JPH0668253A - 画像の鮮鋭度測定方法及び装置 - Google Patents
画像の鮮鋭度測定方法及び装置Info
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- JPH0668253A JPH0668253A JP5128571A JP12857193A JPH0668253A JP H0668253 A JPH0668253 A JP H0668253A JP 5128571 A JP5128571 A JP 5128571A JP 12857193 A JP12857193 A JP 12857193A JP H0668253 A JPH0668253 A JP H0668253A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定対象の画像データのみから鮮鋭度を測定
することを可能にする。 【構成】 画像のエッジ領域における高周波成分の強度
の平均によって鮮鋭度を測定する装置である。入力画像
信号に対し、高周波濾過手段３で高周波成分を抽出し、
同時にエッジ領域抽出手段２によってエッジ領域を抽出
する。これらの出力を用いてエッジ領域における、高周
波成分の強度を積分し、さらにエッジ面積で正規化する
ことによって鮮鋭度を得る。
することを可能にする。 【構成】 画像のエッジ領域における高周波成分の強度
の平均によって鮮鋭度を測定する装置である。入力画像
信号に対し、高周波濾過手段３で高周波成分を抽出し、
同時にエッジ領域抽出手段２によってエッジ領域を抽出
する。これらの出力を用いてエッジ領域における、高周
波成分の強度を積分し、さらにエッジ面積で正規化する
ことによって鮮鋭度を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テレビジョン、スキャ
ナ、ファクシミリ、プリンタ等に用いられる画像の鮮鋭
度を計算する技術に関する。
ナ、ファクシミリ、プリンタ等に用いられる画像の鮮鋭
度を計算する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、画像の鮮鋭度を測定する方法の一
つにアキュータンスがある。ステップ関数をシステムに
入力したときの出力をＥＳＦ（ｅｄｇｅ ｓｐｒｅａｄ
ｆｕｎｃｔｉｏｎ）と呼ぶが、まず測定対象となる画
像のＥＳＦを測定する。これをｈ（ｘ）とするとアキュ
ータンスＡは式（１）で表される。
つにアキュータンスがある。ステップ関数をシステムに
入力したときの出力をＥＳＦ（ｅｄｇｅ ｓｐｒｅａｄ
ｆｕｎｃｔｉｏｎ）と呼ぶが、まず測定対象となる画
像のＥＳＦを測定する。これをｈ（ｘ）とするとアキュ
ータンスＡは式（１）で表される。
【０００３】
【０００４】ａ，ｂはそれぞれ出力におけるエッジの上
端と下端を表している。
端と下端を表している。
【０００５】また測定対象となる画像のＭＴＦ（振幅伝
達関数）をもとにした鮮鋭度の測定方法がいくつかあ
る。文献［”ディスプレイのシャープネス客観評価シス
テム”電気通信学会論文誌、Ｖｏｌ．Ｊ７０−Ｄ Ｎ
ｏ．２、ｐｐ．４７４−４８１（１９８７）］によれば
これらは一般に、
達関数）をもとにした鮮鋭度の測定方法がいくつかあ
る。文献［”ディスプレイのシャープネス客観評価シス
テム”電気通信学会論文誌、Ｖｏｌ．Ｊ７０−Ｄ Ｎ
ｏ．２、ｐｐ．４７４−４８１（１９８７）］によれば
これらは一般に、
【０００６】
【０００７】で表される。つまりシステムの伝達関数の
積分値を、視覚の伝達関数の積分値で正規化した値を鮮
鋭度としている。
積分値を、視覚の伝達関数の積分値で正規化した値を鮮
鋭度としている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】従来の画像の鮮鋭度測
定方法は、対象画像のＥＳＦまたはＭＴＦが既知でなけ
れば測定できないという欠点があった。そして、これら
の測定にはかなりの工数がかかるという欠点があった。
また、画像の劣化の性質が全く分からない様な画像にた
いしては適用できないという欠点があった。
定方法は、対象画像のＥＳＦまたはＭＴＦが既知でなけ
れば測定できないという欠点があった。そして、これら
の測定にはかなりの工数がかかるという欠点があった。
また、画像の劣化の性質が全く分からない様な画像にた
いしては適用できないという欠点があった。
【０００９】
【課題を解決するための手段】第１の発明の画像の鮮鋭
度測定方法は、画像のエッジ領域における、高周波成分
または高周波帯域成分の強度の積分値を、エッジ領域の
面積で正規化する処理により、鮮鋭度を測定することを
特徴とする。
度測定方法は、画像のエッジ領域における、高周波成分
または高周波帯域成分の強度の積分値を、エッジ領域の
面積で正規化する処理により、鮮鋭度を測定することを
特徴とする。
【００１０】また、第２の発明の画像の鮮鋭度測定方法
は、画像の高周波成分または、高周波帯域成分の強度
を、画像の各領域でのエッジらしさで重み付けした値
を、画像全体で積分する処理によって鮮鋭度を測定する
ことを特徴とする。
