JPH0674945A - イオン種の分析方法及びその装置 - Google Patents
イオン種の分析方法及びその装置Info
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- JPH0674945A JPH0674945A JP25385092A JP25385092A JPH0674945A JP H0674945 A JPH0674945 A JP H0674945A JP 25385092 A JP25385092 A JP 25385092A JP 25385092 A JP25385092 A JP 25385092A JP H0674945 A JPH0674945 A JP H0674945A
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Abstract
(57)【要約】
［目的］イオンクロマトグラフからマイクロ波誘導プラ
ズマ分析計に供給される流体の水分を所定量除去して、
水溶液中のイオン種を高感度かつ正確に分析できるイオ
ン種の分析方法及びその装置を提供する。 ［構成］水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェ
クタに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマ
トグラフィックに分離し、該分離カラムから直接または
検出器を経由して導出された液体に含まれている水分を
水分器で所定量除去し、その後、水分除去器から導出さ
れた流体をネブライザで霧化し、該ネブライザから導出
された流体マイクロ波誘導プラズマ分析計に導く。
ズマ分析計に供給される流体の水分を所定量除去して、
水溶液中のイオン種を高感度かつ正確に分析できるイオ
ン種の分析方法及びその装置を提供する。 ［構成］水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェ
クタに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマ
トグラフィックに分離し、該分離カラムから直接または
検出器を経由して導出された液体に含まれている水分を
水分器で所定量除去し、その後、水分除去器から導出さ
れた流体をネブライザで霧化し、該ネブライザから導出
された流体マイクロ波誘導プラズマ分析計に導く。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、イオンクロマトグラフ
とマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試料中のイ
オン種を高感度に分析する方法及びその装置に係わり、
特に、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェク
タに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマト
グラフィックに分離して検出器で検出し、該検出器から
導出された液体に含まれている水分の所定量を水分除去
器で除去し、その後、該水分除去器から導出される流体
をネブライザで霧化し、該ネブライザから導出された流
体をマイクロ波誘導プラズマ分析計に導いて該流体中の
イオン種を分析することにより水溶液試料中のイオン種
を高感度に分析するイオン種の分析方法及びその装置に
関する。
とマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試料中のイ
オン種を高感度に分析する方法及びその装置に係わり、
特に、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェク
タに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマト
グラフィックに分離して検出器で検出し、該検出器から
導出された液体に含まれている水分の所定量を水分除去
器で除去し、その後、該水分除去器から導出される流体
をネブライザで霧化し、該ネブライザから導出された流
体をマイクロ波誘導プラズマ分析計に導いて該流体中の
イオン種を分析することにより水溶液試料中のイオン種
を高感度に分析するイオン種の分析方法及びその装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】周知の如く、イオンクロマトグラフは試
