JPH07175725A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

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JPH07175725A
JPH07175725A JP6290397A JP29039794A JPH07175725A JP H07175725 A JPH07175725 A JP H07175725A JP 6290397 A JP6290397 A JP 6290397A JP 29039794 A JP29039794 A JP 29039794A JP H07175725 A JPH07175725 A JP H07175725A
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semiconductor memory
password
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memory
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Yuzo Matsuo
雄三 松尾
Kyogo Suzuki
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Hitachi Maxell Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a compact and inexpensive semiconductor memory device of large capacity which can protect the writing and reading operations of data using a password by means of a simple, compact and inexpensive circuit means, can keep the secrecy of stored data, and can prevent destruction of the stored data. CONSTITUTION:A semiconductor memory device consists of a semiconductor memory 2, a connector part 1 and a memory control part 3. The memory 2 includes a set password address comparing part 5 which has a set password storage area and outputs a coincidence signal to the part 3 when an address signal points the set password storage area, and a password collating part 4 which outputs a coincidence signal to the part 3 when the coincidence is secured between the input and set passwords. Then the part 3 reads out the set password and outputs it to the part 4 after reception of the coincidence signal from the part 5 and also continuously inhibits the accesses to the memory 2 until the coincidence signal is received from the part 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、コンピュ−タ等の補助
記憶装置として使用する半導体記憶装置に係わり、特に
パスワ−ドを使用して、半導体メモリの書込みおよび読
出しを禁止する手段に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device used as an auxiliary memory device such as a computer, and more particularly to means for inhibiting writing and reading of a semiconductor memory by using a password.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンピュータなどの補助記憶装置として
半導体記憶素子を搭載したICカードが使用されてい
る。このICカードにはCPUを搭載したものとメモリ
素子だけを搭載した半導体記憶装置であるメモリカード
がある。
2. Description of the Related Art An IC card equipped with a semiconductor memory element is used as an auxiliary memory device such as a computer. This IC card includes a memory card which is a semiconductor memory device in which a CPU is mounted and only a memory element is mounted.

【0003】メモリカードはコンパクトで記憶容量が大
きいと言うメリットがあるが、メモリカード内のデータ
をだれでも読みだすことができるため、秘密保護の点で
問題があり、まただれでも書き込むことができることか
ら、一旦書き込まれたデータが誤って消去されたり、上
書きされたりする恐れがあった。
A memory card has the advantage of being compact and having a large storage capacity, but since anyone can read the data in the memory card, there is a problem in terms of protection of secrets, and anyone can write it. Therefore, there is a fear that once written data is accidentally erased or overwritten.

【0004】一方、ICカードはカード本体にマイクロ
プロセッサと半導体メモリを内蔵しており、予めパスワ
ードを記憶しておき外部から入力されたデータと一致し
たときのみICカードでのデータの書き込み或いは読み
だしを可能とするものである。
On the other hand, the IC card has a microprocessor and a semiconductor memory built in the card body, and a password is stored in advance and only when the data matches the data inputted from the outside, the writing or reading of the data with the IC card is performed. Is possible.

【0005】そこで、上記メモリカードにおける問題点
を解消するために、メモリカードにマイクロプロセッサ
を搭載してパスワ−ドの照合を行なわせることが可能で
ある。しかし、この場合マイクロプロッセッサはパスワ
−ドの照合しか行なわないため、マイクロプロセッサを
有効に使用しているとは言えず、コストパ−フォ−マン
スが非常に低い。また、一般的にメモリカードは、でき
るだけコンパクトで、しかも記憶容量が大きいことが必
要である。このため、メモリカードにマイクロプロセッ
サを搭載すれば、当然半導体メモリの搭載スペ−スが減
り、コンパクト化、大容量化に対し不利になる。その
上、マイクロプロセッサを搭載すると、これを動作させ
るためのプログラム等を記憶させるための半導体メモリ
も必要になり、さらに不利となる。
Therefore, in order to solve the above problems in the memory card, it is possible to mount a microprocessor on the memory card to perform password verification. However, in this case, since the microprocessor only performs password verification, it cannot be said that the microprocessor is being used effectively, and the cost performance is very low. Further, in general, a memory card is required to be as compact as possible and have a large storage capacity. Therefore, if the microprocessor is mounted on the memory card, the mounting space of the semiconductor memory is naturally reduced, which is disadvantageous for downsizing and increasing the capacity. Moreover, if a microprocessor is mounted, a semiconductor memory for storing a program for operating the microprocessor is also required, which is further disadvantageous.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した従来
技術の欠点に鑑みてなされたものであって、その第1の
目的はマイコンを有しないいわゆるメモリカードにおい
て、内部にマイコンを有するICカードと同様にデータ
保護の機能を持たせることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art. A first object of the present invention is a so-called memory card having no microcomputer, and an IC card having a microcomputer therein. It is intended to have a data protection function as well as.

【0007】また、本発明の第2の目的は、簡単な回路
を付加するだけで、パスワードを使用して、半導体メモ
リの書込みおよび読出しができる半導体記憶装置を提供
することにある。
A second object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of writing and reading to and from a semiconductor memory by using a password only by adding a simple circuit.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、各種データを記憶する半導体メモリと、リ
ーダライタ装置と結合するためのコネクタ部と、前記コ
ネクタ部を介して入力されたリーダライタ装置からの指
示に従って前記半導体メモリ内への書き込みを制御する
メモリ制御部とから構成される半導体記憶装置であっ
て、前記メモリ制御部は前記リーダライタ装置に対し
て、前記半導体メモリに対するデータの読み書きを許可
する許可モードと前記リーダライタ装置に対して前記半
導体メモリに対するデータの読み書きを禁止する禁止モ
ードとを有し、前記半導体メモリにはフラグが記憶さ
れ、前記メモリ制御部は、外部から電力が供給された際
常に禁止モードであり、リーダライタ装置から前記コネ
クタ部を介して前記フラグの読みだし指示が入力され、
かつ、前記フラグが所定値である場合に許可モードに移
行することを要旨とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor memory for storing various data, a connector portion for coupling with a reader / writer device, and input through the connector portion. A semiconductor memory device comprising a memory control unit for controlling writing into the semiconductor memory according to an instruction from the reader / writer device, wherein the memory control unit instructs the reader / writer device to write data to the semiconductor memory. Read / write permission mode and a prohibition mode that prohibits the reader / writer device from reading / writing data from / into the semiconductor memory, a flag is stored in the semiconductor memory, and the memory control unit is externally connected. It is always in the prohibit mode when power is supplied, and the reader / writer device passes the flag through the connector section. Instruction read of is input,
The gist is to shift to the permission mode when the flag has a predetermined value.

【0009】上記目的を達成するために本発明は、各種
データを記憶する半導体メモリと、リーダライタ装置と
結合するためのコネクタ部と、前記コネクタ部を介して
入力されたリーダライタ装置からの指示に従って前記半
導体メモリ内のデータの読みだしおよび前記半導体メモ
リ内へのデータの書き込みを制御するメモリ制御部とか
らなる半導体記憶装置において、前記半導体メモリは設
定パスワードが書き込まれている設定パスワード記憶領
域を有し、前記コネクタ部から入力されたアドレス信号
が設定パスワード記憶領域を指している場合にメモリ制
御部に特定信号を出力する設定パスワードアドレス比較
部と、前記メモリ制御部から出力された設定パスワード
と前記コネクタ部から入力された入力パスワードが一致
した場合前記メモリ制御部へ特定信号を出力するパスワ
ード照合部とを有し、前記メモリ制御部は設定パスワー
ドアドレス比較回路からの特定信号を受けた場合前記半
導体メモリの設定パスワード記憶領域から設定パスワー
ドを読み出しパスワード照合部に出力し、パスワード照
合回路からの特定信号を受けるまで前記半導体メモリへ
のアクセスを禁止することを要旨とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor memory for storing various data, a connector portion for coupling with a reader / writer device, and an instruction from the reader / writer device input through the connector portion. According to a semiconductor memory device comprising a memory control unit for controlling reading of data from the semiconductor memory and writing of data to the semiconductor memory, the semiconductor memory has a setting password storage area in which a setting password is written. A setting password address comparing unit that outputs a specific signal to the memory control unit when the address signal input from the connector unit points to the setting password storage area; and a setting password output from the memory control unit. When the input password entered from the connector section matches, the memo A password collating unit that outputs a specific signal to the control unit, and the memory control unit reads out the set password from the set password storage area of the semiconductor memory when receiving the specific signal from the set password address comparison circuit. The purpose is to prohibit access to the semiconductor memory until a specific signal from the password verification circuit is received.

【0010】[0010]

【作用】このような構成によれば、半導体記憶装置がリ
ーダライタ装置に接続された状態で電源が投入されると
メモリ制御部は半導体メモリへのアクセスが禁止される
禁止モードにあり、リーダライタ装置から半導体メモリ
に記憶されるフラグの読み出し指示が入力され、そのフ
ラグが所定値である場合許可モードに移行し、それ以外
の場合禁止モードが継続する。
According to this structure, when the semiconductor memory device is connected to the reader / writer device and the power is turned on, the memory control section is in the prohibition mode in which access to the semiconductor memory is prohibited. An instruction to read the flag stored in the semiconductor memory is input from the device, and if the flag has a predetermined value, the mode shifts to the permission mode, and otherwise, the prohibition mode continues.