は、画像の高周波成分または、高周波帯域成分の強度
を、画像の各領域でのエッジらしさで重み付けした値
を、画像全体で積分する処理によって鮮鋭度を測定する
ことを特徴とする。
【００１１】また、第３の発明の画像の鮮鋭度測定装置
は、入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手
段と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ領域の面積
を算出するエッジ面積算出手段と、前記入力画像の高周
波成分または高周波帯域成分を抽出する高周波濾過手段
と、抽出されたエッジ領域において前記高周波成分の強
度または高周波帯域成分の強度を積分するエッジ領域高
周波強度積分手段と、エッジ領域高周波強度積分手段の
出力値をエッジ領域の面積で正規化する面積正規化手段
とからなることを特徴とする。
は、入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手
段と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ領域の面積
を算出するエッジ面積算出手段と、前記入力画像の高周
波成分または高周波帯域成分を抽出する高周波濾過手段
と、抽出されたエッジ領域において前記高周波成分の強
度または高周波帯域成分の強度を積分するエッジ領域高
周波強度積分手段と、エッジ領域高周波強度積分手段の
出力値をエッジ領域の面積で正規化する面積正規化手段
とからなることを特徴とする。
【００１２】また、第４の発明の画像の鮮鋭度測定装置
は、入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ領域手段
と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ領域の面積を
算出するエッジ面積算出手段と、前記入力画像のエッジ
領域において、高周波成分または高周波成分を抽出する
高周波濾過手段と、抽出されたエッジ領域において、前
記高周波成分の強度または高周波帯域成分の強度を積分
するエッジ領域高周波強度積分手段と、エッジ領域高周
波強度積分手段の出力値をエッジ領域の面積で正規化す
る面積正規化手段とからなることを特徴とする。
は、入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ領域手段
と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ領域の面積を
算出するエッジ面積算出手段と、前記入力画像のエッジ
領域において、高周波成分または高周波成分を抽出する
高周波濾過手段と、抽出されたエッジ領域において、前
記高周波成分の強度または高周波帯域成分の強度を積分
するエッジ領域高周波強度積分手段と、エッジ領域高周
波強度積分手段の出力値をエッジ領域の面積で正規化す
る面積正規化手段とからなることを特徴とする。
【００１３】また、第５の発明の画像の鮮鋭度測定装置
は、第３または第４の発明におけるエッジ領域抽出手段
と高周波濾過手段を、一つの高周波濾過手段に置き換
え、高周波濾過手段の出力をしきい値処理してエッジ領
域を抽出するしきい値処理手段を更に有することを特徴
とする。
は、第３または第４の発明におけるエッジ領域抽出手段
と高周波濾過手段を、一つの高周波濾過手段に置き換
え、高周波濾過手段の出力をしきい値処理してエッジ領
域を抽出するしきい値処理手段を更に有することを特徴
とする。
【００１４】また、第６の発明の画像の鮮鋭度測定装置
は、入力画像の各領域のエッジらしさを抽出するエッジ
らしさ抽出手段と、入力画像の高周波成分または高周波
帯域成分を抽出する高周波濾過手段と、その高周波成分
にエッジらしさで重み付けするエッジらしさ重み付け手
段と、エッジらしさ重み付け手段の強度の画像内で積分
する強度積分手段とを有することを特徴とする。
は、入力画像の各領域のエッジらしさを抽出するエッジ
らしさ抽出手段と、入力画像の高周波成分または高周波
帯域成分を抽出する高周波濾過手段と、その高周波成分
にエッジらしさで重み付けするエッジらしさ重み付け手
段と、エッジらしさ重み付け手段の強度の画像内で積分
する強度積分手段とを有することを特徴とする。
【００１５】また、第７の発明の画像の鮮鋭度測定装置
は、第３、４、５又は６の発明において、入力画像に対
し鮮鋭度を算出するための参照領域を制限するウィンド
ウ設定手段を更に有することを特徴とする。
は、第３、４、５又は６の発明において、入力画像に対
し鮮鋭度を算出するための参照領域を制限するウィンド
ウ設定手段を更に有することを特徴とする。
【００１６】
【作用】以下に、第１の発明の画像の鮮鋭度測定方法の
原理を図面を用いて説明する。
原理を図面を用いて説明する。
【００１７】鮮鋭度の求め方について図５をもとに説明
する。画像５１の鮮鋭度を求めるには、まず画像５１の
エッジ領域５２を抽出する。このエッジ領域５２におけ
る高周波領域の平均が鮮鋭度である。エッジ領域の抽出
方法としては、一次微分フィルタ、二次微分フィルタ、
