JPH07130922A - Semiconductor device fitted with cooler - Google Patents

Semiconductor device fitted with cooler

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JPH07130922A
JPH07130922A JP27338493A JP27338493A JPH07130922A JP H07130922 A JPH07130922 A JP H07130922A JP 27338493 A JP27338493 A JP 27338493A JP 27338493 A JP27338493 A JP 27338493A JP H07130922 A JPH07130922 A JP H07130922A
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JP
Japan
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heat
semiconductor
chip
cooling device
semiconductor device
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JP27338493A
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Katsuichi Nakashita
勝一 中下
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To make heat conductivity small and cool a semiconductor with a small current by charging at least one kind out of xenon, krypton, and argon into the package of a semiconductor device fitted with a cooler. CONSTITUTION:For the Peltier element 31 of a semiconductor device fitted with a cooler, the coldness is controlled electrically by an external controller which has referred to the temperature information from a thermistor 31. At this time, for the Peltier element 12, the topside is cooled, and the bottom heats. The heat generated from the Peltier element at the bottom is conducted to the case, and the heat of a chip is conducted as the conductive heat from the case, and besides the heat is conducted by the convection of the gas inside a package. But, since xenon is charged in the package, the conductivity of the heat inside the heat circuit becomes small, and the chip is hardly affected by the heat from a cooler, so it can be cooled with a current smaller than before, therefore the power consumption can be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、冷却装置を有する半導
体装置に関する発明である。近年、半導体装置は宇宙、
海底、地下等、様々な過酷な温度環境下で使用されてい
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device having a cooling device. In recent years, semiconductor devices have become
It is used in various harsh temperature environments such as the seabed and underground.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体チップには温度によって敏感に特
性の変わるものがあり、その特性の変化がその機能に重
大な影響を及ぼすことがある。例えば、半導体レーザチ
ップにおいては、効率が100%ではないため、注入電
流の損失が生じて、数℃から100℃程度の発熱が起こ
る。この発熱は半導体レーザチップの発振波長の変化、
しきい値電流の変化等を生じる原因になる。
2. Description of the Related Art Some semiconductor chips have characteristics that change sensitively with temperature, and changes in the characteristics may seriously affect their functions. For example, in a semiconductor laser chip, since the efficiency is not 100%, a loss of injection current occurs and heat generation of about several degrees Celsius to 100 degrees Celsius occurs. This heat generation changes the oscillation wavelength of the semiconductor laser chip,
This may cause a change in threshold current.

【0003】また、半導体レーザチップ以外の半導体チ
ップにおいても、その動作を安定にするためには発熱を
抑えてその温度を一定に保つことが好ましい。そのた
め、冷却装置を備えた半導体装置が種々作られている。
従来用いられてきた冷却装置を有する半導体装置におい
ては、不活性な性質をもつガスが封止されており、半導
体チップとパッケージ内の雰囲気との反応を防いでい
る。上記封止されるガスとしては安定で安価で入手の容
易な窒素が用いられている。
Also in semiconductor chips other than semiconductor laser chips, it is preferable to suppress heat generation and keep the temperature constant in order to stabilize the operation. Therefore, various semiconductor devices having a cooling device have been manufactured.
In a conventional semiconductor device having a cooling device, a gas having an inert property is sealed to prevent a reaction between the semiconductor chip and the atmosphere in the package. As the gas to be sealed, nitrogen that is stable, inexpensive, and easily available is used.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】冷却装置を有する半導
体装置では、周囲の温度が非常に高い時には、半導体チ
ップの温度(又はその付近の温度)を検知するサーミス
タの出力により、冷却装置の制御装置は、更なる冷却を
行うために冷却装置への注入電流を増加する。そのため
に冷却装置自体の発熱量が増大して冷却装置の冷却効果
の低下を招き、所定の温度を実現するための冷却にはさ
らに多くの電流が必要となる。その電流の増加は、冷却
装置自体の更なる発熱の増大をもたらし、際限のない悪
循環が起こる。上記に述べたように悪循環が起こると冷
却システム自体が制御不能になり、熱暴走を生じる。す
なわちパッケージ内が、低温の時は、冷却装置の負荷は
少ないので問題はおきないが、高温になると上述の様な
熱暴走が起きるのである。そのため一般の半導体装置の
保障温度は上記熱暴走を引き起こす温度を越えないよう
に、定められている。
In a semiconductor device having a cooling device, when the ambient temperature is very high, the output of a thermistor for detecting the temperature of the semiconductor chip (or the temperature in the vicinity thereof) is used to control the cooling device. Increases the injection current into the cooling device to provide further cooling. As a result, the amount of heat generated by the cooling device itself increases and the cooling effect of the cooling device is reduced, so that more current is required for cooling to achieve a predetermined temperature. The increase in the current causes further increase in heat generation of the cooling device itself, and an endless vicious cycle occurs. As mentioned above, when a vicious circle occurs, the cooling system itself becomes uncontrollable and thermal runaway occurs. That is, when the temperature inside the package is low, there is no problem because the load of the cooling device is small, but when the temperature is high, the thermal runaway as described above occurs. Therefore, the guaranteed temperature of a general semiconductor device is set so as not to exceed the temperature that causes the thermal runaway.

