JPH07105272A - Bus connection system - Google Patents

Bus connection system

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JPH07105272A
JPH07105272A JP5274913A JP27491393A JPH07105272A JP H07105272 A JPH07105272 A JP H07105272A JP 5274913 A JP5274913 A JP 5274913A JP 27491393 A JP27491393 A JP 27491393A JP H07105272 A JPH07105272 A JP H07105272A
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JP
Japan
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address
terminals
bus
different
line
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5274913A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Fukazawa
武 深澤
Akira Saeki
亮 佐伯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
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Publication of JPH07105272A publication Critical patent/JPH07105272A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve signal transmission characteristics of a bus line by connecting external terminals, which are at different array positions among plural external terminals, to the same bus line in common between mutually different semiconductor integrated circuits. CONSTITUTION:Address terminals A1-A6 are provided as external terminals of memory devices. An address bus ABUS to which the memory devices IC1-IC6 are connected includes six bus lines a11-a6 and has a power line 30 for supplying high-potential side electric power Vcc to the memory devices IC1-IC6 and a ground line 40 as a reference voltage line. Then external terminals which are at different array places among the address terminals A1-A6 are connected to the same bus line in common among the mutual different memory devices. Therefore, variance in capacity among the bus lines a1-a6 is nearly eliminated and the maximum capacity on the bus lines is reducible, so that the address signal transmission characteristics can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、同一機能を有する複数
の外部端子が配列されて成る半導体集積回路のバス接続
方式に関し、例えばメモリモジュールに適用して有効な
技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bus connection system for a semiconductor integrated circuit in which a plurality of external terminals having the same function are arranged, and more particularly to a technique effectively applied to a memory module.

【0002】[0002]

【従来の技術】メモリモジュールは、例えば実装基板な
どに配列された複数個のメモリを、それらに共通の外部
アドレス入力端子から供給される信号に基づいてアドレ
シング可能にされ、例えば入出力ビット数が1ビットの
RAM(ランダム・アクセス・メモリ)を8個搭載して
×8ビットのメモリモジュールを構成することができ
る。このようなメモリモジュールにおいては、半導体メ
モリデバイスを単体で利用する場合と同様にその実装基
板に設けられている外部アドレス入力端子にはマイクロ
プロセッサなどから供給されるアドレス信号をそのまま
供給すればよい。
2. Description of the Related Art A memory module is capable of addressing a plurality of memories arranged on, for example, a mounting board based on a signal supplied from an external address input terminal common to them. Eight 1-bit RAMs (random access memories) can be mounted to form a × 8-bit memory module. In such a memory module, the address signal supplied from the microprocessor or the like may be directly supplied to the external address input terminal provided on the mounting substrate, as in the case where the semiconductor memory device is used alone.

【0003】尚、メモリモジュールの一例であるメモリ
カードについて記載された文献の例としては昭和56年
6月30日朝倉書店発行の「集積回路応用ハンドブッ
ク」第334頁から第336頁がある。
As an example of a document describing a memory card which is an example of a memory module, there are pages 334 to 336 of "Integrated Circuit Application Handbook" published by Asakura Shoten on June 30, 1981.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】例えばメモリモジュー
ルにおいて、複数のメモリデバイスには、複数のアドレ
ス端子等が所定のピッチで配列されているが、その場合
において、同一配列箇所のアドレス端子は、共通のバス
ラインに結合されている。つまり、全てのメモリデバイ
スにおけるアドレス端子A1は、同一のバスライン共通
接続される。ここで、バスラインとは、バスを構成する
個々の配線を指す。しかしながら、一つのメモリデバイ
スにおけるアドレス端子の容量(静電容量)に着目する
と、アドレス端子によって容量が一定ではなく、そのた
めに、上記のように同一配列箇所のアドレス端子を共通
のバスラインに接続する方式では、バスライン毎の容量
のばらつきが大きくなってしまい、そのことが、アドレ
ス信号の伝達特性の劣化を招いていることが、本発明者
によって見いだされた。
For example, in a memory module, in a plurality of memory devices, a plurality of address terminals and the like are arranged at a predetermined pitch. In that case, the address terminals at the same arrangement location are common. Is coupled to the bus line. That is, the address terminals A1 of all memory devices are commonly connected to the same bus line. Here, the bus line refers to individual wirings forming the bus. However, when focusing on the capacitance (electrostatic capacitance) of the address terminals in one memory device, the capacitance is not constant depending on the address terminals. Therefore, as described above, the address terminals at the same array location are connected to a common bus line. It has been found by the present inventor that the method causes a large variation in capacitance between bus lines, which causes deterioration of the transfer characteristic of the address signal.

