JPH071234A - 放電加工波形の分類によるアーク防止方法 - Google Patents
放電加工波形の分類によるアーク防止方法Info
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- JPH071234A JPH071234A JP14486593A JP14486593A JPH071234A JP H071234 A JPH071234 A JP H071234A JP 14486593 A JP14486593 A JP 14486593A JP 14486593 A JP14486593 A JP 14486593A JP H071234 A JPH071234 A JP H071234A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 放電加工（ＥＤＭ）時に発生する電圧或いは
電流波の波形を分類する方法とその結果を利用してアー
クの発生を防止する方法に関するものである。 【構成】 パルス形放電加工時には発生する電圧或いは
電流波形を、回路開（オンタイム）初期に発生するサン
プリングパルスのハイレベル時に、同電流波最高値の２
５乃至９５パーセントに設定された設定電位と比較して
設定値以上信号として１対１に対応する信号を得た後、
上記の監視波をクロックとして、反転フリップフロップ
させて、放電（ＥＤＭ）クロックとアンド論理結合した
信号を放電電流制御半導体のゲート信号として使用する
ことによって、アーク電流の流れを防止できる論理回路
で構成した。
電流波の波形を分類する方法とその結果を利用してアー
クの発生を防止する方法に関するものである。 【構成】 パルス形放電加工時には発生する電圧或いは
電流波形を、回路開（オンタイム）初期に発生するサン
プリングパルスのハイレベル時に、同電流波最高値の２
５乃至９５パーセントに設定された設定電位と比較して
設定値以上信号として１対１に対応する信号を得た後、
上記の監視波をクロックとして、反転フリップフロップ
させて、放電（ＥＤＭ）クロックとアンド論理結合した
信号を放電電流制御半導体のゲート信号として使用する
ことによって、アーク電流の流れを防止できる論理回路
で構成した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は放電加工（electro disc
harge machining = EDM)時に発生する電圧或いは電流波
の波形を分類する方法と其の結果を利用してアークの発
生を防止する方法に関するものである。
harge machining = EDM)時に発生する電圧或いは電流波
の波形を分類する方法と其の結果を利用してアークの発
生を防止する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来も有害なアークの発生を監視する目
的で考案された多数の方法が提案されている。放電極間
の電圧降下又は平均電流の増加等によるアークであるか
を判別し、アーク防止のための適切な措置をしている。
例えばオフタイムを増加する等の措置をして有効な効果
をみている。
的で考案された多数の方法が提案されている。放電極間
の電圧降下又は平均電流の増加等によるアークであるか
を判別し、アーク防止のための適切な措置をしている。
例えばオフタイムを増加する等の措置をして有効な効果
をみている。
【０００３】放電加工の状態を監視する方法として主に
多く活用されるものは、放電スパーク時に発生する高周
波を分析するとか、電極加工物体間の電気抵抗を測定分
析するとか、或いは放電波形を分析するかの方法等があ
るが、主に波形分析の方法を選好したとみることができ
る。現在まで放電加工波形分析方法に関する研究を要約
すると次の通りである。スノイス（R.Soneys,CIRP VOL
24,1947), バタカラ（Bhattacharyya,ASME j. of
Eng. Ind.,1980), オトー(M.Otto,ISEM7,1983), エ
ンデル(A.Endel,ISEM7,1983), パンディット(S,Pandi
t,ASME J. ofEng. Ind.,1984), ダウ(D.Dauw, CIRP
vol35, 1986), パンディット(S.Pandit,ASME J. of E
ng. Ind.,1987), コグン(C.Cogun,ASME PED vol 134,
1988)等が波形分類及びこれと関連した研究をしたもの