【0011】また、半導体記憶装置がリーダライタ装置
に接続された状態で電源が投入されるとメモリ制御部が
半導体メモリへのアクセスを禁止し、リーダライタ装置
から設定パスワード記憶領域のアドレスと入力パスワー
ドが入力されると、設定パスワードアドレス比較部から
の一致信号に基づきメモリ制御部が半導体メモリから設
定パスワードを読みだし、パスワード照合部に出力し、
パスワード照合部において入力パスワードとの一致を判
定すると、パスワード照合部からの一致信号にもとづき
メモリ制御部が半導体メモリへのアクセス禁止を解除す
る。
When the semiconductor memory device is connected to the reader / writer device and the power is turned on, the memory control unit prohibits access to the semiconductor memory, and the reader / writer device addresses and input passwords in the set password storage area. When is input, the memory control unit reads the set password from the semiconductor memory based on the match signal from the set password address comparison unit and outputs it to the password collation unit.
When the password verification unit determines that the password matches the input password, the memory control unit releases the access prohibition to the semiconductor memory based on the match signal from the password verification unit.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面によって説明す
る。図1は本発明によるメモリカード100の第一の実
施例を示す回路図である。この図は見やすくするため
に、一部の回路は、ブロックで示し、電源、グランド等
は省略している。図1の1はコネクタ部、2は半導体メ
モリ、3はメモリ制御部、4はパスワ−ド照合部、5は
設定パスワードアドレス比較部である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of a memory card 100 according to the present invention. For the sake of clarity, some of the circuits are shown as blocks and the power supply, ground, etc. are omitted. In FIG. 1, 1 is a connector section, 2 is a semiconductor memory, 3 is a memory control section, 4 is a password collating section, and 5 is a set password address comparing section.

【0013】コネクタ部1は、該メモリカード100と
このリ−ダライタ装置200とを結合させるものであ
り、外部からアドレス信号をうける端子1a、デ−タ信
号のやりとりを行う端子1e、書き込み用制御信号をう
ける端子1b、読み出し用制御信号をうける端子1c、
書き込み読み出し用以外の制御信号をうける端子1d等
から成る。尚、本発明を非接触式メモリカードに適用し
た場合、上記端子は、コイル或いは送光・受光手段等か
ら構成される。
The connector section 1 connects the memory card 100 and the reader / writer device 200, and has a terminal 1a for receiving an address signal from the outside, a terminal 1e for exchanging a data signal, and a writing control. A terminal 1b for receiving a signal, a terminal 1c for receiving a read control signal,
It is composed of a terminal 1d and the like which receives control signals other than those for writing and reading. When the present invention is applied to a non-contact type memory card, the above-mentioned terminal is composed of a coil or a light sending / receiving means.

【0014】半導体メモリ2は、揮発性、不揮発性のい
ずれでもよく、また、2aはアドレス信号をうける端
子、2eはデ−タ信号をやりとりする端子、2cは読み
出し用制御信号をうける端子(この説明ではLow信号
で読み出すこととする)、2bは書き込み用制御信号を
うける端子(この説明ではLow信号で書き込むことと
する)である。この半導体メモリ2は、図4に示すよう
に設定パスワ−ドを書き込む設定パスワ−ド記憶領域2
01、データを記憶するデータ記憶領域202から構成
され、設定パスワード記憶領域201には、あらかじめ
設定パスワ−ドが書かれている。
The semiconductor memory 2 may be either volatile or non-volatile, and 2a is a terminal for receiving an address signal, 2e is a terminal for exchanging a data signal, and 2c is a terminal for receiving a read control signal. In the description, a Low signal is used for reading) 2b is a terminal that receives a write control signal (in this description, a Low signal is used for writing). This semiconductor memory 2 has a set password storage area 2 in which the set password is written as shown in FIG.
01, a data storage area 202 for storing data, and a setting password is written in the setting password storage area 201 in advance.

【0015】メモリ制御部3は、外部からの書き込み用
および読み出し用等の制御信号を受けてデ−タ信号の入
出力を制御する入出力制御回路12と、ゲ−ト14〜2
1から構成されている。
The memory control section 3 receives an external control signal for writing and reading and controls an input / output of a data signal, and gates 14-2.
It is composed of 1.

【0016】設定パスワ−ドアドレス比較部5は外部か
ら入力されたアドレスと半導体メモリ2内の設定パスワ
−ド記憶領域201のアドレスとを比較し一致した場合
にLow信号を出力し、一致しない場合にHigh信号
を出力する設定パスワードアドレス比較回路11から構
成される。
The set password address comparison unit 5 compares the address input from the outside with the address of the set password storage area 201 in the semiconductor memory 2 and outputs a Low signal when they match and when they do not match. And a set password address comparison circuit 11 for outputting a High signal.

【0017】設定パスワ−ドアドレス比較回路11の一
実施例を図2にしめす。パスワードアドレス比較回路1
1の入力であるアドレス信号1aはバスであり、その構
成要素を1a(A0),1a(A1)〜1a(Ax)と
する。1a(A0),1a(A1)〜1a(Ax)は、
ORゲート301〜ゲート30xに入力されている。ま
たこの図では設定パスワ−ドアドレスを′00(H)′
番地とし、ORゲ−ト301〜ゲ−ト30xの片方の入
力をGND(グランド)としている。設定パスワ−ドアド
レスが′00(H)′番地以外の時は、これらのゲ−ト
の入力を設定パスワ−ドアドレスに従って変えれば良い
ということは言うまでもない。ゲ−ト311の出力が、
パスワ−ドアドレス比較回路11の出力となる。
An embodiment of the set password address comparison circuit 11 is shown in FIG. Password address comparison circuit 1
The address signal 1a which is an input of 1 is a bus, and its constituent elements are 1a (A0), 1a (A1) to 1a (Ax). 1a (A0), 1a (A1) to 1a (Ax) are
It is input to the OR gates 301 to 30x. Also, in this figure, the set password address is "00 (H)".
An address is used, and one input of the OR gate 301 to the gate 30x is GND (ground). It goes without saying that when the set password address is other than the address "00 (H)", the input of these gates may be changed according to the set password address. The output of the gate 311 is
It becomes the output of the password address comparison circuit 11.

【0018】パスワ−ド照合部4は、外部からデ−タ信
号を通して入力される入力パスワ−ドと半導体メモリ2
から出力された設定パスワ−ドを比較し、一致した場合
にはそれ以後Low信号を出力し、一致しない場合には
High信号を出力するパスワ−ド照合回路13から構
成される。
The password verification unit 4 is an input password which is input from the outside through a data signal and the semiconductor memory 2.
The password comparison circuit 13 compares the set passwords output from the device, outputs a Low signal thereafter when they match, and outputs a High signal when they do not match.

【0019】パスワ−ド照合回路13の一実施例を図3
(a)に示す。1e(D0)〜1e(D7)は、パスワ
−ド照合回路13のコネクタ部1からのデ−タ信号1e
を構成している各デ−タ信号であり、2e(D0)〜2
e(D7)は、半導体メモリ2からのデ−タ信号2eを
構成している各デ−タ信号である。これらの信号をゲ−
ト401〜ゲ−ト408の入力とし、これらのゲ−トの
出力をゲ−ト411の入力にすることにより、デ−タの
照合がなされる。
An embodiment of the password verification circuit 13 is shown in FIG.
It shows in (a). 1e (D0) to 1e (D7) are data signals 1e from the connector section 1 of the password verification circuit 13.
And each of the data signals that make up 2e (D0) to 2e
e (D7) is each data signal forming the data signal 2e from the semiconductor memory 2. Get these signals
The data is collated by inputting the gates 401 to 408 and using the outputs of these gates as the inputs of the gate 411.

【0020】ゲート412〜ゲート415及びコンデン
サ417、抵抗416で構成される回路は、パスワード
の照合結果であるゲート411の信号を電源遮断時即
ち、メモリカード抜去まで、維持するための回路であ
る。抵抗416の一端は、図示しないコネクタ部1のリ
ーダライタ装置から電源の供給をうける電源端子に接続
され、コンデンサ417の一端はグランドに接続されて
いる。
The circuit composed of the gates 412 to 415, the capacitor 417, and the resistor 416 is a circuit for maintaining the signal of the gate 411, which is the result of password verification, at the time of power-off, that is, until the memory card is removed. One end of the resistor 416 is connected to a power supply terminal to which power is supplied from the reader / writer device of the connector unit 1 (not shown), and one end of the capacitor 417 is connected to the ground.

