JPH07104022A - 高調波の発生源探査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】変電所内において複数の観測点から同時に探査
することにより、適確に高調波の発生源を突き止める。 【構成】変電所Ｓからの母線２と、母線２から分岐され
た二次側母線５ａ〜５ｃ…及び二次側母線から分岐され
たフィーダ６ａ〜６ｆ…に電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 …
及び電流センサＣＴ1 〜ＣＴ8 …を設け、これらのセン
サＰＴ1 ，ＰＴ2，ＣＴ1 〜ＣＴ8 にて各線路に流れる
交流の電圧値または電圧値をそれぞれ検出し、そのデー
タに基づいて高調波を適確に探査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は変電所にあって、その接
続系統中に発生した高調波発生源を探査する高調波の発
生源探査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、需要家にて使用される負荷にはイ
ンバータ回路等のスイッチング動作を行うものが急増し
ており、配電線にて各需要家に供給される電力中にはそ
れらの負荷の作動によって高調波が含まれる頻度が高く
なっている。そして、この高調波は需要家にて使用され
る進相コンデンサの破壊等の種々の弊害を引き起こすた
め、その発生原因を確実に突き止めるために高調波の発
生場所や、発生時間等を検出し、迅速に対処して、高品
質な電力供給を維持することが望まれている。

【０００３】また、高調波の発生に伴う問題点として、
交流フィルタや進相用コンデンサ等の容量性インピーダ
ンスと送電線、変圧器、発電機等の系統の誘導性インピ
ーダンスによる共振現象が発生し、３次、５次あるいは
７次等の低次高周波が異常拡大することがある。従っ
て、起電電流に含まれる高調波は低次高調波（周波数が
小）になる程その含有率が大きくなる特性を有してお
り、起電回路の共振周波数が小さくなると、負荷電流の
高調波により高調波共振現象をおこす。そこで、変電所
の起電電流が著しく歪むため、共振の発生場所や、発生
時間等を速やかに検出し、対処することが望まれてい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、高調波の発
生場所をより確実に突き止めるためには、複数の観測点
から同時に探査する必要があるが、上記した方法では一
探査装置での観測であったため、高調波の発生源を適確
に突き止めることはできないという問題があった。

【０００５】この発明は、このような従来の技術に存在
する問題点に着目してなされたものであって、その目的
とするところは、変電所内において複数の観測点から同
時に探査することにより、適確に高調波の発生源を突き
止めることの可能な高調波の発生源探査装置を提供する
ことにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明は、変電所内において母線、二次側母線及び
二次側母線から分岐されるフィーダに設けられている複
数の子局と、前記各子局に設けられ、幹線及び分岐線に
流れる電圧値または電流値を検出する複数の検出手段
と、前記検出手段にて検出された電圧値または電流値を
親局に対し伝送する伝送手段と、前記親局に設けられ、
伝送手段にて伝送された電圧値または電流値に基づいて
高調波電力を演算する演算手段とを備えたことを要旨と
するものである。

【０００７】

【作用】このように構成された本発明は、検出手段にて
母線、二次側母線及び幹線フィーダに流れている電流値
または電圧値が検出される。検出されたデータは検出さ
れたデータは伝送手段にて親局へ伝送され、親局の演算
手段にて高調波電力が演算される。

【０００８】

【実施例】以下、本発明を変電所内における高調波の発
生源探査装置に具体化した一実施例を図面に従って説明
する。

【０００９】図５に示すように、変電所Ｓ内において、
発電所１から延びる母線２は複数のバンク３ａ〜３ｃ…
に分岐され、各バンク３ａ〜３ｃ…にはトランス４が設
けられている。各バンク３ａ〜３ｃ…における二次側母
線５ａ〜５ｃ…は、複数のフィーダ６ａ〜６ｆ（バンク
３ａのフィーダ６ａ〜６ｆのみ図示する。）に分岐され
ている。また、母線２、二次側母線５ａ〜５ｃ…及びフ
ィーダ６ａ〜６ｆはいずれも三相となっている。

【００１０】次に、高調波発生源探査装置について説明
する。図１に示すように、高調波探査装置７は一つの親
局８と複数の子局９とから構成され、親局８と各子局９
とはそれぞれ伝送手段としての電話回線１０で接続され
ている。各子局９は各バンク３ａ〜３ｃ…毎に一つ設け
られている。

【００１１】本実施例において、各子局９はそれぞれ検
出手段としての電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 と検出手段と
しての電流センサＣＴ1 〜ＣＴ8 を備えている。そし
て、図５に示すように、電流センサＣＴ1 〜ＣＴ8 は前
記各フィーダ６ａ〜６ｆ、二次側母線５ａ〜５ｃ…及び
母線２のＵ，Ｖ，Ｗ相（３ｃｈ）毎に取着されている。
また、電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 は母線２及び二次側母
線５ａ〜５ｃ…の各相毎に取着されている。

【００１２】図１及び図２に示すように、各々の電流セ
ンサＣＴ1 〜ＣＴ8 及び電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 は、
インターフェース部１３及を介して各センサＣＴ1 〜Ｃ
Ｔ8，ＰＴ1 〜ＰＴ2 毎の信号処理部１４に接続されて
いる。複数の信号処理部１４は共通の制御部１５に接続
されている。各制御部１５はモデム１６を介して前記電
話回線１０と接続され、各電話回線１０は親局８に設け
られたモデム１７にそれぞれ接続されている。子局９に
はインターフェース部１３、信号処理部１４、及び制御
部１５を作動させるための電源部１８を内蔵している。

【００１３】前記モデム１７は共通の回線切換器１９を
介して演算手段としてのコンピュータ２０に接続されて
いる。コンピュータ２０には光磁気ディスク２１、プリ
ンタ出力装置２２及びＸ−Ｙプロッタ出力装置２３に接
続され、これらの各機器がコンピュータ２０からの指令
によって作動するようになっている。

【００１４】前記信号処理部１４を図３に従って説明す
る。各相毎のデータを検出可能な電流センサＣＴ1 〜Ｃ
Ｔ8 及び電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 はそれぞれ増幅アン
プ２４とフィルタ２５とを介してＡ／Ｄ変換回路２６に
接続されている。各相のＡ／Ｄ変換回路２６は各相毎の
ＦＩＦＯメモリ（Ｆｉｒｓｔ ｉｎ Ｆｉｒｓｔ ｏｕ
ｔ メモリ）２７に接続されている。ＦＩＦＯメモリ２
７と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）２
８、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓ
ｓ Ｍｅｍｏｒｙ）２９、ＳＲＡＭ３０、デュアルポー
トＲＡＭ３１、デコーダ３２、及びＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔ
ａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｅｒ）３３とはア
ドレスバス３４を介して相互に接続されている。

