JPH0689679A - 強力コヒーレント電子パルス源 - Google Patents
強力コヒーレント電子パルス源Info
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- JPH0689679A JPH0689679A JP5009691A JP969193A JPH0689679A JP H0689679 A JPH0689679 A JP H0689679A JP 5009691 A JP5009691 A JP 5009691A JP 969193 A JP969193 A JP 969193A JP H0689679 A JPH0689679 A JP H0689679A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
- H01J3/021—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
- H01J37/073—Electron guns using field emission, photo emission, or secondary emission electron sources
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子源/対象配置での振動に対する過敏性が
なく静止物体以外の物体も検査することができる電子パ
ルス源を提供すること。 【構成】 1keV未満のエネルギの強力コヒーレント
電子パルス源は、真空外被9内で相互に整列された極先
鋭電子射出尖状部10とアノード11とを備え、100
ボルト〜500ボルトの振幅と可変パルス速度とを有す
るパルス状電位が尖状部10とアノード11との間に印
加される。尖状部10はアノード11に対して負に保持
され、尖状部10の表面電界はパルス状電位において1
07V/cmを越える。アノード11の開口に物体14
を配置すると、射出された電子の球面波はスクリーン1
3上に干渉パターン(ゲーバー・ホログラム又は伝送ホ
ログラム)を発生する。
なく静止物体以外の物体も検査することができる電子パ
ルス源を提供すること。 【構成】 1keV未満のエネルギの強力コヒーレント
電子パルス源は、真空外被9内で相互に整列された極先
鋭電子射出尖状部10とアノード11とを備え、100
ボルト〜500ボルトの振幅と可変パルス速度とを有す
るパルス状電位が尖状部10とアノード11との間に印
加される。尖状部10はアノード11に対して負に保持
され、尖状部10の表面電界はパルス状電位において1
07V/cmを越える。アノード11の開口に物体14
を配置すると、射出された電子の球面波はスクリーン1
3上に干渉パターン(ゲーバー・ホログラム又は伝送ホ
ログラム)を発生する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特に電子的なマイクロ
スコピー(microscopy)及びスペクトロスコ
ピー(spectroscopy)に用いるための強力
コヒーレント電子パルス用電界放出源に関する。
スコピー(microscopy)及びスペクトロスコ
ピー(spectroscopy)に用いるための強力
コヒーレント電子パルス用電界放出源に関する。
【0002】
【従来の技術】パルス状粒子ビームは、良好な時間解像
度を持つ測定が重要な場合には、いつでも関心事とな
る。これは、常に2つの共役的な機械的観測対象、即
ち、位置と運動量に対して必要となる。第1の観測対象
は、実空間における時間依存事象を解くべきマイクロス
コピーの領域を意味する。第2の観測対象は、パルス状
ビームによる飛翔時間の測定を用いて運動量、エネルギ
及び質量のスペクトラムを明かにするスペクトロスコピ
ーを意味する。
度を持つ測定が重要な場合には、いつでも関心事とな
る。これは、常に2つの共役的な機械的観測対象、即
ち、位置と運動量に対して必要となる。第1の観測対象
は、実空間における時間依存事象を解くべきマイクロス
コピーの領域を意味する。第2の観測対象は、パルス状
ビームによる飛翔時間の測定を用いて運動量、エネルギ
及び質量のスペクトラムを明かにするスペクトロスコピ
ーを意味する。
【0003】自由電子を発生する電界放出源は当該技術
では公知である。殆どの場合、それらは尖状部の形状を
取る。したがって、それらは時として点源(point
source)とも呼ばれ、原子の大きさの実空間に
おける体積として一般的に定義されており、点源が射出
する電子の波長に相当する。しかし、従来の尖状部は、
この定義に実際に合うほど十分に尖っていなかった。ま
た、小さな焦点を形成するには電子光学レンズの使用を
必要とした。更に、これらのレンズによって種々の収差
が現れ、加えて焦点領域にクーロン反発の問題が発生す