【0005】本発明の目的は、複数の半導体集積回路の
バス接続において、バスラインの信号伝達特性を改善さ
せるための技術を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a technique for improving the signal transfer characteristic of a bus line in a bus connection of a plurality of semiconductor integrated circuits.

【0006】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The outline of the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0008】すなわち、互いに異なる半導体集積回路間
で、複数の外部端子のうち配列箇所の異なる外部端子同
士が、同一のバスラインに共通接続されるように配線す
るものである。
That is, among the semiconductor integrated circuits different from each other, the external terminals of different arrangement positions among the plurality of external terminals are wired so as to be commonly connected to the same bus line.

【0009】また、アドレス端子に着目した場合には、
互いに異なる半導体集積回路間で、上記複数のアドレス
端子の配列箇所の異なるアドレス端子同士が、同一のバ
スラインに共通接続されるように配線するものである。
If attention is paid to the address terminals,
In the semiconductor integrated circuits different from each other, the address terminals in which the plurality of address terminals are arranged are arranged so as to be commonly connected to the same bus line.

【0010】さらに、データ端子に着目した場合には、
互いに異なる半導体集積回路間で、上記複数のデータ端
子のうち配列箇所の異なるデータ端子同士が、同一のバ
スラインに共通接続されるように配線するものである。
Further, when focusing on the data terminal,
Between the different semiconductor integrated circuits, the data terminals having different arrangement positions among the plurality of data terminals are wired so as to be commonly connected to the same bus line.

【0011】[0011]

【作用】上記した手段によれば、互いに異なる半導体集
積回路間で、上記複数の外部端子のうち配列箇所の異な
る外部端子同士が、同一のバスラインに共通接続するこ
とは、バスラインにおける容量のばらつきを低減し、そ
のことが、アドレスやデータの信号伝達特性の向上を達
成する。
According to the above-mentioned means, it is possible to reduce the capacitance of the bus lines by connecting the external terminals of the plurality of external terminals, which are arranged at different positions, to the same bus line in common between different semiconductor integrated circuits. Variability is reduced, which achieves improved address and data signaling characteristics.

【0012】[0012]

【実施例】第2図には本発明方式の一実施例であるメモ
リモジュールが示される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 2 shows a memory module which is an embodiment of the method of the present invention.

【0013】このメモリモジュールは、特に制限されな
いが、実装基板1に6個のメモリデバイスIC1〜IC
6を内蔵し、6個の外部アドレス入力端子AT1〜AT
6と、6個の外部データ入出力端子I/O1〜I/O6
を持って、全体として数メガバイトのDRAMモジュー
ルとして構成される。上記メモリデバイスIC1〜IC
6には、特に制限されないが、半導体集積回路の一例と
してのDRAM(ダイナミック・ランダム・アクセス・
メモリ)が適用される。そして実装基板1には外部から
ローアドレスストローブ信号RAS*(*はローアクテ
ィブを示す)、カラムアドレスストローブ信号CAS
*、及びリードライト信号R/W*が外部制御信号とし
て供給されるようになっている。
This memory module is not particularly limited, but six memory devices IC1 to IC are mounted on the mounting substrate 1.
6 built-in, and 6 external address input terminals AT1 to AT
6 and 6 external data input / output terminals I / O1 to I / O6
Therefore, it is configured as a DRAM module of several megabytes as a whole. The above memory devices IC1 to IC
6, which is not particularly limited, is a DRAM (dynamic random access memory) as an example of a semiconductor integrated circuit.
Memory) is applied. Then, a row address strobe signal RAS * (* indicates low active) and a column address strobe signal CAS are externally provided to the mounting substrate 1.
* And the read / write signal R / W * are supplied as external control signals.

