JPH07161926A - Analog signal switching circuit - Google Patents

Analog signal switching circuit

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JPH07161926A
JPH07161926A JP30212593A JP30212593A JPH07161926A JP H07161926 A JPH07161926 A JP H07161926A JP 30212593 A JP30212593 A JP 30212593A JP 30212593 A JP30212593 A JP 30212593A JP H07161926 A JPH07161926 A JP H07161926A
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JP
Japan
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voltage
analog signal
analog
input
predetermined potential
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Application number
JP30212593A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiichiro Kikuyama
誠一郎 菊山
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide a bipolar/CMOS type analog signal switching circuit which makes possible the processing of an analog signal whereto a high bias voltage is applied by using a highly versatile analog switch of CMOS structure having low gate-to-source breakdown strength. CONSTITUTION:A standard voltage source 7 is provided to supply two electric potentials VDD, VSS to both an analog switch functional block 120 and a level shift circuit 8. A driving signal which is output from a signal processing circuit 6 and whose voltage is converted into a potential VDD or VSS at the level shift circuit 8 is input to a gate of CMOS structure analog switches 1, 2 wherein two potentials VDD, VSS are applied to a back gate to drive them alternately.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、バイポーラ及びCM
OS構造の素子を混在させて形成した混載型半導体集積
回路に関し、特に、入力するアナログ信号の切り替えを
行うアナログ信号切替え回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a bipolar and a CM.
The present invention relates to a mixed-type semiconductor integrated circuit formed by mixing OS structure elements, and particularly to an analog signal switching circuit for switching an input analog signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば従来、2つのセンサが出力した2
種類のアナログ信号を交互に取り出すセンサ・インター
フェースとして、図10にそのブロック図を示したよう
なバイポーラ及びCMOS構造の素子を1つの集積回路
内に混在させて形成したアナログ信号切替え回路が用い
られている。図において、1及び2はPチャネルMOS
トランジスタと、NチャネルMOSトランジスタとから
なるCMOS構造のアナログスイッチであり、この2つ
のアナログスイッチ1,2の互いに異なるチャネルのゲ
ート同士が接続され、各々その入力端が入力端子100
あるいは入力端子200に接続され、各出力端がボルテ
ージフォロワ型のオペアンプ5の正符号端子に接続され
ている。3はCMOS構造のインバータ、6は信号処理
回路であり、アナログスイッチ1,2をオンあるいはオ
フさせる信号を出力し、オペアンプ5の出力を受ける。
8は電圧レベルを変換するバイポーラ構造のレベルシフ
ト回路であり、信号処理回路6が出力した信号を所定の
電圧レベルに変換し、この電圧レベルを変換した信号
を、アナログスイッチ1のNチャネルMOSトランジス
タ及びアナログスイッチ2のPチャネルMOSトランジ
スタにインバータ3を介して与え、かつアナログスイッ
チ1のPチャネルMOSトランジスタ及びアナログスイ
ッチ2のNチャネルMOSトランジスタに直接与えるも
のである。
2. Description of the Related Art For example, in the past, two sensors output two
An analog signal switching circuit formed by mixing bipolar and CMOS structure elements in one integrated circuit as shown in the block diagram of FIG. 10 is used as a sensor interface for alternately extracting various kinds of analog signals. There is. In the figure, 1 and 2 are P-channel MOS
This is an analog switch having a CMOS structure composed of a transistor and an N-channel MOS transistor. Gates of different channels of these two analog switches 1 and 2 are connected to each other, and their input terminals are respectively connected to an input terminal 100.
Alternatively, it is connected to the input terminal 200 and each output terminal is connected to the positive sign terminal of the voltage follower type operational amplifier 5. Reference numeral 3 is an inverter having a CMOS structure, and 6 is a signal processing circuit, which outputs a signal for turning on or off the analog switches 1 and 2, and receives an output of the operational amplifier 5.
Reference numeral 8 denotes a bipolar structure level shift circuit for converting a voltage level, which converts a signal output from the signal processing circuit 6 into a predetermined voltage level, and converts the voltage level into a N-channel MOS transistor of the analog switch 1. And to the P channel MOS transistor of the analog switch 2 via the inverter 3 and directly to the P channel MOS transistor of the analog switch 1 and the N channel MOS transistor of the analog switch 2.

【0003】次に動作について説明する。まず、入力端
子100及び入力端子200に各々入力された2つのセ
ンサからの2種類のアナログ信号は、それぞれアナログ
スイッチ1あるいはアナログスイッチ2に入力される。
Next, the operation will be described. First, the two types of analog signals from the two sensors input to the input terminal 100 and the input terminal 200 are input to the analog switch 1 or the analog switch 2, respectively.

【0004】このとき、信号処理回路6からレベルシフ
ト回路8へ上記アナログスイッチ1,2を駆動させる信
号が出力されており、該レベルシフト回路8はこの駆動
信号の電圧を上記アナログスイッチ1,2の駆動電圧レ
ベルの電圧に変換して、その電圧を上記アナログスイッ
チ1,2に供給する。
At this time, a signal for driving the analog switches 1 and 2 is output from the signal processing circuit 6 to the level shift circuit 8. The level shift circuit 8 outputs the voltage of the drive signal to the analog switches 1 and 2. Is converted into a voltage of the driving voltage level of and the voltage is supplied to the analog switches 1 and 2.

【0005】そして、図10に示したように、上記レベ
ルシフト回路8から駆動電圧の供給を受ける上記アナロ
グスイッチ1と、上記アナログスイッチ2とは、互いに
異なるチャネルのゲート同士を相互接続した一方のゲー
トを、インバータ3を介して上記レベルシフト回路8の
出力端に接続し、かつこのレベルシフト回路8の出力端
をもう一方のゲートに直接接続することにより、互いに
逆の動作をするように構成されているため、例えば上記
信号処理回路6からHigh電圧レベルの駆動信号が出
力されているときには、上記アナログスイッチ1はオ
フ、上記アナログスイッチ2はオンとなり、該アナログ
スイッチ2に入力されているアナログ信号が取り出され
る。また、上記駆動信号がLow電圧レベルのときに
は、上記アナログスイッチ1はオン、上記アナログスイ
ッチ2はオフとなり、上記アナログスイッチ1に入力さ
れているアナログ信号が取り出される。このようにし
て、上記アナログスイッチ1,2により交互に選択され
て取り出された2種類のアナログ信号は、オペアンプ5
に入力されてインピーダンス変換された後、上記信号処
理回路6に入力される。
Then, as shown in FIG. 10, the analog switch 1 and the analog switch 2 which are supplied with a drive voltage from the level shift circuit 8 have gates of different channels connected to each other. The gates are connected to the output end of the level shift circuit 8 through the inverter 3, and the output end of the level shift circuit 8 is directly connected to the other gate, so that the opposite operations are performed. Therefore, for example, when the high voltage level drive signal is output from the signal processing circuit 6, the analog switch 1 is turned off, the analog switch 2 is turned on, and the analog signal input to the analog switch 2 is turned on. The signal is picked up. When the drive signal is at the low voltage level, the analog switch 1 is turned on, the analog switch 2 is turned off, and the analog signal input to the analog switch 1 is taken out. In this way, the two types of analog signals alternately selected and taken out by the analog switches 1 and 2 are supplied to the operational amplifier 5
To the signal processing circuit 6 after being impedance-converted.

【0006】なお、このアナログ信号切替え回路を、例
えば、作用時にその抵抗値が変化する2つのセンサの各
抵抗値と、基準となる抵抗の抵抗値とを比較するブリッ
ジ比較回路に接続するセンサ・インタフェースとして用
いた場合、上記信号処理回路6は図11に示したような
構成となり、電源端子400に接続された基準抵抗61
と、センサ72,73とに各々抵抗62,63,64を
接続して上記電源端子400に印加された電圧をそれぞ
れ抵抗分割し、上記センサ72と抵抗63とにより得ら
れた分割電圧を上記アナログ信号切替え回路1000の
入力端子200に入力し、上記センサ73と抵抗64と
により得られた分割電圧をもう一つの入力端子100に
入力する。すると、該アナログ信号切替え回路1000
は上述のような動作により、上記2種類の分割電圧を交
互に取り出して上記信号処理回路6に入力するものであ
り、この信号処理回路6は、基準抵抗61と抵抗62と
により得られた基準分割電圧と、上記2種類の分割電圧
とをオペアンプ69,70,71と、抵抗65〜68と
からなる回路により交互に比較し、その誤差を増幅して
信号出力端子500から出力する。
It should be noted that the analog signal switching circuit is connected to, for example, a bridge comparison circuit for comparing the resistance value of each of two sensors whose resistance values change when actuated with the resistance value of a reference resistance. When used as an interface, the signal processing circuit 6 has the configuration shown in FIG. 11, and the reference resistor 61 connected to the power supply terminal 400 is used.
And resistors 72, 63, and 64 are connected to the sensors 72 and 73, respectively, and the voltage applied to the power supply terminal 400 is divided into resistors, and the divided voltage obtained by the sensor 72 and the resistor 63 is converted into the analog signal. The divided voltage obtained by the sensor 73 and the resistor 64 is input to the input terminal 200 of the signal switching circuit 1000 and input to the other input terminal 100. Then, the analog signal switching circuit 1000
The above-mentioned operation alternately takes out the two types of divided voltages and inputs them to the signal processing circuit 6. The signal processing circuit 6 is a reference obtained by a reference resistor 61 and a resistor 62. The divided voltage and the above-mentioned two kinds of divided voltages are alternately compared by a circuit including operational amplifiers 69, 70 and 71 and resistors 65 to 68, and the error is amplified and output from the signal output terminal 500.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のアナログ信号切
替え回路は、以上のような構成とされており、一般的に
センサが出力するアナログ信号電圧の振幅は小さいもの
であるが、センサと、その制御回路との設置場所が離れ
ており、該センサに5Vの電源電圧が供給できないと
き、あるいはS/N比(耐ノイズ性)を良好にするとき
に、これらのことを考慮して上記アナログ信号に付加す
るバイアス電圧を高くする場合があり、このような場
合、CMOS構造の上記アナログスイッチ1,2には、
上記高いバイアス電圧と、入力される上記アナログ信号
の電圧の1/2の電圧とを加えてなる入力電圧がそのソ
ース及びドレインに印加されることとなる。従って、上
記アナログスイッチ1,2を駆動させるためには、その
ゲートに印加する電圧の範囲を0Vから上記入力電圧を
超える電圧までに設定する必要があり、このような高い
電圧で駆動することによる素子の破壊,あるいは誤動作
を防ぐためには、上記アナログスイッチ1,2のゲート
・ソース間の耐圧を高くしなければならず、CMOS構
造の形成プロセスにおいてその構造が複雑になり製造工
程が増える等の問題点があった。
The conventional analog signal switching circuit is constructed as described above, and generally the amplitude of the analog signal voltage output by the sensor is small, but the sensor and its Considering these points, when the installation location from the control circuit is distant and the sensor cannot be supplied with the power supply voltage of 5 V, or when the S / N ratio (noise resistance) is improved, the analog signal described above is taken into consideration. There is a case where the bias voltage applied to is increased, and in such a case, the analog switches 1 and 2 of CMOS structure have
An input voltage obtained by adding the high bias voltage and a voltage that is ½ of the voltage of the input analog signal is applied to the source and drain thereof. Therefore, in order to drive the analog switches 1 and 2, it is necessary to set the range of the voltage applied to the gates thereof from 0 V to a voltage exceeding the input voltage. In order to prevent the destruction or malfunction of the elements, the breakdown voltage between the gate and the source of the analog switches 1 and 2 must be increased, and the structure becomes complicated in the process of forming the CMOS structure and the number of manufacturing steps increases. There was a problem.