【0021】コンデンサ417、抵抗416はメモリカ
ードのリーダライタ装着時に一時的にゲート413にL
ow信号を出力し、その後High信号を出力する働き
をする。このように構成することにより、メモリカード
がリーダライタ装置に接続され、電源が供給されると、
パスワード照合回路13は、High信号を出力し、そ
の後パスワードが一致した場合、Low信号を出力しつ
づけ、不一致の場合はHigh信号を出力しつづける。
The capacitor 417 and the resistor 416 are temporarily set to the gate 413 at the time of mounting the memory card reader / writer.
It outputs the ow signal and then outputs the High signal. With this configuration, when the memory card is connected to the reader / writer device and power is supplied,
The password verification circuit 13 outputs a High signal, and when the passwords match thereafter, it continues to output a Low signal, and when they do not match, it continues to output a High signal.

【0022】この回路ではデ−タの幅を8ビットとした
が、16ビット、32ビット等にする場合はゲ−ト40
1〜ゲ−ト408の数を増やせば簡単に実現できること
は言うまでもない。また、設定パスワ−ドを複数語にし
た場合は、図3(a)の回路を組合わせて実現すればよ
い。
In this circuit, the width of the data is 8 bits, but when it is 16 bits, 32 bits, etc., the gate 40 is used.
It goes without saying that it can be easily realized by increasing the number of gates 1 to 408. When the set password is made up of a plurality of words, it may be realized by combining the circuits shown in FIG.

【0023】図1で、具体的な回路の動作の説明をす
る。電源投入後、パスワ−ド照合回路13と設定パスワ
−ドアドレス比較回路11からはHigh信号が出力さ
れ、これが、ゲ−ト16、ゲ−ト17、ゲ−ト18に入
力される。ゲ−ト16、ゲ−ト17、ゲ−ト18の出力
は、他方の入力に係わらずHigh信号を出力する。ゲ
−ト19は、ゲ−ト16、ゲ−ト17からのHigh信
号の入力を受け、High信号を出力する。この結果ゲ
−ト19、ゲ−ト18からのHigh信号の出力が、半
導体メモリ2の読み出し用制御信号2c、書き込み用制
御信号2bに伝達され、半導体メモリ2は書き込み読み
出しとも禁止状態になる。この回路では説明を簡単にす
るために、半導体メモリ2の全ての領域について書き込
みと外部への読み出しを禁止しているが、半導体メモリ
2をブロック分けして接続するなど回路を一部変更して
半導体メモリ2の一部の領域のみを禁止したり、書込み
と外部への読出しのどちらか一方だけを禁止することが
可能なことは言うまでもない。
The specific operation of the circuit will be described with reference to FIG. After the power is turned on, a High signal is output from the password verification circuit 13 and the set password address comparison circuit 11, and this is input to the gate 16, gate 17, and gate 18. The outputs of the gate 16, the gate 17, and the gate 18 output a High signal regardless of the other input. The gate 19 receives the High signal from the gate 16 and the gate 17, and outputs the High signal. As a result, the output of the High signal from the gate 19 and the gate 18 is transmitted to the read control signal 2c and the write control signal 2b of the semiconductor memory 2, and the semiconductor memory 2 is in a write / read disabled state. In this circuit, writing and reading to the outside are prohibited in all areas of the semiconductor memory 2 for the sake of simplification of description, but the circuit is partially changed such as connecting the semiconductor memory 2 in blocks. It goes without saying that it is possible to prohibit only a part of the area of the semiconductor memory 2 or to prohibit only one of writing and reading to the outside.

【0024】次に、この禁止状態を解除するためのパス
ワ−ド照合方法について説明する。まず外部から、理ー
だライタ装置200を介して半導体メモリ2にある設定
パスワ−ド記憶領域201に、入力パスワ−ドを書き込
む動作を行なう。つまりコネクタ部1で、アドレス信号
端子1aに半導体メモリ2にある設定パスワ−ド記憶領
域201のアドレスを、デ−タ信号端子1eには入力パ
スワ−ドを、書き込み用制御信号端子1bにはLow信
号を入力する。 しかしながらこの時点では、前述の通
り半導体メモリ2の書き込み用制御信号端子2bにはH
igh信号が入力されているため、半導体メモリ2の内
容が書き変ることはない。アドレス信号端子1aに入力
されたアドレスは、設定パスワ−ドアドレス比較回路1
1に伝達され、入力アドレスと設定パスワ−ド記憶領域
201のアドレスが一致すると、設定パスワ−ドアドレ
ス比較回路11からLow信号が出力される。このLo
w信号の信号がゲ−ト16の入力に伝達される。ゲ−ト
16の他の入力は、書き込み用制御信号1bからのLo
w信号、パスワ−ド照合回路13からのHigh信号が
入力されるため、ゲ−ト16の出力はLow信号とな
る。このLow信号がゲ−ト19に伝達され、これによ
りゲ−ト19の出力がLow信号となる。このLow信
号の出力が半導体メモリ2の読み出し用制御信号端子2
cに伝達され、半導体メモリ2は読み出し状態となり、
設定パスワ−ドが半導体メモリ2の端子2eから出力さ
れる。つまり、外部からの書き込み用制御信号をメモリ
制御部3内で読み出し用制御信号に変換して、半導体メ
モリ2に伝達したことになる。
Next, a password verification method for canceling the prohibition state will be described. First, an operation of writing an input password from the outside to the setting password storage area 201 in the semiconductor memory 2 via the logic writer device 200 is performed. That is, in the connector section 1, the address signal terminal 1a is the address of the setting password storage area 201 in the semiconductor memory 2, the data signal terminal 1e is the input password, and the write control signal terminal 1b is Low. Input the signal. However, at this point, as described above, the write control signal terminal 2b of the semiconductor memory 2 is set to H level.
Since the high signal is input, the contents of the semiconductor memory 2 will not be rewritten. The address input to the address signal terminal 1a is the set password address comparison circuit 1
1 and the input address and the address of the set password storage area 201 match, the set password address comparison circuit 11 outputs a Low signal. This Lo
The signal of the w signal is transmitted to the input of the gate 16. The other input of the gate 16 is Lo from the write control signal 1b.
Since the w signal and the High signal from the password verification circuit 13 are input, the output of the gate 16 becomes the Low signal. This Low signal is transmitted to the gate 19, whereby the output of the gate 19 becomes the Low signal. The output of this Low signal is the read control signal terminal 2 of the semiconductor memory 2.
Then, the semiconductor memory 2 is in a read state,
The setting password is output from the terminal 2e of the semiconductor memory 2. That is, the writing control signal from the outside is converted into the reading control signal in the memory control unit 3 and is transmitted to the semiconductor memory 2.

【0025】尚、ここで注意すべき点は、デ−タ信号上
でデ−タの衝突がないことである。パスワ−ド照合回路
13の出力がHigh信号であるため、このHigh信
号がゲ−ト14、ゲ−ト15の入力に伝達され、この2
つのゲ−トの出力が両方High信号となり、このHi
gh信号の信号がデータ入出力制御部30のゲ−ト20
と21のハイインピ−ダンス制御端子に入力される。こ
れによりデ−タ信号線1eと2eがゲ−ト20とゲ−ト
21で電気的に切れた状態になり、この結果、半導体メ
モリ2から出力された設定パスワ−ドとコネクタ部1か
ら入力された入力パスワ−ドが、デ−タ信号上でぶつか
ることはない。この設定パスワ−ドと入力パスワ−ド
が、パスワ−ド照合回路13で照合され、照合結果が一
致の場合は、以後、パスワ−ド照合回路13からLow
信号を出力し続ける。このLow信号の出力が、ゲ−ト
14、ゲ−ト15、ゲ−ト16、ゲ−ト17、ゲ−ト1
8に入力され、これにより半導体メモリ2の書き込みお
よび外部への読み出し禁止状態が解除される。
A point to be noted here is that there is no collision of data on the data signal. Since the output of the password verification circuit 13 is a high signal, this high signal is transmitted to the inputs of the gate 14 and the gate 15, and
Both outputs of one gate become High signals,
The gh signal is the gate 20 of the data input / output control unit 30.
And 21 high-impedance control terminals. As a result, the data signal lines 1e and 2e are electrically disconnected by the gate 20 and the gate 21, and as a result, the setting password output from the semiconductor memory 2 and the input from the connector section 1 are input. The applied input password does not collide with the data signal. The setting password and the input password are collated by the password collation circuit 13, and if the collation result is coincident, the password collation circuit 13 thereafter outputs Low.
Continue to output signals. The output of this Low signal is gate 14, gate 15, gate 16, gate 17, gate 1
8 is input to cancel the write-protected and external read prohibited states of the semiconductor memory 2.

【0026】以上パスワ−ド照合による、読み出し書き
込み禁止状態解除の動作は図5のフローチャートのよう
に表わすことができる。
The operation of canceling the read / write inhibition state by the password verification can be expressed as shown in the flow chart of FIG.

