JPH07111409B2 - Simple check jig for analyzer for ion activity measurement - Google Patents

Simple check jig for analyzer for ion activity measurement

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JPH07111409B2
JPH07111409B2 JP14920388A JP14920388A JPH07111409B2 JP H07111409 B2 JPH07111409 B2 JP H07111409B2 JP 14920388 A JP14920388 A JP 14920388A JP 14920388 A JP14920388 A JP 14920388A JP H07111409 B2 JPH07111409 B2 JP H07111409B2
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JP
Japan
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ion
electrodes
pair
potential difference
ion activity
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JP14920388A
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Japanese (ja)
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JPH01314959A (en
Inventor
暢彦 天野
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Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はスライド型イオン活量測定器具を用いて水性液
体試料、例えば酒類、飲用物、水道水、特に生物体液
(血液、尿、唾液等)中の特定のイオンの活量(または
濃度)をポテンシオメトリーで定量分析するアナライザ
ーの機能を検査する治具に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of application) The present invention uses a slide-type ion activity measuring instrument to sample aqueous liquids such as alcoholic beverages, drinks, tap water, especially biological fluids (blood, urine, saliva, etc.). ) Is related to a jig for inspecting the function of an analyzer for quantitatively analyzing the activity (or concentration) of a specific ion in () by potentiometry.

(従来の技術) 液体試料を点着して、その中に含まれる特定イオンのイ
オン活量を測定することができるスライド型のイオン活
量測定器具が特公昭58−4981号、特開昭58−156848号、
特開昭58−211648号等に開示されている。
(Prior Art) A slide type ion activity measuring instrument capable of spotting a liquid sample and measuring the ion activity of a specific ion contained therein is disclosed in JP-B-58-4981. -156848,
It is disclosed in JP-A-58-211648 and the like.

このスライド型イオン活量測定器具(以下、「スライ
ド」ということもある)は、特定イオンのイオン活量に
対応する電位を発生するイオン選択電極からなる少なく
とも1対のイオン選択電極対と、このイオン選択電極対
の両電極間を連絡するように配された多孔性ブリッジと
を有するもので、特定イオンのイオン活量が既知である
参照液および該イオンのイオン活量が未知である試料液
を前記イオン選択電極対の一方および他方の電極にそれ
ぞれ点着供給し、前記多孔性ブリッジの作用により両液
の界面を接触(液路)させて電気的導通を成立させると
両電極間には前記参照液と試料液との間に存在する前記
イオンのイオン活量の差に対応して電位差が生じるた
め、この電位差を測定すれば予め求めておいた検量線
(原理はネルンストの式による)に基づいて前記試料液
中の特定のイオンのイオン活量が求まるようになってい
る。
This slide-type ion activity measuring instrument (hereinafter, also referred to as “slide”) includes at least one pair of ion-selective electrodes composed of ion-selective electrodes that generate an electric potential corresponding to the ion activity of a specific ion. A reference liquid having a known ion activity of a specific ion and a sample solution having an unknown ion activity of the specific ion, which has a porous bridge arranged so as to connect between both electrodes of the ion selective electrode pair. Is applied to one and the other electrode of the ion selective electrode pair respectively, and when the interface of both liquids is brought into contact (liquid path) by the action of the porous bridge to establish electrical conduction, Since a potential difference occurs corresponding to the difference in the ion activity of the ions existing between the reference liquid and the sample liquid, a calibration curve obtained in advance by measuring this potential difference (the principle is the Nernst equation Ion activity of a specific ion in the sample solution based on a due) is adapted to determined.

このようなスライド型イオン活量測定器具を用いてイオ
ン活量を測定するには、参照液および試料液の点着供給
と、電位差の測定とを行なう機能を備えたアナライザー
を使用することが好ましい。このようなアナライザーは
例えば米国特許第4,257,862号および特願昭59−12794号
(特開昭60−155961号公報)等に記載されている。この
種の従来のアナライザーは、参照液および試料液の点着
後、スライド型イオン活量測定器具を電位差測定部へ送
り、そこで電位測定用プローブを前記電極対の両電極に
それぞれ接触させて、該電極間の電位差を測定するよう
な構成になっている。
In order to measure the ionic activity using such a slide-type ionic activity measuring instrument, it is preferable to use an analyzer having the functions of spotting and supplying the reference liquid and the sample liquid and measuring the potential difference. . Such analyzers are described, for example, in U.S. Pat. No. 4,257,862 and Japanese Patent Application No. 59-12794 (JP-A-60-155961). This type of conventional analyzer, after spotting the reference solution and the sample solution, sends a slide-type ion activity measuring instrument to the potential difference measuring section, where the potential measuring probe is brought into contact with both electrodes of the electrode pair, respectively. The configuration is such that the potential difference between the electrodes is measured.

ところで、上記のような構成のアナライザーを製造、使
用するにあたっては、アナライザーが正常に作動する状
態になているか否かを検査することが必要となる。すな
わち、例えば製造者は出荷検査等を行なう必要がある
し、一方サービスマンやユーザーは、保守管理や測定値
確認のために上記検査を適宜行なう必要がある。
By the way, in manufacturing and using the analyzer having the above-mentioned configuration, it is necessary to inspect whether or not the analyzer is in a normally operating state. That is, for example, the manufacturer needs to perform a shipping inspection and the like, while the service person and the user need to appropriately perform the above inspection for maintenance management and confirmation of measured values.

このような検査を簡単に行なうことができるように、本
出願人に簡易チェック治具が開発されている(特願昭62
−94551号、特開昭63−228056号公報)。
A simple check jig has been developed by the present applicant so that such an inspection can be performed easily (Japanese Patent Application No. Sho 62-62).
-94551, JP-A-63-228056).

(発明が解決しようとする課題) 上記簡易チェック治具は、スライドとほぼ同じ外形寸法
を有しており、電位差測定と同じ操作を行なったとき
に、両電位測定用プローブを短絡させ又は電気抵抗を介
して両プローブを接続させるように構成されていた。こ
の簡易チェック治具を用いてアナライザーの検査を行な
うことにより、アナライザーの接触不良、断線等の有無
が確認される。
(Problems to be Solved by the Invention) The simple check jig has substantially the same outer dimensions as the slide, and when the same operation as the potential difference measurement is performed, the both potential measurement probes are short-circuited or the electrical resistance is reduced. It was configured to connect both probes via. By checking the analyzer using this simple check jig, it is possible to confirm the presence or absence of contact failure or disconnection of the analyzer.

しかし、上記簡易チェック治具は、接触不良や断線等が
生じていたときにこれらの不良を発見することはできる
が、電位差測定を行なってイオン活量を測定したとき
に、アナライザーでそのイオン活量が正確に測定され、
該アナライザーから正確な測定値が出力されるか否か
は、上記簡易チェック治具で検査することはできず、た
とえばあらかじめイオン活量の既知の溶液を準備してお
いてスライドを用いてイオン活量を測定し、その測定値
が正確か否かを検査しなければならず、したがって、上
記簡易チェック治具は極めて限られた簡易的な検査を行
なうためにしか用いることができないという問題点があ
った。
However, the above-mentioned simple check jig can detect these defects when contact failure, disconnection, etc. occur, but when measuring the ion activity by measuring the potential difference, the ion activity is measured by an analyzer. The amount is accurately measured,
Whether or not an accurate measured value is output from the analyzer cannot be inspected by the above-mentioned simple check jig, and for example, a solution having a known ion activity is prepared in advance and the ion activity is determined by using a slide. It is necessary to measure the quantity and inspect whether or not the measured value is accurate. Therefore, there is a problem that the above-mentioned simple check jig can be used only for performing extremely limited simple inspection. there were.

