JPH07103827A - 光学分光分析装置 - Google Patents
光学分光分析装置Info
- Publication number
- JPH07103827A JPH07103827A JP4040418A JP4041892A JPH07103827A JP H07103827 A JPH07103827 A JP H07103827A JP 4040418 A JP4040418 A JP 4040418A JP 4041892 A JP4041892 A JP 4041892A JP H07103827 A JPH07103827 A JP H07103827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiant energy
- light
- electrical signal
- weighted
- elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 abstract description 10
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 4
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 abstract 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 18
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 12
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 4
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000976 ink Substances 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0218—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/501—Colorimeters using spectrally-selective light sources, e.g. LEDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/52—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
- G01J3/524—Calibration of colorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J2003/467—Colour computing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/0826—Fibre array at source, distributing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/0833—Fibre array at detector, resolving
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 異なる波長依存性を有する多重的な分光積
分により光エネルギーを測定する装置。 【効果】 部品の特性や温度によらず一貫した測定が
可能で、かつ、コストが低く抑えられる。
分により光エネルギーを測定する装置。 【効果】 部品の特性や温度によらず一貫した測定が
可能で、かつ、コストが低く抑えられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】ヒトの視覚系は、分光エネルギー
を、明るさおよび色または色の違いとして認識する能力
においては非常に優れているが、これを定量化したり想
起(recall)する能力はそれ程には高くない。このため、
こうした働きを実現するために、濃度計(densitomete
r)や測色計(colorimeter)、分光光度計、放射計、クロ
マ・メーター(chroma meter)といった一群の装置が開発
されてきた。本発明は、この種の高品質な測定を低コス
トで実現する測定装置、特に、複数の固体放射源(たと
えば、発光ダイオード)と複数の固体放射検出器を一体
化した光学分光分析装置に関する。
を、明るさおよび色または色の違いとして認識する能力
においては非常に優れているが、これを定量化したり想
起(recall)する能力はそれ程には高くない。このため、
こうした働きを実現するために、濃度計(densitomete
r)や測色計(colorimeter)、分光光度計、放射計、クロ
マ・メーター(chroma meter)といった一群の装置が開発
されてきた。本発明は、この種の高品質な測定を低コス
トで実現する測定装置、特に、複数の固体放射源(たと
えば、発光ダイオード)と複数の固体放射検出器を一体
化した光学分光分析装置に関する。
【0002】
【従来技術とその問題点】濃度計や測色計、分光光度
計、放射計およびクロマ・メーターは、同種の物理的測
定を行なうものである。これらはそれぞれ、波長を変数
とした光エネルギーに関する1以上の重み付き積分(wei
ghted integration)を計算する。濃度計や測色計あるい
は放射計およびクロマ・メーターでは、少数の重み付き
積分が行なわれるのが普通である。濃度計および測色計
における重み関数(weighting function)は、通常、光源
のスペクトル強度、フィルタ・パラメータ、検出器の感
度特性(sensitivity profile)および試料の反射率また
は透過率の積である。
計、放射計およびクロマ・メーターは、同種の物理的測
定を行なうものである。これらはそれぞれ、波長を変数
とした光エネルギーに関する1以上の重み付き積分(wei
ghted integration)を計算する。濃度計や測色計あるい
は放射計およびクロマ・メーターでは、少数の重み付き
積分が行なわれるのが普通である。濃度計および測色計
における重み関数(weighting function)は、通常、光源
のスペクトル強度、フィルタ・パラメータ、検出器の感
度特性(sensitivity profile)および試料の反射率また
は透過率の積である。
【0003】クロマ・メーターおよび放射計では、試料
は放射源(radiant source)であり、重み関数は、試料の
スペクトル強度、フィルタ・パラメータおよび検出器の
スペクトル感度の積である。反射率や透過率を測定する
ために現在行なわれている方法では、光源としてはタン
グステン・ランプのような広帯域発光体(broad bandem
itter)が使用され、検出器は広い範囲の波長にわたって
感受性を有する。一般的には、各重み付き積分に使用さ
れる光源および検出器特性は同一であり、フィルタ特性
のみが変更される。また、こうした装置は、通常、透過
率あるいは反射率が既知の試料を用いて較正される。分
光光度計および分光放射計では、数十ないし数千の重み
付き積分の結果を得ることが、通常、可能である。分光
光度計および分光放射計では、通常、重み関数はいずれ
も同一形状をしており、これは、理想的には狭い三角形
である。波長軸に沿って重み関数の中心位置を複数選ぶ
ことにより、多重的な重み付き積分が得られる。通常、
分光光度計では、広帯域の光源および検出器が使用され
るが、波長範囲が極めて広い範囲に及ぶこともあるた
め、複数の光源および検出器を備えている場合もある。
重み関数は、連続フィルタ、多重フィルタ、モノクロメ
ータ、分光器あるいは干渉技術によってもたらされる。
一方、濃度計、測色計およびクロマ・メーターは、特定
の重み付き積分を生じるように設計される。グラフィッ
ク・アートの分野で使用される濃度計では、積分の重み
付けは、印刷で使用される標準的なインクの反射に対す
る応答性が最適化するようにされている。測色計および
クロマ・メーターでは、関数の重み付けは、CIEまた
はASTMによって規定される色度座標(chromaticity
coordinate)を生成することを目的とする。分光光度計
および分光放射計は、試料の波長に関する反射率、透過
率または強度スペクトルを、一群の点、曲線またはスペ
クトルとして表わす。これらの重み付き積分のすべて
は、波長に関するリニアな合計であるため、それぞれの
積分は、共通ベクトル空間内のベクトルと考えてもよ
い。すなわち、ある特定の重み付き積分の集合は、この
空間から得られる、1個の部分空間を形成するベクトル
の集まりである。こうした部分空間は、成分ベクトルが
それから計算されるところの重み付き積分の集合によっ
て張られている、と言われる。この意味において、各タ
イプの測定装置は、その重み付き積分によって表現され
るベクトルによって張られる空間の部分集合を測定して
いると言うことができる。一般的には、濃度計や測色計
およびクロマ・メーターにおける重み付き積分によって
張られる空間は、分光光度計および分光放射計における
重み関数によって張られる空間の部分集合である。測色
計、濃度計およびクロマ・メーターが、公の標準にした
がって設計される場合、個別の積分は、スペクトルにわ
たっての合計によって述べられ、これらの装置は、通
常、高精度の分光光度計もしくは分光放射計による測定
に対して較正されるか、または、反射率、透過率もしく
はスペクトル強度が、波長の関数として独立に決定され
ている試料に対して較正される。これらの重み付き積分
の各集合が同一のベクトル空間の部分集合として表わさ
れるならば、重み付き積分の任意の集合は他の集合に、
両方の集合によって張られる、上記空間の部分集合内に
おいて、変換され得ることになる。つまり、この計算
は、行列の掛け算によって行なわれる線形変換である、
ということになる。これは、色度座標または濃度が、分
光光度計または分光放射計によって得られるスペクトル
・データから計算される場合に行われていることであ
る。また、色度座標によりまたは濃度特性(density spe
cifications)により張られる(上記空間の)部分集合、
を張る重み付き積分の他の集合の集まりも存在するだろ
う、ということにもなる。こうした部分集合は、いずれ
も、色度座標や濃度関数の計算のために測定使用するこ
とができる。
は放射源(radiant source)であり、重み関数は、試料の
スペクトル強度、フィルタ・パラメータおよび検出器の
スペクトル感度の積である。反射率や透過率を測定する
ために現在行なわれている方法では、光源としてはタン
グステン・ランプのような広帯域発光体(broad bandem
itter)が使用され、検出器は広い範囲の波長にわたって
感受性を有する。一般的には、各重み付き積分に使用さ
れる光源および検出器特性は同一であり、フィルタ特性
のみが変更される。また、こうした装置は、通常、透過
率あるいは反射率が既知の試料を用いて較正される。分
光光度計および分光放射計では、数十ないし数千の重み
付き積分の結果を得ることが、通常、可能である。分光
光度計および分光放射計では、通常、重み関数はいずれ
も同一形状をしており、これは、理想的には狭い三角形
である。波長軸に沿って重み関数の中心位置を複数選ぶ
ことにより、多重的な重み付き積分が得られる。通常、
分光光度計では、広帯域の光源および検出器が使用され
るが、波長範囲が極めて広い範囲に及ぶこともあるた
め、複数の光源および検出器を備えている場合もある。
重み関数は、連続フィルタ、多重フィルタ、モノクロメ
ータ、分光器あるいは干渉技術によってもたらされる。
一方、濃度計、測色計およびクロマ・メーターは、特定
の重み付き積分を生じるように設計される。グラフィッ
ク・アートの分野で使用される濃度計では、積分の重み
付けは、印刷で使用される標準的なインクの反射に対す
る応答性が最適化するようにされている。測色計および
クロマ・メーターでは、関数の重み付けは、CIEまた
はASTMによって規定される色度座標(chromaticity
coordinate)を生成することを目的とする。分光光度計
および分光放射計は、試料の波長に関する反射率、透過
率または強度スペクトルを、一群の点、曲線またはスペ
クトルとして表わす。これらの重み付き積分のすべて
は、波長に関するリニアな合計であるため、それぞれの