である。
多く活用されるものは、放電スパーク時に発生する高周
波を分析するとか、電極加工物体間の電気抵抗を測定分
析するとか、或いは放電波形を分析するかの方法等があ
るが、主に波形分析の方法を選好したとみることができ
る。現在まで放電加工波形分析方法に関する研究を要約
すると次の通りである。スノイス（R.Soneys,CIRP VOL
24,1947), バタカラ（Bhattacharyya,ASME j. of
Eng. Ind.,1980), オトー(M.Otto,ISEM7,1983), エ
ンデル(A.Endel,ISEM7,1983), パンディット(S,Pandi
t,ASME J. ofEng. Ind.,1984), ダウ(D.Dauw, CIRP
vol35, 1986), パンディット(S.Pandit,ASME J. of E
ng. Ind.,1987), コグン(C.Cogun,ASME PED vol 134,
1988)等が波形分類及びこれと関連した研究をしたもの
である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明が従来の方法と
根本的に異なる点は次のような２つの点を特徴としてい
る。即ち、第１は放電パルスごとにアークであるかそれ
でないかを判別するという点であり、次は適切な措置を
パルス単位が終わる前に取るという点が従来の方法と異
なる。再び言えばパルス単位ごとに測定、分類、調整が
ほぼ同時になされる特徴がある。
根本的に異なる点は次のような２つの点を特徴としてい
る。即ち、第１は放電パルスごとにアークであるかそれ
でないかを判別するという点であり、次は適切な措置を
パルス単位が終わる前に取るという点が従来の方法と異
なる。再び言えばパルス単位ごとに測定、分類、調整が
ほぼ同時になされる特徴がある。
【０００５】本発明の要旨と上記の公開された研究結果
との顕著な差異点は波形分類結果をアーク防止に使用す
る方法を考案したという点である。この点に関する理解
を助けるために、放電加工時に発生する放電波形に関す
る公開された事実を簡略に発明する。一般的にパルス形
放電加工（Transistorized pulsed electronic dischar
ge machining, 以下放電加工と称する）時に発生する電
圧或いは電流波形（電圧＝電流×抵抗）は４種類（参
考：学者によっては５或いは６種に分類する場合があ
る）が無作為的に発生するが、即ち、正常（Normal or
Effeetive discharge or Spark), アーク（Arc), 短縮
(Short),開放(Open)形の波が発生するが（図１参照）、
この中、正常波だけが有効な波であり開放形の波は加工
能率を低下させるので好ましくないし、短絡及びアーク
は永く持続した場合加工機械と共に被加工物も損傷を受
けるので好ましくない。従って、可能な限り高速に上記
の４種の波形を分類できるので好ましくない。従って、
可能な限り高速に上記の４種の波形を分類できれば、放
電加工状態を監視するのに大いに寄与することができ
る。
との顕著な差異点は波形分類結果をアーク防止に使用す
る方法を考案したという点である。この点に関する理解
を助けるために、放電加工時に発生する放電波形に関す
る公開された事実を簡略に発明する。一般的にパルス形
放電加工（Transistorized pulsed electronic dischar
ge machining, 以下放電加工と称する）時に発生する電
圧或いは電流波形（電圧＝電流×抵抗）は４種類（参
考：学者によっては５或いは６種に分類する場合があ
る）が無作為的に発生するが、即ち、正常（Normal or
Effeetive discharge or Spark), アーク（Arc), 短縮
(Short),開放(Open)形の波が発生するが（図１参照）、
この中、正常波だけが有効な波であり開放形の波は加工
能率を低下させるので好ましくないし、短絡及びアーク
は永く持続した場合加工機械と共に被加工物も損傷を受
けるので好ましくない。従って、可能な限り高速に上記
の４種の波形を分類できるので好ましくない。従って、
可能な限り高速に上記の４種の波形を分類できれば、放
電加工状態を監視するのに大いに寄与することができ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の波形を分
類して、アーク発生信号や或いは短絡発生信号が発生さ
れた場合、即時に（参考：発生信号は常に毎周期の先端