本発明は上記問題点に鑑み、イオン活量が既知の溶液等
を準備しておかなくても、上記接触不良や断線等のみで
はなく、イオン活量を測定したときに正確な測定値が出
力されるか否かも簡単に検査することのできる、イオン
活量測定用アナライザーの簡易チェック治具を提供する
ことを目的とするものである。
In view of the above problems, the present invention does not only prepare a solution or the like having a known ionic activity, but not only the contact failure or disconnection, but an accurate measured value is output when the ionic activity is measured. It is an object of the present invention to provide a simple check jig for an analyzer for measuring ion activity, which can be easily inspected whether or not it is performed.

(課題を解決するための手段) 本発明のイオン活量測定用アナライザーの簡易チェック
治具のひとつは、特定イオンのイオン活量に対応する電
位を発生する少なくとも1対のイオン選択電極対と、こ
のイオン選択電極対の両電極間を連絡するように配され
た多孔性ブリッジとを有するイオン活量測定器具を用
い、所定位置に配置されたイオン活量測定器具のイオン
選択電極対の両電極にそれぞれ電位差測定用プローブを
接触させて該電極間の電位差を測定することによりイオ
ン活量を測定するアナライザーの機能を検査する簡易チ
ェック治具であって、 前記イオン活量測定器具に代えて前記所定位置に配置し
得る外形寸法を有する支持体と、 この支持体に取り付けられ、アナライザーのプローブが
接触する位置に配された対をなす電気良導体と、 この支持体に取り付けられ、試料液および参照液が浸透
した上記多孔性ブリッジによって導通したときの上記両
電極間に生ずる電位差と略等しい電位差を上記対をなす
電気良導体間に生じさせる電源とからなることを特徴と
するものである。
(Means for Solving the Problems) One of the simple check jigs of the analyzer for measuring ion activity of the present invention is at least one pair of ion-selective electrodes that generate an electric potential corresponding to the ion activity of a specific ion. Using an ion activity measuring instrument having a porous bridge arranged so as to connect between both electrodes of this ion selective electrode pair, both electrodes of the ion selective electrode pair of the ion activity measuring instrument arranged at a predetermined position Is a simple check jig for inspecting the function of the analyzer for measuring the ion activity by measuring the potential difference between the electrodes by contacting each of the potential difference measurement probes, in place of the ion activity measuring instrument A support having an external dimension that can be placed at a predetermined position, and a pair of electrical conductors attached to the support and arranged at a position where the probe of the analyzer comes into contact. And a power supply which is attached to this support, and which causes a potential difference between the good electrical conductors of the pair to be approximately equal to the potential difference generated between the electrodes when the sample liquid and the reference liquid are conducted by the porous bridge. It is characterized by consisting of.

また、本発明の他の簡易チェック治具は、上記簡易チェ
ック治具が、上記両電極間に生じる電位差と略等しい電
位差を上記1対の電気良導体間に生じさせる電源を備え
ているものであるのに代え、上記両電極間に生じる電位
差および出力インンピーダンスと略等しい電位差および
出力インピーダンスを上記1対の電気良導体間に生じさ
せる電源を備えていることを特徴とするものである。
Further, another simple check jig of the present invention is provided with a power source for causing a potential difference, which is substantially equal to a potential difference generated between the electrodes, between the pair of good electrical conductors. Instead of the above, it is characterized by comprising a power source for causing a potential difference and an output impedance substantially equal to the potential difference and the output impedance generated between the both electrodes, between the pair of good electrical conductors.

(作用) 上記のような外形寸法の支持対は、スライドに代えてア
ナライザーの電位差測定部にセットされうる。本発明の
簡易チェック治具を用いる際、上記の状態で電位差測定
の際と同様にプローブを移動させ治具の電気良導体に接
触させて、プローブ間にイオン活量測定時の電位差と略
等しい電位差を生じさせることにより、アナライザーの
接触不良や断線等の故障を発見できるとともに、アナラ
イザーで正確に測定され、かつ正確に出力されるか否か
も検査することができる。
(Operation) The support pair having the above-described external dimensions can be set in the potential difference measuring unit of the analyzer instead of the slide. When the simple check jig of the present invention is used, the probe is moved in the above state in the same manner as in the case of measuring the potential difference and brought into contact with an electric conductor of the jig, and the potential difference between the probes is substantially equal to the potential difference during the ion activity measurement. It is possible to detect a failure of the analyzer such as a contact failure or a disconnection, and also to check whether or not the analyzer accurately measures and outputs accurately.

また電位差のみでなく、出力インピーダンスもイオン活
量測定時と略同一な簡易チェック治具を構成することに
より、より正確にイオン活量測定の状態を模擬すること
ができ、より正確な検査を行なうことができる。
In addition, not only the potential difference but also the output impedance can be simulated more accurately by constructing a simple check jig that has almost the same output impedance as when measuring the ion activity, and more accurate inspection can be performed. be able to.

また上記簡易チェック治具を、たとえばイオン活量の高
濃度,中濃度,低濃度時の電位差をそれぞれ模擬した複
数個用意しておくことにより、アナライザーの測定系の
直接性等のチェックも可能となる。
It is also possible to check the directness of the analyzer measurement system by preparing a plurality of the above-mentioned simple check jigs that simulate the potential difference at high, medium and low ion activity, respectively. Become.

(実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.

まず初めに、本発明の簡易チェック治具が適用されるア
ナライザー、およびそれに用いられるスライド形イオン
活量測定器具について説明する。
First, an analyzer to which the simple check jig of the present invention is applied, and a slide type ion activity measuring instrument used for the analyzer will be described.

第1図は上記アナライザーの一例を示すものであり、ま
た第2、3および4図はその要部を示すものである。第
1図に示されるようにアナライザー10の外面はカバ−11
で覆われており、このカバー11には、スライド型イオン
活量測定器具(スライド)20をセットしてそこに参照
液、試料液を点着するための開口12と、電位差測定済み
のスライド20を排出するための排出口13とが設けられて
いる。またこのアナライザー10には、スタートボタン1
4、イオン活量表示部15、イオン活量記録部16等が設け
られている。
FIG. 1 shows an example of the above analyzer, and FIGS. 2, 3 and 4 show the essential parts thereof. As shown in FIG. 1, the outer surface of the analyzer 10 is a cover 11
The slide type ion activity measuring instrument (slide) 20 is set on the cover 11 and the opening 12 for spotting the reference solution and the sample solution and the slide 20 on which the potential difference measurement has been completed. And a discharge port 13 for discharging the. In addition, this analyzer 10 has a start button 1
4, an ion activity display unit 15, an ion activity recording unit 16 and the like are provided.

第2、3および4図に示す機構は、上記開口12が設けら
れた部分の下側に配設されたものであり、平らな器具載
置台30と、この器具載置台30の両端に固定された1対の
側板31,31と、器具載置台30と平行に配されて側板31,31
を連結する6本のロッド32,32,33,33,34,34とを有して
いる。上記器具載置台30の中央部には液点着部30Aが設
けられ、またこの液点着部30Aをはさんで電位差側定部3
0Bと器具排出部30Cとが設けられている。この器具載置
台30は、上記液点着部30Aが前記開口12の真下に位置す
るようにして、カバー11内に配置されている。また上記
電位差測定部30Bにおいて器具載置台30には貫通孔35が
設けられ、この貫通孔35内には上下動可能な加熱板36が
組み込まれている。そして器具載置台30の表面と所定間
隔をおいて上記加熱板36と対向する位置には、スライド
押え板37が配設されている。一方器具排出部30Cにおい
て器具載置台30には、スライド排出孔38が設けられてい
る。このスライド排出孔38は前述のスライド20よりも大
きく形成され、傾斜した通路39および側板31の開口40を
介して、前記カバー11の排出口13と連結している。
The mechanism shown in FIGS. 2, 3 and 4 is arranged below the portion where the opening 12 is provided, and is fixed to a flat instrument mounting table 30 and both ends of the instrument mounting table 30. The pair of side plates 31, 31 and the side plates 31, 31 are arranged in parallel with the instrument mounting table 30.
And six rods 32, 32, 33, 33, 34, 34 connecting the two. A liquid spotting portion 30A is provided in the center of the above-described equipment mounting table 30, and the potential difference side constant portion 3 is sandwiched across the liquid spotting portion 30A.
0B and a device discharging section 30C are provided. The device mounting table 30 is arranged in the cover 11 such that the liquid spotting section 30A is located directly below the opening 12. Further, in the potential difference measuring unit 30B, a through hole 35 is provided in the instrument mounting table 30, and a vertically movable heating plate 36 is incorporated in the through hole 35. A slide retainer plate 37 is provided at a position facing the heating plate 36 with a predetermined distance from the surface of the instrument mounting table 30. On the other hand, in the device discharging section 30C, the device mounting table 30 is provided with a slide discharging hole 38. The slide discharge hole 38 is formed larger than the slide 20 described above, and is connected to the discharge port 13 of the cover 11 through the inclined passage 39 and the opening 40 of the side plate 31.

