JPH07167999A - Image focusing type x-ray microscope - Google Patents

Image focusing type x-ray microscope

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JPH07167999A
JPH07167999A JP5315152A JP31515293A JPH07167999A JP H07167999 A JPH07167999 A JP H07167999A JP 5315152 A JP5315152 A JP 5315152A JP 31515293 A JP31515293 A JP 31515293A JP H07167999 A JPH07167999 A JP H07167999A
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JP
Japan
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ray
imaging
image
image data
sample
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5315152A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisao Ozeki
尚夫 大関
Hiroshi Nagata
浩 永田
Katsumi Sugiura
克己 杉浦
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH07167999A publication Critical patent/JPH07167999A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide an image focusing type X-ray microscope capable of enlarging an observation area. CONSTITUTION:In order to enlarge an observation area, an image focusing type X-ray microscope has jogging mechanism 10 for displacing a sample holder 3 accommodating a sample capsule 8 charged with an observation sample, a driving circuit part 11 for driving the jogging mechanism 10, an X-ray driving circuit part 14 for driving an X-ray generator 1, a control circuit part 12 for taking in X-ray image data obtained by an image pickup device 5 and controlling X-ray outgoing timing, image pickup timing and displacement timing, and a memory data processing part 13 for storing plural X-ray image data taken in by the control circuit part 12 and executing image processing to these X-ray image data so as to synthesize images, and the like.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、X線顕微鏡に係り、特
に、画像処理機能を備えた結像型X線顕微鏡に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray microscope, and more particularly to an imaging X-ray microscope having an image processing function.

【0002】[0002]

【従来の技術】医学や生物工学等における生体の高倍率
観察に対する要求の高まりに対応して、波長2〜5nm
程度の軟X線を用いるX線顕微鏡が注目され、開発が行
われている。このような軟X線を用いる従来のX線顕微
鏡は、図4にその概略が示されるような構造を有する。
2. Description of the Related Art In response to the increasing demand for high-magnification observation of living bodies in medicine, biotechnology, etc., a wavelength of 2 to 5 nm
An X-ray microscope using a soft X-ray of a certain degree has been noticed and developed. A conventional X-ray microscope using such soft X-rays has a structure whose outline is shown in FIG.

【0003】この従来のX線顕微鏡においては、X線収
束用のコンデンサー光学系2と、試料ホルダー3と、結
像光学系4と、撮像装置5とが、X線発生器1の出力光
軸上に直列に配置される構成を有する。ここで、X線発
生器1から撮像装置5までのX線光学系の光路長は約2
mである。また、この光学系全体は、排気系6を有する
真空槽7内に納められている。
In this conventional X-ray microscope, the condenser optical system 2 for X-ray focusing, the sample holder 3, the imaging optical system 4, and the image pickup device 5 are arranged so that the output optical axis of the X-ray generator 1 is the same. It has the structure arrange | positioned in series on the top. Here, the optical path length of the X-ray optical system from the X-ray generator 1 to the imaging device 5 is about 2
m. The entire optical system is housed in a vacuum chamber 7 having an exhaust system 6.

【0004】さて、この従来例においては、観察試料を
装填した試料カプセル8を試料容器3内にセットした
後、排気系6を動作して真空槽7内を真空排気し、真空
度を4.8×10~2Pa以下に維持した状態で観察を行
う。X線発生器1から射出された軟X線ビームは、コン
デンサー光学系2により収束され、試料容器3にセット
された試料カプセル8を通過する。通過した軟X線は、
結像光学系4により撮像装置5上に結像して真空槽7外
のモニタ装置9に観察像を与える。
In the conventional example, after the sample capsule 8 loaded with the observation sample is set in the sample container 3, the exhaust system 6 is operated to evacuate the vacuum chamber 7 to a vacuum degree of 4. Observation is performed while maintaining the pressure at 8 × 10 to 2 Pa or less. The soft X-ray beam emitted from the X-ray generator 1 is converged by the condenser optical system 2 and passes through the sample capsule 8 set in the sample container 3. The passed soft X-rays are
An image is formed on the image pickup device 5 by the image forming optical system 4, and an observation image is given to the monitor device 9 outside the vacuum chamber 7.

【0005】ここで、使用されるX線顕微鏡のコンデン
サー光学系、または、結像光学系には、軟X線の収束に
係る幾多のX線光学素子が考えられるが、その中でも、
回折を利用したゾーンプレート、多層膜反射鏡、斜入射
反射鏡を用いるものが注目されている。
In the condenser optical system or the imaging optical system of the X-ray microscope used here, many X-ray optical elements relating to the convergence of soft X-rays are conceivable. Among them, among them,
Attention has been focused on a zone plate utilizing diffraction, a multilayer film reflecting mirror, and an oblique incidence reflecting mirror.

【0006】特に、波長2〜5nm程度の軟X線を用い
た生体観察用X線顕微鏡のX線光学素子として、この波
長域で高いX線集光効率・高分解能から考慮して、ゾー
ンプレート、ウォルター型斜入射反射鏡、多層膜斜入射
反射鏡のうちのいずれか、または、これらの組み合わせ
を用いるのが有望視されている。
[0006] In particular, as an X-ray optical element of an X-ray microscope for living body observation using soft X-rays having a wavelength of about 2 to 5 nm, the zone plate is considered in view of high X-ray focusing efficiency and high resolution in this wavelength range. It is considered promising to use any one of a Wolter type grazing incidence reflecting mirror, a multilayer film grazing incidence reflecting mirror, or a combination thereof.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
如きX線光学素子は、可視光光学素子に比べ、視野を大
きくすることがむずかしい。例えば、ウォルター型斜入
射鏡では、倍率40倍、分解能を0.1〜0.05μm
とすると、10μm程度の視野径である。
However, it is difficult for the X-ray optical element as described above to have a larger field of view than that of the visible light optical element. For example, in the Walter type oblique incidence mirror, the magnification is 40 times and the resolution is 0.1 to 0.05 μm.
Then, the visual field diameter is about 10 μm.

