JPH07147310A - Method and apparatus for transportation - Google Patents

Method and apparatus for transportation

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Publication number
JPH07147310A
JPH07147310A JP31604693A JP31604693A JPH07147310A JP H07147310 A JPH07147310 A JP H07147310A JP 31604693 A JP31604693 A JP 31604693A JP 31604693 A JP31604693 A JP 31604693A JP H07147310 A JPH07147310 A JP H07147310A
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JP
Japan
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transfer
tunnel
transfer device
transferred
chamber
Prior art date
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Pending
Application number
JP31604693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fumio Kondo
文雄 近藤
Masaaki Kajiyama
雅章 梶山
Masao Matsumura
正夫 松村
Takeshi Yoshioka
毅 吉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
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Publication of JPH07147310A publication Critical patent/JPH07147310A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To eliminate the need for a transfer robot between process devices and a tunnel device as a transfer channel by using a system in which a lift and a carriage cooperate to function as a robot to transfer a wafer from the former to the latter. CONSTITUTION:A buffer chamber 8 is provided between process devices 3 and a tunnel 11 isolated from the outdoor air for passing a carriage 1 that carries wafers 2. The buffer chamber comprises means for allowing the carriage to enter, stop and go back; a shaft 12 that is rotatable and vertically movable; and a plate 9 that protrudes from the shaft to support wafers.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体の製造等に好適な
ウエハ等の移載に係り、特にトンネル内部に被搬送物
(ウエハ等)を搭載し走行する搬送台車を備え、トンネ
ル隔壁により外気を遮断した真空状態等で被搬送物を搬
送するトンネル搬送装置から、半導体処理装置等に被搬
送物を受け渡す移載装置及び方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to transfer of wafers and the like suitable for manufacturing semiconductors and the like, and in particular, it is equipped with a carrier truck for carrying an object (wafer or the like) to be transferred inside a tunnel, and using a tunnel partition wall to open the outside air. The present invention relates to a transfer device and method for transferring an object to be transferred to a semiconductor processing apparatus or the like from a tunnel transfer device that transfers the object to be transferred in a vacuum state or the like in which the above is blocked.

【従来の技術】図7は、半導体製造装置の配置された処
理室の配置構成の一例である。この処理室では、真空下
でのプロセス加工、即ちスパッタリング、イオン注入、
或いはドライエッチング等の加工が行われる。この処理
室には、真空下で半導体基板を保管する真空保管庫10
を備え、更に真空保管庫10とプロセス装置3とを接続
する真空状態に保たれるトンネル内をウエハを搬送する
トンネル搬送装置11とを備える。又、湿式洗浄装置5
とウエハの移送装置6とを備え、洗浄終了後のウエハが
真空保管され、更に真空トンネル内を磁気浮上された状
態で各プロセス装置3に搬送されるようになっている。
2. Description of the Related Art FIG. 7 shows an example of the arrangement of a processing chamber in which a semiconductor manufacturing apparatus is arranged. In this processing chamber, process processing under vacuum, namely sputtering, ion implantation,
Alternatively, processing such as dry etching is performed. In this processing chamber, a vacuum storage 10 for storing semiconductor substrates under vacuum is provided.
And a tunnel transfer device 11 for transferring a wafer in a tunnel maintained in a vacuum state that connects the vacuum storage 10 and the process device 3. Also, the wet cleaning device 5
The wafer transfer device 6 and the wafer transfer device 6 are provided so that the wafer after cleaning is vacuum-stored and further transferred to each process device 3 while being magnetically levitated in the vacuum tunnel.

