JPH0679608B2 - Ultrasonic diagnostic equipment - Google Patents

Ultrasonic diagnostic equipment

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JPH0679608B2
JPH0679608B2 JP62217333A JP21733387A JPH0679608B2 JP H0679608 B2 JPH0679608 B2 JP H0679608B2 JP 62217333 A JP62217333 A JP 62217333A JP 21733387 A JP21733387 A JP 21733387A JP H0679608 B2 JPH0679608 B2 JP H0679608B2
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impedance
delay line
delay time
circuit
delay
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隆夫 地挽
一茂 今別府
通 島崎
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GE Healthcare Japan Corp
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Yokogawa Medical Systems Ltd
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【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、複数の振動子エレメントを有する振動子アレ
イを用いて電子走査方式で走査する超音波診断装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus that scans by an electronic scanning method using a transducer array having a plurality of transducer elements.

(従来の技術) 超音波診断装置は超音波信号を被検体内に照射して、被
検体内の反射体からの反射波により断層像を構成して診
断する装置である。この超音波診断装置において、断層
像を得るために超音波ビームを振らせてその超音波ビー
ムによって横断される面の断層像を得ている。超音波ビ
ームを振らせる方法としては、手動で行う方法や、機械
的に動かす方法等があるが、多数の振動子エレメントを
有する振動子アレイを用いる電子走査方式の超音波診断
装置は、リアルタイムで且つ高速で画像が得られるた
め、近時多く用いられるようになっている。
(Prior Art) An ultrasonic diagnostic apparatus is an apparatus that irradiates an ultrasonic signal into a subject and forms a tomographic image by a reflected wave from a reflector inside the subject to perform diagnosis. In this ultrasonic diagnostic apparatus, an ultrasonic beam is swung to obtain a tomographic image, and a tomographic image of a plane crossed by the ultrasonic beam is obtained. As a method of oscillating the ultrasonic beam, there are a method of performing manually, a method of mechanically moving, etc., but an electronic scanning ultrasonic diagnostic apparatus using a transducer array having a large number of transducer elements is used in real time. Moreover, since an image can be obtained at high speed, it is often used recently.

電子走査方式の超音波診断装置の概略を第2図に示す。
図において、1は送波トリガを受けて超音波送波のため
の高周波信号を発生する高周波発振器で、出力信号は送
波ビームフォーマ2においてビームを形成するように遅
延処理を受け、送受信回路3において増幅されて超音波
探触子4に入力される。超音波探触子4は入力電気信号
を超音波信号に変換して被検体内に送波し、被検体内か
らの反射波を受波して高周波電気信号に変換する。超音
波探触子4の出力信号は送受信回路3で増幅され、受波
ビームフォーマ5で遅延処理を受けて整相加算される。
この出力信号は検波器6で検波され、ディジタルスキャ
ンコンバータ(以下DSCという)7においてテレビジョ
ンフォーマットの信号に変換されてTVモニタ8に表示さ
れる。この超音波診断装置によって得られる断層像は超
音波信号の進む方向、即ち深さ方向に輪切りにした断層
像であるため、その画像は超音波ビームの焦点に合った
所では鮮明であるが、焦点の合わない深さの所では鮮明
さに欠けていた。この焦点位置は受波ビームフォーマ5
において、振動子の各エレメント毎に与えた遅延量によ
って決定されている。
An outline of the electronic scanning type ultrasonic diagnostic apparatus is shown in FIG.
In the figure, reference numeral 1 is a high-frequency oscillator that receives a transmission trigger and generates a high-frequency signal for ultrasonic transmission. The output signal is subjected to delay processing so as to form a beam in a transmission beamformer 2, and a transmission / reception circuit 3 Is input to the ultrasonic probe 4. The ultrasonic probe 4 converts an input electric signal into an ultrasonic signal and transmits the ultrasonic wave into the subject, receives a reflected wave from the inside of the subject, and converts it into a high frequency electric signal. The output signal of the ultrasonic probe 4 is amplified by the transmission / reception circuit 3, subjected to delay processing by the receiving beam former 5 and subjected to phasing addition.
This output signal is detected by the detector 6, converted into a television format signal by a digital scan converter (hereinafter referred to as DSC) 7, and displayed on the TV monitor 8. The tomographic image obtained by this ultrasonic diagnostic apparatus is a tomographic image that is sliced in the direction of the ultrasonic signal, that is, in the depth direction, so that the image is clear at the place where the ultrasonic beam is focused, It lacked clarity at depths that were out of focus. This focus position is the receiving beamformer 5.
In, the delay amount is given to each element of the vibrator.