料中のイオン種を高感度に分析する装置として広く使用
されている。また、高周波誘導結合プラズマ分析計と分
光分析計を結合させた分析装置（以下「ＩＣＰ／ＡＥ
Ｓ」という）や高周波誘導結合プラズマ分析計と質量分
析計を結合させた分析装置（以下「ＩＣＰ／ＭＳ」とい
う）を用いて、試料中の金属成分を高感度に分析するこ
とも知られている。
料中のイオン種を高感度に分析する装置として広く使用
されている。また、高周波誘導結合プラズマ分析計と分
光分析計を結合させた分析装置（以下「ＩＣＰ／ＡＥ
Ｓ」という）や高周波誘導結合プラズマ分析計と質量分
析計を結合させた分析装置（以下「ＩＣＰ／ＭＳ」とい
う）を用いて、試料中の金属成分を高感度に分析するこ
とも知られている。
【０００３】しかし、非金属類の成分はイオン化エネル
ギーが大きく、一般的に使用されているアルゴンプラズ
マ中では発光効率やイオン化効率が極めて低くなってい
る。従って、一般的に使用されているアルゴンプラズマ
を用いるＩＣＰ／ＡＥＳやＩＣＰ／ＭＳによって、試料
中の非金属成分を高感度に分析することは不可能となっ
ている。
ギーが大きく、一般的に使用されているアルゴンプラズ
マ中では発光効率やイオン化効率が極めて低くなってい
る。従って、一般的に使用されているアルゴンプラズマ
を用いるＩＣＰ／ＡＥＳやＩＣＰ／ＭＳによって、試料
中の非金属成分を高感度に分析することは不可能となっ
ている。
【０００４】一方、ガスクロマトグラフとＨｅプラズマ
を用いるマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させた分
析装置（以下「ＧＣ／ＭＩＰ」という）によって、試料
中の各成分を分離カラムで分離した後、それぞれの成分
を元素分析することも行われている。このようなＧＣ／
ＭＩＰにおいては、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）からマ
イクロ波誘導プラズマ分析計（ＭＩＰ）に供給される流
体がガス状であるため、特に問題は生じない。
を用いるマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させた分
析装置（以下「ＧＣ／ＭＩＰ」という）によって、試料
中の各成分を分離カラムで分離した後、それぞれの成分
を元素分析することも行われている。このようなＧＣ／
ＭＩＰにおいては、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）からマ
イクロ波誘導プラズマ分析計（ＭＩＰ）に供給される流
体がガス状であるため、特に問題は生じない。
【０００５】しかし、ＧＣ／ＭＩＰにおいては、分析で
きる試料が一般にガス状のものに限定され、水溶液試料
中のイオン種を分析することは極めて困難とされてい
た。即ち、Ｆ-,Ｃｌ-,Ｂr-,Ｉ-,ＮＯ2-,ＮＯ3-2,ＳＯ3-
2,ＳＯ4-2，ＣＯ3-2，ＰＯ4-3などのイオン種は、ガス
クロマトグラフ（ＧＣ）の分離カラムで分離し難いうえ
該分離カラムなどに吸着され易く、また、マイクロ波誘
導プラズマ分析計（ＭＩＰ）に水分が入るとプラズマが
消え易くなったり不安定になったりするなどの問題があ
り、結果的に、これらのイオン種を正確に定性したり定
量したりすることは困難となっていた。
きる試料が一般にガス状のものに限定され、水溶液試料
中のイオン種を分析することは極めて困難とされてい
た。即ち、Ｆ-,Ｃｌ-,Ｂr-,Ｉ-,ＮＯ2-,ＮＯ3-2,ＳＯ3-
2,ＳＯ4-2，ＣＯ3-2，ＰＯ4-3などのイオン種は、ガス
クロマトグラフ（ＧＣ）の分離カラムで分離し難いうえ
該分離カラムなどに吸着され易く、また、マイクロ波誘
導プラズマ分析計（ＭＩＰ）に水分が入るとプラズマが
消え易くなったり不安定になったりするなどの問題があ
り、結果的に、これらのイオン種を正確に定性したり定
量したりすることは困難となっていた。
【０００６】当初、本発明者らは、Ｆ-,Ｃｌ-,Ｂr-,Ｉ
-,ＮＯ2-,ＮＯ3-2,ＳＯ3-2,ＳＯ4-2，ＣＯ3-2，ＰＯ4-3
などのイオンが分離カラムで容易に分離され且つ該分離
カラムなどに吸着されないイオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）と、Ｈｅプラズマを用いるマイクロ波誘導プラズマ
分析計（ＭＩＰ）を結合させた装置（以下「ＩＣ／ＭＩ