【0008】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたもので、ゲート・ソース間耐圧が低
く、汎用性が高いCMOS構造のアナログスイッチを用
いて、高いバイアス電圧が印加されたアナログ信号を処
理することができるアナログ信号切替え回路を提供する
ことを目的としている。
The present invention has been made to solve the above problems, and a high bias voltage is applied by using an analog switch having a CMOS structure, which has a low gate-source breakdown voltage and high versatility. Another object of the present invention is to provide an analog signal switching circuit capable of processing analog signals.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明に係るアナログ
信号切替え回路は、バイポーラ素子と、CMOS素子と
を1つの集積回路内に混在させて形成した混載型の半導
体集積回路における,複数の入力端子に個々に入力され
たバイアス電圧が印加されたアナログ信号から所定のア
ナログ信号を選択し、それをインピーダンス変換してそ
の有する信号処理手段に入力するアナログ信号切替え回
路において、上記バイアス電圧より高い第1の所定電
位,及び上記バイアス電圧より低い第2の所定電位の2
つの電圧信号を供給する電圧供給手段と、上記第1の所
定電位及び上記第2の所定電位の2つの電圧信号が供給
され、上記信号処理手段が出力した駆動信号の入力電圧
を2値の出力駆動電圧に変換して出力する電圧変換手段
と、上記第1の所定電位及び上記第2の所定電位の2つ
の電圧をその電源電圧とし、上記電圧変換手段が出力し
た出力駆動電圧により駆動され、上記複数のアナログ信
号から所定のアナログ信号を選択し、この選択したアナ
ログ信号を上記信号処理手段に向けて出力するMOS構
造になるアナログ信号切替え手段とを備え、上記第1の
所定電位及び第2の所定電位は、互いの電位差が上記ア
ナログ信号の振幅電圧より大きく、かつ上記MOS構造
になるアナログ信号切替え手段の耐圧を超えないものと
したものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An analog signal switching circuit according to the present invention has a plurality of input terminals in a mixed mounting type semiconductor integrated circuit in which a bipolar element and a CMOS element are mixed and formed in one integrated circuit. In the analog signal switching circuit for selecting a predetermined analog signal from the analog signals applied with the bias voltage input individually to the analog signal switching circuit for impedance-converting the selected analog signal and inputting it to the signal processing means of the first analog signal, Of a predetermined potential of 2 and a second predetermined potential lower than the above bias voltage
Voltage supply means for supplying two voltage signals, and two voltage signals of the first predetermined potential and the second predetermined potential are supplied, and the input voltage of the drive signal output by the signal processing means is output in binary. Voltage conversion means for converting and outputting to a drive voltage, and two voltages of the first predetermined potential and the second predetermined potential as its power supply voltage, driven by the output drive voltage output by the voltage conversion means, Analog signal switching means having a MOS structure for selecting a predetermined analog signal from the plurality of analog signals and outputting the selected analog signal toward the signal processing means, the first predetermined potential and the second The predetermined potential is such that the potential difference between them is larger than the amplitude voltage of the analog signal and does not exceed the withstand voltage of the analog signal switching means having the MOS structure.

【0010】また、この発明に係るアナログ信号切替え
回路は、上記電圧供給手段を、該アナログ信号切替え回
路の電源電圧を変換して上記第1の所定電位及び第2の
所定電位を発生する基準電圧源としたものである。ま
た、この発明に係るアナログ信号切替え回路は、上記電
圧供給手段を、上記アナログ信号に印加されているバイ
アス電圧を検出する電圧検出手段と、この検出した電圧
のレベルを所定の値だけ,上方あるいは下方にシフトし
て上記第1の所定電位及び第2の所定電位を発生するレ
ベルシフト手段とからなるものとしたものである。
In the analog signal switching circuit according to the present invention, the voltage supply means converts the power supply voltage of the analog signal switching circuit into a reference voltage for generating the first predetermined potential and the second predetermined potential. It is the source. In the analog signal switching circuit according to the present invention, the voltage supply means is provided with a voltage detection means for detecting a bias voltage applied to the analog signal, and the level of the detected voltage is increased by a predetermined value. It comprises a level shift means for shifting downward to generate the first predetermined potential and the second predetermined potential.

【0011】さらに、この発明に係るアナログ信号切替
え回路は、上記バイアス電圧を含むアナログ信号が各々
入力される各入力端子の次段に、上記アナログ信号の振
幅電圧を上記第1の所定電位と、上記第2の所定電位と
の間の電圧に制限する入力電圧制限手段を備えたもので
ある。
Further, in the analog signal switching circuit according to the present invention, the amplitude voltage of the analog signal is set to the first predetermined potential at the next stage of each input terminal to which the analog signal including the bias voltage is input. An input voltage limiting means for limiting the voltage to the second predetermined potential is provided.

【0012】また、この発明に係るアナログ信号切替え
回路は、上記アナログ信号切替え手段を、PチャネルM
OSトランジスタと、NチャネルMOSトランジスタと
からなるCMOS構造になる2つのアナログスイッチ及
びインバータを含み、該2つのアナログスイッチは、互
いに異なるチャネルのゲート同士を接続し、その一方の
相互接続されたゲートを上記インバータの出力端に接続
し、かつもう一方の相互接続されたゲート及び上記イン
バータの入力端を上記電圧変換手段の出力端に共通に接
続してなるようにし、上記2つのアナログスイッチ及び
インバータの各PチャネルMOSトランジスタのバック
ゲートには上記第1の所定電位が、各NチャネルMOS
トランジスタのバックゲートには上記第2の所定電位が
印加され、かつ上記アナログ信号切替え手段の上記2つ
のアナログスイッチは、上記電圧変換手段がその入力駆
動電圧に対し上記第1の所定電位,上記第2の所定電位
に等しい2値の出力駆動電圧に変換して出力した駆動信
号により、それぞれのソースあるいはドレインに入力さ
れたアナログ信号を択一的にそのドレインあるいはソー
スから出力するものとしたものである。
In the analog signal switching circuit according to the present invention, the analog signal switching means is a P channel M.
It includes two analog switches and an inverter having a CMOS structure composed of an OS transistor and an N-channel MOS transistor. The two analog switches connect gates of different channels to each other, and connect one of the interconnected gates. The output terminals of the inverters are connected to each other, and the other interconnected gates and the input terminals of the inverters are commonly connected to the output terminals of the voltage converting means. The above-mentioned first predetermined potential is applied to the back gate of each P-channel MOS transistor.
The second predetermined potential is applied to the back gate of the transistor, and in the two analog switches of the analog signal switching means, the voltage conversion means has the first predetermined potential, the first predetermined potential and the first drive potential with respect to the input drive voltage. A drive signal that is converted into a binary output drive voltage equal to a predetermined potential of 2 and then output is used to selectively output an analog signal input to each source or drain from that drain or source. is there.

【0013】また、この発明に係るアナログ信号切替え
回路は、上記アナログ信号切替え手段を、Pチャネル,
あるいはNチャネルのいずれか1種類のMOSトランジ
スタを用いた2つのアナログスイッチと、Pチャネル及
びNチャネルの2種類のMOSトランジスタを用い、上
記2つのアナログスイッチのいずれか1つのゲートにそ
の出力端を接続したインバータとからなり、該インバー
タの入力端と、上記インバータの出力端を接続していな
いもう1つのアナログスイッチのゲートとを上記電圧変
換手段の出力端に共通に接続したものとし、上記Pチャ
ネルMOSトランジスタのバックゲートには上記第1の
所定電位が、かつ上記NチャネルMOSトランジスタの
バックゲートには上記第2の所定電位が印加され、かつ
上記アナログ信号切替え手段の上記2つのアナログスイ
ッチは、上記電圧変換手段がその入力駆動電圧に対し上
記第1の所定電位,上記第2の所定電位に等しい2値の
出力駆動電圧に変換して出力した駆動信号により、それ
ぞれのソースあるいはドレインに入力された2つのアナ
ログ信号を択一的にそのドレインあるいはソースから出
力するものとしたものである。
In the analog signal switching circuit according to the present invention, the analog signal switching means is a P channel,
Alternatively, two analog switches using one type of N-channel MOS transistors and two types of MOS transistors of P-channel and N-channel are used, and the output terminal is connected to one of the gates of the two analog switches. The input terminal of the inverter and the gate of another analog switch not connected to the output terminal of the inverter are commonly connected to the output terminal of the voltage conversion means, and P The first predetermined potential is applied to the back gate of the channel MOS transistor, the second predetermined potential is applied to the back gate of the N channel MOS transistor, and the two analog switches of the analog signal switching means are , The voltage conversion means has the first predetermined potential with respect to the input drive voltage. Two analog signals input to the respective sources or drains are selectively output from the drains or sources by a drive signal converted into a binary output drive voltage equal to the second predetermined potential and output. It is what

【0014】[0014]

【作用】この発明においては、上述のような構成とした
から、上記電圧供給手段が出力した第1及び第2の所定
電位の2つの電圧を上記MOS構造になるアナログ信号
切替え手段の電源電圧とし、上記信号処理回路が出力し
た駆動信号をその電圧レベルに応じて、上記電圧変換手
段で上記第1あるいは第2の所定電位レベルに変換し、
この変換した2値の出力駆動電圧で上記アナログ信号切
替え手段を駆動することにより、該アナログ信号切替え
手段に入力されたバイアス電圧を含むアナログ信号の実
効電圧の範囲を、上記第2の所定電位から上記第1の所
定電位までに狭めることとなり、これによりMOS構造
になる上記アナログ信号切替え手段の耐圧を低くするこ
とができ、この耐圧を超える電圧領域の入力信号もその
実質上の電圧を下げてそれを選択的に取り出して処理す
ることができる。
In the present invention, because of the above-mentioned configuration, the two voltages of the first and second predetermined potentials output by the voltage supply means are used as the power supply voltage of the analog signal switching means having the MOS structure. The drive signal output from the signal processing circuit is converted into the first or second predetermined potential level by the voltage conversion means according to the voltage level thereof,
By driving the analog signal switching means with the converted binary output drive voltage, the range of the effective voltage of the analog signal including the bias voltage input to the analog signal switching means is changed from the second predetermined potential. By narrowing to the first predetermined potential, the withstand voltage of the analog signal switching means having the MOS structure can be lowered, and the input signal in the voltage region exceeding this withstand voltage can also be lowered substantially. It can be selectively retrieved and processed.

【0015】また、この発明においては、上記電圧供給
手段を、上記アナログ信号に印加されているバイアス電
圧を検出する電圧検出手段と、この検出した電圧のレベ
ルを所定の値だけ,上方あるいは下方にシフトして上記
第1の所定電位及び第2の所定電位を発生するレベルシ
フト手段とからなるものとしたから、上記バイアス電圧
の変化に応じて上記第1及び第2の所定電位を発生する
こととなり、これにより該アナログ信号切替え回路の製
造時に、これが用いられる装置における該アナログ信号
切替え回路に入力されるアナログ信号に含まれるバイア
ス電圧を予め調べて回路構成を決める必要がなく、汎用
性が高いものとすることができる。
Further, in the present invention, the voltage supply means is a voltage detection means for detecting the bias voltage applied to the analog signal, and the level of the detected voltage is increased or decreased by a predetermined value. Since it comprises the level shift means for shifting to generate the first predetermined potential and the second predetermined potential, the first and second predetermined potentials are generated according to the change of the bias voltage. Therefore, at the time of manufacturing the analog signal switching circuit, there is no need to preliminarily check the bias voltage included in the analog signal input to the analog signal switching circuit in the device using the analog signal switching circuit to determine the circuit configuration, and the versatility is high. Can be one.

【0016】さらに、この発明においては、上記バイア
ス電圧を含むアナログ信号が各々入力される各入力端子
の次段に、上記アナログ信号の振幅電圧を上記第1の所
定電位と、上記第2の所定電位との間の電圧に制限する
入力電圧制限手段を備えたから、上記アナログ信号の振
幅電圧が変動しても、該アナログ信号が上記アナログ信
号切替え手段に入力されるときにはその振幅電圧が常に
上記第1の所定電位と、上記第2の所定電位との電位差
の範囲内に保たれることとなり、これにより上記アナロ
グ信号切替え手段の素子の破壊,あるいは誤動作を防ぐ
ことができる。
Furthermore, in the present invention, the amplitude voltage of the analog signal is applied to the first predetermined potential and the second predetermined voltage at the next stage of each input terminal to which the analog signal including the bias voltage is input. Since the input voltage limiting means for limiting the voltage to the potential is provided, even if the amplitude voltage of the analog signal fluctuates, when the analog signal is input to the analog signal switching means, the amplitude voltage is always the first voltage. It is kept within the range of the potential difference between the first predetermined potential and the second predetermined potential, whereby the destruction or malfunction of the element of the analog signal switching means can be prevented.