【0005】また、上記冷却装置は多くの電力を消費す
ることから、特に外気温が高温時において、冷却装置の
消費電力を低くすることが要求されている。これらの要
求に応える為には、パッケージ外部の温度もしくはチッ
プ周辺への冷却装置からの発熱の影響を減らすことが望
まれており、従来は主としてパッケージの構造の改善が
試みられてきた。(例えば特開平2−299281号公
報参照) しかし、雰囲気については検討はされていなかった。本
発明は、封入される雰囲気を変えることで冷却装置を有
する半導体装置の保障温度の範囲を拡大させ、消費電力
を低減するものである。
Further, since the cooling device consumes a large amount of electric power, it is required to reduce the power consumption of the cooling device especially when the outside air temperature is high. In order to meet these demands, it is desired to reduce the influence of the temperature outside the package or the heat generation from the cooling device to the periphery of the chip, and conventionally, attempts have been made mainly to improve the structure of the package. (See, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-299281) However, the atmosphere has not been examined. The present invention expands the guaranteed temperature range of a semiconductor device having a cooling device by changing the enclosed atmosphere and reduces power consumption.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。上記保障温度の範囲を拡大させることおよび、消
費電力を低減することを実現するために、本発明では、
半導体チップ(1)と前記半導体チップ(1)を冷却す
る冷却装置(2)と前記半導体チップ(1)周辺の温度
を測定し冷却装置(2)の冷却温度を制御する温度制御
装置に温度情報を出力する温度検知手段(3)を備えて
いる冷却装置付半導体装置において、前記冷却装置付半
導体装置のパッケージ内にキセノンもしくはクリプトン
もしくはアルゴンの内少なくとも1種を封入するもので
ある。
FIG. 1 shows the principle of the present invention. In order to expand the above-mentioned guaranteed temperature range and reduce power consumption, the present invention provides:
A semiconductor chip (1), a cooling device (2) for cooling the semiconductor chip (1), and a temperature control device for measuring the temperature around the semiconductor chip (1) and controlling the cooling temperature of the cooling device (2). In a semiconductor device with a cooling device provided with a temperature detecting means (3) for outputting, at least one of xenon, krypton, or argon is enclosed in the package of the semiconductor device with a cooling device.

【0007】[0007]

【作用】図1に示すように冷却装置からの発熱のチップ
への伝導経路としては、図1に示す2つの経路が主とし
て考えられている。図1に矢印で図示している通り、1
つは、冷却装置の発熱部の熱源からケースに伝導されて
ケースからガスを介して伝導される熱であり、もう1つ
は冷却装置の発熱部の熱源からガスに伝導されガスの対
流によって伝導される熱である。
As shown in FIG. 1, the two paths shown in FIG. 1 are mainly considered as the conduction paths for the heat generated from the cooling device to the chip. 1 as indicated by the arrow in FIG.
One is heat conducted from the heat source of the heat generating part of the cooling device to the case and then conducted from the case through the gas, and the other is heat conducted from the heat source of the heat generating part of the cooling device to the gas and conducted by gas convection. It is the heat that is done.

