester Film Copp Polyester film for optical use
JP2009008785A (en) * 2007-06-27 2009-01-15 Toyobo Co Ltd Light diffusing film and manufacturing method therefor
JP2009086423A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Toyobo Co Ltd Light diffusion film
JP2012031422A (en) * 2011-09-30 2012-02-16 Dic Corp Flame-retarding pressure-sensitive adhesive, and flame-retarding pressure-sensitive adhesive tape
KR20200012328A (en) * 2018-07-27 2020-02-05 주식회사 엘지화학 Method for evaluating dispersibility of particle in film
JP2020203489A (en) * 2020-08-26 2020-12-24 東レ株式会社 Biaxially oriented polyester film and magnetic recording medium

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