【0017】[0017]

【実施例】実施例1.以下、この発明の第1の実施例を
図について説明する。図1は本発明の実施例1によるア
ナログ信号切替え回路を示すブロック図である。図にお
いて、120はPチャネルMOSトランジスタと、Nチ
ャネルMOSトランジスタとを用いたCMOS構造にな
るアナログ機能ブロックであり、これはアナログスイッ
チ1,2及びインバータ3を含むものである。該アナロ
グ機能ブロック120の2個のアナログスイッチ1,2
は、各々その入力端をバイアス電圧が印加されたアナロ
グ信号が入力される入力端子100あるいは入力端子2
00に接続し、かつその出力端をボルテージフォロワ型
のオペアンプ5の正符号端子に共通に接続し、それぞれ
の互いに異なるチャネルのゲート同士を接続して一方の
相互接続したゲートにインバータ3の出力端を接続して
いる。6は信号処理回路であり、アナログスイッチ1,
2をオンあるいはオフさせる信号を出力し、オペアンプ
5の出力を受ける。8は電圧レベルを変換するバイポー
ラ構造のレベルシフト回路であり、信号処理回路6が出
力した信号を2値の電圧レベルに変換し、この電圧レベ
ルを変換した信号を、アナログスイッチ1のNチャネル
及びアナログスイッチ2のPチャネルにインバータ3を
介して与え、かつアナログスイッチ1のPチャネル及び
アナログスイッチ2のNチャネルに直接与えるものであ
る。そして、7は第1の電位VDD及び第2の電位VSSの
2つの電位を出力する基準電圧源であり、VDD端子60
0,あるいはVSS端子700を介して、アナログスイッ
チ機能ブロック120及びレベルシフト回路8の両方に
上記2つの電位VDD,VSSを供給しているものである。
EXAMPLES Example 1. Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a block diagram showing an analog signal switching circuit according to a first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 120 denotes an analog functional block having a CMOS structure using a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor, which includes analog switches 1 and 2 and an inverter 3. The two analog switches 1 and 2 of the analog function block 120
Is an input terminal 100 or an input terminal 2 to which an analog signal to which a bias voltage is applied is input, respectively.
00, and the output terminal thereof is commonly connected to the positive sign terminal of the voltage follower type operational amplifier 5, the gates of different channels are connected to each other, and the output terminal of the inverter 3 is connected to one of the mutually connected gates. Are connected. 6 is a signal processing circuit, which is an analog switch 1,
It outputs a signal for turning on or off 2 and receives the output of the operational amplifier 5. Reference numeral 8 denotes a bipolar structure level shift circuit for converting the voltage level, which converts the signal output from the signal processing circuit 6 into a binary voltage level and converts the voltage level converted signal into the N channel of the analog switch 1 and It is applied to the P channel of the analog switch 2 via the inverter 3 and directly to the P channel of the analog switch 1 and the N channel of the analog switch 2. A reference voltage source 7 outputs two potentials, a first potential VDD and a second potential VSS, and a VDD terminal 60
The two potentials VDD and VSS are supplied to both the analog switch function block 120 and the level shift circuit 8 via the 0 or VSS terminal 700.

【0018】また、図3はアナログスイッチ2の回路図
を示すものであり、図において、該アナログスイッチ2
は、そのゲートにインバータ3を介して駆動電圧が入力
されているPチャネルMOSトランジスタ14と、その
ゲートに直接,駆動電圧が入力されているNチャネルM
OSトランジスタ15とからなり、上記PチャネルMO
Sトランジスタ14のバックゲートに上記第1の電位V
DDが印加され、上記NチャネルMOSトランジスタ15
のバックゲートに上記第2の電位VSSが印加されている
ものである。
FIG. 3 shows a circuit diagram of the analog switch 2, and in the figure, the analog switch 2 is shown.
Is a P-channel MOS transistor 14 whose gate is supplied with a drive voltage via an inverter 3 and an N-channel M transistor whose gate is directly supplied with a drive voltage.
And the P-channel MO
The first potential V is applied to the back gate of the S transistor 14.
The N-channel MOS transistor 15 is applied with DD
Is applied with the second potential VSS.

【0019】なお、アナログスイッチ1は、上記アナロ
グスイッチ2と同じ回路構成を有するものであるが、各
ゲートへの駆動電圧の入力の仕方は、上記アナログスイ
ッチ2とは逆に、PチャネルMOSトランジスタのゲー
トに上記駆動電圧が直接入力され、NチャネルMOSト
ランジスタのゲートにインバータ3を介して上記駆動電
圧が入力されるものとなっている。
The analog switch 1 has the same circuit configuration as the analog switch 2, but the method of inputting the drive voltage to each gate is opposite to that of the analog switch 2 and is a P-channel MOS transistor. The driving voltage is directly input to the gate of the N channel MOS transistor, and the driving voltage is input to the gate of the N-channel MOS transistor through the inverter 3.

【0020】次に動作について説明する。まず、入力端
子100及び入力端子200に入力されたバイアス電圧
が印加された2種類のアナログ信号は、それぞれアナロ
グスイッチ1あるいはアナログスイッチ2に入力され
る。このとき、信号処理回路6からレベルシフト回路8
へ上記アナログスイッチ1,2を駆動させる信号が出力
されており、かつ基準電圧源7からは、上記アナログ信
号の最大有効振幅電圧が5V以内であるときに、このア
ナログ信号を含んでなる入力信号のバイアス電圧を基準
としてその電圧より2.5V高い第1の電位VDDと、そ
れより2.5V低い第2の電位VSSとが上記レベルシフ
ト回路8に与えられている。
Next, the operation will be described. First, the two types of analog signals, to which the bias voltage is applied, input to the input terminal 100 and the input terminal 200 are input to the analog switch 1 or the analog switch 2, respectively. At this time, the signal processing circuit 6 to the level shift circuit 8
A signal for driving the analog switches 1 and 2 is output to the reference voltage source 7 and an input signal including the analog signal is output from the reference voltage source 7 when the maximum effective amplitude voltage of the analog signal is within 5V. The first potential VDD higher than the bias voltage by 2.5V and the second potential VSS lower than the bias voltage by 2.5V are applied to the level shift circuit 8.

【0021】そして、上記レベルシフト回路8は、上記
信号処理回路6からの駆動信号の電圧がHigh電圧レ
ベルのときにはその電圧を第1の電位VDDに、また、L
ow電圧レベルのときには第2の電位VSSにそれぞれ変
換し、この変換した駆動電圧VDDあるいはVSSを上記ア
ナログスイッチ1,2に供給する。
When the voltage of the drive signal from the signal processing circuit 6 is at the high voltage level, the level shift circuit 8 sets the voltage to the first potential VDD and L
When it is at the ow voltage level, it is converted to the second potential VSS, and the converted drive voltage VDD or VSS is supplied to the analog switches 1 and 2.

【0022】ここで、図1に示したように、上記第1及
び第2の電位VDD,VSSを上記アナログスイッチ1,2
及びインバータ3からなるアナログスイッチ機能ブロッ
ク120の電源電圧としても供給しており、これにより
MOS素子で構成された該アナログスイッチ機能ブロッ
ク120に入力されるバイアス電圧が第2の電位VSS分
低下することとなる。
Here, as shown in FIG. 1, the first and second potentials VDD and VSS are set to the analog switches 1 and 2, respectively.
It is also supplied as the power supply voltage of the analog switch function block 120 composed of the inverter 3 and the inverter 3, so that the bias voltage input to the analog switch function block 120 composed of MOS elements is reduced by the second potential VSS. Becomes

【0023】そして、上記信号処理回路6からHigh
電圧レベルの駆動信号が出力され、上記レベルシフト回
路8でその電圧レベルをVDDに変換された駆動電圧が上
記アナログスイッチ機能ブロック120に入力されたと
きには上記アナログスイッチ1がオフ、上記アナログス
イッチ2がオンとなり、入力端子200に入力されたア
ナログ信号が取り出され、また、Low電圧レベルの駆
動信号を変換した駆動電圧VSSが入力されたときには、
上記アナログスイッチ1がオン、上記アナログスイッチ
2がオフとなり、入力端子100に入力されたアナログ
信号が取り出される。
Then, the signal processing circuit 6 outputs High.
When a drive signal of a voltage level is output and the drive voltage whose level has been converted to VDD by the level shift circuit 8 is input to the analog switch function block 120, the analog switch 1 is turned off and the analog switch 2 is turned on. When turned on, the analog signal input to the input terminal 200 is taken out, and when the drive voltage VSS obtained by converting the drive signal of the Low voltage level is input,
The analog switch 1 is turned on and the analog switch 2 is turned off, and the analog signal input to the input terminal 100 is taken out.

【0024】即ち、図2に示したように、上記基準電圧
源7により、上記アナログスイッチ1,2の動作電圧の
範囲を上記第1の電位VDDと、第2の電位VSSとの間に
設定し、かつこの第1及び第2の電位VDD,VSSによ
り、上記アナログスイッチ1と、上記アナログスイッチ
2とを交互にオン/オフ動作させることとなるため、該
アナログスイッチ1,2のゲート・ソース間に印加され
る電圧を5V以内に抑えて上記入力端子100,200
に各々入力された2種類のアナログ信号を交互に選択し
て取り出すこととなる。そして、この交互に取り出され
た2種類のアナログ信号は、オペアンプ5に入力されて
インピーダンス変換された後、上記信号処理回路6に入
力される。
That is, as shown in FIG. 2, the reference voltage source 7 sets the operating voltage range of the analog switches 1 and 2 between the first potential VDD and the second potential VSS. Moreover, since the analog switch 1 and the analog switch 2 are alternately turned on / off by the first and second potentials VDD and VSS, the gate and source of the analog switches 1 and 2 are turned on and off. The voltage applied between the input terminals 100 and 200 is controlled within 5V.
The two types of analog signals respectively input to are alternately selected and taken out. Then, the two kinds of alternately fetched analog signals are input to the operational amplifier 5, impedance-converted, and then input to the signal processing circuit 6.

【0025】また、このアナログ信号切替え回路を従来
例と同じように、図11に示したようなブリッジ比較回
路に接続するセンサ・インタフェースとして用いた場
合、上記信号処理回路6は、基準分割電圧と、各センサ
及び抵抗による分割電圧とをそれぞれ比較し、各々の誤
差を増幅した信号をその出力端子500から出力するこ
ととなる。
Further, when this analog signal switching circuit is used as a sensor interface connected to the bridge comparison circuit as shown in FIG. 11 in the same manner as in the conventional example, the signal processing circuit 6 operates as a reference division voltage. , Each sensor and the divided voltage by the resistor are compared with each other, and a signal obtained by amplifying each error is output from the output terminal 500.