に位置する、図１）放電電力供給を当該周期の間又は当
該周期の数パーセント程度だけ遮断する方法の中の独特
な一つの方法とその利用に関するものである。
類して、アーク発生信号や或いは短絡発生信号が発生さ
れた場合、即時に（参考：発生信号は常に毎周期の先端
に位置する、図１）放電電力供給を当該周期の間又は当
該周期の数パーセント程度だけ遮断する方法の中の独特
な一つの方法とその利用に関するものである。
【０００７】
【実施例】以下、本発明をより詳細に説明する。本発明
においては、電流波形を利用して、波形分類及びこれを
利用したアーク又は短絡に因る副作用防止方法を説明す
る。（電圧波形図説明は同一である。）先ず、放電波形
の発生に対して、放電に依る加工とは誘電体（主に軽油
等hydrocarbon 類使用）を中間において適当な距離を離
した被加工体と電極との間に一定なパルス電圧を印加す
ると適当な条件に依り花火放電（スパーク）が発生す
る。このエナージにより被加工体の一部が鎔融蒸発した
り一部分は周囲誘電体の爆発的蒸発応力に依り飛散され
たりする。結果的には被加工体に若干の放電痕（クレー
ター）が生じこれらの平均累積に依って加工がなされ
る。この時、電圧或いは電流の波形をサンプリングする
ことができる。しかし、条件によっては毎度必ず花火放
電だけ起こるという保障が無い。例を挙げると、極間の
間隔が程度以上大きい時は開放波が発生され実質的な加
工は全然なされない。その間隔があまり近すぎると短絡
波が発生されこれもまた加工がなされない。また、誘電
体がすごく混濁されているとか其他の理由によって局所
的な電気抵抗が余他部位より小さくてスポットに集中的
に放電が起こることがあるがこれをアークという。一般
的に正常波乃至は半正常波だけ発生できるように放電加
工機を設計製作しているが現実的には数パーセント乃至
数拾パーセント無効及び有害波が発生される。
においては、電流波形を利用して、波形分類及びこれを
利用したアーク又は短絡に因る副作用防止方法を説明す
る。（電圧波形図説明は同一である。）先ず、放電波形
の発生に対して、放電に依る加工とは誘電体（主に軽油
等hydrocarbon 類使用）を中間において適当な距離を離
した被加工体と電極との間に一定なパルス電圧を印加す
ると適当な条件に依り花火放電（スパーク）が発生す
る。このエナージにより被加工体の一部が鎔融蒸発した
り一部分は周囲誘電体の爆発的蒸発応力に依り飛散され
たりする。結果的には被加工体に若干の放電痕（クレー
ター）が生じこれらの平均累積に依って加工がなされ
る。この時、電圧或いは電流の波形をサンプリングする
ことができる。しかし、条件によっては毎度必ず花火放
電だけ起こるという保障が無い。例を挙げると、極間の
間隔が程度以上大きい時は開放波が発生され実質的な加
工は全然なされない。その間隔があまり近すぎると短絡
波が発生されこれもまた加工がなされない。また、誘電
体がすごく混濁されているとか其他の理由によって局所
的な電気抵抗が余他部位より小さくてスポットに集中的
に放電が起こることがあるがこれをアークという。一般
的に正常波乃至は半正常波だけ発生できるように放電加
工機を設計製作しているが現実的には数パーセント乃至
数拾パーセント無効及び有害波が発生される。
【０００８】次に放電波形分類の目的に対して、分類の
主目的は放電加工状態を監視して良好状態と不良状態と
を区分することである。さらにこの情報を自己制御用に
使用することもできる。本発明においてはこの情報をア
ーク或いは短絡発生時に当該周期の電力供給を遮断して
被加工物と放電機を同時に保護するようにする。
主目的は放電加工状態を監視して良好状態と不良状態と
を区分することである。さらにこの情報を自己制御用に
使用することもできる。本発明においてはこの情報をア
ーク或いは短絡発生時に当該周期の電力供給を遮断して
被加工物と放電機を同時に保護するようにする。
【０００９】次に概略的分類方法に対して、予め定めら
れた期間内に放電波形を受信して適当な電圧範囲に調整
した可変電圧と予め構成された回路に依って予め設定さ
れた大きさの設定電圧（Reference)とを比較する。本発
明においては設定電圧をハイレベルとローレベルに設定
する。電位設定範囲は上位である場合電流波最高値の９
５乃至９９パーセントであり、下位の場合は２５乃至９
０パーセントである。
れた期間内に放電波形を受信して適当な電圧範囲に調整
した可変電圧と予め構成された回路に依って予め設定さ
れた大きさの設定電圧（Reference)とを比較する。本発