【0008】前記2つの熱伝導の経路には共に封止ガス
により熱が伝導される部分が含まれており、封止ガスの
熱伝導率はチップに伝導される熱量の大小に重要な意義
を持っていることを本発明者は発見した。本発明ではこ
の知見に基づき熱伝導率の低いキセノンガスあるいはク
リプトンあるいはアルゴンを封入することによって、パ
ッケージ外の熱がパッケージ内のチップに伝わりにくく
するものである。
Both of the two heat conduction paths include a portion through which heat is conducted by the sealing gas, and the thermal conductivity of the sealing gas has an important meaning for the amount of heat conducted to the chip. The present inventor has found that he has. In the present invention, based on this finding, xenon gas, krypton, or argon, which has a low thermal conductivity, is sealed in so that the heat outside the package is less likely to be transferred to the chip inside the package.

【0009】本発明によれば、封止ガスとして熱伝導率
が低いキセノン、クリプトン、アルゴンを使用してい
る。100℃に於ける、熱伝導率は窒素の場合3.09
(10 -2W・m-1・K-1)であり、これに対してキセノ
ンの場合は0.70(10-2W・m-1・K-1)、クリプ
トンの場合は1.15(10-2W・m-1・K-1)、アル
ゴンの場合は2.12(10-2W・m-1・K-1)、であ
る。つまり、これら、キセノン、クリプトン、アルゴ
ン、を従来使用されていた窒素に代えて封止すること
で、上記2つの熱伝導の経路の熱伝導率を低くでき、チ
ップ周辺への熱伝導が少なくなるのである。
According to the present invention, the thermal conductivity as a sealing gas is
Uses low xenon, krypton, argon
It Thermal conductivity at 100 ° C is 3.09 for nitrogen
(10 -2Wm-1・ K-1), For which xeno
0.70 (10-2Wm-1・ K-1), Krip
1.15 (10 tonnes)-2Wm-1・ K-1), Al
2.12 (10-2Wm-1・ K-1), And
It That is, these, xenon, krypton, algo
To replace the nitrogen used previously with nitrogen.
Thus, the thermal conductivity of the above two heat conduction paths can be lowered, and
The heat conduction to the periphery of the cup is reduced.

【0010】例えば、キセノンを封止ガスに使った場
合、100℃付近の熱伝導率は窒素の場合の約1/4で
あるので、前記2経路の内のケースに熱伝導されケース
から発せられる熱によるチップへの熱の伝導は窒素の場
合の1/4になる。同様にクリプトン、アルゴンを使っ
た場合もその窒素との熱伝導率の比と同じだけチップへ
の熱伝導が減少できる。
For example, when xenon is used as the sealing gas, the thermal conductivity at around 100 ° C. is about 1/4 of that of nitrogen, so that heat is conducted to the case out of the two paths and emitted from the case. The conduction of heat to the chip by heat is ¼ that of nitrogen. Similarly, when krypton or argon is used, the thermal conductivity to the chip can be reduced by the same ratio of the thermal conductivity with nitrogen.

【0011】また、前記代表的な2つの熱の伝導経路以
外でも、封止ガスの熱伝導が関与している熱回路につい
ては、その熱回路によりチップに伝導される熱は以前の
窒素を使ったものよりも少なくすることができる。
In addition to the above-mentioned two typical heat conduction paths, regarding the heat circuit in which the heat conduction of the sealing gas is involved, the heat conducted to the chip by the heat circuit uses the previous nitrogen. It can be less than what you have.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の一実施例を説明する。図2及
び図3は本発明をバタフライ型レーザモジュールに応用
した一実施例を説明する図である。図2は本発明一実施
例を表すバタフライ型レーザモジュールの側面断面図で
あり、図3は本発明一実施例を表すバタフライ型レーザ
モジュールの平面断面図である。
EXAMPLE An example of the present invention will be described below. 2 and 3 are diagrams for explaining an embodiment in which the present invention is applied to a butterfly type laser module. FIG. 2 is a side sectional view of a butterfly type laser module showing one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a plan sectional view of a butterfly type laser module showing one embodiment of the present invention.