高周波フィルタ、帯域フィルタなどによる出力をしきい
値処理する方法がある。
する。画像５１の鮮鋭度を求めるには、まず画像５１の
エッジ領域５２を抽出する。このエッジ領域５２におけ
る高周波領域の平均が鮮鋭度である。エッジ領域の抽出
方法としては、一次微分フィルタ、二次微分フィルタ、
高周波フィルタ、帯域フィルタなどによる出力をしきい
値処理する方法がある。
【００１８】エッジ領域５２内のある一点をエッジ点５
５とすると、次にエッジ点５５におけるエッジ点高周波
成分５６を算出する。エッジ点高周波成分５６を算出す
るためには、エッジ点５５のエッジ点近傍領域５３にた
いして高周波フィルタ５４を作用させれば良い。
５とすると、次にエッジ点５５におけるエッジ点高周波
成分５６を算出する。エッジ点高周波成分５６を算出す
るためには、エッジ点５５のエッジ点近傍領域５３にた
いして高周波フィルタ５４を作用させれば良い。
【００１９】そしてエッジ点高周波成分５６の強度を、
エッジ領域５２のすべての点において積分することによ
ってエッジ領域全体の高周波成分強度が得られる。この
値をエッジ面積５７で正規化する事によって鮮鋭度が得
られる。
エッジ領域５２のすべての点において積分することによ
ってエッジ領域全体の高周波成分強度が得られる。この
値をエッジ面積５７で正規化する事によって鮮鋭度が得
られる。
【００２０】鮮鋭度の定義式の一例を式（３）に示す。
画像をｆ、鮮鋭度をＳ、エッジ領域をＥ（ｆ）、エッジ
領域の面積をＡＥ（ｆ）、高周波帯域フィルタをｓｓと
する。ｓｓは図５の高周波帯域フィルタ５４に対応す
る。＊はコンボリューションを表すものとする。また式
（３）では、高周波成分の強度は、高周波成分ｆ＊ｓｓ
の絶対値をとっているが、式（４）のように強度の定義
として高周波成分の二乗値を使用しても良い。
画像をｆ、鮮鋭度をＳ、エッジ領域をＥ（ｆ）、エッジ
領域の面積をＡＥ（ｆ）、高周波帯域フィルタをｓｓと
する。ｓｓは図５の高周波帯域フィルタ５４に対応す
る。＊はコンボリューションを表すものとする。また式
（３）では、高周波成分の強度は、高周波成分ｆ＊ｓｓ
の絶対値をとっているが、式（４）のように強度の定義
として高周波成分の二乗値を使用しても良い。
【００２１】
【００２２】エッジ領域Ｅ（ｆ）の抽出方法には一次微
分フィルタ、二次微分フィルタ、高周波フィルタ等の出
力をしきい値処理する方法がある。
分フィルタ、二次微分フィルタ、高周波フィルタ等の出
力をしきい値処理する方法がある。
【００２３】式（３）における鮮鋭度定義に使用される
高周波帯域フィルタｓｓは、人間にとっての各空間周波
数成分の鮮鋭さに対する重みを表すものである。またｓ
ｓは高域カットオフのない高周波フィルタでもよい。
高周波帯域フィルタｓｓは、人間にとっての各空間周波
数成分の鮮鋭さに対する重みを表すものである。またｓ
ｓは高域カットオフのない高周波フィルタでもよい。
【００２４】次に第２の発明の画像の鮮鋭度測定方法に
ついて説明する。本発明は、第１の鮮鋭度測定方法の原
理を拡張したものである。
ついて説明する。本発明は、第１の鮮鋭度測定方法の原
理を拡張したものである。
【００２５】画像の鮮鋭さに関する情報は、画像の輝度
変化の激しい部分に含まれている。このことは、同じ絵
柄でぼけた画像とシャープな画像を比較すると、輝度変
化の激しい部分では両者の間に明らかに違いがあるのが
分かるが、輝度変化の少ない平坦な部分では両者の間に
はあまり違いがない、という事実からわかる。
変化の激しい部分に含まれている。このことは、同じ絵
柄でぼけた画像とシャープな画像を比較すると、輝度変
化の激しい部分では両者の間に明らかに違いがあるのが
分かるが、輝度変化の少ない平坦な部分では両者の間に
はあまり違いがない、という事実からわかる。
【００２６】この事実を利用し、入力画像の輝度情報の
中から、輝度変化の激しい部分に注目する。また、画像
をいくつかの部分領域に分割した時、一般にシャープな
領域は、高周波成分を多く含むことがわかっている。よ
って、輝度変化の激しい部分の局所的な高周波成分を用
いることによって、入力画像の輝度情報だけから、鮮鋭
度を算出することができる。
中から、輝度変化の激しい部分に注目する。また、画像
をいくつかの部分領域に分割した時、一般にシャープな
領域は、高周波成分を多く含むことがわかっている。よ
って、輝度変化の激しい部分の局所的な高周波成分を用
いることによって、入力画像の輝度情報だけから、鮮鋭
度を算出することができる。
【００２７】よって画像の各部分領域の輝度変化の激し
さを、エッジらしさと呼ぶことにし、この部分領域の高
周波成分の、画像内での平均によって、鮮鋭度を算出す
る。つまり、各部分領域の高周波数成分の強度をエッジ
らしさで重み付けした値の積分値を、その画像の鮮鋭度
とするものである。
さを、エッジらしさと呼ぶことにし、この部分領域の高
周波成分の、画像内での平均によって、鮮鋭度を算出す
る。つまり、各部分領域の高周波数成分の強度をエッジ
らしさで重み付けした値の積分値を、その画像の鮮鋭度
とするものである。
【００２８】画像の各部分のエッジらしさを求めるに