【0026】以上のように、本実施例1によれば、バイ
ポーラ及びCMOS構造の素子を混在させて形成したア
ナログ信号切替え回路に、入力信号のバイアス電圧より
所定の電圧分高い第1の電位VDDと、それより所定の電
圧分低い第2の電位VSSとを出力する基準電圧源7を設
け、この第1及び第2の電位VDD,VSSの両電位を、2
種類のアナログ信号を交互に選択するための上記アナロ
グスイッチ1,2及びインバータ3を含むCMOS構造
になるアナログスイッチ機能ブロック120にその電源
電圧として供給し、かつ、信号処理回路6の駆動信号の
電圧レベルを上記アナログスイッチ1,2の駆動電圧レ
ベルに変換するレベルシフト回路8にも、上記第1及び
第2の電位VDD,VSSの両電位を供給して、該レベルシ
フト回路8が出力する上記アナログスイッチ1,2の2
値の駆動電圧を上記第1の電位VDD,あるいは第2の電
位VSSとなるようにしたので、上記アナログスイッチ
1,2の駆動電圧の範囲が上記第1の電位VDDと、上記
第2の電位VSSとの間となり、該アナログスイッチ1,
2のゲート・ソース間に印加される電圧を低く抑えるこ
ととなる。これにより、CMOS構造になる上記アナロ
グスイッチ1,2の耐圧を低いものとすることができ、
5V系のCMOS素子を形成するプロセスにより製造し
たアナログスイッチを有するアナログ信号切替え回路と
することができる。
As described above, according to the first embodiment, in the analog signal switching circuit formed by mixing the bipolar and CMOS elements, the first potential VDD higher than the bias voltage of the input signal by a predetermined voltage. And a reference voltage source 7 for outputting a second potential VSS lower by a predetermined voltage than the reference potential source 7, and both the first and second potentials VDD and VSS are set to 2
The voltage of the drive signal of the signal processing circuit 6 is supplied to the analog switch function block 120 having a CMOS structure including the analog switches 1 and 2 and the inverter 3 for alternately selecting the type of analog signal as its power supply voltage. The level shift circuit 8 for converting the level to the drive voltage level of the analog switches 1 and 2 is also supplied with both the first and second potentials VDD and VSS, and the level shift circuit 8 outputs the potential. Analog switch 1, 2 of 2
Since the drive voltage having the value is set to the first potential VDD or the second potential VSS, the range of the drive voltage of the analog switches 1 and 2 is the first potential VDD and the second potential. It is between VSS and the analog switch 1,
The voltage applied between the gate and the source of 2 is suppressed to a low level. As a result, the withstand voltage of the analog switches 1 and 2 having the CMOS structure can be lowered,
An analog signal switching circuit having an analog switch manufactured by a process of forming a 5V CMOS device can be obtained.

【0027】なお、本実施例1においては、入力信号を
交互に選択して取り出すためのアナログスイッチが2個
のものについて示したが、このアナログスイッチの数は
2個に限らず、選択したい信号の数に合わせて設け、そ
の数に合わせてインバータ3,オペアンプ5及び信号処
理回路6を増設するようにしても良いことは言うまでも
ない。
In the first embodiment, two analog switches for alternately selecting and extracting the input signal are shown, but the number of analog switches is not limited to two, and the signal to be selected is selected. It goes without saying that the inverters 3, the operational amplifiers 5, and the signal processing circuits 6 may be additionally provided in accordance with the number of the above.

【0028】実施例2.以下、この発明の第2の実施例
によるアナログ信号切替え回路について説明する。上記
実施例1では、アナログスイッチ機能ブロック120及
びレベルシフト回路8の両方に、上記第1の電位VDD,
第2の電位VSSの両電位を供給するために基準電圧源7
を用いていたが、本実施例2は、上記第1の電位VDD及
び第2の電位VSSの両電位を供給する回路を、図4にそ
のブロック図を示したような回路としたものである。
Example 2. An analog signal switching circuit according to the second embodiment of the present invention will be described below. In the first embodiment, both the analog switch function block 120 and the level shift circuit 8 have the first potential VDD,
A reference voltage source 7 for supplying both potentials of the second potential VSS.
However, in the second embodiment, the circuit for supplying both the first potential VDD and the second potential VSS is a circuit whose block diagram is shown in FIG. .

【0029】図4において、9は電圧検出回路であり、
入力端子100に入力される入力信号に含まれる直流電
圧成分を検出する。10は上下レベルシフト回路であ
り、電圧検出回路9が出力した直流電圧を昇圧,及び減
圧して、第1の電位VDD及び第2の電位VSSを作り出
し、この両電位を上記アナログスイッチ機能ブロック1
20と、レベルシフト回路8との両方に供給するもので
ある。
In FIG. 4, 9 is a voltage detection circuit,
The DC voltage component included in the input signal input to the input terminal 100 is detected. Reference numeral 10 denotes an up / down level shift circuit, which steps up and down the DC voltage output from the voltage detection circuit 9 to produce a first potential VDD and a second potential VSS, and both potentials are the analog switch function block 1
20 and the level shift circuit 8.

【0030】また、本実施例2によるアナログ信号切替
え回路において、図4に示していない各回路の構成は、
上記電圧検出回路9及び上下レベルシフト回路10に相
当する上記実施例1における基準電圧源7を除いて、上
記実施例1の図1に示したものと同じ構成となっている
ものである。
Further, in the analog signal switching circuit according to the second embodiment, the configuration of each circuit not shown in FIG.
The configuration is the same as that shown in FIG. 1 of the first embodiment except for the reference voltage source 7 in the first embodiment which corresponds to the voltage detection circuit 9 and the vertical level shift circuit 10.

【0031】次に動作について説明する。まず、入力端
子100にアナログ信号と、バイアス信号とからなる入
力信号が入力されると、電圧検出回路9は該入力信号に
含まれる直流成分、つまりバイアス電圧を検出する。
Next, the operation will be described. First, when an input signal composed of an analog signal and a bias signal is input to the input terminal 100, the voltage detection circuit 9 detects a DC component included in the input signal, that is, a bias voltage.

【0032】そして、上下レベルシフト回路10は、上
記電圧検出回路9が検出して出力したバイアス電圧を受
け、これを昇圧して第1の電位VDDを作り出すと同時
に、上記バイアス電圧を減圧して第2の電位VSSを作り
出し、この第1,第2の電位VDD,VSSの両電位をアナ
ログスイッチ機能ブロック120及びレベルシフト回路
8の両方に供給する。
The upper / lower level shift circuit 10 receives the bias voltage detected and output by the voltage detection circuit 9 and boosts it to generate the first potential VDD, and at the same time reduces the bias voltage. The second potential VSS is generated, and both the first and second potentials VDD and VSS are supplied to both the analog switch function block 120 and the level shift circuit 8.

【0033】ここで、上記電圧検出回路9及び上下レベ
ルシフト回路10の回路構成の一例を図5に示し、その
動作を詳述する。図5に示したように、入力端子100
に入力された上記入力信号は、該入力端子100に接続
しているボルテージフォロワ型のオペアンプ80でイン
ピーダンス変換され、抵抗82及びその一端を接地した
コンデンサ87からなるローパスフィルタによりバイア
ス信号のみにされて、さらにこれが、もう一つのボルテ
ージフォロワ型のオペアンプ81により再びインピーダ
ンス変換された後、直列に接続した複数のダイオード9
1〜94のうちのダイオード92と、ダイオード93と
の間に入力される。
Here, an example of the circuit configuration of the voltage detection circuit 9 and the upper / lower level shift circuit 10 is shown in FIG. 5, and its operation will be described in detail. As shown in FIG. 5, the input terminal 100
The input signal input to the input terminal is impedance-converted by a voltage follower type operational amplifier 80 connected to the input terminal 100, and is converted into a bias signal only by a low-pass filter including a resistor 82 and a capacitor 87 whose one end is grounded. Further, this is again impedance-converted by another voltage follower type operational amplifier 81, and then a plurality of diodes 9 connected in series are connected.
It is input between the diode 92 of 1 to 94 and the diode 93.

【0034】そして、この入力されたバイアス信号は、
ダイオード91,92によりその電圧が昇圧されて、そ
のコレクタ端子を電源400に接続し、かつ定電流源8
4によりエミッタフォロワ接続したNPNトランジスタ
88の,抵抗83によりバイアスしているベース端子に
入力される。すると、上記昇圧されたバイアス信号の電
圧は該NPNトランジスタ88のベース・エミッタ間電
圧の分だけやや減圧されて第1の電位VDD(バイアス電
圧+2.5V)とされ、これがVDD端子600から出力
される。
Then, the input bias signal is
The voltage is boosted by the diodes 91 and 92, its collector terminal is connected to the power supply 400, and the constant current source 8
The signal is input to the base terminal of the NPN transistor 88, which is connected to the emitter follower by 4 and biased by the resistor 83. Then, the voltage of the boosted bias signal is slightly reduced by the base-emitter voltage of the NPN transistor 88 to become the first potential VDD (bias voltage + 2.5V), which is output from the VDD terminal 600. It

【0035】また、このとき同時に、上記バイアス信号
の電圧はダイオード93,94により減圧されて、その
コレクタ端子を接地し、かつ定電流源85によりエミッ
タフォロワ接続したPNPトランジスタ89の,抵抗8
6によりバイアスしているベース端子に入力されてお
り、上記減圧されたバイアス信号の電圧は、該PNPト
ランジスタ89のベース・エミッタ間電圧の分だけやや
昇圧されて第2の電位VSS(バイアス電圧−2.5V)
とされ、これがVSS端子700から出力される。
At the same time, the voltage of the bias signal is reduced by the diodes 93 and 94, its collector terminal is grounded, and the resistor 8 of the PNP transistor 89 connected to the emitter follower by the constant current source 85 is connected.
The voltage of the bias signal, which has been input to the base terminal biased by 6, is slightly boosted by the base-emitter voltage of the PNP transistor 89, and the second potential VSS (bias voltage − 2.5V)
Which is output from the VSS terminal 700.

【0036】このようにして、上記第1及び第2の電位
VDD,VSSの両電位を各々供給されたアナログスイッチ
機能ブロック120と、レベルシフト回路8とは、上記
実施例1で述べたように、信号処理回路6からHigh
電圧レベルの駆動信号が出力されたときに、該レベルシ
フト回路8でその電圧レベルをVDDに変換し、この駆動
電圧VDDにより、該アナログスイッチ機能ブロック12
0のアナログスイッチ1がオフ、上記アナログスイッチ
2がオンとなり、入力端子200に入力されたアナログ
信号がオペアンプ5でインピーダンス変換されて上記信
号処理回路6に入力され、また、Low電圧レベルの駆
動信号が出力されたときには、これを上記レベルシフト
回路8が変換した駆動電圧VSSにより、上記アナログス
イッチ1がオン、上記アナログスイッチ2がオフとな
り、入力端子100に入力されたアナログ信号がオペア
ンプ5でインピーダンス変換されて上記信号処理回路6
に入力される。
As described above in the first embodiment, the analog switch function block 120 and the level shift circuit 8 to which the first and second potentials VDD and VSS are respectively supplied in this manner are provided. , From the signal processing circuit 6 to High
When a drive signal of a voltage level is output, the level shift circuit 8 converts the voltage level to VDD, and the drive voltage VDD causes the analog switch function block 12 to operate.
The analog switch 1 of 0 is turned off, the analog switch 2 is turned on, the analog signal input to the input terminal 200 is impedance-converted by the operational amplifier 5 and is input to the signal processing circuit 6, and the drive signal of Low voltage level is also supplied. Is output, the analog switch 1 is turned on and the analog switch 2 is turned off by the drive voltage VSS converted by the level shift circuit 8, and the analog signal input to the input terminal 100 is impeded by the operational amplifier 5. The converted signal processing circuit 6
Entered in.