Ｐ」という）を試作して、これらのイオン種を分析する
ことを試みた。
-,ＮＯ2-,ＮＯ3-2,ＳＯ3-2,ＳＯ4-2，ＣＯ3-2，ＰＯ4-3
などのイオンが分離カラムで容易に分離され且つ該分離
カラムなどに吸着されないイオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）と、Ｈｅプラズマを用いるマイクロ波誘導プラズマ
分析計（ＭＩＰ）を結合させた装置（以下「ＩＣ／ＭＩ
Ｐ」という）を試作して、これらのイオン種を分析する
ことを試みた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、このよう
なＩＣ／ＭＩＰにおいては、イオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）から溶出する流体が液体であるため、該液体をネブ
ライザ（霧化器）を用いて霧化しなければならなかっ
た。この場合、試料が水溶液であるため、霧化用ガスと
してのＨeガスの中にネブライザから多量の水分が混入
することが多かった。このため、マイクロ波誘導プラズ
マを不安定にせしめると共に、所謂クエンチングが発生
して感度を極端に低下させるなどの現象が生じていた。
なＩＣ／ＭＩＰにおいては、イオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）から溶出する流体が液体であるため、該液体をネブ
ライザ（霧化器）を用いて霧化しなければならなかっ
た。この場合、試料が水溶液であるため、霧化用ガスと
してのＨeガスの中にネブライザから多量の水分が混入
することが多かった。このため、マイクロ波誘導プラズ
マを不安定にせしめると共に、所謂クエンチングが発生
して感度を極端に低下させるなどの現象が生じていた。
【０００８】従って、水溶液試料に含まれるイオン種を
高感度に分析することは事実上不可能となっていた。ま
た、ＩＣ／ＭＩＰにおいて、イオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）から溶出する流体を冷却して水分を除去することも
考えられる。しかし、文献などからも明らかなように露
点 ０ ゜Ｃのときの水分が６０００ｐｐｍにもなり、冷
却による水分除去は困難である。
高感度に分析することは事実上不可能となっていた。ま
た、ＩＣ／ＭＩＰにおいて、イオンクロマトグラフ（Ｉ
Ｃ）から溶出する流体を冷却して水分を除去することも
考えられる。しかし、文献などからも明らかなように露
点 ０ ゜Ｃのときの水分が６０００ｐｐｍにもなり、冷
却による水分除去は困難である。
【０００９】更に、ＩＣ／ＭＩＰにおいてイオンクロマ
トグラフ（ＩＣ）から溶出する流体を、液体窒素などを
用いて極低温まで冷却することにより、該流体に含まれ
る水分を強力に除去することも考えられるが、コストア
ップになったり装置が大型化したりするという問題が生
ずる。本発明は、かかる状況に艦みてなされたものであ
り、被測定成分であるイオン種に悪影響を及ぼすことな
く、イオンクロマトグラフ（ＩＣ）からマイクロ波誘導
プラズマ分析計（ＭＩＰ）に供給される流体の水分を除
去して、水溶液中のイオン種を高感度かつ正確に分析で
きるイオン種の分析方法及びその装置を提供することを
目的とする。
トグラフ（ＩＣ）から溶出する流体を、液体窒素などを
用いて極低温まで冷却することにより、該流体に含まれ
る水分を強力に除去することも考えられるが、コストア
ップになったり装置が大型化したりするという問題が生
ずる。本発明は、かかる状況に艦みてなされたものであ
り、被測定成分であるイオン種に悪影響を及ぼすことな
く、イオンクロマトグラフ（ＩＣ）からマイクロ波誘導
プラズマ分析計（ＭＩＰ）に供給される流体の水分を除
去して、水溶液中のイオン種を高感度かつ正確に分析で
きるイオン種の分析方法及びその装置を提供することを
目的とする。
【００１０】
【課題を達成するための手段】本発明は、イオンクロマ
トグラフとマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試
料中のイオン種を高感度に分析する方法及びその装置に
おいて、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェ
クタに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマ
トグラフィックに分離して検出器で検出し、該検出器か
ら導出された液体に含まれている水分の所定量を水分除
去器で除去した後、該水分除去器から導出される流体を
ネブライザで霧化し、その後、該ネブライザから導出さ
れた流体をマイクロ波誘導プラズマ分析計に導くことに
より、前記課題を解決したものである。
トグラフとマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試
料中のイオン種を高感度に分析する方法及びその装置に
おいて、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェ
クタに注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマ
トグラフィックに分離して検出器で検出し、該検出器か
ら導出された液体に含まれている水分の所定量を水分除
去器で除去した後、該水分除去器から導出される流体を
ネブライザで霧化し、その後、該ネブライザから導出さ
れた流体をマイクロ波誘導プラズマ分析計に導くことに
より、前記課題を解決したものである。
【００１１】同様にして、本発明は、イオンクロマトグ
ラフとマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試料中
のイオン種を高感度に分析する方法及びその装置におい
て、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェクタ
に注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマトグ
ラフィックに分離し、該分離カラムから導出された液体
に含まれている水分の所定量を水分除去器で除去した
後、該水分除去器から導出される流体をネブライザで霧
化し、その後、該ネブライザから導出される流体をマイ
クロ波誘導プラズマ分析計に導くことにより、前記課題
を達成したものである。
ラフとマイクロ波誘導プラズマ分析計を結合させ試料中
のイオン種を高感度に分析する方法及びその装置におい
て、水溶液試料をイオンクロマトグラフのインジェクタ
に注入し該試料中のイオン種を分離カラムでクロマトグ
ラフィックに分離し、該分離カラムから導出された液体
に含まれている水分の所定量を水分除去器で除去した
後、該水分除去器から導出される流体をネブライザで霧
化し、その後、該ネブライザから導出される流体をマイ
クロ波誘導プラズマ分析計に導くことにより、前記課題
を達成したものである。
【００１２】
【作用】本発明は、次のように作用する。即ち、マイク
ロシリンジなどを用いてインジェクタに試料を注入し、
該インジェクタをオンにすると、該試料が一定量だけ分
離カラムに搬送され、該試料中の被測定成分がクロマト
グラフィックに分離される。また、分離カラムの溶出液
は直接または検出器で導電率等が検出されたのち、水分
除去器で含有水分が所定量除去され、その後、ネブライ
ザに導かれて霧化される。
ロシリンジなどを用いてインジェクタに試料を注入し、
該インジェクタをオンにすると、該試料が一定量だけ分
離カラムに搬送され、該試料中の被測定成分がクロマト
グラフィックに分離される。また、分離カラムの溶出液
は直接または検出器で導電率等が検出されたのち、水分
除去器で含有水分が所定量除去され、その後、ネブライ
ザに導かれて霧化される。
【００１３】このようにして含有水分が所定量除去され
た後に霧化された流体は、マイクロ波誘導プラズマ分析
計の放電管内に導かれ、共鳴管内のプラズマに導かれて
発光する。 この光は光学系に導かれて検出され、該検
出信号が信号処理部で信号処理されて被測定成分濃度な
どが算出される。また、信号処理部の出力は記録部に送
出され、被測定成分のクロマトグラムなどが表示され
る。
た後に霧化された流体は、マイクロ波誘導プラズマ分析
計の放電管内に導かれ、共鳴管内のプラズマに導かれて
発光する。 この光は光学系に導かれて検出され、該検
出信号が信号処理部で信号処理されて被測定成分濃度な
どが算出される。また、信号処理部の出力は記録部に送
出され、被測定成分のクロマトグラムなどが表示され
る。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て詳しく説明する。図１は本発明実施例の構成説明図で
ある。この図において、１００はイオンクロマトグラフ
であって、溶離液を貯留する溶離液槽１０１、溶離液を