積分は、共通ベクトル空間内のベクトルと考えてもよ
い。すなわち、ある特定の重み付き積分の集合は、この
空間から得られる、1個の部分空間を形成するベクトル
の集まりである。こうした部分空間は、成分ベクトルが
それから計算されるところの重み付き積分の集合によっ
て張られている、と言われる。この意味において、各タ
イプの測定装置は、その重み付き積分によって表現され
るベクトルによって張られる空間の部分集合を測定して
いると言うことができる。一般的には、濃度計や測色計
およびクロマ・メーターにおける重み付き積分によって
張られる空間は、分光光度計および分光放射計における
重み関数によって張られる空間の部分集合である。測色
計、濃度計およびクロマ・メーターが、公の標準にした
がって設計される場合、個別の積分は、スペクトルにわ
たっての合計によって述べられ、これらの装置は、通
常、高精度の分光光度計もしくは分光放射計による測定
に対して較正されるか、または、反射率、透過率もしく
はスペクトル強度が、波長の関数として独立に決定され
ている試料に対して較正される。これらの重み付き積分
の各集合が同一のベクトル空間の部分集合として表わさ
れるならば、重み付き積分の任意の集合は他の集合に、
両方の集合によって張られる、上記空間の部分集合内に
おいて、変換され得ることになる。つまり、この計算
は、行列の掛け算によって行なわれる線形変換である、
ということになる。これは、色度座標または濃度が、分
光光度計または分光放射計によって得られるスペクトル
・データから計算される場合に行われていることであ
る。また、色度座標によりまたは濃度特性(density spe
cifications)により張られる(上記空間の)部分集合、
を張る重み付き積分の他の集合の集まりも存在するだろ
う、ということにもなる。こうした部分集合は、いずれ
も、色度座標や濃度関数の計算のために測定使用するこ
とができる。
【0004】
【発明の構成】本発明によれば、少数の入力に対して任
意の線形変換を施すことを可能とする装置が提供され
る。この装置は、重み付き積分のどの様な集合でも測定
することができ、これから、所望の結果を計算すること
ができる。より具体的に言えば、、重み付き積分の集合
は、装置により測定結果が与えられる重み関数への適合
性よりも、コストおよび装置の品質に依存して選択され
得るということが見出された。高価な部品の数を最小限
にとどめつつ、可能なかぎり大きな(ベクトル空間の)
部分集合を張る重み関数の集合を生成することができ
る。本発明による光学分光分析装置で反射率および透過
率を測定するに当っては、少数の光源(各光源は調べよ
うとする波長域部分集合にわたって光エネルギーを供給
する)、および、少数の検出器(いずれも全波長領域に
わたって感度を有するがその感度は波長の関数として異
なる重み付けを有する)が使用される。各光源は、試料
を、順に照らし、試料からの反射光は全検出器に導かれ
て、検出器出力が記録される。光源による照射がすべて
済むと重み付き積分の集合が導出される。その数は、光
源の数と検出器の数との積である。これらの積分の重み
関数は、個々の光源の重み関数と個々の検出器の感度関
数の積になる。好ましくは、反射率/透過率測定装置に
おいて、光源は発光ダイオードであり、検出器は、波長
の関数としてそれぞれ異なる感度曲線を有するように製
造、処理またはフィルター付けをされたフォトダイオー
ドである。
意の線形変換を施すことを可能とする装置が提供され
る。この装置は、重み付き積分のどの様な集合でも測定
することができ、これから、所望の結果を計算すること
ができる。より具体的に言えば、、重み付き積分の集合
は、装置により測定結果が与えられる重み関数への適合
性よりも、コストおよび装置の品質に依存して選択され
得るということが見出された。高価な部品の数を最小限
にとどめつつ、可能なかぎり大きな(ベクトル空間の)
部分集合を張る重み関数の集合を生成することができ
る。本発明による光学分光分析装置で反射率および透過
率を測定するに当っては、少数の光源(各光源は調べよ
うとする波長域部分集合にわたって光エネルギーを供給
する)、および、少数の検出器(いずれも全波長領域に
わたって感度を有するがその感度は波長の関数として異
なる重み付けを有する)が使用される。各光源は、試料
を、順に照らし、試料からの反射光は全検出器に導かれ
て、検出器出力が記録される。光源による照射がすべて
済むと重み付き積分の集合が導出される。その数は、光
源の数と検出器の数との積である。これらの積分の重み
関数は、個々の光源の重み関数と個々の検出器の感度関
数の積になる。好ましくは、反射率/透過率測定装置に
おいて、光源は発光ダイオードであり、検出器は、波長
の関数としてそれぞれ異なる感度曲線を有するように製
造、処理またはフィルター付けをされたフォトダイオー
ドである。
【0005】以下の表は、どのような構成がどのような
測定に対応するかを示したものである: 光源 検出器 積分 可能となる計算 1 1 1 一軸アクセプト/リジェクト 2 1 2 白色度、黄色度 3 1 3 単光源色度(one illuminant chromaticity) 4 1 4 四軸濃度(four axis density) 4 2 8 多光源色度(multi illuminant chromaticity) 6 3 16 低分解度スペクトル(low resolution spectra) 6 4 24 中分解度スペクトル(medium resolution spectra)
測定に対応するかを示したものである: 光源 検出器 積分 可能となる計算 1 1 1 一軸アクセプト/リジェクト 2 1 2 白色度、黄色度 3 1 3 単光源色度(one illuminant chromaticity) 4 1 4 四軸濃度(four axis density) 4 2 8 多光源色度(multi illuminant chromaticity) 6 3 16 低分解度スペクトル(low resolution spectra) 6 4 24 中分解度スペクトル(medium resolution spectra)
【0006】好ましくは、発光ダイオード(LED)お
よび検出器は、非装着(unmounted)半導体チップのかた
ちとする。反射光を調べる場合には、選択された一群の
検出器と発光器が共通基板上に装着される。一定温度条
件でかつ湿度から保護されているならば、発光ダイオー
ドおよびフォトダイオードは安定な素子である。したが
って、温度センサ、および、必要に応じて温度制御用部
品を、上記基板上に装着する。ついで、組立体全体をシ
ールして湿度から保護し、さらにセンサからの出力を用
いて重み付き積分とレポート出力単位(reported output
unit)間の線形変換を調整し、これにより温度変化を補
償する。また、反射光測定の態様では、LEDからの光
が直接に検出器に入ることがないように物理的な遮蔽を
用い、エポキシ製の保護シールを用いる他は光学的部品
を用いることなく、組立体全体を試料表面に向けるよう
にしてもよい。
よび検出器は、非装着(unmounted)半導体チップのかた
ちとする。反射光を調べる場合には、選択された一群の
検出器と発光器が共通基板上に装着される。一定温度条
件でかつ湿度から保護されているならば、発光ダイオー
ドおよびフォトダイオードは安定な素子である。したが
って、温度センサ、および、必要に応じて温度制御用部
品を、上記基板上に装着する。ついで、組立体全体をシ
ールして湿度から保護し、さらにセンサからの出力を用
いて重み付き積分とレポート出力単位(reported output
unit)間の線形変換を調整し、これにより温度変化を補
償する。また、反射光測定の態様では、LEDからの光
が直接に検出器に入ることがないように物理的な遮蔽を
用い、エポキシ製の保護シールを用いる他は光学的部品
を用いることなく、組立体全体を試料表面に向けるよう
にしてもよい。
【0007】実用的には、可視領域の赤方端の波長のL
EDの方が、青方端のLEDよりも効率がよい。したが
って、電気的な補償を行なうことを除外するものではな
いが、短波長のLEDチップをより多く使用してこの波
長域の出力光を増やしてシステムのバランスを取ること
が好ましい。したがって、本発明において、たとえば、
6光源を使用するという態様では、必要に応じていくつ
かの波長域でLEDを重複させ、6個以上のLEDチッ
プを用いるようにしてもよい。
EDの方が、青方端のLEDよりも効率がよい。したが
って、電気的な補償を行なうことを除外するものではな
いが、短波長のLEDチップをより多く使用してこの波
長域の出力光を増やしてシステムのバランスを取ること
が好ましい。したがって、本発明において、たとえば、
6光源を使用するという態様では、必要に応じていくつ
かの波長域でLEDを重複させ、6個以上のLEDチッ
プを用いるようにしてもよい。
【0008】小領域を正確にサンプリングするために、
ファイバ組立体を用いてもよい。この場合、少数の短い
光ファイバが使用され、LEDからの光を試料に導くと
ともに試料からの光を検出器に戻す。目的が小領域での
測定であるから、クラッド層が薄く、クラッドに比べコ
ア径の大きなファイバが使用される。ファイバの一端
は、検出器およびLEDと直接につながるように配置さ
れる。光学的な結合を確かなものとするために、光エポ
キシを使用してもよいであろう。この支持用エポキシ
は、ファイバ組立体をしっかりと保持する。試料の反射
/透過の単なる重み付き積分ではない要素を計算するた
めに、検出器と光源重み関数の特別な組合せを使用する
ことも可能である。たとえば、検出器の一つが光源の一
つから放射される波長の光には感度を有しないようにし
ておいた場合、(その光源のみがアクチブであるとき
の)この検出器からの応答によって試料による蛍光を測
定することができる。
ファイバ組立体を用いてもよい。この場合、少数の短い
光ファイバが使用され、LEDからの光を試料に導くと
ともに試料からの光を検出器に戻す。目的が小領域での
測定であるから、クラッド層が薄く、クラッドに比べコ
ア径の大きなファイバが使用される。ファイバの一端
は、検出器およびLEDと直接につながるように配置さ
れる。光学的な結合を確かなものとするために、光エポ
キシを使用してもよいであろう。この支持用エポキシ
は、ファイバ組立体をしっかりと保持する。試料の反射
/透過の単なる重み付き積分ではない要素を計算するた
めに、検出器と光源重み関数の特別な組合せを使用する
ことも可能である。たとえば、検出器の一つが光源の一
つから放射される波長の光には感度を有しないようにし
ておいた場合、(その光源のみがアクチブであるとき
の)この検出器からの応答によって試料による蛍光を測
定することができる。
【0009】
【発明の具体的開示】図1は、本発明の一態様である、
直接照明/測定用の光源−発光器組立体の上面図および
その中心における断面図である。1で示される部分は、
保護用の外殻であり、この外殻は、1)外光を遮断す
る;2)発光器2から外側に発散する光を中心部に向け
る;および発光器を覆う光学エポキシ(optical epoxy)
5を保持する;という機能を有する。LEDダイス2の
かたちの一群の発光器は、組立体の周辺部に配置され
る。検出器3はフィルタ層4を備え、組立体の中心部に
配置される。半透明材料からなる円筒6は、発光器2か
ら出た光が直接に検出器3に入ることを防ぐとともに光
学エポキシ5を保持する。この光学エポキシ5は、発光
器および検出器上に適用されてこれらの密閉シールを形
成するとともにその上面を平にする。基板7は電気的結
合部材を保持するとともに、発光器2と検出器3、およ
び、必要に応じて熱センサ要素8との間を熱的に結合す
る。
直接照明/測定用の光源−発光器組立体の上面図および
その中心における断面図である。1で示される部分は、
保護用の外殻であり、この外殻は、1)外光を遮断す
る;2)発光器2から外側に発散する光を中心部に向け
る;および発光器を覆う光学エポキシ(optical epoxy)
5を保持する;という機能を有する。LEDダイス2の
かたちの一群の発光器は、組立体の周辺部に配置され
る。検出器3はフィルタ層4を備え、組立体の中心部に
配置される。半透明材料からなる円筒6は、発光器2か
ら出た光が直接に検出器3に入ることを防ぐとともに光
学エポキシ5を保持する。この光学エポキシ5は、発光