【0037】以上のように、本実施例2によれば、バイ
ポーラ及びCMOS素子を混在させて形成したアナログ
信号切替え回路に電圧検出回路9と、上下レベルシフト
回路10を備え、入力信号の直流電圧成分を上記電圧検
出回路9で検出して、この直流電圧を上記上下レベルシ
フト回路10で昇圧及び減圧し、上記第1の電位VDD及
び第2の電位VSSを作り出すようにしたので、入力信号
に含まれるバイアス信号の電圧を予め知っておく必要が
なく、異なった電圧のバイアス信号が印加されても、常
に基準となる上記第1の電位VDD及び第2の電位VSSを
出力することができ、この第1及び第2の電位VDD,V
SSを、2種類のアナログ信号を交互に選択するための上
記アナログスイッチ1,2及びインバータ3を含むCM
OS構造になるアナログスイッチ機能ブロック120に
その電源電圧として供給し、かつ、信号処理回路6の駆
動信号の電圧レベルを上記アナログスイッチ1,2の駆
動電圧レベルに変換するレベルシフト回路8にも、上記
第1及び第2の電位VDD,VSSを供給して、該レベルシ
フト回路8が出力する上記アナログスイッチ1,2の駆
動電圧をVDD,あるいはVSSとなるようにしたので、上
記アナログスイッチ1,2の駆動電圧の範囲が上記第1
の電位VDDと、上記第2の電位VSSとの間となり、該ア
ナログスイッチ1,2のゲート・ソース間に印加される
電圧を低く抑えることとなる。これにより、CMOS構
造の上記アナログスイッチ1,2の耐圧を低いものとす
ることができ、5V系のCMOS素子を形成するプロセ
スにより製造したアナログスイッチを有するアナログ信
号切替え回路とすることができる。
As described above, according to the second embodiment, the analog signal switching circuit formed by mixing bipolar and CMOS elements is provided with the voltage detection circuit 9 and the upper and lower level shift circuit 10, and the DC voltage of the input signal is supplied. The component is detected by the voltage detection circuit 9, and the DC voltage is boosted and depressurized by the upper and lower level shift circuit 10 to generate the first potential VDD and the second potential VSS. It is not necessary to know the voltage of the included bias signal in advance, and even if bias signals of different voltages are applied, the above-mentioned first potential VDD and second potential VSS can always be output, The first and second potentials VDD and V
CM including the above analog switches 1 and 2 and an inverter 3 for alternately selecting two kinds of analog signals for SS
The level shift circuit 8 which supplies the power voltage to the analog switch function block 120 having the OS structure and also converts the voltage level of the drive signal of the signal processing circuit 6 into the drive voltage level of the analog switches 1 and 2, The first and second potentials VDD and VSS are supplied so that the drive voltage of the analog switches 1 and 2 output by the level shift circuit 8 becomes VDD or VSS. The drive voltage range of 2 is the above first
Between the potential VDD of the analog switch 1 and the second potential VSS, and the voltage applied between the gate and the source of the analog switches 1 and 2 is suppressed to a low level. As a result, the withstand voltage of the analog switches 1 and 2 having the CMOS structure can be made low, and the analog signal switching circuit having the analog switches manufactured by the process of forming the 5V CMOS device can be obtained.

【0038】なお、本実施例2では、上記電圧検出回路
9及び上下レベルシフト回路10を入力端子100側に
設けた回路構成を示したが、これは、入力端子200側
に設けても良く、同様の効果を有することは言うまでも
ない。
Although the voltage detection circuit 9 and the upper and lower level shift circuit 10 are provided on the input terminal 100 side in the second embodiment, they may be provided on the input terminal 200 side. It goes without saying that it has the same effect.

【0039】実施例3.図6は、この発明の第3の実施
例によるアナログ信号切替え回路の一部を示すブロック
図であり、この図6に記載されていない部分の回路は上
記実施例1における図1,もしくは上記実施例2におけ
る図4,図5と同じ回路構成となっているものである。
図6において、220はアナログスイッチ機能ブロック
120への入力信号電圧を制限するクランプ回路であ
り、これは、入力端子100,200に各々その一端を
接続した2つの抵抗11,11’と、該抵抗11,1
1’の各他端にそのアノードを各々接続し、かつそのカ
ソードをVDD端子600に接続した2つのダイオード1
2,12’と、上記抵抗11,11’の各他端にそのカ
ソードを各々接続し、かつそのアノードをVSS端子70
0に接続した2つのダイオード13,13’とからなる
ものである。
Example 3. FIG. 6 is a block diagram showing a part of an analog signal switching circuit according to the third embodiment of the present invention. The circuit of the part not shown in FIG. 6 is the same as that of FIG. It has the same circuit configuration as that of FIG. 4 and FIG. 5 in the second example.
In FIG. 6, 220 is a clamp circuit that limits the input signal voltage to the analog switch function block 120. This is composed of two resistors 11 and 11 ′ each having one end connected to the input terminals 100 and 200, and the resistors. 11, 1
Two diodes 1 each having its anode connected to the other end of 1'and its cathode connected to the VDD terminal 600
2, 12 'and the cathodes of the resistors 11 and 11' are respectively connected to the other ends of the resistors 11 and 11 ', and the anodes thereof are connected to the VSS terminal 70.
It consists of two diodes 13, 13 'connected to 0.

【0040】本実施例3によるアナログ信号切替え回路
の,入力端子100,200から入力された2種類のア
ナログ信号を交互に選択して、それを信号処理回路6に
供給するという基本的な動作は、上記実施例1あるいは
2で説明した動作と同じであるため、以下にその動作の
相違点のみ説明する。
The basic operation of the analog signal switching circuit according to the third embodiment of alternately selecting two kinds of analog signals input from the input terminals 100 and 200 and supplying the selected analog signals to the signal processing circuit 6 is as follows. Since it is the same as the operation described in the first or second embodiment, only the difference in the operation will be described below.

【0041】例えば、アナログスイッチ機能ブロック1
20の動作電圧の範囲、つまり第1の電位VDD,第2の
電位VSS間の電位差が5Vに設定されており、入力端子
100に入力された入力信号が含むアナログ信号の電圧
が高く、その振幅が5Vを超えた場合、VDD端子600
に設定されている上記第1の電位VDDを超えるため、抵
抗11及びダイオード12を介して、上記入力端子10
0から上記VDD端子600に上記第1の電位VDDを超え
た電圧分の電流が流れ、アナログスイッチ1に入力され
る電圧の上限が、VDD電圧からダイオード12の順方向
電圧を引いた電圧に制限される。
For example, the analog switch function block 1
The operating voltage range of 20, that is, the potential difference between the first potential VDD and the second potential VSS is set to 5 V, the voltage of the analog signal included in the input signal input to the input terminal 100 is high, and its amplitude is large. If the voltage exceeds 5V, VDD terminal 600
Since it exceeds the first potential VDD which is set to, the input terminal 10 is connected through the resistor 11 and the diode 12.
A current of a voltage exceeding the first potential VDD flows from 0 to the VDD terminal 600, and the upper limit of the voltage input to the analog switch 1 is limited to the voltage obtained by subtracting the forward voltage of the diode 12 from the VDD voltage. To be done.

【0042】また、同時に、VSS端子700に設定され
ている上記第2の電位VSSを下回るため、抵抗11及び
ダイオード13を介して、上記VSS端子700から上記
入力端子100に上記第2の電位を下回った電圧分の電
流が流れ、上記アナログスイッチ1に入力される電圧の
下限がVSS電圧と、ダイオード13の順方向電圧とを加
えた電圧に制限される。そして、上記入力端子200に
入力された入力信号に含まれるアナログ信号の振幅電圧
が5Vを超えた場合も、抵抗11’,ダイオード1
2’,13’の作用により上述のようにして、アナログ
スイッチ2に入力される電圧が制限される。
At the same time, since the second potential VSS set at the VSS terminal 700 is dropped, the second potential is applied from the VSS terminal 700 to the input terminal 100 via the resistor 11 and the diode 13. A current corresponding to the lower voltage flows, and the lower limit of the voltage input to the analog switch 1 is limited to the voltage obtained by adding the VSS voltage and the forward voltage of the diode 13. Then, even when the amplitude voltage of the analog signal included in the input signal input to the input terminal 200 exceeds 5 V, the resistance 11 ′ and the diode 1
By the action of 2'and 13 ', the voltage input to the analog switch 2 is limited as described above.

【0043】このように、本実施例3によるアナログ信
号切替え回路によれば、上記実施例1,あるいは2によ
るアナログ信号切替え回路の入力端子100,200の
次段に上記クランプ回路220を備えたので、上記アナ
ログスイッチ1,2のゲート・ソース間に印加される電
圧を低く抑えて、低い耐圧のCMOS構造になるアナロ
グスイッチを用いることができることに加え、該アナロ
グ信号切替え回路をセンサ・インターフェースとして用
いた場合などに、センサの特性あるいは感度が変わり、
該センサの出力電圧が変動することにより、該アナログ
信号切替え回路の入力信号の電圧が変動し、その振幅電
圧が第1及び第2の電位VDD,VSS間の電圧を超えるア
ナログ信号が入力されても、CMOS構造になるアナロ
グスイッチに入力される電圧を制限して、該アナログス
イッチの構成素子であるMOSトランジスタの破壊、あ
るいは誤動作を防ぐことができる。
As described above, according to the analog signal switching circuit of the third embodiment, the clamp circuit 220 is provided next to the input terminals 100 and 200 of the analog signal switching circuit of the first or second embodiment. In addition to being able to use an analog switch having a low withstand voltage CMOS structure by suppressing the voltage applied between the gate and source of the analog switches 1 and 2, the analog signal switching circuit is used as a sensor interface. If the sensor characteristics or sensitivity change,
When the output voltage of the sensor changes, the voltage of the input signal of the analog signal switching circuit changes, and an analog signal whose amplitude voltage exceeds the voltage between the first and second potentials VDD and VSS is input. Also, by limiting the voltage input to the analog switch having the CMOS structure, it is possible to prevent the destruction or malfunction of the MOS transistor which is a constituent element of the analog switch.

【0044】実施例4.以下、この発明の第4の実施例
について説明する。図7は本実施例4によるアナログ信
号切替え回路を示す回路図であり、図において、上記実
施例1〜3と同一符号は同一あるいは相当部分を示し、
220’はクランプ回路であり、ダイオード33,34
と、抵抗35,36,37,42と、NPNトランジス
タ38,40と、PNPトランジスタ39,41とから
なり、入力信号の電圧を所定の電圧に制限するものであ
る。
Example 4. The fourth embodiment of the present invention will be described below. FIG. 7 is a circuit diagram showing an analog signal switching circuit according to the fourth embodiment. In the figure, the same reference numerals as those in the first to third embodiments represent the same or corresponding portions,
220 'is a clamp circuit and includes diodes 33, 34
And resistors 35, 36, 37 and 42, NPN transistors 38 and 40, and PNP transistors 39 and 41 to limit the voltage of the input signal to a predetermined voltage.

【0045】次に動作について説明する。まず、入力端
子200に入力されたアナログ信号と、バイアス信号と
からなる入力信号は、クランプ回路220’の抵抗35
を介して、アナログスイッチ2を構成するPチャネルM
OSトランジスタ14及びNチャネルMOSトランジス
タ15の各ドレイン端子に入力される。
Next, the operation will be described. First, the input signal composed of the analog signal input to the input terminal 200 and the bias signal is input to the resistor 35 of the clamp circuit 220 ′.
P channel M that constitutes the analog switch 2 via
It is input to each drain terminal of the OS transistor 14 and the N-channel MOS transistor 15.

【0046】このとき基準電圧源7において、電源端子
400,接地端子300間に直列に接続した抵抗20,
21,22により、電源電圧VCCを分割した電圧のう
ち、抵抗20と抵抗21との接続点での分割電圧が、抵
抗26を介してエミッタフォロワ接続したNPNトラン
ジスタ24のベース端子に印加され、上記抵抗21と抵
抗22との接続点での分割電圧が、抵抗23を介してエ
ミッタフォロワ接続したPNPトランジスタ25のベー
ス端子に印加されており、上記NPNトランジスタ24
に印加された分割電圧が電流増幅されてそのエミッタ端
子で上記バイアス電圧よりも所定の電圧分高い第1の電
位VDDにされ、また、上記PNPトランジスタ25に印
加された分割電圧が電流増幅されてそのエミッタ端子で
上記バイアス電圧よりも所定の電圧分低い第2の電位V
SSにされている。
At this time, in the reference voltage source 7, the resistor 20 connected in series between the power supply terminal 400 and the ground terminal 300,
Of the voltage obtained by dividing the power supply voltage Vcc by 21 and 22, the divided voltage at the connection point between the resistor 20 and the resistor 21 is applied to the base terminal of the NPN transistor 24 connected to the emitter follower via the resistor 26, The division voltage at the connection point between the resistor 21 and the resistor 22 is applied to the base terminal of the PNP transistor 25 connected in the emitter follower via the resistor 23.
The divided voltage applied to the PNP transistor 25 is current-amplified to a first potential VDD higher than the bias voltage by a predetermined voltage at its emitter terminal, and the divided voltage applied to the PNP transistor 25 is current-amplified. A second potential V lower than the bias voltage by a predetermined voltage at the emitter terminal
It is SS.