【0008】また、ゾーンプレートでは、倍率、分解
能、コントラストで視野径を正確に定義することができ
ないが、ゾーンプレートは回折を利用したX線光学素子
なので、X線の単色化が必要であり、そのため試料の前
面に5〜20μm程度のピンホールを挿入し、単色化を
図らなければならない。これが見かけ上の視野絞りとな
る。したがって、ゾーンプレートの視野径は、このピン
ホール径の5〜20μm程度といえる。
Further, in the zone plate, the field diameter cannot be accurately defined by the magnification, resolution and contrast, but since the zone plate is an X-ray optical element utilizing diffraction, it is necessary to make the X-ray monochromatic. Therefore, it is necessary to insert a pinhole of about 5 to 20 μm on the front surface of the sample to achieve monochromaticity. This is the apparent field stop. Therefore, it can be said that the visual field diameter of the zone plate is about 5 to 20 μm of the pinhole diameter.

【0009】上記程度の視野では、たとえ、光学顕微鏡
よりも分解能が上がって、生体の微小な領域が見えたと
しても、その微小な領域で撮像された小器官が、観察対
象の生体試料内のどこに位置しているか、またどのよう
な働きを持っているかを観察することが困難である。
In the visual field of the above degree, even if the resolution is higher than that of the optical microscope and a minute area of the living body can be seen, the organelle imaged in the minute area remains in the biological sample to be observed. It is difficult to observe where it is located and how it works.

【0010】本発明は、視野の小さなX線光学素子を用
いた結像型X線顕微鏡において、観察領域を大きくする
ことができるX線顕微鏡を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide an imaging X-ray microscope using an X-ray optical element having a small field of view, which can enlarge the observation region.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的は、結像型X線
顕微鏡において、試料の予め定めた観察位置と、X線の
結像位置に共役な位置とを一致させるために、当該試料
を予め定めた位置に保持する保持台と、試料の観察位置
にある部位を透過した透過X線、および、当該部位から
発生する蛍光X線のうち、少なくとも一方のX線を検出
して、当該観察位置でのX線像を示す信号を出力するX
線撮像手段と、X線撮像手段の撮像面上に、観察位置で
のX線像を結像する結像光学系と、保持台を変位して観
察位置を変える移動手段と、移動手段を制御して、予め
定めた方向および量で保持台を定量変位させると共に、
X線撮像手段を制御して、保持台が変位される毎に撮像
を行なわせ、得られたX線像を示す信号を受け入れて、
当該X線像を示す信号に基づいて得られた画像データ
を、当該定量変位に伴う観察位置情報と共に出力する制
御手段と、制御手段から出力された、複数の画像データ
および観察位置情報を受け入れ、それらの一部または全
部を合成して表示する画像処理手段とを有すること、を
特徴とする結像型X線顕微鏡により達成することができ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned object is to use an imaging X-ray microscope in order to match a predetermined observation position of the sample with a position conjugate with the X-ray imaging position. At least one of the X-rays transmitted through the holding table held at a predetermined position, the site at the observation position of the sample, and the fluorescent X-rays generated from the site is detected to perform the observation. X that outputs a signal indicating the X-ray image at the position
X-ray imaging means, an imaging optical system for forming an X-ray image at the observation position on the imaging surface of the X-ray imaging means, moving means for displacing the holding table to change the observation position, and controlling the moving means. Then, while displacing the holding table quantitatively in a predetermined direction and amount,
The X-ray imaging means is controlled so that imaging is performed every time the holding table is displaced, and a signal indicating the obtained X-ray image is accepted,
The image data obtained based on the signal indicating the X-ray image, the control means for outputting together with the observation position information associated with the quantitative displacement, and the plurality of image data and the observation position information output from the control means, And an image processing means for combining and displaying a part or all of them to display the image-forming X-ray microscope.

【0012】[0012]

【作用】本発明を適用した結像型X線顕微鏡において、
移動手段により、試料を保持する保持台を変位すること
で観察位置を変化させ、X線撮像手段により、観察位置
でのX線像を取得する。
In the imaging X-ray microscope to which the present invention is applied,
The moving unit changes the observation position by displacing the holding table that holds the sample, and the X-ray imaging unit acquires the X-ray image at the observation position.

【0013】制御手段は、移動手段およびX線撮像手段
を制御して、試料が定量変位される毎に検出された複数
のX線像を撮像させ、そのX線像を示す信号を取込む。
制御手段は、さらに、この信号を画像データに変換し
て、その画像データを、画像データが取得された観察位
置を示す情報と共に出力する。
The control means controls the moving means and the X-ray image pickup means to pick up a plurality of X-ray images detected each time the sample is displaced quantitatively, and fetches a signal showing the X-ray images.
The control means further converts this signal into image data and outputs the image data together with information indicating the observation position at which the image data was acquired.

【0014】画像処理手段は、制御手段から出力され
る、複数の観測位置で得られたX線像に対応する複数の
画像データを受け入れ、それら画像データを合成して、
表示する。合成する場合には、例えば、複数の画像デー
タを、それらが取得された観察位置の位置関係に対応し
てつなぎ合わせ、一つのX線画像に合成して表示する。
The image processing means receives a plurality of image data corresponding to the X-ray images obtained at a plurality of observation positions, output from the control means, synthesizes the image data,
indicate. In the case of combining, for example, a plurality of image data are connected according to the positional relationship of the observation positions where they are acquired, combined and displayed in one X-ray image.

【0015】以上の手段によれば、視野の小さいX線顕
微鏡において、観察可能な領域を拡大することが可能と
なる。
According to the above means, it is possible to enlarge the observable region in the X-ray microscope having a small field of view.

【0016】[0016]

【実施例】本発明を適用した結像型X線顕微鏡の一実施
例を、図を用いて説明する。ここで、図4に示す従来例
と同様の構造と機能を有する部材に対しては、同一の符
号を付す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an imaging X-ray microscope to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. Here, members having the same structure and function as those in the conventional example shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals.