【0002】図8は、真空トンネル内をウェハを搬送す
る搬送装置(ここでは磁気浮上搬送装置が用いられてい
る)11の断面図である。係る構造の磁気浮上搬送装置
については、本出願人により国際特許出願PCT/JP
93/00930等によりその詳細が開示される。トン
ネル隔壁30の上部には浮上用電磁石31がトンネルに
沿って列設されている。同様に、トンネル隔壁30の下
部には、走行用リニアモータ32がトンネルに沿って列
設されている。半導体基板33を搭載する搬送台1は、
その上面に磁性材34を備え、浮上用電磁石31の磁気
吸引力により搬送台1は浮上懸架される。搬送台1は浮
上懸架された状態でリニアモータ32により水平方向に
駆動される。このような搬送装置11の構成により、ウ
エハ2は搬送台1に搭載され、真空トンネルの隔壁30
から非接触浮上した状態で真空保管庫10と処理装置3
間を搬送される。
FIG. 8 is a sectional view of a transfer device (here, a magnetic levitation transfer device is used) 11 for transferring a wafer in a vacuum tunnel. Regarding the magnetic levitation transport device having such a structure, the applicant of the present invention has applied for an international patent application PCT / JP.
The details are disclosed in 93/09930 and the like. Above the tunnel partition 30, levitation electromagnets 31 are lined up along the tunnel. Similarly, linear motors 32 for traveling are arranged in a row along the tunnel below the tunnel partition 30. The carrier 1 on which the semiconductor substrate 33 is mounted is
A magnetic material 34 is provided on the upper surface, and the carrier 1 is suspended by the magnetic attraction force of the levitation electromagnet 31. The carrier table 1 is horizontally driven by a linear motor 32 in a suspended state. With such a configuration of the transfer device 11, the wafer 2 is mounted on the transfer table 1, and the partition 30 of the vacuum tunnel is installed.
The vacuum storage 10 and the processing device 3 in a non-contact floating state from the
Transported between.

【0003】図9は、真空保管庫10の構造の詳細を示
す。図9(A)は、真空保管庫10の平面図であり、図
9(B)はその断面構造を示す。真空保管室25は、磁
気浮上搬送装置と同様なトンネル形状をしており、内部
には、ウエハ2を載置する保管棚(保管台車)24が浮
上用電磁石31によって、非接触で真空保管室内に浮上
保持され、またリニアモータによって非接触で移動/停
止をすることができる。即ち、保管棚24は、トンネル
状の真空保管室25内を直線的に移動可能である。ま
た、真空保管室25の保管棚24には、ウエハ2は、ロ
ードロック室6からロボット室23のロボット26によ
り移載される。このように保管庫10においては、保管
棚(台車)24の移動によりウエハ2を3列の多数段に
収納できる。又、保管棚24の移動は真空中で磁気浮上
により非接触で行われるためウエハ2の分子汚染、粒子
汚染が防止される。
FIG. 9 shows details of the structure of the vacuum storage 10. FIG. 9 (A) is a plan view of the vacuum storage 10, and FIG. 9 (B) shows its sectional structure. The vacuum storage chamber 25 has a tunnel shape similar to that of the magnetic levitation transfer device. Inside the vacuum storage chamber, a storage shelf (storage cart) 24 on which the wafer 2 is placed is contactless by a levitation electromagnet 31. It can be floated and held at the same time, and can be moved / stopped without contact by a linear motor. That is, the storage rack 24 is linearly movable in the tunnel-shaped vacuum storage chamber 25. The wafer 2 is transferred from the load lock chamber 6 to the storage shelf 24 of the vacuum storage chamber 25 by the robot 26 of the robot chamber 23. As described above, in the storage case 10, the wafers 2 can be stored in a large number of stages in three rows by moving the storage shelves (carts) 24. Further, since the storage rack 24 is moved in vacuum in a non-contact manner by magnetic levitation, the wafer 2 is prevented from being contaminated with molecules and particles.

【0004】真空トンネル搬送装置においては、接続さ
れた真空処理装置のタクトタイムとのマッチングの為、
複数枚のウエハを一度に運ぶ必要がある。一方真空処理
自体は枚葉で処理される為に、処理装置内部に搭載され
たウエハ移載装置(ロボット)も一般には、枚葉すなわ
ちウエハを1枚づつ運ぶタイプとなっている。又このロ
ボットの上下動できる範囲は一般にはウエハを取り上げ
る為の必要な高さ、及びコストの関係から10〜200
mm程度であり、もしくは全然上下動しないものもある。
In the vacuum tunnel transfer device, in order to match the takt time of the connected vacuum processing device,
It is necessary to carry multiple wafers at once. On the other hand, since the vacuum processing itself is processed by a single wafer, the wafer transfer device (robot) mounted inside the processing apparatus is also generally of a type that carries single wafers, that is, wafers one by one. In addition, the range of vertical movement of this robot is generally 10 to 200 because of the height required for picking up a wafer and the cost.
Some are about mm, or some do not move up and down at all.