【0014】図1には上記メモリモジュールにおいて、
メモリデバイスIC1〜IC6とアドレスバスABUS
との結合関係が示される。
In FIG. 1, in the above memory module,
Memory devices IC1 to IC6 and address bus ABUS
Is shown.

【0015】特に制限されないが、図1において代表的
に示されるように、メモリデバイスIC1は、高電位側
電源Vcc端子や、グランド端子GNDの他に、アドレ
ス端子A1〜A6を有する。このアドレス端子A1〜A
6は、メモリデバイスとしての外部端子とされる。尚、
実際には、各種制御信号やデータをやり取するための端
子が設けられるが、図1では説明の便宜上、それらが省
略されている。
Although not particularly limited, as typically shown in FIG. 1, the memory device IC1 has address terminals A1 to A6 in addition to the high-potential-side power supply Vcc terminal and the ground terminal GND. These address terminals A1 to A
Reference numeral 6 is an external terminal as a memory device. still,
Actually, terminals for exchanging various control signals and data are provided, but they are omitted in FIG. 1 for convenience of description.

【0016】また、メモリデバイスIC1〜IC6が結
合されるアドレスバスABUSは、6本のバスラインa
1〜a6を含む。尚、ライン30は、メモリデバイスI
C1〜IC6に高電位側電源Vccを供給するための電
源ラインであり、40は基準電圧ラインとしてのグラン
ドラインである。
The address bus ABUS to which the memory devices IC1 to IC6 are coupled is composed of six bus lines a.
1 to a6 are included. Incidentally, the line 30 is a memory device I
Reference numeral 40 is a power supply line for supplying the high potential side power supply Vcc to C1 to IC6, and 40 is a ground line as a reference voltage line.

【0017】ここで、従来技術に従えば、複数のメモリ
デバイスIC1〜IC6間において、同一配列箇所のア
ドレス端子同士が、共通のバスラインに結合されるが、
本実施例では、バスの信号伝搬特性を向上させるため、
図1に示されるように、互いに異なるメモリデバイス間
で、上記複数のアドレス端子A1〜A6のうち配列箇所
の異なる外部端子同士が、同一のバスラインに共通接続
されている。例えば、バスラインa1には、メモリデバ
イスIC1のアドレス端子A1、メモリデバイスIC2
のアドレス端子A2、メモリデバイスIC3のアドレス
端子A3、メモリデバイスIC4のアドレス端子A4、
メモリデバイスIC5のアドレス端子A5、及びメモリ
デバイスIC6のアドレス端子A6が結合されている。
また、バスラインa2には、メモリデバイスIC1のア
ドレス端子A2、メモリデバイスIC2のアドレス端子
A3、メモリデバイスIC3のアドレス端子A4、メモ
リデバイスIC4のアドレス端子A5、メモリデバイス
IC5のアドレス端子A6、及びメモリデバイスIC6
のアドレス端子A1が結合されている。さらに、バスラ
インa3には、メモリデバイスIC1のアドレス端子A
3、メモリデバイスIC2のアドレス端子A4、メモリ
デバイスIC3のアドレス端子A5、メモリデバイスI
C4のアドレス端子A6、メモリデバイスIC5のアド
レス端子A1、及びメモリデバイスIC6のアドレス端
子A2が結合されている。
Here, according to the prior art, the address terminals of the same array location among the plurality of memory devices IC1 to IC6 are coupled to a common bus line.
In this embodiment, in order to improve the signal propagation characteristics of the bus,
As shown in FIG. 1, among the memory devices different from each other, the external terminals having different arrangement positions among the plurality of address terminals A1 to A6 are commonly connected to the same bus line. For example, the bus line a1 includes the address terminal A1 of the memory device IC1 and the memory device IC2.
Address terminal A2, memory device IC3 address terminal A3, memory device IC4 address terminal A4,
The address terminal A5 of the memory device IC5 and the address terminal A6 of the memory device IC6 are coupled.
Further, on the bus line a2, the address terminal A2 of the memory device IC1, the address terminal A3 of the memory device IC2, the address terminal A4 of the memory device IC3, the address terminal A5 of the memory device IC4, the address terminal A6 of the memory device IC5, and the memory Device IC6
Address terminal A1 is connected. Further, the bus line a3 has an address terminal A of the memory device IC1.
3, address terminal A4 of memory device IC2, address terminal A5 of memory device IC3, memory device I
The address terminal A6 of C4, the address terminal A1 of the memory device IC5, and the address terminal A2 of the memory device IC6 are coupled.