【0017】本実施例のX線顕微鏡は、図1に示すよう
に、X線像を検出するための機構として、X線を出射す
るX線発生器1と、出射されたX線を試料ホルダー3に
納められた試料カプセル8に装填された観察試料におけ
る観察位置に収束するコンデンサー光学系2と、観察試
料を透過したX線を結像する結像光学系4と、結像され
た観察試料の観察位置におけるX線像を取り込む撮像装
置5と、これらの光学系構成要素を収容する真空容器7
と、真空容器7内部を排気する排気系6とを有する。こ
こで、X線発生器1から撮像装置5までの、X線光学系
の光路長は、約2mである。
As shown in FIG. 1, the X-ray microscope of this embodiment has an X-ray generator 1 for emitting X-rays and a sample holder for emitting the X-rays as a mechanism for detecting an X-ray image. Condenser optical system 2 that converges on the observation position in the observation sample loaded in the sample capsule 8 housed in 3, an imaging optical system 4 that forms an image of X-rays that have passed through the observation sample, and the formed observation sample Imaging device 5 for capturing an X-ray image at the observation position of the, and vacuum container 7 for accommodating these optical system components.
And an exhaust system 6 for exhausting the inside of the vacuum container 7. Here, the optical path length of the X-ray optical system from the X-ray generator 1 to the imaging device 5 is about 2 m.

【0018】コンデンサー光学系2および結像光学系4
に使用されるX線光学素子としては、例えば、上記で説
明した、ゾーンプレート、ウォルター型斜入射反射鏡、
多層膜斜入射反射鏡のうちのいずれか、または、これら
の組み合わせを用いる。
Condenser optical system 2 and image forming optical system 4
Examples of the X-ray optical element used in the above include, for example, the zone plate, the Walter type grazing incidence reflecting mirror, and the
Any of the multilayer grazing incidence reflecting mirrors or a combination thereof is used.

【0019】X線発生器1には、波長2〜5nm程度の
軟X線を発生させるものを用いることができ、特に、パ
ルスレーザをタングステン等のターゲットに照射して、
パルス状のX線を出射できるレーザプラズマX線源が好
適である。
As the X-ray generator 1, one that generates soft X-rays having a wavelength of about 2 to 5 nm can be used, and in particular, a pulse laser is applied to a target such as tungsten,
A laser plasma X-ray source capable of emitting pulsed X-rays is suitable.

【0020】撮像装置5には、結像光学系4により結像
された観察領域のX線像を、電気信号に変換するもの
で、X線用のCCD、または、マルチチャンネルプレー
トとCCDとから構成されたもの等を用いる。
The image pickup device 5 is for converting an X-ray image of the observation region formed by the image forming optical system 4 into an electric signal, and is composed of a CCD for X-ray or a multi-channel plate and a CCD. The configured one is used.

【0021】生体観察を行うための試料ホルダー3に
は、真空分離とX線の透過性が良好であるホルダーを用
いる。このようなホルダーとしては、例えば、特開平3
−197836号公報、特開平3−197837号公
報、特開平3−197838号公報や、特開平3−29
5440号公報記載のものを使用する。
As the sample holder 3 for observing the living body, a holder having good vacuum separation and good X-ray permeability is used. As such a holder, for example, JP-A-3
-197836, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-197837, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-197838, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-29
The one described in Japanese Patent No. 5440 is used.

【0022】本実施例は、さらに、観察試料における観
察位置を変えることで広い領域での観察を可能とする機
構として、試料ホルダー3を変位することで観察位置を
変える微動機構10と、微動機構10を駆動するための
駆動回路部11と、X線発生器1を駆動してX線を出射
させるX線駆動回路部14と、撮像装置5で得られる各
観察位置におけるX線像を示す信号を取り込んで、当該
信号を画像データに変換し、当該データを当該X線像の
観察位置を示す信号と共に出力する制御回路部12と、
制御回路部12から出力された複数の画像データを、そ
の観測位置と共に記憶して、これらの画像データに対し
て画像処理を実行して、それら画像の合成処理等を行な
うメモリデータ演算処理部13とを有する。
In this embodiment, further, as a mechanism that enables observation in a wide area by changing the observation position on the observation sample, a fine movement mechanism 10 that changes the observation position by displacing the sample holder 3, and a fine movement mechanism. A drive circuit unit 11 for driving 10, an X-ray drive circuit unit 14 for driving the X-ray generator 1 to emit X-rays, and a signal indicating an X-ray image at each observation position obtained by the imaging device 5. And a control circuit unit 12 for converting the signal into image data and outputting the data together with a signal indicating the observation position of the X-ray image,
A memory data operation processing unit 13 that stores a plurality of image data output from the control circuit unit 12 together with their observation positions, executes image processing on these image data, and performs combining processing of these images. Have and.

【0023】ここで、試料ホルダー3の位置が変位され
ると、当該ホルダー3に納められた試料カプセル8に装
填された観察試料と、X線光軸との相対位置関係が変化
するため、観察試料において出射X線が透過する位置が
変化する。したがって、微動機構10による変位量およ
び方向に対応して、観察試料における観察位置が変化す
る。
Here, when the position of the sample holder 3 is displaced, the relative positional relationship between the observation sample loaded in the sample capsule 8 housed in the holder 3 and the X-ray optical axis changes, so that the observation is performed. The position where the emitted X-rays pass through the sample changes. Therefore, the observation position on the observation sample changes according to the displacement amount and direction of the fine movement mechanism 10.

【0024】また、本実施例では、移動手段の移動機構
として微動機構10だけを挙げたが、本発明では、変位
量の大きさには限定されない。微動機構10に加えて、
機械的な動きを利用した粗動機構を備えても良い。
Further, in this embodiment, only the fine movement mechanism 10 is mentioned as the moving mechanism of the moving means, but the present invention is not limited to the magnitude of the displacement amount. In addition to the fine movement mechanism 10,
A coarse movement mechanism using mechanical movement may be provided.