ることも、よく知られていることである。
では公知である。殆どの場合、それらは尖状部の形状を
取る。したがって、それらは時として点源(point
source)とも呼ばれ、原子の大きさの実空間に
おける体積として一般的に定義されており、点源が射出
する電子の波長に相当する。しかし、従来の尖状部は、
この定義に実際に合うほど十分に尖っていなかった。ま
た、小さな焦点を形成するには電子光学レンズの使用を
必要とした。更に、これらのレンズによって種々の収差
が現れ、加えて焦点領域にクーロン反発の問題が発生す
ることも、よく知られていることである。
【0004】できるだけ鋭い尖状部、即ち1つの原子か
らなるものを導入することにより、電子源の技術は新た
な局面に到達した。これについては、エッチ.ダブリ
ュ.フィンク(H.W.Fink)他の論文「コヒーレ
ント点源電子ビーム」(J.Vac.Sci.Tech
nol. B8(6),Nov./Dec. 199
0、pp.1323/4)を参照されたい。ある種の用
途では単原子の尖状部の使用を必要とするが、殆どの場
合、約100個の原子を含んだ半球状の尖状部によっ
て、有用な結果が実際には得られている。このような尖
状部は、従来の尖状部に対して、「極先鋭」(ultr
asharp)と呼ばれている。以後にあげる本発明の
実施例の記載では、この種の尖状部に基づいている。
らなるものを導入することにより、電子源の技術は新た
な局面に到達した。これについては、エッチ.ダブリ
ュ.フィンク(H.W.Fink)他の論文「コヒーレ
ント点源電子ビーム」(J.Vac.Sci.Tech
nol. B8(6),Nov./Dec. 199
0、pp.1323/4)を参照されたい。ある種の用
途では単原子の尖状部の使用を必要とするが、殆どの場
合、約100個の原子を含んだ半球状の尖状部によっ
て、有用な結果が実際には得られている。このような尖
状部は、従来の尖状部に対して、「極先鋭」(ultr
asharp)と呼ばれている。以後にあげる本発明の
実施例の記載では、この種の尖状部に基づいている。
【0005】極先鋭尖状部は、コヒーレントな電子ビー
ム源として、それらビーム源に近接して設けられた物体
のホログラムを形成するために既に用いられている。こ
の主題に関する論文の一例が、エッチ.ダブリュ.フィ
ンク他著の論文「低エネルギ電子を用いたホログラフ
ィ」(Phys.Rev.Lett.65,No.1
0,1990年9月,pp.1204−1206)であ
る。この文献に記載されている投影顕微鏡は、電子用の
点源、検査対象を保持する穿孔されたアノード及び二次
元的な電子検出器を備えている。
ム源として、それらビーム源に近接して設けられた物体
のホログラムを形成するために既に用いられている。こ
の主題に関する論文の一例が、エッチ.ダブリュ.フィ
ンク他著の論文「低エネルギ電子を用いたホログラフ
ィ」(Phys.Rev.Lett.65,No.1
0,1990年9月,pp.1204−1206)であ
る。この文献に記載されている投影顕微鏡は、電子用の
点源、検査対象を保持する穿孔されたアノード及び二次
元的な電子検出器を備えている。
【0006】別の2件の論文、即ち、エッチ.ダブリ
ュ.フィンク他の「レンズを用いない電子的ホログラフ
ィ」(La Recherche,Vol.22,N
o.234,7/8月,1991,pp.964−96
6)、及び、エッチ.ダブリュ.フィンク他の「無レン
ズ低エネルギ電子ホログラフィにおける原子解像度」
(Phy.Rev.Lett.67,No.12,19
91年9月,pp.1543−1546)において説明
されているように、これらの顕微鏡は電磁レンズなしで
動作するので、これを用いた場合に起こる全ての不利益
を回避することができる。
ュ.フィンク他の「レンズを用いない電子的ホログラフ
ィ」(La Recherche,Vol.22,N
o.234,7/8月,1991,pp.964−96
6)、及び、エッチ.ダブリュ.フィンク他の「無レン
ズ低エネルギ電子ホログラフィにおける原子解像度」
(Phy.Rev.Lett.67,No.12,19
91年9月,pp.1543−1546)において説明
されているように、これらの顕微鏡は電磁レンズなしで
動作するので、これを用いた場合に起こる全ての不利益
を回避することができる。
【0007】このように、原子レベルでの論理的解像度
により、物体のホログラフィ画像を得ることが可能であ
るが、まだ最新の電子源にはその固有の少なくとも2つ
の重大な欠点がある。1つの欠点は、電子源/対象配置
の振動に対する過敏性に関するものである。振動が疑似
的に一層広い源を形成し得るため、電子源のコヒーレン
スが失われ、したがって画像が不鮮明になってしまう。
別の欠点は、移動物体又は観察中に変化する物体に関す
る情報を得ることが必要であるにも拘わらず、静止物体