は、画像にエッジ検出フィルタを作用させれば良い。ま
た局所領域の輝度値の分散などをとってもよい。本発明
の鮮鋭度測定方法における鮮鋭度の定義式の一例を式
（５）に示す。入力画像をｆ、エッジらしさを検出用フ
ィルタをｅｅ、高周波フィルタまたは高周波帯域フィル
タをｓｓ、＊をコンボリューションとすると、鮮鋭度Ｓ
は、
は、画像にエッジ検出フィルタを作用させれば良い。ま
た局所領域の輝度値の分散などをとってもよい。本発明
の鮮鋭度測定方法における鮮鋭度の定義式の一例を式
（５）に示す。入力画像をｆ、エッジらしさを検出用フ
ィルタをｅｅ、高周波フィルタまたは高周波帯域フィル
タをｓｓ、＊をコンボリューションとすると、鮮鋭度Ｓ
は、
【００２９】
【００３０】となる。｜ｆ＊ｅｅ｜は入力画像ｆからエ
ッジらしさを検出する処理を一般的に表したものであ
り、絶対値は必要でない場合もある。
ッジらしさを検出する処理を一般的に表したものであ
り、絶対値は必要でない場合もある。
【００３１】式（５）における鮮鋭度定義に使用される
高周波帯域フィルタｓｓは、人間にとっての各空間周波
数成分の鮮鋭さに対する重みを表すものを用いる。また
ｓｓは高域カットオフのない高周波フィルタでもよい。
高周波帯域フィルタｓｓは、人間にとっての各空間周波
数成分の鮮鋭さに対する重みを表すものを用いる。また
ｓｓは高域カットオフのない高周波フィルタでもよい。
【００３２】
【実施例】以下に、本発明の画像の鮮鋭度測定装置の実
施例を図面を用いて説明する。
施例を図面を用いて説明する。
【００３３】図１に第３の発明の画像の鮮鋭度測定装置
の一実施例の構成を示す。鮮鋭度測定装置１は入力画像
７のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手段２と、エ
ッジ領域抽出手段２の出力からエッジ領域の面積を算出
するエッジ面積算出手段１３と、入力画像７の高周波成
分を濾過する高周波濾過手段３と、前記エッジ領域にお
いて高周波を積分するエッジ領域高周波強度積分手段４
と、得られた積分値をエッジ領域の面積で正規化する面
積正規化手段５から構成されている。
の一実施例の構成を示す。鮮鋭度測定装置１は入力画像
７のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手段２と、エ
ッジ領域抽出手段２の出力からエッジ領域の面積を算出
するエッジ面積算出手段１３と、入力画像７の高周波成
分を濾過する高周波濾過手段３と、前記エッジ領域にお
いて高周波を積分するエッジ領域高周波強度積分手段４
と、得られた積分値をエッジ領域の面積で正規化する面
積正規化手段５から構成されている。
【００３４】鮮鋭度測定装置１に入力画像７が入力され
ると、エッジ領域抽出手段２によってエッジ領域を抽出
する。図２にエッジ領域抽出手段２に利用されるエッジ
検出フィルタの例を示す。エッジ領域抽出手段２は、エ
ッジ検出フィルタ８または９などを入力画像７に畳み込
み、その出力をしきい値処理することなどによって、入
力画像７のエッジ領域を抽出することができる。また、
エッジ検出フィルタは、高周波フィルタ、高周波濾過フ
ィルタによって代用できる。
ると、エッジ領域抽出手段２によってエッジ領域を抽出
する。図２にエッジ領域抽出手段２に利用されるエッジ
検出フィルタの例を示す。エッジ領域抽出手段２は、エ
ッジ検出フィルタ８または９などを入力画像７に畳み込
み、その出力をしきい値処理することなどによって、入
力画像７のエッジ領域を抽出することができる。また、
エッジ検出フィルタは、高周波フィルタ、高周波濾過フ
ィルタによって代用できる。
【００３５】さらにエッジ領域抽出手段２の出力からエ
ッジ面積算出手段１３によってエッジ面積１２を算出す
る。これは、エッジ領域抽出手段２の出力からエッジ領
域の画素値を累算器でカウントすることによって得られ
る。
ッジ面積算出手段１３によってエッジ面積１２を算出す
る。これは、エッジ領域抽出手段２の出力からエッジ領
域の画素値を累算器でカウントすることによって得られ
る。
【００３６】次に高周波濾過手段３によって入力画像１
の高周波成分を抽出する。図３に高周波濾過手段の一例
を示す。周波数面において高周波濾過フィルタ１０の様
な断面をもつフィルタを入力画像１に畳み込むことによ
って、高周波を濾過する。この高周波濾過フィルタ１０
は、高周波帯域濾過フィルタ１１でも代用できる。ま
た、図２に示すようなエッジ検出フィルタ８、９も高周
波フィルタの一種である。
の高周波成分を抽出する。図３に高周波濾過手段の一例
を示す。周波数面において高周波濾過フィルタ１０の様
な断面をもつフィルタを入力画像１に畳み込むことによ
って、高周波を濾過する。この高周波濾過フィルタ１０
は、高周波帯域濾過フィルタ１１でも代用できる。ま
た、図２に示すようなエッジ検出フィルタ８、９も高周
波フィルタの一種である。
【００３７】次に、前記エッジ領域抽出手段２によって
検出されたエッジ領域について、エッジ領域高周波強度
積算手段４によって高周波強度積分値を算出する。高周
波強度としては式（３）、式（４）の分子にあるよう