【0025】制御回路部12は、さらに、駆動回路部1
1、X線駆動回路部14、および、撮像装置5を制御す
ることで、X線発生器1からのX線出射タイミング、撮
像装置5の撮像タイミング、および、試料ホルダー3を
変位させる微動機構10の変位タイミングを制御する。
制御回路部12は、例えば、図5に示すように、各種処
理手段を達成する、CPU30、ROM31、および、
RAM32と、他の回路部とのデータの入出力を実行す
るインターフェース33と、これら構成要素間のデータ
送受信のためのアドレス・データバス34とを有する。
The control circuit section 12 further includes a drive circuit section 1
1, by controlling the X-ray drive circuit unit 14 and the imaging device 5, the X-ray emission timing from the X-ray generator 1, the imaging timing of the imaging device 5, and the fine movement mechanism 10 for displacing the sample holder 3. Control the displacement timing of.
The control circuit unit 12, for example, as shown in FIG. 5, achieves various processing means, such as a CPU 30, a ROM 31, and a
It has a RAM 32, an interface 33 that inputs and outputs data to and from other circuit parts, and an address / data bus 34 for transmitting and receiving data between these components.

【0026】本実施例は、さらに、本実施例のX線顕微
鏡の観測における各種設定に関する指令を外部から受け
付けて、制御回路部12へ出力するキーボード等の入力
装置20と、メモリデータ演算処理部13で求められた
画像処理結果を表示するCRT等の表示装置21とを有
する。
The present embodiment further includes an input device 20 such as a keyboard for receiving commands relating to various settings for observation of the X-ray microscope of the present embodiment from the outside and outputting them to the control circuit unit 12, and a memory data arithmetic processing unit. And a display device 21 such as a CRT for displaying the image processing result obtained in step 13.

【0027】微動機構10は、図2に示すように、試料
ホルダー3を装着するX線透過窓19が設けられた試料
台15と、図中で示すX方向へ変位させるピエゾ素子1
6と、Y方向へ変位させるピエゾ素子17と、駆動回路
部11からの駆動信号を受け入れて、駆動するピエゾ素
子へ電圧を印加する駆動部18とを有する。ここで、X
線透過窓19は、数mm角程度の大きさであり、本実施
例のX線光学素子の視野よりも充分に大きいものであ
る。また、XおよびY方向は、X線光軸と直行する平面
を形成する。
As shown in FIG. 2, the fine movement mechanism 10 includes a sample table 15 provided with an X-ray transmission window 19 for mounting the sample holder 3 and a piezo element 1 for displacing in the X direction shown in the figure.
6, a piezo element 17 that is displaced in the Y direction, and a drive section 18 that receives a drive signal from the drive circuit section 11 and applies a voltage to the piezo element to be driven. Where X
The line-transmissive window 19 has a size of about several mm square and is sufficiently larger than the visual field of the X-ray optical element of this embodiment. The X and Y directions form a plane orthogonal to the X-ray optical axis.

【0028】なお、本発明における移動手段は、上述し
た微動機構10の形状に限定されない。例えば、図3の
ように、微動機構10を、ベローズ22を介して、大気
中に配置しても良く、本発明が適用されるX線顕微鏡の
視野径と同程度の移動精度を有する移動手段であれば、
その形状、大きさ、配置、駆動方法には限定されるもの
ではない。また、変位方向もXY方向に限定されるもの
ではなく、X線光軸方向に変位して、観察試料の深さ方
向の観察を行なう構成としても良い。
The moving means in the present invention is not limited to the shape of the fine movement mechanism 10 described above. For example, as shown in FIG. 3, the fine movement mechanism 10 may be arranged in the atmosphere via the bellows 22, and the movement means has a movement accuracy similar to the field diameter of the X-ray microscope to which the present invention is applied. If,
The shape, size, arrangement, and driving method are not limited. Further, the displacement direction is not limited to the XY direction, and the displacement may be made in the X-ray optical axis direction to perform observation in the depth direction of the observation sample.

【0029】次に、本実施例の作用を説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

【0030】本実施例は、観察試料を装填した試料カプ
セル8を試料ホルダー3内にセットした後、排気系6を
動作して真空槽7内を真空排気し、真空度を、例えば、
4.8×10~2Pa以下に維持した状態で観察を行うも
のである。
In this embodiment, after the sample capsule 8 loaded with the observation sample is set in the sample holder 3, the evacuation system 6 is operated to evacuate the inside of the vacuum chamber 7 to set the degree of vacuum to, for example,
The observation is performed while maintaining the pressure at 4.8 × 10 2 Pa or less.

【0031】本実施例の制御回路部12は、最初、図6
のフローチャートに示すように、入力装置20が受け付
けた外部からの指令に基づいて、装填された観察試料に
おいて、取り込むX線像の枚数、観察する領域面積、位
置等を設定すると共に、駆動回路部11を制御して、微
動機構10の位置の初期位置設定等の、所定の初期設定
を行なう(ステップ100)。ここで、入力されたX線
像の枚数、観察領域面積等から、必要なX線の出射回
数、および、微動機構10の変位量、変位方向、変位回
数が、算出され、設定される。
The control circuit section 12 of this embodiment is initially shown in FIG.
As shown in the flowchart of FIG. 2, the number of X-ray images to be captured, the area area to be observed, the position, and the like of the loaded observation sample are set based on an external command received by the input device 20, and the drive circuit unit is set. 11 is controlled to perform a predetermined initial setting such as the initial setting of the position of the fine movement mechanism 10 (step 100). Here, the required number of X-ray emission, the amount of displacement of the fine movement mechanism 10, the displacement direction, and the number of displacements are calculated and set from the number of input X-ray images, the area of the observation region, and the like.