器具載置台30の上には、スライドセット孔(貫通孔)41
を有する器具ホルダー42が配されている。この器具ホル
ダー42の両端部は前記1対のロッド32,32に摺動自在に
嵌装されており、したがって該器具ホルダー42は器具載
置台30上を矢印A、B方向に(すなわち液点着部30A、
電位差側定部30B、器具排出部30Cに順次移行できるよう
に)移動可能となっている。なお前記スライド押え板37
は、この器具ホルダー42が加熱板36の上まで移動できる
ように、該器具ホルダー42の厚さ以上器具載置台30の表
面から離して配置されている。一方器具載置台30の下に
は、ホルダー移動台43が配設されている。このホルダー
移動台43の両端部は前記1対のロッド33,33に摺動自在
に嵌装されており、したがってこのホルダー移動台43も
上記矢印A、B方向に移動可能となっている。このホル
ダー移動台43の下部には雌ネジ44(第4図参照)が取り
付けられていおり、この雌ネジ44は、上記ロッド33と平
行に配された駆動ネジ(雌ネジ)45に螺合されている。
この駆動ネジ45は、側板32に固定されたモータ46によ
り、歯車47,48を介して正逆回転されるようになってお
り、このように駆動ネジ45が回転されることによりホル
ダー移動台43は矢印A、B方向に移動する。ホルダー移
動台43の両端部にはそれぞれ、上方に突出した連結部材
49が設けられており、これらの連結部材49の後面(すな
わちホルダー移動台43が液点着部30A近傍にあるとき器
具排出部30C側を向く面)には磁石50が固定されてい
る。一方器具ホルダー42の両端部には下方に突出した連
結部材51が設けられており、この連結部材51には、上記
磁石50に対向する磁石52が固定されている。これら両磁
石50,52は、互いに吸着し合うように極性の向きが設定
されている。したがって前述のように駆動ネジ45が回転
されてホルダー移動台43が矢印A方向に移動するとき、
両磁石50,52が吸着し合った状態にされていれば、器具
ホルダー42はこのホルダー移動台43に牽引されて矢印A
方向に移動する。一方ホルダー移動台43が矢印B方向に
移動された場合、器具ホルダー42はホルダー移動台43に
押されて同様に矢印B方向に移動する。なおホルダー移
動台43の中央部には、プローブ移動手段としてのカム部
材53が設けられている。このカム部材53は上方に突出
し、器具排出部30C側が高く電位差測定部30B側が低くな
るように形成されたカム面53aを有している。
A slide set hole (through hole) 41 is provided on the device mounting table 30.
An instrument holder 42 having is arranged. Both ends of the instrument holder 42 are slidably fitted to the pair of rods 32, 32. Therefore, the instrument holder 42 is mounted on the instrument table 30 in the directions of arrows A and B (that is, liquid spotting). Part 30A,
It is movable so that the potential difference side constant section 30B and the instrument discharge section 30C can be sequentially moved. The slide retainer plate 37
Is arranged at a distance greater than the thickness of the instrument holder 42 from the surface of the instrument mounting table 30 so that the instrument holder 42 can be moved to above the heating plate 36. On the other hand, below the instrument mounting table 30, a holder moving table 43 is arranged. Both ends of the holder moving base 43 are slidably fitted on the pair of rods 33, 33, and therefore the holder moving base 43 is also movable in the directions of the arrows A and B. A female screw 44 (see FIG. 4) is attached to the lower part of the holder moving base 43, and the female screw 44 is screwed into a drive screw (female screw) 45 arranged in parallel with the rod 33. ing.
The drive screw 45 is rotated in the forward and reverse directions by the motor 46 fixed to the side plate 32 via the gears 47 and 48. By rotating the drive screw 45 in this manner, the holder moving table 43 Moves in the directions of arrows A and B. At both ends of the holder moving table 43, connecting members protruding upward, respectively.
49 is provided, and the magnet 50 is fixed to the rear surface of these connecting members 49 (that is, the surface facing the tool discharge part 30C side when the holder moving base 43 is near the liquid spotting part 30A). On the other hand, a connecting member 51 protruding downward is provided at both ends of the instrument holder 42, and a magnet 52 facing the magnet 50 is fixed to the connecting member 51. The magnets 50 and 52 have polarities set so as to attract each other. Therefore, when the drive screw 45 is rotated and the holder moving base 43 moves in the direction of arrow A as described above,
If both magnets 50, 52 are in a state of being attracted to each other, the instrument holder 42 is pulled by this holder moving base 43 and is indicated by the arrow A.
Move in the direction. On the other hand, when the holder moving base 43 is moved in the arrow B direction, the instrument holder 42 is pushed by the holder moving base 43 and similarly moves in the arrow B direction. A cam member 53 as a probe moving means is provided at the center of the holder moving table 43. The cam member 53 has a cam surface 53a that projects upward and is formed so that the device discharging portion 30C side is high and the potential difference measuring portion 30B side is low.

次に前記加熱板36周辺の構造について、第5、6図も参
照して説明する。なおこれら第5、6図はそれぞれ、第
3図に示すV−V線、VI−VI線に沿った部分の断面形状
を示すものである。電位差測定部30Bにおいて器具載置
台30の下面には、1対のプローブホルダー保持ロッド6
0,60が固定されている。これらの保持ロッド60,60は前
記加熱板36を間に挟むように配され、そして該保持ロッ
ド60,60には、プローブホルダー61が上下方向に摺動自
在に嵌装されている。なおプローブホルダー61は、各保
持ロッド60,60の下端に取り付けられた座金62,62によっ
て下方から受け止められている。また該プローブホルダ
ー61には、1対の加熱板保持ロッド63,63が上下方向に
摺動自在に挿通されており、これら保持ロッド63,63の
上端に前記加熱板36が固定されている。この加熱板36と
プローブホルダー61との間において保持ロッド63のまわ
りにはスプリング64が縮装されており、このスプリング
64により両者は互いに離間する方向に付勢されている。
なおこのように付勢されたプローブホルダー61は、加熱
板保持ロッド63,63の下端に取り付けられた座金65,65に
受け止められる。保持ロッド60,60および63,63の長さ
は、こうしてプローブホルダー61の下面が座金65,65お
よび上記座金62,62に受け止められた状態において、加
熱板36の上表面が器具載置台30の表面と整合するように
設定されている。またプローブホルダー61には1対のガ
イドロッド66,66の下端が固定されている。これらのガ
イドロッド66,66は加熱板36を間に挟むように配され、
それらの上端部は器具載置台30に設けられた貫通孔30d
から上方に突出可能となっている。そして該器具載置台
30とプローブホルダー61との間において、ガイドロッド
66のまわりにはスプリング67が縮装されている。したが
ってプローブホルダー61が下方から上方側に押される
と、該プローブホルダー61は前記ロッド60,60に沿って
加熱板36とともに上方に弾力的に移動し、このとき加熱
板36が上方から押さえられると、プローブホルダー61は
該加熱板36に対して弾力的に相対移動する。
Next, the structure around the heating plate 36 will be described with reference to FIGS. It should be noted that FIGS. 5 and 6 respectively show sectional shapes of the portions along the lines VV and VI-VI shown in FIG. A pair of probe holder holding rods 6 are provided on the lower surface of the instrument mounting table 30 in the potential difference measuring unit 30B.
0,60 is fixed. These holding rods 60, 60 are arranged so as to sandwich the heating plate 36 therebetween, and a probe holder 61 is fitted on the holding rods 60, 60 so as to be vertically slidable. The probe holder 61 is received from below by washers 62, 62 attached to the lower ends of the holding rods 60, 60. A pair of heating plate holding rods 63, 63 are vertically slidably inserted in the probe holder 61, and the heating plate 36 is fixed to the upper ends of the holding rods 63, 63. A spring 64 is compressed around the holding rod 63 between the heating plate 36 and the probe holder 61.
Both are urged by 64 in a direction in which they are separated from each other.
The probe holder 61 thus biased is received by washers 65, 65 attached to the lower ends of the heating plate holding rods 63, 63. The lengths of the holding rods 60, 60 and 63, 63 are such that, with the lower surface of the probe holder 61 received by the washers 65, 65 and the washers 62, 62, the upper surface of the heating plate 36 of the instrument mounting table 30 is held. It is set to match the surface. Also, the lower ends of a pair of guide rods 66, 66 are fixed to the probe holder 61. These guide rods 66, 66 are arranged so as to sandwich the heating plate 36,
The upper end of them is a through hole 30d provided in the equipment mounting table 30.
It is possible to project from above. And the device mounting table
Guide rod between 30 and probe holder 61
A spring 67 is contracted around 66. Therefore, when the probe holder 61 is pushed upward from below, the probe holder 61 elastically moves upward together with the heating plate 36 along the rods 60, 60, and at this time the heating plate 36 is pressed from above. The probe holder 61 elastically moves relative to the heating plate 36.