器および検出器上に適用されてこれらの密閉シールを形
成するとともにその上面を平にする。基板7は電気的結
合部材を保持するとともに、発光器2と検出器3、およ
び、必要に応じて熱センサ要素8との間を熱的に結合す
る。
【0010】図4には、8本の光源用ファイバと3本の
検出器用ファイバとを有するファイバ組立体の一例の端
面図が示され、その割当て例も示されている。これらは
好ましくは直径1ミリメートルのファイバであり、例と
して示すファイバ組立体の最大径は4ミリメートルとな
る。検出起用ファイバは中心部に配置され、図では、D
1、D2およびD3で示されている。光源用ファイバは
組立体の周辺部に沿って配置され、対応する発光ダイオ
ードの中心波長(ナノメートル単位)が示されている。
低い波長である470ナノメートルと555ナノメート
ルはこのパターンでは繰り返されている。
検出器用ファイバとを有するファイバ組立体の一例の端
面図が示され、その割当て例も示されている。これらは
好ましくは直径1ミリメートルのファイバであり、例と
して示すファイバ組立体の最大径は4ミリメートルとな
る。検出起用ファイバは中心部に配置され、図では、D
1、D2およびD3で示されている。光源用ファイバは
組立体の周辺部に沿って配置され、対応する発光ダイオ
ードの中心波長(ナノメートル単位)が示されている。
低い波長である470ナノメートルと555ナノメート
ルはこのパターンでは繰り返されている。
【0011】図5には、6本の光源用ファイバと1本の
検出器用ファイバとを有するファイバ組立体の一例の端
面図が示され、その割当て例も示されている。Dで示さ
れている検出器用ファイバは、2つの検出器と光学的に
つながっている。光源用ファイバは検出器用ファイバの
周りに配置される。これらには、対応する発光ダイオー
ドの中心波長(ナノメートル単位)が示されている。最
も短い波長である470ナノメートルは3回重複してお
り全体としては4光源のプロファイルとなっている。
検出器用ファイバとを有するファイバ組立体の一例の端
面図が示され、その割当て例も示されている。Dで示さ
れている検出器用ファイバは、2つの検出器と光学的に
つながっている。光源用ファイバは検出器用ファイバの
周りに配置される。これらには、対応する発光ダイオー
ドの中心波長(ナノメートル単位)が示されている。最
も短い波長である470ナノメートルは3回重複してお
り全体としては4光源のプロファイルとなっている。
【0012】図6は、ファイバ組立体の側面図を示す。
光ファイバ4が基板7から出ており、基板上には発光器
2および検出器3が試料9に対して装着されている。光
エポキシ5がファイバ4を発光器2と検出器3に結合し
ている。発光器/検出器側端部と試料側端部において組
立体をはめ込み保持(pot)するために支持用エポキシが
使用されている。発光器側端部1と試料側端部7にある
外殻は組立体を保護するとともに支持用エポキシの外縁
となっている。
光ファイバ4が基板7から出ており、基板上には発光器
2および検出器3が試料9に対して装着されている。光
エポキシ5がファイバ4を発光器2と検出器3に結合し
ている。発光器/検出器側端部と試料側端部において組
立体をはめ込み保持(pot)するために支持用エポキシが
使用されている。発光器側端部1と試料側端部7にある
外殻は組立体を保護するとともに支持用エポキシの外縁
となっている。
【0013】装置に組込まれた、または、これとは別個
の要素であるプログラム可能なコンピュータを使用して
の較正(calibration)は、本発明の装置の一部をなすも
のである。装置の較正にはいくつかの種類(class)があ
り得る。ここで、較正とは、測定された重み付き積分を
入力として用い、ユーザー座標(user coordinates)を生
成することにより行なわれる数学的計算の一部を意味す
る。ここで、ユーザー座標とは、装置が使用者に対して
報じる重み付き積分である。色度座標はユーザー座標の
一例である。較正をどのように折り込むかにはいくつか
の種類がある: 1)較正も安定化もなしで装置を機能させてもよい。こ
の場合、測定された積分からユーザー座標への変換は、
装置デザインの一部として決定され、同じユーザー座標
をレポートする同じ種類のパーツを使用した装置ではい
ずれも同じになるであろう。 2)較正なしだが基板上の閉ループ温度安定化を施して
装置を機能させてもよい。この場合、発光器および検出
器は、閉ループ熱検出器と加熱/冷却システムにより一
定温度に保たれる(図2において9として模式的に表わ
されている)。 3)装置固有の較正は行うが、温度安定化は施さないで
装置を機能させてもよい。この場合、個々の装置は、一
組の基準材料を測定して(装置および材料は標準の一定
温度に維持する)使用される。この測定結果は、測定結
果をユーザー座標に変換する装置特有の変換を計算する
のに使用される。この変換は、個々の装置にコードされ
る。 4)装置固有の較正および温度訂正をして装置を機能さ
せてもよい。この場合、光源および検出器が装着された
基板と接触する熱センサーが、変換に使用されるプロセ
ッサに基板温度を報じる。色々な温度において上記3の
ようにして変換が、決定され、適当な変換を選択するこ
とにより温度が補償される。 5)また、装置固有の較正と閉ループ安定化を行なって
装置を機能させてもよい。これは、上記3のケースにお
いて検出器および発光器における閉ループ熱制御を有す
るのと同じである。検出器の種類、構成配置および回路
によっては、観察される電気信号が検出器に到達する光
エネルギーに厳密には比例しないことがある。こうした
場合、ユーザー座標への変換以前に観察された信号から
光エネルギーに比例的な値に変換することが必要にな
る。通常、オフセット補正が必要である。こうしたオフ
セット値は、測定過程において、光源を点灯させていな
いときの各検出器による電気信号発生値を観察すること
により計算することができる。もしそれ以上の補正が必
要な場合には、検出器ベースで検出器について決定すれ
ばよい。
の要素であるプログラム可能なコンピュータを使用して
の較正(calibration)は、本発明の装置の一部をなすも
のである。装置の較正にはいくつかの種類(class)があ
り得る。ここで、較正とは、測定された重み付き積分を
入力として用い、ユーザー座標(user coordinates)を生
成することにより行なわれる数学的計算の一部を意味す
る。ここで、ユーザー座標とは、装置が使用者に対して
報じる重み付き積分である。色度座標はユーザー座標の
一例である。較正をどのように折り込むかにはいくつか
の種類がある: 1)較正も安定化もなしで装置を機能させてもよい。こ
の場合、測定された積分からユーザー座標への変換は、
装置デザインの一部として決定され、同じユーザー座標
をレポートする同じ種類のパーツを使用した装置ではい
ずれも同じになるであろう。 2)較正なしだが基板上の閉ループ温度安定化を施して
装置を機能させてもよい。この場合、発光器および検出
器は、閉ループ熱検出器と加熱/冷却システムにより一
定温度に保たれる(図2において9として模式的に表わ
されている)。 3)装置固有の較正は行うが、温度安定化は施さないで
装置を機能させてもよい。この場合、個々の装置は、一
組の基準材料を測定して(装置および材料は標準の一定
温度に維持する)使用される。この測定結果は、測定結
果をユーザー座標に変換する装置特有の変換を計算する
のに使用される。この変換は、個々の装置にコードされ
る。 4)装置固有の較正および温度訂正をして装置を機能さ
せてもよい。この場合、光源および検出器が装着された
基板と接触する熱センサーが、変換に使用されるプロセ
ッサに基板温度を報じる。色々な温度において上記3の
ようにして変換が、決定され、適当な変換を選択するこ
とにより温度が補償される。 5)また、装置固有の較正と閉ループ安定化を行なって
装置を機能させてもよい。これは、上記3のケースにお
いて検出器および発光器における閉ループ熱制御を有す
るのと同じである。検出器の種類、構成配置および回路
によっては、観察される電気信号が検出器に到達する光
エネルギーに厳密には比例しないことがある。こうした
場合、ユーザー座標への変換以前に観察された信号から
光エネルギーに比例的な値に変換することが必要にな
る。通常、オフセット補正が必要である。こうしたオフ
セット値は、測定過程において、光源を点灯させていな
いときの各検出器による電気信号発生値を観察すること
により計算することができる。もしそれ以上の補正が必
要な場合には、検出器ベースで検出器について決定すれ
ばよい。
【0014】図7および8は、コンピュータ・プログラ
ムの流れ図を示す。このコンピュータは本装置を操作す
る手段の一部ななす(図3参照)。図7は測定サイクル
の流れ図である。最初にセットアップ・サブルーチン1
が呼ばれる。このセットアップ・ルーチンの後、ループ
2が実行され、ここではすべての光源をオフにした状態
で各検出器の読取りが行なわれる。光源オフ状態での検
出器の読み値はベクトルD(d)に蓄えられる。このル
ープが終了すると、光源と検出器とに関する二重ループ
が実行される。各光源は、光源ループ中、検出器ループ
(内側)が始まる前の時点でオンにされ(3a)、この
内側の検出器ループが終了した後でオフにされる(3
b)。この内側の検出器ループ内で各検出器の値がベク
トルI(d,s)4に読み込まれる。光源と検出器に関
する二重ループが終了すると出力ベクトル成分、光源お
よび検出器に関する三重ループ5が実行される。このル
ープの中で、出力ベクトルO(j)は0にセットされ
(6)、ついで、線形変換の各項が出力ベクトルに加え
られていく(7)。これらの項は、係数C(s,d,
j)×(光源オンでの入力I(s,d)−光源オフでの
読み値D(d))として計算される。三重ループが終了
すると、出力ベクトルO(j)がユーザーに出力される
(8)。
ムの流れ図を示す。このコンピュータは本装置を操作す
る手段の一部ななす(図3参照)。図7は測定サイクル
の流れ図である。最初にセットアップ・サブルーチン1
が呼ばれる。このセットアップ・ルーチンの後、ループ
2が実行され、ここではすべての光源をオフにした状態
で各検出器の読取りが行なわれる。光源オフ状態での検
出器の読み値はベクトルD(d)に蓄えられる。このル
ープが終了すると、光源と検出器とに関する二重ループ
が実行される。各光源は、光源ループ中、検出器ループ
(内側)が始まる前の時点でオンにされ(3a)、この
内側の検出器ループが終了した後でオフにされる(3
b)。この内側の検出器ループ内で各検出器の値がベク
トルI(d,s)4に読み込まれる。光源と検出器に関
する二重ループが終了すると出力ベクトル成分、光源お
よび検出器に関する三重ループ5が実行される。このル
ープの中で、出力ベクトルO(j)は0にセットされ
(6)、ついで、線形変換の各項が出力ベクトルに加え
られていく(7)。これらの項は、係数C(s,d,
j)×(光源オンでの入力I(s,d)−光源オフでの
読み値D(d))として計算される。三重ループが終了
すると、出力ベクトルO(j)がユーザーに出力される
(8)。
【0015】図8のセットアップ・サブルーチンにおい
ては、光源はすべてオフにセットされ、温度センサが存
在する場合にはこれがテストされる。温度センサがない
場合には、線形変換の係数は定数であり、このセットア
ップ・ルーチンで修正されることはない。温度センサが
存在する場合には、センサ3から温度が読取られ、三重
ループにおいて温度によって調整(index)された一組の
定数T(s,d,j,t)が係数列C(s,d,j)にコピ
ーされる。
ては、光源はすべてオフにセットされ、温度センサが存
在する場合にはこれがテストされる。温度センサがない
場合には、線形変換の係数は定数であり、このセットア
ップ・ルーチンで修正されることはない。温度センサが
存在する場合には、センサ3から温度が読取られ、三重
ループにおいて温度によって調整(index)された一組の
定数T(s,d,j,t)が係数列C(s,d,j)にコピ
ーされる。
【0016】プログラムを決定する上での留意点を以下
に述べる。クロマ・メーター(chroma meter)は光エネル
ギー源に対して色度座標を与えるように設計される。測
定対象となる光エネルギー源は、通常、有色の灯りや標
識、カラーテレビのディスプレイあるいはカラーのコン