送液する送液ポンプ１０２、試料を一定量採取するイン
ジェクタ１０３、試料中の被測定成分をクロマトグラフ
ィックに分離する分離カラム１０４、及び導電率計など
でなる検出器１０５から構成されている。
て詳しく説明する。図１は本発明実施例の構成説明図で
ある。この図において、１００はイオンクロマトグラフ
であって、溶離液を貯留する溶離液槽１０１、溶離液を
送液する送液ポンプ１０２、試料を一定量採取するイン
ジェクタ１０３、試料中の被測定成分をクロマトグラフ
ィックに分離する分離カラム１０４、及び導電率計など
でなる検出器１０５から構成されている。
【００１５】また、２００はイオンクロマトグラフ１０
０から溶出する液体から水分を所定量除去する水分除去
器、３００は水分除去器２００で霧化された流体を霧化
するネブライザである。４００はマイクロ波誘導プラズ
マ分析計であって、放電管４０１,共鳴管４０２、例え
ばマグネトロンでなるマイクロ波発生器４０３、集光レ
ンズやモノクロメーター等からなる光学系４０５、信号
処理部４０６、及び記録部４０７などから構成されてい
る。
０から溶出する液体から水分を所定量除去する水分除去
器、３００は水分除去器２００で霧化された流体を霧化
するネブライザである。４００はマイクロ波誘導プラズ
マ分析計であって、放電管４０１,共鳴管４０２、例え
ばマグネトロンでなるマイクロ波発生器４０３、集光レ
ンズやモノクロメーター等からなる光学系４０５、信号
処理部４０６、及び記録部４０７などから構成されてい
る。
【００１６】図２は前記水分除去器２００の具体的な実
施例を示す構成断面図であり、図中、２００ａは水分を
選択的に透過させる半透膜、２００ｂは内室、２００ｃ
は外室、２００ｄは前記検出器１０５から流出する液体
が導入される流体導入口、２００ｅは内室２００ｂを通
った流体が導出される流体導出口、２００ｆは例えばＨ
ｅガスでなる搬出流体が導入される導入口、２００ｇは
該搬出流体が導出される導出口である。
施例を示す構成断面図であり、図中、２００ａは水分を
選択的に透過させる半透膜、２００ｂは内室、２００ｃ
は外室、２００ｄは前記検出器１０５から流出する液体
が導入される流体導入口、２００ｅは内室２００ｂを通
った流体が導出される流体導出口、２００ｆは例えばＨ
ｅガスでなる搬出流体が導入される導入口、２００ｇは
該搬出流体が導出される導出口である。
【００１７】尚、半透膜２００ａに代えて、水分を選択
的に透過する多孔性物質若しくは水分を選択的に除去す
るのに好適な半透膜やナフィオン膜などを用いても良い
ものとする。図３は前記信号処理部４０６の具体的な実
施例を示す構成説明図であり、図中、４０６ａは光電子
増倍管、４０６ｂは光電子増倍管４０６ａの出力を受け
て信号処理するマイクロプロセッサである。尚、マイク
ロプロセッサ４０６ｂに代えてピコアンプリファイアな
どを用いても良いものとする。
的に透過する多孔性物質若しくは水分を選択的に除去す
るのに好適な半透膜やナフィオン膜などを用いても良い
ものとする。図３は前記信号処理部４０６の具体的な実
施例を示す構成説明図であり、図中、４０６ａは光電子
増倍管、４０６ｂは光電子増倍管４０６ａの出力を受け
て信号処理するマイクロプロセッサである。尚、マイク
ロプロセッサ４０６ｂに代えてピコアンプリファイアな
どを用いても良いものとする。
【００１８】以下、本発明実施例の動作について図１乃
至図３を参照しながら詳しく説明する。図１のような構
成からなる本発明の実施例において、最初、送液ポンプ
１０２が駆動すると、溶離液槽１０１内の溶離液が、送
液ポンプ１０２→インジェクタ１０３→分離カラム１０
４→検出器１０５を経由し、水分除去器２００で水分が
除去され、その後、ネブライザ３００で霧化される。
至図３を参照しながら詳しく説明する。図１のような構
成からなる本発明の実施例において、最初、送液ポンプ
１０２が駆動すると、溶離液槽１０１内の溶離液が、送
液ポンプ１０２→インジェクタ１０３→分離カラム１０
４→検出器１０５を経由し、水分除去器２００で水分が
除去され、その後、ネブライザ３００で霧化される。
【００１９】水分除去器２００において水分が除去され
るメカニズムは次のようになっている。即ち、検出器１
０５から導出された流体が図２の太線矢印で示す如く水
分除去器２００の内室２００ｂに導びかれ、水分除去器
２００の外室２００ｃには搬送流体が図２の細線矢印で
示す如く内室２００ｂ内を流れる流体と向流方向に流れ