【0005】従って、枚葉でウエハを移載する真空処理
装置と複数枚のウエハを一度に搬送する真空トンネル搬
送装置とを接続する為には、両者の間に、ウエハ受渡し
の為の移載装置が必要となる。従来の移載装置を含んだ
半導体製造装置の例を図10に、装置要部断面を図11
に示す。図10に示すように、真空トンネル搬送装置1
1は、接続室28でロボット室23と接続されている。
ウエハ2を搭載した搬送台車1は、ゲートバルブ18を
開き接続室28に進入し停止する。
Therefore, in order to connect the vacuum processing apparatus for transferring wafers in a single wafer and the vacuum tunnel transfer apparatus for transferring a plurality of wafers at a time, transfer between the two is performed for wafer transfer. Equipment is required. FIG. 10 shows an example of a semiconductor manufacturing apparatus including a conventional transfer apparatus, and FIG.
Shown in. As shown in FIG. 10, the vacuum tunnel transfer device 1
1 is connected to the robot chamber 23 by a connection chamber 28.
The carrier 1 carrying the wafer 2 opens the gate valve 18, enters the connection chamber 28, and stops.

【0006】図11において搬送台車1は接続室28の
所定の位置に停止している。ウエハ2は搬送台車1の内
部に設置された棚に水平の状態で上下方向に複数枚置か
れている。移載装置は真空ロボット27と、真空エレベ
ータ28よりなる。真空ロボット27はウエハを一枚づ
つ移載する枚葉型でもよいし、複数枚を同時に移載する
タイプでもよい。後者では、移載時間が短くなり、上下
動の範囲が短くなる等の利点があるが、一方アーム先端
の重量の増加により、アームを伸ばした時のアーム先端
のたわみ量が大きくなる欠点がある。どちらのロボット
にしろ、このロボットは搬送台の上下に並んだウエハ2
を移載する為に、上下動しなくてはいけない範囲が通常
のロボットと比べてかなり大きくなる。一方エレベータ
28の方は搬送台車1と同じ様に棚板があり、搬送台車
1から移載されたウエハ2を一時的に保管する働きがあ
る。全てのウエハ2がエレベータ28に移載された後
に、今度はプロセス装置3側の移載ロボット26がウエ
ハ2を一枚づつエレベータ28の棚板から抜き取って、
プロセス処理装置3に移載する。この時エレベータ28
は、プロセス装置側の移載ロボット26の上下動できる
範囲に合わせて、上下してウエハの高さ方向の位置を調
整する。
In FIG. 11, the carriage 1 is stopped at a predetermined position in the connection chamber 28. A plurality of wafers 2 are vertically placed on a shelf installed inside the carrier 1 in a horizontal state. The transfer device includes a vacuum robot 27 and a vacuum elevator 28. The vacuum robot 27 may be a single-wafer type in which wafers are transferred one by one, or may be a type in which a plurality of wafers are transferred simultaneously. The latter has the advantage that the transfer time is shortened and the range of vertical movement is shortened, but on the other hand, the increase in the weight of the arm tip causes a large amount of deflection of the arm tip when the arm is extended. . Whichever robot is used, this robot is equipped with wafers 2 lined up and down on the carrier.
The area that must be moved up and down in order to transfer is much larger than a normal robot. On the other hand, the elevator 28 has a shelf plate like the carrier 1 and has a function of temporarily storing the wafer 2 transferred from the carrier 1. After all the wafers 2 have been transferred to the elevator 28, the transfer robot 26 on the side of the process device 3 extracts the wafers 2 one by one from the shelf plate of the elevator 28,
Transfer to the process processor 3. Elevator 28 at this time
Is moved up and down to adjust the position of the wafer in the height direction according to the range in which the transfer robot 26 on the process apparatus side can move up and down.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来のウエハの移載装置には以下の様な問題点がある。 プロセス装置3毎に上記のロボット27及びエレベ
ータ28を設置しなければならない為にコストがかか
る。特にここで使用されるロボットは上下動の範囲が広
い為に、大口径でかつ伸縮範囲が大きいベローズを使う
必要がある為、通常のロボットの2倍近いコストがかか
る。 本来は、真空トンネル搬送装置11から直接ウエハ
を真空処理装置3に移載すべき所、上記の移載工程が付
け加えられるために、移載の時間が余計にかかる。これ
は半導体プロセスのタクトタイムに関係してくる。 クリーンルームは単位面積当たりの建設費用が高い
ため、その中に入れる装置の専有床面積はなるべく小さ
なものが要求される。しかしこの装置では、上記のロボ
ットチャンバをプロセス装置とトンネル搬送装置との間
に設置する必要がある為、床面積を余計に必要とする。
However, this conventional wafer transfer device has the following problems. Since the robot 27 and the elevator 28 must be installed for each process device 3, there is a cost. In particular, since the robot used here has a wide range of vertical movement, it is necessary to use a bellows having a large diameter and a large expansion / contraction range, so that the cost is almost double that of an ordinary robot. Originally, where the wafer should be directly transferred from the vacuum tunnel transfer device 11 to the vacuum processing device 3, the transfer process described above is added, so that the transfer time is extra. This is related to the tact time of the semiconductor process. Since a clean room has a high construction cost per unit area, it is required that the floor space occupied by the equipment in the clean room is as small as possible. However, this apparatus requires an additional floor area because the robot chamber needs to be installed between the process apparatus and the tunnel transfer apparatus.