【００１５】前記デコーダ３２はＡ／Ｄ変換回路２６、
ＦＩＦＯメモリ２７、ＲＯＭ２８、ＳＲＡＭ２９、ＳＲ
ＡＭ３０及びデュアルポートＲＡＭ３１に接続されてい
る。また、前記ＦＩＦＯメモリ２７、ＲＯＭ２８、ＳＲ
ＡＭ２９、ＳＲＡＭ３０、デュアルポートＲＡＭ３１及
びＤＳＰ３３はデータバス３５を介して相互に接続され
ている。ＲＯＭ２８にはＤＳＰ３３を制御するためのプ
ログラムが書き込まれている。そして、ＤＳＰ３３は信
号処理部１４全体の処理を制御する。

【００１６】次に、制御部１５を図４に従って説明す
る。前記制御部１５にはＣＰＵ（中央処理装置）３６が
設けられ、ＣＰＵ３６はアドレスバス３７を介してデコ
ーダ３８、ＲＯＭ３９、ＳＲＡＭ４０、ＤＲＡＭ（Ｄｙ
ｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒ
ｙ）４１及びリアルタイムクロック４４に接続されてい
る。そして、ＲＯＭ３９にはＣＰＵ３６を制御するため
のプログラムが書き込まれている。また、ＣＰＵ３６に
書き込まれるデータはＳＲＡＭ４０にてデータの書換え
が行われる。このアドレスバス３７はアドレスバス接続
端子４２を介して前記信号処理部１４のデュアルポート
ＲＡＭ３１に接続されている。

【００１７】また、ＣＰＵ３６はデータバス４３を介し
てデコーダ３８、ＲＯＭ３９、ＳＲＡＭ４０、ＤＲＡＭ
４１及びリアルタイムクロック４４に接続されている。
このデータバス４３はデータバス接続端子４５を介して
前記信号処理部１４のデュアルポートＲＡＭ３１に接続
されている。

【００１８】前記デコーダ３８はＲＯＭ３９、ＳＲＡＭ
４０、ＤＲＡＭ４１及びリアルタイムクロック４４に接
続されている。リアルタイムクロック４４にはそれを所
定時間動作させるためのクロック４７が接続されてい
る。そして、このクロック４７のクロックに基づいてリ
アルタイムクロック４４が計測され、本実施例では１０
分間の電圧値及び電流値がサンプリングされる。

【００１９】ＣＰＵ３６にはリセットボタン４８が接続
され、接続端子４９を介して信号処理部１４のＤＳＰ３
３に接続されている。リセットボタン４８のＯＮ・ＯＦ
Ｆ動作に伴い、前記信号処理部１４及び前記制御部１５
が再スタートされる。また、ＣＰＵ３６はシステムクロ
ック５０が接続され、システムクロック５０にてＣＰＵ
３６の作動時間が制御される。さらに、ＣＰＵ３６は入
出力インターフェース５１、入出力ポート５２を介して
前記モデム１７に、もしくはコンピュータ６９に接続さ
れている。

【００２０】制御部１５にはＤＳＰクロック５３が設け
られている。ＤＳＰクロック５３はクロック接続端子５
４を介して前記信号処理部１４のＤＳＰ３３に接続され
ている。そして、このＤＳＰクロック５３にて各信号処
理部１４におけるＤＳＰ３３が同期制御される。

【００２１】制御部１５にはサンプリングクロック５５
が設けられている。サンプリングクロック５５はクロッ
ク接続端子５６を介して各信号処理部１４のディバイダ
５７に接続され、サンプリング周期を実現している。こ
のディバイダ５７と各相のＡ／Ｄ変換回路２６とは相互
に接続されている。そして、サンプリングクロック５５
にて電圧値及び電流値の８サイクル（電圧値及び電流値
の基本周波数の８倍）の１／８１９２ポイント毎の時間
が計測される。

【００２２】次に、このように構成された高調波探査装
置７による検出状況を図１０〜図１７のフローチャート
に従って説明する。なお、図１０に示すフローチャート
は制御部１５の動作を示し、図１１〜図１７に示すフロ
ーチャートは信号処理部１４の動作を示す。

【００２３】（制御部の処理）まず、制御部１５の処理
について説明する。図１０に示すように、電源をＯＮあ
るいはリセットボタン４８を操作するとステップ１の処
理を開始する。それとともに、ＣＰＵ３６は制御部１５
のＳＲＡＭ４０及びＤＲＡＭ４１に記憶されていたデー
タを消去するとともに、ＳＲＡＭ４０及びＤＲＡＭ４１
が正常に動作するか否かのチェックを行う。そして、制
御部１５のプログラムを実行することにより必要な設定
を順次行っていく。

【００２４】ステップ１で初期設定が完了したら、ステ
ップ２で親局８のコンピュータ２０にて予め設定された
観測スタート時刻、どの観測モードで観測を行うのか
（後記するが、定時刻観測モード、最大値観測モード
１、最大値観測モード２、最大値観測モード３があ
る。）さらに、最大値観測モードの場合には、何次の高
調波を判定要素とするのか等の命令（以下、設定メニュ
ーという。）をパケット通信で受信する。

【００２５】設定メニューを受信したら、ＣＰＵ３６は
制御部１５の観測スタート準備が整ったと判断してステ
ップ３へ移行する。なお、高調波の判定要素は、１次か
ら５０次（基本波からその基本波の５０倍）の範囲で任
意に設定可能である。この実施例では第５次についての
高調波含有率比較を実施している。

【００２６】ステップ３でリアルタイムクロック４４に
て親局８のクロックと子局９のクロック４７の時刻をあ
わせ、親局８と子局９の制御部１５とが同期されたらス
テップ４へ移行する。ステップ４でＣＰＵ３６は信号処
理部１４に親局８から前記パケット通信にて受信された
設定メニューを信号処理部１４のＤＳＰ３３に設定する
（書き込む）。