ピュータ・ディスプレイのようなヒトの目に働きかける
ものである。試料が光エネルギーをもたらすのであるか
ら、複数の光源と複数の検出器を多重化してコストの低
減を達成するという記載は、この場合には当てはまらな
い。しかし、重み付き積分の選択、検出器の装着および
熱制御ならびに測定装置の較正に関する記載は、測定対
象が放射源である場合にも適用可能である。放射源の測
定では、使用される参照材料は、放射光のスペクトル強
度が既知の一組の素子または既知のスペクトルを生成す
る装置、たとえば、安定した光源やモノクロメーターで
ある。
に述べる。クロマ・メーター(chroma meter)は光エネル
ギー源に対して色度座標を与えるように設計される。測
定対象となる光エネルギー源は、通常、有色の灯りや標
識、カラーテレビのディスプレイあるいはカラーのコン
ピュータ・ディスプレイのようなヒトの目に働きかける
ものである。試料が光エネルギーをもたらすのであるか
ら、複数の光源と複数の検出器を多重化してコストの低
減を達成するという記載は、この場合には当てはまらな
い。しかし、重み付き積分の選択、検出器の装着および
熱制御ならびに測定装置の較正に関する記載は、測定対
象が放射源である場合にも適用可能である。放射源の測
定では、使用される参照材料は、放射光のスペクトル強
度が既知の一組の素子または既知のスペクトルを生成す
る装置、たとえば、安定した光源やモノクロメーターで
ある。
【0017】本発明の実施態様においては、線形代数や
数値分析の技法が複合的に用いられるが、以下の記載
は、好適態様に関するものである。OVECTを、一連
の波長帯のそれぞれのスペクトル・エネルギーを成分と
するベクトルとする。たとえば、これらの波長帯は、3
80nmから780nmに至る1nm刻みのものであっ
てもよい。この場合、OVECTは401個の成分を有
することとなる。この波長域および分解度は、ヒトの目
による判断と対応するような測定を行なう装置を数学的
に記述するには充分である。一方、UVECTをユーザ
ー座標のベクトルとする。特に、UVECTをCIEに
よって定義される3成分色度座標の組とする。この場
合、UVECTは3つの成分を有し、CIEによるUV
ECTの定義は、OVECTを3×401次元の行列
(ここでは[CHROM.MAT]で表わす)に掛ける
という行列の掛け算によって表わすことができる。 式1: UVECT=[CHROM.MAT]×OVE
CT
数値分析の技法が複合的に用いられるが、以下の記載
は、好適態様に関するものである。OVECTを、一連
の波長帯のそれぞれのスペクトル・エネルギーを成分と
するベクトルとする。たとえば、これらの波長帯は、3
80nmから780nmに至る1nm刻みのものであっ
てもよい。この場合、OVECTは401個の成分を有
することとなる。この波長域および分解度は、ヒトの目
による判断と対応するような測定を行なう装置を数学的
に記述するには充分である。一方、UVECTをユーザ
ー座標のベクトルとする。特に、UVECTをCIEに
よって定義される3成分色度座標の組とする。この場
合、UVECTは3つの成分を有し、CIEによるUV
ECTの定義は、OVECTを3×401次元の行列
(ここでは[CHROM.MAT]で表わす)に掛ける
という行列の掛け算によって表わすことができる。 式1: UVECT=[CHROM.MAT]×OVE
CT
【0018】DVECTを、成分が与えられた装置によ
って生成される重み付き積分であるベクトルとする。O
VECTをDVECTに変換する重み行列をAPP.M
ATとする。 式2: DVECT=[APP.MAT]×OVECT
って生成される重み付き積分であるベクトルとする。O
VECTをDVECTに変換する重み行列をAPP.M
ATとする。 式2: DVECT=[APP.MAT]×OVECT
【0019】UVECTによって張られるベクトル空間
が、UVECTによって張られるベクトル空間の部分集
合であるならば、行列の掛け算によってDVECTをU
VECTに変換することができる。このような行列をU
APP.MATと呼ぶことにすると、次のように書け
る: 式3: UVECT=[UAPP.MAT]×DVEC
T
が、UVECTによって張られるベクトル空間の部分集
合であるならば、行列の掛け算によってDVECTをU
VECTに変換することができる。このような行列をU
APP.MATと呼ぶことにすると、次のように書け
る: 式3: UVECT=[UAPP.MAT]×DVEC
T
【0020】設計のために、UAPP.MATは次のよ
うにして計算することが可能である: 1)式2の両辺にAPP.MATの転置行列(Tr[A
PP.MAT])を掛ける: 式4: Tr[APP.MAT]×DVECT=Tr
[APP.MAT]×[APP.MAT]×OVECT 2)式4に[APP.MAT]とその転置行列との積の
逆行列を掛けてOVECTを得る: 式5: OVECT=Inv(Tr[APP.MAT]
×[APP.MAT])×Tr[APP.MAT]×D
VECT 3)これを式1に代入して式3と等価な式を得る: 式6: UVECT=[CHROM.MAT]×Inv
(Tr[APP.MAT]×[APP.MAT])×T
r[APP.MAT]×DVECT 式6は複雑に見えるが、実際には、UAPP.MATは
定数の集まりに還元されている。もし、OVECTとD
VECTとがいずれも3個の成分を有するならば、UA
PP.MATは3×3行列であり9個の成分を有するこ
とになる。
うにして計算することが可能である: 1)式2の両辺にAPP.MATの転置行列(Tr[A
PP.MAT])を掛ける: 式4: Tr[APP.MAT]×DVECT=Tr
[APP.MAT]×[APP.MAT]×OVECT 2)式4に[APP.MAT]とその転置行列との積の
逆行列を掛けてOVECTを得る: 式5: OVECT=Inv(Tr[APP.MAT]
×[APP.MAT])×Tr[APP.MAT]×D
VECT 3)これを式1に代入して式3と等価な式を得る: 式6: UVECT=[CHROM.MAT]×Inv
(Tr[APP.MAT]×[APP.MAT])×T
r[APP.MAT]×DVECT 式6は複雑に見えるが、実際には、UAPP.MATは
定数の集まりに還元されている。もし、OVECTとD
VECTとがいずれも3個の成分を有するならば、UA
PP.MATは3×3行列であり9個の成分を有するこ
とになる。
【0021】今日製造されている測色計は、DVECT
がUVECTに等しく、かつ、UAPP.MATが単位
行列となるように設計されている。これは必要不可欠な
ことではないし最善という訳でもない。DVECTの成
分からなる重み関数の数およびかたちは、現在手に入る
高品質で低価格な部品を最大限に活用するように選択さ
れる。これらの部品の選択は、可能な選択のそれぞれに
ついてもたらされるUAPP,MAT行列を用いて設計
される装置の数学的評価によって行なわれる。本発明の
好適実施態様においては、通常、DVECTはUVEC
Tよりも多くの部品を有する。これは通常、UVECT
で張られる空間において、より優れた分解度とノイズ特
性をもたらす。こうした改良は、通常、最小限の製造コ
ストの増加で達成可能である。UVECT空間における
分解度とノイズ特性は、DVECTによって張られる空
間における仮定からUAPP.MATを用いて予想され
る。
がUVECTに等しく、かつ、UAPP.MATが単位
行列となるように設計されている。これは必要不可欠な
ことではないし最善という訳でもない。DVECTの成
分からなる重み関数の数およびかたちは、現在手に入る
高品質で低価格な部品を最大限に活用するように選択さ
れる。これらの部品の選択は、可能な選択のそれぞれに
ついてもたらされるUAPP,MAT行列を用いて設計
される装置の数学的評価によって行なわれる。本発明の
好適実施態様においては、通常、DVECTはUVEC
Tよりも多くの部品を有する。これは通常、UVECT
で張られる空間において、より優れた分解度とノイズ特
性をもたらす。こうした改良は、通常、最小限の製造コ
ストの増加で達成可能である。UVECT空間における
分解度とノイズ特性は、DVECTによって張られる空
間における仮定からUAPP.MATを用いて予想され
る。
【0022】製造プロセスの一部として、UAPP.M
ATの部品を上記のようにして較正して、製造された装
置の各物理例に関するDVECTからUVECTへのマ
ッピングの正確性を改善するもよい。実際に、これは、
OVECTおよび/またはUVECTの知られた一組の
材料について多重回帰技法を用いることにより達成され
る。ユーザー座標における熱変化または部品の変化の効
果は、これらの効果が既知のOVECT座標であるかD
VECTにおける場合には予想できる。
ATの部品を上記のようにして較正して、製造された装
置の各物理例に関するDVECTからUVECTへのマ
ッピングの正確性を改善するもよい。実際に、これは、
OVECTおよび/またはUVECTの知られた一組の
材料について多重回帰技法を用いることにより達成され
る。ユーザー座標における熱変化または部品の変化の効
果は、これらの効果が既知のOVECT座標であるかD
VECTにおける場合には予想できる。
【図1】本発明による反射光測定型光分光分析装置の発
光器/検出器組立体の上面図。
光器/検出器組立体の上面図。
【図2】本発明による反射光測定型光分光分析装置の発
光器/検出器組立体の(図1の2−2に沿う)断面図。
光器/検出器組立体の(図1の2−2に沿う)断面図。
【図3】装置を操作するコンピュータ。
【図4】図1に類する発光器/検出器組立体を反射性測
定対象に光学的に結合する光ファイバ組立体の端面図。
定対象に光学的に結合する光ファイバ組立体の端面図。
【図5】図1に類する発光器/検出器組立体を反射性測
定対象に光学的に結合する光ファイバ組立体の端面図。
定対象に光学的に結合する光ファイバ組立体の端面図。
【図6】図4または図5に類する光ファイバ組立体の側
面図。
面図。
【図7】装置に含まれるコンピュータに組込まれた、装
置のセットアップおよび測定動作に関するプログラムの
流れ図。
置のセットアップおよび測定動作に関するプログラムの
流れ図。
【図8】装置に含まれるコンピュータに組込まれた、装
置のセットアップおよび測定動作に関するプログラムの
流れ図。
置のセットアップおよび測定動作に関するプログラムの
流れ図。
Claims (24)
- 【請求項1】 試料の光学的性質を測定するための光学
分光分析装置であって:複数の放射エネルギー源;放射
エネルギーを電気信号に変換する複数の素子;該放射源
のそれぞれに設けられた波長に関してエネルギー・スペ
クトルをもたらす手段であり該スペクトルは他の放射源
の該スペクトルとは異なるもの;該素子のそれぞれに設
けられた波長の関数として放射エネルギーへの応答をも
たらす手段であり該応答は他の素子の応答とは異なるも
の;ならびに以下の手順により該装置を動作させる手
段: 1)該放射エネルギー源のそれぞれに対して、少なくと
も他の一の放射エネルギー源に電気エネルギーが供給さ
れていない時期における一定期間、電気エネルギーを供
給する; 2)該源によって生成された放射エネルギーを方向付け
して対象または材料と相互作用させ、該対象または材料
から反射される、および/または、伝達される、および
/または、放射される、放射エネルギーの幾分かが該素
子に戻ってくるようにし; 3)該素子のそれぞれからの電気信号を記録して該期間
のそれぞれにおいて放射エネルギーを電気信号出力に変
換し; 4)該記録された電気信号出力それぞれから、放射エネ
ルギーの波長に関する重み付き積分である値を計算し、
該重み付き積分値の集合でありその数が該一定期間の数
と該放射エネルギーを電気信号に変換する該素子の数の
積に等しい集合を生成し;および 5)該重み付き積分値の集合から、あらかじめ規定され
た変換のための係数を利用して該重み付き積分値の線形
変換により多重的な測定値の集合を計算する。 - 【請求項2】 請求項1の装置であって、該源が電気を
放射エネルギーに変換する素子であるもの。 - 【請求項3】 請求項2の装置であって、該素子の少な
くとも2が発光ダイオードであるもの。 - 【請求項4】 請求項1の装置であって、該放射エネル
ギー源と放射エネルギーを電気信号に変換する素子が共
通基板上に装着されており、該基板は機械的な/位置決