【0027】該メモリカード100は、電源投入後(S
51)、半導体メモリ2の一部または全部の領域が、書
込みと外部への読出しの両方またはどちらか一方が禁止
状態である(S52)。この禁止状態を解除するため
に、半導体メモリ2の設定パスワ−ド記憶領域に入力パ
スワ−ドを書き込む作業をおこなう(S53)。この作
業をおこなうことにより、メモリ制御部3とパスワ−ド
照合部4が、入力パスワ−ドと設定パスワ−ドの照合を
おこない(S54)一致していれば禁止状態を解除する
(S55)が不一致の場合は読み出し、書き込み禁止状
態が継続する。一度解除した後は、この状態は電源を遮
断するまで継続する。この場合電源遮断後、再度電源を
投入すると初期状態にもどり、半導体メモリ2の読み出
し、書き込み禁止状態になる。
The memory card 100 is powered on (S
51), a part or all of the area of the semiconductor memory 2 is in a prohibited state for writing and / or reading to the outside (S52). In order to cancel this prohibition state, the input password is written in the set password storage area of the semiconductor memory 2 (S53). By performing this operation, the memory control unit 3 and the password collation unit 4 collate the input password and the set password (S54), and if they match, the prohibition state is released (S55). If they do not match, the read / write protected state continues. Once released, this state continues until the power is turned off. In this case, when the power is turned on again after the power is turned off, the state returns to the initial state, and the semiconductor memory 2 is in a read / write prohibited state.

【0028】ところで、上記実施例においては、パスワ
ードが一致すれば電源を遮断するまで読み書き禁止状態
が継続するように構成しているが、このパスワ−ド照合
作業を、読み出し書き込みごとにおこなうようにするこ
とも可能である。この場合、パスワード照合回路は図3
(a)の出力端子e(out)を図3(b)に示される
4ビットシフトレジスタで構成される回路の端子e(i
n)に接続した構成となる。これにより、データのセキ
ュリティはさらに向上する。
In the above embodiment, if the passwords match, the read / write protected state continues until the power is turned off. However, this password verification operation is performed for each read / write. It is also possible to do so. In this case, the password verification circuit is shown in FIG.
The output terminal e (out) of (a) is connected to the terminal e (i of the circuit composed of the 4-bit shift register shown in FIG. 3B.
n) is connected. This further improves the security of the data.

【0029】尚、設定パスワ−ドの変更は、前述のよう
に禁止状態が解除されると、半導体メモリ2のすべての
記憶領域が書込及び読込みが可能となるため、半導体メ
モリ2の設定パスワ−ド記憶領域のアドレスを指定して
その内容を書き換えることによりおこなう。
It is to be noted that, when the prohibited state is released as described above, all the storage areas of the semiconductor memory 2 can be written and read when the setting password is changed, so that the setting password of the semiconductor memory 2 can be changed. -Do by specifying the address of the storage area and rewriting the contents.

【0030】次に第2実施例を図6に基いて説明する。
図6において、図1と同じ部品は同一記号で示してい
る。第一実施例では、電源投入後は、必ずパスワ−ドの
照合作業を行なわないと半導体メモリ2の書き込みおよ
び外部への読み出し禁止状態は解除されない。これを改
良したのが本実施例である。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIG.
6, the same parts as those in FIG. 1 are indicated by the same symbols. In the first embodiment, after the power is turned on, the password write and external read prohibition states cannot be released unless the password verification operation is performed. This embodiment is improved in this embodiment.

【0031】半導体メモリ2は、図7に示すように、設
定パスワ−ド記憶領域201、データ記憶領域202以
外に、パスワ−ド照合回路13の照合結果により半導体
メモリ2の一部または全部の領域の書込みと外部への読
出しの両方またはどちらか一方の禁止状態を解除するパ
スワード照合モードか、または前記照合結果によらずこ
の半導体メモリ2の全部の領域の書込みと外部への読出
しの両方を始めから解除する標準モードか、の2つのモ
ードを選択するための選択情報記憶領域203をもつ。
As shown in FIG. 7, the semiconductor memory 2 has an area other than the set password storage area 201 and the data storage area 202, and part or all of the area of the semiconductor memory 2 depending on the verification result of the password verification circuit 13. Both writing and reading to the outside, or a password collation mode for canceling the prohibition state of either one, or both writing to the entire area of the semiconductor memory 2 and reading to the outside regardless of the collation result are started. It has a selection information storage area 203 for selecting two modes, that is, the standard mode to be canceled from the above.

【0032】また、回路的には、外部から入力されたア
ドレスと半導体メモリ内の選択情報記憶領域203のア
ドレスとを比較し、一致した場合にLow信号を出力す
る選択情報アドレス比較回路22からなる選択情報アド
レス比較部3を有し、メモリ制御部3には、半導体メモ
リ2から読み出した選択情報の内容が、パスワ−ド照合
回路13の照合結果によらず2の半導体メモリの書込み
と外部への読出しの両方を始めから解除することであれ
ば、それ以後Low信号を出力する選択情報照合回路2
5と、ゲ−ト23、ゲ−ト24を有するものである。
In terms of circuitry, it comprises a selection information address comparison circuit 22 which compares an address input from the outside with an address in the selection information storage area 203 in the semiconductor memory and outputs a Low signal when they match. The memory control unit 3 has a selection information address comparison unit 3, and the contents of the selection information read from the semiconductor memory 2 are written to the semiconductor memory 2 and written to the outside regardless of the comparison result of the password comparison circuit 13. If it is to cancel both readings from the beginning, the selection information collating circuit 2 that outputs a Low signal thereafter
5, a gate 23, and a gate 24.

【0033】尚、選択情報アドレス比較部3は、設定パ
スワードアドレス比較回路11とほぼ同一の回路構成で
実現可能であり、説明は省略する。また、選択情報照合
回路25もまた’00(H)’を標準モードとする場
合、ゲートの入力をデータ信号端子2eとするだけで設
定アドレスアドレス比較回路11とほぼ同一の回路構成
で実現可能である。
The selection information address comparison unit 3 can be realized with a circuit configuration almost the same as the set password address comparison circuit 11, and the description thereof will be omitted. Further, when the selection information collating circuit 25 also sets "00 (H)" to the standard mode, it can be realized with a circuit configuration almost the same as that of the set address / address comparing circuit 11 only by setting the input of the gate to the data signal terminal 2e. is there.

【0034】電源が投入されると、パスワ−ド照合回路
13と設定パスワ−ドアドレス比較回路11からはHi
gh信号が出力され、これが、ゲ−ト16、ゲ−ト1
7、ゲ−ト18に入力される。ゲ−ト16、ゲ−ト1
7、ゲ−ト18の出力は、他方の入力に係わらずHig
h信号を出力する。ゲ−ト19は、ゲ−ト16、ゲ−ト
17からのHigh信号の入力を受け、High信号を
出力する。この結果ゲ−ト19、ゲ−ト18からのHi
gh信号の出力が、半導体メモリ2の読み出し用制御信
号端子2a、書き込み用制御信号端子2bに伝達され、
半導体メモリ2は書き込み読み出しとも禁止状態にな
る。
When the power is turned on, the password verification circuit 13 and the set password address comparison circuit 11 output Hi.
The gh signal is output, and this is the gate 16 and the gate 1
7 is input to the gate 18. Gate 16, Gate 1
7. The output of gate 18 is High regardless of the other input.
The h signal is output. The gate 19 receives the High signal from the gate 16 and the gate 17, and outputs the High signal. As a result, Hi from the gate 19 and the gate 18
The output of the gh signal is transmitted to the read control signal terminal 2a and the write control signal terminal 2b of the semiconductor memory 2,
The semiconductor memory 2 is in a prohibited state for both writing and reading.

【0035】次に、リーダライタ装置200は半導体メ
モリ2にある選択情報記憶領域のアドレスを指定してそ
の内容を読み出す作業を行なう。この禁止状態でも、半
導体メモリ2にある選択情報記憶領域203の読み出し
は選択情報アドレス比較回路22がLow信号を出力す
るため可能である。
Next, the reader / writer device 200 performs an operation of designating an address of the selection information storage area in the semiconductor memory 2 and reading the content thereof. Even in this prohibition state, the selection information storage area 203 in the semiconductor memory 2 can be read because the selection information address comparison circuit 22 outputs a Low signal.

【0036】具体的には、コネクタ部1で、アドレス信
号入力端子1aに選択情報記憶領域203のアドレス
を、読み出し用制御信号入力端子1cにはLow信号を
入力し、デ−タ信号入出力端子1eから選択情報記憶領
域203の内容を読み出す。
Specifically, in the connector section 1, the address signal input terminal 1a receives the address of the selection information storage area 203, the read control signal input terminal 1c receives the Low signal, and the data signal input / output terminal. The contents of the selection information storage area 203 are read from 1e.