明においては設定電圧をハイレベルとローレベルに設定
する。電位設定範囲は上位である場合電流波最高値の９
５乃至９９パーセントであり、下位の場合は２５乃至９
０パーセントである。
【００１０】次にサンプリング時期の決定に対して、放
電波形は種類に関係無しに回路開き（オンタイム）と回
路閉じ（オフタイム）でサイクルが構成されて反復する
波形である。本発明において回路開きの開始時期にだけ
上記の可変電圧をサンプリングする（図２参照）。また
サンプリングのための監視パルス（モニタリング パル
ス）を電算機自体のタイマ（メインクロック）を利用し
て放電用オン−オフ信号と同時に発生させるので、オン
−オフ信号の長さが無作為（ランダム）に変化して全然
差跌無しにオン時期（オンタイム）に対して常に同じ位
置に発生されるようにする。
電波形は種類に関係無しに回路開き（オンタイム）と回
路閉じ（オフタイム）でサイクルが構成されて反復する
波形である。本発明において回路開きの開始時期にだけ
上記の可変電圧をサンプリングする（図２参照）。また
サンプリングのための監視パルス（モニタリング パル
ス）を電算機自体のタイマ（メインクロック）を利用し
て放電用オン−オフ信号と同時に発生させるので、オン
−オフ信号の長さが無作為（ランダム）に変化して全然
差跌無しにオン時期（オンタイム）に対して常に同じ位
置に発生されるようにする。
【００１１】次に論理図（ロジック チャート）に対し
て、本論理図は論理構造に依って放電波形からアーク波
を検出し、一旦アーク波が検出されると如何なる論理構
造に依って即時に放電電力を遮断するかという本発明の
要締を説明するものである。放電電力遮断方法には２種
が提示される。即ち、遮断期間不変のものと、可変のも
のとを別々に説明する。
て、本論理図は論理構造に依って放電波形からアーク波
を検出し、一旦アーク波が検出されると如何なる論理構
造に依って即時に放電電力を遮断するかという本発明の
要締を説明するものである。放電電力遮断方法には２種
が提示される。即ち、遮断期間不変のものと、可変のも
のとを別々に説明する。
【００１２】図３及び図４に表示されたＷは放電電流波
形（Variable, 以下入力信号と称する）を表示し、Ｈは
予め設定された基準高電位であって入力信号最大値の９
５パーセント乃至９９パーセントを、Ｌは同じく低準位
を表示したもので入力信号最大値の２５パーセント乃至
９５パーセントに設定する。電流波形は説明の便宜上５
種の代表的波形だけを表示する。本発明と直接的関連の
無い部分は省略した。
形（Variable, 以下入力信号と称する）を表示し、Ｈは
予め設定された基準高電位であって入力信号最大値の９
５パーセント乃至９９パーセントを、Ｌは同じく低準位
を表示したもので入力信号最大値の２５パーセント乃至
９５パーセントに設定する。電流波形は説明の便宜上５
種の代表的波形だけを表示する。本発明と直接的関連の
無い部分は省略した。
【００１３】図の左側から正常波形、開放波形、アーク
波形、短絡波形、半正常波形である。図において点線に
なっている部分が元来の入力信号波形であり、実線部分
は本発明に依って電力が遮断されたから改造された部分
を表示する。即ち、アークと短絡が発生する時は本発明
に依って実線のように改造され結果的にアークと短絡が
遮断されると見ることができる。
波形、短絡波形、半正常波形である。図において点線に
なっている部分が元来の入力信号波形であり、実線部分
は本発明に依って電力が遮断されたから改造された部分
を表示する。即ち、アークと短絡が発生する時は本発明
に依って実線のように改造され結果的にアークと短絡が
遮断されると見ることができる。
【００１４】電圧波形は電流波形と形態が反対であるこ
とに留意しなければならない。正常波形と半正常波形が
殆ど類似していることに留意しなければならない。この
波形において実質的な加工行為（Machining)がなされる
部位は単に正常波形と半正常波形及びアークの一部だけ
であるという点も留意すべき必要がある。ここで不変遮
断である場合は、図の信号２は入力信号が低準位より大
きい場合の論理信号を表わす。１４は放電（ＥＤＭ）ク
ロックの信号を表わすが、放電機の運転状態に依ってオ
ン−オフの大きさが自由自在に変わる場合がある。
とに留意しなければならない。正常波形と半正常波形が
殆ど類似していることに留意しなければならない。この
波形において実質的な加工行為（Machining)がなされる
部位は単に正常波形と半正常波形及びアークの一部だけ