【0013】図において、11はレーザ光を発光する半
導体レーザチップであり、12はチップを冷却するペル
チェ素子であり、31はチップ上の温度を測定するため
のサーミスタであり、14は半導体レーザチップ11を
載せ、半導体レーザチップ11と金線で接続されている
サブマウントであり、13は半導体レーザチップ11を
載せたサブマウント14とサーミスタ31を載せるキャ
リアであり、15は半導体レーザからの光を伝送するテ
ーパー先球ファイバであり、16はテーパー先球ファイ
バを覆う被覆であり、17は側板であり、18は底板で
あり、19は封止されたキセノン(Xe)であり、20
は上蓋であり、21は被覆を覆うゴムチューブであり、
22はテーパー先球ファイバを固定する半田であり、3
0はアウターリードにつながった電極であり、32はア
ウターリードであり、33は各素子を電極につなぐボン
ディングワイヤである。
In the figure, 11 is a semiconductor laser chip that emits laser light, 12 is a Peltier element for cooling the chip, 31 is a thermistor for measuring the temperature on the chip, and 14 is a semiconductor laser chip. 11 is a submount that is connected to the semiconductor laser chip 11 by a gold wire, 13 is a carrier that mounts the submount 14 on which the semiconductor laser chip 11 is mounted, and the thermistor 31, and 15 is the light from the semiconductor laser. A tapered tip spherical fiber for transmission, 16 a coating covering the tapered tip spherical fiber, 17 a side plate, 18 a bottom plate, 19 a sealed xenon (Xe), 20
Is a top lid, 21 is a rubber tube for covering the coating,
Numeral 22 is a solder for fixing the tapered spherical fiber, and 3
Reference numeral 0 is an electrode connected to the outer lead, 32 is an outer lead, and 33 is a bonding wire connecting each element to the electrode.

【0014】底板18に側板17を接合してケースを作
成する。半導体レーザチップ11を載せ金線で接続され
ているサブマウント14とサーミスタ31をキャリア1
3に載せる。前記キャリア13をペルチェ素子12上に
載せたものをケースの所望の位置に取り付ける。各箇所
のワイアボンディングを行った後に、ケースの中に挿入
された光ファイバ15と、半導体レーザチップ11の光
結合を行う。
The side plate 17 is joined to the bottom plate 18 to form a case. The submount 14 and the thermistor 31 on which the semiconductor laser chip 11 is mounted and which are connected by a gold wire are connected to the carrier 1
Put on 3. The carrier 13 mounted on the Peltier element 12 is attached to a desired position of the case. After wire-bonding each part, the optical fiber 15 inserted in the case and the semiconductor laser chip 11 are optically coupled.

【0015】上蓋20を取り付ける前の状態でキセノン
の雰囲気中に置き、ついで上蓋20を載せてこれをシー
ム溶接することによって、キセノンを封入する。また、
別の方法としては上蓋20を取り付ける前の状態でキセ
ノンを吹きつけシーム溶接してもよい。以上のようにし
て冷却装置付半導体装置は完成される。本実施例による
冷却装置付半導体装置のペルチェ素子31(冷却装置)
は、サーミスタ31からの温度情報を参照した図示しな
い外部の制御装置によって電気的にその冷却度が制御さ
れる。この際、ペルチェ素子12は上面が冷却され、下
面が発熱する。下面のペルチェ素子から発生した熱はケ
ースに伝導し、ケースからの伝導熱としてチップに熱が
伝わるほか、パッケージ内部のガスの対流によってチッ
プに熱が伝わるが本実施例ではキセノンをパッケージ内
に封止しているため、その熱回路中の熱伝導率が小さく
なり、保障温度範囲(高温側)を拡大することができ
る。
The upper lid 20 is placed in an atmosphere of xenon before being attached, and then the upper lid 20 is placed and seam-welded to seal the xenon. Also,
Alternatively, xenon may be sprayed and seam welded before the top lid 20 is attached. The semiconductor device with a cooling device is completed as described above. Peltier element 31 (cooling device) of a semiconductor device with a cooling device according to this embodiment
The degree of cooling is electrically controlled by an external control device (not shown) that refers to the temperature information from the thermistor 31. At this time, the upper surface of the Peltier element 12 is cooled, and the lower surface generates heat. The heat generated from the Peltier element on the bottom surface is conducted to the case, and is transferred to the chip as conduction heat from the case. In addition, heat is transferred to the chip by convection of gas inside the package.In this example, xenon is sealed in the package. Since it is stopped, the thermal conductivity in the thermal circuit becomes small, and the guaranteed temperature range (high temperature side) can be expanded.