る。この状態で、内室２００ｂ内の流体に含まれている
水分の所定量が、半透膜２００ａを介して外室２００ｃ
に至り、外室２００ｃ内を流れる搬送流体に搬送されて
導出口２００ｇから外部に排出される。
るメカニズムは次のようになっている。即ち、検出器１
０５から導出された流体が図２の太線矢印で示す如く水
分除去器２００の内室２００ｂに導びかれ、水分除去器
２００の外室２００ｃには搬送流体が図２の細線矢印で
示す如く内室２００ｂ内を流れる流体と向流方向に流れ
る。この状態で、内室２００ｂ内の流体に含まれている
水分の所定量が、半透膜２００ａを介して外室２００ｃ
に至り、外室２００ｃ内を流れる搬送流体に搬送されて
導出口２００ｇから外部に排出される。
【００２０】一方、図１のガスボンベ４０８のバルブが
開となった状態で開閉弁４０９ａ，４０９ｂを開にする
と、ガスボンベ４０８内の例えばＨｅが、開閉弁４０９
ａと流量計４１０ａを経由して放電管４０１の外管に供
給されると共に、開閉弁４０９ｂと流量計４１０ｂを経
由してネブライザ３００に供給される。更に、開閉弁４
０９ｃを開にすると、流量計４１０ｃを経由して水分除
去器２００の外室（図２の２００ｃ）にガスボンベ４０
８内の例えばＨｅが供給される。
開となった状態で開閉弁４０９ａ，４０９ｂを開にする
と、ガスボンベ４０８内の例えばＨｅが、開閉弁４０９
ａと流量計４１０ａを経由して放電管４０１の外管に供
給されると共に、開閉弁４０９ｂと流量計４１０ｂを経
由してネブライザ３００に供給される。更に、開閉弁４
０９ｃを開にすると、流量計４１０ｃを経由して水分除
去器２００の外室（図２の２００ｃ）にガスボンベ４０
８内の例えばＨｅが供給される。
【００２１】また、共鳴管４０２には過熱を防止するた
めの冷却用空気や水が外側に供給されると共に、マイク
ロ波発生器４０３からマイクロ波が供給されプラズマ４
０４を生じさせている。この状態で、マイクロシリンジ
などを用いてインジェクタ１０３に試料を注入し、該イ
ンジェクタをオンにすると、該試料が一定量だけ分離カ
ラム１０４に搬送され、該試料中の被測定成分がクロマ
トグラフィックに分離される。また、分離カラム１０４
の溶出液は検出器１０５を通過したのち、水分除去器２
００で水分が除去され、その後、ネブライザ３００で霧
化される。
めの冷却用空気や水が外側に供給されると共に、マイク
ロ波発生器４０３からマイクロ波が供給されプラズマ４
０４を生じさせている。この状態で、マイクロシリンジ
などを用いてインジェクタ１０３に試料を注入し、該イ
ンジェクタをオンにすると、該試料が一定量だけ分離カ
ラム１０４に搬送され、該試料中の被測定成分がクロマ
トグラフィックに分離される。また、分離カラム１０４
の溶出液は検出器１０５を通過したのち、水分除去器２
００で水分が除去され、その後、ネブライザ３００で霧
化される。
【００２２】このようにして含有水分が所定量除去され
た流体は放電管４０１内に導かれ、その後、共鳴管４０
２内のプラズマ４０４に導かれて発光する。この光は光
学系４０５を経由し、例えば、図３の光電子増倍管４０
６ａに導かれて検出されてのちマイクロプロセッサ４０
６ｂで信号処理されて被測定イオン種の濃度などが算出
される。
た流体は放電管４０１内に導かれ、その後、共鳴管４０
２内のプラズマ４０４に導かれて発光する。この光は光
学系４０５を経由し、例えば、図３の光電子増倍管４０
６ａに導かれて検出されてのちマイクロプロセッサ４０
６ｂで信号処理されて被測定イオン種の濃度などが算出
される。
【００２３】また、図１における信号処理部４０６の出
力は記録部４０７に送出され、被測定イオン種のクロマ
トグラムなどが表示される。尚、本発明は上述の実施例
に限定されることなく種々の変形が可能であり、例え
ば、イオンクロマトグラフ１００の検出器１０５を除去
し分離カラム１０４の溶出液を直接水分除去器２００に
導くようにしても良い。このように分離カラム１０４の
溶出液を直接水分除去器２００に導くことは、イオンク
ロマトグラフ１００の検出器１０５で検出困難な極微量
の成分を検出する場合や被測定イオン種の定量だけを行
う場合などに好適である。
力は記録部４０７に送出され、被測定イオン種のクロマ
トグラムなどが表示される。尚、本発明は上述の実施例
に限定されることなく種々の変形が可能であり、例え
ば、イオンクロマトグラフ１００の検出器１０５を除去
し分離カラム１０４の溶出液を直接水分除去器２００に
導くようにしても良い。このように分離カラム１０４の