【００２７】次いで、ステップ５でＣＰＵ３６が設定メ
ニューで設定された観測スタート時刻になったことを判
断すると、ステップ６に移行し、ＣＰＵ３６がリアルタ
イムクロック４４のアラーム機能を１０分毎に作動する
ように設定し、高調波の検出を開始する。その後、ステ
ップ７でＣＰＵ３６が１０分経過したことを判断する
と、リアルタイムクロック４４はＣＰＵ３６にて１０分
間の観測が終了したことを知らせるアラームをセット
し、測定完了信号をＣＰＵ３６に対し出力する。ＣＰＵ
３６に測定完了信号が入力された際、ステップ７−２で
アラームを再セットし、ステップ７−３で信号処理部１
４において説明するステップ２０の処理を受けてＣＰＵ
３６は１０分間の測定が完了したと判断する。

【００２８】ステップ８でＣＰＵ３６はデータバス４３
を介して信号処理部１４で選出された全てのデータ（電
圧値及び電流値）を収集し、ＤＲＡＭ４１へ書き込む。
そして、ステップ９でＣＰＵ３６はその収集されたデー
タを１０分経過する毎にモデム１７により電話回線１０
を介して親局９のコンピュータ２０へ伝送する。

【００２９】（信号処理部の処理）次に、信号処理部１
４の処理について説明する。図１１に示すように、前記
制御部１５の説明でステップ１の処理と同時進行して、
ステップ１０（Ｓ１０）の処理が行われる。すなわち、
ＤＳＰ３３は信号処理部１４のＦＩＦＯメモリ２７、Ｓ
ＲＡＭ２９、ＳＲＡＭ３０及びデュアルポートＲＡＭ３
１を初期化するとともに、各種メモリ２７，２９，３
０，３１内が正常に動作するか否かのチェックを行う。

【００３０】次いで、前記制御部１５で説明したステッ
プ４の処理を受けて、ステップ１１でＤＳＰ３３は制御
部１５から設定メニューを受信したことを判断すると、
ステップ１１−２に移行して前記制御部１５からサンプ
リングクロックの供給がされる。その供給後、ステップ
１２に移行し、１０分間のサンプリングを開始する。

【００３１】ステップ１２で複数の電流センサＣＴ1 〜
ＣＴ8 及び電圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 にて検出された各
相のデータ（電流値及び電圧値）は、インターフェース
部１３を介して信号処理部１４に入力される。信号処理
部１４に入力されたデータは増幅アンプ２４を介してフ
ィルター２５に入力され、フィルター２５により５０次
の周波数成分の数倍までが選出され、Ａ／Ｄ変換回路２
６にてＡ／Ｄ変換される。このとき、サンプリングクロ
ック５５にて８サイクルあたり８１９２ポイントのデー
タに区切られて出力される。（以下、この８サイクル分
のデータを生データという。）そして、各相の生データ
は順次ＦＩＦＯメモリへ書き込まれる。

【００３２】ステップ１３で前記設定メニューで指定さ
れた観測モードが定時刻観測モードである場合には、図
１２に示すステップ１６へ移行し、そうでない場合には
ステップ１４へ移行する。ステップ１４で観測モードが
最大値観測モード１である場合には、図１３に示すステ
ップ３０へ移行し、そうでない場合にはステップ１５へ
移行する。ステップ１５で観測モードが最大値観測モー
ド２である場合には、図１４に示すステップ５０へ移行
し、そうでない場合、すなわち、最大値観測モード３で
ある場合には図１５に示すステップ７０へ移行する。

【００３３】次に、個々の観測モードについて説明す
る。なお、ステップ１６からステップ１９までは定時刻
観測モードの処理を示し、ステップ３０からステップ４
２までは最大値観測モード１の処理を示し、ステップ５
０からステップ６１まで及びステップ４２は最大値観測
モード２の処理を示し、ステップ７０からステップ８４
まで及びステップ４２は最大値観測モード３の処理を示
す。さらに、ステップ２０〜ステップ２３は各種観測モ
ードの共通の処理を示す。

【００３４】（定時刻観測モード）まず、定時刻観測モ
ードについて図１２に基づいて説明する。ステップ１６
でＦＩＦＯメモリ２７の生データはＤＳＰ３３にて、Ｓ
ＲＡＭ２９のメモリ領域内に書き込まれる。ステップ
１７で各相の生データがＳＲＡＭ２９のメモリ領域へ
の書き込み処理が終了すると、ステップ１８へ移行し、
１０分間経過した場合にはステップ１９へ移行する。ス
テップ１９でＤＳＰ３３は１０分間のうち最初に取り込
まれた各相の生データを選出し、デュアルポートＲＡＭ
３１へ書き込む。

【００３５】また、ステップ２０で制御部１５へデータ
確定を通知することにより、前記制御部１５のステップ
７−３にてこれを受ける。その後、ステップ２０−２で
生データの収集終了を確認してステップ２１でＳＲＡＭ
２９のメモリ領域に書き込まれた生データを全てクリ
アする。次いで、ステップ２２で定時観測モードである
ので前記ステップ１２に移行し、ステップ１２〜２３ま
での動作を繰り返し行う。

【００３６】なお、図６は定時観測モードで観測した観
測結果を示す。ａは各センサＰＴ1，ＰＴ2 ，ＣＴ1 〜
ＣＴ8 の各相において、１０分間（図６中に示すＳ）収
集された生データの内、最初に収集された生データを示
す。従って、定時観測モードで一定間隔のサンプリング
を行うことにより、定常的に現れている高調波を連続で
検出し、解析できる。 （最大値観測モード１）次に、最大値観測モード１につ
いて図１３に基づいて説明する。ステップ３０でＦＩＦ
Ｏメモリ２７に書き込まれた生データの内、１０分間の
計測を開始してから最初の生データである場合には、ス
テップ３２へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモリ２７
から最初の生データを読み出してＳＲＡＭ２９のメモリ
領域へ書き込む。

【００３７】続いて、ステップ３０でＦＩＦＯメモリ２
７に書き込まれた生データの内、２回目以降に取り込ま
れる生データである場合には、ステップ３１へ移行し、
ＤＳＰ３３がＳＲＡＭ２９のメモリ領域が空いている
か否かを判断する。そして、空いている場合には、ステ
ップ３２へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモリ２７か
ら生データを選出してＳＲＡＭ２９のメモリ領域へ書
き込む。

【００３８】また、ステップ３１でＤＳＰ３３がＳＲＡ
Ｍ２９のメモリ領域が空いていないと判断した場合に
は、ステップ３３へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモ
リ２７から生データを選出してＳＲＡＭ３０のメモリ領
域へ書き込む。