め、電気的結合および共通の熱的接触をもたらすもの。 - 【請求項5】 請求項4の装置であって、熱感受性を有
する電気素子がさらに該基板上に装着されているもの。 - 【請求項6】 請求項5の装置であって、熱エネルギー
を生成または除去する素子が該基板に接触しているも
の。 - 【請求項7】 請求項4の装置であって、該放射エネル
ギー源、素子および共通基板が、測定を行なおうとする
問題とする波長の光に対しては透過性であるが湿気に対
しては不透過性の材料でシールされているもの。 - 【請求項8】 請求項1の装置であって、光学的性質の
明確な多くの対象または材料のそれぞれについて観察さ
れる重み付き積分の集合を該装置の製造時において記録
することによって、該線形変換の該係数を計算し、多重
回帰法によって該線形変換係数を計算する手段を有する
電気を放射エネルギーに変換する素子を該動作手段が有
するもの。 - 【請求項9】 請求項8の装置であって、該係数の集合
の多数が、該装置が他の集合の決定の際とは異なる温度
に保たれているときに決定され、該複数の集合から特定
の係数の集合を温度の関数として選択する手段を該動作
手段が有するもの。 - 【請求項10】 請求項9の装置であって、該動作手段
が該係数の集合間の内挿により線形変換の該係数を温度
の関数として選択するための手段を含むもの。 - 【請求項11】 請求項1の装置であって、該放射が該
源から該試料に向けて複数の光ファイバにより方向付け
られ、該ファイバがそのクラッド径の少なくとも90%
のコア直径を有するもの。 - 【請求項12】 請求項1の装置であって、放射が試料
から該放射エネルギーを電気信号に変換する素子に向け
て光ファイバによって方向付けられるもの。 - 【請求項13】 請求項11の装置であって、該光ファ
イバが堅固に固定されているもの。 - 【請求項14】 請求項11の装置であって、複数の半
導体チップが該放射エネルギー源と該素子とを与え、該
チップが該光ファイバと物理的に接触しているもの。 - 【請求項15】 試料により放射される放射エネルギー
の多重的測定を行なうための光学分光分析装置であっ
て:放射エネルギーを電気信号に変換する複数の素子;
該素子を該試料に光学的に結合する手段;該素子に設け
られた、放射エネルギーを電気信号に変換する複数の素
子が波長の関数として光エネルギーへの応答を有するよ
うにもたらす手段であり該応答は他の素子の応答とは異
なるもの;ならびに以下の手順により該装置を動作させ
る手段: 1)該放射エネルギーを電気信号に変換する素子それそ
れの電気信号出力を観察および記録する; 2)該記録された電気信号出力それぞれから、放射エネ
ルギーの波長に関する重み付き積分である値を計算し、
重み付き積分値の集合を生成し;および 3)該重み付き積分値の集合から、あらかじめ規定され
た変換のための係数にを用いて該重み付き積分値の線形
変換により多重的な測定値の集合を計算する。 - 【請求項16】 請求項15の装置であって、該放射エ
ネルギー源と放射エネルギーを電気信号に変換する素子
が共通基板上に装着されており、該基板は機械的な/位
置決め、電気的結合および共通の熱的接触をもたらすも
の。 - 【請求項17】 請求項16の装置であって、熱感受性
を有する電気素子がさらに該基板上に装着されているも
の。 - 【請求項18】 請求項17の装置であって、熱エネル
ギーを生成または除去する素子が該基板に接触している
もの。 - 【請求項19】 請求項16の装置であって、該放射エ
ネルギー源、素子および共通基板が、測定を行なおうと
する問題とする波長の光に対しては透過性であるが湿気
に対しては不透過性の材料でシールされているもの。 - 【請求項20】 請求項15の装置であって、光学的性
質の明確な多くの対象または材料のそれぞれについて観
察される重み付き積分の集合を該装置の製造時において
記録することによって、該線形変換の該係数を計算し、
多重回帰法によって該線形変換係数を計算する手段を有
する電気を放射エネルギーに変換する素子を該動作手段
が有するもの。 - 【請求項21】 請求項20の装置であって、該計算手
段が、該装置が他の集合の決定の際とは異なる温度に保
たれているときに該係数の集合の複数を計算する手段、
該装置が動作温度の関数として該複数の集合から選択さ
れた特定の係数の集合を該第三の手段に組込む手段を有
するもの。 - 【請求項22】 請求項21の装置であって、該動作手
段が該係数の集合間の内挿により線形変換の該係数を温
度の関数として選択するための手段を含むもの。 - 【請求項23】 請求項15の装置であって、該放射が
該源から該試料に向けて複数の光ファイバにより方向付
けられ、該ファイバがそのクラッド径の少なくとも90
%のコア直径を有するもの。 - 【請求項24】 請求項23の装置であって、該光ファ
イバが堅固に固定されているもの。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/648,798 | 1991-01-31 | ||
US07/648,798 US5137364A (en) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | Optical spectral analysis apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07103827A true JPH07103827A (ja) | 1995-04-21 |
Family
ID=24602289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4040418A Pending JPH07103827A (ja) | 1991-01-31 | 1992-01-30 | 光学分光分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5137364A (ja) |
JP (1) | JPH07103827A (ja) |
DE (1) | DE4202822C2 (ja) |
Families Citing this family (104)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5521708A (en) * | 1992-11-25 | 1996-05-28 | Canon Information & Systems, Inc. | Correlated color temperature detector |
US5532848A (en) * | 1992-11-25 | 1996-07-02 | Canon Information Systems, Inc. | Method and apparatus for adjusting correlated color temperature |
US5900932A (en) * | 1993-07-02 | 1999-05-04 | Canon Information Systems, Inc. | Tristimulus template-type colorimeter |
US5579206A (en) * | 1993-07-16 | 1996-11-26 | Dallas Semiconductor Corporation | Enhanced low profile sockets and module systems |
DE4434266B4 (de) * | 1994-09-24 | 2005-05-25 | Byk Gardner Gmbh | Verfahren zur Berücksichtigung der Temperaturabhängigkeit von optoelektronischen Dioden |
DE4434168B4 (de) * | 1994-09-24 | 2004-12-30 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung und Auswertung von spektralen Strahlungen und insbesondere zur Messung und Auswertung von Farbeigenschaften |
DE19514199A1 (de) * | 1995-04-15 | 1996-10-17 | Jenoptik Technologie Gmbh | Anordnung zur Messung von Farben nicht selbstleuchtender Objekte |
US5671059A (en) * | 1995-09-21 | 1997-09-23 | Hewlett-Packard Company | Electroluminescent color device |
US5838451A (en) * | 1995-12-22 | 1998-11-17 | Accuracy Microsensors, Inc. | Optoelectronic spectral analysis system |
US5963333A (en) * | 1996-09-12 | 1999-10-05 | Color Savvy Systems Limited | Color sensor |
US6271920B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-08-07 | Chromatics Color Sciences International, Inc. | Methods and apparatus for color calibration and verification |
DE19833793C2 (de) | 1998-07-21 | 2000-12-07 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung |
US5929999A (en) * | 1998-09-01 | 1999-07-27 | Hewlett-Packard Company | Light source for tristimulus colorimetry |
WO2000055882A1 (en) | 1999-03-18 | 2000-09-21 | Cambridge Research & Instrumentation Inc. | High-efficiency multiple probe imaging system |
US6750964B2 (en) * | 1999-08-06 | 2004-06-15 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging methods and systems |
WO2001011343A1 (en) | 1999-08-06 | 2001-02-15 | Cambridge Research & Instrumentation Inc. | Spectral imaging system |
US6384918B1 (en) | 1999-11-24 | 2002-05-07 | Xerox Corporation | Spectrophotometer for color printer color control with displacement insensitive optics |
US6351308B1 (en) | 1999-11-24 | 2002-02-26 | Xerox Corporation | Color printer color control system with automatic spectrophotometer calibration system |
US6538770B1 (en) | 1999-11-24 | 2003-03-25 | Xerox Corporation | Color printer color control system using dual mode banner color test sheets |
US6369895B1 (en) | 2000-02-16 | 2002-04-09 | Electronics For Imaging, Inc. | Color measurement instrument with asymmetric tapered sample area optical enclosure |