上記のように、深さに関し焦点位置を固定すると鮮明な
画像が得られないため、ダイナミックフォーカスの手法
により焦点位置を時間的に変化させて分解能を向上させ
ている。しかしながら、前記のダイナミックフォーカス
では合焦点の深さが連続していないで、例えば深さ2cm,
4cm,6cmのように飛び飛びであるため完全に画質の良好
な画像が得られない。そのため可変長遅延線を用いるこ
とによって焦点位置を連続的に変化させる連続ダイナミ
ックフォーカスという手法が用いられる。
As described above, when the focus position is fixed with respect to the depth, a clear image cannot be obtained. Therefore, the focus position is temporally changed by the dynamic focus method to improve the resolution. However, in the above-mentioned dynamic focus, the depth of the focal point is not continuous, for example, a depth of 2 cm,
Since it is scattered like 4 cm and 6 cm, it is not possible to obtain an image with good image quality. Therefore, a method called continuous dynamic focus is used in which the focal position is continuously changed by using a variable length delay line.

(発明が解決しようとする問題点) 従来の連続ダイナミックフォーカスの回路を第3図に示
す。この回路は第2図の受波ビームフォーマ5の回路の
一部で、1個の振動子エレメント毎に1回路が付属して
いるが、すべて同様に動作するので、以後すべて1回路
についてのみ説明する。図において、11はLC形のL又は
Cを連続的に変化させて等価的に遅延時間τを変化させ
る可変長の遅延線、12は入力回路のインピーダンスと遅
延線11の特性インピーダンスZOとのインピーダンス整合
のための整合抵抗、13は遅延線11の特性インピーダンス
ZOに等しいインピーダンスで終端させる整合抵抗であ
る。遅延線11の時間長τは遅延線制御回路14によって制
御されて変えられる。又、整合抵抗12と13は整合抵抗制
御回路15によって抵抗値Rを変えられる。ところで、連
続ダイナミックフォーカスでは、遅延線11の遅延時間τ
は外部の制御信号により変えられることになり、具体的
には外部の制御信号を受けた遅延線制御回路14の出力信
号により、L又はCを連続的に変えて、超音波ビームの
焦点位置が移動される。このとき特性インピーダンスZo
も同時に変化してしまうため、その前後の整合抵抗12と
13もR=Zoとなるように整合抵抗制御回路15でもって制
御する必要がある。従来、この遅延時間τの制御と整合
抵抗(インピーダンス)Rの制御は、それぞれ外部の制
御信号を受けた遅延線制御回路14と整合抵抗制御回路15
とによって全く独立に行われていた。このため、外部の
制御信号を受けて遅延時間τを制御する制御ループと外
部の制御信号を受けてインピーダンスRを制御する制御
ループの2つの独立した制御ループが必要であり、従っ
て、ハードウエアやファームウエアが増大するという問
題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) FIG. 3 shows a conventional continuous dynamic focus circuit. This circuit is a part of the circuit of the receiving beamformer 5 in FIG. 2, and one circuit is attached to each transducer element, but since all operate in the same manner, only one circuit will be described below. To do. In the figure, 11 is a variable-length delay line that changes the LC type L or C continuously to equivalently change the delay time τ, and 12 is the impedance of the input circuit and the characteristic impedance Z O of the delay line 11. Matching resistor for impedance matching, 13 is the characteristic impedance of delay line 11
It is a matching resistor that terminates with an impedance equal to Z O. The time length τ of the delay line 11 is controlled and changed by the delay line control circuit 14. Further, the matching resistances 12 and 13 can be changed in resistance value R by the matching resistance control circuit 15. By the way, in the continuous dynamic focus, the delay time τ of the delay line 11
Is changed by an external control signal. Specifically, L or C is continuously changed by the output signal of the delay line control circuit 14 which receives the external control signal to change the focal position of the ultrasonic beam. Be moved. At this time, the characteristic impedance Zo
Also changes at the same time, so the matching resistance 12 before and after
13 must also be controlled by the matching resistance control circuit 15 so that R = Zo. Conventionally, the delay time τ and the matching resistance (impedance) R are controlled by the delay line control circuit 14 and the matching resistance control circuit 15 which receive external control signals, respectively.
It was done by and completely independently. For this reason, two independent control loops are required: a control loop for receiving the external control signal to control the delay time τ and a control loop for receiving the external control signal to control the impedance R. Therefore, hardware and There was a problem that the firmware increased.