また上記プローブホルダー61には一例として3対の電位
差測定用プローブ68a,68b,69a,69b,70a,70bが、上方に
向けて突設されている。プローブ68a,68b,69a,69bおよ
び70a,70bはそれぞれ、加熱板36に設けられた切欠きや
貫通孔を通って上方に突出可能となっている。すなわち
加熱板36とプローブホルダー61とがスプリング64の作用
で最も大きく離間している状態(第4図図示の状態)に
おいては、各プローブ68a〜70bの先端は加熱板36の内部
に位置するが、上述のようにプローブホルダー61が加熱
板36に対して相対移動すると、上記先端は加熱板36の表
面から上方に突出する。またプローブホルダー61の下部
には、前記ホルダー移動台43のカム部材53に対向する位
置において、ローラ71が取り付けられている。そして液
点着部30Aと電位差側定部30Bとの間において器具載置台
30には貫通孔72が設けられ、この貫通孔72の下側にはバ
ーコードセンサ73が取り付けられている。
Further, as an example, three pairs of potential difference measuring probes 68a, 68b, 69a, 69b, 70a, 70b are provided on the probe holder 61 so as to project upward. Each of the probes 68a, 68b, 69a, 69b and 70a, 70b can project upward through a notch or a through hole provided in the heating plate 36. That is, in the state where the heating plate 36 and the probe holder 61 are separated by the action of the spring 64 to the maximum extent (the state shown in FIG. 4), the tips of the probes 68a to 70b are located inside the heating plate 36. When the probe holder 61 moves relative to the heating plate 36 as described above, the tip projects upward from the surface of the heating plate 36. A roller 71 is attached to the lower part of the probe holder 61 at a position facing the cam member 53 of the holder moving table 43. Then, between the liquid spotting section 30A and the potentiometer side constant section 30B, the instrument mounting table is placed.
A through hole 72 is provided in the hole 30, and a bar code sensor 73 is attached to the lower side of the through hole 72.

イオン活量の測定を行なう際、器具ホルダー42は後述す
るようにしてホルダー移動台43と連結した状態となって
おり、そして公知の位置検出センサや駆動制御回路によ
ってモータ46が駆動制御され、該器具ホルダー42は液点
着部30Aに配置される。前述したようにこの状態では器
具ホルダー42がカバー11の開口12の真下に位置するの
で、該開口12を通してスライド20をこの器具ホルダー42
のスライドセット孔41内にセットする。
When measuring the ion activity, the instrument holder 42 is in a state of being connected to the holder moving table 43 as described later, and the motor 46 is drive-controlled by a known position detection sensor or drive control circuit, The instrument holder 42 is arranged on the liquid spotting section 30A. As described above, in this state, the instrument holder 42 is located directly below the opening 12 of the cover 11, so that the slide 20 is inserted into the instrument holder 42 through the opening 12.
Set in the slide set hole 41 of.

このスライド20は前述したように例えば特開昭58−2116
48号等に示される公知のものあるいは特願昭60−148564
号(特開昭62−9264号公報),特願昭60−180358号(特
開昭62−39757号公報特),実開昭60−204699号(実開
昭62−111655号公報)明細書に記載のものであるが、こ
こで第7図を参照して簡単に説明する。スライド20は3
種のイオン選択電極対101(同種イオン選択層を表面に
有し互いに電気的に分離されたイオン選択電極111およ
び112からなる)、102(同じく112および122からな
る)、103(同じく113および123からなる)、両面に接
着剤層を有する水不透性部材層200、綿および再生セル
ロース繊維製連続空隙含有不織布等からなる1対の多孔
性液体分配部材310,320を、プラスチックからなる上部
枠体400と下部枠体500との間に収容してなるものであ
る。
This slide 20 is, for example, as described above, disclosed in Japanese Patent Laid-Open No.
Known items shown in No. 48, etc. or Japanese Patent Application No. 60-148564
(Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-9264), Japanese Patent Application No. 60-180358 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-39757), Japanese Utility Model Laid-Open No. 60-204699 (Japanese Utility Model Laid-Open No. 62-111655) However, it will be briefly described with reference to FIG. Slide 20 is 3
Seed ion-selective electrode pair 101 (consisting of ion-selective electrodes 111 and 112 electrically isolated from each other with a homogeneous ion-selective layer on the surface), 102 (also consisting of 112 and 122), 103 (also 113 and 123). A water-impermeable member layer 200 having an adhesive layer on both sides, a pair of porous liquid distribution members 310, 320 made of cotton and continuous void-containing nonwoven fabric made of regenerated cellulose fiber, and an upper frame body 400 made of plastic. It is housed between the lower frame 500 and the lower frame 500.

上部枠体400には1対の液供給孔410,420とこれら液供給
孔内を横切って延びる凹部450が設けられており、この
凹部内にはポリエチレンテレフタレート繊維紡糸等から
なる多孔性ブリッジ600が収容され、固定される。凹部4
50はブリッジ600が上部枠体400の上面より上に出ること
がないような深さとする。
The upper frame 400 is provided with a pair of liquid supply holes 410, 420 and a recess 450 extending across the liquid supply holes, and a porous bridge 600 made of polyethylene terephthalate fiber spinning or the like is housed in the recess 450. , Fixed. Recess 4
The depth of 50 is set so that the bridge 600 does not protrude above the upper surface of the upper frame 400.

