JPH0684977A - Apparatus for mounting semiconductor chip - Google Patents

Apparatus for mounting semiconductor chip

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JPH0684977A
JPH0684977A JP23565992A JP23565992A JPH0684977A JP H0684977 A JPH0684977 A JP H0684977A JP 23565992 A JP23565992 A JP 23565992A JP 23565992 A JP23565992 A JP 23565992A JP H0684977 A JPH0684977 A JP H0684977A
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JP
Japan
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semiconductor chip
image
substrate
holding mechanism
positioning
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP23565992A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeoki Mori
薫興 森
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0684977A publication Critical patent/JPH0684977A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
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  • Die Bonding (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide an apparatus for mounting a semiconductor chip in which the chip can be rapidly and accurately positioned in the case of fixing the chip to a board and a production efficiency can be improved. CONSTITUTION:A positioning mechanism is provided between a semiconductor chip holding mechanism 2 and a board holding mechanism 4. In the positioning mechanism, an image of a semiconductor chip 1 incident from an upper part to an optical waveguide 6 through a window 7 is reflected by a half mirror 9, and advanced to a left of the drawing in the waveguide 6. On the other hand, the image of a board 3 incident from a lower part into the waveguide 6 through a window 8 is once reflected by the mirror 9 to a totally reflecting mirror 10 side, then reflected by the mirror 10, passed through the mirror 9, and advanced to a left of the drawing in the waveguide 6. Thus, a combined image made by superposing the image of a lower surface of the chip 1 on the image of an upper surface of the board 3 is formed at a left side of the waveguide 6, and imaged by a television camera 11.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体チップの実装装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor chip mounting apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体デバイスを用いた電子回路
装置は、その回路網が大規模化される傾向にあり、この
ため、半導体デバイスにおいては、高集積化による小形
化が求められている。また、このような要求を満たすた
め、半導体チップをパッケージングせずに使用すること
が行われており、また、最近では、基板上にパッケージ
ングしていない複数の半導体チップを実装したいわゆる
マルチチップモジュール(MCM)が開発されている。
2. Description of the Related Art In recent years, an electronic circuit device using a semiconductor device tends to have a large circuit network. Therefore, the semiconductor device is required to be miniaturized by high integration. Further, in order to meet such requirements, semiconductor chips have been used without being packaged, and recently, a so-called multi-chip in which a plurality of unpackaged semiconductor chips are mounted on a substrate is used. Modules (MCM) are being developed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したマルチチップ
モジュールを量産する場合、半導体チップの電極と、基
板上に形成された電極とを確実に固着しなければならな
い。このため、半導体チップを基板上の所定位置に正確
に位置決めする必要があるが、半導体チップには多数の
電極が狭いピッチで配列されており、これらの電極と基
板上に形成された電極とを正確かつ迅速に位置決めする
ことは困難であり、位置決めに時間を要してスループッ
トの低下を招いたり、半導体チップのずれのために不良
が発生して歩留まりの低下を招く等の問題があった。
When mass-producing the above-mentioned multi-chip module, the electrodes of the semiconductor chip and the electrodes formed on the substrate must be firmly fixed to each other. Therefore, it is necessary to accurately position the semiconductor chip at a predetermined position on the substrate, but a large number of electrodes are arranged on the semiconductor chip at a narrow pitch, and these electrodes and the electrodes formed on the substrate are arranged. It is difficult to perform accurate and quick positioning, and it takes a long time to perform positioning, which causes a decrease in throughput, and there is a problem that a defect occurs due to a deviation of a semiconductor chip and a yield is decreased.

【0004】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、半導体チップを基板に固着する際の位置
決めを迅速かつ正確に行うことができ、生産効率の向上
を図ることのできる半導体チップの実装装置を提供しよ
うとするものである。
The present invention has been made in response to such a conventional situation, and the semiconductor chip can be positioned quickly and accurately when the semiconductor chip is fixed to the substrate, and the production efficiency can be improved. It is intended to provide a chip mounting device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】すなわち、請求項1記載
の本発明の半導体チップの実装装置は、半導体チップ保
持機構に保持された半導体チップと基板保持機構に保持
された基板とを位置決め機構によって位置決めした後、
前記半導体チップを前記基板に固着する半導体チップの
実装装置において、前記位置決め機構は、前記半導体チ
ップ保持機構と前記基板保持機構との間に挿入可能に構
成され、前記半導体チップの画像と前記基板の画像とを
重畳した画像を形成する光学系を具備したことを特徴と
する。
That is, a semiconductor chip mounting apparatus according to the present invention according to claim 1 uses a positioning mechanism to position a semiconductor chip held by a semiconductor chip holding mechanism and a substrate held by the substrate holding mechanism. After positioning
In a semiconductor chip mounting apparatus for fixing the semiconductor chip to the substrate, the positioning mechanism is configured to be insertable between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and the image of the semiconductor chip and the substrate An optical system for forming an image on which an image is superimposed is provided.