【0032】次に、制御回路部12は、X線駆動回路部
14を制御して、X線発生器によりX線を出射させ、こ
のX線出射により撮像装置5で得られた観察位置のX線
像のデータ信号を取り込む(ステップ102)。すなわ
ち、X線発生器1から射出された軟X線ビームは、コン
デンサー光学系2により収束され、試料容器3にセット
された試料カプセル8を通過する。通過した軟X線は、
結像光学系4により撮像装置5上に結像する。真空槽7
外に設置された制御回路部12は、撮像装置5により得
られたX線像のデータ信号を取り込む。
Next, the control circuit section 12 controls the X-ray drive circuit section 14 to cause the X-ray generator to emit X-rays, and the X-ray emission causes X-rays at the observation position obtained by the image pickup device 5. The data signal of the line image is fetched (step 102). That is, the soft X-ray beam emitted from the X-ray generator 1 is converged by the condenser optical system 2 and passes through the sample capsule 8 set in the sample container 3. The passed soft X-rays are
An image is formed on the image pickup device 5 by the image forming optical system 4. Vacuum tank 7
The control circuit unit 12 installed outside fetches the data signal of the X-ray image obtained by the imaging device 5.

【0033】制御回路部12は、さらに、取り込んだX
線像のデータ信号を画像データに変換して、変換された
画像データを、そのデータが得られた観測位置を示す情
報と共にメモリデータ演算処理部13へ出力する。メモ
リデータ演算処理部13は、この画像データおよび位置
情報を記憶する(ステップ104)。
The control circuit section 12 further receives the X
The data signal of the line image is converted into image data, and the converted image data is output to the memory data calculation processing unit 13 together with information indicating the observation position where the data was obtained. The memory data arithmetic processing unit 13 stores the image data and the position information (step 104).

【0034】次に、ステップ100で設定された枚数の
X線像が取得されたどうかを判断する(ステップ10
6)。取得されていない場合、制御回路部12は、予め
設定された変位方向および変位量で、観察試料上の観察
位置を変位するために、駆動回路部11を制御して、微
動機構10を駆動し(ステップ108)、その後、ステ
ップ102へ戻り、新たな観測位置でのX線像を取得す
る。
Next, it is judged whether the number of X-ray images set in step 100 has been acquired (step 10).
6). If not acquired, the control circuit unit 12 controls the drive circuit unit 11 to drive the fine movement mechanism 10 in order to displace the observation position on the observation sample with a preset displacement direction and displacement amount. (Step 108) After that, the procedure returns to Step 102, and an X-ray image at a new observation position is acquired.

【0035】設定枚数のX線像が取得されている場合
は、最後のステップ110へ進む。ステップ110にお
いて、メモリデータ演算処理部13は、それに記憶され
ている複数のX線像データを用いて、これらX線像の合
成、張り合わせ等の画像処理を実行して、表示装置21
に表示する。また、必要に応じて、入力装置20により
外部からの指令を受け、境界線の抽出やコントラストの
付加等の、その他各種の画像処理を実行する。
If the set number of X-ray images have been acquired, the process proceeds to the final step 110. In step 110, the memory data arithmetic processing unit 13 uses the plurality of X-ray image data stored therein to execute image processing such as combining and laminating these X-ray images, and the display device 21.
To display. If necessary, the input device 20 receives a command from the outside, and executes various other image processes such as boundary line extraction and contrast addition.

【0036】上記に説明した作用、特に、メモリデータ
演算処理部13が実行する、複数のX線画像データを用
いて行なう合成処理を、図7を用いてより具体的に説明
する。ここでは、X線発生器1にレーザプラズマX線源
を用い、結像光学系4に分解能0.2μm、視野径10
μmのウォルター素子を用いた場合について説明する。
The operation described above, in particular, the synthesizing process executed by the memory data operation processing unit 13 using a plurality of X-ray image data will be described more specifically with reference to FIG. Here, a laser plasma X-ray source is used as the X-ray generator 1, and the imaging optical system 4 has a resolution of 0.2 μm and a field of view of 10 mm.
The case where a μm Walter element is used will be described.

【0037】制御回路部12は、レーザプラズマX線源
1を駆動するX線駆動回路部14によるパルスX線の出
射タイミングと、撮像装置5の撮像タイミング(撮像デ
ータの取込タイミング)と、微動機構10を駆動する変
位タイミングとを連動させることで、各X線パルスに合
わせて、撮像、変位動作を実行する(図6ステップ10
2〜108)。
The control circuit section 12 emits pulse X-rays by the X-ray drive circuit section 14 for driving the laser plasma X-ray source 1, the image pickup timing of the image pickup apparatus 5 (timing of picking up image pickup data), and the fine movement. By interlocking with the displacement timing for driving the mechanism 10, imaging and displacement operations are executed in accordance with each X-ray pulse (step 10 in FIG. 6).
2-108).

【0038】すなわち、上記結像光学系4の視野210
の視野径が10μmとすると、図7(A)に示すよう
に、その中に入る最大の正方形の方形視野211の大き
さは、一辺Lが約7μmの正方形である。したがって、
図7(A)のように、観察しようとする対象物200が
これら視野よりも大きい場合は、1回のX線パルスでの
撮像により、最大7μm角の視野を通してのX線像が得
られるだけで、全体像を得ることはできない。
That is, the field of view 210 of the imaging optical system 4 described above.
7A, the size of the largest square rectangular field 211 included therein is a square with one side L of about 7 μm. Therefore,
As shown in FIG. 7A, when the object 200 to be observed is larger than these visual fields, an X-ray image through a visual field of maximum 7 μm square can be obtained by imaging with one X-ray pulse. So I can't get the whole picture.

【0039】本実施例においては、観察対象物200の
X線像を取得するために、制御回路部12は、図7
(B)に示すように、観察対象物200を装填した試料
ホルダー3を載せた試料台15を微動機構10によっ
て、X軸方向、Y軸方向に、矢印に従ってラスター走査
して、観察位置を変え、3コマ×3コマの計9枚のX線
像を取得する。ここで、図中の各円は、各変位動作毎の
視野210を示し、1コマは、上記視野径210から得
られる方形視野211を意味する。また、212は、視
野径210の中心を示し、図中に示されるのX、Y方向
は、X線ビームと鉛直方向にある平面を形成する。
In the present embodiment, the control circuit section 12 is used to obtain an X-ray image of the observation object 200 as shown in FIG.
As shown in (B), the sample stage 15 on which the sample holder 3 loaded with the observation object 200 is placed is raster-scanned by the fine movement mechanism 10 in the X-axis direction and the Y-axis direction according to the arrows to change the observation position. A total of 9 X-ray images of 3 frames x 3 frames are acquired. Here, each circle in the drawing indicates a visual field 210 for each displacement operation, and one frame means a rectangular visual field 211 obtained from the visual field diameter 210. Reference numeral 212 indicates the center of the field of view 210, and the X and Y directions shown in the drawing form a plane that is perpendicular to the X-ray beam.

