JPH07174942A - 光結合機構 - Google Patents

光結合機構

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JPH07174942A
JPH07174942A JP31940093A JP31940093A JPH07174942A JP H07174942 A JPH07174942 A JP H07174942A JP 31940093 A JP31940093 A JP 31940093A JP 31940093 A JP31940093 A JP 31940093A JP H07174942 A JPH07174942 A JP H07174942A
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JP
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optical
light
optical waveguide
optical coupling
waveguide element
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JP31940093A
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English (en)
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Toshimichi Shintani
俊通 新谷
Takeshi Shimano
健 島野
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光線を光導波路素子に入射結合させる光結合
機構において、光結合効率を最大にする光素子間の相対
位置を自動的に設定し、かつ該相対位置を保持する機構
を実現する。 【構成】 光源102からの入射光が光ファイバ103
を通過した結果生じる光の強度を光検出器で検出し、入
射光のウォブリングで生じる検出信号の基本周波数成分
を同期検波器110、低周波通過形回路111で導出し
て光結合効率最大の位置からのずれ信号とし、これがゼ
ロとなるよう入射光と光ファイバ103の位置をサーボ
回路112でサーボ制御する。 【効果】 入射光と光ファイバの光結合部分の相対の位
置の設定が自動的に行われるため、操作に必要な労力及
び時間が大幅に減少され、かつ、確実に光結合効率が最
大となる。また、上記の光結合効率最大の相対位置が保
持される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光線を光導波路素子に入
射結合する光結合機構、および光を媒体に入射すること
により媒体上に記録された情報を読み取る、或いは媒体
上に情報を記録する光記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光結合方法では、光結合部分の光
線或いは光結合素子の一方を固定しておき、固定されて
いない他方の位置合わせを光結合率が最大になるように
手動で行い、はんだ・樹脂等の接着剤で固定していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の光結合技術で
は、光線或いは光導波路素子の位置合わせに多大な労力
かつ時間を要し、また位置合わせ後の素子の固定にも多
大な時間がかかっていた。
【0004】また、従来の光結合機構では、熱や装置の
振動によって光結合部分の光素子間の相対位置がずれる
ことによる光結合効率の低下は避けられない問題となっ
ていた。
【0005】そこで、本発明の目的は光導波路素子への
光結合部分での入射光線と光導波路素子との位置合わせ
と、素子の固定の労力及び時間を大幅に節約でき、さら
に常に光結合効率を高く維持することが容易な光結合機
構を提供するにある。
【0006】本発明の別の目的は、光記録装置への応用
により、光記録媒体上に常に最大効率の光が入射される
光記録装置の提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題は、光結合部分
の入射光線の位置或いは光導波路素子の位置を相対的に
移動するに移動機構と、この光結合部分を通過した光、
もしくは光結合部分を反射した光の強度を検出する検出
手段と、この検出出力を用いて光結合率が最大になるよ
うに上記入射光線の位置或いは光導波路素子の位置をを