しか検査できないことである。
により、物体のホログラフィ画像を得ることが可能であ
るが、まだ最新の電子源にはその固有の少なくとも2つ
の重大な欠点がある。1つの欠点は、電子源/対象配置
の振動に対する過敏性に関するものである。振動が疑似
的に一層広い源を形成し得るため、電子源のコヒーレン
スが失われ、したがって画像が不鮮明になってしまう。
別の欠点は、移動物体又は観察中に変化する物体に関す
る情報を得ることが必要であるにも拘わらず、静止物体
しか検査できないことである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、上述の欠点を克服し、振動に対する過敏性がな
く、移動物体又は観察中に変化する物体に関する情報を
得ることが可能なコヒーレント電子パルス源を提供する
ことである。
目的は、上述の欠点を克服し、振動に対する過敏性がな
く、移動物体又は観察中に変化する物体に関する情報を
得ることが可能なコヒーレント電子パルス源を提供する
ことである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の目的は、本発明に
よれば、1keV未満のエネルギの強力なコヒーレント
電子パルス源によって達成することができる。この電子
パルス源は、真空外被内に相互に整列されて配置された
極先鋭電子射出尖状部とアノードとを備えている。10
0ボルトと500ボルトの間の範囲の振幅と可変パルス
速度とを有するパルス状電位が尖状部とアノードとの間
に印加される。尖状部はアノードに対して負であり、尖
状部は、その表面の電界が前記パルス状電位において1
07V/cmを越える先鋭度を有する。
よれば、1keV未満のエネルギの強力なコヒーレント
電子パルス源によって達成することができる。この電子
パルス源は、真空外被内に相互に整列されて配置された
極先鋭電子射出尖状部とアノードとを備えている。10
0ボルトと500ボルトの間の範囲の振幅と可変パルス
速度とを有するパルス状電位が尖状部とアノードとの間
に印加される。尖状部はアノードに対して負であり、尖
状部は、その表面の電界が前記パルス状電位において1
07V/cmを越える先鋭度を有する。
【0010】
【実施例】本発明の好適な実施例の詳細を、図面を参照
しながら、その一例を以下に説明する。
しながら、その一例を以下に説明する。
【0011】図1は、本発明による電子パルス源の全体
構成を示すものである。尖状部(電子点源)1は真空外
被2内に配置され、その長軸は真空外被2の軸と整列さ
れている。尖状部1は、エッチ.ダブリュ.フィンクの
「走査トンネル顕微鏡用の単原子尖状部」(IBM
J.Res.Dev.,Vol.30,No.5,19
86年9月,pp.460−465)に記載されている
種類のものでもよいが、前記のように、頂点に1つ以上
の原子を有する尖状部を用いることもできる。
構成を示すものである。尖状部(電子点源)1は真空外
被2内に配置され、その長軸は真空外被2の軸と整列さ
れている。尖状部1は、エッチ.ダブリュ.フィンクの
「走査トンネル顕微鏡用の単原子尖状部」(IBM
J.Res.Dev.,Vol.30,No.5,19
86年9月,pp.460−465)に記載されている
種類のものでもよいが、前記のように、頂点に1つ以上
の原子を有する尖状部を用いることもできる。
【0012】尖状部1は真空貫通接続部4及びコンデン
サ5を介してパルス発生器3に接続され、約50Ωの抵
抗を有する抵抗器6により尖状部1はアースに接続され
る。パルス発生器3は、以下に説明するように、パルス
速度が可変の−100ボルトと−500ボルトとの間の
パルス電圧を尖状部1に供給するように構成されてい
る。
サ5を介してパルス発生器3に接続され、約50Ωの抵
抗を有する抵抗器6により尖状部1はアースに接続され
る。パルス発生器3は、以下に説明するように、パルス
速度が可変の−100ボルトと−500ボルトとの間の
パルス電圧を尖状部1に供給するように構成されてい
る。
【0013】真空外被2内には、更に電子検出器7が配
置されている。電子検出器は公知であり、本発明に関す
る用途にふさわしい電子検出器は数種類存在する。これ
については、ジェイ.エル.ワイザ(J.L.Wiz
a)の「マイクロチャンネル板状検出器」(Nucle
ar Instr.& Methods,Vol.16
2,1979年,pp.587−601)、及び、イ
ー.エー.カーズ(E.A.Curz)の「チャンネル
電子乗算器」(American Laborator
y(1979年3月)からの複製)を参照されたい。
置されている。電子検出器は公知であり、本発明に関す
る用途にふさわしい電子検出器は数種類存在する。これ
については、ジェイ.エル.ワイザ(J.L.Wiz
a)の「マイクロチャンネル板状検出器」(Nucle