【0006】また、請求項2記載の本発明の半導体チッ
プの実装装置は、半導体チップ保持機構に保持された半
導体チップと基板保持機構に保持された基板とを位置決
め機構によって位置決めした後、前記半導体チップを前
記基板に固着する半導体チップの実装装置において、前
記位置決め機構は、前記半導体チップ保持機構と前記基
板保持機構との間に挿入可能に構成され前記半導体チッ
プの画像と前記基板の画像とを重畳した画像を形成する
光学系と、この光学系による画像を撮像する撮像カメラ
とを具備したことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor chip mounting apparatus of the present invention, the semiconductor chip held by the semiconductor chip holding mechanism and the substrate held by the substrate holding mechanism are positioned by the positioning mechanism, and then the semiconductor chip is mounted. In a semiconductor chip mounting device for fixing a chip to the substrate, the positioning mechanism is configured to be insertable between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and displays an image of the semiconductor chip and an image of the substrate. It is characterized by comprising an optical system for forming a superposed image and an image pickup camera for picking up an image by this optical system.

【0007】また、請求項3記載の本発明の半導体チッ
プの実装装置は、半導体チップ保持機構に保持された半
導体チップと基板保持機構に保持された基板とを位置決
め機構によって位置決めした後、前記半導体チップを前
記基板に固着する半導体チップの実装装置において、前
記位置決め機構は、前記半導体チップ保持機構と前記基
板保持機構との間に挿入可能に構成され前記半導体チッ
プの画像と前記基板の画像とを重畳した画像を形成する
光学系と、この光学系による画像を撮像する撮像倍率可
変の撮像カメラとを具備したことを特徴とする。
According to a third aspect of the semiconductor chip mounting apparatus of the present invention, the semiconductor chip held by the semiconductor chip holding mechanism and the substrate held by the substrate holding mechanism are positioned by the positioning mechanism, and then the semiconductor chip is mounted. In a semiconductor chip mounting device for fixing a chip to the substrate, the positioning mechanism is configured to be insertable between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and displays an image of the semiconductor chip and an image of the substrate. It is characterized in that it is provided with an optical system for forming a superposed image and an imaging camera with variable imaging magnification for picking up an image by this optical system.

【0008】[0008]

【作用】上記構成の本発明の半導体チップの実装装置で
は、位置決め機構の光学系が、例えば、全反射ミラーと
ハーフミラーとの組み合わせによって、半導体チップの
画像と基板の画像とを重畳した画像を形成する。したが
って、この光学系を半導体チップ保持機構と基板保持機
構との間に挿入し、この画像を撮像カメラ等によって撮
像することにより、半導体チップの電極と基板の電極と
が重なるように表示された画像を表示あるいは画像解析
することによって、容易かつ正確に位置決めすることが
できる。そして、位置決めが終了すると、この光学系を
退避させて半導体チップ保持機構と基板保持機構をその
まま近接させ、半導体チップの電極と基板の電極とを当
接させて固着することができる。これにより、スループ
ットの向上と歩留まりの向上を図ることができる。
In the semiconductor chip mounting apparatus of the present invention having the above-described structure, the optical system of the positioning mechanism forms an image in which the image of the semiconductor chip and the image of the substrate are superposed by a combination of, for example, a total reflection mirror and a half mirror. Form. Therefore, by inserting this optical system between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism and capturing the image with an imaging camera or the like, an image displayed so that the electrodes of the semiconductor chip and the electrodes of the substrate overlap with each other. Can be easily and accurately positioned by displaying or analyzing the image. Then, when the positioning is completed, the optical system can be retracted to bring the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism into close proximity to each other, and the electrodes of the semiconductor chip and the electrodes of the substrate can be brought into contact with each other and fixed. This makes it possible to improve throughput and yield.