移動させるサーボ手段とを備えた構成により解決され
る。
【0008】より具体的にいえば、本発明の第1の特徴
は光源、光路上に存在する光素子、光導波路素子のうち
の少なくとも1つを所定の周波数で微小振動させる手段
と、該光導波路素子を通過した光の強度を検出する手段
と、検出された光強度信号を上記の微小振動の周波数で
同期整流し、得られた信号に含まれる周波数成分のうち
上記の微小振動の周波数の2倍の高周波成分を除去する
手段と、光線と光導波路素子とのずれの量として、上記
操作によって得られた信号を0に近づけるように光源、
光路上に存在する光素子、光導波路素子の少なくとも1
つの位置を制御するサーボ手段を備える光結合機構にあ
る。
【0009】なお、光ファイバ端面へ入射光を結合する
場合などは、入射光と光導波路との相対位置合わせは、
通常、2軸方向に沿っておこなう。例えば、入射光の進
行方向をZ方向とすると、入射光位置、もしくは光導波
路の位置はX方向、Y方向に微小に位置合わせする必要
がある。よって、上述の微小振動させる手段、およびサ
ーボ手段を、これら2軸に交互に動作させる構成が用い
られる。あるいは、光源、光路上に存在する光素子、光
導波路素子のうちの少なくとも1つをx方向に第1の周
波数で、y方向に第2の周波数で微小振動させる手段を
用い、それぞれの周波数について同期整流および高周波
成分除去、並びにその結果によるサーボ手段を設け、x
方向、y方向の自動位置合わせが並行して行える構成と
することもできる。
【0010】本発明の第2の特徴は、光源から出射され
た光の回折光を得る手段と、発生した回折光を光導波路
素子の光入射口上に集光させる手段と、該光入射口から
光導波路内に入射されずに反射した+1次回折光及び−
1次回折光の強度を検出する手段と、これら検出信号の
差を演算し、該差分信号を光線と光導波路素子とのずれ
の量として光源、光路上に存在する光素子、光導波路素
子の少なくとも1つの位置を制御する手段とを備える光
結合機構にある。
【0011】本発明の第3の特徴は、光源から出射さ
れ、光導波路素子を通過した光の強度を検出しながら、
該光源、光路上に存在する光素子、光導波路素子の少な
くとも1つの位置を微小移動させる手段と、該微小移動
による信号変化の微分を検出し、該微分信号の正負によ
って上記光線と光導波路素子との相対位置のずれを検出
し、該相対位置を制御する手段を備える光結合機構にあ
る。
【0012】上記の光結合機構は光記録装置内の光源と
光導波路との光結合部分に用いることも可能である。
【0013】
【作用】上記それぞれの特徴的構成によって、光結合部
分に入射する光線と光導波路素子との相対位置の、光結
合効率最大の位置からのずれの方向或いはずれ量の検出
が可能となり、光結合効率最大の位置合わせが自動的に
行える。
【0014】まず、第1の特徴として述べた構成につい
て述べる。入射光線と光導波路素子との相対位置が、光
結合効率最大の位置からε0ずれていたとする。上記入
射光線或いは光導波路素子が周波数fで微小振動してお
り、該振動の微小振幅即ちウォブリング量をwとする
と、総ずれ量ε(t)は、 ε(t)=ε0+w sin(2πft) と書ける。すると、光強度検出の際に検出される信号i
(t)は、光導波路素子の光入射口の幅をqとすると、
a、bを定数として、 i(t)=a+b cos{2πε(t)/q} =a+b cos[2π/q{ε0+w sin(2πf
t)}] と書けるが、ウォブリング量wが小さいときは、上式は i(t)≒a+b cos(2πε0/q)−(2πbw
/q) sin(2πε0/q)sin(2πft)とな
る。即ち、得られる光強度検出信号のうち正弦的に振動
する成分は上式の第3項のみである。よって、上式第3
項成分を摂動振動周波数fで同期整流する、即ちsin
(2πft)をかけると、 W=−(πbw/q) sin(2πε0/q){1−c
os(4πft)}となる。上式の信号において、周波
数fの2倍の高周波成分を低周波通過形回路によって遮
断すれば、上式は W=−(πbw/q) sin(2πε0/q) ≒−(2π2bw/q2)ε0 となり、最終的に得られる信号は、光線と光導波路素子
の相対位置の、光結合効率最大の位置からのずれ量に比
例する。よって、上記方法によって、光線と光導波路素
子の相対位置の、光結合効率最大の位置からのずれの方
向或いはずれ量の検出が可能となる。 得られた信号ε0
をサーボ回路に送り、該信号を0に近づけるように光線
或いは光導波路素子の位置を制御すれば、光結合効率は