DE10043038A1 (de) | 2000-09-01 | 2002-03-14 | Kronos Titan Gmbh & Co Ohg | Charakterisierung der Verteilungsgüte von Weißpigmenten in einer Matrix |
US6674530B2 (en) * | 2001-04-27 | 2004-01-06 | International Business Machines Corporation | Portable colorimeter |
US6556300B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-04-29 | Xerox Corporation | Color imager bar based spectrophotometer photodetector optical orientation |
US6567170B2 (en) | 2001-06-25 | 2003-05-20 | Xerox Corporation | Simultaneous plural colors analysis spectrophotometer |
US6621576B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-09-16 | Xerox Corporation | Color imager bar based spectrophotometer for color printer color control system |
US6633382B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-10-14 | Xerox Corporation | Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems |
US6930773B2 (en) * | 2001-08-23 | 2005-08-16 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging |
US6584435B2 (en) | 2001-08-30 | 2003-06-24 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using dynamic karhunen-loeve algorithms with measurements from led color sensor |
US6721692B2 (en) | 2001-08-30 | 2004-04-13 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using dynamic least squares algorithms with measurements from LED color sensor |
US6639669B2 (en) | 2001-09-10 | 2003-10-28 | Xerox Corporation | Diagnostics for color printer on-line spectrophotometer control system |
US6587793B2 (en) | 2001-09-17 | 2003-07-01 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using fuzzy inference algorithms with measurements from LED color sensor |
US6836332B2 (en) * | 2001-09-25 | 2004-12-28 | Tennessee Scientific, Inc. | Instrument and method for testing fluid characteristics |
US6750442B2 (en) | 2002-03-06 | 2004-06-15 | Xerox Corporation | Use of spectral sensors for automatic media identification and improved scanner correction |
US20030207441A1 (en) * | 2002-05-01 | 2003-11-06 | Eyster Curt R. | Devices and methods for analyte concentration determination |
US6847451B2 (en) * | 2002-05-01 | 2005-01-25 | Lifescan, Inc. | Apparatuses and methods for analyte concentration determination |
US6825930B2 (en) * | 2002-06-04 | 2004-11-30 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Multispectral imaging system |
US7312257B2 (en) * | 2003-01-23 | 2007-12-25 | General Electric Company | Polymer encapsulation of high aspect ratio materials and methods of making same |
WO2004079314A1 (en) * | 2003-03-05 | 2004-09-16 | Brytech Inc. | Colorimeter, colorimeter sensor unit and colour determination process |
US7502116B2 (en) * | 2003-09-09 | 2009-03-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Densitometers and methods for measuring optical density |
US8634607B2 (en) | 2003-09-23 | 2014-01-21 | Cambridge Research & Instrumentation, Inc. | Spectral imaging of biological samples |
US7321791B2 (en) * | 2003-09-23 | 2008-01-22 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging of deep tissue |
US7262853B2 (en) * | 2003-09-23 | 2007-08-28 | X-Rite, Inc. | Color measurement instrument |
US7175086B2 (en) * | 2004-04-21 | 2007-02-13 | General Electric Company | Authentication system, data device, and methods for using the same |
US7496938B2 (en) * | 2003-11-24 | 2009-02-24 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Media drive with a luminescence detector and methods of detecting an authentic article |
US20050110978A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Radislav Potyrailo | Method of authenticating articles, authenticatable polymers, and authenticatable articles |
US7169615B2 (en) * | 2003-11-26 | 2007-01-30 | General Electric Company | Method of authenticating polymers, authenticatable polymers, methods of making authenticatable polymers and authenticatable articles, and articles made there from |
US20090266991A1 (en) * | 2003-11-26 | 2009-10-29 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Method of authenticating tagged polymers |
US7094364B2 (en) * | 2003-11-26 | 2006-08-22 | General Electric Company | Method of authenticating polymers, authenticatable polymers, methods of making authenticatable polymers and authenticatable articles, and articles made there from |
EP1699422A4 (en) * | 2003-12-31 | 2009-04-29 | Univ South Carolina | THIN-FILED POROUS OPTICAL SENSORS FOR GASES AND OTHER LIQUIDS |
US7383261B2 (en) * | 2004-01-16 | 2008-06-03 | Xerox Corporation | Reference database and method for determining spectra using measurements from an LED color sensor, and method of generating a reference database |
WO2005069991A2 (en) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Iguana Robotics, Inc. | Colorstick |
US20050277710A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Joyce Richard P | Tagged resin, method of making a tagged resin, and articles made therefrom |
US7597961B2 (en) * | 2004-07-13 | 2009-10-06 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Authenticatable article and method of authenticating |
US20070201136A1 (en) * | 2004-09-13 | 2007-08-30 | University Of South Carolina | Thin Film Interference Filter and Bootstrap Method for Interference Filter Thin Film Deposition Process Control |
US7355944B2 (en) * | 2004-11-12 | 2008-04-08 | General Electric Company | Authenticatable media and method of authenticating |
CA2531206A1 (en) * | 2004-12-23 | 2006-06-23 | Brytech Inc. | Colorimetric device and colour determination process |