【0037】アドレス信号入力端子1aに入力された選
択情報記憶領域203のアドレスは、選択情報アドレス
比較回路22に伝達され、一致すればLow信号を出力
する。このLow信号の出力を受けたゲ−ト23は、パ
スワ−ド照合回路13からの入力に係わらず出力がLo
w信号となる。このLow信号の出力と読み出し用制御
信号からのLow信号を受けたゲ−ト17の出力は、L
ow信号となり、ゲ−ト19を通って半導体メモリ2の
読み出し用制御信号端子2cにLow信号として伝達さ
れる。また、ゲ−ト23のLow信号の出力と、入出力
制御回路12からのLow信号の出力を受けたゲ−ト1
5の出力がLow信号となり、ゲ−ト21のハイインピ
−ダンス制御端子に入力される。これによりデ−タ信号
は出力方向となる。このようにして、2の半導体メモリ
にある選択情報記憶領域の内容が、コネクタ部1を通し
てリーダライタ装置200に出力される。
The address of the selection information storage area 203 input to the address signal input terminal 1a is transmitted to the selection information address comparison circuit 22 and outputs a Low signal if they match. The gate 23, which has received the output of the Low signal, has an output Lo regardless of the input from the password verification circuit 13.
It becomes the w signal. The output of the gate 17 which receives the low signal output and the low signal from the read control signal is L
It becomes an ow signal and is transmitted as a Low signal through the gate 19 to the read control signal terminal 2c of the semiconductor memory 2. Further, the gate 1 which receives the output of the low signal from the gate 23 and the output of the low signal from the input / output control circuit 12
The output of 5 becomes a Low signal and is input to the high impedance control terminal of the gate 21. As a result, the data signal is output. In this way, the contents of the selection information storage area in the second semiconductor memory are output to the reader / writer device 200 through the connector unit 1.

【0038】また、同時にこの選択情報記憶領域の内容
は、選択情報照合回路25に伝達され、この選択情報記
憶領域の内容が、標準モードを指示するものであれば、
選択情報照合回路25がLow信号を出力する。このL
ow信号の出力は、ゲ−ト24に伝達され、ゲ−ト24
の出力をLow信号にし、その後段のゲ−ト14、ゲ−
ト16、ゲ−ト17、ゲ−ト18、ゲ−ト23、ゲ−ト
15の入力をLow信号にする。これによりコネクタ部
1から入力される書き込み制御信号端子1b、読み出し
用制御信号端子1cの入力レベルが、そのまま半導体メ
モリ2の書き込み用制御信号端子2b、読み出し用制御
信号端子2cに伝達されることになり、半導体メモリ2
の書き込みおよび外部への読み出し禁止状態が解除され
る。
At the same time, the contents of this selection information storage area are transmitted to the selection information collating circuit 25, and if the contents of this selection information storage area indicate the standard mode,
The selection information matching circuit 25 outputs a Low signal. This L
The output of the ow signal is transmitted to the gate 24 and the gate 24
Output to the Low signal, and the gates 14 and
The inputs of the gate 16, the gate 17, the gate 18, the gate 23, and the gate 15 are set to the Low signal. As a result, the input levels of the write control signal terminal 1b and the read control signal terminal 1c input from the connector unit 1 are directly transmitted to the write control signal terminal 2b and the read control signal terminal 2c of the semiconductor memory 2. Become, semiconductor memory 2
The write prohibition and external read prohibition status are released.

【0039】また、この選択情報記憶領域の内容が、パ
スワ−ド照合モードを指示するものであれば、この選択
情報照合回路25の出力はHigh信号となり、禁止状
態の解除はパスワ−ド照合回路13の照合結果によるこ
ととなる。
If the content of the selected information storage area indicates the password verification mode, the output of the selected information verification circuit 25 becomes a high signal, and the password verification circuit releases the prohibited state. It depends on the collation result of 13.

【0040】以上の動作は図8のフローチャートのよう
に表すことができる。メモリカード100は、電源投入
後(S81)、半導体メモリ2の一部または全部の領域
が、書込みと外部への読出しの両方またはどちらか一方
が禁止状態である(S82)。
The above operation can be represented as in the flow chart of FIG. In the memory card 100, after the power is turned on (S81), a part or all of the area of the semiconductor memory 2 is in a write-protected state and / or read-out to the outside is in a prohibited state (S82).

【0041】次に半導体メモリ2にある選択情報記憶領
域の内容を読み出し(S83)、この内容が標準モード
を指示するものであれば、パスワ−ドの照合作業をとば
し、すぐに読み出し書き込み禁止状態を解除する(S8
7)。パスワ−ド照合モードを指示するものあれば、図
5と同じ動作をおこなう(S85〜S87)。
Next, the contents of the selection information storage area in the semiconductor memory 2 are read (S83). If the contents indicate the standard mode, the password verification operation is skipped and the read / write prohibited state is immediately entered. Is canceled (S8
7). If there is an instruction for the password verification mode, the same operation as in FIG. 5 is performed (S85 to S87).

【0042】日本電子工業振興協会発行の半導体記憶装
置の一種であるメモリカ−ドの標準規格(例えば、IC
メモリカ−ドガイドラインVer.4.1)には、電源
投入後、最初にメモリカ−ドの属性情報等が記憶されて
いるアトリビュ−トメモリの先頭アドレスである′0
(H)′番地を読み出すことになっている。そしてこの
アドレス′0(H)′番地には、デバイス情報すタプル
IDであるデ−タ′01(H)′か、無効のタプルID
であるデ−タ′00(H)′か、タプル連鎖終了タプル
IDであるデ−タ′FF(H)′のどれかであることが
規定されている。もしアドレス′0(H)′番地のデ−
タが、無効のタプルIDであるデ−タ′00(H)′で
あれば、次のアドレスである′01(H)′番地のデ−
タを読み出すことになり、このデ−タも前述の3種類で
なければならない。
A standard of a memory card, which is a kind of semiconductor memory device issued by the Japan Electronic Industry Development Association (for example, IC
Memory card guideline Ver. In 4.1), after the power is turned on, the start address of the attribute memory of the memory card in which the attribute information and the like of the memory card are first stored is' 0.
The address (H) 'is to be read. At this address "0 (H)", data "01 (H)" which is a tuple ID of device information or an invalid tuple ID.
Is data "00 (H)" or tuple chain end tuple ID "FF (H)". If the data at address '0 (H)'
If the data is data "00 (H)" which is an invalid tuple ID, the data at the address "01 (H)" which is the next address.
The data will be read out, and this data must also be the above-mentioned three types.

【0043】このためメモリカ−ドを使ったシステムで
は、必ずまず最初にアドレス′0(H)′番地を読み出
すことになる。従って、選択情報記憶領域203を図7
に示すように半導体メモリ2の先頭アドレスである′0
(H)′番地に配置すれば、特にリーダライタ装置20
0のソフトの変更を行なわなくてもアドレス′0
(H)′番地を最初に読み出し、選択情報記憶領域の内
容を選択情報照合回路25に伝達することができる。ア
ドレス′0(H)′番地に無効のタプルIDであるデ−
タ′00(H)′を書いて、アドレス′01(H)′番
地に選択情報を書いても同じ効果が得られる。
Therefore, in a system using a memory card, the address '0 (H)' is always read first. Therefore, the selection information storage area 203 is shown in FIG.
As shown in FIG.
If it is arranged at the address (H) ', the reader / writer device 20
Address' 0 without changing the software of 0
The address (H) 'can be read out first and the contents of the selected information storage area can be transmitted to the selected information collating circuit 25. Invalid tuple ID at address '0 (H)'
Even if the data "00 (H)" is written and the selection information is written at the address "01 (H)", the same effect can be obtained.

【0044】また、選択情報記憶領域の内容が、デ−
タ′01(H)′の時、パスワ−ド照合回路13の照合
結果によらずこの半導体メモリの一部または全部の領域
の書込みと外部への読出しの両方またはどちらか一方を
始めから解除するという意味にすれば、この選択情報記
憶領域を読み出したシステムはこのメモリカ−ドを標準
規格のメモリカ−ドとして認識し、しかもこの作業によ
り同時に禁止状態の解除もできる。
The contents of the selection information storage area are
When the data is '01 (H) ', the writing and / or the reading to / from the outside of a part or all of the area of this semiconductor memory is canceled from the beginning regardless of the matching result of the password matching circuit 13. In this sense, the system that has read this selected information storage area recognizes this memory card as a standard memory card and, at the same time, can release the prohibited state by this operation.

【0045】従って、1台のリーダライタ装置でソフト
の変更をすることなく、本発明のメモリカードと前記規
格仕様のメモリカードの双方に使用することができると
いうメリットがある。
Therefore, there is an advantage that one reader / writer device can be used for both the memory card of the present invention and the memory card of the standard specifications without changing the software.