本発明は上記の点い鑑みてなされたもので、その目的
は、簡単な構成で遅延時間とインピーダンスを良好に制
御できる超音波診断装置を実現することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to realize an ultrasonic diagnostic apparatus that can favorably control delay time and impedance with a simple configuration.

(問題点を解決するための手段) 前記の問題点を解決する本発明は、複数の振動子エレメ
ントを有する振動子アレイを用いて電子走査方式で走査
する超音波診断装置であって、前記振動子エレメントで
の受信信号を整相加算する遅延時間可変のLC梯子形遅延
線と、該遅延線の入力側と終端に設けたインピーダンス
整合手段と、前記遅延線を構成する遅延時間形成要素の
回路定数を変えるためのバイアス電圧を発生する遅延時
間制御手段と、前記遅延線の入力側と終端に設けたイン
ピーダンス整合手段のインピーダンスを変えるための信
号を出力するインピーダンス制御手段とを備えた超音波
診断装置において、 前記インピーダンス制御手段として、前記遅延時間制御
手段の出力電圧をリニアライズして得た信号を、前記イ
ンピーダンス整合手段に出力するリニアライザを用いた
ことを特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention for solving the above problems is an ultrasonic diagnostic apparatus for scanning by an electronic scanning method using a transducer array having a plurality of transducer elements, wherein the vibration LC ladder type delay line with variable delay time for phasing addition of received signals at child elements, impedance matching means provided at the input side and termination of the delay line, and circuit of delay time forming element constituting the delay line An ultrasonic diagnostic system including delay time control means for generating a bias voltage for changing a constant and impedance control means for outputting a signal for changing the impedance of impedance matching means provided at the input side and the termination of the delay line. In the device, as the impedance control means, a signal obtained by linearizing the output voltage of the delay time control means is used as the impedance matching means. It is characterized by using a linearizer that outputs to stages.

(作用) 遅延時間制御手段の遅延時間制御用出力電圧をリニアラ
イズして得た信号により遅延線の入力側と終端のインピ
ーダンス整合手段のインピーダンスを変更して、遅延線
とのインピーダンスの整合を行う。
(Operation) The impedance of the impedance matching means at the input side and the termination of the delay line is changed by a signal obtained by linearizing the delay time controlling output voltage of the delay time controlling means to match the impedance with the delay line. .