【００３９】ステップ３４で各相の生データがＳＲＡＭ
２９のメモリ領域もしくはＳＲＡＭ３０のメモリ領域
へ書き込まれたら、ステップ３４−１へ移行する。ス
テップ３４−１でマスタ（電圧センサＰＴ2 ）の信号処
理部であれば、ステップ３５でＤＳＰ３３がメモリ領域
及びメモリ領域に書き込まれた生データの内、直前
に書き込み更新された生データについて、前記親局８か
ら受信したパケット内の高調波の判定要素となる特定次
数により高調波含有量をＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉ
ｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）演算して高調波含有率を演
算する。このＦＦＴ演算中においても、各相のＦＩＦＯ
メモリ２７には生データがサンプリング周期に従い順次
書き込まれる。なお、この高調波含有率の計算はＦＦＴ
演算の代わりに積和演算にて演算してもよい。

【００４０】そして、ステップ３６で現在値の生データ
（直前に書き込み更新された最新の生データ）と、現在
値の生データよりも過去に書き込まれた生データの高調
波含有率（比較値）の大小を比較し、現在値の生データ
の高調波含有率が前回値の生データよりも大きい場合に
は、ステップ３７へ移行する。

【００４１】ステップ３７において、ＤＳＰ３３は現在
値の生データが書き込まれているメモリ領域を保持す
る。例えば、ＳＲＡＭ３０のメモリ領域に現在値の生
データが保持されている場合には、メモリ領域を保持
する。それとともに、ステップ３８でＤＳＰ３３は高調
波含有率の低い生データが書き込まれた他方のメモリ領
域、この場合ＳＲＡＭ２９のメモリ領域に相当し、そ
こに書き込まれた生データをクリアする。

【００４２】そして、ステップ３９でＤＳＰ３３はクリ
アされた過去の生データの高調波含有率データ（以下、
単に含有率データという）をもクリアし、代わりに現在
値の生データの含有率データを新比較値として更新保持
する。そして、この更新された含有率データは次回にサ
ンプリングされる生データに付随する含有率データと比
較するための比較値となる。また、前記ステップ３４−
１でマスタの信号処理部以外の場合（すなわちスレーブ
の信号処理部、電圧センサＰＴ1 、電流センサＣＴ1 〜
ＣＴ8 ）は、ステップ３４−２へ移行する。ステップ３
４−２でマスタのＵ，Ｖ，Ｗ相のうち何れか一つの相で
も更新されたときは、ステップ３４−３で更新された相
における同一時間軸上の現在値の生データを格納するメ
モリ領域を保持し、ステップ３４−４で他方のメモリ領
域をクリアする。一方、ステップ３４−２で更新された
相がなければステップ４０へ移行する。

【００４３】このように、ＤＳＰ３３は順次サンプリン
グされる生データに基づいて高調波含有率を演算する。
そして、その含有率データが過去最大である時にはＳＲ
ＡＭ２９のメモリ領域とＳＲＡＭ３０のメモリ領域
内の生データと含有率データとをそれぞれ更新し、ステ
ップ４０で各相の処理が終了するまで、このステップ３
５〜４０での処理を繰り返す。また、ステップ４１で１
０分（図７におけるＳ1 ）経過するまで、このステップ
１２〜１４及びステップ３０〜４０での処理を繰り返し
た後にステップ４２に移行する。

【００４４】ステップ４２で上記の測定方法によって得
られた生データ（ＳＲＡＭ２９のメモリ領域、もしく
はＳＲＡＭ３０のメモリ領域に保存された生データ）
を制御部１５へのデータ確定をするためにデュアルポー
トＲＡＭ３１へ書き込む。そして、ステップ２０で生デ
ータの確定を通知することにより、前記制御部１５のス
テップ７−３にてこれを受ける。

【００４５】その後、ステップ２０−２で生データの収
集終了を確認して、ステップ２１でＳＲＡＭ２９のメモ
リ領域及びＳＲＡＭ３０のメモリ領域内に保存され
た生データを全てクリアし、ステップ２２へ以降する。
ステップ２２でこのモードは定時観測モード以外のモー
ドであるので、ステップ２３へ移行する。ステップ２３
でメモリ領域及びメモリ領域内に保存された含有率
データを全てクリアする。次いで、ステップ１２で設定
メニューで再度観測するように設定されている場合に
は、上述した動作を繰り返し行う。

【００４６】なお、図７は最大値観測モード１での観測
結果を示す。本実施例においては親局９からの設定メニ
ューで含有率データの基準となるセンサを電圧センサＰ
Ｔ2に指定した。ａ1 ，ｂ1 ，ｃ1 は電圧センサＰＴ2
におけるＵ相，Ｖ相及びＷ相各々の含有率データの最大
値を示す生データである。これらの生データａ1 ，ｂ1
，ｃ1 と同一相かつ同一時間軸上の他の電圧センサＰ
Ｔ1 、電流センサＣＴ1〜ＣＴ8 にて得られた生データ
を観測データ（ハッチングで示す部分のデータ）とす
る。従って、最大値観測モード１によれば、各相毎に現
れる突発的な高調波を検出することができる。 （最大値観測モード２）次に、最大値観測モード２につ
いて図１４に基づいて説明する。ステップ５０でＦＩＦ
Ｏメモリ２７に書き込まれた生データの内、２回目以降
取り込まれた生データである場合には、ステップ５１へ
移行し、ＤＳＰ３３がＳＲＡＭ２９のメモリ領域が空
いているか否かを判断する。そして、空いている場合に
は、ステップ５２へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモ
リ２７からＳＲＡＭ２９のメモリ領域へ書き込む。

【００４７】続いて、ステップ５１でＤＳＰ３３がＳＲ
ＡＭ２９のメモリ領域が空いていないと判断した場合
には、ステップ５３へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメ
モリ２７から生データを選出してＳＲＡＭ３０のメモリ
領域へ書き込む。

【００４８】ステップ５４で各相の２回目の生データが
ＳＲＡＭ２９のメモリ領域もしくはＳＲＡＭ３０のメ
モリ領域への書き込み処理が終了すると、ステップ５
４−１へ移行する。ステップ５４−１でマスタ（電圧セ
ンサＰＴ2 ）の信号処理部であれば、ステップ５５でＤ
ＳＰ３３がメモリ領域及びメモリ領域に書き込まれ
た生データの内、設定メニューで指定された（本実施例
においてはマスタの電圧センサＰＴ2 におけるＷ相を指
定相とする。）生データについて高調波含有量をＦＦＴ
演算を実行して高調波含有率を演算する。このＦＦＴ演
算中においても、各相のＦＩＦＯメモリ２７には次の８
サイクル生データが順次書き込まれている。