【0040】本実施例においては、さらに、各変位動作
毎、すなわち観察位置が変る毎に、撮像が行なわれる。
各視野210を通して得られたX線像は、撮像装置5に
より電気信号に変えられ、デジタル画像データとして、
制御回路部12により、メモリデータ演算処理部13へ
送られる。
In the present embodiment, further, imaging is performed at each displacement operation, that is, every time the observation position changes.
The X-ray image obtained through each field of view 210 is converted into an electric signal by the image pickup device 5, and is converted into digital image data,
It is sent to the memory data arithmetic processing unit 13 by the control circuit unit 12.

【0041】メモリデータ演算処理部13は、これら9
枚のX線像をデジタル画像として記憶し、さらに、画像
処理を施すことにより、これらを張り合わせる。つま
り、取得されたX線像を、図7(C)に示すように、そ
れらが撮像された領域の相対関係に対応して、互いに隣
接して表示することで、全体として21μm角(L=7
μm)の領域のX線像を、画像として求め、表示する
(図6ステップ110)。
The memory data arithmetic processing section 13 is configured to
The X-ray images of one sheet are stored as digital images, and further subjected to image processing to bond them together. That is, as shown in FIG. 7C, the acquired X-ray images are displayed adjacent to each other in correspondence with the relative relationship of the regions where they are imaged, so that a 21 μm square (L = 7
The X-ray image of the area (μm) is obtained and displayed as an image (step 110 in FIG. 6).

【0042】なお、本発明は、本実施例で述べている、
X線像の取込枚数、微動機構10の変位量、変位方向等
には限定されない。本発明において、これらの量は、観
察領域、用いられるX線光学系の視野の大きさ、さら
に、必要とする観察の粗さ、つまり、連続した2つの観
察位置間の距離等により、決定することができる。
The present invention is described in this embodiment.
The number of X-ray images captured, the displacement amount of the fine movement mechanism 10, the displacement direction, etc. are not limited. In the present invention, these amounts are determined by the observation area, the size of the field of view of the X-ray optical system used, and the required roughness of observation, that is, the distance between two consecutive observation positions. be able to.

【0043】X線像の画像データの合成処理としては、
また、画像データを合成する際に、隣合う2つの画像デ
ータの、重なり合う境界線でのデータの一致状態を調
べ、変位動作における誤差を得て、その誤差に基づい
て、試料ホルダー3を変位する微動機構10の動作を制
御しても良い。
As the process of synthesizing the image data of the X-ray image,
Further, when synthesizing the image data, the matching state of the data at the overlapping boundary line between the two adjacent image data is checked, the error in the displacement operation is obtained, and the sample holder 3 is displaced based on the error. The operation of the fine movement mechanism 10 may be controlled.

【0044】この合成処理方法を、図7(D)を用いて
説明する。ここで、示されている2つ円は、連続して取
得された2つのX線像データである。視野径210、2
10’は、本実施例における物理的に限定された視野で
あり、方形視野211、211’は、X線像を取込み、
画像データする際に設けた、予め定めた大きさの視野で
ある。ここで、このような画像データ形成のための視野
は、必ずしも正方形である必要はない。元々の物理的視
野径210よりも小さく、かつ、そこに含まれるデータ
をできるだけ利用することができれば、六角形や八角形
など、どのような多角形でも構わない。
This combining processing method will be described with reference to FIG. Here, the two circles shown are two pieces of X-ray image data acquired continuously. Field of view 210, 2
10 'is a physically limited visual field in the present embodiment, and rectangular visual fields 211 and 211' capture an X-ray image,
It is a field of view of a predetermined size provided when image data is obtained. Here, the field of view for forming such image data does not necessarily have to be a square. Any polygonal shape such as a hexagon or an octagon may be used as long as it is smaller than the original physical field diameter 210 and the data contained therein can be used as much as possible.

【0045】また、213、213’は、方形視野21
1、211’における境界線の1辺であり、合成処理を
行なう際には、これら境界線が重なり合うように、微動
機構10の動作が、制御回路部12により、制御されて
いる。
Numerals 213 and 213 'indicate a rectangular field of view 21.
The control circuit unit 12 controls the operation of the fine movement mechanism 10 so that these boundaries are overlapped with each other when performing the combining process.

【0046】本実施例において、微動機構10の動作に
誤差がある場合には、境界線213におけるデータと、
境界線213’におけるデータとは、一致しない。
In the present embodiment, if there is an error in the operation of the fine movement mechanism 10, the data at the boundary line 213,
It does not match the data at the boundary line 213 '.

【0047】そこで、メモリデータ演算処理部13は、
視野径210’全体のデータを用いて、境界線213と
一致する境界線を捜し、捜し出された境界線の、視野径
210’における位置を算出する。制御回路部12は、
この算出結果を受け入れ、それを用いて、駆動回路部1
1をさらに制御して、変位誤差を補正する。
Therefore, the memory data arithmetic processing section 13
Using the entire data of the field of view diameter 210 ′, a boundary line that matches the boundary line 213 is searched for, and the position of the found boundary line in the field of view diameter 210 ′ is calculated. The control circuit unit 12 is
The calculation result is accepted and used to drive the drive circuit unit 1.
1 is further controlled to correct the displacement error.

【0048】また、上記のように得られた境界線におけ
る、観察試料の同じ部分における信号強度を比較するこ
とで、これら2つ画像における信号強度(グレイスケー
ル)を基準化することができる。ここで、信号強度と
は、観察位置における観察試料の部分でのX線の透過、
反射率に依存する。さらに、この基準化を連続して実行
すると、1つの基準化された信号強度スケールを用い
た、複数のX線画像から構成される合成画像を得ること
ができる。
Further, by comparing the signal intensities in the same portion of the observation sample on the boundary line obtained as described above, the signal intensities (gray scale) in these two images can be standardized. Here, the signal intensity means the transmission of X-rays at the observation sample portion at the observation position,
Depends on reflectance. Further, if this scaling is continuously executed, a composite image composed of a plurality of X-ray images using one scaled signal intensity scale can be obtained.