溶出液を直接水分除去器２００に導くことは、イオンク
ロマトグラフ１００の検出器１０５で検出困難な極微量
の成分を検出する場合や被測定イオン種の定量だけを行
う場合などに好適である。
【００２４】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明によ
れば、被測定成分であるイオン種に悪影響を及ぼすこと
なく、イオンクロマトグラフからマイクロ波誘導プラズ
マ分析計に供給される流体の水分を除去して、水溶液中
のイオン種を高感度に測定できるイオン種の分析方法及
びその装置が実現する。
れば、被測定成分であるイオン種に悪影響を及ぼすこと
なく、イオンクロマトグラフからマイクロ波誘導プラズ
マ分析計に供給される流体の水分を除去して、水溶液中
のイオン種を高感度に測定できるイオン種の分析方法及
びその装置が実現する。
【００２５】また、次の〜のような効果も得られる
利点がある。即ち、 イオンクロマトグラフの分離カラムで被測定イオン種
をクロマトグラフィックに分離したのちマイクロ波誘導
プラズマ分析計で分析するような構成であるため、定性
能力が高く被測定イオン種をほぼ１００％の確率で特定
できる。 クロマトグラフィ共通の短所としてイオンクロマトグ
ラフに現れていた多量成分中不純物による干渉も解消さ
れ、該不純物も容易に測定できる。 イオンクロマトグラフの分離カラムで被測定イオン種
をクロマトグラフィックに分離したのちマイクロ波誘導
プラズマ分析計で分析するような構成であるため、該分
離カラムによる被測定イオン種の分離が不十分な場合で
あっても被測定イオン種をマイクロ波誘導プラズマ分析
計で正確に分析できる。 マイクロ波誘導プラズマ分析計を逆相イオンクロマト
グラフィの検出器と位置づけ、本発明の分析装置を逆相
クロマトグラフとして使用することができる。 全有機窒素量（ＴＯＮ）、全有機炭素量（ＴＯＣ）、
イオン性シリカやクラッドを含む全シリカを分析するシ
リカ計などとしても、本発明の分析装置を用いることが
できる。
利点がある。即ち、 イオンクロマトグラフの分離カラムで被測定イオン種
をクロマトグラフィックに分離したのちマイクロ波誘導
プラズマ分析計で分析するような構成であるため、定性
能力が高く被測定イオン種をほぼ１００％の確率で特定
できる。 クロマトグラフィ共通の短所としてイオンクロマトグ
ラフに現れていた多量成分中不純物による干渉も解消さ
れ、該不純物も容易に測定できる。 イオンクロマトグラフの分離カラムで被測定イオン種
をクロマトグラフィックに分離したのちマイクロ波誘導
プラズマ分析計で分析するような構成であるため、該分
離カラムによる被測定イオン種の分離が不十分な場合で
あっても被測定イオン種をマイクロ波誘導プラズマ分析
計で正確に分析できる。 マイクロ波誘導プラズマ分析計を逆相イオンクロマト
グラフィの検出器と位置づけ、本発明の分析装置を逆相
クロマトグラフとして使用することができる。 全有機窒素量（ＴＯＮ）、全有機炭素量（ＴＯＣ）、
イオン性シリカやクラッドを含む全シリカを分析するシ
リカ計などとしても、本発明の分析装置を用いることが
できる。
【図１】本発明の実施例を示す構成説明図である。
【図２】水分除去器の構成断面図である。
【図３】信号処理部の具体例を示す構成説明図である。
１００ イオンクロマトグラフ １０３ インジェクタ １０４ 分離カラム １０５ 検出器 ２００ 水分除去器 ３００ ネブライザ ４００ マイクロ波誘導プラズマ分析計 ４０１ 放電管 ４０２ 共鳴管 ４０４ プラズマ ４０５ 光学系 ４０６ 信号処理部
Claims (7)
- 【請求項１】イオンクロマトグラフとマイクロ波誘導プ
ラズマ分析計を結合させた装置を用いて試料中のイオン
種を高感度に分析する方法において、水溶液試料を前記
イオンクロマトグラフのインジェクタに注入し該試料中
のイオン種を分離カラムでクロマトグラフィックに分離
して検出器で検出し、該検出器から導出された液体に含
まれている水分の所定量を水分除去器で除去した後、該
水分除去器から導出される流体をネブライザで霧化し、
その後、該ネブライザから導出される流体を前記マイク
ロ波誘導プラズマ分析計に導いて該流体中のイオン種を
分析することを特徴とするイオン種の分析方法。 - 【請求項２】イオンクロマトグラフとマイクロ波誘導プ
ラズマ分析計を結合させた装置を用いて試料中のイオン
種を高感度に分析する方法において、水溶液試料を前記
イオンクロマトグラフのインジェクタに注入し該試料中