に、高周波成分の絶対値または二乗値などを用いること
が出来る。
検出されたエッジ領域について、エッジ領域高周波強度
積算手段４によって高周波強度積分値を算出する。高周
波強度としては式（３）、式（４）の分子にあるよう
に、高周波成分の絶対値または二乗値などを用いること
が出来る。
【００３８】このようにして得られた高周波強度積分値
を、前記エッジ面積１２を用いて、面積正規化手段５に
よって正規化することによって、鮮鋭度６を得る。面積
正規化手段５としては、エッジ高周波強度１４をエッジ
領域の面積で除算する方法がある。
を、前記エッジ面積１２を用いて、面積正規化手段５に
よって正規化することによって、鮮鋭度６を得る。面積
正規化手段５としては、エッジ高周波強度１４をエッジ
領域の面積で除算する方法がある。
【００３９】図４に第４の発明の画像の鮮鋭度測定装置
の一実施例を示す。鮮鋭度測定装置４１は入力画像４７
のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手段４２と、エ
ッジ領域抽出手段４２の出力からエッジ領域の面積を算
出するエッジ面積算出手段４５と、入力画像４７のエッ
ジ領域のみにおける高周波成分を濾過する高周波濾過手
段４３と、前記エッジ領域において高周波を積分するエ
ッジ領域高周波強度積分手段４４と、得られた積分値を
エッジ領域の面積で正規化する面積正規化手段４６から
構成されている。
の一実施例を示す。鮮鋭度測定装置４１は入力画像４７
のエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出手段４２と、エ
ッジ領域抽出手段４２の出力からエッジ領域の面積を算
出するエッジ面積算出手段４５と、入力画像４７のエッ
ジ領域のみにおける高周波成分を濾過する高周波濾過手
段４３と、前記エッジ領域において高周波を積分するエ
ッジ領域高周波強度積分手段４４と、得られた積分値を
エッジ領域の面積で正規化する面積正規化手段４６から
構成されている。
【００４０】鮮鋭度測定装置４１は、第一の実施例であ
る鮮鋭度測定装置１における高周波濾過手段３の周辺の
構成を変えたものである。高周波濾過手段４３はエッジ
領域抽出手段４２の出力をもとに、入力画像４７のエッ
ジ領域にのみ高周波成分を濾過する装置である。これ
は、例えば、入力画像４７とエッジ領域抽出手段４２の
出力を同時に走査し、エッジ領域にさしかかったときに
のみ、入力画像に対するフィルタリング処理命令が送ら
れるような装置である。
る鮮鋭度測定装置１における高周波濾過手段３の周辺の
構成を変えたものである。高周波濾過手段４３はエッジ
領域抽出手段４２の出力をもとに、入力画像４７のエッ
ジ領域にのみ高周波成分を濾過する装置である。これ
は、例えば、入力画像４７とエッジ領域抽出手段４２の
出力を同時に走査し、エッジ領域にさしかかったときに
のみ、入力画像に対するフィルタリング処理命令が送ら
れるような装置である。
【００４１】つまり、エッジ領域を検出したあとで、エ
ッジ領域にのみ高周波濾過手段を施す構成となつてお
り、それ以降の構成は鮮鋭度測定装置１と同様である。
ッジ領域にのみ高周波濾過手段を施す構成となつてお
り、それ以降の構成は鮮鋭度測定装置１と同様である。
【００４２】図６に第５の発明の画像の鮮鋭度測定装置
の一実施例を示す。鮮鋭度測定装置１０１は、前述の鮮
鋭度測定装置１のエッジ領域抽出手段２と高周波濾過手
段３を、高周波濾過手段１０２一つに置き換え、さらに
しきい値処理手段１０７を追加した構成となっている。
の一実施例を示す。鮮鋭度測定装置１０１は、前述の鮮
鋭度測定装置１のエッジ領域抽出手段２と高周波濾過手
段３を、高周波濾過手段１０２一つに置き換え、さらに
しきい値処理手段１０７を追加した構成となっている。
【００４３】鮮鋭度測定装置１０１に入力画像１０５が
入力されると、高周波濾過手段１０２によって高周波成
分が抽出される。ここで出力値があるしきい値以上の領
域をエッジ領域と考え、しきい値処理手段１０７によっ
てエッジ領域を抽出する。この出力からエッジ面積算出
手段１０８によりエッジ面積１０９を算出する。次に前
記しきい値処理手段１０７の出力から、エッジ領域高周
波強度積分手段１０３によってエッジ領域の高周波強度
を積分する。以下鮮鋭度測定装置１と同様である。
入力されると、高周波濾過手段１０２によって高周波成
分が抽出される。ここで出力値があるしきい値以上の領
域をエッジ領域と考え、しきい値処理手段１０７によっ
てエッジ領域を抽出する。この出力からエッジ面積算出
手段１０８によりエッジ面積１０９を算出する。次に前
記しきい値処理手段１０７の出力から、エッジ領域高周
波強度積分手段１０３によってエッジ領域の高周波強度
を積分する。以下鮮鋭度測定装置１と同様である。
【００４４】しきい値処理手段１０７の例としては、あ
る値以上の領域をエッジ領域と考え、この値未満の画素
はすべて０とする処理が考えられる。これにより、エッ
ジ面積算出手段１０８は、しきい値処理手段１０７の出
力の画素値が０より大きい画素数をカウントする処理と
なる。さらにエッジ領域高周波強度積分手段１０３は、