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例における受波ビームフォーマ
の1エレメントを示す構成図である。図において、21は
線輪とコンデンサとを梯子形に接続し、コンデンサの静
電容量を変えることによって遅延時間τを変化させる可
変長の遅延線で、コンデンサとしてはバイアス電圧によ
って静電容量が変化する可変容量ダイオードが用いられ
ている。22は前記遅延線21の入力側に設けられた4個の
ダイオードがリング状に接続され、バイアス電流によっ
てそのダイナミック抵抗値が変化するインピーダンス整
合回路(以下単に整合回路という)で、入力回路を遅延
線21の特性インピーダンスZOと整合させる。23は遅延線
21の出力側に接続され、遅延線21を特性インピーダンス
ZOで終端させる整合回路である。24は遅延線21の遅延時
間を時間と共に変化させるために時間と共に変化するバ
イアス電圧VT(t)を出力する遅延時間制御信号発生回
路、25は演算増幅器,ダイオード,抵抗によって構成さ
れ、入力電圧VTに対し(1)式の関数を折れ線で近似し
て電圧VRを出力するリニアライザである。
FIG. 1 is a configuration diagram showing one element of a receiving beam former in one embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 21 is a variable-length delay line in which the delay time τ is changed by connecting a wire ring and a capacitor in a ladder shape and changing the capacitance of the capacitor. The capacitance of the capacitor changes depending on the bias voltage. A variable capacitance diode is used. Reference numeral 22 denotes an impedance matching circuit (hereinafter simply referred to as matching circuit) in which four diodes provided on the input side of the delay line 21 are connected in a ring shape, and the dynamic resistance value thereof changes according to a bias current. Match the characteristic impedance Z O of line 21. 23 is a delay line
21 is connected to the output side and the delay line 21 has a characteristic impedance
It is a matching circuit that terminates at Z O. Reference numeral 24 is a delay time control signal generating circuit that outputs a bias voltage V T (t) that changes with time in order to change the delay time of the delay line 21, and 25 is composed of an operational amplifier, a diode, and a resistor. This is a linearizer that outputs the voltage V R by approximating the function of equation (1) with respect to V T with a broken line.

VR=f(VT) …(1) 26はエミッタに抵抗を介して直流電圧VCCが接続され、
時間的に変化するVR(t)をベース電圧としたコレクタ
接地のPNPトランジスタ、27はPNPトランジスタ26のベー
ス電圧VR(t)によって時間的に変化するエミッタ電圧
をベースに入力され、エミッタ抵抗RIに逆比例し、V
R(t)に比例するコレクタ電流i=VR(t)/RIをコレ
クタに接続された整合回路22を経て流すNPNトランジス
タ、28はNPNトランジスタ27を同様に動作し、整合回路2
3を経て同様なコレクタ電流を流すNPNトランジスタであ
る。
V R = f (V T ) ... (1) 26 has the emitter connected to the DC voltage V CC through a resistor,
PNP transistor collector ground that V R (t) is a base time varying voltage, 27 are input time-varying emitter voltage by the base voltage V R of the PNP transistor 26 (t) to a base, an emitter resistor Inversely proportional to R I , V
An NPN transistor that allows a collector current i = V R (t) / R I proportional to R (t) to flow through the matching circuit 22 connected to the collector, and 28 operates the NPN transistor 27 in the same manner, and the matching circuit 2
It is an NPN transistor that passes the same collector current through 3.

次に上記のように構成された実施例の動作を説明する。
先ず、動作の原理を説明する。遅延線21のLC回路1段当
りのインダクタンスをLO,静電容量をCOとすると、長さ
n段の遅延線21の総遅延量τは 又、この遅延線21の特性インピーダンスZOは回路内の抵
抗と漏洩コンダクタンスを無視すれば、 上式において、LO又はCOのどちらか一方を変化させれば
遅延時間τを変化させることができるが、特性インピー
ダンスZOも同時に変化する。
Next, the operation of the embodiment configured as described above will be described.
First, the principle of operation will be described. When the inductance per stage of the LC circuit of the delay line 21 is L O and the capacitance is C O , the total delay amount τ of the delay line 21 of length n stages is Further, the characteristic impedance Z O of this delay line 21 is, if the resistance and leakage conductance in the circuit are ignored, In the above equation, the delay time τ can be changed by changing either L O or C O , but the characteristic impedance Z O also changes at the same time.