【0047】そして、上記第1の電位VDDは、インバー
タ3のPチャネルMOSトランジスタ31のドレイン端
子とバックゲート,及びアナログスイッチ1,2のPチ
ャネルMOSトランジスタ14,14’の各バックゲー
トに供給され、かつ上記第2の電位VSSは、上記インバ
ータ3のNチャネルMOSトランジスタ32のソース端
子とバックゲート,及びアナログスイッチ1,2のNチ
ャネルMOSトランジスタ15,15’の各バックゲー
トに供給される。
Then, the first potential VDD is supplied to the drain terminal and the back gate of the P channel MOS transistor 31 of the inverter 3 and the back gates of the P channel MOS transistors 14 and 14 'of the analog switches 1 and 2. The second potential VSS is supplied to the source terminal and the back gate of the N channel MOS transistor 32 of the inverter 3 and the back gates of the N channel MOS transistors 15 and 15 'of the analog switches 1 and 2.

【0048】一方、上記クランプ回路220’におい
て、上記抵抗35と、上記アナログスイッチ2との接続
点をA点とすると、該A点に、上記電源端子400にそ
のコレクタ端子を接続したNPNトランジスタ38のエ
ミッタ端子と、上記接地端子300にそのコレクタ端子
を接続したPNPトランジスタ39のエミッタ端子とを
接続しており、さらに、上記NPNトランジスタ38の
ベース端子には、その一端を上記電源端子400に接続
した抵抗37と、上記第2の電位VSSがそのカソードに
入力されているダイオード33のアノードとを接続し、
上記PNPトランジスタ39のベース端子には、その一
端を上記接地端子300に接続した抵抗36と、上記第
1の電位VDDがそのアノードに入力されているダイオー
ド34のカソードとを接続しているため、上記入力端子
200に入力された入力信号が含むアナログ信号の振幅
電圧が大きく、該アナログ信号の上辺部が上記第1の電
位VDDを超えた場合、上記A点から、上記PNPトラン
ジスタ39及び抵抗36を介して上記接地端子300に
電流が流れ、また、上記アナログ信号の下辺部が上記第
2の電位VSSを下回った場合、上記電源端子400か
ら、上記抵抗37及びNPNトランジスタ38を介して
上記A点に電流が流れることとなり、これにより上記ア
ナログ信号の振幅電圧は、常に、上記第1の電位VDD
と、上記第2の電位VSSとの電位差に保たれて上記アナ
ログスイッチ2に入力されることとなる。
On the other hand, in the clamp circuit 220 ', when the connection point between the resistor 35 and the analog switch 2 is point A, the NPN transistor 38 having the collector terminal connected to the power supply terminal 400 is connected to the point A. Is connected to the emitter terminal of a PNP transistor 39 whose collector terminal is connected to the ground terminal 300, and one end of the base terminal of the NPN transistor 38 is connected to the power supply terminal 400. Connected the resistor 37 and the anode of the diode 33 whose cathode is supplied with the second potential VSS,
Since the base terminal of the PNP transistor 39 is connected to the resistor 36 whose one end is connected to the ground terminal 300 and the cathode of the diode 34 whose first potential VDD is input to its anode, When the amplitude voltage of the analog signal included in the input signal input to the input terminal 200 is large and the upper side of the analog signal exceeds the first potential VDD, from the point A, the PNP transistor 39 and the resistor 36. When a current flows to the ground terminal 300 via the ground terminal 300 and the lower side of the analog signal falls below the second potential VSS, the power supply terminal 400 connects the resistor 37 and the NPN transistor 38 to the A terminal. A current will flow to the point, so that the amplitude voltage of the analog signal is always the first potential VDD.
Then, the voltage is maintained at the potential difference from the second potential VSS and is input to the analog switch 2.

【0049】また、入力端子100から抵抗42を介し
てアナログスイッチ1に入力されるアナログ信号も同様
に、上記抵抗37にそのベース端子を接続したNPNト
ランジスタ40,及び上記抵抗36にそのベース端子を
接続したPNPトランジスタ41の作用により、上記第
1の電位VDDと、上記第2の電位VSSとの電位差に保た
れることとなる。そして、信号処理回路6から、レベル
シフト回路8に上記アナログスイッチ1,2に対する駆
動信号が出力されており、該駆動信号は、上記レベルシ
フト回路8が有するエミッタ接地したNPNトランジス
タ28のベース端子に入力される。
Similarly, an analog signal input from the input terminal 100 to the analog switch 1 via the resistor 42 has its base terminal connected to the resistor 37 and the NPN transistor 40 having its base terminal connected. Due to the action of the connected PNP transistor 41, the potential difference between the first potential VDD and the second potential VSS is maintained. A drive signal for the analog switches 1 and 2 is output from the signal processing circuit 6 to the level shift circuit 8, and the drive signal is applied to the base terminal of the grounded NPN transistor 28 of the level shift circuit 8. Is entered.

【0050】ここで、上記NPNトランジスタ28のコ
レクタ端子には抵抗27及び抵抗29を介して上記第1
の電位VDDが供給されており、上記抵抗27と、抵抗2
9との間に、そのゲート端子に上記第2の電位VSSが、
そしてそのコレクタ端子に上記電源電圧VCCが供給され
ているNPNトランジスタ30のエミッタ端子を接続
し、さらに、上記インバータ3を構成する2つのMOS
トランジスタ31,32の各ゲートと、上記アナログス
イッチ2のNチャネルMOSトランジスタ15及び上記
アナログスイッチ1のPチャネルMOSトランジスタ1
4’の各ゲートとを接続し、上記インバータ3の出力端
に上記アナログスイッチ2のPチャネルMOSトランジ
スタ14及び上記アナログスイッチ1のNチャネルMO
Sトランジスタ15’の各ゲートを接続している。
Here, the collector terminal of the NPN transistor 28 is connected to the first terminal via the resistors 27 and 29.
Potential VDD is supplied to the resistor 27 and the resistor 2
The second potential VSS is applied to the gate terminal between
Then, the collector terminal thereof is connected to the emitter terminal of the NPN transistor 30 to which the power supply voltage Vcc is supplied, and further the two MOSs forming the inverter 3 are connected.
Gates of the transistors 31 and 32, the N-channel MOS transistor 15 of the analog switch 2 and the P-channel MOS transistor 1 of the analog switch 1
4 ′ is connected to each gate, and the P-channel MOS transistor 14 of the analog switch 2 and the N-channel MO of the analog switch 1 are connected to the output terminal of the inverter 3.
Each gate of the S transistor 15 'is connected.

【0051】従って、上記駆動信号がHigh電圧レベ
ルのときには、上記NPNトランジスタ28のコレクタ
−エミッタ間が導通状態になるため、そのコレクタ端子
の電位が接地端子300のレベルになり、上記NPNト
ランジスタ30のエミッタ端子の電圧は、上記第2の電
位VSSから、該NPNトランジスタ30のベース−エミ
ッタ間電圧VBEを引いた電圧となる。そして、このVSS
−VBE電圧が上記アナログスイッチ1のPチャネルMO
Sトランジスタ14’及びアナログスイッチ2のNチャ
ネルMOSトランジスタ15の各ゲートに入力され、同
時に、上記インバータ3で上記VSS−VBE電圧を反転さ
せて出力したVDD電圧が、上記アナログスイッチ1のN
チャネルMOSトランジスタ15’及びアナログスイッ
チ2のPチャネルMOSトランジスタ14の各ゲートに
入力されることにより、上記アナログスイッチ1がオ
ン、上記アナログスイッチ2がオフとなり、上記入力端
子100に入力されたアナログ信号が信号処理回路6に
送られる。
Therefore, when the drive signal is at the high voltage level, the collector-emitter of the NPN transistor 28 becomes conductive, so that the potential of the collector terminal becomes the level of the ground terminal 300 and the NPN transistor 30 has the potential. The voltage at the emitter terminal is the voltage obtained by subtracting the base-emitter voltage VBE of the NPN transistor 30 from the second potential VSS. And this VSS
-VBE voltage is the P channel MO of the analog switch 1
The VDD voltage, which is input to the gates of the S-transistor 14 'and the N-channel MOS transistor 15 of the analog switch 2 and at the same time is inverted by the inverter 3 to output the VSS-VBE voltage, is output as
By inputting to the gates of the channel MOS transistor 15 'and the P-channel MOS transistor 14 of the analog switch 2, the analog switch 1 is turned on, the analog switch 2 is turned off, and the analog signal input to the input terminal 100 is input. Are sent to the signal processing circuit 6.

【0052】また、上記駆動信号がLow電圧レベルの
ときには、上記NPNトランジスタ28のコレクタ−エ
ミッタ間が非導通状態になり、上記第1の電位VDDと、
これを上記インバータ3で反転させて出力したVSS電圧
とが、上述の駆動信号がHigh電圧レベルのときとは
逆の関係で上記アナログスイッチ1,2の各ゲートにそ
れぞれ入力されるため、上記アナログスイッチ1がオ
フ、上記アナログスイッチ2がオンとなり、上記入力端
子200に入力されたアナログ信号が信号処理回路6に
送られる。
When the drive signal is at the Low voltage level, the collector-emitter of the NPN transistor 28 becomes non-conductive, and the first potential VDD is
The VSS voltage that is output by inverting this with the inverter 3 is input to the respective gates of the analog switches 1 and 2 in the relationship opposite to that when the above-mentioned drive signal is at the high voltage level. The switch 1 is turned off, the analog switch 2 is turned on, and the analog signal input to the input terminal 200 is sent to the signal processing circuit 6.

【0053】そして、上記信号処理回路6が出力した駆
動信号に応じて上述の動作が繰り返され、上記入力端子
100及び200に入力されたアナログ信号が、その振
幅電圧を制限され、かつ、上記アナログスイッチ1,2
を通るときにはそのゲート・ソース間に印加される電圧
を抑えて交互に取り出され、上記信号処理回路6に供給
される。
Then, the above-described operation is repeated in accordance with the drive signal output from the signal processing circuit 6, and the analog signal input to the input terminals 100 and 200 has its amplitude voltage restricted and the analog signal is input. Switches 1 and 2
When it passes through, the voltage applied between the gate and the source is suppressed, and the voltage is alternately taken out and supplied to the signal processing circuit 6.

【0054】このように、本実施例4によるアナログ信
号切替え回路においては、入力信号が含むアナログ信号
の振幅電圧を上記第1の電位VDD, 第2の電位VSS間に
制限するクランプ回路220’と、上記アナログスイッ
チ1,2のバックゲートに上記第1及び第2の電位VD
D, VSSを供給する基準電圧源7と、上記アナログスイ
ッチ1,2の各ゲートに入力する駆動信号の電圧を上記
第1の電位VDD,第2の電位VSSからNPNトランジス
タ30のベース・エミッタ間電圧VBEを減じた2つの電
位に変換するレベルシフト回路8とを備えたので、入力
信号の電圧が変動して、その振幅電圧が上記第1及び第
2の電位VDD,VSS間の電圧を超えるアナログ信号が入
力されても、該アナログ信号が上記CMOS構造になる
アナログスイッチ1,2に入力されるときには、上記ク
ランプ回路220’により、上記振幅電圧が制限される
ため、常に、アナログ信号の振幅電圧が上記第1の電位
VDDと、上記第2の電位VSSとの電位差以内の電圧に保
たれることとなり、該アナログスイッチ1,2に過電圧
がかかることを防止して、その構成素子であるMOSト
ランジスタの破壊、あるいは誤動作を防ぐことができ、
さらに、上記基準電圧源7と、上記レベルシフト回路8
とにより、入力信号に含まれるバイアス電圧を上記第2
の電位VSS分低下させることとなり、上記アナログスイ
ッチ1,2のゲート・ソース間に印加される電圧を低く
抑えることができ、これにより、低い耐圧のCMOS構
造になるアナログスイッチを用いることができる。
As described above, in the analog signal switching circuit according to the fourth embodiment, the clamp circuit 220 'for limiting the amplitude voltage of the analog signal included in the input signal between the first potential VDD and the second potential VSS is used. , The first and second potentials VD on the back gates of the analog switches 1 and 2.
The reference voltage source 7 for supplying D and VSS, and the voltage of the drive signal input to the gates of the analog switches 1 and 2 from the first potential VDD and the second potential VSS between the base and emitter of the NPN transistor 30. Since the level shift circuit 8 for converting the voltage VBE into two potentials is provided, the voltage of the input signal fluctuates and its amplitude voltage exceeds the voltage between the first and second potentials VDD and VSS. Even if an analog signal is input, when the analog signal is input to the analog switches 1 and 2 having the CMOS structure, the clamp circuit 220 ′ limits the amplitude voltage. The voltage is kept at a voltage within the potential difference between the first potential VDD and the second potential VSS, preventing overvoltage from being applied to the analog switches 1 and 2. It is a component of a breakdown of the MOS transistor, or can prevent a malfunction,
Further, the reference voltage source 7 and the level shift circuit 8
And the bias voltage included in the input signal is
Therefore, the voltage applied between the gate and the source of the analog switches 1 and 2 can be suppressed to a low level, whereby an analog switch having a low withstand voltage CMOS structure can be used.