【0009】また、位置決め後、半導体チップあるいは
基板を、例えば上下方向に移動させてそのまま近接させ
るので、駆動機構の誤差等により位置決め後に位置ずれ
が生じることもない。すなわち、半導体チップを基板に
固着する固着位置とは別の場所、例えばこの固着位置の
側方等の撮像位置で半導体チップを撮像して、この半導
体チップの基準位置からのずれの方向および量を画像認
識技術によって検出し、このずれの方向および量に従っ
て、撮像位置から実装位置までの半導体チップの搬送量
を制御して所定位置に位置決めするような場合、搬送機
構の有する位置の誤差によって位置ずれが生じるが、本
発明の半導体チップの実装装置ではこのような原因によ
り位置ずれが発生することがない。
Further, after the positioning, the semiconductor chip or the substrate is moved vertically, for example, and brought into close proximity as it is, so that the positional deviation does not occur after the positioning due to an error of the driving mechanism. That is, the semiconductor chip is imaged at a position other than the fixing position where the semiconductor chip is fixed to the substrate, for example, at an imaging position such as a side of the fixing position, and the direction and amount of deviation of the semiconductor chip from the reference position are determined. When the semiconductor chip is detected by image recognition technology and the semiconductor chip is transported from the imaging position to the mounting position by controlling the transport amount according to the direction and amount of this displacement, the displacement occurs due to the error in the position of the transport mechanism. However, in the semiconductor chip mounting apparatus of the present invention, the positional deviation does not occur due to such a cause.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0011】図1および図2に示すように、本実施例の
半導体チップの実装装置には、パッケージングされてい
ない半導体チップ1を、例えば真空チャック等によって
吸着保持可能し、この半導体チップ1をX、Y、Zおよ
びθ方向に移動可能に構成された半導体チップ保持機構
2が設けられている。また、この基板支持機構2の下部
には、半導体チップ1が実装される基板3を例えば真空
チャック等によって吸着保持可能に構成された基板保持
機構4が設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, in the semiconductor chip mounting apparatus of this embodiment, an unpackaged semiconductor chip 1 can be adsorbed and held by, for example, a vacuum chuck or the like. A semiconductor chip holding mechanism 2 configured to be movable in X, Y, Z and θ directions is provided. Further, below the substrate support mechanism 2, a substrate holding mechanism 4 configured to be capable of sucking and holding the substrate 3 on which the semiconductor chip 1 is mounted by, for example, a vacuum chuck or the like is provided.

【0012】また、半導体チップ1の種類が異なる場合
も、このチップが実装される基板3が異なる場合も、基
板保持機構上で対応できる。
The substrate holding mechanism can handle different types of semiconductor chips 1 and different substrates 3 on which the chips are mounted.

【0013】上記半導体チップ保持機構2と基板保持機
構4との間には、位置決め機構5が設けられている。こ
の位置決め機構5には、ほぼ水平に配設された筒状の光
導波管6が設けられており、この光導波管6の一部、例
えば中央部には、その上面および下面にそれぞれ窓7、
8が設けられている。これらの窓7、8は、図1に示す
ように光導波管6を上下に貫通するよう同一位置に設け
られており、これらの窓7、8の中間部にはハーフミラ
ー9が配設されている。
A positioning mechanism 5 is provided between the semiconductor chip holding mechanism 2 and the substrate holding mechanism 4. The positioning mechanism 5 is provided with a cylindrical optical waveguide 6 arranged substantially horizontally, and a part of the optical waveguide 6, for example, a central portion, has windows 7 on its upper surface and lower surface, respectively. ,
8 are provided. These windows 7 and 8 are provided at the same position so as to vertically penetrate the optical waveguide 6 as shown in FIG. 1, and a half mirror 9 is arranged in the middle of these windows 7 and 8. ing.