であるという点も留意すべき必要がある。ここで不変遮
断である場合は、図の信号２は入力信号が低準位より大
きい場合の論理信号を表わす。１４は放電（ＥＤＭ）ク
ロックの信号を表わすが、放電機の運転状態に依ってオ
ン−オフの大きさが自由自在に変わる場合がある。
【００１５】６はサンプリング回路で連続発生するサン
プリングパルスを表わしており常に上記の１４の初期に
位置する。（主にタイミング IC8254 を利用する場合が
多い。）９は２と６のアンド論理信号を表わすものであ
ってアーク発生を立証する信号である。
プリングパルスを表わしており常に上記の１４の初期に
位置する。（主にタイミング IC8254 を利用する場合が
多い。）９は２と６のアンド論理信号を表わすものであ
ってアーク発生を立証する信号である。
【００１６】１７は上記信号２を、６をクロックとする
Ｄ−フリップフロップのＤに入力させた反転出力
Ｄ−フリップフロップのＤに入力させた反転出力
【００１７】
【外１】
【００１８】である。１５は１４と１７のアンド論理信
号であってアーク時にはオンタイムの全部分が低準位に
なることを表わしている。即ち、信号１５を使用して放
電電力を制御するとアーク時には放電電力が自動に中断
されることを知ることができる。遮断可能である場合は
図の信号２は入力信号が低準位より大きい場合の論理信
号を表わす。
号であってアーク時にはオンタイムの全部分が低準位に
なることを表わしている。即ち、信号１５を使用して放
電電力を制御するとアーク時には放電電力が自動に中断
されることを知ることができる。遮断可能である場合は
図の信号２は入力信号が低準位より大きい場合の論理信
号を表わす。
【００１９】１４は放電（ＥＤＭ）クロックの信号を表
わすが、放電機の運転状態に従ってオン−オフの大きさ
が自由自在に変わる場合がある。６はサンプリング回路
から連続に発生するサンプリングを表わしており常に上
記１４の初期に位置する。（主にタイミング IC8254を
利用する場合が多い。）９は２と６のアンド論理信号を
表わすものであってアーク発生を立証する信号である。
わすが、放電機の運転状態に従ってオン−オフの大きさ
が自由自在に変わる場合がある。６はサンプリング回路
から連続に発生するサンプリングを表わしており常に上
記１４の初期に位置する。（主にタイミング IC8254を
利用する場合が多い。）９は２と６のアンド論理信号を
表わすものであってアーク発生を立証する信号である。
【００２０】２３は電子計算機の主時計（メイン クロ
ック）を表わす。１７は信号２３をクロックとする下り
順序計数器（ダウンカウンタ、例をあげるとIC8254）の
ゲートに信号９を接続させて出力される信号を表わす。
ダウンカウンタの大きさは電算機のプログラムで設定す
る。１５は１４と１７のアンド論理信号であってアーク
時にはオンタイムの全部分が低準位になることを表わし
ている。即ち、信号１５を使用して放電電力を制御する
とアーク時には放電電力が自動に中断されることを知る
ことができる。
ック）を表わす。１７は信号２３をクロックとする下り
順序計数器（ダウンカウンタ、例をあげるとIC8254）の
ゲートに信号９を接続させて出力される信号を表わす。
ダウンカウンタの大きさは電算機のプログラムで設定す
る。１５は１４と１７のアンド論理信号であってアーク
時にはオンタイムの全部分が低準位になることを表わし
ている。即ち、信号１５を使用して放電電力を制御する
とアーク時には放電電力が自動に中断されることを知る
ことができる。
【００２１】ここで特徴的なものは上記に言及したよう
に、信号６を利用して毎周期オン開始初に入力信号をサ
ンプリングするという点と信号１５が正確にアーク発生
時にオフされるという点である。以下、本発明の実施例
を説明すれば次のようである。
に、信号６を利用して毎周期オン開始初に入力信号をサ
ンプリングするという点と信号１５が正確にアーク発生
時にオフされるという点である。以下、本発明の実施例
を説明すれば次のようである。
【００２２】
【実施例】１周期が５０マイクロ秒でありオン時間が３
０マイクロ秒である矩形波に依って駆動される放電加工
機の放電電流信号を波形分析機能を持つ装置に伝達させ
てアーク波形と１対１に対応する特徴的な監視（モニタ
リング）信号を得た。この際、果たして放電電流波形が
出力無い（オフ状態）であるかを確認する為に上記２信
号を同時にオッシロスコープに記録した。図５が結果を
表わしている。図５で見るように、明白に監視信号があ