最大となり、該最大結合効率が保たれる。
【0015】次に、第2の特徴として述べた構成につい
て述べる。光源から出射された光が回折格子に入射する
ことによって生じた−1次回折光及び+1次回折光が、
光導波路素子上で、0次回折光からそれぞれε0、−ε0
ずれているとする。0次回折光が光導波路素子の光入射
口の中心からεだけずれているとすると上記−1次回折
光及び+1次回折光は該光入射口の中心からそれぞれε
+ε0及びε−ε0ずれているから、 検出される−1次
回折光及び+1次回折光の強度i1、i-1は、光導波路
素子の光入射口の幅をqとすると、 i1=a−b cos{2π(ε+ε0)/q} i-1=a−b cos{2π(ε−ε0)/q} と書ける。上式のi1とi-1の差を演算すると、得られ
る信号Δiはεが小さい場合、 Δi=2b sin(2πε0/q) sin(2πε/
q)≒(4πb/q)sin(2πε0/q) ε となり、光のずれ量εに比例する。よって、上記方法に
より、光線と光導波路素子の相対位置の、光結合効率最
大の位置からのずれの方向或いはずれ量の検出が可能と
なる。得られた信号をサーボ回路に送り、光線或いは光
導波路素子の位置を制御すれば、光結合効率は最大とな
る。
【0016】次に、第3の特徴として述べた構成につい
て述べる。入射光線或いは光導波路素子を微小距離移動
させると、この光導波路素子を通過する光の強度Iは、
入射光線に対する光導波路素子の位置xに依存して図4
(a)のように変化する。この変化を微分演算すると、
得られる微分信号iはxに依存して図4(b)のような
変化を示す。図4(a)及び(b)からわかるように、
微分信号iが0になる位置が光結合効率が最大となる位
置であり、かつ、該微分信号の正負によって光線と光導
波路素子との相対位置のずれの方向も判別可能である。
【0017】これらの構成によれば、光素子間の相対位
置は自動的に光結合効率が最大の位置に設定され、従来
技術において人工的に位置合わせを行ない、かつ、光素
子の固定を行っていた場合の労力及び時間の大幅な節約
が、本発明によって可能となる。また、上記サーボを上
記光素子からなる装置・デバイスを使用する間常時繰り
返すことにより、常に光結合効率が最大である光結合が
実現され、従来に技術において存在した光結合効率の低
下の問題が本発明によって解決される。
【0018】上記の光結合機構を光記録装置に応用すれ
ば、光記録媒体上に常に最大効率の光が入射される光記
録装置の実現が可能となる。
【0019】
【実施例】以下に半導体レーザから発射されたレーザ光
を光ファイバに入射する光結合に本発明を応用した実施
例について述べる。
【0020】図1は、光ディスク装置において光スポッ
トの位置合わせに用いられているウォブリング法を応用
した本発明の第1の実施例を示す。
【0021】半導体レーザ100から発射されたレーザ
光101は集光レンズ102を経て光ファイバ103の
光入射面106に入射する。光ファイバ103は振動用
及びサーボ用ピエゾ素子104に接着され、このピエゾ
素子はXYステージ105に装着されている。このXY
ステージ105における移動方向(X方向およびY方
向)は、光ファイバ103の光入射面106を含む面内
の直交する2軸である。該ピエゾ素子104は、上記
X、Yの2軸方向にそれぞれ駆動可能な構造を有する。
【0022】まず、光入射面106上の光スポットを見
ながら、XYステージ105を用いて大まかに光ファイ
バ103の位置合わせを行う。この時点では、光スポッ
トの一部が光ファイバ103内に入射されていればよ
い。上記位置合わせが困難である場合は、光ファイバの
光発射面107から発射された光の強度を検出する光検
出器109を用い、光検出器109の信号が検出された
位置に光ファイバ103の位置を合わせることも可能で
ある。次に、上記ピエゾ素子104を交流電源113に
接続し、ピエゾ素子104をX、Y2軸方向に振動させ
る。該振動の振幅は、光ファイバ103のコア径の数%
程度とするのが最も好ましい。この2軸方向への振動は
同時ではなく、交互に行う。光ファイバの光発射面10
7から発射された光はプリズム108によって2分さ
れ、これら2分された光の一方が光ファイバ103の位
置の制御に必要な光検出のために利用される。つまり、
光の強度を光検出器109にて検出され、得られた検出
信号が同期整流器110にて同期整流される。同期整流
器110において得られた信号のうち上記振動の周波数
の2倍以上の高周波成分を低周波通過形回路111にお
いて遮断し、得られた信号をサーボ回路112へ送る。