n段のLC回路から成る遅延線21の全インダクタンスを
L、全静電容量をCとすれば、L=nLO,C=nCOとなる。
これを(2)式,(3)式に代入すると、 (2)式から (3)式から 故に(4)式,(5)式から ZO=L/τ …(6) 従って、遅延線21の遅延時間τを変化させると特性イン
ピーダンスZOは(6)式に従って変化する。ここで整合
回路22と23の抵抗値Rを次式のように変化させればよ
い。
The total inductance of the delay line 21 consisting of LC circuit in n stages L, if the total capacitance and C, L = nL O, a C = nC O.
Substituting this into equations (2) and (3), From equation (3) Therefore, from the expressions (4) and (5), Z O = L / τ (6) Therefore, when the delay time τ of the delay line 21 is changed, the characteristic impedance Z O changes according to the expression (6). Here, the resistance value R of the matching circuits 22 and 23 may be changed according to the following equation.

R=ZO=L/τ …(7) 抵抗Rは整合回路22,23を流れる次式のNPNトランジスタ
27,28のコレクタ電流によって制御される。
R = Z O = L / τ ... (7) resistance R NPN transistor of the formula through the matching circuits 22 and 23
It is controlled by the collector current of 27,28.

i=VR(t)/RI =f{VT(t)}/RI …(8) ここにリニアライザ25の出力電圧VR(t)は遅延時間制
御信号発生回路24の出力電圧VT(t)の次式を示す関数
である。
i = V R (t) / R I = f {V T (t)} / R I (8) where the output voltage V R (t) of the linearizer 25 is the output voltage V of the delay time control signal generation circuit 24. It is a function showing the following expression of T (t).

VR(t)=f{VT(t)} 従って、RIを適当に選ぶことにより整合回路22,23の抵
抗値Rを遅延線21の特性インピーダンスZOに常に一致さ
せることができる。
V R (t) = f {V T (t)} Therefore, by appropriately selecting R I , the resistance value R of the matching circuits 22 and 23 can be always matched with the characteristic impedance Z O of the delay line 21.

以上の原理に従って動作する実施例の受波ビームフォー
マの遅延回路を含む超音波診断装置の受信回路の動作を
前述の第2図を参照して説明する。超音波探触子4で受
波されて電気信号に変換され、送受信回路3を経て受波
ビームフォーマ5に入力された受信信号は整合回路22で
遅延線21の特性インピーダンスZOに整合され、遅延線21
に入力される。遅延時間制御信号発生回路24の出力電圧
VT(t)をバイアス電圧とする可変容量ダイオードの静
電容量をVT(t)を変化させることによって変化させ
て、遅延線21の遅延時間は所定の遅延時間τに設定され
ている。リニアライザ25は遅延時間制御信号発生回路24
の出力電圧VT(t)の関数であるVR(t)を出力してPN
Pトランジスタ26を経てNPNトランジスタ27と28に(8)
式の電流を流される。整合回路22と23は回路を構成して
いるダイオードに(8)式の電流が流れることにより
(7)式に示す遅延線21の特性インピーダンスZOに等し
い抵抗値Rとなってインピーダンス整合を行っている。
The operation of the receiving circuit of the ultrasonic diagnostic apparatus including the delay circuit of the receiving beam former of the embodiment that operates according to the above principle will be described with reference to FIG. The reception signal received by the ultrasonic probe 4 and converted into an electric signal and input to the reception beamformer 5 through the transmission / reception circuit 3 is matched by the matching circuit 22 with the characteristic impedance Z O of the delay line 21, Delay line 21
Entered in. Output voltage of delay time control signal generator 24
The capacitance of the variable capacitance diode to V T the bias voltage (t) is varied by changing the V T (t), the delay time of the delay line 21 is set to a predetermined delay time tau. The linearizer 25 is a delay time control signal generation circuit 24
Output V R (t) that is a function of the output voltage V T (t) of
Via P-transistor 26 to NPN transistors 27 and 28 (8)
The expression current is passed. The matching circuits 22 and 23 perform impedance matching by setting the resistance value R equal to the characteristic impedance Z O of the delay line 21 shown in equation (7) by the current of equation (8) flowing through the diodes forming the circuits. ing.