ar Instr.& Methods,Vol.16
2,1979年,pp.587−601)、及び、イ
ー.エー.カーズ(E.A.Curz)の「チャンネル
電子乗算器」(American Laborator
y(1979年3月)からの複製)を参照されたい。
【0014】例えば、チャンネル板状検出器を用いる場
合、尖状部1から射出される電子がその表面にほぼ垂直
に当るように配置しなければならない。また、チャンネ
ルトロン(channeltron)型検出器を用いる
場合、その入力円錐体を尖状部1の軸と整列させるのが
好ましい。電子検出器7は従来の表示及び/又は記録ユ
ニット8と接続してもよい。
合、尖状部1から射出される電子がその表面にほぼ垂直
に当るように配置しなければならない。また、チャンネ
ルトロン(channeltron)型検出器を用いる
場合、その入力円錐体を尖状部1の軸と整列させるのが
好ましい。電子検出器7は従来の表示及び/又は記録ユ
ニット8と接続してもよい。
【0015】尖状部1に対して正の電位を有する電子検
出器7を用いる場合、尖状部1の表面での電界が約10
7V/cmの値を越えるならば、電界放出によって自由
電子が尖状部から射出され、電子はポテンシャル井戸か
ら「抜け出して」(tunnel out)正電子検出
器7に到達することができる。この比較的大きい電界強
度は、非常に先鋭な尖状部1、特に、その頂点に1つの
原子しかない尖状部を用いれば、容易に達成することが
できる。
出器7を用いる場合、尖状部1の表面での電界が約10
7V/cmの値を越えるならば、電界放出によって自由
電子が尖状部から射出され、電子はポテンシャル井戸か
ら「抜け出して」(tunnel out)正電子検出
器7に到達することができる。この比較的大きい電界強
度は、非常に先鋭な尖状部1、特に、その頂点に1つの
原子しかない尖状部を用いれば、容易に達成することが
できる。
【0016】有用な時間決定型(time−resol
ved)の構成を特徴付ける重要なパラメータは、ある
検出器レベルの信号を発生させる電子の数と電子ビーム
のパルス長とである。
ved)の構成を特徴付ける重要なパラメータは、ある
検出器レベルの信号を発生させる電子の数と電子ビーム
のパルス長とである。
【0017】わずか数ナノメータの解像度を備えた従来
の電子顕微鏡では、二次元的電子検出器に高いコントラ
ストの画像を発生するために、そして数分の1秒のタイ
ムフレーム内に約108の電子を必要とする。繰り返し
時間が通常の数分の1秒より短い場合、空間周波数の著
しい喪失を生じる。勿論、従来の電子顕微鏡は数10キ
ロボルト台の加速電圧で動作するので、これらの電子は
非常に高いエネルギを有することになる。
の電子顕微鏡では、二次元的電子検出器に高いコントラ
ストの画像を発生するために、そして数分の1秒のタイ
ムフレーム内に約108の電子を必要とする。繰り返し
時間が通常の数分の1秒より短い場合、空間周波数の著
しい喪失を生じる。勿論、従来の電子顕微鏡は数10キ
ロボルト台の加速電圧で動作するので、これらの電子は
非常に高いエネルギを有することになる。
【0018】これに対して、本発明による電子源の尖状
部1から射出された自由電子は、100eVから500
eVの範囲のエネルギのみを有する。電子顕微鏡技術の
知識を有する者には自明なように、低エネルギ電子ビー
ムは、例えば、従来の電子顕微鏡に用いられている通常
の高エネルギ電子ビームによる衝撃を与えられると直ち
に破壊されてしまうような生物的事象の研究に役立つ。
部1から射出された自由電子は、100eVから500
eVの範囲のエネルギのみを有する。電子顕微鏡技術の
知識を有する者には自明なように、低エネルギ電子ビー
ムは、例えば、従来の電子顕微鏡に用いられている通常
の高エネルギ電子ビームによる衝撃を与えられると直ち
に破壊されてしまうような生物的事象の研究に役立つ。
【0019】本発明によれば、尖状部1とアノードとの
間の電位は高周波数でパルス化される。典型的なパルス
長を200nsとし、パルス・デューティ比を1とする
と、1秒当り2.5×106個のパルスが発生され、各
パルスには n = 5×1014/2.5×106 =2×108 個の電子 が含まれる。
間の電位は高周波数でパルス化される。典型的なパルス
長を200nsとし、パルス・デューティ比を1とする
と、1秒当り2.5×106個のパルスが発生され、各
パルスには n = 5×1014/2.5×106 =2×108 個の電子 が含まれる。
【0020】このように、本発明による電子源は従来の
電界電子顕微鏡とほぼ同数の電子を得ることができる
が、得られた電子は1/100も少ないエネルギを有す
る。
電界電子顕微鏡とほぼ同数の電子を得ることができる
が、得られた電子は1/100も少ないエネルギを有す
る。