【0046】この場合当然、選択情報のデ−タが、デ−
タ′01(H)′以外の時は、パスワ−ド照合回路13
の照合結果によりこの半導体メモリの書込みと読出しの
禁止状態を解除するという意味になる。同様に、デ−
タ′00(H)′またはデ−タ′FF(H)′を、パス
ワ−ド照合回路13の照合結果によらずこの半導体メモ
リ2の全部の領域の書込みと読出しを始めから解除する
という意味にし、デ−タ′00(H)′以外、またはデ
−タ′FF(H)′以外の時に、パスワ−ド照合回路1
3の照合結果によりこの半導体メモリの書込みと読出し
の禁止状態を解除するという意味にしても、同じ効果が
得られる。
In this case, naturally, the data of the selection information is the data.
When the data is other than "01 (H)", the password verification circuit 13
It means that the prohibition state of writing and reading of the semiconductor memory is released according to the result of the collation. Similarly,
The data "00 (H)" or the data "FF (H)" is released from the beginning of the writing and reading of the entire area of the semiconductor memory 2 regardless of the verification result of the password verification circuit 13. When the data other than the data '00 (H) 'or the data other than the data'FF (H)', the password verification circuit 1
The same effect can be obtained even if the prohibition state of writing and reading of the semiconductor memory is released according to the collation result of 3.

【0047】図9は本発明の第3実施例を表すものであ
り、第1実施例に、パスワ−ドの照合作業の回数をカウ
ントするカウンタ26とゲート27をパスワ−ド照合部
4に付加し、一定回数以上照合作業をおこなうと、それ
以後は、たとえ照合結果が一致しても禁止状態を解除で
きなくしたものである。図9において、図1と同一部品
は同じ記号で示している。カウンタ26はその出力が、
一定回数未満の時はLow信号出力、一定回数以上の時
はHigh信号出力となるように構成されている。
FIG. 9 shows a third embodiment of the present invention. In the first embodiment, a counter 26 for counting the number of password verification operations and a gate 27 are added to the password verification unit 4. However, if the collation work is performed a certain number of times or more, after that, the prohibited state cannot be released even if the collation results match. 9, the same parts as those in FIG. 1 are indicated by the same symbols. The output of the counter 26 is
When the number of times is less than a certain number of times, a Low signal is output, and when the number of times is more than a certain number of times, a High signal is output.

【0048】これにより、パスワ−ドを知らない人が、
何回もパスワ−ドの入力を試みることにより正しいパス
ワ−ドを知り、メモリカードのデ−タを不正に読み出し
たり書き込んだりする行為を防ぐことができる。
As a result, a person who does not know the password can
By trying to input the password many times, it is possible to know the correct password and prevent the illegal reading or writing of the data of the memory card.

【0049】尚、前述した第2実施例に、本実施例にお
けるカウンタ回路26、ゲート27を付加することも可
能である。
The counter circuit 26 and the gate 27 in this embodiment can be added to the above-mentioned second embodiment.

【0050】図10は、本発明の第4実施例を示すもの
であり半導体メモリ2に電池でのバックアップが必要な
揮発性メモリを用いたものであり、この電池をはずすこ
とで、揮発性メモリのデ−タ内容は消えるが、同時に半
導体メモリ2の書込みまたは外部への読出し禁止状態を
解除できるようにしたメモリカードの回路図である。図
10において、図1と同一部品は同じ記号で示してい
る。
FIG. 10 shows a fourth embodiment of the present invention, in which a semiconductor memory 2 uses a volatile memory which requires backup with a battery. By removing this battery, the volatile memory is removed. 5 is a circuit diagram of a memory card in which the contents of data are erased, but at the same time, the write-in or read-out prohibited state of the semiconductor memory 2 can be released. 10, the same parts as those in FIG. 1 are indicated by the same symbols.

【0051】ここで、コネクタ部1の電源端子1fは半
導体メモリ2の電源端子2fにダイオード33を介して
接続されている。この端子2fには電池31もダイオー
ドを介して接続されている。電池31にはさらにゲート
29を介して、パスワード照合回路13の出力を入力と
するゲート28に接続され、ゲート28の出力はゲート
14〜18に供給されるように構成されている。
Here, the power supply terminal 1f of the connector section 1 is connected to the power supply terminal 2f of the semiconductor memory 2 via a diode 33. A battery 31 is also connected to this terminal 2f via a diode. The battery 31 is further connected via a gate 29 to a gate 28 that receives the output of the password verification circuit 13, and the output of the gate 28 is supplied to the gates 14 to 18.

【0052】電池31をはずすと、ゲ−ト29の出力が
High信号からLow信号になる。この出力を受けた
ゲ−ト28の出力がLow信号となり、禁止状態が解除
される。これによりパスワ−ドを忘れた場合、電池をは
ずすことにより揮発性の半導体メモリの内容は消えてし
まうが、これにより書き込みおよび読み出し禁止状態が
解除されるので、メモリカード自体は再度使用すること
ができる。揮発性の半導体メモリの内容が消えるので、
この揮発性の半導体メモリの内容が他人に知れることも
ない。
When the battery 31 is removed, the output of the gate 29 changes from the High signal to the Low signal. The output of the gate 28 receiving this output becomes a Low signal, and the prohibited state is released. If the password is forgotten, the contents of the volatile semiconductor memory will be erased by removing the battery, but this will release the write and read inhibit status, and the memory card itself can be reused. it can. Since the contents of the volatile semiconductor memory disappear,
The contents of this volatile semiconductor memory will not be known to others.

【0053】ダイオ−ド32は電池31とコネクタ部1
の電源端子1fから供給される電源とを切換える働きを
し、これにより半導体メモリ2の電源2fにどちらかの
電圧が供給される。またダイオ−ド33は、電池31の
電流がコネクタ部1の電源1fに逆流することを防止し
ている。抵抗30は、電池31をはずした時にゲ−ト2
9の入力をLow信号にする。
The diode 32 is a battery 31 and a connector section 1.
The power supply terminal 1f of the semiconductor memory 2 serves to switch the power supply from the power supply terminal 1f of the power supply terminal 1f, thereby supplying either voltage to the power supply 2f of the semiconductor memory 2. Further, the diode 33 prevents the current of the battery 31 from flowing back to the power source 1f of the connector section 1. The resistor 30 is connected to the gate 2 when the battery 31 is removed.
The input of 9 is made a Low signal.

【0054】尚、本実施例について、第2実施例のごと
き選択情報でモードをきりかえる構成や第3実施例の如
き誤り回収を記録するカウンタ回路を設ける構成を付加
することで、さらに高機能なメモリカードを実施するこ
とも可能である。
It should be noted that the present embodiment is further enhanced in function by adding a configuration for switching the mode by the selection information as in the second embodiment and a configuration for providing a counter circuit for recording error recovery as in the third embodiment. It is also possible to implement various memory cards.

【0055】上記実施例では、書き込み用制御信号入力
端子1bを利用して設定パスワ−ドの入力を行なった
が、信号線に余裕があれば、書き込み用制御信号入力端
子1bとは別に設定パスワ−ド入力信号用端子1g(図
示せず)をコネクタ部1に設け、これにより設定パスワ
−ドの入力をおこなっても同じ効果が得られる。
In the above embodiment, the setting password is input using the write control signal input terminal 1b. However, if there is a margin in the signal line, the setting password can be set separately from the write control signal input terminal 1b. The same effect can be obtained by providing a terminal 1g (not shown) for a negative input signal in the connector portion 1 and thereby inputting a setting password.

【0056】図11は御発明の第5実施例を示すもので
あり、メモリ2にデータの読み書き可能な不揮発性メモ
リを用いたものである。なお、本図において、前記第1
実施例と同一部品については同一記号で示してある。
FIG. 11 shows a fifth embodiment of the present invention, in which a non-volatile memory capable of reading and writing data is used as the memory 2. In the figure, the first
The same parts as those in the embodiment are indicated by the same symbols.

【0057】本実施例が第1実施例と異なる点は半導体
メモリ2にフラッシュメモリを用いた点と、リセットコ
マンド比較回路32に、リセット回路33を設けた点に
ある。
The present embodiment is different from the first embodiment in that a flash memory is used as the semiconductor memory 2 and that the reset command comparison circuit 32 is provided with a reset circuit 33.

【0058】リセットコマンド比較回路32はリーダラ
イタ装置200から入力されたコマンドが、リセットコ
マンドか否かを判定し、一致した場合、一致信号を出力
するものであり、データ信号のやりとりを行う端子1e
とリセット回路33に接続されている。
The reset command comparison circuit 32 determines whether or not the command input from the reader / writer device 200 is a reset command, and outputs a match signal when the commands match, and a terminal 1e for exchanging data signals.
Is connected to the reset circuit 33.

【0059】リセット回路33はリセットコマンド比較
回路32の一致信号に応じて半導体メモリ2のデータ記
憶領域202と設定パスワード記憶領域201の内容を
消去するものであり、CPUとリセットフローの記憶さ
れたメモリとから構成されている。リセット回路はアド
レス信号端子2a、データ信号端子2e、書き込み制御
信号線2b及び読み出し制御信号線2cとパスワード照
合部4に接続されている。
The reset circuit 33 erases the contents of the data storage area 202 and the set password storage area 201 of the semiconductor memory 2 in response to the coincidence signal of the reset command comparison circuit 32, and the CPU and the memory storing the reset flow. It consists of and. The reset circuit is connected to the address signal terminal 2a, the data signal terminal 2e, the write control signal line 2b, the read control signal line 2c, and the password verification unit 4.