特性インピーダンスZOに等しい抵抗値Rを有する整合回
路22を経て遅延線21で所定の遅延を受けた受信信号は、
整合回路23によって終端されて略無歪状態で検波器6に
入力されて検波される。検波された出力信号は、DSC7で
テレビジョンフォーマットの信号に変換されてTVモニタ
8に表示される。
The received signal that has been delayed by the delay line 21 through the matching circuit 22 having the resistance value R equal to the characteristic impedance Z O is
It is terminated by the matching circuit 23 and input to the detector 6 in a substantially distortion-free state for detection. The detected output signal is converted into a television format signal by the DSC 7 and displayed on the TV monitor 8.

以上説明したように本実施例によれば、遅延時間τを制
御すると、リニアライザによって、自動的に、入力回路
のインピーダンスと終端インピーダンスが遅延線の変化
した特性インピーダンスに等しく調整される。この構成
では、前述の外部からの制御信号を受ける制御として
は、遅延時間τのみの制御でよく、インピーダンスの制
御を直接必要としない。そして、インピーダンスの制御
は、遅延時間τの制御信号をリニアライザへ入力し、整
合回路ヘリニアライザの出力信号を与えるだけで済む。
従って、制御に必要なソフトウェアやファームウェアの
構成を大幅に簡素化できる。ここで、遅延時間τと特性
インピーダンスZOの関係について述べると、これらは一
対一に対応している。このため、τを制御する電圧を入
力信号とするリニアライザを用いても、容易に且つ正確
に整合回路のインピーダンスであるRをZOにトラッキン
グさせることができる。
As described above, according to this embodiment, when the delay time τ is controlled, the linearizer automatically adjusts the impedance of the input circuit and the termination impedance to be equal to the changed characteristic impedance of the delay line. In this configuration, as the control for receiving the control signal from the outside, only the delay time τ may be controlled, and the impedance control is not directly required. Then, impedance control can be achieved by inputting a control signal with a delay time τ to the linearizer and giving an output signal of the linearizer to the matching circuit.
Therefore, the configuration of software and firmware required for control can be greatly simplified. Here, the relationship between the delay time τ and the characteristic impedance Z O will be described. These correspond one to one. Therefore, even if a linearizer using a voltage for controlling τ as an input signal is used, R, which is the impedance of the matching circuit, can be easily and accurately tracked to Z O.

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば遅延線21は静電容量Cを変化させるものであった
が、インダクタンスLを変化させるものであってもよ
い。又、可変静電容量は可変容量ダイオードを用い、整
合回路はダイオードで構成したものを用いたが、これら
の素子は如何なるものを使用しても同等の効果を得られ
るものであれば差支えない。更に、リニアライザ25も例
示のものに限定するものではない。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the delay line 21 changes the capacitance C, but may change the inductance L. Further, although a variable capacitance diode is used as the variable capacitance and a matching circuit is constituted by a diode is used, any element may be used as long as the same effect can be obtained. Further, the linearizer 25 is not limited to the example.