【0008】本発明は、上記の問題点を解決する為、従
来の移載ロボット27の機能を、エレベータ28と搬送
台車の接続室28に分離して持たせ、両者の協調作業に
よって、ウエハを搬送台車からエレベータに移載する事
によって、プロセス装置と、トンネル搬送装置との間の
移載ロボット27を不要にしたものである。
According to the present invention, in order to solve the above problems, the function of the conventional transfer robot 27 is separately provided in the elevator 28 and the connection chamber 28 of the carrier, and the wafers are cooperatively worked by both. By transferring from the carrier truck to the elevator, the transfer robot 27 between the process device and the tunnel carrier device is unnecessary.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の移載装置は、処
理装置と、該処理装置に外気と隔離して被搬送物を搬送
台車に搭載して搬送するトンネル搬送装置との間にバッ
ファチャンバを配設し、該バッファチャンバは前記搬送
台車を進入、停止、後退させる手段と、上下移動及び回
転可能な支持軸と該支持軸から張り出して前記被搬送物
を載置する支持プレートとを備えたことを特徴とする。
A transfer device according to the present invention is a buffer between a processing device and a tunnel transfer device for separating an external air from the processing device and mounting and transferring an object to be transferred on a transfer carriage. A chamber is provided, and the buffer chamber has means for advancing, stopping, and retreating the carriage, a support shaft that is vertically movable and rotatable, and a support plate that projects from the support shaft and mounts the transported object. It is characterized by having.

【0010】[0010]

【作用】真空トンネルのバッファチャンバ内部の搬送台
車の停止点進行方向近傍に、上下移動でき更に支持軸に
対して回転運動を可能にしたウエハの支持プレートを設
置する。この支持プレートは、搬送台車が所定の位置に
停止した時は、搬送台車に搭載されたウエハの下にプレ
ートが入る様な形状、位置関係を有している。搬送台車
が所定の位置に停止後、支持プレートはウエハを搬送台
車の棚板からウエハを持ち上げるのに必要なだけ上昇す
る。その後搬送台車は後退する。この状態でウエハは搬
送台車から支持プレートに一回で全ウエハが移載された
事になる。しかしこの状態では支持プレートの支持軸が
邪魔となり、プロセスチャンバ内の移載ロボットがウエ
ハを取るのは不可能である。そこで、支持プレートを支
持軸により180度回転させて、ウエハをプロセス装置
の前に移動する事によって、プロセスチャンバ内の移載
ロボットが支持プレートからウエハを取る事を可能とし
たものである。
A wafer support plate, which can move up and down and can rotate with respect to a support shaft, is installed in the vicinity of the stop point advancing direction of the transfer carriage inside the buffer chamber of the vacuum tunnel. The support plate has such a shape and positional relationship that the plate can be inserted under the wafer mounted on the carrier when the carrier is stopped at a predetermined position. After the carrier is stopped in place, the support plate is raised as necessary to lift the wafer from the shelf of the carrier. After that, the carrier truck moves backward. In this state, all the wafers are transferred from the carrier to the support plate at one time. However, in this state, the support shaft of the support plate interferes with the transfer robot in the process chamber, and it is impossible to take the wafer. Therefore, by rotating the support plate by 180 degrees by the support shaft and moving the wafer in front of the process apparatus, the transfer robot in the process chamber can take the wafer from the support plate.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図1乃至図6に示した実施例により本
発明を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in FIGS.