しきい値処理手段１０７の出力の画素値を累積する事に
よって得られる。
る値以上の領域をエッジ領域と考え、この値未満の画素
はすべて０とする処理が考えられる。これにより、エッ
ジ面積算出手段１０８は、しきい値処理手段１０７の出
力の画素値が０より大きい画素数をカウントする処理と
なる。さらにエッジ領域高周波強度積分手段１０３は、
しきい値処理手段１０７の出力の画素値を累積する事に
よって得られる。
【００４５】高周波濾過手段１０２の例は鮮鋭度測定装
置１と同様である。
置１と同様である。
【００４６】鮮鋭度測定装置１０１は鮮鋭度測定装置１
に比べ、エッジ領域抽出手段が１つ減るので、コストダ
ウンできる効果がある。
に比べ、エッジ領域抽出手段が１つ減るので、コストダ
ウンできる効果がある。
【００４７】図７に第６の発明の画像の鮮鋭度測定装置
の一実施例を示す。
の一実施例を示す。
【００４８】鮮鋭度測定装置７１に入力画像７６が入力
されると、エッジらしさ抽出手段７３によってエッジら
しさを抽出する。エッジらしさ抽出手段は、図２に示さ
れたエッジ検出フィルタを作用させる方法や、局所的な
画素の分散を求める方法などがある。
されると、エッジらしさ抽出手段７３によってエッジら
しさを抽出する。エッジらしさ抽出手段は、図２に示さ
れたエッジ検出フィルタを作用させる方法や、局所的な
画素の分散を求める方法などがある。
【００４９】次に高周波濾過手段７２によって入力画像
７６の高周波成分を抽出する。図３に高周波濾過手段の
一例を示す。周波数面において高周波濾過フィルタ１０
の様な断面をもつフィルタを入力画像１に畳み込むこと
によって、高周波を濾過する。この高周波濾過フィルタ
１０は、高周波帯域濾過フィルタ１１でも代用できる。
また、図２に示すようなエッジ検出フィルタ８，９も高
周波フィルタの一種である。
７６の高周波成分を抽出する。図３に高周波濾過手段の
一例を示す。周波数面において高周波濾過フィルタ１０
の様な断面をもつフィルタを入力画像１に畳み込むこと
によって、高周波を濾過する。この高周波濾過フィルタ
１０は、高周波帯域濾過フィルタ１１でも代用できる。
また、図２に示すようなエッジ検出フィルタ８，９も高
周波フィルタの一種である。
【００５０】エッジらしさ重み付け手段７４では、得ら
れた高周波成分にエッジらしさ抽出手段７３の出力で重
み付けする処理を行う。通常はエッジらしさを高周波成
分に乗算する。
れた高周波成分にエッジらしさ抽出手段７３の出力で重
み付けする処理を行う。通常はエッジらしさを高周波成
分に乗算する。
【００５１】次に、強度積分手段によって、エッジらし
さ重み付け手段７４の出力の強度値を画像内で積分す
る。高周波強度としては、高周波成分の絶対値または二
乗値などを用いることが出来る。
さ重み付け手段７４の出力の強度値を画像内で積分す
る。高周波強度としては、高周波成分の絶対値または二
乗値などを用いることが出来る。
【００５２】このようにして得られた積分値が求める鮮
鋭度７７である。
鋭度７７である。
【００５３】図８に第７の発明の画像の鮮鋭度測定装置
の一実施例を示す。本発明は、第３、第４、第５、第６
の発明の装置において、入力画像の一部分を用いて鮮鋭
度を測定する装置であり、測定に用いる領域を指定する
ウィンドウ設定手段８２をもつ。
の一実施例を示す。本発明は、第３、第４、第５、第６
の発明の装置において、入力画像の一部分を用いて鮮鋭
度を測定する装置であり、測定に用いる領域を指定する
ウィンドウ設定手段８２をもつ。
【００５４】入力画像８１のデータは、ウィンドウ設定
手段８２で一部分が取り出され、取り出されたデータ
は、第３、第４、第５、第６の発明の鮮鋭度測定装置に
入力される。
手段８２で一部分が取り出され、取り出されたデータ
は、第３、第４、第５、第６の発明の鮮鋭度測定装置に
入力される。
【００５５】本発明は、鮮鋭度測定に用いるデータが少
なくて済むため、計算処理を高速に行うことが出来る。
また、対象物が写っている部分だけを取り出すことによ
って、対象物の鮮鋭度をより正確に算出することが出来
る。
なくて済むため、計算処理を高速に行うことが出来る。
また、対象物が写っている部分だけを取り出すことによ
って、対象物の鮮鋭度をより正確に算出することが出来
る。
【００５６】
【発明の効果】本発明により、測定対象画像の伝達関数
等のボケの性質が未知の場合でも、鮮鋭度を測定するこ
とが可能となる。また、本発明を、スキャナ、ＦＡＸや
コピーに装着すれば読み取り画像の鮮鋭度を計算できる
ため、鮮鋭度の計算値に合わせてシャープニング係数を
制御することにより画像に適応したシャープニングが可
能となる。
等のボケの性質が未知の場合でも、鮮鋭度を測定するこ
とが可能となる。また、本発明を、スキャナ、ＦＡＸや
コピーに装着すれば読み取り画像の鮮鋭度を計算できる
ため、鮮鋭度の計算値に合わせてシャープニング係数を
制御することにより画像に適応したシャープニングが可
能となる。
【図１】第３の発明の画像の鮮鋭度測定装置の一実施例
を示すブロック図
を示すブロック図
【図２】エッジ領域抽出手段に用いられるエッジ検出フ