低周波通過形回路111を通過した信号は、光ファイバ
103の光入射面106上に存在する光101の光スポ
ットの、光結合率最大の位置からのずれの距離に近似的
に比例するので、得られた信号に比例した距離だけ光フ
ァイバ103の位置を移動する機構をサーボ回路112
に設置し、ピエゾ素子104によって光ファイバ103
の位置を制御する。
【0023】サーボ回路112に含まれるX方向のサー
ボ機構のブロック図を図5に示す。実際の光スポットの
位置xと、光結合効率最大となる光スポットの位置x0
との差εを検出し、該εが0に近づくように光ファイバ
の位置を制御する。このサーボ制御は、ピエゾ素子10
4がX方向に駆動されている期間に動作する。ピエゾ素
子104がY方向の駆動に切り替わると、サーボ回路1
12の機能はサーボアクチュエータ、もしくはサーボア
クチュエータおよびサーボ増幅器の切替により、Y方向
のサーボ制御に切替られる。したがって、図1のサーボ
回路112にはピエゾ素子の振動の切替との同期を取る
ために交流電源113からの同期信号が与えられる。こ
の構成により、X方向、Y方向の位置合わせが交互に実
施され、光スポットが光結合効率最大となるの位置に自
動調整される。
【0024】上記の実施例では、光線と光ファイバ10
3とのずれ量を検出する際、X、Y方向に交互に振動を
加えたが、X、Y2軸方向に異なった振動数の振動を加
え、上記ずれ量を2軸方向独立にかつ同時に検出する構
成とすることも可能である。X、Y方向に加える振動の
振動数をそれぞれfX、fYとすると、光検出器109に
おいて得られた光強度信号を2分し、該信号のそれぞれ
をfX、fYの振動数で同期整流し、上記の方法で低周波
成分を遮断する。 すると、fXで同期整流した信号はX
方向のずれ量を示し、 fYで同期整流した信号はY方向
のずれ量を示す。よって、X、Y方向のずれ量が同時か
つ別々に判定される。
【0025】図2は、光ディスク装置において光スポッ
トの位置合わせに用いられているツインスポット法を応
用した本発明の第2の実施例を示す。
【0026】半導体レーザ200から発射された光20
1を薄膜光導波路205の光入射面206に入射する。
半導体レーザ200と薄膜光導波路205の間には、図
にあるように集光レンズ202、回折格子203、プリ
ズム204を設置する。半導体レーザ200はサーボ用
ピエゾ素子20に被着されている。薄膜光導波路・ピエ
ゾ素子結合系はXステージ209上に設置されるてい
る。このXステージ209の移動方向(X方向)は、薄
膜光導波路205の膜面に垂直な方向である。ピエゾ素
子208は、上記X軸方向に駆動可能な構造を持つ。
【0027】まず、半導体レーザ200から発射された
レーザ光を光入射面206に入射させるために、Xステ
ージ209を用いて大まかに半導体レーザ200の位置
合わせを行う。半導体レーザ200からレーザ光201
を発射すると、回折格子203において回折光が生じ
る。−1次、0次及び+1次回折光はプリズム204を
通過し、薄膜光導波路205の光入射面206に達す
る。光入射面206から薄膜光導波路205内へ入射さ
れなかった光は反射し、プリズム204において曲が
り、光検出器210へ入射する。光検出器210には、
独立に2つの光を検出する機構を設置する。該機構によ
り、光ファイバ205の光入射面206において反射さ
れた−1次回折光及び+1次回折光の強度を独立に検出
する。該光強度信号を差分回路211において差分処理
する。該差分回路において得られる信号は、薄膜光導波
路205の光入射面206上に存在する光201の光ス
ポットの、光結合効率最大の位置からのずれ量に近似的
に比例するので、得られた信号に比例した距離だけ位置
制御する機構をサーボ回路212に設置し、サーボ用ピ
エゾ素子208によって半導体レーザ200の位置を制
御する。サーボ機構のブロック図は、図5に示すのと同
様となる。
【0028】本発明の第3の実施例を図3に示す。上記
第1実施例と同様、半導体レーザ300から発射された
レーザ光301を光集光レンズ302を経てファイバ3
03に入射する。光ファイバ303には、微小振動用及
びサーボ用ピエゾ素子304を接着し、更に、XYステ
ージ305上に固定する。該XYは、光ファイバ303
の光入射面306を含む面内の直交する2軸である。ピ
エゾ素子304は、上記XY2軸方向に可動な構造とす
る。最初に、光入射面306上の光スポットを見なが
ら、XYステージ305を用いて大まかに光ファイバ3