【0012】図1は本発明の一実施例の半導体製造装置
全体の配置構成を示す。図10の従来の配置例と異な
り、移載ロボットチャンバ、エレベータチャンバを介さ
ず、真空プロセス装置3のロボット室23とトンネル搬
送装置11とがバッファチャンバ8により直接接続され
ている事がわかる。その為に全体の専有面積が従来のも
のと比べて著しく小さくなっている。
FIG. 1 shows the arrangement of the entire semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. It can be seen that unlike the conventional arrangement example of FIG. 10, the buffer chamber 8 directly connects the robot chamber 23 of the vacuum process device 3 and the tunnel transfer device 11 without the transfer robot chamber and the elevator chamber. Therefore, the area occupied by the whole is significantly smaller than the conventional one.

【0013】図2はバッファチャンバ8の詳細な断面構
造を示す。搬送台の停止位置のすぐ前方には、支持プレ
ート9が張り出した支持軸12が設置されている。この
支持軸12は、ベローズ磁性流体シール13によって外
気(大気)から隔離されており、その一端は磁性流体シ
ール13を貫通して大気側にてモータ14に接続されて
回転可能となっている。モータ14はステッピングモー
タが望ましい。又この支持プレートの支持軸12は外気
側で軸受15によって支持されている。これらの軸受1
5及びモータ14は上下移動機構16に支持されてお
り、支持プレート9を上下移動可能ならしめている。支
持プレート9は、複数枚、搬送台車に搭載されるウエハ
の数に対応して搬送台の棚と同一ピッチで設置されてい
る。このプレート9は、搬送台車1が所定の位置に停止
した時は、図3(B)に示す様にそのウエハ2の下に入
る様な形状位置関係を有している。又この支持プレート
9は、その支持軸12を中心として180度回転できる
様に、トンネルの隔壁30は図3(A)に示す様にその
回転ができる様な凸状部17を有している。
FIG. 2 shows a detailed sectional structure of the buffer chamber 8. A support shaft 12 on which a support plate 9 projects is installed immediately in front of the stop position of the carrier. The support shaft 12 is isolated from the outside air (atmosphere) by a bellows magnetic fluid seal 13, and one end of the support shaft 12 penetrates the magnetic fluid seal 13 and is connected to a motor 14 on the atmosphere side so as to be rotatable. The motor 14 is preferably a stepping motor. The support shaft 12 of this support plate is supported by a bearing 15 on the outside air side. These bearings 1
The motor 5 and the motor 14 are supported by a vertical movement mechanism 16, and the support plate 9 is movable vertically. A plurality of the support plates 9 are installed at the same pitch as the shelves of the carrier, corresponding to the number of wafers mounted on the carrier. The plate 9 has such a shape positional relationship that it enters under the wafer 2 as shown in FIG. 3 (B) when the carrier 1 stops at a predetermined position. Further, this support plate 9 has a convex portion 17 capable of rotating 180 degrees about its support shaft 12, and the partition wall 30 of the tunnel as shown in FIG. 3 (A). .

【0014】つぎに図4から図6を用いて、その移載方
法について説明する。まず図4に示す様に、トンネル搬
送路を走行してウエハを搭載した搬送台車が、バッファ
チャンバ8のゲートバルブ18の直前に停止し、ゲート
バルブ18を開きバッファチャンバ8部分に進入し、所
定の位置に停止する(ステップ)。バッファチャンバ
8の支持プレート9はそのプレートが搬送台車1の棚に
搭載されたウエハ2の下に入る様な高さに設定されてい
る。
Next, the transfer method will be described with reference to FIGS. 4 to 6. First, as shown in FIG. 4, the transfer carriage that travels along the tunnel transfer path and carries a wafer stops immediately before the gate valve 18 of the buffer chamber 8, opens the gate valve 18 and enters the buffer chamber 8 portion, and Stop at the position (step). The support plate 9 of the buffer chamber 8 is set to a height such that the plate can enter under the wafer 2 mounted on the shelf of the carrier 1.