る周期には放電電流の一部が供給されないことを知り得
る。遮断期間が一定でない理由は誘電体に依る遅延（ブ
レークダウンディレー）のためである。
０マイクロ秒である矩形波に依って駆動される放電加工
機の放電電流信号を波形分析機能を持つ装置に伝達させ
てアーク波形と１対１に対応する特徴的な監視（モニタ
リング）信号を得た。この際、果たして放電電流波形が
出力無い（オフ状態）であるかを確認する為に上記２信
号を同時にオッシロスコープに記録した。図５が結果を
表わしている。図５で見るように、明白に監視信号があ
る周期には放電電流の一部が供給されないことを知り得
る。遮断期間が一定でない理由は誘電体に依る遅延（ブ
レークダウンディレー）のためである。
【００２３】このようになっている本発明の効果は図６
のように連続してアークが発生する悪条件においても放
電加工が無難に遂行された。上記の信号１５を放電電力
調整用半導体のゲートに入力させる場合、所期の目的を
達成できることを知り得る。即ち、放電波形分析装置に
依って送出されるアーク或いは短絡信号を上記の説明の
ような論理回路に依って放電（ＥＤＭ）クロックを信号
１５と共にアンド論理結合することによって修正すれば
アーク或いは短絡が発生した場合には常に当該周期は放
電不可能になる。
のように連続してアークが発生する悪条件においても放
電加工が無難に遂行された。上記の信号１５を放電電力
調整用半導体のゲートに入力させる場合、所期の目的を
達成できることを知り得る。即ち、放電波形分析装置に
依って送出されるアーク或いは短絡信号を上記の説明の
ような論理回路に依って放電（ＥＤＭ）クロックを信号
１５と共にアンド論理結合することによって修正すれば
アーク或いは短絡が発生した場合には常に当該周期は放
電不可能になる。
【００２４】
【発明の効果】結論はアークや短絡に依る損傷の発生し
ない放電加工機を作ることができる。従って、次のよう
な長点を具備する放電加工機を作ることができる。即
ち、アークに依る損傷が無くて、オフ時間を極度に減ら
して加工能率を高めることができるものである。
ない放電加工機を作ることができる。従って、次のよう
な長点を具備する放電加工機を作ることができる。即
ち、アークに依る損傷が無くて、オフ時間を極度に減ら
して加工能率を高めることができるものである。
【図１】概略的な放電波形を図示したもので、図の上半
部は放電電流波形を表わし、下半部は放電用（ＥＤＭ）
クロックのパルスを表わす。
部は放電電流波形を表わし、下半部は放電用（ＥＤＭ）
クロックのパルスを表わす。
【図２】サンプリングパルスの放電用（ＥＤＭ）クロッ
クに対する時間的位置を図示したもので、常にオン期間
の開始初めに位置する。図面の上半部は放電用（ＥＤ
Ｍ）クロックを表わし、下半部は監視パルスを表わす。
クに対する時間的位置を図示したもので、常にオン期間
の開始初めに位置する。図面の上半部は放電用（ＥＤ
Ｍ）クロックを表わし、下半部は監視パルスを表わす。
【図３】本発明の原理を説明する論理表を図示してい
る。
る。
【図４】本発明の原理を説明する論理表を図示してい
る。
る。
【図５】一実施例の結果を図示したもので、図面の上半
部は放電電流を表わし、下半部は監視パルスによるアー
ク発生信号を表わす。
部は放電電流を表わし、下半部は監視パルスによるアー
ク発生信号を表わす。
【図６】本発明の効果中一部を図示したもので、図面の
上半部は放電電流を表わし、下半部は放電用（ＥＤＭ）
クロックを図示する。
上半部は放電電流を表わし、下半部は放電用（ＥＤＭ）
クロックを図示する。
２ 論理信号 ６ サンプリングパルス ９ ２と６のアンド論理信号 １４ 放電（ＥＤＭ クロック）の信号 １５ １４と１７のアンド論理信号 １７ 反転出力 ２３ 電子計算機の主時計（メイン クロック）
Claims (2)
- 【請求項１】 パルス形放電加工時には発生電圧或いは
電流波形を、オンタイム初期に発生するサンプリングパ
ルスのハイレベル時に、同電流波最高値の２５乃至９５
パーセントに設定された設定電位と比較して設定値以上
の信号でアーク１対１に対応する信号を得た後、上記サ
ンプリングパルスをクロックとして、反転フリップフロ
ップさせ、放電（ＥＤＭ）クロックとアンド論理結合し
た信号を放電電流制御半導体のゲート信号として使用す
ることによって、アーク電流の流れを防止する論理回路
で構成したことを特徴とする放電加工波形分類によるア
ーク防止方法。 - 【請求項２】 パルス形放電加工時には発生電圧或いは