【0016】勿論、キセノンと同様にクリプトン、アル
ゴンを封止しても同様の効果がある。本実施例において
は、冷却装置としてペルチェ素子を使用しているがこれ
に限るものではなく、他の冷却装置を使用してもよい。
Of course, similar effects to xenon can be obtained by sealing krypton or argon. Although the Peltier element is used as the cooling device in the present embodiment, the cooling device is not limited to this, and other cooling devices may be used.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、半導体装置のパッケー
ジ内にキセノンあるいはクリプトンあるいはアルゴンの
うち少なくとも1種のガスを封じているため、従来封止
していた窒素に比べて熱伝導率が低いことにより、チッ
プは冷却装置からの発熱の影響を受けにくいので従来よ
りも少ない電流で冷却することができ、消費電力が低減
される。そのため熱暴走を起こす温度は高くなり広い保
障温度範囲で冷却装置付半導体装置を提供することがで
きる。
According to the present invention, since at least one gas of xenon, krypton, or argon is sealed in the package of the semiconductor device, the thermal conductivity is lower than that of nitrogen which has been conventionally sealed. As a result, the chip is less likely to be affected by heat generated by the cooling device, so that the chip can be cooled with a smaller current than in the past, and power consumption is reduced. Therefore, the temperature causing thermal runaway becomes high, and the semiconductor device with a cooling device can be provided in a wide guaranteed temperature range.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の冷却装置付半導体装置の構成を示す原
理図である。
FIG. 1 is a principle diagram showing a configuration of a semiconductor device with a cooling device of the present invention.

【図2】本発明をバタフライ型レーザモジュールに応用
した一実施例の側面断面図である。
FIG. 2 is a side sectional view of an embodiment in which the present invention is applied to a butterfly type laser module.

【図3】本発明をバタフライ型レーザモジュールに応用
した一実施例の平面断面図である。
FIG. 3 is a plan sectional view of an embodiment in which the present invention is applied to a butterfly type laser module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザチップ 2 ペルチェ素子 3 サーミスタ 4 Xe雰囲気 1 Semiconductor laser chip 2 Peltier element 3 Thermistor 4 Xe atmosphere

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01S 3/18 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical indication H01S 3/18

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体チップ(1)と、 前記半導体チップ(1)を冷却する冷却装置(2)と、 前記半導体チップ(1)周辺の温度を測定し前記冷却装
置(2)の冷却温度を制御する温度制御装置に温度情報
を出力する温度検知手段(3)と、 を備えている冷却装置付半導体装置において、 前記冷却装置付半導体装置のパッケージ内にキセノンも
しくはクリプトンもしくはアルゴンの内少なくとも1種
を封入したことを特徴とする冷却装置付半導体装置。
1. A semiconductor chip (1), a cooling device (2) for cooling the semiconductor chip (1), a temperature around the semiconductor chip (1) is measured, and a cooling temperature of the cooling device (2) is measured. A temperature detecting means (3) for outputting temperature information to a temperature control device for controlling, a semiconductor device with a cooling device, comprising: at least one of xenon, krypton, or argon in a package of the semiconductor device with a cooling device. A semiconductor device with a cooling device, in which a semiconductor device is enclosed.
【請求項2】 上記半導体チップ(1)は、半導体発光
素子であることを特徴とする請求項1記載の冷却装置付
半導体装置。
2. The semiconductor device with a cooling device according to claim 1, wherein the semiconductor chip (1) is a semiconductor light emitting element.
【請求項3】 上記冷却装置(2)は、ペルチェ素子で
あることを特徴とする請求項1記載の冷却装置付半導体
装置。
3. The semiconductor device with a cooling device according to claim 1, wherein the cooling device (2) is a Peltier element.
JP27338493A 1993-11-01 1993-11-01 Semiconductor device fitted with cooler Withdrawn JPH07130922A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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