イオン選択電極対101,102,103を挟んで上部枠体400下に
配される水不透性部材層200には液供給孔410,420と整合
する貫通孔(液体下降通路)210,220、イオン選択電極1
11,112,113,121,122,123のイオン選択層領域の一部とそ
れぞれ整合する貫通孔(液体上昇通路)211,212,213,22
1,222,223が設けられている。水不透性部材層200の下に
は貫通孔210,211,212,213と整合するように多孔性液体
分配部材310が配され、、貫通孔220,221,222,223と整合
するように多孔性液体分配部材320が配される。下部枠
体500にはこれら多孔性液体分配部材310,320を収容でき
る形状の凹部(液体水平通路)510,520が形成されてい
る。また、上部枠体400,水不透性部材層200、および下
部枠体500にはそれぞれ1対の貫通孔(空気抜き孔)43
0,440;230,.240;530,540が設けられ、このスライド20全
体を貫通する空気抜き孔を形成している。イオン選択電
極対101,102,103はイオン選択層を下向きにして配され
ており、これらの電極対の端子部は水不透性部材層200
に設けられた1対の切欠部250,260および下部枠体500に
設けられた1対の切欠部550,560からスライド下面に露
出している。
In the water impermeable member layer 200 disposed below the upper frame 400 with the ion selection electrode pairs 101, 102, 103 interposed, through holes (liquid descending passages) 210, 220 aligned with the liquid supply holes 410, 420, and the ion selection electrode 1
Through holes (liquid ascending passages) 211, 212, 213, 22 aligned with part of the ion selective layer regions of 11, 112, 113, 121, 122, 123, respectively.
1,222,223 are provided. Under the water impermeable member layer 200, a porous liquid distribution member 310 is arranged so as to be aligned with the through holes 210, 211, 212, 213, and a porous liquid distribution member 320 is arranged so as to be aligned with the through holes 220, 221, 222, 223. The lower frame 500 has recesses (liquid horizontal passages) 510 and 520 having a shape capable of accommodating the porous liquid distribution members 310 and 320. The upper frame 400, the water impermeable member layer 200, and the lower frame 500 each have a pair of through holes (air vent holes) 43.
0,440; 230, .240; 530,540 are provided to form an air vent hole that penetrates the entire slide 20. The ion-selective electrode pairs 101, 102, 103 are arranged with the ion-selective layer facing downward, and the terminal portions of these electrode pairs have a water-impermeable member layer 200.
The pair of notches 250, 260 provided in the lower frame body 500 and the pair of notches 550, 560 provided in the lower frame 500 are exposed to the lower surface of the slide.

このようなスライド20において、例えばイオン選択電極
対101,102,103をそれぞれCl ,K ,Na 用のイオン選択
層を有するものとし、これらのイオン活量が既知である
参照液を液供給孔410に点着し、これらのイオン活量が
未知である試料液を液供給孔420に点着すれば、参照液
は液体下降通路210を経て多孔性液分配部材310内に浸透
して液体上昇通路211,212,213を通ってイオン選択電極1
11,112,113の各イオン選択層に到達し、一方、試料液は
液体下降通路220を経て多孔性液体分配部材320内に浸透
し液体上昇通路221,222,223を通ってイオン選択電極12
1,122,123の各イオン選択層に到達する。また、両液は
ブリッジ600の中央付近で液絡して電気的導通が生じ
る。この結果、イオン選択電極111および121の間、同11
2および122の間、同113および123間にそれぞれ参照液と
試料液との間のCl ,K ,Na の各イオン活量の差に対
応する電位差が発生するため、、切欠部550,560の下方
から電位測定用プローブを挿入して各イオン選択電極の
端子部と接触させ、各イオン選択電極対から生じる電位
差を測定すれば従来のスライドと同様に試料液中の前記
各イオン活量が測定できる。
In such a slide 20, for example, an ion selective electrode
Pair 101, 102, 103 with Cl , K , Na Ion selection for
Have layers and their ionic activities are known
The reference liquid is spotted on the liquid supply hole 410 so that the ion activity of these
If an unknown sample liquid is spotted on the liquid supply hole 420, the reference liquid
Permeates into the porous liquid distribution member 310 through the liquid descending passage 210.
Then, through the liquid rising passages 211, 212, 213, the ion selective electrode 1
Reach each of the 11,112,113 ion selective layers, while the sample solution
Penetration into the porous liquid distribution member 320 through the liquid descending passage 220
The ion selective electrode 12 passes through the liquid rising passages 221, 222, 223.
Reach 1,122,123 ion selective layers. Also, both liquids
A liquid junction occurs near the center of the bridge 600, resulting in electrical continuity.
It As a result, between the ion selective electrodes 111 and 121,
2 and 122, 113 and 123 respectively
Cl between sample solution , K , Na The difference in each ion activity of
Since a corresponding potential difference is generated, below the cutouts 550 and 560
Insert a potential measurement probe from the
Potential generated from each ion selective electrode pair by contacting the terminal
If the difference is measured, the
Each ion activity can be measured.

上記スライド20は、上部枠体400を上側に向けて前記ス
ライドセット孔41内にセットされる。そして例えば二連
ピペット等を用いて、前記参照液と試料液とがそれぞれ
液点着孔410,420内に点着される。この点着が終了した
後スタートボタン14(第1図参照)が押されると、モー
タ46が駆動されホルダー移動台43は前記矢印A方向に移
動される。するとこのホルダー移動台43に牽引されて器
具ホルダー42も電位差測定部30B側に移動し、ストッパ9
0に当接して、セットされているスライド20が加熱板36
と向かい合う所定位置で停止する。モータ46はそれぞれ
以後も引き続き駆動し、ホルダー移動台43をさらに所定
距離だけ移動させる。このとき器具ホルダー42は移動し
得ないので前記両磁石50,52が引き離され、ホルダー移
動台43は単独で上記のように移動する。このようにホル
ダー移動台43が移動すると、そのカム部材53のカム面53
aがプローブホルダー61のローラ71に接するようにな
り、ホルダー移動台43の移動にともなってプローブホル
ダー61が上方に押し上げられる。すると先に述べたよう
に加熱板36が押し上げられ、該加熱板36は器具ホルダー
42に保持されていたスライド20を押え板37に押圧固定す
る。なおこのとき、プローブホルダー61の上昇にともな
ってガイドロッド66,66が器具載置台30上に突出し、器
具ホルダー42のガイド孔91,91内に進入して器具ホルダ
ー42を(すなわちスライド20)を所定位置に位置決めす
る。上記のようにスライド20を押え板37に押圧すると、
それ以降加熱板36の上昇は阻止されるが、プローブホル
ダー61はさらに所定長押し上げられ、それにより加熱板
36の表面からプローブ68a,68b,69a,69bおよび70a,70bが
上方に突出する。こうして突出したプローブ68a,68bは
スライド20の切欠部550,560の下方から挿入されて各々
イオン選択電極111,121と接触する。同様にしてプロー
ブ69a,69bも切欠部550,560の下方から挿入されてそれぞ
れイオン選択電極は112,122と接触し、またプローブ70
a,70bも切欠部550,560の下方から挿入されてそれぞれイ
オン選択電極113,123と接触する。
The slide 20 is set in the slide set hole 41 with the upper frame 400 facing upward. Then, the reference liquid and the sample liquid are spotted in the liquid spotting holes 410 and 420, respectively, by using, for example, a double pipette. When the start button 14 (see FIG. 1) is pressed after this spotting is completed, the motor 46 is driven and the holder moving base 43 is moved in the direction of the arrow A. Then, the holder holder 43 is pulled and the instrument holder 42 also moves to the potential difference measuring unit 30B side, and the stopper 9
The slide 20 that has been set in contact with the heating plate 36
Stop at a predetermined position facing. The motors 46 continue to be driven thereafter to further move the holder moving base 43 by a predetermined distance. At this time, since the instrument holder 42 cannot move, the magnets 50 and 52 are separated from each other, and the holder moving table 43 moves independently as described above. When the holder moving base 43 moves in this manner, the cam surface 53 of the cam member 53 is moved.
a comes into contact with the roller 71 of the probe holder 61, and the probe holder 61 is pushed upward as the holder moving base 43 moves. Then, the heating plate 36 is pushed up as described above, and the heating plate 36 is attached to the instrument holder.
The slide 20 held by 42 is pressed and fixed to the holding plate 37. At this time, as the probe holder 61 rises, the guide rods 66, 66 project onto the instrument mounting table 30, enter the guide holes 91, 91 of the instrument holder 42, and remove the instrument holder 42 (that is, the slide 20). Position it in place. When the slide 20 is pressed against the pressing plate 37 as described above,
After that, the heating plate 36 is prevented from rising, but the probe holder 61 is further pushed up for a predetermined length, which causes the heating plate 36 to rise.
Probes 68a, 68b, 69a, 69b and 70a, 70b project upward from the surface of 36. The thus-protruded probes 68a, 68b are inserted from below the notches 550, 560 of the slide 20 and contact the ion selective electrodes 111, 121, respectively. Similarly, the probes 69a and 69b are also inserted from below the notches 550 and 560 so that the ion selective electrodes are in contact with the electrodes 112 and 122, respectively.
The a and 70b are also inserted from below the cutouts 550 and 560 and contact the ion selective electrodes 113 and 123, respectively.