【0015】図5において、搬送台車が停止した後、支
持プレート9を搬送台車の棚板からウエハを持ち上げる
のに必要なだけ支持軸12を上昇させる(ステップ
)。その後搬送台車1をトンネル搬送装置11に後退
させる(ステップ)。この状態でウエハ2は搬送台車
から支持プレート9に移載されたことになる。
In FIG. 5, after the carriage is stopped, the support plate 9 is raised by the amount necessary to lift the wafer from the shelf of the carriage (step). After that, the carrier vehicle 1 is retracted to the tunnel carrier device 11 (step). In this state, the wafer 2 is transferred from the carrier to the support plate 9.

【0016】次に図6に示す様に、ゲートバルブ18を
閉じ(ステップ)、支持プレート9を支持軸12によ
り180度回転させて、ウエハ2をプロセス装置3のロ
ボット室23の前に移動させる(ステップ)。その
後、プロセス装置3側の枚葉タイプのウエハ移載ロボッ
ト26によってウエハ2をプロセス装置3に移載する。
Next, as shown in FIG. 6, the gate valve 18 is closed (step), the support plate 9 is rotated 180 degrees by the support shaft 12, and the wafer 2 is moved in front of the robot chamber 23 of the process apparatus 3. (Step). After that, the wafer 2 is transferred to the process device 3 by the single wafer type wafer transfer robot 26 on the process device 3 side.

【0017】尚、プロセス処理が終了したウエハはプロ
セス装置3から、上記の手順と全く逆の手順により、搬
送台1の棚に移載して、他のプロセス装置或いは保管庫
に搬送することができる。
The processed wafers can be transferred from the process device 3 to the shelf of the transfer table 1 and transferred to another process device or a storage by the procedure which is completely opposite to the above procedure. it can.

【0018】尚上記実施例においては、トンネル搬送装
置11には、図8に示す磁気浮上搬送装置を用いること
が清浄度の確保から好ましい。しかしながら、トンネル
搬送装置としては、通常の車輪を有する搬送台車によっ
てウエハを搬送する接触式のものを用いてもよい。又、
ウエハの搬送先はプロセス装置としたが、真空保管庫の
ような保管室であってもよい。
In the above embodiment, it is preferable to use the magnetic levitation transfer device shown in FIG. 8 as the tunnel transfer device 11 in order to secure cleanliness. However, as the tunnel transfer device, a contact type device in which a wafer is transferred by a transfer carriage having ordinary wheels may be used. or,
Although the wafer transfer destination is the process device, it may be a storage room such as a vacuum storage.

【0019】又バッファチャンバ8は、図8に示す磁気
浮上搬送装置と同様にトンネル隔壁外側に浮上用電磁石
31、リニアモータ32、停止位置決め装置35を備
え、磁性材34及び導電材36を備えた搬送台1を磁気
浮上させながら、走行、停止位置決めを行うことができ
ることが好ましい。しかしながら、トンネル搬送装置と
して接触式のものを用いる場合には、そのトンネル搬送
装置と同様な搬送台車の進入、停止、後退手段を備える
ことが必要である。
Further, the buffer chamber 8 is provided with a levitation electromagnet 31, a linear motor 32, a stop positioning device 35, and a magnetic material 34 and a conductive material 36 on the outer side of the tunnel partition wall, similarly to the magnetic levitation transfer device shown in FIG. It is preferable that traveling and stop positioning can be performed while magnetically levitating the carrier 1. However, in the case of using the contact type as the tunnel transfer device, it is necessary to provide the entrance, stop, and retreat means of the transfer vehicle similar to the tunnel transfer device.