【００４９】そして、ステップ５６で現在値の生データ
（直前に書き込み更新された生データ）と、現在値の生
データよりも過去に書き込まれた生データの高調波含有
率の大小を比較し、現在値の生データの高調波含有率が
過去の生データよりも大きい場合には、ステップ５７へ
移行する。

【００５０】ステップ５７で現在値の生データが書き込
まれているメモリ領域を保持する。例えば、ＳＲＡＭ３
０のメモリ領域に電圧センサＰＴ2 におけるＷ相の現
在値生データが保持されている場合には、メモリ領域
を保持する。ステップ５８でメモリ領域において、Ｗ
相と同一時間軸上のＶ相及びＵ相の生データをも保持す
る。ステップ５９で高調波含有率の低い生データが書き
込まれたメモリ領域、この場合ＳＲＡＭ２９のメモリ領
域に相当し、メモリ領域に書き込まれた生データを
クリアする。

【００５１】そして、ステップ６０でＤＳＰ３３はクリ
アされた過去の生データの高調波含有率データをもクリ
アし、代わりに前記メモリ領域にメモリ保持された生
データの含有率データを更新する。そして、この更新さ
れた含有率データは次回にサンプリングされる生データ
に付随する含有率データと比較するための比較値とな
る。また、マスタの電圧センサＰＴ2 以外の信号処理部
は、マスタの指定相生データが更新されるのを受けて同
一時間軸上の各相の生データを更新する。

【００５２】このように、マスタの信号処理部におい
て、サンプリングした生データに基づいて高調波含有率
を演算し、その含有率データが過去最大である時にはＳ
ＲＡＭ２９のメモリ領域またはＳＲＡＭ３０のメモリ
領域内の生データと含有率データとをそれぞれ更新
し、ステップ６１へ移行する。ステップ６１で１０分
（図８におけるＳ2 ）経過するまでこのステップ１２〜
１５及びステップ５０〜６０での処理を繰り返した後
に、ステップ４２に移行する。ステップ４２以降は前記
最大値観測モード１で上述したのでその説明を省略す
る。

【００５３】また、前記ステップ５４−１の信号処理部
（電圧センサＰＴ2 ）でなければ、ステップ５４−２で
マスタの信号処理部のＷ相における生データが更新され
たか否かが判断される。そして、更新されたのであれ
ば、ステップ５４−３へ移行し、各相の現在値の生デー
タを格納するメモリ領域を保持し、ステップ５４−４で
各相の他方のメモリ領域を開放後、前記ステップ６１へ
移行する。一方、ステップ５４−２で電圧センサＰＴ2
のＷ相における生データが更新されていなければ、前記
ステップ６１へ移行する。

【００５４】なお、図８は最大観測モード２での観測結
果を示す。本実施例においては親局９からの設定メニュ
ーで含有率データの基準相を電圧センサＰＴ2 のＷ相に
指定した。ｃ2 は電圧センサＰＴ2 におけるＷ相の含有
率データの最大値を示す生データであって、生データｃ
2 とその時間と同一時間軸上の電圧センサＰＴ1 、電流
センサＣＴ1 〜ＣＴ8 にて得られた他の相の生データを
観測データとする。なお、ａ2 は電圧センサＰＴ2 のＵ
相の含有率データの最大値を示す生データを示し、ｂ2
は電圧センサＰＴ2 のＶ相の含有率データの最大値を示
す生データを示す。 （最大値観測モード３）次に、最大値観測モード３につ
いて図１５〜図１７に基づいて説明する。

【００５５】図１５に示すように、ステップ７０でＦＩ
ＦＯメモリ２７に書き込まれた生データの内、１０分間
の計測を開始して最初の生データを取り込む場合には、
ステップ７２へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモリ２
７から最初の生データを選出してＳＲＡＭ２９のメモリ
領域へ書き込む。

【００５６】続いて、ステップ７０でＦＩＦＯメモリ２
７に書き込まれた生データの内、２回以降に取り込まれ
る生データである場合には、ステップ７１へ移行し、Ｄ
ＳＰ３３がＳＲＡＭ２９のメモリ領域が空いているか
否かを判断する。空いている場合には、ステップ７２へ
移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモリ２７から生データ
を選出してＳＲＡＭ２９のメモリ領域へ書き込む。

【００５７】また、ステップ７１でＤＳＰ３３がＳＲＡ
Ｍ２９のメモリ領域が空いていないと判断した場合に
は、ステップ７３へ移行し、ＤＳＰ３３がＦＩＦＯメモ
リ２７から生データを選出してＳＲＡＭ３０のメモリ領
域へ書き込む。ステップ７４で各相の２回目の生デー
タがＳＲＡＭ２９のメモリ領域及びＳＲＡＭ３０のメ
モリ領域への書き込み処理が終了すると、ステップ７
４−１へ移行する。ステップ７４−１でマスタ（電圧セ
ンサＰＴ2 ）の信号処理部であれば、ステップ７５でＤ
ＳＰ３３が電圧センサＰＴ2 のＵ相における生データの
内、直前に書き込み更新された生データについて高調波
含有量をＦＦＴ演算を実行して高調波含有率を演算す
る。このＦＦＴ演算中においても、ＦＩＦＯメモリ２７
にはＵ相の生データが順次書き込まれている。

【００５８】また、ステップ７６でＤＳＰ３３が電圧セ
ンサＰＴ2 のＶ相における生データの内、直前に書き込
み更新された生データについて高調波含有量をＦＦＴ演
算を実行して高調波含有率を演算する。このＦＦＴ演算
中においても、ＦＩＦＯメモリ２７にはＶ相の生データ
が順次書き込まれている。

【００５９】さらに、ステップ７７でＤＳＰ３３が電圧
センサＰＴ2 のＷ相における生データの内、直前に書き
込み更新された生データについて高調波含有量をＦＦＴ
演算を実行して高調波含有率を演算する。このＦＦＴ演
算中においても、ＦＩＦＯメモリ２７にはＷ相の生デー
タが順次書き込まれている。

【００６０】そして、ステップ７８でＵ相における現在
値の生データ（直前に書き込み更新された生データ）
と、現在値の生データよりも過去に書き込まれた生デー
タの高調波含有率の大小を比較し、現在値の生データの
含有率データが前回値の生データの含有率データよりも
大きい場合には、ステップ７９へ移行する。