電流波形を、オンタイム初期に発生するサンプリングパ
ルスのハイレベル時に、同電流波最高値の２５乃至９５
パーセントに設定された設定準位と比較して設定値以上
の信号でアーク１対１に対応する信号を得た後、同信号
で予め設定されたダウンカウンタのゲートをトリガーし
て、同計数器の出力と放電クロックとアンド論理結合し
た信号を、放電電流制御半導体のゲート信号を使用する
ことによって、アーク又は短絡電流の流れを防止する論
理回路で構成したことを特徴とする放電加工波形の分類
によるアーク防止方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5144865A JP2654334B2 (ja) | 1993-06-16 | 1993-06-16 | 放電加工波形の分類によるアーク防止方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5144865A JP2654334B2 (ja) | 1993-06-16 | 1993-06-16 | 放電加工波形の分類によるアーク防止方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH071234A true JPH071234A (ja) | 1995-01-06 |
| JP2654334B2 JP2654334B2 (ja) | 1997-09-17 |
Family
ID=15372198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5144865A Expired - Fee Related JP2654334B2 (ja) | 1993-06-16 | 1993-06-16 | 放電加工波形の分類によるアーク防止方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2654334B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999050017A1 (fr) * | 1998-03-27 | 1999-10-07 | Sodick Co., Ltd. | Alimentation pour usinage par decharges electriques munie d'un circuit de protection pour element de commutation |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61159326A (ja) * | 1984-10-16 | 1986-07-19 | シヤルミ−ユ テクノロジ− ソシエテ アノニム | 放電加工に於ける低レベル放電を検出して制御する方法と装置 |
-
1993
- 1993-06-16 JP JP5144865A patent/JP2654334B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61159326A (ja) * | 1984-10-16 | 1986-07-19 | シヤルミ−ユ テクノロジ− ソシエテ アノニム | 放電加工に於ける低レベル放電を検出して制御する方法と装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999050017A1 (fr) * | 1998-03-27 | 1999-10-07 | Sodick Co., Ltd. | Alimentation pour usinage par decharges electriques munie d'un circuit de protection pour element de commutation |
| US6429396B1 (en) | 1998-03-27 | 2002-08-06 | Sodick Co., Ltd. | Electric discharge processing power supply having a protection network for the switching element |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2654334B2 (ja) | 1997-09-17 |
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