この状態でモータ46は停止され、次いで加熱板36によっ
てスライド20が所定温度に加熱される。その後所定時間
が経過したところで、上記プローブ69a〜70bに接続する
公知の電位差測定回路(図示せず)により、イオン選択
電極対101,102,103間の電位差がそれぞれ測定される。
先に述べた通り、これらの電位差を測定することによ
り、Cl ,K ,Na のイオン活量が測定される。こうし
て測定されたイオン活量は、前記表示部15において表示
されたり、あるいは記録部16において記録紙17に記録さ
れたりする(第1図参照)。なお電位差測定に供された
スライド20の前記バーコードがバーコードセンサ73によ
って読み取れら、上記イオン活量は、スライド20の識別
コードと共に表示あるいは記録される。
In this state, the motor 46 is stopped and then the heating plate 36
The slide 20 is heated to a predetermined temperature. After that time
After that, connect to the probes 69a-70b.
Ion selection by a known potential difference measurement circuit (not shown)
The potential difference between the electrode pairs 101, 102, 103 is measured respectively.
As mentioned earlier, by measuring these potential differences,
, Cl , K , Na Is measured. This way
The measured ion activity is displayed on the display unit 15.
Or recorded on the recording paper 17 in the recording unit 16.
(See FIG. 1). In addition, it was subjected to the potential difference measurement
The bar code on the slide 20 is detected by the bar code sensor 73.
Therefore, the above-mentioned ion activity can be identified on the slide 20.
Displayed or recorded with the code.

以上述べた電位差測定が終了すると、モータ46が前述の
場合とは逆方向に駆動される。それによりホルダー移動
台43は矢印B方向に移動される。するとカム部材53がプ
ローブホルダー61のローラ71から次第に離れるので、該
プローブホルダー61が下降する。するとまず各プローブ
69a〜70bがスライド20から離れ、ガイドロッド66,66が
器具ホルダー42のガイド孔91,91から下方に抜け、次い
で加熱板36もその表面が器具載置台30の表面と整合する
位置まで下降する。モータ46はそのままさらに駆動さ
れ、ホルダー移動台43が移動し続けるので、該ホルダー
移動台43の連結部材49が磁石50,52を介して連結部材51
を押し、器具ホルダー42も矢印B方向に移動されるよう
になる。したがって電位差測定済みのスライド20は、該
器具ホルダー42によって電位差測定部30Bから液点着部3
0A側に送り出される。モータ46は、器具ホルダー42が器
具排出部30C上に来るまで駆動される。器具ホルダー42
が器具排出部30C上に来ると、該器具ホルダー42に保持
されていたスライド20はスライド排出孔38内に落とされ
る。このスライド20は、前記通路39を通って排出口13か
ら排出される。次いでモータ46が逆転されて器具ホルダ
ー42は液点着部30Aに送られ、そこで停止して次回の点
着に備える。
When the potential difference measurement described above is completed, the motor 46 is driven in the opposite direction to the case described above. As a result, the holder moving table 43 is moved in the arrow B direction. Then, the cam member 53 gradually separates from the roller 71 of the probe holder 61, and the probe holder 61 descends. Then each probe
69a to 70b are separated from the slide 20, guide rods 66 and 66 are pulled out downward from the guide holes 91 and 91 of the instrument holder 42, and then the heating plate 36 is also lowered to a position where its surface is aligned with the surface of the instrument mounting table 30. . The motor 46 is further driven as it is, and the holder moving base 43 continues to move, so that the connecting member 49 of the holder moving base 43 is connected via the magnets 50 and 52.
Then, the instrument holder 42 is also moved in the direction of arrow B. Therefore, the slide 20 on which the potential difference has been measured is moved from the potential difference measuring section 30B to the liquid spotting section 3 by the instrument holder 42.
It is sent to the 0A side. The motor 46 is driven until the instrument holder 42 is on the instrument discharge portion 30C. Instrument holder 42
When the slide 20 comes to the device discharging portion 30C, the slide 20 held by the device holder 42 is dropped into the slide discharging hole 38. The slide 20 is discharged from the discharge port 13 through the passage 39. Next, the motor 46 is rotated in the reverse direction and the instrument holder 42 is sent to the liquid spotting section 30A, where it is stopped to prepare for the next spotting.

次に本発明の簡易チェック治具について説明する。Next, the simple check jig of the present invention will be described.

第8図は本発明の簡易チェック治具の一実施例を分解し
て示した分解斜視図である。
FIG. 8 is an exploded perspective view showing an exploded embodiment of the simple check jig of the present invention.

この簡易チェック治具1は、支持体としての上マウント
2および下マウント3と、3組の対をなす電気良導体4
A,4B;5A,5B;6A,6Bと、電池7と3本の抵抗対8a,8b,8cか
ら構成されている。上マウント2と下マウント3はそれ
ぞれ前記スライド20の上部枠体400と下部枠体500とほぼ
同じ外形寸法とされ、例えばプラスチックから形成され
ている。ただし上マウント2にはその中央部がくり抜か
れており、電池7、抵抗体8a,8b,8cがそのくり抜き中に
配置されるように構成されている。電池7、抵抗体8a,8
b,8cは配線された後、図の上方から流し込んだプラスチ
ック等によりモールドされる。また、下マウント3に
は、6つの貫通孔3a,3b,3c,3d,3e,3fが設けられてい
る。これらの貫通孔3a,3b,3c,3d,3e,3fはそれぞれ、ス
ライド20の水不透性部材層200の貫通孔211,212,213,22
1,222,223と対応する位置に設けられている。なお、こ
れらマウント2,3として、各々上記上部枠体400の中央を
繰り抜いたもの、下部枠体500そのものを流用してもか
まわない。また金属良導体4A,4B;5A,5B;6A,6Bとして
は、錆びにくく耐久性の高いステンレス板、銅合金の表
面にすずメッキや金メッキを施したもの等が用いられ
る。
This simple check jig 1 includes an upper mount 2 and a lower mount 3 as a support, and three pairs of good electrical conductors 4
It is composed of A, 4B; 5A, 5B; 6A, 6B, a battery 7 and three resistance pairs 8a, 8b, 8c. The upper mount 2 and the lower mount 3 have substantially the same outer dimensions as the upper frame body 400 and the lower frame body 500 of the slide 20, and are made of, for example, plastic. However, the central portion of the upper mount 2 is hollowed out, and the battery 7 and the resistors 8a, 8b, 8c are arranged in the hollowed out portion. Battery 7, resistors 8a, 8
After wiring b and 8c, they are molded with plastic or the like poured from above in the figure. Further, the lower mount 3 is provided with six through holes 3a, 3b, 3c, 3d, 3e, 3f. These through holes 3a, 3b, 3c, 3d, 3e, 3f are respectively through holes 211, 212, 213, 22 of the water impermeable member layer 200 of the slide 20.
It is provided at a position corresponding to 1,222,223. The mounts 2 and 3 may be the upper frame 400 with the center cut out, or the lower frame 500 itself. Further, as the good metal conductors 4A, 4B; 5A, 5B; 6A, 6B, a stainless steel plate which is resistant to rust and has high durability, a copper alloy surface plated with tin or gold, and the like are used.

第9図は、第8図に示した電池7、3本の抵抗体8a,8b,
8cの配線を示した回路図である。
FIG. 9 shows the battery 7 shown in FIG. 8 and three resistors 8a, 8b,
It is a circuit diagram showing wiring of 8c.