03の位置合わせを行う。この時点では、レーザ光30
1の一部が光ファイバ303内に入射されていればよ
い。上記位置合わせが困難である場合は、光ファイバの
光発射口307から発射された光の強度を検出する光検
出器309を用い、光検出器309の信号が検出された
位置に光ファイバ303の位置を合わせることも可能で
ある。光ファイバ303の光発射口307から発射され
た光をプリズム308において2分し、該2分した光の
一方の強度を光検出器309において検出する。次にピ
エゾ素子304に電圧を印加し、光ファイバ303を微
小距離移動させる。該操作によって生じる上記光強度信
号の変化を微分回路310において微分演算し、該演算
信号をサーボ回路311へ送る。サーボ回路311に
は、微分回路310において得られた信号が正であれば
ピエゾ素子304によって光ファイバ303を移動させ
た方向と同方向に位置制御し、該演算信号が負の場合は
上記方向と逆方向に位置制御し、0であった場合は光フ
ァイバこの位置制御を行わないという機構を設置する。
上記操作は、繰返し、XY方向に交互に行う。ピエゾ素
子の振動と位置制御の動作を同期するために、サーボ回
路311及びピエゾ素子304の電源312とを接続
し、電圧印加の方向を同期する。
【0029】以上に説明した第1〜3の実施例では、例
えば光スポットと光ファイバ或いは薄膜導波路の相対位
置が外部らの振動などにより瞬間的に大きくずれ、光ス
ポットが光ファイバ或いは薄膜光導波の光入射口と全く
交差しなくなった場合でも、光線と光ファイバの相対位
置のずれ量の信号、つまり、実施例1における低周波通
過形回路111を介した同期整流出力、実施例1におけ
る差分回路211の出力、もしくは実施例3における微
分回路3の出力は0となり、光結合効率最大の場合との
区別がつかない。一方、光スポットの位置xによる光導
波路内に入射される光の強度Iの変化は、図6中の曲線
のようになる。領域IIは上記各実施例に述べた制御を行
って位置合わせを行うことが可能な領域である。 領域
I及びIIIは、光スポットと光導波路の光入射部分との
重なりが存在しない領域であり、一旦領域Iまたは III
に光スポットがずれたら上記各実施例の構成では手動に
よる大まかな位置合わせを再び行う必要がある。この問
題は、測定された光ファイバ或いは薄膜導波路から出射
された光の強度と、上述の各実施例における「ずれ量の
信号」とを参照し、これら2信号が共に0であった場
合、光スポット或いは導波路を大きく振動させ、導波路
から出射される光の強度信号が検出される位置まで移動
させる、という粗動制御系を付加することによって解決
される。例えば、図1の光検出器109からサーボ回路
112に直接導かれた線は光ファイバ103から出射去
れた光の強度そのものを示す信号を示し、サーボ回路1
12のなかに上述のような粗動制御系を付加すればよ
い。図3でも全く同様である。
【0030】上記の動作を行う際、光スポット或いは導
波路を高速に移動させるが、上記第1〜3実施例に述べ
た微動制御系を始動させるタイミングをあわせないと、
光スポット或いは導波路が反対側にずれてしまい、制御
が不安定となる。そこで、以下のようなタイミング制御
機能をさらに付加するのが最も好ましい。まず、光スポ
ット位置のサーボ制御の最中に、例えば図1で光検出器
109の出力と低周波通過形回路111の出力が共にゼ
ロとなると、まず低周波通過形回路111の出力を用い
る微動制御系の位置制御の機能を停止する。但し、交流
電源113によるしんウォブリングは継続する。つぎ
に、低周波通過形回路111の出力、つまりずれ信号を
モニタしながら、粗動制御系を動作させる。ずれ信号は
図6の線荷沿う変化をするので、図6のIth+とIth-
二つの閾値との比較を行い、ずれ信号がIth- 〜 Ith+
の範囲を一旦逸脱し、再びIth- 〜 Ith+の範囲に入っ
たときに粗動制御系を動作を停止するとともに、微動制
御系の位置制御の機能を再開する。この機構を光線と光
ファイバの初期位置合わせに利用することも可能であ
り、これにより、手動による位置合わせ操作の負担を大
幅に軽減できる。
【0031】上記第1及び第3実施例において光ファイ
バを振動させたが、これに代えて半導体レーザ、もしく
は集光レンズを振動させ、つまり光結合部分への入射光
位置を振動させても同様に動作することは勿論である。
また、光ファイバをサーボ制御するか、導体レーザもし
くは集光レンズをサーボ制御するかも、自由に選択でき
る。
【0032】第1及び第3実施例における振動の振幅は