【００６１】ステップ７９において、Ｕ相の現在値の生
データが書き込まれているメモリ領域を保持する。例え
ば、ＳＲＡＭ３０のメモリ領域に現在値の生データが
保持されている場合には、メモリ領域を保持する。ま
た、ステップ８０において、Ｕ相以外の相の最大値を示
す相以外の相の生データをもメモリ領域に保持する。
例えば、前回値を示す現在値の高調波含有率の大小比較
により、更新される現在値の生データがＵ相であったと
するならば、その同一時間軸上のＶ相及びＷ相について
もメモリ領域内へ保持する。

【００６２】それとともに、ステップ８１で高調波含有
率の低い生データが書き込まれていることとなった他方
のメモリ領域、この場合ＳＲＡＭ２９のメモリ領域に
相当し、メモリ領域に書き込まれた過去の生データを
クリアする。

【００６３】そして、ステップ８２でＤＳＰ３３はクリ
アされた過去の生データの含有率データをクリアし、代
わりに前記メモリ領域にメモリ保持された生データの
含有率データ更新する。そして、この更新された含有率
データは次回に更新される生データに付随する含有率デ
ータと比較するための比較値となる。なお、前記ステッ
プ７８において前回値より現在値が小さい時はステップ
７８−１に移行する。

【００６４】続いて、図１６に示すように、ステップ７
８−１でＶ相における現在値の生データ（直前に書き込
み更新された生データ）と、現在値の生データよりも過
去に書き込まれた生データの高調波含有率の大小を比較
し、現在値の生データの含有率データが前回値の生デー
タの含有率データよりも大きい場合には、ステップ７９
−１へ移行する。なお、図１５に示すステップ７８にお
いて、Ｖ相における現在値の生データの含有率データが
前回値の生データの含有率データよりも小さい場合に
は、ステップ７８−１へ移行し、上述した処理が行なわ
れる。

【００６５】ステップ７９−１において、Ｖ相の現在値
の生データが書き込まれているメモリ領域を保持する。
例えば、ＳＲＡＭ３０のメモリ領域に現在値の生デー
タが保持されている場合には、メモリ領域を保持す
る。また、ステップ８０−１において、Ｖ相以外の相の
生データをもメモリ領域に保持する。例えば、前回値
と現在値の高調波含有率の大小比較により、更新される
現在値の生データがＶ相であったとするならば、その同
軸時間上のＵ相及びＷ相についてもメモリ領域内へ保
持する。

【００６６】それとともに、ステップ８１−１で高調波
含有率の低い生データが書き込まれていることとなった
他方のメモリ領域、この場合ＳＲＡＭ２９のメモリ領域
に相当し、メモリ領域に書き込まれた過去の生デー
タをクリアする。

【００６７】そして、ステップ８２−１でＤＳＰ３３は
クリアされた過去の生データの含有率データをクリア
し、代わりに前記メモリ領域にメモリ保持された生デ
ータの含有率データを更新する。そして、この更新され
た含有率データは次回に更新される生データに付随する
含有率データと比較するための比較値となる。

【００６８】なお、ステップ７８−１において、Ｖ相に
おける現在値の生データの含有率データが前回値の生デ
ータの含有率データよりも小さい場合には、ステップ７
８−２へ移行する。

【００６９】続いて、ステップ７８−２でＷ相における
現在値の生データ（直前に書き込み更新された生デー
タ）と、現在値の生データよりも過去に書き込まれた生
データの高調波含有率の大小を比較し、現在値の生デー
タの含有率データが前回値の生データの含有率データよ
りも大きい場合には、ステップ７９−２へ移行する。

【００７０】ステップ７９−２において、Ｗ相の現在値
の生データが書き込まれているメモリ領域を保持する。
例えば、ＳＲＡＭ３０のメモリ領域に現在値の生デー
タが保持されている場合には、メモリ領域に保持す
る。また、ステップ８０−２において、Ｗ相以外の相の
生データをもメモリ領域に保持する。例えば、前回値
と現在値の高調波含有率の大小比較により、更新される
現在値の生データがＷ相であったとするならば、その同
軸時間上のＵ相及びＶ相についてもメモリ領域内へ保
持する。

【００７１】それとともに、ステップ８１−２で高調波
含有率の低い生データが書き込まれていることとなった
他方のメモリ領域、この場合ＳＲＡＭ２９のメモリ領域
に相当し、メモリ領域に書き込まれた過去の生デー
タをクリアする。

【００７２】そして、ステップ８２−２でＤＳＰ３３は
クリアされた過去の生データの含有率データをクリア
し、代わりに前記メモリ領域にメモリ保持された生デ
ータの含有率データを更新する。そして、この更新され
た含有率データは次回に更新される生データに付随する
含有率データと比較するための比較値となる。

【００７３】このように、各相毎にサンプリングした生
データに基づいて高調波含有率を演算し、その含有率デ
ータが過去最大である時にはＳＲＡＭ２９のメモリ領域
とＳＲＡＭ３０のメモリ領域内の生データと含有率
データとをそれぞれ更新し、ステップ８３で１０分（図
９におけるＳ3 ）経過するまでこのステップ１２〜１５
及びステップ７０〜８２での処理を繰り返した後に、ス
テップ８４に移行する。

【００７４】ステップ８４−１でＤＳＰ３３はＵ相、Ｖ
相及びＷ相において選出された生データの内、含有率デ
ータが最大である相（この場合Ｗ相）の生データを選出
し、選出された生データと同一時間軸上の他相データと
ともに観測データとする。その後、ステップ４２に移行
する。ステップ４２以降は前記最大値観測モード１で上
述したのでその説明を省略する。

【００７５】また、図１７に示すように、前記ステップ
７４−１でマスタの信号処理部（電圧センサＰＴ2 ）で
なければ、ステップ７４−２でマスタの信号処理部Ｕ相
における生データが更新されたか否かが判断される。そ
して、更新されたのであれば、ステップ７４−３へ移行
し、同一時間軸上の各相の現在値の生データを格納する
メモリ領域を保持し、ステップ７４−４で、前回値の生
データを格納するメモリ領域をクリアする。前記ステッ
プ７４−２で生データが更新されなければ、ステップ７
４−５へ移行する。