【0021】次に図2を参照すると、本発明の電子源の
可能な応用の1つは、電子ビームの軌道に配置された物
体の原子的解像度での画像処理である。真空外被9内に
おいて、先鋭な電界放射尖状部10と例えば金属板のア
ノード11との間に100V程度のパルス状電位が印加
される。パルス周波数は約5MHzと仮定することがで
き、したがって、各々108個の電子の輝度を有するパ
ルス長100nsのパルスが得られる。したがって、コ
ヒーレントな放射の球面波が尖状部10から射出され、
アノード11の開口12を通過する。この球面波は、開
口12の縁によって制限されない限り、スクリーン13
に向かって拡がる。スクリーン13は尖状部1と対向し
て設けられ、尖状部10/アノード12の距離に対して
大きな距離で、電子ビームの軸に直交する向きに配置さ
れている。
可能な応用の1つは、電子ビームの軌道に配置された物
体の原子的解像度での画像処理である。真空外被9内に
おいて、先鋭な電界放射尖状部10と例えば金属板のア
ノード11との間に100V程度のパルス状電位が印加
される。パルス周波数は約5MHzと仮定することがで
き、したがって、各々108個の電子の輝度を有するパ
ルス長100nsのパルスが得られる。したがって、コ
ヒーレントな放射の球面波が尖状部10から射出され、
アノード11の開口12を通過する。この球面波は、開
口12の縁によって制限されない限り、スクリーン13
に向かって拡がる。スクリーン13は尖状部1と対向し
て設けられ、尖状部10/アノード12の距離に対して
大きな距離で、電子ビームの軸に直交する向きに配置さ
れている。
【0022】電子ビーム内の開口12の前に物体14を
配置することによって、電子の球面波が局部的に回折さ
れることになり、スクリーン13に到達する波頭が、同
心円状の環の形状の干渉パターンをスクリーン上に発生
し、環の相互間隔は、元の波と回折された波との間の位
相差の関数となる。
配置することによって、電子の球面波が局部的に回折さ
れることになり、スクリーン13に到達する波頭が、同
心円状の環の形状の干渉パターンをスクリーン上に発生
し、環の相互間隔は、元の波と回折された波との間の位
相差の関数となる。
【0023】一般的に、次の2つの場合が区別されなく
てはならない: (1)物体がその位置において電子ビームの直径より小
さい場合(ゲーバー・ホログラム)。スクリーン13上
の干渉パターン(ホログラム)は、電子ビームの乱され
なかった部分(通常は基準ビームと呼ばれる)と物体に
よって回折された該当部分のビームとの重畳によって発
生される。
てはならない: (1)物体がその位置において電子ビームの直径より小
さい場合(ゲーバー・ホログラム)。スクリーン13上
の干渉パターン(ホログラム)は、電子ビームの乱され
なかった部分(通常は基準ビームと呼ばれる)と物体に
よって回折された該当部分のビームとの重畳によって発
生される。
【0024】(2)物体が非常に大きく、電子ビームを
完全に隠してしまう場合(伝送ホログラム)。明かに、
この場合、物体は少なくとも部分的には電子ビームに対
して透明である。干渉パターンは、物体を通過して乱さ
れなかった電子及び通過中に物体の原子(又は分子)と
相互作用した電子によって発生される。
完全に隠してしまう場合(伝送ホログラム)。明かに、
この場合、物体は少なくとも部分的には電子ビームに対
して透明である。干渉パターンは、物体を通過して乱さ
れなかった電子及び通過中に物体の原子(又は分子)と
相互作用した電子によって発生される。
【0025】ホログラムの再生は当該技術では公知であ
る。簡単に言えば、ホログラムは、それを発生した時に
用いられた放射と同じ球面波で「照射」しなければなら
ない。観測者に対してホログラムのどちら側が照射され
るかにしたがって、観測者は実像又は共役像を見ること
になる。
る。簡単に言えば、ホログラムは、それを発生した時に
用いられた放射と同じ球面波で「照射」しなければなら
ない。観測者に対してホログラムのどちら側が照射され
るかにしたがって、観測者は実像又は共役像を見ること
になる。
【0026】図3の構成において、検査すべき物体15
は、アノード18の開口17を覆って配置された薄膜1
6(電子に対して透明である)上に支持されている。尖
状部19とアノード18との間の距離dは、微視的に、
例えばd=10nmに選択され、アノード18とスクリ
ーン20との間の距離Dは、巨視的に、例えばD=10
cmに選択された。この構成によって得られる倍率Mは
幾何学的であり、M=D/d=106で与えられる。
は、アノード18の開口17を覆って配置された薄膜1
6(電子に対して透明である)上に支持されている。尖
状部19とアノード18との間の距離dは、微視的に、
例えばd=10nmに選択され、アノード18とスクリ
ーン20との間の距離Dは、巨視的に、例えばD=10