【0049】また、上記のようにして取得されたX線画
像に対して、各種の画像処理を実行することができる。
例えば、当該対象物の境界線の抽出、特徴抽出、パター
ン認識、コントラスト付加および強調、色の付加等を行
なうことができる。
Further, various kinds of image processing can be executed on the X-ray image acquired as described above.
For example, it is possible to perform boundary line extraction, feature extraction, pattern recognition, contrast addition and emphasis, color addition, etc. of the target object.

【0050】また、観察する領域を大きく設定し、多数
のX線像を取得して、これらを用いて、観察領域すべて
をカバーする、1つの全体像を合成して表示することが
できる。ただし、このような場合、細部の特徴などをす
べて一つの画像で表示することは難しいため、マウスな
どの入力手段をさらに設けて、関心のある領域を特定し
て、特定された部分に相当する画像データに基づいて、
その部分だけを所定の倍率で拡大表示する等しても良
い。
Further, it is possible to set a large area to be observed, acquire a large number of X-ray images, and use these to synthesize and display one whole image covering the entire observation area. However, in such a case, it is difficult to display all the detailed features and the like in a single image. Therefore, by further providing an input means such as a mouse, the region of interest is specified, and it corresponds to the specified part. Based on the image data
Only that portion may be enlarged and displayed at a predetermined magnification.

【0051】本発明によれば、試料を変位する毎に得ら
れた複数のX線像を用いて合成して、一つの画像にする
ことにより、X線顕微鏡の観察可能な領域を拡大するこ
とができるため、X線顕微鏡の視野よりも大きな生体試
料の仕組みを、より明確に知ることが可能となる。
According to the present invention, the observable region of the X-ray microscope is enlarged by synthesizing a plurality of X-ray images obtained each time the sample is displaced to form one image. Therefore, it is possible to more clearly know the mechanism of the biological sample larger than the field of view of the X-ray microscope.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明によれば、移動手段およびX線撮
像手段を制御することで、試料を変位する毎にX線像を
取得し、得られた複数のX線像を合成することにより、
X線顕微鏡の観察領域を拡大することが可能となる。
According to the present invention, by controlling the moving means and the X-ray imaging means, an X-ray image is acquired each time the sample is displaced, and a plurality of the obtained X-ray images are combined. ,
It is possible to enlarge the observation area of the X-ray microscope.

【0053】[0053]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用した結像型X線顕微鏡の構成の一
実施例を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the configuration of an imaging X-ray microscope to which the present invention is applied.

【図2】本発明を適用した結像型X線顕微鏡における移
動手段の構成の一例を示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a configuration of a moving unit in an imaging X-ray microscope to which the present invention has been applied.

【図3】本発明を適用した結像型X線顕微鏡の構成の他
の実施例を示すブロック図。
FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the configuration of the imaging X-ray microscope to which the present invention is applied.

【図4】従来の結像型X線顕微鏡の構成を示すブロック
図。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional imaging X-ray microscope.

【図5】図1の実施例における制御回路部の構成を示す
ブロック図。
5 is a block diagram showing a configuration of a control circuit unit in the embodiment of FIG.

【図6】図1の実施例における作用を示すフローチャー
ト。
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG.