【0018】半導体集積回路においてアドレス端子など
の外部端子から見た容量は、入力初段ゲートや、当該外
部端子を形成するリードフレームの表面積等によって決
定される。そしてそのような容量は、同一品番の半導体
集積回路でほぼ同一の値とされる。つまり、メモリデバ
イスIC1のアドレス端子a1の容量が6pF(ピコフ
ァラッド)の場合、他のメモリデバイスIC2〜IC6
における同一アドレス端子A1でも、やはり6pFとさ
れる。そのように同一品番のメモリデバイスにおいて同
一アドレス端子の容量がほぼ等しいことから、従来方式
のように同一端子同士をバスラインに共通接続した場合
には、バスライン毎の容量のばらつきが非常に大きくな
ってしまう。例えば、アドレス端子A1,A2,A3,
A4,A5,A6の容量を、それぞれ、6pF,5p
F,4pF,4pF,4pF,5pFとした場合、従来
方式でバスラインに共通接続すると、バスラインa1の
容量は、36pF(=6×6)となり、バスラインa
2,a6の容量は、30pF(=6×5)となり、バス
ラインa3,a4,a5の容量は、24pF(=6×
4)となる。この場合、バスラインa1〜a6間のばら
つきは、36〜24pF、バスラインの最大容量は36
pFである。
In the semiconductor integrated circuit, the capacitance viewed from an external terminal such as an address terminal is determined by the surface area of the input first stage gate and the lead frame forming the external terminal. Then, such capacitances have almost the same value in the semiconductor integrated circuits having the same product number. That is, when the capacity of the address terminal a1 of the memory device IC1 is 6 pF (picofarad), the other memory devices IC2 to IC6
Even at the same address terminal A1 in, the value is 6 pF. In such a memory device having the same part number, the capacities of the same address terminals are almost the same. Therefore, when the same terminals are commonly connected to a bus line as in the conventional method, the variation in the capacity between the bus lines is very large. turn into. For example, address terminals A1, A2, A3
The capacitances of A4, A5, and A6 are 6 pF and 5 p, respectively.
In the case of F, 4pF, 4pF, 4pF, and 5pF, if the bus line a1 is commonly connected by the conventional method, the capacitance of the bus line a1 becomes 36 pF (= 6 × 6).
The capacitance of 2, a6 is 30 pF (= 6 × 5), and the capacitance of the bus lines a3, a4, a5 is 24 pF (= 6 ×).
4). In this case, the variation between the bus lines a1 to a6 is 36 to 24 pF, and the maximum capacitance of the bus line is 36.
pF.