【0055】実施例5.この発明の第5の実施例による
アナログ信号切替え回路は、上記実施例1〜4における
PチャネルMOSトランジスタ14及びNチャネルMO
Sトランジスタ15からなるアナログスイッチ1,2の
構造を、図8に示したように、PチャネルMOSトラン
ジスタ14のみを用いた構造とし、該アナログスイッチ
1’,2’に供給する電源電圧を第1の電位VDDのみに
したものである。
Example 5. An analog signal switching circuit according to the fifth embodiment of the present invention is a P-channel MOS transistor 14 and an N-channel MO transistor according to the first to fourth embodiments.
As shown in FIG. 8, the structure of the analog switches 1 and 2 including the S transistor 15 is a structure using only the P-channel MOS transistor 14, and the power supply voltage supplied to the analog switches 1 ′ and 2 ′ is the first. Of the potential VDD.

【0056】本実施例5においても、上記実施例1〜4
と同様に上記アナログスイッチ1’,2’のゲート・ソ
ース間に印加される電圧を低く抑え、入力端子100及
び200に入力されたアナログ信号を交互に取り出して
信号処理回路6に送ることができ、低い耐圧のMOS構
造になるアナログスイッチ1’,2’を用いたアナログ
信号切替え回路とすることができる。
Also in the fifth embodiment, the above first to fourth embodiments are performed.
Similarly, the voltage applied between the gate and the source of the analog switches 1'and 2'can be kept low, and the analog signals input to the input terminals 100 and 200 can be alternately taken out and sent to the signal processing circuit 6. An analog signal switching circuit using the analog switches 1'and 2'having a low breakdown voltage MOS structure can be provided.

【0057】実施例6.また、この発明の第6の実施例
によるアナログ信号切替え回路は、上記アナログスイッ
チ1,2の構造を、図9に示したように、PチャネルM
OSトランジスタ15のみを用いた構造とし、該アナロ
グスイッチ1″,2″に供給する電源電圧を第2の電位
VSSのみにしたものであり、これによっても、上記アナ
ログスイッチ1″,2″のゲート・ソース間に印加され
る電圧を低く抑えることができ、低い耐圧のMOS構造
になるアナログスイッチ1″,2″を用いたアナログ信
号切替え回路を実現することができる。
Example 6. In the analog signal switching circuit according to the sixth embodiment of the present invention, the structure of the analog switches 1 and 2 is a P channel M as shown in FIG.
This is a structure in which only the OS transistor 15 is used, and the power supply voltage supplied to the analog switches 1 ″ and 2 ″ is only the second potential VSS. This also enables the gates of the analog switches 1 ″ and 2 ″. The voltage applied between the sources can be suppressed low, and an analog signal switching circuit using analog switches 1 ″ and 2 ″ having a low breakdown voltage MOS structure can be realized.

【0058】なお、上記実施例5,及び本実施例6にお
いて、図8及び図9に示したインバータ3は上記実施例
1〜4と同じCMOS素子であり、該インバータ3に
は、上記第1の電位VDD及び上記第2の電位VSSの両電
位がその電源電圧として供給されているものである。
In the fifth embodiment and the sixth embodiment, the inverter 3 shown in FIGS. 8 and 9 is the same CMOS device as the first to fourth embodiments, and the inverter 3 has the first Both the potential VDD and the second potential VSS are supplied as the power supply voltage.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、バイ
ポーラ素子と、CMOS素子とを1つの集積回路内に混
在させて形成した混載型の半導体集積回路における,複
数の入力端子に個々に入力されたバイアス電圧が印加さ
れたアナログ信号から所定のアナログ信号を選択し、そ
れをインピーダンス変換してその有する信号処理手段に
入力するアナログ信号切替え回路を、上記バイアス電圧
より高い第1の所定電位,及び上記バイアス電圧より低
い第2の所定電位の2つの電圧信号を供給する電圧供給
手段と、上記第1の所定電位及び上記第2の所定電位の
2つの電圧信号が供給され、上記信号処理手段が出力し
た駆動信号の入力電圧を2値の出力駆動電圧に変換して
出力する電圧変換手段と、上記第1の所定電位及び上記
第2の所定電位の2つの電圧をその電源電圧とし、上記
電圧変換手段が出力した出力駆動電圧により駆動され、
上記複数のアナログ信号から所定のアナログ信号を選択
し、この選択したアナログ信号を上記信号処理手段に向
けて出力するMOS構造になるアナログ信号切替え手段
とを備え、上記第1の所定電位及び第2の所定電位は、
互いの電位差が上記アナログ信号の振幅電圧より大き
く、かつ上記MOS構造になるアナログ信号切替え手段
の耐圧を超えないものとしたので、上記信号処理回路が
出力した駆動信号をその電圧レベルに応じて、上記電圧
変換手段で上記第1あるいは第2の所定電位レベルに変
換し、この変換した2値の出力駆動電圧で上記2つの電
圧をその電源電圧とされた上記アナログ信号切替え手段
を駆動することにより、該アナログ信号切替え手段に入
力されたバイアス電圧を含むアナログ信号の実効電圧の
範囲を、上記第2の所定電位から上記第1の所定電位ま
でに狭めることとなり、該アナログ信号切替え手段の耐
圧を超える電圧領域の入力信号が入力されても、その実
質上の電圧を下げてそれを選択的に取り出して処理する
ことができるため、MOS構造になる上記アナログ信号
切替え手段の耐圧を低くすることができ、汎用性が高
く、簡易で一般的な形成プロセスにより製造したアナロ
グ信号切替え手段を用いることにより製造コストを抑え
たアナログ信号切替え回路を得ることができる効果があ
る。
As described above, according to the present invention, a plurality of input terminals are individually provided to a plurality of input terminals in an embedded semiconductor integrated circuit in which a bipolar element and a CMOS element are formed in a mixed manner in one integrated circuit. An analog signal switching circuit that selects a predetermined analog signal from the input analog signal to which the bias voltage is applied, converts the impedance of the analog signal, and inputs the analog signal to the signal processing means included in the analog signal switching circuit is provided at a first predetermined potential higher than the bias voltage. , And a voltage supply means for supplying two voltage signals of a second predetermined potential lower than the bias voltage, and two voltage signals of the first predetermined potential and the second predetermined potential, and the signal processing Voltage conversion means for converting the input voltage of the drive signal output by the means into a binary output drive voltage and outputting the binary output drive voltage, and the first predetermined potential and the second predetermined potential. One of a voltage as its power supply voltage, is driven by the output drive voltage in which the voltage converting means is output,
Analog signal switching means having a MOS structure for selecting a predetermined analog signal from the plurality of analog signals and outputting the selected analog signal toward the signal processing means, the first predetermined potential and the second The predetermined potential of
Since the potential difference between them is larger than the amplitude voltage of the analog signal and does not exceed the withstand voltage of the analog signal switching means having the MOS structure, the drive signal output from the signal processing circuit is changed according to the voltage level thereof. By converting the voltage into the first or second predetermined potential level by the voltage converting means, and driving the analog signal switching means whose power supply voltage is the two voltages by the converted binary output drive voltage. The range of the effective voltage of the analog signal including the bias voltage input to the analog signal switching means is narrowed from the second predetermined potential to the first predetermined potential, and the withstand voltage of the analog signal switching means is increased. Even if an input signal in a voltage range exceeding it is input, it is possible to lower the effective voltage and selectively extract it for processing. An analog signal switching circuit having an OS structure, which can reduce the withstand voltage of the analog signal switching means, has high versatility, and uses an analog signal switching means manufactured by a simple and general forming process to reduce the manufacturing cost. There is an effect that can be obtained.

【0060】また、この発明によれば、上記電圧供給手
段を、上記アナログ信号に印加されているバイアス電圧
を検出する電圧検出手段と、この検出した電圧のレベル
を所定の値だけ,上方あるいは下方にシフトして上記第
1の所定電位及び第2の所定電位を発生するレベルシフ
ト手段とからなるものとしたので、上記バイアス電圧の
変化に応じて上記第1及び第2の所定電位を発生するこ
とができ、該アナログ信号切替え回路の製造時に、これ
が用いられる装置における入力されるアナログ信号に含
まれるバイアス電圧を予め調べて回路構成を決める必要
がないため、汎用性が高いアナログ信号切替え回路を得
ることができる効果がある。
Further, according to the present invention, the voltage supply means is a voltage detection means for detecting the bias voltage applied to the analog signal, and the level of the detected voltage is increased or decreased by a predetermined value. Since it comprises the level shift means for shifting to the first predetermined potential and the second predetermined potential, the first and second predetermined potentials are generated in accordance with the change of the bias voltage. Since it is not necessary to preliminarily check the bias voltage included in the input analog signal in the device in which the analog signal switching circuit is manufactured to determine the circuit configuration at the time of manufacturing the analog signal switching circuit, a highly versatile analog signal switching circuit can be provided. There is an effect that can be obtained.

【0061】さらに、この発明によれば、上記バイアス
電圧を含むアナログ信号が各々入力される各入力端子の
次段に、上記アナログ信号の振幅電圧を上記第1の所定
電位と、上記第2の所定電位との間の電圧に制限する入
力電圧制限手段を備えたので、上記入力端子におけるア
ナログ信号の振幅電圧が変動しても、常に、それが上記
アナログ信号切替え手段に入力されるときにはその振幅
電圧を上記第1の所定電位と、上記第2の所定電位との
電位差の範囲内に保つことができ、上記アナログ信号切
替え手段の素子の破壊,あるいは誤動作を防ぐことがで
きる効果がある。
Further, according to the present invention, the amplitude voltage of the analog signal is applied to the first predetermined potential and the second predetermined voltage to the next stage of each input terminal to which the analog signal including the bias voltage is input. Since the input voltage limiting means for limiting the voltage to the predetermined potential is provided, even if the amplitude voltage of the analog signal at the input terminal fluctuates, its amplitude is always input to the analog signal switching means. The voltage can be kept within the range of the potential difference between the first predetermined potential and the second predetermined potential, and there is an effect that destruction of the element of the analog signal switching means or malfunction can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の第1の実施例によるアナログ信号切
替え回路を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing an analog signal switching circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】この発明の第1の実施例によるアナログ信号切
替え回路における各電圧レベルの説明図。
FIG. 2 is an explanatory diagram of each voltage level in the analog signal switching circuit according to the first embodiment of the present invention.

【図3】この発明の第1の実施例によるアナログ信号切
替え回路におけるアナログスイッチの回路図。
FIG. 3 is a circuit diagram of an analog switch in the analog signal switching circuit according to the first embodiment of the present invention.

【図4】この発明の第2の実施例によるアナログ信号切
替え回路の一部を示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing a part of an analog signal switching circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図5】この発明の第2の実施例によるアナログ信号切
替え回路における電源検出回路及び上下レベルシフト回
路の一例を示す回路図。
FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a power supply detection circuit and an upper / lower level shift circuit in an analog signal switching circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図6】この発明の第3の実施例によるアナログ信号切
替え回路を示すブロック図。
FIG. 6 is a block diagram showing an analog signal switching circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図7】この発明の第4の実施例によるアナログ信号切
替え回路を示す回路図。
FIG. 7 is a circuit diagram showing an analog signal switching circuit according to a fourth embodiment of the present invention.