【００７６】続いて、ステップ７４−５でマスタの信号
処理部Ｖ相における生データが更新されたか否かが判断
される。そして、更新されたのであれば、ステップ７４
−６へ移行し、同一時間軸上の各相の現在値の生データ
を格納するメモリ領域を保持し、ステップ７４−７で、
前回値の生データを格納するメモリ領域をクリアする。
前記ステップ７４−５で生データが更新されなければ、
ステップ７４−８へ移行する。

【００７７】さらに続いて、ステップ７４−８でマスタ
の信号処理部Ｗ相における生データが更新されたか否か
が判断される。そして、更新されたのであれば、ステッ
プ７４−９へ移行し、同一時間軸上の各相の現在値の生
データを格納するメモリ領域を保持し、ステップ７４−
１０で、前回値の生データを格納するメモリ領域をクリ
アする。前記ステップ７４−８で生データが更新されな
ければ、ステップ８３−１へ移行する。

【００７８】上述したように、マスタにおける生データ
の更新に伴いスレーブの生データをそれぞれ更新し、ス
テップ８３−１で１０分（図９におけるＳ３）経過する
までこのステップ１２〜１５及びステップ７０〜８２で
の処理を繰り返した後に、ステップ８４−１に移行す
る。そして、このステップ８４−１において、マスタ
（ＰＴ2 ）の信号処理部にて決定された最大値相の他の
データ（ＰＴ1 ，ＣＴ1 〜ＣＴ8 ）を保持する。その
後、ステップ４２に移行する。ステップ４２以降は前記
最大値観測モード１で上述したのでその説明を省略す
る。

【００７９】なお、図９は最大観測モード３においての
１０分間における観測結果を示す。生データａ3 ，ｂ3
，ｃ3 は電圧センサＰＴ2 における各相の含有率デー
タが最大値を示すデータである。その生データａ3 ，ｂ
3 ，ｃ3 の内、生データｃ3 に付随する含有率データが
最大値を示した場合、含有率データの最大値を示すＷ相
の生データｃ3 の時間と同一時間軸上の電圧センサＰＴ
1 、電流センサＣＴ1 〜ＣＴ8 にて得られた他の相の生
データを観測データとする。

【００８０】上述したように、信号処理部１４では所望
の観測モードで生データが選出される。この生データは
コンピュータ２０へ伝送され、コンピュータ２０により
ＦＦＴ演算にて高調波電力が演算される。そして、コン
ピュータ２０はその演算結果を光磁気ディスク２１に書
き込んだり、プリンタ出力装置２２もしくはＸ−Ｙプロ
ッタ出力装置２３に観測結果を出力する。

【００８１】すなわち、これらの観測結果に基づいて、
下記に示すように、各フィーダ６ａ〜６ｆにおける高調
波の発生状況、各フィーダ６ａ〜６ｆにおける共振の発
生状況、各バンク３ａ，３ｂ…における共振の発生状況
が検出される。以下、各種観測状況の具体例を図１８〜
図２１に基づいて説明する。なお、図１８〜図２１にお
いて示す矢印は高調波電力の流れる方向を示す。図１８
に示すように、各フィーダ６ａ〜６ｆにおける高調波発
生状況を観測する場合、例えば、５次における同時刻の
観測結果について説明すると、フィーダ６ｃの高調波電
力が５ＫＷ、二次側母線５ａの高調波電力が５ＫＷ及び
母線２の高調波電力が５ＫＷを示したとする。この観測
結果より、高調波電力はフィーダ６ｃから二次側母線５
ａを介して母線２に流れ込んでいるものと判断でき、高
調波の発生源はフィーダ６ｃにあると判断される。

【００８２】また、図１９に示すように、各フィーダ６
ａ〜６ｆ…における共振状況を観測する場合、例えば、
５次における同時刻の観測結果について説明すると、フ
ィーダ６ｃ，６ｄの高調波電力が５ＫＷ、二次側母線５
ａの高調波電力が０ＫＷ及び母線２の高調波電力が０Ｋ
Ｗを示したとする。この観測結果より、高調波発生源は
フィーダ６ｃにあると判断されるとともに、フィーダ６
ｃとフィーダ６ｄの共振周波数が５次の周波数と一致し
たことで、発生源からの高調波電力はフィーダ６ｃから
フィーダ６ｄに流れ込み、両フィーダ６ｃ，６ｄは共振
回路が形成された状態にあると判断される。

【００８３】さらに、図２０に示すように、各バンク３
ａ，３ｂ…における共振状況を観測する場合、例えば、
５次における同時刻の観測結果について説明すると、二
次側母線５ａの高調波電力が５ＫＷ及び二次側母線５ｂ
の高調波電力が５ＫＷを示したとする。この観測結果よ
り、高調波発生源はバンク３ｂにあると判断されるとと
もに、二次側母線５ａと二次側母線５ｂの共振周波数が
５次の周波数と一致したことで、発生源からの高調波電
力は二次側母線５ｂから二次側母線５ａに流れ込み、両
バンク３ａ，３ｂは共振回路が形成された状態にあると
判断される。従って、バンク３ａとバンク３ｂとは共振
していることが判断される。

【００８４】なお、図１８〜図２０において示した高調
波電力の流れる方向（同図矢印）の算出方法は以下のよ
うになっている。すなわち、図２１に示すように、電圧
ベクトルに対する電流ベクトルの位相差をθとした場
合、一般に表１に示すようになっている。

【００８５】

【表１】 例えば、５次において電圧ベクトルＶに対する電流ベク
トルＩ1 の位相差が８０°（θ1 ）である場合には、高
調波電力が電源側から流入していると判断される。ま
た、電圧ベクトルＶに対する電流ベクトルＩ2 の位相差
が−１００°（θ2 ）である場合には、高調波電力が負
荷側から電源側から流出していると判断される。つま
り、そのデータに基づいて観測者は観測した時刻に高調
波が電源側もしくは負荷側のどちら側で発生しているか
を方向判断する。

【００８６】従って、変電所Ｓ内における母線２、二次
側母線５ａ〜５ｃ…、各フィーダ６ａ〜６ｆに多数の電
圧センサＰＴ1 ，ＰＴ2 及び電流センサＣＴ1 〜ＣＴ8
を取着して各々の母線２，５ａ〜５ｃ…，６ａ〜６ｆの
生データを同時刻に観測するようにした。この結果、い
ずれのフィーダ６ａ〜６ｆに高調波及び共振が発生して
いるか、または、いずれのバンク３ａ〜３ｃ…に高調波
及び共振が発生しているかを適確に探査することができ
る。