(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、外部から
の指令によってダイナミックフォーカスのための連続的
な遅延時間変化の制御を行うのに、ソフトウェアやファ
ームウェアによって制御するものとしては、遅延時間の
制御だけを行い、そして一方、整合インピーダンスの制
御には、外部からの直接の指令によらずに、遅延時間制
御用電圧を入力信号とするリニアライザの出力を用いた
ので、インピーダンスの制御と遅延時間の制御の双方を
行うにもかかわらず、焦点位置の連続的な変化に応じた
制御を行うためのソフトウェアやファームウェアの構成
が簡単になった。また、遅延線の遅延時間とインピーダ
ンスとは一対一に対応しているので、遅延時間を制御す
る電圧を入力信号とするリニアライザを用いても、良好
に整合手段の制御を行うことができ、実用上の効果は大
きい。
(Effects of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, in order to control continuous delay time change for dynamic focus by a command from the outside, it is assumed to be controlled by software or firmware. Controls only the delay time, while the matching impedance is controlled by the output of the linearizer that uses the delay time control voltage as the input signal, regardless of the direct command from the outside. Even though both the control of 1 and the control of the delay time are performed, the configuration of software and firmware for performing the control according to the continuous change of the focus position is simplified. Further, since the delay time and the impedance of the delay line have a one-to-one correspondence, the matching means can be satisfactorily controlled even if a linearizer using a voltage for controlling the delay time as an input signal is used. The above effect is great.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例の受波ビームフォーマの1エ
レメントを示す構成図、第2図は超音波診断装置の概略
構成図、第3図は従来の受波ビームフォーマの1エレメ
ントの構成図である。 1……高周波発振器、2……送波ビームフォーマ 3……送受信回路、4……超音波探触子 5……受波ビームフォーマ 6……検波器、7……DSC 8……TVモニタ、11,21……遅延線 12,13……整合抵抗 14……遅延線制御回路 15……整合抵抗制御回路 22,23……整合回路 24……遅延時間制御信号発生回路 25……リニアライザ 26……PNPトランジスタ 27,28……NPNトランジスタ
FIG. 1 is a configuration diagram showing one element of a receiving beamformer according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram of an ultrasonic diagnostic apparatus, and FIG. 3 is one element of a conventional receiving beamformer. It is a block diagram. 1 ... High frequency oscillator, 2 ... Transmission beamformer 3 ... Transceiver circuit, 4 ... Ultrasonic probe 5 ... Receiving beamformer 6 ... Detector, 7 ... DSC 8 ... TV monitor, 11,21 …… Delay line 12,13 …… Matching resistor 14 …… Delay line control circuit 15 …… Matching resistance control circuit 22,23 …… Matching circuit 24 …… Delay time control signal generating circuit 25 …… Linearizer 26… … PNP transistor 27,28 …… NPN transistor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−154652(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-61-154652 (JP, A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の振動子エレメントを有する振動子ア
レイを用いて電子走査方式で走査する超音波診断装置で
あって、前記振動子エレメントでの受信信号を整相加算
する遅延時間可変のLC梯子形遅延線と、該遅延線の入力
側と終端に設けたインピーダンス整合手段と、前記遅延
線を構成する遅延時間形成要素の回路定数を変えるため
のバイアス電圧を発生する遅延時間制御手段と、前記遅
延線の入力側と終端に設けたインピーダンス整合手段の
インピーダンスを変えるための信号を出力するインピー
ダンス制御手段とを備えた超音波診断装置において、 前記インピーダンス制御手段として、前記遅延時間制御
手段の出力電圧をリニアライズして得た信号を、前記イ
ンピータンス整合手段に出力するリニアライザを用いた
ことを特徴とする超音波診断装置。
1. An ultrasonic diagnostic apparatus for scanning by an electronic scanning method using a transducer array having a plurality of transducer elements, wherein a delay time variable LC for phasing and adding received signals at the transducer elements. A ladder-type delay line, impedance matching means provided at the input side and termination of the delay line, and delay time control means for generating a bias voltage for changing the circuit constant of the delay time forming element forming the delay line, In an ultrasonic diagnostic apparatus comprising an impedance control means for outputting a signal for changing the impedance of the impedance matching means provided at the input side and the termination of the delay line, the output of the delay time control means as the impedance control means A linearizer for outputting a signal obtained by linearizing a voltage to the impedance matching means is used. Wave diagnostic apparatus.
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