該光ファイバのコア径の数%であり非常に微小であるの
で、該振動による光スポットの焦点のずれはほとんど問
題とならない。該問題が生じた場合でも、光記録技術に
おいて用いられている自動焦点合わせの技術を用いれ
ば、問題は解決される。
【0033】図7は、上記第1実施例の光結合機構を、
光記録装置に応用した実施例を示す図である。第1実施
例記載の光結合機構と異なる点は、第1実施例において
はピエゾ素子104がXYステージ105上に設置され
ていたが、本実施例ではXYステージを設置していない
点である。これは、光記録装置内にXYステージが存在
するのは現実的ではないことによる。光導波路の初期位
置あわせ及び光線と光導波路との相対位置が大きくずれ
た場合の位置あわせは、上記の粗動制御系を用いる。
【0034】プリズム108において2分された光のう
ち、一方は第1実施例において述べたように光検出器1
09へ入射され、光導波路の位置あわせに利用される。
もう一方の光はレンズ102によって集光され、光ディ
スク700に入射される。光ディスク700は回転して
おり、入射した光によって、該ディスク上に書き込まれ
ている情報の読み出し、或いは、該ディスク上への所定
の情報の書き込みが行われる。該書き込み/読み出しの
操作は、従来の光記録の方式と同様である。
【0035】図2、図3に示した光結合機構も、それぞ
れプリズム213、308のもう一方の光出力を光ディ
スクへの照射光スポット形成に用いることにより光記録
装置に適用できる。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、複数の光素子間の光結
合において、従来技術では多大な労力と時間を必要とし
ていた複数の光素子間の位置合わせ、及び有効な対策が
存在しなかった光結合効率の低下の問題が、光素子間の
位置合わせを設定時及び設定後自動にすることにより解
決される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例のブロック図。
【図2】本発明の第2の実施例のブロック図である説明
図。
【図3】本発明の第3の実施例のブロック図。
【図4】第3の実施例の光ファイバと光線の相対位置に
対する光強度信号と微分演算信号の依存性を示す特性
図。
【図5】各実施例のサーボ機構の機能を示すブロック
図。
【図6】各実施例の光ファイバ或いは薄膜導波路の光入
射端における光スポットの位置xとずれ信号Iとの関係
示す特性図。
【図7】本発明第1実施例を光記録装置に応用した実施
例示すブロック図である。説明図。
【符号の説明】
100:半導体レーザ、101:半導体レーザ100か
ら発射された光、102:集光レンズ、103:光ファ
イバ、104:振動用ピエゾ素子、105:XYステー
ジ、106:光ファイバ103上の光入射口、107:
光ファイバ103上の光発射口、108:プリズム、1
09:光検出器、110:同期整流器、111:低周波
通過形回路、112:サーボ回路、113:交流電源、
200:半導体レーザ、201:半導体レーザ200か
ら発射された光、202:集光レンズ、203:回折格
子、204:プリズム、205:光ファイバ、206:
光ファイバ205の光入射口、207:光ファイバ20
5の光発射口、208:サーボ用ピエゾ素子、209:
XYステージ、210:光検出器、211:差分回路、
212:サーボ回路、213:プリズム、214:光検
出器、300:半導体レーザ、301:半導体レーザ3
00から発射された光、302:集光レンズ、303:
光ファイバ、304:ピエゾ素子、305:XYステー
ジ、306:光ファイバ303上の光入射口、307:
光ファイバ303上の光発射口、308:プリズム、3
09:光検出器、310:微分回路、311:サーボ回
路、312:ピエゾ素子用電源、700:光ディスク。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源から発射された光を光導波路に入射結
    合させる光結合機構において、前記導波路素子に入射す
    る入射光線と前記導波路素子の相対位置を移動する手段
    と、前記入射光線と前記導波路素子の光結合部分を通過
    した光、もしくは結合せずに反射した光の強度を検出し
    て上記光線可動機構を制御する手段を有することを特徴
    とする光結合機構。
  2. 【請求項2】上記請求項1に光結合機構において、上記
    可動機構によって光線と導波路素子とを相対的に微小振
    動させ、上記光結合部分を通過した光の強度を検出し、