【0020】トンネル搬送路11及びバッファチャンバ
8内は、外気(大気)と遮断された真空雰囲気とするこ
とがウエハの分子汚染、粒子汚染を防止する観点から好
ましい。しかしながら、半導体プロセスの種類によって
は、N2 ガス等の清浄なガス雰囲気とすることが好まし
い場合もあり、又、クリーンエア雰囲気とすることが好
ましい場合もある。
The inside of the tunnel transfer path 11 and the buffer chamber 8 is preferably a vacuum atmosphere that is shielded from the outside air (atmosphere) from the viewpoint of preventing molecular contamination and particle contamination of the wafer. However, depending on the type of semiconductor process, it may be preferable to use a clean gas atmosphere such as N 2 gas, or it may be preferable to use a clean air atmosphere.

【0021】又、本実施例においては被搬送物として半
導体ウエハを例として説明したが、液晶基板或いは清浄
な雰囲気下で処理が必要な被搬送物に広く適用できるの
は勿論のことである。このように、本発明の趣旨を逸脱
することなく各種の変形実施例が可能である。尚、各図
中同一符号は同一又は相当部分を示す。
Further, although the semiconductor wafer has been described as an example of the object to be transferred in the present embodiment, it is needless to say that it can be widely applied to the liquid crystal substrate or the object to be processed which needs to be processed in a clean atmosphere. As described above, various modified embodiments are possible without departing from the spirit of the present invention. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

【0022】[0022]

【発明の効果】本発明は、真空トンネルのバッファチャ
ンバ内部の搬送台車の停止点の進行方向近傍に、上下移
動でき更に回転運動を可能にした被搬送物の支持プレー
ト9を設置した事により、プロセス装置とトンネル搬送
装置との間の移載ロボットを省略することができた。こ
のためトンネル搬送装置から支持プレート9(エレベー
タ)へのウエハの移載が移載ロボットを介さずかつ一度
ですみ、装置の製造コストが下がり、又設置面積が大幅
に減少した。
According to the present invention, the supporting plate 9 for the transported object, which can be moved up and down and is further rotatable, is installed in the vicinity of the traveling direction of the stop point of the carrier truck inside the buffer chamber of the vacuum tunnel. The transfer robot between the process equipment and the tunnel carrier could be omitted. Therefore, the transfer of the wafer from the tunnel transfer device to the support plate 9 (elevator) does not have to be performed by the transfer robot and only once, which reduces the manufacturing cost of the device and significantly reduces the installation area.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1乃至図6は本発明に係る実施例を説明する
ものであり、図1は、本発明の一実施例のプロセス装置
とトンネル搬送装置間の接続構成を示す説明図。
1 to 6 are diagrams for explaining an embodiment according to the present invention, and FIG. 1 is an explanatory diagram showing a connection configuration between a process device and a tunnel transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図2】バッファチャンバの構成を示す説明図。FIG. 2 is an explanatory view showing the structure of a buffer chamber.

【図3】図2の要部を示す(A)平面図、(B)側断面
図。
3 (A) is a plan view and FIG. 3 (B) is a side sectional view showing a main part of FIG.

【図4】バッファチャンバのウエハ移載ステップを示す
断面図。
FIG. 4 is a sectional view showing a wafer transfer step in the buffer chamber.

【図5】バッファチャンバのウエハ移載ステップを示す
断面図。
FIG. 5 is a sectional view showing a wafer transfer step in the buffer chamber.

【図6】バッファチャンバのウエハ移載ステップを示す
断面図。
FIG. 6 is a sectional view showing a wafer transfer step in the buffer chamber.

【図7】従来の半導体製造装置の配置構成の一例を示す
説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a layout configuration of a conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図8】磁気浮上搬送装置の断面図。FIG. 8 is a sectional view of a magnetic levitation transport device.

【図9】真空保管庫の(A)平面図、(B)側断面図。FIG. 9 is a plan view (A) and a side sectional view (B) of a vacuum storage.

【図10】従来のプロセス装置とトンネル搬送装置間の
接続の一例を示す説明図。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a connection between a conventional process device and a tunnel transfer device.