ィルタの例
ィルタの例
【図３】高周波濾過手段に用いられる高周波濾過フィル
タの例
タの例
【図４】本発明の画像の鮮鋭度測定装置の一実施例を示
すブロック図
すブロック図
【図５】第４の発明の画像の鮮鋭度測定方法の原理を説
明するための図
明するための図
【図６】第５の発明の画像の鮮鋭度測定装置の一実施例
を示すブロック図
を示すブロック図
【図７】第６の発明の画像の鮮鋭度測定装置の一実施例
を示すブロック図
を示すブロック図
【図８】第７の発明の画像の鮮鋭度測定装置の一実施例
を示すブロック図
を示すブロック図
【符号の説明】 １，４１，１０１，７１ 鮮鋭度測定装置 ２，４２ エッジ抽出手段 ３，４３，１０２，７２ 高周波濾過手段 ４，４４，１０３ エッジ領域高周波強度積分手段 ５，４６，１０４ 面積正規化手段 ６，４９，１０６，７７，８４ 鮮鋭度 ７，４７，１０５，７６，８１ 入力画像 ８，９ エッジ検出フィルタ １０ 高周波濾過フィルタ １１ 高周波帯域濾過フィルタ １２，４８，１０９ エッジ面積 １３，４５，１０８ エッジ面積算出手段 ５１ 画像 ５２ エッジ領域 ５３ エッジ点近傍領域 ５４ 高周波帯域フィルタ ５５ エッジ点 ５６ エッジ点高周波成分 １０７ しきい値処理手段 ７３ エッジらしさ抽出手段 ７４ エッジらしさ重み付け手段 ７５ 強度積分手段 ８２ ウィンドウ設定手段 ８３ 鮮鋭度計算部
Claims (7)
- 【請求項１】 画像のエッジ領域における、高周波成分
または高周波帯域成分の強度の積分値を、エッジ領域の
面積で正規化する処理により、鮮鋭度を測定することを
特徴とする画像の鮮鋭度測定方法。 - 【請求項２】 画像の高周波成分または、高周波帯域成
分の強度を、画像の各領域でのエッジらしさで重み付け
した値を、画像全体で積分する処理によって鮮鋭度を測
定することを特徴とする画像の鮮鋭度測定方法。 - 【請求項３】 入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ
領域手段と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ領域
の面積を算出するエッジ面積算出手段と、前記入力画像
の高周波成分または高周波帯域成分を抽出する高周波濾
過手段と、抽出されたエッジ領域において前記高周波成
分の強度または高周波帯域成分の強度を積分するエッジ
領域高周波強度積分手段と、エッジ領域高周波強度積分
手段の出力値をエッジ領域の面積で正規化する面積正規
化手段とからなることを特徴とする画像の鮮鋭度測定装
置。 - 【請求項４】 入力画像のエッジ領域を抽出するエッジ
領域抽出手段と、エッジ領域抽出手段の出力からエッジ
領域の面積を算出するエッジ面積算出手段と、前記入力
画像のエッジ領域において、高周波成分または高周波帯
域成分を抽出する高周波濾過手段と、抽出されたエッジ
領域において、前記高周波成分の強度または高周波帯域
成分の強度を積分するエッジ領域高周波強度積分手段
と、エッジ領域高周波強度積分手段の出力値をエッジ領
域の面積で正規化する面積正規化手段とからなることを
特徴とする画像の鮮鋭度測定装置。 - 【請求項５】 前記エッジ領域抽出手段と、前記高周波
濾過手段を、一つの高周波濾過手段に置き換え、該高周
波濾過手段の出力をしきい値処理してエッジ領域を抽出
するしきい値処理手段を更に有することを特徴とする請
求項３又は４記載の画像の鮮鋭度測定装置。 - 【請求項６】 入力画像の各領域のエッジらしさを抽出
するエッジらしさ抽出手段と、入力画像の高周波成分ま
たは高周波帯域成分を抽出する込み高周波濾過手段と、
その高周波成分にエッジらしさで重み付けするエッジら
しさ重み付け手段と、エッジらしさ重み付け手段の強度
を画像内で積分する強度積分手段とを有することを特徴
とする画像の鮮鋭度測定装置。 - 【請求項７】 入力画像に対し鮮鋭度を算出するための
参照領域を制限するウィンドウ設定手段を更に有するこ
とを特徴とする請求項３、４、５又は６記載の画像の鮮
鋭度測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5128571A JP2611723B2 (ja) | 1992-06-18 | 1993-05-31 | 画像の鮮鋭度測定装置 |
| US08/162,333 US6097847A (en) | 1993-05-31 | 1993-12-07 | Method of and apparatus for calculating sharpness of image and apparatus for sharpening image |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15901092 | 1992-06-18 | ||
| JP4-159010 | 1992-06-18 | ||
| JP5128571A JP2611723B2 (ja) | 1992-06-18 | 1993-05-31 | 画像の鮮鋭度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0668253A true JPH0668253A (ja) | 1994-03-11 |