のイオン種を分離カラムでクロマトグラフィックに分離
し、該分離カラムから導出された液体に含まれている水
分の所定量を水分除去器で除去した後、該水分除去器か
ら導出された流体をネブライザで霧化し、その後、該ネ
ブライザから導出される流体を前記マイクロ波誘導プラ
ズマ分析計に導いて該流体中のイオン種を分析すること
を特徴とするイオン種の分析方法。 - 【請求項３】イオンクロマトグラフとマイクロ波誘導プ
ラズマ分析計を結合させ試料中のイオン種を高感度に分
析する装置において、イオンクロマトグラフの検出器か
ら導出された液体に含まれている水分の所定量を除去す
る水分除去器と、該水分除去器から導出された液体を霧
化するネブライザとを、前記イオンクロマトグラフとマ
イクロ波誘導プラズマ分析計の間に設け、水溶液試料を
前記イオンクロマトグラフのインジェクタに注入し該試
料中のイオン種を分離カラムでクロマトグラフィックに
分離して前記検出器で検出し、該検出器から導出された
液体に含まれている水分の所定量を前記水分除去器で除
去し、その後、該水分除去器から導出された流体を前記
ネブライザで霧化した後、前記ネブライザから導出され
る流体を前記マイクロ波誘導プラズマ分析計に導いて該
流体中のイオン種を分析することを特徴とするイオン種
の分析装置。 - 【請求項４】イオンクロマトグラフとマイクロ波誘導プ
ラズマ分析計を結合させ試料中のイオン種を高感度に分
析する装置において、イオンクロマトグラフの分離カラ
ムから導出された液体に含まれている水分の所定量を除
去する水分除去器と、該水分除去器から導出された流体
を霧化するネブライザとを、前記イオンクロマトグラフ
とマイクロ波誘導プラズマ分析計の間に設け、水溶液試
料を前記イオンクロマトグラフのインジェクタに注入し
該試料中のイオン種を分離カラムでクロマトグラフィッ
クに分離し、該分離カラムから導出された液体に含まれ
ている水分の所定量を前記水分除去器で除去し、その
後、該水分除去器から導出される流体を前記ネブライザ
で霧化した後、前記ネブライザから導出された流体を前
記マイクロ波誘導プラズマ分析計に導いて該流体中のイ
オン種を分析することを特徴とするイオン種の分析装
置。 - 【請求項５】請求項３若しくは請求項４において、前記
水分除去器は水分を選択的に透過する多孔性物質で内室
と外室が区切られた構造であることを特徴とするイオン
種の分析装置。 - 【請求項６】請求項３若しくは請求項４において、前記
水分除去器は半透膜で内室と外室が区切られた構造であ
ることを特徴とするイオン種の分析装置。 - 【請求項７】請求項３若しくは請求項４において、前記
水分除去器はナフィオン膜で内室と外室が区切られた構
造であることを特徴とするイオン種の分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25385092A JPH0674945A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | イオン種の分析方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25385092A JPH0674945A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | イオン種の分析方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0674945A true JPH0674945A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=17257005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25385092A Pending JPH0674945A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | イオン種の分析方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0674945A (ja) |
-
1992
- 1992-08-28 JP JP25385092A patent/JPH0674945A/ja active Pending
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