【図11】図10の要部断面図。11 is a cross-sectional view of the main parts of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 搬送台(車) 2 ウエハ 3 真空プロセス装置 8 バッファチャンバ 9 支持プレート 11 真空トンネル搬送装置 12 支持軸 23 ロボット室 1 Transfer Platform (Car) 2 Wafer 3 Vacuum Process Device 8 Buffer Chamber 9 Support Plate 11 Vacuum Tunnel Transfer Device 12 Support Axis 23 Robot Room

フロントページの続き (72)発明者 吉岡 毅 神奈川県藤沢市本藤沢4丁目2番1号 株 式会社荏原総合研究所内Front page continued (72) Inventor Takeshi Yoshioka 4-2-1 Motofujisawa, Fujisawa City, Kanagawa Prefecture EBARA Research Institute

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理装置と、該処理装置に外気と隔離し
て被搬送物を搬送台車に搭載して搬送するトンネル搬送
装置との間にバッファチャンバを配設し、 該バッファチャンバは前記搬送台車を進入、停止、後退
させる手段と、上下移動及び回転可能な支持軸と該支持
軸から張り出して前記被搬送物を載置する支持プレート
とを備えたことを特徴とする移載装置。
1. A buffer chamber is provided between a processing apparatus and a tunnel transfer apparatus which is mounted on a transfer carriage and transfers an object to be transferred, the buffer chamber being isolated from the processing apparatus and the transfer chamber being the transfer chamber. A transfer device comprising: means for moving the carriage in, stopping, and retreating; a support shaft that is vertically movable and rotatable; and a support plate that projects from the support shaft and mounts the transported object.
【請求項2】 処理装置と、該処理装置に外気と隔離し
て被搬送物を搬送台車に搭載して搬送するトンネル搬送
装置との間にバッファチャンバを配設し、前記搬送台車
が該バッファチャンバに進入し停止するステップと、支
持軸から張り出して前記被搬送物を載置する支持プレー
トが上下移動することにより被搬送物を前記搬送台車よ
り受け取るステップと、前記搬送台車が該バッファチャ
ンバから後退するステップと、前記支持軸が回転し前記
支持プレートに載置された被搬送物を前記処理装置の前
に移動するステップと、前記処理装置のロボットが前記
被搬送物を受け取るステップとからなることを特徴とす
る被搬送物の移載方法。
2. A buffer chamber is provided between the processing device and a tunnel transfer device for mounting and transferring an object to be transferred in the processing device while being isolated from the outside air, and the transfer vehicle is provided with the buffer chamber. A step of entering and stopping the chamber, a step of receiving an object to be transferred from the transfer carriage by vertically moving a support plate protruding from a support shaft and mounting the object to be transferred, and the transfer carriage from the buffer chamber. It comprises a step of retreating, a step of rotating the support shaft to move an object to be transferred placed on the support plate in front of the processing apparatus, and a robot of the processing apparatus receiving the object to be transferred. A method for transferring an object to be conveyed, which is characterized in that:
【請求項3】 前記バッファチャンバは、隔壁外部に浮
上用電磁石、走行用リニアモータ、及び停止位置決め装
置を備え、磁性材及び導電材を備えた搬送台車を磁気浮
上させた状態で進入、停止、後退させることを特徴とす
る請求項1記載の移載装置。
3. The buffer chamber is provided with a levitation electromagnet, a traveling linear motor, and a stop positioning device outside the partition wall, and a transport carriage including a magnetic material and a conductive material enters and stops in a magnetically levitated state. The transfer device according to claim 1, wherein the transfer device is moved backward.
【請求項4】 前記トンネル搬送装置は、隔壁外部に浮
上用電磁石及び走行用リニアモータを備え、磁性材及び
導電材を備えた搬送台車を磁気浮上させた状態で走行さ
せる磁気浮上搬送装置であることを特徴とする請求項3
記載の移載装置。
4. The magnetic levitation transfer device, wherein the tunnel transfer device includes a levitation electromagnet and a traveling linear motor outside a partition wall, and causes a trolley carrying a magnetic material and a conductive material to travel in a magnetically levitated state. 4. The method according to claim 3, wherein
The transfer device described.
【請求項5】 前記バッファ装置及びトンネル搬送装置
はトンネル隔壁内部が真空であり、外部の大気側から隔
離されていることを特徴とする請求項1又は4記載の移
載装置。
5. The transfer device according to claim 1, wherein the buffer device and the tunnel transfer device have a vacuum inside the tunnel partition wall and are isolated from the outside atmosphere side.
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