【0014】また、このハーフミラー9の側方(図1中
右側)には全反射ミラー10が設けられており、これら
の光導波管6、ハーフミラー9、全反射ミラー10等に
よって光学系が構成されている。そして、光導波管6の
端部には、この光学系からの像を撮像するための撮像倍
率可変のテレビカメラ11が設けられている。なお、上
記光導波管6は、図示しないガイドレールおよび駆動モ
ータ等の駆動機構によって、半導体チップ保持機構2と
基板保持機構4との間の撮像位置と、半導体チップ保持
機構2と基板保持機構4の動きに干渉しない退避位置と
の間を移動自在とされている。
A total reflection mirror 10 is provided on the side of the half mirror 9 (on the right side in FIG. 1), and an optical system is formed by the optical waveguide 6, the half mirror 9, the total reflection mirror 10 and the like. It is configured. Then, at the end of the optical waveguide 6, there is provided a television camera 11 having a variable imaging magnification for capturing an image from this optical system. The optical waveguide 6 is picked up between the semiconductor chip holding mechanism 2 and the substrate holding mechanism 4 by a driving mechanism such as a guide rail and a driving motor (not shown), and the semiconductor chip holding mechanism 2 and the substrate holding mechanism 4 are picked up. It is freely movable between the retracted position and the retracted position.

【0015】上記構成の光学系では、図1中に矢印で示
すように、上部から窓7を介して光導波管6内に入射し
てきた半導体チップ1下面の画像は、ハーフミラー9に
よって反射され、光導波管6内を図中左側に進む。一
方、下部から窓8を介して光導波管6内に入射してきた
基板3上面の画像は、ハーフミラー9によって一旦全反
射ミラー10側に反射され、この後全反射ミラー10に
よって反射され、ハーフミラー9を透過して光導波管6
内を図中左側に進む。これによって、光導波管6の左側
には、半導体チップ1下面の画像と基板3上面の画像と
が重畳した画像が形成され、テレビカメラ11によって
撮像される。このテレビカメラ11によって撮像された
画像は、表示装置例えばCRT12に写し出されるとと
もに、画像解析装置13に入力される。また、画像解析
装置13による解析結果は、半導体チップ保持機構2の
駆動を制御する駆動制御装置14に入力される。
In the optical system having the above structure, the image on the lower surface of the semiconductor chip 1 which has entered the optical waveguide 6 through the window 7 from the upper portion is reflected by the half mirror 9 as shown by the arrow in FIG. , Proceeds in the optical waveguide 6 to the left side in the figure. On the other hand, the image on the upper surface of the substrate 3 that has entered the inside of the optical waveguide 6 through the window 8 from the lower portion is once reflected by the half mirror 9 toward the total reflection mirror 10 side, and then by the total reflection mirror 10 to be half reflected. Optical waveguide 6 transmitted through mirror 9
Proceed inside to the left in the figure. As a result, an image in which the image of the lower surface of the semiconductor chip 1 and the image of the upper surface of the substrate 3 are superimposed is formed on the left side of the optical waveguide 6, and the image is captured by the television camera 11. The image captured by the television camera 11 is displayed on a display device such as a CRT 12, and is input to the image analysis device 13. Further, the analysis result by the image analysis device 13 is input to the drive control device 14 that controls the drive of the semiconductor chip holding mechanism 2.

【0016】上記構成のこの実施例の半導体チップの実
装装置では、図示しない搬送機構等によって基板3が基
板保持機構4に載置され、吸着保持される。これととも
に、半導体チップ保持機構2は、図示しないトレー等か
ら、このトレーに収容された半導体チップ1を吸着保持
して搬送し、基板保持機構4に吸着保持された基板3上
方の所定位置に配置する。
In the semiconductor chip mounting apparatus of this embodiment having the above-described structure, the substrate 3 is placed on the substrate holding mechanism 4 and suction-held by a transport mechanism or the like (not shown). At the same time, the semiconductor chip holding mechanism 2 sucks and holds the semiconductor chips 1 accommodated in the tray from a tray (not shown) or the like, and arranges them at a predetermined position above the substrate 3 sucked and held by the substrate holding mechanism 4. To do.

【0017】また、半導体チップ1の種類の異なる場合
も、以上の方法を適用することができる。
Further, the above method can be applied to different types of semiconductor chips 1.

【0018】この後、予め退避位置に退避していた光導
波管6が半導体チップ1と基板3との間に挿入され、半
導体チップ1下面の画像と基板3上面の画像とが重畳し
た画像が、テレビカメラ11によって撮像される。
After that, the optical waveguide 6, which has been retracted to the retracted position in advance, is inserted between the semiconductor chip 1 and the substrate 3, and an image in which the image of the lower surface of the semiconductor chip 1 and the image of the upper surface of the substrate 3 are superimposed is displayed. The image is taken by the TV camera 11.