電池7の両端は、互いに直列に接続された抵抗体8a,8b
(+側が抵抗体8a)により接続されている。またこれら
の抵抗体8a,8bの接続点には抵抗体8cの一端が接続さ
れ、該抵抗体8cの他端は対をなす電気良導体4A,4B;5A,5
B;6A,6Bの一方4A,5A,6Aに接続されている。電気良導体
の他方4B,5B,6Bは、接地電位に保持されている。
Both ends of the battery 7 have resistors 8a, 8b connected in series with each other.
(+ Side is connected by resistor 8a). Also, one end of a resistor 8c is connected to the connection point of these resistors 8a, 8b, and the other end of the resistor 8c is a pair of good electrical conductors 4A, 4B; 5A, 5
B; connected to 4A, 5A, 6A on one side of 6A, 6B. The other good electrical conductors 4B, 5B, 6B are held at the ground potential.

第10図は、溶液中のナトリウムイオン活量(横軸)と、
スライド20(第7図参照)にこの溶液と参照液とを点着
したときに、該スライド20の両電極間に生じた電位(縦
軸)との関係を示したグラフである。
Figure 10 shows the sodium ion activity in the solution (horizontal axis),
9 is a graph showing the relationship between the potential (vertical axis) generated between both electrodes of the slide 20 when the solution and the reference solution are spotted on the slide 20 (see FIG. 7).

この図に示すようにイオン活量の濃度が上がるにつれて
電位差が直線的に上昇している。また、イオン活量の少
ない低濃度側では負電位が出力されている。
As shown in this figure, the potential difference linearly increases as the ion activity concentration increases. A negative potential is output on the low concentration side where the ion activity is low.

第8図に示し簡易チェック治具1は、イオン活量の大中
小により高濃度用,中濃度用,低濃度用の3種類が用意
される。
As the simple check jig 1 shown in FIG. 8, three types are prepared for high concentration, medium concentration, and low concentration depending on the large, medium, and small ion activity.

上記簡易チェック治具1(第8図参照)の電池7として
は、たとえば出力3Vのものが用いられる。また、高濃度
用の簡易チェック治具1の抵抗体8a,8b,8cのそれぞれ抵
抗値R1,R2,R3としては、たとえばR1=10MΩ,R2=20K
Ω,R3=10MΩのものが用いられる。また中濃度用とし
ては、たとえばR1=10MΩ,R2=1KΩ,R3=10MΩのもの
が用いられる。また低濃度用としては、たとえばR1=10
MΩ,R2=40KΩ,R3=10MΩのものが用いられ、かつ負
荷電位が出力されるように電池7の極性が第9図に示し
た回路図とは逆向きにされる。尚、抵抗体8a,8bは電池
7(3V)から適切な電位差を生成させるために用いられ
ており、抵抗体8cは、出力インピーダンスの調整のため
に用いらている。また、上記構成では電池7から抵抗体
8a,8bを経由して常に電流が流されることになるが、上
記例示の抵抗値をもった抵抗体を用いると、2年間程度
は十分に使用可能である。また使用しないときは電流を
流さないようにスイッチを設けてもよいことはもちろん
である。
As the battery 7 of the simple check jig 1 (see FIG. 8), for example, one having an output of 3V is used. The resistance values R 1 , R 2 , and R 3 of the resistors 8a, 8b, and 8c of the high-concentration simple check jig 1 are, for example, R 1 = 10MΩ, R 2 = 20K.
Ω, R 3 = 10 MΩ is used. For medium concentration, for example, R 1 = 10 MΩ, R 2 = 1 KΩ and R 3 = 10 MΩ are used. For low concentration, for example, R 1 = 10
MΩ, R 2 = 40 KΩ, and R 3 = 10 MΩ are used, and the polarity of the battery 7 is reversed from the circuit diagram shown in FIG. 9 so that the load potential is output. The resistors 8a and 8b are used to generate an appropriate potential difference from the battery 7 (3V), and the resistor 8c is used to adjust the output impedance. Further, in the above configuration, the battery 7 to the resistor
A current will always flow through 8a and 8b, but if a resistor having the above-mentioned resistance value is used, it can be sufficiently used for about two years. Further, it goes without saying that a switch may be provided so as not to pass current when not in use.

上記構成の簡易チェック治具1は、アナライザー10を検
査する際、スライド20に代えて前述のスライドセット孔
41にセットされる。この場合、マウント2,3が前述のよ
うな外形寸法とされているので、簡易チェック治具1は
上記スライドセット孔41に緊密に収められる。なおこの
際簡易チェック治具1は、上マウント2を上側に向けた
状態でセットされる。次いでイオン活量測定時と同様に
スタートボタン14を押してホルダー移動台43を移動さ
せ、プローブホルダー61を上昇させる。それによりプロ
ーブ68a,68b,69a,69b,および70a,70bが上方に突出し、
プローブ68a,68bはマウント3の貫通孔3a,3dを通過し、
プローブ69a,69bは同様に貫通孔3b,3eを通過し、またプ
ローブ70a,70bは貫通孔3c,3fを通過しそれぞれ電気良導
体4A,4B;5A,5B;6A,6Bに接触する。そのためプローブ68a
と68b、プローブ69aと69b、そしてプローブ70aと70bと
の間に、イオン活量測定時と同様の電圧が印加される。
When the analyzer 10 is inspected, the simple check jig 1 having the above-mentioned configuration replaces the slide 20 and has the slide set hole described above.
Set to 41. In this case, since the mounts 2 and 3 have the outer dimensions as described above, the simple check jig 1 is tightly housed in the slide set hole 41. At this time, the simple check jig 1 is set with the upper mount 2 facing upward. Next, as in the case of measuring the ion activity, the start button 14 is pressed to move the holder moving base 43 and raise the probe holder 61. This causes the probes 68a, 68b, 69a, 69b, and 70a, 70b to project upward,
The probes 68a and 68b pass through the through holes 3a and 3d of the mount 3,
Similarly, the probes 69a and 69b pass through the through holes 3b and 3e, and the probes 70a and 70b pass through the through holes 3c and 3f and contact the good electric conductors 4A, 4B; 5A, 5B; 6A and 6B, respectively. Therefore probe 68a
And 68b, the probes 69a and 69b, and the probes 70a and 70b, a voltage similar to that at the time of measuring the ion activity is applied.

アナライザー10の電気回路がすべて正常な状態にあれ
ば、上記のようにプローブ間に電圧が印加されたとき、
この値が表示部15(第1図参照)に表示される。この表
示により被検者は、接触不良や断線等の有無、およびこ
のアナライザー10でイオン活量が正確に測定され表示さ
れるか等を検査することができる。また前述したように
イオン活量の高濃度,中濃度,低濃度等に対応して複数
の簡易チェック治具を用意しておいて上記のようにして
検査を行なうことにより、より正確に検査が行なわれ、
また測定系の直線性も確認することができる。
If all the electric circuits of the analyzer 10 are in normal condition, when voltage is applied between the probes as described above,
This value is displayed on the display unit 15 (see FIG. 1). By this display, the subject can inspect whether there is a contact failure, disconnection, etc., and whether or not the ion activity is accurately measured and displayed by the analyzer 10. Further, as described above, by preparing a plurality of simple check jigs corresponding to the high concentration, the medium concentration, and the low concentration of the ion activity and performing the inspection as described above, the inspection can be performed more accurately. Done,
Also, the linearity of the measurement system can be confirmed.