【００８７】また、子局９で１０分間の間に選別された
生データにおいて、電圧ベクトルに対する電流ベクトル
の位相角が所定角進んでいるか、遅れているかを判断す
ることにより高調波の発生方向を判断することもでき
る。この結果、極めて短時間に高調波が発生しても必ず
検出されてそれらの発生場所、発生時間及び共振を判定
し、その発生原因を突き止めることが可能となる。

【００８８】また、観測時において子局９と親局８との
同期をとるためにトリガ線等を網羅しなくても、観測開
始時刻を同期させることができて、複数の観測点から観
測データ（生データ）を連続的に収集して、高調波もし
くは共振の観測をすることができる。しかも、子局９に
は親局８と同様のコンピュータ２０を省略できたので、
子局９の小型化に伴い設置スペースを確保することがで
きる。この結果、子局９は設定場所に制限を受けること
なく、任意の位置に複数配置することができる。

【００８９】さらに、観測方法には定時刻観測モード及
び最大値観測モード１〜３の４種類の観測モードで測定
するようにした。よって、諸条件に応じた所望の観測デ
ータを収集することができ、高調波及び共振の発生原因
等を確実に突き止めることができる。

【００９０】なお、本発明は上記実施例に限定されるこ
とはなく、本発明の趣旨から逸脱しない範囲で以下のよ
うに適宜変更してもよい。 （１）上記実施例ではコンピュータ２０が電圧ベクトル
と電流ベクトルの生データの位相角のずれを演算し、高
調波の発生方向を判別するようにしたが、その発生方向
をコンピュータ２０のディスプレイに矢印等により表示
するようにしてもよい。

【００９１】（２）上記実施例において、定時刻観測モ
ードで観測した場合には１０分間の観測の内、最初の生
データを観測データとして収集したが、１０分間の内ど
の時間帯を生データを収集するための定時刻として設定
してもよい。また、１０分に限らず、任意の時間に設定
してもよい。

【００９２】（３）前記実施例において生データは電圧
値及び電流値の基本周波数の８サイクル分を生データの
単位としたが、このサイクルを変更し、任意のサイクル
に設定してもよい。

【００９３】（４）上記実施例において、各種モードで
の観測方法はいずれも第５次の高調波についてのみ含有
率を演算して生データを選出したが、複数の次数につい
て含有率を演算したり、全ての次数について含有率を演
算したりして生データを選出してもよい。

【００９４】（５）上記実施例では通信回線として一般
の電話回線を利用したが、高調波観測のために特別に設
置された専用回線を使用してもよい。 （６）上記実施例では含有率を演算する高調波の次数を
親局８から指定するようにしたが、親局８から指令する
ことなく子局９における制御部１５のＲＯＭ２８に特定
次数の高調波について演算を行うようにプログラムして
おいてもよい。

【００９５】（７）上記実施例では通信の手段としてモ
デムを使用しているが、親局側のモデムは１台でもかま
わない。その場合、複数の子局との接続は交換器を利用
してもよい。

【００９６】（８）上記実施例では通信回線として有線
を利用したが、親局・子局双方に無線器を設置し、無線
による通信を行ってもよい。

【００９７】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、変
電所内において複数の観測点から同時に探査することに
より、適確に高調波の発生源を突き止めることができる
という優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を具体化した高調波探査装置の電気的構
成を示すブロック図である。

【図２】同じく、子局における制御部と信号処理部の電
気的構成を示すブロック図である。

【図３】同じく、信号処理部の電気的構成を示すブロッ
ク図である。

【図４】同じく、制御部の電気的構成を示すブロック図
である。

【図５】同じく、変電所内の系統を示す概略図である。

【図６】同じく、定時刻観測モードのサンプリング状況
を示すタイミングチャートである。

【図７】同じく、最大値観測モード１のサンプリング状
況を示すタイミングチャートである。

【図８】同じく、最大値観測モード２のサンプリング状
況を示すタイミングチャートである。

【図９】同じく、最大値観測モード３のサンプリング状
況を示すタイミングチャートである。

【図１０】同じく、子局における制御部の観測処理を説
明するためのフローチャートである。

【図１１】同じく、子局における信号処理部の観測処理
を説明するためのフローチャートである。

【図１２】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、定時刻観測モードでの観測処理を説明するた
めのフローチャートである。

【図１３】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、最大値観測モード１での観測処理を説明する
ためのフローチャートである。

【図１４】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、最大値観測モード２での観測処理を説明する
ためのフローチャートである。

【図１５】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、最大値観測モード３での観測処理を説明する
ためのフローチャートである。

【図１６】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、最大値観測モード３での観測処理を説明する
ためのフローチャートである。

【図１７】同じく、子局における信号処理部の観測処理
であって、最大値観測モード３での観測処理を説明する
ためのフローチャートである。

【図１８】同じく、フィーダにおける高調波発生源の観
測状況を示す説明図である。

【図１９】同じく、フィーダにおける共振の観測状況を
示す説明図である。

【図２０】同じく、バンクにおける共振の観測状況を示
す説明図である。

【図２１】同じく、高調波の電圧ベクトルと電流ベクト
ルの位相差を示す説明図である。

【符号の説明】

２…母線、５ａ〜５ｃ…二次側母線、６ａ〜６ｆ…フィ
ーダ、８…親局、９…子局、１０…電話回線（伝送手
段）、２０…コンピュータ（演算手段）、ＰＴ1，ＰＴ2
…電圧センサ（検出手段）、ＣＴ1 〜ＣＴ8 …電流セ
ンサ（検出手段）Ｓ…変電所

フロントページの続き (72)発明者 上田 玄 愛知県名古屋市瑞穂区大喜新町３−９ 中 電堀田アパート ９−401 (72)発明者 石原 克朗 愛知県犬山市字上小針１番地 エナジーサ ポート 株式会社内 (72)発明者 友納 英尊 愛知県犬山市字上小針１番地 エナジーサ ポート 株式会社内 (72)発明者 河野 文昭 愛知県犬山市字上小針１番地 エナジーサ ポート 株式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 変電所内において母線、二次側母線及び
   二次側母線から分岐されるフィーダに設けられている複
   数の子局と、 前記各子局に設けられ、幹線及び分岐線に流れる電圧値
   または電流値を検出する複数の検出手段と、 前記検出手段にて検出された電圧値または電流値を親局
   に対し伝送する伝送手段と、 前記親局に設けられ、伝送手段にて伝送された電圧値ま
   たは電流値に基づいて高調波電力を演算する演算手段と
   を備えたことを特徴とする高調波の発生源探査装置。