【0019】そに対して、本実施例方式のように、互い
に異なるメモリデバイス間で、複数のアドレス端子A1
〜A6のうち配列箇所の異なる外部端子同士を、同一の
バスラインに共通接続された場合には、 a1=a2=a3=a4=a5=a6=(6+5+4+
4+4+5)=28pF となり、バスラインa1〜a6間の容量のばらつきは無
視できる値とされる。しかも、バスラインの最大容量は
28pFであるから、上記従来方式の場合の最大容量3
6pFよりも小さくなる。このようなバス接続方式を採
った場合、メモリモジュールの物理的なアドレスは従来
方式による場合と異なるが、論理アドレスに変化は無
く、メモリ動作において、何等支障を生じない。
On the other hand, as in the method of this embodiment, a plurality of address terminals A1 are provided between different memory devices.
When external terminals of different arrangement positions among A6 to A6 are commonly connected to the same bus line, a1 = a2 = a3 = a4 = a5 = a6 = (6 + 5 + 4 +
4 + 4 + 5) = 28 pF, and the capacitance variation between the bus lines a1 to a6 is set to a negligible value. Moreover, since the maximum capacity of the bus line is 28 pF, the maximum capacity of the conventional method is 3
It is smaller than 6 pF. When such a bus connection method is adopted, the physical address of the memory module is different from that in the conventional method, but the logical address does not change and no trouble occurs in the memory operation.

【0020】上記実施例によれば以下の作用効果が得ら
れる。 (1)互いに異なるメモリデバイス間で、上記複数のア
ドレス端子A1〜A6のうち配列箇所の異なる外部端子
同士を、同一のバスラインに共通接続させることによ
り、バスラインa1〜a6間の容量のばらつきをほぼ零
とすることができるとともに、バスラインの最大容量を
低減することができ、バスラインa1〜a6におけるア
ドレス信号伝達特性を向上させることができる。
According to the above embodiment, the following operational effects can be obtained. (1) Between memory devices different from each other, the external terminals having different arrangement positions among the plurality of address terminals A1 to A6 are commonly connected to the same bus line, so that the variation in capacitance between the bus lines a1 to a6. Can be substantially zero, the maximum capacity of the bus line can be reduced, and the address signal transfer characteristics in the bus lines a1 to a6 can be improved.

【0021】(2)半導体集積回路の高集積化により外
部端子数が多くなる傾向にあり、そのように外部端子が
多くなると、外部端子間の容量のばらつきを抑えるの
が、レイアウトの関係で困難になることが考えられ、か
かる場合に、上記実施例のように、互いに異なるメモリ
デバイス間で、上記複数のアドレス端子A1〜A6のう
ち配列箇所の異なる外部端子同士を、同一のバスライン
に共通接続させるようにすれば、アドレス信号伝達特性
の向上が顕著とされる。
(2) The number of external terminals tends to increase due to the higher integration of semiconductor integrated circuits. When the number of external terminals increases in this way, it is difficult to suppress variations in capacitance between the external terminals due to the layout. In such a case, as in the above-described embodiment, the different external terminals of the plurality of address terminals A1 to A6, which are arranged differently, are shared by the same bus line between the different memory devices. If they are connected, the improvement of the address signal transfer characteristic is remarkable.

【0022】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定
されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲におい
て種々変更可能であることは言うまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited thereto, and needless to say, various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Yes.

【0023】例えば、上記実施例では外部端子の一例と
してアドレス端子のバス接続について説明したが、他の
外部端子、例えば、データ入力端子、データ出力端子、
I/O端子などのバス接続において、上記実施例のよう
に、互いに異なるメモリデバイス間で、複数の外部端子
のうち配列箇所の異なる外部端子同士を、同一のバスラ
インに共通接続させることによって、データバスにおけ
る信号伝達特性を改善することができる。
For example, in the above embodiment, the bus connection of the address terminal was explained as an example of the external terminal, but other external terminals such as the data input terminal, the data output terminal,
In the bus connection of I / O terminals and the like, as in the above-described embodiment, the different external terminals of the plurality of external terminals, which are arranged at different locations, are commonly connected to the same bus line between the different memory devices. The signal transfer characteristics on the data bus can be improved.