【0019】テレビカメラ11によって撮像された画像
は、CRT12に写し出されるとともに、画像解析装置
13によって、半導体チップ1と基板3とが所定の位置
関係となるよう配置されているか否かが判定され、位置
ずれがある場合は、その位置ずれの方向と量が算出され
る。この時、CRT12に写し出された画面上では、半
導体チップ1の電極と基板3の電極とが重なり合ってい
るか否かによって位置ずれの有無等を確認することがで
きる。
The image captured by the television camera 11 is displayed on the CRT 12, and the image analysis device 13 determines whether or not the semiconductor chip 1 and the substrate 3 are arranged in a predetermined positional relationship. If there is a positional shift, the direction and amount of the positional shift are calculated. At this time, on the screen projected on the CRT 12, it is possible to confirm the presence or absence of misalignment depending on whether the electrodes of the semiconductor chip 1 and the electrodes of the substrate 3 overlap.

【0020】そして、この位置ずれに関する情報が駆動
制御装置14に入力され、駆動制御装置14によって半
導体チップ保持機構2が駆動され、半導体チップ1の位
置が修正される。なお、この時、必要な場合は、まず半
導体チップ1全体の画像が写し出されるような撮像倍率
によって撮像および位置の修正を行い、この後、撮像倍
率を上げて拡大した画像から位置ずれに関する情報を採
取するようにしてもよい。
Then, the information about the positional deviation is input to the drive controller 14, and the drive controller 14 drives the semiconductor chip holding mechanism 2 to correct the position of the semiconductor chip 1. At this time, if necessary, first, image pickup and position correction are performed by an image pickup magnification such that the entire image of the semiconductor chip 1 is displayed, and thereafter, information regarding positional deviation is increased from the enlarged image by increasing the image pickup magnification. You may make it collect.

【0021】このような位置修正の後、再び画像解析装
置13によって半導体チップ1と基板3との位置関係が
判定され、位置修正によってこれらの位置関係が許容範
囲内に入っていることが確認されると、光導波管6を退
避位置に退避させ、半導体チップ保持機構2によって半
導体チップ1を下降させて、半導体チップ1の電極と基
板3の電極とを当接させ、これらを固着する。なお、こ
のような電極の固着は、例えば、基板3の電極に予め半
田バンプ等を設けておく方法等、周知の表面実装技術に
よって行うことができる。
After such position correction, the image analysis device 13 again determines the positional relationship between the semiconductor chip 1 and the substrate 3, and it is confirmed by the position correction that these positional relationships are within the allowable range. Then, the optical waveguide 6 is retracted to the retracted position, the semiconductor chip 1 is lowered by the semiconductor chip holding mechanism 2, and the electrode of the semiconductor chip 1 and the electrode of the substrate 3 are brought into contact with each other to fix them. Note that such fixing of the electrodes can be performed by a well-known surface mounting technique such as a method of previously providing solder bumps or the like on the electrodes of the substrate 3.

【0022】以上のように、この実施例では、半導体チ
ップ1と基板3との位置決めを、容易かつ正確に行うこ
とができる。また、位置決め後、半導体チップ1(ある
いは基板3)を、上下方向に移動させてそのまま近接さ
せるので、位置決め後に駆動機構の誤差等により位置ず
れが生じることがなく、基板3の所定位置に正確に半導
体チップ1を実装することができる。これにより、スル
ープットの向上と歩留まりの向上を図ることができる。
As described above, in this embodiment, the semiconductor chip 1 and the substrate 3 can be positioned easily and accurately. Further, after the positioning, the semiconductor chip 1 (or the substrate 3) is moved in the vertical direction and brought into close proximity as it is. The semiconductor chip 1 can be mounted. This makes it possible to improve throughput and yield.