    かつ、該検出信号に含まれる振動成分の振幅を誤差信号
    として光線可動機構或いは光導波路素子可動機構を制御
    することを特徴とする光結合機構。
  3. 【請求項3】光源から発射された光を光導波路に入射結
    合させる光結合機構において、光源、光路上に存在する
    光素子、光導波路素子のうちの少なくとも1つを所定の
    周波数で微小振動させる手段と、該光導波路素子を通過
    した光の強度を検出する手段と、検出された光強度信号
    を上記の微小振動の周波数で同期整流し、得られた信号
    に含まれる周波数成分のうち上記の微小振動の周波数の
    2倍の高周波成分を除去する手段と、光線と光導波路素
    子とのずれの量として、上記操作によって得られた信号
    を0に近づけるように光源、光路上に存在する光素子、
    光導波路素子の少なくとも1つの位置を制御するサーボ
    手段を備えることを特徴とする光結合機構。
  4. 【請求項4】光源から発射された光を光導波路に入射結
    合させる光結合機構において、光源から出射された光の
    回折光を得る手段と、発生した回折光を光導波路素子の
    光入射口上に集光させる手段と、該光入射口から光導波
    路内に入射されずに反射した+1次回折光及び−1次回
    折光の強度を検出する手段と、これら検出信号の差を演
    算し、該差分信号を光線と光導波路素子とのずれの量と
    して光源、光路上に存在する光素子、光導波路素子の少
    なくとも1つの位置を制御する手段とを備えることを特
    徴とする光結合機構。
  5. 【請求項5】光源から発射された光を光導波路に入射結
    合させる光結合機構において、光源から出射され、光導
    波路素子を通過した光の強度を検出しながら、該光源、
    光路上に存在する光素子、光導波路素子の少なくとも1
    つの位置を微小移動させる手段と、該微小移動による信
    号変化の微分を検出し、該微分信号の正負によって上記
    光線と光導波路素子との相対位置のずれを検出し、該相
    対位置を制御する手段を備えることを特徴とする光結合
    機構。
  6. 【請求項6】上記請求項1乃至5のいずれかに記載の光
    結合機構を備え、さらに該光結合機構を通過した光によ
    り形成する光スポットを記録媒体に照射する手段を備え
    ることを特徴とする光記録装置。
JP31940093A 1993-10-08 1993-12-20 光結合機構 Pending JPH07174942A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6996311B1 (en) 2002-11-07 2006-02-07 Pentax Corporation Optical communication device
US7043118B2 (en) 2002-05-22 2006-05-09 Pentax Corporation Optical communication apparatus
US7050677B2 (en) 2002-11-05 2006-05-23 Pentax Corporation Optical fiber and method for producing the same
WO2023228303A1 (ja) * 2022-05-25 2023-11-30 日本電信電話株式会社 調芯方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7043118B2 (en) 2002-05-22 2006-05-09 Pentax Corporation Optical communication apparatus
US7050677B2 (en) 2002-11-05 2006-05-23 Pentax Corporation Optical fiber and method for producing the same
US6996311B1 (en) 2002-11-07 2006-02-07 Pentax Corporation Optical communication device
WO2023228303A1 (ja) * 2022-05-25 2023-11-30 日本電信電話株式会社 調芯方法

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