【0060】次に本実施例の動作について図11及び図
12を用いて説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. 11 and 12.

【0061】まず、リーダライタ装置200よりリセッ
トコマンドを半導体メモリ2に書き込む動作が指示され
た場合、リセットコマンド比較回路32はデータI/O
端子1eからのデータがリセットコマンドか否かを判定
する。リセットコマンド比較回路32において、入力デ
ータがリセットコマンドと判定された場合、一致信号を
リセット回路33に送出する。リセット回路33はリセ
ットコマンド比較回路32からの一致信号を受領する
と、その内部のCPUは図12に示されるフローに従っ
て動作する。なお、リセット回路33は通常パスワード
照合部4に対してHIGH信号を出力している。
First, when the reader / writer device 200 gives an instruction to write a reset command into the semiconductor memory 2, the reset command comparison circuit 32 causes the data I / O to operate.
It is determined whether the data from the terminal 1e is a reset command. When the reset command comparison circuit 32 determines that the input data is the reset command, the coincidence signal is sent to the reset circuit 33. When the reset circuit 33 receives the coincidence signal from the reset command comparison circuit 32, the CPU therein operates according to the flow shown in FIG. The reset circuit 33 normally outputs a HIGH signal to the password verification unit 4.

【0062】まず、リセット回路33はチップイレイズ
コマンドをフラッシュメモリ2に送出する(S10
1)。これにより、フラッシュメモリ2の内部ではパス
ワード並びにデータの消去処理が開始される。そして、
消去処理が完了したか否かをメモリからの状態信号を監
視することにより判定する(S102)。完了してない
と判断した場合、フラッシュメモリの消去処理中にエラ
ーが発生したか否かを判定し(S105)、エラーが発
生していないと判定した場合、S102に戻り、監視を
継続する。
First, the reset circuit 33 sends a chip erase command to the flash memory 2 (S10).
1). As a result, password and data erasing processing is started inside the flash memory 2. And
It is determined whether the erasing process is completed by monitoring the status signal from the memory (S102). If it is determined that the error has not been completed, it is determined whether or not an error has occurred during the erase process of the flash memory (S105). If it is determined that no error has occurred, the process returns to S102 to continue monitoring.

【0063】S102において消去処理が完了したと判
定された場合、パスワード照合部4にLOW信号を出力
し(S103)、処理を終了する。これにより書き込み
読みだしの禁止状態が強制的に解除される。
When it is determined in S102 that the erasing process has been completed, a LOW signal is output to the password collating section 4 (S103), and the process is terminated. This forcibly cancels the write-read prohibition state.

【0064】一方、S105において、エラーが発生し
たと判定された場合、パスワード照合部4にHIGH信
号を出力し続け、読み書き禁止状態が継続する。
On the other hand, if it is determined in S105 that an error has occurred, the HIGH signal is continuously output to the password collating section 4, and the read / write prohibited state continues.

【0065】このように、本実施例では、フラッシュメ
モリ2の全体の消去を行うことにより、強制的に読み書
き禁止状態を解除するように構成されているため、仮に
カード所有者がパスワードを忘れても、記憶データの消
去と引替えにカードの使用を復活できる。
As described above, in the present embodiment, the entire flash memory 2 is erased to forcibly cancel the read / write prohibited state. Therefore, if the cardholder forgets the password. Also, it is possible to restore the use of the card in exchange for erasing the stored data.

【0066】以上、本発明をメモリカードに適用した実
施例について説明してきたが、本発明はこれに限定され
るものでなく、メモリパック、半導体ディスク等いわゆ
る半導体装置一般に適用できることはいうまでもない。
Although the embodiment in which the present invention is applied to a memory card has been described above, the present invention is not limited to this, and it goes without saying that the present invention can be applied to so-called general semiconductor devices such as memory packs and semiconductor disks. .

【0067】[0067]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、簡
単、小型、安価な回路手段で、マイコンを有しないいわ
ゆるメモリカードにおいて、内部にマイコンを有するI
Cカードと同様にデータ保護の機能を持たせることでき
る。また、パスワ−ドを使用したデ−タの書き込み及び
読み出しの保護が実現でき、これにより記憶デ−タの機
密保守、記憶デ−タの破壊等の防止を可能とした大記憶
容量でコンパクトな半導体記憶装置を安価に提供するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, in a so-called memory card which does not have a microcomputer with simple, small-sized, and inexpensive circuit means, the I card having a microcomputer is provided.
Like the C card, it can have a data protection function. Further, it is possible to realize the protection of writing and reading of the data by using the password, and by this, it is possible to maintain the confidentiality of the storage data and prevent the destruction of the storage data. A semiconductor memory device can be provided at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるメモリカードの第1実施例を示す
ブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a memory card according to the present invention.

【図2】設定パスワ−ドアドレス比較回路の一実施例を
示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of a set password address comparison circuit.

【図3】パスワ−ド照合回路の一実施例を示す回路図で
ある。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a password matching circuit.

【図4】メモリカードの半導体メモリのメモリ構成図で
ある。
FIG. 4 is a memory configuration diagram of a semiconductor memory of a memory card.

【図5】メモリカードの処理手順を示すフロ−図であ
る。
FIG. 5 is a flowchart showing a processing procedure of a memory card.

【図6】メモリカードの第2実施例を示すブロック図で
ある。
FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the memory card.

【図7】メモリカードの半導体メモリのメモリ構成図で
ある。
FIG. 7 is a memory configuration diagram of a semiconductor memory of a memory card.

【図8】メモリカードの処理手順を示すフロ−図であ
る。
FIG. 8 is a flowchart showing a processing procedure of a memory card.

【図9】メモリカードの第3実施例を示すブロック図で
ある。
FIG. 9 is a block diagram showing a third embodiment of the memory card.

【図10】半導体記憶装置の第4実施例を示すブロック
図である。
FIG. 10 is a block diagram showing a fourth embodiment of a semiconductor memory device.

【図11】半導体記憶装置の第5実施例を示すブロック
図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a fifth embodiment of the semiconductor memory device.

【図12】第5実施例の処理手順を示すフロー図であ
る。
FIG. 12 is a flowchart showing the processing procedure of the fifth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コネクタ部 2 半導体メモリ 3 メモリ制御部 4 パスワ−ド照合部 11 設定パスワ−ド比較回路 12 入出力制御回路 100 メモリカード 200 メモリカード用リ−ダライタ装置 22 選択情報アドレス比較回路 25 選択情報照合回路 26 カウンタ回路 30 電池 31 抵抗 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Connector part 2 Semiconductor memory 3 Memory control part 4 Password collation part 11 Setting password comparison circuit 12 Input / output control circuit 100 Memory card 200 Memory card reader / writer device 22 Selection information address comparison circuit 25 Selection information comparison circuit 26 counter circuit 30 battery 31 resistance