【0023】なお、上記実施例では、基板保持機構4を
固定した状態とし、半導体チップ保持機構2を駆動する
よう構成したが、基板保持機構4を駆動しても、これら
双方を駆動するようにしてもよいことは勿論である。ま
た、画像解析装置13によらず、CRT12の表示を見
ながら係員がマニュアル操作で位置決めするようにして
もよい。
In the above embodiment, the substrate holding mechanism 4 is fixed and the semiconductor chip holding mechanism 2 is driven. However, even if the substrate holding mechanism 4 is driven, both of them are driven. Of course, it is okay. Further, instead of using the image analysis device 13, a staff member may manually position while watching the display of the CRT 12.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体チ
ップの実装装置によれば、半導体チップを基板に固着す
る際の位置決めを迅速かつ正確に行うことができ、生産
効率の向上を図ることができる。
As described above, according to the semiconductor chip mounting apparatus of the present invention, the positioning when fixing the semiconductor chip to the substrate can be performed quickly and accurately, and the production efficiency can be improved. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の半導体チップの実装装置の
構成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a semiconductor chip mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の半導体チップの実装装置の斜視図。FIG. 2 is a perspective view of the semiconductor chip mounting apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 2 半導体チップ保持機構 3 基板 4 基板保持機構 5 位置決め機構 6 光導波管 7,8 窓 9 ハーフミラー 10 全反射ミラー 11 テレビカメラ 12 CRT 13 画像解析装置 14 駆動制御装置 1 Semiconductor Chip 2 Semiconductor Chip Holding Mechanism 3 Substrate 4 Substrate Holding Mechanism 5 Positioning Mechanism 6 Optical Waveguide 7, 8 Window 9 Half Mirror 10 Total Reflection Mirror 11 Television Camera 12 CRT 13 Image Analysis Device 14 Drive Controller

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップ保持機構に保持された半導
体チップと基板保持機構に保持された基板とを位置決め
機構によって位置決めした後、前記半導体チップを前記
基板に固着する半導体チップの実装装置において、 前記位置決め機構は、前記半導体チップ保持機構と前記
基板保持機構との間に挿入可能に構成され、前記半導体
チップの画像と前記基板の画像とを重畳した画像を形成
する光学系を具備したことを特徴とする半導体チップの
実装装置。
1. A semiconductor chip mounting apparatus, comprising: positioning a semiconductor chip held by a semiconductor chip holding mechanism and a substrate held by a substrate holding mechanism by a positioning mechanism; and fixing the semiconductor chip to the substrate. The positioning mechanism is configured to be insertable between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and includes an optical system that forms an image in which the image of the semiconductor chip and the image of the substrate are superimposed. Semiconductor chip mounting device.
【請求項2】 半導体チップ保持機構に保持された半導
体チップと基板保持機構に保持された基板とを位置決め
機構によって位置決めした後、前記半導体チップを前記
基板に固着する半導体チップの実装装置において、 前記位置決め機構は、前記半導体チップ保持機構と前記
基板保持機構との間に挿入可能に構成され前記半導体チ
ップの画像と前記基板の画像とを重畳した画像を形成す
る光学系と、この光学系による画像を撮像する撮像カメ
ラとを具備したことを特徴とする半導体チップの実装装
置。
2. A semiconductor chip mounting apparatus for fixing the semiconductor chip to the substrate after positioning the semiconductor chip held by the semiconductor chip holding mechanism and the substrate held by the substrate holding mechanism by a positioning mechanism. The positioning mechanism is configured so that it can be inserted between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and an optical system that forms an image in which the image of the semiconductor chip and the image of the substrate are superimposed, and an image by this optical system. An image pickup camera for picking up an image of a semiconductor chip mounting apparatus.
【請求項3】 半導体チップ保持機構に保持された半導
体チップと基板保持機構に保持された基板とを位置決め
機構によって位置決めした後、前記半導体チップを前記
基板に固着する半導体チップの実装装置において、 前記位置決め機構は、前記半導体チップ保持機構と前記
基板保持機構との間に挿入可能に構成され前記半導体チ
ップの画像と前記基板の画像とを重畳した画像を形成す
る光学系と、この光学系による画像を撮像する撮像倍率
可変の撮像カメラとを具備したことを特徴とする半導体
チップの実装装置。
3. A semiconductor chip mounting apparatus for fixing a semiconductor chip held by a semiconductor chip holding mechanism and a substrate held by a substrate holding mechanism by a positioning mechanism, and then fixing the semiconductor chip to the substrate, The positioning mechanism is configured so that it can be inserted between the semiconductor chip holding mechanism and the substrate holding mechanism, and an optical system that forms an image in which the image of the semiconductor chip and the image of the substrate are superimposed, and an image by this optical system. An image pickup camera having a variable image pickup magnification for picking up an image of a semiconductor chip mounting apparatus.
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