cmに選択された。この構成によって得られる倍率Mは
幾何学的であり、M=D/d=106で与えられる。
【0027】図1及び図2に示した構成では、尖状部に
よって射出されたパルス状電子を直接用いたが、図4
は、通常の真空をヘリウムや水素のような気体雰囲気で
置き換えた実施例を示している。したがって、パルス状
電子ビームは気体分子と相互作用し、場合によって、イ
オン化されたヘリウム又はH2(プロトン)が存在す
る。このような構成によって、例えば100nsの間隔
で、アノード25の開口24を覆う薄い膜23上に支持
された物体22を電荷が飛び越すときの電荷21の移動
が監視できる。
よって射出されたパルス状電子を直接用いたが、図4
は、通常の真空をヘリウムや水素のような気体雰囲気で
置き換えた実施例を示している。したがって、パルス状
電子ビームは気体分子と相互作用し、場合によって、イ
オン化されたヘリウム又はH2(プロトン)が存在す
る。このような構成によって、例えば100nsの間隔
で、アノード25の開口24を覆う薄い膜23上に支持
された物体22を電荷が飛び越すときの電荷21の移動
が監視できる。
【0028】同様に、発生すべき干渉パターンのための
反応に関係する原子/分子が十分にあるなら、化学反応
を原子レベルで観察することも可能である。
反応に関係する原子/分子が十分にあるなら、化学反応
を原子レベルで観察することも可能である。
【0029】
【発明の効果】以上、この発明を若干の実施例を参照し
ながら詳細に説明したところから明らかなとおり、この
発明のコヒーレント電子パルス源によれば、電子源/対
象配置の振動に対する過敏性がなくなり、しかも、静止
物体しか検査できないという従来の欠点を克服すること
ができる。
ながら詳細に説明したところから明らかなとおり、この
発明のコヒーレント電子パルス源によれば、電子源/対
象配置の振動に対する過敏性がなくなり、しかも、静止
物体しか検査できないという従来の欠点を克服すること
ができる。
【図1】本発明に係る電子パルス源の第1実施例の全体
的構成を示す図。
的構成を示す図。
【図2】本発明に係る電子パルス源の第2実施例を示す
図。
図。
【図3】電子パルス源の配置を説明するための図。
【図4】本発明に係る電子パルス源の別の実施例を示す
図。
図。
1、10、19 極先鋭電子射出尖状部 7、11、18、25 アノード 2、9 真空外被 12、17 開口 11、18 金属シート 13、20 スクリーン 23 膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハインツ・シュミット スイス国ツェーハー−8942 オーバーリー デン、ビィッケルシュトラーセ 10番地
Claims (6)
- 【請求項1】1keV未満のエネルギの強力コヒーレン
ト電子パルス源であって、極先鋭電子射出尖状部(1、
10、19)とアノード(7、11、18、25)とを
備え、両者が真空外被(2、9)内に相互に整列配置さ
れている強力コヒーレント電子パルス源において、 100ボルトと500ボルトの間の範囲の振幅と可変パ
ルス速度とを有するパルス状電位を、前記尖状部(1、
10、19)と前記アノード(7、11、18、25)
との間に印加し、前記尖状部(1、10、19)を前記
アノード(7、11、18、25)に対して負とし、前
記尖状部(1)の表面における電界が前記パルス状電位
において107V/cmを越える先鋭度を前記尖状部が
有することを特徴とする強力コヒーレント電子パルス
源。 - 【請求項2】請求項1記載の強力コヒーレント電子パル
ス源であって、前記アノードは、前記真空外被(2)の
外部に設けられた記録ユニットに画像データを供給する
ように接続された電子検出器(7)であることを特徴と
する強力コヒーレント電子パルス源。 - 【請求項3】請求項1に記載の強力コヒーレント電子パ
ルス源であって、200nsの典型的なパルス長と1の
デューティ・ファクタとを有する前記パルス状電位によ
り、前記尖状部(1、10、19)が1秒当り約2.5
×106個のパルスを射出し、各パルスは約2×108個
の電子を供給することを特徴とする強力コヒーレント電
子パルス源。 - 【請求項4】請求項1に記載の強力コヒーレント電子パ
ルス源であって、前記アノードは、前記尖状部(10、
19)の軸と整列された開口(12、17)を有する金
属シート(11、18)として設計されており、スクリ
ーン(13、20)が前記尖状部(10、19)に対向
して、前記開口(12、17)を通過する電子ビームの
軸に対して直交する向きに配置され、前記開口(12、
17)と前記スクリーン(13、20)との間の距離
は、前記尖状部(10、19)と前記アノード(11、
18)との間の距離より大きいことを特徴とする強力コ