検査の終了した簡易チェック治具は、前述した電位差測
定時のスライド20と同様にして排出される。尚、上記実
施例では、スライド20を自動的に電位差測定部に送り、
また該電位差測定部から排出するように形成されたアナ
ライザー10を例に拳げて説明したが、本発明の簡易チェ
ック治具はこの種のアナライザーに限らず、スライド20
を手操作で電位差測定部に送り、また該電位差測定部か
ら排出するように構成したアナライザーにおいても利用
されうるものである。
The simple check jig after the inspection is ejected in the same manner as the slide 20 at the time of the potential difference measurement described above. In the above embodiment, the slide 20 is automatically sent to the potential difference measuring unit,
Further, the analyzer 10 formed so as to be discharged from the potential difference measuring unit was described as an example, but the simple check jig of the present invention is not limited to this type of analyzer, and the slide 20
Can also be used in an analyzer configured to manually send and discharge the potential difference measuring unit.

(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の簡易チェック治具は、
スライドに代えてアナライザーの所定位置に配置され、
アナライザーのプローブが接触されたとき該プローブ間
にイオン活量の測定時と同様の電位差を生じさせるよう
にしたため、極めて簡単にアナライザの測定系の接触不
良、断線等、およびアナライザーにおける測定出力の正
確さを検検査することができ、アナライザー製造者やサ
ービスマンそしてユーザーにおける上記検査作業は、今
までになく容易で能率的ものとなる。
(Effect of the invention) As described in detail above, the simple check jig of the present invention is
Instead of slides, it is placed at the designated position on the analyzer,
When the probe of the analyzer is brought into contact with the probe, a potential difference similar to that when measuring the ion activity is generated between the probes, so it is very easy to make a contact failure in the measurement system of the analyzer, disconnection, etc., and accurate measurement output of the analyzer. The inspection work by analyzer manufacturers, service personnel, and users will be easier and more efficient than ever before.

また、電位差のみでなく、出力インピーダンスもイオン
活量測定器時と略同一な簡易チェック治具を構成するこ
とにより、より正確にイオン活量測定の状態を模擬する
ことができ、より正確な検査を行なうことができる。
In addition to the potential difference, the output impedance can be simulated more accurately by constructing a simple check jig that has almost the same output impedance as that of the ion activity measuring instrument. Can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の簡易チェック治具が適用されるアナラ
イザーの一例を示す斜視図、 第2、3および4図はそれぞれ、上記アナライザーの要
部を示す斜視図、平面図および側断面図、 第5図は第3図のV−V線に沿った部分の側断面図、 第6図は第3図のVI−VI線に沿った部分の側断面図、 第7図は上記のアナライザーにおいて用いられるスライ
ド型イオン活量測定器具の一例を示す分解斜視図、 第8図は、本発明の簡易チェック治具の一実施例を示す
分解斜視図、 第9図は、第8図に示した電池と抵抗体の配線を示した
回路図、 第10図は、溶液のイオン活量とスライドの電極間に生ず
る電位差との関係の一例を示したグラフである。 1……簡易チェック治具 2……上マウント、3……下マウント 4A,4B,5A,5B,6A,6B……電気良導体 7……電池 8a,8b,8c……抵抗体 10……アナライザー 20……スライド型イオン活量測定器具 68a,68b,69a,69b,70a,70b……電位差測定用プローブ
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an analyzer to which the simple check jig of the present invention is applied, and FIGS. 2, 3 and 4 are perspective views, plan views and side cross-sectional views showing main parts of the analyzer, respectively. 5 is a side sectional view of a portion taken along the line VV of FIG. 3, FIG. 6 is a side sectional view of a portion taken along the line VI-VI of FIG. 3, and FIG. FIG. 8 is an exploded perspective view showing an example of a slide-type ion activity measuring instrument used, FIG. 8 is an exploded perspective view showing an example of a simple check jig of the present invention, and FIG. 9 is shown in FIG. FIG. 10 is a circuit diagram showing the wiring of the battery and the resistor, and FIG. 10 is a graph showing an example of the relationship between the ionic activity of the solution and the potential difference generated between the electrodes of the slide. 1 …… Simple check jig 2 …… Upper mount 3 …… Lower mount 4A, 4B, 5A, 5B, 6A, 6B …… Electrical conductor 7 …… Battery 8a, 8b, 8c …… Resistor 10 …… Analyzer 20 …… Slide type ion activity measuring instrument 68a, 68b, 69a, 69b, 70a, 70b …… Potential measuring probe

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】特定イオンのイオン活量に対応する電位を
発生する少なくとも1対のイオン選択電極対と、このイ
オン選択電極対の両電極間を連絡するように配された多
孔性ブリッジとを有するイオン活量測定器具を用い、所
定位置に配置された前記イオン活量測定器具の前記イオ
ン選択電極対の両電極にそれぞれ電位差測定用プローブ
を接触させて該電極間の電位差を測定することによりイ
オン活量を測定するアナライザーの機能を検査する簡易
チェック治具であって、 前記イオン活量測定器具に代えて前記所定位置に配置し
得る外形寸法を有する支持体と、 この支持体に取り付けられ、前記プローブが接触する位
置に配された対をなす電気良導体と、 この支持体に取り付けられ、試料液および参照液が浸透
した前記多孔性ブリッジによって導通したときの前記両
電極間に生ずる電位差と略等しい電位差を前記対をなす
電気良導体間に生じさせる電源とからなるイオン活量測
定用アナライザーの簡易チェック治具。
1. At least one pair of ion-selective electrodes that generate an electric potential corresponding to the ion activity of a specific ion, and a porous bridge arranged so as to connect between both electrodes of the pair of ion-selective electrodes. By using an ion activity measuring instrument having, by measuring the potential difference between the electrodes by contacting each electrode of the ion selective electrode pair of the ion activity measuring instrument placed at a predetermined position with a potential difference measuring probe A simple check jig for inspecting the function of an analyzer for measuring ion activity, comprising a support having an outer dimension that can be placed at the predetermined position instead of the ion activity measuring instrument, and attached to this support. , A pair of good electrical conductors arranged at the position where the probe comes into contact, and the porous bridge attached to this support and penetrated by the sample solution and the reference solution. The Fast Check jig ionic activity measuring analyzer comprising a substantially equal potential and potential difference generated between the electrodes and a power supply that induces between the electrical conductor forming the pair when the conduction.
【請求項2】特定イオンのイオン活量に対応する電位を
発生する少なくとも1対のイオン選択電極対と、このイ
オン選択電極対の両電極間を連絡するように配された多
孔性ブリッジとを有するイオン活量測定器具を用い、所
定位置に配置された前記イオン活量測定器具の前記イオ
ン選択電極対の両電極にそれぞれ電位差測定用プローブ
を接触させて該電極間の電位差を測定することによりイ
オン活量を測定するアナライザーの機能を検査する簡易
チェック治具であって、 前記イオン活量測定器具に代えて前記所定位置に配置し
得る外形寸法を有する支持体と、 この支持体に取り付けられ、前記プローブが接触する位
置に配された対をなす電気良導体と、 この支持体に取り付けられ、試料液および参照液が浸透
した前記多孔性ブリッジによって導通したときの前記両
電極間に生ずる電位差および出力インピーダンスと略等
しい電位差および出力インピーダンスを前記対をなす電
気良導体間に生じさせる電源とからなるイオン活量測定
用アナライザーの簡易チェック治具。
2. At least one pair of ion-selective electrodes for generating an electric potential corresponding to the ion activity of a specific ion, and a porous bridge arranged so as to connect between both electrodes of the pair of ion-selective electrodes. By using an ion activity measuring instrument having, by measuring the potential difference between the electrodes by contacting each electrode of the ion selective electrode pair of the ion activity measuring instrument placed at a predetermined position with a potential difference measuring probe A simple check jig for inspecting the function of an analyzer for measuring ion activity, comprising a support having an outer dimension that can be placed at the predetermined position instead of the ion activity measuring instrument, and attached to this support. , A pair of good electrical conductors arranged at the position where the probe comes into contact, and the porous bridge attached to this support and penetrated by the sample solution and the reference solution. Approximately equal potential and the output impedance comprising a power supply that induces between the electrical conductor forming the counter ion activity Fast Check jig measurement analyzer the potential difference and the output impedance generated between the electrodes when a conductive.
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