【図7】本発明を適用した結像型X線顕微鏡における、
取得したX線像の合成に係る画像処理を説明する説明
図。
FIG. 7 is a view showing an imaging X-ray microscope to which the present invention is applied,
Explanatory drawing explaining the image processing which concerns on the synthesis | combination of the acquired X-ray image.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…X線発生器、2…コンデンサー光学系、3…試料ホ
ルダー、4…結像光学系、5…撮像装置、6…排気系、
7…真空槽、8…試料カプセル、9…モニタ装置、10
…試料台微動機構、11…微動機構駆動回路部、12…
変位・撮像タイミング制御回路部、13…メモリ・デー
タ演算処理部、14…レーザプラズマX線源制御部、1
5…試料台、16…X方向駆動ピエゾ素子、17…Y方
向駆動ピエゾ素子、18…ピエゾ素子駆動回路部、19
…X線透過窓、20…入力装置、21…表示装置、22
…ベローズ、200…観察対象物、210…X線光学系
の視野、211…視野210から得られる方形視野、2
12…視野210の中心、213…方形視野の境界線の
1辺。
1 ... X-ray generator, 2 ... Condenser optical system, 3 ... Sample holder, 4 ... Imaging optical system, 5 ... Imaging device, 6 ... Exhaust system,
7 ... Vacuum tank, 8 ... Sample capsule, 9 ... Monitor device, 10
... sample stage fine movement mechanism, 11 ... fine movement mechanism drive circuit section, 12 ...
Displacement / imaging timing control circuit section, 13 ... Memory / data arithmetic processing section, 14 ... Laser plasma X-ray source control section, 1
5 ... Sample stand, 16 ... X-direction drive piezo element, 17 ... Y-direction drive piezo element, 18 ... Piezo element drive circuit section, 19
... X-ray transmission window, 20 ... Input device, 21 ... Display device, 22
... Bellows, 200 ... Observation object, 210 ... X-ray optical system visual field, 211 ... Rectangular visual field obtained from visual field 210, 2
12 ... Center of visual field 210, 213 ... One side of boundary line of rectangular visual field.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】結像型X線顕微鏡において、 試料の、予め定めた観察位置と、X線の結像位置に共役
な位置とを一致させるために、当該試料を予め定めた位
置に保持する保持台と、 試料の、観察位置にある部位を透過した透過X線、およ
び、当該部位から発生する蛍光X線のうち、少なくとも
一方のX線を検出して、当該観察位置でのX線像を示す
信号を出力するX線撮像手段と、 X線撮像手段の撮像面上に、観察位置でのX線像を結像
する結像光学系と、 保持台を変位して観察位置を変える移動手段と、 移動手段を制御して、予め定めた方向および量で保持台
を定量変位させると共に、X線撮像手段を制御して、保
持台が変位される毎に撮像を行なわせ、得られたX線像
を示す信号を受け入れて、当該X線像を示す信号に基づ
いて得られた画像データを、当該定量変位に伴う観察位
置情報と共に出力する制御手段と、 制御手段から出力された、複数の画像データおよび観察
位置情報を受け入れ、それらの一部または全部を合成し
て表示する画像処理手段とを有することを特徴とする結
像型X線顕微鏡。
1. In an imaging X-ray microscope, a sample is held at a predetermined position in order to match a predetermined observation position of the sample with a position conjugate with the X-ray imaging position. An X-ray image at the observation position by detecting at least one of the X-rays transmitted through the holding base and the site at the observation position of the sample and the fluorescent X-rays generated from the site. X-ray imaging means for outputting a signal indicating that, an imaging optical system for forming an X-ray image at the observation position on the imaging surface of the X-ray imaging means, and movement for changing the observation position by displacing the holding table. The means and the moving means are controlled to quantitatively displace the holding table in a predetermined direction and amount, and the X-ray imaging means is controlled to perform imaging every time the holding table is displaced. The signal representing the X-ray image is received, and the signal obtained based on the signal representing the X-ray image is obtained. A control unit that outputs the image data together with the observation position information associated with the quantitative displacement, and an image that receives a plurality of image data and the observation position information output from the control unit, and combines and displays a part or all of them. An imaging X-ray microscope, comprising: a processing unit.
【請求項2】請求項1において、 前記制御手段は、前記移動手段および前記X線撮像手段
を制御して、観察可能な視野領域が重なり合うようにし
て、複数の隣接した観察位置におけるX線像の撮像を行
なわせ、得られた複数のX線像を示す信号を受け入れ
て、当該X線像に対応する画像データを出力することを
特徴とする結像型X線顕微鏡。
2. The X-ray image at a plurality of adjacent observation positions according to claim 1, wherein the control unit controls the moving unit and the X-ray imaging unit so that observable visual field regions overlap each other. The image-forming X-ray microscope, which receives the signals indicating the obtained plurality of X-ray images and outputs the image data corresponding to the X-ray images.
【請求項3】請求項2において、 画像処理手段は、 受け入れた複数の画像データおよびその観察位置を記憶
する記憶部と、 記憶部に記憶された複数の画像データを処理する処理部
と、 処理された画像を表示する表示部とを有し、 処理部は、前記制御手段から出力された画像データのう
ち、隣接して重なり合う部分を有する画像データにおけ
る当該部分の境界線を、それぞれの画像データに関して
算出することを特徴とする結像型X線顕微鏡。
3. The image processing means according to claim 2, wherein the storage unit stores a plurality of received image data and an observation position thereof, a processing unit that processes the plurality of image data stored in the storage unit, and a processing unit. The image data output from the control unit, the processing unit displays the boundary lines of the image data having adjacent and overlapping portions, An imaging X-ray microscope, characterized in that
【請求項4】請求項3において、 前記処理部は、前記算出された境界線が重なるように、
複数の画像データを合成して、1つの画像データとする
ものであり、 前記表示部は、当該合成された画像データに基づいて、
画像を表示することを特徴とする結像型X線顕微鏡。
4. The processing unit according to claim 3, wherein the calculated boundary lines overlap each other.
A plurality of image data is combined into one image data, and the display unit, based on the combined image data,
An imaging X-ray microscope characterized by displaying an image.
【請求項5】請求項3において、 前記画像処理手段の処理部は、算出された各画像データ
の境界線を示す信号を出力するもので、 前記制御手段は、出力された信号が示す境界線に基づい
て、隣接する2つの画像データにおける相対変位を算出
し、算出された相対変位と当該2つの画像データの観察
位置情報から得られる相対変位とを比較して、前記移動
手段の変位誤差を補正することを特徴とする結像型X線
顕微鏡。
5. The boundary line indicated by the output signal according to claim 3, wherein the processing unit of the image processing unit outputs a signal indicating a boundary line of each calculated image data. Based on the above, the relative displacement between the two adjacent image data is calculated, the calculated relative displacement is compared with the relative displacement obtained from the observation position information of the two image data, and the displacement error of the moving means is calculated. An imaging X-ray microscope characterized by correction.
【請求項6】請求項1〜5のいずれかにおいて、 試料に照射するX線を出射するX線発生器と、当該試料
とX線発生器との間に設けられ、出射されたX線を結像
位置に共役な位置で収束するコンデンサー光学系とをさ
らに有することを特徴とする結像型X線顕微鏡。
6. The X-ray generator according to claim 1, which emits X-rays to irradiate a sample, and the X-rays provided between the sample and the X-ray generator. An imaging X-ray microscope, further comprising a condenser optical system that converges at a position conjugate with the imaging position.
【請求項7】請求項6において、 前記X線発生器は、パルスX線を発生するものであり、 前記制御手段は、当該パルスX線が出射される毎に、前
記X線撮像手段を制御してX線像を取得することを特徴
とする結像型X線顕微鏡。
7. The X-ray generator according to claim 6, wherein the X-ray generator generates a pulse X-ray, and the control unit controls the X-ray imaging unit each time the pulse X-ray is emitted. An imaging X-ray microscope, characterized by acquiring an X-ray image.
【請求項8】請求項1〜7のいずれかにおいて、 前記移動手段は、 前記保持台を、X線の光軸と直行する平面内で変位させ
る移動機構と、 移動機構を駆動すると共に、その変位量および方向を制
御する移動制御装置とを有することを特徴とする結像型
X線顕微鏡。
8. The moving means according to claim 1, wherein the moving means displaces the holding base within a plane orthogonal to the optical axis of the X-ray, and drives the moving mechanism and An imaging X-ray microscope, comprising: a movement control device that controls a displacement amount and a direction.
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