【0024】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるDRA
Mによるメモリモジュールに適用した場合について説明
したが、本発明はそれに限定されるものではなく、例え
ばパーソナルコンピュータなどの各種メモリボード、さ
らにはバス方式を採用する各種ボードシステムに適用す
ることができる。
In the above description, the invention made by the present inventor is the field of application behind the invention.
Although the case where the present invention is applied to the memory module by M has been described, the present invention is not limited thereto, and can be applied to various memory boards such as personal computers, and various board systems adopting the bus system.

【0025】本発明は、少なくとも同一機能を有する複
数の外部端子が配列されていることを条件に適用するこ
とができる。
The present invention can be applied on condition that a plurality of external terminals having at least the same function are arranged.

【0026】[0026]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0027】すなわち、互いに異なる半導体集積回路間
で、複数の外部端子のうち配列箇所の異なる外部端子同
士を、同一のバスラインに共通接続することによって、
バスラインにおける容量のばらつきが低減されるので、
バスラインにおける信号伝達特性の向上を図ることがで
きる。
That is, among different semiconductor integrated circuits, external terminals of different arrangement positions among a plurality of external terminals are commonly connected to the same bus line,
Since the variation in capacitance in the bus line is reduced,
It is possible to improve the signal transfer characteristics in the bus line.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例方法が適用されるメモリモジ
ュールにおけるメモリデバイスとアドレスバスとの結合
関係説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of a connection relationship between a memory device and an address bus in a memory module to which a method according to an embodiment of the present invention is applied.

【図2】上記メモリモジュールの全体的な構成ブロック
図である。
FIG. 2 is an overall configuration block diagram of the memory module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 実装基板 30 電源ライン 40 グランドライン IC1〜IC6 メモリデバイス AT1〜AT6 外部アドレス入力端子 I/O1〜I/O6 外部データ入出力端子 ABUS アドレスバス a1〜a6 バスライン 1 mounting board 30 power line 40 ground line IC1 to IC6 memory device AT1 to AT6 external address input terminal I / O1 to I / O6 external data input / output terminal ABUS address bus a1 to a6 bus line

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐伯 亮 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Ryo Saeki 5-20-1, Josuihoncho, Kodaira-shi, Tokyo Incorporated company Hitachi Ltd. Semiconductor Division

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 同一機能を有する複数の外部端子が配列
されて成る半導体集積回路のバス接続方式において、互
いに異なる半導体集積回路間で、上記複数の外部端子の
うち、配列箇所の異なる外部端子同士が、同一のバスラ
インに共通接続されるように配線することを特徴とする
バス接続方式。
1. A bus connection method for a semiconductor integrated circuit, wherein a plurality of external terminals having the same function are arranged, wherein the different external terminals of the plurality of external terminals are arranged at different locations. However, the bus connection method is characterized in that wiring is performed so as to be commonly connected to the same bus line.
【請求項2】 アドレス信号を取込むための複数のアド
レス端子が配列されて成る半導体集積回路のバス接続方
式において、互いに異なる半導体集積回路間で、上記複
数のアドレス端子のうち、配列箇所の異なるアドレス端
子同士が、同一のバスラインに共通接続されるように配
線することを特徴とするバス接続方式。
2. In a bus connection method of a semiconductor integrated circuit in which a plurality of address terminals for taking in an address signal are arranged, different semiconductor integrated circuits have different arrangement positions among the plurality of address terminals. A bus connection method in which address terminals are wired so that they are commonly connected to the same bus line.
【請求項3】 外部との間でデータのやり取りを可能と
するための複数のデータ端子が配列されて成る半導体集
積回路のバス接続方式において、互いに異なる半導体集
積回路間で、上記複数のデータ端子のうち、配列箇所の
異なるデータ端子同士が、同一のバスラインに共通接続
されるように配線することを特徴とするバス接続方式。
3. A bus connection method for a semiconductor integrated circuit, comprising a plurality of data terminals arranged for enabling data exchange with the outside, wherein the plurality of data terminals are provided between different semiconductor integrated circuits. Among them, the bus connection method characterized in that the data terminals having different arrangement locations are wired so as to be commonly connected to the same bus line.
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