【図8】この発明の第5の実施例によるアナログ信号切
替え回路におけるアナログスイッチを示す図。
FIG. 8 is a diagram showing analog switches in an analog signal switching circuit according to a fifth embodiment of the present invention.

【図9】この発明の第6の実施例によるアナログ信号切
替え回路におけるアナログスイッチを示す図。
FIG. 9 is a diagram showing analog switches in an analog signal switching circuit according to a sixth embodiment of the present invention.

【図10】従来のアナログ信号切替え回路を示すブロッ
ク図。
FIG. 10 is a block diagram showing a conventional analog signal switching circuit.

【図11】従来のアナログ信号切替え回路をセンサー・
インターフェースとして用いた場合を示すブロック図。
FIG. 11 shows a conventional analog signal switching circuit for a sensor
The block diagram which shows the case where it is used as an interface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2 アナログスイッチ 3 インバータ 5 オペアンプ 6 信号処理回路 7 基準電圧源 8 レベルシフト回路 9 電圧検出回路 10 上下レベルシフト回路 11,11’ 抵抗 12,12’,13,13’ ダイオード 14,14’,31 PchCMOSトラン
ジスタ 15,15’,32 NchCMOSトラン
ジスタ 33,34 ダイオード 20〜23,26,27,29 抵抗 35〜37,42 抵抗 24,28,30,38,40 NPNトランジスタ 25,39,41 PNPトランジスタ 65〜68 抵抗 69〜71 オペアンプ 72,73 センサ 80,81 オペアンプ 82,83,86 抵抗 84,85 定電流源 87 コンデンサ 88 NPNトランジスタ 89 PNPトランジスタ 91〜94 ダイオード 100,200 入力端子 120 アナログスイッチ機能
ブロック 220,220’ クランプ回路 300 接地端子 400 電源端子 500 信号出力端子 600 VDD端子 700 VSS端子 1000 アナログ信号切替え回
1, 2 Analog switch 3 Inverter 5 Operational amplifier 6 Signal processing circuit 7 Reference voltage source 8 Level shift circuit 9 Voltage detection circuit 10 Upper and lower level shift circuit 11, 11 'Resistor 12, 12', 13, 13 'Diode 14, 14', 31 Pch CMOS transistor 15, 15 ', 32 Nch CMOS transistor 33, 34 Diode 20-23, 26, 27, 29 Resistor 35-37, 42 Resistor 24, 28, 30, 38, 40 NPN transistor 25, 39, 41 PNP transistor 65 -68 resistance 69-71 operational amplifier 72,73 sensor 80,81 operational amplifier 82,83,86 resistance 84,85 constant current source 87 capacitor 88 NPN transistor 89 PNP transistor 91-94 diode 100,200 input terminal 120 Na logging switch function block 220, 220 'clamp circuit 300 ground terminal 400 power terminal 500 signal output terminal 600 VDD terminal 700 VSS terminal 1000 an analog signal switching circuit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バイポーラ素子と、CMOS素子とを1
つの集積回路内に混在させて形成した混載型の半導体集
積回路における,複数の入力端子に個々に入力されたバ
イアス電圧が印加されたアナログ信号から所定のアナロ
グ信号を選択し、それをインピーダンス変換して信号処
理手段に入力するアナログ信号切替え回路において、 上記バイアス電圧より高い第1の所定電位,及び上記バ
イアス電圧より低い第2の所定電位の2つの電圧信号を
供給する電圧供給手段と、 上記第1の所定電位及び上記第2の所定電位の2つの電
圧信号が供給され、上記信号処理手段が出力した駆動信
号の入力電圧を2値の出力駆動電圧に変換して出力する
電圧変換手段と、 上記第1の所定電位及び上記第2の所定電位の2つの電
圧をその電源電圧とし、上記電圧変換手段が出力した出
力駆動電圧により駆動され、上記複数のアナログ信号か
ら所定のアナログ信号を選択し、この選択したアナログ
信号を上記信号処理手段に向けて出力するMOS構造に
なるアナログ信号切替え手段とを備え、 上記第1の所定電位及び第2の所定電位は、互いの電位
差が上記アナログ信号の振幅電圧より大きく、かつ上記
MOS構造になるアナログ信号切替え手段の耐圧を超え
ないものであることを特徴とするアナログ信号切替え回
路。
1. A bipolar device and a CMOS device
In a mixed-type semiconductor integrated circuit formed in a mixed manner in one integrated circuit, a predetermined analog signal is selected from the analog signals to which the bias voltages individually input to a plurality of input terminals are applied, and impedance conversion is performed on the selected analog signal. An analog signal switching circuit for inputting to the signal processing means by means of a voltage supply means for supplying two voltage signals of a first predetermined potential higher than the bias voltage and a second predetermined potential lower than the bias voltage; Two voltage signals of a predetermined potential of 1 and the second predetermined potential are supplied, and voltage conversion means for converting the input voltage of the drive signal output by the signal processing means into a binary output drive voltage and outputting the binary output drive voltage, Driven by the output drive voltage output from the voltage conversion means, with the two voltages of the first predetermined potential and the second predetermined potential as its power supply voltages, An analog signal switching unit having a MOS structure for selecting a predetermined analog signal from a plurality of analog signals and outputting the selected analog signal to the signal processing unit, the first predetermined potential and the second 2. The analog signal switching circuit according to claim 1, wherein the predetermined potential is greater than the amplitude voltage of the analog signal and does not exceed the withstand voltage of the analog signal switching means having the MOS structure.
【請求項2】 請求項1記載のアナログ信号切替え回路
において、 上記電圧供給手段は、該アナログ信号切替え回路の電源
電圧を変換して上記第1の所定電位及び第2の所定電位
を発生する基準電圧源であることを特徴とするアナログ
信号切替え回路。
2. The analog signal switching circuit according to claim 1, wherein the voltage supply means converts a power supply voltage of the analog signal switching circuit to generate the first predetermined potential and the second predetermined potential. An analog signal switching circuit characterized by being a voltage source.
【請求項3】 請求項1記載のアナログ信号切替え回路
において、 上記電圧供給手段は、上記アナログ信号に印加されてい
るバイアス電圧を検出する電圧検出手段と、この検出し
た電圧のレベルを所定の値だけ,上方あるいは下方にシ
フトして上記第1の所定電位及び第2の所定電位を発生
するレベルシフト手段とからなることを特徴とするアナ
ログ信号切替え回路。
3. The analog signal switching circuit according to claim 1, wherein the voltage supply means detects a bias voltage applied to the analog signal, and a level of the detected voltage is a predetermined value. The analog signal switching circuit is characterized by comprising level shift means for shifting the signal upward or downward to generate the first predetermined potential and the second predetermined potential.
【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載のア
ナログ信号切替え回路において、 上記バイアス電圧を含むアナログ信号が各々入力される
各入力端子の次段に、上記アナログ信号の振幅電圧を上
記第1の所定電位と、上記第2の所定電位との間の電圧
に制限する入力電圧制限手段を備えたことを特徴とする
アナログ信号切替え回路。
4. The analog signal switching circuit according to claim 1, wherein the amplitude voltage of the analog signal is added to the next stage of each input terminal to which the analog signal including the bias voltage is input. An analog signal switching circuit comprising input voltage limiting means for limiting a voltage between a first predetermined potential and the second predetermined potential.
【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載のア
ナログ信号切替え回路において、 上記アナログ信号切替え手段は、PチャネルMOSトラ
ンジスタと、NチャネルMOSトランジスタとからなる
CMOS構造になる2つのアナログスイッチ及びインバ
ータを含み、該2つのアナログスイッチは、互いに異な
るチャネルのゲート同士を接続し、その一方の相互接続
されたゲートを上記インバータの出力端に接続し、かつ
もう一方の相互接続されたゲート及び上記インバータの
入力端を上記電圧変換手段の出力端に共通に接続してな
るものであり、 上記2つのアナログスイッチ及びインバータの各Pチャ
ネルMOSトランジスタのバックゲートには上記第1の
所定電位が、各NチャネルMOSトランジスタのバック
ゲートには上記第2の所定電位が印加され、 かつ上記アナログ信号切替え手段の上記2つのアナログ
スイッチは、上記電圧変換手段がその入力駆動電圧に対
し上記第1の所定電位,上記第2の所定電位に等しい2
値の出力駆動電圧に変換して出力した駆動信号により、
それぞれのソースあるいはドレインに入力されたアナロ
グ信号を択一的にそのドレインあるいはソースから出力
するものであることを特徴とするアナログ信号切替え回
路。
5. The analog signal switching circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein the analog signal switching means has two analog switches having a CMOS structure composed of a P channel MOS transistor and an N channel MOS transistor. And an inverter, wherein the two analog switches connect the gates of different channels to each other, connect one of the interconnected gates to the output of the inverter, and connect the other interconnected gate of The input terminal of the inverter is commonly connected to the output terminal of the voltage converting means, and the first predetermined potential is applied to the back gates of the P channel MOS transistors of the two analog switches and the inverter. The back gate of each N-channel MOS transistor has the above-mentioned second position. Potential is applied, and the two analog switches of the analog signal switching means, said voltage converting means to the input drive voltage equal to the first predetermined potential, said second predetermined potential 2
By the drive signal output by converting to the output drive voltage of the value,
An analog signal switching circuit, wherein an analog signal input to each source or drain is selectively output from the drain or source.
【請求項6】 請求項1ないし4のいずれかに記載のア
ナログ信号切替え回路において、 上記アナログ信号切替え手段は、Pチャネル,あるいは
Nチャネルのいずれか1種類のMOSトランジスタを用
いた2つのアナログスイッチと、Pチャネル及びNチャ
ネルの2種類のMOSトランジスタを用い、上記2つの
アナログスイッチのいずれか1つのゲートにその出力端
を接続したインバータとからなり、該インバータの入力
端と、上記インバータの出力端を接続していないもう1
つのアナログスイッチのゲートとを上記電圧変換手段の
出力端に共通に接続したものであり、 上記PチャネルMOSトランジスタのバックゲートには
上記第1の所定電位が、かつ上記NチャネルMOSトラ
ンジスタのバックゲートには上記第2の所定電位が印加
され、 かつ上記アナログ信号切替え手段の上記2つのアナログ
スイッチは、上記電圧変換手段がその入力駆動電圧に対
し上記第1の所定電位,上記第2の所定電位に等しい2
値の出力駆動電圧に変換して出力した駆動信号により、
それぞれのソースあるいはドレインに入力された2つの
アナログ信号を択一的にそのドレインあるいはソースか
ら出力するものであることを特徴とするアナログ信号切
替え回路。
6. The analog signal switching circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein the analog signal switching means is two analog switches using a P-channel or N-channel MOS transistor. And an inverter having an output terminal connected to the gate of any one of the two analog switches using two types of P-channel and N-channel MOS transistors, and the input terminal of the inverter and the output of the inverter. Another one that does not connect the ends
The gates of two analog switches are commonly connected to the output terminal of the voltage conversion means, and the back gate of the P-channel MOS transistor has the first predetermined potential and the back gate of the N-channel MOS transistor. Is applied with the second predetermined potential, and in the two analog switches of the analog signal switching means, the voltage conversion means has the first predetermined potential and the second predetermined potential with respect to the input drive voltage thereof. Equal to 2
By the drive signal output by converting to the output drive voltage of the value,
An analog signal switching circuit characterized in that it selectively outputs two analog signals input to respective sources or drains from the drains or sources.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09293832A (en) * 1996-04-25 1997-11-11 Nec Corp Semicoductor device
US6911849B2 (en) 2002-05-31 2005-06-28 Oki Electric Industry Co., Ltd. Chopper type comparator having input voltage conversion circuit outputting converted input voltage lower than withstand voltage of inverter
WO2007138710A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-06 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
JP2014041344A (en) * 2012-07-27 2014-03-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method for driving liquid crystal display device
CN112394209A (en) * 2020-11-13 2021-02-23 四川泛华航空仪表电器有限公司 Analog signal redundancy switching system with self-locking protection

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