| JP2611723B2 JP2611723B2 (ja) | 1997-05-21 |
Family
ID=26464184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5128571A Expired - Lifetime JP2611723B2 (ja) | 1992-06-18 | 1993-05-31 | 画像の鮮鋭度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2611723B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7515749B2 (en) | 1998-04-14 | 2009-04-07 | Minolta Co., Ltd. | Image processing method, recording medium with recorded image processing program and image processing apparatus |
| JP2009181324A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Tokyo Institute Of Technology | 画像変換方法およびプログラム |
| US8144461B2 (en) | 2006-01-09 | 2012-03-27 | Asustek Computer Inc. | Leather coating structure for a case and method for manufacturing thereof |
| JP2015156189A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | 株式会社ニコン | 画像評価装置、および画像評価プログラム |
| JP2016530593A (ja) * | 2013-06-04 | 2016-09-29 | ペイパル インコーポレイテッド | イメージの鮮明性を評価すること |
| JP2019096364A (ja) * | 2019-03-18 | 2019-06-20 | 株式会社ニコン | 画像評価装置 |
| JP2020170555A (ja) * | 2020-07-13 | 2020-10-15 | 株式会社ニコン | 画像評価装置、カメラおよびプログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03237883A (ja) * | 1990-02-14 | 1991-10-23 | Canon Inc | 自動合焦装置 |
-
1993
- 1993-05-31 JP JP5128571A patent/JP2611723B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03237883A (ja) * | 1990-02-14 | 1991-10-23 | Canon Inc | 自動合焦装置 |
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| US8045797B2 (en) | 1998-04-14 | 2011-10-25 | Minolta Co., Ltd. | Image processing method, recording medium with recorded image processing program and image processing apparatus |
| US8144461B2 (en) | 2006-01-09 | 2012-03-27 | Asustek Computer Inc. | Leather coating structure for a case and method for manufacturing thereof |
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| JP2015156189A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | 株式会社ニコン | 画像評価装置、および画像評価プログラム |
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| JP2020170555A (ja) * | 2020-07-13 | 2020-10-15 | 株式会社ニコン | 画像評価装置、カメラおよびプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2611723B2 (ja) | 1997-05-21 |
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