US7471385B2 (en) * | 2005-01-13 | 2008-12-30 | Xerox Corporation | Systems and methods for selecting a reference database for determining a spectrum of an object based on fluorescence of the object |
EP1846869B1 (en) | 2005-01-27 | 2011-10-05 | Cambridge Research & Instrumentation, Inc. | Classifying image features |
WO2006107915A2 (en) * | 2005-04-05 | 2006-10-12 | X-Rite, Incorporated | Systems and methods for monitoring a process output with a highly abridged spectrophotometer |
WO2006110842A2 (en) * | 2005-04-12 | 2006-10-19 | X-Rite, Incorporated | Systems and methods for measuring a like-color region of an object |
US8345252B2 (en) | 2005-04-25 | 2013-01-01 | X-Rite, Inc. | Method and system for enhanced formulation and visualization rendering |
US7944561B2 (en) * | 2005-04-25 | 2011-05-17 | X-Rite, Inc. | Measuring an appearance property of a surface using a bidirectional reflectance distribution function |
JP4846787B2 (ja) * | 2005-04-25 | 2011-12-28 | エックス−ライト、インコーポレイテッド | 空間的にアンダーサンプリングされた双方向反射率分布関数を用いた表面の外観特性の測定 |
DE102005024271B4 (de) * | 2005-05-27 | 2014-03-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Gitterspektrometersystem und Verfahren zur Messwerterfassung |
EP1938063B1 (en) * | 2005-08-15 | 2011-12-21 | X-Rite Incorporated | Spectrophotometer with light guiding element |
US7557924B2 (en) * | 2005-08-15 | 2009-07-07 | X-Rite, Inc. | Apparatus and methods for facilitating calibration of an optical instrument |
EP1760453A1 (de) * | 2005-08-31 | 2007-03-07 | GretagMacbeth AG | Fotoelektrisches Handmessgerät und optische Messeinheit dafür |
US8717647B2 (en) * | 2005-10-13 | 2014-05-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imaging methods, imaging device calibration methods, imaging devices, and hard imaging device sensor assemblies |
EP1969326B1 (en) | 2005-11-28 | 2020-06-10 | Ometric Corporation | Optical analysis system and method for real time multivariate optical computing |
US8345234B2 (en) | 2005-11-28 | 2013-01-01 | Halliburton Energy Services, Inc. | Self calibration methods for optical analysis system |
US20070166245A1 (en) * | 2005-11-28 | 2007-07-19 | Leonard Mackles | Propellant free foamable toothpaste composition |
EP1974201A1 (en) * | 2005-11-28 | 2008-10-01 | University of South Carolina | Optical analysis system for dynamic, real-time detection and measurement |
US7859668B2 (en) | 2005-12-15 | 2010-12-28 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for illuminator-independent color measurements |
US8017927B2 (en) * | 2005-12-16 | 2011-09-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors |
US7573575B2 (en) | 2005-12-29 | 2009-08-11 | Honeywell International Inc. | System and method for color measurements or other spectral measurements of a material |
US7688447B2 (en) * | 2005-12-29 | 2010-03-30 | Honeywell International Inc. | Color sensor |
US20070227447A1 (en) * | 2006-04-04 | 2007-10-04 | Honeywell International, Inc. | Control of a coating process |
US9170154B2 (en) | 2006-06-26 | 2015-10-27 | Halliburton Energy Services, Inc. | Data validation and classification in optical analysis systems |
US7996173B2 (en) * | 2006-07-31 | 2011-08-09 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate distributed evaluation of objects using electromagnetic energy |
JP2009545746A (ja) | 2006-07-31 | 2009-12-24 | ヴィジュアラント,インコーポレイテッド | 電磁エネルギーを用いてオブジェクトを評価するシステム及び方法 |
US8081304B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-12-20 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of objects using electromagnetic energy |
WO2008057912A2 (en) | 2006-11-02 | 2008-05-15 | University Of South Carolina | Multi-analyte optical computing system |
EP2077920A2 (en) * | 2006-11-02 | 2009-07-15 | University of South Carolina | Improved signal processing for optical computing system |
US8213006B2 (en) * | 2007-03-30 | 2012-07-03 | Halliburton Energy Services, Inc. | Multi-analyte optical computing system |
WO2008121715A1 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Ometric Corporation | In-line process measurement systems and methods |
WO2008121692A1 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-09 | University Of South Carolina | Tablet analysis and measurement system |
US8283633B2 (en) * | 2007-11-30 | 2012-10-09 | Halliburton Energy Services, Inc. | Tuning D* with modified thermal detectors |
US8049892B2 (en) * | 2008-01-22 | 2011-11-01 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for camera-based color measurements |
US7592608B2 (en) * | 2008-01-22 | 2009-09-22 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for measuring and/or controlling ultraviolet-activated materials in a paper-making process |
EP2105718A1 (en) * | 2008-03-28 | 2009-09-30 | Maroche S.r.l. | High precision photodetector device |
US8212213B2 (en) | 2008-04-07 | 2012-07-03 | Halliburton Energy Services, Inc. | Chemically-selective detector and methods relating thereto |
US20100004518A1 (en) | 2008-07-03 | 2010-01-07 | Masimo Laboratories, Inc. | Heat sink for noninvasive medical sensor |
US8630691B2 (en) | 2008-08-04 | 2014-01-14 | Cercacor Laboratories, Inc. | Multi-stream sensor front ends for noninvasive measurement of blood constituents |
US8401809B2 (en) | 2010-07-12 | 2013-03-19 | Honeywell International Inc. | System and method for adjusting an on-line appearance sensor system |
CN102288566A (zh) * | 2011-07-29 | 2011-12-21 | 肖才斌 | 一种便携式多功能分析仪及其测试方法 |