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 各種データを記憶する半導体メモリと、
リーダライタ装置と結合するためのコネクタ部と、前記
コネクタ部を介して入力されたリーダライタ装置からの
指示に従って前記半導体メモリ内のデータの読みだしお
よび前記半導体メモリ内へのデータの書き込みを制御す
るメモリ制御部とからなる半導体記憶装置において、 前記半導体記憶装置は前記コネクタ部から入力されたア
ドレス信号が設定パスワード記憶領域を指している場合
にメモリ制御部に一致信号を出力する設定パスワードア
ドレス比較部と、 前記メモリ制御部から出力された設定パスワードと前記
コネクタ部から入力された入力パスワードが一致した場
合前記メモリ制御部へ一致信号を出力するパスワード照
合部とを有し、 前記半導体メモリは設定パスワードが書き込まれている
設定パスワード記憶領域を有し、 前記メモリ制御部は設定パスワードアドレス比較部から
の一致信号を受けた場合前記半導体メモリの設定パスワ
ード記憶領域から設定パスワードを読み出しパスワード
照合部に出力し、パスワード照合部からの一致信号を受
けるまで前記半導体メモリへのアクセスを禁止すること
を特徴とする半導体記憶装置。
1. A semiconductor memory for storing various data,
A connector unit for coupling with the reader / writer device, and controlling reading of data from the semiconductor memory and writing of data into the semiconductor memory according to an instruction from the reader / writer device input via the connector unit. A semiconductor memory device comprising a memory control unit, wherein the semiconductor memory device outputs a coincidence signal to the memory control unit when an address signal input from the connector unit points to a set password storage area. And a password collating unit that outputs a coincidence signal to the memory control unit when the setting password output from the memory control unit and the input password input from the connector unit match, the semiconductor memory has a setting password. Has a setting password storage area in which The memory control unit reads the set password from the set password storage area of the semiconductor memory when the coincidence signal is received from the set password address comparison unit, outputs the set password to the password collation unit, and the semiconductor memory until the coincidence signal from the password collation unit is received. A semiconductor memory device characterized in that access to a memory is prohibited.
【請求項2】 請求項1記載において、 前記半導体メモリは、前記コネクタ部からの書き込み制
御信号を受けるとデータの書き込みが可能であり、読み
だし制御信号を受けるとデータの読みだしが可能であ
り、 前記メモリ制御部は設定パスワードアドレス比較回路か
らの一致信号を受けた場合、コネクタ部からの書き込み
制御信号を読みだし制御信号に変換して前記半導体メモ
リの設定パスワード記憶領域から設定パスワードを読み
出しパスワード照合部に出力することを特徴とする半導
体記憶装置。
2. The semiconductor memory according to claim 1, wherein the semiconductor memory can write data when receiving a write control signal from the connector portion, and can read data when receiving a read control signal. When the memory control unit receives a coincidence signal from the set password address comparison circuit, the write control signal from the connector unit is read out and converted into a control signal to read the set password from the set password storage area of the semiconductor memory. A semiconductor memory device characterized by outputting to a collating unit.
【請求項3】 請求項1記載において、 前記半導体記憶装置は、前記コネクタ部から入力された
アドレス信号が選択情報記憶領域を指している場合にメ
モリ制御部に一致信号を出力する選択情報アドレス比較
部を有し、 前記半導体メモリは標準モードとパスワード照合モード
のいずれかを指示する選択情報が書き込まれている選択
情報記憶領域を有し、 前記メモリ制御部は前記選択情報アドレス比較部からの
一致信号を受けた場合に該選択情報を参照し、標準モー
ドである場合前記半導体メモリへのアクセス禁止を解除
することを特徴とする半導体記憶装置。
3. The selection information address comparison according to claim 1, wherein the semiconductor memory device outputs a match signal to a memory control unit when an address signal input from the connector unit points to a selection information storage area. The semiconductor memory has a selection information storage area in which selection information for instructing either a standard mode or a password verification mode is written, and the memory control unit has a match from the selection information address comparison unit. A semiconductor memory device, wherein when the signal is received, the selection information is referred to, and in the standard mode, the access inhibition to the semiconductor memory is released.
【請求項4】 請求項3において、前記選択情報記憶領
域を前記半導体メモリのアドレス`0(H)´番地また
は、アドレス`0(H)´番地から始まる無効デ−タの
次のアドレスにもつことを特徴とする半導体記憶装置。
4. The selection information storage area according to claim 3, having the address "0 (H) 'of the semiconductor memory or an address next to invalid data starting from the address" 0 (H)'. A semiconductor memory device characterized by the above.
【請求項5】 請求項4において、前記半導体メモリの
前記選択情報記憶領域の内容を1バイトで表し、標準モ
ードはデ−タ`00(H)´、デ−タ`01(H)´ま
たはデ−タ`FF(H)´のいずれかとし、パスワード
照合モードはデ−タ`00(H)´、デ−タ`01
(H)´およびデ−タ`FF(H)´以外のいずれかと
することを特徴とする半導体記憶装置。
5. The content of the selection information storage area of the semiconductor memory according to claim 4, which is represented by 1 byte, and the standard mode is data 00 (H) ', data 01 (H)' or Either data FF (H) 'and password verification mode is data 00 (H)', data 01
(H) 'and data FF (H)' other than the semiconductor memory device.
【請求項6】 請求項1において、前記パスワ−ド照合
部の照合結果により、半導体メモリ2の書込みまたは読
出し禁止状態を解除した後は、前記半導体メモリ2に書
込まれている設定パスワ−ドの変更および読出しが自由
にできることを特徴とした半導体記憶装置。
6. The set password written in the semiconductor memory 2 according to claim 1, after the write-in or read-out prohibited state of the semiconductor memory 2 is released according to the collation result of the password collation unit. A semiconductor memory device characterized in that it can be freely changed and read.
【請求項7】 請求項1において、前記パスワ−ド照合
部に照合回数を数えるカウンタ手段を付加し、一定回数
以上の照合動作を行なった場合は、それ以後設定パスワ
−ドと入力パスワ−ドが一致しても、前記メモリ制御部
に特定信号を出力しないことを特徴とした半導体記憶装
置。
7. The password verifying unit according to claim 1, wherein a counter means for counting the number of times of verification is added to the password verification unit, and when the verification operation is performed a predetermined number of times or more, a setting password and an input password are thereafter added. The semiconductor memory device is characterized in that it does not output a specific signal to the memory control unit even if the two match.
【請求項8】 請求項1において、前記半導体メモリの
一部分または全部を電池でバックアップした揮発性メモ
リとし、この電池をはずすことで、揮発性メモリのデ−
タ内容は消えるが、同時に半導体メモリ2の書込みまた
は外部への読出し禁止状態をも解除できることを特徴と
した半導体記憶装置。
8. The volatile memory according to claim 1, wherein a part or all of the semiconductor memory is backed up by a battery, and the battery is removed to remove the volatile memory data.
The semiconductor memory device is characterized in that the contents of the memory are erased, but at the same time, the write-in or read-out prohibited state of the semiconductor memory 2 can be released.
【請求項9】 請求項1項において、前記半導体メモリ
はフラッシュメモリであって、前記半導体記憶装置はさ
らにリセットコマンド比較回路とリセット回路とを備
え、上記リセットコマンド比較回路はリーダライタから
入力されたコマンドが所定のリセットコマンドと一致し
た場合に一致信号を出力し、上記リセット回路は上記一
致信号の出力で上記半導体メモリの記憶内容をリセット
することを特徴とする半導体記憶装置。
9. The semiconductor memory according to claim 1, wherein the semiconductor memory is a flash memory, the semiconductor memory device further includes a reset command comparison circuit and a reset circuit, and the reset command comparison circuit is input from a reader / writer. A semiconductor memory device characterized in that when a command matches a predetermined reset command, a match signal is output, and the reset circuit resets the contents stored in the semiconductor memory by outputting the match signal.
【請求項10】 各種データを記憶する半導体メモリ
と、リーダライタ装置と結合するためのコネクタ部と、
リーダライタ装置に対して前記半導体メモリに対するデ
ータの読み書きを許可する許可モードと、リーダライタ
装置に対して前記半導体メモリに対するデータの読み書
きを禁止する禁止モードとを有し、前記コネクタ部を介
して入力された前記リーダライタ装置からの指示に従っ
て前記半導体メモリ内への書き込みを制御するメモリ制
御部とから構成される半導体記憶装置において、 前記半導体メモリにはフラグが記憶され、前記メモリ制
御部は、外部から電力が供給された際常に禁止モードで
あり、リーダライタ装置から前記コネクタ部を介して前
記フラグの読みだし指示が入力され、かつ、前記フラグ
が所定値である場合に許可モードに移行することを特徴
とする半導体記憶装置。
10. A semiconductor memory for storing various data, and a connector portion for coupling with a reader / writer device,
Inputting via the connector unit has a permission mode for permitting the reader / writer device to read / write data from / into the semiconductor memory and a prohibition mode to inhibit the reader / writer device from reading / writing data in to / from the semiconductor memory. A semiconductor memory device configured to control writing into the semiconductor memory according to an instruction from the reader / writer device that has been written, a flag is stored in the semiconductor memory, and the memory control unit is an external device. When the power is supplied from the device, it is always in the prohibit mode, and when the reading / writing instruction of the flag is input from the reader / writer device through the connector section and the flag has a predetermined value, the mode is changed to the permit mode. A semiconductor memory device characterized by:
【請求項11】 各種データを記憶する半導体メモリ
と、リーダライタ装置と結合するためのコネクタ部と、
前記コネクタ部を介して入力されたリーダライタ装置か
らの指示に従って前記半導体メモリ内のデータの読みだ
しおよび前記半導体メモリ内へのデータの書き込みを制
御するメモリ制御部とからなる半導体記憶装置におい
て、 前記半導体記憶装置は、前記コネクタ部から入力された
アドレス信号が選択情報記憶領域を指している場合にメ
モリ制御部に一致信号を出力する選択情報アドレス比較
部を有し、 前記半導体メモリは選択情報が書き込まれている選択情
報記憶領域を有し、 前記メモリ制御部は選択情報アドレス比較部からの一致
信号を受けた場合前記半導体メモリの選択情報記憶領域
から選択情報を読み出し、該選択情報が所定値である場
合にのみ、半導体メモリ内のデータの読みだしおよび前
記半導体メモリ内へのデータの書き込みを可能とするこ
とを特徴とする半導体記憶装置
11. A semiconductor memory for storing various data, and a connector portion for coupling with a reader / writer device,
A semiconductor memory device comprising: a memory control unit that controls reading of data from the semiconductor memory and writing of data into the semiconductor memory according to an instruction from the reader / writer device input via the connector unit; The semiconductor memory device includes a selection information address comparison unit that outputs a coincidence signal to the memory control unit when the address signal input from the connector unit points to the selection information storage area, and the semiconductor memory has the selection information. The memory control unit has a written selection information storage area, and when the memory control unit receives a match signal from the selection information address comparison unit, the selection information is read from the selection information storage region of the semiconductor memory, and the selection information has a predetermined value. Read data in the semiconductor memory and write data in the semiconductor memory only when The semiconductor memory device which is characterized in that to enable
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