ヒーレント電子パルス源。 - 【請求項5】請求項1〜4のうちのいずれか1項に記載
の強力コヒーレント電子パルス源であって、前記真空外
被(2、9)は、水素及びヘリウムを含む群から選択さ
れた気体の雰囲気を含んでおり、前記尖状部(1、1
0、19)から射出されたパルス状電子は、これによっ
て前記ガスの分子と相互作用を行ない、少なくともその
一部をイオン化することを特徴とする強力コヒーレント
電子パルス源。 - 【請求項6】請求項1〜5のうちのいずれか1項に記載
の強力コヒーレント電子パルス源であって、前記アノー
ド(25)の前記開口(24)を被覆する薄い膜(2
3)上に物体(22)が配置され、前記のパルス状のイ
オン化された気体雰囲気によって、電荷(23)が前記
物体(22)を横切って移動する際の電荷の移動の観察
を可能とすることを特徴とする強力コヒーレント電子パ
ルス源。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH92810245.8 | 1992-04-01 | ||
EP19920810245 EP0563500B1 (en) | 1992-04-01 | 1992-04-01 | Source for intense coherent electron pulses |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0689679A true JPH0689679A (ja) | 1994-03-29 |
JP2720907B2 JP2720907B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=8211900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5009691A Expired - Lifetime JP2720907B2 (ja) | 1992-04-01 | 1993-01-25 | コヒーレント電子パルス源 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0563500B1 (ja) |
JP (1) | JP2720907B2 (ja) |
DE (1) | DE69205676D1 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4940058A (ja) * | 1972-08-17 | 1974-04-15 | ||
JPS50138767A (ja) * | 1974-04-10 | 1975-11-05 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3605735A1 (de) * | 1986-02-22 | 1986-10-30 | Holger Dr. 7400 Tübingen Hübner | Vorrichtung zur erzeugung kurzer elektronen- ionen- oder roentgenimpulse mit hohem richtstrahlwert |
DE3887891T2 (de) * | 1988-11-01 | 1994-08-11 | Ibm | Niederspannungsquelle für schmale Elektronen-/Ionenstrahlenbündel. |
-
1992
- 1992-04-01 DE DE69205676T patent/DE69205676D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-04-01 EP EP19920810245 patent/EP0563500B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-01-25 JP JP5009691A patent/JP2720907B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4940058A (ja) * | 1972-08-17 | 1974-04-15 | ||
JPS50138767A (ja) * | 1974-04-10 | 1975-11-05 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69205676D1 (de) | 1995-11-30 |
EP0563500B1 (en) | 1995-10-25 |
JP2720907B2 (ja) | 1998-03-04 |
EP0563500A1 (en) | 1993-10-06 |
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