US8888207B2 (en) | 2012-02-10 | 2014-11-18 | Visualant, Inc. | Systems, methods and articles related to machine-readable indicia and symbols |
FR2987118A1 (fr) * | 2012-02-17 | 2013-08-23 | Franck Hennebelle | Procede et dispositif de mesure de la couleur d'un objet |
US9316581B2 (en) | 2013-02-04 | 2016-04-19 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of substances using electromagnetic energy |
US9041920B2 (en) | 2013-02-21 | 2015-05-26 | Visualant, Inc. | Device for evaluation of fluids using electromagnetic energy |
WO2014165003A1 (en) | 2013-03-12 | 2014-10-09 | Visualant, Inc. | Systems and methods for fluid analysis using electromagnetic energy |
WO2016022152A1 (en) | 2014-08-08 | 2016-02-11 | Empire Technology Development Llc | Quality control of dairy products using chromatic profiles |
US10705015B2 (en) | 2017-08-11 | 2020-07-07 | Daniel O'Donnell | System, method and apparatus for continuous evaluation, detection and storage of colorimetric wavelength changes on a chemically impregnated media useful in the detection of gases |
RU178439U1 (ru) * | 2017-08-25 | 2018-04-04 | Общество С Ограниченной Ответственностью "Микросенсор Технолоджи" | Рабочая головка светодиодного мини-спектрометра |
US20190129108A1 (en) | 2017-10-31 | 2019-05-02 | Versalume LLC | Modular Laser Connector Packaging System and Method |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3910701A (en) * | 1973-07-30 | 1975-10-07 | George R Henderson | Method and apparatus for measuring light reflectance absorption and or transmission |
US3916168A (en) * | 1973-10-09 | 1975-10-28 | Mobil Oil Corp | Color matching surface coatings containing metallic pigments |
US4158505A (en) * | 1976-12-27 | 1979-06-19 | International Business Machines Corporation | Spectrum analyzing system with photodiode array |
US4458323A (en) * | 1980-04-18 | 1984-07-03 | Hewlett-Packard Company | Method of performing measurements and error analysis of the measurements |
US4505583A (en) * | 1981-04-10 | 1985-03-19 | Masaaki Konomi | Spectroscopic analyzer system for examining intravital tissue |
FR2506549A1 (fr) * | 1981-05-22 | 1982-11-26 | Thomson Csf | Dispositif de correction des informations couleur fournies par les tubes analyseurs d'une camera en vue d'ameliorer la perception des images |
US4654794A (en) * | 1984-02-18 | 1987-03-31 | Colorgen, Inc. | Methods for determining the proper coloring for a tooth replica |
US4648051A (en) * | 1984-10-15 | 1987-03-03 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Color imaging process |
JPH0616255B2 (ja) * | 1986-07-04 | 1994-03-02 | キヤノン株式会社 | 座標入力装置 |
JPS63180828A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-07-25 | Agency Of Ind Science & Technol | 高速処理化カラ−センサ |
JP2642632B2 (ja) * | 1987-07-03 | 1997-08-20 | 株式会社日立製作所 | 微粒子計測装置および微粒子計測方法 |
US4881811A (en) * | 1988-02-16 | 1989-11-21 | Colorgen, Inc. | Remote color measurement device |
US4937637A (en) * | 1989-02-10 | 1990-06-26 | Kollmorgen Corporation | Dual reading head transmission/reflection densitometer |
-
1991
- 1991-01-31 US US07/648,798 patent/US5137364A/en not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-30 JP JP4040418A patent/JPH07103827A/ja active Pending
- 1992-01-31 DE DE4202822A patent/DE4202822C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4202822C2 (de) | 1997-12-11 |
DE4202822A1 (de) | 1992-08-06 |
US5137364A (en) | 1992-08-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH07103827A (ja) | 光学分光分析装置 | |
US5691817A (en) | Apparatus and method for calibration in a spectrophotometer | |
US5387977A (en) | Multiangular color measuring apparatus | |
US8279441B2 (en) | Spectrophotometer and method | |
US8144322B2 (en) | Spectral characteristic measuring apparatus, method for calibrating spectral characteristic measuring apparatus, and spectral characteristic measuring system | |
US6630999B2 (en) | Color measuring sensor assembly for spectrometer devices | |
US6057925A (en) | Compact spectrometer device | |
US5844680A (en) | Device and process for measuring and analysing spectral radiation, in particular for measuring and analysing color characteristics | |
EP1922532B1 (en) | Spectrophotometer with temperatur corrected system response | |
JP6100869B2 (ja) | 測色計の較正 | |
EP1019685A1 (en) | Spectrometer | |
Malinen et al. | LED-based NIR spectrometer module for hand-held and process analyser applications | |
US7947962B2 (en) | Radiometer with spectral response equivalent to the erythema action curve CIE, for measuring the total effective irradiance | |
Salmerón et al. | Measuring the colour of virgin olive oils in a new colour scale using a low-cost portable electronic device | |
EP1111333A1 (en) | Light source device, spectroscope comprising the light source device, and film thickness sensor | |
JPH0546885B2 (ja) | ||
Liu | The development of a portable spectrophotometer for noncontact color measurement | |
KR20240056522A (ko) | 분광계 디바이스 교정 방법 | |
JPH08110297A (ja) | 液体の着色検知装置 | |
Wang et al. | Fast and high-accuracy spectral measurements of LED by linear CCD sensor and software calibration | |
KR20240071738A (ko) | 듀얼 포토 다이오드 복사계 | |
WO2024160942A1 (en) | Combination of two led and open port calibration | |
Goodman | Calibration of light sources and detectors | |
Rood | Practical instrumentation for graphic arts color measurement | |
Joh et al. | Understanding Avago Technologies RGB Color Sensors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011207 |